WO2017204062A1 - 検査用同軸コネクタ - Google Patents

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WO2017204062A1
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真一 剱崎
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株式会社村田製作所
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    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Definitions

  • the present invention relates to a coaxial connector for inspection, and more specifically, for inspection that does not damage the coaxial connector with switch even when the height of the probe portion is small and the probe is not properly fitted to the coaxial connector with switch. It relates to a coaxial connector.
  • a coaxial connector with a switch is provided in the wiring portion for measuring the electrical characteristics of the substrate housed in the electronic device.
  • a coaxial connector with a switch is provided by surface mounting between a transmission / reception circuit formed on a substrate and an antenna.
  • the coaxial connector with a switch normally connects a transmission / reception circuit and an antenna.
  • the coaxial connector with switch releases the connection between the transmission / reception circuit and the antenna, and newly connects the transmission / reception circuit and the coaxial connector for inspection.
  • the transmission / reception circuit of the mobile phone and the measuring device are connected, and the characteristics of the mobile phone can be measured by the measuring device.
  • FIG. 6 shows an inspection coaxial connector 1000 disclosed in Patent Document 1.
  • the coaxial connector for inspection 1000 has a structure in which a probe 102 is accommodated in a conductive housing 101.
  • the probe 102 includes a conductive and cylindrical barrel 103, and a coil spring 104 and a plunger (center terminal) 105 accommodated in the cylindrical portion of the barrel 103.
  • the barrel 103 and the plunger 105 are electrically connected to each other.
  • the housing 101 and the probe 102 are insulated from each other by providing an insulating bushing 106 therebetween.
  • the coaxial cable 108 connected to the measuring instrument 107 is connected to the coaxial connector 1000 for inspection. More specifically, the central conductor 108 a of the coaxial cable 108 is connected to the plunger 105 via the barrel 103. The shield conductor 108 b of the coaxial cable 108 is connected to the housing 101 via the conductive adapter 109.
  • the plunger 105 can be retracted upward in the figure by providing the coil spring 104 in the cylindrical portion of the barrel 103.
  • the plunger 105 can be retracted because an unnecessary force is applied from the plunger 105 to the coaxial connector with switch when the coaxial connector for inspection 1000 is not properly fitted to the coaxial connector with switch (not shown). This is to prevent the plunger 105 from damaging the coaxial connector with switch. That is, when the inspection coaxial connector 1000 is not properly fitted to the coaxial connector with switch, the coil spring 104 is contracted, so that the plunger 105 is retracted upward to avoid damage to the coaxial connector with switch.
  • the coaxial connector 1000 for inspection has a large height of the probe 102 as shown by a symbol H in FIG. 6 (the symbol H and the lead line in FIG. 6 were added by the applicant for the purpose of explanation). (It is not shown in the drawing of Patent Document 1).
  • Measurement of characteristics of electronic devices is performed during or after the manufacture of electronic devices, but other electronic components with a large height may be mounted around a coaxial connector with a switch mounted on a substrate. In this case, if the height H of the probe 102 is not large, other electronic components may become an obstacle, and the test coaxial connector 1000 may not be fitted to the switch-equipped coaxial connector.
  • the measurement may be performed with the case of the electronic device in which the substrate is accommodated removed, but a measurement hole is previously formed in the case.
  • the probe 102 is inserted into the measurement hole to measure. This is because the height H of the probe 102 portion has to be large in order to measure by inserting the probe 102 portion through the measurement hole.
  • the height H of the probe 102 is increased.
  • the inspection coaxial connector 1000 in order to reduce the height H of the probe 102 portion, it is first necessary to reduce the length of the plunger (center terminal) 105 itself. Next, other parts are desired to be reduced. However, in the coaxial connector for inspection 1000, since the coil spring 104 is accommodated in the cylindrical portion of the barrel 103, the length of the cylindrical portion of the barrel 103 cannot be reduced. .
  • the coil spring 104 may be omitted.
  • the inspection coaxial connector 1000 is not properly fitted to the switch-equipped coaxial connector.
  • the coaxial connector with a switch is damaged, it cannot be employed.
  • the present invention has been made to solve the above-described conventional problems, and as its means, the inspection coaxial connector of the present invention is used by fitting to a coaxial connector with a switch, A probe housed in a housing, the probe having a contact at one end or near one end and connecting the central conductor of the coaxial cable at the other end or near the other end It was constituted by one continuous structure having elasticity and having a portion.
  • a zigzag part is provided between the contact point of the probe and the connection part.
  • elasticity can be expressed by the zigzag portion.
  • elasticity can be expressed by a portion having a small diameter or a portion having a small thickness.
  • the probe contacts can be curled. In this case, elasticity can be expressed by the curled contact.
  • the probe is constituted by one continuous structure, the height of the probe portion can be reduced.
  • the coaxial connector with switch is not damaged even when the probe is not properly fitted into the coaxial connector with switch.
  • FIG. 1A is a perspective view showing a test coaxial connector 100 according to the first embodiment.
  • FIG. 1B is an exploded perspective view showing the inspection coaxial connector 100.
