CN108780117B - 测试插座组件 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种测试插座组件，用于电连接测试物体中的待测试的接触点与用于在测试电路中测试的接触点。测试插座组件包含：多个信号探针；插座块体，包含面朝测试电路的底部表面、面朝测试物体的顶部表面、用于在多个信号探针的相对末端自顶部表面及底部表面曝露时容纳多个信号探针以彼此平行的多个探针孔以及自顶部表面及底部表面的排除探针孔的周界区域的至少部分区域凹入的凹入部分；以及弹性接地构件，容纳于凹入部分中且是由导电弹性材料制成以与测试物体及测试电路中的至少一者接触。

Description

测试插座组件
技术领域
本发明涉及一种测试插座组件，其可在测试一测试物体的电性质(electricproperty)时改良待测试的端子的隔离特性(isolation characteristic)。
背景技术
为了测试射频(radio frequency；RF)电路装置或类似者的电性质，已使用测试插座以用于电连接射频电路装置的待测试的端子与测试电路的测试端子。
一般而言，为了在测试射频电路装置时减少射频电路装置的端子之间的串扰(cross-talk)，自测试插座的接地接脚(ground pin)向射频电路装置中的待测试的端子的周界施加接地电压。
顺便而言，射频电路装置与测试插座之间的接触表面可归因于加工误差而具有粗糙平度。粗糙平度不会进行紧密接触，而是在射频电路装置与测试插座之间造成间隙。此类间隙会恶化射频电路装置中的待测试的端子的隔离特性，且因此造成待测试的端子之间的串扰增加的问题。
发明内容
技术问题
一或多个例示性实施例将提供一种测试插座组件，其在测试一测试物体的电性质时改良测试物体的端子的隔离特性，藉此减少待测试的端子之间的串扰。
解决技术问题的方法
根据一例示性实施例的态样，提供一种测试插座组件，包含：多个信号探针(signal probe)；插座块体(socket block)，包含面朝测试电路的底部表面、面朝测试物体的顶部表面、用于在多个信号探针的相对末端自顶部表面及底部表面曝露时容纳多个信号探针以彼此平行的多个探针孔以及自顶部表面及底部表面的排除探针孔的周界区域的至少部分区域凹入的凹入部分；以及弹性接地构件(elastic grounding member)，容纳于凹入部分中且是由导电弹性材料制成以与测试物体及测试电路中的至少一者接触。
插座块体可包含环绕探针的上部末端区域且自凹入部分的下部表面突出的隔离柱(isolation column)。
测试插座组件可还包含绝缘构件(insulation member)，绝缘构件贯穿至少部分纵向区段而放入于探针与探针孔之间，且在多达离隔离柱的末端部分的预定深度的下部位置处具有末端部分。
测试插座组件可还包含至少一个接地接脚，接地接脚设置于用于容纳接地接脚的接地接脚孔中，使得接地接脚的下部末端部分可自插座块体的底部表面曝露。
弹性接地构件可被涂布有导电材料。
发明的有益效果
根据本发明，在测试物体的电性质经历测试时，可改良所述测试物体的端子的隔离特性，藉此减少待测试的端子之间的串扰。
附图说明
图1为根据一例示性实施例的测试插座组件的透视图。
图2为根据一例示性实施例的测试插座组件的分解透视图。
图3为根据一例示性实施例的测试插座组件的横截面图。
图4为根据另一例示性实施例的测试插座组件的横截面图。
图5及图6为展示弹性接地构件的实例的平面图。
图7(a)至图7(c)为展示根据一例示性实施例的测试插座组件中的串扰的模拟结果的视图。
具体实施方式
下文将参考随附附图来详细地描述例示性实施例。出于描述方便起见，相同或类似标号贯穿全文指代相同或类似元件，且顶部(或上部)侧指代朝向测试物体的方向且底部(下部)侧指代朝向测试电路的方向。
图1为根据一例示性实施例的测试插座组件的透视图。根据一例示性实施例的测试插座组件1包含插座块体100以及弹性接地构件200。
