DE4211950A1 - Halbleiter-speicheranordnung - Google Patents
Halbleiter-speicheranordnungInfo
- Publication number
- DE4211950A1 DE4211950A1 DE4211950A DE4211950A DE4211950A1 DE 4211950 A1 DE4211950 A1 DE 4211950A1 DE 4211950 A DE4211950 A DE 4211950A DE 4211950 A DE4211950 A DE 4211950A DE 4211950 A1 DE4211950 A1 DE 4211950A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- memory
- word line
- selection
- blocks
- decoder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 25
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 8
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 101100321938 Arabidopsis thaliana AAPT2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100078997 Arabidopsis thaliana MWL1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100078998 Arabidopsis thaliana MWL2 gene Proteins 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/12—Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine integrierte Halbleiter-Speicheranordnung,
die in eine Vielzahl von Speichereinheiten aufgeteilt,
ist, speziell eine Halbleiteranordnung mit Speichereinheiten, die
in einer Matrix-Anordnung eine Vielzahl von Speicherzellen besitzen, und
eine Decodieranordnung, die der Auswahl der Speicherzellen dient.
Allgemein bekannte Kreise für Halbleiter-Speicheranordnungen sind
auf den Seiten 264 bis 265 des ISSCC-Journal veröffentlicht, welches 1987
herausgegeben wurde. Diese Art der Halbleitertechnologie bildet die Grundlage
für die Verbesserungen nach der vorliegenden Erfindung.
Es ist im Stand der Technik bekannt, wie durch das schematische
Blockschaltbild der Fig. 4 veranschaulicht, eine integrierte Halbleiter-Speicheranordnung
in eine Vielzahl von Speicherblocks aufzuteilen, um
einen effektiven Zugriff zu den einzelnen Speicherzellen in einem Hochkapazitätsspeicher
zu ermöglichen. Solch eine Einrichtung verringert die
Verzögerungszeit, die für den Zugriff von der Haupt-Wortleitung zur Block-Wortleitung
erforderlich ist, weil die Speicherzellen in eine Vielzahl von
Speichereinheiten aufgeteilt sind. Eine bestimmte Speicherzelle wird ausgewählt,
wenn ein Speicherblock aus einer aufgeteilten Vielzahl von Speicherblocks
ausgewählt ist; damit ist für eine Verringerung der Zugriffzeit
und des Leistungsverbrauchs durch die Speicherzelle gesorgt.
In dem Speicher nach dem Stand der Technik, wie er in Fig. 4 gezeigt
ist, bezeichnen die Bezugszeichen 1, 2, . . . i jede einen Speicherblock
und jeder dieser Blocks enthält eine Reihe von Speicherzellen, die
in Form einer Matrix angeordnet sind.
Jeder der Speicherblocks wird durch ein Blockauswahlsignal ₁,
₂, . . . i selektiert, das von einem Blockauswahldecoder 10 als
Antwort auf ein Eingangssignal ausgegeben wird.
Eine Wortleitung WL₁, WL₂ oder WLn in den Speichereinheiten wird
durch ein Reihen-Auswahlsignal ₁, ₂ . . . n ausgewählt, das wiederum
von einem Reihendecoder 11 als Antwort auf ein Reihen-Adressiereingangssignal
ausgegeben wird.
In einem Hochkapazitäts-Speicherkreis werden Wortleitung-Auswahllogikschaltungen
12 benötigt, wenn eine Speicherzelleneinrichtung in eine
Vielzahl von Speichereinheiten aufgeteilt ist, und diese erhalten die Form
von NOR- oder NAND-Logikkreisen zur Decodierung der unterteilten Einheiten.
NOR-Logikkreise 13 sind in Fig. 4 veranschaulicht.
Ein derartiger Logikkreis enthält eine Vielzahl von Transistoren;
im einzelnen benötigt ein NOR- oder NAND-Logikkreis vier bis sechs Transistoren,
um die Logik des Kreises zu bilden. Deshalb ist, wenn Hochkapazitäts-Speicherzellen
erzeugt werden, die Chipfläche, die zur Bildung der
benötigten logischen Kreise zum selektiven Zugriff zu den Speicherzellen
erforderlich ist, vergrößert und die Geschwindigkeit, mit welcher die Logikkreise
arbeiten, ist geringer als vergleichsweise bei einem Inversions-Logikkreis.
