WO2013099915A1 - 有機発光ダイオード、有機発光ダイオードの製造方法、画像表示装置および照明装置 - Google Patents

有機発光ダイオード、有機発光ダイオードの製造方法、画像表示装置および照明装置 Download PDF

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organic light
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啓 篠塚
隆之 岡本
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王子ホールディングス株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to an organic light emitting diode substrate, an organic light emitting diode, a method for manufacturing an organic light emitting diode substrate, a method for manufacturing an organic light emitting diode, an image display device, and an illumination device.
  • the present invention relates to an organic light emitting diode substrate that emits light by recombination and has an uneven structure, an organic light emitting diode, a method for manufacturing an organic light emitting diode substrate, a method for manufacturing an organic light emitting diode, an image display device, and an illumination device.
  • An organic light-emitting diode is a light-emitting element using organic electroluminescence (hereinafter referred to as organic electro-luminescence), and generally includes an organic EL layer including a light-emitting layer containing an organic light-emitting material. The structure is sandwiched between an anode and a cathode.
  • Such an organic EL layer is constituted of an electron injection layer, an electron transport layer, a hole injection layer, a hole transport layer, and the like as required in addition to the light emitting layer.
  • Organic light-emitting diodes are classified into a bottom emission type and a top emission type depending on a light extraction surface that is a surface for extracting light from the light emitting layer to the outside.
  • a bottom emission type organic light emitting diode is made of a transparent substrate such as a glass substrate, an anode made of a transparent conductive material such as indium tin oxide (ITO), an organic EL layer including a light emitting layer, and a metal material. Cathodes are sequentially formed, and light is extracted from the substrate side. That is, in the bottom emission type organic light emitting diode, the substrate surface is a light extraction surface.
  • ITO indium tin oxide
  • a cathode made of a metal material, an organic EL layer including a light emitting layer, and an anode made of a transparent conductive material such as ITO are sequentially formed on a transparent substrate such as a glass substrate.
  • Light is extracted from the opposite side, that is, from the anode side. That is, in the top emission type organic light emitting diode, the anode surface is a light extraction surface.
  • the anode in addition to the top emission type organic light emitting diode of the top (that is, the anode is provided on the side from which light is extracted) as described above, 2.
  • a top emission type organic light emitting diode having a configuration with a cathode at the top is known. That is, in this top emission type organic light emitting diode of the cathode top, a reflective layer made of a metal material, an anode made of a transparent conductive material such as ITO, and a light emitting layer on a substrate (not limited to a transparent substrate such as glass).
  • a cathode made of a metal material is sequentially formed, and a layer is formed on the cathode with a transparent conductive material such as ITO, and light is extracted from the side opposite to the substrate side, that is, the cathode side.
  • the cathode surface is the light extraction surface.
  • the metal layer of the cathode is formed in a thin film so that light can be transmitted.
  • the top emission type organic light emitting diode of the cathode top includes at least a reflective layer made of a metal material, an anode conductive layer made of a transparent conductive material, and a light emitting layer containing an organic light emitting material on a substrate.
  • the organic EL layer including the light-transmitting metal layer and the cathode conductive layer in which a transparent conductive layer made of a transparent conductive material is stacked are sequentially stacked.
  • the characteristics of these organic light emitting diodes are advantages such as low viewing angle dependency, low power consumption, and the ability to produce a very thin film, while the light extraction efficiency, which is the efficiency of extracting light from the light emitting layer, to the outside. There is a problem that it is low.
  • the light extraction efficiency refers to the surface of the organic light emitting diode from the light extraction surface (the bottom emission type is the substrate surface, the anode top top emission type is the anode surface, and the cathode top top emission type is the cathode surface). It means the ratio of the amount of light emitted outside, that is, in free space.
  • organic light-emitting diodes light from the light-emitting layer is emitted in all directions, so that most of the light becomes a waveguide mode in which total reflection is repeated at the interface between a plurality of layers having different refractive indexes.
  • the light extraction efficiency has been reduced by being converted into heat or being emitted from the side surface of each layer that is not adjacent to other layers.
  • a method for improving the efficiency has been studied.
  • a bottom emission type monochromatic organic light emitting diode there has been known a method of introducing a fine concavo-convex structure (corresponding wavelength is a narrow band) made of a lattice having a single period into a device. By this single grating, surface plasmons generated on the cathode surface (light emitting layer side) in the bottom emission type monochromatic organic light emitting diode element are converted into propagating light and extracted. As a result, the light of the bottom emission type monochromatic organic light emitting diode is obtained.
  • Japanese Patent Application No. 2010-246653 shows the relationship between the pitch of the periodic fine concavo-convex structure and the extraction wavelength, and the pitch of the periodic fine concavo-convex structure corresponding to the maximum wavelength of the light emitting material constituting the organic light emitting diode can be known. It was. Further, in the case of an anode top emission type element having a structure in which the bottom emission type element is inverted from the bottom side and the top side, the periodic fine unevenness shown in International Publication No. 2012/060404 pamphlet shown as Patent Document 5 The relationship between the structure pitch and the extraction wavelength is established.
  • the relationship between the pitch of the periodic fine concavo-convex structure and the extraction wavelength has not been known so far for the cathode top emission type device.
  • the cathode top emission type element since the semi-transparent electrode made of an extremely thin metal material is used as the cathode, the relationship between the pitch of the periodic fine concavo-convex structure and the extraction wavelength shown in the conventional patent document 5 cannot be applied as it is. It is.
  • a cathode top emission type element is used in an active matrix display using an organic light emitting diode. Therefore, it is extremely inconvenient that the optimal fine uneven structure for improving the light extraction efficiency is unknown. It was.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and proposes a novel monochromatic fine concavo-convex structure having both the advantages of a monochromatic fine concavo-convex structure (single period) and the white fine concavo-convex structure. .
  • Patent Documents 1 to 5 disclose methods using surface plasmon resonance. That is, in Patent Documents 1 to 5, by providing a one-dimensional or two-dimensional periodic fine concavo-convex structure on the surface of a metal layer (cathode), the periodic fine concavo-convex structure functions as a diffraction grating. Radiates surface plasmons on the (cathode) surface. Thereby, energy lost as surface plasmons is extracted as light, and the light extraction efficiency is improved.
  • Patent Document 4 a substrate for an organic light emitting diode having a periodic lattice structure, which is a concavo-convex structure produced by a dry etching method using a two-dimensional crystal composed of a particle single layer film as an etching mask, is produced. And the method of laminating
  • the shape of the periodic grating structure formed on the surface of the organic light emitting diode substrate is sequentially transferred to each layer when each electrode layer or organic EL layer is laminated. Therefore, a periodic grating structure having a shape obtained by copying the periodic grating structure on the surface of the organic light emitting diode substrate is formed on the surface of the cathode conductive layer on the light emitting layer side, so that the light extraction efficiency can be improved.
  • the organic light emitting diode can be changed by changing parameters such as the pitch and height of the uneven structure of the periodic grating structure. It is known that the intensity, angle, and wavelength range of the light emitted from can be changed. Conventionally, for the purpose of efficiently extracting light of a specific single wavelength, which is a desired wavelength, and obtaining strong light, a periodic grating structure is produced so that the period of the concavo-convex structure is constant. It was. This is because the light extraction efficiency with respect to a certain wavelength is improved as the period of the unevenness of the fine uneven structure which is a periodic grating structure is constant, that is, the interval of the unevenness is constant.
  • FIG. 1 (a) shown as the first prior art regarding a periodic fine concavo-convex structure is a single particle layer having a constant particle diameter D as shown in FIG. 1 (a) (a-1).
  • the power spectrum of the height distribution on the surface of the organic light emitting diode substrate having the periodic grating structure is shown in (a-2) of FIG.
  • the power spectrum obtained by two-dimensional Fourier transform of the height distribution of the concavo-convex structure is a regular hexagon.
  • a sequence of points in the form of a delta function arranged at the positions of vertices is obtained.
  • a profile of the power spectrum of the height distribution of the periodic grating structure in which the period of the concavo-convex structure is constant is shown in (a-3) of FIG.
  • the power spectrum of the height distribution is converted into a wave vector space by performing a two-dimensional Fourier transform on the height distribution of the concavo-convex structure, and the power spectrum intensity (the square of the absolute value of the amplitude) is obtained. It is a plot.
  • the power spectrum profile is obtained by plotting the wave number as a horizontal axis obtained by integrating the power spectrum intensity on the circumference where the wave number is constant in the power spectrum.
  • (K x 2 + K y 2 ) 1/2 of the wave vector is called the wave number.
  • the wave number is equal to the spatial frequency multiplied by 2 ⁇ .
  • the profile of the power spectrum of such height distribution has a high intensity at a specific wave number and a sharp peak, and has the specific wave number. It shows that surface plasmons are diffracted and converted to light. As a result, the light extraction efficiency of light having the same frequency as the surface plasmon is high.
  • the fine concavo-convex structure with high light extraction efficiency has a narrow allowable range of period shift, so that the extraction wavelength may be deviated from the target emission wavelength even if the fine concavo-convex structure is slightly changed. was there.
  • the organic light emitting diode substrate having a two-dimensional lattice structure with a constant period of the concavo-convex structure emits desired light. It was pointed out that it was difficult to obtain.
  • the purpose of obtaining broadband light is to produce a white organic light emitting diode in which the wavelength of light to be extracted covers the entire visible light region (380 nm to 780 nm), or even wider band light, for example, In the case of extracting light over the entire visible light to near infrared region (380 nm to 2500 nm).
  • FIG. 1 (b) shown as the second prior art regarding the periodic fine concavo-convex structure is a particle having a plurality of particle diameters (for example, two or more types) as shown in (b-1) of FIG. 1 (b).
  • An example of producing a substrate for an organic light emitting diode having a concavo-convex structure with uneven pitches by a dry etching method using a two-dimensional crystal composed of a single layer film of particles formed by mixing as an etching mask is shown.
  • the power spectrum of the height distribution on the surface of the organic light emitting diode substrate having the uneven structure is shown in (b-2) of FIG. That is, when the concavo-convex structure on the surface of the organic light emitting diode substrate is formed so that the pitches are not uniform, a power distribution having a height distribution that shows a distribution in a circular region is obtained.
