JP2003008103A - 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置 - Google Patents
磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置Info
- Publication number
- JP2003008103A JP2003008103A JP2001190512A JP2001190512A JP2003008103A JP 2003008103 A JP2003008103 A JP 2003008103A JP 2001190512 A JP2001190512 A JP 2001190512A JP 2001190512 A JP2001190512 A JP 2001190512A JP 2003008103 A JP2003008103 A JP 2003008103A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- magnetic
- magnetoresistive effect
- magnetization
- effect element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
- G11B5/3903—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y25/00—Nanomagnetism, e.g. magnetoimpedance, anisotropic magnetoresistance, giant magnetoresistance or tunneling magnetoresistance
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
- G11B5/3903—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
- G11B5/3906—Details related to the use of magnetic thin film layers or to their effects
- G11B5/3909—Arrangements using a magnetic tunnel junction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F10/00—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
- H01F10/32—Spin-exchange-coupled multilayers, e.g. nanostructured superlattices
- H01F10/324—Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer
- H01F10/3254—Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer the spacer being semiconducting or insulating, e.g. for spin tunnel junction [STJ]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/10—Magnetoresistive devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/80—Constructional details
- H10N50/85—Magnetic active materials
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
- G11B2005/3996—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects large or giant magnetoresistive effects [GMR], e.g. as generated in spin-valve [SV] devices
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/012—Recording on, or reproducing or erasing from, magnetic disks
Abstract
応答に優れる金属中間層を用いたCPP素子において、
抵抗変化率の増大、素子抵抗増大およびピンホールに依
存せずばらつきも解消された磁気抵抗効果素子、および
それを用いた磁気デバイス、特に磁気ヘッド、それを搭
載した磁気再生装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 強磁性、フェリ磁性または反強磁性磁性
の磁性を有し、電子のスピン方向に応じて伝導現象が大
幅に異なる特性を有するハーフメタルを主成分とする磁
性層を磁気抵抗効果膜に挿入する。
Description
子、磁気ヘッド及び磁気再生装置に関し、より詳細に
は、磁気抵抗効果膜の膜面に対して垂直方向にセンス電
流を流す構造の磁気抵抗効果素子、これを用いた磁気ヘ
ッド及び磁気再生装置に関する。
抵抗効果(Giant MagnetoResistive effect:GMR)
の発見により、磁気デバイス、特に磁気ヘッドの性能が
飛躍的に向上している。特に、「スピンバルブ(Spin-V
alve:SV)膜」による巨大磁気抵抗効果の発見は、磁
気デバイス分野に大きな技術的進歩をもたらした。
の間に非磁性層を挟み、一方の強磁性層(「ピン層」あ
るいは「磁化固着層」などと称される)の磁化のみを反
強磁性層あるいは硬質磁性層からのバイアス磁界により
一方向に固着し、もう一方の強磁性層(「フリー層」あ
るいは「磁化自由層」などと称される)の磁化方向が外
部磁界に応答してピン層に対して相対的角度を有するこ
とにより、巨大な磁気抵抗変化が得られるものである。
に対して略垂直方向にセンス電流を通電する「CPP
(Current Perpendicular to plane)型」の磁気抵抗効
果素子は、膜面に対して平行方向にセンス電流を通電す
る「CIP(Current In Plane)型」の磁気抵抗効果素
子に比べてさらに大きな巨大磁気抵抗効果を発現する。
は、「トンネル磁気抵抗効果効果(Tunneling MagnetoR
esistive effect:TMR)」を利用したTMR素子も
開発されている。但し、TMR素子においては、中間非
磁性層としてアルミナなどの絶縁層を用いる点が特徴的
であり、これに伴い、素子の動作メカニズムにも相違点
がある。
の磁気抵抗効果素子に比べて磁気抵抗変化率が大きいだ
けでなく、素子の抵抗が素子面積に依存するために素子
を微細化した場合に抵抗変化量が増大するという利点も
有する。この利点は、磁気デバイスの微細化が進む現在
においては大きなメリットとなる。従って、CPP磁気
抵抗効果素子およびそれを用いた磁気ヘッドは、1平方
インチ当り100ギガビット(100Gbpsi)以上
の記録密度を実現するための有力候補と考えられる。
の場合、中間層に絶縁体を用いるために素子抵抗が高く
なりすぎ、素子面積が微細化すると大きな抵抗に起因し
てトンネル現象特有のショットノイズ発生や高周波応答
劣化を引き起こすことが問題となる。
子の場合、膜面に対して垂直方向にセンス電流を流す
と、TMR素子と異なり素子抵抗が大幅に小さいため
に、抵抗変化率が巨大でも得られる抵抗変化量自体はか
なり小さい。その結果として、大きな再生出力信号を得
ることが困難である。
中間層を用いたCPP素子に極薄の酸化層を積層するこ
とにより、抵抗を増大させ大きな抵抗変化を得る方法が
報告されている(K.Nagasaka et al; The 8th Joint MM
M-Intermag Conference, DD-10)。この方法の場合、酸
