DE2740700C3 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betriff» einen Speicher nach
Oberbegriff des Patentanspruches 1.
Oberbegriff des Patentanspruches 1.
dem Es gibt bereits eine Schaltungsanordnung zur Anzeige
der Verschiebung elektrischer Ladung (DE-OS 25 25 225), bei der aber wie auch bei bekannten
Regenerierschaltungen (DE-OS 23 09 192, DE-OS 24 18 969) keine Mittel zum Schreiben von Daten in
Speicherzellen vorgesehen sind, da diese bekannten Schaltungen zum Lesen von Daten dienen.
Ein MOS-Transistor-Speicher (MOS = Metall-Oxid-Halbleiter) wurde in letzter Zeit untersucht und als
Speicher mit großer Kapazität und hoher Geschwindigkeit für elektrische Rechner entwickelt (vgL z. B. »IEEE
Journal of Solid-State Circuits«, Vol. SC-8, Nr. 5, Okt.
1973, Seiten 319-323 und 310-318).
Ein derartiger herkömmlicher Speicher hat einen Flip-flop-Abtastverstärker, der beidseitig mit zwei
Datenleitungen verbunden ist, die jeweils an mehrere Speicherzellen angeschlossen sind. Dieser Speicher hat
nun mehrere Baugruppen, deren jede einen derartigen Abtastverstärker, zwei Datenleitungen und Speicherzellen
aufweist, wobei diese Datenleifi^gen rechtwinklig
mit Wonleitungen verbunden sind, oti jede beliebige
Speicherzelle auszuwählen.
Das Schreiben von Daten in diese Speicherzellen bzw das Lesen von Daten aus diesen erfolgt durch eine
Schrt.b- bzw. Leseeinrichtung, die gemeinsam an alle
Speicherzellen angeschlossen ist.
Das Herstellen der Datenleitungen durch ein feines Muster in LSI-Technik erhöht deren Verdrahtungs-Widerstandswert.
Es hat sich gezeigt, daß ein großer Verdrahtungs-Widerstandswert beim herkömmlichen
Speicher ein Schreiben der Daten von außen an ihren Stellen verhindert
Es ist daher Aufgabe der Erfindurg. einen Speicher
anzugeben, der Daten von außen in einer Speicherzelle selbst in einer LSI-Schaltung speichern und den
Flipflop-Abtastverstärker mittels eines äußeren Schreibsignals ohne jede Abhängigkeit vom Widerstandswert
der Datenleitungen umsteuern kann.
Diese Aufgabe wird bei einem Speicher der eingangs genannten Art erfindungsgemäß durch die im kennzeichnenden
Teil des Patentanspruches 1 angegebenen Merkmale gelöst.
Die Erfindung ermöglicht einen Speicher, der Daten von außen in Speicherzellen aufgrund äußerer Schreibsignale
ohne jede Beeinflussung durch die Widerstandskomponenten der Datenleitungen speichern kann.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
F i g. 1 einen herkömmlichen Speicher,
F ι g. 2 eine Speicherzelle und eine Schein- oder
Hilfszelle. die beim herkömmlichen Speicher verwendet werden.
Fig. 3 den Verlauf wesentlicher Steuersignale beim
he.-köi.imiichen Speicher.
F i g. 4 ein erstes Ausführungsbeispiel des erfindunjsgemäßen
Speichers,
Fig. 5 den Verlauf wesentlicher Steuersignale beim
erfindungsgemäßen Speicher,
F i g. 6(a) bis (d) Verlauf von PoJentialübergängen auf
Datenleitungen beim erfindungsgemäßen Speicher,
F i g. 7(a) und (b) ein weiteres Ausführungsbeispiel des
erfindungsgemäßen Speichers bzw· den Verlauf wesentlicher Signale im Speicher,
F i g. 8 ein drittes Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Speichers,
Fig.9 ein viertes Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen
Speichers,
Fig. 10 ein fünftes Ausführungsbeispiel des erfin-
dungsgemäßen Speichers,
Fig. 11 ein Blockschaltbild mit einem Beispiel für Signalerzeuger beim Ausführungsbeispiel der Fig. iO,
und
Fig. 12 ein Blockschaltbild mit einem anderen Beispiel für Signalerzeuger beim Ausführungsbeispiel
der F ig. 10.
Zum besseren Verständnis der Erfindung werden zunächst Aufbau und Betrieb eines herkömmlichen
Speichers näher erläutert, wobei dessen Nachteile herausgestellt werden.
Fig. 1 zeigt den Aufbau eines herkömmlichen Speichers, bei dem angenommen wird, daß alle
Transistoren N-Feldeffekttransistoren sind. Der Speicher hat Datenleitungen 11,12,21, 22,31,32, mit denen
jeweils Speicherzellen M111, M112, M113; M121,
M 122, M123; M2H, M212, M213; M221, M222.
M 223; M311, M312. M313; M321, M322, M 323 und
44 r\y4%
II, LSI- Xt.,
verbunden sind. Jede Speicherzelle ist an «ine Wortleitung WIl, WlZ W13. W2t, W22, W23
angeschlossen. Jede Hilfszelle ist andererseits mit einer Hilfswortleitung DWl, DW2 und weiterhin mit einer
Hilfsschreibleitung 51, 52 verbunden. Ein Decodierer 100 bringt wahlweise diese Wortleitungen und Hilfswortleitungen
auf einen hohen Potentialpegel. Die Auswahl der Wortleitungen und der Hilfswortleitungen
auf den hohen Potentialpegel wird durch (nicht dargestellte) Eingangssignale zum Decodierer bestimmt.
Anstelle des allen Datenleitungen gemeinsamen Decodierers 100 können auch mehrere Decodierer
vorgesehen werden, von denen jeder einer Datenleitung 12, 22, 32 entspricht und Eingangssignale getrennt
empfängt.
Schalttransistoren QY1, QY2, QY3 wählen lediglich
eine Datenleitung 12,22,32 und verbinden die gewählte
Datenleitung mit einer Ausgangsleitung 500. Jeder Transistor leitet wahlweise nur dann, wenn die
entsprechenden Leitungen 301,302,303 auf dem hohen Pegel sind. Die Auswahl, welche Leitung 301, 302, 303
auf dem hohen Pegel sein soll, wird abhängig von einem
(nicht darstellten) Eingangssignal in einem Decodierer
110 bestimmt Ein Signal von hohem oder niederem Pegel auf der Leitung 500 wird als Datenwert
verwendet. Transistoren QRWl, QRW2, QRW3 werden gleichzeitig durch ein Signal Φ™· leitend
gemacht, wenn Daten in eine Speicherzelle geschrieben werden sollen. Beim Lesen der Daten aus den
Speicherzellen ist das Signal Φ™, auf einem niederen
Pegel, wobei alle Transistoren QRWl, QRW2, QRWi
ausgeschaltet sind.
Die in die Speicherzelle durch die Transistoren QRWl, QRWX QRW3 zu schreibenden Daten
werden übertragen, indem einer von Transistoren QWl, QW2 leitend gemacht wird. Die Drain-Elektrode
der Transistoren QWl, QW2 wird auf einer hohen Spannung VPP Volt bzw. einer niederen Spannung 0
Volt gehalten. Um eine Information »1« zu schreiben, wird z. B. ein Signal dm auf die hohe Spannung gebracht,
während ein Signal (Jh, zum Schreiben der Information
»0« dient und umgekehrt.
Transistoren QPIl, QPlZ QP21, QP22, QP31,
QP32 dienen zum Vorladen der Datenleitungen 11,12,
2i, 22,31,32, die jeweils auf einem Zwischenpotentialpegel
'/2 VDD liegen. Die Gate-Elektroden dieser
Transistoren werden mit einem Vorladesignai S?
versorgt Die Gate-Elektroden von Transistoren QD1,
QD 2 werden mit dem gleichen Signal ÜE wie das
Vorladesignai versorgt und legen ein Potential (VDD)
mit hohem Pegel an die Hitfsschreibleitungen 51,52.
Abtastverstärker 41,42,43 umfassen ein Flipflop aus
Transistoren 0 ί bis Q 4 bzw, Q5 bis (?8 (das Flipflop
entsprechend dem Abtastverstärker 43 ist nicht dargestellt). Das Flipflop 41 ist eine Parallelschaltung
aus den Transistoren Ql und Q 2 in Reihe und den Transistoren Q 3 und QA in Reihe, bei der die
Gate-Elektroden der Transistoren Ql und Q3 zusammengeschaltet,
die Source-EIektroden der Transistoren Ql bzw. ζ) 3 mit den Datenleitungen 11 bzw. 12
verbunden, die Drain-Elektroden der Transistoren Q I und Q3 zusammengeschaltet, die Drain-Elektrode des
Transistors Q 2 und die Gate-Elektrode des Transistors Q4 mit der Datcnleitung U verbunden, die Gate-Elektrode
des Transistors Q2 und die Drain-Elektrode des Transistors QA mit der Datenleitung 12 verbunden und
die Source-EIektroden der Transistoren Q 2 und QA
gleich aufgebaut wie das Flipflop 41 Diese Flipflops 41,
42, 43 verstärken kleine Potentialdifferenzen auf zwei Datenleitungen U, 12; 21, 22 und 31, 32. Ein in die
jeweiligen Gate-Elektroden der Transistoren Q1 und
Q 3 einzuspeisendes Signal Φρί schaltet das Flipflop ein
bzw. macht dieses aktiv. Das Signal Φρί von hohem
Potential macht einen mit den jeweiligen Source-EIektroden der Transistoren Q 2 und QA verbundenen
Transistor i?7"Ieitend, um den hohen Pegel (VDD)übcr
die jeweiligen Drain-Elektroden der Transistoren Q t Und Q 3 und den Massepegel an das Flipflop zu legen.