插座块体100是由导电块体(例如，黄铜块体)制成。插座块体100包含至少一个信号探针300以用于电连接测试物体10中的待测试的接触点与用于在测试电路20中测试的接触点。此时，信号探针300必须自导电插座块体100电断接。弹性接地构件200容纳于插座块体100的面朝测试物体10的顶部表面上所形成的容纳凹入部分120中。若与插座块体100的顶部表面相抵而按压测试物体10以便测试所述测试物体10的电性质，则弹性接地构件200与测试物体10的接地端子12接触。此时，弹性接地构件200在排除测试物体的待测试的接触点的区域中与测试物体10的下部表面紧密地接触，藉此在插座块体100与排除测试物体10中的待测试的接触点11(在下文中被称作“信号端子(signal terminal)”)的区域之间达成表面接触而无任何间隙或裂缝。因为插座块体100与测试物体的下部表面在排除测试物体10中的待测试的接触点11的区域中彼此接触而在其间无任何裂缝，所以会改良信号端子11的隔离特性以藉此减少在信号端子11之间造成的串扰。因此，有可能准确地且可靠地测试所述测试物体10的电性质。
图2为根据一例示性实施例的测试插座组件的分解透视图，且图3为根据一例示性实施例的测试插座组件的横截面图。根据一例示性实施例的测试插座组件1包含安装于测试电路20上的插座块体100、容纳于插座块体100的容纳凹入部分120中的弹性接地构件200以及支撑于插座块体100中的多个信号探针300及至少一个接地接脚500。
插座块体100包含用于容纳多个信号探针300的多个探针孔140、用于容纳至少一个接地接脚500的接地接脚孔150、用于容纳弹性接地构件200的容纳凹入部分120以及自容纳凹入部分120的下部表面121突出且环绕信号探针300的上部末端区域的隔离柱130。
探针孔140被形成为穿透面朝插座块体100的测试电路20的底部表面160及面朝测试物体10的顶部表面110，且对应于信号探针300的数目而彼此平行。探针孔140容纳用绝缘构件400环绕的信号探针300。
接地接脚孔150在插座块体100的底部表面160上向下敞开，且容纳接地接脚500。替代地，接地接脚孔150可在必要时在顶部表面110上敞开。
容纳凹入部分120在顶部表面110的排除探针孔140的周界区域的至少部分区域中自顶部表面110凹入。容纳凹入部分120容纳弹性接地构件200。
隔离柱130被形成为在容纳凹入部分120与探针孔140之间突出。隔离柱130稳定地隔离插入于探针孔140中的信号探针300与导电弹性接地构件200。因此，隔离柱130防止弹性接地构件200与绝缘构件400或信号探针300直接接触。
弹性接地构件200容纳于插座块体100的容纳凹入部分120中。弹性接地构件200具有用于容纳隔离柱130的隔离柱通孔(isolation column through hole)210。举例而言，弹性接地构件200可由导电粒子被混合至弹性材料中的导电橡胶制成。为了改良导电性，弹性接地构件200的表面可被涂布有导电材料。举例而言，弹性接地构件200可被涂布有金、银、铜等等。在弹性接地构件200容纳于容纳凹入部分120中时，弹性接地构件200的顶部表面220比插座块体100的顶部表面110更多地突出。在测试物体10经历测试时，朝向插座块体100的顶部表面110向下按压测试物体10。随着向下按压测试物体10，弹性接地构件200与接地端子12及测试物体10的底部表面接触。因为弹性接地构件200具有弹性，所以测试物体10的底部表面与弹性接地构件200的顶部表面可紧密地接触而无任何裂缝。因此，会改良测试物体10中的待测试的接触点(例如，信号端子11)的隔离特性。
为了与插座块体100电绝缘，信号探针300容纳于绝缘构件400中，且接着插入于插座块体100的探针孔140中且装配至插座块体100的探针孔140。信号探针300支撑于插座块体100中且具有经曝露的上部末端及下部末端。具体言之，信号探针300的上部末端接触测试物体10中的待测试的接触点，例如，信号端子11。信号探针300的下部末端接触用于在测试电路20中测试的接触点(在下文中被称作“信号垫(signal pad)”21)。信号探针300的上部末端与下部末端之间的至少一者在其纵向方向上可弹性地伸缩。图3说明信号探针300包含作为上部末端的第一柱塞310、作为下部末端的第二柱塞320、放入于第一柱塞310与第二柱塞320之间的弹簧340以及容纳第一柱塞310、第二柱塞320及弹簧340的圆柱形筒330，但信号探针300并不限于此类结构且可具有各种结构。
