DE3141714C2 - - Google Patents
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- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 101100452236 Caenorhabditis elegans inf-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
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- G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
- G05D23/1906—Control of temperature characterised by the use of electric means using an analogue comparing device
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- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
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- G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
- G05D23/20—Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing elements having variation of electric or magnetic properties with change of temperature
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- H01L27/0207—Geometrical layout of the components, e.g. computer aided design; custom LSI, semi-custom LSI, standard cell technique
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- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00369—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters
- H03K19/00384—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters in field effect transistor circuits
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- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/017—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
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- H—ELECTRICITY
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/09441—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET of the same canal type
- H03K19/09443—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET of the same canal type using a combination of enhancement and depletion transistors
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- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/09441—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET of the same canal type
- H03K19/09443—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET of the same canal type using a combination of enhancement and depletion transistors
- H03K19/09445—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET of the same canal type using a combination of enhancement and depletion transistors with active depletion transistors
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- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
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- H03K2005/00013—Delay, i.e. output pulse is delayed after input pulse and pulse length of output pulse is dependent on pulse length of input pulse
- H03K2005/00078—Fixed delay
- H03K2005/00143—Avoiding variations of delay due to temperature
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- H03K2005/0015—Layout of the delay element
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Description
Die Erfindung betrifft eine Schaltung zur Kompensation der
Temperaturabhängigkeit des Stromes in einer Inverterschaltung
gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1.
Eine derartige Kompensations-Schaltung ist aus der DE-OS 25 50 107 bekannt.
Schaltungen mit Isolierschicht-Feldeffekttransistoren
(IGFET), beispielsweise mit Metalloxid-Halbleitertransistoren
(MOS-Transistoren), sind in ihrer Arbeitsgeschwindigkeit sehr
stark von Schwankungen in der Versorgungsspannung, Änderungen
in den Schwellwertspannungen und vor allem von der Umgebungs
temperatur abhängig. Bei einem Anstieg der Umgebungstemperatur
fällt der durch einen IGFET, bspw. durch einen MOS-Transistor
fließende Strom ab, da sich die elektrischen Eigenschaften in
den Transistorschichten ändern. So beträgt bspw. bei einem
MOS-Transistor die Ansprechzeit 300 nsec bei einer Temperatur
von 25°C und 400 nsec bei einer Temperatur von 85°C. Wie
aus Fig. 1 ersichtlich, erhöht sich die Ansprechzeit R einer
üblichen Schaltung mit MOS-Transistoren mit der Temperatur T,
während sich der durch den MOS-Transistor fließende Strom I
mit ihr verringert. In Fig. 1 bedeuten die Vollinie die An
sprechabhängigkeit und die gestrichelte Linie Stromabhängig
keit.
Um diesen Nachteil so weit wie möglich zu kompensieren, ist
aus der DE-OS 25 50 107 eine Schaltung mit P-leitenden MOS-Transistoren
bekannt, die aus einer Kompensationsschaltung
und einem nachgeordneten Inverter besteht, der einen Last-
MOS-Transistor enthält. In der Kompensationsschaltung ist
Widerstand vorgesehen, dessen Temperaturkoeffizient wesentlich
kleiner ist als der der MOS-Transistoren im Inverter.
Wird nun die Umgebungstemperatur am Last-MOS-Transistor
höher, so wird der durch diesen MOS-Transistor fließende
Strom kleiner und damit auch der Strom durch die in Reihe
mit dem Widerstand liegenden MOS-Transistoren der Kompensations
schaltung. Dadurch tritt über dem Widerstand ein Spannungs
abfall auf, der zu einem Stromanstieg im Last-MOS-Transistor
führt, so daß Änderungen in den elektrischen Eigenschaften
der Inverter-MOS-Transistoren aufgrund von Temperatur
änderungen weitgehend kompensiert werden.
Nachteilig bei dieser bekannten Schaltung ist, daß der Ausgang
der Kompensationsschaltung mit dem Steueranschluß des
Last-MOS-Transistors der Inverterschaltung verbunden ist.
Auf komplementäre MOS-Schaltungen (CMOS) ist die
bekannte Kompensations-Schaltung nicht übertragbar.
Außerdem hängt die Qualität der Kompensation auch wesentlich
vom Temperaturverhalten des Widerstandes ab. Da sich
dieses Verhalten einerseits infolge von Herstellungstoleranzen
und durch Alterung ändert, ist es kaum möglich, die
bekannte Kompensationsschaltung gegenüber den Einflüssen
der Umgebungstemperatur über lange Zeit konstant zu halten.
Die Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, bei einer CMOS-Inverter
schaltung den Strom durch eine angeschlossene ohmsche und/oder
kapazitive Last bei Temperaturänderungen konstant zu halten.
Diese Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 aufgeführten Merkmale
gelöst.
Weitere vorteilhafte Ausbildungen der Erfindung sind den
Unteransprüchen zu entnehmen.
