DE60013869T2 - Atmosphärisches wafertransportmodul mit einer kontrollierten umgebung - Google Patents

Atmosphärisches wafertransportmodul mit einer kontrollierten umgebung Download PDF

Info

Publication number
DE60013869T2
DE60013869T2 DE60013869T DE60013869T DE60013869T2 DE 60013869 T2 DE60013869 T2 DE 60013869T2 DE 60013869 T DE60013869 T DE 60013869T DE 60013869 T DE60013869 T DE 60013869T DE 60013869 T2 DE60013869 T2 DE 60013869T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
perforated plate
carrier
transport module
fan
housing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE60013869T
Other languages
English (en)
Other versions
DE60013869D1 (de
Inventor
F. Faro KAVEH
E. David JACOB
Jay Dean LARSON
R. Martin MARASCHIN
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lam Research Corp
Original Assignee
Lam Research Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=23623640&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=DE60013869(T2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Lam Research Corp filed Critical Lam Research Corp
Application granted granted Critical
Publication of DE60013869D1 publication Critical patent/DE60013869D1/de
Publication of DE60013869T2 publication Critical patent/DE60013869T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67763Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H01L21/67778Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers

Description

  • Hintergrund der Erfindung
  • 1. Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft generell den Transfer von Wafern zwischen den Modulen einer Halbleiterbearbeitungsanlage und insbesondere ein Modul mit einer kontrollierten Mini-Umgebung.
  • 2. Beschreibung der verwandten Technik
  • Bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen sind Prozesskammern miteinander verbunden, um beispielsweise den Transfer von Wafern oder Substraten zwischen den verbundenen Prozesskammern zu erlauben. Ein derartiger Transfer erfolgt durch Transportmodule, die beispielsweise die Wafer durch Schlitze oder Öffnungen bewegen, die in den angrenzenden Wänden der miteinander verbundenen Kammern vorgesehen sind. Beispielsweise werden Transportmodule im Allgemeinen im Zusammenhang mit einer Vielfalt von Substratbearbeitungsmodulen verwendet, die Ätzsysteme für Halbleiter, Systeme für das Aufbringen von Material, und Flachbildschirm-Ätzsysteme umfassen können. Aufgrund der wachsenden Nachfrage nach Reinheit und hoher Verarbeitungspräzision besteht eine zunehmende Notwendigkeit, den Umfang menschlichen Eingreifens während der Verfahrensschritte und zwischen diesen zu verringern. Diese Erfordernisse sind teilweise durch den Einsatz von Vakuum-Transportmodulen erfüllt worden, die als zwischengeschaltete Handhabungsvorrichtungen fungieren (typischerweise unter Aufrechterhaltung eines verminderten Druckes, z.B. unter Vakuumbedingungen). Beispielsweise kann ein Vakuum-Transportmodul effektiv zwischen einer oder mehreren Reinraum-Lagereinrichtungen, in de nen Substrate gelagert werden, und mehreren Substratbearbeitungsmodulen, in denen die Substrate gegenwärtig bearbeitet werden, wie beispielsweise geätzt oder mit Beschichtungen versehen werden, angeordnet sein. Auf diese Weise kann ein innerhalb des Transportmoduls angeordneter Roboterarm verwendet werden, um ein ausgewähltes Substrat aus einer Beschickungskammer zu holen und es in einem der mehreren Verarbeitungsmodule zu platzieren, wenn ein Substrat bearbeitet werden muss.
  • Wie einem Fachmann bekannt ist, wird die Anordnung von Transportmodulen zum "Transport" von Substraten zwischen mehreren Speichereinrichtungen und den Bearbeitungsmodulen oft als "Werkzeuggruppen-Architektur" bezeichnet. 1A stellt eine typische Gruppenarchitektur 100 für die Halbleiterbearbeitung dar, die die verschiedenen, eine Schnittstelle mit einem Vakuumtransportmodul 106 aufweisenden Kammern zeigt. Das Vakuumtransportmodul 106 ist dahingehend dargestellt, dass es mit drei Bearbeitungsmodulen 108a108c verbunden ist, die individuell optimiert sein können, um verschiedene Fertigungsprozesse durchzuführen. Beispielsweise können die Bearbeitungsmodule 108a108c zum transformatorgekoppelten Plasma(TCP-)Substratätzen, Aufbringen von Schichten und/oder Sputtern verwendet werden.
  • Eine Beschickungseinheit 104 ist mit dem Vakuumtransportmodul 106 verbunden, die verwendet wird, um Substrate in das Vakuumtransportmodul 106 einzubringen. Die Beschickungseinheit 104 kann mit einem atmosphärischen Transportmodul (ATM) 103 gekoppelt sein, das mit dem Reinraum 102 verbunden ist. Das ATM 103 umfasst typischerweise einen Bereich zum Halten von Waferkassetten und einen Roboter, der die Wafer aus den Kassetten entnimmt und sie in die Beschickungseinheit 104 hinein und aus ihr heraus bewegt. Wie bekannt ist, dient die Beschickungseinheit 104 als den Druck variierende Schnittstelle zwischen dem Vakuumtransportmodul 106 und dem ATM 103. Daher kann das Vakuumtransportmodul 106 auf einem konstanten Druck (beispielsweise Vakuum) gehalten werden, während das ATM 103 und der Reinraum 102 auf atmosphärischem Druck gehalten werden.
  • 1B stellt ein Diagramm 150 eines Teils eines Systems dar, das ein atmosphärisches Transportmodul (ATM) 103 mit einer Filter/Gebläseeinheit 152a, einem einen Satz Arme 158 aufweisenden Roboter 156 und einem Träger 154 umfasst. Der Träger 154 ist so ausgebildet, dass er eine Kassette 160 mit Wafern 162 in einer Kassettenumgebung 152b hält. Die Kassettenumgebung 152b des ATM 103 hat eine Tür 155, die geöffnet werden kann, um die Kassette 160 während der Bearbeitung hineinzustellen oder zu entfernen. Die Filter/Gebläseeinheit 162a ist so ausgebildet, dass sie einen Luftstrom 170 im ATM 103 erzeugt und bewirkt, dass der Luftstrom im Wesentlichen ungehindert durch einen Teilchenfilter 171 hindurch zum unteren Teil des ATM 103 und dann durch eine Entlüftung 152c hinaus fließt. Zusätzlich ist vereinfacht dargestellt, dass das ATM 103 mit der Beschickungseinheit 104 und dem Transportmodul 106 verbunden ist. Wie oben erwähnt wurde, kann das Transportmodul 106 Wafer zwischen ausgewählten Bearbeitungsmodulen 108 transferieren.
  • Obwohl diese Art eines ATM 103 nach dem Stand der Technik in der Lage ist, Wafer recht effizient von der Kassette 160 in die Beschickungseinheit 104 und wieder heraus zu transferieren, wurde festgestellt, dass der Luftstrom 170 während des Betriebes des Gebläses 152a an der Kassettenumgebung 152b vorbeigeleitet wird. Im Ergebnis bleibt die Kassettenumgebung 152 im Wesentlichen statisch. Das heißt dass die Umgebung zwischen den Wafern 162 während des Betriebes vom Luftstrom 170 im Wesentlichen unbeeinflusst bleibt.
