CN113068303A - 用于电子组装件的自支持热管道系统 - Google Patents

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Abstract

本文所描述的各种实施例包括用于耗散由电子系统(例如包括密集的存储器模块的存储器系统)的电子部件产生的热量的系统、方法和/或装置。在一个方面,电子组装件包括第一电路板、柔性联接至所述第一电路板的第二电路板、联接至所述第二电路板的连接模块、以及紧固件。所述紧固件配置为将所述第一电路板联接至所述连接模块,以使得所述第一电路板和所述第二电路板基本平行且通过空间分隔开,其中所述空间形成通道的至少一部分,所述通道配置为引导气流通过所述第一电路板、第二电路板和连接模块之间的空间。

Description

用于电子组装件的自支持热管道系统
本申请是申请日为2015年2月26日的PCT国际专利申请PCT/US2015/017722的题为“用于电子组装件的自支持热管道系统”的中国国家阶段申请201580003541.2的分案申请。
技术领域
公开的实施例总体上涉及散热,且更具体的,涉及耗散由电子系统中的电子部件产生的热量。
背景技术
许多电子系统包括半导体存储模块,例如固态驱动器(SSD)、双列直插式存储模块(DIMM)以及小外形DIMM,所有这些都利用存储单元以将数据存储为电荷或电压。已通过使用增强的制造技术来增加每个单独的存储器部件上的存储器单元的密度实现了这些模块的存储密度的改善。此外,还通过使用先进的板级封装技术以使每个存储器装置或模块包括更多的存储器元件增加了这些模块的存储密度。然而,随着存储密度的增加,模块产生的总热量也增加。这些发热在刀片(blade)服务器系统中尤其成为问题,在刀片服务器系统中高密度SSD和DIMM被频繁地存取,用于存储器读取和写入操作。在缺乏有效的散热机构的情况下,该增加的热量可能最终导致单独的存储单元或整个模块的性能降低或故障。
为了耗散由紧密封装的存储器部件产生的热量,存储器模块可以使用耦接到半导体存储器装置或模块的热沉。热沉通常被安装在存储器装置或存储器模块的顶部。来自风扇的气流可以经由(routed)或通过热沉以帮助耗散热量。然而,鉴于存储器模块的渐增的紧凑的形状因数,热沉和气流的结合的散热效果通常是不充分的。因此,一般需要更大的冷却系统和/或以更高的速度运行其风扇,这导致了噪声大、效率低、且高成本的系统,其不能充分地解决贯穿每个存储器模块的非均匀散热问题。因此,期望提供一种能解决上述问题的冷却系统。
发明内容
发热电子装置,例如存储器模块、处理器等,通常被安装至电路板。如上文所述,已经使用了多种不同的技术以耗散来自这些电子装置的热量。例如,采用风扇在发热部件上吹动或抽吸空气以使部件保持冷却。管理这些部件上的气流(包括管理气流的速度和方向)可能是至关重要的,以确保气流能够移除足够的废热来将电子部件保持在合适的温度。小心地控制气流(以及确保气流被传输至正确的部件)的一种方式是使用导管以引导空气。例如,导管可以在存储器模块的热沉上引导强制空气(forced air)。
本文所描述的系统和方法使用电路板,发热部件被安装在电路板上作为气流通道的一个或多个壁。例如,作为提供导管以引导气流至电路板上的元件的替代,本申请描述了一个或多个电路板可以组装以形成通道,空气被强制通过该通道以冷却安装在该一个或多个电路板上的部件。此外,本文描述的组装件是自支持的(self-supporting),避免了需要附加的安装导轨和支架以形成通道。
在一方面,一种电子组装件包括第一电路板、柔性联接至该第一电路板的第二电路板、联接至该第二电路板的连接模块、以及紧固件。该紧固件配置为将该第一电路板联接至该连接模块,以使得该第一电路板和该第二电路板基本平行且通过空间分隔开,其中该空间形成通道的至少一部分,该通道配置为引导气流通过该第一电路板、第二电路板和连接模块之间的该空间。
根据本说明书中的描述和附图,其他实施例和优点对于本领域技术人员来说将显而易见。
附图说明
为了使本公开可以被更详细地理解,可以参考各种实施例的特征来进行更特定的描述,其中一些实施例在附图中示出。然而,附图仅示出了本公开的更相关的特征,且因此不应被视为限制性的,因为该描述可以允许其他有效的特征。
图1是根据一些实施例的典型的计算装置中的示范性系统模块的框图。
图2A是根据一些实施例的形成自支持通道的示范性电子组装件的斜视图。
图2B-2D是根据一些实施例的形成自支持通道的示范性电子组装件的侧视图。
图3A是根据一些实施例的形成自支持通道的另一示范性电子组装件的斜视图。
图3B-3D是根据一些实施例的形成自支持通道的另一示范性电子组装件的侧视图。
图4A-4C是根据一些实施例的具有各种紧固件配置的示范性电子组装件的斜视图。
图5示出了根据一些实施例的用于组装电子组装件的方法的示范性流程图。
图6示出了根据一些实施例的用于耗散电子组装件中的热量的方法的示范性流程图。
图7是根据一些实施例的能量保持电容器电路的框图。
根据通常的做法,附图中示出的各种特征可能没有按比例绘制。相应的,为清楚起见,各种特征的尺寸可能被特意放大或缩小。此外,一些附图可能没有绘示给定系统、方法或装置的所有部件。最后,在整个说明书和附图中,相似的附图标记可以用来指代相似的特征。
具体实施方式
本文描述的各种实施例包括系统、方法和/或装置,其可以用于或集成在电子组装件中。特别的,本文描述的电子组装件以及由电子组装件形成的通道促进了耗散由电子系统中的电子部件产生的热量。
虽然下文描述的实施例主要描述了存储器系统,但本发明不限于此。事实上,本发明等同地应用于需要散热的电子系统,尤其是那些包括安装在一个或多个电路板上的多个发热部件的电子系统。
根据一些实施例,用于散热的电子组装件包括第一电路板、柔性耦接到该第一电路板的第二电路板、耦接到该第二电路板的连接模块、以及紧固件。该紧固件配置为将该第一电路板联接至该连接模块,以使得该第一电路板和该第二电路板基本平行且通过空间分隔开,其中该空间形成通道的至少一部分,该通道配置为引导气流通过该第一电路板、第二电路板和连接模块之间的该空间。
在一些实施例中,使用柔性互连体将第一电路板柔性耦接到第二电路板。在一些实施例中,柔性互连体将第一电路板电联接至第二电路板。在一些实施例中,通道的第一侧包括连接模块,且通道的第二侧包括柔性互连体。
在一些实施例中,使用一个或多个柔性互连体以及一个或多个附加的电路板将第一电路板柔性耦接到第二电路板。在一些实施例中,第二电路板柔性耦接到连接模块。在一些实施例中,使用柔性互连体将第二电路板柔性耦接至连接模块。在一些实施例中,柔性互连体将第二电路板电联接至连接模块。
在一些实施例中,将紧固件附接至第一电路板。在一些实施例中,将紧固件附接至连接模块。在一些实施例中,紧固件包括附接至第一电路板的第一子紧固件和附接至连接模块的第二子紧固件。在一些实施例中,第一子紧固件和第二子紧固件中的每一个包括一个或多个焊垫。
在一些实施例中,第一电路板包括在第一电路板的基板中的孔,且连接模块包括配置为与第一电路板中的孔配合的凸起。在一些实施例中,连接模块包括在连接模块的基板中的孔,且第一电路板包括配置为与连接模块中的孔配合的凸起。在一些实施例中,第一电路板包括在第一电路板的基板中的凹口,且连接模块包括配置为与第一电路板中的凹口配合的凸起。在一些实施例中,连接模块包括在连接模块的基板中的凹口,且第一电路板包括配置为与连接模块中的凹口配合的凸起。
在一些实施例中,紧固件配置为机械地和电气地将第一电路板联接至第二电路板。在一些实施例中,第二电路板包括配置为将第二电路板联接至基部板的一个或多个第二紧固件。
根据一些实施例,制造用于散热的电子组装件的方法包括提供电子组装件。该电子组装件包括第一电路板、柔性联接至该第一电路板的第二电路板、联接至该第二电路板的连接模块、以及紧固件。使用该紧固件将该第一电路板联接至该连接模块,从而该第一电路板和该第二电路板基本平行且通过空间分隔开,其中该空间形成通道的至少一部分,该通道配置为引导气流通过该第一电路板、第二电路板和连接模块之间的该空间。
在一些实施例中,方法还包括:在将第一电路板联接至连接模块之前,当第一电路板和第二电路板没有基本平行时,将第二电路板联接至基部电路板,并调整电子组装件以使得第一电路板设置为基本平行于第二电路板,其中调整电子组装件以使得第一电路板设置为基本平行于第二电路板造成联接第一电路板和第二电路板的第一柔性互连体的至少一部分变形。
在一些实施例中,连接模块柔性联接至第二电路板,且方法还包括:在调整第一电路板之前,调整电子组装件以使得连接模块设置为基本垂直于第二电路板,其中调整电子组装件造成将连接模块联接至第二电路板的第二柔性互连体的至少一部分变形。
一些实施例提供用于散热的电子组装件。该电子组装件包括第一电路板、柔性联接至该第一电路板的第二电路板、联接至该第二电路板的连接模块、以及紧固件。第一电路板、第二电路板以及连接模块中的至少一个包括以下三者中的一个或多个:(i)固态驱动器(SSD),(ii)能量保持电容器电路,以及(iii)一个或多个三维(3D)存储器装置。紧固件配置为将第一电路板联接至连接模块,以使得第一电路板和第二电路板基本平行且通过空间分隔开。该空间配置为引导第一电路板、第二电路板和连接模块之间的气流。
本文描述了很多细节以提供对附图中示出的示例实施例的透彻理解。然而,一些实施例可以无需这些多个特定的细节来实施,且权利要求的范围仅由权利要求中具体列举的那些特征和方面来限制。此外,没有对公知的方法、部件和电路进行详尽的描述,以免不必要的混淆本文描述的实施例的更相关的方面。
图1是根据一些实施例的在典型的计算装置中的示范性系统模块100的框图。该计算装置中的系统模块100至少包括中央处理单元(CPU)102、用于存储程序、指令和数据的存储器模块104、输入/输出(I/O)控制器106、例如网络接口108的一个或多个通信接口、以及用于互连这些部件的一个或多个通信总线150。在一些实施例中,I/O控制器106允许CPU102经由通用串行总线接口(或任何其他合适的有线或无线接口)与I/O装置(例如键盘、鼠标、触控板等)通信。在一些实施例中,网络接口108包括用于Wi-Fi、以太网、和/或蓝牙网络的一个或多个接口,其每一个允许计算装置100与外部源(例如服务器或另一计算装置)交换数据。在一些实施例中,通信总线150包括电路(有时称为芯片组),以互连和控制系统模块中包括的各种系统部件之间的通信。
在一些实施例中,存储器模块104包括高速随机存取存储器,例如DRAM、SRAM、DDRRAM或其他随机存取固态存储器装置,易失性存储器装置,例如动态随机存取存储器(“DRAM”)或静态随机存取存储器(“SRAM”)装置,非易失性存储器装置,例如电阻式随机存取存储器(“ReRAM”)、电可擦除可编程只读存储器(“EEPROM”)、闪存存储器(其也可以视为EEPROM的子集)、铁电随机存取存储器(“FRAM”)、磁阻式随机存取存储器(“MRAM”),以及其他能够存储信息的半导体元件。此外,每种类型的存储器装置可以具有不同的配置。例如,闪存存储器装置可以配置为NAND或NOR配置。
存储器装置可以由无源元件、有源元件或两者形成。作为非限定性示例,无源半导体存储器元件包括ReRAM装置元件,其在一些实施例中包括电阻开关储存元件(例如反熔丝、相变材料等),以及可选的导引元件(例如二极管等)。作为进一步的非限定性示例,有源半导体存储器元件包括EEPROM和闪存存储器装置元件,其在一些实施例中包括包含电荷储存区域,例如浮栅、导电纳米颗粒或电荷储存电介质材料的元件。
多种存储元件可以配置为使得它们串联连接,或使得每个元件独立地可存取。作为非限定性示例,NAND装置包含串联连接的存储元件(例如包含电荷存储区域的装置)。例如,NAND存储器阵列可以配置为使得该阵列由存储器的多个串(string)组成,其中每个串由共享单个位线并作为组存取的多个存储器元件组成。与之相反,存储器元件可以配置为使得每个元件独立地可存取,例如NOR存储器阵列。本领域技术人员将认识到,NAND和NOR存储器配置是示范性的,且可以以其他方式配置存储器元件。
包含在单个装置中的半导体存储器元件(例如定位在相同的基板内和/或相同的基板上的存储器元件,或者在单个裸芯中的存储器元件)可以以二维或三维方式(例如二维(2D)存储器阵列结构或三维(3D)存储器阵列结构)分布。
在二维存储器结构中,半导体存储器元件可以布置为单个平面或单个存储器装置级(level)。典型的,在二维存储器结构中,存储器元件定位在平面中(例如在x-z方向平面中),该平面基本平行于支承存储器元件的基板的主表面延伸。基板可以是晶片,在该晶片上沉积存储器元件的材料层,和/或在该晶片中形成存储器元件,或者该基板可以是载体基板,在形成存储器元件后将该载体基板附接至存储器元件。
存储器元件可以布置为有序阵列,例如多行和/或多列的单个存储器装置级。然而,存储器元件可以布置为非规则或非正交配置,如本领域技术人员可理解的。每个存储器元件可以具有两个或更多个电极或接触线,包括位线和字线。
三维存储器阵列被组织为使得存储器元件占据多个平面或多个装置级,形成三维的结构(即,在x、y和z方向上,其中y方向基本垂直于基板的主表面,且x和z方向基本平行于基板的主表面)。
