DE4124572C2 - - Google Patents
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine
Halbleiterspeichervorrichtung mit Redundanz.
Im allgemeinen ist eine Halbleiterspeichervorrichtung mit
einer Ersatzzellengruppe zusätzlich zu einer normalen
Zellengruppe versehen. Die Ersatzzellen der
Ersatzzellengruppe dienen dazu, die normalen Zellen zu
ersetzen, wenn irgendein Fehler in den normalen Zellen
festgestellt wird. Zu diesem Zweck enthält die
Speichervorrichtung zumeist eine Detektoreinrichtungß, wie
beispielsweise eine Sicherungsschaltung, die in der Lage
ist, eine fehlerhafte Adresse zu erkennen, und einen
Redundanzdekoder zum Auswählen einer Redundanzwortleitung
der Ersatzzellengruppe aus der ermittelten fehlerhaften
Adresse. Die Speichervorrichtung muß intern dazu bestimmt
werden, entweder die normale Betriebeart oder die
Redundanzbetriebsart auszuführen. Diese Auswahl wird über
eine Zeilenadresse ausgeführt.
Es ist bekannt, daß eine
Zeilenadresse dazu verwendet wird, eine Wortleitung der
Speicherzellengruppe zu dekodieren und eine Haltezeit des
Ladetaktimpulses zu bestimmen, der dazu verwendet wird,
einen Spannungspegel der Wortleitungen anzuheben. Wenn eine
fehlerhafte Zelle repariert werden muß, d. h.
Redundanzbetrieb ausgeführt wird, dann wird die Sicherung
elektrisch durch einen Stromversorgungsanschluß oder mit
Hilfe eines Laserstrahls aufgetrennt, wodurch die
Redundanzbetriebsart aus der entsprechenden Zeilenadresse
ausgewählt wird.
Bezugnehmend auf Fig. 3 zur Erläuterung einer solchen
konventionellen Schaltung zur Ausführung der redundanten
oder normalen Zeilendekodierung durch Empfang einer äußeren
Eingangsadresse in einer Speichervorrichtung wird die äußere
Eingangsadresse XA in eine Zeilenadresse RA durch den
Betrieb eines Zeilenadreßpuffers 10 umgewandelt. Die
Zeilenadresse RA wird über erste und zweite
Verzögerungsschaltungen 20 und 30 zu einem Ladetaktgenerator
40 und eine Redundanzfreigabeschaltung 60 übertragen,
während sie direkt zu einem Zeilensicherungskreis 50
übertragen wird, um eine Zeilenadresse zu ermitteln, die
eine fehlerhafte Zelle angibt, und ein dementsprechendes
Sicherungssignal Fo zu der Redundanzfreigabeschaltung 60 zu
senden. Der Grund, daß zur selben Zeilenadresse RA über zwei
unterschiedliche Wege zugegriffen wird, d. h. ein Weg über
die erste und zweite Verzögerungsschaltung 20 und 30 und der
andere Weg über den Zeilensicherungskreis 50, ist, daß die
ersten und zweiten Verzögerungskreise das
Zeilenadressensignal verzögern sollen, während die
Zeilensicherungsschaltung 50 die Zeilenadresse ermittelt,
die der fehlerhaften Zelle entspricht. Wenn daher die
Zeilenadresse entsprechend der fehlerhaften Zelle existiert,
dann erzeugt die Redundanzfreigabeschaltung 60 ein
Redundanzfreigabesignal RRE, um die Reparatur der
fehlerhaften Zelle auszuführen (Redundanzbetriebsart). Das
Redundanzfreigabesignal RRE sperrt einen Ladetaktdekoder 70,
der die Ladetaktpulse BST dekodiert, die von dem
Ladetaktgenerator 40 erzeugt werden, um dadurch den Betrieb
eines normalen Zeilendekoders 100 anzuhalten. Daher empfängt
der Redundanzzeilendekoder 90 das Redundanzfreigabesignal
RRE und Ladetaktpulse BST, um die entsprechende
Redundanzwortleitung in der normalen Zellengruppe
auszuwählen. Wenn andererseits die Zeilenadresse
entsprechend der fehlerhaften Zelle nicht existiert, dann
wird der Redundanzzeilendekoder 90 nicht betätigt. Selbst in
diesem Falle werden die ersten und zweiten
Verzögerungsschaltungen 20 und 30 zusammen mit dem
Zeilensicherungskreis 50 dazu benutzt, entweder die
Redundanzbetriebsart oder die normale Betriebsart zu wählen.
