CN103370778B - 具有加热器与快速温度变化的基板支撑件 - Google Patents
具有加热器与快速温度变化的基板支撑件 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103370778B CN103370778B CN201280007812.8A CN201280007812A CN103370778B CN 103370778 B CN103370778 B CN 103370778B CN 201280007812 A CN201280007812 A CN 201280007812A CN 103370778 B CN103370778 B CN 103370778B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- component
- substrate
- substrate support
- cooling duct
- heating region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 145
- 230000008859 change Effects 0.000 title description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 97
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 63
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 39
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 26
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 19
- 230000008569 process Effects 0.000 description 17
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 12
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 10
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910017083 AlN Inorganic materials 0.000 description 2
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N Beryllium oxide Chemical compound O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 150000002460 imidazoles Chemical class 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920006389 polyphenyl polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
- H01L21/6875—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a plurality of individual support members, e.g. support posts or protrusions
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67109—Apparatus for thermal treatment mainly by convection
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B3/00—Ohmic-resistance heating
- H05B3/20—Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
本发明提供具有加热器与集成冷却器的基板支撑件的实施例。在某些实施例中,基板支撑件可包括:第一构件,当基板位于第一构件的第一表面上方时,第一构件用以散布热至基板;加热器,加热器设置于第一构件下,且加热器具有一或多个加热区域以提供热至第一构件;多个冷却通道,多个冷却通道设置于第一构件下,以移除加热器提供的热;多个基板支撑销,多个基板支撑销设置在高于第一构件的第一表面上第一距离处,当基板位于基板支撑件上时,多个基板支撑销用以支撑基板的背侧表面;及对准引导件,对准引导件自第一构件的第一表面延伸并围绕多个基板支撑销。
Description
领域
本发明的实施例大致涉及基板处理装置,更明确地,本发明的实施例涉及基板支撑件。
背景
随着器件的关键尺寸持续缩小,可能需要对工艺(诸如,加热、冷却或类似工艺)整体控制的改善。举例而言,基板支撑件可包括加热器及/或冷却器,以在处理期间提供设置于基板支撑件上的基板所需的温度。
因此,本发明人已经提供改善的基板支撑件。
发明内容
本发明提供具有加热器与集成冷却器的基板支撑件的实施例。在某些实施例中,基板支撑件可包括:第一构件,当基板位于第一构件的第一表面上方时,第一构件用以散布热至基板;加热器,加热器设置于第一构件下,且加热器具有一或多个加热区域以提供热至第一构件;多个冷却通道,多个冷却通道设置于第一构件下,以移除加热器提供的热;多个基板支撑销,多个基板支撑销设置在高于第一构件的第一表面上第一距离处,当基板位于基板支撑件上时,多个基板支撑销用以支撑基板的背侧表面;及对准引导件,对准引导件自第一构件的第一表面延伸并围绕多个基板支撑销。
在某些实施例中,基板支撑件可包括:第一构件,当基板位于第一构件的第一表面上方时,第一构件用以散布热至基板;多个基板支撑销,多个基板支撑销自第一构件的第一表面延伸,当基板位于基板支撑件上时,多个基板支撑销用以支撑基板的背侧表面;对准引导件,对准引导件自第一构件的第一表面延伸并围绕多个基板支撑销,其中第一构件、多个基板支撑销的各个基板支撑销与对准引导件是由相同材料所形成;及第二构件,第二构件具有设置于第二构件中的一或多个加热区域以提供热至第一构件,且第二构件具有设置于第二构件中的多个冷却通道。
在某些实施例中,基板支撑件包括:第一构件,当基板位于第一构件的上表面上方时,第一构件用以散布热至基板;支撑层,支撑层设置在第一构件的上表面上,其中当基板位在基板支撑件上时,多个基板支撑销的各个基板支撑销自支撑层的表面延伸以支撑基板的背侧表面;对准引导件,对准引导件自第一构件的上表面延伸并围绕多个基板支撑销;第一层,第一层设置于第一构件下方,且第一层具有一或多个加热区域的各个加热区域,一或多个加热区域的各个加热区域设置邻近第一层的第一表面处;及第二层,第二层设置于第一构件下方,且第二层具有多个冷却通道的各个冷却通道,多个冷却通道的各个冷却通道形成于第二层中。
于下文描述本发明的其它与进一步实施例。
附图简单说明
可参照描绘于附图中的本发明说明性实施例来理解如上简短概述与如下详细描述的本发明实施例。然而,需注意附图仅描绘本发明的典型实施例而因此不被视为本发明的范围的限制因素,因为本发明可允许其它等效实施例。
图1描绘根据本发明的某些实施例的基板支撑件的示意图。
图2A-C描绘根据本发明的某些实施例的基板支撑件的部分的横剖面图。
图3A-C描绘根据本发明的某些实施例的基板支撑件的部分的横剖面图。
图4描绘根据本发明的某些实施例的多区域加热器的俯视图。
为了促进理解,可尽可能应用相同的元件符号来标示图中相同的元件。图并非按比例绘制且可能为了清晰起见而有所简化。预期一个实施例中的元件与特征结构可有利地并入其它实施例而不需特别详述。
具体描述
本文公开具有加热器与集成冷却器的基板支撑件的实施例。本发明的基板支撑件可有利地促进下列一或多种:加热基板、维持基板的温度、快速改变基板的温度或者均匀地散布热至基板或均匀地自基板移除热。
图1描绘根据本发明的某些实施例的基板支撑件100。基板支撑件100可包括第一构件102与第二构件106,当基板103位于第一构件102的第一表面104(例如,上表面)上方时,第一构件102用以散布热至基板103,第二构件106具有一或多个加热区域108与多个冷却通道110,一或多个加热区域108用以提供热至即将将热散布的第一构件102。如图1中所示,可将第二构件106设置于第一构件102下方。
在某些实施例中,基板支撑件可提供约450℃至约600℃的温度范围。然而,本文公开的基板支撑件的实施例并不限于上文提及的温度范围。举例而言,温度可为较低点(例如,自约150℃至约450℃)或较高点,例如,高于约600℃。
在某些实施例中,基板支撑件100可包括第三构件107,第三构件107设置于第一构件102与第二构件106下方。第三构件107可作为设施管理板,诸如用于到达一或多个加热区域108及/或多个冷却通道110的线路及/或管路管理。在某些实施例中,举例而言,当不应用多个冷却通道110时,第三构件107可被用作热沉(heatsink)等等。在某些实施例中,第三构件107可作为绝热器以避免对流散热至下方环境。或者,当提供多个冷却通道110时,第三构件107可额外地作为热沉等等。第三构件107可包括或任何适当的陶瓷材料。
第三构件107可包括开口109,举例而言,开口109是中央地设置穿过第三构件107。开口109可用来将馈通组件111耦接至基板支撑件100的构件102、106与107。馈通组件111可馈送各种来源及/或控制装置,诸如将功率源126馈送到一或多个加热区域108、将冷却源128馈送到多个冷却通道110,或如下所述的控制器122。在某些实施例中,馈通组件111可包括导管140,导管140可提供来自气体源(未图示)的气体至基板103的背侧。举例而言,导管140提供的气体可用来改善第一构件102与基板103之间的热传导。在某些实施例中,所述气体是氦(He)。
导管140可包括柔性区段142,柔性区段142诸如波纹管等等。举例而言,当基板支撑件100被调整水平时,导管140中的上述柔性可为必需的。举例而言,可通过一或多个调整水平装置(未图示)来调整基板支撑件100的水平,一或多个调整水平装置设置围绕馈通组件111并穿过基板支撑件110的一或多个构件。举例而言,上述调整水平装置可包括运动式千斤顶等等。当调整水平装置用以调整基板支撑件100的水平时,导管140中的柔性可为必需的。
可通过任何数目的适当机制将基板支撑件100的构件耦接在一起。举例而言,适当的机制可包括重力、粘合剂、接合、硬焊、铸造、机械压缩(诸如,通过螺钉、弹簧、夹具或真空)等等。机械压缩的非限制性示例形式描绘于图1中。举例而言,可将杆144设置穿过基板支撑件110的一或多个构件,并用杆144来压缩构件与馈通组件111。描绘的杆144为单一件,但是杆144可为由铰链、球状与穴状构造等等连接在一起的多个件(未图示)。杆144可提供柔性用于调整基板支撑件100的水平,相似于上文针对导管140所述。
举例而言,可通过硬焊、焊接等等将杆144耦接至第一构件102,或者杆144可带有螺纹并被拧进第一构件102中设以容纳杆144的相应螺纹开口(未图示)中。可通过弹簧146将杆144的相反端耦接至馈通组件111。举例而言,弹簧146的第一端可耦接至杆144而弹簧146的相反第二端可耦接至外壳111。如图1中所示,设置于外壳111中的螺栓150是耦接至弹簧146的第二端。在某些实施例中,可提供盖件148于螺栓150上。虽然图示的弹簧146提供压缩力量将杆144拉向馈通组件111,但也可将弹簧146设置预装成压缩,以致通过弹簧146的扩张来提供耦接力量。
在某些实施例中,基板支撑件100可包括多个基板支撑销112,多个基板支撑销112设置在第一构件102的第一表面104上的第一距离处,当基板103位于基板支撑件上时,多个基板支撑销112可支撑基板103的背侧表面。在某些实施例中(如各个支撑销112附近虚线所示),多个基板支撑销的各个基板支撑销可自第一构件102的第一表面104延伸(例如,基板支撑销可为第一构件102的部分或者基板支撑销可形成于第一构件102中)。或者,在某些实施例中,支撑层116可设置于第一构件102的第一表面104上,而多个基板支撑销112的各个基板支撑销112可自支撑层116的表面114延伸。在某些实施例中,支撑层116与多个基板支撑销112的各个基板支撑销112可由相同材料所形成。举例而言,支撑层116与多个基板支撑销112的各个基板支撑销112可为一件式构造(描绘于图2A中且讨论于下)。支撑层与多个基板支撑销112的各个基板支撑销112可由具有耐磨性质的适当工艺-兼容材料所形成。举例而言,材料可兼容于基板、兼容于基板上即将执行的工艺等等。在某些实施例中,可由电介质材料制成支撑层116及/或基板支撑销112。在某些实施例中,用于形成支撑层116及/或基板支撑销112的材料可包括下列一或多种:聚酰亚胺(例如,)、氧化铝(Al2O3)、氮化铝(AlN)、二氧化硅(SiO2)、氮化硅(Si3N4)等等。在某些实施例中,例如用于低温应用(例如,在低于约200℃的温度下),支撑层116及/或基板支撑销112可包括