  • 2A and 2B are perspective views showing the probe 2 of the coaxial connector 100 for inspection.
  • FIG. 3A is a perspective view showing a state before the inspection coaxial connector 100 is fitted to the coaxial connector with switch 500.
  • FIG. 3B is a perspective view showing a state after the inspection coaxial connector 100 is fitted to the switch-equipped coaxial connector 500.
  • FIG. 4A is a cross-sectional view showing a state before the inspection coaxial connector 100 is fitted to the switch-equipped coaxial connector 500.
  • FIG. 4B is a cross-sectional view showing a state after the inspection coaxial connector 100 is fitted to the switch-equipped coaxial connector 500.
  • 5A to 5D are cross-sectional views showing the probes 22 to 62 according to the second to sixth embodiments, respectively.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing a test coaxial connector 1000 disclosed in Patent Document 1.
  • each embodiment shows an embodiment of the present invention by way of example, and the present invention is not limited to the content of the embodiment. Moreover, it is also possible to implement combining the content described in different embodiment, and the implementation content in that case is also included in this invention. Further, the drawings are for helping understanding of the embodiment, and may not be drawn strictly. For example, a drawn component or a dimensional ratio between the components may not match the dimensional ratio described in the specification. In addition, the constituent elements described in the specification may be omitted in the drawings or may be drawn with the number omitted.
  • FIG. 1A and 1B show an inspection coaxial connector 100 according to the first embodiment.
  • 1A is a perspective view of the inspection coaxial connector 100
  • FIG. 1B is an exploded perspective view of the inspection coaxial connector 100.
  • the inspection coaxial connector 100 includes a conductive housing 1.
  • the housing 1 is made of, for example, beryllium copper.
  • a tubular fitting portion 1a for fitting with a connector with a switch (not shown) is formed in front of the housing 1.
  • the inspection coaxial connector 100 includes a conductive probe (center terminal) 2.
  • FIGS. 2A and 2B separately show the probe 2.
  • 2A is a perspective view of the probe 2 viewed from the front side
  • FIG. 2B is a perspective view of the probe 2 viewed from the rear side.
  • the probe 2 is made of, for example, a single plate-like beryllium copper.
  • the probe 2 includes a contact 2a in front.
  • the probe 2 is provided with a notch 2b as a connection part for connecting a central conductor 4a of a coaxial cable 4 to be described later.
  • a bent portion 2c is provided between the contact 2a of the probe 2 and the notch 2b by being bent at two locations. By providing the bent portion 2c, the probe 2 exhibits elasticity (springiness).
  • the probe 2 is attached to an insulating member 3 made of resin. More specifically, a groove 3a is formed in the insulating member 3, and the probe 2 is press-fitted into the groove 3a.
  • the insulating member 3 is further formed with an annular guide 3b having a taper, which is used for positioning when the coaxial connector for inspection 100 is fitted to the connector with switch.
  • the insulating member 3 to which the probe 2 is attached is crimped by a claw 1 b provided on the housing 1 and attached to the housing 1.
  • a coaxial cable 4 connected to a measuring instrument (not shown) is connected to the inspection coaxial connector 100.
  • the coaxial cable 4 has a four-layer structure including a central conductor 4a, a first insulating layer 4b that covers the central conductor 4a, a shield conductor 4c that covers the first insulating layer 4b, and a second insulating layer 4d that covers the shield conductor 4c. It is configured.
  • the central conductor 4a of the coaxial cable 4 is fitted into the notch 2b of the probe 2, is fixed, and is electrically connected.
  • the shield conductor 4c of the coaxial cable 4 is fixed to the housing 1 and electrically connected by being crimped by claws 1c provided in the housing 1.
  • the entire coaxial cable 4 is fixed to the housing 1 by being crimped by claws 1 d provided on the housing 1.
  • the coaxial connector for inspection 100 is configured as shown in FIG. 1A because the probe 2 is configured by only one structure without using a barrel or a coil spring. The height H of the probe 2 portion can be reduced.
  • the coaxial connector for inspection 100 has elasticity (spring property) because the probe 2 is bent at two places and the bent portion 2c is provided. Therefore, when the inspection coaxial connector 100 is not properly fitted into the coaxial connector with switch, the contact 2a of the probe 2 is retracted upward due to elasticity, and damage to the coaxial connector with switch can be avoided.
  • the inspection coaxial connector 100 according to the present embodiment having the above structure can be manufactured, for example, by the following method.
  • the central conductor 4a of the coaxial cable 4 is inserted into the notch 2b of the probe 2, fixed, and electrically connected.
  • the probe 2 is press-fitted into the groove 3a of the insulating member 3 and attached.
  • the insulating member 3 to which the probe 2 is attached is crimped by the claws 1b, and the housing 1 is attached.
  • the shield conductor 4c of the coaxial cable 4 is crimped by the claws 1c to be electrically connected to the housing 1.
  • FIGS. 3 (A), 3 (B), 4 (A), and 4 (B) how to use the coaxial connector 100 for inspection, that is, fitting to the coaxial connector (receptacle) 500 with a switch.
  • 3A is a perspective view showing a state before the inspection coaxial connector 100 is fitted to the switch-equipped coaxial connector 500.
