DE4445750C2 - Geregelter Substratvorspannungsgenerator - Google Patents
Geregelter SubstratvorspannungsgeneratorInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft Substratvorspannungsgenera
toren mit den Merkmalen des Oberbegriffs des Patentanspruchs 1
zum Erzeugen einer von einer Schwankung einer externen
Spannung unabhängigen Spannung und zum Regeln einer Substrat
vorspannung (back bias voltage) in Abhängigkeit von der erzeug
ten Spannung, so daß die Substratvorspannung unabhängig von der
Schwankung der externen Spannung einen konstanten Pegel haben
kann.
In Fig. 7 ist ein Blockschaltbild eines herkömmlichen Substrat
vorspannungsgenerators gezeigt. Wie in diesem Diagramm zu sehen
ist, weist dem herkömmliche Substratvorspannungsgenerator einen
Steuersignal-Generator 1 zum Erzeugen eines Steuersignals PWRON
(Power-On) zu einem Zeitpunkt, an dem eine äußere Spannung Vcc
stabilisiert ist, einen Substratvorspannungssensor 2 zum Erzeu
gen eines Schwingungsfreigabesignals OSCEN in Abhängigkeit von
dem Steuersignal PWRON von dem Steuersignalgenerator 1, einen
Oszillator 3 zum Erzeugen eines Schwingungssignales mit einer
gewünschten Periodendauer in Abhängigkeit von dem Schwingungs
freigabesignal OSCEN von dem Substratvorspannungssensor 2, so
wie eine Substratvorspannungs-Ladungspumpe 4 zum Ausführen ei
nes Ladungspumpvorgangs in Abhängigkeit von dem Schwingungs
signal von dem Oszillator 3, um einen gewünschten Pegel der
Substratvorspannung VBB zu erzeugen und zum Ausgeben der er
zeugten Substratvorspannung VBB an einen externen Schaltkreis
und an den Substratvorspannungssensor 2, auf.
In Fig. 8 ist ein detaillierter Schaltplan des Steuersignalge
nerators 1 von Fig. 8 gezeigt. Wie in dieser Zeichnung zu sehen
ist, weist der Steuersignalgenerator 1 einen PMOS Transistor
PM1 auf, der einen Sourceanschluß aufweist um die externe Span
nung Vcc einzuspeisen, einen mit einem Masseanschluß durch ei
nen NMOS Transistor NM1 mit einem Masseanschluß Vss verbundenen
Drainanschluß und einen direkt mit dem Masseanschluß Vss ver
bundenen Gate-Anschluß. Der NMOS Transistor NM1 wirkt als ein
Kondensator.
Der Steuersignalgenerator 1 weist auch einen PMOS Transistor
PM2 auf, der ein mit einem Knoten zwischen dem PMOS Transistor
PM1 und dem NMOS Transistor NM1 verbundenen Drainanschluß auf
weist, und einen Gate- und einen Sourceanschluß, die gemeinsam
mit dem Masseanschluß Vss durch einen NMOS Transistor NM2 ver
bunden ist. Der NMOS Transistor NM2 wirkt als ein Kondensator.
Des weiteren weist der Steuersignalgenerator 1 einen Inverter
I1 auf, der einen mit einem Knoten zwischen dem PMOS Transistor
PM2 und dem NMOS Transistor NM2 verbundenen Eingangsanschluß
aufweist, sowie einen Inverter I2, der einen mit einem Aus
gangsanschluß des Inverters I1 verbundenen Eingangsanschluß
aufweist, und zum Einspeisen der externen Spannung Vcc durch
einen PMOS Transistor PM3 sowie einen Ausgangsanschluß zum Aus
geben des Steuersignals PWRON an den Substratvorspannungssensor
2. Der PMOS Transistor PM3 wirkt als ein Kondensator.
In Fig. 9 ist eine detaillierter Schaltplan des Substratvor
spannungssensors 2 von Fig. 1 gezeigt. Wie in dieser Zeichnung
zu sehen ist, weist der Substratvorspannungssensor 2 die PMOS
Transistoren PM11 und PM12 auf, deren Sourceanschlüsse zum Ein
speisen der externen Spannung Vcc verbunden sind und deren
Drainanschlüsse miteinander verbunden sind, sowie einen NMOS
Transistor NM11, der einen mit dem Drainanschluß des PMOS Tran
sistors PM11 verbundenen Drainanschluß aufweist, und NMOS Tran
sistoren NM12 und NM13, die in Reihe mit einem Sourceanschluß
des NMOS Transistors NM11 geschaltet sind. Die PMOS und NMOS
Transistoren PM11 und NM11 haben mit dem Masseanschluß Vss je
weils gemeinsam verbundene Gate-Anschlüsse. Der NMOS Transistor
NM12 hat einen Gate-Anschluß und einen Drainanschluß, die ge
meinsam mit dem Sourceanschluß des NMOS Transistors NM11 ver
bunden sind. Der NMOS Transistor NM13 hat einen Gate-Anschluß
und einen Drainanschluß, die gemeinsam mit einem Sourceanschluß
des NMOS Transistors NM12 verbunden sind.
Der Substratvorspannungssensor 2 hat des weiteren einen Inver
ter I11 mit einem Eingangsanschluß, der mit den Drainanschlüs
sen der PMOS Transistoren PM11 und PM12 verbunden ist, sowie
einen Ausgangsanschluß, der mit einem Gate-Anschluß des PMOS
Transistors PM12 verbunden ist, sowie einen Inverter I12, des
sen Eingangsanschluß mit dem Gate-Anschluß des PMOS Transistors
PM12 und dem Ausgangsanschluß des Inverters I11 verbunden ist,
sowie einen NMOS Transistor NM14, dessen Sourceanschluß zum
Einspeisen einer externen Spannung Vcc durch einen PMOS Transi
stor PM11, und einen NMOS Transistor NM15, der einen Sourcean
schluß hat, der mit dem Masseanschluß Vss verbunden ist, sowie
einen Gate-Anschluß zum Einspeisen der externen Spannung Vcc
durch den PMOS Transistor PM13 und einen mit einem Drainan
schluß des NMOS Transistors NM14 und einem Sourceanschluß des
NMOS Transistors NM13 verbundenen Drainanschluß, und zum Ein
speisen der Substratvorspannung VBB von der Substratvorspan
nungs-Ladungspumpe 4. Der PMOS Transistor PM13 wirkt als ein
Kondensator.
Des weiteren weist der Substratvorspannungssensor 2 ein NAND-
Gatter ND11 auf, dessen einer Eingangsanschluß mit einem Aus
gangsanschluß des Inverters I12 verbunden ist und dessen ande
rer Eingangsanschluß mit einem Gate-Anschluß des NMOS Transi
stors NM14 verbunden ist und dazu dient, das Steuersignal PWRON
von dem Steuersignalgenerator 1 einzuspeisen, sowie einen In
verter I13, der einen Eingangsanschluß aufweist, der mit einem
Ausgangsanschluß des NAND-Gatters ND11 verbunden ist und einen
Ausgangsanschluß aufweist zum Ausgeben des Schwingungsfreigabe
signals OSCEN an den Oszillator 3.
Der Betrieb des herkömmlichen Substratvorspannungsgenerators
mit dem vorstehend beschriebenen Aufbau wird nachstehend unter
Bezugnahme auf die Fig. 10A bis 13 erläutert. Die Fig. 10A bis
10D sind Zeitablaufdiagramme, die den Betrieb des herkömmlichen
Substratvorspannungsgenerators in Fig. 7 erläutern, Fig. 11 ist
ein Graph, der eine Beziehung zwischen der externen Spannung
Vcc und der Substratvorspannung VBB in Fig. 7 zeigt, Fig. 12
ist eine Schnittansicht, die einen Aufbau eines allgemeinen
Transistors zeigt und Fig. 13 ist ein Graph, der eine Beziehung
zwischen der externen Spannung Vcc und einer Spannung Vpp
zeigt, die in Fig. 6 verwendet wird.
Zuerst wird in dem Steuersignalgenerator 1 die externe Spannung
Vcc an dem Sourceanschluß des PMOS Transistors PM1 eingespeist
und dann nach Ablauf eines vorbestimmten Zeitablaufs, wie in
Fig. 10A gezeigt, auf einen konstanten Pegel gesetzt. Der vor
bestimmte Zeitablauf ist abhängig von einer RC-Zeitkonstante,
die durch den PMOS Transistor MP1, der als ein Widerstand
wirkt, und durch den NMOS Transistor NM1, der als der Kondensa
tor wirkt, festgelegt ist.