在某些实施例中,基板支撑件100可包括对准引导件118,对准引导件118自第一构件102的第一表面104延伸并围绕多个基板支撑销112。举例而言,当通过多个升降销(未图示,升降销孔113描绘于图1中且可延伸穿过支撑层116与第一构件102与第二构件106)将基板降低至基板支撑销112上时,对准引导件118可用以引导、置中及/或对准基板103,诸如相对于设置在基板103下的一或多个加热区域108、冷却通道110引导、置中及/或对准基板103。对准引导件可包括一或多个净化气体通道119,一或多个净化气体通道119设置穿过且围绕对准引导件118(如图1中所示)及/或设置于基板103的周围边缘附近(例如,第一构件102中(未图示))。一或多个净化气体通道119可耦接至净化气体源121,净化气体源121可提供净化气体穿过一或多个净化气体通道119。举例而言,可提供净化气体以限制处理期间材料沉积于基板103的背侧上。净化气体可包括下列一或多种:氦(He)、氮(N2)或任何适当的惰性气体。可通过邻近基板103边缘的缝隙117排出净化气体。通过缝隙117排出的净化气体可限制或避免工艺气体在处理期间到达基板103的背侧并与基板103的背侧反应。可通过处理腔室的排放系统(未图标)自处理腔室排放净化气体,以适当地处理排放的净化气体。
可由适当的工艺兼容材料形成对准引导件118,适当的工艺兼容材料例如具有耐磨性质及/或低热膨胀系数的材料。对准引导件118可为单一件或多个部件的组件。在某些实施例中,可由电介质材料制成对准引导件118。举例而言,用以形成对准引导件118的适当材料可包括下列一或多种: (polybenzlmidazole,聚苯咪唑)、氧化铝(Al2O3)或类似物。一般而言,可根据材料彼此之间及/或材料与已知工艺应用之间的化学与热兼容性,来选择基板支撑件100的各种部件任一个的材料。
第一构件102可用以散布热至基板103。举例而言,第一构件可作为热散布器,以散布一或多个加热区域108提供的热。在某些实施例中,第一构件102可包括一或多个温度监测装置120,一或多个温度监测装置120嵌于第一构件102中或延伸穿过第一构件102,以在沿着第一构件104的第一表面104的一或多个位置处监测提供至基板103的温度。温度监测装置120可包括任何适当的监测温度装置,诸如温度传感器、快速热检测器(RTD)、光学传感器或类似物的一或多个。一或多个温度监测装置120可耦接至控制器122,控制器122用以接收来自多个温度监测装置120的各个温度监测装置120的温度信息。如下文进一步所述,控制器122可进一步用来响应温度信息而控制加热区域108与冷却通道110。可由适当的工艺兼容材料形成第一构件102,适当的工艺兼容材料例如具有高热导系数、高刚性与低热膨胀系数的一或多种的材料。在某些实施例中,第一构件102可具有至少约160W/mK的热导系数。在某些实施例中,第一构件102可具有约9x10-6/℃或更低的热膨胀系数。用于形成第一构件102的适当材料的实例可包括下列一或多种:铝(Al)、铜(Cu)或上述的合金、氮化铝(AlN)、氧化铍(BeO)、热解氮化硼(PBN)、氮化硅(Si3N4)、氧化铝(Al2O3)、碳化硅(SiC)或类似物。
第一构件102、多个基板支撑销112与对准引导件118的变化是有可能的。举例而言,上述变化可取决于基板103上正在执行的工艺及/或基板103的组成。举例而言,取决于已知工艺的温度要求,第一构件102可由具有特定热导系数或类似物的材料加以形成;然而若基板103的背侧暴露于第一构件102的第一表面104,则上述材料可能会污染基板103。因此,可在上述条件下应用支撑层116,并利用与第一构件102不同的材料形成支撑层116,其中不同的材料不会污染基板103。同样地,因为相似原因,可利用与第一构件102不同的材料形成对准引导件118。举例而言,图2A描绘基板支撑件102的实施例,基板支撑件102包括对准引导件118、支撑层116、自支撑层116延伸的多个支撑销与第一构件102,其中对准引导件118、支撑层116与支撑销112是由与第一构件102不同的材料而形成的。
或者,取决于基板103上正在执行的工艺及/或基板103的组成,第一构件102、多个基板支撑销112与对准引导件118可由如图2B中所述的相同材料形成。举例而言,其中第一构件的材料兼容于基板103上正在执行的工艺及/或基板103的组成,则便可应用图2B中所示的基板支撑件100的实施例。由于图2B中的支撑层116与第一构件102集成在一起,图2B中便未图示分离的支撑层116。然而,可将支撑层116视为第一构件102的上部分。
或者,取决于基板103上正在执行的工艺及/或基板103的组成,第一构件102可如图2C中所描绘的那样在厚度上有所变化。举例而言,沿着第一构件102的厚度变化可促进沿着基板103的所需加热分布及/或补偿正在基板103的正面上执行的工艺中的不均匀性,工艺诸如沉积、固化、烘烤、退火、蚀刻等等。举例而言,在某些实施例中,如图2C中所描绘,第一构件102可自第一构件102的中心至第一构件102的边缘增加厚度。然而,图2C的实施例仅为说明,而可用任何适当的方式改变第一构件102的厚度,以提供沿着基板103的所需加热分布。如图2C中所描绘,当第一构件102的厚度有所变化时,多个支撑销112可具有变化的长度以补偿第一构件102中的厚度变化。如图2C中所示,各个支撑销112具有的长度使得各个支撑销112在大约相同的垂直高度处接触基板103的背侧表面。可如图2C中所描述,将多个支撑销112各个地塑造并耦接至第一构件102。或者(未图示),多个支撑销112可与第一构件102集成在一起,举例而言,相似于图2B中所示的支撑销112的实施例。
回到图1,第二构件106可具有一或多个加热区域108与冷却通道110两者,一或多个加热区域108与冷却通道110两者形成于第二构件106中或形成于第二构件106上,或者,如设置穿过第二构件106的虚线所示,第二构件106可具有多个层,其中一层包括加热区域108或冷却通道110的一个,而另一层包括加热区域108或冷却通道110的另一个。虽然描绘于图1与图3A-C中一或多个加热区域108与冷却通道110为沿着第二构件106均匀地分布,但可用任何适当的设置沿着第二构件102分布一或多个加热区域108与冷却通道110,适当的设置可在基板103上提供所需的温度分布。可由适当的工艺兼容材料来形成第二构件106,工艺兼容材料诸如具有下列一或多种的材料:高机械强度(例如,至少约200MPa的弯曲强度)、高电阻率(例如,至少约1014欧姆-cm)、低热膨胀系数(例如,不超过约5x10-6℃)。适当的材料可包括碳化硅(SiC)、氮化硅(Si3N4)、氮化铝(AlN)、氧化铝(Al2O3)或类似物的一或多种。
基板支撑件100包括一或多个电阻式加热元件124。一或多个加热区域108的各个加热区域108包括一或多个电阻式加热元件124。各个电阻式加热元件124可耦接至功率源126。功率源126可提供任何与电阻式加热元件124兼容的适当类型功率,诸如直流电(DC)或交流电(AC)。功率源126可耦接至控制器122或另一控制器(未图示)并由控制器122或另一控制器(未图示)所控制,另一控制器例如用以控制处理腔室(具有基板支撑件设置于处理腔室中)的系统控制器或类似物。在某些实施例中,功率源126可进一步包括功率分配器,功率分配器将提供至电阻式加热元件124的功率分配至各个加热区域108。举例而言,功率分配器可响应温度监测装置120的一或多个而操作,以选择性地散布功率至特定加热区域108中的电阻式加热元件124。或者,在某些实施例中,可对各个分别的加热器区域中的电阻式加热元件提供多个功率源。
在某些实施例中,可将一或多个电阻式加热元件124沉积于第二构件106的表面上。举例而言,沉积可包括任何形成加热区域108所需图案的适当沉积技术。举例而言,一或多个电阻式加热元件可包括铂或其它适当的电阻式加热材料。在某些实施例中,在完成一或多个电阻式加热元件124的沉积之后,可用绝缘材料(诸如,玻璃、陶瓷或类似物)来涂覆第二构件106的表面与沉积的一或多个电阻式加热元件124。
举例而言,一或多个加热区域108被排列成六个区域的设置的一个实施例是图示于图4中,虽然也可应用较多或较少的区域。如俯视图中所示,可围绕基板支撑件100的中央轴402设置加热区域108。一或多个加热区域108可包括:第一加热区域404,第一加热区域404具有自中央轴402沿着第二构件106的上表面延伸的第一半径406(例如,中央区域);第二加热区域408(例如,中间区域),第二加热区域408围绕第一加热区域404;及第三、第四、第五与第六加热区域410(例如,多个外部区域),第三、第四、第五与第六加热区域410设置围绕第二加热区域408。在某些实施例中,且如图所示,四个加热区域410各自可对应至基板支撑件100的外部区域约四分之一部分。在某些实施例中,可提供温度监测装置(例如,上述的温度监测装置120)以感应对应于各个区域(或各个区域中所需位置)中温度的数据。在某些实施例中,各个温度监测装置是RTD。各个温度监测装置可耦接至控制器(例如,上述的控制器122),以提供针对各个相应加热区域108的反馈控制。
回到图1,冷却通道110可耦接至冷却源128,冷却源128可提供冷却剂至冷却通道110。举例而言,冷却剂可为液体或气体,诸如水、惰性气体或类似物。冷却通道110可相互连接,或者,冷却通道110可被排列成多个区域。所述区域可重叠于一或多个加热区域108的一或多个。举例而言,各个加热区域108可具有相应的冷却区域,或者冷却区域可与多个加热区域108有所关联或者冷却区域可设置在多个加热区域108附近。可如所需般将冷却剂分散至各个冷却剂通道,或者用相似于针对加热区域108如上描述的方式,响应温度监测装置120的一或多个提供的温度信息将冷却剂分散至各个冷却剂通道。举例而言,可用相似于针对加热区域108如上描述的方式,通过控制器122控制冷却剂源128至冷却剂通道的冷却剂输送。举例而言,可控制冷却剂的温度、流量之类以如所需般自基板支撑件移除热,以控制设置于基板支撑件100上的基板的热分布。
基板支撑件100的紧密设计、调整基板103上温度非均匀性的加热与冷却的可调整性与主动冷却机制(例如,冷却剂通道110与相关的冷却剂装置)的存在可促进下列一或多种:加热基板、维持基板的温度、快速改变基板的温度,或者均匀地散布热至基板或均匀地自基板移除热。
第二构件106可包括一或多个由相同或不同材料构成的层。举例而言,第二构件106的多个非限制性变化描绘于图3A-C中所示的实施例中。举例而言,如图3A中所示,冷却通道110与加热区域108的位置可与图1中所描绘的第二构件106的实施例相反。如图1中所描绘,加热区域108可位于冷却通道110与第一构件102之间。或者,如图3A中所描绘,冷却通道可设置在加热区域108与第一构件102之间。在某些实施例中,一或多个冷却通道110的各个冷却通道110可设置于平行于第二构件106的第一表面130、邻近第一构件102的平面方向中。同样地,在某些实施例中,一或多个加热区域108的各个加热区域108可设置于平行于第二构件106的第一表面130的平面方向中。如上所述,虽然将加热区域108与冷却通道110描绘成平行于上表面130且沿着第二构件106均匀地分布,但加热区域108与冷却通道110可采取任何适当的设置以提供基板103上所需的温度分布。举例而言,可相对于上表面130交错加热区域108及/或冷却通道110及/或非均匀地分布加热区域108及/或冷却通道110。
在某些实施例中,第二构件106可由第一层132与第二层134所形成。如图3B中所描绘,第一层132可包括各个一或多个加热区域108,其中加热区域108各自设置邻近于第一层132的上表面133或设置于第一层132的上表面133上。举例而言,各个加热元件124可如图3B中所示般嵌于第一层132中。或者,举例而言,可通过印刷加热元件124于上表面133上或通过另外适当的光刻或沉积技术,将各个加热元件124设置于第一层132上(未图示)。同样地,举例而言,当第二构件106由单一层所形成时(未图示),可将一或多个加热元件124设置于第二构件106的上表面130上。举例而言,可由适当的工艺相容材料形成第一层132,适当的工艺相容材料诸如下列的一或多种:AlN、Si3N4、(可自CorningIncorporated取得的可加工玻璃-陶瓷,包括硼硅酸盐玻璃基质中的氟金云母)、(可自SchottAG取得的玻璃-陶瓷)、不锈钢或类似物。举例而言,第一层132可为多层或层压结构,举例而言,多层或层压结构包括多个上列的工艺相容材料。
第二层134可具有多个冷却通道110,多个冷却通道110可如图3B中所示般设置于第二层134的上表面135中。或者,多个冷却通道可设置于第二层134的内部中(未图示)。可由适当的工艺相容材料形成第二层134,适当的工艺相容材料诸如下列的一或多种:AlN、Si3N4、不锈钢或类似物。举例而言,第二层134可为多层或层压结构,举例而言,多层或层压结构包括多个上列的工艺相容材料。
在某些实施例中,第一层132可设置于第二层134上方。举例而言,如图3B中所图示,设置在第一层132的上表面133上的各个加热区域108可接触第一构件102的下表面,然而,直接接触第一构件102的下表面并非必需的。再者,如图3B中所图示,第二层134的上表面135(具有冷却通道110设置于第二层134的上表面135中)可接触第一层132的下表面,虽然直接接触并非必需的。因此,第一层132的上表面133接触第一构件102的下表面。接触可为直接的(如图示)或非直接的(例如,存在有某些介入层)。第二层134的上表面135接触第一层132的下表面136。接触可为直接的(如图示)或非直接的(例如,存在有某些介入层)。