Fig.2 zeigt ein bestimmtes Beisp'el für den Aufbau
der oben erläuterten Speicherzelle und Hilfszelle im herkömmlichen Speicher sowie die Verbindung von
diesen mit der Daten- und der Wortleitung. Fig.2(a) zeigt den Aufbau der Speicherzelle Mill und den
Anschluß der Datenleitung 11 und der Wortleitung WIl an die Speicherzelle MlIl. Die Speicherzelle
Mill hat einen Informationsspeicherkondensator CS
und einen Transistor QM, dessen Gate-Elektrode mit der Wortleitung W11, dessen Source-Elektrode mit der
Datenleitung 11 und dessen Drain-Elektrode mit dem Informationsspeicherkondensator CS verbunden sind.
Fig.2(b) zeigt den Aufbau der Hilfszelle DCIl und
deren Anschluß an die Datenleitung 11, die Hilfswortleitung
DW und die Hilfsschreibleitung 51. Die Hilfszelle DCIl hat einen Hilfsinformationsspeicherkondensator
CD, einen Transistor QD12, dessen Gate-Elektrode an
die Wortleitung DWl, dessen Source-Elektrode an die Datenleitung 11 und dessen Drain-Elektrode an den
Hilfsinformationsspeicherkondensator CD angeschlossen sind, und einen Transistor QD13, dessen Sou: λ-Elektrode
an den Kondensator CD, dessen Drain-Elektrode an den Massepegel und dessen Gate-Elektrode an
die Hilfsschreibleitung 51 angeschlossen sind. Die
kapazität des Kondensators CD ist ausreichend klein
gewählt ca. 1Ao des Kapazitätswertes des Kondensators
CS. Die Hilfszelle hat auch den gleichen Aufbau wie in denFig.2(a),2(b).
F i g. 3 zeigt den Verlauf der wesentlichen Steuersignale,
wenn Daten »1« von außen in die Speicherzelle Mill geschrieben werden sollen.
Um Daten von außen in die vorbestimmte Speicherzelle zu schreiben, müssen die Daten in allen mit der
gewählten Wortleitung verbundenen Speicherzellen auf einmal gelesen werden.
Das Lesen der Daten im Speicher der F i g. i erfolgt
so:
Das Vorladesignal CEwird im Zeitpunkt 71 auf das
höhe Potential VDD gebrächt, um alle Transistoren
QPU, QP12, QPH, QP22, QP3\, QP32 einzUschal·
ten. Dies bewirkt; daß alle Datcnleitungen auf den Zwischenpegel '/2 VDD geladen werden, Das Vorladesignal
wird auch gleichzeitig an jede Gate-Elektrode der Transistoren QD1, QD2 gelegt, so daß die Hilfsschfeibleitungen
51, 52 alle auf einen hohen Pegei im wesenttöiilen gleich VDDgeladen werden. Dies bewirkt,
daß der Transistor QD13 (in F i g; 2(b)) in der Hilfszelle
eingeschaltet Und der Hilfsinförmalionsspeicherkondensator
CD auf den Null-Pegel gesetzt wiro. Auf diese
Weise wird der Hilfsinformationsspeicherkondensator CD in allen anderen Hilfszellen auf den Null-Pegel
eingestellt. Nach dem obigen Vorladen wird das Signal CE im Zeitpunkt Ti zum Null-Pegel geschaltet. Im
Zeitpunkt Tj wird eine über den Decodierer 100 mit einer bestimmten zu lesenden Speicherzelle (z. B. der
Zelle Mill) verbundene Wortleitung (z. B. die Leitung
ΐιτΐ(ιΐ(ΐαι visu vifi<iii fii&ubi tu TT fs 1 t yu vj auf
■ j ffΐι ΐιτΐ(.ιΐ(ΐαι visu vifi<~iii
— ιτν~..«
i tu TT fs 1 t
einen hohen Wert (VDD) geändert. Gleichzeitig wird auch eine Hilfswortleitung (z. B. die Leitung DW2)
entgegengesetzt zur Wortleitung (z. B. der Leitung WIl) bezüglich des Flipflops 41 bis 43 vom niederen
Pegel (0 V) zum hohen Potential (VDD) geändert. Im Zeitpunkt Γ4 wird das Signal Φρ, dann vom niederen
Potential (0 V) zum hohen Potential (VDD) geschaltet, um die Abtastverstärker 41 bis 43 einzuschalten, so daß
die Datenleitung 11 ein höheres Potential als V2 VDD
hat, wenn die Spannung am Informationsspeicherkondensator CS in der Speicherzelle Mill auf hohem
Pegel i , und so, daß die Datenleitung 11 auf niederem
Potential als V2 VDD ist, wenn die Spannung am Informationsspeicherkondensator CS auf dem niederen
Pegel ist. Die Datenleitungen 21, 31 nehmen auch abhängig von den Inhalten der Speicherzellen M2\i
bzw. M311 einen von V2 VDD verschiedenen Pegel an.
Die differentiell zu erfassenden Datenleitungen 12, 22, 32 bleiben auf dem ursprünglichen Vorladepegel V2
VDD ohne jede wesentliche Änderung, was auf der sehr kleinen Kapazität des Hilfsinformationsspeicherkondensators
CD beruht.
Auf diese Weise sind die Pegel der Datenleitung nach
dem Lesen V2 VDD für das Lesen der Hilfszelle und
höher oder niederer als V2 VDD für das Lesen der
Speicherzelle. Dieser Unterschied der Pegel wird durch die Abtastverstärker 41 bis 43 verstärkt Die eine der
beiden mit jedem Abtastverstärker verbundenen Datenleitungen wird auf einen höheren Pegel gebracht,
schließlich auf einen Pegel im wesentlichen gleich VDD, wenn sie auf dem höheren Pegel ist, und auf einen
niederen Pegel verringert, schließlich auf den Null-Pegel, wenn sie auf dem niederen Pegel ist
Auf diese Weise werden die Datenleitungen 12,22,32
auf den Pegel von VDD oder Null entsprechend der niederen oder hohen Spannung gebracht, die in der
Speicherzelle Mill, Af211, M311 gespeichert ist Auf
diese Weise endet das Lesen beim Schreiben.
Wenn die Speicherzelle Mill geschrieben werden
soll, wird lediglich die Leitung 301 im Zeitpunkt Ts durch
das Signal vom Decodierer 110 nach dem obigen Lesen auf das hohe Potential gebracht, um nur den Transistor
QYi ein- und die anderen Transistoren QY2 und QY3
auszuschalten.
Weiterhin wird das Signal d,„ oder da, im Zeitpunkt Te
auf den hohen Pegel gebracht, je nachdem, ob der zu schreibende Datenwert »i« oder »0« ist, wobei die
Wortleitung WIl, die Hilfswortleitung DW2 und eine Leitung 301 auf dem hohen Potential sind. Dies bewirkt,
daß der transistor QWi oder QW2 eingeschaltet wird
und die Leitung 600 auf dem Pegel VDD oder 0 V
abhängig von dem zu schreibenden Datenwert ist Mit der obigen Operation wird das Schreibsignal <Pm im
Zeitpunkt Tf, auf den höhen Pegel geändert, um alle
Transistoren QRWi, QRW2, QRW3 auszuschalten.
Wenn so das Potential der Datenleitung 12 von dem Potential vor der Einspeisung des Signals Φ™,
verschieden ist,- wird das Flipflop des Abtastverstärkers
41 umgekehrt, wobei das Potential der Datenleitung 11
von dem Potential vor der Einspeisung des Signals Φ™
Verschieden ist, so daß die gegebenen Daten in die Speicherzelle Mill geschrieben werden.
Für den zu schreibenden Datenwert »1« (niedere Spannung) werden das Signal dm auf den hohen Pegel
und das Sginal d,„ auf den niederen Pegel gebracht, wobei die Datenleitung 12 auf den hohen Pegel
eingestellt ist. In diesem Zeitpunkt wird durch den
niederen Pegel eingestellt. Dies führt zum Speichern von »I« (niedere Spannung) in der Speicherzelle mittels
der Wortleitung W11 und der Datenleitung 11. Für den
zu schreibenden Datenwert »0« (hohe Spannung) wird eine zur obigen Beschreibung entgegengesetzte Potentialbeziehung
aufgebaut, wobei die hohe Spannung in die Speicherzelle Mill geschrieben wird. Die anderen
Speicherzellen M211, M311 werden durch das äußere Schreiben wegen der ausgeschalteten Transistoren
QY2, QY3 nicht beeinflußt und speichern so die ursprünglichen Lese-Daten.
Wie oben erläutert wurde, speichern die Speicherzellen auf den Datenleitungen 11, 21, 31 die niedere oder
hohe Spannung abhängig von der zu schreibenden Information »1« oder »0«.
Wenn die Daten aus den Speicherzellen gelesen werden sollen, so fällt das Signal 301 auf dem Weg beim
obigen Schreiben im Zeitpunkt T% auf den niederen Pegel ohne Einspeisen der Signale Φ™· und d,„ ab.
Als Ergebnis ist die Leitung 500 im wesentlichen auf dem gleichen Potential wie die Datenleitung 12, deren
Potential dort als Datenwert abgegeben wird.
Dann ist die Spannung, die nach außen gelesen wurde, eine Spannung, die in der Speicherzelle Mill
gespeichert ist, wobei deren Pegel umgekehrt ist. Dies erscheint etwas umständlich zu sein, bietet jedoch in der
Praxis keine Schwierigkeiten, da die Speicherzelle Mill ursprünglich die umgekehrte Spannung speichert
Die obigen Erläuterungen beziehen sich auf das Lesen von Information aus oder das Schreiben in die
Speicherzelle Mill; selbstverständlich kann das Lesen von Information aus den Speicherzellen auf den
Datenleitungen 12, 22, 32 auf ganz ähnliche Weise erfolgen mit lediglich dem Unterschied zum Lesen aus
den Speicherzellen auf den Datenleitungen 11, 21, 31, daß die Speicherzellen auf den Datenleitungen 12,22,32
die hohe oder niedere Spannung abhängig von der in die Speicherzellen zu schreibenden Information »1« oder
»0« speichern, und die gespeicherte Information wird in der Form der hohen oder niederen Spannung ohne jede
Umkehr gelesen.
