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Gebiet der
Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Halbleiterspeichervorrichtung;
und insbesondere eine Halbleiterspeichervorrichtung, die mehrfache
matrizeneigene Abschluss-(ODT-)Widerstände zum Optimieren einer Kanalimpedanz
einschließt.
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Beschreibung
des verwandten Sachstandes
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Im
Allgemeinen enthält
eine Halbleiterspeichervorrichtung ein Speicherfeld, das eine Matrix
aufweist, die aus einer Zeilenadresse und einer Spaltenadresse besteht.
Die Halbleiterspeichervorrichtung enthält ferner einen DRAM-Schnittstellenblock,
z.B. eine Logikschaltung, eine Befehlsschnittstelle, eine Adressenschnittstelle
und eine Datenschnittstelle zum Schreiben von Daten in das Speicherfeld
und zum Lesen von Daten aus dem Speicherfeld.
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Die
Halbleiterspeichervorrichtung ist anwendbar auf Vorrichtungen, wie
etwa Tisch- und Laptop-Computer, die eine Speichereinheit erfordern.
In jüngerer
Zeit haben Halbleiterspeichervorrichtungen ihr Anwendungspotential
auf digitale Hausgerätevorrichtungen
erweitert.
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Die
Halbleiterspeichervorrichtung wird gemäß einer Einheitszelle oder
einer Speicherzelle klassifiziert, die das Speicherfeld ausbilden.
Ein dynamischer Schreib-Lese-Speicher (DRAM, Dynamic Random Acess Memory)
ist einer der kommerziell bekanntesten Halbleiterspeichervorrichtungen.
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1 ist ein Blockdiagramm,
das eine DRAM-Vorrichtung gemäß dem verwandten
Sachstand zeigt.
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Wie
gezeigt, beinhaltet die DRAM-Vorrichtung einen Befehlseingabepuffer 10,
einen Adresseneingabepuffer 11, einen ODT-Empfänger 12,
einen Zeilenadressenmultiplexer 13, einen Adressen-Router 14,
einen Befehlsdecoder 15, einen Abschlusswiderstands-(RTT-)Decoder & Modusregistersatz
(MRS) 16, eine Speicherbank 17, einen X-Decoder 18,
einen Y-Decoder 19, ein Eingangs/Ausgangs-(I/O-)Verstärkerfeld 20, ein
Eingangs/Ausgangs-(I/O-)Register 21 und
einen ODT-Block 22.
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Die
obige DRAM-Vorrichtung wird funktionsmäßig klassifiziert in ein DRAM-Kernfeld,
das ein Speicherzellenfeld, einen peripheren Logikblock zum Durchführen eines
Datenzugriffs und zum Bereitstellen von Steuersignalen und einen
DRAM-Schnittstellenblock zum Übertragen
der Daten, einer Adresse und der Steuersignale beinhaltet.
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Hierin
kann das DRAM-Kernfeld Daten an einen vorbestimmten Ort im Ansprechen
auf eine Zufallsadresse schreiben und Daten aus dieser auslesen.
Der DRAM-Schnittstellenblock, wie etwa der Befehlseingabepuffer 10 und
der Adresseneingabepuffer 11, stellt eine Information einer
Lese- und Schreibzeitgebung und eines Datenorts bereit. Zusätzlich stellt
ein Daten-Eingabe/Ausgabe-(I/O-)Puffer, der als einer der DRAM-Schnittstellenblöcke arbeitet,
einen Datenübertragungspfad
bereit, wenn die Daten in ein ausgewähltes Speicherzellenfeld geschrieben
werden oder wenn die Daten aus dem ausgewählten Speicherzellenfeld gelesen
werden.
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Dabei
enthält
die DRAM-Vorrichtung das DRAM-Kernfeld, das das Speicherzellenfeld
beinhaltet. Jede Speicherzelle weist einen Transistor und einen
Kondensator auf. Dementsprechend führt die DRAM-Vorrichtung periodisch
einen Wiederauffrischungsbetrieb durch, weil Daten nach einer vorbestimmten
Zeit nach einem Schreiben der Daten zerstört werden. Trotz der obigen
Schwäche
wird die DRAM-Vorrichtung weit verbreitet als eine Halbleiterspeichervorrichtung
verwendet, weil die DRAM-Vorrichtung
mit relativ geringen Abmessungen und niedrigen Kosten implementiert
werden kann.
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Ferner
schließt
die DRAM-Vorrichtung eine Mehrzahl von Logikschaltungen, wie etwa
verschiedene Decoder, Zähler
und Kombinationen davon ein. Obwohl die Speicherzelle zum Speichern
von Daten in der DRAM-Vorrichtung das wichtigste Element ist, sind
die obigen Logikschaltungen auch zum Durchführen des Speicherbetriebs erforderlich.
Ferner werden die mehrfachen Logikschaltungen gemäß einer
Funktion, die von der DRAM-Vorrichtung benötigt wird, kombiniert und implementiert.
