DE102004039178B4 - Speichersteuerschaltung, Smartcard und Lesesteuerverfahren - Google Patents

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Abstract

Speichersteuerschaltung zum Steuern eines Lesevorgangs und/oder eines Schreibvorgangs in einem Speicher (120), mit – einer zentralen Prozessoreinheit (111) zum Ausgeben eines Lesebefehlssignals in Reaktion auf ein Datenleseanforderungssignal und/oder zum Ausgeben eines Schreibbefehlssignals in Reaktion auf ein Datenschreibanforderungssignal, – einer Speicherschnittstelle (112) zum Ausgeben eines oder mehrerer Steuersignale in Reaktion auf das Lesebefehlssignal und/oder das Schreibbefehlssignal, zum Erzeugen eines Speichertaktsignals (MCLK) mit variabler Frequenz mittels Teilen eines Systemtaktsignals (SCLK) und zum Ändern der Frequenz des Speichertaktsignals (MCLK) basierend auf einem Frequenzänderungssteuersignal (WT) und – einer Frequenzänderungssteuerschaltung (113) zum Ausgeben des Frequenzänderungssteuersignals (WT) in Reaktion auf das oder die Steuersignale, das Speichertaktsignal (MCLK) und ein Rücksetzsignal (RST), wobei die Frequenzänderungssteuerschaltung folgende Komponenten aufweist: – einen Adressenkomparator (54) zum Vergleichen eines aktuellen (RADD(N)) und eines unmittelbar vorausgehenden Zeilenadressensignals (RADDC(N – 1)) und Ausgeben eines logischen Vergleichssignals auf hohem Pegel, wenn die beiden verglichenen Zeilenadressensignale unterschiedlich sind, und – eine Frequenzänderungssteuersignalausgabeeinheit (56) zum Freigeben des Frequenzänderungssteuersignals, wenn das Vergleichssignal auf hohem Pegel ist oder ein Rücksetzdetektionssignal auf hohem Pegel ist, das erzeugt wird, wenn nach Empfangen des Rücksetzsignals ein Lesevorgang angefordert wird.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Speichersteuerschaltung, eine zugehörige Smartcard und ein zugehöriges Lesesteuerverfahren.
  • Mit der Entwicklung von Halbleiterherstellungstechnologien wurden Systeme auf einem Chip, d. h. vom sogenannten Typ System-auf-Chip bzw. system-on-chip (SOC), vorgeschlagen, bei denen eine Mehrzahl von Systemchips in einem einzigen Systemchip integriert sind. Ein SOC umfasst typischerweise einen Speicher, in dem ein Betriebssystem(OS)-Programm oder Daten gespeichert sind, die erzeugt werden, wenn das OS-Programm ausgeführt wird.
  • Im Allgemeinen umfasst ein Speicher ein Speicherzellenfeld mit einer Matrixstruktur. Der Speicher empfängt ein Zeilenadressensignal, ein Spaltenadressensignal und ein Datenlesesteuersignal oder ein Datenschreibsteuersignal von einer Speichersteuerschaltung. Der Speicher gibt Daten aus einer korrespondierenden Speicherzelle aus oder schreibt Daten in eine korrespondierende Speicherzelle in Reaktion auf das Datenlesesteuersignal bzw. das Datenschreibsteuersignal. Zudem liest oder schreibt der Speicher Daten synchronisiert mit einem Speichertaktsignal, welches von der Speichersteuerschaltung empfangen wird. Die Speichersteuerschaltung empfängt ein Systemtaktsignal und erzeugt das Speichertaktsignal. Das Systemtaktsignal wird in der Speichersteuerschaltung und in einem System mit einer solchen Speichersteuerschaltung benutzt, während das Speichertaktsignal nur im Speicher benutzt wird. Das System korrespondiert mit einem SOC, das die Speichersteuerschaltung und einen Speicher umfasst.
  • Ein Ausführungsbeispiel einer Speichersteuerschaltung, die ein Speichertaktsignal aus einem Systemtaktsignal erzeugt und das Speichertaktsignal einer Mehrzahl von Speichern zur Verfügung stellt, wird in der Patentschrift US 5.630.096 beschrieben.
  • 1 zeigt im Blockdiagramm eine herkömmliche Speichersteuerschaltung 10 und einen Speicher 20. Wie aus 1 ersichtlich ist, umfasst die Speichersteuerschaltung 10 eine zentrale Prozessoreinheit (CPU) 11 und eine Speicherschnittstelle 12, die mit dem Speicher 20 verbunden ist. Die CPU 11 und der Speicher 20 sind außerdem über einen Datenbus 30 miteinander verbunden.
  • Ein Verfahren zum Steuern eines Lesevorgangs des Speichers 20 mit der herkömmlichen Speichersteuerschaltung 10 wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die 1 und 2 beschrieben. 2 zeigt ein Zeitablaufdiagramm von Signalen, welche während eines Lesevorgangs des Speichers 20 benutzt werden.
  • Gemäß 2 sind ein Zeilenadressensignal RADD, ein Spaltenadressensignal CADD und ein Vorladesteuersignal PGN zum Lesen einer jeweiligen Speicherzelle des Speichers 20 erforderlich. Ein Speichertaktsignal MCLK ist mit einem Systemtaktsignal SCLK identisch.
  • Wie aus 2 ersichtlich ist, muss ein Zeitintervall „D1”, während dem ein Abtastverstärkersignal SEN freigeschaltet wird, länger sein als ein Zeitintervall „C”, das für die Ausgabe eines effektiven Datensignals aus einer Speicherzelle benötigt wird. Des Weiteren muss ein Zellentransistor zur Ausgabe des effektiven Datensignals aus der Speicherzelle erlauben, dass ein ausreichender Zellenstrom fließt. Für diesen Zweck muss eine mit einem Gateanschluss des Zellentransistors verbundene Wortleitung WL1 ausreichend aktiviert werden, um einen Setzspannungspegel zu erreichen.
  • Mit dem Ansteigen einer Zeitspanne „E”, die erforderlich ist, um die Wortleitung WL1 ausreichend zu aktivieren und so den Setzspannungspegel zu erreichen, steigt auch das Zeitintervall „C” an. Als Konsequenz steigt auch ein Zeitintervall an, welches ein Bitleitungsabtastverstärker benötigt, um ein Datensignal zur Ermittlung eines Datenwertes zu verstärken. Daraus resultiert, dass das Zeitintervall „E” den größten Einfluss auf den Lesevorgang im Speicher 20 hat.
  • Wie weiter aus 2 ersichtlich ist, erscheint das Zeitintervall „E” in einem Zeitintervall „A1”, während dem das Zeilenadressensignal verschoben wird, es erscheint aber nicht in einem Zeitintervall „A2”, während dem das Zeilenadressensignal nicht verschoben wird. Daher wird eine Lesegeschwindigkeit des Speichers 20 während des Intervalls „A1” stärker reduziert als im Intervall „A2”. Entsprechend können fehlerhafte Daten ausgegeben werden, wenn der Speicher 20 mit einer hohen Frequenz zu betreiben ist. Wird beispielsweise die Frequenz des Speichertaktsignals MCLK während des Intervalls „A1” vergrößert, dann wird ein Freigabeintervall eines Chipauswahlsignals CSN kleiner. Deshalb wird ein Zeitintervall „B1” und das Zeitintervall „D1” ebenfalls kürzer. Das Intervall „E” wird jedoch nicht variiert, sondern unverändert beibehalten, so dass das Intervall „C” länger als das Intervall „D1” wird. Als Konsequenz gibt der Speicher 20 dann eventuell fehlerhafte Daten aus.