  • 1C zeigt eine detailliertere Ansicht der Kassette 160 mit mehreren Wafern 162. Wenn ein Wafer in einem der Bearbeitungsmodule 108 bearbeitet und in die Kassette 160 zurückgesteckt wurde, schweben im Allgemeinen typischerweise restliche Prozessgase zwischen den jeweiligen Wafern 162. Diese Gase sind durch 166 beim Entweichen aus den Oberflächen der kurz zuvor bearbeiteten Wafer 162 bildlich dargestellt. Ein Problem mit dem Vorhandensein derartiger Gase 166 zwischen den Wafern 162 besteht darin, dass die chemischen Gase in einigen Fällen chemisch weiter reagieren und einen Abfall der Ausbeute der bearbeiteten Wafer 162 verursachen können. Wenn Wafer genügend beschädigt sind, kann der potentielle finanzielle Verlust durch reduzierte Ausbeuten erheblich sein.
  • Ein weiteres Problem, das mit einer stagnierenden Kassettenumgebung 152b einhergeht, besteht darin, dass sämtliche Partikel, die auf die Oberflächen der Wafer 162 gefallen sein könnten, auf den Oberflächen der Wafer bleiben, während die Kassette in der Kassettenumgebung 152b ruht. Diese Partikel 164 können in einigen Fällen erheblichen Schaden an den Halbleiterschaltungen, die auf den Wafern 162 ausgebildet sind, verursachen. Es ist weitläufig bekannt, dass es unerwünscht ist, dass zwischen den Bearbeitungsschritten Partikel 164 auf den Oberflächen der Wafer 162 verbleiben können. Je länger die Partikel auf den Oberflächen der Wafer 162 bleiben, desto höher ist die Wahrscheinlichkeit, dass derartige Partikel Schäden an empfindlichen integrierten Schaltkreisen verursachen und desto schwerer wird das Reinigen.
  • Ein weiteres Problem mit Kassetten 160, die in einer statischen Umgebung 152b sitzen besteht darin, dass die Kassette 160 einen Verfahrensingenieur einer möglicherweise unerwünschten Menge toxischer Gase 166 aussetzt, die aus den Oberflächen der Wafer 162 entweichen, wenn der Verfahrensingenieur die Tür 155 öffnet, um die Kassette 160 zu entfernen. In einigen Fällen kann der diese Kassetten handhabende Verfahrensingenieur durch die Prozessgase und die chemischen Nebenprodukte, denen er ausgesetzt ist, die Orientierung verlieren und die mit wertvollen bearbeiteten Halbleiterwafern gefüllte Kassette 160 möglicherweise fallen lassen.
  • Angesichts der obigen Ausführungen ist das, was gebraucht wird, ein atmosphärisches Transportmodul, das in der Lage ist, die Umgebung in einer und um eine Waferkassette herum zu kontrollieren.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung erfüllt diese Anforderungen, indem sie ein atmosphärisches Transportmodul nach Anspruch 1 und ein Verfahren zum Herstellen eines atmosphärischen Transportmoduls nach Anspruch 7 bereitstellt, wobei das atmosphärische Transportmodul gemäß der Erfindung in der Lage ist, eine Mini-Umgebung in einem Bereich zu erzeugen, in dem Waferkassetten während der Bearbeitung vorübergehend gespeichert werden. Die Mini-Umgebung ist so gestaltet, dass sie einen Luftstrom durch die Wafer so festlegt, dass Prozessgase und Nebenprodukte im Wesentlichen aus der die Wafer umschließenden Umgebung entfernt werden.
  • Die Erfindung stellt ein atmosphärisches Transportmodul bereit. Das Modul weist ein Gehäuse auf. Das Gehäuse hat einen oberen Teil mit einem Gebläse zum Erzeugen eines geregelten Luftstromes, der vom oberen Teil des Gehäuses weg nach unten gerichtet ist. Ein Beschickungskammerbereich ist ebenfalls vorgesehen und ist relativ zum Gebläse seitlich versetzt angeordnet. Die Beschickungskammer weist einen Träger zum Halten einer Waferkassette auf, wobei der Träger im Abstand von einer Wand der Beschickungskammer angeordnet ist, um so einen Schlitz für die Umleitung des Luftstromes zu bilden. Unterhalb des Gebläses ist eine perforierte Platte vorgesehen, wobei die perforierte Platte so ausgebildet ist, dass sie den durch die perforierte Platte fließenden Luftstrom beschränkt, um so einen umgeleiteten Luftstrom durch die Waferkassette hervorzurufen, die auf der seitlich versetzt angeordneten Beschickungskammer platziert ist. Ein Vorteil des umgeleiteten Luftstromes besteht darin, dass restliche Prozessgase, die in der Waferkassette über den Wafern schweben, aus der Waferkassette heraus und abwärts zum Schlitz für die Umleitung des Luftstromes geblasen werden. Ein weiterer Vorteil besteht darin, dass Luft nach außen strömt, wenn die Türen geöffnet werden, so dass die Gefahr, dass Partikel von außen eindringen können, reduziert wird.
  • Wenn der umgeleitete Luftstrom und der nicht umgeleitete Luftstrom (der durch die perforierte Platte fließt) in den Bodenbereich eintreten, wird die Luft durch eine Entlüftung nach außen kanalisiert. In einer Ausführungsform kann ein Ventilator im Bodenbereich installiert werden, um dazu beizutragen, dass der umgeleitete Luftstrom durch den hinter dem Träger angeordneten Schlitz fließt. Wenn eine Kassette mit einem oder mehreren Wafern auf dem Träger in dem Beschickungskammerbereich platziert ist, wird der umgeleitete Luftstrom auf diese Weise dazu gebracht, jegliche Nachbehandlungsgase und Partikel, die oberhalb der Wafer vorhanden sein können, zum Zirkulieren zu bringen. Die Nachbehandlungsgase und jegliche Partikel werden dadurch dazu gebracht, aus dem Bodenbereich des geschlossenen Gehäuses und aus der Entlüftung heraus zu fließen. Bei der Ausführungsform ist der Ventilator vorzugsweise mit der (den) Türen) der Beschickungskammer gekoppelt, so dass der Ventilator ausgeschaltet wird, wenn irgendeine der Türen der Beschickungskammer geöffnet wird. Auf diese Weise wird keine verschmutzte Luft durch den Ventilator in das ATM hinein gesogen und verschmutzt so die Wafer, wenn sich die Tür öffnet.
  • Die Erfindung stellt weiterhin ein Verfahren zum Herstellen eines atmosphärischen Transportmoduls bereit. Das Verfahren umfasst das Bilden eines geschlossenen Gehäuses mit einem oberen Bereich, einem mittleren Bereich, einem Bodenbereich und einem Beschickungskammerbereich. Im oberen Bereich des geschlossenen Gehäuses ist ein Gebläse installiert, wobei das Gebläse so ausgebildet ist, dass es einen nach unten in den mittleren Bereich gerichteten Luftstrom erzeugt. Im Beschickungskammerbereich ist ein Träger installiert, wobei der Träger eine Trennung zwischen dem mittleren Bereich und dem Bodenbereich des geschlossenen Gehäuses definiert. Der Träger wird mindestens zum Teil im Abstand von einer Wand des Beschickungskammerbereiches angeordnet, wodurch ein Schlitz hinter dem Träger gebildet wird. Eine perforierte Platte wird derartig installiert, dass sie sich horizontal vom Träger aus erstreckt und weiterhin die Trennung zwischen dem mittleren Bereich und dem Bodenbereich definiert. Der freie Fluss des vom Gebläse erzeugten Luftstromes wird durch die perforierte Platte beschränkt und wird zum Teil von der perforierten Platte weg und in Richtung auf den Träger der Beschickungskammer, durch den Schlitz hindurch und in den Bodenbereich des geschlossenen Gehäuses umgeleitet.