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Zusätzlich wird
der DRAM-Schnittstellenblock als der Datenübertragungspfad betrieben,
der einen Befehl, eine Adresse und Daten überträgt, um so die Daten in die
DRAM-Vorrichtung zu schreiben oder die Daten aus der DRAM-Vorrichtung
zu lesen.
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Im
Allgemeinen weist der DRAM-Schnittstellenblock einen Ausgangspuffer,
wie etwa einen Treiber und einen Sendeempfänger, und einen Eingangspuffer,
wie etwa einen Bus und einen Empfänger aus. In dem DRAM-Schnittstellenblock
wird eine Übertragungsrate
zwischen Daten oder zwischen anderen Signalen als eine Betriebsfrequenz
dargestellt; und eine Kapazität
der übertragenen
Daten wird als eine Bandbreite durch ein Konvertieren der Kapazität in eine
Zeiteinheit dargestellt. In dem DRAM-Schnittstellenblock ist es
wichtig, die Daten mit einer Sicherheit schnell zu übertragen.
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2 ist ein Zeitgebungsdiagramm,
das einen Betrieb einer Halbleiterspeichervorrichtung des verwandten
Sachstands beschreibt.
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Wie
gezeigt, ermöglicht
es die Halbleiterspeichervorrichtung des verwandten Sachstandes,
dass ein ODT-Steuersignal ODT auf der Grundlage eines vorbestimmten
Codes, z.B. eines Adressensignals ADD, durch einen Modusregistersatz
(MRS) eingestellt wird. Dementsprechend wird eine feste Impedanz
eines ODT-Widerstands über ein
Ausgangsdatenkissen DQ eingestellt, während das ODT-Steuersignal
ODT freigegeben wird.
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Unterdessen
schließt
die Halbleiterspeichervorrichtung nur einen ODT-Widerstand, der
von einer ODT-Vorrichtung bereitgestellt wird, während eines Übertragens
von Daten ein. Dementsprechend wird eine feste Impedanz des ODT-Widerstands
ungeachtet der Anzahl von Speicherzellen bereitgestellt, die einem
Kanal zugeordnet sind. Folglich ist es schwierig, eine Effizienz
eines übertragenen
Signals zu optimieren.
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Zusammenfassung
der Erfindung
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Es
ist deswegen eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine matrizeneigene
Abschluss-(ODT-)Steuervorrichtung bereitzustellen, die mehrfache
matrizeneigene Abschluss-(ODT-)Widerstände zum Optimieren einer Kanalimpedanz
aufweist, indem ein unabhängiger
ODT-Widerstand jeder einer Mehrzahl von Speicherbänken während eines
Lese- oder Schreibbetriebs zugeordnet wird.
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In Übereinstimmung
mit der vorliegenden Erfindung ist eine Halbleiterspeichervorrichtung
bereitgestellt, welche einschließt: einen Code-Kanal zum Ausgeben
einer Mehrzahl von Code-Signalen auf der Grundlage eines Code-Steuersignals,
das aus einer externen Quelle eingegeben wird; einen Abschlusswi derstandsdecoder
zum Decodieren eines Chip-Auswahlsignals, eines matrizeneigenen
Abschluss-(ODT-)Steuersignals und der Mehrzahl von Code-Signalen
und zum Ausgeben einer Mehrzahl von Auswahlsignalen auf der Grundlage
decodierter Signale; und einen ODT-Block, der ein Ausgangsdatenkissen
mit einer Impedanz eines Abschlusswiderstands versieht, die im Ansprechen
auf die Mehrzahl von Auswahlsignalen ausgewählt ist.
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In Übereinstimmung
mit einem Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Halbleiterspeichervorrichtung
bereitgestellt, welche einschließt: eine Mehrzahl von Speicherbänken zum
Steuern eines Lese-/Schreibbetriebs von Daten in Speicherzellen;
einen Code-Kanal zum Ausgeben einer Mehrzahl von Code-Signalen auf
der Grundlage eines Code-Steuersignals, das aus einer externen Quelle
eingegeben wird; einen Befehlseingangspuffer zum Puffern eines Chip-Auswahlsignals
und zum Ausgeben eines gepufferten Signals; einen matrizeneigenen
Abschluss-(ODT-)Empfänger
zum Empfangen eines ODT-Steuersignals und zum Ausgeben eines empfangenen
Signals; einen Abschlusswiderstandsdecoder zum Decodieren des gepufferten
Signals aus dem Befehlseingabepuffer, des empfangenen Signals aus
dem ODT-Empfänger
und der Mehrzahl von Code-Signalen und zum Ausgeben einer Mehrzahl
von Auswahlsignalen auf der Grundlage decodierter Signale; und einen
ODT-Block zum Versehen eines Ausgangsdatenkissens mit einer Impedanz
eines Abschlusswiderstands, der im Ansprechen auf die Mehrzahl von
Auswahlsignalen ausgewählt
ist.
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In Übereinstimmung
mit einem Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Halbleiterspeichervorrichtung
bereitgestellt, welche einschließt: eine Mehrzahl von Speichermodulen,
die mit einem Datenkanal verbunden sind; und eine Mehrzahl von Rängen, die
mit einer Mehrzahl von Speichermodulen verbunden sind und eine logische
Speicherbetriebseinheit oder eine physikalische Speicherbetriebseinheit
aufweisen, wobei die Mehrzahl von Rängen eine Abschlusswiderstands-Steuereinheit
zum Zuordnen einer unterschiedlichen Impedanz eines Abschlusswiderstands
zu der Mehrzahl von Reihen während
Lese- und Schreibbetriebsschritten der Mehrzahl von Speichermodulen
einschließen,
gemäß einer
Kombination eines Chip-Auswahlsignals, eines matrizeneigenen Abschluss-(ODT-)Steuersignals
und eines Code-Steuersignals.
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Kurze Beschreibung
der Zeichnungen
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Die
obigen und anderen Aufgaben und Merkmale der vorliegenden Erfindung
werden aus der folgenden Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen,
die in Verbindung mit den zugehörigen
Zeichnungen genommen werden, offensichtlich werden. In den Zeichnungen
zeigen:
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1 ein
Blockdiagramm, das eine DRAM-Vorrichtung des verwandten Sachstandes
zeigt;
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2 ein
Zeitgebungsdiagramm, das einen Betrieb einer Halbleiterspeichervorrichtung
des verwandten Sachstandes beschreibt;
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3 ein
Blockdiagramm, das eine Halbleiterspeichervorrichtung in Übereinstimmung
mit einer Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt;
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4 ein
detailliertes Schaltungsdiagramm, das einen Befehlseingabepuffer,
einen matrizeneigenen Abschluss-(ODT-) Empfänger und einen Abschlusswiderstands-(RTT-)Decoder & Modusregistersatz
(MRS), der in 3 gezeigt ist, veranschaulicht;
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5 ein
detailliertes Schaltungsdiagramm, das einen Code-Kanal, der in 3 gezeigt
ist, veranschaulicht;
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6 ein
detailliertes Schaltungsdiagramm, das einen ODT-Block und ein Eingangs-/Ausgangsregister,
die in 3 gezeigt sind, veranschaulicht;
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7 ein
detailliertes Schaltungsdiagramm, das einen Empfänger des Eingangs-/Ausgangsregisters, der
in 6 gezeigt ist, veranschaulicht;
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8 ein
detailliertes Schaltungsdiagramm, das eine Verriegelungseinheit,
die in den 4 bis 5 gezeigt
ist, veranschaulicht;
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9 ein
Zeitgebungsdiagramm, das einen Betrieb der in den 3 bis 8 gezeigten
Halbleiterspeichervorrichtung beschreibt; und
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10 ein
Diagramm, das einen Betrieb einer Halbleiterspeichervorrichtung
in Übereinstimmung
mit einer Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht.
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Detaillierte
Beschreibung der Erfindung
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Nachstehend
wird eine Halbleiterspeichervorrichtung in Übereinstimmung mit der vorliegenden
Erfindung im Detail unter Bezugnahme auf die zugehörigen Zeichnungen
beschrieben werden.
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3 ist
ein Blockdiagramm, das eine Halbleiterspeichervorrichtung in Übereinstimmung
mit einer Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt.
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Wie
gezeigt, schließt
die Halbleiterspeichervorrichtung in Übereinstimmung mit der Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung einen Befehlseingabepuffer 100,
einen Adresseingabepuffer 110, einen ODT-Empfänger 120,
einen Code-Kanal 130, einen Zeilenadress-Multiplexer 140,
einen Adress-Router 150, einen Befehlsdecoder 160,
ein Abschlusswiderstand-(RTT-)Decoder & Register 170, eine Speicherbank 180,
einen X-Decoder 190, einen Y-Decoder 200, ein
Eingangs/Ausgangs-(I/O-)Verstärkerfeld 210,
ein Eingangs/Ausgangs-(I/O-)Register 220 und einen ODT-Block 230 ein.
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Der
Befehlseingabepuffer 100 empfängt und puffert ein Befehlssignal
CMD, wie etwa ein Zeilenadressabtast-(RAS-)Signal/RAS, ein Spaltenadressabtast-(CAS-)Signal/CAS,
ein Schreibfreigabesignal/WE und ein Chip-Auswahlsignal/CS, um das
gepufferte Signal in den Befehlsdecoder 160 und das RTT-Decoder & Register 170 auszugeben.
Hierin bezeichnet '/' des RAS-Signals/RAS,
des CAS-Signals/CAS, des Schreibfreigabesignals/WE und des Chip-Auswahlsignals/CS
ein negatives aktives Signal, d.h. eines, das mit einem logischen
Pegel "NIEDRIG" aktiviert wird.