  • Um zu verhindern, dass der Speicher 20 fehlerhafte Daten ausgibt, wenn er mit einer hohen Frequenz betrieben wird, teilt eine herkömmliche Speicherschnittstelle das Systemtaktsignal SCLK, um das Speichertaktsignal MCLK mit einer niedrigeren Frequenz als das Systemtaktsignal SCLK zu erzeugen, wie in 3 dargestellt ist. Entsprechend ist das Freigabeintervall des Chipauswahlsignals CSN länger und das Intervall „E”, das benötigt wird, um die Wortleitung WL ausreichend zu aktivieren, und das Intervall „C”, welches zur Ausgabe eines effektiven Datensignals aus der Speicherzelle benötigt wird, können sichergestellt werden. In einem System, in dem der Lesevorgang des Speichers 20 häufig ausgeführt wird, verschlechtert sich jedoch die Leistungsfähigkeit des Systems, wenn die Frequenz des Speichertaktsignals MCLK abnimmt.
  • Weitere herkömmliche Speichersteuerschaltungen und Lesevorgangssteuerverfahren sowie damit ausgerüstete Smartcards sind in den Patentschriften US 4.794.523 , US 5.819.076 , US 6.073.223 und US 6.356.738 B1 offenbart.
  • Es ist Aufgabe der Erfindung, eine Speichersteuerschaltung anzugeben, die zuverlässig verhindert, dass ein Speicher bei einem Betrieb mit hohen Frequenzen fehlerhafte Daten ausgibt, und eine vergleichsweise hohe Leistungsfähigkeit eines Systems ermöglicht, bei dem häufig Lesevorgänge ausgeführt werden, sowie eine zugehörige Smartcard mit einer solchen Speichersteuerschaltung zur Verfügung zu stellen und ein zugehöriges Steuerverfahren für einen Lesevorgang in einem Speicher anzugeben.
  • Die Erfindung löst diese Aufgabe durch eine Speichersteuerschaltung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1, durch eine Smartcard mit den Merkmalen des Patentanspruchs 9 sowie durch ein Verfahren zum Steuern eines Lesevorgangs in einem Speicher mit den Merkmalen des Patentanspruchs 12.
  • Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben.
  • Vorteilhafte, nachfolgend beschriebene Ausführungsformen der Erfindung sowie das zu deren besserem Verständnis oben erläuterte, herkömmliche Ausführungsbeispiel sind in den Zeichnungen dargestellt. Es zeigen:
  • 1 ein Blockschaltbild einer herkömmlichen Speichersteuerschaltung und eines Speichers,
  • 2 ein Zeitablaufdiagramm von Signalen, welche während eines Lesevorgangs des Speichers durch eine herkömmliche Speichersteuerschaltung erzeugt werden,
  • 3 ein Zeitablaufdiagramm von Signalen, welche während eines Lesevorgangs eines Speichers durch eine andere herkömmliche Speichersteuerschaltung erzeugt werden,
  • 4 ein Blockschaltbild eines Ausführungsbeispiels einer erfindungsgemäßen Speichersteuerschaltung und eines Speichers,
  • 5 ein Blockschaltbild einer Frequenzänderungssteuerschaltung aus 4,
  • 6 ein Blockschaltbild einer Speicherschnittstelle aus 4,
  • 7 ein Zeitablaufdiagramm von Signalen, welche während eines Lesevorgangs eines Speichers durch die erfindungsgemäße Speichersteuerschaltung aus 4 erzeugt werden,
  • 8 ein Flussdiagramm eines erfindungsgemäßen Steuerverfahrens für einen Lesevorgang in einem Speicher, welches von der erfindungsgemäßen Speichersteuerschaltung aus 4 ausgeführt wird,
  • 9 ein Flussdiagramm eines Prozesses zur Bestimmung einer Frequenz eines Speichertaktsignals und Erzeugen des Speichertaktsignals gemäß der Erfindung und
  • 10 ein Blockschaltbild einer erfindungsgemäßen Smartcard mit der Speichersteuerschaltung aus 4.
  • 4 zeigt ein Blockschaltbild einer erfindungsgemäßen Speichersteuerschaltung 110 und eines Speichers 120. Wie aus 4 ersichtlich ist, umfasst die Speichersteuerschaltung 110 eine zentrale Prozessoreinheit (CPU) 111, eine Speicherschnittstelle 112 und eine Frequenzänderungssteuerschaltung 113. Die Speicherschnittstelle 112 ist mit dem Speicher 120 verbunden. Die CPU 111 gibt ein Lesebefehlsignal CMD_R oder ein Schreibbefehlsignal CMD_W an die Speicherschnittstelle 112 aus, wenn die CPU 111 ein externes Datenleseanforderungssignal DRQ oder ein externes Datenschreibanforderungssignal DWQ empfängt.
  • Die Speicherschnittstelle 112 gibt ein Datenlesesteuersignal READ oder ein Datenschreibsteuersignal WRITE an den Speicher 120 in Reaktion auf das Lesebefehlssignal CMD_R bzw. das Schreibbefehlsignal CMD_W aus. Zusätzlich gibt die Speicherschnittstelle 112 ein Chipauswahlsignal CSN, ein Zeilenadressensignal RADD und ein Spaltenadressensignal CADD an den Speicher 120 aus. Obwohl die in 4 dargestellte Speicherschnittstelle 112 das Zeilenadressensignal RADD und das Spaltenadressensignal CADD über die gleiche Adressenleitung ausgibt, kann die Speicherschnittstelle 112 das Zeilenadressensignal RADD und das Spaltenadressensignal CADD alternativ auch über verschiedene Adressenleitungen ausgeben.
  • Zusätzlich empfängt die Speicherschnittstelle 112 ein Systemtaktsignal SCLK und erzeugt ein Speichertaktsignal MCLK. Die Speicherschnittstelle 112 wird weiter unten unter Bezugnahme auf 6 im Detail beschrieben. Das Systemtaktsignal SCLK kann von einem externen Gerät in die Speichersteuerschaltung 110 eingegeben oder von einem internen Taktsignalgenerator erzeugt werden. Es wird von der Speichersteuerschaltung 110 und von einem System mit der Speichersteuerschaltung 110 und dem Speicher 120 benutzt. Dieses System kann als System auf einem Chip (SOC) ausgeführt sein. Das Speichertaktsignal MCLK wird vom Speicher 120 benutzt.
  • Die Frequenzänderungssteuerschaltung 113 empfängt das Datenlesesteuersignal READ oder das Datenschreibsteuersignal WRITE von der Speicherschnittstelle 112. Zusätzlich empfängt die Frequenzänderungssteuerschaltung 113 das Chipauswahlsignal CSN, das Zeilenadressensignal RADD, das Spaltenadressensignal CADD und das Speichertaktsignal MCLK.