Die Erfindung wird nachstehend anhand einiger Ausführungs
beispiele näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 ein Kennliniendiagramm des durch einen MOS-
Transistor fließenden Stroms I und die Ansprechzeit
t R einer MOS-Schaltung als Funktion
der Temperatur,
Fig. 2 eine integrierte Halbleiterschaltung mit einer
Inverterschaltung und einer Kompensationsschaltung,
welche im wesentlichen der Schaltung nach
der DE-OS 25 50 107 entspricht,
Fig. 3 ein Kennliniendiagramm der in der Schaltung nach
Fig. 2 auftretenden Steuerspannung der
Kompensationsschaltung.
Fig. 4 bis 7 zeigen zwei Ausführungsbeispiele der Erfindung.
Entsprechend Fig. 2 ist eine aus drei Stufen (INF 1, INF 2 und
INF 3) bestehende Inverterschaltung derart ausgeführt, daß zu
ihr zugehören: die als Verarmungstyp ausgeführten MOS-Transistoren
1, 2 und 3 als Lastwiderstände und die als Anreicherungstyp aus
geführten MOS-Transistoren 4, 5 und 6 als Treibertransistoren.
Von einer Steuersignalgeneratorschaltung 10 wird eine
Steuerungsspannung S 1 erzeugt, die in Fig. 3 dargestellt ist.
Diese Steuerungsspannung S 1 wird den Steuergattanschlüssen der
MOS-Transistoren 7, 8 und 9 aufgeschaltet. Fig. 3 läßt erkennen,
daß die Steuerspannung S 1 temperaturabhängig ist und mit
der Temperatur stärker wird. Bei diesem Ausführungsbeispiel
sind N-leitende MOS-Transistoren verwendet worden. Natürlich
könnten dafür auch MOS-Transistoren mit P-Leitung eingesetzt
werden.
Die Fig. 4 und 5 zeigen ein erstes Ausführungsbeispiel der
Erfindung. Ein P-leitender MOS-Transistor 43 und ein N-leitender
MOS-Transistor 44 sind schaltungsmäßig jeweils
zwischen einer aus einem P-leitenden MOS-Transistor 41 und
aus einem N-leitenden MOS-Transistor 42 bestehenden Inverter
schaltung und den Stromversorgungsanschlüssen (VC,
Erde) angeordnet. Den Steuergattanschlüssen der MOS-Transistoren
43 und 44 aufgeschaltet werden das Steuerungs
signal SA, dessen Spannung bei Temperaturanstieg schwächer
wird, und das Steuersignal SB, dessen Spannung bei
ansteigender Temperatur stärker wird. Die Steuerungssignale
SA und SB werden von der mit Fig. 4 dargestellten
Steuerungssignalgeneratorschaltung erzeugt. Bei diesem
Ausführungsbeispiel wird die mit der Temperatursteigerung
verbundene Abschwächung des Stromes dadurch kompensiert,
daß die vorerwähnten Steuerungssignale den Steuergattan
schlüssen der MOS-Transistoren 43 und 44 zwecks Verstärkung
des durch sie fließenden Stromes aufgeschaltet werden.
Ein zweites Ausführungsbeispiel zeigen die Fig. 6 und 7.
Die P-leitenden MOS-Transistoren 43 und 44 sind als Parallel
schaltung zwischen dem Stromversorgungsanschluß VC und einer
Fig. 4 ähnlichen Inverterschaltung angeordnet, wobei die
Steuerungssignale - diese entsprechen Fig. 7 - den Steuergatt
anschlüssen dieser Transistoren jeweils aufgeschaltet und
zugeführt werden.
In ähnlicher Weise sind die N-leitenden MOS-Transistoren 44
und 46 schaltungsmäßig als eine Parallelschaltung zwischen einem
Stromversorgungsanschluß (Masse) und der Inverterschaltung
angeordnet, wobei den Steuergattanschlüssen dieser Transistoren
jeweils die Steuerungssignale SC und SD aufgeschaltet werden.
Bei diesem Ausführungsbeispiel ist die Kanalbreite der MOS-
Transistoren 44 und 45 kleiner als die Kanalbreite der MOS-
Transistoren 43 und 46. Diese Steuerungssignale SC und SD werden
von einer Steuersignalgeneratorschaltung erzeugt, die
- wie dies aus Fig. 7 hervorgeht - Schaltungsveränderungen
schrittweise herbeiführt. So wechselt der Signalpegel des
Steuerungs- und Regelungssignals RC von hoch nach niedrig,
während andererseits das Steuerungs- und Regelungssignal
SD seinen Signalpegel von niedrig nach hoch wechselt, und
dies während der gleichen Betriebstemperatur T A . Die MOS-
Transistoren 44 und 45, die eine kleine Kanalbreite aufweisen,
werden unter der Temperatur T A in den Leitzustand oder Durch
laßzustand geschaltet und bewirken dadurch einen kleinen
Stromfluß. Demgegenüber werden die eine große Kanalbreite
aufweisenden MOS-Transistoren oberhalb der Temperatur T A
in den Leitzustand gebracht, was wiederum einen starken
Stromfluß zur Folge hat.
