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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine chemisch verstärkte Positivresistzusammensetzung,
die zur Präzisionsverarbeitung
eines Halbleiters geeignet ist.
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Ein
Lithographieverfahren unter Verwendung einer Resistzusammensetzung
wurde zur Präzisionsverarbeitung
eines Halbleiters verwendet. Bei der Lithographieverarbeitung kann
die Auflösung
mit einer Verringerung der Wellenlänge des Belichtungslichts im
Prinzip verbessert werden, wie durch den Ausdruck der Rayleigh-Grenzstreuung
ausgedrückt.
Eine g-Linie mit
einer Wellenlänge
von 436 nm, eine i-Linie mit einer Wellenlänge von 365 nm und ein KrF-Exzimerlaser
mit einer Wellenlänge
von 248 nm wurden als Belichtungslichtquellen für Lithographie verwendet, die
zur Herstellung eines Halbleiters verwendet wird. So wurde die Wellenlänge der
Belichtungslichtquelle Jahr für
Jahr kürzer.
Ein ArF-Exzimerlaser mit einer Wellenlänge von 193 nm wird als nächste Generation
einer Belichtungslichtquelle als vielversprechend angesehen.
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Eine
in einer Belichtungsvorrichtung mit einem ArF-Exzimerlaser verwendete
Linse weist kürzere
Lebensdauer, verglichen mit Linsen für herkömmliche Belichtungslichtquellen,
auf. Demgemäß ist eine
zum Aussetzen gegenüber
Licht eines ArF-Exzimerlasers erforderliche kürzere Zeit im Lithographieverfahren
erwünscht
und zum Verringern der Belichtungszeit war höhere Empfindlichkeit eines
Resists erwünscht.
Folglich wurde ein sogenannter chemisch verstärkter Resist verwendet, der
die katalytische Wirkung einer durch Belichtung gebildeten Säure verwendet
und ein Harz mit einer durch die Wirkung einer Säure spaltbaren Gruppe enthält.
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Es
ist erwünscht,
dass in einem Resist für
Belichtung mit ArF-Exzimerlaser verwendete Harze keinen aromatischen
Ring aufweisen, um die Durchlässigkeit
des Resists sicherzustellen, aber einen alicyclischen Ring aufweisen,
um ihnen Trockenätzbeständigkeit
zu verleihen. Verschiedene Arten von Harzen, wie die in Journal
of Photopolymer Science and Technology, Band 9, Nr. 3, Seiten 387-398
(1996) von D.C. Hofer beschriebenen, sind als in einem Resist für Belichtung
mit ArF-Exzimerlaser verwendbare Harze bekannt. Jedoch weisen herkömmlich bekannte
Harze das Problem auf, dass das Ablösen eines Musters durch nicht
ausreichende Haftung bei der Entwicklung auftreten kann.
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Journal
of Photopolymer Science and Technology, Band 9, Nr. 3, Seiten 475-487
(1996) von Takechi et al. und JP-A-9-73173 berichteten, dass hohe
Trockenätzbeständigkeit
und hohe Auflösung,
sowie gute Haftung an ein Substrat unter Verwendung eines chemisch
verstärkten
Resists erreicht werden können,
der ein Polymer oder Copolymer von 2-Methyl-2-adamantylmethacrylat als Harz umfasst,
in dem 2-Methyl-2-adamantyl durch die Wirkung einer Säure abgespalten
wird, wobei er als positiver Typ dient.
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Eine
Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ist eine chemisch verstärkte Positivresistzusammensetzung bereitzustellen,
die einen Harzbestandteil und einen Säuregenerator umfasst und für Exzimerlaserlithographie von
z.B. ArF und KrF geeignet ist, wobei verschiedene Resisteigenschaften,
wie Empfindlichkeit und Auflösung,
gut sind und insbesondere die Haftung an ein Substrat ausgezeichnet
ist.
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Es
wurde vorher festgestellt, dass die Haftung an ein Substrat unter
Verwendung einer chemisch verstärkten
Positivresistzusammensetzung verbessert ist, die ein Harz mit einem
Butyrolactonrest in einem Teil ihrer Polymerisationseinheit oder
ein Harz mit einer Polymerisationseinheit von 2-Alkyl-2-adamantyl(meth)acrylat
und eine Polymerisationseinheit von Maleinsäureanhydrid umfasst; siehe
JP-A-10-12406 und JP-A-10-191559.
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EP-A-0
856 773 betrifft eine Photoresistzusammensetzung, umfassend ein
Harz mit einem Butyrolactonrest und Photosäure-labile anhängende Estereinheiten,
wie tert-Butyl, 1-Ethoxyethyl,
1-(2-Methoxyethoxy)ethyl, 1-(2-Acetoxyethoxy)ethyl, 1-[2-(1-Adamantyloxy)ethoxy]ethyl,
1-[2-(1-Adamantancarbonyloxy)ethoxy]ethyl, Tetrahydro-2-furanyl, Tetrahydro-2-pyranyl,
3-Oxocyclohexyl, 4-Methyltetrahydro-2-pyron-4-yl oder 2-Methyl-2-adamantyl.
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DE-A-19626003
betrifft eine Photoresistzusammensetzung, umfassend ein Harz mit
einem Butyrolacton- oder Mevalonlactonrest und Photosäure-labile
anhängende
Estereinheiten, wie 2-Alkyl-2-adamantyl.
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EP-A-0
663 616 betrifft eine Photoresistzusammensetzung, umfassend ein
Harz mit einem alicyclischen Rest, wie Adamantyl, und einem verzweigten
Alkylrest, wie tert-Butyl, als Photosäure-labile anhängende Estereinheiten.
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US-A-5474872
betrifft eine Photoresistzusammensetzung, umfassend ein Harz mit
einem Cyanorest und Photosäure-labile
anhängende
Estereinheiten, wie Adamantyl, Norbornyl, Cyclohexyl, Cyclopentyl
und tert-Butyl.
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EP-A-0
930 542 und EP-A-0 915 382 bilden Ausführungsformen des Stands der
Technik gemäß Art. 54(3)
EPC. Beide Druckschriften beziehen sich auf eine Photoresistzusammensetzung,
umfassend einen photoaktiven Bestandteil und ein Harzbindemittel,
hergestellt aus einem Polymer mit Photosäure-labilen anhängenden
Estereinheiten, wie Isobornyl, Adamantyl, 2-Methyl-2-adamantyl,
tert-Butyl, Fenchyl, Pinenyl, [3.2.0]-verbrückten und [2.2.1]-verbrückten Systemen,
Heterocyclyl, Cycloalkyl oder Alkenyl.
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Jetzt
wurde festgestellt, dass Harze mit einer Polymerisationseinheit
einer bestimmten Struktur der Adamantanreihe und einer bestimmten
Polymerisationseinheit hoher Polarität zum Verbessern der Haftung
an ein Substrat wirksam sind.
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Die
vorliegende Erfindung stellt eine chemisch verstärkte Positivresistzusammensetzung
bereit, umfassend ein Harz (1) mit einer 2-Methyl-2-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit
und einer 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit;
und einen
Säuregenerator.