  • the power spectrum profile of the height distribution of the uneven structure with uneven pitch obtained from the organic light emitting diode having the uneven structure with uneven pitch as shown in (b-3) of FIG. Although it has a certain level of strength in a wide wavenumber region, its absolute value is not high compared with that in which the period of the concavo-convex structure is constant.
  • the present invention has been made in view of the various problems of the prior art as described above.
  • the object of the present invention is as follows. (1) For a cathode top emission type organic light emitting diode element, a periodic fine uneven structure. This shows the relationship between the pitch of the light and the extraction wavelength in the spectrum of the luminescent material, and the surface plasmon extraction enables the extraction of a narrow band of light.
  • a method for manufacturing a substrate for a light emitting diode a method for manufacturing an organic light emitting diode, an image display device, and an illumination device, and (2) light extraction efficiency of a monochromatic organic light emitting diode element made of a kind of light emitting material
  • the extraction wavelength deviates from the target emission wavelength due to a slight change in the fine uneven structure.
  • An organic light-emitting diode substrate with excellent light extraction efficiency that enables extraction of narrow-band light with an arbitrary center wavelength in the near-infrared range that has a certain spread in the near-infrared range, so that there is no fear, organic light emission
  • An object of the present invention is to provide a diode, a method for manufacturing a substrate for an organic light emitting diode, a method for manufacturing an organic light emitting diode, an image display device, and a lighting device.
  • an organic light emitting diode includes at least a reflective layer made of a metal material, an anode conductive layer made of a transparent conductive material, and a light emitting layer containing an organic light emitting material on a substrate.
  • An organic electroluminescent layer and a cathode conductive layer in which a semi-transmissive metal layer made of a metal material and a transparent conductive layer made of a transparent conductive material are laminated are sequentially laminated, and in contact with the transparent conductive layer side of the semi-transmissive metal layer
  • a top emission type organic light emitting diode having a two-dimensional lattice structure in which a plurality of convex portions are periodically arranged in a two-dimensional manner on the surface, and between adjacent convex portions in the convex portions formed on the surface.
  • the center-to-center distance P is set so that the center-to-center distance P is a value in the range of equation (1), where k is the real part of the propagation constant of the surface plasmon represented by a complex number on the surface.
  • the organic light emitting diode includes, on a substrate, at least a reflective layer made of a metal material, an anode conductive layer made of a transparent conductive material, and an organic electroluminescent layer including a light emitting layer containing an organic light emitting material, A semiconductive metal layer made of a metal material and a cathode conductive layer laminated with a transparent conductive layer made of a transparent conductive material are sequentially laminated, and a plurality of surfaces are in contact with the transparent conductive layer side of the semitransmissive metal layer.
  • a top emission type organic light emitting diode having a two-dimensional lattice structure in which concave portions are periodically arranged two-dimensionally, wherein a center-to-center distance P between adjacent concave portions in the concave portions formed on the surface is the surface
  • the center-to-center distance P is set to a value in the range of the formula (1), and the above formula (1 P 0 in the case of forming a triangular lattice structure as the two-dimensional grating structure, satisfies the following formula (2), when forming a square lattice structure as the two-dimensional grating structure, satisfies the following formula (3) It is what I did.
  • the organic light emitting diode includes, on a substrate, at least a reflective layer made of a metal material, an anode conductive layer made of a transparent conductive material, and an organic electroluminescent layer including a light emitting layer containing an organic light emitting material, A semi-transmissive metal layer made of a metal material and a cathode conductive layer in which a transparent conductive layer made of a transparent conductive material is laminated sequentially, and a plurality of protrusions are formed on the surface of the semi-transmissive metal layer in contact with the organic electroluminescence layer.
  • a top emission type organic light emitting diode in which a two-dimensional lattice structure in which parts are periodically arranged in two dimensions is formed, and a center-to-center distance P between adjacent convex parts in the convex part formed on the surface is
  • the center-to-center distance P is a value in the range of equation (1).
  • P 0 in the above formula (1) when forming a triangular lattice structure as the two-dimensional grating structure, satisfies the following formula (2), when forming a square lattice structure as the two-dimensional lattice structure, The following equation (3) is satisfied.
  • the organic light emitting diode includes, on a substrate, at least a reflective layer made of a metal material, an anode conductive layer made of a transparent conductive material, and an organic electroluminescent layer including a light emitting layer containing an organic light emitting material, A semi-transmissive metal layer made of a metal material and a cathode conductive layer in which a transparent conductive layer made of a transparent conductive material is laminated sequentially, and a plurality of recesses are formed on the surface of the semi-transmissive metal layer in contact with the organic electroluminescence layer.
  • the center-to-center distance P is a value in the range of the formula (1).
  • P 0 in the above formula (1) when forming a triangular lattice structure as the two-dimensional grating structure, satisfies the following formula (2), when forming a square lattice structure as the two-dimensional lattice structure, The following equation (3) is satisfied.
  • An organic light emitting diode includes, on a substrate, at least an anode conductive layer made of a transparent conductive material, an organic electroluminescence layer including a light emitting layer containing an organic light emitting material, and a cathode conductive layer made of a metal material.
  • anode conductive layer made of a transparent conductive material
  • an organic electroluminescence layer including a light emitting layer containing an organic light emitting material
  • a cathode conductive layer made of a metal material.
  • the shorter wavelength is ⁇ 1
  • the longer wavelength is ⁇ 2
  • the wavelengths 2 ⁇ 1 - ⁇ peak and 2 ⁇ 2 - ⁇ peak The real part of the propagation constant of surface plasmon at the interface between the cathode electroconductive layer and the organic electroluminescent layer corresponding to Re when the k 1 and k 2
  • the power spectrum of the height distribution of the fine uneven structure of the interface has a finite value between the wave number K 1 and the wave number K 2
  • the spectrum in this wavenumber range The integrated value of intensity has a value of 50% or more of the spectrum intensity over the entire wave number.
  • the organic light emitting diode includes, on a substrate, at least a reflective layer made of a metal material, an anode conductive layer made of a transparent conductive material, and an organic electroluminescent layer including a light emitting layer containing an organic light emitting material, A semiconductive metal layer made of a metal material and a cathode conductive layer laminated with a transparent conductive layer made of a transparent conductive material are sequentially laminated, and a plurality of surfaces are in contact with the organic electroluminescence layer of the semitransmissive metal layer.
  • a top emission type organic light emitting diode in which a random fine concavo-convex structure is formed by the concavo-convex portion, and the shorter one of the wavelengths giving the half value of the peak ⁇ peak of the emission spectrum of light obtained from the organic light emitting material. cathode electrically to 1 wavelength lambda, the longer wavelengths of the lambda 2, corresponding to the wavelength 2 [lambda] 1 1-? peak and 2 [lambda] 2 1-?
  • the wave number K 1 power spectrum of the height distribution of the fine uneven structure of the surface and the wave number K has a finite value between 2 and the integral value of the spectral intensity in the wave number range is that to have a value of more than 50% of the intensity of the spectral intensity over the entire wavenumber.
  • the organic light emitting diode includes, on a substrate, at least a reflective layer made of a metal material, an anode conductive layer made of a transparent conductive material, and an organic electroluminescent layer including a light emitting layer containing an organic light emitting material, A semi-transmissive metal layer made of a metal material and a cathode conductive layer in which a transparent conductive layer made of a transparent conductive material is laminated sequentially, and a plurality of irregularities are formed on the surface of the semi-transmissive metal layer in contact with the transparent conductive layer.
  • a top emission type organic light emitting diode in which a random fine concavo-convex structure is formed by a portion, the shorter wavelength among wavelengths giving half value of the peak ⁇ peak of the emission spectrum of light obtained from the organic light emitting material the lambda 1, the longer wavelengths of the lambda 2, the cathode conductive layer corresponding to the wavelength 2 [lambda] 1 1-? peak and 2 [lambda] 2 1-?
  • the power spectrum of the height distribution of the fine uneven structure of the interface between the wave number K 1 and the wave number K 2 has a value of 50% or more of the spectrum intensity over the entire wave number.
  • the organic light emitting diode according to the present invention includes, on a substrate, at least a cathode conductive layer made of a metal material, an organic electroluminescence layer including a light emitting layer containing an organic light emitting material, and an anode conductive layer made of a transparent conductive material.
  • a cathode conductive layer made of a metal material
  • an organic electroluminescence layer including a light emitting layer containing an organic light emitting material
  • an anode conductive layer made of a transparent conductive material.
  • the shorter wavelength is ⁇ 1
  • the longer wavelength is ⁇ 2
  • the wavelengths 2 ⁇ 1 - ⁇ peak and 2 ⁇ 2 - ⁇ peak The real part of the propagation constant of surface plasmon at the interface between the cathode electroconductive layer and the organic electroluminescent layer corresponding to Re when the k 1 and k 2
  • the power spectrum of the height distribution of the fine uneven structure of the interface has a finite value between the wave number K 1 and the wave number K 2
  • the spectrum in this wavenumber range The integrated value of intensity has a value of 50% or more of the spectrum intensity over the entire wave number.
  • the metal material forming the metal layer has an Ag or Al or Ag content of 70 mass% or more, or an Al content of 70 mass. % Of the alloy.
  • the organic light emitting diode according to the present invention is the above organic light emitting diode, wherein the depth of the concave portion and the height of the convex portion are 15 to 180 nm.
  • the organic light emitting diode manufacturing method is an organic light emitting diode manufacturing method for manufacturing the above organic light emitting diode, wherein a plurality of convex portions or concave portions are periodically arranged in a two-dimensional manner on the surface of the substrate.
  • the reflection layer, the anode conductive layer, and the surface of the substrate on which the two-dimensional lattice structure in which a plurality of convex portions or concave portions are periodically arranged in two dimensions is formed.
  • the organic electroluminescence layer and the cathode conductive layer are sequentially laminated.
  • the organic light emitting diode manufacturing method according to the present invention is the above-described organic light emitting diode manufacturing method, wherein the substrate is formed by a dry etching method using a particle single layer film in which predetermined particles are two-dimensionally closely packed as an etching mask.
  • a two-dimensional lattice structure in which a plurality of convex portions or concave portions are periodically and two-dimensionally arranged is formed on the surface.
  • the organic light emitting diode manufacturing method includes a plurality of dry etching methods using a single particle layer film in which predetermined particles are two-dimensionally closely packed in the organic light emitting diode manufacturing method.