  • Wenn eine Waferkassette mit einem oder mehreren Wafern so ausgebildet ist, dass sie auf dem Träger der Beschickungszelle platziert ist, wird sie von dem umgeleiteten Luftstrom getroffen. Der umgeleitete Luftstrom hält somit einen sanften Luftstrom aufrecht, der über sämtliche zeitweilig in der Waferkassette gespeicherte Wafer fließt. Der Träger kann so ausgebildet sein, dass er mehr als eine Waferkassette halten kann, und es kann eine isolierende Kapselung um jede Waferkassette herum vorgesehen sein, um eine stabile Mini-Umgebung aufrecht zu erhalten, wenn eine Tür hinter dem Träger geöffnet wird, um Zugang zu einer bestimmten Waferkassette zu erhalten.
  • Vorteilhafterweise stellt der sanfte Strom der umgeleiteten Luft über die Wafer sicher, dass sich die in der Beschickungskammer platzierten Wafer nicht in einer statischen Umgebung befinden, wodurch sich Nachbehandlungsgase entwickeln könnten. Der sanfte Strom der umgeleiteten Luft trägt weiterhin dazu bei, dass mikroskopische Partikel von den in den Kassetten platzierten Wafern entfernt werden, wodurch eine kontrollierte Mini-Umgebung aufrechterhalten wird, die eine höhere Ausbeute und bearbeitete Wafer mit höherer Qualität begünstigt. Andere Aspekte und Vorteile der Erfindung sind aus der folgenden detaillierten Beschreibung im Zusammenhang mit den beigefügten Figuren ersichtlich, in denen die Prinzipien der Erfindung beispielhaft dargestellt sind.
  • Kurze Beschreibung der Figuren
  • Die vorliegende Erfindung wird durch die folgende detaillierte Beschreibung im Zusammenhang mit den beigefügten Figuren, in denen gleiche Bezugszeichen gleiche Bauteile bezeichnen, sofort verstanden werden.
  • 1A stellt eine typische Werkzeuggruppen-Architektur für die Halbleiterbearbeitung gemäß dem Stand der Technik dar, die ein atmosphärisches Transportmodul mit einer Schnittstelle zu einem Vakuumtransportmodul zeigt, wobei eine Beschickungseinheit Wafer zum Transfer zum Vakuumtransportmodul aufnimmt.
  • 1B und 1C stellen ein Diagramm eines Teils eines Systems dar, das ein atmosphärisches Transportmodul (ATM) und eine Kassette umfasst.
  • 2A zeigt ein atmosphärisches Transportmodul (ATM) gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, das auf dem Boden eines Reinraumes platziert sein kann und Schnittstellen zu Beschickungskammern aufweist.
  • 2B zeigt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, bei der das ATM ein Gebläse umfasst, um die Umleitung der Luftströmung durch einen Schlitz für die Umleitung der Luft und aus einer Entlüftung heraus zu unterstützen.
  • 3A zeigt eine Draufsicht auf das ATM gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, das mit einem Bearbeitungssystem verbunden ist.
  • 3B zeigt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, in der die Beschickungskammer und die perforierte Platte modifiziert worden sind.
  • 3C zeigt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, in der die perforierte Platte und die Beschickungskammer eine noch weiter modifizierte Bauform aufweisen.
  • Genaue Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen
  • Es wird ein atmosphärisches Transportmodul beschrieben, das in der Lage ist, eine Mini-Umgebung in einem Bereich zu erzeugen, in dem Waferkassetten während der Bearbeitung vorübergehend gespeichert werden. Die Mini-Umgebung ist so ausgebildet, dass sie einen Luftstrom durch die Wafer und im Wesentlichen parallel zu ihnen umfasst, so dass Prozessgase und Nebenprodukte, die sich zwischen den in einer Kassette platzierten Wafern befinden, im Wesentlichen abgeführt werden. Für einen Fachmann ist es naheliegend, dass die vorliegende Erfindung ohne einige oder alle der nachfolgend aufgeführten speziellen Einzelheiten ausgeführt werden kann. In anderen Fällen sind weitläufig bekannte Verfahrensschritte nicht im Detail beschrieben worden, um die vorliegende Erfindung nicht zu verschleiern.
  • 2A zeigt ein atmosphärisches Transportmodul (ATM) 200 gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, das auf dem Boden 201 eines Reinraumes stehen kann. Das ATM 200 umfasst einen oberen Teil mit einem Filter und einem Gebläse mit variabler Geschwindigkeit. Alternativ kann das Gebläse ein Gebläse mit unveränderlicher Geschwindigkeit sein, und das Trennelement 205 kann einen eingebauten Schieber zum Regulieren des Luftstromes aufweisen. Das ATM 200 umfasst als weiteren Bestandteil eine Beschickungskammer 202, die so ausgebildet ist, dass sie eine oder mehrere Kassetten 212 mit Wafern 214 hält. In diesem Beispiel ist die Kassette 212 eine offene Kassette, die mehrere Wafer in allen möglichen Größen halten kann. Beispielsweise können die Kassetten 212 so ausgebildet sein, dass sie sowohl Wafer mit 200 Millimeter, Wafer mit 300 Millimeter als auch Wafer, die kleiner als 200 Millimeter und größer als 300 Millimeter sind, halten können. Ein Beispiel für einen Hersteller offener Kassetten 212 ist Fluoroware Inc. in Chaska, Minnesota.
  • Das ATM 200 ist so ausgebildet, dass es einen Roboter 206 hält, der einen Satz Arme 208 zum Handhaben und Transferieren von Wafern zwischen der Kassette 212 und einer benachbarten Beschickungseinheit (nicht dargestellt) aufweist. Die Kassette 212 ist auf einem Träger 204 platziert, der einen Schlitz 203 zum Umleiten des Luftstromes zwischen dem Träger 204 und einer Rückwand des ATM 200 im Bereich der Beschickungskammer definiert. Ungefähr auf gleicher Höhe mit dem Träger 204 und sich vom Träger 204 aus horizontal erstreckend trennt eine perforierte Platte 205 den Satz Arme 208 und den Roboter 206 voneinander. Im Allgemeinen ist die perforierte Platte 205 so gestaltet, dass sie eine Trennung zwischen einem saubereren Bereich, in dem die Wafer vorübergehend gespeichert, gehandhabt und transferiert werden, und einem unteren Bereich, in dem der Motor des Roboters untergebracht ist, definiert.