  • FIG. 3B is a perspective view showing a state after the inspection coaxial connector 100 is fitted to the switch-equipped coaxial connector 500.
  • FIG. 4A is a cross-sectional view showing a state before the inspection coaxial connector 100 is fitted to the switch-equipped coaxial connector 500.
  • FIG. 4B is a cross-sectional view showing a state after the inspection coaxial connector 100 is fitted to the switch-equipped coaxial connector 500.
  • reference numerals of components that are not related to the description in this part may be omitted.
  • the inspection coaxial connector 100 is fitted to the switch-equipped coaxial connector 500.
  • the coaxial connector with switch 500 is an element outside the scope of the present invention.
  • the coaxial connector with switch 500 is surface-mounted by solder reflow or the like on a land electrode formed on a substrate (not shown) housed in an electronic device.
  • the coaxial connector with switch 500 includes a case 50 made of resin.
  • a first terminal electrode 53, a second terminal electrode 54, and a third terminal electrode 55 are formed on the bottom surface of the case 50.
  • the first terminal electrode 53 is connected to a transmission / reception circuit of the electronic device.
  • the second terminal electrode 54 is connected to the antenna of the electronic device.
  • the third terminal electrode 55 is connected to the ground of the electronic device.
  • a conductive and cylindrical fitting portion 56 for fitting with the fitting portion 1a of the coaxial connector for inspection 100 is formed on the upper surface of the coaxial connector with switch 500.
  • the fitting portion 56 is connected to the third terminal electrode 55.
  • a movable terminal 57 and a fixed terminal 58 are disposed in the space inside the fitting portion 56.
  • the movable terminal 57 is formed integrally with the first terminal electrode 53.
  • the fixed terminal 58 is formed integrally with the second terminal electrode 54.
  • FIG. 4A when the test coaxial connector 100 is not fitted to the switch-equipped coaxial connector 500, the movable terminal 57 and the fixed terminal 58 are connected.
  • the transmission / reception circuit of the electronic device and the antenna are connected to the first terminal electrode 53, the movable terminal 57, the fixed terminal 58, and the second terminal. They are connected via a path connecting the electrodes 54.
  • the probe 2 of the present embodiment is bent at two places to form the bent portion 2c, and has elasticity (spring property). Therefore, even if the positions of the coaxial connector 500 with switch and the coaxial connector 100 for inspection are misaligned and they are not properly fitted, the probe 2 comes into contact with other than the movable terminal 57 of the coaxial connector 500 with switch. At this point, the probe 2 is retracted upward, so that the coaxial connector with switch 500 is not damaged by the probe 2.
  • the second to sixth embodiments will be described below.
  • the shape of the probe 2 of the inspection coaxial connector 100 according to the first embodiment is changed.
  • the other components in the second to sixth embodiments are the same as those in the first embodiment. Therefore, in the drawings shown in the embodiments, only the probe is illustrated.
  • FIG. 5A shows the probe 22 of the coaxial connector for inspection according to the second embodiment.
  • a zigzag portion 22c is formed between the contact point 22a and a notch 22b for connecting the shield conductor 4c of the coaxial cable 4.
  • the probe 22 has elasticity (spring property) by forming the zigzag portion 22c.
  • FIG. 5B shows the probe 32 of the coaxial connector for inspection according to the third embodiment.
  • the probe 32 is formed with a rounded bent portion 32c between the contact 32a and the notch 32b.
  • the probe 22 has elasticity by forming a rounded bent portion 32c.
  • FIG. 5C shows a probe 42 of the coaxial connector for inspection according to the fourth embodiment.
  • the probe 42 has a contact 42a formed in a curl shape.
  • the probe 42 has elasticity by forming the contact 42a in a curl shape.
  • the contact 42a of the probe 42 is formed not in the end portion of the probe 42 but in the vicinity of the end portion.
  • FIG. 5D shows a probe 52 of the coaxial connector for inspection according to the fifth embodiment.
  • the probe 52 has a bent portion 52c formed between the contact 52a and the notch 52b, and the contact 52a is formed in a curl shape.
  • the probe 52 has elasticity by forming the bent portion 52c and forming the contact 52a in a curl shape.
  • the contact point 52a of the probe 52 is formed not in the end portion of the probe 52 but in the vicinity of the end portion.
  • FIG. 5E shows a probe 62 of the coaxial connector for inspection according to the sixth embodiment.
  • a bent portion 62c is formed between the contact 62a and the notch 62b, and the thickness of the bent portion 62c is smaller than the other portions.
  • the probe 62 has elasticity by forming the bent part 62c and reducing the thickness of the bent part 62c.
  • the probes 2 to 62 are formed of a plate-like structure, but instead, the probes 2 to 62 may be formed of a rod-like structure. good.

