DE102009030524A1 - Baugruppe und Verfahren für eine integrierte Schaltung mit mehreren Chiplagen - Google Patents

Baugruppe und Verfahren für eine integrierte Schaltung mit mehreren Chiplagen Download PDF

Info

Publication number
DE102009030524A1
DE102009030524A1 DE102009030524A DE102009030524A DE102009030524A1 DE 102009030524 A1 DE102009030524 A1 DE 102009030524A1 DE 102009030524 A DE102009030524 A DE 102009030524A DE 102009030524 A DE102009030524 A DE 102009030524A DE 102009030524 A1 DE102009030524 A1 DE 102009030524A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
layer
chip
memory
lines
tsv
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE102009030524A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102009030524B4 (de
Inventor
Dinesh Portland Somasekhar
Tanay Portland Karnik
Jianping Portland Xu
Yibin Portland Ye
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tahoe Research Ltd
Original Assignee
Intel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Intel Corp filed Critical Intel Corp
Publication of DE102009030524A1 publication Critical patent/DE102009030524A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102009030524B4 publication Critical patent/DE102009030524B4/de
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/18Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/50Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor for integrated circuit devices, e.g. power bus, number of leads
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/02Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/06Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
    • G11C5/063Voltage and signal distribution in integrated semi-conductor memory access lines, e.g. word-line, bit-line, cross-over resistance, propagation delay
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/522Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
    • H01L23/528Geometry or layout of the interconnection structure
    • H01L23/5286Arrangements of power or ground buses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/05573Single external layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/12Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/13Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/13001Core members of the bump connector
    • H01L2224/1302Disposition
    • H01L2224/13025Disposition the bump connector being disposed on a via connection of the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/04All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
    • H01L2225/065All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/06503Stacked arrangements of devices
    • H01L2225/06513Bump or bump-like direct electrical connections between devices, e.g. flip-chip connection, solder bumps
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/04All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
    • H01L2225/065All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/06503Stacked arrangements of devices
    • H01L2225/06527Special adaptation of electrical connections, e.g. rewiring, engineering changes, pressure contacts, layout
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/04All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
    • H01L2225/065All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/06503Stacked arrangements of devices
    • H01L2225/06541Conductive via connections through the device, e.g. vertical interconnects, through silicon via [TSV]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/481Internal lead connections, e.g. via connections, feedthrough structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details

Abstract

Bei bestimmten Ausführungsformen wird eine integrierte Schaltung bereitgestellt, bei der eine erste Chiplage an eine zweite Chiplage gekoppelt ist. Durch die zweite Chiplage hindurch sind Through Silicon Vias angeordnet, um Leistungsreferenzen an die erste Chiplage zu liefern. Die Through Silicon Vias sind lateral neu positionierbar, ohne die Schaltungsabschnitte in der zweiten Chiplage zu blockieren.