Somit kann beim herkömmlichen Speicher die Information aus jeder Speicherzelle gelesen oder dort
von außen geschrieben werden.
Ein Problem liegt jedoch darin, daß Daten außen oder extern schwierig in den herkömmlichen Speicher
geschrieben werden, der in LSI-Technik hergestellt ist
Dieser Nachteil wird z. B. im Zusammenhang mit dem
Dieser Nachteil wird z. B. im Zusammenhang mit dem
Schreiben der Speicherzelle Λ/ ill näher erläutert. Es
sei angenommen, daß die Speicherzelle MUl mit einer Spannung von hohem Pegel (VDD) oder einer logischen
»Ö« geladen ist. Das oben erläuterte Schreiben der Speicherzelle M111 bewirkt, daß die Datenleitung 11
einen hohen PeprI (im wesentlichen gleich VDD Volt)
und die Datenleitung 12 einen niederen Pegel (im wesentlichen gleich 0 Voll) durch das Flipflöp 41
erreichen* Wenn in diesem Zeitpunkt die logische »1«
oder der Dateriwert (mit der niederen Spannung) von außen in die Speicherzelle jVilll geschrieben wird,
werden das Signal d,„ auf den hohen Pegel und das Signal du, auf den niederen Pegel gebracht, wobei
gleichzeitig das Signal <Prw auf den hohen Pegel
umgestellt wird, um den Transitor QRW\ einzuschalten. Nach dieser Operation ist der Transistor QA
eingeschaltet, da die Datenleitung 11 auf dem hohen Pegel ist. Damit kann ein Strom von einer Stromquelle
(VDDVoIt) über die Transistoren OWl. OR Wi, OYi
in der Datenleitung 12 zu den Transistoren QA, QT fließen. Ein großer Verdrahtungswiderstand zwischen
beiden Enden A, B auf der Datenleitung 12 bewirkt einen Spannungsabfall zwischen den Enden A. B der
Datenleitung 12, so daß eine Potentialdifferenz zwischen dem Punkt A und einem Zwischenpunkt S des
Flipflops kleiner ist als ein Pegel, der benötigt wird, um den Transistor Q 2 leitend zu machen. Aus diesem
Grund wird das Flipflop 41 nicht umgekehrt, wobei die Datenleitung 11 auf dem hohen Pegel bleibt, obwohl der
Punkt B auf den hohen Pegel gebracht wurde. Dies bedeutet, daß die logische »1« (niedere Spannung) nicht
in die Speicherzelle MiH geschrieben werden kann.
Wie oben erläutert wurde, ist also beim herkömmlichen Speicher ein äußeres Schreiben für die Datenleitung
mit großem Verdrahtungswiderstand nicht möglich. Dies ist insbesondere bei Ausführung in LSI-Technik
nachteilhaft, da in diesem Fall die Datenleitung sehr schmal sein muß, was zu deren großem Verdrahtungswiderstand führt.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert.
Fig.4 zeigt ein Ausführungsbeispiel der Erfindung,
wahrend in Mg.5 der verlauf von wesentlichen
Steuersignalen des Speichers der F i g. 4 dargestellt ist.
Der Speicher der F i g. 4 unterscheidet sich vom Speicher der Fig. 1 dadurch, daß Transistoren ζ>10,
Q 20 in Reihe, Q 30, QAO in Reihe, Q 50, Q 60 in Reihe,
<?70, Q 80 in Reihe vorgesehen und die Transistoren
Q10, Q 20, Q 50, Q 60 zum Leiten durch Signale Φ* Φ,
gesteuert sind, und daß ein Signal Φρ3 ι zum Steuern der
Leitung der Transistoren Q i, Q 3; Q 5, Q 7 der Flipfiops 41,42 getrennt von einem Signal Φρ32 zum Steuern der
Leitung des Transistors (^vorgesehen ist
Die Source-Elektrode des Transistors QiO und die
Drain-Elektrode des Transistors Q 20 sind mit der Datenleitung 11 verbunden, und die Drain-Elektrode
des Transistors QlO ist an die Drain-Elektroden der Transistoren Q1 und Q 3 angeschlossen.
Die Source-Eiektrode des Transistors Q 30 und die Drain-Elektrode des Transistors QAO sind mit der
Datenleitung 12 verbunden, und die Gate-Elektroden der Transistoren Q 30 und QAO sind geerdet Die
Transistoren Q 50, Q 60 sowie Q 70 und Q 80 sind auf gleiche Weise wie die Transistoren QiO, Q 20, Q 30,
Q 40 angeschlossen.
Blöcke 44, 45 in Fig.4 zeigen schematisch die
gleichen Schaltungen wie die aus den Transistofen Q10,
<?20 bzw. den Transistoren Q 30, QAO zusammengesetzten
Einheiten, die jeweils mit der Datenleitung ti,
12 Verbunden siuJ. Die Transistoren Q20, Q60 dienen
zum Einstellen der Datenleitungen 11, 21 auf den niederen Pegel. Die Transistoren Q 10, Q50 dienen zum
S Einstellen der Datenleitungen 11, 21, die auf den niederen Pegel eingestellt werden sollen, auf einen
Pegel entgegengesetzt zum Pegel der Datenleitungen 12,22 zusammen mit den Transistoren Q 2, Q 6, QT. Die
Transistoren C? 30, QAO, Q 70, QSO schließen ein Ungleichgewicht der Lastkapazitäten zwischen den
Datenleitungen 11, 12 und den Datenleitungen 21,- 22
aus, das durch Verbinden der Transistoren Q 10, ζ) 20,
Q50, Q60 mit jeweils den Datenleitungen 11, 21
erzeugt vird. Daher sind die Transistoren Q30, QAO,
Q 70. QSO vorzugsweise gleich aufgebaut wie die Transistoren Q10, Q 20. Q 50, Q 60. Die Eingangskapazität
der Transistoren QiO, Q20 ist von der Datenleitung 11 gleich eingestellt wie die Eingangskapazität
der Transistoren Q 30, QAO von der Datenleitung
12. Die Transistoren Q 30, QAO, Q 70, QSO können entfernt werden, wenn ein kleines Ungleichgewicht
zwischen den Datenleilungen 11, 12 und 21, 22 in der Verbindung der Transistoren Q 10, Q 20, Q 50, Q 60 mit
den Datenleitungen 11, 21 auftritt oder wenn eine andere Einrichtung verwendet wird, die das Ungleichgewicht
ausschließen kann. Es wird weiterhin angenommen, daß die Transistoren QiO, Q50 einen Leitwert
(Konduktanz) gm haben, der kleiner als die jeweiligen
Leitwerte gm' der Transistoren ζ) 2, ζ) 6 und <?Tist.
Beide Steuersignale Φρ3\, Φρ32 schalten die Flipflops
41,42,43 ein, nachdem die gewählten Wortleitungen auf
den hohen Pegel gebracht wurden. Das Signal Φρ, \ wird
nach dem Lesen der Daten aus den Speicherzellen auf den niederen Pegel gebracht. Das Signal Φ, dient zum
Einschalten der Transistoren Q20 und Q60 und zum
Halten der Datenleitungen 11, 21 u.dgl. auf dem niederen Pegel vor dem äußeren Schreiben von Daten.
Es liegt keine besondere Begrenzung zwischen dem zeitlichen Verlauf des Signals Φ, und dem zeitlichen
Verlauf des Schreibsignals Φ™ auf dem hohen Pegel vor.
jedoch muß das Signal Φ, auf dem hohen Pegel sein, wenigstens bevor das später beschriebene Signal Φ,^εη
hohen Pegel erreicht. Durch das Signal v, slciien u'ie
Transistoren Q10 und Q 50 den Pegel der Datenleitungen
11, 21 u.dgl. ein, die durch die Transistoren Q20, Q60 auf den niederen Pegel gebracht werden sollen,
wobei das Signal Φ, auf einem Pegel entsprechend den Schreibdaten »1« oder »0« in Zusammenarbeit mit den
Transistoren Q 2. Q 6 ist
Der Betrieb des Speichers der Fig.4 wird anhand
von Steuersignalen in F i g. 5 und einem Beispiel erläutert, bei dem Daten wieder in die Speicherzelle
M111 auf der Grundlage äußerer Signale geschrieben
werden, nachdem die Daten aus der Speicherzelle M111 gelesen wurden. Es sei darauf hingewiesen, daß
sich keine folgenden Erläuterungen auf die Datenleitungen 31, 32 beziehen, da die Beschreibung des Betriebs
der Datenleitungen 21,22 deren Verständnis erläutert
Beim Lesen der Speicherzellen sind alle Datenleitungen auf den Zwischenpegel '/2 VDD im Zeitpunkt Ti mittels des Signals CE vorgeladen, das auch die Transistoren QD1, QD 2 einschaltet um die Ladung im Hilfsinformationsspeicherkondensator CD in allen Hilfszellen auf den Wert Null zu bringen. Im Zeitpunkt Ti wird das Signal ÜE auf das Null-Potential gebracht
Beim Lesen der Speicherzellen sind alle Datenleitungen auf den Zwischenpegel '/2 VDD im Zeitpunkt Ti mittels des Signals CE vorgeladen, das auch die Transistoren QD1, QD 2 einschaltet um die Ladung im Hilfsinformationsspeicherkondensator CD in allen Hilfszellen auf den Wert Null zu bringen. Im Zeitpunkt Ti wird das Signal ÜE auf das Null-Potential gebracht
und der Hilfswortleitung DW2 von 0 Volt auf ein hohes
Potential (VDD Volt) im Zeitpunkt T3 gebracht, um die
Inhalte der mit der WortleituKg VVIl verbundenen
Speicherzellen MlIl1 M211, MMi auf jeweils die
bätenleitUiigen 11« 21,31 zu übertragen. Die Inhalte in
den Hilfszetlen DC12, ÖC22, DC32 werden auf
ähnliche Weise verarbeitet.