化層の一部にピンホール的に金属状の低抵抗領域を設け
て、電流を絞り込むことにより高い抵抗を得ようとして
いる。しかしピンホールを均一に設けることは難しく、
特に素子サイズが0.1μm程度になる100Gbps
i以上の記録密度では、抵抗が大きくばらついて安定し
たCPP素子の作製が困難であることが実用化を阻む。
されたのである。すなわち、その目的は、TMR素子と
異なりショットノイズや高周波応答に優れる金属中間層
を用いたCPP素子において、抵抗変化率の増大、素子
抵抗増大およびピンホールに依存せずばらつきも解消さ
れた磁気抵抗効果素子、およびそれを用いた磁気デバイ
ス、特に磁気ヘッド、それを搭載した磁気再生装置を提
供することにある。
め、本発明の磁気抵抗効果素子は、磁化方向が実質的に
一方向に固着された磁性体膜を有する磁化固着層と、磁
化方向が外部磁界に対応して変化する磁性体膜を有する
磁化自由層と、前記磁化固着層と前記磁化自由層との間
に設けられた非磁性金属中間層と、を有する磁気抵抗効
果膜と、前記磁気抵抗効果膜の膜面に対して略垂直な方
向に電流を通電するために前記磁気抵抗効果膜に電気的
に接続された一対の電極と、を備え、前記磁気抵抗効果
膜は、ハーフメタルを主成分とした磁性層を含むことを
特徴とする。
層は、それ自体が磁化固着層や磁化自由層であってもよ
く、磁化自由層や磁化固着層とは別にハーフメタルを主
成分とした磁性層を設けてもよい。
は、強磁性、フェリ磁性または反強磁性磁性の磁性を有
し、電子のスピン方向に応じて伝導現象が大幅に異なる
特性を有する材料を意味する。
ン)と同方向スピンを有する電子(「アップスピン電
子」と称する)の抵抗は、それと反対方向のスピンを有
する電子(「ダウンスピン電子」と称する)の抵抗に比
べて著しく小さい性質を、あるいはアップスピン電子の
数はダウンスピン電子の数に比べて著しく多い性質を有
するものである。
などの鉄酸化物、CrO2などのクロム酸化物、ベロブ
スカイト型の結晶構造を有するマンガン系酸化物(いわ
ゆるマンガナイト)が挙げられる。
適応すると、主にアップスピン電子のみがハーフメタル
中を通過でき、非磁性中間層を介して第2磁性層にアッ
プスピン電子を注入できるため大きな抵抗変化量の増大
を生じる新しい現象を見出した。この現象は、従来の膜
面内に電流を流すCIP型磁気抵抗効果素子では発現し
ない現象である。非磁性中間層に絶縁体を用いるTMR
素子に比べると、トンネル電流では不可能なハーフメタ
ルと金属層との界面での電子反射効果も期待でき大きな
抵抗変化が実現できる。
あるいはすべてにハーフメタルを用いる構成が挙げられ
る。この場合には、ハーフメタルから注入されたアップ
スピン電子は、磁化自由層(フリー層)の磁化がアップ
スピン電子と同方向に向いている場合にはフリー層中で
アップスピン電子は散乱されないので低い抵抗を示す。
フリー層の磁化が回転すると、アップスピン電子はフリ
ー層を通過する時に散乱されるので高い抵抗を示す。ダ
ンウスピン電子も伝導現象に寄与する通常の磁性膜に比
べて純粋にアップスピン電子のみの伝導現象が利用でき
るために、従来CPP型SVでは得られない大きな抵抗
変化率が得られる。
膜(PtMn、IrMnなど)をピン層に積層して、そ
の界面にて発生する交換結合バイアス磁界を用いる事が
望ましい。通常、ハーフメタルを構成する酸化物と金属
系の反強磁性膜を直接積層すると交換結合磁界が弱まる
ので、その界面にはCo、Fe、Niなどからなる金属
強磁性膜を挿入することが望ましい。
いはすべてに用いた場合にも同様な効果が得られる。ハ
ーフメタルは通常フリー層に必要な低磁界応答特性(軟
磁気特性)を示さないので、フリー層をハーフメタルと
する場合にはハーフメタルに軟磁気特性の良好なNiF
e、CoFeNi、CoFe合金などを積層してハーフ
メタルの磁化応答をアシストすることが望ましい。ピン
層とフリー層の両者にハーフメタルを用いてもよい。
用いてもよい。中間金属非磁性層の一部にハーフメタル
層を挿入する構成、フリー層、非磁性金属中間層、ピン
層からなる積層ユニットの外側にハーフメタル層を挿入
する構成、フリー層と非磁性金属中間層の中間にハーフ
メタル層を挿入する構成、ピン層と非磁性金属中間層の
中間にハーフメタル層を挿入する構成が挙げられる。ピ
ン層、非磁性金属中間層、フリー層に、さらに第2に非
磁性金属中間層、第2のピン層を積層したいわゆるデュ
アルタイプのCPP構造に本発明を適用してもよい。デ
ュアルタイプのCPP構造では2つのピン層の一部ある
いはすべてがハーフメタルからなることが望ましい。
ル領域が15%以下の連続層であることがハーフメタル
で得られる効果を有効に引き出すために望ましい。
属磁性膜に比べて比較的大きな抵抗を有するので(絶縁
体よりははるかに金属的だが)、適度な抵抗値のCPP
素子が実現できる。その結果、大きな抵抗変化率と適度
な素子抵抗の両立が可能になり、大きな再生信号、低ノ
イズ、および高周波特性に優れた再生出力特性が得られ
る。ハーフメタルを用いたスピンバルブCPP素子で
は、従来の極薄酸化層を挿入したスピンバルブCPP素
子と異なりピンホールを利用するものではなく、その結
果ピン固着と大きな抵抗変化率が両立でき、量産制御性
に優れ実用化に適する。
実施の形態について説明する。
抵抗効果素子の主要部断面構造を表す模式図である。す
なわち、同図は、磁気抵抗効果素子を磁気ヘッドとして
用いる場合の媒体対向面に対して平行な方向の断面図で
ある。
果素子は、下部電極111の上に、下地層12、外部信
号磁界による磁化が応答するフリー層13、非磁性中間
層14、外部信号磁界に対して実質上磁化が動かないピ
ン層15、磁気結合中間層16、反強磁性層17、保護
膜18が順次積層された磁気抵抗効果膜を有する。保護
膜18は、上部電極112の形成などに際して反強磁性
層17の特性劣化などの問題がなければ、特に必要な
い。
12が形成される。そして、電極111および112を
通じてセンス電流Iがこの積層体の膜面に対して垂直方
向に通電される。
フメタルからなることを特徴とする。本願明細書におい
て、「ハーフメタル」とは、そこを通過できる電子は一
方のスピンを有するものに限定され、他方のスピンを有
する電子は殆ど通過できない性質を有するものを意味す
る。
「ハーフメタル」は、概ねアップスピンを有する電子の
みを通過させ、ダウンスピンを有する電子は殆ど通過で
きない性質を有する磁性体を意味する。その材料として
は、具体的には、Fe3O4のような鉄酸化物、CrO
2のようなCr酸化物、LrSrMnOのようなマンガ
ナイトを挙げることができる。
えばFe3O4酸化物を例にとると、Fe3O4を主成
分とするターゲットを用いてスパッタする方法や、Fe
やFe基合金を酸素雰囲気中で反応性スパッタする方法
を挙げることができる。また、FeあるいはFeにCo
などを加えたFe基合金を成膜した後に、原子状酸素、
ラジカル酸素あるいは酸素イオンビーム照射を用いて酸
化する方法も挙げることができる。
は、0.5〜5nmが望ましく、できる限り連続な酸化
膜を形成することが望ましい。メタル状のピンホール領
域を15%を超えて含むと、ピンホールを通過する電子
の伝導現象が支配的となり、本発明による抵抗変化増大
効果が損なわれるからである。
GMRと同様に、その上の反強磁性層17(例えば、P
tMn、IrM、PdPtMn、NiMnなどにより構
成される)によって一方向に固着される。ピン層15の
磁化固着効果を上げるためには、反強磁性層17とピン
層15との間に、磁気結合中間層16を挿入することが
望ましい。磁気結合中間層16の材料としては、例え
ば、Fe、Co、Niなどを主成分とする強磁性合金を
用いることができる。また、その層厚は、0.1〜3n
m程度と極力薄いことがピン層15の磁化を抑制するた
めに必要とされる。
ンバルブGMRに採用される積層フェリ型の強磁性体層
/Ru(ルテニウム)層/強磁性体層からなる積層構成
もピン磁化を抑制するために好ましい。この積層構成に
おいては、Ru層を介して上下の強磁性体層は反強磁性
結合する。ここで、ピン層15と接する側の強磁性体層
は、Ru層の反強磁性結合が十分発揮できれば必要な