Description

  • STAND DER TECHNIK
  • Wie in 1 gezeigt, können zwei (oder mehr) Chiplagen gestapelt werden, was generell als dreidimensionales integriertes Schaltungspaket bezeichnet wird, um eine dichte Kopplungsstruktur (z. B. 3000 oder mehr Kopplungsstrukturen) zwischen einer ersten Chiplage (z. B. Prozessor) 105 und einer zweiten Chiplage (z. B. Speicher) 107 bereitzustellen und somit einer erhöhte Bandbreite zwischen den Chiplagen zu erzeugen. Um die Chiplagen mit Signal- und Stromleitungen zu versorgen (vor allem die erste, obere Chiplage) können jedoch Through Silicon Vias (TSV) 109 eingesetzt werden, die durch die zweite (untere) Chiplage nach oben geführt werden.
  • Bei bestimmten Ausführungsformen ist die erste (obere) Chiplage ein Prozessor, während die zweite (untere) Chiplage eine dichte Speichereinheit umfasst. Kontaktierungsflecken auf der unteren Chiplage stellen die Verbindung zu einem Paketsubstrat her, welches das Paket an externe Verbindungen, wie z. B. eine Hauptplatine, koppelt. 2A ist ein exemplarisches High-Level-Layoutdiagramm für eine Speicherchiplage 107. Der Speicher ist in einzelne Reihenanordnungen organisiert (Speicherbank 205). Die Speicherchiplage enthält auch periphere Eingangs/Ausgangs(I/O – Input/Output)-Schaltungsblöcke und -logik, Taktgeber und Zeitgeberschaltungsblöcke in der Mitte. Die Through Silicon Vias werden von der Rückseite der Speicherchiplage verarbeitet und enden auf zugewiesenen Kontaktflecken, z. B. an der Schnittstelle zur oberen (Prozessor-)Chiplage.
  • 2B zeigt eine Möglichkeit, wie die Kontaktflecken für die TSV mit Endungen über die gesamte Speicherchiplage positioniert werden können. Doch wie in der Figur gezeigt, kommen die TSV durch die Speicherbankabschnitte und enden an verschiedenen asymmetrischen oder unregelmäßigen Stellen. Infolgedessen sind verbesserte Lösungen notwendig.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Ausführungsformen der Erfindung werden exemplarisch und in keiner Weise einschränkend in den Figuren der begleitenden Zeichnungen dargestellt, wobei Bezugsnummern zum Verweis auf ähnliche Elemente verwendet werden.
  • 1 ist eine Perspektive eines Querschnittes durch ein herkömmliches dreidimensionales integriertes Schaltungspaket (IC) mit zwei Chiplagen.
  • 2A ist ein Layoutdiagramm für Speicherbänke in einer Speicherchiplage für die IC in 1.
  • 2B zeigt das Layoutdiagramm von 2A, jedoch mit den Stellen für die Through Silicon Vias (TSV), die zum Koppeln der Signale der zwei Chiplagen im IC-Paket verwendet werden.
  • 3 ist ein Layoutdiagramm für eine Speicherchiplage mit TSV gemäß bestimmten Ausführungsformen.
  • 4A ist ein Layoutdiagramm für eine Speicherchiplage mit TSV gemäß weiteren Ausführungsformen.
  • 4B ist eine Seitenansicht eines IC-Pakets mit einer ersten Chiplage und einer zweiten Speicherchiplage wie in 4A gemäß bestimmten Ausführungsformen.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
  • 3 zeigt ein Layout für bestimmte Ausführungsformen einer Speicherchiplage (Chip) mit Speicherabschnitten 205 und TSV. Die Speicherabschnitte (Arrays) sind um die TSV herum angeordnet. Relativ zu den vorher erwähnten Ausführungsformen sind hier die Speicherbankgrößen reduziert, und die TSV (oder Through Vias) werden, wie gezeigt, in die freien Räume gesetzt. Ein Vorteil dieses Ansatzes ist, dass Platz gespart wird für Logik, Taktgeber und Zeitgeberschaltungen (die auch in den freien Räumen verteilt, aber nicht auf diesem Diagramm dargestellt sind).