  • Wenn die Frequenzänderungssteuerschaltung 113 das Datenlesesteuersignal READ empfängt, erzeugt sie ein Frequenzänderungssteuersignal WT in Reaktion auf das Zeilenadressensignal RADD. Die Frequenzänderungssteuerschaltung 113 erzeugt das Frequenzänderungssteuersignal WT, wenn ein Lesevorgang des Speichers 120 zuerst ausgeführt wird, nachdem die Frequenzänderungssteuerschaltung 113 ein externes Rücksetzsignal RST empfangen hat. Die Frequenzänderungssteuerschaltung 113 wird weiter unten unter Bezugnahme auf 5 im Detail beschrieben.
  • Der Speicher 120 gibt Daten RDATA an einen internen Datenbus 130 aus oder schreibt Daten WDATA, die vom internen Datenbus 130 empfangen werden, in Reaktion auf das Zeilenadressensignal RADD, das Spaltenadressensignal CADD und das Datenlesesteuersignal READ oder das Datenschreibsteuersignal WRITE. 4 zeigt keine detaillierte Konfiguration des Speichers 120, da der Speicher 120 eine beliebige, allgemein bekannte Konfiguration aufweisen kann.
  • Die CPU 111 gibt die Daten RDATA, die vom Speicher 120 über den internen Datenbus 130 empfangen werden, an ein externes Gerät aus, welches die Speichersteuerschaltung 110 auffordert, die Daten RDATA zu lesen. Außerdem überträgt die CPU 111 die Daten WDATA, welche von einem externen Gerät empfangen werden, das die Speichersteuerschaltung 110 auffordert, die Daten zu schreiben, über den internen Datenbus 130 zum Speicher 120.
  • 5 zeigt ein Blockschaltbild einer möglichen Realisierung der Frequenzänderungssteuerschaltung 113 aus 4. Wie aus 5 ersichtlich ist, umfasst die Frequenzänderungssteuerschaltung 113 in diesem Beispiel einen Zwischenspeichertaktsignalgenerator 51, einen Adressenzwischenspeicher 52, eine Adressenspeichereinheit 53, einen Adressenkomparator 54, einen Rücksetzsignaldetektor 55 und eine Frequenzänderungssteuersignalausgabeeinheit 56.
  • Der Zwischenspeichertaktsignalgenerator 51 erzeugt ein Zwischenspeichertaktsignal ALCLK in Reaktion auf das Speichertaktsignal MCLK und das Chipauswahlsignal CSN, welche von der Speicherschnittstelle 112 in 4 empfangen werden. Der Adressenzwischenspeicher 52 speichert Zeilenadressensignale RADD(N) zwischen, die aufeinander folgend von der Speicherschnittstelle 112 in Reaktion auf das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK empfangen werden, wobei N eine natürliche Zahl größer als eins ist. Der Adressenzwischenspeicher 52 empfängt die Zeilenadressensignale RADD(N), wenn das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK, das an einem Gattereingabeanschluss G eingegeben wird, auf einem hohen Pegel ist, und empfängt die Zeilenadressensignale RADD(N) nicht, wenn das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK auf einem niedrigen Pegel ist.
  • In anderen Worten ausgedrückt, der Adressenzwischenspeicher 52 gibt die zwischengespeicherten Zeilenadressensignale RADD(N) nacheinander aus, wenn das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK auf einem hohen Pegel ist. Der Adressenzwischenspeicher 52 behält die Ausgabe des zuletzt zwischengespeicherten Zeilenadressensignals RADD(N), wenn das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK auf einem niedrigen Pegel ist.
  • Die Adressenspeichereinheit 53 speichert das Zeilenadressensignal RADD(N), das vom Adressenzwischenspeicher 52 in Reaktion auf das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK empfangen wird. Die Adressenspeichereinheit 53 kann als D-Flip-Flop ausgeführt sein. Das D-Flip-Flop 53 empfängt das Zeilenadressensignal RADD(N) über einen Eingabeanschluss D und empfängt das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK über einen Takteingabeanschluss. Das D-Flip-Flop 53 empfängt und speichert das Zeilenadressensignal RADD(N), wenn sich das Zeilenadressensignal RADD(N) bei einer ansteigenden Flanke des Zwischenspeichertaktsignals ALCLK verschiebt. Nachfolgend wird die Funktionsweise des Adressenzwischenspeichers 52 und der Adressenspeichereinheit 53 detaillierter beschrieben.
  • Zur einfachen Beschreibung sei angenommen, dass Zeilenadressensignale RADD0 und RADD1 nacheinander in den Adressenzwischenspeicher 52 eingegeben werden, wenn das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK auf einem hohen Pegel ist. In diesem Fall speichert der Adressenzwischenspeicher 52 die aufeinanderfolgend empfangenen Zeilenadressensignale RADD0 und RADD1 zwischen, weil das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK auf hohem Pegel ist. Die Adressenspeichereinheit 53 empfängt das Zeilenadressensignal RADD0 synchronisiert mit der ansteigenden Flanke des Zwischenspeichertaktsignals ALCLK. Die Adressenspeichereinheit 53 behält die Ausgabe des Zeilenadressensignals RADD0 bis zur nächsten ansteigenden Flanke des Zwischenspeichertaktsignals ALCLK. Entsprechend gibt die Adressenspeichereinheit 53 das zuvor empfangene Zeilenadressensignal RADD0 aus, wenn der Adressenzwischenspeicher 52 das Zeilenadressensignal RADD1 zwischenspeichert und das zwischengespeicherte Zeilenadressensignal RADD1 ausgibt.
  • Der Ad ressenkomparator 54 vergleicht ein aktuelles Zeilenadressensignal RADD(N), das er vom Adressenzwischenspeicher 52 empfängt, mit einem vorherigen Zeilenadressensignal RADD(N – 1), das er von der Adressenspeichereinheit 53 empfängt, und gibt das Vergleichsergebnis aus. Der Adressenkomparator 54 kann als Exklusiv-ODER-Gatter ausgeführt sein. Das Exklusiv-ODER-Gatter 54 gibt ein logisches Signal mit einem hohen Pegel aus, wenn das aktuelle Zeilenadressensignal RADD(N) und das vorherige Zeilenadressensignal RADD(N – 1) voneinander verschieden sind.
  • Der Rücksetzsignaldetektor 55 gibt in Reaktion auf das Chipauswahlsignal CSN, das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK und das Rücksetzsignal RST ein Rücksetzdetektionssignal RSTA aus. Insbesondere aktiviert der Rücksetzsignaldetektor 55 das Rücksetzdetektionssignal RSTA, wenn er nach dem Empfang des Rücksetzsignals RST zuerst das Chipauswahlsignal CSN und das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK empfängt.
  • Die Frequenzänderungssteuersignalausgabeeinheit 56 gibt das Frequenzänderungssteuersignal WT in Reaktion auf das Ausgabesignal des Adressenkomparators 54 und auf das Rücksetzdetektionssignal RSTA aus. Die Frequenzänderungssteuersignalausgabeeinheit 56 kann als ODER-Gatter ausgeführt sein. Das ODER-Gatter 56 aktiviert das Frequenzänderungssteuersignal WT, wenn das Ausgabesignal des Adressenkomparators 54 und/oder das Rücksetzdetektionssignal RSTA auf einem hohen Pegel sind.