Darüber hinaus verursacht die Eingangsgate-Kapazität der Logikkreise,
die mit einer der Wortleitungen WL₁, WL₂ . . . WLn verbunden sind,
innerhalb der Speichereinheiten das Problem einer Verschlechterung der
Hochgeschwindigkeits-Arbeitsweise.
Der Erfindung lag die Aufgabe zugrunde, eine Halbleiter-Speicheranordnung
zu schaffen, die eine Wortleitung-Auswahllogik verbesserter und
vereinfachter Konstruktion besitzt, um eine Hochgeschwindigkeits-Arbeitsweise
zu ermöglichen und um die Chipsfläche zu verkleinern, die für den
Aufbau der Logikkreise zum Zugriff auf die Speicheranordnung benötigt
wird.
Ein Hauptmerkmal der Erfindung ist, daß eine Wortleitung in eine
Vielzahl von Blockeinheiten aufgeteilt ist und daß, wenn eine Blockeinheit
ausgewählt ist, in dem ausgewählten Block eine Wortleitung selektiert
wird. Die Wortleitung-Auswahllogikkreise sind in eine Vielzahl von
Gruppen der Wortleitungsblocks aufgeteilt und jeder Block besitzt Schaltmittel,
die durch ein Ausgangssignal eines Blockauswahldecoders geschaltet
werden, um einen bestimmten Wortleitungsblock zu aktivieren. Ein
Ausgangssignal von einem Reihendecoder wird an den aktivierten Wortleitungsblock
gelegt und damit ist eine der Wortleitungen in den Speicherblocks
ausgewählt.
Die Logikelemente, die mit dem jeweiligen Schaltmittel verbunden
sind, und die Wortleitungen werden selektiv entsprechend der Ausgangssignale
der Logikkreise, wie NOR- oder NAND-Kreis als Inverter, miteinander
verbunden.
Dadurch, daß die Anzahl der aktiven Komponenten, die zur Bildung
der Logikkreise erforderlich sind, verringert ist, wird für eine Verbesserung
der Zugriffzeit und eine Verringerung der benötigten Chipfläche
gesorgt.
Mit der vorliegenden Erfindung wird eine Halbleiter-Speicheranordnung
ermöglicht, die Speichereinheiten besitzt, die aus einer Vielzahl
von in einer Matrix angeordneten Speicherzellen bestehen. Ein Reihendecoder
gibt ein Signal zur Auswahl der Wortleitungen innerhalb der
Speichereinheiten ab und ein Speicherblock-Auswahldecoder besorgt die Auswahl
eines aus einer Vielzahl von Speicherblocks, wobei jeder Speicherblock
Wortleitung-Auswahllogikkreise zur Auswahl der Wortleitungen in den
Speicherblocks in Abhängigkeit von einem Ausgangssignal eines Reihendecoders
und den Speicherblock-Auswahldecoder enthält.
Die Wortleitung-Auswahllogikkreise teilen die Wortleitungen in
Gruppen; dadurch liegt eine Vielzahl von Wortleitungsblocks vor, von denen
jede Inverter zur Invertierung eines Ausgangssignals des Reihendecoders
besitzt, um danach das entsprechende invertierte Signal an jede
Wortleitung zu legen. Die Wortleitungsblocks enthalten weiterhin Schaltmittel
zur Selektierung eines Speicherblocks entsprechend eines Ausgangssignals
des Speicherblock-Auswahldecoders zur Kontrolle der Aktivierung
des Inverters.
Es ist weiterhin Gegenstand der vorliegenden Erfindung, eine Halbleiter-Speicheranordnung
zu erstellen, die Speicherblocks besitzt, die
eine Vielzahl von in einer Matrix angeordneten Speicherzellen aufweisen,
einen Reihendecoder, der ein Auswahlsignal zur Auswahl von Wortleitungen
innerhalb der Speicherblocks abgibt und einen Speicherblock-Auswahldecoder
zur Auswahl eines aus einer Vielzahl von Speicherblocks, wobei
jeder Speicherblock Wortleitung-Auswahllogikkreise zur Auswahl der Wortleitungen
in den Speicherblocks in Abhängigkeit von einem Ausgangssignal
eines Reihendecoders und den Speicherblock-Auswahldecoder enthält.