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Der
Adresseingabepuffer 110 empfängt und puffert ein Adresssignal
ADD und ein Bankauswahlsignal BS, um das gepufferte Signal zum dem
Adress-Router 150 auszugeben.
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Der
ODT-Empfänger 120 empfängt ein
ODT-Steuersignal ODT, um das empfangene Signal zu dem RTT-Decoder & Register 170 auszugeben.
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Der
Code-Kanal 130 empfängt
ein Code-Steuersignal RC, um das empfangene Signal zu dem RTT-Decoder & Register 170 auszugeben.
Hierin dient das Code-Steuersignal RC einem Auswählen von einem einer Mehrzahl
von ODT-Widerständen.
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Der
Adress-Router 150 empfängt
Ausgaben, die aus dem Adresseingabepuffer 110 und dem Befehlsdecoder 160 ausgegeben
werden, um eine Spaltenadresse CADD zu dem Y-Decoder 200 und
eine Zeilenadresse RADD zu dem Zeilenadress-Multiplexer 140 auszugeben.
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Der
Zeilenadress-Multiplexer 140 empfängt und multiplexiert die Zeilenadresse
RADD, um das multiplexierte Signal zu dem X-Decoder 190 auszugeben.
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Der
Befehlsdecoder 160 decodiert einen Ausgang des Befehlseingabepuffers 100,
um das decodierte Signal zu dem Adress-Router 150 auszugeben.
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Das
RTT-Decoder & Register 170 empfängt und
decodiert Ausgänge
des Befehlseingabepuffers 100, des ODT-Empfängers 120 und
des Code-Kanals 130, um die decodierten Signale als erste
bis vierte Auswahlsignale S0 bis S3 zu dem ODT-Block 230 auszugeben.
Hierin speichert ein Register, das in dem RTT-Decoder & Register 170 bereitgestellt
ist, die ersten bis vierten Auswahlsignale S0 bis S3 oder ein Decodiersignal,
das von dem RTT-Decoder zum Auswählen
eines gewünschten
ODT-Widerstands ausgegeben wird.
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Das
I/O-Verstärkerfeld 210 verstärkt Daten,
die aus der entsprechenden Speicherbank 180 ausgegeben
werden, um das verstärkte
Signal zu dem I/O-Register 220 auszugeben.
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Der
ODT-Block 230 steuert eine Impedanz des ODT-Widerstands,
um die gesteuerte Impedanz zu einem Eingabe/Ausgabe-(I/O-)Bus auf
der Grundlage der ersten bis vierten Auswahlsignale S0 bis S3 auszugeben,
die aus dem RTT-Decoder & Register 170 ausgegeben
werden.
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4 ist
ein detailliertes Schaltungsdiagramm, das den Befehlseingabepuffer 100,
den ODT-Empfänger 120 und
das RTT- Decoder & Register 170 veranschaulicht,
die in 3 gezeigt sind.
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Wie
gezeigt, weist der Befehlseingabepuffer 100 eine erste
Verstärkereinheit
A1, erste und zweite Inverter IV1 und IV2 und eine erste Catch 101 auf.
Hierbei vergleicht die erste Verstärkereinheit A1 eine Quellenspannung
mit dem Chip-Auswahlsignal/CS
und verstärkt
das Vergleichsergebnis. Die ersten und zweiten Inverter IV1 und
IV2 verzögern
einen Ausgang der ersten Verstärkereinheit
A1 ohne ein Invertieren. Die erste Verriegelungseinheit 101 verriegelt
einen Ausgang des zweiten Invertierers IV2 für eine vorbestimmte Zeit, um das
verriegelte Signal zu dem RTT-Decoder & Register 170 auszugeben.
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Der
ODT-Empfänger 120 schließt eine
zweite Verstärkereinheit
A2, dritte und vierte Invertierer IV3 und IV4 und eine zweite Verriegelungseinheit 121 ein.
Hierin vergleicht die zweite Verstärkereinheit A2 die Quellenspannung
mit dem ODT-Steuersignal ODT und verstärkt das Vergleichsergebnis.
Die dritten und vierten Invertierer IV3 und IV4 verzögern einen
Ausgang der zweiten Verstärkereinheit
A2 ohne ein Invertieren. Die zweite Catch- bzw. Verriegelungseinheit 121 verriegelt
einen Ausgang des vierten Invertierers IV4 um eine vorbestimmte
Zeit, um das verriegelte Signal zu dem RTT-Decoder & Register 170 auszugeben.
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Das
RTT-Decoder & Register 170 schließt eine
Mehrzahl von Invertierern IV5 bis IV10 und eine Mehrzahl von NAND-Gattern
ND1 bis ND5 ein. Hierin invertiert ein fünfter Verstärker IV5 einen Ausgang der
ersten Verriegelungseinheit 101. Ein erstes NAND-Gatter
ND1 führt
einen NAND-Betrieb von Ausgängen
des fünften Invertierers
IV5 und der zweiten Verriegelungseinheit 121 aus. Ein sechster
Invertierer IV6 invertiert einen Ausgang des ersten NAND-Gatters
ND1.
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Ein
zweites NAND-Gatter ND2 führt
einen NAND-Betrieb der ersten und zweiten Code-Schienensignale/iRC0
und/iRC1 und eines Ausgangs des sechsten Invertierers IV6 durch,
um ein erstes Auswahlschienensignal/S0 auszugeben. Ein drittes NAND-Gatter
ND3 führt
einen NAND-Betrieb eines ersten Code-Signals iRC0, des zweiten Code-Schienensignals/iRC1
und des Ausgangs des sechsten Invertierers IV6 aus, um ein zweites
Auswahlschienensignal/S1 auszugeben. Ein viertes NAND-Gatter ND4
führt einen
NAND-Betrieb des ersten Code-Schienensignals/IRC0, eines zweiten
Code-Signals/IRC1 und des Ausgangs des sechsten Invertierers IV6
durch, um ein drittes Auswahlschienensignal/S2 auszugeben. Ein fünftes NAND-Gatter
ND5 führt einen
NAND-Betrieb der
ersten und zweiten Code-Signale/iRC0 und/iRC1 und des Ausgangs des
sechsten Invertierers IV6 durch, um ein viertes Auswahlschienensignal/S3
auszugeben.
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Zusätzlich invertiert
ein siebter Invertierer IV7 das erste Auswahlschienensignal/S0,
um das erste Auswahlsignal S0 auszugeben. Ein achter Invertierer
IV8 invertiert das zweite Auswahlschienensignal/S1, um das zweite
Auswahlsignal S1 auszugeben. Ein neunter Invertierer IV9 invertiert
das dritte Auswahlschienensignal/s2, um das dritte Auswahlsignal
S2 auszugeben. Ein zehnter Invertierer IV10 invertiert das vierte
Auswahlschienensignal/S3, um das vierte Auswahlsignal S3 auszugeben.
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5 ist
ein detailliertes Schaltungsdiagramm, das den in 3 gezeigten
Code-Kanal 130 veranschaulicht.
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Wie
gezeigt, schließt
der Code-Kanal 130 erste und zweite Verstärkereinheiten
A3 und A4, erste und zweite Verriegelungsein heiten 131 und 132 und
eine Mehrzahl von Invertierern IV11 bis IV14 ein.
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Hierin
vergleicht die erste Verstärkereinheit
A3 die Quellenspannung mit einem ersten Code-Steuersignal RC0 und
verstärkt
das Vergleichsergebnis. Die erste Verriegelungseinheit 131 verriegelt
einen Ausgang der ersten Verstärkereinheit
A3 für
eine vorbestimmte Zeit. Ein erster Invertierer IV11 invertiert einen
Ausgang der ersten Verriegelungseinheit 131, um das invertierte
Signal als das erste Code-Signal iRC0 auszugeben. Ein zweiter Invertierer
IV12 invertiert das erste Code-Signal iRC0, um das invertierte Signal
als das erste Code-Schienensignal/iRC0 auszugeben.
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Zusätzlich vergleicht
die zweite Verstärkereinheit
A4 die Quellenspannung mit einem zweiten Code-Steuersignal RC1 und
verstärkt
das Vergleichsergebnis. Die zweite Verriegelungseinheit 132 verriegelt
einen Ausgang der zweiten Verstärkereinheit
A4 für
eine vorbestimmte Zeit. Ein dritter Invertierer IV13 invertiert einen
Ausgang der zweiten Verriegelungseinheit 132, um das invertierte
Signal als das Code-Signal iRC1 auszugeben. Ein vierter Invertierer
IV14 invertiert das zweite Code-Signal iRC1, um das invertierte
Signal als das zweite Code-Schienensignal/iRC1 auszugeben.
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6 ist
ein detailliertes Schaltungsdiagramm, das den ODT-Block 230 und
das I/O-Register 220, die in 3 gezeigt
sind, veranschaulicht.
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Wie
gezeigt, schließt
der ODT-Block 230 eine Mehrzahl von PMOS-Transistoren P1
bis P4, eine Mehrzahl von NMOS-Transistoren N1 bis N4 und eine Mehrzahl
von Widerständen
R1 bis R8 ein.
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Hierin
sind ein erster PMOS-Transistor P1, erste und zweite Widerstände R1 und
R2 und ein erster NMOS-Transistor N1 in Reihe zwischen dem Quellenspannungsanschluss
VDDQ und einem Massespannungsanschluss VSSQ verbunden. Das erste
Auswahlschienensignal/S0 wird an ein Gatter des ersten PMOS-Transistors
P1 angelegt, und das erste Auswahlsignal S0 wird an ein Gatter des
ersten NMOS-Transistors N1 angelegt.