  • a two-dimensional lattice structure in which a plurality of convex portions or concave portions are periodically arranged two-dimensionally is formed on the surface of the substrate.
  • a two-dimensional lattice structure in which a plurality of convex portions are periodically arranged in two dimensions is formed on a surface of the transflective metal layer that is in contact with the transparent conductive layer side.
  • the metal material forming the metal layer is Ag, Al, an alloy having an Ag content of 10% by mass or more, or an alloy having an Al content of 10% by mass or more. It is a thing.
  • the organic light emitting diode according to the present invention is such that the depth of the concave portion and the height of the convex portion are 15 to 180 nm.
  • the method of manufacturing an organic light emitting diode according to the present invention produces a two-dimensional lattice structure in which a plurality of convex portions or concave portions are periodically arranged in two dimensions on the surface of the substrate, and the plurality of convex portions or concave portions are periodically arranged.
  • On the surface of the substrate on which the two-dimensional lattice structure arranged two-dimensionally is formed at least an anode conductive layer made of a transparent conductive material, an organic electroluminescent layer including a light emitting layer containing an organic light emitting material, and a metal material
  • the cathode conductive layer is made of a layered structure so that the convex portion or the concave portion is copied.
  • a two-dimensional lattice structure in which a plurality of convex portions are periodically arranged in two dimensions is formed on a surface of the transflective metal layer that is in contact with the transparent conductive layer side.
  • a two-dimensional lattice structure in which a plurality of convex portions or concave portions are periodically arranged in a two-dimensional manner is formed on the surface of the substrate, and the plurality of convex portions or concave portions are periodic.
  • At least a reflective layer made of a metal material, an anode conductive layer made of a transparent conductive material, and a light-emitting layer containing an organic light-emitting material are formed on the surface of the substrate on which a two-dimensional lattice structure arranged in two dimensions is formed.
  • the convex portion or the concave portion is copied between the organic electroluminescence layer including the cathode conductive layer in which the translucent metal layer made of a metal material and the transparent conductive layer made of a transparent conductive material are laminated. It is obtained by the sequentially laminated on.
  • a two-dimensional lattice structure in which a plurality of convex portions are periodically arranged in two dimensions is formed on a surface of the transflective metal layer that is in contact with the transparent conductive layer side.
  • a two-dimensional lattice structure in which a plurality of convex portions or concave portions are periodically arranged in a two-dimensional manner is formed on the surface of the substrate, and the plurality of convex portions or concave portions is periodically formed.
  • the organic light emitting diode manufacturing method according to the present invention includes a plurality of protrusions on the surface of the substrate by a dry etching method using a particle monolayer film formed using a mixture of a plurality of particles having different average particle diameters as an etching mask.
  • a two-dimensional lattice structure in which the portions or the concave portions are randomly arranged two-dimensionally is formed.
  • a plurality of convex portions or concave portions are periodically two-dimensionally formed by a dry etching method using a particle monolayer film in which predetermined particles are two-dimensionally closely packed as an etching mask.
  • a master having a structure arranged in the above is prepared, and a transfer body prepared from the master by any one of an electroforming method, a nanoimprint method, an injection molding method, or a UV embossing method is used as a template.
  • a two-dimensional lattice structure in which a plurality of convex portions or concave portions formed in the mold are periodically arranged in a two-dimensional manner is transferred onto the surface of the substrate by either an injection molding method or a UV embossing method.
  • a two-dimensional lattice structure in which convex portions or concave portions are periodically arranged in two dimensions is formed.
  • an image display device is provided with the above-described organic light emitting diode.
  • the lighting device according to the present invention is provided with the above-described organic light emitting diode.
  • the present invention is configured as described above, high light extraction efficiency can be obtained, and there is no possibility that the extraction wavelength is not shifted from the target emission wavelength due to a slight change in the fine concavo-convex structure. An excellent effect is obtained in that it is possible to extract light in a narrow band having a certain extent in the near infrared region from visible light.
  • FIG. 1 (a) is an explanatory view showing a first prior art relating to a periodic fine concavo-convex structure.
  • FIG. 1 (a) shows a single particle having a constant particle diameter D.
  • FIG. 1A shows a power spectrum of the height distribution of the surface of the organic light emitting diode substrate having a two-dimensional lattice structure in which the period of the concavo-convex structure is constant, and
  • FIG. (A-3) in FIG. 1 (a) shows the power spectrum profile of the height distribution of the two-dimensional lattice structure in which the period of the concavo-convex structure is constant.
  • FIG. 1A shows a power spectrum profile of the height distribution of the two-dimensional lattice structure in which the period of the concavo-convex structure is constant.
  • FIG. 1 (b) is an explanatory view showing a second prior art regarding the periodic fine concavo-convex structure, and (b-1) in FIG. 1 (b) shows a plurality of particle sizes (for example, two or more types). .) Shows a particle single layer film formed by mixing particles, and (b-2) in FIG. 1 (b) shows the height distribution of the surface of the substrate for an organic light emitting diode having an uneven structure with irregular pitches. In addition, (b-3) in FIG. 1B shows a power spectrum profile of the height distribution of the uneven structure with uneven pitches.
  • FIG. 2 is a schematic configuration explanatory view showing the organic light emitting diode according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3A is a schematic perspective view illustrating a fine concavo-convex structure formed on the back surface of the cathode conductive layer in the organic light-emitting diode of FIG. 2, and FIG. 3B is an organic light-emitting structure of FIG. It is a schematic structure perspective view showing the fine uneven structure formed on the surface of the substrate in the diode.
  • FIG. 4 is an explanatory view showing a dipole in the layer structure of the organic light emitting diode.
  • FIG. 5 shows energy dissipation when a dipole is placed at a distance of 20 nm on the substrate side from the back surface of the metal layer of the organic light emitting diode, and a dipole is placed at a distance of 20 nm on the air side from the back surface of the metal layer of the organic light emitting diode. It is a graph which shows energy dissipation at the time.
  • FIG. 6 is a graph showing the energy dissipation of the dipole.
  • FIG. 7A shows an explanatory view of the surface of the substrate after the dry etching process observed with an AFM
  • FIG. 7B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 7A. It is shown.
  • FIG. 7A shows an explanatory view of the surface of the substrate after the dry etching process observed with an AFM
  • FIG. 7B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 7A. It is shown.
  • FIG. 8 is a schematic cross-sectional explanatory diagram showing an example of the structure of a bottom emission type organic light emitting diode according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is an explanatory view showing the characteristics of the organic light emitting diode according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 (a-1) shows the particle single layer film according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 (a-2) shows the power spectrum of the height distribution on the surface of the organic light emitting diode substrate having a concavo-convex structure according to the second embodiment of the present invention. 3) shows the power spectrum profile of the height distribution on the surface of the organic light emitting diode substrate according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 shows the particle single layer film according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 (a-2) shows the power spectrum of the height distribution on the surface of the organic light emitting diode substrate having a concavo-convex structure according to the second embodiment
  • FIG. 10A is a schematic perspective view illustrating a fine uneven structure formed on the back surface of the cathode conductive layer in the organic light emitting diode according to the present invention
  • FIG. 10B illustrates the organic light emission according to the present invention.
  • It is a schematic structure perspective view showing the fine uneven structure formed on the surface of the substrate in the diode.
  • FIG. 11 shows energy dissipation when a dipole is placed at a distance of 20 nm on the substrate side from the back surface of the metal layer of the organic light emitting diode, and a dipole is placed at a distance of 20 nm on the air side from the back surface of the metal layer of the organic light emitting diode.
  • It is a graph which shows energy dissipation at the time.
  • FIG. 11 shows energy dissipation when a dipole is placed at a distance of 20 nm on the substrate side from the back surface of the metal layer of the organic light emitting diode, and a dipole is
  • FIG. 12 is an explanatory view showing an AFM image obtained by measuring the concavo-convex structure formed on the organic light emitting diode substrate according to the present invention with an atomic force microscope (AFM).
  • FIG. 13A is a table showing specific examples of the light extraction efficiency and the light emission efficiency of the organic light emitting diode 10 of the first embodiment and the organic light emitting diode 100 of the second embodiment.
  • (c) are conceptual explanatory diagrams for explaining K peak in the spectrum of the fine concavo-convex structure.
  • FIG. 14A is an explanatory diagram conceptually showing a surface plasmon spectrum corresponding to the spectrum of a luminescent material having a peak at 620 nm, and FIG.
  • FIG. 14B is a diagram illustrating the first example shown in FIG. It is explanatory drawing which showed notionally the spectrum of the fine uneven structure by the specific example of the organic light emitting diode 10 of 1 embodiment, FIG.14 (c) is the fine of the comparative example 1 shown to Fig.13 (a). It is explanatory drawing which showed the spectrum of the uneven structure notionally, FIG.14 (d) is the spectrum of the fine uneven structure by the specific example of the organic light emitting diode 100 of 2nd Embodiment shown to Fig.13 (a). 14 (e) is an explanatory diagram conceptually showing the spectrum of the fine concavo-convex structure of Comparative Example 2 shown in FIG. 13 (a). FIG.
  • FIG. 15 is a conceptual explanatory diagram for explaining a ratio in which the spectrum intensity of the surface plasmon and the spectrum intensity of the fine concavo-convex structure overlap with the spectrum of the light emitting material.
  • FIG. 16 is a schematic cross-sectional explanatory diagram showing an example of the structure of a top emission type organic light emitting diode according to the present invention.
  • FIG. 17 is a schematic cross-sectional explanatory diagram showing an example of the structure of a top emission type organic light emitting diode according to the present invention.
  • FIG. 18 is a schematic cross-sectional explanatory view showing a modified example of the structure of the bottom emission type organic light emitting diode according to the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic configuration explanatory view showing a first embodiment of the organic light-emitting diode according to the present invention.
  • the organic light emitting diode 10 shown in FIG. 2 is a monochromatic organic light emitting diode of a type generally called a top emission type with a cathode top.
  • a reflective layer 22, an anode conductive layer 14, an organic EL layer 16 and a cathode are formed on a substrate 12.
  • a conductive layer 18 is sequentially stacked.
  • a voltage can be applied to the anode conductive layer 14 and the cathode conductive layer 18 by a power source 20.