或者,可如图3C中所图示的将第二层134设置在第一层132上方。举例而言,如图3C中所图示,第二层134的上表面135可接触第一构件102的下表面。加热元件124可嵌于第一层132中或设置在第一层132的上表面133上,且加热元件124可接近接触第二层134的下表面138或接触第二层134的下表面138。
因此,本文已经公开基板支撑件的实施例。本发明的基板支撑件可有利地促进下列一或多种:加热基板、维持基板的温度、快速改变基板的温度,或者均匀地散布热至基板或均匀地自基板移除热。
虽然上述针对本发明的实施例,但可在不悖离本发明的基本范围下设计出本发明的其它与更多实施例。
Claims (14)
1.一种基板支撑件,包括:
第一构件,当基板位于所述第一构件的第一表面上方时,所述第一构件用以散布热至所述基板;
第二构件,所述第二构件设置在所述第一构件下;
加热器,所述加热器设置于所述第二构件中,且所述加热器具有一或多个加热区域以提供热至所述第一构件;
多个冷却通道,所述多个冷却通道设置于所述第一构件下以移除所述加热器提供的热;
第三构件,所述第三构件具有中央开口并且设置在所述一或多个加热区域和所述多个冷却通道下;
馈通组件,所述馈通组件耦接至所述第三构件靠近所述中央开口,其中所述馈通组件在所述第二构件的底表面与所述馈通组件的内表面之间形成空腔;
多个基板支撑销,所述多个基板支撑销设置在所述第一构件的所述第一表面上的第一距离处,当基板位于所述基板支撑件上时,所述多个基板支撑销用以支撑所述基板的背侧表面;
对准引导件,所述对准引导件自所述第一构件的所述第一表面延伸并围绕所述多个基板支撑销;及
耦接元件,所述耦接元件耦接至所述第一构件和所述第三构件,并且所述耦接元件包括弹簧,以使所述第一构件、第二构件和第三构件朝彼此偏置,其中所述弹簧设置在由所述馈通组件形成的空腔中。
2.如权利要求1所述的基板支撑件,其中所述多个基板支撑销的各个基板支撑销自所述第一构件的所述第一表面延伸。
3.如权利要求2所述的基板支撑件,其中所述第一构件、所述多个基板支撑销与所述对准引导件是由相同材料所形成。
4.如权利要求1所述的基板支撑件,所述基板支撑件还包括:
支撑层,所述支撑层设置在所述第一构件的所述第一表面上,其中所述多个基板支撑销的各个基板支撑销自所述支撑层的表面延伸。
5.如权利要求4所述的基板支撑件,其中所述多个基板支撑销的各个基板支撑销与所述支撑层是由相同材料所形成。
6.如权利要求1-5任一项所述的基板支撑件,其中所述加热器包括:
多个电阻式加热元件,其中所述一或多个加热区域的各个加热区域包括所述多个电阻式加热元件的一或多个电阻式加热元件。
7.如权利要求6所述的基板支撑件,所述基板支撑件还包括:
其中所述多个电阻式加热元件的各个电阻式加热元件设置邻近所述第二构件的上表面,且其中所述多个冷却通道的各个冷却通道平行于所述上表面设置于所述第二构件中。
8.如权利要求6所述的基板支撑件,所述基板支撑件还包括:
其中所述多个冷却通道的各个冷却通道平行于上表面设置在所述第二构件中,且其中所述多个电阻式加热元件的各个电阻式加热元件位于所述多个冷却通道的各个冷却通道下方。
9.如权利要求6所述的基板支撑件,所述基板支撑件还包括:
第一层,所述第一层具有多个电阻式加热元件形成于所述第一层中;及
第二层,所述第二层具有所述多个冷却通道的各个冷却通道形成于所述第二层中。
10.如权利要求9所述的基板支撑件,其中所述多个冷却通道的各个冷却通道形成于所述第二层的上表面中,并且其中所述第一层的下表面接触所述第二层的所述上表面以形成所述多个冷却通道。
11.如权利要求9所述的基板支撑件,其中所述多个冷却通道的各个冷却通道形成在所述第二层的上表面中,并且其中所述第二层的所述上表面接触所述第一构件的下表面以形成所述多个冷却通道。
12.如权利要求6所述的基板支撑件,其中所述一或多个加热区域围绕所述基板支撑件的中央轴对称地设置。
13.如权利要求12所述的基板支撑件,其中所述一或多个加热区域还包括:
第一加热区域,所述第一加热区域具有第一半径,所述第一半径沿着所述第二构件的上表面自所述中央轴延伸;
第二加热区域,所述第二加热区域设置围绕所述第一加热区域;及
多个第三加热区域,所述多个第三加热区域设置围绕所述第二加热区域。
14.如权利要求1所述的基板支撑件,其中所述第三构件是热沉。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/014,827 US20120196242A1 (en) | 2011-01-27 | 2011-01-27 | Substrate support with heater and rapid temperature change |
US13/014,827 | 2011-01-27 | ||
PCT/US2012/022661 WO2012103294A2 (en) | 2011-01-27 | 2012-01-26 | Substrate support with heater and rapid temperature change |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN103370778A CN103370778A (zh) | 2013-10-23 |
CN103370778B true CN103370778B (zh) | 2016-03-30 |
Family
ID=46577642
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201280007812.8A Expired - Fee Related CN103370778B (zh) | 2011-01-27 | 2012-01-26 | 具有加热器与快速温度变化的基板支撑件 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20120196242A1 (zh) |
JP (1) | JP6153200B2 (zh) |
KR (1) | KR101933560B1 (zh) |
CN (1) | CN103370778B (zh) |
TW (1) | TWI610396B (zh) |
WO (1) | WO2012103294A2 (zh) |
Families Citing this family (238)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100568101C (zh) | 2002-11-12 | 2009-12-09 | Asml荷兰有限公司 | 光刻装置和器件制造方法 |
US7433016B2 (en) | 2005-05-03 | 2008-10-07 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US8709162B2 (en) * | 2005-08-16 | 2014-04-29 | Applied Materials, Inc. | Active cooling substrate support |
US20130023129A1 (en) | 2011-07-20 | 2013-01-24 | Asm America, Inc. | Pressure transmitter for a semiconductor processing environment |
NL2009189A (en) | 2011-08-17 | 2013-02-19 | Asml Netherlands Bv | Support table for a lithographic apparatus, lithographic apparatus and device manufacturing method. |
US10714315B2 (en) | 2012-10-12 | 2020-07-14 | Asm Ip Holdings B.V. | Semiconductor reaction chamber showerhead |
JP6234674B2 (ja) * | 2012-12-13 | 2017-11-22 | 株式会社Screenホールディングス | 熱処理装置 |
US9538583B2 (en) | 2013-01-16 | 2017-01-03 | Applied Materials, Inc. | Substrate support with switchable multizone heater |
US20160376700A1 (en) | 2013-02-01 | 2016-12-29 | Asm Ip Holding B.V. | System for treatment of deposition reactor |
WO2015119744A1 (en) * | 2014-02-07 | 2015-08-13 | Applied Materials, Inc. | Chucking capability for bowed wafers on dsa |
US11158526B2 (en) * | 2014-02-07 | 2021-10-26 | Applied Materials, Inc. | Temperature controlled substrate support assembly |
JP2015195259A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-05 | 豊田合成株式会社 | サセプターおよび気相成長装置 |
US9779971B2 (en) * | 2014-04-11 | 2017-10-03 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for rapidly cooling a substrate |
SG11201608905XA (en) * | 2014-05-21 | 2016-12-29 | Applied Materials Inc | Thermal processing susceptor |
CN105225997B (zh) * | 2014-06-12 | 2018-01-23 | 中微半导体设备(上海)有限公司 | 一种静电夹盘及静电夹盘的制造方法 |
US10941490B2 (en) | 2014-10-07 | 2021-03-09 | Asm Ip Holding B.V. | Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same |
US10276355B2 (en) | 2015-03-12 | 2019-04-30 | Asm Ip Holding B.V. | Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same |
CN107533996B (zh) | 2015-04-10 | 2021-02-23 | Ev 集团 E·索尔纳有限责任公司 | 衬底固持器和用于接合两个衬底的方法 |
US10458018B2 (en) | 2015-06-26 | 2019-10-29 | Asm Ip Holding B.V. | Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same |
US10211308B2 (en) | 2015-10-21 | 2019-02-19 | Asm Ip Holding B.V. | NbMC layers |
US11139308B2 (en) | 2015-12-29 | 2021-10-05 | Asm Ip Holding B.V. | Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices |
JP6745886B2 (ja) | 2016-02-16 | 2020-08-26 | エーファウ・グループ・エー・タルナー・ゲーエムベーハー | 基板をボンディングするための方法および装置 |
US10529554B2 (en) | 2016-02-19 | 2020-01-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches |
US11453943B2 (en) | 2016-05-25 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor |
US10184183B2 (en) * | 2016-06-21 | 2019-01-22 | Applied Materials, Inc. | Substrate temperature monitoring |
US10612137B2 (en) | 2016-07-08 | 2020-04-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Organic reactants for atomic layer deposition |