Um das Flipflop 41 einzuschalten werden die Signale iV I1 ^pai sodann im Zeitpunkt Ta auf den hohen Pegel
gebracht, so daß die Datenleitung 11 entweder den niederen Pegel (0 Volt) oder den hohen Pegel mittels
des Flipflops 41 erreicht. In diesem Zustand wird die Leitung 301 vom niederen zum hohen Pegel durch den
Decodierer 110 im Zeitpunkt Ts geändert, um lediglich
den Transistor QYi leitend zu machen, was dem Schreiben der Speicherzelle M111 entspricht. Während
der obigen Operation werden die Signale ΦΗ Φ, alle auf
dem niederen Pegel gehalten. Daher ist der oben erläuterte Betrieb gleich wie beim herkömmlichen
Speicher der Fig. 1. Der erfindungsgemäße Speicher
unterscheidet sich jedoch vom Speicher der F i g. 1 in den folgenden Operationen.
Nach dem Lesen wird das Signal Φρ3\ vom hohen
Pegel zurück zum niederen Pegel im Zeitpunkt Tb
gebracht^ Gleichzeitig wird das Signal d,„ oder das
Signal du, abhängig von den zu schreibenden Daten »1« oder »0« zum hohen Pegel geändert. Das Signal Φι wird
weiter in diesem Zeitpunkt auf den hohen Pegel gebracht, wobei das Signal Φ, auf dem niederen Pegel
gehalten wird. Danach wird lediglich das Signal Φ; vom
hohen auf den niederen Pegel im Zeitpunkt Ti geändert, wobei das Signal Φ, vom niederen auf den hohen Pegel
geändert wird, und alle Signale auf dem hohen Pegel werden dann nach Ablauf einer vorbestimmten
Zeitdauer auf den niederen Pegel gebracht. Ein Schreibzyklus der Daten in die Speicherzellen endet mit
den obigen Operationen. Im folgenden wird das Schreiben von äußeren Daten in die Speicherzelle
Will näher erläutert.
1. Für Datenwert »I« in der Speicherzelle MiH und
äußeres Schreiben des Datenwertes »1«.
Nach dem Lesen der Daten aus der Speicherzelle Mill ist die Datenleitung 11 auf dem niederen Pegel
und die Datenleitung 12 auf dem hohen Pegel. In diesem Zustand werden im ZeitpunKWe das Signal a,n aut den
hohen Pegel und das Signal dm auf den niederen Pegel
gebracht, um in die Speicherzelle Mill den Datenwert
»1« (niedere Spannung) zu schreiben. In diesem Zeitpunkt wird daher die Datenleitung 12 auf dem
hohen Potentialpegel ohne jede Änderung des eingeschalteten Transistors Q 2 gehalten. Andererseits bleibt
das Potential der Datenleitung 11 unverändert, selbst
wenn das Signal Φ, im Zeitpunkt Tb auf den hohen Pegel
geändert wird. Auf diese Weise führt die obige Operation zu keiner Umkehr des Flipflops 41, wobei der
Transistor Q 2 eingeschaltet und der Transistor Q 4 ausgeschaltet ist Es sei in diesem Zustand nun
angenommen, daß das Signal Φ} auf den niederen Pegel
und das Signal Φ, auf den hohen Pegel verändert werden. Dadurch wird der Transistor Q 10 eingeschaltet,
und es fließt Strom vom Transistor Q10 über den
Transistor Q 2, der eingeschaltet bleibt Damit nimmt der Pegel auf der Datenleitung 11 einen Wert an, der
durch das Verhältnis der Leitwerte gm der Transistoren
Q\0 zu Q 2, QT bestimmt ist Erfindungsgemäß kann das Potential der Datenleitung 11 auf einem ausreichend
niederen Pegel gehalten werden, wenn der Leitwert gm
des Transistors Q i0 viei kleiner ais die Leitwerte der Transistoren Q 2, QTist In diesem Zeitpunkt bleibt die
Datenleitung 12 auf dem hohen Pegel gehalten, da der Transistor Q 4 ausgeschaltet ist. Auf diese Weise
können die Pegel der Datenleitung 11,12 abhängig von
dem zu schreibenden Datenwert »1« auf den niederen bzw. hohen Wert eingestellt werden. In diesem
Zeitpunkt kann der Daten wert »1« (niederer Pegel) in die Speicherzelle Mill geschrieben werden, da die
Wortleitung VKIl auf dem hohen Pegel gehalten wird.
Der Pegelübergang auf den Datenleitungen 11,12 in der
obigen Beschreibung der Operationen ist in Fig.6(a)
dargestellt, in der eine Vollinie der Datenleitung 11 und
eine Strichlinie der Datenleitung 12 entsprechen, wobei auf der Abszisse wie in F i g. 5 die Zeit aufgetragen ist.
2. Für Datenwert »0« in Speicherzelle Mill und äußeres Schreiben des Datenwertes »0«.
Nach dem Lesen des Datenwertes aus der Speicherzelle Mill ist die Datenleitung 11 auf dem hohen Pegol
und die Datenleitung 12 auf dem niederen Pegel. In diesem Zustand werden im Zeitpunkt Ts das Signal d,„
auf den niederen Pegel und das Signal dm auf den hohen
Pegel gebracht, um den Datenwert »0« (hohe Spannung) in die Speicherzelle Mill zu schreiben. In
diesem Zeitpunkt wird daher die Datenleitung 12 auf dem niederen Pegel ohne jede Änderung mit dem
ausgeschalteten Transistor ζ) 2 gehalten. Die Datenleitung 11 wird andererseits auf den niederen Pegel
eingestellt, da der Transistor (?20 eingeschalte! ist.
Wenn gleichzeitig das Signal dTn auf den hohen Pegel und das Signal Φ, auf den hohen Pegel geändert werden
Dadurch wird auch der Transistor Q 4 ausgeschaltet. Im Zeitpunkt T7 v/erden dann das Signal Φ, auf den
niederen Pegel und das Signal Φ/ auf den hohen Pegel gebracht, so daß der Transistor Q 20 ausgeschaltet und
der Transistor ζ) 10 eingeschaltet ist. Folglich wird die
Datenleitung 11 auf das hohe Potential angehoben, da der Transistor Q2 ausgeschaltet ist. Dadurch wird der
Transistor ζ) 4 eingeschaltet und die Datenleitung 12 auf dem niederen Pegel ohne jede Änderung gehalten. Auf
diese Weise können die Pegel der Datenleitungen 11,12
jeweils abhängig von dem zu schreibenden Datenwert »0« auf den hohen und den niederen Pegel eingestellt
werden. Der Pegelübergang auf den Datenleitungen 11, 12 in der obigen Operation ist in F i g 6(b) dargestellt in
der Voiiinien und Stnchiinien jeweils den Datenieitungen
11, 12 entsprechen, wobei auf der Abszisse ,'.ie in
F i g. 5 die Zeit aufgetragen ist
3. Für Datenwert »1« in der Speicherzelle Mill und
äußeres Schreiben des Datenwertes »0«.
Nach dem Lesen der Daten aus der Speicherzelle Mill ist die Datenleitung 11 auf dem niederen Pegel
und die Datenleitung 12 auf dem hohen Pegel. In diesem Zustand werden das Signal dTn auf den hohen Pegel und
das Signal d,„ auf den niederen Pegel im Zeitpunkt Tb
gebracht, um den Datenwert »0« (hohe Spannung) in die Speicherzelle Mill zu schreiben. In diesem Zeitpunkt
wird die Datenleitung 12 auf dem hohen Pegel gehalten. Die Datenleitung 11 wird andererseits auf den niederen
Pegel eingestellt indem das Signal Φ> auf den hohen
Pegel gebracht wird. Daher sind in diesem Zeitpunkt beide Transistoren Q 2, Q 4 ausgeschaltet da die
Datenleitungen 11,12 alle auf dem niederen Pegel sind.
In diesem Zustand wird das Signal Φ/ιτη Zeitpunkt Τη auf
den niederen Pegel und gleichzeitig das Signal Φ, auf den hohen Pegel gebracht so daß die Datenleitung 11
auf dem hohen Pegel gehalten wird, da der Transistor QiQ eingeschaltet ist und der Transistor Q 2 ausgeschaltet
bleibt Dadurch wird der Transistor Q 4 eingeschaltet und die Datenleitung 12 wird unverändert
auf dem niederen Pegel gehalten. Damit können die
Potentiale der Datenleitungen 11, 12 jeweils abhängig von dem zu schreibenden Datenwert »0« auf den hohen
und den niederen Pegel eingestellt werden. Der Potentialübergang der Datenleitungen 11, 12 ist in
F i g. 6{c) dargestellt, in der Voliinien bzw. Strichlinien der Datenleitung 11 bzw. 12 entsprechen, wobei auf der
Abszisse wie in F i g. 5 die Zeit aufgetragen ist
4. Für Datenwert »0« in Speicherzelle Λ/111 und
äußeres Schreiben des Datenwertes »1«.