  • the organic light emitting diode 10 when a voltage is applied to the anode conductive layer 14 and the cathode conductive layer 18, holes are injected from the anode conductive layer 14 to the organic EL layer 16 and from the cathode conductive layer 18 to the organic EL layer 16. Electrons are injected into the light, and light generated in the organic EL layer is extracted from the cathode conductive layer 18 side.
  • the reflective layer 22 of the organic light emitting diode 10 is a layer provided so that the light from the organic EL layer 16 is reflected and the light is not extracted from the substrate 12. Therefore, the reflective layer 22 is made of a metal material that reflects visible light, and is made of, for example, Ag or Al.
  • the thickness of the reflective layer 22 is preferably 100 to 200 nm, for example.
  • the thickness of each layer which comprises the organic light emitting diode 10 containing the reflection layer 22 can be measured with a spectroscopic ellipsometer, a contact-type level difference meter, or an atomic force microscope (AFM).
  • the anode conductive layer 14 is made of a transparent conductive material that transmits visible light.
  • a transparent conductive material is not particularly limited, and a known transparent conductive material can be used.
  • the transparent conductive material used for the anode conductive layer 14 includes indium tin oxide (Indium Tin Oxide (ITO)), indium zinc oxide (Indium Zinc Oxide (IZO)), and zinc oxide (Zinc Oxide). (ZnO)) or zinc-tin oxide (Zinc Tin Oxide (ZTO)).
  • the thickness of the anode conductive layer 14 is preferably, for example, 50 to 200 nm.
  • the organic EL layer 16 transports holes injected from the power source 20 to the hole injection layer 16-1 and holes injected in the hole injection layer 16-1 to the light emitting layer 16-3 described later, and the light emission
  • a hole transport layer 16-2 that blocks electrons from the layer 16-3, an organic light emitting material, and a hole transported from the hole transport layer 16-2 and transported from an electron transport layer 16-4 described later.
  • a light emitting layer 16-3 that emits light by combining with electrons and an electron injected in an electron injection layer 16-5, which will be described later, are transported to the light emitting layer 16-3 and holes from the light emitting layer 16-3 are blocked.
  • the electron transport layer 16-4 and the electron injection layer 16-5 into which electrons are injected from the power source 20 are configured.
  • the organic EL layer 16 is formed on the anode conductive layer 14 in the order of a hole injection layer 16-1, a hole transport layer 16-2, a light emitting layer 16-3, an electron transport layer 16-4, and an electron injection layer 16-5.
  • these layers may have a single role or may have two or more roles.
  • the electron transport layer 16-4 and the light emitting layer 16-3 may serve as one layer. It is something that can be done. That is, the organic EL layer 16 may be a layer including at least the light emitting layer 16-3 containing an organic light emitting material, and may be composed of only the light emitting layer 16-3. Layers other than 16-3 are included.
  • Such layers other than the light emitting layer 16-3 may be made of an organic material or an inorganic material as long as the function of the light emitting layer 16-3 is not impaired.
  • the organic EL layer 16 is composed of five layers of a hole injection layer 16-1, a hole transport layer 16-2, a light emitting layer 16-3, an electron transport layer 16-4, and an electron injection layer 16-5. It was supposed to be. Of these layers, the most important layer is the light emitting layer 16-3. For example, the hole injection layer 16-1 and the electron injection layer 16-5 can be omitted.
  • the electron transport layer 16-4 can also serve as the light emitting layer 16-3.
  • the material which comprises each layer of the organic EL layer 16 is not specifically limited, A well-known thing can be used.
  • an organic light emitting material is used as a material constituting the light emitting layer 16-3.
  • an organic light emitting material for example, Tris [1-phenylisoquinoline-C2, N] iridium (III) (Ir (piq) 3 ), 1,4-bis [4- (N, N-diphenylaminostyrene)] (DPAVB), Bis [2- (2-benzoxazolyl) phenolate] Zinc (II) (ZnPBO), and the like.
  • a material constituting the hole transport layer 16-2 a material constituting the electron transport layer 16-4, or a dedicated host material is used.
  • materials constituting the hole injection layer 16-1, the hole transport layer 16-2, and the electron transport layer 16-4 organic materials are generally used.
  • examples of the material constituting the hole injection layer 16-1 include compounds such as 4,4 ′, 4 ′′ -tris (N, N-2naphthylphenylamino) triphenylamine (2-TNATA).
  • aromatic amine compounds such as diamine (NPD), copper phthalocyanine (CuPc), and N, N′-Diphenyl-NN′-di (m-tolyl) benzidine (TPD).
  • a material constituting the electron transport layer 16-4 for example, 2,5-Bis (1-naphthyl) -1,3,4-oxadiazole (BND), 2- (4-tert-Butylphenyl) -5
  • BND 2,5-Bis (1-naphthyl) -1,3,4-oxadiazole
  • 2- (4-tert-Butylphenyl) -5 examples thereof include oxadiol compounds such as-(4-biphenyl) -1,3,4-oxadiazole (PBD) and metal complex compounds such as Tris (8-quinolinolate) aluminum (Alq).
  • examples of the material constituting the electron injection layer 16-5 include lithium fluoride (LiF).
  • the total thickness of the organic EL layer 16 is preferably, for example, 30 to 500 nm.
  • the cathode conductive layer 18 includes a metal layer 18-1 connected to the cathode of the power supply 20 and a transparent conductive layer 18-2.
  • the metal layer 18-1 and the transparent conductive layer are formed on the organic EL layer 16.
  • 18-2 are sequentially laminated.
  • the metal layer 18-1 is made of Ag, an alloy having an Ag content of 70% or more, Al, or an alloy having an Al content of 70% or more. Examples include magnesium alloys such as 90.
  • the thickness of the metal layer 18-1 is preferably 10 to 30 nm, for example, and can transmit light from the organic EL layer 16.
  • the transparent conductive layer 18-2 like the anode conductive layer 14, is made of a transparent conductive material that transmits visible light.
  • the transparent conductive material is not particularly limited, and a known transparent conductive material can be used. Can be used. Specifically, as the transparent conductive material used for the transparent conductive layer 18-2, indium tin oxide (Indium Tin Oxide (ITO)), indium zinc oxide (Indium Zinc Oxide (IZO)), zinc oxide ( Zinc Oxide (ZnO)), zinc-tin oxide (Zinc Tin Oxide (ZTO)), or the like.
  • ITO Indium Tin Oxide
  • IZO indium zinc oxide
  • ZnO Zinc Oxide
  • ZTO zinc-tin oxide
  • the organic light emitting diode 10 is a top emission type in which light is extracted from the cathode conductive layer 18 side. For this reason, in order to allow light from the organic EL layer 16 to pass therethrough, the metal layer 18-1 is formed as a thin layer. At this time, if the cathode conductive layer 18 is only the metal layer 18-1, the volume resistance increases because the metal layer 18-1 is a thin layer. For this reason, in the organic light emitting diode 10, the conductivity is improved by providing the transparent conductive layer 18-2 as the auxiliary electrode layer together with the metal layer 18-1 as the cathode conductive layer 18.
  • the thickness of the transparent conductive layer 18-2 is preferably 50 to 200 nm, for example.
  • the substrate 12 may be a transparent body that transmits visible light or an opaque body that does not transmit visible light.
  • the material constituting the substrate 12 may be an inorganic material or an organic material, or a combination thereof.
  • the transparent inorganic material includes quartz glass, alkali-free glass such as alkali-free glass and soda lime glass, various glasses such as white plate glass, and transparent inorganic minerals such as mica.
  • the opaque inorganic material include metals such as aluminum, nickel, and stainless steel, and various ceramics.
  • the organic material include resin films such as cycloolefin films and polyester films, and fiber reinforced plastic materials in which fine fibers such as cellulose nanofibers are mixed in the resin film.
  • both transparent and opaque materials can be used.
  • a structure in which a plurality of convex portions 12b are periodically arranged in two dimensions (hereinafter referred to as “a structure in which two electrodes are periodically arranged in two dimensions”) is provided. , which will be appropriately referred to as a “two-dimensional lattice structure”).
  • the reflective layer 22, the anode conductive layer 14, the organic EL layer 16, and the cathode conductive layer 18 are sequentially laminated on the substrate 12 on which the two-dimensional lattice structure is formed, so that the surface of each layer (that is, the substrate 12 is positioned). 2), a two-dimensional lattice structure having a plurality of convex portions similar to the surface 12a of the substrate 12 is formed.
  • each layer constituting the organic light emitting diode 10 that is, the surface on which the substrate 12 is located
  • the structure formed on the front surface 12a of the substrate 12 is inverted, that is, a plurality of concave portions.
  • a two-dimensional lattice structure with a plurality of recesses is formed.
  • the surface 18-1a of the metal layer 18-1 that is, the surface on the side where the transparent conductive layer 18-2 is located
  • a plurality of protrusions are formed by forming a two-dimensional lattice structure equivalent to the plurality of protrusions 12b formed on 12a.
  • the back surface 18-1c of the metal layer 18-1 (that is, the surface on which the organic EL layer 16 is located and the back surface 18a of the cathode conductive layer 18) is formed on the front surface 12a of the substrate 12.
  • a structure in which the structure is inverted that is, a structure in which the plurality of recesses 18b are periodically arranged in two dimensions, that is, a two-dimensional lattice structure including the plurality of recesses 18b is formed.
  • near-field light is generated in the very vicinity, and this near-field light has a distance between the light-emitting layer 16-3 and the metal layer 18-1. Since they are very close, they are converted into propagation type surface plasmons on the front surface 18-1a and the back surface 18-1c of the metal layer 18-1. In such a propagation surface plasmon on the metal surface, the density wave of free electrons generated by incident electromagnetic waves (such as near-field light) is accompanied by a surface electromagnetic field.
  • the dispersion curve of the surface plasmon and the dispersion line of light do not intersect with each other, so that the energy of the surface plasmon cannot be extracted as light.
  • the dispersion curve of the surface plasmon diffracted by the lattice structure intersects with the dispersion curve of the spatial propagation light, and the surface plasmon is extracted as radiation light. Can do.
  • the energy of light lost as surface plasmons can be extracted.
  • the energy thus extracted is emitted from the metal layer 18-1 in the cathode conductive layer 18 as radiation light.
  • the light radiated from the metal layer 18-1 has high directivity, and if designed appropriately, most of the surface 18c of the cathode conductive layer 18 serving as the light extraction surface (that is, in the transparent conductive layer 18-2). This is the surface opposite to the side where the metal layer 18-1 is located. Therefore, in the organic light emitting diode 10, high intensity light is emitted from the light extraction surface, and the light extraction efficiency is improved.
  • the recesses 18b formed on the back surface 18a that is, the back surface 18-1c of the metal layer 18-1 are two-dimensionally arranged.
  • the extraction efficiency is higher than in the one-dimensional case (that is, the arrangement direction is one direction, for example, a structure in which a plurality of grooves are arranged in one direction).
  • the arrangement direction is two directions and the intersection angle is 90 ° (square lattice), the arrangement direction is three directions and the intersection angle is 60 ° ( A triangular lattice (also referred to as a hexagonal lattice)), and a triangular lattice structure is particularly desirable. This is because the more the arrangement direction, the more the conditions for obtaining the diffracted light, and the surface plasmon can be diffracted with high efficiency.
  • a particle monolayer film in which particles are arranged in a two-dimensional hexagonal close-packed configuration is formed, and dry etching is performed using the particle monolayer film as an etching mask.
  • dry etching is performed using the particle monolayer film as an etching mask.
  • the depth D1 of the recess 18b formed on the back surface 18a is preferably 15 nm ⁇ D1 ⁇ 180 nm, preferably 30 nm ⁇ D1 ⁇ 100 nm, and when D1 ⁇ 15 nm or D1> 180 nm, the effect of improving the light extraction efficiency Will be insufficient.
  • the range of the depth D1 of the recess 18b described above is based on the following reason.
  • the depth D1 of the recess 18b is less than 15 nm (that is, when D1 ⁇ 15 nm), it is impossible to generate a sufficient surface plasmon diffracted wave as a two-dimensional lattice structure, and the surface plasmon is used as radiation The effect of taking out decreases. Further, when the depth D1 of the recess 18b exceeds 180 nm (that is, when D1> 180 nm), the surface plasmon begins to have a localized type property and is no longer a propagation type, so that radiation light can be extracted. Efficiency is reduced.
  • the anode conductive layer 14 and the cathode conductive layer 18 of the organic light emitting diode 10 are sequentially laminated, the anode conductive layer 14 and the cathode conductive layer are sharply uneven. The possibility of short-circuiting with the layer 18 is increased, which is not preferable. Since the depth D1 of the concave portion 18b is the same as the height H1 of the convex portion 12b formed on the surface 12a of the substrate 12, it is indirectly quantified by measuring the height of the convex portion 12b by AFM. be able to.
  • an AFM image was acquired for one randomly selected 5 ⁇ m ⁇ 5 ⁇ m region in a two-dimensional lattice structure, and then a line was drawn in the diagonal direction of the acquired AFM image, and intersected with this line
  • the maximum height of the convex part 12b is calculated independently.
  • the average value of the height of the calculated convex part 12b is calculated.
  • This process is similarly executed for a total of 25 randomly selected 5 ⁇ m ⁇ 5 ⁇ m regions, and the average value of the convex portions 12b in each region is calculated, and the average value in the obtained 25 regions is further averaged.
  • the obtained value is defined as the height of the convex portion 12b.
  • the shape of the convex portion 12b is not particularly limited, and examples thereof include a cylindrical shape, a conical shape, and a truncated cone shape, a sine wave shape, a dome shape, and a derivative shape based on them.
  • the method for manufacturing the organic light emitting diode 10 is not particularly limited, but preferably, a plurality of convex portions 12b are formed on the surface 12a.
  • a reflective layer 22, an anode conductive layer 14, and an organic EL layer 16 are formed on the surface 12a of the substrate 12 formed in a two-dimensional lattice structure.
  • the electron transport layer 16-4, the electron injection layer 16-5) and the cathode conductive layer 18 are sequentially laminated.
  • a two-dimensional lattice structure including a plurality of recesses 18b formed on the back surface 18a of the cathode conductive layer 18 (that is, the back surface 18-1c of the metal layer 18-1) is formed on the front surface 12a of the substrate 12. Further, it corresponds to a two-dimensional lattice structure with a plurality of convex portions 12b (refer to FIGS. 3A and 3B).
  • center-to-center distance P1 between adjacent recesses 18b in the plurality of recesses 18b formed on the back surface 18a of the cathode conductive layer 18 (hereinafter referred to as “center-to-center distance P1 between adjacent recesses 18b” is referred to as “center of the recesses 18b”).
  • Is referred to as an inter-distance P1 ”) is a center-to-center distance P2 between the adjacent convex portions 12b of the plurality of convex portions 12b formed on the surface 12a of the substrate 12 (hereinafter referred to as“ between adjacent convex portions 12b ”).
  • the center-to-center distance P2 " is referred to as” the center-to-center distance P2 of the convex part 12b "), and the depth D1 of the concave part 18b matches the height H1 of the convex part 12b.
  • the center of the concave portion 18b formed on the back surface 18a of the cathode conductive layer 18 is measured by measuring the distance P2 between the centers of the convex portions 12b formed on the front surface 12a of the substrate 12 and the height H1 of the convex portions 12b.
  • the distance P1 and the depth D1 of the recess 18b can be measured.
  • the center-to-center distance P1 of the recesses 18b can be indirectly measured by measuring the center-to-center distance P2 of the projections 12b by a laser diffraction method, and the depth D1 of the recesses 18b is determined by the projections
  • the height H1 of 12b can be indirectly measured by measuring with an AFM.
  • a method for producing a two-dimensional lattice structure using a plurality of convex portions 12b formed on the surface 12a of the substrate 12 includes, for example, electron beam lithography, mechanical cutting, laser processing, two-beam interference exposure, reduced exposure, and the like. Can be used.
  • the master is prepared first, it is possible to transfer / reproduce the fine uneven structure by the nanoimprint method.
  • methods other than the two-beam interference exposure and the nanoimprint method are not suitable for producing a periodic grating structure in a large area, and thus are limited in terms of industrial use.
  • a dry etching method using a particle single layer film as an etching mask (hereinafter referred to as “particle single particle”).
  • the “method of performing dry etching using the layer film as an etching mask” is preferably referred to as “etching method using particle single layer film”.
  • a single-layer film of particles having a primary particle diameter equal to or smaller than the emission wavelength on the surface 12a of the substrate 12 is produced using the principle of the Langmuir-Blodgett method (hereinafter referred to as “LB method”).
  • LB method Langmuir-Blodgett method
  • a highly accurate triangular lattice (hexagonal lattice) two-dimensional lattice structure can be formed. Since the two-dimensional lattice structure on the back surface 18a of the cathode conductive layer 18 formed using a substrate having such a two-dimensional lattice structure is also highly accurate, this method can be used in the case of a large area. Even if it exists, the diffracted wave of surface plasmon can be obtained with high efficiency, and the high-intensity organic light emitting diode 10 with improved light extraction efficiency can be obtained.
  • etching step a coating step of covering the surface of the substrate original plate with the particle single layer film, and a step of dry etching the substrate original plate using the particle single layer film as an etching mask (dry etching step) )
  • dry etching step a step of dry etching the substrate original plate using the particle single layer film as an etching mask
  • the coating step of coating the surface of the substrate original plate with the particle monolayer film is a liquid for spreading particles on the liquid surface in the water tank (hereinafter referred to as “developing particles on the liquid surface”).
  • “Liquid for” is appropriately referred to as “lower layer liquid”), and a dispersion liquid in which particles are dispersed in an organic solvent is dropped onto the liquid surface of the lower layer liquid, and the organic solvent is volatilized from the dropped dispersion liquid.
  • a particle single layer film forming step for forming a particle single layer film made of particles on the liquid surface of the lower layer liquid and a transition step for transferring the particle single layer film onto the substrate 12 are performed.
  • (1-2-1) Particle Single Layer Film Formation Step First, an organic solvent having high volatility and high hydrophobicity (for example, chloroform, methanol, ethanol, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, hexane, etc.). Inside, a particle having a hydrophobic surface is added to prepare a dispersion. In addition, a water tank is prepared, and water as a lower layer liquid (hereinafter, water as the lower layer liquid is appropriately referred to as “lower layer water”) is put into the water tank.
  • an organic solvent having high volatility and high hydrophobicity for example, chloroform, methanol, ethanol, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, hexane, etc.
  • a particle having a hydrophobic surface is added to prepare a dispersion.
  • a water tank is prepared, and water as a lower layer liquid (hereinafter, water as the lower layer liquid is appropriately referred to
  • grains in a dispersion liquid will expand
  • the organic solvent as the dispersion medium is volatilized to form a particle monolayer film in which the particles are two-dimensionally closely packed.
  • the particle size of the particles used for forming the particle single layer film is set in consideration of the center-to-center distance P2 of the projections 12b to be formed.
  • the center-to-center distance P2 of the protrusions 12b formed on the surface 12a of the substrate 12 is determined by the particle size of the particles to be used, and the center-to-center distance P2 of the protrusions 12b is determined.
  • the inter-distance P1 is determined.
  • a method for determining the particle diameter of the particles forming the particle monolayer film will be described with reference to FIG.
  • the particle size of the particles forming this particle monolayer film varies depending on the surface plasmon mode to be extracted (that is, the center distance P1 of the recesses 18b and the center distance P2 of the protrusions 12a).
  • the thicknesses d 1 and d L that are the thickness of the first layer and the L-th layer are infinite.
  • the Mth layer is a metal layer supporting surface plasmons
  • the propagation constant of surface plasmons propagating on the interfaces on both sides of this layer is obtained.
  • M ⁇ mode the former will be referred to as M ⁇ mode and the latter as M + mode.
  • the propagation constants of these two modes are obtained by solving the system's eigenequation.
  • this eigen equation cannot be solved analytically, but can only be solved numerically using a nonlinear optimization technique. This calculation becomes more difficult as the total number of parameters increases.
  • the propagation constant of surface plasmons is a complex number, and the above eigen equation accurately gives this complex propagation constant. However, only the real part of the propagation constant is required to determine the grating pitch P. In this case, a simple method can be applied.
  • Propagation modes surface plasmon mode and waveguide mode
  • This propagation constant relates to a component (hereinafter referred to as an in-plane wave number) parallel to the wave number interface of the propagation mode.
  • FIG. 4 is an explanatory diagram showing a layer structure of an organic light emitting diode and a dipole in the layer structure.
  • d ⁇ and d + indicate the distance from the dipole to the substrate side interface and the distance to the metal side interface, respectively.
  • ) dependency of the energy dissipation of this dipole is given by the following equation (5).
  • r ⁇ is a reflection coefficient (amplitude reflectance) for a p-polarized magnetic field having an in-plane wavenumber k
  • r + is the N layer side.
  • these reflection coefficients include the effects of all layers up to the substrate or air.
  • 2 + k z 2 ⁇ N ( ⁇ / c) 2.
  • c is the speed of light in vacuum.
  • ) corresponds to each propagation mode, and the in-plane wave number giving the maximum is the real part of the propagation constant of the mode.
  • the dipole is placed about 20 nm on the air side from the M / (M + 1) interface, and the same calculation is performed.
  • ) obtained by this calculation has a maximum at the same position as W ⁇ (k
  • the maximum value of energy dissipation at the in-plane wave number giving these two maximums is different between W ⁇ and W + .
  • the lattice pitch P (that is, the distance P1 between the centers of the recesses 18b and corresponds to the distance P2 between the centers of the protrusions 12a) is given by a different formula depending on the surface plasmon mode to be extracted. Specifically, the lattice pitch P 0 is given by the following equation (6) when a triangular lattice structure is formed as a two-dimensional lattice structure.
  • the lattice pitch P 0 is given by the following equation (7) when a square lattice structure is formed as a two-dimensional lattice structure. Note that the lattice pitch P given by the equations (6) and (7) and the particle size (that is, diameter) D of the particles are equal.
  • the surface plasmon mode is taken, the case of forming a triangular lattice structure as a two-dimensional lattice structure, and differs from in the case of taking a square lattice structure, with the grating pitch P 0 which satisfies the above expression (6)
  • the energy of the surface plasmon can be extracted as light.
  • the lattice pitch P is set so as to correspond to such a width. It is assumed that the variation allowable value in the range given by the above equation (1) is provided.
  • the particle size of the particles is calculated. Note that the etching method using such a particle single layer film can be produced only when a triangular lattice structure is formed as a two-dimensional lattice structure.
  • IZO corresponding to the anode conductive layer 14
  • 2-TNATA thinness 30 nm] (on the hole injection layer 16-1) from the reflective layer 22 side formed on the substrate 12 of the organic light emitting diode 10 / NPD [film thickness 70 nm] (corresponding to hole transport layer 16-2) / PH-1 doped with Ir (piq) 3 at a concentration of 5% [film thickness 30 nm] (light emitting layer 16 ⁇ 3) / Alq 3 [film thickness 30 nm] (corresponding to the electron transport layer 16-4) / Ag [film thickness 10 nm] (corresponding to the metal layer 18-1) / IZO [film thickness] 110 nm] (corresponding to the transparent conductive layer 18-2) / Air, energy dissipation as shown in FIG.
  • a broken line indicates energy dissipation when a dipole is placed at a distance of 20 nm from the back surface 18-1c of the metal layer 18-1 (that is, the back surface 18a of the cathode conductive layer 18),
  • the solid line shows energy dissipation when a dipole is placed at a distance of 20 nm from the surface 18-1a of the metal layer 18-1 on the air side.
  • )) / ( ⁇ 2 / 8 ⁇ N )] 5.0507 when a dipole is placed on the substrate side. ) Is higher than the peak Q (Log 10 [W (k
  • )) / ( ⁇ 2 / 8 ⁇ N )] 4.8804) when a dipole is placed on the air side, and k
  • 43.
  • the peak F Log 10 [W (k
  • )) / ( ⁇ 2 / 8 ⁇ N )] 4.0663) when a dipole is placed on the substrate side.
  • the former (k
  • 15.6 ⁇ m ⁇ 1 ) is a surface plasmon mode in which energy is concentrated on the back surface 18-1c of the metal layer 18-1 (the back surface 18a of the cathode conductive layer 18), and the latter (k
  • 43.6 ⁇ m ⁇ 1 ) is a surface plasmon mode in which energy is concentrated on the surface 18-1a of the metal layer 18-1 (that is, the surface on which the transparent conductive layer 18-2 is located). Recognize.
  • the particle diameter of the particle can be calculated from the above expressions (6), (7), and (1). Will be calculated.
  • Such particles preferably have a coefficient of variation in particle size (that is, a value obtained by dividing the standard deviation by the average value) of 15% or less, more preferably 10% or less, and even more preferably 5% or less.
  • a coefficient of variation in particle size that is, a value obtained by dividing the standard deviation by the average value
  • the deviation of the arrangement of the particle single layer film is small, the deviation of the arrangement in the two-dimensional lattice structure finally formed on the back surface 18a of the cathode conductive layer 18 (the back surface 18-1c of the metal layer 18-1) is also reduced. .
  • the particle material constituting the particle monolayer film examples include Al, Au, Ti, Pt, Ag, Cu, Cr, Fe, Ni, and Si. And metal oxides such as SiO 2 , Al 2 O 3 , TiO 2 , MgO 2 , and CaO 2 , organic polymers such as polystyrene and polymethyl methacrylate, other semiconductor materials, and inorganic polymers. Any of these may be used alone or in combination of two or more. Based on the lattice pitch to be acquired, the particle size of the particles can be calculated from the above-described equation (6).
  • the particles preferably have a hydrophobic surface. If the surface of the particles is hydrophobic, when the particle dispersion is developed on the liquid surface of the lower layer liquid in the water tank to form the particle single layer film, the particle single layer film can be easily used using water as the lower layer liquid. And the particle monolayer film can be easily transferred onto the substrate 12.
  • organic polymer particle materials such as polystyrene can be used as they are because the surface is hydrophobic, but metal and metal oxide particle materials can be made hydrophobic. It can be used by making it hydrophobic with an agent. Examples of such hydrophobizing agents include surfactants and alkoxysilanes. The method of using a surfactant as a hydrophobizing agent is effective for hydrophobizing a wide range of materials and is suitable for particulate materials such as metals and metal oxides.
  • surfactants cationic surfactants such as hexadecyltrimethylammonium bromide and decyltrimethylammonium bromide, and anionic surfactants such as sodium dodecylsulfate and sodium 4-octylbenzenesulfonate can be used.
  • anionic surfactants such as sodium dodecylsulfate and sodium 4-octylbenzenesulfonate
  • alkanethiol, disulfide compound, tetradecanoic acid, octadecanoic acid, and the like can also be used. Hydrophobization treatment using such a surfactant may be performed in a liquid by dispersing the particles in a liquid such as an organic solvent or water, or may be performed on particles in a dry state.
  • the hydrophobization treatment is performed in the liquid, for example, volatile substances composed of at least one of chloroform, methanol, ethanol, isopropanol, methyl ethyl ketone, ethyl ethyl ketone, toluene, n-hexane, cyclohexane, ethyl acetate, butyl acetate and the like.
  • surfactant may be mixed and dispersion
  • the surfactant is added after the particles are dispersed in this manner, the surface of the particles can be more uniformly hydrophobized.
  • the dispersion liquid after such a hydrophobization treatment can be used as a dispersion liquid for dropping on the liquid surface of the lower layer water as it is.
  • a surfactant is added to the aqueous dispersion, the surface of the particles is hydrophobized with an aqueous phase, and then an organic solvent is added to make the hydrophobized treatment.
  • An oil phase extraction method is also effective.
  • the dispersion thus obtained (that is, a dispersion in which particles are dispersed in an organic solvent) can be used as it is as a dispersion for dropping on the liquid surface of the lower layer water.
  • the type of organic solvent and the type of surfactant are appropriately selected and combined.
  • the type of organic solvent and the type of surfactant are appropriately selected and combined.
  • decyltrimethylammonium bromide when chloroform is selected as the organic solvent, it is preferable to use decyltrimethylammonium bromide as the surfactant.
  • the combination of the organic solvent and the surfactant for enhancing the particle dispersibility of the dispersion include ethanol and sodium dodecyl sulfate, methanol and sodium 4-octyl benzene sulfonate, methyl ethyl ketone and octadecanoic acid, and the like.
  • the ratio of the particles to be hydrophobized and the surfactant is preferably in the range of 1/3 to 1/15 times the mass of the surfactant with respect to the mass of the particles to be hydrophobized.
  • stirring the dispersion during the treatment or irradiating the dispersion with ultrasonic waves is also effective in improving the particle dispersibility.
  • the method of using alkoxysilane as a hydrophobizing agent is effective when hydrophobizing particulate materials such as Si, Fe, and Al and particulate materials such as SiO 2 , Al 2 O 3 , and TiO 2 . It should be noted that the present invention is not limited to these particle materials, and can basically be applied to any particle material as long as it has a hydroxyl group or the like on its surface.
  • Alkoxysilanes include monomethyltrimethoxysilane, monomethyltriethoxysilane, dimethyldiethoxysilane phenyltriethoxysilane, hexyltrimethoxysilane, decyltrimethoxysilane, vinyltrichlorosilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, 2- (3,4 epoxy cyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, 3-glycidoxypropyltriethoxysilane, p-styryltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane, 3-methacryloxypro Lutriethoxysilane, 3-
  • alkoxysilane When alkoxysilane is used as the hydrophobizing agent, it is hydrolyzed to an alkoxysilyl group silanol group in the alkoxysilane, and this silanol group is dehydrated and condensed to a hydroxyl group on the particle surface. Therefore, it is desirable to perform hydrophobization using alkoxysilane in water.
  • a dispersing agent such as a surfactant to stabilize the dispersion state of the particles before hydrophobizing.
  • the hydrophobizing effect of the alkoxysilane may be reduced depending on the type of the dispersant, the combination of the dispersant and the alkoxysilane is appropriately selected.
  • particles are dispersed in water, and this is mixed with an alkoxysilane-containing aqueous solution (that is, an aqueous solution containing an alkoxysilane hydrolyzate).
  • the reaction is carried out for a predetermined time, preferably 6 to 12 hours, with appropriate stirring in the range of room temperature to 40 ° C.