作为非限定性示例,三维存储器阵列结构中的每个平面可以物理地定位在具有多个二维存储器级的两个维度(一个存储器级)中,以形成三维存储器阵列结构。作为另一非限定性示例,三维存储器阵列可以物理地构造为多个垂直列(例如在y方向上基本垂直于基板的主表面延伸的列),每个列中具有多个元件,且因此具有跨越存储器装置的若干垂直堆叠平面的元件。列可以布置为二维配置,例如在x-z平面上,由此产生存储器元件的三维布置。本领域人员将理解的是,存储器元件的在三个维度中的其他配置也将构成三维存储器阵列。
作为非限定性示例,在三维的NAND存储器阵列中,存储器元件可以被连接在一起以形成单个平面中的NAND串,为了便于讨论,有时将该平面称为水平(例如x-z)面。可替代的,存储器元件可以被连接在一起以通过多个平行平面延伸。可以设想其他的三维配置,其中一些NAND串包含存储器元件的单个平面(有时称为存储器级)中的存储器元件,而其他串包含通过多个平行平面(有时称为平行存储器级)延伸的存储器元件。三维存储器阵列也可以被设计为NOR配置和ReRAM配置。
在单片(monolithic)三维存储器阵列中,根据制造过程的序列,存储单元的多个平面(也称为多个存储器级)形成在单个基板(例如半导体晶片)上或单个基板内。在单片3D存储器阵列中,形成相应的存储器级的材料层(例如最顶部的存储器级)定位在形成下面的存储器级的材料层的顶部,但在相同的单个基板上。在一些实施例中,单片3D存储器阵列的相邻的存储器级可选地共享至少一个材料层,而在其他实施例中,相邻的存储器级具有将其分隔开的中间材料层。
与之相反,可以单独地形成二维存储器阵列,且随后将其集成在一起以形成混合方式的非单片3D存储器装置。例如,已通过在分离的基板上形成2D存储器级,并彼此叠置地将形成的2D存储器级集成,构造堆叠的存储器。在集成为3D存储器装置之前,每个2D存储器级的基板可以被薄化或移除。当单独的存储器级形成在分离的基板上时,产生的3D存储器阵列是非单片三维存储器阵列。
此外,选自2D存储器阵列和3D存储器阵列(单片或混合的)的多于一个存储器阵列可以单独地形成,且随后封装在一起以形成堆叠的芯片存储器装置。堆叠的芯片存储器装置包括存储器装置的多个平面或层,有时称为存储器级。
术语“三维存储器装置”(或3D存储器装置)在本文中被限定为意味着具有存储器元件的多个层或多个级(例如有时称为多个存储器级)的存储器装置,其包括以下任何一种:具有单片或非单片3D存储器阵列的存储器装置,上文已经描述了其中一些非限定性示例;或两个或更多个2D和/或3D存储器装置,封装在一起以形成堆叠的芯片存储器装置,上文已经描述了其中一些非限定性示例。
本领域技术人员将认识到的是,本文所描述和要求保护的发明不限于本文所描述的二维和三维示范性结构,而是覆盖适合于实施本文所描述的发明且如本领域技术人员所理解的所有相关的存储器结构。
在一些实施例中,存储器模块104包括非易失性存储器,例如一个或多个磁盘存储装置、光盘存储装置、闪存存储装置、或其他非易失性固态存储装置。在一些实施例中,存储器模块104,或可替代的,在存储器模块104内的(多个)非易失性存储器装置,包括非临时性计算机可读存储介质。在一些实施例中,在系统模块100上保留存储器插槽以接收存储器模块104。一旦插入存储器插槽中,存储器模块104便集成在系统模块100中。
在许多实施例中,系统模块100还包括选自下述的一种或多种部件:
在计算装置中的存储器控制器110,控制CPU 102和包括存储器模块104的存储器部件之间的通信;
固态驱动器(SSD)112,应用集成电路组装件以在计算装置中存储数据,且在一些实施例中,固态驱动器112基于NAND或NOR存储器配置;
硬盘驱动器114,其为常规的数据存储装置,用于存储和检索(retrieving)基于机电磁盘的数字信息;
电力供给连接器116,其被电联接以接收外部电力供给;
电力管理集成电路(PMIS)118,其将接收的外部电力供给调制为其他期望的DC电压水平,例如5V、3.3V或1.8V,如计算装置内的各种部件和电路所需要的;
显卡120,其根据其期望的图像/视频格式生成至该一个或多个显示装置的输出图像的馈送;以及
声卡122,其在计算机程序的控制下促进往返于计算装置的音频信号的输入和输出。
应当注意的是,一个或多个通信总线150还互连和控制各种系统部件,包括部件110-122(以及未列出的其他部件)之间的通信。
此外,本领域技术人员将理解的是,可以使用其他非临时性计算机可读存储介质。特别的,随着新的数据存储技术的开发,这些新的数据存储技术可以用于本文所描述的存储器模块中。这些新的非临时计算机可读存储介质包括但不限于:由生物材料、纳米线、碳纳米管和单分子制造的那些存储介质,即使相应的数据存储技术目前尚在开发中且还未商业化。
前述部件中的一些(或其他未提及的部件)在正常运期间发热,且因此集成有热沉以降低相对应的部件的温度。例如,用于刀片服务器中的固态驱动器112可以具有安装在每个单独的双列直插式存储器模块(DIMM)的顶部上或安装在包含DIMM的电子组装件上的热沉。由DIMM中的电子部件产生的热量被引导至热沉,并通过由风扇产生的气流消散。然而,随着这些刀片服务器中的数据工作负荷增大以及DIMM的形状因数的减小(例如在存储器模块104中紧密设置的存储器插槽),使得常规的热沉和高速风扇更加难以有效地引导和耗散热量。更普遍的,随着电子部件的尺寸的减小,且越来越多的电子部件被彼此邻近地设置在电路板上,使得更加难以保持电子部件充分的冷却。
为解决该问题,本文描述的各种实施例描述了一种电子组装件,该电子组装件形成自支持管或通道以引导该组装件的电子部件上的气流。特别的,通道结构有助于将空气流动限制于通道内的空间。因此,通过使空气穿过通道(例如通过对流、风扇或任何其他技术),可以将热量从通道内的部件或以其他方式热联接至通道的部件(例如安装在通道的外部,但热耦合至通道内的热沉的部件)有效地移除。由于通道结构将气流限制在通道内的空间,对于给定的气流量,可以实现比其他可能的方式更好的冷却性能。
图2A示出了电子组装件200(“组装件200”)的实施例,其中组装件200形成自支持通道。特别的,组装件200包括第一电路板202、第二电路板204和连接模块206。第一电路板和第二电路板有时在本文简称为“板”。
在一些实施例中,连接模块206是第三电路板。在其他实施例中,连接模块206是机械结构,用于将第一电路板和第二电路板按照本文所述的方式彼此连接。在连接模块206是第三电路板的实施例中,第三电路板可以执行与第一电路板和第二电路板相同或不同的各种功能的任意一个。例如,第一、第二和第三电路板中的任意一个或多个可以包括一个或多个SSD。
在一些实施例中,第三电路板包括产生大量热量的部件,例如能量保持电容器电路,例如图7所示的电力存储和分配模块704。在一些实施方式中,电力存储和分配模块704包括用于监测、存储和分配用于存储装置的功率的电路,包括监测、控制、充电、和/或测试能量存储装置705。在一些实施例中,能量存储装置705包括一个或多个电容器。在其他实施例中,能量存储装置705包括一个或多个电感器,或存储能量的任何其他无源元件。在一些实施方式中,电力存储和分配模块704包括升压电路720、能量存储装置705、晶体管710和712、以及电压Vdd 702、Vholdup 706和Vswitched 708。在一些实施方式中,Vdd 702是由主系统供给的电压,并具有1.5伏或更小的目标值。在一些实施方式中,Vholdup 706是来自Vdd 702的升压电压,并具有5.7伏的目标值。在一些实施例中,Vholdup 706用于为能量存储装置705充电。在一些实施方式中,VSPD 704是供给用于串行存在检测(SPD)功能的电压,并具有3.3伏的目标值。此外,在一些实施方式中,在任意时间,仅晶体管710和712中的一个被启用。例如,每当晶体712被启用,晶体管710被禁用(断开状态),从而确保来自能量存储装置705的电力不会漏(drain)入主系统。在一些实施方式中,两个晶体管710和712可以被同时禁用。在一些实施方式中,能量存储装置705包括使用一个或多个电容器来实施的电力保持电路。合适的电力存储和分配模块704的进一步细节可见于在2013年12月19日提交的名称为“PowerFailure Architecture and Verification”的美国申请No.14/135,386中,其全部内容通过引用结合于本文。
在热通道内的第三电路板上设置产生大量的热量的部件允许更稳健(robust)的散热和/或这些部件的冷却。此外,将发热部件设置在与其他部件(例如更加热敏感的部件)分离的板上,允许不同类型的部件之间的更好的热分离。
组装件200包括联接至板的一个或多个电子部件210。在一些实施例中,组装件200配置为机械地和/或电气地联接至基部板(例如图2B的基部板208)。在一些实施例中,基部板是计算机的主板。在一些实施例中,基部板是组装件200被配置为所耦接的任何电路板。在一些实施例中,组装件200是子板组装件。
在一些实施例中,第一电路板202和第二电路板204中的至少一个包括一个或多个固态驱动器(SSD)。在一些实施例中,第一电路板202和第二电路板204中的至少一个包括一个或多个三维(3D)存储器装置。
在一些实施例中,电子部件210是或包括存储器模块。在一些实施例中,电子部件210是或包括处理器。在一些实施例中,电子部件210是电子部件的组合(例如,图2A中的一个或多个电子部件210是存储器模块,而图2A中的一个或多个其他电子部件210是处理器,等等)。
第一电路板202、第二电路板204以及连接模块206经由一个或多个柔性互连体被机械地和/或电气地联接。例如,组装件200包括柔性互连体211,其将第一板202机械地和/或电气地联接至第二板204。组装件200还包括柔性互连体212,其将连接模块206机械地和/或电气地联接至第二板204。在一些实施例中,柔性互连体(例如柔性互连体211、212)是扁平(flat)的互连机构,用于电连接两个板(例如第一板202和第二板204)或其他电子部件或子组装件。柔性互连体可以是柔性板、柔性导线阵列、柔性PCB、柔性扁平电缆、带状电缆(例如柔性扁平带状电缆),或它们的组合。柔性互连体可以在两个板(例如第一板202和第二板204)之间或在其他电子部件和子组装件之间运载电信号。然而,在一些实施例中,柔性互连体不在两个部件之间运载电信号。
应当理解的是,可以使用更多或更少的柔性互连体以根据本申请中的描述的要旨来联接电子组装件的板。例如,电子组装件可以由四个(或更多)板组成,其中使用柔性互连体来将四个(或更多)板彼此互连。本文参照图3A-3D描述了这样的组装件的一个示例。
回到图2A,板202、204、206已配置为使得通道214由第一板202、第二板204和连接模块206形成。空气可以随后被强制通过该通道(例如使用风扇、压缩空气、对流等),以从电子部件210移除热量。特别的,经由一个或多个紧固件224联接第一板202和连接模块206。一个或多个紧固件224包括机械地和/或电气地联接第一板202和连接模块206的任何形状、部件、或装置。例如,一个或多个紧固件224可以是由以下组成的任何组:夹子、螺丝、螺栓、螺母、焊片和/或焊接连接、粘合剂、槽、孔、钉、凸起、或诸如此类(或前述项目的任何组合)。例如,如图2A所示,连接模块206包括两个凸起,其接收在第一板202的相应的凹陷中。在一些实施例中,凸起和凹陷包括焊片,从而第一板202可以被焊接至连接模块206,由此形成板202、206之间的至少机械连接。在一些实施例中,焊片还形成板202、206之间的电连接(例如用于电力和接地信号,或任何其他合适的电信号)。本文参考图4A-4C更详细地描述了紧固件224。
通过将连接模块206接合至第一板202,组装件200形成通道(例如通道214),该通道的边界为第一板202、第二板204和第三板206,以及将板彼此联接的任何柔性互连体(例如互连体211、212)。因此,通道的形成无需外部支承、导轨、支架或其他硬件,减少了组装件200的成本和复杂性,同时仍提供了由这样的通道可能实现的增加的冷却量。特别的,由于可以通过接合第一板202和连接模块206来简单地形成通道214,组装件200可以比需要更复杂的安装硬件的结构更容易地制造。此外,由于整个组装件200可以被焊接在一起(例如,柔性互连体211、212可以被焊接至分别的板,且第一板202可以被焊接至连接模块206),获得的组装件比使用较少的固定安装或附接技术的组装件更坚稳。特别的,焊接连接可以更加耐受计算机硬件中频繁出现的由加热和冷却循环导致的分离或松动。
如图2A所示,通过柔性互连体将通道214支承在一些位置。例如,柔性互连体211接合第一板202和第二板204,且当组装件形成为通道214时,柔性互连体211提供结构支承,以将第一板202和第二板204分离。类似的,尽管小于柔性互连体211,接合第二板204和连接模块206的柔性互连体212也支承组装件200,以维持通道214的结构完整性。当组装件完成时,尽管柔性互连体211、212的刚性足以维持第一板202和连接模块204的分离,但其柔性足以提供柔韧的接合,从而可以彼此相对地移动板而不会损坏连接。这允许彼此相对地调整(manipulate)板,以便于安装和组装。例如,当第一板202和连接模块206分离时,组装件200可以被安装至基部板(例如图2B的基部板208)。第一板202随后被折叠在第二板204上,从而第一板202、第二板204基本彼此平行。连接模块206随后被联接至第一板202以形成通道214。由此,柔性互连体211、212(以及根据本发明的理念可以用于接合组装件中的板的任何其他柔性互连体)的柔性足以容许板彼此相对地移动,但其刚性足以在正常操作和取向下支承通道214(例如使得通道214不会崩塌)。