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Abstract

プローブ部分の高さが小さく、かつ、スイッチ付同軸コネクタに正しく嵌合されなかった場合にもスイッチ付同軸コネクタを破損させることがない検査用同軸コネクタを提供する。　ハウジング１と、ハウジング１に収容されたプローブ２と、を備え、プローブ２を、一方の端部または一方の端部近傍に接点２ａを備え、他方の端部または他方の端部近傍に同軸ケーブル４の中心導体４ａを接続する接続部（切欠き２ｂ）を備えた、弾性を有する１本の連続する構造体によって構成する。

Description

検査用同軸コネクタ
　本発明は、検査用同軸コネクタに関し、さらに詳しくは、プローブ部分の高さが小さく、かつ、スイッチ付同軸コネクタに正しく嵌合されなかった場合にもスイッチ付同軸コネクタを破損させることがない検査用同軸コネクタに関する。
　電子機器の特性測定における電子機器と測定器との接続方法として、電子機器に設けられたスイッチ付同軸コネクタと、測定器に接続された検査用同軸コネクタとを嵌合させておこなう方法が広く使用されている。
　より具体的には、電子機器に収容された基板の、電気的特性を測定する配線部分に、スイッチ付同軸コネクタを設けておく。たとえば、電子機器が携帯電話である場合には、基板上に形成された送受信回路と、アンテナとの間に、スイッチ付同軸コネクタを表面実装により設けておく。スイッチ付同軸コネクタは、通常は、送受信回路とアンテナとを接続している。
　スイッチ付同軸コネクタに検査用同軸コネクタを嵌合させると、スイッチ付同軸コネクタは、送受信回路とアンテナとの接続を解除し、新たに送受信回路と検査用同軸コネクタとを接続する。この結果、携帯電話の送受信回路と測定器とが接続され、測定器により携帯電話の特性を測定することができる。
　そのような検査用同軸コネクタが、特許文献１（ＷＯ２０１０／１１３５３６号公報）に開示されている。図６に、特許文献１に開示された検査用同軸コネクタ１０００を示す。
　検査用同軸コネクタ１０００は、導電性のハウジング１０１内に、プローブ１０２が収容された構造からなる。
　プローブ１０２は、導電性で筒状のバレル１０３と、バレル１０３の筒状部分に収容されたコイルばね１０４およびプランジャ（中心端子）１０５とで構成されている。なお、バレル１０３とプランジャ１０５とは、相互に電気的に導通している。
　ハウジング１０１とプローブ１０２とは、間に絶縁性のブッシング１０６を設けることにより、相互に絶縁されている。
　検査用同軸コネクタ１０００には、測定器１０７に接続された同軸ケーブル１０８が接続されている。より具体的には、同軸ケーブル１０８の中心導体１０８ａが、バレル１０３を経由してプランジャ１０５に接続されている。また、同軸ケーブル１０８のシールド導体１０８ｂが、導電性のアダプタ１０９を経由してハウジング１０１に接続されている。
　プランジャ１０５は、バレル１０３の筒状部分にコイルばね１０４を設けたことにより、図における上方向に退避可能になっている。
　プランジャ１０５を退避可能に構成したのは、検査用同軸コネクタ１０００がスイッチ付同軸コネクタ（図示せず）に正しく嵌合されなかった場合に、プランジャ１０５からスイッチ付同軸コネクタに不要な力が加わり、プランジャ１０５がスイッチ付同軸コネクタを破損してしまうことがないようにするためである。すなわち、検査用同軸コネクタ１０００がスイッチ付同軸コネクタに正しく嵌合されなかった場合には、コイルばね１０４が縮むことによってプランジャ１０５が上方向に退避し、スイッチ付同軸コネクタの破損を回避する。
　検査用同軸コネクタ１０００は、一般に、図６に、符号Ｈで示すように、プローブ１０２部分の高さが大きい（図６の符号Ｈおよびその引出線は、説明のために本件出願人が付加したものであり、特許文献１の図面には示されていない）。
　検査用同軸コネクタ１０００のプローブ１０２部分の高さＨを大きくした理由は、以下のとおりである。
　電子機器の特性測定は、電子機器の製造中や完成以後におこなわれるが、基板に実装したスイッチ付同軸コネクタの周囲に、高さの大きい他の電子部品が実装されている場合もある。その場合に、プローブ１０２部分の高さＨが大きくなければ、他の電子部品が障害となって、検査用同軸コネクタ１０００をスイッチ付同軸コネクタに嵌合させることができない場合があるからである。
　また、電子機器の完成以後に、電子機器の特性測定をおこなう場合には、基板の収容された電子機器のケースを外して測定する場合もあるが、ケースに予め測定用孔を形成しておき、その測定用孔にプローブ１０２部分を挿通して測定する場合もある。測定用孔からプローブ１０２部分を挿通して測定するためには、プローブ１０２部分の高さＨが大きくなければならないからである。
　以上の理由により、検査用同軸コネクタ１０００は、プローブ１０２部分の高さＨが大きくされている。
ＷＯ２０１０／１１３５３６号公報
　電子機器の特性測定において、高い測定精度を得るためには、実際の使用状態と同じ条件で測定をおこなう必要がある。したがって、電子機器のケースを外した状態では、高い測定精度を得ることができない場合があった。
　一方、特性測定のためにケースに測定用孔を設けると、電子機器の耐水性が保てないという問題や、外観上好ましくないという問題などが発生する。
　そこで、検査用同軸コネクタを、ケースに収容された状態の基板に設けられたスイッチ付コネクタに嵌合させ、同軸ケーブルをケースの隙間から外部に引き出して、特性測定をおこなう方法が考えられる。そのためには、検査用同軸コネクタのプローブ部分の高さが小さくなければならない。
　たとえば、検査用同軸コネクタ１０００において、プローブ１０２部分の高さＨを小さくするためには、まず、プランジャ（中心端子）１０５自体の長さを小さくする必要がある。次に、その他の部分も小さくしたいが、検査用同軸コネクタ１０００では、バレル１０３の筒状部分にコイルばね１０４を収容しているため、バレル１０３の筒状部分の長さを小さくすることはできない。
　また、プローブ１０２部分の高さＨを小さくするために、コイルばね１０４を省略することも考えられるが、その場合には、検査用同軸コネクタ１０００がスイッチ付同軸コネクタに正しく嵌合されなかった場合に、スイッチ付同軸コネクタが破損されてしまうため、採用することができない。
　すなわち、従来の検査用同軸コネクタ１０００の構造においては、スイッチ付同軸コネクタに正しく嵌合されなかった場合にスイッチ付同軸コネクタの破損を防止する機能を維持したまま、ケースに収容された状態の基板に設けられたスイッチ付コネクタに嵌合させ測定ができるほどに、プローブ部分の高さを小さくすることは難しかった。
　本発明は、上述した従来の問題を解決するためになされたものであり、その手段として本発明の検査用同軸コネクタは、スイッチ付同軸コネクタに嵌合させて使用するものであって、ハウジングと、ハウジングに収容されたプローブと、を備え、プローブが、一方の端部または一方の端部近傍に接点を備え、他方の端部または他方の端部近傍に同軸ケーブルの中心導体を接続する接続部を備えた、弾性を有する１本の連続する構造体によって構成されたものとした。
　プローブの接点と接続部との間に、折り曲げ部が設けられたものとすることができる。この場合には、折り曲げ部によって弾性（ばね性）を発現させることができる。
　プローブの接点と接続部との間に、ジグザグ部が設けられたものとすることができる。この場合には、ジグザグ部によって弾性を発現させることができる。
　プローブの接点と接続部との間に、径または厚みの異なる部分を備えたものとすることができる。この場合には、径の小さい部分、または、厚みの小さい部分によって弾性を発現させることができる。
　プローブの接点がカールしたものとすることができる。この場合には、カールした接点によって弾性を発現させることができる。
　本発明の検査用同軸コネクタは、プローブを、１本の連続する構造体によって構成したので、プローブ部分の高さを小さくすることができる。また、本発明の検査用同軸コネクタは、プローブが弾性を有しているので、スイッチ付同軸コネクタに正しく嵌合されなかった場合にも、スイッチ付同軸コネクタを破損させることがない。
図１（Ａ）は、第１実施形態にかかる検査用同軸コネクタ１００を示す斜視図である。図１（Ｂ）は、検査用同軸コネクタ１００を示す分解斜視図である。 図２（Ａ）、（Ｂ）は、いずれも、検査用同軸コネクタ１００のプローブ２を示す斜視図である。 図３（Ａ）は、検査用同軸コネクタ１００をスイッチ付同軸コネクタ５００へ嵌合する前の状態を示す斜視図である。図３（Ｂ）は、検査用同軸コネクタ１００をスイッチ付同軸コネクタ５００へ嵌合した後の状態を示す斜視図である。 図４（Ａ）は、検査用同軸コネクタ１００をスイッチ付同軸コネクタ５００へ嵌合する前の状態を示す断面図である。図４（Ｂ）は、検査用同軸コネクタ１００をスイッチ付同軸コネクタ５００へ嵌合した後の状態を示す断面図である。 図５（Ａ）～（Ｄ）は、それぞれ、第２実施形態～第６実施形態にかかるプローブ２２～６２を示す断面図である。 特許文献１に開示された検査用同軸コネクタ１０００を示す断面図である。
　以下、図面とともに、本発明を実施するための形態について説明する。
　なお、各実施形態は、本発明の実施の形態を例示的に示したものであり、本発明が実施形態の内容に限定されることはない。また、異なる実施形態に記載された内容を組合せて実施することも可能であり、その場合の実施内容も本発明に含まれる。また、図面は、実施形態の理解を助けるためのものであり、必ずしも厳密に描画されていない場合がある。たとえば、描画された構成要素ないし構成要素間の寸法の比率が、明細書に記載されたそれらの寸法の比率と一致していない場合がある。また、明細書に記載されている構成要素が、図面において省略されている場合や、個数を省略して描画されている場合などがある。
　［第１実施形態］
　図１（Ａ）、（Ｂ）に、第１実施形態にかかる検査用同軸コネクタ１００を示す。ただし、図１（Ａ）は検査用同軸コネクタ１００の斜視図、図１（Ｂ）は検査用同軸コネクタ１００の分解斜視図である。