出于信号探针300与插座块体100之间的电绝缘及恒定阻抗的目的，绝缘构件400放入于信号探针300与探针孔140之间。绝缘构件400在多达离隔离柱130的上部末端的预定深度的下部位置处具有上部末端部分410。亦即，绝缘构件400的上部末端部分410可定位于与容纳凹入部分120的下部表面121相同的高度处或定位于比容纳凹入部分120的下部表面121低的高度处。因此，在测试物体10经历测试时，测试物体10的信号端子11可容纳于绝缘构件400的上部末端部分410与隔离柱130的上部末端之间所形成的间隙中。在此状况下，信号端子(凸块)11不与隔离柱130接触，且因此，信号端子11容纳于绝缘构件400的上部末端部分410与隔离柱130的上部末端之间所形成的间隙中，藉此进一步改良信号端子11的隔离特性。因此，有可能更多地减少信号端子11之间的串扰。
接地接脚500容纳于插座块体100的接地接脚孔150中，且具有自插座块体100的底部表面曝露的下部末端部分。在测试电路20与插座块体100彼此耦接时，接地接脚500的下部末端部分与测试电路20的接地垫(grounding pad)22接触。接地接脚500的上部末端部分与接地接脚孔150的上部末端接触。在测试电路20与插座块体100彼此耦接时，自接地垫22向接地接脚500施加接地电压，例如，等于或低于0V的电压。所施加的接地电压接着通过接地接脚500的上部末端部分施加至插座块体100。因为插座块体100是由导电金属制成或被涂布有导电材料，所以通过接地接脚500所施加的接地电压使整个插座块体100接地。
耦接构件(coupling member)600是由导电材料制成。耦接构件600被塑形为类似于被形成有多个信号-探针通孔(signal-probe through hole)610及多个接地-接脚通孔(ground-pin through hole)620的板，且在信号探针300及接地接脚500插入至插座块体100中之后与插座块体100的底部表面耦接。在信号探针300及接地接脚500分别自底部插入至插座块体100的探针孔140及接地接脚孔150中之后，耦接构件600耦接至插座块体100且由插座块体100支撑。
在根据一例示性实施例的前述测试插座组件1中，弹性接地构件200使测试物体10与插座块体100在排除测试物体10的信号端子11接触插座块体100的信号探针300的区域的区域中彼此接触而无任何裂缝。通过此接触，会改良测试物体10的信号端子11与插座块体100的信号探针300彼此接触的区域中的隔离特性。因此，在测试物体10经历测试时，有可能减少归因于在测试物体10与插座块体100之间的裂缝中造成的射频信号泄漏或类似者的串扰。结果，会减少信号端子11之间的串扰，且因此有可能更可靠地测试所述测试物体10的电性质。
此外，接地接脚500的上部末端部分可紧固至插座块体100的接地接脚孔150的内部，且因此被防止在测试物体10经历测试时上下移动。因此，会改良接地接脚500的耐久性，且不需要替换接地接脚。
图4为根据另一例示性实施例的测试插座组件的横截面图。出于清晰性及简要性起见，将省略关于与图3所展示的测试插座组件1的结构相同的结构的描述，且将仅描述差异。
根据此例示性实施例的测试插座组件2包含自插座块体100的顶部表面凹入的第一容纳凹入部分120，以及自插座块体100的底部表面凹入的第二容纳凹入部分170。第一弹性接地构件200容纳于第一容纳凹入部分120中，且第二弹性接地构件700容纳于第二容纳凹入部分170中。
第二容纳凹入部分170及第二弹性接地构件700分别在形状及功能方面相似于图2及图3所展示的容纳凹入部分120及弹性接地构件200。亦即，第二弹性接地构件700使测试电路20与插座块体100在排除测试电路20的信号垫21(参见图3)与插座块体100的信号探针300彼此接触的区域的区域中彼此接触而无任何裂缝。此接触会改良测试电路20的信号垫21与插座块体100的信号探针300彼此接触的区域中的隔离特性。因此，会减少信号垫21之间的归因于射频信号泄漏或类似者的串扰，以藉此更准确地测试所述测试物体10的电性质。