い。
の間に、非磁性金属中間層14よりもハーフメタルピン
層15との界面でアップスピン電子が散乱され難い磁性
層を挿入すると、抵抗変化量の増大がより顕著になる。
例えば、ピン層15の材料としてFe3O4ハーフメタ
ルを用いる場合には、Feを含む磁性層をピン層15と
中間層14との間に挿入するとよい。
oFe、NiFe、CoFeNi合金を用いることがで
きる。また、これらの合金層の積層体を用いることもで
きるる。その積層構造としては、例えば、NiFe/C
oFe、 CoFe/NiFe、 NiFe/CoFe
/NiFe、 CoFe/NiFe/CoFeなどを挙
げることができる。
と非磁性層との積層体を用いることもできる。その積層
構造としては、例えば、CoFe/Cu/CoFe、
NiFe/CoFe/Cu/CoFe/NiFeなどを
挙げることができる。この場合、非磁性層との界面散乱
が大きいCo系合金では、Ni系合金に比べて非磁性層
との積層効果がより期待できる。
の範囲にあることが望ましい。
ン層15の結晶性を改善する機能や、さらに界面の平滑
性を高める機能などを有する材料により形成することが
望ましい。このような材料としては、例えば、NiFe
Cr合金を挙げることがてきる。図示は省略したが、下
地層12とフリー層13との間に低抵抗の非磁性層(例
えば、Cu層など)を挿入してもよい。
層13との磁気結合を遮断する役割を有し、さらにピン
層15からフリー層13へ流れるアップスピン電子が散
乱されないような非磁性中間層14/ピン層15の界面
を形成する役割を有することが必要である。非磁性中間
層14の材料としては、例えば、Cu、Au、Ag、R
e、Os、Ru、Ir、Pd、Cr、Mg、Al、R
h、Ptなどを用いることができる。その膜厚は、フリ
ー層13とピン層15との間の磁気結合が十分に遮断で
きる程度に厚く、ピン層15からのアップスピン電子が
散乱されない程度に薄いことが必要であり、材料に異な
るが概ね0.5〜5nmの範囲にあることが望ましい。
効果素子を形成し、ハーフメタルからなるピン層15を
介して、主にアップスピン電子をフリー層13へ注入す
るように上下電極111、112間に電圧を印加する。
すると、そのアップスピン電子は、フリー層13の磁化
がピン層15と同方向の場合には散乱されず低抵抗とな
るのに対して、フリー層13の磁化がピン層15と反平
行向きになると磁気的散乱を受けて抵抗が高くなる。
−GMRに比べて、抵抗変化率の大幅な増大が実現でき
る。さらに、通常のメタル系のCPP−GMRに比べて
伝導を担う電子の数が少ないので抵抗を増大することが
可能となる。つまり、大きな抵抗変化が実現でき、大き
な再生出力が得られる磁気ヘッドが実現できる。
R素子と異なり、トンネル現象特有のショットノイズを
生じない。したがって、大きな再生出力に加えて高S/
N比での再生が可能となる。
得るためには、アップスピン電子は散乱されず、ダウン
スピン電子のみがフリー層13の磁化方向に応じて散乱
されることが望ましく、そのためには、フリー層13の
周辺は良好な結晶欠陥の少ない良好な結晶性(例えば、
結晶配向性が良好であることなど)を実現することが必
要である。図1に例示したいわゆる「トップタイプ」
は、酸化物ピン層15を成膜する前にフリー層13の周
辺の薄膜を成膜形成できるので、フリー層13の周辺の
結晶成長制御が容易であるというメリットを有する。
できる。すなわち、通常のメタル系CPP−GMRで
は、スピン依存散乱を十分に大きくするためには、ピン
層やフリー層が厚くなってしまうが、本発明では、スピ
ン分極に優れたハーフメタルを用いるので物理的膜厚を
薄くでき、狭いギャップに適する。さらに、ハーフメタ
ルでは飽和磁化が小さいので、ピン層15の磁気膜厚を
小さくすることができる。その結果として、十分なピン
固着が可能になり、記録密度の向上、すなわち素子の微
細化により必要となる高いピン固着の要求に応えること
が可能となる。
体例について説明する。
の具体例の要部断面構造を表す模式図である。すなわ
ち、同図も、磁気抵抗効果素子を磁気ヘッドとして用い
る場合の媒体対向面に対して平行な方向の断面図であ
る。図2については、図1に関して前述したものと同様
の要素には同一の符号を付して詳細な説明は省略する。
1に例示したものと積層の順序が逆転している。すなわ
ち、下部電極111の上に、下地層12、反強磁性層1
7、磁気結合中間層16、ピン層15、非磁性中間層1
4、フリー層13、保護膜18が順次積層された磁気抵
抗効果膜が形成されている。そして、その上に上部電極
112が形成されている。このように積層順序を逆にし
ても、図1に関して前述したものと同様な効果が得られ
る。
側に積層されるので、そのパターニングが容易であり、
幅や形状の制御を確実に実施できるというメリットがあ
る。
具体例について説明する。
部断面構造を表す模式図である。すなわち、同図も、磁
気抵抗効果素子を磁気ヘッドとして用いる場合の媒体対
向面に対して平行な方向の断面図である。図3について
は、図1乃至図2に関して前述したものと同様の要素に
は同一の符号を付して詳細な説明は省略する。
2に表した磁気抵抗効果素子10Bのフリー層13の上
にさらに、第2の非磁性金属中間層19、ピン層15と
同様なハーフメタルからなる第2のピン層20、磁気結
合中間層16と同様な第2の磁気結合中間層21、反強
磁性層17と同様な第2の反強磁性層21、保護膜18
が順次積層された構造を有する。
つのハーフメタルピン層15、20を備えることにより
電子のスピンによる選択性がさらに高くなり、抵抗変化
量の増大はより顕著になる。その結果として、さらに高
感度の磁気検出が可能となる。
具体例について説明する。
部断面構造を表す模式図である。すなわち、同図も、磁
気抵抗効果素子を磁気ヘッドとして用いる場合の媒体対
向面に対して平行な方向の断面図であり、図1乃至図3
に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付
して詳細な説明は省略する。
ては、フリー層13にハーフメタルが用いられている。
すなわち、下部電極111の上に、下地層12、反強磁
性層17、磁気結合中間層16、ピン層15、非磁性中
間層14、アシストフリー層131、ハーフメタルから
なるフリー層13、保護膜18が順次積層された磁気抵
抗効果膜が形成されている。そして、その上に上部電極
112が形成されている。
としてハーフメタルを用いることにより、アップスピン
電子のみを選択的に通過させ、前述したものと同様に磁
気抵抗変化を増大できる。
軟磁気特性(磁界応答性)が十分に高くない場合もあ
る。そこで、本具体例においては、外部信号磁界による
磁化応答をアシストするためのアシストフリー層131
を積層し、磁界応答性を改善している。アシストフリー
層131の材料としては、NiFe、CoFeNi、C
oFeなどの軟磁性合金を用いることができる。
ともにピン層15にもハーフメタルを採用しても良い。
具体例について説明する。
部断面構造を表す模式図である。すなわち、同図も、磁
気抵抗効果素子を磁気ヘッドとして用いる場合の媒体対
向面に対して平行な方向の断面図であり、図1乃至図4
に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付
して詳細な説明は省略する。
ても、フリー層13にハーフメタルが用いられている。
但し、本具体例の場合は、図4に表した素子10Dとは
アシストフリー層131の位置が異なり、保護膜18と
ハーフメタルからなるフリー層13との間に挿入されて
いる。このようにアシストフリー層131を配置しても
前述したものと同様の効果が得られる。
とともにピン層15にもハーフメタルを採用しても良
い。
具体例について説明する。
部断面構造を表す模式図である。すなわち、同図も、磁
気抵抗効果素子を磁気ヘッドとして用いる場合の媒体対
向面に対して平行な方向の断面図であり、図1乃至図5
に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付
して詳細な説明は省略する。