Ohne Rücksicht auf die Ausführung entweder der
Redundanzbetriebsart oder der normalen Betriebsart wird
daher die Zeilenadresse, die eine Wortleitung wählt, durch
die ersten und zweiten Verzögerungsschaltungen 20 und 30
verzögert. D.h. die Adreßzugriffszeit wird unnötig
verlängert, selbst wenn die Reparatur des Speichers nicht
erforderlich ist. Die normale Betriebsart erfordert daher
eine lange Zugriffszeit, wodurch die Betriebsgeschwindigkeit
des Speichers herabgesetzt wird.
Aus der US-PS 44 46 455 ist eine
Halbleiterspeichervorrichtung mit Redundanzeinrichtung
bekannt, die eine Betriebsart-Wahleinrichtung sowie einen
ersten Dekoder für normale Speicherzellen und einen zweiten
Dekoder für Ersatzspeicherzellen aufweist. In Abhängigkeit
vom Auslösen oder Nichtauslösen einer Sicherung wird der
erste oder zweite Dekoder mit den Adressensignalen
beaufschlagt, um eine normale Betriebsart zum Adressieren
der normalen Speicherzellen oder aber eine
Redundanzbetriebsart zum Adressieren der
Ersatzspeicherzellen auszuwählen.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, eine
Halbleiterspeichervorrichtung hinsichtlich der Betriebsge
schwindigkeit zu verbessern.
Diese Aufgabe ist durch die im Patentanspruch 1 angegebenen
Merkmale gelöst.
Die Halbleiterspeichervorrichtung weist einen ersten
Übertragungsweg zum Übertragen der Zeilenadresse, einen
zweiten Übertragungsweg zum Übertragen einer Zeilenadresse
über eine gegebene Verzögerungseinrichtung, und eine
Wegwähleinrichtung auf, die mit den ersten und zweiten
Übertragungswegen verbunden ist, um einen der beiden Wege in
Abhängigkeit von einem Betriebsartdetektorsignal
auszuwählen, das durch Einschalten bzw. Ausschalten einer
Sicherung erzeugt wird.
Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen
angegeben.
Die Erfindung wird anhand der Zeichnung näher erläutert. Es
zeigt:
Fig. 1 ein Blockschaltbild, das eine bevorzugte Ausfüh
rungsform einer Speichervorrichtung nach der
Erfindung zeigt,
Fig. 2 ein detailliertes Schaltbild eines ausgewählten
Abschnitts von Fig. 1, und
Fig. 3 ein Blockschaltbild, das einen Teil einer konven
tionellen Speichervorrichtung mit Redundanz zeigt.
In Fig. 1 ist die redundante und normale Zeilendekodierung
eines Speichers dargestellt, der die erfindungsgemäße
Schaltung enthält. Der restliche Teil mit Ausnahme des Teils
200, der gestrichelt dargestellt ist, entspricht den
Komponenten nach Fig. 3, so daß übereinstimmende
Bezugszeichen verwendet werden. Das Teil 200 ist ein
wesentliches Teil der verbesserten Schaltung, mit einer
zweiten Verzögerungseinrichtung 30, einem
Betriebsartendetektorkreis 110 und einer Wegwählschaltung
120. Die zweite Verzögerungseinrichtung 30 empfängt ein
Ausgangssignal von der ersten Verzögerungseinrichtung 20
über einen zweiten Übertragungsweg 202. Die Wegwählschaltung
120 empfängt ein Ausgangssignal von der ersten
Verzögerungseinrichtung 20, das über einen ersten
Übertragungsweg 201 übertragen wird, und ein Ausgangssignal
von der zweiten Verzögerungseinrichtung 30, die mit dem
zweiten Übertragungsweg 202 verbindbar ist. Der erste
Übertragungsweg 201 wird dazu verwendet, das Ausgangssignal
der ersten Verzögerungseinrichtung 20 direkt zum
Eingangsanschluß der Wegwählschaltung 120 zu übertragen,
ohne es durch die zweite Verzögerungseinrichtung 30 zu
leiten, während der zweite Übertragungsweg 202 dazu
verwendet wird, das Ausgangssignal der ersten
Verzögerungseinrichtung zum Eingangsanschluß der
Wegwählschaltung 120 über die zweite Verzögerungseinrichtung
30 zu übertragen. Die Wegwählschaltung 120 wählt einen der
Übertragungswege 201 und 202 in Übereinstimmung mit einem
Betriebsartdetektorsignal MD, das von der
Betriebsartendetektorschaltung 110 erzeugt wird, um ein
ausgewähltes Signal durch die Wegwahl zu dem
Ladetaktgenerator 40 und der Redundanzfreigabeschaltung
60 zu übertragen. Die Betriebsartendetektorschaltung 110
wird durch Taktimpulse ⌀R gesteuert, die in Abhängigkeit von
der Aktivierung eines Zeilenadreßtastsignals RAS erzeugt
werden.