  • the reaction proceeds excessively, the silanol groups react with each other and the particles are bonded to each other, the particle dispersibility of the dispersion is lowered, and the resulting particle monolayer film is partially clustered. It is easy to become two or more layers aggregated together.
  • the reaction is insufficient, the surface of the particles is not sufficiently hydrophobized, and the obtained particle monolayer film tends to have a wide pitch between the particles.
  • alkoxysilanes other than amines are hydrolyzed under acidic or alkaline conditions, it is necessary to adjust the pH of the dispersion to acidic or alkaline during the reaction.
  • the method for adjusting the pH is not limited, but a method of adding an aqueous acetic acid solution having a concentration of 0.1 to 2.0% by mass is preferable because an effect of stabilizing a silanol group can be obtained in addition to promoting hydrolysis.
  • the ratio between the particles to be hydrophobized and the alkoxysilane is preferably in the range where the mass of the alkoxysilane is 1/10 to 1/100 times the mass of the particles to be hydrophobized.
  • the volume of the organic solvent to be added is preferably in the range of 0.3 to 3 times the dispersion before the addition of the organic solvent.
  • the dispersion thus obtained (that is, a dispersion in which particles are dispersed in an organic solvent) can be used as it is as a dispersion for dropping on the liquid surface of the lower layer water.
  • the particle monolayer film in which each particle is two-dimensionally closely packed with high accuracy can be easily obtained.
  • the particle concentration of the dispersion is preferably 1 to 10% by mass, and the dropping rate of the dispersion into the lower layer water is preferably 0.001 to 0.01 ml / second.
  • concentration and the amount of the drops in the dispersion are in the above ranges, the particles partially aggregate to form two or more layers, a defect portion where no particles are present, a pitch between particles is widened, etc.
  • the particle monolayer film forming step is preferably performed under ultrasonic irradiation conditions.
  • the particle monolayer film forming step is performed while irradiating ultrasonic waves from the lower layer water toward the liquid surface, the closest packing of particles is performed. It is possible to obtain a particle monolayer film in which each particle is closely packed in two dimensions with high accuracy.
  • the output of the ultrasonic wave is preferably 1 to 1200 W, and more preferably 50 to 600 W.
  • the frequency of the ultrasonic wave is not particularly limited, but is preferably 28 kHz to 5 MHz, and more preferably 700 kHz to 2 MHz.
  • the particle monolayer film may be destroyed at the liquid surface. Therefore, when the frequency of the ultrasonic wave is appropriately set, close-packing of particles can be effectively promoted without destroying the single particle film being formed.
  • the particle diameter is small, for example, 100 nm or less, the acoustic natural frequency of the particle becomes very high, and it is difficult to apply ultrasonic vibration as calculated. In this case, the calculation is performed assuming that the natural vibration is given to the mass of the particle dimer, trimer,..., About 20 mer, and the necessary frequency is reduced to a realistic range. be able to.
  • the ultrasonic irradiation time may be sufficient to complete the rearrangement of particles, and the required time varies depending on the particle size, the frequency of ultrasonic waves, the temperature of the lower layer water, and the like. However, under normal production conditions, it is preferably performed for 10 seconds to 60 minutes, more preferably 3 to 30 minutes.
  • the advantage obtained by ultrasonic irradiation is the effect of destroying the soft agglomerates of particles that tend to occur during dispersion adjustment, in addition to the close-packing of particles (that is, the random array is hexagonally close-packed). Even a point defect, a line defect, or a crystal transition once generated has a certain degree of repair effect.
  • the formation of the particle monolayer film on the liquid surface of the lower layer water described above is due to the self-organization of the particles, and the principle is that when the particles are aggregated, surface tension acts due to the dispersion medium existing between the particles. As a result, the particles do not exist randomly, but automatically form a two-dimensional close packed structure. Such close-packing by surface tension can be said to be arrangement by lateral capillary force in another expression.
  • three particles having a spherical shape, such as colloidal silica with a high particle size uniformity are floating on the liquid surface of the lower layer water and come into contact with each other, the total length of the water line of the particle group is minimized.
  • the surface tension acts and the three particles are stabilized in an arrangement based on an equilateral triangle. If the water line is at the apex of the particle group, that is, if the particles are submerged below the liquid surface, such self-organization does not occur and a particle monolayer film is not formed. Therefore, when one of the particles and the lower layer water is hydrophobic, it is important to make the other hydrophilic so that the particles do not dive under the surface of the lower layer water. As the lower layer liquid, it is preferable to use water as described above. When water is used, relatively large surface free energy acts, so that the close-packed arrangement of particles once generated is stable on the liquid surface. It will be easier to sustain.
  • (1-2-2) Migration Step the particle monolayer film formed on the liquid surface of the lower layer water by the particle monolayer film formation step is placed on the substrate original plate, which is an object to be etched, in a single layer state.
  • the specific method for transferring the particle monolayer film onto the substrate original plate is not particularly limited. For example, while maintaining the hydrophobic substrate original plate substantially parallel to the particle monolayer film from above, The particle monolayer film is brought into contact with the particle monolayer film, and the particle monolayer film is transferred to the substrate original plate by the affinity between the hydrophobic particle monolayer film and the substrate original plate, and the particle monolayer film is transferred to the substrate original plate.
  • the method can be used.
  • the substrate original plate before forming the particle monolayer film, is arranged in a substantially horizontal direction in the lower layer water of the water tank in advance, and after the particle monolayer film is formed on the liquid surface of the lower layer water By gradually lowering the liquid level, the particle monolayer film is transferred onto the substrate original plate.
  • the particle monolayer film can be transferred onto the substrate original plate without using a special apparatus.
  • the particle monolayer film has a larger area, its two-dimensional close-packed
  • the so-called LB trough method is preferably employed in that it can be easily transferred onto the substrate original plate while maintaining the filled state.
  • the substrate original plate is immersed in a substantially vertical direction with respect to the liquid level of the lower layer water in the lower layer water in the water tank (trough), and the particle single layer film forming step described above is performed in that state.
  • a particle monolayer film is formed on the liquid surface.
  • membrane formed on the liquid level of lower layer water can be moved on a board
  • the temperature condition of the transition step that is, the temperature of the lower layer water.
  • the temperature of the lower layer water which is the temperature condition of the transition process, is usually about 10 to 30 ° C., depending on the environmental temperature that varies depending on the season and weather.
  • a surface pressure sensor based on the principle of a Wilhelmy plate that measures the surface pressure of the particle monolayer film, and a movable barrier that compresses the particle monolayer film in a direction along the surface of the lower layer water.
  • a larger-area particle monolayer film can be more stably transferred onto the substrate original plate.
  • a preferable diffusion pressure is 5 to 80 mNm ⁇ 1 , more preferably 10 to 40 mNm ⁇ 1 . With such a diffusion pressure, it is easy to obtain a particle monolayer film in which each particle has a higher density and two-dimensional close packing. Further, the speed for pulling up the substrate original plate is preferably 0.5 to 20 mm / min.
  • a fixing process for fixing the particle single layer film on the substrate original plate may be performed as necessary.
  • the possibility of particles moving on the substrate original plate during the subsequent dry etching is suppressed, and the surface of the substrate original plate can be more stably and highly accurately detected. It becomes possible to etch. As the dry etching progresses, the particle size of each particle gradually decreases, so that the possibility of moving on the substrate original plate increases, and such a fixing step is effective.
  • a fixing treatment method there are a method using a binder and a sintering method.
  • a binder solution is supplied to the particle single layer film side of the substrate original plate on which the particle single layer film is formed, and this is infiltrated between the particle single layer film and the substrate original plate.
  • the amount of the binder used is preferably 0.001 to 0.002 times the mass of the particle monolayer film. In such a range, there is too much binder and the binder is clogged between particles, and there is no problem of adversely affecting the etching accuracy of the particle monolayer film, and the particles can be sufficiently fixed. It can be done.
  • the excess of the binder solution may be removed by using a spin coater or tilting the substrate.
  • the material type of the binder solution it is possible to use alkoxysilane, a general organic binder, an inorganic binder or the like previously shown as a hydrophobizing agent.
  • Heat treatment is appropriately performed.
  • alkoxysilane when used as a binder, it is preferably heat-treated at 40 to 80 ° C. for 3 to 60 minutes.
  • a sintering method is used as the fixing treatment method, the substrate original plate on which the particle monolayer film is formed is heated to fuse each particle constituting the particle monolayer film to the substrate. .
  • the heating temperature may be determined according to the material of the particles and the material of the substrate, but particles having a particle size of 1 ⁇ m or less start an interfacial reaction at a temperature lower than the original melting point of the substance, so The sintering is complete. If the heating temperature is too high at the time of sintering, the fused area of the particles increases, and as a result, the shape of the particle monolayer film may change, which may adversely affect accuracy. In addition, when heating is performed in air, the substrate and each particle may be oxidized. Therefore, it is preferable to perform the heating in an inert gas atmosphere. When sintering is performed in an atmosphere containing oxygen, it is necessary to set conditions in consideration of an oxide layer in a dry etching process described later.
  • the deviation S (%) of the particle arrangement defined by the following formula (8) is 10% or less.
  • S (%)
  • the “average particle size of particles” in A is the average primary particle size of the particles constituting the particle monolayer film, and the particle size distribution calculated by the particle dynamic light scattering method is Gaussian. It can be obtained by a conventional method from a peak obtained by fitting to a curve.
  • the “average pitch between particles in the particle monolayer film” of B is the average value of the distance between the apexes of the two adjacent particles in the particle monolayer film. If the particles are spherical, the distance between the vertices of adjacent particles is equal to the distance between the centers of the adjacent particles.
  • the average pitch between particles in the particle single layer film is obtained in the same manner as the center-to-center distance P2 of the convex portions 12a by AFM. In the particle monolayer film in which the deviation S of the particle arrangement is 10% or less, each particle is two-dimensionally closely packed and the interval between the particles is controlled, and the accuracy of the arrangement becomes high.
  • the substrate 12 having a structure in which a plurality of convex portions 12b are periodically arranged two-dimensionally by dry etching the substrate surface covered with the particle single layer film as described above. Can be obtained. Specifically, when dry etching is started, first, the etching gas passes through the gaps between the particles constituting the particle single layer film and reaches the surface of the substrate original plate, and the etching gas reaches the surface where the etching gas has reached. As a result, the substrate surface is etched to form concave portions, and convex portions appear at portions where the respective particles are located.