ては、金属中間層にハーフメタルが挿入されている。す
なわち、磁気抵抗効果素子10Fは、下部電極111の
上に、下地層12、反強磁性層17、ピン層15、第1
非磁性金属中間層141、ハーフメタル層142、第2
非磁性金属中間層143、フリー層13、保護膜18が
順次積層された磁気抵抗効果膜が形成されている。そし
て、その上に上部電極112が形成されている。
フメタルからなる層を設けることによっても、アップス
ピン電子のみを選択的に通過させ、前述したものと同様
に磁気抵抗変化を増大できる。
図7に例示したように、フリー層13と中間層14との
間にハーフメタルからなる層300を設けても良い。ま
た、図8に例示したように、中間層14とピン層15と
の間にハーフメタルからなる層300を設けても良い。
造を組み合わせても良い。つまり、ハーフメタルからな
る層をスピンバルブ構造の磁気抵抗効果膜の各層の間に
適宜挿入しても良い。
ー層13やピン層15にもハーフメタルを採用しても良
い。
具体例について説明する。
部断面構造を表す模式図である。すなわち、同図も、磁
気抵抗効果素子を磁気ヘッドとして用いる場合の媒体対
向面に対して平行な方向の断面図であり、図1乃至図6
に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付
して詳細な説明は省略する。
フメタル的性質を有しない高抵抗層の両者が設けられて
いる。
部電極111の上に、下地層12、反強磁性層17、磁
気結合中間層16、ハーフメタルからなるピン層15、
非磁性金属中間層14、フリー層13、中間層25、信
号磁界による磁化が応答するフリー層13、高抵抗層2
6、保護膜18が順次積層された磁気抵抗効果膜が形成
されている。そして、その上に上部電極112が形成さ
れた構造を有する。
流がこの積層体の膜面に対して垂直方向に通電される。
本具体例においては、ハーフメタルからなるピン層15
と非磁性金属中間層14との界面、および中間層25と
高抵抗層26との界面での電子反射効果のために、電子
がハーフメタルピン層15と高抵抗層26との間に閉じ
込められ易くなり、大きな抵抗変化が得られる。
物、あるいは弗化物などにより形成することができ、よ
り具体的には、Ta(タンタル)酸化物やCr(クロ
ム)酸化物、あるいはアルミナなどを用いることが望ま
しい。
電子反射効果の高い層に置き換えても良い。電子反射効
果の高い層の材料としては、例えば、Au(金)、Ag
(銀)などを挙げることができ、より詳しくは、本発明
者らによる特許出願(特願2001−321171号)
において詳細に開示されている。
た磁気再生装置について説明する。すなわち、図1乃至
図9に関して説明した本発明の磁気抵抗効果素子あるい
は磁気ヘッドは、例えば、記録再生一体型の磁気ヘッド
アセンブリに組み込まれ、磁気記録再生装置に搭載する
ことができる。
概略構成を例示する要部斜視図である。すなわち、本発
明の磁気記録再生装置150は、ロータリーアクチュエ
ータを用いた形式の装置である。同図において、磁気記
録用媒体ディスク200は、スピンドル152に装着さ
れ、図示しない駆動装置制御部からの制御信号に応答す
る図示しないモータにより矢印Aの方向に回転する。本
発明の磁気記録再生装置150は、複数の媒体ディスク
200を備えたものとしてもよい。
の磁化方向がディスク面と略平行ないわゆる「面内記録
方式」のものでも良く、あるいは、記録ビットの磁化方
向がディスク面に対して略垂直な「垂直記録方式」のも
のでも良い。
再生を行うヘッドスライダ153は、薄膜状のサスペン
ション154の先端に取り付けられている。ここで、ヘ
ッドスライダ153は、例えば、前述したいずれかの実
施の形態にかかる磁気抵抗効果素子あるいは磁気ヘッド
をその先端付近に搭載している。
スライダ153の媒体対向面(ABS)は媒体ディスク
200の表面から所定の浮上量をもって保持される。あ
るいはスライダが媒体ディスク200と接触するいわゆ
る「接触走行型」であってもよい。
コイルを保持するボビン部などを有するアクチュエータ
アーム155の一端に接続されている。アクチュエータ
アーム155の他端には、リニアモータの一種であるボ
イスコイルモータ156が設けられている。ボイスコイ
ルモータ156は、アクチュエータアーム155のボビ
ン部に巻き上げられた図示しない駆動コイルと、このコ
イルを挟み込むように対向して配置された永久磁石およ
び対向ヨークからなる磁気回路とから構成される。
ル157の上下2箇所に設けられた図示しないボールベ
アリングによって保持され、ボイスコイルモータ156
により回転摺動が自在にできるようになっている。
ら先の磁気ヘッドアセンブリをディスク側から眺めた拡
大斜視図である。すなわち、磁気ヘッドアッセンブリ1
60は、例えば駆動コイルを保持するボビン部などを有
するアクチュエータアーム155を有し、アクチュエー
タアーム155の一端にはサスペンション154が接続
されている。サスペンション154の先端には、図1乃
至図9に関して前述したような本発明の磁気抵抗効果素
子あるいは磁気ヘッドを具備するヘッドスライダ153
が取り付けられている。サスペンション154は信号の
書き込みおよび読み取り用のリード線164を有し、こ
のリード線164とヘッドスライダ153に組み込まれ
た磁気ヘッドの各電極とが電気的に接続されている。図
中165は磁気ヘッドアッセンブリ160の電極パッド
である。
述したような磁気抵抗効果素子あるいは磁気ヘッドを具
備することにより、従来よりも大幅に高い記録密度で磁
気記録媒体ディスク200に磁気的に記録された情報を
確実に読みとることが可能となる。
の形態について説明した。しかし、本発明は、これらの
具体例に限定されるものではない。例えば、磁気抵抗効
果膜を構成する各要素の具体的な寸法関係や材料、その
他、電極、バイアス印加膜、絶縁膜などの形状や材質に
関しては、当業者が公知の範囲から適宜選択することに
より本発明を同様に実施し、同様の効果を得ることがで
きる限り、本発明の範囲に包含される。
層、ピン層、スペーサ層、フリー層などの構成要素は、
それぞれ単層として形成してもよく、あるいは2以上の
層を積層した構造としてもよい。
磁気ヘッドに適用する際に、これと隣接して書き込み用
の磁気ヘッドを設けることにより、記録再生一体型の磁
気ヘッドが得られる。
磁気記録媒体を定常的に備えたいわゆる固定式のもので
も良く、一方、記録媒体が差し替え可能ないわゆる「リ
ムーバブル」方式のものでも良い。
は、トランジスタ/ダイオード等と組み合わせて、ある
いは単独で、磁気情報を記憶する「磁気メモリセル」を
構成することができる。つまり、本発明は、磁気メモリ
セルを集積化した「磁気メモリ装置(MRAM)」にも
適用可能である。
た磁気ヘッド及び磁気記憶再生装置を基にして、当業者
が適宜設計変更して実施しうるすべての磁気抵抗効果素
子、磁気ヘッド及び磁気記憶再生装置も同様に本発明の
範囲に属する。
ピンバルブ構造を有する垂直通電型の磁気抵抗効果素子
の磁気抵抗効果膜にハーフメタルからなる磁性層を挿入
することにより、大きな抵抗変化量、低ノイズ、優れた
高周波応答性など、従来のTMRや金属系スピンバルブ
構造の垂直通電型磁気抵抗効果素子では実現できなった
特性が併せて実現できる。
出力で高いS/Nを有する磁気ヘッド、およびそれを搭
載した磁気再生装置を提供することが可能となり産業上
のメリットは多大である。
の要部断面構造を表す模式図である。
部断面構造を表す模式図である。
部断面構造を表す模式図である。
部断面構造を表す模式図である。
部断面構造を表す模式図である。
部断面構造を表す模式図である。
部断面構造を表す模式図である。
部断面構造を表す模式図である。
部断面構造を表す模式図である。
する要部斜視図である。
ッドアセンブリをディスク側から眺めた拡大斜視図であ
る。
Claims (9)
- 【請求項1】磁化方向が実質的に一方向に固着された磁
性体膜を有する磁化固着層と、磁化方向が外部磁界に対
応して変化する磁性体膜を有する磁化自由層と、前記磁
化固着層と前記磁化自由層との間に設けられた非磁性金