Nach dem Lesen der Daten aus der Speicherzelle M111 ist die Datenleitung 11 auf dem hohen Pegel und
die Datenleitung 12 auf dem niederen Pegel. In diesem Zustand werden im Zeltpunkt 7s das Signal dm auf den
hohen Pegel und das Signal dm auf den niederen Pegel
gebracht um den Datenwert »1« (niedere Spannung) in die Speicherzelle M 111 zu schreiben. Gleichzeitig wird
die Datenleitung 12 auf dem hohen Pegel gehalten. Das Signal d,„ wird auf den hohen Pegel und gleichzeitig das
Signal Φ, auf den hohen Pegel gebracht Dadurch wird der Transistor Q 20 eingeschaltet und die Datenleitung
11 auf dem niederen Pegel gehalten, so daß der Transistor QA ausgeschaltet ist und kein Stron· durch
die Datenleitung 12 fließt Der Transistor Q 2 ist andererseits eingeschaltet da die Datenleitung 12 auf
dem hohen Pegel ist und damit wird die Datenleitung 11
auf dem niederen Pegel gehalten. Im Zeitpunkt Ti wird das Signal Φ, auf den niederen Pegel und das Signal Φ,
auf den hohen Pegel gebracht Dadurch wird der Transistor Q10 eingeschaltet Gleichzeitig ist der
Transistor Q 2 eingeschaltet da die Datenleitung 12 auf dem hohen Pegel ist so daß Strom vom Transistor Q10
zu den Transistoren Q 2, QT fließt Der Pegel der Datenleitung 11 kann ausreichend niedrig gemacht
werden, da die Leitwerte gm der Transistoren Q 2, QT
viel größer als der Leitwert gm des Transistors Q10
gewählt sind. Damit ist der Transistor Q 4 ausgeschaltet, und der Transistor Q 2 ist unverändert eingeschaltet.
Wie oben erläutert wurde, können die Pegel der Datenleitungen 11, 12 jeweils abhängig von dem zu
schreibenden Datenwert »1« auf den hohen bzw. niederen Pegel eingestellt werden.
Der Potentiaiübergang der Datenleitungen 11,12 bei
den obigen Operationen ist in Fig. 6(d) dargestellt, in der Voliinien bzw. Strichlinien der Datenleitung 11 bzw.
12 entsprechen, wobei auf der Abszisse wie in F i g. 5 die Zeit aufgetragen ist.
Wenn aus den erfindungsgemäßen Speicherzellen Daten gelesen werden sollen, fällt das Signal 301 beim
Schreiber! im Zeitpunkt Tt ohne Einspeisen der Signale
Φ™ £/„*<?* und Φ, ab. so
Wie oben erläutert wurde, können die Daten von außen in die Speicherzelle Mill geschrieben werden.
Der Transistor QA ist dabei immer ausgeschaltet wenn
die die äußeren Schreibsignale dm afn empfangende
Datenleitung 12 auf dem hohen Pegel gehalten wird. Damit fließt kein Strom durch diese Leitung, so daß
keine Schwierigkeiten vorliegen, die beim herkömmlichen Speicher der F i g. 1 auftreten.
Die Speicherzelle Λ/211. aus der keine Daten
geschrieben werden müssen, speichert die gleichen 6ö
Daten, die gelesen wurden. Das Potential der Datenleitungen 21 hängt von der aus der Speicherzelle M2ii
gelesenen Information ab( da die Leitung 302_unverän'
dert aufgrund der äußeren Schreibsignale dim d,„ auf dem
niederen Pegel bleibt Dies bedeutet, daß die Transistor
ren <?50, Q60 und das Flipflop 42 die gleichen
Operationen ausführen, bei denen dieselbe Information wie die gelesene Information von außen in die
Speicherzelle M 211 geschrieben wird. Daher sind die
Operationen der Transistoren Q 50, Q 60 und des
Flipflops 42 bei der Einspeisung der Signale Φ,, Φ; sowie
der Pegelübergang auf den Datenleitungen 21,22 gleich
den Operationen der Transistoren <?10, C?20 und des
Flipflops 4t sowie dem Pegelübergang auf den Datenleitungen 11,21, die bereits in den Abschnitten (1)
und (2) erläutert wurden.
Aus den obigen Erläuterungen folgt, daß das Schreiben von Daten in die Speicherzelle auf den
Datenleitungen von Seiten der Transistoren QWl, QW2 sowie auf den Datenleitungen 12, 22, 32 auf die
gleiche Weise erfolgen kann.
Daher ermöglichen beim vorliegenden Ausführungsbeispiel die Operationen der Transistoren ζ) 10, Q 20,
Q 50, C? 60 das äußere Schreiben von Daten.
Im folgenden wird ein anderes Ausführungsbeispiel der Erfindung näher erläutert Beim Ausführungsbeispiel
der F i g. 4 ist der Leitwert gm des Transistors Q 1
Transistors Q 2. Dadurch wird ein Ausführungsbeispiel ermöglicht (vgl. F i g. 7(a)), bei dem die Anzahl der
Transistoren verringert ist In Fig. 7(a) ist das Flipflop
41 dargestellt das mit den Datenleitungen 11,12 sowie
dem Schalttransistor 20 und dem Unsymmetrie-Einstelltransistor
Q 40 verbunden ist Diese Anordnung unterscheidet sich von der Anordnung der F i g. 4
dadurch, daß sie keine Transistoren Q 10, Q 30 hat und
jeweils getrennte Steuersignale Φρί\ und Φρι\ in die
Transistoren Qi, Q 3 speist wobei jedoch die übrigen
Teile gleich sind wie in Fig.4. so daß sie in Fig.7(a)
weggelassen sind. Der mit den Datenleitungen 21, 22 verbundene Abtastverstärker ist gleich aufgebaut wie
die Anordnung der F i g. 7(a).
Steuersignale Φρ3 . Φρι\, Φρ*ι, Φ, in Fig. 7(a) haben
den in F i g. 7(b) dargestellten Verlauf, in der die anderen Signale nicht gezeigt sind, da sie den Signalen in F i g. 5
gleichen. Die Zeitachse ist gleich wie in Fig. 5. In der
Zeitdauer Ta bis Ti sind die Signale Φρ1 \, Φρι\', Φρ32 auf
dem hohen Pegel, und das Signal Φ] ist auf dem niederen
Pegel, so daß die Schaltung in Fig. 7(a) auf die gleiche
Weise arbeitet wie die Schaltung der F i g. 4 in der Zeitdauer 7<
bis Tf, in F i g. 5, in der die Signale Φρί \, Φρ31
auf dem hohen Pegel sind und das Signal Φ, auf dem niederen Pegel ist (F i g. 4). In der Zeitdauer von Te bis Ti
sind lediglich die Signale Φρ,ι, Φ, auf dem hohen Pegel,
entsprechend den Signalen in der Zeitdauer Tt bis Tt in
F i g. 5. Auf diese Weise ist der Betrieb der Schaltung in F i g. 7(a) in der Zeitdauer Tt bis Tj gleich dem Betrieb
der entsprechenden Schaltung in Fig.4. In der Zeitdauer von Ti bis Tg sind lediglich die Signale Φρ, ι.
Φρ,2 auf dem hohen Pegel. Dies entspricht dem Zustand
der Signale Φ. Φρ,ι in der Zeitdauer vor Tr bis Tg in
Fig. 5, so daß der Betrieb der Schaltung in Fig. 7(a) in
dieser Zeitdauer gleich ist dem Betnrb der entsprechenden
Schaltung in F i g. 4.
Daraus folgt, daß die Schaltung in Fig. 7(a)
vollkommen gleich arbeitet wie die Schaltung in Fig. 4.
gesteuert durch die Signale mit dem in Fig. 7(b)
gezeigten Verlauf.
Fig.8 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel der
Erfindung) bei dem die Transistoren Q10, Q 50 in F f g>
4 auf den Datenleitungen Ii, 21 an deren Enden entfernt
Vom Flipflop 41 vorgesehen sind, Und die Unsymmetrie'
Ausschlüß'Tfänsistöfen Q 30, QAO sind äUch auf den
Daterileitungen 12, 22 art deren Enden entfernt davon
angeordnet. Blöcke 46 bis 49 zeigen in Pig.8
Schaltungen, die jeweils den Transistoren QiQ, Q20,
Q 40, Q 30 entsprechen.
Wie aus der obigen Anordnung folgt, ist der Betrieb
der Schaltung der Fig.8 vollkommen gleich dem
Betrieb der Schaltung in Fig.4. In der Schaltung der
F i g· 8 können jedoch die Leitwerte gm der Transistoren
QlO, Q 50 größer als die Leitwerte der Transistoren Q10, Q 50 in F i g. 4 sein. In der Schaltung der F i g. 4 ist
der Leitwert gm des Transistors ζ) 10 ausreichend
kleiner als der Leitwert der Transistoren Q 2, QT (vgl.
oben), um die Datenleitung 11 auF einem ausreichend niederen Pegel zu halten, wenn die Transistoren Q10,
Q 2 alle eingeschaltet sind, wie dies bei den oben beschriebenen Operationen (1), (4) der Fall ist In der
Schaltung der Fig.8 hängt jedoch unter gleichen
Bedingungen der Pegel auf der Datenleitung 11 vom Leitwert gm des Transistors Q10, dem Verdrahtungswiderstand der Datenleitung 11 und den Leitwerten gm
der Transistoren Q 2, QT ab. Je größer so der Verdrahtungswiderstand der Datenleitung 11 ist, ein
desto größerer Leitwert g^. des Transistors Q10 kann 2Q
erlaubt werden, um den gleichen niederen Pegel zu erzielen. Damit kann der Leitwert gm der Transistoren
QlO, Q50 in Fig.8 größer als der Leitwert der
Transistoren Q 10, Q 50 in Fig.4 sein. Dies hat den
Vorteil einer kürzeren Schaltzeit der Transistoren Q10,
Q 50. Es sei darauf hingewiesen, daß auch in Fi g. 8 die Transistoren Q 10, Q50 durch die Transistoren Q1, Q5
ersetzt werden können, wenn sie wie in Fig. 7(a) weggelassen werden sollen.