Bezugnehmend auf Fig. 2, die die Torschaltung des Teils 200
darstellt, enthält die Betriebsartendetektorschaltung 110
drei in Serie geschaltete Inverter 111, 112, 113 und eine
NAND-Schaltung 114, um die Taktimpulse ⌀R zu verzögern und
die Impulsbreite einzustellen. Die ⌀R werden durch
Aktivierung des Zeilenadreßtastsignals RAS freigeschaltet
(in logisch hohen Zustand versetzt) und um einen Impuls
aufgrund der Inverter und der NAND-Schaltung verzögert, so
daß sie in hohem Zustand am Ausgangsanschluß der
NAND-Schaltung 114 anstehen. Die Ausgangsimpulse der
NAND-Schaltung 114 werden über den Inverter 115 der einen
Steuerelektrode eines Durchlaßtors 117 zugeführt, das aus
zwei N-Kanal-MOS-Transistoren besteht.
Die Sicherung 116 ist mit dem Stromquellenanschluß VCC
verbunden und kann durch einen Laserstrahl unterbrochen
werden. Der Kanal des Durchlaßtors 117 zwischen der
Sicherung 116 und Massespannung VSS wird während der Dauer,
in der der Impuls ⌀R in logischem "hohem" Zustand ist,
eingeschaltet. Weiterhin ist ein Inverter 118 zwischen der
anderen Elektrode und der Sicherung 116 parallel zur
Sicherung 116 angeordnet. Ein Ausgang MD des Inverters 119
zum Invertieren eines Ausgangs des Inverters 118 ist ein
Signal, das die Wegwählschaltung 120 darüber informiert, daß
der vorhandene Zustand der Vorrichtung die
Redundanzbetriebsart oder die normale Betriebsart ist.
Die Wegwählschaltung 120 enthält erste und zweite
CMOS-Durchlaßtore 121 und 123, die durch das
Betriebsartdetektorsignal MD gesteuert werden. Das
Betriebsartdetektorsignal MD wird an das Gate vom n-Typ des
ersten Durchlaßtores 121 gelegt und an das Gate vom p-Typ
des zweiten Durchlaßtors 123, während ihre anderen Gates das
Betriebsartdetektorsignal MD über den Inverter 122
invertiert erhalten. Der Kanal des ersten Durchlaßtors 121
wird daher zwischen den ersten Übertragungsweg 201 und den
Eingangsanschluß des Ladetaktgenerators 40 geschaltet,
während der Kanal des zweiten Durchlaßtors 123 zwischen den
zweiten Übertragungsweg 202 und den Ladetaktgenerator 40
geschaltet wird. Die Wegwählschaltung 120 wählt daher einen
der ersten und zweiten Übertragungswege 201 bzw. 202 in
Übereinstimmung mit dem logischen Zustand des
Betriebsartdetektorsignals MD.
Die erste Verzögerungseinrichtung 20 besteht aus einer
NOR-Schaltung zum Aufnehmen gepufferter Zeilenadreßsignale
RAO, . Die zweite Verzögerungseinrichtung 30 besteht aus
mehreren Invertern 31, 32, 33 und 34, die ein Ausgangssignal
der NOR-Schaltung um eine gegebene Zeit verzögern. Die
Anzahl der Inverter in der zweiten Verzögerungseinrichtung
30 kann durch die Erfordernisse bestimmt sein. Nachfolgend
wird die Betriebsweise unter Bezugnahme auf Fig. 2
erläutert. Wenn die Speichervorrichtung eine Reparatur
erfordert, wird die Sicherung 116 vom Stromquellenanschluß
VCC durch einen Laserstrahl abgetrennt. Da dann eine
Elektrode des N-Kanal-Durchlaßtors 117 ein Signal von
"hohem" Zustand empfängt, weil der Taktimpuls ⌀R sich in
hohem Zustand befindet, wird die Spannung am
Verbindungspunkt 102, der mit der Sicherung 116 verbunden
ist, auf niedrigen Zustand abgesenkt, und die andere
Elektrode des Durchlaßtors 117 empfängt ein Signal von hohem
Zustand, das durch den Inverter 118 invertiert ist. Daher
wird das Betriebsartdetektorsignal MD "niedrig", was die
Redundanzbetriebsart anzeigt. In der Wegwählschaltung 120
wird daher nur das zweite Durchlaßtor 123 durchgeschaltet,
während das erste Durchlaßtor 121 blockiert wird, so daß die
Zeilenadreßsignale RAO, über die erste
Verzögerungseinrichtung 20, die zweite
Verzögerungseinrichtung 30 und das zweite Durchlaßtor 123
dem Ladetaktgenerator 40 und der Redundanzfreigabeschaltung
60 zugeleitet werden. Dementsprechend wird die
Redundanzbetriebsart ausgeführt.
Wenn hingegen keine Reparatur erforderlich ist, d. h. keine
fehlerhafte Zelle in der normalen Zellengruppe vorhanden
ist, dann wird die Sicherung 116 nicht vom
Stromquellenanschluß getrennt, und die Spannung am
Verbindungspunkt 102 bleibt in "hohem" Zustand. Das
Betriebsartdetektorsignal MD wird daher "hoch", so daß die
Wegwählschaltung 120 den ersten Übertragungsweg 201
auswählt, der die erste Verzögerungseinrichtung 20 mit dem
ersten Übertragungstor 121 durch die Einschaltung des ersten
Übertragungstors 121 verbindet. Weil die normale Betriebsart
keine Verzögerung der Zugriffszeit, wie in der
Redundanzbetriebsart, erfordert, braucht die zweite
Verzögerungseinrichtung 30 nicht verwendet zu werden.
In der vorliegenden Ausführungsform wird die
RAS-Zugriffszeit (TRAC: die Zeit, während der RAS aktiviert
ist und DOUT ausgeschaltet ist) um 2 ns im Vergleich zur
konventionellen Schaltung vermindert.
Claims (3)
1. Halbleiterspeichervorrichtung mit Redundanzeinrichtung
zum Ersetzen einer fehlerhaften normalen Speicherzelle durch
eine Ersatzspeicherzelle, mit
einer Einrichtung (110) zum Erzeugen eines Betriebsartdetektorsignals (MD) mit zwei unterschiedlichen Pegeln in Abhängigkeit vom Auslösen oder Nichtauslösen einer Sicherung (116), wobei dem ersten Pegel die normale Betriebsart und dem zweiten Pegel die Redundanzbetriebsart zugeordnet ist;
einem ersten Übertragungsweg (201) zum Übertragen eines Adressensignals (RAO, ) an eine Wegwählschaltung (120);
einem zweiten Übertragungsweg (202) zum Übertragen des Adressensignals (RAO, RAO) über eine Verzögerungseinrichtung (30) an die Wegwählschaltung (120), wobei die Wegwählschaltung (120) einen der beiden Übertragungswege (201, 202) in Abhängigkeit des Betriebsartdetektorsignals (MD) auswählt.
einer Einrichtung (110) zum Erzeugen eines Betriebsartdetektorsignals (MD) mit zwei unterschiedlichen Pegeln in Abhängigkeit vom Auslösen oder Nichtauslösen einer Sicherung (116), wobei dem ersten Pegel die normale Betriebsart und dem zweiten Pegel die Redundanzbetriebsart zugeordnet ist;
einem ersten Übertragungsweg (201) zum Übertragen eines Adressensignals (RAO, ) an eine Wegwählschaltung (120);
einem zweiten Übertragungsweg (202) zum Übertragen des Adressensignals (RAO, RAO) über eine Verzögerungseinrichtung (30) an die Wegwählschaltung (120), wobei die Wegwählschaltung (120) einen der beiden Übertragungswege (201, 202) in Abhängigkeit des Betriebsartdetektorsignals (MD) auswählt.
2. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 1, bei der
die Wegwählschaltung (120) enthält:
ein erstes Übertragungstor (121) mit einem Kanal, der zwischen den ersten Übertragungsweg (201) und eine Redundanzfreigabeschaltung (60) oder einen Ladetaktgenerator (40) geschaltet ist und ein Steuergate aufweist, das das Betriebsartdetektorsignal (MD) aufnimmt, und
ein zweites Übertragungstor (123) mit einem Kanal, der zwischen den zweiten Übertragungsweg (202) und die Redundanzfreigabeschaltung (60) oder den Ladetaktgenerator (40) geschaltet ist und dessen Steuergate das Betriebsartdetektorsignal (MD) aufnimmt.
ein erstes Übertragungstor (121) mit einem Kanal, der zwischen den ersten Übertragungsweg (201) und eine Redundanzfreigabeschaltung (60) oder einen Ladetaktgenerator (40) geschaltet ist und ein Steuergate aufweist, das das Betriebsartdetektorsignal (MD) aufnimmt, und
ein zweites Übertragungstor (123) mit einem Kanal, der zwischen den zweiten Übertragungsweg (202) und die Redundanzfreigabeschaltung (60) oder den Ladetaktgenerator (40) geschaltet ist und dessen Steuergate das Betriebsartdetektorsignal (MD) aufnimmt.
3. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß eine weitere
Verzögerungseinrichtung (20) vorgesehen ist, die an ihrem
Eingang die Adressensignale erhält und mit ihrem Ausgang mit
den ersten und zweiten Übertragungswegen (201, 202)
verbunden ist.
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