Sobald die externe Spannung Vcc auf den konstanten Pegel ge
setzt ist, wechselt das Steuersignal PWRON, das von dem Steuer
signalgenerator 1 an den Substratvorspannungssensor 2 angelegt
wird, auf einen hohen Logikpegel wie dies in Fig. 10B gezeigt
ist. Wenn das Steuersignal PWRON von dem Steuersignalgenerator
1 einen niedrigen Pegel hat, wird der Substratvorspannungssen
sor 2 auf folgende Weise betrieben. Das Steuersignal PWRON von
dem Steuersignalgenerator 1 mit niedrigem logischen Pegel wird
dem NAND-Gatter ND1 und dem Gate-Anschluß des NMOS Transistors
NM14 zugeführt. Als Ergebnis hiervon gibt das NAND-Gatter ND11
ein Signal mit hohem logischen Pegel an den Inverter I13 unab
hängig von dem Zustand der externen Spannung Vcc, so daß das
Schwingungsfreigabesignal OSCEN, von dem Inverter I13 an den
Oszillator 3 ausgegeben wird, auf einen niedrigen Logikpegel
wechselt. Des weiteren wird der NMOS Transistor NM14 abgeschal
tet. Als Ergebnis hiervon wird die externe Spannung Vcc durch
den PMOS Transistor PM13 nicht auf den NMOS Transistor NM14
weitergeleitet sondern auf den Gate-Anschluß des NMOS Transi
stors NM15, wodurch der NMOS Transistor NM15 eingeschaltet
wird. Als Ergebnis hiervon hat die Substratvorspannung VBB Mas
sepotential Vss.
Demzufolge gibt der Oszillator 3 kein Schwingungssignal an die
Substratvorspannungs-Ladungspumpe 4 in Abhängigkeit von dem
Schwingungsfreigabesignal OSCEN mit niedrigem Pegel von dem
Substratvorspannungssensor 2 ab. Dies hat zur Folge, daß die
Substratvorspannungs-Ladungspumpe 4 in ihrem Haltzustand ver
bleibt.
Wenn das Steuersignal PWRON von dem Steuersignalgenerator 1 auf
einen hohen logischen Pegel unter der Bedingung wechselt, daß
das Schwingungsfreigabesignal OSCEN von dem Substratvorspan
nungssensor 2 auf einem niedrigen logischen Pegel liegt, wird
der NMOS Transistor NM14 in dem Substratvorspannungssensor 2
eingeschaltet.
Dann nimmt in dem Substratvorspannungssensor 2 eine Spannung an
einem Knoten A den Zustand der Rückwärts-Vorspannungs-Spannung
VBB oder des Massepegels Vss aufgrund des Einschaltens des NMOS
Transistors NM14 an. Nachdem die Substratvorspannung VBB von
dem Massepegel Vss freigegeben ist, wird diese dem Gate-
Anschluß des NMOS Transistors NM15 durch den NMOS Transistor
NM14 zugeführt.
Zu diesem Zeitpunkt wechselt der Eingangsanschluß des Inverters
I11 auf einen hohen Logikpegel, da die NMOS Transistoren NM11-M13
in ihren Auszuständen verbleiben, und das Ausgangssignal von
dem Inverter I12 wechselt auf einen hohen Logikpegel.
Wegen des Ausgangssignals von dem Inverter I12 mit einem hohen
Logikpegel und dem Steuersignal PWRON von dem Steuersignalgene
rator 1 mit hohem Logikpegel, gibt das NAND-Gatter ND11 ein Si
gnal mit niedrigem Logikpegel an den Inverter I13 ab. Als Er
gebnis hiervon wechselt das Schwingungsfreigabesignal OSCEN von
dem Inverter I13 auf einen hohen Logikpegel, wie dies in Fig.
10C gezeigt ist. Das Schwingungsfreigabesignal OSCEN mit hohem
Logikpegel von dem Inverter I13 wird dem Oszillator 3 zuge
führt. Der Oszillator 3 erzeugt das Schwingungssignal mit der
gewünschten Periodendauer in Abhängigkeit von dem Schwingungs
freigabesignal OSCEN mit hohem Logikpegel von dem Substratvor
spannungssensor 2 und gibt das erzeugte Schwingungssignal an
die Substratvorspannungs-Ladungspumpe 4 ab. Die Substratvor
spannungs-Ladungspumpe 4 führt beim Empfangen des Schwingungs
signals von dem Oszillator 3 eine negative (-) Pumpoperation
für die Substratvorspannung VBB aus, wodurch die Rückwärts-Vor
spannungs-Spannung VBB allmählich in ihrem Pegel verringert
wird, wie dies in Fig. 10D gezeigt ist. Dann gibt die Substrat
vorspannungs-Ladungspumpe 4 die erhaltene Substratvorspannung
VBB an den externen Schaltkreis und den Substratvorspannungs
sensor 2 ab.
Sobald die Substratvorspannung VBB auf -3VT abgesenkt ist, wer
den die NMOS Transistoren NM11-NM13 eingeschaltet, wodurch der
Eingangsanschluß des Inverters I11 auf einen niedrigen Logikpe
gel wechselt und das Ausgangssignal von dem Inverter 12 auf ei
nen niedrigen Logikpegel geht.
Das NAND-Gatter ND11 gibt ein Signal mit hohem Logikpegel an
den Inverter I13 ab, da es das Ausgangssignal mit niedrigem Lo
gikpegel von dem Inverter I12 und das Steuersignal PWRON mit
hohem Logikpegel von dem Steuersignalgenerator 1 empfängt. Als
Ergebnis hiervon wechselt das Schwingungsfreigabesignal OSCEN
von dem Inverter I13 auf einen niedrigen Logikpegel, wie dies
in Fig. 10C gezeigt ist. Das Schwingungsfreigabesignal OSCEN
mit niedrigem Logikpegel von dem Inverter I13 wird dem Oszilla
tor 3 zugeführt.
In Abhängigkeit von dem Schwingungsfreigabesignal OSCEN mit
niedrigem Logikpegel von dem Substratvorspannungssensor 2 be
endet der Oszillator 3 die Erzeugung des Schwingungssignals. Da
die Substratvorspannungs-Ladungspumpe 4 kein Schwingungssignal
von dem Oszillator 3 empfängt, beendet diese die negative (-)
Pumpoperation für die Substratvorspannung VBB, so daß die
Substratvorspannung VBB auf konstantem Pegel verbleibt. Dann
gibt die Substratvorspannungspumpe 4 die erhaltene Substratvor
spannung VBB an den externen Schaltkreis und den Substratvor
spannungssensor 2 aus.
Im übrigen wird bei dem herkömmlichen Substratvorspannungsgene
rator die externe Spannung Vcc dem Substratvorspannungssensor 2
zugeführt. Aus diesem Grund schwankt ein Teil des Stroms, der
durch jeden der PMOS Transistoren PM11 und PM12 fließt, mit ei
ner Schwankung der externen Spannung Vcc, was in einer Schwan
kung der Umschaltspannungen I11 und I12 sowie dem NAND-Gatter
ND11 resultiert.
Als Ergebnis hiervon wird die Substratvorspannung VBB allmäh
lich in ihrem Pegel verringert, wenn die externe Spannung Vcc
in ihrem Pegel erhöht wird, wie dies in Fig. 11 gezeigt ist.
Andererseits weist ein Speicherbaustein üblicherweise Schalt
kreise, z. B. einen Wortleitungstreiber, einen Ausgangsverstärker
und dergl. auf, die die Spannung Vpp verwenden, die höher ist
als die externe Spannung Vcc. Die Schaltkreise des Speicherbau
steins umfassen im allgemeinen einen Transistor, wie er in Fig.
12 gezeigt ist. Wie in Fig. 12 zu sehen, hat der Transistor ein
P-Typ-Substrat, an das die Substratvorspannung VBB angelegt
wird, und einen N⁺-Diffusionsbereich mit einem Drainanschluß
zum Einspeisen der Spannung Vpp, einen Gate-Anschluß zum Ein
speisen eines Steuersignals und einen Sourceanschluß, der mit
dem Masseanschluß verbunden ist.
Unter der Bedingung, daß die externe Spannung Vcc einen hohen
Pegel hat, wie dies in Fig. 7 gezeigt ist, wird jedoch ein ho
hes elektrisches Feld an einen Übergang des Transistors in Fig.
6 angelegt, weil die Substratvorspannung VBB in ihrem Pegel ab
gesenkt ist, während der Pegel der Spannung Vpp ansteigt, was
eine Verringerung der Zuverlässigkeit des Transistors bewirkt.
Wie vorstehend erwähnt wird bei dem herkömmlichen Substratvor
spannungsgenerator die Substratvorspannung VBB allmählich in
ihrem Pegel verringert, während der Pegel der Spannung Vpp grö
ßer wird, wenn der Pegel der externen Spannung Vcc ansteigt.