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Die
hier zitierte 2-Methyl-2-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit
bedeutet eine Einheit im Polymer, gebildet durch die Polymerisation
von 2-Methyl-2-adamantylacrylat oder 2-Methyl-2-adamantylmethacrylat.
Die Polymerisationseinheit von 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat bedeutet eine
Einheit im Polymer, gebildet durch die Polymerisation von 3-Hydroxy-1-adamantylacrylat
oder 3-Hydroxy-1-adamantylmethacrylat. Ferner bedeutet die Polymerisationseinheit
von (Meth)acrylnitril nachstehend eine Einheit im Polymer, gebildet
durch die Polymerisation von Acrylnitril oder Methacrylnitril. Diese
Einheiten werden durch die folgenden Formeln (I) bis (III) dargestellt:
wobei R
1 Wasserstoff
oder Methyl darstellt und R
2 Methyl darstellt.
wobei R
3 Wasserstoff
oder Methyl darstellt.
wobei R
4 Wasserstoff
oder Methyl darstellt.
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Daher
weist das Harz (1) eine Einheit der vorstehend beschriebenen Formeln
(I) und (II) und gegebenenfalls die Einheit der vorstehend beschriebenen
Formel (III) auf. Das Harz (1) kann auch eine α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton-Polymerisationseinheit
oder eine Maleinsäureanhydrid-Polymerisationseinheit
aufweisen. Die hier zitierte α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton-Polymerisationseinheit
bedeutet eine Einheit im Polymer, gebildet durch die Polymerisation
von α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton.
Die Polymerisationseinheit von Maleinsäureanhydrid bedeutet eine Einheit
im Polymer, gebildet durch die Polymerisation von Maleinsäureanhydrid.
Diese Einheiten werden durch die folgenden Formeln (IV) bzw. (V)
dargestellt:
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Die
2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat-Polymerisationseinheit der folgenden
Formel (Ia) ist wichtig.
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Diese
2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat-Polymerisationseinheit der Formel
(Ia) kann mit mindestens einer der Polymerisationseinheiten, ausgewählt aus
der 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit
der vorstehend beschriebenen Formel (II), der (Meth)acrylnitril-Polymerisationseinheit
der vorstehend beschriebenen Formel (III), der α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton-Polymerisationseinheit
der vorstehend beschriebenen Formel (IV) und der Maleinsäureanhydrid-Polymerisationseinheit
der vorstehend beschriebenen Formel (V), kombiniert werden, wobei
ein in einem chemisch verstärkten
Positivresist verwendbares Harz gebildet wird. Daher stellt die
vorliegende Erfindung auch eine chemisch verstärkte Positivresistzusammensetzung
bereit, umfassend
ein Harz (2) mit einer 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat-Polymerisationseinheit
und einer Monomer-Polymerisationseinheit, ausgewählt aus 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat,
(Meth)acrylnitril, α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton
und Maleinsäureanhydrid;
und
einen Säuregenerator.
Das heißt,
das Harz (2) weist die Einheit der Formel (Ia) und eine oder mehrere
der Einheiten der Formeln (II), (III), (IV) und (V) auf.
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Das
Harz (1) weist die 2-Methyl-2-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit
der Formel (I), die 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit
der Formel (II) und gegebenenfalls die (Meth)acrylnitril-Polymerisationseinheit
der Formel (III) auf. Das Harz (1) kann gegebenenfalls die α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton-Polymerisationseinheit
der Formel (IV) und/oder die Maleinsäureanhydrid-Polymerisationseinheit
der Formel (V) aufweisen. Daher kann das Harz (I) unter Durchführen einer
Copolymerisation von 2-Methyl-2-adamantyl(meth)acrylat,
3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat und gegebenenfalls (Meth)acrylnitril, α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton
und/oder Maleinsäureanhydrid
hergestellt werden.
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Unter
diesen Monomeren kann 2-Methyl-2-adamantyl(meth)acrylat im Allgemeinen
durch die Umsetzung von 2-Methyl-2-adamantanol oder eines Metallsalzes
davon und Acrylsäurehalogenid
oder Methacrylsäurehalogenid
hergestellt werden. 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat
kann durch Hydrolyse von 1,3-Dibromadamantan hergestellt werden,
wobei 1,3-Dihydroxyadamantan hergestellt wird, das dann mit Acrylsäure, Methacrylsäure oder
einem Halogenid davon umgesetzt wird.
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Die
Polymerisationseinheit von 2-Methyl-2-adamantyl(meth)acrylat der
Formel (I) stellt die Durchlässigkeit
eines Resists sicher und trägt
zur Verbesserung der Trockenätzbeständigkeit
durch das Vorhandensein eines Adamantanrings bei. Ferner wird das
2-Methyl-2-adamantyl in dieser Einheit durch die Wirkung einer Säure abgespalten
und daher trägt
diese Einheit zur Verstärkung
der Alkalilöslichkeit
nach Belichten eines Resistfilms bei.
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Das
Harz (2) weist die Polymerisationseinheit von 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat
der Formel (Ia) und mindestens eine der Polymerisationseinheiten,
ausgewählt
aus der 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit
der Formel (II), der (Meth)acrylnitril-Polymerisationseinheit der
Formel (III), der α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton-Polymerisationseinheit
der Formel (IV) und der Maleinsäureanhydrid- Polymerisationseinheit
der Formel (V), auf. Daher kann das Harz (2) unter Durchführen einer
Copolymerisation von 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat und mindestens
einem der Monomere, ausgewählt
aus 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat, (Meth)acrylnitril, α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton
und Maleinsäureanhydrid,
hergestellt werden.
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2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat
kann durch die Umsetzung von 2-Ethyl-2-adamantanol oder einem Metallsalz
davon und Methacrylsäurehalogenid
hergestellt werden. Zum Beispiel läßt man Ethyllithium mit 2-Adamantanon
reagieren, wobei Lithium-2-ethyl-2-adamantanolat gebildet wird.
Das erhaltene Lithium-2-ethyl-2-adamantanolat wird einer Kondensation
mit Methacrylsäurehalogenid
unterzogen, wobei 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat erhalten wird.
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Die
3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit der Formel
(II), die (Meth)acrylnitril-Polymerisationseinheit der Formel (III),
die α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton-Polymerisationseinheit
der Formel (IV) und die Maleinsäureanhydrid-Polymerisationseinheit
der Formel (V) weisen hohe Polarität auf. Das Vorhandensein einer
dieser Polymerisationseinheiten in einem Harz (2) trägt zur Verbesserung
der Haftung eines das Harz (2) umfassenden Resists an ein Substrat
bei. Insbesondere weist die α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton-Polymerisationseinheit
der Formel (IV) ausgezeichnete Wirkung in der Verbesserung der Haftung auf.
Die α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton-Polymerisationseinheit
zeigt bemerkenswerte Wirkung in Kombination mit der 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat-Polymerisationseinheit
der Formel (Ia).