Die Wortleitung-Auswahllogikkreise teilen die Wortleitungen in
Gruppen; dadurch liegt eine Vielzahl von Wortleitungsblocks vor. Jeder
Wortleitungsblock enthält einen NOR-Logikkreis, der sich aus Transistoren
zusammensetzt, die ein Ausgangssignal von dem Speicherblock-Auswahldecoder
erhalten und Inverter, die mit jeder Wortleitung in Parallelschaltung verbunden
sind zur Invertierung des Ausgangssignals des Reihendecoders, wodurch
der NOR-Logikkreis gebildet ist.
Es ist ein weiterer Gegenstand der vorliegenden Erfindung, eine
Halbleiter-Speicheranordnung zu erstellen, die Speicherblocks besitzt,
die eine Vielzahl von in einer Matrix angeordneten Speicherzellen aufweisen,
einen Reihendecoder, der ein Auswahlsignal zur Auswahl von Wortleitungen
innerhalb der Speicherblocks abgibt und einen Speicherblock-Auswahldecoder
zur Auswahl eines aus einer Vielzahl von Speicherblocks, wobei
jeder Speicherblock Wortleitung-Auswahllogikkreise zur Auswahl der
Wortleitungen in den Speicherblocks in Abhängigkeit von einem Ausgangssignal
eines Reihendecoders und den Speicherblock-Auswahldecoder enthält.
Die Wortleitung-Auswahllogikkreise teilen die Wortleitungen in Gruppen;
dadurch liegt eine Vielzahl von Wortleitungsblocks vor. Jeder Wortleitungsblock
enthält MOS-Schalttransistoren, die von einem Ausgangssignal
des Block-Auswahldecoders angesteuert werden sowie Inverter, die mit den
MOS-Schalttransistoren verbunden sind und von Reihendecoder-Ausgangssignalen
angesteuert werden, um Wortleitungen zu selektieren, während
durch das Einschalten der MOS-Schalttransistoren Leistung bereitgestellt
wird.
Die Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung sollen zum
besseren Verständnis anhand von Ausführungsbeispielen erläutert werden,
für die die dazugehörigen Zeichnungen zutreffen. In der Zeichnung zeigt
Fig. 1 ein Schaltschema eines Wortleitung-Auswahllogikkreises für eine
Halbleiter-Speicheranordnung gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 2 ein Schaltschema eines Wortleitung-Auswahllogikkreises für eine
Halbleiter-Speicheranordnung gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 3 ein Schaltschema eines Wortleitung-Auswahllogikkreises unter
Verwendung von NAND-Logikkreisen für eine Halbleiter-Speicheranordnung
gemäß einer dritten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung und
Fig. 4 ein Schaltschema einer Halbleiter-Speicheranordnung entsprechend
des Standes der Technik.
Die erste und zweite bevorzugte Ausführungsform, wie sie in den
Fig. 1 und 2 enthalten sind, stellen einen Logikkreis zur Auswahl von
einer aus einer Vielzahl von Wortleitungen in Speicherblockeinheiten dar,
welche Teile einer Halbleiter-Speicheranordnung gemäß der vorliegenden Erfindung
sind. Die Ausgänge der Inverter, welche ein Ausgangssignal eines
Reihendecoders invertieren, sind mit Wortleitungen von Speicherblockeinheit-Schaltmitteln
verbunden, d. h. die Invertiermittel ermöglichen
die Auswahl jeder Wortleitung dadurch, daß das invertierte Signal eines
Blockauswahlsignals als ein Steuersignal ausgegeben wird, um die Gruppe
von Invertern zu steuern.
Fig. 1 zeigt die Details einer bevorzugten Ausführung eines Wortleitung-Auswahllogikkreises
gemäß der vorliegenden Erfindung.