Als Ergebnis hiervon wird an den Übergang des Transistors ein
hohes elektrisches Feld angelegt, was eine Verringerung der Zu
verlässigkeit des Transistors bewirkt.
Aus der DE 41 35 148 C2 ist ein Vorspannungsgenerator bekannt,
der die Substratvorspannung ohne Rückwirkung auf diese selbst
erfaßt, so daß Instabilitäten vermieden werden. Dazu ist ein
Oszillator, ein Treiber und ein Aufladeschaltkreis für die Er
zeugung der Substratvorspannung sowie ein die jeweilige
Substratvorspannung erfassender Pegeldetektor vorgesehen, der
das Ausgangssignal des Aufladeschaltkreises erfaßt und ein ent
sprechendes Steuersignal an den Oszillator liefert.
Aus der DE 40 34 688 C2 ist ein Substratspannungsgenerator be
kannt, der hinsichtlich der Treiberkapazität gegenüber Tempera
turschwankungen stabilisiert ist. Dazu wird das Ausgangssignal
eines Ringoszillators einer Treiberschaltung zugeführt, die
phasenversetzte Taktsignale erzeugt, die einem Spannungsgenera
tor zugeführt werden. Das Ausgangssignal des Spannungsgenera
tors wird mittels eines Pegeldetektors überwacht und das Aus
gangssignal des Pegeldetektors durch eine Oszillatortreiber
schaltung verstärkt dem Ringoszillator zugeführt.
Es ist Aufgabe der Erfindung einen Substratvorspan
nungsgenerator bereitzustellen, der auch im Hinblick auf be
stimmte Betriebszustände, wie sie insbesondere bei Speicherbau
steinen auftreten, eine stabile Substratvorspannung liefert.
Diese Aufgabe wird durch einen Substratvorspannungsgenerator
mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst. Das der
Erfindung zugrunde liegende Prinzip (wie es sich auch aus der
nachfolgenden Beschreibung ergibt), besteht mit anderen Worten darin, daß unmittelbar
nach dem Anlegen der Betriebsspannung Vcc zunächst diese
Betriebsspannung am Substrat anliegt, und dann, wenn die Be
triebsspannung Vcc die Substratvorspannung Vss übersteigt, die
Substratvorspannung intern erzeugt wird.
Es folgt eine detail
lierte Beschreibung im Zusammenhang mit den beigefügten Zeich
nungen, in denen:
Fig. 1 ein Blockschaltbild eines Substratvorspannungs
generators gemäß der vorliegenden Erfindung
zeigt;
Fig. 2 ein detaillierter Schaltplan eines internen Span
nungsgenerators von Fig. 1 zeigt;
Fig. 3 einen detaillierten Schaltplan eines Substrat-
Vorspannungssensors von Fig. 1 zeigt;
Fig. 4A bis 4H Zeitablaufdiagramme zeigen, die den Betrieb
des Substratvorspannungsgenerators von Fig. 1
erläutern;
Fig. 5 einen Graphen zeigt, der die Beziehung zwischen
einer externen Spannung und einer internen Spannung
in Fig. 1 erläutert;
Fig. 6 einen Graphen zeigt, der die Beziehung zwischen
der externen Spannung und der Substratvorspannung
in Fig. 1 zeigt;
Fig. 7 ein Blockschaltbild eines herkömmlichen Substrat-
Vorspannungsgenerators zeigt;
Fig. 8 einen detaillierten Schaltplan eines Steuer
signalgenerators in Fig. 7 zeigt;
Fig. 9 ein detaillierter Schaltplan eines Substrat-
Vorspannungssensors in Fig. 1 zeigt;
Fig. 10A bis 10D Zeitablaufdiagramme zeigen, die einen
Betrieb des herkömmlichen Substratvorspannungs
generators gemäß Fig. 7 erläutern;
Fig. 11 einen Graphen zeigt, der eine Beziehung zwischen
einer externen Spannung und einer Substratvor
spannung in Fig. 7 erläutert;
Fig. 12 eine Schnittansicht zeigt, die einen Aufbau eines
in Speicherbausteinen verwendeten Transistors darstellt; und
Fig. 13 einen Graphen zeigt, der eine Beziehung zwischen
der externen Spannung und der in Fig. 12
verwendeten Spannung erläutert.
In Fig. 1 ist ein Blockschaltbild eines Substratvorspannungsge
nerators gemäß der vorliegenden Erfindung gezeigt. Wie in die
ser Zeichnung zu sehen ist, weist der Substratvorspannungsgene
rator einen Steuersignalgenerator 21 zum Erzeugen eines Steu
ersignals PWRON zu einem Zeitpunkt auf, an dem eine externe
Spannung Vcc auf einem konstanten Pegel verbleibt, einen Refe
renzspannungsgenerator 22 zum Erzeugen einer Referenzspannung
VREF zu einem Zeitpunkt, an dem das Steuersignal PWRON vor dem
Steuersignalgenerator 21 eingespeist wird, und einen internen
Spannungsgenerator 23 auf, um die externe Spannung Vcc als
Treiberspannung einzuspeisen und eine interne Spannung VREG und
ein internes/externes Spannungswahlsignal VREGOK. Der interne
Spannungsgenerator 23 ist dazu eingerichtet, die Referenzspan
nung VREF von dem Referenzspannungsgenerator 22 mit einer Span
nung zu vergleichen, die durch Abfall der internen Spannung
VREG unter Verwendung eines Widerstandes R erhalten wird, und
um die interne Spannung VREG sowie das interne/externe Span
nungswahlsignal VREGOK entsprechend dem Vergleichsergebnis zu
erzeugen.
Der Substratvorspannungsgenerator weist auch einen Substratvor
spannungssensor 24 auf um ein Schwingungsfreigabesignal OSCEN
in Abhängigkeit von dem internen/externen Spannungswahlsignal
VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23 zu erzeugen. Ge
steuert von dem internen/externen Spannungswahlsignal VREGOK
von dem internen Spannungsgenerator 23 ist der Substratvorspan
nungssensor 24 dazu eingerichtet, daß Schwingungsfreigabesignal
OSCEN in Abhängigkeit von der externen Spannung Vcc in einem
Ursprungszustand zu erzeugen, bei dem die externe Spannung Vcc
zugeführt wird. Dann ist unter der Steuerung durch das inter
ne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen Span
nungsgenerator 34 der Substratvorspannungssensor 24 dazu einge
richtet, das Schwingungsfreigabesignal OSCEN in Abhängigkeit
von der internen Spannung VREG von dem internen Spannungsgene
rator 23 zu erzeugen, wenn die interne Spannung VREG auf einem
konstanten Pegel stabilisiert ist.
Des weiteren weist der Substratvorspannungsgenerator einen Os
zillator 25 zum Erzeugen eines Oszillationssignals mit einer
gewünschten Periodendauer in Abhängigkeit von dem Schwingungs
freigabesignal OSCEN von dem Substratvorspannungssensor 24 auf,
sowie eine Substratvorspannungspumpe 26 zum Ausführen eines La
dungspumpvorganges in Abhängigkeit von dem Oszillationssignal
von dem Oszillator 25 um einen gewünschten Pegel der Substrat
vorspannung VBB zu erzeugen und zum Ausgeben der erzeugten
Substratvorspannung VBB an einen externen Schaltkreis sowie an
den Substratvorspannungssensor 24. Der Oszillator 25 ist auch
dazu eingerichtet, ein Freigabesignal VBBOKB an den internen
Spannungsgenerator 23 auszugeben, wenn die Substratvorspannung
VBB von der Substratvorspannungspumpe 26 auf einen konstanten
Pegel stabilisiert ist.
In Fig. 2 ist ein detaillierter Schaltplan des internen Span
nungsgenerators 23 von Fig. 1 gezeigt. Wie in dieser Zeichnung
zu sehen ist, umfaßt der interne Spannungsgenerator 23 einen
Operationsverstärker OP zum Vergleich der Referenzspannung VREF
von dem Referenzspannungsgenerator 22 mit der internen Spannung
VREG in Abhängigkeit von dem Freigabesignal VBBOKB von dem Os
zillator 25. Der Operationsverstärker OP hat einen nicht inver
tierenden Eingangsanschluß (+) zum Einspeisen der Referenzspan
nung VREF von dem Referenzspannungsgenerator 22.