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Die
2-Methyl-2-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit der Formel
(I) zeigt auch bemerkenswerte Wirkung in Kombination mit der 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit
oder der (Meth)acrylnitril-Polymerisationseinheit. Ferner tragen
unter den vorstehend beschriebenen Einheiten die 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit,
die (Meth)acrylnitril-Polymerisationseinheit und die Maleinsäureanhydrid-Polymerisationseinheit
auch zur Verbesserung der Trockenätzbeständigkeit eines Resists bei.
Währenddessen
tragen die 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit
und die α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton-Polymerisationseinheit
auch zur Verbesserung der Auflösung
des Resists bei.
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Ein
Harz für
einen chemisch verstärkten
Positivresist selbst ist im Allgemeinen alkaliunlöslich oder
in geringem Maße
alkalilöslich.
Jedoch wird ein Teil einer Gruppe darin durch die Wirkung einer
Säure abgespalten
und das Harz wird nach der Abspaltung alkalilöslich. Im Harz (1) oder (2),
die in der vorliegenden Erfindung festgelegt sind, wird 2-Methyl-2-adamantyl
in der Formel (I) oder 2-Ethyl-2-adamantyl in der Formel (Ia) durch die
Wirkung einer Säure
abgespalten. Daher bewirkt das Vorhandensein der Polymerisationseinheit
der Formel (I) oder (Ia) im Harz (1) oder (2), dass eine das Harz
umfassende Resistzusammensetzung als Positivtyp dient. Falls erforderlich
kann das Harz auch andere Polymerisationseinheiten mit einer Gruppe
umfassen, die durch die Wirkung einer Säure abgespalten wird.
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Beispiele
der Gruppe in den anderen Polymerisationseinheiten, die durch die
Wirkung einer Säure
abgespalten wird, schließen
verschiedene Carbonsäureester
ein. Beispiele der Carbonsäureester
schließen
Alkylester, wie tert-Butylester, Ester vom Acetaltyp, wie Methoxymethylester,
Ethoxymethylester, 1-Ethoxyethylester, 1-Isobutoxyethylester, 1-Isopropoxyethylester,
1-Ethoxypropylester, 1-(2-Methoxyethoxy)ethylester, 1-(2-Acetoxyethoxy)ethylester,
1-[2-(1-Adamantyloxy)ethoxy]ethylester, 1-[2-(1-Adamantancarbonyloxy)ethoxy]ethylester,
Tetrahydro-2-furylester und Tetrahydro-2-pyranylester, und alicyclische Ester,
wie Isobornylester, ein. Beispiele der Monomere, die zur Herstellung
des Polymers mit einer Einheit, die solche Carbonsäureester aufweist,
verwendet werden, schließen
Acrylmonomere, wie Methacrylat und Acrylat und die ein, in denen
Carbonsäureestergruppen
an alicyclische Monomere gebunden sind, wie Norbornencarboxylat,
Tricyclodecencarboxylat und Tetracyclodecencarboxylat.
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Das
Harz (1) oder (2) enthält
vorzugsweise die Polymerisationseinheit mit einer Gruppe, die durch
die Wirkung einer Säure
gespalten wird, in einer Menge im Bereich von 30 bis 80 Mol-% im Allgemeinen,
obwohl die bevorzugte Menge abhängig
von der Art der radioaktiven Strahlen zum Belichten zur Musterbildung
und der Art des Rests, der durch die Wirkung einer Säure abgespalten
wird, variieren kann.
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Die
Menge der 2-Methyl-2-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit
der Formel (I), wobei die 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat-Polymerisationseinheit
der Formel (Ia) ein Beispiel davon ist, beträgt vorzugsweise 20 Mol-% oder
mehr, bezogen auf die Gesamtmenge des Harzes. Die Gesamtmenge der
Polymerisationseinheiten der Formel (I) und der anderen Polymerisationseinheit
mit einem Rest, der durch die Wirkung einer Säure abgespalten wird, beträgt vorzugsweise
30 bis 80 Mol-%, bezogen auf die Gesamtmenge des Harzes, wie vorstehend
genannt. Stärker
bevorzugt beträgt
die Menge der 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat-Polymerisationseinheit
der Formel (Ia) 20 Mol-% oder mehr und die Gesamtmenge der Polymerisationseinheit
der Formel (I) beträgt
30 bis 80 Mol-%, bezogen auf die Gesamtmenge des Harzes.
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Die
Gesamtmenge der 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit
der Formel (II), der (Meth)acrylnitril-Polymerisationseinheit der
Formel (III), der α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton-Polymerisationseinheit
der Formel (IV) und der Maleinsäureanhydrid-Polymerisationseinheit
der Formel (V) ist vorzugsweise eine Menge im Bereich von 20 bis
70 Mol-% im Harz (1) oder (2). Im Harz (1) beträgt die Gesamtmenge der 3-Hydroxy-1-adamantyl(meth)acrylat-Polymerisationseinheit
und gegebenenfalls der (Meth)acrylnitril-Polymerisationseinheit
vorzugsweise 20 Mol-% oder mehr. Wenn die α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton-Polymerisationseinheit
und/oder die Maleinsäureanhydrid-Polymerisationseinheit
gegebenenfalls eingeführt
wird, beträgt
die Gesamtmenge der 3-Hydroxy-1-adamanty(meth)acrylat-Polymerisationseinheit,
der (Meth)acrylnitril-Polymerisationseinheit,
der α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton-Polymerisationseinheit
und der Maleinsäureanhydrid-Polymerisationseinheit
vorzugsweise 70 Mol-% oder weniger. Das Harz (1) und Harz (2) können auch andere
Polymerisationseinheiten, wie die Polymerisationseinheit mit einer
freien Carbonsäuregruppe
in einem solchen Bereich, dass die Wirkung der vorliegenden Erfindung
nicht beeinträchtigt
wird, enthalten.
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Der
Säuregenerator,
der ein anderer Bestandteil in der erfindungsgemäßen Resistzusammensetzung ist,
wird durch Bestrahlung des Bestandteils selbst oder einer den Bestandteil
einschließenden
Resistzusammensetzung mit radioaktiven Strahlen, wie Licht und Elektronenstrahlen,
zersetzt, wobei er eine Säure
erzeugt. Die aus dem Säuregenerator
erzeugte Säure
wirkt auf das Harz in der Resistzusammensetzung, wobei die im Harz
vorhandene Gruppe abgespalten wird, die durch die Wirkung einer
Säure abzuspalten
ist. Beispiele solcher Säuregeneratoren
schließen
Oniumsalze, organische Halogenverbindungen, Sulfone und Sulfonate ein.