Diese Schaltung ist eine Verbesserung der Wortleitung-Auswahllogikkreise
12, wie sie als Teil der Halbleiter-Speicheranordnung zum Stand
der Technik zuvor beschrieben und in Fig. 4 gezeigt sind.
Somit ist verständlich, daß die vorliegende Erfindung eine Halbleiter-Speicheranordnung
mit einem Wortleitung-Auswahllogikkreis betrifft,
der Blockeinheiten aufweist. Fig. 1 zeigt ein Schaltschema eines
mit dem Bezugszeichen 14₁ versehenen ersten Blockes. Alle weiteren Blöcke
sind in der gleichen Weise aufgebaut. Beim Betrieb des Kreises nach Fig. 1
ist z. B. davon auszugehen, daß die Anzahl der Wortleitungen 512 beträgt
und der 16. Inverter I₁₆ innerhalb der ersten Wortleitung-Auswahlkreiseinheit
14₁ ausgewählt wird.
Mit anderen Worten: Ein Ausgangssignal ₁₆ wird von einem Reihendecoder
11 und zur gleichen Zeit ein Ausgangssignal ₁ von dem Block-Auswahldecoder
10 geliefert mit der Absicht, eine Speicherzelle in der
Speichereinheit 1 zu selektieren. Als Schaltmittel für den ganzen Block
dienen die Transistoren T₁ und Tc. Die Wortleitung-Auswahlsignale ₁,
₂, . . . ₁₆ werden von dem Reihendecoder 11 ausgegeben und entsprechend
zu den Invertern I₁, I₂, . . . I₁₆ geführt. Jeder Inverter besteht,
wie zu sehen ist, aus zwei Transistoren. Die Inverter I₁, I₂, . . . I₁₆
sind unterteilt in Form einer Blockeinheit für 16 Wortleitungen. Somit ist
zu erkennen, daß eine erste Blockeinheit innerhalb der verschiedenen
Blockeinheiten die ist, die die Bezugsnummer 14₁ trägt. Ein Ausgangssignal
₁ von dem Block-Auswahldecoder 10 wird zu den die Inversion
bildenden Transistoren T₁ und Tc geliefert, d. h. es wird ein reversibel-invertiertes
Signal durch das Ausgangssignal ₁ gebildet, das an den
durch die Transistoren T₁ und Tc gebildeten Inverter zur Auswahl von
Wortleitungen gegeben wird.
Die Leistung wird selektiv in den Wortleitungsblock einschließlich
die Inversionsmittel durch das Ausgangssignal ₁ vom Block-Auswahldecoder
10 zur Inverterauswahl und -aktivierung bereitgestellt.
Wie in Fig. 2 gezeigt, ist ein PMOS-Transistor T₁ in jeder der 16 Wortleitungen
angeordnet und zur Leistungsführung angeschlossen. Ein NMOS-Transistor
Tc ist anschließbar um zu erden, wie gezeigt, und arbeitet
in einem Leistungs-(Antrieb-)Verhältnis mit einem PMOS-Transistor, so
daß ein CMOS-Inverter gebildet ist, d. h. ein Schaltmittel. Unter der
o. g. Voraussetzung wird die Drain-Spannung des PMOS-Transistors T₁ als
Leistungsantrieb für den ersten Wortleitung-Auswahlblock 14₁ bereitgestellt,
wenn das Eingangssignal ₁ zu einem niedrigen Potential wechselt und
der Inverter I₁₆, der mit dem Signal ₁₆ angesteuert und mit Leistung
versehen ist, wird aktiviert. Als ein Ausgangssignal wird das Auswahlsignal
an die Wortleitung ₁₆ angelegt und damit an eine Speicherzelle
innerhalb der Speichereinheit.
Wie bereits gesagt, ist die Zahl der Wortleitungen 512 und die
Wortleitungen sind in 16 Wortleitungseinheiten aufgeteilt, so daß 32
Wortleitungsblocks gebildet sind. Jeder Wortleitungsblock schließt 16
CMOS-Inverter ein. Der PMOS-Transistor T₁, der zum Antreiben anschaltbar
ist, wird für jeden Wortleitungsblock vorgesehen, wobei 32 Transistoren
benötigt werden.