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Gleichermaßen sind
ein zweiter PMOS-Transistor P2, dritte und vierte Widerstände R3 und
R4 und ein zweiter NMOS-Transistor N2 in Reihe zwischen dem Quellenspannungsanschluss
VDDQ und dem Massespannungsanschluss VSSQ verbunden. Das zweite
Auswahlschienensignal/S1 wird an ein Gatter des zweiten PMOS-Transistors P2 angelegt,
und das zweite Auswahlsignal S1 wird an ein Gatter des zweiten NMOS-Transistors
N2 angelegt.
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Ein
dritter PMOS-Transistor P3, fünfte
und sechste Widerstände
R5 und R6 und ein dritter NMOS-Transistor N3 sind in Reihe zwischen
dem Quellenspannungsanschluss VDDQ und dem Massespannungsanschluss
VSSQ verbunden. Das dritte Auswahlschienensignal/S2 wird an ein
Gatter des dritten PMOS-Transistors P3 angelegt, und das dritte
Auswahlsignal S2 wird an ein Gatter des dritten NMOS-Transistors
N3 angelegt.
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Ein
vierter PMOS-Transistor P4, siebte und achte Widerstände R7 und
R8 und ein vierter NMOS-Transistor N4 sind in Reihe zwischen dem
Quellenspannungsanschluss VDDQ und dem Massespannungsanschluss VSSQ
verbunden. Das vierte Auswahlschienensignal/S3 wird an ein Gatter
des vierten PMOS-Transistors P4 angelegt, und das vierte Auswahlsignal
S3 wird an ein Gatter des vierten NMOS-Transistors N4 angelegt.
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Das
I/O-Register 220 schließt erste und zweite Empfänger B1
und B2 ein. Hierein empfängt
der erste Empfänger
B1 ein Sig nal, das an ein Ausgangsdatenkissen DQ angelegt ist, über den
I/O-Bus auf der Grundlage einer Referenzspannung VREF, um das empfangene
Signal zu einem Kern, d.h. dem I/O-Verstärkerfeld 210 auszugeben.
Der zweite Empfänger
B3 empfängt
und puffert ein Signal, das von dem Kern angelegt ist, um das gepufferte
Signal zu dem Ausgangsdatenkissen DQ über den I/O-Bus auszugeben.
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7 ist
ein detailliertes Schaltungsdiagramm, das den ersten Empfänger B1
des I/O-Registers, das in 6 gezeigt
ist, veranschaulicht.
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Wie
gezeigt, schließt
der erste Empfänger
B1 eine Mehrzahl von PMOS-Transistoren P5 bis P8, eine Mehrzahl
von NMOS-Transistoren N5 bis N7 und einen Invertierer IV15 ein.
Dementsprechend bildet der erste Empfänger B1 einen Differenzverstärker, der
die Referenzspannung VREF mit einem Eingangssignal IN auf der Grundlage
eines Schaltsignals SW vergleicht.
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Im
Detail sind die Sources erster bis vierter PMOS-Transistoren P5
bis P8 gemeinsam zum Empfangen der Quellenspannung; jedes Gate der
zweiten und dritten PMOS-Transistoren P6 und P7 ist verbunden; und
jedes Gate der ersten und vierten PMOS-Transistoren P5 und P8 empfängt das
Schaltsignal SW.
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Ein
Gate eines ersten NMOS-Transistors N5 empfängt die Referenzspannung VREF,
und ein Gate eines zweiten NMOS-Transistors N6 empfängt das
Eingangssignal IN. Hierin sind Drains der ersten und zweiten PMOS-Transistoren
P5 und P6 mit einem Drain des ersten NMOS-Transistors N5 verbunden;
und Drains der dritten und vierten PMOS-Transistoren P7 und P8 sind
mit einem Drain des zweiten NMOS-Transistors N6 verbunden.
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Der
Invertierer IV15 invertiert ein Signal, das an das Drain des zweiten
NMOS-Transistors N6 angelegt ist, um das invertierte Signal als
ein Ausgangssignal OUT auszugeben.
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Der
dritte NMOS-Transistor N7, der zwischen der Massespannung und Sources
der ersten und zweiten NMOS-Transistoren N5 und N6 verbunden ist,
schließt
ein Gate zum Empfangen des Schaltsignals SW ein.
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8 ist
ein detailliertes Schaltungsdiagramm, das die erste Verriegelungseinheit 101 des
Befehlseingabepuffers 100 veranschaulicht, der in den 4 bis 5 gezeigt
ist.
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Hierin
weist jede der zweiten Verriegelungseinheit 121 des ODT-Empfängers 120 und
der ersten und zweiten Verriegelungseinheiten 131 und 132 des
Code-Kanals 130 den gleichen Schaltungsaufbau wie die erste
Verriegelungseinheit 101 des Befehlseingabepuffers 100 auf,
und somit wird die erste Verriegelungseinheit 101 als ein
beispielhafter Aufbau beschrieben werden.
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Wie
gezeigt, schließt
die erste Verriegelungseinheit 101 eine Mehrzahl von Invertierern
IV16 bis IV23 und erste und zweite Transfer-Gatter T1 und T2 ein.