在一些实施例中,多个组装件200被组合以形成基本连续的通道。例如,在一些实施例中,若干组装件200被联接至一个或多个基部板,以使得各自的通道214基本对准,由此允许空气通过各自的通道。在一些实施例中,多个组装件200形成单个通道,组装件200被彼此联接以形成基本连续的通道。例如,在一些实施例中,将支架、密封件、导轨、或任何其他合适的部件设置在两个相邻的组装件之间,以防止空气从通道溢出。
图2B是组装件200的侧视图。如图2B所示,已经设置第一板202、第二板204和连接模块206以形成通道214。图2B还示出了基部板208(例如主板),组装件200机械地和/或电气地联接至基部板208。在一些实施例中,组装件200包括在第二板204中或联接至第二板204的一个或多个紧固件222,以促进这样的联接。例如,在一些实施例中,一个或多个紧固件222包括嵌入板204的一个或多个螺纹螺母,基部板208上的安装螺丝被拧入螺纹螺母以将组装件200联接至基部板208。在一些实施例中,一个或多个紧固件222选自下述构成的组:螺丝、螺母(例如PEM螺母)、螺栓、栅阵列(例如球栅阵列、引脚网格阵列等)、导线、引脚(例如双列直插式、四列直插式等)、支架(standoff)、夹子、柔性互连体、焊片、焊接接头和粘合剂。也可以使用其他合适的紧固件和紧固技术。
图2C是组装件200的侧视图,其中第一板202未被联接至连接模块206。图2D是组装件200的另一侧视图,其中第一板202未被联接至连接模块206,且第一板202相对于第二板204成钝角。该取向促进将组装件200安装至基部板208,这是由于第二板204的表面易于达到。特别的,当组装件200是封闭的并形成通道214时,将更难以达到第二板204的表面以促进安装。在一些实施例中,当第一板202和连接模块206已被联接以促进组装件的维持和移除之后,第一板202和连接模块206可以被分离。例如,组装件200可以被打开,从而由于通过通道214的气流而沉积的粉尘、颗粒或其他污染物可以被移除。在一些实施例中,一个或多个紧固件224(未在图2B-2D中示出)配置为允许第一板202和连接模块206分离,而不破坏组装件200(例如使用弹簧夹、螺丝等)。在一些实施例中,其中第一板202和连接模块206被焊接在一起(例如,紧固件224包括已被焊接在一起的焊垫),可以通过将板解焊来将第一板202和连接模块206分离。
图3A示出了电子组装件300(“组装件300”)的实施例,其中组装件300形成自支持通道。组装件300包括和图2A-2D所示的组装件200相同的多个部件(例如电子部件210、第一板202、第二板204、连接模块206等),且上文提供的用于这些部件的细节和解释通过引用并入至组装件300,且此处不再重复。
虽然组装件200(图2A)包括将第一板202机械地和/或电气地联接至第二板204的柔性互连体211,但组装件300(图3A)包括第四电路板216,其通过柔性互连体218和220被联接至第一板202和第二板204。第四板216的增加可以为组装件增加刚性程度,这在一些应用中可能是有利的。例如,在一些实施例中,在组装件200中的柔性互连体211的刚性不足以支承通道214。这可能发生在如果通道214太大,或第一板202太重,而无法由柔性互连体211支承时。此外,第四板216的增加提供了可以安装电子部件210的更多的表面面积。因此,可以提供更紧凑、密集封装的电子组装件,而不增加组装件的总尺寸。
虽然使用柔性互连体(分别为220和218)将第四板216联接至第一板202和第二板204两者,但在一些实施例中,这些联接中仅一个是柔性的。例如,第一板202和第四板216之间的联接或第二板204和第四板216之间的联接可以是刚性联接。可以使用任何合适的技术和使用任何合适的紧固件(例如上文参考图2A所述的紧固件,以及下文参考图4A-4C的紧固件)来实现第四板216和另一板之间的刚性联接。
图3B和3C是组装件300的侧视图。如图3B所示,第一板202、第二板204、连接模块206和第四板216已被设置为形成通道214。在图3C中,第一板202未联接至连接模块206。图3D是组装件300的另一侧视图,其中第一板202未连接至连接模块206,且第一板202相对于第二板204成钝角。该取向促进了将组装件300安装至基部板208,这是由于第二板204的表面易于达到。
图4A-4C示出了组装件200的实施例,用于将第一板202与连接模块206相联接的一个或多个紧固件224具有变化。例如,图4A示出了图2A所绘示的组装件200,其中第一板202包括孔402,且连接模块包括配置为与孔402配合(例如适配)的凸起404。孔402为任何合适的形状,包括圆形、正方形、矩形、椭圆形或诸如此类。
在一些实施例中,孔402包括焊片406,且凸起包括用于连接至焊片406的焊片408(应当认识到,孔或凸起上可以包括比图4A所示更多或更少的焊片)。在一些实施例中,当第一板202被联接至连接模块206时,焊片406、408被焊接在一起,以将第一板202牢固地联接至连接模块206。在一些实施例中,这还使得第一板202和连接模块206电联接。在一些实施例中,焊接使得第一板202电联接至第二板204(例如经由柔性互连体212)。
在一些实施例中,焊接仅用来将第一板202机械联接至连接模块206(例如没有电信号旨在经由焊片406、408在第一板202和连接模块206之间传输)。
虽然图4A示出了两个孔和两个相对应的凸起,但应当理解的是,这仅是示范性的,也可以使用更多或更少(例如3、4、5、10个等)的孔以及相对应的凸起。
图4B示出了组装件200,其中第一板202包括凹口412,且连接模块包括配置为与凹口412配合(或适配)的凸起414。凹口412为任何合适的形状,包括圆形、正方形、矩形、椭圆形或诸如此类。
在一些实施例中,凹口412包括焊片416,且凸起包括用于联接至焊片416的焊片418(应当认识到,孔或凸起上可以包括比图4B所示更多或更少的焊片)。焊片416和418类似于焊片406、408,且焊片406、408的结构和功能的说明等同地应用于焊片416和418,且此处将不再重复。
图4C示出了组装件200,其中第一板202包括槽422(例如延长的孔),且连接模块包括配置为与槽422配合(例如适配)的凸起424。
在一些实施例中,槽422包括焊片426,且凸起包括用于联接至焊片426的焊片428(应当认识到,孔或凸起上可以包括比图4C所示更多或更少的焊片)。焊片422和426类似于焊片406、408,且焊片406、408的结构和功能的说明等同地应用于焊片416和418,且此处将不再重复。
在图4A-4C中,凸起、孔、槽、凹口和焊垫都被视为紧固件或紧固件的部件。此外,也可以使用未在图4A-4C中描述或示出的其他紧固件部件来帮助将第一板202联接至连接模块206(例如螺丝、按扣、夹子、粘合剂、支架、磁体等)。
图5示出了根据一些实施例的制造用于散热的电子组装件的方法500的示范性流程图。提供第一电子组装件(502)。电子组装件包括第一电路板(例如第一电路板202)、第二电路板(例如第二电路板204)、连接模块(例如第三电路板)和紧固件(例如一个或多个紧固件224)。
在一些实施例中,当第一电路板和第二电路板未基本平行时,第二电路板被联接至基部电路板(例如基部板208)(504)。电子组装件(例如第一电路板)随后被调整(例如通过机械或手),以使得第一电路板设置为基本平行于第二电路板(506)。调整第一电路板以使得第一电路板设置为基本平行于第二电路板造成将第一电路板联接至第二电路板的第一柔性互连体的至少一部分(例如柔性互连体211)变形或弯曲。
在一些实施例中,连接模块被调整,以使得连接模块设置为基本垂直于第二电路板(例如,如图2A所示),其中调整连接模块造成将连接模块联接至第二电路板的第二柔性互连体的至少一部分(例如柔性互连体212)变形(506)。
使用紧固件(例如一个或多个紧固件224)将第一电路板联接至连接模块,以使得第一电路板和第二电路板基本平行且通过空间分隔开,其中该空间形成通道(例如通道214)的至少一部分,该通道配置为引导气流通过第一电路板、第二电路板和连接模块(508)之间的空间。
图6示出了根据一些实施例的用于电子组装件中的散热的方法600的示范性流程图。提供如上文关于图1-4C描述的电子组装件(602)。在一些实施例中,电子组装件包括第一电路板、第二电路板和紧固件。第二电路板被柔性联接至第一电路板。连接模块被联接至第二电路板。紧固件将第一电路板联接至连接模块,以使得第一电路板和第二电路板基本平行且通过空间分隔开。
在一些实施例中,第一电路板和第二电路板至少之一包括一个或多个固态驱动器(SSD)。在一些实施例中,第一电路板和第二电路板至少之一包括一个或多个三维(3D)存储器装置。
在这之后,如上文所述,气流被引导(604)通过第一电路板、第二电路板和连接模块之间的空间以耗散热量,即空气通过通道。
本领域技术人员将认识到,本文所描述和要求保护的发明不限于本文所描述的二维和三维示范性结构,而是覆盖适合于实施本文所描述的发明且如本领域技术人员所理解的所有相关的存储器结构。
应当理解的是,尽管本文可能使用术语“第一”、“第二”等来描述各种元件,但这些元件不应被这些术语限制。这些术语仅用来将元件彼此区分。例如,第一接触可以被称为第二接触,类似的,第二接触可以被称为第一接触,这改变了描述的含义,只要所有出现的“第一接触”都一致地重命名,且所有出现的“第二接触”都一致地重命名。第一接触和第二接触都是接触,但它们不是相同的接触。
本文所使用的术语集仅是为了描述特定的实施例,而非意在限定权利要求。如实施例的说明和随附的权利要求中所使用的,单数形式的“一”和“该”意在也包括复数形式,除非上下文明确地指出。还应当理解的是,术语本文所使用的术语“和/或”是指且包含一个或多个相关列举项目的任何和所有可能的组合。还应当理解的是,当在说明书中使用时,术语“包括”和/或“包含”规定了所陈述特征、整体、步骤、操作、元件、和/或部件的存在,但并不排除附加的一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元件、部件和/或它们的组的存在。
如本文所使用的,取决于上下文,术语“如果”可以被解释为意味着“当”或“在”或“响应于决定”或“根据决定”或“响应于检测”,陈述的先决条件为真。类似的,取决于上下文,短语“如果决定了[陈述的先决条件为真]”或“如果[陈述的先决条件为真]”或“当[陈述的先决条件为真]”可以被解释为意味着“在决定时”或“响应于决定”或“根据决定”或“在检测时”或“响应于检测”,陈述的先决条件为真。
为了解释目的,已参考特定的实施例描述了前述说明。然而,以上说明性的讨论无意穷举或将本发明限定为所公开的精确形式。鉴于上文的教导,许多修改和变化是可能的。所选择和描述的实施例是为了最佳地解释本发明的原理及其实际应用,从而使本领域技术人员最佳地利用本发明和具有各种修改的各种实施例,以适合于所设想的特定用途。

Claims (25)

1.一种用于散热的电子组装件,包括:
包括第一紧固件的第一电路板;
柔性联接至所述第一电路板的第二电路板;以及
连接模块,联接至所述第二电路板的且包括第二紧固件,其中所述第二紧固件与所述第一紧固件不同且配置为连接至所述第一紧固件;
其中所述第一紧固件和所述第二紧固件配置为将所述第一电路板联接至所述连接模块,使得所述第一电路板和所述第二电路板基本平行且通过空间分隔开,其中所述空间形成通道的至少一部分,所述通道配置为引导气流通过所述第一电路板、所述第二电路板和所述连接模块之间的所述空间,
其中所述连接模块电联接到所述第二电路板,并且
其中所述通道在没有外部支承、导轨、支架或其他硬件的情况下形成。
2.如权利要求1所述的电子组装件,其中使用柔性互连体将所述第一电路板柔性联接至所述第二电路板。
3.如权利要求2所述的电子组装件,其中所述柔性互连体将所述第一电路板电联接至所述第二电路板。
4.如权利要求1所述的电子组装件,其中所述通道的第一侧包括所述连接模块,且所述通道的第二侧包括所述柔性互连体。
5.如权利要求1所述的电子组装件,其中使用一个或多个所述柔性互连体以及一个或多个附加的电路板将所述第一电路板柔性联接至所述第二电路板。
6.如权利要求1所述的电子组装件,其中所述第二电路板柔性联接至所述连接模块。
7.如权利要求6所述的电子组装件,其中使用柔性互连体将所述第二电路板柔性联接至所述连接模块。
8.如权利要求7所述的电子组装件,其中所述柔性互连体将所述第二电路板电联接至所述连接模块。
9.如权利要求1所述的电子组装件,其中所述第一电路板和第二电路板至少之一包括一个或多个三维(3D)存储器装置。
10.如权利要求1-9中任一项所述的电子组装件,其中所述第一电路板包括两个相反的表面,且多个电子部件设置在所述第一电路板的所述两个相反的表面上。