  • In bestimmten Situationen kann sich jedoch die Schaltung (z. B. der Speicher) weiter entwickeln, sogar schon bei der Entwicklung der Paketkonfiguration, und in vielen Fällen wäre es wünschenswert, wenn sich die TSV-Platzierungsspezifikationen zur gleichen Zeit ändern würden. In einem 3D-Stapel können beispielsweise die TSV-Spezifikationen auf einer Chiplage durch die andere Chiplage vorgegeben werden, deren Spezifikationen sich ebenfalls ändern können. Das bedeutet, dass Speicherbänke und insbesondere Speicherzellarrays TSV innerhalb ihrer Abschnitte aufnehmen müssen. Speicher werden jedoch generell sehr dicht konzipiert. Infolgedessen lasst sich die Speicherorganisation nicht leicht beeinträchtigen, wie z. B. wenn TSV-Stellen verschoben werden müssen, was störend und gelegentlich auch für das Speicherarray-Design behindernd sein kann.
  • 4A und 4B zeigen einen weiteren Ansatz für die Implementierung der TSV in einem IC-Stapel mit mehreren Chiplagen. 4A ist ein Layoutdiagramm für eine Speicherchiplage mit TSV gemäß bestimmten Ausführungsformen, und 4B zeigt eine Seitenansicht des IC-Pakets. (Wie bei allen Zeichnungen in dieser Offenlegung, sind die Speicherbänke und TSV nicht maßstabsgetreu gezeichnet. Die tatsächlichen Kontaktfleckzonen der TSV sind normalerweise kleiner als abgebildet.) Wie gezeigt, sind die Speicherbänke 405 (in dieser Darstellung sind zwölf Bänke gezeigt) in Abständen in Abschnitte 417 unterteilt angeordnet. Bei der gezeigten Anordnung der Bänke sind die Abstände zwischen den Abschnitten so ausgerichtet, dass sie Spuren 419 bilden (die aus Gründen einer kürzeren Fassung nicht alle aufgezählt werden), welche die TSV enthalten. Bei der dargestellten Ausführungsform sind die Spuren 419 in parallel angeordneten (entlang der X-Achse) Abständen aufeinander ausgerichtet. (Im Sinne dieser Beschreibung bedeutet der Begriff „Spur” Abstand oder Freiraum, z. B. in einer länglichen Form wie ein langgezogenes Rechteck. Er bezieht sich nicht unbedingt auf eine physische Struktur.)
  • Bei dieser Anordnung kann ein TSV an beliebigen Stellen in den Spuren aufgenommen werden, d. h. sie können im übertragenen Sinne innerhalb der Spuren „gleiten”, damit Designer mehr Flexibilität bei der seitlichen Verschiebung der Vias haben, und zwar auch in den späteren Stufen der IC-Paketentwicklung. (Aus Sicht des Designs sind TSV „gleitbar”, obwohl sie sich nach ihrer Fabrikation nicht tatsächlich bewegen.) Das bedeutet, dass auch die Speicherbankabschnitte 417 entlang ihren „Spuren” an eine beliebige Stelle bewegt werden können, und zwar ohne maßgebliche Beeinflussung der Entwicklung des dreidimensionalen Prozesses oder Veränderungen der TSV-Positionsspezifikation.
  • 4B zeigt die erste und die zweite Chiplage 402, 406, die an der Chiplagen-Kopplungsstruktur 409 durch zahlreiche, z. B. über 3.000, Kopplungskontakte aneinander gekoppelt sind. Die erste und die zweite Chiplage enthalten Substrate (403 bzw. 407), auf denen ihre Schaltungen gebildet werden, und auf denen, wie in der dargestellten Ausführungsform gezeigt, jeweils Metallisierungsschichten M1 bis M7 aufgebracht sind für die Kopplung der Schaltungselemente innerhalb und zwischen den Chiplagen und zum Verteilen der Signale und Leistungsreferenzen von den TSV. Die Chiplagen 402, 406 sind so aneinander gekoppelt, dass ihre Metallschichten nebeneinander liegen, um eine effizientere Kopplungsstruktur zu schaffen.
  • Normalerweise enthält jede Metallschicht durch Abstände getrennte Metalllinien, die in die gleiche Richtung verlaufen. Die Linien in einer gegebenen Schicht sind orthogonal relativ zu den Linien in den daneben liegenden Schichten, so dass die Metalllinien in nebeneinander liegenden Schichten sich generell überkreuzen. (Das ist nicht immer der Fall, doch wie unten beschrieben verlaufen beispielsweise die Schichten M1 und M2 in der zweiten Chiplage 407 in Y-Richtung.) In 4B wird dies mithilfe von gestrichelten und durchgehenden Linien dargestellt. Die gestrichelten Linien zeigen eine Schicht mit Linien, die auf die Y-Achse ausgerichtet ist, und die durchgehenden Linien zeigen Metallschichten, die auf die X-Achse ausgerichtet sind.
  • Bei der dargestellten Ausführungsform dient die M1-Schicht als Kontaktschicht und weist die TSV-Kontaktflecken auf. Die M2-Linien werden verwendet, um die gewünschten TSV-Kontakte in einer gegebenen Linie miteinander zu koppeln. Die VSS-Kontakte in einer Linie können z. B. miteinander gekoppelt sein und die VCC-Kontakte in einer Linie können miteinander gekoppelt sein. Die leeren Bereiche um die TSV-Kontaktflecken herum können für Repeater, Logik, Zeitgeber, Taktpuffer usw. verwendet werden. Die M3-Linien können dann verwendet werden, um die getrennten Abschnitte in einer Speicherbank zu koppeln und bei bestimmten Ausführungsformen werden Freiräume (oder Lücken) innerhalb der M3-Linien aufrechterhalten, um zu ermöglichen, dass TSV-Verbindungen von den M2-Linien nach oben geführt werden, z. B. um mit der ersten Chiplage 402 gekoppelt zu werden.
  • In der vorstehenden Beschreibung wurden zahlreiche spezifische Details erläutert. Es ist jedoch offensichtlich, dass erfindungsgemäße Ausführungsformen auch ohne diese spezifischen Details realisierbar sind. In anderen Fällen wurden allgemein bekannte Schaltungen, Strukturen und Techniken eventuell nicht im Detail dargestellt, um das Verständnis der Beschreibung nicht zu erschweren. In diesem Sinne haben Bezugnahmen auf „eine Ausführungsform”, „bestimmte Ausführungsformen”, „verschiedene Ausführungsformen” usw. die Bedeutung, dass die Ausführungsform/en bestimmte Merkmale, Strukturen oder Eigenschaften umfassen können, aber dass nicht unbedingt jede Ausführungsform die besonderen Merkmale, Strukturen oder Eigenschaften umfassen muss. Des Weiteren können bestimmte Ausführungsformen einige, alle oder keine der Merkmale aufweisen, die für andere Ausführungsformen beschrieben sind.
  • In der vorstehenden Beschreibung und in den nachfolgenden Ansprüchen sind die folgenden Begriffe wie unten beschrieben auszulegen: Die Begriffe „gekoppelt” und „verbunden” und deren Ableitungen können verwendet werden. Diese Begriffe sind jedoch nicht als Synonyme zu verstehen und nicht untereinander austauschbar. In bestimmten Ausführungsformen wird „verbunden” verwendet, um anzuzeigen, dass zwei oder mehrere Elemente durch direkten physischen oder elektrischen Kontakt miteinander verbunden sind. „Gekoppelt” bedeutet dagegen, dass zwei oder mehrere Elemente zusammenarbeiten oder interagieren, jedoch nicht unbedingt durch einen direkten physischen oder elektrischen Kontakt miteinander verbunden sind.