属中間層と、を有する磁気抵抗効果膜と、 前記磁気抵抗効果膜の膜面に対して略垂直な方向に電流
を通電するために前記磁気抵抗効果膜に電気的に接続さ
れた一対の電極と、 を備え、 前記磁気抵抗効果膜は、ハーフメタルを主成分とした磁
性層を含むことを特徴とする磁気抵抗効果素子。 - 【請求項2】前記ハーフメタルは、自発磁化を有する鉄
酸化物、自発磁化を有するクロム酸化物、及び自発磁化
を有するマンガン酸化物の少なくともいずれかであるこ
とを特徴とする請求項1記載の磁気抵抗効果素子。 - 【請求項3】前記ハーフメタルは、Fe3O4酸化物、
CrO2酸化物、及びマンガナイトの少なくともいずれ
かであることを特徴とする請求項1記載の磁気抵抗効果
素子。 - 【請求項4】前記ハーフメタルを主成分とした磁性層
は、ピンホールの面積比が15%以下の連続層であるこ
とを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の磁
気抵抗効果素子。 - 【請求項5】前記ハーフメタルを主成分とした磁性層
は、前記磁化自由層と前記磁化固着層の少なくともいず
れかに含まれることを特徴とする請求項1〜4のいずれ
か1つに記載の磁気抵抗効果素子。 - 【請求項6】前記磁化自由層は、前記ハーフメタルを主
成分とした磁性層と、前記磁性層よりも外部磁界に対し
て磁化方向が敏感に変化する強磁性層と、を含むことを
特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の磁気抵
抗効果素子。 - 【請求項7】前記ハーフメタルを主成分とした磁性層
は、前記磁化自由層と前記磁化固着層との間に設けられ
たことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載
の磁気抵抗効果素子。 - 【請求項8】請求項1〜7のいずれか1つに記載の磁気
抵抗効果素子を備えたことを特徴とする磁気ヘッド。 - 【請求項9】請求項8記載の磁気ヘッドを備え、磁気記
録媒体に磁気的に記録された情報の読み取りを可能とし
たことを特徴とする磁気再生装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001190512A JP3590006B2 (ja) | 2001-06-22 | 2001-06-22 | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置 |
US10/178,023 US7190558B2 (en) | 2001-06-22 | 2002-06-24 | Magnetoresistive effect element, magnetic head and magnetic reproducing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001190512A JP3590006B2 (ja) | 2001-06-22 | 2001-06-22 | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003008103A true JP2003008103A (ja) | 2003-01-10 |
JP3590006B2 JP3590006B2 (ja) | 2004-11-17 |
Family
ID=19029273
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001190512A Expired - Fee Related JP3590006B2 (ja) | 2001-06-22 | 2001-06-22 | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7190558B2 (ja) |
JP (1) | JP3590006B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004289100A (ja) * | 2003-01-31 | 2004-10-14 | Japan Science & Technology Agency | Cpp型巨大磁気抵抗素子及びそれを用いた磁気部品並びに磁気装置 |
JP2006253625A (ja) * | 2004-09-03 | 2006-09-21 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子 |
US7310210B2 (en) | 2004-01-30 | 2007-12-18 | Tdk Corporation | Magnetoresistive sensor having cobalt-iron alloy layer in free layer |
US7466525B2 (en) | 2004-09-03 | 2008-12-16 | Tdk Corporation | Magnetic sensing element including laminated film composed of half-metal and NiFe alloy as free layer |
US7715153B2 (en) | 2004-09-07 | 2010-05-11 | Tdk Corporation | Magnetoresistive effect element having inner and outer pinned layers including a cobalt iron alloy |
Families Citing this family (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6905780B2 (en) | 2001-02-01 | 2005-06-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Current-perpendicular-to-plane-type magnetoresistive device, and magnetic head and magnetic recording-reproducing apparatus using the same |
JP3590006B2 (ja) | 2001-06-22 | 2004-11-17 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置 |
JP3749873B2 (ja) * | 2002-03-28 | 2006-03-01 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置 |
JP4382333B2 (ja) * | 2002-03-28 | 2009-12-09 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置 |
JP2003324225A (ja) * | 2002-04-26 | 2003-11-14 | Nec Corp | 積層フェリ型磁性薄膜並びにそれを使用した磁気抵抗効果素子及び強磁性トンネル素子 |
KR100548997B1 (ko) * | 2003-08-12 | 2006-02-02 | 삼성전자주식회사 | 다층박막구조의 자유층을 갖는 자기터널 접합 구조체들 및이를 채택하는 자기 램 셀들 |
TWI250651B (en) * | 2003-08-12 | 2006-03-01 | Samsung Electronics Co Ltd | Magnetic tunnel junction and memory device including the same |
US7093347B2 (en) * | 2003-12-05 | 2006-08-22 | Seagate Technology Llc | Method of making a current-perpendicular to the plane (CPP) magnetoresistive (MR) sensor |