11.如权利要求1-9中任一项所述的电子组装件,其中所述电子组装件安装至基部板,且所述第一电路板和所述第二电路板基本平行于所述基部板。
12.如权利要求1-9中任一项所述的电子组装件,其中所述第一紧固件选自孔、凹口和槽组成的组。
13.如权利要求12所述的电子组装件,其中所述第一紧固件和第二紧固件中的每个包括一个或多个焊垫。
14.如权利要求1-9中任一项所述的电子组装件,其中所述第一电路板包括在所述第一电路板的基板中的孔,且所述连接模块包括配置为与所述第一电路板中的孔相配合的凸起。
15.如权利要求1-9中任一项所述的电子组装件,其中所述连接模块包括在所述连接模块的基板中的孔,且所述第一电路板包括配置为与所述连接模块中的所述孔相配合的凸起。
16.如权利要求1-13中任一项所述的电子组装件,其中所述第一电路板包括在所述第一电路板的基板中的凹口,且所述连接模块包括配置为与所述第一电路板中的所述凹口相配合的凸起。
17.如权利要求1-9中任一项所述的电子组装件,其中所述连接模块包括在所述连接模块的基板中的凹口,且所述第一电路板包括配置为与所述连接模块中的凹口相配合的凸起。
18.如权利要求1-9中任一项所述的电子组装件,其中所述紧固件配置为将所述第一电路板机械地和电气地联接至所述第二电路板。
19.如权利要求1-9中任一项所述的电子组装件,其中所述第二电路板包括一个或多个第二紧固件,所述一个或多个第二紧固件配置为将所述第二电路板联接至基部板。
20.如权利要求1-9中任一项所述的电子组装件,其中所述第一电路板、所述第二电路板和所述连接模块至少之一包括一个或多个固态驱动器(SSD)。
21.如权利要求1-9中任一项所述的电子组装件,其中所述第一电路板、所述第二电路板和所述连接模块至少之一包括能量保持电容器电路。
22.一种制造用于散热的电子组装件的方法,包括:
提供电子组装件,所述电子组装件包括:
第一电路板,包括第一紧固件;
柔性联接至所述第一电路板的第二电路板;以及
连接模块,联接至所述第二电路板且包括第二紧固件,其中所述第二紧固件与所述第一紧固件不同且配置为连接至所述第一紧固件;以及
使用所述第一紧固件和所述第二紧固件将所述第一电路板联接至所述连接模块,使得所述第一电路板和所述第二电路板基本平行且通过空间分隔开,其中所述空间形成通道的至少一部分,所述通道配置为引导气流通过所述第一电路板、所述第二电路板和所述连接模块之间的所述空间,
其中所述连接模块电联接到所述第二电路板,并且
其中所述通道在没有外部支承、导轨、支架或其他硬件的情况下形成。
23.如权利要求22所述的方法,还包括,在将所述第一电路板联接至所述连接模块之前:
当所述第一电路板和所述第二电路板没有基本平行时,将所述第二电路板联接至基部电路板;以及
调整所述电子组装件,以使得所述第一电路板设置为基本平行于所述第二电路板,其中调整所述电子组装件以使得所述第一电路板设置为基本平行于所述第二电路板造成联接所述第一电路板和所述第二电路板的第一柔性互连体的至少一部分变形。
24.如权利要求23所述的方法,其中所述连接模块柔性联接至所述第二电路板,调整所述电子组装件包括调整所述电子组装件以使得所述连接模块设置为基本垂直于所述第二电路板,且调整所述电子组装件造成将所述连接模块联接至所述第二电路板的第二柔性互连体的至少一部分变形。
25.如权利要求22-23中任一项所述的方法,其中所述第一电路板和所述第二电路板至少之一包括一个或多个三维(3D)存储器装置、一个或多个固态驱动器(SSD)、或能量保持电容器电路。
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Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9612633B2 (en) * 2015-02-19 2017-04-04 Compulab Ltd. Passively cooled serviceable device
KR20160131171A (ko) * 2015-05-06 2016-11-16 에스케이하이닉스 주식회사 배터리를 포함하는 메모리 모듈
US11257527B2 (en) 2015-05-06 2022-02-22 SK Hynix Inc. Memory module with battery and electronic system having the memory module
JP6601055B2 (ja) * 2015-08-20 2019-11-06 富士通株式会社 プリント配線板、電子機器及び実装方法
CN205378459U (zh) * 2015-11-11 2016-07-06 海能达通信股份有限公司 发热器件散热装置、移动终端及功放散热组件
US9955596B2 (en) * 2016-08-10 2018-04-24 Seagate Technology Llc PCBA cartridge sub-assembly
US10085364B2 (en) 2016-08-11 2018-09-25 Seagate Technology Llc SSD internal thermal transfer element
WO2018119839A1 (en) * 2016-12-29 2018-07-05 Intel Corporation Ground heat sink for dual inline memory module cooling
WO2018139790A1 (ko) * 2017-01-24 2018-08-02 엘지전자 주식회사 이동 단말기
US10824054B2 (en) 2017-01-24 2020-11-03 Lg Electronics Inc. Mobile terminal
CN107507635A (zh) * 2017-09-05 2017-12-22 郑州云海信息技术有限公司 一种双层互联主板ssd硬盘
FR3074011B1 (fr) * 2017-11-21 2019-12-20 Safran Electronics & Defense Module electrique de puissance
KR102530066B1 (ko) 2017-12-08 2023-05-09 삼성전자주식회사 솔리드 스테이트 드라이브 장치
CN110278658B (zh) * 2018-03-16 2023-05-02 西门子公司 柔性电路板及其断路器
KR102620179B1 (ko) * 2018-07-24 2024-01-03 삼성전자주식회사 방열 구조를 갖는 전자 장치
US20200112153A1 (en) * 2018-10-09 2020-04-09 Uncharted Power, Inc. Modular Container And System Of Modular Containers
US11172574B2 (en) * 2019-03-22 2021-11-09 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Printed circuit board assembly
CN111787690B (zh) * 2019-04-03 2023-10-27 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 电路板
US10939540B2 (en) * 2019-04-30 2021-03-02 Intel Corporation Shielded folded circuit board
EP3751605A1 (de) * 2019-06-11 2020-12-16 Siemens Aktiengesellschaft Elektronischer schaltkreis und verfahren zur herstellung eines elektronischen schaltkreises
US10973125B2 (en) * 2019-06-28 2021-04-06 Hamilton Sundstrand Corporation Flex board spacer
CN114008768A (zh) * 2019-07-04 2022-02-01 松下知识产权经营株式会社 存储装置单元
CN110794199A (zh) * 2019-11-15 2020-02-14 苏师大半导体材料与设备研究院(邳州)有限公司 一种多功能电力仪表
CN111093349A (zh) * 2020-01-07 2020-05-01 深圳市江霖电子科技有限公司 模块化立体式pcb模组
CN111065247A (zh) * 2020-01-07 2020-04-24 深圳市江霖电子科技有限公司 高隔热立体式pcb模组
US11287806B2 (en) * 2020-02-11 2022-03-29 Uatc, Llc Vehicle computing system cooling systems
US11556149B2 (en) * 2020-07-13 2023-01-17 Dell Products, Lp Systems and methods of forming a video display
CN112074113A (zh) * 2020-08-17 2020-12-11 珠海格力电器股份有限公司 一种驱动器安装支架、驱动器及其电子设备
US11317533B2 (en) * 2020-09-14 2022-04-26 Seagate Technology Llc Heat sink arrangements for data storage systems
CN114501791A (zh) * 2020-11-12 2022-05-13 荣耀终端有限公司 电路板组件及电子设备
US12005596B2 (en) * 2021-04-07 2024-06-11 The Gillette Company Llc Personal care appliance and a method of assembling
US20220324126A1 (en) * 2021-04-07 2022-10-13 The Gillette Company Llc Personal care appliance

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5008496A (en) * 1988-09-15 1991-04-16 Siemens Aktiengesellschaft Three-dimensional printed circuit board
CN1419803A (zh) * 2000-02-18 2003-05-21 Incep技术公司 用于把电能提供到具有集成的热量和电磁干扰管理的微处理器的方法和装置
US20040183183A1 (en) * 2001-10-26 2004-09-23 Staktek Group, L.P. Integrated circuit stacking system and method
US20080225476A1 (en) * 2006-01-11 2008-09-18 Chris Karabatsos Tab wrap foldable electronic assembly module and method of manufacture
US20100008034A1 (en) * 2008-07-14 2010-01-14 International Business Machines Corporation Tubular memory module
CN203102072U (zh) * 2012-11-11 2013-07-31 北京忆恒创源科技有限公司 电子设备
CN103488262A (zh) * 2012-06-07 2014-01-01 苹果公司 带有无源传热的固态驱动器

Family Cites Families (326)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2560731B1 (fr) 1984-03-05 1989-05-12 Telecommunications Sa Carte imprimee multicouche thermoconductrice
JPS6185653A (ja) 1984-10-02 1986-05-01 Sharp Corp 光磁気メモリ素子
JPH066064Y2 (ja) 1986-11-29 1994-02-16 本州製紙株式会社 成形容器の集合包装体
DE3852122T2 (de) 1987-03-12 1995-04-27 Japan Government Immobilisierung von biofunktionellem material, daraus erzeugtes element und massnahme zu dessen verwendung.