Claims (3)
1. Schaltung zur Kompensation der Temperaturabhängigkeit
des Stromes in einer Inverterschaltung mit mindestens
einem MOS-Schalttransistor, wobei die Kompensations
schaltung mindestens einen MOS-Steuertransistor, welcher
zu den Schalttransistoren der Inverterschaltung in Reihe
geschaltet ist, und eine Generatorschaltung aus MOS-
Transistoren, welche dem mindestens einen Steuertransistor
eine temperaturabhängige Steuerspannung zuführt,
aufweist,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Inverterschaltung eine komplementäre MOS-Schaltung
(C-MOS) mit einem p-leitenden (41) und einem n-leitenden
(42) MOS-Schalttransistor ist und daß zwei MOS-Steuertran
sistoren (43, 44) vorgesehen sind, von denen der eine
p-leitend und der andere n-leitend ausgebildet ist, wobei
der p-leitende MOS-Steuertransistor (43) zwischen der positiven
Betriebsspannung und dem p-leitenden MOS-Schalttransistor
(41) und der n-leitende MOS-Schalttransistor (44)
zwischen der negativen Betriebsspannung und dem n-leitenden
MOS-Schalttransistor (42) angeordnet ist, und daß an den
beiden MOS-Steuertransistoren (43, 44) jeweils eine Steuer
spannung anliegt, von denen die eine (SB bzw. SD) höher und
die andere (SA bzw. SC) niedriger wird, wenn die Umgebungs
temperatur ansteigt, und die ansteigende Steuerspannung (SB
bzw. SD) an dem Steueranschluß des p-leitenden MOS-Steuer
transistors (43) und die abfallende Steuerspannung (SA bzw.
SC) an dem Steueranschluß des n-leitenden MOS-Steuertransistors
(44) anliegt.
2. Schaltung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß sich die beiden Steuerspannungen (SA bzw. SC,
SB bzw. SD) mit der Temperatur diskontinuierlich
ändern.
3. Schaltung nach den Ansprüchen 1 und 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden zusätzlichen MOS-Steuertransistoren jeweils aus der Parallelschaltung zweier MOS-Transistoren (43, 45 bzw. 44, 46) jeweils gleichen Leitzustandes bestehen,
daß von den beiden parallelgeschalteten MOS-Transistoren (43, 45 bzw. 44, 46) der eine (44 bzw. 45) eine kleinere Kanalbreite besitzt als der andere (43 bzw. 46) und
daß bei der einen Parallelschaltung die eine Steuerspannung (SD) an dem MOS-Transistor (45) mit kleiner Kanalbreite und die andere Steuerspannung (SC) an dem MOS-Transistor (43) mit großer Kanalbreite anliegt, während bei der anderen Parallelschaltung die eine Steuerspannung (SD) an dem MOS-Transistor (46) mit großer Kanal breite und die andere Steuerspannung (SC) an dem MOS-Transistor (44) mit kleiner Kanalbreite anliegt.
daß die beiden zusätzlichen MOS-Steuertransistoren jeweils aus der Parallelschaltung zweier MOS-Transistoren (43, 45 bzw. 44, 46) jeweils gleichen Leitzustandes bestehen,
daß von den beiden parallelgeschalteten MOS-Transistoren (43, 45 bzw. 44, 46) der eine (44 bzw. 45) eine kleinere Kanalbreite besitzt als der andere (43 bzw. 46) und
daß bei der einen Parallelschaltung die eine Steuerspannung (SD) an dem MOS-Transistor (45) mit kleiner Kanalbreite und die andere Steuerspannung (SC) an dem MOS-Transistor (43) mit großer Kanalbreite anliegt, während bei der anderen Parallelschaltung die eine Steuerspannung (SD) an dem MOS-Transistor (46) mit großer Kanal breite und die andere Steuerspannung (SC) an dem MOS-Transistor (44) mit kleiner Kanalbreite anliegt.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55147922A JPS5772429A (en) | 1980-10-22 | 1980-10-22 | Semiconductor integrated circuit device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3141714A1 DE3141714A1 (de) | 1982-07-15 |
DE3141714C2 true DE3141714C2 (de) | 1987-11-19 |
Family
ID=15441119
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19813141714 Granted DE3141714A1 (de) | 1980-10-22 | 1981-10-21 | Integrierte halbleiterschaltung mit temperaturkompensation |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4473762A (de) |
JP (1) | JPS5772429A (de) |
DE (1) | DE3141714A1 (de) |
GB (1) | GB2086681B (de) |
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Legal Events
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8127 | New person/name/address of the applicant |
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|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |