WO2017217043A1 - ソケット - Google Patents

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WO2017217043A1
WO2017217043A1 PCT/JP2017/010195 JP2017010195W WO2017217043A1 WO 2017217043 A1 WO2017217043 A1 WO 2017217043A1 JP 2017010195 W JP2017010195 W JP 2017010195W WO 2017217043 A1 WO2017217043 A1 WO 2017217043A1
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housing
socket
recess
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宏真 寺西
貴浩 酒井
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オムロン株式会社
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    • H01R2201/20Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Definitions

  • the present invention relates to a socket.
  • a continuity test and an operation characteristic test are generally performed in the manufacturing process.
  • probe pins are used to connect FPC contact electrodes for connection to a main body board installed in an electronic component module, or an electrode unit such as a mounted board-to-board connector and an inspection device. Is done.
  • Patent Document 1 discloses a socket for storing such a contact.
  • This socket is provided with a plurality of pairs of slits which are arranged at equal intervals and each can accommodate a contact.
  • the socket since the interval between the pair of slits is determined in advance, for example, when there is an error in the processing of the terminal of the inspection apparatus or the inspection object, the socket is matched with the terminal of the inspection apparatus or the inspection object. There is a possibility that the contact cannot be accurately positioned.
  • an object of the present invention is to provide a socket capable of accurately positioning a contact.
  • the socket includes: A pair of housings each having a storage recess capable of storing and holding a contact having a first contact at one end and a second contact at the other end with each of the first and second contacts exposed;
  • the pair of housings are mutually connected such that the housing recess of one housing of the pair of housings and the housing recess of the other housing of the pair of housings are adjacently arranged to form a pair.
  • the storage recesses each of which can store and hold the contact and are paired, are disposed in a pair of housings, and the pair of housings are positioned independently of each other by the positioning members. Even if there is an error in the processing of the terminal of the inspection apparatus or the inspection object, the contact can be accurately positioned in accordance with the terminal of the inspection apparatus or the inspection object.
  • FIG. 2 is a sectional view taken along line II-II in FIG.
  • the perspective view seen from the front direction of the housing of the socket of FIG. The perspective view seen from the back direction of the housing of the socket of FIG.
  • FIG. 6 is a sectional view taken along line VI-VI in FIG. 5.
  • the perspective view seen from the front direction of the base housing of the socket of FIG. The perspective view seen from the back direction of the base housing of the socket of FIG.
  • FIG. 10 is a sectional view taken along line XX in FIG. 9.
  • the figure for demonstrating the assembly process of the socket of FIG. The figure for demonstrating the assembly process of the socket of FIG. 1 following FIG.
  • the top view of the socket of FIG. FIG. 16 is a cross-sectional view for explaining another example of the socket of FIG. 1 following FIG. 15.
  • the top view of the socket of FIG. Sectional drawing which shows the state which attached the inspection unit using the socket of 2nd Embodiment of this invention to the board
  • the socket 1 according to the first embodiment of the present invention has an insulating property.
  • the socket 1 and the probe pin 2 constitute an inspection unit 100.
  • the socket 1 includes a pair of insulating housings 10 and 10 and an insulating base housing 30 as an example of a positioning member, as shown in FIG.
  • each housing 10 accommodates and holds the probe pin 2 in a state where, for example, the first contact 4 and the second contact 5 at both ends in the longitudinal direction of the probe pin 2 having a thin plate shape and conductivity are exposed. It has a possible recess 20.
  • the storage recess 20 has, for example, an elongated rectangular planar shape.
  • the housing recess 20 of each housing 10 may be one, but for example, a plurality of storage recesses 20 are arranged in a row, and the arrangement direction of the storage recesses 20 of the pair of housings 10 is configured to be parallel to each other. It may be. That is, as shown in FIG. 1, the pair of housings 10 and 10 are adjacent to each other so that a plurality of storage recesses 20 of each housing 10 form a pair, and the arrangement directions of the plurality of storage recesses are parallel to each other. It is positioned by the base housing 30 so that it may be arrange
  • each probe pin 2 includes an elastic part 3, a first contact 4 provided at one end of the elastic part 3, and a pair of second contacts 5 provided at the other end of the elastic part 3. It consists of The first contact 4 protrudes upward from one end in the width direction of the upper end of the elastic portion 3. The pair of second contacts 5 protrudes downward from both ends in the width direction of the lower end of the elastic portion 3.
  • an arrangement direction of adjacent storage recesses 20 in plan view is defined as an X direction, and a direction orthogonal to the X direction is defined as a Y direction.
  • a direction orthogonal to the X direction is defined as a Y direction.
  • the height direction of the socket 1 orthogonal to a X, Y direction be a Z direction.
  • each housing 10 extends in a direction orthogonal to the row direction (X direction) of the storage recesses 20, and in FIG. 3, the step toward the left side in the Y direction is a downward staircase. And is composed of a high step portion 11 that functions as a probe pin storage holding portion and a low step portion 12 that functions as a positioning portion.
  • the high step portion 11 is provided with a plurality of storage recesses 20. As shown in FIGS. 3 to 6, the storage recesses 20 are arranged in rows along the X direction at intervals. On the lower side of each storage recess 20 in the Z direction, an opening 21 that functions as a probe pin insertion opening of each storage recess 20 and opens on the lower surface of the high step portion 11 in the Z direction is provided. A slot 22 that penetrates the bottom surface of each storage recess 20 and opens on the upper surface of the high step portion 11 in the Z direction is provided above each storage recess 20 in the Z direction.
  • each storage recess 20 allows the probe pin 2 to be inserted into the storage recess 20 from the outside of the storage recess 20.
  • each of the second contacts 5 is exposed from the opening 21 to the outside of the housing 10.
  • each storage recess 20 allows the second contact 4 of the probe pin 2 to be inserted from inside the storage recess 20.
  • the first contact 4 of the probe pin 2 passes through the housing recess 20 and is exposed from the slot 22 to the outside of the housing 10, and is elastic.
  • the portion 3 is supported on the bottom surface of the storage recess 20.
  • each storage recess 20 can store and hold each probe pin 2 with the first contact 4 and the second contact 5 of the probe pin 2 exposed to the outside of the housing 10.
  • each storage recess 20 in the Y direction is the same as the length of the opening 21 in the Y direction, and the length of the slot 22 in the Y direction is the same as that of each storage recess 20 in the Y direction. It is shorter than the length.
  • the lower step portion 12 has a holding hole portion 13 and a positioning hole portion 14 that are arranged at intervals along the row direction (X direction) of the storage recessed portions 20.
  • the holding hole 13 is provided in the center of the low step portion 12 in the X direction.
  • the holding hole 13 has a circular shape in plan view as viewed from the Z direction, and penetrates in the Z direction.
  • a flange portion 15 is provided at the upper end in the Z direction of the holding hole portion 13. Due to the flange 15, the diameter R1 (shown in FIG. 3) of the opening at the upper end in the Z direction of the holding hole 13 is smaller than the diameter R2 (shown in FIG. 4) of the opening at the lower end in the Z direction.
  • the positioning hole 14 is provided on each side of the holding hole 13 in the X direction.
  • Each positioning hole 14 has a circular shape with a smaller diameter than the holding hole 13 in a plan view as viewed from the Z direction, and penetrates in the Z direction.
  • the holding hole 13 and the pair of positioning holes 14 are arranged so that a straight line connecting the centers thereof is substantially parallel to the row direction of the storage recess 20, that is, the X direction.
  • the base housing 30 has a substantially rectangular plate shape, and has a symmetrical shape with respect to the center line CL in the Y direction extending in the X direction.
  • a holding recess 31 is provided in the center of the base housing 30. As shown in FIGS. 9 and 10, the holding recess 31 has a substantially rectangular shape in plan view as viewed from the Z direction, and is arranged so that the Y direction is the longitudinal direction.
  • an opening 32 that penetrates the base housing 30 in the Z direction is provided.
  • the opening 32 is configured such that when the pair of housings 10 and 10 are held by the base housing 30, the high step portion 11 of each housing 10 is positioned.
  • semicircular cutouts 36 are provided at both ends in the X direction on both side surfaces along the X direction of the holding recess 31 and the opening 32 in a plan view as viewed from the Z direction.
  • a tool used for attaching / detaching the housing 10 can be inserted into the notch 36, and the attaching / detaching of the pair of housings 10, 10 to the holding recess 31 is facilitated.
  • holding holes 33 and positioning holes 34 are spaced in the Y direction and spaced in the X direction. ing.
  • the holding hole portion 33 is disposed at the center in the X direction, and the positioning hole portions 34 are disposed on both sides of the holding hole portion 33 in the X direction.
  • the holding hole 33 has a circular shape in a plan view viewed from the Z direction, and penetrates in the Z direction.
  • the holding hole 33 has the same diameter as the upper end diameter R1 of the holding hole 13 of the housing 10 and is coaxial with the holding hole 13 of the housing 10 when the housing 10 is positioned on the base housing 30. It is provided as follows.
  • the base housing 30 holds the housing 10 with a fastening member such as a screw through the holding hole 33 and the holding hole 13 of the housing 10.
  • the positioning hole 34 has a circular shape in a plan view as viewed from the Z direction, and penetrates in the Z direction.
  • the positioning hole 34 has the same diameter as the positioning hole 14 of the housing 10 and is provided so as to be coaxial with the positioning hole 14 of the housing 10 when the housing 10 is positioned on the base housing 30.
  • the positioning hole 34 and the positioning hole 14 of the housing 10 are positioned with respect to the base housing 30 by inserting positioning pins 40 (see FIG. 11), which will be described later, respectively.
  • a through hole 35 is provided as a base positioning portion for positioning the base housing 30 with respect to the inspection apparatus or the substrate 90 of the inspection object.
  • the base housing 30 is positioned on the substrate 90 through these four through holes 35.
  • one end of the positioning pin 40 is inserted into each of the positioning hole portions 34 of the base housing 30, and the other end is projected into the holding recess 31.
  • the pair of housings 10 and 10 are sequentially held in a state where the surface of the high step portion 11 where the slot 22 is opened is opposed to the opening portion 32 and each of the positioning hole portions 14 is opposed to the positioning pins 40. It is accommodated in the recess 31.
  • the housing 10 is positioned on the base housing 30 by the positioning pins 40 through the positioning holes 14 of the housing 10 and the positioning holes 34 of the base housing 30 and temporarily fixed. That is, the pair of housings 10, 10 are adjacent to each other so that the housing recess 20 of one housing and the housing recess 20 of the other housing form a pair by the base housing 30, and the pair of housings 10, 10 are housed.
  • the recesses 20 are positioned independently of each other so that the arrangement directions of the recesses 20 are parallel to each other (including substantially parallel).
  • each of the positioning hole portion 14 of the housing 10 and the positioning hole portion 34 of the base housing 30 has a slight gap 17 with respect to the positioning pin 40 with the positioning pin 40 inserted, as shown in FIG. , 37.
  • the positions of the pair of housings 10 and 10 and the base housing 30 can be independently moved by the gaps 17 and 37 to adjust the positioning of the pair of housings 10 and 10 with respect to the base housing 30.
  • the pair of housings 10 and 10 are moved in the adjusted positioning state of the pair of housings 10 and 10 with respect to the base housing 30 as shown in FIG. It fixes to the base housing 30, and the assembly of the socket 1 is complete
  • the fixing between the pair of housings 10 and 10 and the base housing 30 is performed by a fastening member 60 such as a screw through the holding hole portion 13 of the housing 10 and the holding hole portion 33 of the base housing 30.
  • the pair of housings 10 and 10 are accommodated in the holding recess 31, the pair of housings 10 and 10 are fixed to the base housing 30 as shown in FIG.
  • the fixing between the pair of housings 10 and 10 and the base housing 30 is performed by a fastening member 60 such as a screw through the holding hole portion 13 of the housing 10 and the holding hole portion 33 of the base housing 30.
  • both sides in the height direction (Z direction) of the socket 1 are flat with no step between the pair of housings 10, 10 and the base housing 30.
  • the probe pin 2 is inserted into the storage recess 20 from the first contact 4, and the probe pin 2 is stored in all the storage recesses 20 required, The assembly of the inspection unit 100 is finished.
  • the assembled inspection unit 100 is positioned so that the second contact 5 of the probe pin 2 contacts the terminal 91 of the substrate 90 with respect to the substrate 90 of the inspection apparatus or inspection object.
  • the positioning between the inspection unit 100 and the inspection apparatus or the inspection object is performed with four through holes 35 of the inspection unit 100 and four positioning holes 92 provided in the substrate 90. Is done through.
  • the storage recesses 20 that can store and hold the probe pins 2 and are paired are disposed in the pair of separate housings 10, 10. 10 are positioned independently of each other with respect to the base housing 30. For this reason, even if there is an error in the processing of the terminal of the inspection apparatus or the inspection object, the positioning of the housings 10 and 10 with respect to the base housing 30 is adjusted according to the terminal of the inspection apparatus or the inspection object.
  • the probe pin 2 can be accurately positioned.
  • the pair of housings 10 and 10 are independently positioned and integrally held by the single base housing 30, the pair of housings 10 and 10 are positioned with high accuracy in a pair.
  • the socket 1 including the housings 10 and 10 can be easily attached to the inspection device or the substrate 90 of the inspection object.
  • each housing 10 a plurality of storage recesses 20 are arranged in rows at intervals. Thereby, it can respond to the various aspects of the terminal of a test
  • the base housing 30 can be accurately positioned with respect to the inspection device or the inspection object.
  • the base housing 30 can position and hold a plurality of pairs of housings 10 and 10 having different lengths W in the Y direction of the low step portion 12.
  • the pitch of the paired probe pins 2 is set to a narrow pitch P1. be able to.
  • the pair of probe pins 2 are paired.
  • the pitch can be set to a pitch P2 wider than the pitch P1 in FIGS. That is, the present invention can be applied to various aspects of the inspection device or the terminal of the inspection object simply by changing the shape (particularly the length dimension) of the housing 10.
  • the shape of the first and second contacts 4 and 5 of the probe pin 2 in addition to the shape of the housing 10, it is possible to widen the range of applicable inspection device or inspection object terminal modes. it can. For this reason, since the base housing 30 can be generalized, the productivity of the socket 1 and the inspection unit 100 can be improved.
  • the socket 101 of the second embodiment positions a pair of housings 10 and 10 on a substrate 90 of an inspection apparatus or an inspection object by using a substrate mounting pin 130 as another example of a positioning member.
  • a substrate mounting pin 130 as another example of a positioning member.
  • it is different from the socket 1 of the first embodiment in that it is directly attached.
  • the board mounting pin 130 may be any fastening member that can position and hold the pair of housings 10 and 10 with respect to the board 90. That is, as another example of the positioning member, the housing recess 20 of one housing of the pair of housings 10 and 10 and the housing recess 20 of the other housing are adjacent to form a pair, and a plurality of each. As long as the pair of housings 10 and 10 can be positioned independently of each other so that the arrangement directions of the storage recesses 20 are arranged in parallel to each other.
  • the socket 201 of the third embodiment includes an insulating lid 50 that covers the storage recesses 20 of the pair of housings 10 and 10 and can hold the probe pins 2 in the storage recesses 20. It differs from the socket 1 of 1st Embodiment by the point provided.
  • the lid 50 is provided so as to cover the holding recess 31 of the base housing 30 and to cover the plurality of storage recesses 20 of each housing 10.
  • the lid 50 is provided with a hole 51 for exposing the second contact 5 of the probe pin 2 to the outside of the housing 10.
  • the probe pin 2 can be prevented from coming out of the housing recess 20.
  • the socket of the first aspect of the present invention is A pair of housings each having a storage recess capable of storing and holding a contact having a first contact at one end and a second contact at the other end with each of the first and second contacts exposed;
  • the pair of housings are mutually connected such that the housing recess of one housing of the pair of housings and the housing recess of the other housing of the pair of housings are adjacently arranged to form a pair.
  • the storage recesses that can store and hold the contacts and are paired are disposed in the pair of housings, and the pair of housings are positioned independently of each other by the positioning members. Therefore, even if there is an error in the processing of the inspection apparatus or the terminal of the inspection object, the contact can be accurately positioned according to the terminal of the inspection apparatus or the inspection object.
  • the socket of the second aspect of the present invention is
  • the positioning member is a base housing having one holding recess for positioning the pair of housings independently of each other and holding them integrally.
  • the pair of housings are independently positioned and integrally held by one base housing, the pair of housings are positioned with high accuracy in a state where the pair of housings are positioned with high accuracy.
  • the socket including the housing can be easily attached to the inspection apparatus or the substrate 90 of the inspection object.
  • the socket of the third aspect of the present invention is The pair of housings as a first pair of housings;
  • the pair of housings is different from the pair of housing recesses, and the second pair of housings can be positioned and held in the one holding recess of the base housing in which the first pair of housings are positioned and held.
  • Further comprising The one pair of housings selected from the first pair of housings and the second pair of housings are positioned and held in the one holding recess of the base housing.
  • the socket of the third aspect it can be applied to various aspects of the inspection device or the terminal of the inspection object.
  • the socket of the fourth aspect of the present invention is
  • the base housing has a base positioning portion for positioning the contact held in the housing recess of each housing with respect to a terminal of the substrate of the inspection apparatus or inspection object.
  • the contact held in the housing recess of each housing can be accurately positioned with respect to the base housing with respect to the terminal of the inspection device or inspection object.
  • the socket of the fifth aspect of the present invention It further includes a lid that covers the storage recess and holds the contact in the storage recess.
  • the socket of the fifth aspect it is possible to prevent the contact from coming out of the storage recess.
  • Each of the pair of housings has a plurality of the storage recesses arranged at intervals.
  • the plurality of storage recesses are arranged in parallel with each other.
  • the socket of the sixth aspect it can be applied to various aspects of the inspection device or the terminal of the inspection object.
  • the socket of the present invention can be applied to, for example, an inspection unit used for inspecting a liquid crystal panel.

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Abstract

ソケット(1)が、一端に第1接点(4)を有し他端に第2接点(5)を有する接触子(2)を第1,第2接点(4,5)の各々が露出した状態で収納保持可能な収納凹部(20)を各々有する一対のハウジング(10,10)と、一対のハウジング(10,10)の一方のハウジングの収納凹部(20)と、一対のハウジング(10,10)の他方のハウジングの収納凹部(20)とが、対を成すように隣接して配置されるように、一対のハウジング(10,10)を相互に独立して位置決めする位置決め部材(30)と、を備える。

Description

ソケット
 本発明は、ソケットに関する。
 カメラあるいは液晶パネル等の電子部品モジュールでは、一般に、その製造工程において、導通検査および動作特性検査等が行われる。これらの検査は、プローブピンを用いて、電子部品モジュールに設置されている本体基板と接続するためのFPC接触電極、あるいは、実装された基板対基板コネクタ等の電極部と検査装置とを接続することにより行われる。
 このような接触子を収納するソケットとしては、例えば、特許文献1に記載されたものがある。このソケットは、等間隔で配置され、かつ、各々が接触子を収納可能な複数対のスリットを備えている。
特開2011-196844号公報
 しかし、前記ソケットでは、対をなすスリットの間隔が予め決められているため、例えば、検査装置あるいは検査対象物の端子の加工に誤差があった場合、検査装置あるいは検査対象物の端子に合わせて、接触子を正確に位置決めすることができないおそれがある。
 そこで、本発明は、接触子を正確に位置決めできるソケットを提供することを課題とする。
 本発明の一態様のソケットは、
 各々が、一端に第1接点を有し他端に第2接点を有する接触子を前記第1,第2接点の各々が露出した状態で収納保持可能な収納凹部を有する一対のハウジングと、
 前記一対のハウジングの一方のハウジングの前記収納凹部と、前記一対のハウジングの他方のハウジングの前記収納凹部とが、対を成すように隣接して配置されるように、前記一対のハウジングを相互に独立して位置決めする位置決め部材と、
を備える。
 前記態様のソケットによれば、各々が接触子を収納保持可能でかつ対をなす収納凹部が、一対の別々にハウジングに配置され、一対のハウジングが位置決め部材により相互に独立して位置決めされるので、例え、検査装置あるいは検査対象物の端子の加工に誤差があった場合でも、検査装置あるいは検査対象物の端子に合わせて接触子を正確に位置決めできる。
本発明の第1実施形態のソケットを用いた検査ユニットを検査装置あるいは検査対象物の基板に取り付けた状態を示す斜視図。 図1のII-II線に沿った断面図。 図1のソケットのハウジングの正面方向から見た斜視図。 図1のソケットのハウジングの背面方向から見た斜視図。 図1のソケットのハウジングの正面図。 図5のVI-VI線に沿った断面図。 図1のソケットのベースハウジングの正面方向から見た斜視図。 図1のソケットのベースハウジングの背面方向から見た斜視図。 図1のソケットのベースハウジングの背面図。 図9のX-X線に沿った断面図。 図1のソケットの組立工程を説明するための図。 図11に続く、図1のソケットの組立工程を説明するための図。 図12に続く、図1のソケットの組立工程を説明するための図。 図13に続く、図1のソケットの組立工程を説明するための図。 図1のソケットの他の例を説明するための断面図。 図15のソケットの平面図。 図15に続く、図1のソケットの他の例を説明するための断面図。 図17のソケットの平面図。 本発明の第2実施形態のソケットを用いた検査ユニットを検査装置あるいは検査対象物の基板に取り付けた状態を示す断面図。 本発明の第3実施形態のソケットを用いた検査ユニットを検査装置あるいは検査対象物の基板に取り付けた状態を示す断面図。
 以下、本発明の一実施形態を添付図面に従って説明する。なお、以下の説明では、必要に応じて特定の方向あるいは位置を示す用語(例えば、「上」、「下」、「右」、「左」を含む用語)を用いるが、それらの用語の使用は図面を参照した発明の理解を容易にするためであって、それらの用語の意味によって本発明の技術的範囲が限定されるものではない。また、以下の説明は、本質的に例示に過ぎず、本発明、その適用物、あるいは、その用途を制限することを意図するものではない。さらに、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは必ずしも合致していない。
 (第1実施形態)
 本発明の第1実施形態のソケット1は、絶縁性を有し、例えば、図1に示すように、接触子の一例のプローブピン2を収納保持した状態で検査装置あるいは検査対象物の基板90に取り付けられる。このソケット1は、プローブピン2と共に検査ユニット100を構成している。
 ソケット1は、図1に示すように、一対の絶縁性のハウジング10,10と、位置決め部材の一例の絶縁性のベースハウジング30とを備えている。
 各ハウジング10は、図2に示すように、例えば、薄板状で導電性を有するプローブピン2の長手方向両端の第1接点4および第2接点5が露出した状態で、プローブピン2を収納保持可能な収納部凹部20を有している。この収納凹部20は、例えば、細長い矩形の平面形状を有している。
 各ハウジング10の収納凹部20は、1個であってもよいが、例えば複数個の収納凹部20が一列に配置されており、一対のハウジング10の収納凹部20の配列方向が互いに平行に構成されていてもよい。すなわち、一対のハウジング10,10は、図1に示すように、各ハウジング10の複数個の収納凹部20が対を成すように隣接し、かつ、各複数個の収納凹部の配列方向が互いに平行に配置されるように、ベースハウジング30により位置決めされている。
 各プローブピン2は、図2に示すように、弾性部3と、弾性部3の一端に設けられた第1接点4と、弾性部3の他端に設けられた一対の第2接点5とで構成されている。第1接点4は、弾性部3の上端の幅方向の一端から上側に突出している。また、一対の第2接点5は、弾性部3の下端の幅方向の両端から下側に突出している。
 なお、以下の説明において、平面視における隣接する収納凹部20の配列方向をX方向とし、このX方向に直交する方向をY方向とする。また、X,Y方向に直交するソケット1の高さ方向をZ方向とする。
 各ハウジング10は、図3および図4に示すように、収納凹部20の列方向(X方向)とは直交する方向に延び、かつ、図3においてはY方向左側に向かう方向が下り方向の階段状に形成され、プローブピン収納保持部として機能する高段部11と、位置決め部として機能する低段部12とで構成されている。
 高段部11には、複数の収納凹部20が設けられている。各収納凹部20は、図3~図6に示すように、X方向に沿って間隔を空けて列を成すように配置されている。各収納凹部20のZ方向下側には、各収納凹部20のプローブピン挿入開口として機能し、かつ、高段部11のZ方向下側の面に開口する開口部21が設けられている。また、各収納凹部20のZ方向上側には、各収納凹部20の底面を貫通し、かつ、高段部11のZ方向上側の面に開口するスロット22が設けられている。
 各収納凹部20の開口部21は、図2に示すように、プローブピン2を収納凹部20の外部から収納凹部20の内部に挿入可能になっている。また、プローブピン2を収納凹部20に収納した状態では、開口部21から第2接点5の各々がハウジング10の外部に露出するようになっている。
 各収納凹部20のスロット22は、プローブピン2の第2接点4を収納凹部20の内部から挿入可能になっている。プローブピン2を第1接点4から順に開口部21を介して収納凹部20に収納すると、プローブピン2の第1接点4が収納凹部20を通ってスロット22からハウジング10の外部に露出し、弾性部3が収納凹部20の底面に支持されるようになっている。
 すなわち、各収納凹部20は、プローブピン2の第1接点4および第2接点5がハウジング10の外部に露出した状態で各プローブピン2を収納可能かつ保持可能になっている。
 また、図6に示すように、各収納凹部20のY方向の長さは開口部21のY方向の長さと同じで、スロット22のY方向の長さは、各収納凹部20のY方向の長さより短くなっている。
 低段部12は、収納凹部20の列方向(X方向)に沿って間隔を空けて配置された保持孔部13と位置決め孔部14とを有している。
 保持孔部13は、低段部12のX方向の中央に設けられている。この保持孔部13は、Z方向から見た平面視において円形状を有し、Z方向に貫通している。保持孔部13のZ方向の上端には、図4に示すように、鍔部15が設けられている。この鍔部15により、保持孔部13のZ方向上端の開口の径R1(図3に示す)が、Z方向下端の開口の径R2(図4に示す)よりも小さくなっている。このような寸法構成にすることにより、例えば、ねじ等の締結部材をハウジング10のZ方向の下側の面(図4に示す面)から保持孔部13に挿入したときに、締結部材のねじ軸部に対して張り出したねじ頭が、保持孔部13からハウジング10の外部に突出することを回避できる。
 位置決め孔部14は、保持孔部13のX方向の両側にそれぞれ設けられている。各位置決め孔部14は、Z方向から見た平面視において保持孔部13よりも径の小さい円形状を有し、Z方向に貫通している。
 なお、保持孔部13および一対の位置決め孔部14は、それらの中心を結んだ直線が収納凹部20の列方向、すなわち、X方向と略平行になるように配置されている。
 ベースハウジング30は、図7および図8に示すように、略方形の板状で、X方向に延びるY方向の中心線CLに対して対称な形状を有している。
 ベースハウジング30の中央には、保持凹部31が設けられている。この保持凹部31は、図9および図10に示すように、Z方向から見た平面視において略矩形状を有し、Y方向が長手方向となるように配置されている。
 保持凹部31の中央には、ベースハウジング30をZ方向に貫通する開口部32が設けられている。この開口部32は、一対のハウジング10,10をベースハウジング30で保持したときに、各ハウジング10の高段部11が位置するようになっている。
 なお、保持凹部31および開口部32のX方向沿いの両側面のX方向の両端には、Z方向から視た平面視において半円状の切欠36が設けられている。この切欠36には、ハウジング10の脱着に用いる工具が差し込み可能になっており、一対のハウジング10,10の保持凹部31への脱着を容易にしている。
 また、保持凹部31の開口部32のY方向の両側には、Y方向に間隔を空け、かつ、X方向に沿って間隔を空けて配置された保持孔部33および位置決め孔部34が設けられている。保持孔部33は、X方向の中央に配置され、位置決め孔部34は、保持孔部33のX方向の両側に配置されている。
 保持孔部33は、Z方向から見た平面視において円形状を有し、Z方向に貫通している。この保持孔部33は、ハウジング10の保持孔部13のZ方向上端の径R1と同径であり、ハウジング10をベースハウジング30に位置決めしたときに、ハウジング10の保持孔部13と同軸になるように設けられている。ベースハウジング30は、この保持孔部33と、ハウジング10の保持孔部13とを介して、ねじ等の締結部材によりハウジング10を保持する。
 位置決め孔部34は、Z方向から見た平面視において円形状を有し、Z方向に貫通している。この位置決め孔部34は、ハウジング10の位置決め孔部14と同径であり、ハウジング10をベースハウジング30に位置決めしたときに、ハウジング10の位置決め孔部14と同軸になるように設けられている。この位置決め孔部34と、ハウジング10の位置決め孔部14とは、後述する位置決め用ピン40(図11参照)がそれぞれに挿入されることにより、ハウジング10がベースハウジング30に位置決めされる。
 ベースハウジング30のZ方向から見た平面視における各隅部には、ベースハウジング30を検査装置あるいは検査対象物の基板90に対して位置決めするベース位置決め部としての貫通孔35が設けられている。これらの4個の貫通孔35を介して、ベースハウジング30が基板90に位置決めされる。
 続いて、図11~図14を参照して、ソケット1を用いた検査ユニット100の組み立て方法を説明する。
 まず、図11に示すように、ベースハウジング30の位置決め孔部34の各々に、位置決め用ピン40の一端を挿入し、その他端を保持凹部31内に突出させておく。そして、高段部11のスロット22が開口している面を開口部32に対向させ、位置決め孔部14の各々を位置決め用ピン40に対向させた状態で、一対のハウジング10,10を順に保持凹部31内に収容する。
 このとき、ハウジング10の位置決め孔部14とベースハウジング30の位置決め孔部34とを介して、位置決め用ピン40によって、ハウジング10をベースハウジング30に位置決めして、仮止めする。すなわち、一対のハウジング10,10は、ベースハウジング30によって、一方のハウジングの収納凹部20と他方のハウジングの収納凹部20とが対を成すように隣接し、かつ、一対のハウジング10,10の収納凹部20の配列方向が互いに平行(略平行を含む)になるように、相互に独立して位置決めされる。
 一対のハウジング10,10が保持凹部31内に収容されると、ベースハウジング30に対する一対のハウジング10,10の位置決めを調整する。ハウジング10の位置決め孔部14とベースハウジング30の位置決め孔部34との各々は、図2に示すように、位置決め用ピン40を挿入した状態で、位置決め用ピン40に対して、若干の隙間17,37を有している。この隙間17,37により、一対のハウジング10,10およびベースハウジング30の各々の位置を独立して移動させて、ベースハウジング30に対する一対のハウジング10,10の位置決めを調整することができる。
 なお、ハウジング10の位置決め孔部14と位置決め用ピン40との間の隙間17、および、ベースハウジング30の位置決め孔部34と位置決め用ピン40との間の隙間37は、いずれか一方のみ設けた場合であってもベースハウジング30に対して一対のハウジング10,10を位置決め調整できる。
 ベースハウジング30に対する一対のハウジング10,10の位置決めの調整が完了すると、図12に示すように、ベースハウジング30に対する一対のハウジング10,10の調整された位置決め状態で、一対のハウジング10,10をベースハウジング30に固定して、ソケット1の組み立てを終了する。一対のハウジング10,10とベースハウジング30との間の固定は、ハウジング10の保持孔部13とベースハウジング30の保持孔部33とを介して、ねじ等の締結部材60により行われる。
 一対のハウジング10,10が保持凹部31に収容されると、図12に示すように、一対のハウジング10,10をベースハウジング30に固定して、ソケット1の組み立てが終了する。一対のハウジング10,10とベースハウジング30との間の固定は、ハウジング10の保持孔部13とベースハウジング30の保持孔部33とを介して、ねじ等の締結部材60により行われる。
 なお、図2に示すように、ソケット1の高さ方向(Z方向)の両面は、一対のハウジング10,10とベースハウジング30との間に段差のないフラットな状態になっている。
 ソケット1の組み立てが終了すると、図13に示すように、プローブピン2を第1接点4から収納凹部20内に挿入し、必要とする全ての収納凹部20内にプローブピン2を収納して、検査ユニット100の組み立てを終了する。
 組み立てられた検査ユニット100は、図2に示すように、検査装置あるいは検査対象物の基板90に対して、プローブピン2の第2接点5が基板90の端子91に当接するように位置決めされる。検査ユニット100と検査装置あるいは検査対象物との間の位置決めは、図14に示すように、検査ユニット100の4個の貫通孔35と基板90に設けられた4個の位置決め用孔部92とを介して行われる。
 このように、第1実施形態のソケット1では、各々がプローブピン2を収納保持可能でかつ対をなす収納凹部20が、一対の別々のハウジング10,10に配置され、その一対のハウジング10,10がベースハウジング30に対して相互に独立して位置決めされる。このため、例え、検査装置あるいは検査対象物の端子の加工に誤差があった場合でも、検査装置あるいは検査対象物の端子に合わせて、ベースハウジング30に対するそれぞれのハウジング10,10の位置決めを調整すればよく、プローブピン2を正確に位置決めできる。
 また、1つのベースハウジング30により一対のハウジング10,10がそれぞれ独立して位置決めされ、かつ、一体的に保持されるので、一対のハウジング10,10が高い精度で位置決めされた状態で、一対のハウジング10,10を含むソケット1を検査装置あるいは検査対象物の基板90等に容易に取り付けることができる。
 また、各ハウジング10において、複数個の収納凹部20が間隔を空けて列を成すように配置されている。これにより、検査装置あるいは検査対象物の端子の様々な態様に対応できる。
 また、ベースハウジング30に貫通孔35を設けているので、ベースハウジング30を検査装置あるいは検査対象物に対して正確に位置決めすることができる。
 なお、第1実施形態のソケット1では、ベースハウジング30は、低段部12のY方向の長さWが異なる複数対のハウジング10,10を位置決めし、保持することができる。例えば、図15および図16に示すように、低段部12のY方向の長さW1のハウジング10を用いることで、対を成すプローブピン2の(Y方向の)ピッチを狭ピッチP1にすることができる。また、図17および図18に示すように、低段部12のY方向の長さW2(ただし、W1>W2)のハウジング10を用いることで、対を成すプローブピン2の(Y方向の)ピッチを図15および図16のピッチP1よりも広いピッチP2にすることができる。すなわち、ハウジング10の形状(特に、長さ寸法)を変更するだけで、検査装置あるいは検査対象物の端子の様々な態様に適用することできる。
 また、ハウジング10の形状に加えて、プローブピン2の第1,第2接点4,5の形状を変更することで、適用可能な検査装置あるいは検査対象物の端子の態様の範囲を広げることができる。このため、ベースハウジング30を汎用化することができるので、ソケット1並びに検査ユニット100の生産性を向上させることができる。
 (第2実施形態)
 図19に示すように、第2実施形態のソケット101は、位置決め部材の別の例としての基板取付ピン130を用いて、一対のハウジング10,10を検査装置あるいは検査対象物の基板90に位置決めしつつ直接取り付けている点で、第1実施形態のソケット1とは異なっている。
 なお、この第2実施形態では、第1実施形態と同一部分に同一参照番号を付して説明を省略し、第1実施形態と異なる点について説明する。
 基板取付ピン130は、一対のハウジング10,10を基板90に対して位置決めし、かつ、保持できる任意の締結部材を用いることができる。すなわち、位置決め部材の別の例としては、一対のハウジング10,10の一方のハウジングの収納凹部20と、他方のハウジングの収納凹部20とが、対を成すように隣接し、かつ、各複数個の収納凹部20の配列方向が互いに平行に配置されるように、一対のハウジング10,10を相互に独立して位置決めできるものであればよい。
 (第3実施形態)
 図20に示すように、第3実施形態のソケット201は、一対のハウジング10,10の各収納凹部20を覆い、各プローブピン2を各収納凹部20内で保持できる絶縁性の蓋体50を備えている点で、第1実施形態のソケット1とは異なっている。
 なお、この第3実施形態では、第1実施形態と同一部分に同一参照番号を付して説明を省略し、第1実施形態と異なる点について説明する。
 蓋体50は、ベースハウジング30の保持凹部31を覆い、かつ、各ハウジング10の複数個の収納凹部20を覆うように設けられている。この蓋体50には、プローブピン2の第2接点5をハウジング10の外部に露出させるための孔部51が設けられている。
 このように各ハウジング10の収納凹部20を覆う蓋体50を設けることで、プローブピン2が収納凹部20から抜けるのを防止することができる。
 以上、図面を参照して本発明における種々の実施形態を詳細に説明したが、最後に、本発明の種々の態様について説明する。
 本発明の第1態様のソケットは、
 各々が、一端に第1接点を有し他端に第2接点を有する接触子を前記第1,第2接点の各々が露出した状態で収納保持可能な収納凹部を有する一対のハウジングと、
 前記一対のハウジングの一方のハウジングの前記収納凹部と、前記一対のハウジングの他方のハウジングの前記収納凹部とが、対を成すように隣接して配置されるように、前記一対のハウジングを相互に独立して位置決めする位置決め部材と、
を備える。
 第1態様のソケットによれば、各々が接触子を収納保持可能でかつ対をなす収納凹部が、一対の別々にハウジングに配置され、一対のハウジングが位置決め部材により相互に独立して位置決めされるので、例え、検査装置あるいは検査対象物の端子の加工に誤差があった場合でも、検査装置あるいは検査対象物の端子に合わせて接触子を正確に位置決めできる。
 本発明の第2態様のソケットは、
 前記位置決め部材が、前記一対のハウジングを相互に独立して位置決めし、かつ、一体的に保持する1つの保持凹部を有するベースハウジングである。
 第2態様のソケットによれば、1つのベースハウジングにより一対のハウジングがそれぞれ独立して位置決めされ、かつ、一体的に保持されるので、一対のハウジングが高い精度で位置決めされた状態で、一対のハウジングを含むソケットを検査装置あるいは検査対象物の基板90等に容易に取り付けることができる。
 本発明の第3態様のソケットは、
 前記一対のハウジングを第1の一対のハウジングとし、
 前記一対のハウジングとは、対を成す前記収納凹部の間隔が異なりかつ前記第1の一対のハウジングが位置決め保持される前記ベースハウジングの前記1つの保持凹部に位置決め保持可能な第2の一対のハウジングをさらに備え、
 前記第1の一対のハウジングと前記第2の一対のハウジングとのうちから選択された1つの前記一対のハウジングが前記ベースハウジングの前記1つの保持凹部に位置決め保持される。
 第3態様のソケットによれば、検査装置あるいは検査対象物の端子の様々な態様に適用することできる。
 本発明の第4態様のソケットは、
 前記ベースハウジングが、検査装置あるいは検査対象物の基板の端子に対して前記各ハウジングの前記収納凹部内に保持される前記接触子を位置決めするベース位置決め部を有している。
 第4態様のソケットによれば、ベースハウジングを検査装置あるいは検査対象物の端子に対して、各ハウジングの収納凹部内に保持される接触子を正確に位置決めすることができる。
 本発明の第5態様のソケットでは、
 前記収納凹部を覆い、かつ、前記接触子を前記収納凹部内で保持する蓋体をさらに備える。
 第5態様のソケットによれば、接触子が収納凹部から抜けるのを防止することができる。
 本発明の第6態様のソケットでは、
 前記一対のハウジングの各々が、間隔を空けて配置された複数の前記収納凹部を有し、
 前記一対のハウジングにおいて、前記複数の収納凹部の配列方向が互いに平行となるように配置されている。
 第6態様のソケットによれば、検査装置あるいは検査対象物の端子の様々な態様に適用することできる。
 なお、前記様々な実施形態又は変形例のうちの任意の実施形態又は変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。また、実施形態同士の組み合わせ又は実施例同士の組み合わせ又は実施形態と実施例との組み合わせが可能であると共に、異なる実施形態又は実施例の中の特徴同士の組み合わせも可能である。
 本発明は、添付図面を参照しながら好ましい実施形態に関連して充分に記載されているが、この技術の熟練した人々にとっては種々の変形や修正は明白である。そのような変形や修正は、添付した請求の範囲による本発明の範囲から外れない限りにおいて、その中に含まれると理解されるべきである。
 本発明のソケットは、例えば、液晶パネルの検査に用いる検査ユニットに適用できる。
1,101,201 ソケット
2 プローブピン
3 弾性部
4 第1接点
5 第2接点
10 ハウジング
11 高段部
12 低段部
13 保持孔部
14 位置決め孔部
15 鍔部
17 隙間
20 収納凹部
21 開口部
22 スロット
30 ベースハウジング
31 保持凹部
32 開口部
33 保持孔部
34 位置決め孔部
35 貫通孔
36 切欠
37 隙間
40 位置決め用ピン
50 蓋体
51 孔部
60 締結部材
90 基板
91 端子
92 位置決め用孔部
100 検査ユニット
130 基板取付ピン
R1,R2 保持孔部13の開口の径
CL ベースハウジング30の中心線
P1,P2 一対のプローブピン2間のピッチ
W,W1,W2 低段部12の長さ

Claims (6)

  1.  各々が、一端に第1接点を有し他端に第2接点を有する接触子を前記第1,第2接点の各々が露出した状態で収納保持可能な収納凹部を有する一対のハウジングと、
     前記一対のハウジングの一方のハウジングの前記収納凹部と、前記一対のハウジングの他方のハウジングの前記収納凹部とが、対を成すように隣接して配置されるように、前記一対のハウジングを相互に独立して位置決めする位置決め部材と、
    を備える、ソケット。
  2.  前記位置決め部材が、前記一対のハウジングを相互に独立して位置決めし、かつ、一体的に保持する1つの保持凹部を有するベースハウジングである、請求項1に記載のソケット。
  3.  前記一対のハウジングを第1の一対のハウジングとし、
     前記一対のハウジングとは、対を成す前記収納凹部の間隔が異なりかつ前記第1の一対のハウジングが位置決め保持される前記ベースハウジングの前記1つの保持凹部に位置決め保持可能な第2の一対のハウジングをさらに備え、
     前記第1の一対のハウジングと前記第2の一対のハウジングとのうちから選択された1つの前記一対のハウジングが前記ベースハウジングの前記1つの保持凹部に位置決め保持される、請求項2に記載のソケット。
  4.  前記ベースハウジングが、検査装置あるいは検査対象物の基板の端子に対して前記各ハウジングの前記収納凹部内に保持される前記接触子を位置決めするベース位置決め部を有している、請求項2または3に記載のソケット。
  5.  前記収納凹部を覆い、かつ、前記接触子を前記収納凹部内で保持する蓋体をさらに備える、請求項1から4のいずれか1つに記載のソケット。
  6.  前記一対のハウジングの各々が、間隔を空けて配置された複数の前記収納凹部を有し、
     前記一対のハウジングにおいて、前記複数の収納凹部の配列方向が互いに平行となるように配置されている、請求項1から5のいずれか1つに記載のソケット。
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