　検査用同軸コネクタ１００は、導電性のハウジング１を備える。ハウジング１は、たとえば、ベリリウム銅により作製されている。ハウジング１の前方には、スイッチ付コネクタ（図示せず）と嵌合させるための、筒状の嵌合部１ａが形成されている。
　検査用同軸コネクタ１００は、導電性のプローブ（中心端子）２を備える。図２（Ａ）、（Ｂ）に、別途、プローブ２を示す。ただし、図２（Ａ）は前方側から見たプローブ２の斜視図、図２（Ｂ）は後方側から見たプローブ２の斜視図である。
　プローブ２は、たとえば、1本の板状のベリリウム銅により作製されている。プローブ２は、前方に接点２ａを備えている。また、プローブ２は、後方に、後述する同軸ケーブル４の中心導体４ａを接続するための接続部として、切欠き２ｂを備えている。さらに、プローブ２の接点２ａと切欠き２ｂとの間には、２カ所で折り曲げられることにより、折り曲げ部２ｃが設けられている。折り曲げ部２ｃを設けたことにより、プローブ２に弾性（ばね性）が発現している。
　プローブ２は、樹脂からなる絶縁部材３に取付けられている。より具体的には、絶縁部材３には溝３ａが形成されていて、溝３ａに、プローブ２が圧入されている。
　絶縁部材３には、さらに、前方に、検査用同軸コネクタ１００をスイッチ付コネクタと嵌合させる際の位置決めに利用する、テーパーを備えた環状のガイド３ｂが形成されている。
　プローブ２を取付けた絶縁部材３は、ハウジング１に設けられた爪１ｂによって加締められて、ハウジング１に取付けられている。
　検査用同軸コネクタ１００には、測定器（図示せず）に接続された同軸ケーブル４が接続されている。同軸ケーブル４は、中心導体４ａと、中心導体４ａを覆う第１絶縁層４ｂと、第１絶縁層４ｂを覆うシールド導体４ｃと、シールド導体４ｃを覆う第２絶縁層４ｄとの４層構造に構成されている。
　同軸ケーブル４の中心導体４ａが、プローブ２の切欠き２ｂに嵌入されて、固定され、かつ、電気的に接続されている。
　同軸ケーブル４のシールド導体４ｃが、ハウジング１に設けられた爪１ｃによって加締められることによって、ハウジング１に固定され、かつ、電気的に接続されている。
　さらに、同軸ケーブル４全体が、ハウジング１に設けられた爪１ｄによって、加締められることによって、ハウジング１に固定されている。
　以上の構造からなる本実施形態にかかる検査用同軸コネクタ１００は、バレルやコイルばねを使用せずに、プローブ２を１本の構造体のみによって構成しているため、図１（Ａ）に示す、プローブ２部分の高さＨを小さくすることが可能になっている。また、検査用同軸コネクタ１００は、プローブ２が、２カ所で折り曲げられて折り曲げ部２ｃが設けられているため、弾性（ばね性）を有している。したがって、検査用同軸コネクタ１００がスイッチ付同軸コネクタに正しく嵌合されなかった場合には、弾性によってプローブ２の接点２ａが上方向に退避し、スイッチ付同軸コネクタの破損を回避することができる。
　以上の構造からなる本実施形態にかかる検査用同軸コネクタ１００は、たとえば、次の方法で製造することができる。
　まず、同軸ケーブル４の中心導体４ａをプローブ２の切欠き２ｂに嵌入し、固定し、かつ、電気的に接続する。
　次に、プローブ２を、絶縁部材３の溝３ａに圧入し、取付ける。
　次に、プローブ２の取付けられた絶縁部材３を、爪１ｂによって加締めて、ハウジング１取付ける。
　次に、同軸ケーブル４のシールド導体４ｃを、爪１ｃによって加締めて、ハウジング１に電気的に接続する。
　最後に、同軸ケーブル４全体を、爪１ｄによって加締めて、ハウジング１に取付けることによって、検査用同軸コネクタ１００が完成する。
　次に、図３（Ａ）、（Ｂ）、図４（Ａ）、（Ｂ）を参照しながら、検査用同軸コネクタ１００の使用方法、すなわち、スイッチ付同軸コネクタ（レセプタクル）５００への嵌合方法の一例について説明する。なお、図３（Ａ）は、検査用同軸コネクタ１００をスイッチ付同軸コネクタ５００へ嵌合する前の状態を示す斜視図である。図３（Ｂ）は、検査用同軸コネクタ１００をスイッチ付同軸コネクタ５００へ嵌合した後の状態を示す斜視図である。図４（Ａ）は、検査用同軸コネクタ１００をスイッチ付同軸コネクタ５００へ嵌合する前の状態を示す断面図である。図４（Ｂ）は、検査用同軸コネクタ１００をスイッチ付同軸コネクタ５００へ嵌合した後の状態を示す断面図である。なお、図においては、この部分での説明に関連しない構成要素の符号を省略している場合がある。
　検査用同軸コネクタ１００は、スイッチ付同軸コネクタ５００に対して嵌合される。なお、スイッチ付同軸コネクタ５００は、本発明の対象外の要素である。スイッチ付同軸コネクタ５００は、電子機器に収容された基板（図示せず）に形成されたランド電極に、はんだリフローなどにより表面実装されている。
　スイッチ付同軸コネクタ５００は、樹脂からなるケース５０を備える。ケース５０の底面には、第１端子電極５３、第２端子電極５４、第３端子電極５５が形成されている。そして、第１端子電極５３は、電子機器の送受信回路に接続されている。第２端子電極５４は、電子機器のアンテナに接続されている。第３端子電極５５は、電子機器のグランドに接続されている。
　スイッチ付同軸コネクタ５００の上面には、検査用同軸コネクタ１００の嵌合部１ａと嵌合させるための、導電性で筒状の嵌合部５６が形成されている。嵌合部５６は、第３端子電極５５と接続されている。