  • In einer bevorzugten Ausführungsform bestehen die Innenwände des ATM 200 oberhalb der perforierten Platte 205 (d.h. im sauberen mittleren Bereich des ATM 200) aus elektrolytisch poliertem rostfreiem Stahl, um sowohl Korrosion der Wände als auch den Aufbau von Ladung zu verhindern, die empfindliche Mikro-Bauelemente auf den Wafern 214 beschädigen könnte. Die perforierte Platte 205 besteht ebenfalls vorzugsweise aus elektrolytisch poliertem rostfreiem Stahl, während die Wände unterhalb der perforierten Platte 205 aus pulverbeschichtetem Stahl bestehen können. Die Möglichkeit, dass sich Ladung unterhalb der perforierten Platte und des Trägers 204 aufbaut, ist im Allgemeinen kein Problem, da die Wafer oberhalb der Ebene der perforierten Platte 205 verbleiben. Das ATM 200 ist weiterhin dahingehend dargestellt, dass es eine Tür 210 (oder Türen) aufweist, die geöffnet werden kann (können), um die Kassetten 212 in das ATM 200 einzusetzen und aus ihm zu entfernen. Unterhalb der perforierten Platte 205 befindet sich eine Entlüftung 221, die es der Abluft 222 ermöglicht, in den Reinraum und aus dem geschlossenen Gehäuse des ATM 200 heraus kanalisiert zu werden. Falls erforderlich, kann die Entlüftung 221 mit einem Schieber versehen werden, um zu verhindern, dass zuviel Luft in das ATM 200 hinein oder aus ihm heraus strömt. Darüber hinaus kann die Entlüftung auch aus dem Boden des ATM 200 heraus kommen.
  • Der Filter in 200a kann jeder geeignete Filter sein, der in der Lage ist, gute Leistung zu bringen, wie beispielsweise ungefähr 99,9995% bei 0,1 Mikrometer. Ein Beispiel hierfür ist ein amerikanischer Luftfilter mit Borosilikat-Glasfasern, der bei American Air Filter, International in Louisville, Kentucky, erhältlich ist. In ähnlicher Weise kann das Gebläse jedes geeignete Gebläse mit variabler Geschwindigkeit (oder ein Gebläse mit unveränderlicher Geschwindigkeit) sein, das in Reinraumumgebungen verwendet werden kann. Ein Beispiel für ein Gebläse mit variabler Geschwindigkeit ist ein Käfigläufergebläse RH31M-4/104371, das bei EBM Industries in Farmington, Connecticut erhältlich ist. Das Gebläse mit variabler Geschwindigkeit erzeugt daher einen geregelten Luftstrom 220 durch den Filter, der zunächst nach unten in Richtung auf die perforierte Platte, den Satz Arme 208 und die Kassette 212 gerichtet ist.
  • In einer Ausführungsform ist die perforierte Platte 205 mit Öffnungen (in jeder beliebigen Form) versehen, um es einer bestimmten Menge Luft zu ermöglichen, durch die perforierten Platten zu strömen und somit einen umgeleiteten Luftstrom 220a zu bilden. Der umgeleitete Luftstrom 220a wird deshalb erzeugt, weil die perforierte Platte 205 zumindest teilweise den Luftstrom (d.h. den nicht umgeleiteten Luftstrom 220b) durch die perforierte Platte 205 hindurch und in einen unteren Bereich des ATM hinein beschränkt.
  • Wie bildhaft dargestellt worden ist, biegt der umgeleitete Luftstrom 220a in Richtung auf die Beschickungskammer 202 ab und schafft eine Mini-Umgebung in der Kassette 212 und um sie herum. Der umgeleitete Luftstrom 220a strömt somit zumindest teilweise parallel zu den Wafern 214 und durch sie hindurch und wird dann nach unten durch den Schlitz 203 für den umgeleiteten Luftstrom kanalisiert. In vorteilhafter Weise trägt die von dem durch die Wafer 214 der Kassette 212 umgeleiteten Luftstrom erzeugte Mini-Umgebung dazu bei, dass stillstehende Gase und Partikel von den Oberflächen der Wafer 214 entfernt werden, während sie in der Beschickungskammer 202 platziert sind. Natürlich fließt ein Teil des regulierten Luftstromes 220 als nicht umgeleiteter Luftstrom 220b durch die perforierte Platte 205. Sowohl der umgeleitete Luftstrom 220a, der durch den Schlitz 203 für den umgeleiteten Luftstrom fließt, als auch der nicht umgeleitete Luftstrom 220b, der durch die perforierte Platte 205 fließt, fließen durch die Entlüftung 221 im unteren Bereich des geschlossenen Gehäuses des ATM 200 heraus und sind als Abluft 222 dargestellt.
  • Wie nachfolgend in Tabelle A dargestellt ist, fließt der regulierte Luftstrom 220 in einer Ausführungsform mit einer mittleren Geschwindigkeit von zwischen ungefähr 40 Fuß pro Minute (1 Fuß = 0,3 m) und ungefähr 120 Fuß pro Minute durch die perforierte Platte 205, während der umgeleitete Luftstrom 220a sanft durch die Wafer 214 mit einer mittleren Geschwindigkeit von zwischen ungefähr 10 Fuß pro Minute und ungefähr 80 Fuß pro Minute fließt. Die beispielhaften mittleren Geschwindigkeiten der Tabelle A treffen auf einen Fall zu, in dem die Türen 210 der Beschickungskammer 202 geschlossen sind. In Fällen, in denen mindestens eine der Türen 210 der Beschickungskammer 202 offen ist, sind die beispielhaften mittleren Geschwindigkeiten der Luftströme in Tabelle B dargestellt.
  • Tabelle A
    Figure 00110001
  • Tabelle B
    Figure 00120001
  • 2B stellt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung dar, in der das ATM 200 einen Ventilator 240 umfasst, um das Fließen des umgeleiteten Luftstromes 220a durch den Schlitz 203 für den umgeleiteten Luftstrom hindurch und aus der Entlüftung 221 heraus zu unterstützen. Wie dargestellt ist, ist der Ventilator 240 an einer sich an den Träger 204 anschließenden Wand 204a installiert. Solange der umgeleitete Luftstrom 220a durch den Schlitz 203 befördert wird, kann der Ventilator in einer beliebigen Anzahl von Arten installiert werden. Durch die Installation des Ventilators 204 wird ein zusätzlicher Sog durch den Schlitz 203 für den umgeleiteten Luftstrom erzeugt, so dass Prozessgase und Nebenprodukte, die sich zwischen den Wafern 214 befinden, durch die Schlitze 203 für den umgeleiteten Luftstrom gesogen und als Ventilatorluftstrom 220a' herausgepumpt werden. Wie zuvor erwähnt wurde, wird der Ventilator vorzugsweise ausgeschaltet, wenn die Türen geöffnet werden, um zu verhindern, dass "schmutzige" Luft aus dem Reinraum hinein gesogen wird.
  • 3A zeigt eine Draufsicht auf das ATM 200 gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, das mit einem Bearbeitungssystem verbunden ist. Die architektonische Geometrie des ATM 200 und die Anordnung des Roboters relativ zu den Beschickungseinheiten 104 sind in näheren Einzelheiten in der gleichzeitig anhängigen US-A-6 244 811 mit dem Titel "Atmosphärisches Wafertransfermodul mit Aufnahme für einen Wafertransportroboter", eingereicht am 29. Juni 1999, näher beschrieben. Wie gezeigt wird, ist das ATM 200 so ausgebildet, dass es mit einem Paar Beschickungseinheiten 104 kommuniziert. Die Beschickungseinheiten 104 sind über Absperrschieber 105 mit einer Transportkammer 106 verbunden. Die Transportkammer ist dann in der Lage, mit Bearbeitungsmodulen 108 verbunden zu werden. Ein Roboterarm (nicht dargestellt) ist in der Transportkammer 106 installiert, um Wafer aus den Beschickungseinheiten 104 zu entnehmen und sie in ausgewählte Bearbeitungsmodule 108 einzusetzen, in denen Bearbeitungsvorgänge ausgeführt werden.