Insbesondere können
die folgenden Verbindungen aufgeführt werden:
Diphenyliodoniumtrifluormethansulfonat,
4-Methoxyphenylphenyliodoniumhexafluorantimonat,
4-Methoxyphenylphenyliodoniumtrifluormethansulfonat,
Bis(4-tert-butylphenyl)iodoniumtetrafluorborat,
Bis(4-tert-butylphenyl)iodoniumhexafluorphosphat,
Bis(4-tert-butylphenyl)iodoniumhexafluorantimonat,
Bis(4-tert-butylphenyl)iodoniumtrifluormethansulfonat,
Triphenylsulfoniumhexafluorphosphat,
Triphenylsulfoniumhexafluorantimonat,
Triphenylsulfoniumtrifluormethansulfonat,
4-Methoxyphenyldiphenylsulfoniumhexafluorantimonat,
4-Methoxyphenyldiphenylsulfoniumtrifluormethansulfonat,
p-Tolyldiphenylsulfoniumtrifluormethansulfonat,
p-Tolyldiphenylsulfoniumperfluoroctansulfonat,
2,4,6-Trimethylphenyldiphenylsulfoniumtrifluormethansulfonat,
4-tert-Butylphenyldiphenylsulfoniumtrifluormethansulfonat,
4-Phenylthiophenyldiphenylsulfoniumhexafluorphosphat,
4-Phenylthiophenyldiphenylsulfoniumhexafluorantimonat,
1-(2-Naphthoylmethyl)thiolaniumhexafluorantimonat,
1-(2-Naphthoylmethyl)thiolaniumtrifluormethansulfonat,
4-Hydroxy-1-naphthyldimethylsulfoniumhexafluorantimonat,
4-Hydroxy-1-naphthyldimethylsulfoniumtrifluormethansulfonat,
2-Methyl-4,6-bis(trichlormethyl)1,3,5-triazin,
2,4,6-Tris(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
2-Phenyl-4,6-bis(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
2-(4-Chlorphenyl)-4,6-bis(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
2-(4-Methoxyphenyl)-4,6-bis(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
2-(4-Methoxy-1-naphthyl)-4,6-bis(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
2-(Benzo[d][1,3]dioxolan-5-yl)-4,6-bis(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
2-(4-Methoxystyryl)-4,6-bis(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
2-(3,4,5-Trimethoxystyryl)-4,6-bis(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
2-(3,4-Dimethoxystyryl)-4,6-bis(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
2-(2,4-Dimethoxystyryl)-4,6-bis(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
2-(2-Methoxystyryl)-4,6-bis(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
2-(4-Butoxystyryl)-4,6-bis(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
2-(4-Pentyloxystyryl)-4,6-bis(trichlormethyl)-1,3,5-triazin,
1-Benzoyl-1-phenylmethyl-p-toluolsulfonat
(sogenanntes Benzointosylat),
2-Benzoyl-2-hydroxy-2-phenylethyl-p-toluolsulfonat
(sogenanntes α-Methylolbenzointosylat),
1,2,3-Benzoltriyltrismethansulfonat,
2,6-Dinitrobenzyl-p-toluolsulfonat,
2-Nitrobenzyl-p-toluolsulfonat,
4-Nitrobenzyl-p-toluolsulfonat,
Diphenyldisulfon,
Di-p-tolyldisulfon,
Bis(phenylsulfonyl)diazomethan,
Bis(4-chlorphenylsulfonyl)diazomethan,
Bis(p-tolylsulfonyl)diazomethan,
Bis(4-tert-butylphenylsulfonyl)diazomethan,
Bis(2,4-xylylsulfonyl)diazomethan,
Bis(cyclohexylsulfonyl)diazomethan,
(Benzoyl)(phenylsulfonyl)diazomethan,
N-(Phenylsulfonyloxy)succinimid,
N-(Trifluormethylsulfonyloxy)succinimid,
N-(Trifluormethylsulfonyloxy)phthalimid,
N-(Trifluormethylsulfonyloxy)-5-norbornen-2,3-dicarboxyimid,
N-(Trifluormethylsulfonyloxy)naphthalimid
und
N-(10-Kampfersulfonyloxy)naphthalimid.
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Im
Allgemeinen kann in einer chemisch verstärkten Positivresistzusammensetzung
die Verschlechterung der Eigenschaften durch die Deaktivierung einer
Säure,
die mit Stehenlassen nach Belichten verbunden ist, durch Zugabe
basischer Verbindungen, insbesondere basischer Stickstoff enthaltender
organischer Verbindungen, wie Amine, als Quencher, verbessert werden.
In der vorliegenden Erfindung ist auch bevorzugt, dass solche basischen
Verbindungen zugegeben werden. Beispiele der als Quencher zu verwendenden
basischen Verbindungen schließen
die der folgenden Formeln ein:
wobei
R
11, R
12, R
13, R
14 und R
15 jeweils unabhängig Wasserstoff oder Alkyl,
Cycloalkyl, Aryl oder Alkoxy darstellen, die gegebenenfalls mit
einer Hydroxylgruppe substituiert sein können und A Alkylen, Carbonyl
oder Imino darstellt. Das durch R
11 bis
R
15 dargestellte Alkyl und Alkoxy darin
kann jeweils etwa 1 bis 6 Kohlenstoffatome aufweisen und das Cycloalkyl
kann etwa 5 bis 10 Kohlenstoffatome aufweisen und das Aryl kann
etwa 6 bis 10 Kohlenstoffatome aufweisen. Das durch A dargestellte
Alkylen kann etwa 1 bis 6 Kohlenstoffatome aufweisen und kann linear
oder verzweigt sein.
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Die
erfindungsgemäße Resistzusammensetzung
enthält
vorzugsweise ein Harz in einer Menge von 80 bis 99,9 Gew.-% und
einen Säuregenerator
in einer Menge von 0,1 bis 20 Gew.-%, bezogen auf das Gesamtgewicht
der festen Komponente der Zusammensetzung. Wenn eine basische Verbindung
als Quencher verwendet wird, ist sie vorzugsweise in einer Menge
im Bereich von 0,0001 bis 0,1 Gew.-%, bezogen auf das Gesamtgewicht
der festen Komponente der Resistzusammensetzung, enthalten. Die
Zusammensetzung kann auch, falls erforderlich, verschiedene Zusätze, wie
Sensibilisatoren, Auflösungsinhibitoren,
andere Harze, oberflächenaktive
Mittel, Stabilisatoren und Farbstoffe, in kleinen Mengen enthalten.
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Die
erfindungsgemäße Resistzusammensetzung
wird in einem Lösungsmittel
gelöst,
um eine Resistlösung
herzustellen, die auf ein Substrat, wie einen Siliciumwafer, aufzutragen
ist. Das hier verwendete Lösungsmittel
kann eines sein, das jeden Bestandteil löst, geeignete Trocknungsgeschwindigkeit
aufweist und eine gleichförmige
und glatte Beschichtung nach Verdampfen des Lösungsmittels bereitstellt und
kann eines sein, das im Allgemeinen auf diesem Fachgebiet verwendet
wird. Beispiele davon schließen
Glycoletherester, wie Ethylcellosolveacetat, Methylcellosolveacetat
und Propylenglycolmonomethyletheracetat; Ether, wie Diethylenglycoldimethylether;
Ester, wie Ethyllactat, Butylacetat, Amylacetat und Ethylpyruvat;
Ketone, wie Aceton, Methylisobutylketon, 2-Heptanon und Cyclohexanon;
und cyclische Ester, wie γ-Butyrolacton,
ein. Diese Lösungsmittel
können
allein oder in Kombination von zwei oder mehreren davon verwendet
werden.
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Der
auf ein Substrat aufgetragene und getrocknete Resistfilm wird einer
Belichtungsbehandlung zur Musterbildung unterzogen. Dann wird nach
einer Wärmebehandlung
zur Beschleunigung einer Schutzgruppenabspaltungsreaktion die Entwicklung
mit einem Alkalientwickler durchgeführt. Der hier verwendete Alkalientwickler
können
verschiedene Arten von auf diesem Fallgebiet verwendeter alkalischer
wässriger
Lösung sein.
Eine wässrige
Lösung
von Tetramethylammoniumhydroxid oder (2-Hydroxyethyl)trimethylammoniumhydroxid
(sogenanntes Collin-Hydroxid) wird im Allgemeinen verwendet.
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Beispiele
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Die
vorliegende Erfindung wird weiter im Einzelnen durch die Beispiele
beschrieben, die nicht als Einschränkung des Umfangs der vorliegenden
Erfindung aufgefaßt
werden sollten. Alle Teile in den Beispielen sind auf das Gewicht
bezogen, wenn nicht anders angegeben. Das Gewichtsmittel des Molekulargewichts
ist ein Wert, bestimmt durch Gelpermeationschromatographie unter
Verwendung von Polystyrol als Referenzstandard.
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Monomersynthesebeispiel
1 (Synthese von 2-Methyl-2-adamantylmethacrylat)
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83,1
g 2-Methyl-2-adamantanol und 101 g Triethylamin wurden eingebracht
und 200 g Methylisobutylketon wurden zugegeben, um eine Lösung herzustellen.
Dann wurden 78,4 g Methacrylsäurechlorid
(1,5fache der Mole in Bezug auf 2-Methyl-2-adamantanol) zugetropft,
gefolgt von 10 Stunden Rühren
bei Raumtemperatur. Nach Filtration wurde die organische Schicht
mit einer 5 gew.-%igen wässrigen
Lösung
von Natriumhydrogencarbonat gewaschen, gefolgt von zweimaligem Waschen
mit Wasser. Die organische Schicht wurde konzentriert und dann einer
Destillation unter vermindertem Druck unterzogen, wobei 2-Methyl-2-adamantylmethacrylat
der folgenden Formel mit 75% Ausbeute erhalten wurde.
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Monomersynthesebeispiel
2 (Synthese von 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat)
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50
g Diethylether wurden zu 31,1 g 2-Adamantanon gegeben, um eine Lösung herzustellen.
Dann wurden 200 ml Diethyletherlösung,
die Ethyllithium in einer Konzentration von 1,14 mol/l enthielt,
mit einer solchen Geschwindigkeit zugetropft, dass die Temperatur
der Lösung
10°C nicht überstieg.
Nach Rühren
der so erhaltenen Lösung
bei 0°C
für 2 Stunden
wurden 26,2 g Methacrylsäurechlorid
(1,2fache der Mole in Bezug auf 2-Adamantanon) mit einer solchen
Geschwindigkeit zugetropft, dass die Temperatur 10°C nicht überstieg. Nach
vollständigem
Zutropfen wurde die erhaltene Lösung
12 Stunden bei Raumtemperatur gerührt. Danach wurden die abgeschiedenen
anorganischen Salze durch Filtration abgetrennt und die organische
Schicht wurde mit einer 5 gew.-%igen wässrigen Lösung von Natriumhydrogencarbonat
gewaschen, gefolgt von zweimaligem Waschen mit Wasser. Die organische
Schicht wurde konzentriert und dann einer Destillation unter vermindertem
Druck unterzogen, wobei 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat der folgenden
Formel mit 60% Ausbeute erhalten wurde.
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Monomersynthesebeispiel
3 (Synthese von α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton)
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100
g α-Brom-γ-butyrolacton
und 104,4 g Methacrylsäure
(2,0fache der Mole in Bezug auf α-Brom-γ-butyrolacton)
wurden eingebracht und Methylisobutylketon in einer Menge des 3fachen
Gewichts zu dem von α-Brom-γ-butyrolacton
zugegeben, um eine Lösung
herzustellen. Dann wurden 183,6 g Triethylamin (3,0fache der Mole
in Bezug auf α-Brom-γ-butyrolacton) zugetropft,
gefolgt von etwa 10 Stunden Rühren
bei Raumtemperatur. Nach Filtration wurde eine organische Schicht
mit einer 5 gew.-%igen wässrigen
Lösung
von Natriumhydrogencarbonat gewaschen, gefolgt von zweimaligem Waschen
mit Wasser. Die organische Schicht wurde konzentriert, wobei α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton
der folgenden Formel mit 85% Ausbeute erhalten wurde.
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Harzsynthesebeispiel 1
(Synthese von Harz A)
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2-Methyl-2-adamantylmethacrylat,
3-Hydroxy-1-adamantylmethacrylat bzw. α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton wurden in einem
Molverhältnis
von 5 : 2,5 : 2,5 (20,0 g 10,1 g : 7,8 g) eingebracht. Dann wurde
Methylisobutylketon in einer Menge des 2fachen Gewichts, bezogen
auf die Gesamtmenge der Monomere, zugegeben, um eine Lösung herzustellen.
Als Initiator wurde Azobisisobutyronitril in einer Menge von 2 Mol-%,
bezogen auf die Gesamtmenge der Monomere, zugegeben, gefolgt von
Erwärmen
auf 85°C
für etwa
8 Stunden. Danach wurde das Verfahren des Gießens der Reaktionslösung in
eine große
Menge an Heptan, um eine Ausfällung
zu bewirken, 3mal wiederholt, so wurde die Lösung gereinigt. Als Ergebnis
wurde ein Copolymer der folgenden Formel und mit einer Zusammensetzung
des Molverhältnisses
jeder Einheit von 50 : 25 : 25 und mit einem Gewichtsmittel des
Molekulargewichts von etwa 4500 erhalten. Das erhaltene Copolymer
wird als Harz A bezeichnet.
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Harzsynthesebeispiel 2
(Synthese von Harz B) [Bezugsbeispiel]
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2-Methyl-2-adamantylmethacrylat,
Methacrylnitril bzw. Maleinsäureanhydrid
wurden in einem Molverhältnis
von 5 : 2,5 : 2,5 (20,0 g : 3,1 g : 4,5 g) eingebracht. Dann wurde
Tetrahydrofuran in einer Menge des 2fachen Gewichts, bezogen auf
die Gesamtmenge der Monomere, zugegeben, um eine Lösung herzustellen. Als
Initiator wurde Azobisisobutyronitril in einer Menge von 2 Mol-%,
bezogen auf die Gesamtmenge der Monomere, zugegeben, gefolgt von
etwa 12 Stunden Erwärmen
auf 60°C.
Danach wurde das Verfahren des Gießens der Reaktionslösung in
eine große
Menge an Heptan, um eine Ausfällung
zu bewirken, 3mal wiederholt, so wurde die Lösung gereinigt. Als Ergebnis
wurde ein Copolymer der folgenden Formel und mit einem Molverhältnis der
Zusammensetzung von jeder Einheit von 50 : 25 : 25 und mit einem
Gewichtsmittel des Molekulargewichts von etwa 8000 erhalten. Das
erhaltene Copolymer wird als Harz B bezeichnet.