  • 6 zeigt ein Blockschaltbild einer möglichen Realisierung der Speicherschnittstelle 112 aus 4. Wie aus 6 ersichtlich ist, umfasst die Speicherschnittstelle 112 in diesem Fall einen Speichertaktsignalgenerator 61 und einen Befehlsdecoder 62. Der Speichertaktsignalgenerator 61 erzeugt das Speichertaktsignal MCLK mit einer vorgegebenen Frequenz in Reaktion auf das Frequenzänderungssteuersignal WT und das Systemtaktsignal SCLK. Insbesondere teilt der Speichertaktsignalgenerator 61 das Systemtaktsignal SCLK, um das Speichertaktsignal MCLK mit einer ersten Frequenz zu erzeugen, wenn das Frequenzänderungssteuersignal WT freigegeben ist. Außerdem erzeugt der Speichertaktsignalgenerator 61 das Speichertaktsignal MCLK mit einer zweiten Frequenz, wenn das Frequenzänderungssteuersignal WT gesperrt ist. Hierbei ist die zweite Frequenz höher als die erste Frequenz.
  • Der Befehlsdecoder 62 empfängt das Systemtaktsignal SCLK, das Speichertaktsignal MCLK und das Lesebefehlssignal CMD_R oder das Schreibbefehlsignal CMD_W, die von der CPU 111 übertragen werden. Der Befehlsdecoder 62 gibt das Chipauswahlsignal CSN, ein Adressensignal ADD und das Datenlesesteuersignal READ oder das Datenschreibsteuersignal WRITE in Reaktion auf das Lesebefehlssignal CMD_R aus. Das Adressensignal ADD umfasst das Zeilenadressensignal RADD und das Spaltenadressensignal CADD. Der Befehlsdecoder 62 gibt das Chipauswahlsignal CSN, das Adressensignal ADD und das Datenlesesteuersignal READ oder das Datenschreibsteuersignal WRITE in Synchronisation mit dem Speichertaktsignal MCLK aus.
  • Nachfolgend wird unter Bezugnahme auf die 4 bis 9 ein Steuerverfahren für einen Lesevorgang des Speichers 120 beschrieben, wie es von der erfindungsgemäßen Speichersteuerschaltung 110 ausgeführt wird.
  • 7 zeigt ein Zeitablaufdiagramm von Signalen, welche während eines Lesevorgangs des Speichers 120 von einem erfindungsgemäßen Ausführungsbeispiel erzeugt werden, und 8 zeigt ein Flussdiagramm, das ein erfindungsgemäßes Steuerverfahren für einen Lesevorgang im Speicher 120 darstellt, welches von der erfindungsgemäßen Speichersteuerschaltung 110 ausgeführt wird.
  • Wie aus den 4 bis 8 ersichtlich ist, gibt die CPU 111 in einem Schritt 1100 der Speichersteuerschaltung 110 das Lesebefehlsignal CMD_R an die Speicherschnittstelle 112 in Reaktion auf das Datenleseanforderungssignal DRQ aus, das von einem externen Gerät empfangen wird. 7 zeigt den Fall, in dem die Speicherschnittstelle 112 ein erstes Lesesteuersignal READ1 und dann ein zweites Lesesteuersignal READ2 in Reaktion auf das Lesebefehlsignal CMD_R ausgibt.
  • Die Speicherschnittstelle 112 empfängt das Systemtaktsignal SCLK, das Frequenzänderungssteuersignal WT und das Lesebefehlsignal CMD_R oder das Schreibbefehlsignal CMD_W. Der Befehlsdecoder 62 der Speicherschnittstelle 112 gibt das erste Lesesteuersignal READ1, das Chipauswahlsignal CSN, das Zeilenadressensignal RADD1 und das Spaltenadressensignal CADD1 an den Speicher 120 und die Frequenzänderungssteuerschaltung 113 in Reaktion auf das Lesebefehlsignal CMD_R in einem Schritt 1200 aus.
  • Der Speichertaktsignalgenerator 61 der Speicherschnittstelle 112 bestimmt eine Frequenz des Speichertaktsignals MCLK in Reaktion auf das Frequenzänderungssteuersignal und teilt das Systemtaktsignal SCLK, um das Speichertaktsignal MCLK mit der vorbestimmten Frequenz zu erzeugen, siehe Schritt 1300. Hierbei gibt der Befehlsdecoder 62 das Chipauswahlsignal CSN für ein Zeitintervall „P1” frei und sperrt dann das Chipauswahlsignal CSN in Synchronisation mit dem Speichertaktsignal MCLK. Des Weiteren gibt der Befehlsdecoder 62 das erste Lesesteuersignal READ1, das Zeilenadressensignal RADD1 und das Spaltenadressensignal CADD1 in Synchronisation mit dem Speichertaktsignal MCLK aus.
  • Der Schritt 1300 wird nachstehend unter Bezugnahme auf 9 detaillierter beschrieben, die ein Flussdiagramm des Schrittes 1300 zur Bestimmung der Frequenz des Speichertaktsignals MCLK und zur Erzeugung des Speichertaktsignals MCLK zeigt.
  • In einem Schritt 1301 bestimmt die Frequenzänderungssteuerschaltung 113, ob sich das Zeilenadressensignal RADD1 verschoben, d. h. geändert hat, wenn sie das erste Lesesteuersignal READ1 von der Speicherschnittstelle 112 empfängt. Dieser Prozess wird unter Bezugnahme auf 5 detaillierter beschrieben.
  • Der Zwischenspeichertaktsignalgenerator 51 erzeugt das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK in Reaktion auf das Speichertaktsignal MCLK. Ist das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK auf einem hohen Pegel, dann puffert der Adressenzwischenspeicher 52 die aufeinander folgend empfangenen Zeilenadressensignale RADD0 und RADD1 und gibt sie aus. Hierbei empfängt und speichert die Adressenspeichereinheit 53 nur das Zeilenadressensignal RADD0 in Synchronisation mit einer ansteigenden Flanke des Zwischenspeichertaktsignals ALCLK. Anschließend gibt der Adressenzwischenspeicher 52 das Zeilenadressensignal RADD1 aus und die Adressenspeichereinheit 53 gibt das zuvor empfangene Zeilenadressensignal RADD0 aus. Der Adressenkomparator 54 gibt ein logisches Signal mit hohem Pegel aus, weil das vom Adressenzwischenspeicher 52 empfangene Zeilenadressensignal RADD1 und das von der Adressenspeichereinheit 53 empfangene Zeilenadressensignal RADD0 voneinander verschieden sind.
  • In einem Schritt 1302 gibt die Frequenzänderungssteuersignalausgabeeinheit 56 das Frequenzänderungssteuersignal WT für eine vorbestimmte Zeitdauer „T1” in Reaktion auf das Ausgabesignal des Adressenkomparators 54 frei und sperrt danach das Frequenzänderungssteuersignal WT. Hierbei ist die vorbestimmte Zeitdauer „T1” für den Adressenzwischenspeicher 52 und die Adressenspeichereinheit 53 erforderlich, um jeweils die verschiedenen Zeilenadressensignale auszugeben.