  • Das ATM 200 ist dahingehend dargestellt, dass es eine Ausrichteinrichtung 250 aufweist, mit der die Wafer auf dem Satz Arme 208 ausgerichtet werden können, bevor sie in die Beschickungseinheiten 104 eingesetzt werden. Die Beschickungskammer 202 ist dahingehend dargestellt, das sie den Träger 104 aufweist, der die Kassette 212 trägt. Bei den Kassetten 212 ist gezeigt, dass sie mit Wafern 214 bestückt sind. Hinter den Kassetten 212 in Höhe des Trägers 204 befindet sich der Schlitz 203 für den umgeleiteten Luftstrom, der unter Bezugnahme auf die 2A und 2B oben vorstehend erläutert wurde. Die Türen 210 ermöglichen somit den Zugang zur Beschickungskammer 202, um die Kassetten 212 einsetzen und entnehmen zu können. Die Kassetten können entweder durch einen externen Reinraumroboter (nicht dargestellt) oder eine Person eingesetzt und entnommen werden.
  • Bei dieser Ausführungsform ist das ATM 200 dahingehend dargestellt, dass es eine gitterartige perforierte Platte 205 aufweist. Die perforierte Platte 205 kann eingestellt werden, um einen stärkeren oder geringeren Luftstrom durch die Wafer 214 und durch den Schlitz 203 für den umgeleiteten Luftstrom zu ermöglichen. Obwohl das ATM 200 mit einer geometrischen Form dargestellt ist, um winkelige Beschickungseinheiten 104 anschließen zu können, ist es einleuchtend, dass jede beliebige Art von Form möglich ist, um eine geeignete Umleitung des Luftstromes zu erzielen. Die Umleitung ist primär ein Ergebnis der Einschränkung des Luftstromes durch die perforierte Platte 205, wodurch zumindest ein Teil des Luftstromes in Richtung auf den Träger 204 und sämtliche Wafer in den Kassetten 212 umgeleitet wird.
  • 3B zeigt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, bei der die Beschickungskammer 202 und die perforierte Platte 205' modifiziert worden sind.
  • Wie dargestellt ist, hat die perforierte Platte 205' eine engere Gitteranordnung, die so ausgebildet ist, dass sie den Luftstrom durch die perforierte Platte 205' reduziert oder einschränkt und eine größere Menge des Stromes durch die Wafer 214 und nach unten durch die Schlitze für den umgeleiteten Luftstrom umleitet. Die Beschickungskammer 202 ist ebenfalls modifiziert worden, um eine Abtrennung 207 von der Umgebung zu umfassen, das eine Kassette 212 von der anderen isoliert. Zusätzlich ist jede der Kassetten 212 von Seitenwänden 213 umschlossen.
  • Durch das Hinzufügen der Abtrennung 207 von der Umgebung und der Seitenwände 213 ist die Kontrolle der Mini-Umgebung für jede der Kassetten 212 genauer möglich, wenn das Öffnen einer bestimmten Tür 210 erwünscht ist, um eine bestimmte Kassette 212 zu entnehmen oder einzusetzen. Das heißt, wenn eine der Türen 210 geöffnet wird, um eine der Kassetten 212 zu entnehmen oder einzusetzen, hat die Änderung des Druckes innerhalb der geöffneten Mini-Umgebung keinen wesentlichen Einfluss auf die angrenzende Mini-Umgebung der benachbarten Kammer, die eine Anzahl von bearbeiteten Wafern enthalten kann. Es ist ebenfalls wichtig zu erkennen, dass die Abtrennung von der Umgebung dazu beiträgt, dass die Wanderung von Partikeln und die gegenseitige Verschmutzung der Kammern untereinander unterbunden wird. Jede der Beschickungskammern 202 umfasst vorzugsweise weiterhin einen ersten Schlitz 203a für die Umleitung des Luftstromes und einen zweiten Schlitz 203b für die Umleitung des Luftstromes.
  • 3C zeigt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, bei der die perforierte Platte 205" und die Beschickungskammer 202 eine modifizierte Konstruktion aufweisen. In dieser Ausführungsform wird die perforierte Platte 205" dahingehend definiert, dass sie eine Platte mit einer Vielzahl von gebohrten Löchern ist, die einstellbar sind, um den erwünschten Luftstrom durch die perforierte Platte 205" zu erzielen. In einer beispielhaften Ausführungsform können die gebohrten Löcher in der perforierten Platte 205" so ausgebildet sein, dass sie eine Platte definieren, die zu ungefähr 20 % bis ungefähr 80 %, vorzugsweise zu ungefähr 40 % bis ungefähr 70 % und im am meisten bevorzugten Fall zu ungefähr 63 % offen ist. Um das Merkmal "ungefähr 63 % offen" zu erreichen, sind die gebohrten Löcher in einer Ausführungsform bezüglich ihrer Mitte um 3/16 versetzt und haben einen Durchmesser von 5/32. Im Allgemeinen wird der Grad der Öffnung so eingestellt, dass die gewünschte mittlere Geschwindigkeit erreicht wird, wie unter Bezugnahme auf die Tabellen A und B erläutert wurde. Wie in den obigen Ausführungsformen ist die perforierte Platte 205" vorzugsweise aus rostfreiem Stahl hergestellt, der elektrolytisch poliert worden ist, um Korrosion zu verhindern und elektrostatische Aufladung zu unterdrücken.
  • In diesem Beispiel ist die Beschickungskammer 202 mit Kassettengehäusen 209 modifiziert worden, die so ausgebildet sind, dass sie die Kassetten 212 eng umschließen, wenn diese in ihrer Position in den Trägern 204 platziert sind, die sich jedoch in Richtung auf die perforierte Platte 205" trichterförmig erweitern. Auf diese Weise erlauben es die Kassettengehäuse 209 dem umgeleiteten Luftstrom 220a im Wesentlichen, durch die Wafer 212 und aus dem ersten und dem zweiten Schlitz 203a und 203b für den umgeleiteten Luftstrom heraus zu fließen. Die Kassettengehäuse 209 haben vorzugsweise die Form von Wänden, die die Kassetten 212 umschließen. Außerhalb der Kassettengehäuse 209 befindet sich der Rest des Trägers 204'. Vorzugsweise ist die gesamte Innenfläche der Kassettengehäuse 209 aus rostfreiem Stahl gefertigt, der elektrolytisch poliert wurde, um Korrosion zu verhindern und die Gefahr elektrostatischer Aufladungen zu verringern.
  • Obwohl die vorhergehende Erfindung mit einigen Einzelheiten zum Zweck des klaren Verständnisses beschrieben wurde, ist es eindeutig, dass gewisse Änderungen und Modifikationen innerhalb des Umfanges der beigefügten Ansprüche durchgeführt werden können. Obwohl das ATM dahingehend beschrieben wurde, dass es eine bestimme Geometrie hinsichtlich der Beschickungseinheiten und eines eingebauten Roboters besitzt, ist es beispielsweise klar, dass der Bereich der perforierten Platte jede beliebige Geometrie, wie zum Beispiel rechteckig, quadratisch und ähnliches, aufweisen kann. Zusätzlich kann die Konstruktion um jede der Waferkassetten herum eine beliebige Anzahl von Formen haben. Von besonderer Bedeutung ist jedoch die Tatsache, dass der nach unten in Richtung auf die perforierte Platte geleitete Luftstrom teilweise in Richtung auf die Waferkassetten umgeleitet wird, wodurch eine Mini-Umgebung in den Wafern und um sie herum geschaffen wird, die kontinuierlich einen sanften Luftstrom über die Oberfläche der Wafer erzeugt. Demgemäß sind die vorliegenden Ausführungsbeispiele als beschreibend und nicht als beschränkend anzusehen, und die Erfindung ist nicht auf die hier angegebenen Einzelheiten beschränkt, sondern kann innerhalb des Umfanges der beigefügten Ansprüche modifiziert werden.