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Harzsynthesebeispiel 2-2
[Bezugsbeispiel]
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Ähnlich werden
2-Methyl-2-adamantylmethacrylat, Methacrylnitril und α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton copolymerisiert,
wobei ein ternäres
Copolymer mit seinen jeweiligen Polymerisationseinheiten erhalten wird.
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Harzsynthesebeispiel 3
(Synthese von Harz C)
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Die
gleichen Verfahren wie im Harzsynthesebeispiel 1 wurden durchgeführt, außer dass
2-Methyl-2-adamantylmethacrylat,
3-Hydroxy-1-adamantylmethacrylat und α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton durch 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat,
3-Hydroxy-1-adamantylmethacrylat
bzw. α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton in
einem Molverhältnis
von 5 2,5 : 2,5 (20,0 g : 9,5 g : 7,3 g) ersetzt wurden. Als Ergebnis
wurde ein Copolymer der folgenden Formel und mit einem Molverhältnis der
Zusammensetzung jeder Einheit von 50 25 : 25 und mit einem Gewichtsmittel
des Molekulargewichts von etwa 9200 erhalten. Das erhaltene Copolymer
wird als Harz C bezeichnet.
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Harzsynthesebeispiel 4
(Synthese von Harz D)
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Die
gleichen Verfahren wie im Harzsynthesebeispiel 2 wurden durchgeführt, außer dass
2-Methyl-2-adamantylmethacrylat,
Methacrylnitril und Maleinsäureanhydrid
durch 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat, 3-Hydroxy-1-adamantylmethacrlat
bzw. Maleinsäureanhydrid
in einem Molverhältnis
von 5 : 2,5 : 2,5 (20,0 g : 9,5 g : 4,2 g) ersetzt wurden. Als Ergebnis
wurde ein Copolymer der folgenden Formel und mit einem Molverhältnis der
Zusammensetzung jeder Einheit von 50 : 25 : 25 und mit einem Gewichtsmittel
des Molekulargewichts von etwa 17000 erhalten. Das erhaltene Copolymer
wird als Harz D bezeichnet.
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Harzsynthesebeispiel 5
(Synthese von Harz E)
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Die
gleichen Verfahren wie im Harzsynthesebeispiel 2 wurden durchgeführt, außer dass
2-Methyl-2-adamantylmethacrylat,
Methacrylnitril und Maleinsäureanhydrid
durch 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat, Methacrylnitril
bzw. Maleinsäureanhydrid
in einem Molverhältnis
von 5 : 2,5 : 2,5 (20,0 g : 2,9 g : 4,2 g) ersetzt wurden. Als Ergebnis
wurde ein Copolymer der folgenden Formel und mit einem Molverhältnis der
Zusammensetzung jeder Einheit von 50 25 : 25 und mit einem Gewichtsmittel
des Molekulargewichts von etwa 3400 erhalten. Das erhaltene Copolymer
wird als Harz E bezeichnet.
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Harzsynthesebeispiel 6
(Synthese von Harz F)
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Die
gleichen Verfahren wie im Harzsynthesebeispiel 1 wurden durchgeführt, außer dass
2-Methyl-2-adamantylmethacrylat,
3-Hydroxy-1-adamantylmethacrylat und α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton durch 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat,
Methacrylnitril bzw. α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton
in einem Molverhältnis von
5 : 2,5 : 2,5 (20,0 g : 2,9 g 7,3 g) ersetzt wurden. Als Ergebnis
wurde ein Copolymer der folgenden Formel und mit einem Molverhältnis der
Zusammensetzung jeder Einheit von 50 : 25 : 25 und mit einem Gewichtsmittel des
Molekulargewichts von etwa 6000 erhalten. Das erhaltene Copolymer
wird als Harz F bezeichnet.
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Harzsynthesebeispiel 7
(Synthese von Harz G)
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Die
gleichen Verfahren wie im Harzsynthesebeispiel 1 wurden durchgeführt, außer dass
2-Methyl-2-adamantylmethacrylat,
3-Hydroxy-1-adamantylmethacrylat und α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton durch 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat
bzw. α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton
in einem Molverhältnis
von 5 : 5 (40,0 g : 29,3 g) ersetzt wurden. Als Ergebnis wurde ein
Copolymer mit der folgenden Formel und mit einem Molverhältnis der
Zusammensetzung jeder Einheit von 50 : 50 und mit einem Gewichtsmittel
des Molekulargewichts von etwa 5600 erhalten. Das erhaltene Copolymer
wird als Harz G bezeichnet.
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Harzsynthesebeispiel 8
(Synthese von Harz H)
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2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat,
3-Hydroxy-1-adamantylmethacrylat bzw. Methacrylnitril wurden in
einem Molverhältnis
von 5 : 2,5 : 2,5 (20,0 g : 9,5 g : 2,9 g) eingebracht. Dann wurde
Tetrahydrofuran in einer Menge des 2fachen Gewichts, bezogen auf
die Gesamtmenge der Monomere, zugegeben, um eine Lösung herzustellen.
Als Initiator wurde Azobisisobutyronitril in einer Menge von 2 Mol-%,
bezogen auf die Gesamtmenge der Monomere, zugegeben, gefolgt von
Erwärmen
auf 65°C
für etwa
12 Stunden. Danach wurde das Verfahren des Gießens der Reaktionslösung in
eine große
Menge an Heptan, um eine Ausfällung
zu bewirken, 3mal wiederholt, so wurde die Lösung gereinigt. Als Ergebnis
wurde ein Copolymer der folgenden Formel und mit einem Molverhältnis der
Zusammensetzung jeder Einheit von 50 : 25 : 25 und mit einem Gewichtsmittel des
Molekulargewichts von etwa 14000 erhalten. Das erhaltene Copolymer
wird als Harz H bezeichnet.
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Harzsynthesebeispiel 9
(Synthese von Harz I)
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2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat,
2-Methyl-2-adamantylmethacrylat bzw. α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton wurden in einem
Molverhältnis
von 2,5 : 2,5 : 5 (10,6 g 10,0 g : 15,6 g) eingebracht. Dann wurde
Methylisobutylketon in einer Menge des 2fachen Gewichts, bezogen
auf die Gesamtmenge der Monomere zugegeben, um eine Lösung herzustellen.
Als Initiator wurde Azobisisobutyronitril in einer Menge von 2 Mol-%,
bezogen auf die Gesamtmenge der Monomere, zugegeben, gefolgt von
Erwärmen
auf 85°C
für etwa
6 Stunden. Danach wurde das Verfahren des Gießens der Reaktionslösung in
eine große
Menge an Heptan, um eine Ausfällung
zu bewirken, 3mal wiederholt, so wurde die Lösung gereinigt. Als Ergebnis
wurde ein Copolymer der folgenden Formel und mit einem Molverhältnis der
Zusammensetzung jeder Einheit von 25 : 25 : 50 und mit einem Gewichtsmittel
des Molekulargewichts von etwa 9000 erhalten. Das erhaltene Copolymer
wird als Harz I bezeichnet.