  • In einem Schritt 1303 erzeugt der Speichertaktsignalgenerator 61 das Speichertaktsignal MCLK während des Freigabeintervalls „T1” des Frequenzänderungssteuersignals WT mit der ersten Frequenz. Danach erzeugt der Speichertaktsignalgenerator 61 das Speichertaktsignal MCLK mit der zweiten Frequenz, wenn das Frequenzänderungssteuersignal WT gesperrt ist.
  • Obwohl 7 den Fall darstellt, dass mit einer Periode des Speichertaktsignals MCLK mit der ersten Frequenz zwei Perioden des Systemtaktsignals SCLK korrespondieren, können diese Signale bei Bedarf auch ein anderes Verhältnis zueinander haben. Des Weiteren können, obwohl 7 den Fall darstellt, dass eine Periode des Speichertaktsignals MCLK mit der zweiten Frequenz gleich lang wie eine Periode des Systemtaktsignals SCLK ist, diese Signale bei Bedarf auch ein anderes Verhältnis zueinander haben.
  • Der Speicher 120 gibt ein Vorladesteuersignal PGN für ein Intervall „Q1” frei, wie aus 7 ersichtlich ist, und sperrt das Vorladesteuersignal PGN danach in Reaktion auf das Chipauswahlsignal CSN und das Speichertaktsignal MCLK mit der ersten Frequenz. Ist das Vorladesteuersignal PGN freigeschaltet, dann wird eine nicht dargestellte Bitleitung im Speicher 120 auf einen vorbestimmten Spannungspegel vorgeladen. Des Weiteren wird eine korrespondierende Wortleitung WL1 des Speichers 120 in Reaktion auf das Zeilenadressensignal RADD1 aktiviert und ein Spannungspegel auf der Wortleitung WL1 erhöht. Als Konsequenz wird ein nicht dargestellter Zellentransistor des Speichers 120, der mit der Wortleitung WL1 verbunden ist, leitend geschaltet und ein Datensignal einer korrespondierenden Speicherzelle wird an die Bitleitung angelegt.
  • Dann gibt der Speicher 120 das Abtastverstärkersteuersignal SEN für ein Zeitintervall „R1” in Reaktion auf das Chipauswahlsignal CSN und das Speichertaktsignal MCLK mit der ersten Frequenz frei und sperrt danach das Abtastverstärkersteuersignal SEN. Hierbei ist das Zeitintervall „R1”, während dem das Abtastverstärkersteuersignal SEN freigegeben ist, länger als das Zeitintervall „C”, welches erforderlich ist, um ein effektives Datensignal von der Speicherzelle auszugeben.
  • Ist das Abtastverstärkersteuersignal SEN freigegeben, dann wird ein nicht dargestellter Bitleitungsabtastverstärker des Speichers 120 aktiviert, um das auf der Bitleitung anliegende Datensignal zu verstärken. Entsprechend wird ein in der korrespondierenden Speicherzelle gespeicherter Datenwert ermittelt. Dann gibt der Speicher 120 das vom Bitleitungsabtastverstärker verstärkte Datensignal als Ausgabedatensignal DATA1 über eine nicht dargestellte Ausgabeschaltung aus.
  • Nun wird der Fall beschrieben, bei dem der Befehlsdecoder 62 das zweite Lesesteuersignal READ2 in Reaktion auf das Lesebefehlssignal CMD_R ausgibt.
  • Der Befehlsdecoder 62 gibt das zweite Lesesteuersignal READ2, das Zeilenadressensignal RADD1 und das Spaltenadressensignal CADD2 aus, wie aus 7 ersichtlich ist. Im Schritt 1301 bestimmt die Frequenzänderungssteuerschaltung 113, ob sich das Zeilenadressensignal RADD1 geändert hat, wenn die Frequenzänderungssteuerschaltung 113 das zweite Lesesteuersignal READ2 empfängt. Dieser Prozess wird unter Bezugnahme auf 5 detaillierter beschrieben.
  • Der Adressenzwischenspeicher 52 speichert das Zeilenadressensignal RADD1 zwischen, wenn das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK auf hohem Pegel ist, und gibt das Zeilenadressensignal RADD1 aus. Hierbei empfängt und speichert die Adressenspeichereinheit 53 das Zeilenadressensignal RADD1 in Synchronisation mit der ansteigenden Flanke des Zwischenspeichertaktsignals ALCLK. Entsprechend geben der Adressenzwischenspeicher 52 und die Adressenspeichereinheit 53 beide das Zeilenadressensignal RADD1 aus.
  • Der Adressenkomparator 54 gibt ein logisches Signal mit niedrigem Pegel aus, weil das vom Adressenzwischenspeicher 52 empfangene Zeilenadressensignal RADD1 und das von der Adressenspeichereinheit 53 empfangene Zeilenadressensignal RADD1 identisch sind. Die Frequenzänderungssteuersignalausgabeeinheit 56 hält das Frequenzänderungssteuersignal WT in Reaktion auf das Ausgabesignal des Adressenkomparators 54 im gesperrten Zustand.
  • Wenn das Zeilenadressensignal RADD1 nicht verschoben ist, fragt die Frequenzänderungssteuerschaltung 113 in einem Schritt 1304 ab, ob das externe Rücksetzsignal RST freigegeben ist. Dazu schaltet, wie unter Bezugnahme auf 5 ersichtlich, der Rücksetzsignaldetektor 55 das Rücksetzdetektionssignal RSTA frei, wenn er nach Empfang des Rücksetzsignals RST zuerst das Chipauswahlsignal CSN und das Zwischenspeichertaktsignal ALCLK empfängt. Dann wird das Verfahren mit Schritt 1302 fortgesetzt, um anschließend Schritt 1303 auszuführen, wie aus 9 ersichtlich ist. Hierbei wird das Speichertaktsignal MCLK mit der ersten Frequenz erzeugt, welche niedriger als die Frequenz des Systemtaktsignals SCLK ist, wenn der Lesevorgang des Speichers 120 zuerst nach Freigabe des Rücksetzsignals RST ausgeführt wird, um einen stabilen Lesevorgang des Speichers 120 sicherzustellen.
  • Wird das Rücksetzsignal RST im Schritt 1304 nicht freigegeben, das heißt, dass das Rücksetzdetektionssignal RSTA gesperrt ist, dann schaltet die Frequenzänderungssteuersignalausgabeeinheit 56 das Frequenzänderungssteuersignal WT nicht frei. Als Konsequenz erzeugt der Speichertaktsignalgenerator 61 in einem Schritt 1305 kontinuierlich das Speichertaktsignal MCLK mit der zweiten Frequenz.
  • Wie oben ausgeführt, erzeugt die erfindungsgemäße Speichersteuerschaltung 110 das Speichertaktsignal MCLK mit einer Frequenz, die während des Intervalls „P1”, wenn das Zeilenadressensignal verschoben ist, niedriger als während des Intervalls „P2” ist, wenn das Zeilenadressensignal nicht verschoben ist. Entsprechend können ein Zeitintervall „S”, welches benötigt wird, um die Wortleitung WL1 ausreichend zu aktivieren, und das Zeitintervall „C”, welches erforderlich ist, um ein effektives Datensignal von der Speicherzelle auszugeben, sichergestellt werden. Als Konsequenz kann der Speicher 120 effektive Daten auch dann ausgeben, wenn er mit einer hohen Frequenz betrieben wird.