Claims (10)

  1. Atmosphärisches Transportmodul als Schnittstelle zwischen einer oder mehreren Beschickungskammern und einem Reinraum, umfassend: ein Gehäuse (200) mit einem oberen Teil mit einem Gebläse (200a) zum Erzeugen eines geregelten Luftstromes, der vom oberen Teil weg nach unten gerichtet ist; einem Beschickungskammerbereich (202), der relativ zum Gebläse seitlich versetzt angeordnet ist, wobei die Beschickungskammer einen Träger (204) zum Halten einer Waferkassette (212) aufweist, wobei der Träger im Abstand von derjenigen Wand der Beschickungskammer angeordnet ist, die sich auf der Seite des Trägers befindet, die am weitesten vom Gebläse entfernt ist, um an dieser Wand einen Schlitz (203) für die Umleitung des Luftstromes zu bilden, wobei die Beschickungskammer mindestens eine Tür (210) zum Einführen und Entfernen der Waferkassette (212) aufweist; einer perforierten Platte (205), die unterhalb des Gebläses (200a) vorgesehen ist und die sich horizontal vom Träger (204) aus erstreckt, wobei sich der Träger zusammen mit der perforierten Platte über den gesamten horizontalen Querschnitt des Gehäuses (200) erstreckt, mit Ausnahme des Bereiches, der von dem Schlitz (203) für die Umleitung des Luftstromes gebildet wird, wobei die perforierte Platte (205) so ausgebildet ist, dass sie den Luftstrom beschränkt, um so einen umgeleiteten Luftstrom (220a) hervorzurufen, der in der Lage ist, zwischen den während ihrer Platzierung auf dem Träger (204) horizontal in einer Waferkassette aufgestapelten Wafern und durch den Schlitz zu fließen, wobei eine Entlüftung (221) unterhalb des Trägers (204) und der perforierten Platte (205) vorgesehen ist, um den umgeleiteten Luftstrom und den nicht umgeleiteten Luftstrom, der in den Bereich unterhalb des Trägers (204) und der perforierten Platte (205) kanalisiert wird, aus dem Gehäuse (200) zu entfernen, und einen innerhalb des Gehäuses angeordneten Roboter (206), wobei der Roboter einen Satz Arme (208) zum Befördern von Wafern zwischen der Waferkassette (212) und der einen Beschickungskammer oder der Anzahl von Beschickungskammern aufweist.
  2. Atmosphärisches Transportmodul nach Anspruch 1, weiterhin umfassend: einen unterhalb des Trägers (204) angeordneten Ventilator (240), wobei der Ventilator (240) so ausgebildet ist, dass er den umgeleiteten Luftstrom (220a) durch den Schlitz (203) für den umgeleiteten Luftstrom und in einen unterhalb des Trägers (204) und der perforierten Platte (205) gebildeten Bereich zieht; einen Verriegelungsmechanismus, der den Ventilator mit einer Tür der Beschickungskammer derart verbindet, dass der Ventilator ausgeschaltet wird, wenn die Tür der Beschickungskammer geöffnet wird.
  3. Atmosphärisches Transportmodul nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse weiterhin einen in das Gebläse (200a) integrierten Filter umfasst.
  4. Atmosphärisches Transportmodul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die inneren Teile des Gehäuses (200), die oberhalb der perforierten Platte (205) ausgebildet sind, einschließlich der perforierten Platte selbst aus elektrolytisch poliertem rostfreiem Stahl bestehen.
  5. Atmosphärisches Transportmodul nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Träger (204) der Beschickungskammer (202) so ausgebildet ist, dass er eine oder mehrere der Waferkassetten (212) aufnehmen kann.
  6. Atmosphärisches Transportmodul nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass Trennwände (207) vorgesehen sind, um auf dem Träger angeordnete Waferkassetten (212) voneinander zu trennen.
  7. Verfahren zum Herstellen eines atmosphärischen Transportmoduls, umfassend: Bilden eines geschlossenen Gehäuses (200) mit einem oberen Bereich, einem mittleren Bereich, einem Bodenbereich und einem Beschickungskammerbereich (202); Installieren eines Gebläses (200a) im oberen Bereich des geschlossenen Gehäuses, wobei das Gebläse so ausgebildet ist, dass es einen in den mittleren Bereich nach unten gerichteten Luftstrom (220) erzeugt und wobei das Gebläse relativ zum Beschickungskammerbereich seitlich versetzt angeordnet ist; Installieren eines Trägers (204), der eine horizontale Trennung zwischen dem mittleren Bereich und dem Bodenbereich des geschlossenen Gehäuses definiert, wobei der Träger mindestens zum Teil im Abstand von derjenigen Wand des Beschickungskammerbereiches angeordnet ist, die sich auf der Seite des Trägers befindet, die am weitesten vom Gebläse entfernt ist, wodurch ein Schlitz an dieser Wand gebildet wird; und Installieren einer perforierten Platte (205), die sich unterhalb des Gebläses horizontal vom Träger aus erstreckt, wobei sich der Träger (204) und die perforierte Platte (205) mit Ausnahme des Schlitzes über die gesamte Breite des Gehäuses (200) erstrecken und weiterhin die Trennung zwischen dem mittleren Bereich und dem Bodenbereich definieren; und Bereitstellen einer Entlüftung (221) unterhalb des Trägers (204) und der perforierten Platte (205) zum Ableiten des Luftstromes aus dem Gehäuse (200), wobei die perforierte Platte so ausgebildet ist, dass sie den vom Gebläse erzeugten Luftstrom beschränkt, so dass er zum Teil von der perforierten Platte weg und in Richtung auf den Träger der Beschickungskammer zwischen die während ihrer Platzierung auf dem Träger in einer Waferkassette horizontal aufgestapelten Wafer und weiter durch den Schlitz und in den Bodenbereich des geschlossenen Gehäuses umgeleitet wird.
  8. Verfahren zum Herstellen eines atmosphärischen Transportmoduls nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass eine Waferkassette mit einem oder mehreren Wafern auf dem Träger der Beschickungskammer sitzt.
  9. Verfahren zum Herstellen eines atmosphärischen Transportmoduls nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die perforierte Platte eine Gitteranordnung aufweist und dass sie aus elektrolytisch poliertem rostfreiem Stahl besteht.
  10. Verfahren zum Herstellen eines atmosphärischen Transportmoduls nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die perforierte Platte eine Vielzahl von gebohrten Löchern aufweist und dass sie aus elektrolytisch poliertem rostfreiem Stahl besteht.
DE60013869T 1999-09-30 2000-09-28 Atmosphärisches wafertransportmodul mit einer kontrollierten umgebung Expired - Lifetime DE60013869T2 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US410190 1995-03-24
US09/410,190 US6364762B1 (en) 1999-09-30 1999-09-30 Wafer atmospheric transport module having a controlled mini-environment
PCT/US2000/027015 WO2001024233A1 (en) 1999-09-30 2000-09-28 Wafer atmospheric transport module having a controlled mini-environment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE60013869D1 DE60013869D1 (de) 2004-10-21
DE60013869T2 true DE60013869T2 (de) 2005-09-22