　嵌合部５６内の空間には、可動端子５７と、固定端子５８とが配置されている。可動端子５７は、第１端子電極５３と一体的に形成されている。また、固定端子５８は、第２端子電極５４と一体的に形成されている。そして、図４（Ａ）に示すように、検査用同軸コネクタ１００がスイッチ付同軸コネクタ５００に嵌合されていないときは、可動端子５７と固定端子５８とが接続されている。この結果、検査用同軸コネクタ１００がスイッチ付同軸コネクタ５００に嵌合されていないときは、電子機器の送受信回路とアンテナとが、第１端子電極５３、可動端子５７、固定端子５８、第２端子電極５４を繋ぐ経路を経由して、接続されている。
　一方、図４（Ｂ）に示すように、嵌合部５６に嵌合部１ａが嵌合されて、スイッチ付同軸コネクタ５００に検査用同軸コネクタ１００が嵌合されると、プローブ２の接点２ａが可動端子５７を下に押し下げて、可動端子５７と固定端子５８との接続を解除するとともに、可動端子５７とプローブ２とが接続される。この結果、電子機器の送受信回路とアンテナとの接続が解除され、送受信回路と測定器とが、第１端子電極５３、可動端子５７、プローブ２、同軸ケーブル４の中心導体４ａを繋ぐ経路を経由して、接続される。
　本実施形態のプローブ２は、上述したように、２カ所で折り曲げられて折り曲げ部２ｃが形成され、弾性（ばね性）を有している。そのため、万一、スイッチ付同軸コネクタ５００と検査用同軸コネクタ１００との位置がずれ、両者が正しく嵌合されなかったとしても、プローブ２がスイッチ付同軸コネクタ５００の可動端子５７以外と当接してしまった時点で、プローブ２が上方向に退避するため、プローブ２によってスイッチ付同軸コネクタ５００が破損されてしまうことがない。
　以下に、第２実施形態～第６実施形態について説明する。第２実施形態～第６実施形態は、いずれも、第１実施形態にかかる検査用同軸コネクタ１００のプローブ２の形状に変更を加えた。第２実施形態～第６実施形態の他の構成要素は、第１実施形態と同じにした。したがって、各実施形態において示す図面においては、プローブのみを図示している。
　［第２実施形態］
　図５（Ａ）に、第２実施形態にかかる検査用同軸コネクタのプローブ２２を示す。
　プローブ２２は、接点２２ａと、同軸ケーブル４のシールド導体４ｃを接続するための切欠き２２ｂとの間に、ジグザグ部２２ｃが形成されている。プローブ２２は、ジグザグ部２２ｃを形成したことによって、弾性（ばね性）を有している。
　［第３実施形態］
　図５（Ｂ）に、第３実施形態にかかる検査用同軸コネクタのプローブ３２を示す。
　プローブ３２は、接点３２ａと切欠き３２ｂとの間に、丸みを帯びた折り曲げ部３２ｃが形成されている。プローブ２２は、丸みを帯びた折り曲げ部３２ｃを形成したことによって、弾性を有している。
　［第４実施形態］
　図５（Ｃ）に、第４実施形態にかかる検査用同軸コネクタのプローブ４２を示す。
　プローブ４２は、接点４２ａがカール状に形成されている。プローブ４２は、接点４２ａをカール状に形成したことによって、弾性を有している。なお、プローブ４２の接点４２ａは、プローブ４２の端部ではなく、端部近傍に形成されている。
　［第５実施形態］
　図５（Ｄ）に、第５実施形態にかかる検査用同軸コネクタのプローブ５２を示す。
　プローブ５２は、接点５２ａと切欠き５２ｂとの間に折り曲げ部５２ｃが形成されるとともに、接点５２ａがカール状に形成されている。プローブ５２は、折り曲げ部５２ｃを形成したことと、接点５２ａをカール状に形成したこととによって、弾性を有している。なお、プローブ５２の接点５２ａは、プローブ５２の端部ではなく、端部近傍に形成されている。
　［第６実施形態］
　図５（Ｅ）に、第６実施形態にかかる検査用同軸コネクタのプローブ６２を示す。
　プローブ６２は、接点６２ａと切欠き６２ｂとの間に折り曲げ部６２ｃが形成されるとともに、折り曲げ部６２ｃ部分の厚みが他の部分よりも小さくされている。プローブ６２は、折り曲げ部６２ｃを形成したことと、折り曲げ部６２ｃ部分の厚みを小さくしたこととによって、弾性を有している。
　以上、本発明の実施形態について説明した。しかしながら、本発明が上述した内容に限定されることはなく、発明の趣旨に沿って、種々の変更をなすことができる。
　たとえば、第１実施形態～第６実施形態では、いずれも、プローブ２～６２を板状の構造体によって形成したが、これに代えて、プローブ２～６２を棒状の構造体によって形成しても良い。
１００・・・検査用同軸コネクタ
１・・・ハウジング
１ａ・・・嵌合部
１ｂ、１ｃ、１ｄ・・・爪
２、２２、３２、４２、５２、６２・・・プローブ
２ａ、２２ａ、３２ａ、４２ａ、５２ａ、６２ａ・・・接点
２ｂ、２２ｂ、３２ｂ、４２ｂ、５２ｂ、６２ｂ・・・切欠き
２ｃ、３２ｃ、５２ｃ、６２ｃ・・・折り曲げ部
２２ｃ・・・ジグザグ部
３・・・絶縁部材
３ａ・・・溝
３ｂ・・・ガイド（位置決め用）
４・・・同軸ケーブル
４ａ・・・中心導体
４ｂ・・・第１絶縁層
４ｃ・・・シールド導体
４ｄ・・・第２絶縁層
５００・・・スイッチ付コネクタ
５０・・・ケース