  • Zusätzlich ist die erfindungsgemäße Speichersteuerschaltung 110 in der Lage, die Frequenz des Speichertaktsignals MCLK nur dann temporär ändern, wenn das Zeilenadressensignal verschoben ist, d. h. während des Intervalls „P1” oder wenn das Rücksetzsignal RST freigegeben ist. Entsprechend kann für den Fall eines Systems, in welchem der Lesevorgang des Speichers 120 häufig ausgeführt wird, verhindert werden, dass sich die Betriebsleistungsfähigkeit des Systems wegen der Lesebetriebsgeschwindigkeit des Speichers 120 verschlechtert.
  • Ein intelligente Karte, d. h. eine sogenannte Smartcard, mit einer erfindungsgemäßen Speichersteuerschaltung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf 10 beschrieben, die im Blockschaltbild eine Smartcard 200 mit erfindungsgemäßer Speichersteuerschaltung 210 zeigt. Wie aus 10 ersichtlich ist, umfasst die Smartcard 200 eine Speichersteuerschaltung 210, einen nichtflüchtigen Speicher 220, einen Nur-Lese-Speicher (ROM) 230, einen Speicher 240 mit direktem Zugriff (RAM), einen Taktsignalgenerator 250, einen Zeitgeber 260, einen Detektor 270 für abnormale Zustände und eine Eingabe-/Ausgabeschnittstelle (E/A- bzw. I/O-Schnittstelle) 280. Alle Komponenten der Smartcard 200 sind über einen Systembus 201 verbunden.
  • Die Speichersteuerschaltung 210 umfasst eine CPU 211, eine Speicherschnittstelle 212 und eine Frequenzänderungssteuerschaltung 213. Die CPU 211 schreibt Daten WDATA in den nichtflüchtigen Speicher 220 oder liest Daten RDATA vom nichtflüchtigen Speicher 220 über die Speicherschnittstelle 212. Insbesondere gibt die CPU 211 zum Schreiben der Daten WDATA in den nichtflüchtigen Speicher 220 ein Schreibbefehlssignal CMD_W an die Speicherschnittstelle 212 aus und gibt die Daten WDATA über den Systembus 201 an den nichtflüchtigen Speicher 220 aus. Zum Lesen der Daten RDATA aus dem nichtflüchtigen Speicher 220 gibt die CPU 211 ein Lesebefehlsignal CMD_R an die Speicherschnittstelle 212 aus und empfängt dann die Daten RDATA über den Systembus 201 vom nichtflüchtigen Speicher 220.
  • Des Weiteren empfangt die CPU 211 einen Programmcode PRO_CODE über die I/O-Schnittstelle 280 und den Systembus 201 von einer externen Smartcard-Hosteinheit. Die CPU 211 führt einen Befehl aus, der vom Programmcode PRO_CODE angezeigt wird, und gibt ein Steuersignal SCTL an den Systembus 201 aus, um Komponenten der Smartcard 200 zu steuern. Die CPU 211 führt ein OS-Programm aus, um Nutzerinformationen zu speichern, und führt verschiedene Kodiervorgänge aus.
  • Die Funktionsweise der Speicherschnittstelle 212 ist analog zur Funktionsweise der Speicherschnittstelle 112 aus 4, mit der Ausnahme, dass die Speicherschnittstelle 212 beispielsweise ein Adressensignal ROM_ADD an den ROM 230 oder ein Befehlssignal CMD und ein Adressensignal RAM ADD an den RAM 240 in Reaktion auf ein nicht dargestelltes Speichersteuersignal ausgibt, das von der CPU 211 empfangen wird, und dass die Speicherschnittstelle 212 mit dem Systembus 201 verbunden ist.
  • Der nichtflüchtige Speicher 220 speichert die über den Systembus 201 empfangenen Daten WDATA und liest die Daten RDATA und gibt diese über den Systembus 201 gesteuert von der CPU 211 und der Speicherschnittstelle 212 aus.
  • Der ROM 230 speichert das OS-Programm und der RAM 240 speichert temporär Daten, die erzeugt werden, wenn die CPU 211 das OS-Programm ausführt. Der Taktsignalgenerator 250 erzeugt das Systemtaktsignal SCLK und gibt es an alle Komponenten der Smartcard 200 aus. Der Zeitgeber steuert das von der CPU 211 benötigte Zeitverhalten zur Ausführung des OS-Programms. Der Detektor 270 für abnormale Zustände detektiert in der externen Umgebung abnormale Zustände, beispielsweise abnormale Spannungen, Frequenzen, Temperaturen, Licht usw., und erzeugt ein Rücksetzsignal RST, um alle Komponenten der Smartcard 200 zurückzusetzen. Ist die Smartcard 200 mit einer externen Smartcard-Hosteinheit verbunden, dann stellt die I/O-Schnittstelle 280 die Verbindung zwischen der CPU 211 und der externen Smartcard-Hosteinheit her.
  • Wie oben beschrieben ist, können die erfindungsgemäße Speichersteuerschaltung, die erfindungsgemäße Smartcard mit einer solchen Speichersteuerschaltung und das erfindungsgemäße Steuerverfahren für einen Lesevorgang in einem Speicher verhindern, dass ein Speicher fehlerhafte Daten ausgibt, wenn der Speicher mit einer hohen Frequenz betrieben wird. Zusätzlich können erfindungsgemäße Ausführungsformen verhindern, dass die Leistungsfähigkeit eines Systems, in dem häufig Lesevorgänge im Speicher durchgeführt werden, durch die Lesebetriebsgeschwindigkeit des Speichers verschlechtert wird.

Claims (13)

  1. Speichersteuerschaltung zum Steuern eines Lesevorgangs und/oder eines Schreibvorgangs in einem Speicher (120), mit – einer zentralen Prozessoreinheit (111) zum Ausgeben eines Lesebefehlssignals in Reaktion auf ein Datenleseanforderungssignal und/oder zum Ausgeben eines Schreibbefehlssignals in Reaktion auf ein Datenschreibanforderungssignal, – einer Speicherschnittstelle (112) zum Ausgeben eines oder mehrerer Steuersignale in Reaktion auf das Lesebefehlssignal und/oder das Schreibbefehlssignal, zum Erzeugen eines Speichertaktsignals (MCLK) mit variabler Frequenz mittels Teilen eines Systemtaktsignals (SCLK) und zum Ändern der Frequenz des Speichertaktsignals (MCLK) basierend auf einem Frequenzänderungssteuersignal (WT) und – einer Frequenzänderungssteuerschaltung (113) zum Ausgeben des Frequenzänderungssteuersignals (WT) in Reaktion auf das oder die Steuersignale, das Speichertaktsignal (MCLK) und ein Rücksetzsignal (RST), wobei die Frequenzänderungssteuerschaltung folgende Komponenten aufweist: – einen Adressenkomparator (54) zum Vergleichen eines aktuellen (RADD(N)) und eines unmittelbar vorausgehenden Zeilenadressensignals (RADDC(N – 1)) und Ausgeben eines logischen Vergleichssignals auf hohem Pegel, wenn die beiden verglichenen Zeilenadressensignale unterschiedlich sind, und – eine Frequenzänderungssteuersignalausgabeeinheit (56) zum Freigeben des Frequenzänderungssteuersignals, wenn das Vergleichssignal auf hohem Pegel ist oder ein Rücksetzdetektionssignal auf hohem Pegel ist, das erzeugt wird, wenn nach Empfangen des Rücksetzsignals ein Lesevorgang angefordert wird.