US9859151B1 (en) | 2016-07-08 | 2018-01-02 | Asm Ip Holding B.V. | Selective film deposition method to form air gaps |
US9887082B1 (en) | 2016-07-28 | 2018-02-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
US9812320B1 (en) | 2016-07-28 | 2017-11-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
US11532757B2 (en) | 2016-10-27 | 2022-12-20 | Asm Ip Holding B.V. | Deposition of charge trapping layers |
US10714350B2 (en) | 2016-11-01 | 2020-07-14 | ASM IP Holdings, B.V. | Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures |
KR102546317B1 (ko) | 2016-11-15 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
KR102000021B1 (ko) * | 2016-11-30 | 2019-07-17 | 세메스 주식회사 | 기판 지지 유닛, 열처리 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
KR20180068582A (ko) | 2016-12-14 | 2018-06-22 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US11581186B2 (en) | 2016-12-15 | 2023-02-14 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus |
US11447861B2 (en) | 2016-12-15 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure |
US10269558B2 (en) | 2016-12-22 | 2019-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a structure on a substrate |
US11390950B2 (en) | 2017-01-10 | 2022-07-19 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process |
US10468261B2 (en) | 2017-02-15 | 2019-11-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures |
US10770286B2 (en) | 2017-05-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures |
US11011355B2 (en) | 2017-05-12 | 2021-05-18 | Lam Research Corporation | Temperature-tuned substrate support for substrate processing systems |
US12040200B2 (en) | 2017-06-20 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus and methods for calibrating a semiconductor processing apparatus |
US11306395B2 (en) | 2017-06-28 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus |
KR102435888B1 (ko) | 2017-07-04 | 2022-08-25 | 삼성전자주식회사 | 정전 척, 기판 처리 장치 및 그를 이용한 반도체 소자의 제조방법 |
KR20190009245A (ko) | 2017-07-18 | 2019-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물 |
US11374112B2 (en) | 2017-07-19 | 2022-06-28 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US10590535B2 (en) | 2017-07-26 | 2020-03-17 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same |
US10692741B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-06-23 | Asm Ip Holdings B.V. | Radiation shield |
US10770336B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate lift mechanism and reactor including same |
US11769682B2 (en) | 2017-08-09 | 2023-09-26 | Asm Ip Holding B.V. | Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith |
US11830730B2 (en) | 2017-08-29 | 2023-11-28 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method and apparatus |
US11295980B2 (en) | 2017-08-30 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
US10658205B2 (en) | 2017-09-28 | 2020-05-19 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber |
US10403504B2 (en) | 2017-10-05 | 2019-09-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method for selectively depositing a metallic film on a substrate |
US10923344B2 (en) | 2017-10-30 | 2021-02-16 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures |
KR102597978B1 (ko) | 2017-11-27 | 2023-11-06 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 배치 퍼니스와 함께 사용하기 위한 웨이퍼 카세트를 보관하기 위한 보관 장치 |
CN111344522B (zh) | 2017-11-27 | 2022-04-12 | 阿斯莫Ip控股公司 | 包括洁净迷你环境的装置 |
CN108089378B (zh) * | 2018-01-03 | 2020-07-07 | 惠科股份有限公司 | 一种烘烤方法、装置及烘烤炉 |
US10872771B2 (en) | 2018-01-16 | 2020-12-22 | Asm Ip Holding B. V. | Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures |
CN111630203A (zh) | 2018-01-19 | 2020-09-04 | Asm Ip私人控股有限公司 | 通过等离子体辅助沉积来沉积间隙填充层的方法 |
TWI799494B (zh) | 2018-01-19 | 2023-04-21 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 沈積方法 |
US11081345B2 (en) | 2018-02-06 | 2021-08-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method of post-deposition treatment for silicon oxide film |
US10896820B2 (en) | 2018-02-14 | 2021-01-19 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process |
US11685991B2 (en) | 2018-02-14 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process |
TWI743446B (zh) * | 2018-02-20 | 2021-10-21 | 美商應用材料股份有限公司 | 用於原子層沉積(ald)溫度均勻性的熱解氮化硼(pbn)加熱器 |
KR102636427B1 (ko) | 2018-02-20 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 장치 |
US10975470B2 (en) | 2018-02-23 | 2021-04-13 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment |
US11473195B2 (en) | 2018-03-01 | 2022-10-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate |
US11629406B2 (en) | 2018-03-09 | 2023-04-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate |
KR102646467B1 (ko) | 2018-03-27 | 2024-03-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조 |
US11230766B2 (en) | 2018-03-29 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
US12025484B2 (en) | 2018-05-08 | 2024-07-02 | Asm Ip Holding B.V. | Thin film forming method |
TWI811348B (zh) | 2018-05-08 | 2023-08-11 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 藉由循環沉積製程於基板上沉積氧化物膜之方法及相關裝置結構 |
KR102596988B1 (ko) | 2018-05-28 | 2023-10-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치 |
US11718913B2 (en) | 2018-06-04 | 2023-08-08 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distribution system and reactor system including same |
TWI840362B (zh) | 2018-06-04 | 2024-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 水氣降低的晶圓處置腔室 |
US11286562B2 (en) | 2018-06-08 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Gas-phase chemical reactor and method of using same |
KR102568797B1 (ko) | 2018-06-21 | 2023-08-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 시스템 |
US10797133B2 (en) | 2018-06-21 | 2020-10-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures |
TWI815915B (zh) | 2018-06-27 | 2023-09-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於形成含金屬材料及包含含金屬材料的膜及結構之循環沉積方法 |
JP2021529254A (ja) | 2018-06-27 | 2021-10-28 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 金属含有材料ならびに金属含有材料を含む膜および構造体を形成するための周期的堆積方法 |
US10612136B2 (en) | 2018-06-29 | 2020-04-07 | ASM IP Holding, B.V. | Temperature-controlled flange and reactor system including same |
US10388513B1 (en) | 2018-07-03 | 2019-08-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
US10755922B2 (en) | 2018-07-03 | 2020-08-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
US11430674B2 (en) | 2018-08-22 | 2022-08-30 | Asm Ip Holding B.V. | Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods |
US11024523B2 (en) | 2018-09-11 | 2021-06-01 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
KR102707956B1 (ko) | 2018-09-11 | 2024-09-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 증착 방법 |
KR20200038184A (ko) | 2018-10-01 | 2020-04-10 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 유지 장치, 장치를 포함하는 시스템, 및 이를 이용하는 방법 |
US11232963B2 (en) | 2018-10-03 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
KR102592699B1 (ko) | 2018-10-08 | 2023-10-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치 |
KR102605121B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-11-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
KR102546322B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
US11087997B2 (en) | 2018-10-31 | 2021-08-10 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus for processing substrates |
KR20200051105A (ko) | 2018-11-02 | 2020-05-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
US11572620B2 (en) | 2018-11-06 | 2023-02-07 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate |
US10818758B2 (en) | 2018-11-16 | 2020-10-27 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures |
US12040199B2 (en) | 2018-11-28 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus for processing substrates |
US11217444B2 (en) | 2018-11-30 | 2022-01-04 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film |
KR102636428B1 (ko) | 2018-12-04 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치를 세정하는 방법 |
US11158513B2 (en) | 2018-12-13 | 2021-10-26 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
TW202037745A (zh) | 2018-12-14 | 2020-10-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成裝置結構之方法、其所形成之結構及施行其之系統 |
CN109581709B (zh) * | 2019-01-04 | 2021-07-06 | Tcl华星光电技术有限公司 | 烘烤装置 |
TW202405220A (zh) | 2019-01-17 | 2024-02-01 | 荷蘭商Asm Ip 私人控股有限公司 | 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法 |
KR20200091543A (ko) | 2019-01-22 | 2020-07-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
KR102626263B1 (ko) | 2019-02-20 | 2024-01-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치 |
US11482533B2 (en) | 2019-02-20 | 2022-10-25 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus and methods for plug fill deposition in 3-D NAND applications |
TW202044325A (zh) | 2019-02-20 | 2020-12-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 填充一基板之一表面內所形成的一凹槽的方法、根據其所形成之半導體結構、及半導體處理設備 |
TWI845607B (zh) | 2019-02-20 | 2024-06-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用來填充形成於基材表面內之凹部的循環沉積方法及設備 |
TWI842826B (zh) | 2019-02-22 | 2024-05-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基材處理設備及處理基材之方法 |
KR20200108242A (ko) | 2019-03-08 | 2020-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체 |
KR20200108248A (ko) | 2019-03-08 | 2020-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | SiOCN 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법 |
JP2020167398A (ja) | 2019-03-28 | 2020-10-08 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | ドアオープナーおよびドアオープナーが提供される基材処理装置 |
KR20200116855A (ko) | 2019-04-01 | 2020-10-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자를 제조하는 방법 |
US11447864B2 (en) | 2019-04-19 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method and apparatus |
JP2022530213A (ja) * | 2019-04-22 | 2022-06-28 | ラム リサーチ コーポレーション | 空間的に調節可能なウエハへのrf結合を有する静電チャック |
KR20200125453A (ko) | 2019-04-24 | 2020-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법 |
KR20200130121A (ko) | 2019-05-07 | 2020-11-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기 |
KR20200130118A (ko) | 2019-05-07 | 2020-11-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법 |
KR20200130652A (ko) | 2019-05-10 | 2020-11-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조 |
JP2020188255A (ja) | 2019-05-16 | 2020-11-19 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
JP2020188254A (ja) | 2019-05-16 | 2020-11-19 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
USD975665S1 (en) | 2019-05-17 | 2023-01-17 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
USD947913S1 (en) | 2019-05-17 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
KR20200141002A (ko) | 2019-06-06 | 2020-12-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 배기 가스 분석을 포함한 기상 반응기 시스템을 사용하는 방법 |
KR20200143254A (ko) | 2019-06-11 | 2020-12-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조 |
USD944946S1 (en) | 2019-06-14 | 2022-03-01 | Asm Ip Holding B.V. | Shower plate |
KR20210005515A (ko) | 2019-07-03 | 2021-01-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법 |
JP7499079B2 (ja) | 2019-07-09 | 2024-06-13 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法 |
CN112216646A (zh) | 2019-07-10 | 2021-01-12 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板支撑组件及包括其的基板处理装置 |
KR20210010307A (ko) | 2019-07-16 | 2021-01-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
KR20210010820A (ko) | 2019-07-17 | 2021-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법 |
KR20210010816A (ko) | 2019-07-17 | 2021-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법 |
US11643724B2 (en) | 2019-07-18 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming structures using a neutral beam |
KR20210010817A (ko) | 2019-07-19 | 2021-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 토폴로지-제어된 비정질 탄소 중합체 막을 형성하는 방법 |
TWI839544B (zh) | 2019-07-19 | 2024-04-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成形貌受控的非晶碳聚合物膜之方法 |
CN112309843A (zh) | 2019-07-29 | 2021-02-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 实现高掺杂剂掺入的选择性沉积方法 |
CN112309899A (zh) | 2019-07-30 | 2021-02-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
CN112309900A (zh) | 2019-07-30 | 2021-02-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
US11587814B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
US11227782B2 (en) | 2019-07-31 | 2022-01-18 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
US11587815B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
KR20210018759A (ko) | 2019-08-05 | 2021-02-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 화학물질 공급원 용기를 위한 액체 레벨 센서 |
USD965524S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-10-04 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor support |
USD965044S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
JP2021031769A (ja) | 2019-08-21 | 2021-03-01 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置 |
USD949319S1 (en) | 2019-08-22 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Exhaust duct |
USD940837S1 (en) | 2019-08-22 | 2022-01-11 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode |
USD979506S1 (en) | 2019-08-22 | 2023-02-28 | Asm Ip Holding B.V. | Insulator |
KR20210024423A (ko) | 2019-08-22 | 2021-03-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법 |
KR20210024420A (ko) | 2019-08-23 | 2021-03-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법 |
US11286558B2 (en) | 2019-08-23 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film |
KR20210029090A (ko) | 2019-09-04 | 2021-03-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법 |
KR20210029663A (ko) | 2019-09-05 | 2021-03-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US11562901B2 (en) | 2019-09-25 | 2023-01-24 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing method |
CN112593212B (zh) | 2019-10-02 | 2023-12-22 | Asm Ip私人控股有限公司 | 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法 |
KR20210042810A (ko) | 2019-10-08 | 2021-04-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 활성 종을 이용하기 위한 가스 분배 어셈블리를 포함한 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법 |
TWI846953B (zh) | 2019-10-08 | 2024-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理裝置 |
TWI846966B (zh) | 2019-10-10 | 2024-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成光阻底層之方法及包括光阻底層之結構 |
US12009241B2 (en) | 2019-10-14 | 2024-06-11 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly with detector to detect cassette |
TWI717056B (zh) * | 2019-10-15 | 2021-01-21 | 萬潤科技股份有限公司 | 散熱片壓合製程之溫度控制方法及裝置 |
TWI834919B (zh) | 2019-10-16 | 2024-03-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法 |
US11637014B2 (en) | 2019-10-17 | 2023-04-25 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selective deposition of doped semiconductor material |
KR20210047808A (ko) | 2019-10-21 | 2021-04-30 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법 |
KR20210050453A (ko) | 2019-10-25 | 2021-05-07 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조 |
US11646205B2 (en) | 2019-10-29 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same |
KR20210054983A (ko) | 2019-11-05 | 2021-05-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템 |
US11501968B2 (en) | 2019-11-15 | 2022-11-15 | Asm Ip Holding B.V. | Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps |
KR20210062561A (ko) | 2019-11-20 | 2021-05-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템 |
CN112951697A (zh) | 2019-11-26 | 2021-06-11 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
US11450529B2 (en) | 2019-11-26 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selectively forming a target film on a substrate comprising a first dielectric surface and a second metallic surface |
CN112885693A (zh) | 2019-11-29 | 2021-06-01 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
CN112885692A (zh) | 2019-11-29 | 2021-06-01 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
JP7527928B2 (ja) | 2019-12-02 | 2024-08-05 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 基板処理装置、基板処理方法 |
KR20210070898A (ko) | 2019-12-04 | 2021-06-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
TW202125596A (zh) | 2019-12-17 | 2021-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成氮化釩層之方法以及包括該氮化釩層之結構 |
KR20210080214A (ko) | 2019-12-19 | 2021-06-30 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조 |
JP2021109175A (ja) | 2020-01-06 | 2021-08-02 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | ガス供給アセンブリ、その構成要素、およびこれを含む反応器システム |
TW202142733A (zh) | 2020-01-06 | 2021-11-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 反應器系統、抬升銷、及處理方法 |
US11993847B2 (en) | 2020-01-08 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Injector |
KR102675856B1 (ko) | 2020-01-20 | 2024-06-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법 |
TW202130846A (zh) | 2020-02-03 | 2021-08-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成包括釩或銦層的結構之方法 |
TW202146882A (zh) | 2020-02-04 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 驗證一物品之方法、用於驗證一物品之設備、及用於驗證一反應室之系統 |
US11776846B2 (en) | 2020-02-07 | 2023-10-03 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices |
US11781243B2 (en) | 2020-02-17 | 2023-10-10 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing low temperature phosphorous-doped silicon |
TW202203344A (zh) | 2020-02-28 | 2022-01-16 | 荷蘭商Asm Ip控股公司 | 專用於零件清潔的系統 |
US11876356B2 (en) | 2020-03-11 | 2024-01-16 | Asm Ip Holding B.V. | Lockout tagout assembly and system and method of using same |
KR20210116240A (ko) | 2020-03-11 | 2021-09-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치 |
KR20210117157A (ko) | 2020-03-12 | 2021-09-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 타겟 토폴로지 프로파일을 갖는 층 구조를 제조하기 위한 방법 |
KR20210124042A (ko) | 2020-04-02 | 2021-10-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 형성 방법 |
TW202146689A (zh) | 2020-04-03 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip控股公司 | 阻障層形成方法及半導體裝置的製造方法 |
TW202145344A (zh) | 2020-04-08 | 2021-12-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法 |
KR20210127620A (ko) | 2020-04-13 | 2021-10-22 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 질소 함유 탄소 막을 형성하는 방법 및 이를 수행하기 위한 시스템 |
KR20210128343A (ko) | 2020-04-15 | 2021-10-26 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 크롬 나이트라이드 층을 형성하는 방법 및 크롬 나이트라이드 층을 포함하는 구조 |
US11821078B2 (en) | 2020-04-15 | 2023-11-21 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film |
US11996289B2 (en) | 2020-04-16 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods |
KR20210132576A (ko) | 2020-04-24 | 2021-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐 나이트라이드 함유 층을 형성하는 방법 및 이를 포함하는 구조 |
TW202146831A (zh) | 2020-04-24 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 垂直批式熔爐總成、及用於冷卻垂直批式熔爐之方法 |
KR20210132600A (ko) | 2020-04-24 | 2021-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템 |
KR20210134226A (ko) | 2020-04-29 | 2021-11-09 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 고체 소스 전구체 용기 |
KR20210134869A (ko) | 2020-05-01 | 2021-11-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환 |
TW202147543A (zh) | 2020-05-04 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 半導體處理系統 |
KR20210141379A (ko) | 2020-05-13 | 2021-11-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구 |
TW202146699A (zh) | 2020-05-15 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成矽鍺層之方法、半導體結構、半導體裝置、形成沉積層之方法、及沉積系統 |
KR20210143653A (ko) | 2020-05-19 | 2021-11-29 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
KR20210145078A (ko) | 2020-05-21 | 2021-12-01 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법 |
KR102702526B1 (ko) | 2020-05-22 | 2024-09-03 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 과산화수소를 사용하여 박막을 증착하기 위한 장치 |
TW202201602A (zh) | 2020-05-29 | 2022-01-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
TW202212620A (zh) | 2020-06-02 | 2022-04-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 處理基板之設備、形成膜之方法、及控制用於處理基板之設備之方法 |
TW202218133A (zh) | 2020-06-24 | 2022-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成含矽層之方法 |
TW202217953A (zh) | 2020-06-30 | 2022-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
TW202202649A (zh) | 2020-07-08 | 2022-01-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
KR20220010438A (ko) | 2020-07-17 | 2022-01-25 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 포토리소그래피에 사용하기 위한 구조체 및 방법 |
TW202204662A (zh) | 2020-07-20 | 2022-02-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於沉積鉬層之方法及系統 |
US12040177B2 (en) | 2020-08-18 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a laminate film by cyclical plasma-enhanced deposition processes |
KR20220027026A (ko) | 2020-08-26 | 2022-03-07 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 금속 실리콘 산화물 및 금속 실리콘 산질화물 층을 형성하기 위한 방법 및 시스템 |
TW202229601A (zh) | 2020-08-27 | 2022-08-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成圖案化結構的方法、操控機械特性的方法、裝置結構、及基板處理系統 |
USD990534S1 (en) | 2020-09-11 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Weighted lift pin |
USD1012873S1 (en) | 2020-09-24 | 2024-01-30 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for semiconductor processing apparatus |
US12009224B2 (en) | 2020-09-29 | 2024-06-11 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus and method for etching metal nitrides |
EP3982398A1 (en) * | 2020-10-06 | 2022-04-13 | Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | Controlled local heating of substrates |
KR20220045900A (ko) | 2020-10-06 | 2022-04-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 함유 재료를 증착하기 위한 증착 방법 및 장치 |
CN114293174A (zh) | 2020-10-07 | 2022-04-08 | Asm Ip私人控股有限公司 | 气体供应单元和包括气体供应单元的衬底处理设备 |
TW202229613A (zh) | 2020-10-14 | 2022-08-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 於階梯式結構上沉積材料的方法 |
TW202217037A (zh) | 2020-10-22 | 2022-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 沉積釩金屬的方法、結構、裝置及沉積總成 |
TW202223136A (zh) | 2020-10-28 | 2022-06-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統 |
JP6842225B1 (ja) * | 2020-11-12 | 2021-03-17 | ハイソル株式会社 | チャックユニット及びチャックユニットの温度制御方法 |
TW202235649A (zh) | 2020-11-24 | 2022-09-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 填充間隙之方法與相關之系統及裝置 |
TW202235675A (zh) | 2020-11-30 | 2022-09-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 注入器、及基板處理設備 |
US11946137B2 (en) | 2020-12-16 | 2024-04-02 | Asm Ip Holding B.V. | Runout and wobble measurement fixtures |
TW202231903A (zh) | 2020-12-22 | 2022-08-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成 |
JP7308330B2 (ja) | 2021-05-10 | 2023-07-13 | ピコサン オーワイ | 基板処理装置及び方法 |
USD1023959S1 (en) | 2021-05-11 | 2024-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for substrate processing apparatus |
USD981973S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-28 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor wall for substrate processing apparatus |
USD980813S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate for substrate processing apparatus |
USD980814S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distributor for substrate processing apparatus |
USD990441S1 (en) | 2021-09-07 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate |
CN113793817A (zh) * | 2021-09-13 | 2021-12-14 | 安徽瑞迪微电子有限公司 | Igbt模块降温方法 |
EP4379783A1 (en) | 2022-11-29 | 2024-06-05 | ASML Netherlands B.V. | Electrostatic clamp, gripper assembly including the clamp, lithographic system comprising an electrostatic clamp, and method of making an electrostatic clamp |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6605955B1 (en) * | 1999-01-26 | 2003-08-12 | Trio-Tech International | Temperature controlled wafer chuck system with low thermal resistance |
CN1945807A (zh) * | 2004-10-07 | 2007-04-11 | 应用材料公司 | 控制衬底温度的装置 |
CN101043018A (zh) * | 2006-03-23 | 2007-09-26 | 大日本网目版制造株式会社 | 基板支撑结构及其制造方法、第一片状物、热处理装置及基板吸附方法 |
CN101569000A (zh) * | 2007-09-03 | 2009-10-28 | 佳能安内华股份有限公司 | 衬底热处理设备和衬底热处理方法 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5031571A (en) * | 1988-02-01 | 1991-07-16 | Mitsui Toatsu Chemicals, Inc. | Apparatus for forming a thin film on a substrate |
JPH01226147A (ja) * | 1988-03-07 | 1989-09-08 | Mitsui Toatsu Chem Inc | 成膜装置および成膜方法 |
KR100290748B1 (ko) * | 1993-01-29 | 2001-06-01 | 히가시 데쓰로 | 플라즈마 처리장치 |
US5501740A (en) * | 1993-06-04 | 1996-03-26 | Applied Science And Technology, Inc. | Microwave plasma reactor |
US5556475A (en) * | 1993-06-04 | 1996-09-17 | Applied Science And Technology, Inc. | Microwave plasma reactor |
US5711702A (en) * | 1996-08-27 | 1998-01-27 | Tempo Technology Corporation | Curve cutter with non-planar interface |
US6960743B2 (en) * | 2000-12-05 | 2005-11-01 | Ibiden Co., Ltd. | Ceramic substrate for semiconductor manufacturing, and method of manufacturing the ceramic substrate |
JP2002237375A (ja) * | 2000-12-05 | 2002-08-23 | Ibiden Co Ltd | 半導体製造・検査装置用セラミック基板およびその製造方法 |
WO2002056352A1 (fr) * | 2001-01-15 | 2002-07-18 | Lintec Corporation | Appareil d'assemblage et procede d'assemblage |
KR100798179B1 (ko) * | 2001-04-27 | 2008-01-24 | 교세라 가부시키가이샤 | 웨이퍼 가열장치 |
US6506291B2 (en) * | 2001-06-14 | 2003-01-14 | Applied Materials, Inc. | Substrate support with multilevel heat transfer mechanism |
US6535372B2 (en) * | 2001-06-20 | 2003-03-18 | Applied Materials, Inc. | Controlled resistivity boron nitride electrostatic chuck apparatus for retaining a semiconductor wafer and method of fabricating the same |
US20090004850A1 (en) * | 2001-07-25 | 2009-01-01 | Seshadri Ganguli | Process for forming cobalt and cobalt silicide materials in tungsten contact applications |
US7024105B2 (en) * | 2003-10-10 | 2006-04-04 | Applied Materials Inc. | Substrate heater assembly |
US7697260B2 (en) * | 2004-03-31 | 2010-04-13 | Applied Materials, Inc. | Detachable electrostatic chuck |
US7815740B2 (en) * | 2005-03-18 | 2010-10-19 | Tokyo Electron Limited | Substrate mounting table, substrate processing apparatus and substrate processing method |
JP4783213B2 (ja) * | 2005-06-09 | 2011-09-28 | 日本碍子株式会社 | 静電チャック |
JP5023505B2 (ja) * | 2006-02-09 | 2012-09-12 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜方法、プラズマ成膜装置及び記憶媒体 |
US7427728B2 (en) * | 2006-07-07 | 2008-09-23 | Sokudo Co., Ltd. | Zone control heater plate for track lithography systems |
JP4864757B2 (ja) * | 2007-02-14 | 2012-02-01 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板載置台及びその表面処理方法 |
CN102160167B (zh) * | 2008-08-12 | 2013-12-04 | 应用材料公司 | 静电吸盘组件 |
US10242890B2 (en) * | 2011-08-08 | 2019-03-26 | Applied Materials, Inc. | Substrate support with heater |
KR102103136B1 (ko) * | 2011-09-30 | 2020-04-22 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 온도 제어되는 정전 척 |
-
2011
- 2011-01-27 US US13/014,827 patent/US20120196242A1/en not_active Abandoned
-
2012
- 2012-01-26 KR KR1020137022188A patent/KR101933560B1/ko active IP Right Grant
- 2012-01-26 JP JP2013551320A patent/JP6153200B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-01-26 CN CN201280007812.8A patent/CN103370778B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2012-01-26 WO PCT/US2012/022661 patent/WO2012103294A2/en active Application Filing
- 2012-01-30 TW TW101102875A patent/TWI610396B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6605955B1 (en) * | 1999-01-26 | 2003-08-12 | Trio-Tech International | Temperature controlled wafer chuck system with low thermal resistance |
CN1945807A (zh) * | 2004-10-07 | 2007-04-11 | 应用材料公司 | 控制衬底温度的装置 |
CN101043018A (zh) * | 2006-03-23 | 2007-09-26 | 大日本网目版制造株式会社 | 基板支撑结构及其制造方法、第一片状物、热处理装置及基板吸附方法 |
CN101569000A (zh) * | 2007-09-03 | 2009-10-28 | 佳能安内华股份有限公司 | 衬底热处理设备和衬底热处理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101933560B1 (ko) | 2018-12-28 |
WO2012103294A9 (en) | 2012-09-07 |
JP6153200B2 (ja) | 2017-06-28 |
TWI610396B (zh) | 2018-01-01 |
JP2014510392A (ja) | 2014-04-24 |
CN103370778A (zh) | 2013-10-23 |
WO2012103294A3 (en) | 2012-10-26 |
US20120196242A1 (en) | 2012-08-02 |
TW201240013A (en) | 2012-10-01 |
KR20140004734A (ko) | 2014-01-13 |
WO2012103294A2 (en) | 2012-08-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103370778B (zh) | 具有加热器与快速温度变化的基板支撑件 | |
KR102026727B1 (ko) | 히터를 구비한 기판 지지체 | |
US9538583B2 (en) | Substrate support with switchable multizone heater | |
US8092602B2 (en) | Thermally zoned substrate holder assembly | |
KR102244625B1 (ko) | 온도 프로파일 제어를 갖는 가열식 기판 지지부 | |
JP5447123B2 (ja) | ヒータユニット及びそれを備えた装置 | |
KR20120102720A (ko) | 조절된 두께를 갖는 유리 시트 제조를 위한 방법 및 장치 | |
CN102167493A (zh) | 热处理熔融玻璃的方法和装置 | |
JP2007227441A (ja) | ウェハ保持体およびそれを搭載したヒータユニット、ウェハプローバ | |
JPH06244095A (ja) | 基板冷却装置 | |
KR20130106386A (ko) | 유리 기판을 열처리하기 위한 장치 및 방법 | |
WO2011152620A2 (ko) | 정전척 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 | |
JP6296770B2 (ja) | 基板載置装置 | |
TW200302541A (en) | Heated vacuum support apparatus | |
JPH11284037A (ja) | 半導体ウェーハの温度試験装置 | |
JP2013214606A (ja) | 陶磁器製保持台を有するウエハ保持体 | |
KR102031616B1 (ko) | 초박형 열 시트의 열전도도 측정 장치 및 방법 | |
CN110923672A (zh) | 加热装置及化学气相沉积设备 | |
JP2011124466A (ja) | ウェハ保持体およびそれを搭載したウェハプローバ | |
KR20200011345A (ko) | 기판 가열 유닛 및 표면판 | |
KR101257657B1 (ko) | 온도 변경 시스템 | |
JP2002328106A (ja) | 恒温装置 | |
JPH10214772A (ja) | 基板熱処理装置 | |
JP2002350378A (ja) | 熱制御プレート | |
JP2002373838A (ja) | 温度調整装置における載置プレートの支持構造 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20160330 |