Fig.9 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung, das Flipflops 410,420,430 verwendet. Diese
Flipflops entsprechen den Flipflops 41,42,43 in Fi g. 8,
von denen die Transistoren Qi, Q3, Q5, Ql
weggelassen sind, deren Drain-Elektroden auf dem hohen Pegel VDD gehalten sind. Ein derartiges Flipflop
kann als Abtastverstärker für den Speicher verwendet werden. Dieses Flipflop verbraucht dank der Transistoren
Q 1, Q3. Q5, Q7 (vgl. Fig.8) keine Leistung (vgl
»IEEE Journal of Solid-State Circuits«, Vol. SC-8, Nr. 5, OkL 1973, Seiten 310-318). Das Ausführungsbeispiel
der F i g. 9 zeigt daß die Erfindung auch mit einem derartigen Abtast verstärker verwendbar ist
Die Schaltungsanordnung der Fig. 9 unterscheidet sich weiterhin von der Schaltungsanordnung der F i g. 8
dadurch, daß die Transistoren QPIl, QP12, QP2\. «
QP22. QPiX. QP32 mit ihren Drain-Elektroden am
hohen Spannungspegel VDDliegen, um den Vorladepegel
auf den hohen Pegel VDD zu erhöhen, und daß ein Hilfsinformationspcichcrkondensator CD für die Hiifs
zelle DC11 u. dgl. etwas größer als derjenige in F i g. 8 so
ist insbesondere etwa halb so groß wie der Informationsspeicherkondensator
CS für die Speicherzelle DC Uu. dgl. Die beim Speicher der F i g. 9 verwendeten
Steuersignale sind gleich wie die Steuersignale beim Ausführungsbeispiel der Fig.8 mit Ausnahme des
Steuersignal«. Φρ, ι. das für den Speicher der F i g. 9 nicht
benötigt wird.
Der Pegel auf der Datcnleitung ist nach dem Lesen der Speicherzelle etwas verschieden vom Pegel in
F i gi 8. Wenn & B. die die Information »Ö« (hohe w
Spannungjl speichernde Speicherzelle Ml11 den Lese
betrieb mittels der Wortleitüng Wi 1 aufnimmt, fällt der
Pegel der Datenleitung 11 vom Vorladepegel (im wesentlichen VDD) auf einen Pegel ab, der etwas
niedriger als dieser ist Für die Information »I« (niedere Spannung), die in dieser Speicherzelle Mill gespeichert
ist, fällt der Pegel der Datenleitung 11 vom Vöfladepegel (im wesentlichen VDD) auf einen viel
niederen Pege! ab. Dies bedeutet, daß der Pegel der
Datenleitung 11 um einen Differenzbetrag abhängig von der in der Speicherzelle Will gespeicherten
Information »0« oder »1« abfällt Die Auswahl der Hilfszelle DC12 in diesem Zeitpunkt mittels der
Hilfswortleitung DW2 bewirkt, daß der Pegel auf der
Datenleitung 12 vom Vorladepegel (im wesentlichen VDD) auf einen Pegel zwischen den beiden verschiedenen
Pegeln abfällt, auf den der Pegel der Datenleitung 11 abhängig von der Information »1« oder »0« in der
Speicherzelle Mill jeweils abfällt
Die Betätigung des Flipflops 410 durch das Signal Φρ,2 nach diesem Betrieb bewirkt keine Änderung im
Pegel für eine der Datenleitungen 11, 12, die den
höheren Pegel hat, verursacht jedoch einen Spannungsabfall auf ca. 0 Volt durch das Flipflop für die andere
Datenleitung mit dem niederen Pegel.
Auf diese Weise kann die kleine Pegeländerung auf der Datenleitung 11 aufgrund der in der Speicherzelle
tiA 111 CTgcrWainhgrtfn Information verstärkt und nach
außen in der Form von Datenwerten übertragen werden. Ein derartiger Speicher kann die äußere
Schreiboperation von Daten ohne jeden Fehler mittels der Transistoren Q10, Q 20, Q 50. Q 60 usw. aufnehmen,
wenn die Datenleitungen den großen Verdrahtungswiderstand haben. In F i g. 9 können die Transistoren
QiO, Q50 usw. offenbar wie in Fig.4 neben den
Transistoren Q 20, Q 60 vorgesehen sein. Die Anordnung in F i g. 9 ermöglicht einen größeren Leitwert gm
für die Transistoren Q10, Q 50 und einen Beitrag zu
einem sehr schnellen Betrieb wie in F i g. 8.
In Fig.9 werden die Drain-Elektroden aller Transistoren
Q\0. Q50. C'J'll. QP2\ weiterhin auf dem
gleichen Pegel VDD gehalten. Dies ermöglicht eine Anordnung, bei der die Transistoren Q10 und QP11
sowie die Transistoren QPIl und Q 50 mit ihrer
GatevEJektrodc zusammengeschaltet sind, die ein Signal
Φ,+ CC empfängt
Im folgenden wird ein anderes Ausführungsbeispiel der Erfindung näher erläutert
Bei den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen werden die Signale Φ» Φ, gleichzeitig in die Transistoren
QlO, Q 50 usw. bzw. die Transistoren Q 20, Q 60 usw.
gespeist Diese Ausführungsbeispiele haben den Vorteil, daß die Signalleitungen, auf denen die Signale Φ* Φ,
auftreten, gemeinsam für die Transistoren QlO, Q 50
oder Q 20. Q 60 gemacht werden können, so daß für die
Verdrahtung eine kleine Räche benötigt wird und ein einfacher Signalerzeuger entsteht
Das Ziel der Erfindung kann offenbar erreicht werden, indem lediglich die Transistoren QlO, Q 20
betrieben werden, die mit einer Speicherzelle (z. B. der
Zelle Λ/111) verbunden sind, in die die Daten eingeschrieben sind, ohne die Transistoren (Q 50, Q 60)
zu betreiben, die mit einer Speicherzelle verbunden sind (z.B. der Speicherzelle M 211, wenn die Speicherzelle
Mill die Schreiboperation aufnimmt), in die keine
Daten eingeschrieben werden sollen. Dies hat folgenden Grund: Wenn der Transistor Q 6 eingeschaltet ist fließt
Strom durch die Transistoren ζ)50, QB, die mit einer
Dalenleitung verbunden sind, durch die keine Daten Von außen in die Speicher/eile eingeschrieben werden
sollen, z. B. die Dalenleitung 21, wenn die Daten in die Speicherzelle MiIi geschrieben werden. Dies bedingt
eine Zunahme im Leistungsverbrauch. Ursprünglich hält jedoch die Datcnleitung 21 nach dem Lesen der
Speicherzelle eine Spannung,- die der Information in der
Speicherzelle entspricht, die mit der zürn Lesen
ί8
verwendeten Datenieitung verbunden ist. Daher muß der Transistor Q 50 nicht betrieben werden. Es ist daher
zweckmäßig, wenn das Signal Φ, nicht an den Transistor Q 50 abgegeben wird, der mit der Datenieitung 21
verbunden ist, die für äußeres Schreiben von Daten nicht verwendet wird, um den Leistungsverbrauch zu
verringern. Nahezu das gleiche gilt für den Transistor (?60.
Fig. 10 zeigt eine Weiterbildung der Schaltung der
F i g. 9. Die Schaltung der F i g. 10 unterscheidet sich von
der Schaltung der Fig.9 dadurch, daß getrennte Steuersignale Φ,ΐ, <Pi2 anstelle des Signals Φ/ für die
Transistoren QiQ, Q 50 und getrennte Steuersignale
Φ; ι. Φ/ 2 anstelle des Signals Φ j für die Transistoren Q 20,
Q 60 verwendet werden.
Blöcke 46O5 470 sind gleich wie die Blöcke 46, 47 in
F i g. 9. mit der Ausnahme, daß die Signale Φ^, Φ,3 (nicht
dargestellt) unabhängig von den Signalen Φ, ι, Φ/2 und
Φ,ΐ, Φ, 2 entsprechend den anderen Datenleitungen
eingespeist werden. Es sei jedoch darauf hingewiesen, daß diese Signale Φ; ι, Φ, 2 gleich wie das Signal Φ, in
Fig.9 sind, da sie in gleicher Zeitbeziehung und mit
gleicher Spannung wie das Signal Φ j in F i g. 9 auftreten.
Der Unterschied liegt darin, daß die Signale Φ, \, Φ) 2
jeweils nur dann auf die hohe Spannung gebracht werden, wenn die Datenleitung 11 oder 21, die mit den
Transistoren QiO, Q 50 verbunden ist, an denen die
Signale Φ, ι, Φ, 2 liegen, gewählt wird, wenn entweder
die Datenleitung 11 oder die Datenieitung 12 gewählt wird, oder wenn entweder die Datenleitung 21 oder die
Datenleitung 22 gewählt wird.
Derartige Steuersignale werden von einer Schaltung in Fig. 11 erzeugt, die ein Adie£-Signai 900 für eine
Speicherzelle zeigt, in die eine Informa.;on geschrieben werden soll. Das Adreß-Signal 900 wird durch einen
Decodierer 700 decodiert und steuert einen Signalerzeuger bzw. -generator 800 an, um das Signal Φ, \ oder
eines der Signale Φ]2, ..Φ) η zu erzeugen. Das gleiche
gilt für die Signale Φ, ι, Φ, 2. ■ ■ ■ Φι η·
Wie oben erläutert wurde, wird das Steuersignal lediglich für geringen Leistungsverbrauch in die
erforderlichen Transistoren gespeist. Jedoch erhöht die getrennte Einspeisung aller dieser Signale Φ1 1, ΦΙ2, ■. ■
oder Φ,ι, Φ,2,... usw. die Verdrahtung und die
Signalerzeuger für die Signale Φ7ΐ, Φ/3; Φ<ι, Φ/2 in
dieser Hinsicht. Um den Leistungsverbrauch ohne zu
starke Vergrößerung der Verdrahtung zu verringern, können die Datenleitungen 11, 21, 31... in mehrere
Gruppen geteilt werden, deren jede Transistoren (z. B.