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Harzsynthesebeispiel 10
(Synthese von Harz X, zum Vergleich)
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Die
gleichen Verfahren wie im Harzsynthesebeispiel 1 wurden durchgeführt, außer dass
2-Methyl-2-adamantylmethacrylat,
3-Hydroxy-1-adamantylmethacrylat und α- Methacryloyloxy-γ-butyrolacton durch 2-Methyl-2-adamantylmethacrylat
bzw. α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton
in einem Molverhältnis
von 5 : 5 (15,0 g : 11,7 g) ersetzt wurden. Als Ergebnis wurde ein
Copolymer der folgenden Formel und mit einem Molverhältnis der
Zusammensetzung jeder Einheit von 50 : 50 und mit einem Gewichtsmittel
des Molekulargewichts von etwa 10000 erhalten. Das erhaltene Copolymer
wird als Harz X bezeichnet.
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Harzsynthesebeispiel 11
(Synthese von Harz J)
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2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat,
3-Hydroxy-1-adamantylmethacrylat bzw. α-Methacryloyloxy-γ-butyrolacton wurden in einem
Molverhältnis
von 5,0 : 2,5 : 2,5 (20,0 g 8,9 g : 6,8 g) eingebracht. Dann wurde
Methylisobutylketon in einer Menge des 2fachen Gewichts, bezogen
auf die Gesamtmenge der Monomere zugegeben, um eine Lösung herzustellen.
Als Initiator wurde Azobisisobutyronitril in einer Menge von 2 Mol-%,
bezogen auf die Gesamtmenge der Monomere, zugegeben, gefolgt von
etwa 5 Stunden Erwärmen
auf 85°C.
Danach wurde das Verfahren des Gießens der Reaktionslösung in
eine große
Menge an Heptan, um eine Ausfällung
zu bewirken, 3mal wiederholt, so wurde die Lösung gereinigt. Als Ergebnis
wurde ein Copolymer der folgenden Formel und mit einem Molverhältnis der
Zusammensetzung von jeder Einheit von 50 : 25 : 25 und mit einem
Gewichtsmittel des Molekulargewichts von etwa 7500 erhalten. Das
erhaltene Copolymer wird als Harz J bezeichnet.
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Beispiele 1 und 2
-
10
Teile des Harzes D oder E, 0,2 Teile p-Tolyldiphenylsulfoniumtrifluormethansulfonat
(„MDS-205", hergestellt von
MIDORI Chemical K.K.) als Säuregenerator
und 0,015 Teile 2,6-Diisopropylanilin als Quencher wurden in 45
Teilen 2-Heptanon gelöst.
Die erhaltene Lösung
wurde durch ein aus Fluorharz hergestelltes Filter mit einem Porendurchmesser
von 0,2 μm
filtriert, um eine Resistlösung
herzustellen. Die so hergestellte Resistlösung wurde auf einen Siliciumwafer
(Kontaktwinkel von Wasser: 50°),
der einer Behandlung mit Hexamethylsilazan bei 23°C für 20 Sekunden
unterzogen worden war, aufgetragen und ein Siliciumwafer mit einem organischen
Antireflexionsfilm darauf beschichtetet, so dass die Filmdicke nach
Trocknen 0,5 μm
betrug. Der organische Antireflexionsfilm wurde durch Auftragen
von „DUV-42", hergestellt von
Brewer Co. unter den Härtungsbedingungen
von 215°C
für 60
Sekunden gebildet, so dass die Dicke 570 Å betrug. Vorhärten nach
Auftragen der Resistlösung
wurde unter Bedingungen von 120°C
für 60
Sekunden auf einer direkten Heizplatte durchgeführt.
-
Der
Wafer, auf dem ein Resistfilm so gebildet wurde, wurde Licht durch
ein Linien-und-Abstands-Muster
(line-and-space pattern) unter stufenweisem Ändern der Bestrahlungsmenge
unter Verwendung eines KrF Exzimersteppers [„NSR 2205 EX12B", hergestellt von
Nikon Corp., NA = 0,55, σ =
0,8] ausgesetzt. Das Belichten des Linien-und-Abstands-Musters wurde
unter Verwendung von zwei Arten von Retikeln (Masken) eines dunklen
Feldmusters und eines hellen Feldmusters durchgeführt. Im
Retikel des hier zitierten dunklen Feldmusters wird nur der Abstandsteil
eines Resistmusters auf einer Glasoberfläche gebildet, während alle
anderen Teile aus einer Chromoberfläche gebildet sind. Demgemäß verbleibt
der gesamte Rand des Linien-und-Abstands-Musters als Resistschicht
nach Belichten und Entwickeln, wobei so ein Muster bereitgestellt wird.
Währenddessen
wird im Retikel des hellen Feldmusters ein Muster derart gebildet,
dass der Außenrahmen
aus einer Chromoberfläche
gebildet wird, während
der Linienteil des Resistmusters aus einer Chromschicht unter Verwendung
einer Glasoberfläche
als Basis innerhalb des Rahmens gebildet wird. Demgemäß wird die
Resistschicht um das Linien-und-Abstands-Muster entfernt und die
Resistschicht, die dem Außenrahmen
entspricht, verbleibt nach Belichtung und Entwicklung, wobei so
ein Muster bereitgestellt wird. Nach dem Belichten wurde eine Härtung nach
Belichten (PEB) auf einer Heizplatte bei den in Tabelle 1 gezeigten
Temperaturen für
60 Sekunden durchgeführt.
Ferner wurde eine Paddelentwicklung mit einer 2,38 gew.-%igen wässrigen
Lösung
von Tetramethylammoniumhydroxid für 60 Sekunden durchgeführt. Das
Muster, das aus dem auf einem organischen Antireflexionsfilmsubstrat
bereitgestellten Resistfilm erhalten wurde, wurde mit einem Rasterelektronenmikroskop
untersucht, um seine effektive Empfindlichkeit und Auflösung gemäß den folgenden
Verfahren zu bestimmen.
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Effektive
Empfindlichkeit: gezeigt durch die Bestrahlungsmenge, wobei ein
0,3 μm Linien-und-Abstands-Muster
mit 1 : 1 gebildet wird, wenn ein Retikel eines dunklen Feldmusters
verwendet wird und wenn ein Retikel eines hellen Feldmusters verwendet
wird.
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Auflösung: gezeigt
durch die minimale Abmessung eines getrennten Linien-und-Abstands-Musters bei der Bestrahlungsmenge
der effektiven Empfindlichkeit, wenn ein Retikel eines dunklen Festmusters
verwendet wird, und wenn ein Retikel eines hellen Feldmusters verwendet
wird.
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Das
Muster auf einem Substrat, auf dem eine organische Antireflexion
nicht bereitgestellt wurde, wurde auf seine Haftung untersucht.
Genauer wurde ein auf dem Substrat, das keinen organischen Antireflexionsfilm
aufwies, gebildeter Resistfilm Licht bei der effektiven Empfindlichkeit
ausgesetzt, die bei dem vorstehend beschriebenen organischen Antireflexionsfilm
erhalten wurde. Dann wurde das Muster nach Entwicklung mit einem
Rasterelektronenmikroskop untersucht. Wenn der Resistfilm, der dem
Außenrahmen
eines hellen Feldmusters entspricht, als Muster des Retikels verbleibt,
ist die Anhaftung an dem Substrat mit „O" angegeben. Wenn sogar ein Teil des
Resistfilms, der dem Außenrahmen
entspricht, abgelöst
wird und abgesplittert wird, ist die Anhaftung an dem Substrat mit „x" angegeben. Die vorstehenden
Ergebnisse sind in Tabelle 1 mit der Art jedes verwendeten Harzes
gezeigt.
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Beispiele 3 bis 8 und
Vergleichsbeispiele 1 und 2
-
Resistlösungen wurden
wie in Beispiel 1 hergestellt, außer dass Harz E durch 10 Teile
der in Tabelle 2 gezeigten Harze ersetzt wurde, die keine Maleinsäureanhydrideinheiten
enthalten, und das Lösungsmittel
in ein gemischtes Lösungsmittel
aus 47,5 Teilen Propylenglycolmonomethyletheracetat und 2,5 Teilen γ-Butyrolacton
geändert
wurde. Die Verfahren von Beispiel 1 wurden grundsätzlich unter
Verwendung dieser Resistlösungen
wiederholt, aber die organischen Antireflexionsfilme wurden wie
nachstehend erwähnt
gebildet und PEB wurde bei in Tabelle 2 gezeigten Temperaturen durchgeführt. Bezüglich den
Beispielen 3, 5 und 6 und Vergleichsbeispiel 1 wurde „DUV-42", hergestellt von
Brewer Co., so aufgetragen, dass die Dicke 570 Å unter Härtungsbedingungen von 215°C für 60 Sekunden
wie in den Beispielen 1 und 2 betrug. Bezüglich den Beispielen 4, 7 und
8 und Vergleichsbeispiel 2 wurde „DUV-30-16", hergestellt von Brewer Co., so aufgetragen, dass
die Dicke 1600 Å unter
Härtungsbedingungen
von 215°C
für 60
Sekunden betrug. Die erhaltenen Ergebnisse sind in Tabelle 2 mit
der Art der verwendeten Harze gezeigt. In einigen mit „x" gezeigten Mustern
wurden die Linien-und-Abstands-Muster sichtbar abgelöst.
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Wie
in den Tabellen 1 und 2 gezeigt, bewirken die Resists unter Verwendung
der in der vorliegenden Erfindung festgelegten Harze keine Ablösung eines
Musters zum Zeitpunkt der Entwicklung und weisen ausgezeichnete
Haftung an ein Substrat auf. Die Auflösung ist ebenfalls gut. Insbesondere
weisen die Resists der Beispiele 1 und 2 und 4 bis 8 unter Verwendung
eines Harzes mit einer Einheit von 2-Ethyl-2-adamantylmethacrylat
verbesserte Auflösung,
verglichen mit den Resists der Vergleichsbeispiele, auf. Der erfindungsgemäße Resist
weist auch gute Trockenätzbeständigkeit
auf, während
er in der Empfindlichkeit nicht in großem Maße beeinträchtigt ist.
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Beispiele 9 bis 11 und
Vergleichsbeispiele 3
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10
Teile des in Tabelle 3 gezeigten Harzes, 0,2 Teile p-Tolyldiphenylsulfoniumperfluoroctansulfonat
als Säuregenerator
und 0,0075 Teile 2,6-Diisopropylanilin
als Quencher wurden in einem gemischten Lösungsmittel aus 57 Teilen Propylenglycolmonomethyletheracetat
und 3 Teilen γ-Butyrolacton
gelöst.
Die erhaltene Lösung
wurde durch ein aus Fluorharz hergestelltes Filter mit einem Porendurchmesser
von 0,2 μm
filtriert, um eine Resistlösung
herzustellen. Die so hergestellte Resistlösung wurde auf einen mit einem
organischen Antireflexionsfilm darauf beschichteten Siliciumwafer
aufgetragen, so dass die Filmdicke nach Trocknen 0,39 μm betrug.
Der organische Antireflexionsfilm wurde durch Auftragen von „DUV-30-16", hergestellt von
Brewer Co., unter Härtungsbedingungen
von 215°C
für 60
Sekunden gebildet, so dass die Dicke 1600 Å betrug. Eine Vorhärtung nach
Auftragen der Resistlösung
wurde für
60 Sekunden auf einer direkten Heizplatte bei einer in Tabelle 3
gezeigten Temperatur durchgeführt.
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Der
Wafer, auf dem ein Resistfilm so gebildet wurde, wurde Licht durch
ein Linien-und-Abstands-Muster
unter schrittweisem Ändern
der Bestrahlungsmenge unter Verwendung eines ArF-Exzimersteppers
[„NSR ArF", hergestellt von
Nikon Corp., NA = 0,55, σ =
0,6] ausgesetzt. Nach Belichten wurde eine Härtung nach Belichtung (PEB)
auf einer Heizplatte bei in Tabelle 1 gezeigten Temperaturen für 60 Sekunden
durchgeführt. Ferner
wurde eine Paddelentwicklung mit einer 2,38 gew.-%igen wässrigen
Lösung
von Tetramethylammoniumhydroxid für 60 Sekunden durchgeführt. Das
helle Feldmuster nach der Entwicklung wurde mit einem Rasterelektronenmikroskop
untersucht, um seine effektive Empfindlichkeit und die Auflösung gemäß folgenden Verfahren
zu bestimmen.
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Effektive
Empfindlichkeit: gezeigt durch die Bestrahlungsmenge, wobei ein
0,18 μm
Linien-und-Abstands-Muster
mit 1 : 1 gebildet wird.
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Auflösung: gezeigt
durch die minimale Abmessung eines getrennten Linien-und-Abstands-Musters bei der Bestrahlungsmenge
der effektiven Empfindlichkeit.
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Wie
in Tabelle 3 gezeigt, weisen die Resists unter Verwendung der in
der vorliegenden Erfindung spezifizierten Harze ausgezeichnete Empfindlichkeit
und Auflösung
gegenüber
dem Resist von Vergleichsbeispiel 3 auf. Es wird gezeigt, dass die
erfindungsgemäße Resistzusammensetzung
ausgezeichnete Eigenschaften als Resist zeigt, auch wenn die Belichtung
unter Verwendung einer Belichtungsvorrichtung mit einem ArF Exzimerlaser
durchgeführt
wird.
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Die
erfindungsgemäße chemisch
verstärkte
Positivresistzusammensetzung weist ausgezeichnete Haftung an ein
Substrat auf und weist auch gute Resisteigenschaften, wie Trockenätzbeständigkeit,
Empfindlichkeit und Auflösung,
auf. Demgemäß ist die
Zusammensetzung zur Belichtung unter Verwendung z.B. eines KrF-Exzimerlasers
oder ArF-Exzimerlasers
geeignet, wobei ein Resistmuster mit hoher Leistung bereitgestellt wird.