Nur ein NMOS-Transistor Tc ist zum Zusammenwirken mit einem PMOS-Transistor
als ein Paar für jeden Wortleitungsblock erforderlich.
Dadurch ist, wenn die Anzahl der Wortleitungen ansteigt, die Anzahl
der Elemente, die in einer hochintegrierten Speicheranordnung benötigt
werden, geringer und dadurch ist die Chipfläche vorteilhaft ausnutzbar.
Gemäß dem speziellen Kreis nach der bevorzugten Ausführung entsprechend
Fig. 1, bei dem einer der Speicherblocks ausgewählt ist, wird
wenn das Signal ₁ vom Block-Auswahldecoder mit niedrigem Potential,
d. h. mit OV, bereitgestellt wird, der PMOS-Transistor T₁ eingeschaltet
und der NMOS-Transistor Tc ausgeschaltet.
Dementsprechend beträgt die Spannung am Knoten N 5 V und wechselt
von niedrigem zu hohem Potential. Die Spannung am Knoten N wird als Antriebsleistung
für den CMOS-Inverter I₁₆ bereitgestellt, welcher ein
niedriges Signal-Potential ₁₆ erhält und der Inverter I₁₆ gibt ein
Hochpotential-Signal ab, welches die benötigte Zugriffszeit für die Selektion
einer Speicherzelle verringert.
In physikalischen Größen ausgedrückt: Wenn ein MOS-Transistor
eingesetzt wird und das Breiten-/Längen-Verhältnis des Gate 1 µm/1 µm ist,
beträgt die Gate-Kapazität 1,4 pF. Angenommen, daß die physikalische Größe
der PMOS-/MNOS-Transistoren 20,5×1 ohne irgendeine Maßgabe in Fig. 4 ist,
so ist die Verzögerung des Signals durch den NOR-Logikkreis durch die Größe
des Kondensators, d. h. 20,5×512×1,4 pF, verursacht. Im Vergleich zur
Kapazität der Transistoren, die ein NOR-Gate durch 512 Wortleitungen bilden,
hängt die Kapazität der Transistoren bei der vorliegenden Erfindung
nur von den 32 Transistoren ab, die ein ₁-Signal erhalten, wodurch eine
kurze Zugriffszeit erreicht wird.
Im Ergebnis werden einfache Inverter gemäß der vorliegenden Erfindung
benötigt, im Vergleich zu NOR- oder NAND-Logikkreisen, die eine Vielzahl
von aktiven Elementen benötigen, um eine Zeitauswahl zu erstellen,
wobei eine sehr schnelle Betriebsweise entsprechend der vorliegenden Erfindung
erreicht werden kann. Somit ist im Hinblick auf das vorher Gesagte
eine Vorteilhaftigkeit darin zu sehen, daß die vorliegende Erfindung
eine Halbleitereinrichtung ergibt, die eine hohe Integrationsdichte
besitzt und im Hochgeschwindigkeitsbetrieb arbeitet.
Fig. 2 veranschaulicht eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung,
in der ein NOR-Logikkreis gebildet und ein Verfahren zur Auswahl
von Speicherzellen durch eine NOR-Logik angegeben ist.
Ein PMOS-Transistor 31, verbunden mit der Leistungsquelle über die
Transistoren, die die NOR-Logik bilden, wird für jeden Wortleitungsblock
benötigt. Der Transistor 31 der Blockeinheiten erhält die Ausgangssignale
₁, ₂, . . . i. Die Transistoren 32, 33 und 34 sind, wie gezeigt,
für jede Wortleitung angeordnet und erhalten ein Ausgangssignal
MWL₁, MWL₂, . . ., MWLi von dem Reihendecoder. Der Transistor 31, zugeordnet
jedem Wortleitungsblock, bildet zusammen mit den Transistoren 32,
33 und 34 für jede Wortleitung einen NOR-Logikkreis.
Fig. 3 illustriert eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung,
bei der ein NAND-Logikkreis gebildet ist. Die Kombination der Transistoren
41, 42, 43 und 44 bildet diesen NAND-Logikkreis und der Speicherkreis
der vorliegenden Erfindung ist wieder in Blockeinheiten gebildet.