  2. Speichersteuerschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das oder die Steuersignale ein Lesesteuersignal (READ), ein Schreibsteuersignal (WRITE), ein Zeilenadressensignal (RADD), ein Spaltenadressensignal (CADD) und/oder ein Chipauswahlsignal (CSN) umfassen.
  3. Speichersteuerschaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Frequenzänderungssteuerschaltung (113) feststellt, ob das Zeilenadressensignal (RADD) verschoben ist, wenn die Frequenzänderungssteuerschaltung (113) das Lesesteuersignal (READ) empfängt, und das Frequenzänderungssteuersignal (WT) auf Basis dieser Feststellung ausgibt.
  4. Speichersteuerschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Frequenzänderungssteuerschaltung (113) folgende weitere Komponenten umfasst: – einen Zwischenspeichertaktsignalgenerator (51) zum Empfangen des Speichertaktsignals (MCLK) und zum Erzeugen eines Zwischenspeichertaktsignals (ALCLK), – einen Adressenzwischenspeicher (52) zum Zwischenspeichern des aktuellen Zeilenadressensignals (RADD(N)) in Reaktion auf das Zwischenspeichertaktsignal (ALCLK) und – eine Adressenspeichereinheit (53) zum Speichern des vorhergehenden Zeilenadressensignals (RADD(N – 1)), das vom Adressenzwischenspeicher (52) in Reaktion auf das Zwischenspeichertaktsignal (ALCLK) empfangen wird.
  5. Speichersteuerschaltung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Frequenzänderungssteuerschaltung (113) einen Rücksetzsignaldetektor (55) umfasst, der ein Rücksetzdetektionssignal (RSTA) in Reaktion auf das Chipauswahlsignal (CSN) und das Zwischenspeichertaktsignal (ALCLK) erzeugt, die zuerst empfangen werden, nachdem der Rücksetzsignaldetektor (55) das Rücksetzsignal (RST) empfängt, und die Frequenzänderungssteuersignalausgabeeinheit (56) das Frequenzänderungssteuersignal (WT) in Reaktion auf das logische Signal und das Rücksetzdetektionssignal (RSTA) freigibt oder sperrt.
  6. Speichersteuerschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Speicherschnittstelle (112) folgende Komponenten umfasst: – einen Speichertaktsignalgenerator (61) zum Empfangen des Systemtaktsignals (SCLK), zum Erzeugen des Speichertaktsignals (MCLK) und zum Ändern der Frequenz des Speichertaktsignals (MCLK) in Reaktion auf das Frequenzänderungssteuersignal (WT) und – einen Befehlsdecoder (62) zum Empfangen des Systemtaktsignals (SCLK), des Speichertaktsignals (MCLK) und des Lesebefehlssignals oder des Schreibbefehlssignals und zum Ausgeben des oder der Steuersignale.
  7. Speichersteuerschaltung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Speichertaktsignalgenerator (61) das Speichertaktsignal (MCLK) mit einer ersten Frequenz erzeugt, wenn das Frequenzänderungssteuersignal (WT) freigegeben bzw. aktiviert ist, und das Speichertaktsignal (MCLK) mit einer zweiten Frequenz erzeugt, wenn das Frequenzänderungssteuersignal (WT) gesperrt bzw. deaktiviert ist.
  8. Speichersteuerschaltung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Periode des Speichertaktsignals (MCLK) mit der ersten Frequenz länger als die Periode des Speichertaktsignals (MCLK) mit der zweiten Frequenz ist.
  9. Smartcard mit – einem Nur-Lese-Speicher (230) zum Speichern eines Betriebssystemprogramms, – einem Taktsignalgenerator (250) zum Erzeugen eines Systemtaktsignals (SCLK), – einem Detektor (270) zum Erkennen eines abnormalen Zustandes, welcher durch eine Variation im externen Umfeld verursacht wird, und zum Erzeugen eines Rücksetzsignals (RST) basierend auf dem Detektionsergebnis, – einem nichtflüchtigen Speicher (220) zum Speichern von Daten und – einer Speichersteuerschaltung (210) nach einem der Ansprüche 1 bis 8 zum Erzeugen eines Speichertaktsignals (MCLK) basierend auf dem Systemtaktsignal (SCLK), zum Steuern eines Lesevorgangs und/oder eines Schreibvorgangs des nichtflüchtigen Speichers (220), während eine Frequenz des Speichertaktsignals (MCLK) geändert wird, und zum Ausführen des Betriebssystemprogramms, um Nutzerinformationen zu speichern.
  10. Smartcard nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die zentrale Prozessoreinheit (211) der Speichersteuerschaltung das Schreibdatensignal an den nichtflüchtigen Speicher (220) über einen Systembus ausgibt und/oder das Lesedatensignal vom nichtflüchtigen Speicher (220) über den Systembus empfängt, das Betriebssystemprogramm ausführt und mit einer Hosteinheit der Smartcard kommuniziert.
  11. Smartcard nach Anspruch 9 oder 10, gekennzeichnet durch eine Eingabe-/Ausgabeschnittstelle (280), welche die CPU (211) mit einer Hosteinheit der Smartcard (200) verbindet, und einen Speicher (240) mit direktem Zugriff zum Speichern von Daten, welche erzeugt werden, wenn die CPU (211) das Betriebssystemprogramm ausführt.