Dementsprechend verriegelt die erste Verriegelungseinheit 101 ein
Eingangssignal EINGANG gemäß einem
Schaltbetrieb der ersten und zweiten Transfer-Gatter T1 und T2 im
Ansprechen auf einen internen Takt ICLK, um das verriegelte Signal
als ein Ausgangssignal AUSGANG auszugeben.
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Nachstehend
wird unter Bezugnahme auf 9 ein Betrieb
für die
Halbleiterspeichervorrichtung der vorliegenden Erfindung beschrieben
werden.
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9 ist
ein Zeitgebungsdiagramm, das einen Betrieb der Halbleiterspeichervorrichtung,
die in den 3 bis 8 gezeigt
ist, beschreibt.
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Wie
gezeigt, empfängt
das RTT-Decoder & Register 170 die
Ausgänge
des Befehlseingabepuffers 100, des ODT-Empfängers 120 und
des Code-Kanals 130 und decodiert diese, um die ersten
bis vierten Auswahlsignale S0 bis S3 zum Auswählen der Impedanz des ODT-Widerstands
auszugeben.
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Das
Code-Steuersignal RC, das in den Code-Kanal 130 eingegeben
wird, kann ein einzelnes Bit, ein Paar von Bits oder eine Mehrzahl
von Bits einschließen;
und einen Punkt einer vorbestimmten Verzögerungszeit größer als
ein halber Takt aufweisen, wenn es eingegeben wird.
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In Übereinstimmung
mit der bevorzugten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung wird angenommen, dass die ersten bis
vierten Auswahlsignale S0 bis S3 vorhanden sind; und somit weist
das Code-Steuersignal RC vier Bits auf, um so den ODT-Widerstand in Übereinstimmung
mit sechzehn Fällen
einzustellen.
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Tabelle
1 unten stehend zeigt beispielhafte Impedanzen der ODT-Widerstände gemäß dem Code-Steuersignal
RC.
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Unter
Bezugnahme auf die Tabelle 1 decodiert, wenn das Code-Steuersignal RC mit
einem Wert von "1" eingegeben wird,
das RTT-Decoder & Register 170 das
Code-Steuersignal RC, um das erste Auswahlsignal S0 als ein Wert
von "1" und die zweiten
bis vierten Auswahlsignale S1 bis S3 als Werte von "0" auszugeben. Dementsprechend werden
der erste PMOS-Transistor P1 und der erste NMOS-Transistor N1 unter
der Mehrzahl der Transistoren, die in dem ODT-Block bereitgestellt
sind, eingeschaltet. Folglich wird die Impedanz des ODT-Widerstands
auf einen Wert von "30 Ω" gemäß einem
Teilungsverhältnis
der ersten und zweiten Widerstände
R1 und R2 eingestellt.
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Dementsprechend
wird, wie in 9 gezeigt, wenn das Code-Steuersignal RC zum
Setzen einer gewünschten
Impedanz des ODT-Widerstands
der DRAM-Vorrichtung geändert
wird, während
das ODT-Steuersignal ODT aktiviert ist, die Impedanz des ODT-Widerstands, der
in dem Ausgangsdatenkissen DQ bereitgestellt ist, im Ansprechen
auf das Code-Steuersignal RC eingestellt. D.h., dass die Impedanz
des ODT-Widerstands kontinuierlich den gleichen Impedanzwert aufrechterhält, wenn
das Code-Steuersignal RC nicht geändert wird.
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Während die
bevorzugte Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung erläutert
hat, dass das Code-Steuersignal RC geändert wird, während das
ODT-Steuersignal ODT aktiviert ist, ist es möglich, dass das Code-Steuersignal
RC geändert
wird, wenn eine Phase des ODT-Steuersignals ODT geändert wird.
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10 ist
ein Diagramm, das einen Betrieb einer Halbleiterspeichervorrichtung
in Übereinstimmung mit
einer Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht.
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Wie
gezeigt, ist es, wenn die Anzahl von Sockeln zwei ist, möglich, die
ersten und zweiten Speichermodule M1 und M2 auf einem einzelnen
Speicherkanal CH anzubringen. Zu dieser Zeit teilen die ersten und zweiten
Speichermodule M1 und M2 den Speicherkanal CH physikalisch.
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Das
erste Speichermodul M1 schließt
erste und zweite Ränge
RANG0 und RANG1 ein, die physikalisch und logisch geteilt sind;
das zweite Speichermodul M2 schließt dritte und vierte Ränge RANG2
und RANG3 ein, die physikalisch und logisch geteilt sind. Dementsprechend
ist es in Übereinstimmung
mit dieser Ausführungsform
der beanspruchten Erfindung möglich,
eine Vergrößerung durch
ein Anbringen der ersten bis vierten Ränge RANG0 bis RANG3 an den
ersten und zweiten Speichermodulen M1 und M2 zu erhalten.