US4916652A (en) 1987-09-30 1990-04-10 International Business Machines Corporation Dynamic multiple instruction stream multiple data multiple pipeline apparatus for floating-point single instruction stream single data architectures
US4839587A (en) 1988-03-29 1989-06-13 Digital Equipment Corporation Test fixture for tab circuits and devices
CH680693A5 (zh) 1990-08-07 1992-10-15 Sulzer Ag
US5657332A (en) 1992-05-20 1997-08-12 Sandisk Corporation Soft errors handling in EEPROM devices
GB9225260D0 (en) 1992-12-03 1993-01-27 Int Computers Ltd Cooling electronic circuit assemblies
US5416915A (en) 1992-12-11 1995-05-16 International Business Machines Corporation Method and system for minimizing seek affinity and enhancing write sensitivity in a DASD array
US5537555A (en) 1993-03-22 1996-07-16 Compaq Computer Corporation Fully pipelined and highly concurrent memory controller
US5519847A (en) 1993-06-30 1996-05-21 Intel Corporation Method of pipelining sequential writes in a flash memory
US5628031A (en) 1993-07-19 1997-05-06 Elonex Ip Holdings Ltd. Personal digital assistant module implemented as a low-profile printed circuit assembly having a rigid substrate wherein IC devices are mounted within openings wholly between opposite plane surfaces of the rigid substrate
JP3236137B2 (ja) 1993-07-30 2001-12-10 富士通株式会社 半導体素子冷却装置
JPH0786471A (ja) 1993-09-20 1995-03-31 Hitachi Ltd 半導体モジュ−ル
US5489805A (en) 1993-12-29 1996-02-06 Intel Corporation Slotted thermal dissipater for a semiconductor package
US5708849A (en) 1994-01-26 1998-01-13 Intel Corporation Implementing scatter/gather operations in a direct memory access device on a personal computer
GB9419246D0 (en) 1994-09-23 1994-11-09 Cambridge Consultants Data processing circuits and interfaces
US5666114A (en) 1994-11-22 1997-09-09 International Business Machines Corporation Method and means for managing linear mapped address spaces storing compressed data at the storage subsystem control unit or device level
US5530705A (en) 1995-02-08 1996-06-25 International Business Machines Corporation Soft error recovery system and method
WO1997000518A1 (fr) 1995-06-14 1997-01-03 Hitachi, Ltd. Memoire a semiconducteurs, unite de memoire et carte de memoire
US6728851B1 (en) 1995-07-31 2004-04-27 Lexar Media, Inc. Increasing the memory performance of flash memory devices by writing sectors simultaneously to multiple flash memory devices
US5973920A (en) 1996-05-31 1999-10-26 Texas Instruments Incorporated Heat frame for portable computer
US6058012A (en) 1996-08-26 2000-05-02 Compaq Computer Corporation Apparatus, method and system for thermal management of an electronic system having semiconductor devices
US6134148A (en) 1997-09-30 2000-10-17 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit and data processing system
US5943692A (en) 1997-04-30 1999-08-24 International Business Machines Corporation Mobile client computer system with flash memory management utilizing a virtual address map and variable length data
US6000006A (en) 1997-08-25 1999-12-07 Bit Microsystems, Inc. Unified re-map and cache-index table with dual write-counters for wear-leveling of non-volatile flash RAM mass storage
US5946190A (en) 1997-08-29 1999-08-31 Hewlett-Packard Company Ducted high aspect ratio heatsink assembly
JPH11126497A (ja) 1997-10-22 1999-05-11 Oki Electric Ind Co Ltd 不揮発性半導体記憶装置
US6009938A (en) 1997-12-11 2000-01-04 Eastman Kodak Company Extruded, tiered high fin density heat sinks and method of manufacture
US6018304A (en) 1997-12-18 2000-01-25 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for high-rate n/n+1 low-complexity modulation codes with adjustable codeword length and error control capability
US6061245A (en) 1998-01-22 2000-05-09 International Business Machines Corporation Free standing, three dimensional, multi-chip, carrier package with air flow baffle
US6084773A (en) 1998-02-17 2000-07-04 Intel Corporation Intergrated processor substrate protective enclosure for use in desktop PC systems
US5923532A (en) * 1998-04-21 1999-07-13 Rockwell Science Center, Inc. Lanced card guide
US6008987A (en) 1998-04-21 1999-12-28 Nortel Networks Corporation Electronic circuitry
US6070074A (en) 1998-04-24 2000-05-30 Trw Inc. Method for enhancing the performance of a regenerative satellite communications system
US6138261A (en) 1998-04-29 2000-10-24 Trw Inc. Concatenated coding system for satellite communications
US6182264B1 (en) 1998-05-22 2001-01-30 Vlsi Technology, Inc. Smart dynamic selection of error correction methods for DECT based data services
US7111293B1 (en) 1998-06-03 2006-09-19 Ants Software, Inc. Method for increased concurrency in a computer system
US6192092B1 (en) 1998-06-15 2001-02-20 Intel Corp. Method and apparatus for clock skew compensation
US6505305B1 (en) 1998-07-16 2003-01-07 Compaq Information Technologies Group, L.P. Fail-over of multiple memory blocks in multiple memory modules in computer system
US6314501B1 (en) 1998-07-23 2001-11-06 Unisys Corporation Computer system and method for operating multiple operating systems in different partitions of the computer system and for allowing the different partitions to communicate with one another through shared memory
US6295592B1 (en) 1998-07-31 2001-09-25 Micron Technology, Inc. Method of processing memory requests in a pipelined memory controller
US6175500B1 (en) 1998-09-22 2001-01-16 Lucent Technologies Inc. Surface mount thermal connections
US6031730A (en) 1998-11-17 2000-02-29 Siemens Automotive Corporation Connector for electrically connecting circuit boards
US6438661B1 (en) 1999-03-03 2002-08-20 International Business Machines Corporation Method, system, and program for managing meta data in a storage system and rebuilding lost meta data in cache
DE19910500A1 (de) 1999-03-10 2000-10-05 Bosch Gmbh Robert Elektrisches Gerät
US6507101B1 (en) 1999-03-26 2003-01-14 Hewlett-Packard Company Lossy RF shield for integrated circuits
US6449625B1 (en) 1999-04-20 2002-09-10 Lucent Technologies Inc. Use of a two-way stack approach to optimize flash memory management for embedded database systems
US6564271B2 (en) 1999-06-09 2003-05-13 Qlogic Corporation Method and apparatus for automatically transferring I/O blocks between a host system and a host adapter
US20020008963A1 (en) * 1999-07-15 2002-01-24 Dibene, Ii Joseph T. Inter-circuit encapsulated packaging
US20080282128A1 (en) 1999-08-04 2008-11-13 Super Talent Electronics, Inc. Method of Error Correction Code on Solid State Disk to Gain Data Security and Higher Performance
US20050114587A1 (en) 2003-11-22 2005-05-26 Super Talent Electronics Inc. ExpressCard with On-Card Flash Memory with Shared Flash-Control Bus but Separate Ready Lines
US7318117B2 (en) 2004-02-26 2008-01-08 Super Talent Electronics, Inc. Managing flash memory including recycling obsolete sectors
JP2001053205A (ja) 1999-08-05 2001-02-23 Hitachi Ltd マルチチップモジュールの封止冷却装置
JP3573034B2 (ja) 1999-11-17 2004-10-06 日本電気株式会社 多層プリント配線板およびその放熱構造
US6484224B1 (en) 1999-11-29 2002-11-19 Cisco Technology Inc. Multi-interface symmetric multiprocessor
DE19961138C2 (de) 1999-12-17 2001-11-22 Siemens Ag Multiport-RAM-Speichervorrichtung
US8037234B2 (en) 2003-12-02 2011-10-11 Super Talent Electronics, Inc. Command queuing smart storage transfer manager for striping data to raw-NAND flash modules
US7082056B2 (en) 2004-03-12 2006-07-25 Super Talent Electronics, Inc. Flash memory device and architecture with multi level cells
US20020152305A1 (en) 2000-03-03 2002-10-17 Jackson Gregory J. Systems and methods for resource utilization analysis in information management environments
US6516437B1 (en) 2000-03-07 2003-02-04 General Electric Company Turbo decoder control for use with a programmable interleaver, variable block length, and multiple code rates
US6615307B1 (en) 2000-05-10 2003-09-02 Micron Technology, Inc. Flash with consistent latency for read operations
US20030188045A1 (en) 2000-04-13 2003-10-02 Jacobson Michael B. System and method for distributing storage controller tasks
US6678788B1 (en) 2000-05-26 2004-01-13 Emc Corporation Data type and topological data categorization and ordering for a mass storage system
US6442076B1 (en) 2000-06-30 2002-08-27 Micron Technology, Inc. Flash memory with multiple status reading capability
US6541310B1 (en) 2000-07-24 2003-04-01 Siliconware Precision Industries Co., Ltd. Method of fabricating a thin and fine ball-grid array package with embedded heat spreader
CA2316745A1 (en) 2000-08-24 2002-02-24 Nortel Networks Limited Telecommunications system
US6980985B1 (en) 2000-08-30 2005-12-27 At&T Corp. Distributed evalulation of directory queries using a topology cache
US6750396B2 (en) 2000-12-15 2004-06-15 Di/Dt, Inc. I-channel surface-mount connector
US6738870B2 (en) 2000-12-22 2004-05-18 International Business Machines Corporation High speed remote storage controller
FR2819111B1 (fr) 2000-12-28 2003-03-07 Thomson Csf Module d'interconnexion pour fond de boitier d'appareillage electrique
US20020174295A1 (en) 2001-01-29 2002-11-21 Ulrich Thomas R. Enhanced file system failure tolerance
US6500010B2 (en) 2001-03-02 2002-12-31 Cray Inc. Electrical circuit connector with resilient pressure pads
US7017107B2 (en) 2001-04-30 2006-03-21 Sun Microsystems, Inc. Storage array employing scrubbing operations at the disk-controller level
US6938253B2 (en) 2001-05-02 2005-08-30 Portalplayer, Inc. Multiprocessor communication system and method
US6757768B1 (en) 2001-05-17 2004-06-29 Cisco Technology, Inc. Apparatus and technique for maintaining order among requests issued over an external bus of an intermediate network node
US7068603B2 (en) 2001-07-06 2006-06-27 Juniper Networks, Inc. Cross-bar switch
US6836815B1 (en) 2001-07-11 2004-12-28 Pasternak Solutions Llc Layered crossbar for interconnection of multiple processors and shared memories