Dabei erhalten die Transistoren 43 und 44 ein Ausgangssignal BSWL₁ vom
Block-Auswahldecoder 10 und bilden eine Konfiguration eines CMOS-Inverters.
Für jede Wortleitung sind die Transistoren 41 und 42, wie gezeigt,
angeschlossen und diese Wortleitungstransistoren sind in Parallelschaltung
angeordnet, um die Konfiguration der CMOS-Inverter zu bilden; diese sind selektiv
mit den Transistoren 43 und 44 zur Bildung eines NAND-Logikkreises
verbunden.
Die vorliegende Erfindung ergibt einen Decodierkreis, welcher geeignet
ist, eine Halbleiter-Speicheranordnung zu erstellen, die eine hohe
Integrationsdichte und einen Hochgeschwindigkeitsbetrieb ermöglicht. Ferner
gibt sie ein Verfahren für den Zugriff zu den Speicherzellen an, welches
Vorteile für die Leistungsversorgung besitzt.
Während die vorliegende Erfindung in Verbindung mit einer bevorzugten
Ausführung anhand der verschiedenen Abbildungen beschrieben ist, muß
hinzugefügt werden, daß andere ähnliche Ausführungen benutzt oder Modifikationen
und Zusammensetzungen getätigt werden können, ohne von der in der
beschriebenen Ausführungsform beschriebenen Funktion abzuweichen. Deshalb
läßt sich die Erfindung nicht auf eine einzelne Auführungsform begrenzen
Es lassen sich viele Konstruktionen in Breite und Ausdehnung unter Berücksichtigung
der beigefügten Patentansprüche angeben.
Claims (6)
1. Halbleiter-Speicheranordnung, die Speicherblocks besitzt, die aus einer
Vielzahl von in Matrixform angeordneten Speicherzellen bestehen, weiterhin
einen Reihendecoder, der ein Auswahlsignal zur Auswahl der Wortleitungen
innerhalb der Speicherblocks abgibt, und einen Speicherblock-Auswahldecoder
zur Auswahl eines aus einer Vielzahl von Speicherblocks, wobei jeder Speicherblock
Wortleitung-Auswahllogikkreise zur Auswahl der Wortleitungen im
Speicher in Abhängigkeit von einem Ausgangssignal des Reihendecoders und
des Speicherblock-Auswahldecoders besitzt, dadurch gekennzeichnet, daß die
Wortleitung-Auswahllogikkreise die Wortleitungen in Blocks unterteilen und
dadurch eine Vielzahl von Wortleitungsblocks bilden, von denen jeder Inverter
zur Invertierung eines Ausgangssignals des Reihendecoders besitzt,
um das entsprechende invertierte Signal an jede Wortleitung zu legen, daß
die Wortleitungsblocks weiterhin Schaltmittel zur Auswahl eines Speicherblocks
in Abhängigkeit eines Ausgangssignals des Speicherblock-Auswahldecoders
und zur Steuerung der Aktivierung der Inverter aufweisen.
2. Halbleiter-Speicheranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Inverter der Wortleitung-Auswahllogikkreise PMOS- und NMOS-Transistoren
enthalten, die als Schaltmittel arbeiten.
3. Halbleiter-Speicheranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Schaltmittel PMOS- und NMOS-Transistoren enthalten, daß ein Typ
der PMOS- und NMOS-Transistoren mit einer Vielzahl von Wortleitungsblocks
verbunden ist und in Abhängigkeit von einem Ausgangssignal des Blockauswahldecoders
mit Leistung beaufschlagt wird und daß der zweite Typ der
PMOS- und MNOS-Transistoren zwischen dem ersten Transistortyp und Masse
geschaltet ist, wobei nur der NMOS- und PMOS-Transistor mit einer gemeinsamen
Verbindung in Abhängigkeit von einem Ausgangssignal des Blockauswahldecoders
auf EIN oder AUS schaltet.