５３・・・第１端子電極
５４・・・第２端子電極
５５・・・第３端子電極
５６・・・嵌合部
５７・・・可動端子
５８・・・固定端子

Claims (5)

  1. 　ハウジングと、
    　前記ハウジングに収容されたプローブと、を備えた、スイッチ付同軸コネクタに嵌合させて使用する検査用同軸コネクタであって、
    　前記プローブが、一方の端部または一方の端部近傍に接点を備え、他方の端部または他方の端部近傍に同軸ケーブルの中心導体を接続する接続部を備えた、弾性を有する１本の連続する構造体によって構成された検査用同軸コネクタ。
  2. 　前記プローブの前記接点と前記接続部との間に、折り曲げ部が設けられた、請求項１に記載された検査用同軸コネクタ。
  3. 　前記プローブの前記接点と前記接続部との間に、ジグザグ部が設けられた、請求項１に記載された検査用同軸コネクタ。
  4. 　前記プローブの前記接点と前記接続部との間に、径または厚みの異なる部分を備えた、請求項１ないし３のいずれか1項に記載された検査用同軸コネクタ。
  5. 　前記プローブの前記接点がカールしている、請求項１ないし４のいずれか1項に記載された検査用同軸コネクタ。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7143207B2 (ja) * 2018-12-21 2022-09-28 ヒロセ電機株式会社 対の圧着片を有するハウジングを備えた同軸ケーブルコネクタ

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH065158U (ja) * 1992-06-23 1994-01-21 本多通信工業株式会社 薄型同軸コネクタ
JP2004362832A (ja) * 2003-06-02 2004-12-24 Sumitomo Wiring Syst Ltd 端子金具
US20050048823A1 (en) * 2001-07-25 2005-03-03 Stephane Barlerin Integrated unit with antenna and switch
JP2007139712A (ja) * 2005-11-22 2007-06-07 Nhk Spring Co Ltd プローブホルダおよびプローブユニット
JP2008198532A (ja) * 2007-02-14 2008-08-28 Itt Mfg Enterp Inc Ｆｆｃ／ｆｐｃ用コネクタ
JP2011106980A (ja) * 2009-11-18 2011-06-02 Advantest Corp プローブカード
JP2011119174A (ja) * 2009-12-07 2011-06-16 Hirose Electric Co Ltd アンテナ設置方法及びこれに用いる同軸コネクタ

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH687051A5 (de) * 1992-02-28 1996-08-30 Gec Alsthom T & D Ag Verfahren zum Spannen einer Speicherfeder eines Antriebes eines Hoch- oder Mittelspannungs-Leistungsschalters und Leistungsschalter zur Durchfuehrung des Verfahrens.
CN102365790B (zh) 2009-04-01 2014-04-30 株式会社村田制作所 检查用同轴连接器

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH065158U (ja) * 1992-06-23 1994-01-21 本多通信工業株式会社 薄型同軸コネクタ
US20050048823A1 (en) * 2001-07-25 2005-03-03 Stephane Barlerin Integrated unit with antenna and switch
JP2004362832A (ja) * 2003-06-02 2004-12-24 Sumitomo Wiring Syst Ltd 端子金具
JP2007139712A (ja) * 2005-11-22 2007-06-07 Nhk Spring Co Ltd プローブホルダおよびプローブユニット
JP2008198532A (ja) * 2007-02-14 2008-08-28 Itt Mfg Enterp Inc Ｆｆｃ／ｆｐｃ用コネクタ
JP2011106980A (ja) * 2009-11-18 2011-06-02 Advantest Corp プローブカード
JP2011119174A (ja) * 2009-12-07 2011-06-16 Hirose Electric Co Ltd アンテナ設置方法及びこれに用いる同軸コネクタ

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