JP4569055B2 (ja) 2001-08-06 2010-10-27 ソニー株式会社 信号処理装置及び信号処理方法
TW539946B (en) 2001-08-07 2003-07-01 Solid State System Company Ltd Window-based flash memory storage system, and the management method and the access method thereof
JP4437519B2 (ja) 2001-08-23 2010-03-24 スパンション エルエルシー 多値セルメモリ用のメモリコントローラ
US6411511B1 (en) 2001-09-14 2002-06-25 Portwell Inc. Motherboard heat sink passage and support board
US7028213B2 (en) 2001-09-28 2006-04-11 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Error indication in a raid memory system
US7032123B2 (en) 2001-10-19 2006-04-18 Sun Microsystems, Inc. Error recovery
JP3663377B2 (ja) 2001-10-23 2005-06-22 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション データ記憶装置、読み出しデータの処理装置および読み出しデータの処理方法
US7380085B2 (en) 2001-11-14 2008-05-27 Intel Corporation Memory adapted to provide dedicated and or shared memory to multiple processors and method therefor
US6798696B2 (en) 2001-12-04 2004-09-28 Renesas Technology Corp. Method of controlling the operation of non-volatile semiconductor memory chips
JP2003188565A (ja) 2001-12-18 2003-07-04 Nec Corp 表面実装用電子部品の放熱構造
US7030482B2 (en) 2001-12-21 2006-04-18 Intel Corporation Method and apparatus for protecting a die ESD events
US6618249B2 (en) 2002-02-05 2003-09-09 Quantum Corporation Thermal cooling system for densely packed storage devices
US6871257B2 (en) 2002-02-22 2005-03-22 Sandisk Corporation Pipelined parallel programming operation in a non-volatile memory system
US6836808B2 (en) 2002-02-25 2004-12-28 International Business Machines Corporation Pipelined packet processing
DE10214363A1 (de) 2002-03-30 2003-10-16 Bosch Gmbh Robert Kühlanordnung und Elektrogerät mit einer Kühlanordnung
KR100476888B1 (ko) 2002-04-04 2005-03-17 삼성전자주식회사 온도보상기능을 가진 멀티비트 플래쉬메모리
US6621705B1 (en) 2002-04-12 2003-09-16 Cisco Technology, Inc. Miniature surface mount heatsink element and method of use
WO2003094586A1 (de) 2002-04-29 2003-11-13 Siemens Aktiengesellschaft Leiterplatte mit smd-bauelement und kühlkörper
JP4079684B2 (ja) 2002-05-08 2008-04-23 株式会社日立製作所 ヒープメモリ管理方法およびそれを用いた計算機システム
US6895464B2 (en) 2002-06-03 2005-05-17 Honeywell International Inc. Flash memory management system and method utilizing multiple block list windows
US6978343B1 (en) 2002-08-05 2005-12-20 Netlogic Microsystems, Inc. Error-correcting content addressable memory
US7051155B2 (en) 2002-08-05 2006-05-23 Sun Microsystems, Inc. Method and system for striping data to accommodate integrity metadata
US6762942B1 (en) 2002-09-05 2004-07-13 Gary W. Smith Break away, high speed, folded, jumperless electronic assembly
US7079972B1 (en) 2002-10-15 2006-07-18 Garrettcom, Inc Apparatus and method for temperature control of integrated circuits
US20040153902A1 (en) 2003-01-21 2004-08-05 Nexflash Technologies, Inc. Serial flash integrated circuit having error detection and correction
US7043505B1 (en) 2003-01-28 2006-05-09 Unisys Corporation Method variation for collecting stability data from proprietary systems
US7162678B2 (en) 2003-03-14 2007-01-09 Quantum Corporation Extended error correction codes
US6975028B1 (en) 2003-03-19 2005-12-13 Delta Design, Inc. Thermal apparatus for engaging electronic device
KR100543447B1 (ko) 2003-04-03 2006-01-23 삼성전자주식회사 에러정정기능을 가진 플래쉬메모리장치
US7527466B2 (en) 2003-04-03 2009-05-05 Simmons Robert J Building-erection structural member transporter
TW571613B (en) 2003-04-29 2004-01-11 Quanta Comp Inc Functional module built-in with heat dissipation fin
JP4170988B2 (ja) 2003-05-09 2008-10-22 富士通株式会社 実行環境の危険予測/回避方法,システム,プログラムおよびその記録媒体
US7877647B2 (en) 2003-05-23 2011-01-25 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Correcting a target address in parallel with determining whether the target address was received in error
CA2523548C (en) 2003-05-23 2014-02-04 Washington University Intelligent data processing system and method using fpga devices
US6849943B2 (en) 2003-06-06 2005-02-01 Electronic Theatre Controls, Inc. Power module package for high frequency switching system
US7685254B2 (en) 2003-06-10 2010-03-23 Pandya Ashish A Runtime adaptable search processor
US7075788B2 (en) 2003-06-11 2006-07-11 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Computer cooling system and method
US6934152B1 (en) 2003-06-27 2005-08-23 Emc Corporation Systems and methods for connecting an electronic apparatus to a backplane
US6778389B1 (en) * 2003-07-03 2004-08-17 Visteon Global Technologies, Inc. Microelectronic package with tubular housing
DE20310734U1 (de) 2003-07-12 2003-10-23 Harting Electro Optics Gmbh & Steckvorrichtung zur Verbindung von Leiterplatten
US7151669B2 (en) 2003-07-18 2006-12-19 Kechuan K Liu Configurable heat sink with matrix clipping system
US7100002B2 (en) 2003-09-16 2006-08-29 Denali Software, Inc. Port independent data transaction interface for multi-port devices
US7054968B2 (en) 2003-09-16 2006-05-30 Denali Software, Inc. Method and apparatus for multi-port memory controller
US7523157B2 (en) 2003-09-25 2009-04-21 International Business Machines Corporation Managing a plurality of processors as devices
US7173852B2 (en) 2003-10-03 2007-02-06 Sandisk Corporation Corrected data storage and handling methods
JP2005123503A (ja) 2003-10-20 2005-05-12 Renesas Technology Corp 半導体装置および半導体モジュール
US7401174B2 (en) 2003-12-16 2008-07-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. File system defragmentation and data processing method and apparatus for an information recording medium
US7376887B2 (en) 2003-12-22 2008-05-20 International Business Machines Corporation Method for fast ECC memory testing by software including ECC check byte
US7035102B2 (en) 2004-01-08 2006-04-25 Apple Computer, Inc. Apparatus for air cooling of an electronic device
US6892801B1 (en) 2004-01-15 2005-05-17 Sun Microsystems, Inc. Thermal control apparatus for electronic systems
US7328377B1 (en) 2004-01-27 2008-02-05 Altera Corporation Error correction for programmable logic integrated circuits
JP4477365B2 (ja) 2004-01-29 2010-06-09 株式会社日立製作所 複数インタフェースを有する記憶装置、および、その記憶装置の制御方法
US7389465B2 (en) 2004-01-30 2008-06-17 Micron Technology, Inc. Error detection and correction scheme for a memory device
US7350044B2 (en) 2004-01-30 2008-03-25 Micron Technology, Inc. Data move method and apparatus
DE112004002702B4 (de) 2004-02-03 2009-03-05 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Herstellen einer Halbleiterbaugruppe und Matrixbaugruppe
US20080147964A1 (en) 2004-02-26 2008-06-19 Chow David Q Using various flash memory cells to build usb data flash cards with multiple partitions and autorun function
US7020017B2 (en) 2004-04-06 2006-03-28 Sandisk Corporation Variable programming of non-volatile memory
EP1870814B1 (en) 2006-06-19 2014-08-13 Texas Instruments France Method and apparatus for secure demand paging for processor devices
US7490283B2 (en) 2004-05-13 2009-02-10 Sandisk Corporation Pipelined data relocation and improved chip architectures
US20050273560A1 (en) 2004-06-03 2005-12-08 Hulbert Jared E Method and apparatus to avoid incoherency between a cache memory and flash memory
US7334179B2 (en) 2004-06-04 2008-02-19 Broadcom Corporation Method and system for detecting and correcting errors while accessing memory devices in microprocessor systems
US7159069B2 (en) 2004-06-23 2007-01-02 Atmel Corporation Simultaneous external read operation during internal programming in a flash memory device
WO2006026645A2 (en) 2004-08-30 2006-03-09 Silicon Storage Technology, Inc. Systems and methods for providing nonvolatile memory management in wireless phones
US7096678B2 (en) 2004-09-01 2006-08-29 Gelcore Llc Method and apparatus for increasing natural convection efficiency in long heat sinks
US7233501B1 (en) 2004-09-09 2007-06-19 Sun Microsystems, Inc. Interleaved memory heat sink
US7148428B2 (en) 2004-09-27 2006-12-12 Intel Corporation Flexible cable for high-speed interconnect
US7280364B2 (en) * 2004-11-24 2007-10-09 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Apparatus and method for multiprocessor circuit board
US7254027B2 (en) * 2004-12-21 2007-08-07 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Processor module for system board
US20060156177A1 (en) 2004-12-29 2006-07-13 Sailesh Kottapalli Method and apparatus for recovering from soft errors in register files
US7657696B2 (en) 2005-02-25 2010-02-02 Lsi Corporation Method to detect NAND-flash parameters by hardware automatically
US7439618B2 (en) 2005-03-25 2008-10-21 Intel Corporation Integrated circuit thermal management method and apparatus
US7707232B2 (en) 2005-05-13 2010-04-27 Microsoft Corporation Implementation for collecting unmanaged memory
JP4881583B2 (ja) 2005-06-27 2012-02-22 株式会社豊田自動織機 パワーモジュール用ヒートシンク
KR100655218B1 (ko) 2005-07-01 2006-12-08 삼성전자주식회사 다각기둥 형상의 접지 블록을 갖는 3차원 반도체 모듈
JP4617209B2 (ja) 2005-07-07 2011-01-19 株式会社豊田自動織機 放熱装置
US7934049B2 (en) 2005-09-14 2011-04-26 Sandisk Corporation Methods used in a secure yet flexible system architecture for secure devices with flash mass storage memory
KR100705220B1 (ko) 2005-09-15 2007-04-06 주식회사 하이닉스반도체 프로그램 속도를 증가시키기 위한 플래시 메모리 장치의소거 및 프로그램 방법
US7397258B2 (en) 2005-09-15 2008-07-08 Advantest Corporation Burn-in system with heating blocks accommodated in cooling blocks
JP2009510585A (ja) 2005-09-27 2009-03-12 エヌエックスピー ビー ヴィ 誤り検出/訂正回路及び方法
US7652922B2 (en) 2005-09-30 2010-01-26 Mosaid Technologies Incorporated Multiple independent serial link memory
US8499824B2 (en) 2005-10-04 2013-08-06 Elektronische Bauelemente Gesellschaft M.B.H. Heat sink
KR100715147B1 (ko) 2005-10-06 2007-05-10 삼성전자주식회사 전류소모를 감소시키는 내부전원전압 발생회로를 가지는멀티칩 반도체 메모리 장치
US20070083697A1 (en) 2005-10-07 2007-04-12 Microsoft Corporation Flash memory management
US8223553B2 (en) 2005-10-12 2012-07-17 Macronix International Co., Ltd. Systems and methods for programming a memory device