  • Die Erfindung ist nicht auf die beschriebenen Ausführungsformen begrenzt, sondern kann mit Modifizierungen und Änderungen im Rahmen des Umfangs der angehängten Ansprüche realisiert werden. Es ist z. B. zu verstehen, dass die vorliegende Erfindung für die Verwendung mit allen Arten von integrierten (IC) Halbleiterbausteinen anwendbar ist. Beispiele dieser IC-Bausteine sind u. a. ohne Eingrenzung Prozessoren, Steuerungen, Chipsatz-Komponenten, Programmable Logic Arrays (PLA), Speicherbausteine, Netzwerkbausteine u. ä.
  • Es ist auch zu verstehen, dass in bestimmten Zeichnungen die Signalleiter durch Linien dargestellt werden. Einige davon können dicker sein, um maßgeblichere Signalwege darzustellen, andere können eine Beschriftung enthalten, um eine Anzahl von dazugehörigen Signalwegen anzuzeigen, und/oder sie können Pfeile an einem oder an mehreren Enden enthalten, um die primäre Flussrichtung der Daten anzuzeigen. Dies soll jedoch in keiner Weise als eingrenzend ausgelegt werden. Solche zusätzlichen Details können in Verbindung mit einem oder mit mehreren exemplarischen Ausführungsformen verwendet werden, um ein besseres Verständnis der Schaltung zu ermöglichen. Alle dargestellten Signalleitungen, ob mit oder ohne zusätzliche Informationen, können eines oder mehrere in mehrere Richtungen abgehende Signale umfassen und können mit jedem geeigneten Signalschema implementiert werden, z. B. können digitale oder analoge Leitungen mit Differential-Paaren, Lichtwellenleitern und/oder asymmetrischen Leitungen implementiert werden.
  • Es ist zu verstehen, dass Größen/Modelle/Werte/Bereiche als Beispiele angegeben werden und keinerlei Eingrenzung der vorliegenden Erfindung darstellen. Mit der Ausreifung von Fertigungstechniken (z. B. Fotolithografie) im Laufe der Zeit ist zu erwarten, dass immer kleinere Geräte hergestellt werden können. Des Weiteren ist es möglich, dass allgemein bekannte Leistungs-/Masseverbindungen mit den IC-Bausteinen und anderen Komponenten in den FIGUREN gezeigt bzw. nicht gezeigt werden, was aus Gründen der Vereinfachung und besseren Darstellung und Erklärung der Erfindung geschieht. Des Weiteren können Anordnungen im Blockdiagrammformat gezeigt werden, um eine klare Darstellung der Erfindung zu ermöglichen, und auch um aufzuzeigen, dass bestimmte Details in Bezug auf die Implementierung solcher Blockdiagrammanordnungen in hohem Maß von der Plattform abhangen, in die die Erfindung implementiert werden soll, d. h., dass die fachkundige Person mit solchen spezifischen Details vertraut sein sollte. Wo spezifische Details (z. B. Schaltungen) angeführt werden, um Ausführungsformen der Erfindung zu beschreiben, sollte eine fachkundige Person erkennen, dass die Erfindung mit oder ohne Variationen dieser spezifischen Details realisiert werden kann. Die Beschreibung ist somit als illustrative Darstellung, jedoch in keiner Weise eingrenzend anzusehen.