4. Halbleiter-Speicheranordnung mit aus einer Vielzahl von in Matrix-Form
angeordneten Speicherzellen bestehenden Speicherblocks, einem Reihendecoder,
der ein Auswahlsignal zur Auswahl der Wortleitungen innerhalb
der Speicherblocks abgibt und einem Speicherblock-Auswahldecoder zur Auswahl
eines aus einer Vielzahl von Speicherblocks, wobei jeder Speicherblock
Wortleitung-Auswahllogikkreise zur Auswahl der Wortleitungen im
Speicherblock in Abhängigkeit von einem Ausgangssignal des Reihendecoders
und dem Speicherblock-Auswahldecoder besitzt, dadurch gekennzeichnet,
daß die Wortleitung-Auswahllogikkreise die Wortleitungen in Blöcke aufteilen
und dadurch eine Vielzahl von Wortleitungen bilden, wobei jeder
Wortleitungsblock einen NOR-Logikkreis enthält, der folgendes einschließt:
Transistoren, die ein Ausgangssignal vom Speicherblock-Auswahldecoder erhalten,
und Inverter, die in Parallelschaltung mit jeder Wortleitung verbunden
sind zur Invertierung des Ausgangssignals des Reihendecoders, wodurch
NOR-Logikkreise gebildet sind.
5. Halbleiter-Speicheranordnung mit aus einer Vielzahl von in Matrix-Form
angeordneten Speicherzellen bestehenden Speicherblocks, einem Reihendecoder,
der ein Auswahlsignal zur Auswahl der Wortleitungen innerhalb der
Speicherblocks abgibt und einem Speicherblock-Auswahldecoder zur Auswahl
eines aus einer Vielzahl von Speicherblocks, wobei jeder Speicherblock
Wortleitung-Auswahllogikkreise zur Auswahl der Wortleitungen im Speicherblock
in Abhängigkeit von einem Ausgangssignal des Reihendecoders und dem
Speicherblock-Auswahldecoder besitzt, dadurch gekennzeichnet, daß die
Wortleitung-Auswahllogikkreise die Wortleitungen in Blöcke aufteilen und
dadurch eine Vielzahl von Wortleitungen bilden, wobei jeder Wortleitungsblock
MOS-Schalttransistoren enthält, die auf ein Ausgangssignal des Blockauswahldecoders
ansprechen, sowie Inverter, die mit den MOS-Schalttransistoren
verbunden sind und auf die Ausgangssignale des Reihendecoders ansprechen,
um Wortleitungen auszuwählen, während durch den Einschaltzustand
der MOS-Transistoren Leistung bereitgestellt wird.
6. Halbleiter-Speicheranordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die MOS-Schalttransistoren und die Inverter NAND-Logikkreise bilden.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019910014873A KR940003400B1 (ko) | 1991-08-27 | 1991-08-27 | 반도체 기억장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4211950A1 true DE4211950A1 (de) | 1993-03-04 |
Family
ID=19319192
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4211950A Ceased DE4211950A1 (de) | 1991-08-27 | 1992-04-06 | Halbleiter-speicheranordnung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5305279A (de) |
JP (1) | JPH05101669A (de) |
KR (1) | KR940003400B1 (de) |
DE (1) | DE4211950A1 (de) |
GB (1) | GB2259170B (de) |
TW (1) | TW205104B (de) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2792402B2 (ja) * | 1993-08-09 | 1998-09-03 | 日本電気株式会社 | 半導体メモリ |
JP3306682B2 (ja) * | 1993-08-18 | 2002-07-24 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | 駆動回路 |
JP3451118B2 (ja) * | 1993-12-15 | 2003-09-29 | 株式会社日立製作所 | 半導体不揮発性記憶装置 |
KR0167296B1 (ko) * | 1995-12-16 | 1999-02-01 | 문정환 | 메모리의 워드라인 구동회로 |
KR100313787B1 (ko) | 1999-12-30 | 2001-11-26 | 박종섭 | 반도체 메모리 장치의 워드라인 구동 회로 |
KR20030028827A (ko) | 2000-08-31 | 2003-04-10 | 닛뽄덴끼 가부시끼가이샤 | 반도체 기억장치 및 그 리프레싱 방법 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4849943A (en) * | 1986-08-27 | 1989-07-18 | U.S. Philips Corp. | Integrated memory circuit having a block selection circuit |