US8006161B2 (en) 2005-10-26 2011-08-23 Samsung Electronics Co., Ltd Apparatus and method for receiving signal in a communication system using a low density parity check code
KR100966043B1 (ko) 2005-10-31 2010-06-25 삼성전자주식회사 저밀도 패리티 검사 부호를 사용하는 통신 시스템에서 신호 송수신 장치 및 방법
US7327577B2 (en) 2005-11-03 2008-02-05 International Business Machines Corporation Method and apparatus for grounding a heat sink in thermal contact with an electronic component using a grounding spring having multiple-jointed spring fingers
WO2007058617A1 (en) 2005-11-17 2007-05-24 Chee Keng Chang A controller for non-volatile memories, and methods of operating the memory controller
US7500062B2 (en) 2005-11-17 2009-03-03 International Business Machines Corporation Fast path memory read request processing in a multi-level memory architecture
JP2007155808A (ja) 2005-11-30 2007-06-21 Orion Denki Kk 放熱構造を備えた表示装置及び放熱構造を備えたプラズマディスプレイ装置
US7432702B2 (en) * 2005-12-22 2008-10-07 Honeywell International Inc. Circuit board damping assembly
US7546515B2 (en) 2005-12-27 2009-06-09 Sandisk Corporation Method of storing downloadable firmware on bulk media
US7562283B2 (en) 2005-12-27 2009-07-14 D.S.P. Group Ltd. Systems and methods for error correction using binary coded hexidecimal or hamming decoding
US7349264B2 (en) 2005-12-28 2008-03-25 Sandisk Corporation Alternate sensing techniques for non-volatile memories
US7742339B2 (en) 2006-01-10 2010-06-22 Saifun Semiconductors Ltd. Rd algorithm improvement for NROM technology
US20090309214A1 (en) 2006-01-13 2009-12-17 Entorian Technologies, Lp Circuit Module Turbulence Enhancement
KR100725410B1 (ko) 2006-01-20 2007-06-07 삼성전자주식회사 전원 상태에 따라 비휘발성 메모리의 블록 회수를 수행하는장치 및 그 방법
US20070234143A1 (en) 2006-01-25 2007-10-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory devices and methods of testing for failed bits of semiconductor memory devices
JP4859471B2 (ja) 2006-02-02 2012-01-25 株式会社日立製作所 ストレージシステム及びストレージコントローラ
US7870326B2 (en) 2006-07-28 2011-01-11 Samsung Electronics Co., Ltd. Multiprocessor system and method thereof
US7787254B2 (en) 2006-03-08 2010-08-31 Microelectronics Assembly Technologies, Inc. Thin multichip flex-module
US7317618B2 (en) 2006-03-09 2008-01-08 Laird Technologies, Inc. Combined board level shielding and thermal management
US7288835B2 (en) 2006-03-17 2007-10-30 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package-in-package system
JP4863749B2 (ja) 2006-03-29 2012-01-25 株式会社日立製作所 フラッシュメモリを用いた記憶装置、その消去回数平準化方法、及び消去回数平準化プログラム
US7681106B2 (en) 2006-03-29 2010-03-16 Freescale Semiconductor, Inc. Error correction device and methods thereof
US7916423B2 (en) 2006-03-31 2011-03-29 Spectra Logic Corporation High density array system with active movable media drawers
US7474528B1 (en) 2006-04-10 2009-01-06 Sun Microsystems, Inc. Configurable flow control air baffle
US20070245061A1 (en) 2006-04-13 2007-10-18 Intel Corporation Multiplexing a parallel bus interface and a flash memory interface
CN101060763B (zh) 2006-04-19 2011-08-24 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 散热装置
US7495906B2 (en) 2006-04-21 2009-02-24 International Business Machines Corporation Multiple hard disk drive assembly cooling
US8111514B2 (en) 2006-04-21 2012-02-07 Maxvision Corporation Removable hard drive module for a computer with improved thermal performance
US7685494B1 (en) 2006-05-08 2010-03-23 Marvell International, Ltd. Error correction coding for varying signal-to-noise ratio channels
US7707481B2 (en) 2006-05-16 2010-04-27 Pitney Bowes Inc. System and method for efficient uncorrectable error detection in flash memory
US20070300130A1 (en) 2006-05-17 2007-12-27 Sandisk Corporation Method of Error Correction Coding for Multiple-Sector Pages in Flash Memory Devices
US7606084B2 (en) 2006-06-19 2009-10-20 Sandisk Corporation Programming differently sized margins and sensing with compensations at select states for improved read operations in non-volatile memory
JP4842719B2 (ja) 2006-06-28 2011-12-21 株式会社日立製作所 ストレージシステム及びそのデータ保護方法
US7666004B2 (en) 2006-06-29 2010-02-23 Siemens Industry, Inc. Devices, systems, and/or methods regarding a programmable logic controller
US7774684B2 (en) 2006-06-30 2010-08-10 Intel Corporation Reliability, availability, and serviceability in a memory device
JP2008047273A (ja) 2006-07-20 2008-02-28 Toshiba Corp 半導体記憶装置およびその制御方法
US20080019095A1 (en) 2006-07-24 2008-01-24 Kechuan Liu Configurable heat sink with matrix clipping system
US7831895B2 (en) 2006-07-25 2010-11-09 Communications Coding Corporation Universal error control coding system for digital communication and data storage systems
TW200813724A (en) 2006-07-28 2008-03-16 Samsung Electronics Co Ltd Multipath accessible semiconductor memory device with host interface between processors
US20080024997A1 (en) 2006-07-28 2008-01-31 Apple Computer, Inc. Staggered memory layout for improved cooling in reduced height enclosure
US7320609B1 (en) 2006-07-31 2008-01-22 Fci Americas Technology, Inc. Backplane connector
US7457117B2 (en) 2006-08-16 2008-11-25 Rambus Inc. System for controlling the temperature of electronic devices
US20080052446A1 (en) 2006-08-28 2008-02-28 Sandisk Il Ltd. Logical super block mapping for NAND flash memory
US8675365B2 (en) 2006-09-20 2014-03-18 Dell Products L.P. System and method for managing cooling airflow for a multiprocessor information handling system
TW200816651A (en) 2006-09-25 2008-04-01 Sunplus Technology Co Ltd Decoding method and system of real-time wireless channel estimation
US7886204B2 (en) 2006-09-27 2011-02-08 Sandisk Corporation Methods of cell population distribution assisted read margining
US8171380B2 (en) 2006-10-10 2012-05-01 Marvell World Trade Ltd. Adaptive systems and methods for storing and retrieving data to and from memory cells
US7480147B2 (en) 2006-10-13 2009-01-20 Dell Products L.P. Heat dissipation apparatus utilizing empty component slot
JP2008117195A (ja) 2006-11-06 2008-05-22 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
TWI307100B (en) 2006-11-07 2009-03-01 Macronix Int Co Ltd Memory and method for reading error checking thereof
US7612446B2 (en) 2006-11-22 2009-11-03 International Business Machines Corporation Structures to enhance cooling of computer memory modules
CN101193542A (zh) 2006-11-23 2008-06-04 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 散热装置及导风片
KR100808664B1 (ko) 2006-12-08 2008-03-07 한국전자통신연구원 패리티 검사행렬 저장 방법 및 이를 이용한 블록 저밀도패리티 검사 부호화 방법 및 장치
KR100881669B1 (ko) 2006-12-18 2009-02-06 삼성전자주식회사 비휘발성 데이터 저장장치의 정적 데이터 영역 검출 방법,마모도 평준화 방법 및 데이터 유닛 병합 방법과 그 장치
US7564685B2 (en) 2006-12-29 2009-07-21 Google Inc. Motherboards with integrated cooling
KR100842680B1 (ko) 2007-01-08 2008-07-01 삼성전자주식회사 플래시 메모리 장치의 오류 정정 컨트롤러 및 그것을포함하는 메모리 시스템
US7603490B2 (en) 2007-01-10 2009-10-13 International Business Machines Corporation Barrier and interrupt mechanism for high latency and out of order DMA device
KR100855587B1 (ko) 2007-01-17 2008-09-01 삼성전자주식회사 메일박스 영역을 가지는 멀티 패스 액세스블 반도체 메모리장치 및 그에 따른 메일박스 액세스 제어방법
US7596643B2 (en) 2007-02-07 2009-09-29 Siliconsystems, Inc. Storage subsystem with configurable buffer
US7913022B1 (en) 2007-02-14 2011-03-22 Xilinx, Inc. Port interface modules (PIMs) in a multi-port memory controller (MPMC)
KR100918707B1 (ko) 2007-03-12 2009-09-23 삼성전자주식회사 플래시 메모리를 기반으로 한 메모리 시스템
JP4897524B2 (ja) 2007-03-15 2012-03-14 株式会社日立製作所 ストレージシステム及びストレージシステムのライト性能低下防止方法
US8291965B2 (en) 2007-03-27 2012-10-23 Adc Telecommunications, Inc. Heat sink with angled fins
KR100907218B1 (ko) 2007-03-28 2009-07-10 삼성전자주식회사 읽기 레벨 제어 장치 및 그 방법
WO2008121553A1 (en) 2007-03-29 2008-10-09 Sandisk Corporation Non-volatile storage with decoding of data using reliability metrics based on multiple reads
US7663388B2 (en) 2007-03-30 2010-02-16 Essai, Inc. Active thermal control unit for maintaining the set point temperature of a DUT
WO2008121577A1 (en) 2007-03-31 2008-10-09 Sandisk Corporation Soft bit data transmission for error correction control in non-volatile memory
US8032724B1 (en) 2007-04-04 2011-10-04 Marvell International Ltd. Demand-driven opportunistic garbage collection in memory components
US7623343B2 (en) 2007-04-16 2009-11-24 Inventec Corporation Physical configuration of computer system
US7996642B1 (en) 2007-04-25 2011-08-09 Marvell International Ltd. Digital locked loop on channel tagged memory requests for memory optimization
DE102007019885B4 (de) 2007-04-27 2010-11-25 Wieland-Werke Ag Kühlkörper mit matrixförmig strukturierter Oberfläche
US20080266807A1 (en) 2007-04-27 2008-10-30 Cray Inc. Electronic assembly with emi shielding heat sink
US8151171B2 (en) 2007-05-07 2012-04-03 Broadcom Corporation Operational parameter adaptable LDPC (low density parity check) decoder
US8073648B2 (en) 2007-05-14 2011-12-06 Sandisk Il Ltd. Measuring threshold voltage distribution in memory using an aggregate characteristic
JP4867793B2 (ja) 2007-05-25 2012-02-01 株式会社豊田自動織機 半導体装置
KR100891005B1 (ko) 2007-06-28 2009-03-31 삼성전자주식회사 고온 스트레스로 인한 읽기 마진의 감소를 보상하기 위한플래시 메모리 장치 및 그것의 읽기 전압 조정 방법
JP4564520B2 (ja) 2007-08-31 2010-10-20 株式会社東芝 半導体記憶装置およびその制御方法
US8095851B2 (en) 2007-09-06 2012-01-10 Siliconsystems, Inc. Storage subsystem capable of adjusting ECC settings based on monitored conditions
US8139412B2 (en) 2007-10-31 2012-03-20 Agere Systems Inc. Systematic error correction for multi-level flash memory
US8429492B2 (en) 2007-11-30 2013-04-23 Marvell World Trade Ltd. Error correcting code predication system and method
US20090141456A1 (en) 2007-11-30 2009-06-04 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Multilayer, thermally-stabilized substrate structures
US8738841B2 (en) 2007-12-27 2014-05-27 Sandisk Enterprise IP LLC. Flash memory controller and system including data pipelines incorporating multiple buffers