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Jeder
der ersten bis vierten Ränge
RANG0 bis RANG3 bezeichnet eine logische Speicherbetriebseinheit
und schließt
eine Mehrzahl von unabhängigen
ODT-Steuersignalen/ODT0 bis/ODT3 ein. Zusätzlich wird jeder der ersten
bis vierten Ränge
RANG0 bis RANG3 von einer Mehrzahl unabhängiger Chip-Auswahlsignale/CS0
bis/CS3 zum logischen Teilen der Mehrzahl der Ränge betrieben; und weist eine
unterschiedliche Impedanz des ODT-Widerstands während eines Lese- und Schreibbetriebs
auf.
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Mit
anderen Worten, jeder der ersten bis vierten Ränge RANG0 bis RANG3 in der
Halbleiterspeichervorrichtung, der auf der Grundlage der Chip-Auswahlsignale/CS0
bis/CS3 ausgewählt
ist, steuert den ODT-Widerstand im Ansprechen auf die entsprechenden
ODT-Steuersignale/ODT0 bis/ODT3. Ferner ist in Über einstimmung mit dieser Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung das Code-Steuersignal RC zum Auswählen eines
der ODT-Widerstände erforderlich.
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Deswegen
sind die erforderlichen Signale zum Auswählen und Steuern der Impedanz
der mehrfachen ODT-Widerstände
das entsprechende ODT-Steuersignal, das Code-Steuersignal RC und
das Chip-Auswahlsignal CS.
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Zusätzlich teilen
die ersten bis vierten Ränge
RANG0 bis RANG3 exklusiv ein Taktsignal CLK, ein Befehlssignal CMD,
ein Adresssignal ADD, einen Kanal des Ausgangsdatenkissens DQ und
das Datenabtastsignal DQS.
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Wenn
ein Speicher-Controller CON Daten aus einem DRAM des ersten Rangs
RANG0 liest, legt der Speicher-Controller CON das zweite ODT-Steuersignal/ODT1
mit einem logischen Pegel "HOCH" an, um so einen
DRAM des zweiten Tangs RANG1 zu deaktivieren. Während dieser Zeit bildet der
DRAM des zweiten Rangs RANG1 den ODT-Widerstand auf einem Datenbus,
der mit dem ersten Rang RANG0 geteilt wird.
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D.h.,
dass dann, wenn ein beliebiger Rang in dem Speichersystem, das aus
der Mehrzahl von Rängen besteht,
d.h. dem RANG0 bis RANG3, die Impedanz des ODT-Widerstands einstellt,
jeder der anderen Ränge gleichzeitig
seine eigene Impedanz des ODT-Widerstands
einstellen kann. Hierin kann in einem vorbestimmten Rang eine Impedanz
des ODT-Widerstands während
eines Lesebetriebs als ein unterschiedlicher Wert gegenüber einer
Impedanz des ODT-Widerstands während
eines Schreibbetriebs eingestellt werden.
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Dementsprechend
kann, weil jeder der ersten bis vierten Ränge RANG0 bis RANG3 eine unterschiedliche
Impedanz des ODT-Wider stands einstellen kann, die Impedanz des ODT-Widerstands
hinsichtlich eines Datenkanals auf verschiedene Werte während Daten-Eingabe/Ausgabe-Betriebsschritten
optimiert werden.
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Hierin
kann ein Punkt zum Ändern
der Impedanz des ODT-Widerstands vor einem Punkt eines Schreibbetriebs
eines entsprechenden Speicherrangs oder vor einem Punkt eines Lesebetriebs
eines anderen Speicherrangs sein. Ferner ist es möglich, dass
der Punkt zum Ändern
der Impedanz des ODT-Widerstands der gleiche wie ein Punkt zum Schalten
von dem Schreibbetrieb in den Lesebetrieb ist.
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Wie
oben beschrieben, schließt
die vorliegende Erfindung mehrfache matrizeneigene Abschluss-(ODT-)Widerstände zum
Optimieren einer Kanalimpedanz durch ein Zuordnen eines unabhängigen ODT-Widerstands
zu jeder einer Mehrzahl von Speicherbänken oder Speichermodulen während eines
Lese- oder Schreibbetriebs ein.
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Die
vorliegende Erfindung enthält
Gegenstände,
die die koreanischen Patentanmeldungen Nr. 2005-90935 & 2005-134194,
eingereicht beim Koreanischen Patentamt am 29. September 2005 & am 29. Dezember
2005, betreffen, wobei der gesamte Inhalt davon hierin unter Bezugnahme
eingeschlossen ist.
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Während die
vorliegende Erfindung hinsichtlich bestimmter Ausführungsformen
beschrieben worden ist, wird es für Fachleute offensichtlich
sein, dass verschiedene Änderungen
und Modifikationen ausgeführt werden
können,
ohne von dem Grundgedanken und Umfang der Erfindung, wie sie in
den folgenden Ansprüchen
definiert sind, abzuweichen.