Claims (19)

  1. Vorrichtung, die umfasst: eine erste Chiplage, die an eine zweite Chiplage gekoppelt ist; Vias, die durch die zweite Chiplage geführt werden, um Leistungsreferenzen an die erste Chiplage zu liefern, wobei die Through Vias lateral entlang einer ersten Achse neu positioniert sind, ohne die Schaltungsabschnitte in der zweiten Chiplage zu blockieren.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Schaltungsabschnitte der zweiten Chiplage entlang der ersten Achse neu positioniert werden können.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die zweite Chiplage ein Speicherchip ist.
  4. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Vias entlang einer verbundenen Linie ausgerichtet sind, die parallel zur ersten Achse verläuft.
  5. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Schaltungsabschnitte in Abständen in Speicherabschnitte unterteilt und als eine oder mehrere Speicherbänke organisiert sind.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die zweite Chiplage mindestens eine erste, zweite und dritte Metalllinienschicht aufweist, und wobei die erste Metalllinienschicht näher an der Schaltung in der zweiten Chiplage liegt, gefolgt von der zweiten und dritten Metalllinienschicht, wobei die erste Schicht die Kontaktflecken für die Vias bereitstellt, die zweite Schicht gleiche Vias zusammenkoppelt und die dritte Schicht Teile der Schaltungsabschnitte aneinander koppelt.
  7. Vorrichtung nach Anspruch 6, bei der die Linien in der dritten Metallschicht Lücken aufweisen, um Konnektivität für die Durchführung der Through Vias von der zweiten Metallschicht zu ermöglichen.
  8. Vorrichtung nach Anspruch 6, bei der die Linien in der ersten und dritten Schicht in die gleiche Richtung verlaufen und orthogonal auf die Linien in der zweiten Metalllinienschicht ausgerichtet sind.
  9. Vorrichtung nach Anspruch 6, bei der die erste Chiplage durch Abstände getrennte Metalllinienschichten aufweist und wobei die erste und zweite Chiplage so nebeneinander montiert sind, dass die Metalllinienschichten der ersten Chiplage neben denen der zweiten Chiplage liegen.
  10. Chip, der umfasst: ein Substrat mit Schaltungskomponenten; und eine Metallschicht, die mehrere Through Silicon Via(TSV)-Kontaktflecken für die durch das Substrat geführten TSV enthält, wobei die Kontaktflecken entlang Linien vorgesehen sind, die parallel zu den Spuren verlaufen, die für das Aufnehmen der Schaltungskomponenten verwendet werden, wobei die TSV entlang ihrer Linien neu positioniert werden können, ohne die Schaltungselemente zu stören.
  11. Chip nach Anspruch 10, bei dem die Schaltungskomponenten in Speicherbänke organisiert sind.
  12. Chip nach Anspruch 11, bei dem mindestens einige Kontaktflecken an die Metalllinien in einem zweiten Chip gekoppelt sind.
  13. Chip nach Anspruch 11, bei dem die Schaltungskomponenten in Speicherbankabschnitte organisiert sind, die innerhalb einer gegebenen Bank in Abständen angeordnet sind.
  14. Integriertes Schaltungspaket (IC), das umfasst: eine Prozessorchiplage, die in einer gestapelten Konfiguration an eine Speicherchiplage gekoppelt ist, wobei die Speicherchiplage Speicherbänke enthält, die in Abständen angeordnete Speicherbankabschnitte umfasst; Through Silicon Vias (TSV), die durch die Speicherchiplage angeordnet sind, um Leistungsreferenzen an die Prozessor- und Speicherchiplage von außerhalb des integrierten Schaltungspakets zu liefern, wobei die TSV lateral in parallel verlaufenden Spuren neu positioniert werden können, ohne die Speicherbankabschnitte zu blockieren.
  15. IC-Paket nach Anspruch 14, bei dem die Speicherbankabschnitte entlang der Spuren parallel zu den TSV-Spuren neu positioniert werden können.
  16. IC-Paket nach Anspruch 15, bei dem die Speicherchiplage mindestens eine erste, zweite und dritte Metalllinienschicht aufweist, und wobei die erste Metalllinienschicht näher an der Schaltung in der Speicherchiplage liegt, gefolgt von der zweiten und dritten Metalllinienschicht, wobei die erste Schicht die Kontaktflecken für die TSV bereitstellt, die zweite Schicht gleiche TSV zusammenkoppelt und die dritte Schicht Teile der Speicherbankabschnitte aneinander koppelt.
  17. IC-Paket nach Anspruch 16, bei dem die Linien in der dritten Metallschicht Lücken aufweisen, um Konnektivität für die Durchführung einer oder mehrerer Metalllinien in der Prozessorchiplage von der zweiten Metallschicht zu ermöglichen.
  18. IC-Paket nach Anspruch 16, bei dem die Linien in der ersten und dritten Schicht in die gleiche Richtung verlaufen und orthogonal auf die Linien in der zweiten Metalllinienschicht ausgerichtet sind.
  19. IC-Chip nach Anspruch 16, bei dem die Prozessorchiplage in Abständen angeordnete Metalllinienschichten aufweist, und die erste und die zweite Chiplage so nebeneinander montiert sind, dass die Metalllinienschichten der Prozessorchiplage neben denen der Speicherchiplage liegen.
DE102009030524.6A 2008-06-30 2009-06-25 Baugruppe und Verfahren für eine integrierte Schaltung mit mehreren Chips Active DE102009030524B4 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/215,761 2008-06-30
US12/215,761 US8283771B2 (en) 2008-06-30 2008-06-30 Multi-die integrated circuit device and method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102009030524A1 true DE102009030524A1 (de) 2010-01-21
DE102009030524B4 DE102009030524B4 (de) 2022-10-27