WO2009084724A1 (en) 2007-12-28 2009-07-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor storage device
US20090172335A1 (en) 2007-12-31 2009-07-02 Anand Krishnamurthi Kulkarni Flash devices with raid
US8159874B2 (en) 2008-01-22 2012-04-17 Micron Technology, Inc. Cell operation monitoring
US8271515B2 (en) 2008-01-29 2012-09-18 Cadence Design Systems, Inc. System and method for providing copyback data integrity in a non-volatile memory system
US8537548B2 (en) 2008-01-29 2013-09-17 Intel Corporation Method, apparatus and computer system for vortex generator enhanced cooling
JP4617405B2 (ja) 2008-02-05 2011-01-26 富士通株式会社 不良メモリを検出する電子機器、不良メモリ検出方法およびそのためのプログラム
US7980863B1 (en) 2008-02-14 2011-07-19 Metrospec Technology, Llc Printed circuit board flexible interconnect design
JP4672743B2 (ja) 2008-03-01 2011-04-20 株式会社東芝 誤り訂正装置および誤り訂正方法
US8230300B2 (en) 2008-03-07 2012-07-24 Apple Inc. Efficient readout from analog memory cells using data compression
FR2929482B1 (fr) 2008-04-01 2013-07-05 Thales Sa Calculateur a l'agencement simplifie, destine a l'aeronautique
CN101551695B (zh) 2008-04-03 2012-07-18 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 扩展卡散热装置及用于其上的支架
US8185706B2 (en) 2008-04-30 2012-05-22 Apple Inc. Copyback optimization for memory system
KR101412690B1 (ko) 2008-05-28 2014-06-27 삼성전자주식회사 메모리 장치 및 메모리 프로그래밍 방법
KR101412974B1 (ko) 2008-05-28 2014-06-30 삼성전자주식회사 메모리 장치 및 메모리 프로그래밍 방법
US8959280B2 (en) 2008-06-18 2015-02-17 Super Talent Technology, Corp. Super-endurance solid-state drive with endurance translation layer (ETL) and diversion of temp files for reduced flash wear
US8627169B2 (en) 2008-06-20 2014-01-07 Cadence Design Systems, Inc. Method and apparatus for dynamically configurable multi level error correction
US8564317B2 (en) 2008-06-24 2013-10-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Test socket, and test apparatus with test socket to control a temperature of an object to be tested
US8130552B2 (en) 2008-09-11 2012-03-06 Sandisk Technologies Inc. Multi-pass programming for memory with reduced data storage requirement
US8020611B2 (en) 2008-09-19 2011-09-20 Fu Zhun Precision Industry (Shen Zhen) Co., Ltd. Heat dissipating device having G-shaped heat pipes and heat sinks
JP2010079445A (ja) 2008-09-24 2010-04-08 Toshiba Corp Ssd装置
CN101730385B (zh) 2008-10-10 2012-07-04 深圳富泰宏精密工业有限公司 电路板结构
KR101484556B1 (ko) 2008-10-28 2015-01-20 삼성전자주식회사 독출 보상 회로
CN201297603Y (zh) 2008-11-11 2009-08-26 东莞乐域塑胶电子制品有限公司 一种路灯的散热座
KR20100058166A (ko) 2008-11-24 2010-06-03 삼성전자주식회사 불휘발성 메모리 장치 및 그것을 포함하는 메모리 시스템
US9128699B2 (en) 2008-12-22 2015-09-08 Intel Corporation Method and system for queuing transfers of multiple non-contiguous address ranges with a single command
US8645749B2 (en) 2009-02-04 2014-02-04 Micron Technology, Inc. Systems and methods for storing and recovering controller data in non-volatile memory devices
KR20100090439A (ko) 2009-02-06 2010-08-16 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 메모리 장치의 독출 방법 및 이를 구현하는 불휘발성 메모리 장치
KR20100093885A (ko) 2009-02-17 2010-08-26 삼성전자주식회사 불휘발성 메모리 장치, 그것의 동작 방법, 그리고 그것을 포함하는 메모리 시스템
US9070662B2 (en) 2009-03-05 2015-06-30 Volterra Semiconductor Corporation Chip-scale packaging with protective heat spreader
KR101562018B1 (ko) 2009-03-12 2015-10-21 삼성전자주식회사 솔리드 스테이트 드라이브의 검사 장치 및 방법
US20100281207A1 (en) 2009-04-30 2010-11-04 Miller Steven C Flash-based data archive storage system
KR101575248B1 (ko) 2009-04-30 2015-12-07 삼성전자주식회사 메모리 컨트롤러 및 그것을 포함하는 메모리 시스템
US8144470B2 (en) 2009-05-21 2012-03-27 Pem Management, Inc. Two-piece heat sink stud
US7961462B2 (en) 2009-05-28 2011-06-14 Alcatel Lucent Use of vortex generators to improve efficacy of heat sinks used to cool electrical and electro-optical components
US20100319986A1 (en) 2009-06-17 2010-12-23 Bleau Charles A Modular vented circuit board enclosure
US7911791B2 (en) 2009-06-24 2011-03-22 Ati Technologies Ulc Heat sink for a circuit device
US8412985B1 (en) 2009-06-30 2013-04-02 Micron Technology, Inc. Hardwired remapped memory
US7941696B2 (en) 2009-08-11 2011-05-10 Texas Memory Systems, Inc. Flash-based memory system with static or variable length page stripes including data protection information and auxiliary protection stripes
US8464106B2 (en) 2009-08-24 2013-06-11 Ocz Technology Group, Inc. Computer system with backup function and method therefor
US7959445B1 (en) * 2009-08-28 2011-06-14 Tyco Electronics Corporation Board-to-board connector system
JP5197544B2 (ja) 2009-10-05 2013-05-15 株式会社東芝 メモリシステム
US8312349B2 (en) 2009-10-27 2012-11-13 Micron Technology, Inc. Error detection/correction based memory management
US8208252B2 (en) 2009-11-05 2012-06-26 Alcatel-Lucent Usa Inc. Infrared energy powered cooling apparatus and computer chassis comprising same
CN101699406B (zh) 2009-11-12 2011-12-14 威盛电子股份有限公司 数据储存系统与方法
US8130553B2 (en) 2009-12-02 2012-03-06 Seagate Technology Llc Systems and methods for low wear operation of solid state memory
US20110132000A1 (en) 2009-12-09 2011-06-09 Deane Philip A Thermoelectric Heating/Cooling Structures Including a Plurality of Spaced Apart Thermoelectric Components
JP2011155166A (ja) 2010-01-28 2011-08-11 Toshiba Corp 電子装置
US8659901B2 (en) 2010-02-04 2014-02-25 P-Wave-Holdings, LLC Active antenna array heatsink
CN201655782U (zh) 2010-02-08 2010-11-24 艾默生网络能源有限公司 表贴散热器
US8213255B2 (en) 2010-02-19 2012-07-03 Sandisk Technologies Inc. Non-volatile storage with temperature compensation based on neighbor state information
US8365041B2 (en) 2010-03-17 2013-01-29 Sandisk Enterprise Ip Llc MLC self-raid flash data protection scheme
US8243451B2 (en) 2010-06-08 2012-08-14 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Cooling member for heat containing device
JP2012023329A (ja) 2010-06-14 2012-02-02 Toshiba Corp 基板ユニット及び電子装置
TW201200838A (en) 2010-06-23 2012-01-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd An air intake for cooling memories and an electronic device using the same
US8737136B2 (en) 2010-07-09 2014-05-27 Stec, Inc. Apparatus and method for determining a read level of a memory cell based on cycle information
US8498116B2 (en) 2010-07-16 2013-07-30 Rockwell Automation Technologies, Inc. Heat sink for power circuits
US8405985B1 (en) 2010-09-08 2013-03-26 Juniper Networks, Inc. Chassis system with front cooling intake
MY166609A (en) 2010-09-15 2018-07-17 Semiconductor Components Ind Llc Connector assembly and method of manufacture
US8472183B1 (en) 2010-09-20 2013-06-25 Amazon Technologies, Inc. Rack-mounted computer system with front-facing power supply unit
CN102446873A (zh) 2010-10-07 2012-05-09 卓英社有限公司 散热器
WO2012051600A2 (en) 2010-10-15 2012-04-19 Kyquang Son File system-aware solid-state storage management system
CN102455760A (zh) 2010-10-19 2012-05-16 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 机箱
US9063878B2 (en) 2010-11-03 2015-06-23 Densbits Technologies Ltd. Method, system and computer readable medium for copy back
US8615681B2 (en) 2010-12-14 2013-12-24 Western Digital Technologies, Inc. System and method for maintaining a data redundancy scheme in a solid state memory in the event of a power loss
US20120170224A1 (en) 2010-12-29 2012-07-05 Src, Inc. Circuit board frame with integral heat sink for enhanced thermal transfer
US8737073B2 (en) 2011-02-09 2014-05-27 Tsmc Solid State Lighting Ltd. Systems and methods providing thermal spreading for an LED module
US9099426B2 (en) 2011-02-23 2015-08-04 University Of Maryland, College Park Trench-assisted thermoelectric isothermalization of power switching chips
CN102655727B (zh) 2011-03-01 2016-06-29 华北理工大学 导风件
CN102810001B (zh) 2011-06-02 2015-02-11 赛恩倍吉科技顾问(深圳)有限公司 散热系统
JP5724674B2 (ja) 2011-06-24 2015-05-27 富士通株式会社 電子機器収納装置
CN103025121A (zh) 2011-09-23 2013-04-03 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电子装置
WO2013080341A1 (ja) 2011-11-30 2013-06-06 富士通株式会社 電子基板ユニット、及び、電子機器
EP2600700A1 (en) 2011-12-02 2013-06-05 ADVA Optical Networking SE A method of cooling electronic circuit boards using surface mounted devices
KR20130071139A (ko) 2011-12-20 2013-06-28 삼성전자주식회사 보조 기억 장치 및 이를 포함하는 시스템
JP2013145132A (ja) 2012-01-13 2013-07-25 Advantest Corp ハンドラ装置、試験方法
FR2988552B1 (fr) 2012-03-22 2015-02-13 Airbus Operations Sas Module avionique refroidi par ventilation
US8766656B2 (en) 2012-04-18 2014-07-01 Silicon Turnkey Solutions Inc. Systems and methods for thermal control
CN103426738B (zh) 2012-05-17 2018-05-18 恩智浦美国有限公司 具有边缘端部结构的沟槽半导体器件及其制造方法
WO2014035965A1 (en) 2012-08-27 2014-03-06 Sanmina Corporation Enclosure architecture of high density, easy access, racked data storage
US9013874B2 (en) 2012-09-12 2015-04-21 Sk Hynix Memory Solutions Inc. Heat dissipation device
CN103853281A (zh) 2012-12-04 2014-06-11 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 机柜式服务器及其服务器模组
TW201425858A (zh) 2012-12-27 2014-07-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 導風罩

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5008496A (en) * 1988-09-15 1991-04-16 Siemens Aktiengesellschaft Three-dimensional printed circuit board
CN1419803A (zh) * 2000-02-18 2003-05-21 Incep技术公司 用于把电能提供到具有集成的热量和电磁干扰管理的微处理器的方法和装置
US20040183183A1 (en) * 2001-10-26 2004-09-23 Staktek Group, L.P. Integrated circuit stacking system and method
US20080225476A1 (en) * 2006-01-11 2008-09-18 Chris Karabatsos Tab wrap foldable electronic assembly module and method of manufacture
US20100008034A1 (en) * 2008-07-14 2010-01-14 International Business Machines Corporation Tubular memory module
CN103488262A (zh) * 2012-06-07 2014-01-01 苹果公司 带有无源传热的固态驱动器
CN203102072U (zh) * 2012-11-11 2013-07-31 北京忆恒创源科技有限公司 电子设备

Also Published As

Publication number Publication date
US9519319B2 (en) 2016-12-13
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