Family

ID=23623640

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60013869T Expired - Lifetime DE60013869T2 (de) 1999-09-30 2000-09-28 Atmosphärisches wafertransportmodul mit einer kontrollierten umgebung

Country Status (9)

Country Link
US (1) US6364762B1 (de)
EP (1) EP1218926B1 (de)
JP (1) JP4632612B2 (de)
KR (1) KR100660361B1 (de)
CN (1) CN1189917C (de)
DE (1) DE60013869T2 (de)
IL (1) IL148872A (de)
TW (1) TW462076B (de)
WO (1) WO2001024233A1 (de)

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6660055B2 (en) * 2001-10-25 2003-12-09 Asm Technology Singapore Pte Ltd. Compartment for maintaining a clean production environment
TW509097U (en) * 2002-01-18 2002-11-01 Ritdisplay Corp Transporting device for evaporation
US20040069409A1 (en) * 2002-10-11 2004-04-15 Hippo Wu Front opening unified pod door opener with dust-proof device
KR100483428B1 (ko) * 2003-01-24 2005-04-14 삼성전자주식회사 기판 가공 장치
KR100505061B1 (ko) * 2003-02-12 2005-08-01 삼성전자주식회사 기판 이송 모듈
TWI228750B (en) * 2003-02-25 2005-03-01 Samsung Electronics Co Ltd Apparatus and method for processing wafers
CN1307692C (zh) * 2003-04-29 2007-03-28 力晶半导体股份有限公司 稳定材料层性质的方法
US7189291B2 (en) * 2003-06-02 2007-03-13 Entegris, Inc. Method for the removal of airborne molecular contaminants using oxygen gas mixtures
DE102004026883B4 (de) * 2004-05-27 2014-12-24 Inova Pharma Systems Gmbh Anordnung zum sterilen Abfüllen
WO2005121027A2 (en) * 2004-06-04 2005-12-22 Durr Ecoclean, Inc. An integrated machining module for processing workpieces and a method of assembling the same
JP2006019726A (ja) * 2004-06-29 2006-01-19 Samsung Electronics Co Ltd ウェーハ移送システム及びシステム内の圧力調整方法
KR100583730B1 (ko) * 2004-06-29 2006-05-26 삼성전자주식회사 기판 이송 시스템 및 상기 시스템의 프레임 내 압력을조절하는 방법
WO2006055984A2 (en) * 2004-11-22 2006-05-26 Applied Materials, Inc. Substrate processing apparatus using a batch processing chamber
US20070134821A1 (en) * 2004-11-22 2007-06-14 Randhir Thakur Cluster tool for advanced front-end processing
JP2009503899A (ja) * 2005-08-03 2009-01-29 インテグリス・インコーポレーテッド 移送容器
JP5030410B2 (ja) * 2005-09-28 2012-09-19 株式会社日立ハイテクノロジーズ 真空処理装置
KR101224454B1 (ko) * 2005-11-01 2013-01-22 엘지디스플레이 주식회사 액정 표시 장치용 리프터 장비
US8794896B2 (en) * 2005-12-14 2014-08-05 Tokyo Electron Limited Vacuum processing apparatus and zonal airflow generating unit
US20070144118A1 (en) * 2005-12-22 2007-06-28 Alvarez Daniel Jr Purging of a wafer conveyance container
JP5124096B2 (ja) * 2006-03-03 2013-01-23 川崎重工業株式会社 清潔空間用ロボットシステム
JP4606388B2 (ja) * 2006-06-12 2011-01-05 川崎重工業株式会社 基板移載装置の搬送系ユニット
US8757026B2 (en) 2008-04-15 2014-06-24 Dynamic Micro Systems, Semiconductor Equipment Gmbh Clean transfer robot
FR2933813B1 (fr) * 2008-07-11 2010-12-24 Alcatel Lucent Dispositif de purge et procede.
KR101541538B1 (ko) * 2008-12-19 2015-08-04 세메스 주식회사 웨이퍼 이송 유닛 및 이를 포함하는 프로브 스테이션
JP5796972B2 (ja) * 2010-06-14 2015-10-21 株式会社日立国際電気 基板処理装置
CN102162531A (zh) * 2010-12-27 2011-08-24 北京七星华创电子股份有限公司 风门装置
US8936994B2 (en) 2011-04-28 2015-01-20 Mapper Lithography Ip B.V. Method of processing a substrate in a lithography system
CN102768977B (zh) * 2011-05-06 2015-09-02 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 机械手、大气传输单元和晶片传输方法
CN103917466B (zh) * 2011-09-14 2019-01-04 布鲁克斯自动化公司 装载工位
US9272315B2 (en) * 2013-10-11 2016-03-01 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd Mechanisms for controlling gas flow in enclosure
TW202349607A (zh) * 2013-12-13 2023-12-16 日商昕芙旎雅股份有限公司 搬運機械手臂
KR102343640B1 (ko) * 2014-12-15 2021-12-30 세메스 주식회사 기판 처리 장치
US9550219B2 (en) * 2014-12-29 2017-01-24 Daifuku Co., Ltd. Apparatus of inhalation type for stocking wafer at ceiling and inhaling type wafer stocking system having the same
SG11201800143RA (en) * 2015-08-04 2018-02-27 Hitachi Int Electric Inc Substrate processing device, semiconductor device manufacturing method, and recording medium
KR102618491B1 (ko) * 2016-10-31 2023-12-28 삼성전자주식회사 기판 이송 장치
CN110549315B (zh) * 2018-06-04 2021-06-22 沈阳新松机器人自动化股份有限公司 一种迷宫式防水型洁净机器人
CN110549316B (zh) * 2018-06-04 2021-06-22 沈阳新松机器人自动化股份有限公司 一种防水型洁净机器人

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6162740A (ja) * 1984-09-03 1986-03-31 Sanki Eng Co Ltd クリ−ントンネル送風清浄装置
KR920007809B1 (ko) * 1984-10-11 1992-09-17 가부시기가이샤 히다찌 세이사꾸쇼 클린 룸
JPH0761618B2 (ja) * 1985-04-19 1995-07-05 株式会社日立製作所 製品製造装置
US4723480A (en) * 1985-04-19 1988-02-09 Hitachi, Ltd. Manufacturing apparatus with air cleaning device
DE3704505A1 (de) 1987-02-13 1988-08-25 Leybold Ag Einlegegeraet fuer vakuumanlagen
KR0155158B1 (ko) 1989-07-25 1998-12-01 카자마 젠쥬 종형 처리 장치 및 처리방법
JP2986121B2 (ja) 1991-03-26 1999-12-06 東京エレクトロン株式会社 ロードロック装置及び真空処理装置
US5488964A (en) 1991-05-08 1996-02-06 Tokyo Electron Limited Washing apparatus, and washing method
JPH04334579A (ja) * 1991-05-08 1992-11-20 Tokyo Electron Ltd 洗浄装置
JP2696024B2 (ja) * 1991-11-07 1998-01-14 三菱電機株式会社 ウェット処理装置及びその制御方法
KR100221983B1 (ko) 1993-04-13 1999-09-15 히가시 데쓰로 처리장치
JP3470370B2 (ja) * 1994-01-24 2003-11-25 富士通株式会社 塵埃粒子発生位置特定装置および方法ならびにクリーンルーム
US5538385A (en) 1994-06-24 1996-07-23 Kensington Laboratories, Inc. Specimen carrier holder and method of operating it
US5833726A (en) * 1995-05-26 1998-11-10 Extraction System, Inc. Storing substrates between process steps within a processing facility
TW317644B (de) 1996-01-26 1997-10-11 Tokyo Electron Co Ltd
JP3218425B2 (ja) * 1996-03-25 2001-10-15 東京エレクトロン株式会社 処理方法及び処理装置
JP3784117B2 (ja) 1996-11-13 2006-06-07 東京応化工業株式会社 基板の処理装置
JPH10312942A (ja) 1997-05-13 1998-11-24 Kokusai Electric Co Ltd 半導体製造装置
US6312525B1 (en) 1997-07-11 2001-11-06 Applied Materials, Inc. Modular architecture for semiconductor wafer fabrication equipment
JP4048387B2 (ja) 1997-09-10 2008-02-20 東京エレクトロン株式会社 ロードロック機構及び処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN1189917C (zh) 2005-02-16
JP4632612B2 (ja) 2011-02-16
IL148872A0 (en) 2002-09-12
KR100660361B1 (ko) 2006-12-21
EP1218926B1 (de) 2004-09-15
IL148872A (en) 2005-08-31
EP1218926A1 (de) 2002-07-03
US6364762B1 (en) 2002-04-02
KR20020047196A (ko) 2002-06-21
CN1377510A (zh) 2002-10-30
DE60013869D1 (de) 2004-10-21
TW462076B (en) 2001-11-01
WO2001024233A1 (en) 2001-04-05
JP2003510837A (ja) 2003-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60013869T2 (de) Atmosphärisches wafertransportmodul mit einer kontrollierten umgebung
DE69830905T2 (de) Vorrichtung zur behandlung von einzelnen halbleiterscheiben mit mehreren schleusenkammern und verfahren zum beladen und entladen
DE60131539T2 (de) Anordnung zum lagern und entladen von objekten
DE69735042T2 (de) Bearbeitungsvorrichtung zur Bearbeitung von Objekten
DE69735514T2 (de) Vorrichtung zur Behandlung von Halbleiterscheiben
DE10353326B4 (de) Substratverarbeitungsgerät und Verfahren zum Verarbeiten eines Substrats unter Steuerung der Kontaminierung in einem Substrattransfermodul
DE60033427T2 (de) Becher, schleuder-, spül- und trockenvorrichtung und verfahren zum laden einer halbleiterscheibe auf eine schleuder-, spül- und trockenvorrichtung
DE4116554C2 (de) Transportverfahren und -vorrichtung für Reinraumbedingungen
DE69531365T2 (de) Unterteilte Substrat Behandlungskammer
DE60037480T2 (de) Substrat-Transportbehälter
DE3621452C2 (de) Reinraum
DE69631566T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Waschbehandlung
DE60033613T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bearbeitung von Substraten
DE60037515T2 (de) Vorrichtung und verfahren zum transferieren eines werkstückes
DE10039672B4 (de) Substratverarbeitungsvorrichtung und Verfahren zum Bearbeiten eines Substrats
DE112008002643T5 (de) Plasmaverarbeitungsvorrichtung
DE102004054280A1 (de) Vorrichtung und Verfahren für eine verbesserte Wafertransportumgebung
DE102006028057A1 (de) Vorrichtung zum Lagern von kontaminationsempfindlichen, plattenförmigen Gegenständen, insbesondere zum Lagern von Halbleiterwafern
EP0587845B1 (de) Einrichtung und verfahren zur handhabung von gegenständen
DE19932735A1 (de) Mikroelektronik-Fabrikationssystem sowie Verfahren und Vorrichtung zu dessen Reinigung
EP0772228A2 (de) Transportbehälter für scheibenförmige Objekte
DE19925655A1 (de) Reinigungseinrichtung
DE112020001947T5 (de) Dampfabscheidungsverfahren und dampfabscheidungsvorrichtung
DE3641578A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur reinigung einer ionenimplantationskammer
EP1166336B1 (de) Anlage zur fertigung von halbleiterprodukten

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8328 Change in the person/name/address of the agent

Representative=s name: PATENTANWAELTE BRESSEL UND PARTNER, 10785 BERLIN