Family

ID=41427465

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102009030524.6A Active DE102009030524B4 (de) 2008-06-30 2009-06-25 Baugruppe und Verfahren für eine integrierte Schaltung mit mehreren Chips

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8283771B2 (de)
JP (1) JP5164273B2 (de)
KR (1) KR101073709B1 (de)
CN (1) CN101621055B (de)
DE (1) DE102009030524B4 (de)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11328764B2 (en) 2005-09-26 2022-05-10 Rambus Inc. Memory system topologies including a memory die stack
US7562271B2 (en) 2005-09-26 2009-07-14 Rambus Inc. Memory system topologies including a buffer device and an integrated circuit memory device
KR20100003911A (ko) * 2008-07-02 2010-01-12 삼성전자주식회사 3차원 메쉬 기반 전력분배 네트워크를 갖는 멀티 칩 패키지및 이의 전력분배 방법
US8612809B2 (en) 2009-12-31 2013-12-17 Intel Corporation Systems, methods, and apparatuses for stacked memory
US9287239B2 (en) 2010-04-26 2016-03-15 Rambus Inc. Techniques for interconnecting stacked dies using connection sites
US20120043664A1 (en) 2010-08-23 2012-02-23 International Business Machines Corporation Implementing multiple different types of dies for memory stacking
US9111588B2 (en) 2010-12-14 2015-08-18 Rambus Inc. Multi-die DRAM banks arrangement and wiring
US8352896B2 (en) * 2011-02-28 2013-01-08 Avago Technologies Enterprise IP (Singapore) Pte. Ltd. System and method for distribution analysis of stacked-die integrated circuits
US9666238B2 (en) 2011-05-12 2017-05-30 Rambus Inc. Stacked DRAM device and method of manufacture
US9000577B2 (en) 2011-09-30 2015-04-07 Intel Corporation Interlayer communications for 3D integrated circuit stack
US8669780B2 (en) * 2011-10-31 2014-03-11 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Three dimensional integrated circuit connection structure and method
CN102542096A (zh) * 2011-11-23 2012-07-04 北京工业大学 3d集成电路中tsv的中点定位方法
JPWO2013168354A1 (ja) * 2012-05-10 2016-01-07 パナソニックIpマネジメント株式会社 電源電圧の安定化構造を持つ三次元集積回路、及びその製造方法
KR101932660B1 (ko) * 2012-09-12 2018-12-26 삼성전자 주식회사 Tsv 구조를 구비한 집적회로 소자 및 그 제조 방법
JP6121677B2 (ja) 2012-10-02 2017-04-26 株式会社日立製作所 半導体装置
US9142581B2 (en) * 2012-11-05 2015-09-22 Omnivision Technologies, Inc. Die seal ring for integrated circuit system with stacked device wafers
KR101994930B1 (ko) * 2012-11-05 2019-07-01 삼성전자주식회사 일체형 단위 반도체 칩들을 갖는 반도체 패키지
US8806400B1 (en) * 2013-01-21 2014-08-12 Qualcomm Incorporated System and method of testing through-silicon vias of a semiconductor die
KR102111742B1 (ko) * 2014-01-14 2020-05-15 삼성전자주식회사 적층 반도체 패키지
US11527510B2 (en) * 2017-06-16 2022-12-13 Micron Technology, Inc. Finer grain dynamic random access memory
US11257746B2 (en) * 2017-11-02 2022-02-22 The Regents Of The University Of California Power distribution within silicon interconnect fabric
US10496777B1 (en) * 2017-11-17 2019-12-03 Xilinx, Inc. Physical synthesis for multi-die integrated circuit technology
US10839125B1 (en) 2018-09-24 2020-11-17 Xilinx, Inc. Post-placement and post-routing physical synthesis for multi-die integrated circuits
KR102605616B1 (ko) * 2018-10-05 2023-11-24 에스케이하이닉스 주식회사 Tsv들을 갖는 메모리 스택을 포함하는 반도체 모듈
CN114822609A (zh) 2021-03-11 2022-07-29 台湾积体电路制造股份有限公司 包括硅通孔的存储器宏
DE102021107795A1 (de) 2021-03-11 2022-09-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Speichermakro mit silizium-durchkontaktierung
US11238206B1 (en) 2021-03-26 2022-02-01 Xilinx, Inc. Partition wire assignment for routing multi-partition circuit designs

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5432999A (en) * 1992-08-20 1995-07-18 Capps; David F. Integrated circuit lamination process
US6444576B1 (en) * 2000-06-16 2002-09-03 Chartered Semiconductor Manufacturing, Ltd. Three dimensional IC package module
US6418046B1 (en) * 2001-01-30 2002-07-09 Motorola, Inc. MRAM architecture and system
KR100537892B1 (ko) * 2003-08-26 2005-12-21 삼성전자주식회사 칩 스택 패키지와 그 제조 방법
JP4287294B2 (ja) 2004-01-21 2009-07-01 株式会社東芝 自動設計方法、自動設計装置、及び半導体集積回路
US7453150B1 (en) * 2004-04-01 2008-11-18 Rensselaer Polytechnic Institute Three-dimensional face-to-face integration assembly
JP4421957B2 (ja) * 2004-06-29 2010-02-24 日本電気株式会社 3次元半導体装置
JP4561235B2 (ja) 2004-08-20 2010-10-13 富士通株式会社 半導体装置の設計方法
JP2007036104A (ja) * 2005-07-29 2007-02-08 Nec Electronics Corp 半導体装置およびその製造方法
JP4859513B2 (ja) 2006-04-19 2012-01-25 新光電気工業株式会社 配線設計方法及びその設計装置
KR100871381B1 (ko) * 2007-06-20 2008-12-02 주식회사 하이닉스반도체 관통 실리콘 비아 칩 스택 패키지
US7466028B1 (en) * 2007-10-16 2008-12-16 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Semiconductor contact structure