US7099122B2 (en) * | 2003-12-16 | 2006-08-29 | Seagate Technology Llc | Spin polarization enhancement artificial magnet |
JP2006013430A (ja) * | 2004-05-28 | 2006-01-12 | Fujitsu Ltd | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記憶装置 |
US7576956B2 (en) * | 2004-07-26 | 2009-08-18 | Grandis Inc. | Magnetic tunnel junction having diffusion stop layer |
US7405908B2 (en) * | 2004-07-30 | 2008-07-29 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Magnetic head with improved free magnetic layer biasing for thinner CPP sensor stack |
KR100612854B1 (ko) * | 2004-07-31 | 2006-08-21 | 삼성전자주식회사 | 스핀차지를 이용한 자성막 구조체와 그 제조 방법과 그를구비하는 반도체 장치 및 이 장치의 동작방법 |
US20060050446A1 (en) * | 2004-09-03 | 2006-03-09 | Alps Electric Co., Ltd. | Magnetic sensing element including laminated film composed of half-metal and NiFe alloy as free layer |
US7382586B2 (en) * | 2005-03-31 | 2008-06-03 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Magnetic read sensor employing oblique etched underlayers for inducing uniaxial magnetic anisotropy in a self biased free layer |
US7973349B2 (en) * | 2005-09-20 | 2011-07-05 | Grandis Inc. | Magnetic device having multilayered free ferromagnetic layer |
US7777261B2 (en) * | 2005-09-20 | 2010-08-17 | Grandis Inc. | Magnetic device having stabilized free ferromagnetic layer |
US20070096229A1 (en) * | 2005-10-28 | 2007-05-03 | Masatoshi Yoshikawa | Magnetoresistive element and magnetic memory device |
JP4786331B2 (ja) | 2005-12-21 | 2011-10-05 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子の製造方法 |
JP4514721B2 (ja) * | 2006-02-09 | 2010-07-28 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド、磁気記録再生装置及び磁気記憶装置 |
JP2007299880A (ja) * | 2006-04-28 | 2007-11-15 | Toshiba Corp | 磁気抵抗効果素子,および磁気抵抗効果素子の製造方法 |
JP4550777B2 (ja) | 2006-07-07 | 2010-09-22 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記録再生装置及び磁気メモリ |
JP5044157B2 (ja) * | 2006-07-11 | 2012-10-10 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子,磁気ヘッド,および磁気再生装置 |
JP2008085202A (ja) | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Toshiba Corp | 磁気抵抗効果素子、磁気メモリ、磁気ヘッド、および磁気記録再生装置 |
JP4496189B2 (ja) | 2006-09-28 | 2010-07-07 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果型素子および磁気抵抗効果型ランダムアクセスメモリ |
JP4388093B2 (ja) | 2007-03-27 | 2009-12-24 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記録再生装置 |
JP2008311373A (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Toshiba Corp | 磁性多層膜通電素子 |
US7957179B2 (en) * | 2007-06-27 | 2011-06-07 | Grandis Inc. | Magnetic shielding in magnetic multilayer structures |
JP5361201B2 (ja) | 2008-01-30 | 2013-12-04 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子の製造方法 |
JP5150284B2 (ja) | 2008-01-30 | 2013-02-20 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子およびその製造方法 |
US7826258B2 (en) * | 2008-03-24 | 2010-11-02 | Carnegie Mellon University | Crossbar diode-switched magnetoresistive random access memory system |
JP2009239121A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Toshiba Corp | 磁気抵抗効果素子及び磁気ランダムアクセスメモリ |
US7894248B2 (en) * | 2008-09-12 | 2011-02-22 | Grandis Inc. | Programmable and redundant circuitry based on magnetic tunnel junction (MTJ) |
JP5039006B2 (ja) | 2008-09-26 | 2012-10-03 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドアセンブリ及び磁気記録再生装置 |
JP5039007B2 (ja) | 2008-09-26 | 2012-10-03 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドアセンブリ及び磁気記録再生装置 |
JP2010080839A (ja) | 2008-09-29 | 2010-04-08 | Toshiba Corp | 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドアセンブリおよび磁気記録再生装置 |