Der interne Spannungsgenerator 23 weist des weiteren einen PMOS
Transistor 21 zum Ausgeben der internen Spannung VREG auf. Der
PMOS Transistor PM21 hat einen Gate-Anschluß, der mit einem
Ausgangsanschluß des Operationsverstärkers OP verbunden ist,
einen Sourceanschluß zum Einspeisen der externen Spannung Vcc
und einen Drainanschluß, der an einen Masseanschluß Vss über
die Widerstände R21 und R22 angeschlossen ist. Ein Knoten zwi
schen den Widerständen R21 und R22 ist mit einem invertierenden
Eingangsanschluß (-) des Operationsverstärkers OP verbunden.
Des weiteren umfaßt der interne Spannungsgenerator 23 einen in
ternen/externen Spannungswahlsignalgenerator 231 zum Einspeisen
der Referenzspannung VREF von dem Referenzspannungsgenerator 22
und der internen Spannung VREG von dem Drainanschluß des PMOS
Transistors PM21 und zum Ausgeben des internen/externen Span
nungswahlsignals VREGOK. Der interne/externe Spannungswahlsi
gnalgenerator 231 wechselt das interne/externe Spannungswahlsi
gnal VREGOK von seinem niedrigen Logikpegel zu seinem hohen Lo
gikpegel in Abhängigkeit von der Reihenfolge der Erzeugung der
Referenzspannung VREF und der internen Spannung VREG und spei
chert dann dieses Signal.
In Fig. 3 ist ein detaillierter Schaltkreis des Substratvor
spannungssensors 24 von Fig. 1 gezeigt. Wie in dieser Zeichnung
zu sehen ist, umfaßt der Substratvorspannungssensor 24 zwei
PMOS Transistoren PM31 und PM32, deren Sourceanschlüsse zum
Einspeisen der internen Spannung VREG von dem internen Span
nungsgenerator 23 verbunden sind, und deren Drainanschlüsse je
weils verbunden sind, sowie einen NMOS Transistor NM31, der ei
nen mit dem Drainanschluß des PMOS Transistors PM31 verbundenen
Drainanschluß aufweist, und zwei NMOS Transistoren NM32 und
NM33, die in Reihe mit einem Source des NMOS Transistors NM31
geschaltet sind. Die PMOS und NMOS Transistoren PM31 und NM31
haben mit dem Masseanschluß Vss gemeinsam verbundene Gate-
Anschlüsse. Der NMOS Transistor NM32 hat einen Gate-Anschluß
und einen Drainanschluß, die beide an den Sourceanschluß des
NMOS Transistors NM31 angeschlossen sind. Der NMOS Transistor
33 hat einen Gate-Anschluß und einen Drainanschluß, die beide
an einem Sourceanschluß des NMOS Transistors 32 angeschlossen
sind.
Der Substratvorspannungssensor 24 weist auch einen Inverter I31
auf, der einen mit den Drainanschlüssen der PMOS Transistoren
PM31 und PM32 gemeinsam verbundenen Eingangsanschluß aufweist,
sowie einen Ausgangsanschluß, der mit einem Gate-Anschluß des
PMOS Transistors PM32 verbunden ist, sowie einen Inverter 32,
der einen Eingangsanschluß aufweist, der mit dem Gate-Anschluß
des PMOS Transistors PM32 und mit dem Ausgangsanschluß des In
verters I31 verbunden ist, sowie einen Pegelwandler 241, der
einen mit einem Ausgangsanschluß des Inverters I32 verbundenen
Eingangsanschluß aufweist, einen Inverter I35 zum Invertieren
des internen/externen Spannungswahlsignals VREGOK von dem in
ternen Spannungsgenerator 23 sowie ein Übertragungsgatter TR31,
das einen Eingangsanschluß aufweist, der mit einem Ausgangsan
schluß des Pegelwandlers 241 verbunden ist. Das Übertragungs
gatter TR31 ist durch das interne/externe Spannungswahlsignal
VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23 sowie dem inter
nen/externen Spannungswahlsignal VREGOK gesteuert, das durch
den Inverter I35 invertiert ist.
Des weiteren weist der Substratvorspannungssensor 24 einen PMOS
Transistor MP36 auf, der einen Gate-Anschluß zum Einspeisen des
internen/externen Spannungswahlsignals VREGOK von dem internen
Spannungsgenerator 23 aufweist, sowie einen Sourceanschluß zum
Einspeisen der externen Spannung Vcc und PMOS Transistoren PM37
und PM38, die mit einem Drainanschluß des PMOS Transistors PM36
verbundene Sourceanschlüsse sowie miteinander verbundene Drain
anschlüsse haben, einen NMOS Transistor NM37, der einen mit dem
Drainanschluß des PMOS Transistors PM37 verbundenen Drainan
schluß aufweist, sowie NMOS Transistoren NM38 und NM39, die in
Reihe mit einem Sourceanschluß des NMOS Transistors NM37 ge
schaltet sind. Die PMOS und NMOS Transistoren PM37 und NM37 ha
ben mit dem Masseanschluß Vss jeweils gemeinsam verbundene Ga
te-Anschlüsse. Der NMOS Transistor NM38 hat einen Gate-Anschluß
und einen Drainanschluß, die gemeinsam mit dem Sourceanschluß
des NMOS Transistors NM37 verbunden sind. Der NMOS Transistor
NM39 hat einen Gate-Anschluß und einen Drainanschluß, die ge
meinsam mit einem Sourceanschluß des NMOS Transistors NM38 ver
bunden sind.
Des weiteren weist der Substratvorspannungssensor 24 einen In
verter I33 auf, der einen Eingangsanschluß hat, der mit den
Drainanschlüssen der PMOS Transistoren PM37 und PM38 verbunden
ist, sowie einen Ausgangsanschluß, der mit einem Gate-Anschluß
des PMOS Transistors PM38 verbunden ist, einen Inverter I34 mit
einem Eingangsanschluß, der mit dem Gate-Anschluß des PMOS
Transistors PM38 und dem Ausgangsanschluß des Inverters I33
verbunden ist, sowie ein Übertragungsgatter TR32 mit einem Ein
gangsanschluß, der mit einem Ausgangsanschluß des Inverters I34
verbunden ist. Das Übertragungsgatter TR32 ist durch das inter
ne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen Span
nungsgenerator 23 und dem internen/externen Spannungswahlsignal
VREGOK gesteuert, das durch den Inverter I35 invertiert ist.
Des weiteren weist der Substratvorspannungssensor 24 eine NMOS
Transistor NM40 auf, der einen Sourceanschluß aufweist zum Ein
speisen der externen Spannung Vcc durch eine PMOS Transistor
PM42, sowie einen NMOS Transistor NM41, der einen Sourcean
schluß aufweist, der mit dem Masseanschluß Vss verbunden ist,
einen Gate-Anschluß zum Einspeisen der externen Spannung Vcc
durch den PMOS Transistor PM42 und einen Drainanschluß, der mit
einem Drainanschluß des NMOS Transistors NM40 und einem Source
anschluß des NMOS Transistors NM39 verbunden ist und zum Ein
speisen der Substratvorspannung VBB von der Substratvorspan
nungspumpe 26 dient. Der PMOS Transistor PM42 wirkt als ein
Kondensator.
Des weiteren umfaßt der Substratvorspannungssensor 24 ein NAND-
Gatter ND31 mit einem Eingangsanschluß, der mit den Ausgangsan
schlüssen der Übertragungsgatter TR31 und TR32 verbunden ist,
und einen zweiten Eingangsanschluß, der mit einem Gate-Anschluß
des NMOS Transistors NM40 verbunden ist zum Einspeisen des
Steuersignals PWRON von dem Steuersignalgenerator 21, sowie ei
nen Inverter I36 mit einem Eingangsanschluß, der mit einem Aus
gangsanschluß des NAND-Gatters ND31 verbunden ist und mit einem
Ausgangsanschluß zum Ausgeben des Schwingungsfreigabesignals
OSCEN an den Oszillator 25.
Außerdem wird die Substratvorspannung VBB von der Substratvor
spannungspumpe 26 an einen Sourceanschluß des NMOS Transistors
NM33 angelegt.
Der Inverter I31 umfaßt PMOS und NMOS Transistoren PM33 und
NM34, die in Reihe zwischen dem Sourceanschluß des PMOS Transi
stors PM32 und dem Masseanschluß Vss geschaltet sind. Die PMOS
Transistoren PM33 und NM34 haben mit dem Drainanschluß des PMOS
Transistors PM32 gemeinsam verbundene Gate-Anschlüsse.
Der Inverter I32 umfaßt PMOS und NMOS Transistoren PM34 und
NM35, die in Reihe zwischen dem Sourceanschluß des PMOS Transi
stors PM32 und dem Masseanschluß Vss geschaltet sind. Die PMOS
und NMOS Transistoren PM34 und NM35 haben mit dem Ausgangsan
schluß des Inverters I31 gemeinsam verbundene Gate-Anschlüsse.
Der Inverter I33 umfaßt PMOS und NMOS Transistoren PM39 und
NM42, die in Reihe zwischen dem Sourceanschluß des PMOS Transi
stors PM38 und dem Masseanschluß Vss geschaltet sind. Die PMOS
und NMOS Transistoren PM39 und NM42 haben mit dem Drainanschluß
des PMOS Transistors PM38 gemeinsam verbundene Gate-Anschlüsse.
Der Inverter I34 umfaßt PMOS und NMOS Transistoren PM40 und
NM43, die in Reihe zwischen dem Sourceanschluß des PMOS Transi
stors PM38 und dem Masseanschluß Vss geschaltet sind. Die PMOS
und NMOS Transistoren PM40 und NM43 haben mit dem Ausgangsan
schluß des Inverters I33 gemeinsam verbundene Gate-Anschlüsse.
Das Übertragungsgatter TR31 umfaßt einen NMOS Transistor NM36,
der einen Gate-Anschluß zum Einspeisen des internen/externen
Spannungswahlsignals VREGOK von dem internen Spannungsgenerator
23 aufweist, sowie einen PMOS Transistor PM35 mit einem Gate-
Anschluß zum Einspeisen des internen/externen Spannungswahlsi
gnals VREGOK, das durch den Inverter I35 invertiert ist.
Das Übertragungsgatter TR32 umfaßt einen PMOS Transistor PM41
mit einem Gate-Anschluß zum Einspeisen des internen/externen
Spannungswahlsignals VREGOK von dem internen Spannungsgenerator
23, sowie einen NMOS Transistor NM34 mit einem Gate-Anschluß
zum Einspeisen des internen/externen Spannungswahlsignal
VREGOK, das durch den Inverter I35 invertiert ist.
Der Betrieb des Substratvorspannungsgenerators mit dem vorste
hend beschriebenen Aufbau gemäß der vorliegenden Erfindung wird
nachstehend im Detail unter Bezugnahme auf die Fig. 4A bis
6 erläutert. Die Fig. 4A bis 4H sind Zeitablaufdiagramme, die
den Betrieb des Substratvorspannungsgenerators von Fig. 1 er
läutern, Fig. 5 ist ein Graph, der die Beziehung zwischen der
externen Spannung Vcc und der internen Spannung VREG in Fig. 1
erläutert, und Fig. 6 ist ein Graph, der die Beziehung zwi
schen der externen Spannung Vcc und der Substratvorspannung VBB
in Fig. 1 erläutert.
Zuerst, wenn die externe Spannung Vcc auf den in Fig. 4A ge
zeigten konstanten Pegel gebracht wird, wechselt das Steuersi
gnal PWRON von dem Steuersignalgenerator 21 auf einen hohen Lo
gikpegel, wie dies in Fig. 4B gezeigt ist. Das Steuersignal
PWRON auf hohem logischen Pegel von dem Steuersignalgenerator
21 wird an den Referenzspannungsgenerator 22 und an dem
Substratvorspannungssensor 24 angelegt. Andererseits ist in dem
Fall, in dem das Steuersignal PWRON von dem Steuersignalgenera
tor 21 auf einen niedrigen logischen Pegel ist, die Referenz
spannung VREF von dem Referenzspannungsgenerator 22 auf niedri
gem logischen Pegel, wie in Fig. 4F gezeigt und das Freigabesi
gnal VBBOKB von dem Oszillator 25 ist auf hohem logischen Pe
gel, wie in Fig. 4E gezeigt. Die auf niedrigem logischen Pegel
befindliche Referenzspannung VREF von dem Referenzspannungsge
nerator 22 und das auf hohem logischen Pegel befindliche Frei
gabesignal FBBOK von dem Oszillator 25 werden an den internen
Spannungsgenerator 23 angelegt. Als Ergebnis hiervon gehen die
interne Spannung VREG und das interne/externe Spannungswahlsi
gnal VREGOK von dem internen Spannungsgenerator auf niedrigem
Pegel, wie in den Fig. 4G und 4H jeweils gezeigt. Dann werden
die niedrige interne Spannung VREG und das niedrige inter
ne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen Span
nungswahlgenerator 23 an den Substratvorspannungssensor 24 an
gelegt.
In dem Substratvorspannungssensor 24 wird das niedrige Steuer
signal PWRON von dem Steuersignalgenerator 21 an das NAND-
Gatter ND31 und an den Gate-Anschluß des NMOS Transistors NM40
angelegt. Als Ergebnis hiervon gibt das NAND-Gatter ND31 ein
Signal mit hohem logischen Pegel an dem Inverter I36 unabhängig
von dem Zustand der externen Spannung Vcc aus, wodurch das
Schwingungsfreigabesignal OSCEN, das von dem Inverter I36 an
den Oszillator 35 ausgegeben wird, auf niedrigen logischen Pe
gel geht, wie dies in Fig. 4C gezeigt ist. Außerdem wird der
NMOS Transistor NM40 abgeschaltet. Als Ergebnis hiervon wird
die externe Spannung Vcc durch den PMOS Transistor 42 nicht zu
dem NMOS Transistor NM40 übertragen, sondern an den Gate-
Anschluß des NMOS Transistor NM41, wodurch der NMOS Transistor
NM41 eingeschaltet wird. Als Ergebnis hiervon nimmt die
Substratvorspannung VBB den Massepegel Vss an, wie in Fig. 4D
gezeigt ist. Daraufhin gibt der Oszillator 25 kein Schwingungs
signal an die Substratvorspannungs-Ladungspumpe 26 in Abhängig
keit von dem niedrigen Schwingungsfreigabesignal OSCEN von dem
Substratvorspannungssensor 24 unabhängig von den Zuständen der
internen Spannung VREG und dem internen/externen Spannungswahl
signal VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23 ab. Als
Ergebnis hiervon verbleibt die Substratvorspannungs-
Ladungspumpe 26 in ihrem Haltzustand.
Wenn das Steuersignal PWRON von dem Steuersignalgenerator 21
auf hohen logischen Pegel unter der Bedingung geht,
daß das Freigabesignal OSCEN von dem Substratvor
spannungssensor 24 vorhanden ist, sind die Referenzspannung
VREF von dem Referenzspannungsgenerator 22 und die interne
Spannung VREG und das interne/externe Spannungswahlsignal
VREGOK von dem internen Spannungswahlsignal VREGOK von dem in
ternen Spannungsgenerator 23 alle auf niedrigem logischen Pe
gel, dann wechselt die Referenzspannung VREF von dem Referenz
spannungsgenerator 22 auf hohen logischen Pegel, wie dies in
Fig. 4F gezeigt ist. Die hochpegelige Referenzspannung VREF von
dem Referenzspannungsgenerator 22 wird dem internen Spannungs
generator 23 zugeführt.
Da zu diesem Zeitpunkt das Freigabesignal VBBOK von dem Oszil
lator 25 noch auf seinem hohen logischen Pegel ist, wie dies in
Fig. 4E gezeigt ist, verbleiben die interne Spannung VREG und
das interne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen
Spannungsgenerator 23 auf ihren niedrigen logischen Pegeln, wie
dies in den Fig. 4G und 4H jeweils gezeigt ist. Das hochpegeli
ge Steuersignal PWRON von dem Steuersignalgenerator 21 und die
niedrigpegelige interne Spannung VREG und das niedrige inter
ne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen Span
nungsgenerator 23 werden dem Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungssensor 24 zugeführt.
Dann wird in dem Substratvorspannungssensor 24 das hochpegelige
Steuersignal PWRON von dem Steuersignalgenerator 21 an das
NAND-Gatter ND31 und an den Gate-Anschluß des NMOS Transistors
NM40 angelegt, die niedrige interne Spannung VREG von dem in
ternen Spannungsgenerator 23 wird an die Sourceanschlüsse der
PMOS Transistoren PM31 und PM32, einen Sourceanschluß des PMOS
Transistors PM33 in dem Inverter I31 und an einen Sourcean
schluß des PMOS Transistors PM34 in dem Inverter I32 angelegt,
und das niedrigpegelige interne/externe Spannungswahlsignal
VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23 wird an die Über
tragungsgatter TR31 und TR32 direkt und durch den Inverter 135
an die Übertragungsgater TR31 und TR32 angelegt.
Als Ergebnis hiervon wird der NMOS Transistor NM40 eingeschal
tet, wodurch in dem Knoten B in Fig. 3 eine Spannung hervorge
rufen wird, die den Zustand der Substratvorspannung VBB oder
den Massepegel Vss annimmt, wodurch der NMOS Transistor NM41
abgeschaltet wird. Sobald die Substratvorspannung VBB von dem
Massepegel Vss freigegeben ist, wird diese an den Gate-Anschluß
des NMOS Transistors NM41 durch den NMOS Transistor 40 weiter
geleitet.
Da die NMOS Transistoren NM37-NM39 in ihren ausgeschalteten Zu
ständen verbleiben, geht zu diesem Zeitpunkt der Eingangsan
schluß des Inverters I33 auf einen hohen logischen Pegel und
das Ausgangssignal von dem Inverter I34 geht auf einen hohen
logischen Pegel. Da das niedrigpegelige interne/externe Span
nungswahlsignal VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23
an den Gate-Anschluß des PMOS Transistors PM36 angelegt wird,
wird der PMOS Transistor PM36 eingeschaltet. Wenn der PMOS
Transistor PM36 eingeschaltet ist, überträgt dieser die externe
Spannung Vcc zu dem Sourceanschluß des PMOS Transistors PM37,
dessen Gate-Anschluß mit dem Masseanschluß Vss verbunden ist.
Als Ergebnis hiervon speist der PMOS Transistor PM37 ein Signal
mit hohem logischen Pegel in den Eingangsanschluß des Inverters
I33 ein.
In dem Übertragungsgatter TR32 wird der PMOS Transistor PM41 in
Abhängigkeit von dem niedrigpegeligen internen/externen Span
nungswahlsignal VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23
eingeschaltet und der NMOS Transistor NM44 wird in Abhängigkeit
von dem hochpegeligen internen/externen Spannungswahlsignal
VREGOK, das durch den Inverter I35 invertiert ist, eingeschal
tet. Im Gegensatz dazu wird in dem Übertragungsgatter TR31 der
NMOS Transistor NM36 in Abhängigkeit von dem niedrigpegeligen
internen/externen Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen
Spannungsgenerator 23 abgeschaltet und der PMOS Transistor PM35
wird in Abhängigkeit von dem hochpegeligen internen/externen
Spannungswahlsignal VREGOK, das durch den Inverter I35 inver
tiert ist, abgeschaltet. Das hochpegelige Ausgangssignal von
dem Inverter I34 wird an das NAND-Gatter ND31 übertragen, da
das Übertragungsgatter TR32 eingeschaltet ist, während das
Übertragungsgatter TR31 ausgeschaltet ist.
Bei Empfangen des hochpegeligen Ausgangssignals von dem Inver
ter I34, das durch das Übertragungsgatter TR32 übertragen wor
den ist und des hochpegeligen Steuersignals PWRON von dem Steu
ersignalgenerator 21, gibt das NAND-Gatter ND31 ein niedrigpe
geliges Logiksignal an den Inverter 136 aus. Als Ergebnis hier
von wechselt das Schwingungsfreigabesignal OSCEN von dem Inver
ter I36 auf einen hohen logischen Pegel, wie dies in Fig. 4C
gezeigt ist. Das hochpegelige Schwingungsfreigabesignal OSCEN
von dem Inverter I36 wird dem Oszillator 25 zugeführt.
Dann erzeugt der Oszillator 25 das Schwingungssignal in der
gewünschten Periodendauer in Abhängigkeit von dem hochpegeligen
Schwingungsfreigabesignal OSCEN von dem Substratvorspannungs
sensor 24 und gibt das erzeugte Schwingungssignal an die
Substratvorspannungs-Ladungspumpe aus. Beim Empfangen des
Schwingungssignals von dem Oszillator 25 führt die Substratvor
spannungs-Ladungspumpe 26 eine negative (-) Pumpoperation für
die Substratvorspannung VBB aus, und bewirkt so, daß die
Substratvorspannung VBB in ihrem Pegel abgesenkt wird, wie dies
in Fig. 4D gezeigt ist. Dann gibt die Substratvorspannungs-
Ladungspumpe 26 die erhaltene Substratvorspannung VBB an den
externen Schaltkreis und den Substratvorspannungssensor 24 aus.
In dem Anfangszustand, in dem die externe Spannung Vcc zuge
führt ist, ist im Ergebnis die Substratvorspannung VBB nur ab
hängig von der externen Spannung Vcc, da die interne Spannung
VREG von dem internen Spannungsgenerator 23 nicht durch das ab
geschaltete Übertragungsgatter TR31 hindurchgeleitet wird.
Danach, in dem Moment, in dem die Substratvorspannung VBB auf
-3VT abgesenkt ist, werden die NMOS Transistoren NM37-NM39 ein
geschaltet, wodurch der Eingangsanschluß des Inverters I33 auf
einen niedrigen Logikpegel wechselt und das Ausgangssignal von
dem Inverter I34 auf einen niedrigen Logikpegel geht. Außerdem
werden die NMOS Transistoren NM31-NM33 eingeschaltet. Als Er
gebnis hiervon wechselt der Eingangsanschluß des Inverters I31
auf einen niedrigen Logikpegel und das Ausgangssignal von dem
Inverter I32 geht auf einen niedrigen Logikpegel.
Das niedrigpegelige Ausgangssignal des Inverters I34 wird zu
dem NAND-Gatter ND31 übertragen, da das Übertragungsgatter TR32
in seinem eingeschalteten Zustand verbleibt, während das Über
tragungsgatter TR31 in seinem abgeschalteten Zustand verbleibt.
Das NAND-Gatter ND31 gibt ein Signal mit einem hohen logischen
Pegel an den Inverter I36 ab, da es mit dem niedrigpegeligen
Ausgangssignal von dem Inverter I34 gespeist wird, das von dem
Übertragungsgatter TR32 und dem hochpegeligen Steuersignal
PWRON von dem Steuersignalgenerator 21 übertragen wird. Als ein
Ergebnis hiervon wechselt das Schwingungsfreigabesignal OSCEN
von dem Inverter I36 von einem hohen logischen Pegel auf einen
niedrigen logischen Pegel, wie dies in Fig. 4C gezeigt ist. Das
niedrigpegelige Schwingungsfreigabesignal OSCEN von dem Inver
ter I36 wird dem Oszillator 25 zugeführt.
Dann beendet der Oszillator 25 die Erzeugung des Schwingungs
signals in Abhängigkeit von dem niedrigpegeligen Schwingungs
freigabesignal OSCEN von dem Substratvorspannungssensor 24.
Aufgrund des fehlenden Schwingungssignals von dem Oszillator 25
beendet die Substratvorspannungs-Ladungspumpe 26 den negativen
(-) Pumpvorgang für die Rückwärts-Vorspanungs-Spannung VBB,
was zur Folge hat, daß die Substratvorspannung VBB im Pegel
konstant ist, wie dies in Fig. 4D gezeigt ist. Dann gibt die
Substratvorspannungs-Ladungspumpe 26 die resultierende
Substratvorspannung VBB an den externen Schaltkreis und an den
Substratvorspannungssensor 24 ab.
Außerdem wechselt das Freigabesignal VBBOKB von dem Oszillator
25 von einem hohen auf einen niedrigen Logikpegel, wie dies in
Fig. 4E gezeigt ist, in dem Moment, in dem das Schwingungsfrei
gabesignal OSCEN von dem Substratvorspannungssensor 24 von ei
nem hohen auf einen niedrigen Logikpegel wechselt. Das niedrig
pegelige Freigabesignal VBBOKB von dem Oszillator 25 wird dem
internen Spannungsgenerator 23 zugeführt.
In dem internen Spannungsgenerator 23 wird der Operationsver
stärker OP in Abhängigkeit von dem niedrigpegeligen Freigabesi
gnal VBBOKB von dem Oszillator 25 betrieben. Die Referenzspan
nung VREF von dem Referenzspannungsgenerator 22 wird dem nicht
invertierenden Eingangsanschluß (+) des Operationsverstärkers
OP zugeführt und die interne Spannung VREG wird durch die Wi
derstände R21 und R22 geteilt und dann in den invertierenden
Eingangsanschluß (-) des Operationsverstärkers OP zurückge
speist. Während des Betriebes vergleicht der Operationsverstär
ker OP die eingespeisten Spannungen miteinander und gibt ein
niedrigpegeliges Logiksignal an den Gate-Anschluß des PMOS
Transistors PM21 in Abhängigkeit von dem Vergleichsergebnis
aus, was zur Folge hat, daß der PMOS Transistor PM21 einge
schaltet wird. Als Ergebnis hiervon wechselt die interne Span
nung VREG von dem PMOS Transistor PM21 auf einen hohen Logikpe
gel und verbleibt konstant in diesem hochpegeligen Zustand, wie
dies in Fig. 4G gezeigt ist. Darüber hinaus wechselt das inter
ne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen/externen
Spannungswahlsignalgenerator 231 auf einen hohen Logikpegel,
wie dies in Fig. 4H gezeigt ist. Die hochpegelige interne Span
nung VREG und das hochpegelige interne/externe Spannungswahlsi
gnal VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23 werden dem
Substratvorspannungssensor 24 zugeführt.
Demzufolge wird in dem Substratvorspannungssensor 24 das Über
tragungsgatter TR32 abgeschaltet, während das Übertragungsgat
ter TR31 in Abhängigkeit von dem hochpegeligen inter
nen/externen Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen Span
nungsgenerator 23 eingeschaltet wird. Als Ergebnis hiervon wird
die externe Spannung Vcc durch das abgeschaltete Übertragungs
gatter TR31 blockiert, während die gewünschte konstante interne
Spannung VREG von dem internen Spannungsgenerator 23 dem NAND-
Gatter ND31 durch die PMOS Transistoren PM31 und PM32, den In
vertern I31 und I32, dem Pegelwandler 241 und dem Übertragungs
gatter TR31 zugeführt wird.
Das NAND-Gatter ND31 gibt ein Signal mit einem hohen Logikpegel
an Inverter I36, da es mit dem hochpegeligen Steuersignal PWRON
von dem Steuersignalgenerator 21 und dem niedrigpegeligen Aus
gangssignal, von dem Übertragungsgatter TR31 gespeist wird. Als
Ergebnis hiervon verbleibt das Schwingungsfreigabesignal OSCEN
von dem Inverter I36 in seinem niedrigpegeligen Zustand, wie
dies in Fig. 4C gezeigt ist. Das niedrigpegelige Schwingungs
freigabesignal OSCEN von dem Inverter I36 wird fortlaufend dem
Oszillator 25 zugeführt. Dann setzt der Oszillator 25 fort,
kein Schwingungssignal zu erzeugen in Abhängigkeit von dem
niedrigpegeligen Schwingungsfreigabesignal OSCEN von dem
Substratvorspannungssensor 24. Da die Substratvorspannungs-
Ladungspumpe 26 kein Schwingungssignal von dem Oszillator 25
empfängt, fährt diese fort, den negativen (-) Pumpvorgang für
die Substratvorspannung VBB anzuhalten, was zur Folge hat, daß
die Substratvorspannung VBB in ihrem Pegel konstant bleibt, wie
dies in Fig. 4D gezeigt ist. Dann gibt die Substratvorspan
nungspumpe 26 die erhaltene Substratvorspannung VBB an den ex
ternen Schaltkreis und den Substratvorspannungssensor 24 aus.
Es ist zu bemerken, daß das Freigabesignal VBBOKB von dem Os
zillator 25 keinen hohen Logikpegel annehmen kann, wenn es ein
mal auf einen niedrigen Logikpegel gewechselt hat. In gleicher
Weise kann das interne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von
dem internen Spannungsgenerator 23 keinen niedrigen Logikpegel
annehmen, sobald es einmal auf einem hohen Logikpegel ist. Mit
anderen Worten, wird kein weiteres hochpegeliges Freigabesignal
VBBOKB von dem Oszillator 25 an den internen Spannungsgenerator
23 geleitet, und kein weiteres niedrigpegeliges internes/
externes Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen Spannungs
generator 23 wird dem Substratvorspannungssensor 24 zugeführt.
Als Ergebnis hiervon ist unter der Bedingung, daß die interne
Spannung VREG von dem internen Spannungsgenerator auf dem kon
stanten Pegel verbleibt, die Substratvorspannung VBB lediglich
von der internen Spannung VREG abhängig, da die externe Span
nung Vcc nicht durch das abgeschaltete Übertragungsgatter TR32
weitergeleitet wird.
Mit anderen Worten erhöht sich die interne Spannung VREG von
dem internen Spannungsgenerator 23 in ihrem Pegel solange, bis
sie den gewünschten konstanten Pegel im Anfangszustand er
reicht, indem die externe Spannung Vcc zugeführt wird, wie dies
in Fig. 5 gezeigt ist. In diesem Fall wird das Schwingungsfrei
gabesignal OSCEN von dem Substratvorspannungssensor 24 in Ab
hängigkeit von der externen Spannung Vcc erzeugt. Sobald die
interne Spannung VREG von dem internen Spannungsgenerator 23
den gewünschten konstanten Pegel erreicht hat, wird das Schwin
gungsfreigabesignal OSCEN von dem Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungssensor 24 in Abhängigkeit von der internen Spannung
VREG erzeugt, da der Übertragungspfad der externen Spannung Vcc
blockiert ist. Daher verbleibt die Substratvorspannung VBB un
abhängig von Schwankungen der externen Spannung Vcc auf dem
konstanten Pegel, wie dies in Fig. 6 gezeigt ist.
Wie aus der vorstehenden Beschreibung deutlich wird, wird gemäß
der vorliegenden Erfindung der Übertragungspfad der externen
Spannung blockiert, wenn die interne Spannung den gewünschten
konstanten Pegel erreicht, und das Schwingungsfreigabesignal
wird in Abhängigkeit von der internen Spannung erzeugt, so daß
die Substratvorspannung VBB auf einem konstanten Pegel unabhän
gig von der Schwankung der externen Spannung verbleiben kann.
Daher hat der Substratvorspannungsgenerator der vorliegenden
Erfindung die Wirkung, daß integrierte Schaltungsbaugruppen da
vor bewahrt werden, aufgrund einer instabilen Substratvorspan
nung beschädigt zu werden.
Claims (8)
1. Substratvorspannungsgenerator, insbesondere für Spei
cheranordnungen, zum Erzeugen einer vorbestimmten Substratvor
spannung (VBB) aus einer extern angelegten Betriebsspannung
(Vcc), mit:
einem Steuersignalgenerator (21) zum Erzeugen eines VBB- Leistung-Ein-Signals (PWRON) wenn die externe Spannung (Vcc) nach dem Anlegen auf einem konstanten Pegel bleibt;
einem Referenzspannungsgenerator (22) zum Erzeugen einer Refe renzspannung (VREF) bei anliegendem VBB-Leistung-Ein-Signal (PWRON);
einem internen Spannungsgenerator (23) zum Erzeugen einer in ternen Spannung (VREGOK) und eines internen/externen Spannungs wahlsignals (VREG) in Abhängigkeit von der Referenzspannung (VREF);
einem Substratvorspannungssensor (24) zum Erfassen der Substratvorspannung (VBB) und zum Erzeugen eines Schwingungs freigabesignals (OSCEN) in Abhängigkeit von der externen Span nung (Vcc) oder der internen Spannung (VREG), gesteuert von dem internen/externen Spannungswahlsignal (VREGOK);
einem Oszillator (25) zum Erzeugen eines Schwingungssignals mit einer vorbestimmten Periodendauer in Abhängigkeit von dem Schwingungsfreigabesignal (OSCEN) und zum Erzeugen eines Frei gabesignals (VBBOK) zur Ansteuerung des internen Spannungsgene rators (23); und
einer Substratvorspannungs-Ladungspumpe (26) zum Ausführen ei nes Ladungspumpvorganges in Abhängigkeit von dem Schwingungs signal, um die vorbestimmte Substratvorspannung (VBB) zu erzeu gen.
einem Steuersignalgenerator (21) zum Erzeugen eines VBB- Leistung-Ein-Signals (PWRON) wenn die externe Spannung (Vcc) nach dem Anlegen auf einem konstanten Pegel bleibt;
einem Referenzspannungsgenerator (22) zum Erzeugen einer Refe renzspannung (VREF) bei anliegendem VBB-Leistung-Ein-Signal (PWRON);
einem internen Spannungsgenerator (23) zum Erzeugen einer in ternen Spannung (VREGOK) und eines internen/externen Spannungs wahlsignals (VREG) in Abhängigkeit von der Referenzspannung (VREF);
einem Substratvorspannungssensor (24) zum Erfassen der Substratvorspannung (VBB) und zum Erzeugen eines Schwingungs freigabesignals (OSCEN) in Abhängigkeit von der externen Span nung (Vcc) oder der internen Spannung (VREG), gesteuert von dem internen/externen Spannungswahlsignal (VREGOK);
einem Oszillator (25) zum Erzeugen eines Schwingungssignals mit einer vorbestimmten Periodendauer in Abhängigkeit von dem Schwingungsfreigabesignal (OSCEN) und zum Erzeugen eines Frei gabesignals (VBBOK) zur Ansteuerung des internen Spannungsgene rators (23); und
einer Substratvorspannungs-Ladungspumpe (26) zum Ausführen ei nes Ladungspumpvorganges in Abhängigkeit von dem Schwingungs signal, um die vorbestimmte Substratvorspannung (VBB) zu erzeu gen.
2. Substratvorspannungsgenerator nach Anspruch 1, bei dem
der interne Spannungsgenerator (23) folgendes aufweist:
einen Operationsverstärker (OP1), der in Abhängigkeit von dem Freigabesignal (VBBOK) die interne Spannung (VREG) mit der Refe renzspannung (VREF) vergleicht;
einen Transistor (PM21), der in Abhängigkeit von einem Aus gangssignal des Operationsverstärkers (OP1) die interne Spannung (VREG) an den Substratvorspannungssensor (24) ausgibt und an den Operationsverstärker (OP1) zurückzuführt; und
einen internen/externen Spannungswahlsignalgenerator (231) zum Ausgeben des internen/externen Spannungswahlsignals (VREGOK) an den Substratvorspannungssensor (24) in Abhängigkeit von der in ternen Spannung (VREG) und der Referenzspannung (VREF).
einen Operationsverstärker (OP1), der in Abhängigkeit von dem Freigabesignal (VBBOK) die interne Spannung (VREG) mit der Refe renzspannung (VREF) vergleicht;
einen Transistor (PM21), der in Abhängigkeit von einem Aus gangssignal des Operationsverstärkers (OP1) die interne Spannung (VREG) an den Substratvorspannungssensor (24) ausgibt und an den Operationsverstärker (OP1) zurückzuführt; und
einen internen/externen Spannungswahlsignalgenerator (231) zum Ausgeben des internen/externen Spannungswahlsignals (VREGOK) an den Substratvorspannungssensor (24) in Abhängigkeit von der in ternen Spannung (VREG) und der Referenzspannung (VREF).
3. Substratvorspannungsgenerator nach Anspruch 1, bei dem
der Substratvorspannungssensor (24) dazu eingerichtet ist, das
Schwingungsfreigabesignal (OSCEN) in Abhängigkeit von der ex
ternen Spannung (Vcc) während eines Anfangszustandes zu erzeu
gen, in dem die externe Spannung (Vcc) zugeführt wird.
4. Substratvorspannungsgenerator nach Anspruch 1, bei dem
der Substratvorspannungssensor (24) dazu eingerichtet ist, das
Schwingungsfreigabesignal (OSCEN) in Abhängigkeit von der in
ternen Spannung (VREG) zu erzeugen, sobald die interne Spannung
(VREG) einen vorbestimmten konstanten Pegel erreicht hat.
5. Substratvorspannungsgenerator nach Anspruch 4, bei dem
die interne Spannung (VREG) von dem internen Spannungsgenerator
in ihrem Pegel versetzt wird.
6. Substratvorspannungsgenerator nach Anspruch 1, bei dem
der Substratvorspannungssensor (24) dazu eingerichtet ist, das
Schwingungsfreigabesignal (OSCEN) auf einem hohen Logikpegel zu
halten, bis die Substratvorspannung (VBB) von der Substratvor
spannungs-Ladungspumpe (26) auf einen vorbestimmten konstanten
Pegel abgesenkt ist.
7. Substratvorspannungsgenerator nach Anspruch 1, bei dem
das Freigabesignal (VBBOK) nicht auf einen hohen Logikpegel
wechseln kann, sobald das Freigabesignal (VBBOK) einmal auf ei
nem niedrigen Logikpegel ist.
8. Substratvorspannungsgenerator nach Anspruch 1, bei dem
das interne/externe Spannungswahlsignal (VREGOK) nicht auf ei
nen niedrigen Logikpegel wechseln kann, sobald das inter
ne/externe Spannungswahlsignal (VREGOK) einmal auf einem hohen
Logikpegel ist.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19727817C2 (de) * | 1996-06-29 | 2001-05-23 | Hyundai Electronics Ind | Schaltung zur Steuerung der Schwellenspannung in einer Halbleitervorrichtung für den Stand-by-Betrieb mit niedrigem Energieverbrauch |
DE19725459B4 (de) * | 1996-12-05 | 2007-06-21 | Lg Semicon Co. Ltd., Cheongju | Von externer Spannung unabhängiger Sperrvorspannungspegeldetektor |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR0142967B1 (ko) * | 1995-04-26 | 1998-08-17 | 김광호 | 반도체 메모리장치의 기판 전압 제어회로 |
US5945869A (en) * | 1997-05-23 | 1999-08-31 | Texas Instruments Incorporated | Voltage detector using body effect |
AU7706198A (en) * | 1997-05-30 | 1998-12-30 | Micron Technology, Inc. | 256 meg dynamic random access memory |
US6194954B1 (en) * | 1997-12-31 | 2001-02-27 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Voltage controlled generator for semiconductor devices |
US6016072A (en) * | 1998-03-23 | 2000-01-18 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Regulator system for an on-chip supply voltage generator |
KR100309459B1 (ko) * | 1998-04-13 | 2001-12-17 | 김영환 | 반도체장치의기판전압발생기 |
KR100307525B1 (ko) * | 1998-11-26 | 2001-11-15 | 김영환 | 기판전압감지제어회로 |
DE60025697D1 (de) | 2000-02-08 | 2006-04-13 | St Microelectronics Srl | Spannungserhöhungsvorrichtung |
JP4093705B2 (ja) * | 2000-06-30 | 2008-06-04 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路 |
US6933769B2 (en) * | 2003-08-26 | 2005-08-23 | Micron Technology, Inc. | Bandgap reference circuit |
KR100794992B1 (ko) * | 2005-12-29 | 2008-01-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 기판 바이어스 전압 발생 장치 및 방법 |
KR100850290B1 (ko) * | 2007-01-11 | 2008-08-04 | 삼성전자주식회사 | 멀티레벨 바이어스 전압 발생기 및 이를 구비하는 반도체메모리 장치 |
US7911261B1 (en) | 2009-04-13 | 2011-03-22 | Netlogic Microsystems, Inc. | Substrate bias circuit and method for integrated circuit device |
JP2011259407A (ja) * | 2010-05-13 | 2011-12-22 | Sony Corp | 信号処理回路、固体撮像素子およびカメラシステム |
DE102017125543A1 (de) * | 2017-08-30 | 2019-02-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Ltd. | Schaltbare stromversorgung |
US10921839B2 (en) | 2017-08-30 | 2021-02-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Switchable power supply |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57199335A (en) * | 1981-06-02 | 1982-12-07 | Toshiba Corp | Generating circuit for substrate bias |
US4794278A (en) * | 1987-12-30 | 1988-12-27 | Intel Corporation | Stable substrate bias generator for MOS circuits |
KR0133933B1 (ko) * | 1988-11-09 | 1998-04-25 | 고스기 노부미쓰 | 기판바이어스 발생회로 |
JPH0783254B2 (ja) * | 1989-03-22 | 1995-09-06 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
US5157278A (en) * | 1990-10-30 | 1992-10-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Substrate voltage generator for semiconductor device |
JP2870277B2 (ja) * | 1991-01-29 | 1999-03-17 | 日本電気株式会社 | ダイナミック型ランダムアクセスメモリ装置 |
FR2677771A1 (fr) * | 1991-06-17 | 1992-12-18 | Samsung Electronics Co Ltd | Circuit de detection de niveau de polarisation inverse dans un dispositif de memoire a semiconducteurs. |
KR940008286B1 (ko) * | 1991-08-19 | 1994-09-09 | 삼성전자 주식회사 | 내부전원발생회로 |
JPH0554650A (ja) * | 1991-08-26 | 1993-03-05 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
US5329168A (en) * | 1991-12-27 | 1994-07-12 | Nec Corporation | Semiconductor integrated circuit device equipped with substrate biasing system selectively powered from internal and external power sources |
US5394026A (en) * | 1993-02-02 | 1995-02-28 | Motorola Inc. | Substrate bias generating circuit |
-
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- 1994-04-13 KR KR1019940007758A patent/KR0127318B1/ko not_active IP Right Cessation
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- 1994-12-22 US US08/362,299 patent/US5602506A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-01-18 JP JP7005532A patent/JP2854533B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19727817C2 (de) * | 1996-06-29 | 2001-05-23 | Hyundai Electronics Ind | Schaltung zur Steuerung der Schwellenspannung in einer Halbleitervorrichtung für den Stand-by-Betrieb mit niedrigem Energieverbrauch |
DE19725459B4 (de) * | 1996-12-05 | 2007-06-21 | Lg Semicon Co. Ltd., Cheongju | Von externer Spannung unabhängiger Sperrvorspannungspegeldetektor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4445750A1 (de) | 1995-10-26 |
KR0127318B1 (ko) | 1998-04-02 |
US5602506A (en) | 1997-02-11 |
JPH07283371A (ja) | 1995-10-27 |
JP2854533B2 (ja) | 1999-02-03 |
KR950030146A (ko) | 1995-11-24 |
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