Also Published As

Publication number Publication date
KR101073709B1 (ko) 2011-10-14
CN101621055A (zh) 2010-01-06
JP2010016377A (ja) 2010-01-21
JP5164273B2 (ja) 2013-03-21
CN101621055B (zh) 2012-07-04
DE102009030524B4 (de) 2022-10-27
US8283771B2 (en) 2012-10-09
KR20100003237A (ko) 2010-01-07
US20090321893A1 (en) 2009-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102009030524B4 (de) Baugruppe und Verfahren für eine integrierte Schaltung mit mehreren Chips
DE19639247B4 (de) Halbleiteranordnung mit einem Verdrahtungssubstrat
DE60208579T2 (de) Mehrchip-verbindungssystem
DE69133311T2 (de) Verbindungssubstrat mit integrierter Schaltung zur programmierbaren Verbindung und Probenuntersuchung
DE102005060081B4 (de) Elektronisches Bauteil mit zumindest einer Leiterplatte und mit einer Mehrzahl gleichartiger Halbleiterbausteine und Verfahren
DE19714470A1 (de) Drahtbondchipverbindung mit hoher Dichte für Multichip-Module
DE3716868A1 (de) Integrierte schaltung mit hohem integrationsgrad
DE102018123837B4 (de) Halbleiterpackage und Halbleitermodul mit demselben
DE102005001856A1 (de) Packungsleiterplatte, Herstellungs- und Spannungsbereitstellungsverfahren
DE102006009561A1 (de) Stapel aus Chips mit einer flexiblen Verbindung
DE112009000351T5 (de) Mikroelektronischer Baustein, der Siliziumpatches für Zwischenverbindungen hoher Dichte enthält, und Verfahren zum Herstellen desselben
DE112008002459T5 (de) Integrierte-Schaltkreis-Bausteine mit hoch-dichten bumpless bild-up layers und einem Substrat mit dichtevermindertem Kern oder einem kernlosen Substrat
DE102020133243A1 (de) Skalierbare und interoperable phy-freie die-zu-die-ea-lösung
DE10154556A1 (de) Gestapelte Halbleiterbauelementestruktur
WO2005091366A2 (de) Halbleitermodul mit einem kopplungssubstrat und verfahren zur herstellung desselben
DE102006011473B4 (de) Mehrchipgehäuse und Verfahren zum Bilden von Mehrchipgehäusen für eine ausgeglichene Leistung
DE10164606B4 (de) Flip-Chip-Halbleitereinrichtung mit außerhalb von Energiezufuhranschlussflächen angeordneten Signalanschlussflächen
DE102016117374A1 (de) Verfahren zur komponentenaufteilung auf system-on-chip und vorrichtung dafür
DE102006008454A1 (de) Kontaktstellenstruktur, Kontaktstellen-Layoutstruktur, Halbleiterbauelement und Kontaktstellen-Layoutverfahren
DE102012220715A1 (de) Gitterebenen mit wechselnden Abständen für mehrschichtige Keramikpackungen
DE112015007235T5 (de) Vertikale isolation durch erdungsebenen von, koaxiale isolation durch erdungsleitungen und impedanzanpassung von durch gehäusevorrichtungen geleiteten horizontalen datensignalübertragungsleitungen
DE102006017947B4 (de) Speicherbaustein, entsprechende Baugruppe sowie entsprechendes Herstellungsverfahren
DE10126610B4 (de) Speichermodul und Verfahren zum Testen eines Halbleiterchips
DE69833720T2 (de) Integrierte Halbleiterschaltung mit On-Chip Kondensatoren
DE4327652C2 (de) Integrierte Halbleiterschaltungsvorrichtung und Verfahren zum Entwerfen einer integrierten Halbleiterschaltungsvorrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication
R002 Refusal decision in examination/registration proceedings
R006 Appeal filed
R008 Case pending at federal patent court
R009 Remittal by federal patent court to dpma for new decision or registration
R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: TAHOE RESEARCH, LTD., IE

Free format text: FORMER OWNER: INTEL CORPORATION, SANTA CLARA, CALIF., US

R082 Change of representative

Representative=s name: DENNEMEYER & ASSOCIATES S.A., DE

R020 Patent grant now final