QiO, Q50 usw.) umfaßt, die das gleiche Steuersignal
empfangen. Das heißt, alle Steuersignale für die Transistoren (z. B. die Transistoren Q10, Q 50 usw.), die
mit allen Datenleitungen in einer Gruppe einschließlich eine" gewählten Datenleitung verbunden sind, werden
auf den hohen Pegel gebracht.
F i g. 12 zeigt eine Schaltung für diesen Zweck, in der
die Datenleitungen in vier Gruppen geteilt sind. Die
Schaltung hat zwei Bits 910 des höchstwertigen und des an zweiter Stelle höchstwertigen Bits des Adreß-Signals,
Decodierer 710 und .Signalerzeuger bzw. -generatoren 800, die durch die Ausgangssignale der Decodierer
710 angesteuert sind, um vier Signale Φ/, Φ/', Φ/", Φ]"" zu erzeugen. Das Signal Φ/ wird auf das hohe
Potential lediglich während der Zeit gebracht, in der die Datenleitungen in der ersten Gruppe gewählt sind, und
zu allen Datenleitungen in der gleichen Gruppe in der Form des Signals Φ, gespeist, wobei die Signale Φ/',
Φ/", ΦΙ'" während dieser Operation auf dem niederen
Potential gehalten werden. Auf ähnliche Weise werden die Signale Φ/', Φ/", Φ/'" als das Signal Φ," lediglich
während der Zeit in alle Datenleitungen in den entsprechenden Gruppen gespeist, in der die Datenleitungen
in der zweiten bzw. dritten bzw. vierten Gruppe gewählt sind.
Die Erfindung ermöglicht einen Speicher einschließlich eines Abtastverstärkers mit einem Flipflop, wobei
das äußere Schreiben von Daten trotz erhöhten Verdrahtungswiderstandes aufgrund sehr kleiner Datenleitungen
auf gewöhnliche Weise erfolgt.
Hierzu 10 Blatt Zeichnungen
Claims (14)
1. Speicher mit
mindestens einer ersten und mindestens einer zweiten Datenleitung, wobei jeweils eine erste und
eine zweite Datenleitung ein Datenleitungs-Paar bilden,
mindestens einer ersten Wortleitung und mindestens einer zweiten Wortleitung, die die mindestens eine
erste bzw. die mindestens eine zweite Datenleitung kreuzen,
einer ersten Einrichtung zum wahlweisen Signal-Beaufschlagen
einer der Wortleitungen, um diese auszuwählen,
einer Speicherzelle jeweils an jeder Kreuzungsstelle der ersten und zweiten Datenleitungen mit den
ersten bzw. zweiten Wortleitungen zum Speichern eines Potentialpegels auf der zugehörigen DatenJeitung
bei Ausvahl der zugehörigen Wortleitung,
wobei insbesondere jede Speicherzelle einen Feldeffekttransistor, dessen Gate-Elektrode mit der Wortleitung und dessen Source-EIektrode mit der Datenleitunt: verbunden sind, und ein kapazitives Bauelement, das mit einem Anschluß an die Drain-Elektrode des Feldeffekttransistors angeschlossen und am anderen Anschluß mit einer vorbestimmten Spannung versorgt ist, aufweist,
einer zweiten Einrichtung zum Anlegen eines ersten oder eines zweiten Potentialpegels an einer der zweiten Datenleitungen in Abhängigkeit von der zu schreibenden information,
wobei insbesondere jede Speicherzelle einen Feldeffekttransistor, dessen Gate-Elektrode mit der Wortleitung und dessen Source-EIektrode mit der Datenleitunt: verbunden sind, und ein kapazitives Bauelement, das mit einem Anschluß an die Drain-Elektrode des Feldeffekttransistors angeschlossen und am anderen Anschluß mit einer vorbestimmten Spannung versorgt ist, aufweist,
einer zweiten Einrichtung zum Anlegen eines ersten oder eines zweiten Potentialpegels an einer der zweiten Datenleitungen in Abhängigkeit von der zu schreibenden information,
einem Flipflop jeweils a 1 jeden Datenieitungs-Paar einschließlich jeweils wenigstens eines ersten und
eines zweiten Transistors, wobei' .rbunden sind:
die Ausgangselektrode des ersten Transistors mit der zugehörigen ersten Datenleitung und die Steuerelektrode des ersten Transistors mit der zugehörigen zweiten Datenleitung,
die Steuerelektrode des zweiten Transistors mit der zugehörigen ersten Datenleitung und die Ausgangselektrode des zweiten Transistors mit der zugehörigen zweiten Datenleitung, und
die Eingangselektroden des ersten und zweiten Transistors miteinander;
die Ausgangselektrode des ersten Transistors mit der zugehörigen ersten Datenleitung und die Steuerelektrode des ersten Transistors mit der zugehörigen zweiten Datenleitung,
die Steuerelektrode des zweiten Transistors mit der zugehörigen ersten Datenleitung und die Ausgangselektrode des zweiten Transistors mit der zugehörigen zweiten Datenleitung, und
die Eingangselektroden des ersten und zweiten Transistors miteinander;
und einer ersten Schalteinrichtung, deren Eingangselektrode an jede erste Datenleitung und deren
Ausgangselektrode an eine Spannungsquelle angeschlossen sowie deren Steuerelektrode mit einem
Ein-Aus-Steuersignal beaufschlagbar ist.
gekennzeichnet durch
eine mit jeder ersten Datenleitung (11, 21, 31) verbundene zweite Schalteinrichtung (ζ) 20, Q60, 44), um an jede erste Datenleitung (11, 21, 31) eine Spannung zum Ausschalten des /weiten Transistors (<?4, QS) des zugehörigen Flipflops (41, 42, 43) zu legen, der mit der betreffenden ersten Datenleitung (11, 21, 31) verbunden ist, und eine mit jeder ersten Datenleitung verbundene dritte Schalteinrichtung (<?10.<?50.44),die
gekennzeichnet durch
eine mit jeder ersten Datenleitung (11, 21, 31) verbundene zweite Schalteinrichtung (ζ) 20, Q60, 44), um an jede erste Datenleitung (11, 21, 31) eine Spannung zum Ausschalten des /weiten Transistors (<?4, QS) des zugehörigen Flipflops (41, 42, 43) zu legen, der mit der betreffenden ersten Datenleitung (11, 21, 31) verbunden ist, und eine mit jeder ersten Datenleitung verbundene dritte Schalteinrichtung (<?10.<?50.44),die
mit ihrer Ausgangselektrode an eine Spannungsquelle mit einem Potentialpegel im wesentlichen
gleich dem ersten Potentialpegel angeschlossen ist und einen Leitwert zwischen ihrer Eingangs- und
ihrer Ausgangseleklrode aufweist, der im einge· schalteten Zustand kleiner als der Leitwert des
ersten Transistors [Q 2, Q S) jedes Flipflops in dessen
leitendem Zustand ist,
eine erste Steuereinrichtung zum Steuern der zweiten Schalteinrichtung (Q20, Q60, 44), so daß
diese während einer vorbestimmten Zeit vor dem Speichern von Information in den Speicherzellen
(M 111,...) arbeitet, und
eine zweite Steuereinrichtung zur Abgabe eines Steuersignals, das die dritte Schalteinrichtung (Q 10,
Q 50,44) nach Ablauf der vorbestimmten Zeit und in einem Zustand niederohmig macht, in deu das
ίο vorbestimmte Potential an einer der zweiten
Datenleitungen (12, 22, 32) mittels der zweiten Einrichtung (QRW, Qw\, Qm) Hegt (F i g. 4).
2. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die zweite Schalteinrichtung (Q 20, Q 60,44) mit
den ersten Datenleitungen (11, 21, 31) in der Nähe des Verbindungspunktes zwischen den ersten
Datenleitungen (11,21,31) und den Flipflops (41,42,
43) verbunden ist, und
.'0 daß die dritte Schalteinrichtung (Q 10, Q50, 44) mit
den ersten Datenleitungen (11, 21, 31) an einer vom Verbindungspunkt entfernten bzw. entgegengesetzten
Stelle verbunden ist (F i g. 8).
3. Speicher nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch ein Kapazitätssymmetrie-Glied (Q40; QSO;
45) an den zweiten Datenleitungen (12, 22, 32) mit gleicher Eingangsk opazität wie die zweite Schalteinrichtung
(ζ) 20, Q60,44) von den ersten Datenleitungen
(11,21,31) aus (F ig. 4).
!o 4. Speicher nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß das Kapazitätssymmetrie-Glied eine Schalteinrichtung (Q40; QSO; 45) mit gleichem
Aufbau wie die zweite Schalteinrichtung (Q 20, Q 60,
44) ist und ausgeschaltet gehalten wird(F i g.
4).
η
5. Speicher nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch ein Kapazitätssymmetrie-Glied (QZO, QlQ;
45) an den zweiten Datenleitungen (12, 22, 32) mit gleicher Eingangskapa/ität wie die dritte Schalteinrichtung
(O 10, O 50. 44) von den /weiten Datenlei-
4" tungen (12,22,32) aus (F i g. 4).
6. Speicher nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß das Kapazitätssymmetrie-Glied (Q 30. Q 70; 45) eine Schalteinrichtung mit gleichem
Aufbau wie die dritte Schalteinrichtung (Q 10. Q50.