US4884240A (en) * | 1986-06-19 | 1989-11-28 | Texas Instruments Incorporated | Static row driver |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3348201C2 (en) * | 1982-10-18 | 1988-12-22 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo, Jp | Semiconductor memory device |
JPS60231996A (ja) * | 1984-04-28 | 1985-11-18 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
NL8500434A (nl) * | 1985-02-15 | 1986-09-01 | Philips Nv | Geintegreerde geheugenschakeling met blokselektie. |
KR880008330A (ko) * | 1986-12-30 | 1988-08-30 | 강진구 | 스테이틱 램의 프리차아지 시스템 |
JP2585683B2 (ja) * | 1988-02-10 | 1997-02-26 | 富士写真フイルム株式会社 | Icカード及びicカードを使用する装置 |
JPH0233799A (ja) * | 1988-07-22 | 1990-02-02 | Toshiba Corp | 半導体記録装置のデコード方法およびその装置 |
JPH0766666B2 (ja) * | 1988-08-29 | 1995-07-19 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
JPH0330998A (ja) * | 1989-06-28 | 1991-02-08 | Toshiba Corp | カード |
-
1991
- 1991-08-27 KR KR1019910014873A patent/KR940003400B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1992
- 1992-03-23 US US07/855,556 patent/US5305279A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-03-27 TW TW081102364A patent/TW205104B/zh active
- 1992-03-30 GB GB9206921A patent/GB2259170B/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-03-31 JP JP4076619A patent/JPH05101669A/ja active Pending
- 1992-04-06 DE DE4211950A patent/DE4211950A1/de not_active Ceased
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4884240A (en) * | 1986-06-19 | 1989-11-28 | Texas Instruments Incorporated | Static row driver |
US4849943A (en) * | 1986-08-27 | 1989-07-18 | U.S. Philips Corp. | Integrated memory circuit having a block selection circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB9206921D0 (en) | 1992-05-13 |
GB2259170B (en) | 1995-09-20 |
KR940003400B1 (ko) | 1994-04-21 |
US5305279A (en) | 1994-04-19 |
JPH05101669A (ja) | 1993-04-23 |
GB2259170A (en) | 1993-03-03 |
TW205104B (de) | 1993-05-01 |
KR930005014A (ko) | 1993-03-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3919625C2 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung | |
DE69026673T2 (de) | Bitzeile-Segmentierung in einer logischen Speicheranordnung | |
DE602004004182T2 (de) | Halbleiterspeichervorrichtung mit Schieberegister als Auffrischadressgenerator | |
DE19650715B4 (de) | Unterwortleitungstreiberschaltung und diese verwendende Halbleiterspeichervorrichtung | |
DE3687018T2 (de) | Halbleiterspeicher, faehig eine logische operation auszufuehren. | |
DE3716518C2 (de) | ||
DE4117881C2 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung | |
DE19733396B4 (de) | Wortleitungstreiberschaltung für Halbleiterspeicherbauelement | |
DE69834011T2 (de) | Statische Direktzugriffspeicherschaltungen | |
DE2803989A1 (de) | Wahlfreie zugriffsspeichervorrichtung fuer digitale daten | |
DE3779705T2 (de) | Integrierte speicherschaltung mit blockadressierung. | |
DE68905240T2 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung mit hochgeschwindigkeits-lesevorrichtung. | |
DE4018296C2 (de) | ||
DE3200880A1 (de) | Halbleiterspeicher | |
DE69724499T2 (de) | Verbesserungen für oder in Bezug auf Halbleiterspeicheranordnungen | |
EP0224887B1 (de) | Gate Array Anordnung in CMOS-Technik | |
DE69125734T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung | |
DE4317382C2 (de) | Halbleiterspeicher | |
DE4236452C2 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung | |
DE69124010T2 (de) | Halbleiterspeicherzelle | |
DE3328042C2 (de) | ||
DE4211950A1 (de) | Halbleiter-speicheranordnung | |
DE2022256C2 (de) | Festwertspeicher- und Decoderanordnung | |
DE4137336C2 (de) | IC-Karte | |
DE10248047A1 (de) | Halbleiterspeichervorrichtung mit unterteilter Wortleitungsstruktur |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8131 | Rejection |