  12. Verfahren zum Steuern eines Lesevorgangs in einem Speicher (120), mit folgenden Schritten: – Empfangen eines Datenleseanforderungssignals und Ausgeben eines Lesebefehlssignals, – Ausgeben von Steuersignalen in Reaktion auf das Datenleseanforderungssignal und ein Systemtaktsignal, – Erzeugen eines Frequenzänderungssteuersignals (WT) in Reaktion auf ein Rücksetzsignal (RST) und die Steuersignale, wenn nach Empfang des Rücksetzsignals ein Lesevorgang des Speichers zuerst ausgeführt wird, und – Festlegen einer Frequenz eines Speichertaktsignals basierend auf dem Systemtaktsignal in Reaktion auf das Frequenzänderungssteuersignal (WT) und Erzeugen des Speichertaktsignals mit der festgelegten Frequenz, die durch Teilen des Systemtaktsignals variiert wird, wobei das Festlegen der Frequenz und das Erzeugen des Speichertaktsignals folgende Teilschritte beeinhalten: – Empfangen der Steuersignale und Feststellen, ob ein aktuelles Zeilenadressensignal (RADD) gegenüber einem vorausgehenden Zeilenadressensignal verschoben ist, – Freigabe des Frequenzänderungssteuersignals (WT) für eine vorgegebene Zeitdauer und anschließendes Sperren des Frequenzänderungssteuersignals (WT), wenn festgestellt wird, dass das Zeilenadressensignal verschoben ist, – Halten des Frequenzänderungssteuersignals (WT) im gesperrten Zustand, wenn das Zeilenadressensignal nicht verschoben ist, – Erzeugen des Speichertaktsignals (MCLK) mit einer ersten Frequenz, wenn das Frequenzänderungssteuersignal (WT) freigegeben ist, und mit einer zweiten Frequenz, wenn das Frequenzänderungssteuersignal (WT) gesperrt ist, – Erzeugen eines Rücksetzdetektionssignals (RSTA) durch Detektieren, dass nach Empfang des Rücksetzsignals ein Chipauswahlsignal (CSN) und ein Zwischenspeichertaktsignal (ALCLK) empfangen werden, – Freigabe des Frequenzänderungssteuersignals (WT) für eine vorgegebene Zeitdauer und anschließendes Sperren des Frequenzänderungssteuersignals (WT), wenn das Rücksetzsignal (RST) freigegeben ist, – Halten des Frequenzänderungssteuersignals (WT) im gesperrten Zustand, wenn das Rücksetzsignal (RST) gesperrt ist, und – Erzeugen des Speichertaktsignals (MCLK) mit der ersten Frequenz, wenn das Frequenzänderungssteuersignal (WT) freigegeben ist, und mit der zweiten Frequenz, wenn das Frequenzänderungssteuersignal (WT) gesperrt ist.
  13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Periode des Speichertaktsignals (MCLK) mit der ersten Frequenz länger als die Periode des Speichertaktsignals (MCLK) mit der zweiten Frequenz ist.
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Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7299374B2 (en) * 2005-02-03 2007-11-20 International Business Machines Corporation Clock control method and apparatus for a memory array
EP1742143B1 (de) * 2005-07-06 2018-11-21 STMicroelectronics Srl Verfahren und System zur Leistungsverbrauchssteuerung, und entsprechendes Computerprogrammprodukt
JP2007115099A (ja) * 2005-10-21 2007-05-10 Toshiba Corp メモリシステム、及び記録メディア
CN100449513C (zh) * 2005-12-23 2009-01-07 中兴通讯股份有限公司 一种cpu的读写方法及其实现电路
CN101499124B (zh) * 2008-12-30 2010-11-03 北京握奇数据系统有限公司 一种对智能卡进行读写操作的方法、系统和装置
JP4772891B2 (ja) * 2009-06-30 2011-09-14 株式会社東芝 ホストコントローラ、コンピュータ端末およびカードアクセス方法
EP2302519B1 (de) 2009-09-09 2013-01-16 ST-Ericsson SA Dynamische Frequenzspeicherkontrolle
CN102521155B (zh) * 2011-12-12 2014-09-10 盛科网络(苏州)有限公司 实现表项在物理存储器上动态分配的方法和装置
CN103295622B (zh) * 2012-03-05 2016-08-03 安凯(广州)微电子技术有限公司 一种动态随机存取存储器的变频方法
CN104380650B (zh) * 2012-05-31 2017-08-01 松下知识产权经营株式会社 时钟转换电路、影像处理系统、以及半导体集成电路
CN103577110A (zh) * 2012-07-19 2014-02-12 国民技术股份有限公司 片上系统及片上系统的读写方法
US9658644B2 (en) * 2014-10-06 2017-05-23 S-Printing Solution Co., Ltd. CRUM unit mountable in consumable unit of image forming apparatus and image forming apparatus using the same
CN105242874B (zh) * 2015-09-09 2017-03-08 天津瑞发科半导体技术有限公司 一种闪存存储器控制装置及一种闪存移动存储装置
KR102647421B1 (ko) * 2016-10-06 2024-03-14 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치
KR20180085605A (ko) 2017-01-19 2018-07-27 삼성전자주식회사 핸드쉐이크를 이용하여 메모리의 전력을 조절하는 시스템 온 칩 및 이의 동작 방법
US9818462B1 (en) * 2017-01-19 2017-11-14 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for providing internal clock signals of different clock frequencies in a memory device
KR20180086817A (ko) * 2017-01-23 2018-08-01 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치
CN107632787B (zh) * 2017-09-22 2020-11-17 北京融通高科微电子科技有限公司 数据读取方法、装置及系统
KR20200069905A (ko) 2018-12-07 2020-06-17 삼성전자주식회사 스토리지 시스템 및 스토리지 시스템의 동작 방법
CN112306917A (zh) * 2019-07-29 2021-02-02 瑞昱半导体股份有限公司 存储器时分控制的方法及存储器系统
KR20220087231A (ko) 2020-12-17 2022-06-24 삼성전자주식회사 저전력 소모를 위하여 클럭 스위칭하는 장치, 메모리 콘트롤러, 메모리 장치, 메모리 시스템 및 방법
CN113015001B (zh) * 2021-02-26 2022-04-08 上海先基半导体科技有限公司 基于fpga的视频帧缓存控制器及其控制方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4794523A (en) * 1985-09-30 1988-12-27 Manolito Adan Cache memory architecture for microcomputer speed-up board
US5819076A (en) * 1995-09-12 1998-10-06 Micron Electronics, Inc. Memory controller with low skew control signal
US6073223A (en) * 1997-07-21 2000-06-06 Hewlett-Packard Company Memory controller and method for intermittently activating and idling a clock signal for a synchronous memory
US6356738B1 (en) * 1999-02-18 2002-03-12 Gary W. Schneider Method and apparatus for communicating data with a transponder

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08227374A (ja) * 1995-02-22 1996-09-03 Ricoh Co Ltd メモリシステム
JP3693201B2 (ja) 1996-08-29 2005-09-07 富士通株式会社 内部動作周波数設定可能なdram
JP3119628B2 (ja) * 1998-08-21 2000-12-25 甲府日本電気株式会社 消費電力低減回路
GB2370667B (en) 2000-09-05 2003-02-12 Samsung Electronics Co Ltd Semiconductor memory device having altered clock frequency for address and/or command signals, and memory module and system having the same
JP4694067B2 (ja) 2001-09-28 2011-06-01 富士通セミコンダクター株式会社 半導体記憶装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4794523A (en) * 1985-09-30 1988-12-27 Manolito Adan Cache memory architecture for microcomputer speed-up board
US5819076A (en) * 1995-09-12 1998-10-06 Micron Electronics, Inc. Memory controller with low skew control signal
US6073223A (en) * 1997-07-21 2000-06-06 Hewlett-Packard Company Memory controller and method for intermittently activating and idling a clock signal for a synchronous memory
US6356738B1 (en) * 1999-02-18 2002-03-12 Gary W. Schneider Method and apparatus for communicating data with a transponder

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005063442A (ja) 2005-03-10
CN1591368A (zh) 2005-03-09
FR2858874B1 (fr) 2007-02-02
FR2858874A1 (fr) 2005-02-18
DE102004039178A1 (de) 2005-03-17
KR20050018046A (ko) 2005-02-23
US20050038970A1 (en) 2005-02-17
JP4663274B2 (ja) 2011-04-06
KR100546362B1 (ko) 2006-01-26
US7395398B2 (en) 2008-07-01

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