4> 44) ist und ausgeschaltet gehalten wird(F i g. 4)
7. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die /weite und die dritte Schalteinnch
tung (Q20. ζ)60: Q 10, Q 50, 44) und der erste und
der /weite Transistor (Q2. Qb; Q4, QS) jeweils ein
ίΐ> Feldeffekttransistor sind (F i g. 4).
8. Speicher nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch
einen dritten Transistor (Ql), der die dritte Schalteinrichtung bildet,
■»■> einen vierten Transistor (Q3) in jedem Flipflop (41,
42,43), dessen Eingangselektrode an die Steuerelektrode des ersten Transistors (Q2. Q6) in jedem
Flipflop (41, 42, 43) und dessen Ausgangselektrode an die Ausgangselektrode des dritten Transistors
M) (01) angeschlossen sind, und
eine weitere Steuereinrichtung zum Einspeisen eines Steuersignals in die dritte Schalteinrichtung, um den
dritten und den vierten Transistor (01, Q 3)
während einer vorbestimmten Zeit einzuschalten, während der Information aus der Speicherzelle
(MiU,...)gelesen wird(Fig. 7).
9. Speicher nach üinem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die erste
Steuereinrichtung zum Steuern der 2weiten Schalteinrichtung (<?20, Q 60) gemeinsam mit allen
Datenleitungs-Paaren vorgesehen ist (F i g. 4,8).
10. Speicher nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite
Steuereinrichtung zum Steuern der dritten Schalteinrichtung (QiO, Q 50) gemeinsam mit allen
Datenleitungs-Paaren vorgesehen ist (F i g. 4,8).
11. Speicher nach einem der vorhergehenden
Ansprüche 1 —8, dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Steuereinrichtung zum Steuern der zweiten Schalteinrichtung (<?20, <?60) gemeinsam
mit Gruppen vorgesehen ist, deren jede mehrere Datenleitungs-Paare aufweist,
wobei jede erste Steuereinrichtung mit einem Teil von Speicherzellen-Auswahl-Adreß-Signalen versorgt ist, um alle zweite Schalteinrichtungen (Q20, (?60) ju betätigen, die zu jeder Gruppe gehören, die eine der Datenleitungen (11,21,31) aufweist, die eine Speicherzelle (AiUl,...) einschl.eßt. in die eine Information zu schreiben ist (F i g. 10)
wobei jede erste Steuereinrichtung mit einem Teil von Speicherzellen-Auswahl-Adreß-Signalen versorgt ist, um alle zweite Schalteinrichtungen (Q20, (?60) ju betätigen, die zu jeder Gruppe gehören, die eine der Datenleitungen (11,21,31) aufweist, die eine Speicherzelle (AiUl,...) einschl.eßt. in die eine Information zu schreiben ist (F i g. 10)
12. Speicher nach einem der vorhergehenden Ansprüche 1 —8, dadurch gekennzeichnet,
daß die zweite Steuereinrichtung zum Steuern der dritten Schalteinrichtung (QlO. Q50) gemeinsam
mit Gruppen vorgesehen ist. deren jede mehrere Datenleitungs-Paare aufweist,
wobei jede zweite Steuereinrichtung mit einem Teil von Speicherzellen-Auswahl-Adreß-Signalen versorgt ist, um alle Schalteinrichtungen (QiO, Q 50) zu betätigen, die zu jeder Gruppe gehören, die eine der Datenleitungen (11, 21, 31) aufweist, die eine Speicherzelle (MHi,...) einschließt, in die eine Information zu schreiben ist (F i g. 10).
wobei jede zweite Steuereinrichtung mit einem Teil von Speicherzellen-Auswahl-Adreß-Signalen versorgt ist, um alle Schalteinrichtungen (QiO, Q 50) zu betätigen, die zu jeder Gruppe gehören, die eine der Datenleitungen (11, 21, 31) aufweist, die eine Speicherzelle (MHi,...) einschließt, in die eine Information zu schreiben ist (F i g. 10).
13. Speicher nach einem der vorhergehenden Ansprüche 1 —8, dadurch gekennzeichnet,,
daß die erste Steuereinrichtung zum Steuern der zweiten Schalteinrichtung (Q20. QbO) in jedem
Datenleitungs-Paar vorgesehen ist.
wobei jHe erste Steuereinrichtung mit einem Speicherzellen-Auswahl-Adreß-Signal versorgt ist. um die zweite Schalteinrichtung (Q20, Q60) nur dann zu betätigen, wenn eine Information in eine
wobei jHe erste Steuereinrichtung mit einem Speicherzellen-Auswahl-Adreß-Signal versorgt ist. um die zweite Schalteinrichtung (Q20, Q60) nur dann zu betätigen, wenn eine Information in eine
Speicherzelle (MHi ) auf der Datenleitung (II,
21, 31) zu schreiben ist. mit der die erste Steuereinrichtung verbunden is' oder der die
Daienleitung (11, 21, 31) paarweise zugeordnet ist (F ig. 4.8).
14. Speicher nach einem der vorhergehenden Ansprüche 1 —8, dadurr-h gekennzeichnet,
daß die zweite Steuereinrichtung zum Steuern der dritten Schalteinrichtung (QiO, Q 50) in jedem
Datenleitungs-Paar vorgesehen ist,
wobei jede zweite Steuereinrichtung mit einem Speicherzellen-Auswahl-Adreß-Signal versorgt ist, um die dritte Schalteinrichtung (ζ) 10, Q 50) nur dann zu betätigen, wenn eine Information in eine Speicherzelle (Λ/111,...) auf der Datenleitung (11, 21, 31) zu schreiben ist, mit der die zweite Steuereinrichtung verbunden ist oder der die Datenleitung (11, 21, 31) paarweise zugeordnet ist (F ig. 4,8).
wobei jede zweite Steuereinrichtung mit einem Speicherzellen-Auswahl-Adreß-Signal versorgt ist, um die dritte Schalteinrichtung (ζ) 10, Q 50) nur dann zu betätigen, wenn eine Information in eine Speicherzelle (Λ/111,...) auf der Datenleitung (11, 21, 31) zu schreiben ist, mit der die zweite Steuereinrichtung verbunden ist oder der die Datenleitung (11, 21, 31) paarweise zugeordnet ist (F ig. 4,8).
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10779276A JPS5333542A (en) | 1976-09-10 | 1976-09-10 | Signal detection circuit |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2740700A1 DE2740700A1 (de) | 1978-03-23 |
DE2740700B2 DE2740700B2 (de) | 1979-05-17 |
DE2740700C3 true DE2740700C3 (de) | 1980-01-31 |
Family
ID=14468134
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19772740700 Granted DE2740700A1 (de) | 1976-09-10 | 1977-09-09 | Speicher |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4112508A (de) |
JP (1) | JPS5333542A (de) |
DE (1) | DE2740700A1 (de) |
NL (1) | NL178369C (de) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6041463B2 (ja) * | 1976-11-19 | 1985-09-17 | 株式会社日立製作所 | ダイナミツク記憶装置 |
JPS5399736A (en) * | 1977-02-10 | 1978-08-31 | Toshiba Corp | Semiconductor memory unit |
DE2935121A1 (de) * | 1978-09-07 | 1980-03-27 | Texas Instruments Inc | Schreib/lese-halbleiterspeicher |
JPS5575899U (de) * | 1978-11-20 | 1980-05-24 | ||
JPS5847796B2 (ja) * | 1979-05-26 | 1983-10-25 | 富士通株式会社 | 半導体メモリ装置 |
JPS5644189A (en) * | 1979-09-19 | 1981-04-23 | Hitachi Ltd | Semiconductor memory |
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JPS6216039Y2 (de) * | 1980-11-11 | 1987-04-23 | ||
JPS58134794A (ja) * | 1982-02-04 | 1983-08-11 | Mitsubishi Electric Corp | 感熱複写用インクシ−ト |
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JPS57208691A (en) * | 1981-06-15 | 1982-12-21 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor memory |
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JPS59178294A (ja) * | 1983-03-29 | 1984-10-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 感熱記録用転写体 |
JPS6040294A (ja) * | 1983-08-12 | 1985-03-02 | Hitachi Chem Co Ltd | 熱転写フィルム |
JPS60135289A (ja) * | 1983-12-23 | 1985-07-18 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 感熱転写記録媒体 |
JPS61228993A (ja) * | 1985-04-03 | 1986-10-13 | Fuji Kagakushi Kogyo Co Ltd | 熱溶融転写記録媒体 |
JPH0664907B2 (ja) * | 1985-06-26 | 1994-08-22 | 株式会社日立製作所 | ダイナミツク型ram |
JP2523925B2 (ja) * | 1990-03-29 | 1996-08-14 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
JPH03288399A (ja) * | 1990-04-04 | 1991-12-18 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP2718577B2 (ja) * | 1991-03-15 | 1998-02-25 | 松下電器産業株式会社 | ダイナミックram |
JP4737351B2 (ja) * | 2000-08-07 | 2011-07-27 | 東洋製罐株式会社 | 容器口部及びキャップ |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5327107B2 (de) * | 1973-09-28 | 1978-08-05 |
-
1976
- 1976-09-10 JP JP10779276A patent/JPS5333542A/ja active Granted
-
1977
- 1977-09-07 US US05/831,138 patent/US4112508A/en not_active Expired - Lifetime
- 1977-09-09 DE DE19772740700 patent/DE2740700A1/de active Granted
- 1977-09-09 NL NLAANVRAGE7709931,A patent/NL178369C/xx active Search and Examination
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL178369C (nl) | 1986-03-03 |
US4112508A (en) | 1978-09-05 |
DE2740700B2 (de) | 1979-05-17 |
JPS5333542A (en) | 1978-03-29 |
DE2740700A1 (de) | 1978-03-23 |
JPS5627957B2 (de) | 1981-06-27 |
NL7709931A (nl) | 1978-03-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OD | Request for examination | ||
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