US11506732B2 (en) | 2010-10-20 | 2022-11-22 | Infineon Technologies Ag | XMR sensors with serial segment strip configurations |
US10686123B2 (en) | 2018-08-16 | 2020-06-16 | International Business Machines Corporation | Multilayered magnetic free layer structure for spin-transfer torque (STT) MRAM |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05275769A (ja) | 1992-03-25 | 1993-10-22 | Hitachi Maxell Ltd | 磁界センサ |
KR100262282B1 (ko) * | 1996-04-30 | 2000-10-02 | 니시무로 타이죠 | 자기 저항 효과 소자 |
JPH10284765A (ja) | 1997-04-04 | 1998-10-23 | Nippon Steel Corp | 電圧駆動型スピンスイッチ |
JP3206582B2 (ja) | 1998-01-27 | 2001-09-10 | 松下電器産業株式会社 | スピン偏極素子 |
US6348274B1 (en) | 1998-12-28 | 2002-02-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetoresistive element and magnetic recording apparatus |
JP4144831B2 (ja) | 1998-12-28 | 2008-09-03 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子及び磁気記録装置 |
JP3987226B2 (ja) * | 1999-02-05 | 2007-10-03 | 富士通株式会社 | 磁気抵抗効果型デバイス |
KR100722334B1 (ko) * | 1999-03-01 | 2007-05-28 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 자기 센서 및 강자성 터널 접합 소자 |
US6611405B1 (en) * | 1999-09-16 | 2003-08-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetoresistive element and magnetic memory device |
KR100373473B1 (ko) * | 1999-09-24 | 2003-02-25 | 가부시끼가이샤 도시바 | 자기 저항 효과 소자, 자기 저항 효과 헤드, 자기 재생장치 및 자성 적층체 |
JP4469482B2 (ja) | 1999-09-24 | 2010-05-26 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド、磁気再生装置、及び磁性積層体 |
JP2001126219A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-05-11 | Read Rite Corp | スピンバルブ型磁気抵抗センサ及び薄膜磁気ヘッド |
US6407890B1 (en) * | 2000-02-08 | 2002-06-18 | International Business Machines Corporation | Dual spin valve sensor read head with a specular reflector film embedded in each antiparallel (AP) pinned layer next to a spacer layer |
US6721149B1 (en) * | 2000-02-11 | 2004-04-13 | Western Digital (Fremont), Inc. | Tunneling magnetoresistance spin-valve read sensor with LaNiO3 spacer |
JP2001358380A (ja) * | 2000-06-13 | 2001-12-26 | Alps Electric Co Ltd | スピンバルブ型薄膜磁気素子およびこのスピンバルブ型薄膜磁気素子を備えた薄膜磁気ヘッド |
US6560078B1 (en) * | 2000-07-13 | 2003-05-06 | International Business Machines Corporation | Bilayer seed layer for spin valves |
US6680831B2 (en) | 2000-09-11 | 2004-01-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magnetoresistive element, method for manufacturing the same, and method for forming a compound magnetic thin film |
JP3583091B2 (ja) | 2000-09-11 | 2004-10-27 | 松下電器産業株式会社 | 磁気抵抗素子とその製造方法 |
US6473279B2 (en) * | 2001-01-04 | 2002-10-29 | International Business Machines Corporation | In-stack single-domain stabilization of free layers for CIP and CPP spin-valve or tunnel-valve read heads |
US6661626B2 (en) * | 2001-03-20 | 2003-12-09 | International Business Machines Corporation | Tunnel valve sensor having a pinned layer structure with an iron oxide (Fe3O4) layer |
JP3590006B2 (ja) | 2001-06-22 | 2004-11-17 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置 |
-
2001
- 2001-06-22 JP JP2001190512A patent/JP3590006B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-06-24 US US10/178,023 patent/US7190558B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004289100A (ja) * | 2003-01-31 | 2004-10-14 | Japan Science & Technology Agency | Cpp型巨大磁気抵抗素子及びそれを用いた磁気部品並びに磁気装置 |
US7310210B2 (en) | 2004-01-30 | 2007-12-18 | Tdk Corporation | Magnetoresistive sensor having cobalt-iron alloy layer in free layer |
JP2006253625A (ja) * | 2004-09-03 | 2006-09-21 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子 |
US7466525B2 (en) | 2004-09-03 | 2008-12-16 | Tdk Corporation | Magnetic sensing element including laminated film composed of half-metal and NiFe alloy as free layer |
JP4674498B2 (ja) * | 2004-09-03 | 2011-04-20 | Tdk株式会社 | 磁気検出素子 |
US7715153B2 (en) | 2004-09-07 | 2010-05-11 | Tdk Corporation | Magnetoresistive effect element having inner and outer pinned layers including a cobalt iron alloy |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7190558B2 (en) | 2007-03-13 |
US20030011463A1 (en) | 2003-01-16 |
JP3590006B2 (ja) | 2004-11-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3590006B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置 | |
JP4521316B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、および磁気記録再生装置 | |
JP4594679B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記録再生装置、および磁気メモリ | |
JP3807254B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果型磁気センサ、および磁気抵抗効果型磁気ヘッド | |
US8477461B2 (en) | Thin film magnetic head having a pair of magnetic layers whose magnetization is controlled by shield layers | |
JP3565268B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置 | |
JP4177954B2 (ja) | 磁気トンネル接合積層型ヘッド及びその製法 | |
JP3657916B2 (ja) | 磁気抵抗効果ヘッドおよび垂直磁気記録再生装置 | |
US20030062981A1 (en) | Magnetoresistance effect element and magnetoresistance effect type magnetic head | |
JP4237171B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子および薄膜磁気ヘッド | |
US7719799B2 (en) | Magnetoresistive element, magnetic head and magnetic recording/reproducing apparatus | |
JP2003008100A (ja) | 磁気検出素子及び前記磁気検出素子を用いた薄膜磁気ヘッド | |
JP2002092829A (ja) | 磁気抵抗センサ及び磁気抵抗ヘッド | |
US20080144228A1 (en) | Magnetic head and magnetic disk apparatus | |
JP4690675B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、および磁気記録再生装置 | |
JP4939050B2 (ja) | 磁気トンネル接合素子の磁化自由層の形成方法ならびにトンネル接合型再生ヘッドおよびその製造方法 | |
JP3650092B2 (ja) | 交換結合膜、スピンバルブ膜、薄膜磁気ヘッド、磁気ヘッド装置及び磁気記録再生装置 | |
US7145755B2 (en) | Spin valve sensor having one of two AP pinned layers made of cobalt | |
CN100367352C (zh) | 磁阻磁头以及磁记录-复制装置 | |
US7173796B2 (en) | Spin valve with a capping layer comprising an oxidized cobalt layer and method of forming same | |
JP3565484B2 (ja) | 交換結合膜、磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果型ヘッドおよび交換結合膜の製造方法 | |
JP2004128026A (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記録装置 | |
JPH07129928A (ja) | 磁気抵抗効果ヘッド | |
JP2010080535A (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気記録再生装置 | |
JP2001101622A (ja) | スピンバルブ型磁気センサを有する磁気ヘッド |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040227 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040303 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040506 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040526 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20040528 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040726 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040816 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040818 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070827 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080827 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090827 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090827 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100827 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100827 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110827 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110827 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120827 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120827 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130827 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |