JP2009129877A - 電子部品用ソケット - Google Patents

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俊之 糸井
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【課題】 従来の上下部プランジャーとバレルとからなるプローブは絶縁性のベースの貫通穴内に収納されているので、プローブとプリント基板のGNDパターンとの距離が不確定であるため、特性インピーダンスの制御が困難であるといった問題があった。
【解決手段】 金属あるいは樹脂に金属膜を形成したベース1に取付けられたプローブ21の一端を表面実装型電子部品の半田ボールやリードフレーム等の外部端子と、また、他端をプリント基板の導電パターンと接触させて前記表面実装型電子部品の特性を検査するための電子部品用ソケットにおいて、前記プローブの内のGND機能用プローブ22を除くプローブの上下部にあるプランジャー部21a,21cを誘電体で覆い、かつ、プローブの電気長の大半を占めるバレル21bは全周にわたり絶縁物性を持つ誘電体3〜5で覆われた状態でベースの穴内に収容されている電子部品用ソケットである。
【選択図】 図1

Description

本発明は、ベースに取付けられたプローブの一端を表面実装型電子部品(以下、パッケージという)のLGAやBGA等の半田ボールやリードフレーム等の外部端子に、また、他端をプリント基板の導電パターンに接触させて前記パッケージの特性を検査するための電子部品用ソケットであって、該電子部品用ソケットの高周波特性、伝送・アイソレーション特性を改善、改良した電子部品用ソケットに関する。
従来におけるプローブを用いた電子部品用ソケットは、絶縁性の上下2つのベースに貫通穴を形成し、この貫通穴にプローブが抜け出さない状態で収納したものであった。また、前記プローブの構造は、内部にスプリングが収容され、かつ、上端側に上部ピン端子(以下、上部プランジャーという)が形成されたバレルと、このバレルに前記スプリングのバネ力でバネ付勢される一端が収容され、かつ、他端がバレルの下端から突出した下部ピン端子(以下、下部プランジャーという)とで構成されている。
そして、このように構成された電子部品用ソケットは、ベースの上部にパッケージがセットされると、該パッケージの外部端子に上部プランジャーが接触し、該パッケージが押下されると下部プランジャーがスプリングのバネ力によってプリント基板のパターンに機械的に接触され、従って、パッケージの外部端子とプリント基板の導電パターンとがプローブを介して電気的に接続される。
特開平8−213088号公報
ところで、前記した上下部プランジャーとバレルとからなるプローブは絶縁性のベースの貫通穴内に収納されているので、プローブとプリント基板のGNDパターンとの距離が不確定であるため、特性インピーダンスの制御が困難であると共にプローブ配列が複数配列で電磁遮蔽物が各プローブ間に介在されていない場合には、他のプローブからのノイズを拾いやすく自己ノイズの放出もできず、特に、プローブを流れる信号が高周波の場合には、特性インピーダンスが一定せず、かつ、プローブ配列が高密度の場合はアイソレーション特性などの信号伝達ロスが多くなるといった問題があった。
本発明は前記した問題点を解決せんとするもので、その目的とするところは、自己ノイズの漏れが少ないと共に拾い難くアイソレーション特性が向上し、かつ、特性インピーダンスを上部プランジャーから下部プランジャーまで整合することにより、高周波信号の伝達ロスや反射を少なくして前記した従来の不都合を解消した電子部品用ソケットを提供せんとするにある。
本発明の電子部品用ソケットは前記した目的を達成せんとするもので、請求項1の手段は、金属あるいは樹脂に金属膜を形成したベースに取付けられたプローブの一端を表面実装型電子部品の半田ボールやリードフレーム等の外部端子と、また、他端をプリント基板の導電パターンと接触させて前記表面実装型電子部品の特性を検査するための電子部品用ソケットにおいて、前記プローブの内のGND機能用プローブを除くプローブの上下端部にあるプランジャー部を誘電体で覆い、かつ、プローブの電気長の大半を占めるバレル部は全周にわたり絶縁物性を持つ誘電体で覆われた状態でベースの穴内に収容されていることを特徴とする。
請求項2の手段は、前記した請求項1において、前記ベースのプリント基板と接する面に、プリント基板のGND機能用の導電パターンと電気的に接触させるためのGND電位用接触面が形成されていることを特徴とする。
請求項3の手段は、前記した請求項1において、前記誘電体は気体または固体であり、かつ、絶縁物性を兼ね備える材質であると共にプランジャー部およびバレル部の特性インピーダンスマッチングを可能とした素材であることを特徴とする。
請求項4の手段は、前記した請求項1において、前記誘電体は樹脂の材質によって大きさを異ならしめてインピーダンスマッチングを行うことを特徴とする。
本発明は前記したように、プローブの内のGND機能用プローブを除くプローブの上下端であるプランジャー部を誘電体で覆い、かつ、プローブの電気長の大半を占めるバレル部は全周にわたり絶縁物性を持つ誘電体で覆われた状態でベースの穴内に収容したので、自己ノイズの漏れが少ないと共に拾い難くアイソレーション特性が向上し、かつ、特性インピーダンスを上部プランジャーから下部プランジャーまで整合することにより、高周波信号の伝達ロスや反射が少ない。
また、ベースのプリント基板と接する面に、プリント基板のGND機能用の導電パターンと電気的に接触させるためのGND電位用接触面を形成したので、ベースは安定したGND電位に維持され、ベースは確実にアースされて外部からのノイズによる影響を防止できる。
さらに、誘電体は気体または固体であり、かつ、絶縁物性を兼ね備える材質であると共にプランジャー部およびバレル部の特性インピーダンスマッチングを可能とした素材としたことにより、より特性インピーダンスを上部プランジャーから下部プランジャーまで整合して高周波信号の伝達ロスや反射を少なくでき、また、誘電体は樹脂の材質によって大きさを異ならしめてインピーダンスマッチングを行うことで、各種の樹脂を使用できるので、設計の自由度を増すことができる等の効果を有するものである。
本発明は、プローブの内のGND機能用プローブを除くプローブ上下端であるプランジャー部を誘電体で覆い、かつ、プローブの電気長の大半を占めるバレル部は全周にわたり絶縁物性を持つ誘電体で覆われた状態でベースの穴内に収容されている。
以下、本発明に係る電子部品用ソケットの一実施例を図1、図2と共に説明する。
1は金属あるいは樹脂に金属膜を形成した第1のベース11と第2のベース12からなるベースにして、第2のベース12の図示しないプリント基板に形成されているGND機能用の導電パターンと対抗する面には段状に形成されたGND電位用接触面12aが一体的に形成されている。また、第1のベース11と第2のベース12には第1、第2のベース11,12に貫通して形成された大径の挿入穴13と小径の挿入穴14が形成されている。
21,22は信号用プローブとGND電位用プローブであり、従来と同様に内部にスプリング(図示せず)が収容され、かつ、上端側に上部プランジャー21a,22aが形成されたバレル21b,22bと、このバレル21b,22bに前記スプリングのバネ力でバネ付勢される一端が収容され、かつ、他端がバレルの下端から突出した下部プランジャー21c,22cとで構成されている。
そして、信号用プローブ21を大径の挿入穴13内に挿入した状態ではバレル21bの外周面と挿入穴13の内壁面との隙間が大きく空気層が形成され、一方、小径の挿入穴14の内径はGND電位用プローブ22が挿入可能な程度の穴であるためGND電位用プローブ22の外周面と挿入穴14の内周面との隙間は殆どなくGND用プローブ22の外周面は挿入穴14の内周面と接触状態となっている。
なお、前記挿入穴14の上下には、該挿入穴14よりも小径の穴15が連通して形成されており、該穴15内に上部プランジャー22a、下部プランジャー22cが挿入される。そして、挿入穴14の内径と穴15の内径との差からバレル22bの上下動が阻止されている。
3は円柱部31と鍔部32とからなる前記バレル21b部との特性インピーダンスマッチングが可能な材質からなる絶縁性樹脂、例えば、フッ素樹脂で構成された誘電体にして、前記円柱部31の中心には前記信号用プローブ21における上部プランジャー21aまたは下部プランジャー21cが上下動可能な大きさの支持穴31aが形成され、また、前記鍔部32は前記大径の挿入穴13の内径より僅かに大きく形成され、第1のベース11または第2のベース12の開口部の縁で係止される大きさに形成されている。
このように信号用プローブ21は上部プランジャー21aと下部プランジャー21cに取付けられている誘電体3によってベース1との絶縁が確保されると共に上部プランジャー21aと下部プランジャー21c部の特性インピーダンスマッチングが図られている。一方、GND電位用プローブ22部はベース1と電気的に同電位となっている。
また、信号用プローブ21のバレル21bは電気長の観点から電気信号の主要伝達部であり周辺には空気層以外の干渉物が存在しない構造となっている。さらに、本発明の電子部品用ソケットには方向性があり、上部プランジャー21aを被測定物であるパッケージ側に設置し、上部プランジャー21aとパッケージのLGAやBGA等の外部端子とを電気的に接触させ、また、下部プランジャー21cをプリント基板(図示せず)側の導電パターンと電気的に接触させて電気的な導通を確保するものである。
次に、前記した構成の電子部品用ソケットによりパッケージ(図示せず)の検査を行う作用について説明する。
前記したように、上部プランジャー21aをパッケージの外部電極と接触させ下部プランジャー21cをプランジャーの導電パターンと接触させた状態にあっては、バレル21b内に収容されているスプリングのバネ力によってパッケージの1つの外部電極とプリント基板の1つの導電パターンは確実に接触状態が確保された状態となる。
そして、この状態においてプリント基板より電源から信号用プローブ21の1つを介してパッケージに電流を流すと、該パッケージから各信号用プローブ21から高周波電流がプリント基板に流れる。この時、パッケージから信号用プローブ21を介するプリント基板までの伝送線路内には、少なくともパッケージの外部端子と上部プランジャー21aとの接触部からなる異物質界面および下部プランジャー21cとプリント基板の導電パターンとの接触部からなる異物質界面が存在し、電気的に特性不連続となる伝送特性悪化の原因となるが、本発明では上部プランジャー21a、下部プランジャー21cを絶縁体を兼ねた誘電体3によって特性インピーダンスマッチングを行っているために、伝送の時間特性の悪化を最小限に抑えることができる。
また、プローブ21は上部プランジャー21a、スプリングをバレル21bおよび下部プランジャー21cで構成されているが、プローブの構造状、バレル21bが信号伝送距離(電気長)が最も長いため、バレル21b部に干渉する物質が空気のみで形成されていることで、高周波信号のみならず、あらゆる電気信号を伝送する手段として特性悪化を最小限に抑えることが可能である。
なお、主伝送線路であるバレル21b部周辺が空気層で構成されていることにより、誘電率は実使用可能な材質としては最小(εr=1)となり、ソケット内伝送路線であるプローブ21部の大半を占めるバレル部の信号伝達の最適化を図ることができる。
また、プローブ21が複数配列されているソケットではバレル21b内に収容されているスプリングが隣接または遠接するスプリングとの相互作用により相互インダクタンスが励起されアイソレーション特性が悪化するが、GND電位用接触面12aとGND機能用プローブ22を有する本発明のソケットにあっては、安定したGND電位が複数経路でソケットに供給されるため、安定したシールド効果が得られアイソレーション特性の向上が可能となる。そこで、アイソレーション特性の向上により、高周波信号のみならず信号用プローブ21の配列間隔を狭くすることも可能となるものである。
図3に示す誘電体4,5は前記した図1、図2の誘電体3に対して大きさを変えた実施例である。これは、誘電体として使用する樹脂の材質が異なる場合には誘電率εrが異なる。そこで誘電体3の大きさを変えることにより、インピーダンスマッチングを行っているものである。すなわち、同一導体径に対して図3の誘電体4は誘電率が低い樹脂を使用した場合には小さな形状とし、また、誘電体5は誘電率が高い樹脂を使用した場合には大きな形状とすることでインピーダンスマッチングを行っている。
なお、前記した全ての実施例にあっては、形状として鍔部31と円柱部32とから構成した場合について説明したが、この形状としては、例えば、円錐台形状となしベース1に形成した大径の挿入穴13に確実に固定され、かつ、プローブ21の上部プランジャー22aおよび下部プランジャー22cを支持し得る形状であればどのような構造のものであってもよい。
また、前記した実施例にあっては、信号用プローブ21のバレル21bとベース1の大径の挿入穴13との間を空気層とした場合について説明したが、樹脂等の誘電体を空気層内に充填したものであってもよい。
本発明に係る電子部品用ソケットの一実施例を示すベースに対してプローブを誘電体で支持した状態の断面斜視図である。 同上の断面図である。 他の誘電体でベースに対してプローブを支持した状態を示す断面図である。
符号の説明
1 ベース
11 第1のペース
12 第2のベース
12a GND電位接触面
13 大径の挿入穴
14 小径の挿入穴
15 穴
21 信号・電源用プローブ
21a 上部プランジャー
21b バレル
21c 下部プランジャー
3,4,5 誘電体
31 鍔部
32 円柱部
32a 支持穴

Claims (4)

  1. ベースに取付けられたプローブの一端を表面実装型電子部品の半田ボールやリードフレーム等の外部端子と、また、他端をプリント基板の導電パターンと接触させて前記表面実装型電子部品の特性を検査するための電子部品用ソケットにおいて、前記プローブの内のGND機能用プローブを除くプローブの上下部にあるプランジャー部を誘電体で覆い、かつ、プローブの電気長の大半を占めるバレル部は全周にわたり絶縁物性を持つ誘電体で覆われた状態でベースの穴内に収容されていることを特徴とする電子部品用ソケット。
  2. 前記ベースのプリント基板と接する面に、プリント基板のGND機能用の導電パターンと電気的に接触させるためのGND電位用接触面が形成されていることを特徴とする請求項1記載の電子部品用ソケット。
  3. 前記誘電体は気体または固体であり、かつ、絶縁物性を兼ね備える材質であると共にプランジャー部およびバレル部の特性インピーダンスマッチングを可能とした素材であることを特徴とする請求項1記載の電子部品用ソケット。
  4. 前記誘電体は樹脂の材質によって大きさを異ならしめてインピーダンスマッチングを行うことを特徴とする請求項1記載の電子部品用ソケット。
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015507198A (ja) * 2012-02-03 2015-03-05 インターコネクト・デバイシーズ・インコーポレイテッドInterconnect Devices,Inc. 絶縁部材を有する電気コネクタ
CN107069354A (zh) * 2017-05-22 2017-08-18 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种微型射频连接器及其制作方法
WO2018218248A1 (en) 2017-05-26 2018-11-29 Smiths Interconnect Americas, Inc. Impedance controlled test socket
WO2019049482A1 (ja) * 2017-09-08 2019-03-14 株式会社エンプラス 電気接続用ソケット
JP2019510348A (ja) * 2016-03-23 2019-04-11 リーノ インダストリアル インコーポレイテッド テストソケット組立体
US10534033B2 (en) 2015-10-16 2020-01-14 Yamaichi Electronics Co., Ltd. IC socket
US10546750B2 (en) 2009-09-03 2020-01-28 Vishay-Siliconix System and method for substrate wafer back side and edge cross section seals
US10600902B2 (en) 2008-02-13 2020-03-24 Vishay SIliconix, LLC Self-repairing field effect transisitor
KR20200091765A (ko) * 2019-01-23 2020-07-31 박상량 반도체 디바이스용 소켓
KR102221578B1 (ko) * 2019-11-04 2021-03-03 주식회사 이노글로벌 공기층이 형성된 양방향 도전성 모듈
US11293944B2 (en) 2018-03-30 2022-04-05 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Test socket
JP7430253B2 (ja) 2020-05-22 2024-02-09 リーノ インダストリアル インコーポレイテッド 検査ソケット及びその製造方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004259648A (ja) * 2003-02-27 2004-09-16 S Ii R:Kk 電子部品用ソケット
JP2004325305A (ja) * 2003-04-25 2004-11-18 Yokowo Co Ltd Icソケット

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004259648A (ja) * 2003-02-27 2004-09-16 S Ii R:Kk 電子部品用ソケット
JP2004325305A (ja) * 2003-04-25 2004-11-18 Yokowo Co Ltd Icソケット

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10600902B2 (en) 2008-02-13 2020-03-24 Vishay SIliconix, LLC Self-repairing field effect transisitor
US10546750B2 (en) 2009-09-03 2020-01-28 Vishay-Siliconix System and method for substrate wafer back side and edge cross section seals
JP2015507198A (ja) * 2012-02-03 2015-03-05 インターコネクト・デバイシーズ・インコーポレイテッドInterconnect Devices,Inc. 絶縁部材を有する電気コネクタ
US10534033B2 (en) 2015-10-16 2020-01-14 Yamaichi Electronics Co., Ltd. IC socket
JP2019510348A (ja) * 2016-03-23 2019-04-11 リーノ インダストリアル インコーポレイテッド テストソケット組立体
CN107069354A (zh) * 2017-05-22 2017-08-18 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种微型射频连接器及其制作方法
JP2020521986A (ja) * 2017-05-26 2020-07-27 スミスズ インターコネクト アメリカズ インコーポレイテッドSmiths Interconnect Americas, Inc. インピーダンス制御テストソケット
WO2018218248A1 (en) 2017-05-26 2018-11-29 Smiths Interconnect Americas, Inc. Impedance controlled test socket
EP3631475A4 (en) * 2017-05-26 2021-02-24 Smiths Interconnect Americas, Inc. IMPEDANCE CONTROLLED TEST SOCKET
US11171434B2 (en) 2017-09-08 2021-11-09 Enplas Corporation Electric connection socket
WO2019049482A1 (ja) * 2017-09-08 2019-03-14 株式会社エンプラス 電気接続用ソケット
CN111051896A (zh) * 2017-09-08 2020-04-21 恩普乐股份有限公司 电连接用插座
US11495901B2 (en) 2017-09-08 2022-11-08 Enplas Corporation Electric connection socket connecting a circuit board and an integrated circuit package
JP7125408B2 (ja) 2017-09-08 2022-08-24 株式会社エンプラス 電気接続用ソケット
JPWO2019049482A1 (ja) * 2017-09-08 2020-10-22 株式会社エンプラス 電気接続用ソケット
JPWO2019049481A1 (ja) * 2017-09-08 2020-10-22 株式会社エンプラス 電気接続用ソケット
WO2019049481A1 (ja) * 2017-09-08 2019-03-14 株式会社エンプラス 電気接続用ソケット
JP7125407B2 (ja) 2017-09-08 2022-08-24 株式会社エンプラス 電気接続用ソケット
CN111213061A (zh) * 2017-09-08 2020-05-29 恩普乐股份有限公司 电连接用插座
US20210408736A1 (en) * 2017-09-08 2021-12-30 Enplas Corporation Electric connection socket
CN111051896B (zh) * 2017-09-08 2022-03-08 恩普乐股份有限公司 电连接用插座
US11293944B2 (en) 2018-03-30 2022-04-05 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Test socket
KR102141368B1 (ko) * 2019-01-23 2020-08-05 박상량 반도체 디바이스용 소켓
KR20200091765A (ko) * 2019-01-23 2020-07-31 박상량 반도체 디바이스용 소켓
KR102221578B1 (ko) * 2019-11-04 2021-03-03 주식회사 이노글로벌 공기층이 형성된 양방향 도전성 모듈
JP7430253B2 (ja) 2020-05-22 2024-02-09 リーノ インダストリアル インコーポレイテッド 検査ソケット及びその製造方法

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