此外，根据此例示性实施例的测试插座组件2不包含用于自测试电路20接收接地电压的任何接地接脚。随着导电弹性接地构件700的底部表面与测试电路20的接地垫22(参见图3)直接接触，测试插座组件2接收接地电压。在弹性接地构件700与接地垫22直接接触的此状况下，插座块体100与测试电路20之间的紧密接触也由弹性接地构件700的弹性保持。
在根据此例示性实施例的前述测试插座组件2中，弹性接地构件放入于插座块体100与测试物体10之间及插座块体100与测试电路20之间，藉此改良射频信号线的隔离特性。因此，也会改良测试物体的电性质的测试可靠性。
另外，不需要用于自测试装置20的接地垫22向插座块体100施加接地电压的接地接脚，藉此缩减测试插座组件的制造成本。此外，有可能缩减测试插座组件的维护成本。
图5及图6为展示弹性接地构件的实例的平面图，且图7(a)至图7(c)为展示根据一例示性实施例的测试插座组件中的串扰的模拟结果的视图。
图5展示环绕隔离柱130的部分周界的弹性接地构件200，且图6展示环绕整个隔离柱130的弹性接地构件200。图7(a)展示在未给出弹性接地构件200时的待测试的接触点处的串扰的图形，图7(b)展示在如图5所展示而给出弹性接地构件200时的待测试的接触点处的串扰的图形，且图7(c)展示在如图6所展示而给出弹性接地构件200时的待测试的接触点处的串扰的图形。
参看图7(a)至图7(c)，在测试物体由根据本发明的具有弹性接地构件200的测试插座测试时造成的串扰相比于在测试物体由不具有弹性接地构件的测试插座测试时造成的串扰显著地减少得多。在测试物体经历测试时，弹性接地构件200与测试物体的部分下部表面或整个下部表面紧密地接触，惟测试物体的信号端子除外。因此，根据本发明的具有弹性接地构件200的测试插座相比于不具有弹性接地构件的测试插座更多地改良测试物体中的待测试的接触点之间的隔离特性。
结果，根据一例示性实施例的测试插座组件使用弹性接地构件200以改良测试物体中的待测试的接触点的隔离特性，藉此显著地缩减在待测试的接触点之间造成的串扰。因此，有可能改良测试物体的电性质的测试可靠性。
根据一例示性实施例，在测试物体经历测试时，会更可靠地测试所述测试物体的电性质，此是因为会改良待测试的端子的隔离特性。
尽管已展示及描述几个例示性实施例，但本领域的技术人员将了解，可在不脱离本发明的原理及精神的情况下对此等例示性实施例作出改变。

Claims (5)

1.一种测试插座组件，用于电连接测试物体中的待测试的接触点与用于在测试电路中测试的接触点，其特征在于，所述测试插座组件包括：
多个信号探针；
插座块体，包括面朝所述测试电路的底部表面、面朝所述测试物体的顶部表面、用于在所述多个信号探针的相对末端自所述顶部表面及所述底部表面曝露时容纳所述多个信号探针以彼此平行的多个探针孔、自所述顶部表面及所述底部表面的排除所述多个探针孔的周界区域的至少部分区域凹入的凹入部分以及环绕所述多个信号探针中的每一个的上部末端区域且自所述凹入部分的下部表面突出的隔离柱；以及
弹性接地构件，容纳于所述凹入部分中且是由导电弹性材料制成以与所述测试物体及所述测试电路中的至少一者接触，
其中所述隔离柱隔离所述多个信号探针与环绕所述多个信号探针中的每一个的所述上部末端区域的所述弹性接地构件。
2.根据权利要求1所述的测试插座组件，其特征在于，所述弹性接地构件包括用于容纳所述隔离柱的隔离柱通孔。
3.根据权利要求1所述的测试插座组件，其特征在于，还包括绝缘构件，所述绝缘构件贯穿至少部分纵向区段而放入于所述多个信号探针中的每一个与对应的所述多个探针孔中的每一个之间，且在多达离所述隔离柱的末端部分的预定深度的下部位置处具有末端部分。
4.根据权利要求1所述的测试插座组件，其特征在于，还包括至少一个接地接脚，所述接地接脚设置于用于容纳所述接地接脚的接地接脚孔中，使得所述接地接脚的下部末端部分可自所述插座块体的所述底部表面曝露。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的测试插座组件，其特征在于，所述弹性接地构件被涂布有导电材料。
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