  • the height and shape of the convex portions to be formed can be adjusted.
  • the etching gas used for dry etching include Ar, SF 6 , F 2 , CF 4 , C 4 F 8 , C 5 F 8 , C 2 F 6 , C 3 F 6 , C 4 F 6 , and CHF 3.
  • etching apparatus As an etching apparatus that can be used, a reactive ion etching apparatus, an ion beam etching apparatus, or the like that can perform anisotropic etching and can generate a bias electric field of about 10 W at the minimum can generate plasma.
  • the specifications such as system, electrode structure, chamber structure, and frequency of the high frequency power supply.
  • Various conditions such that the etching selectivity in this dry etching process (that is, the etching rate of the substrate / the etching rate of the particle monolayer film) is 1.0 or less. It is preferable to set the material of the substrate, the type of etching gas, bias power, antenna power, gas flow rate and pressure, etching time, and the like.
  • a quartz substrate is selected as the substrate, and a particle monolayer film made of colloidal silica particles is formed on the quartz substrate.
  • a gas such as Ar or CF 4 as the gas
  • etching with a relatively low pitch to amplitude ratio can be performed.
  • the bias power of the electric field is set to several tens to several hundreds W
  • the positively charged particles in the etching gas in the plasma state are accelerated and incident on the substrate at a high speed almost vertically. Therefore, when a gas having reactivity with the substrate is used, the reaction rate of the physicochemical etching in the vertical direction can be increased.
  • isotropic etching by radicals generated by plasma also occurs in parallel.
  • Etching by radicals is chemical etching, and isotropically etches in any direction of the object to be etched.
  • the etching rate cannot be controlled by setting the bias power, and the etching rate is controlled by the concentration of the etching gas in the chamber.
  • a certain level of gas pressure must be maintained. Therefore, as long as reactive gas is used, the influence of radicals cannot be made zero.
  • the bias power is mainly adjusted, and a so-called deposition gas is used together depending on the situation, so that the ratio between the distance between the centers of the protrusions on the substrate surface and the height of the protrusions (center A two-dimensional lattice structure having a relatively low (distance / height) can be formed.
  • the center distance C of the convex portions is determined in the same manner as the method for determining the average pitch B between the particles in the particle monolayer film, the center distance C is: It becomes almost the same value as the average pitch B of the used particle monolayer film. Further, regarding this structure, when an alignment shift S ′ (%) defined by the following equation (9) is obtained, the value is also substantially the same as the alignment shift S in the used particle monolayer film.
  • the reflective layer 22 and the anode conductive layer 14 are sequentially laminated on the surface 12a of the substrate 12 on which the two-dimensional lattice structure is formed by the plurality of convex portions 12b, and holes are formed on the surface 14a of the anode conductive layer 14.
  • the organic EL layer 16 is formed by sequentially stacking the injection layer 16-1, the hole transport layer 16-2, the light emitting layer 16-3, the electron transport layer 16-4, and the electron injection layer 16-5.
  • the organic light emitting diode 10 can be obtained by sequentially laminating the metal layer 18-1 and the transparent conductive layer 18-2 on the surface 16-5a of 5 to form the cathode conductive layer 18.
  • the method for laminating these layers is not particularly limited, and a known technique used for manufacturing a general organic light emitting diode can be used.
  • the anode conductive layer 14 and the transparent conductive layer 18-2 can be formed by sputtering, vacuum deposition, or the like, respectively.
  • the reflective layer 22, the hole injection layer 16-1, the hole transport layer 16-2, the light emitting layer 16-3, the electron transport layer 16-4, the electron injection layer 16-5, and the metal layer 18-1 are each vacuum deposited. It can be formed by the method.
  • the two-dimensional lattice structure by the plurality of convex portions 12b on the surface 12a of the substrate 12 is reflected to the transparent conductive layer 18-2 by sequentially laminating each layer as described above.
  • a two-dimensional lattice structure is formed by a plurality of convex portions or concave portions corresponding to the two-dimensional lattice structure by the plurality of convex portions 12b formed on the surface 12 of the substrate 12. It becomes.
  • the organic light emitting diode 10 is manufactured based on the above-described manufacturing method.
  • substrate / Ag [film thickness 50 nm] / IZO [film thickness 20 nm] / 2-TNATA [film thickness 30 nm] / NPD [film thickness 70 nm] / Ir (piq) 3 @ PH-1 (5%) [film thickness 30 nm] / Alq 3 [film thickness 30 nm] / MgAg [film thickness 10 nm] / IZO [film thickness 110 nm].
  • the organic light emitting diode 10 includes a substrate 12 made of quartz glass, a reflective layer 22 made of Ag with a thickness of 50 nm, an anode conductive layer 14 made of IZO with a thickness of 20 nm, 2- A 30 nm thick hole injection layer 16-1 formed by TNATA, a 70 nm thick hole transport layer 16-2 formed by NPD, and PH-1 doped with 5% Ir (piq) 3.
  • a light emitting layer 16-3 having a thickness of 30 nm
  • an electron transport layer 16-4 having a thickness of 30 nm formed by Alq 3 (tris (8-hydroxyquinolinato) aluminum), and an MgAg (Ag content of 70% or more).
  • the particle size of the particles that form the particle monolayer film necessary for fabricating the two-dimensional lattice structure with the plurality of convex portions 12b on the surface 12a of the substrate 12 is calculated. To do. That is, in the organic light emitting diode 10, the intensity of energy dissipation when the thickness of the metal layer 18-1 in the cathode conductive layer 18 is 10 nm is obtained by the above equation (2).
  • particles of a particle forming a particle monolayer film when energy of surface plasmons generated on the back surface 18-1c of the metal layer 18-1 (that is, the back surface 18a of the cathode conductive layer 18) is extracted as propagating light.
  • the diameter is to be calculated.
  • the second mode (peak) from the larger wave number is the energy dissipation intensity of the surface plasmon generated on the back surface 18-1c of the metal layer 18-1 (the back surface 18a of the cathode conductive layer 18). Therefore, the in-plane wave number k
  • the peak intensity is not the purpose but the purpose is to obtain the value of k
  • the lattice pitch P is calculated using the above-described equation (6) or (7), and the calculated lattice pitch P and In this manner, various conditions may be adjusted.
  • the particle diameter D of the particle calculated by the above formula (6) 5.0 mass% water of colloidal silica having an average particle diameter of 451.2 nm and a coefficient of variation of the particle diameter of 4.0%.
  • a dispersion (dispersion) was prepared. The average particle diameter and the coefficient of variation of the particle diameter were calculated from peaks obtained by fitting the particle size distribution obtained by the particle dynamic light scattering method by Zetasizer Nano-ZS manufactured by Malvern Instruments Ltd. to a Gaussian curve.
  • an aqueous solution containing a hydrolyzate of phenyltriethoxysilane having a concentration of 1.0% by mass is added to the dispersion, and the temperature is about 40 ° C.
  • the reaction was performed for 3 hours.
  • the dispersion and the aqueous solution were mixed so that the mass of phenyltriethoxysilane was 0.015 times the mass of the colloidal silica particles.
  • methyl isobutyl ketone having a volume five times that of the dispersion was added to the dispersion after the reaction and stirred to extract the hydrophobized colloidal silica in the oil phase.
  • a hydrophobized colloidal silica dispersion liquid having a concentration of 1.05% by mass obtained in this manner includes a surface pressure sensor for measuring the surface pressure of the particle monolayer film, and a movable barrier for compressing the particle monolayer film in a direction along the liquid surface. It dropped at a drop rate of 0.01 ml / second onto the liquid surface (water was used as the lower layer liquid and the water temperature was 26.5 ° C.) stored in the water tank (LB trough device) provided. In the lower layer water stored in the water tank, a transparent quartz substrate (30 mm ⁇ 30 mm ⁇ 1.0 mm, double-sided mirror polished) to be used as the substrate 12 of the organic light emitting diode 10 in advance is immersed in a substantially vertical direction.
  • the hydrophobized colloidal silica dispersion liquid started dripping onto the surface of the lower layer water, it was made hydrophobic by irradiating with ultrasonic waves for 10 minutes from the lower layer water toward the liquid surface under the conditions of an output of 100 W and a frequency of 1500 kHz.
  • the colloidal silica particles were promoted to be two-dimensionally closely packed, and methyl isobutyl ketone, which is an organic solvent in the dispersion, was volatilized to form a particle monolayer film on the liquid surface of the lower layer water.
  • the formed particle monolayer film is compressed by a movable barrier until the diffusion pressure becomes 22 to 30 mNm ⁇ 1 , the substrate 12 is pulled up at a speed of 3 mm / min, and the particle monolayer is applied to one surface of the substrate 12.
  • the membrane was removed.
  • One surface of the substrate 12 is a surface on which a two-dimensional lattice structure is to be formed.
  • the substrate 12 on which the particle monolayer film was formed was obtained in this way, next, the substrate 12 was dry-etched with CHF 3 gas.
  • the conditions for this dry etching process were an antenna power of 1500 W, a bias power of 50 to 300 W (13.56 MHz), and a gas flow rate of 50 to 200 sccm.
  • the cross-sectional shape was a truncated cone shape (see FIG. 7B), and the planar arrangement was a triangular lattice shape.
  • the fine concavo-convex structure arranged in (1) was formed (see FIG. 7A).
  • the average value of three tests was 455.4 nm. It was. Further, the average value of the convex portions of the fine concavo-convex structure in 25 regions of 5 ⁇ m ⁇ 5 ⁇ m randomly selected from the AFM image was calculated, and the average value of each of the 25 locations was further averaged. The average height h of the convex portions in the fine concavo-convex structure was 30.9 nm. Furthermore, as a result of calculation using the above-described equation (11), the displacement S of the sequence was 4.9%.
  • the ratio (average height h / center distance p ′) between the average height h and the average value of the center distance p ′ was 0.078.
  • Ag was formed into a film with a thickness of 50 nm as a reflective layer 22 on one surface of the substrate 12 on which the fine concavo-convex structure was formed.
  • IZO was deposited as the anode conductive layer 14 to a thickness of 20 nm by a sputtering method.
  • 2-TNATA was formed as a hole injection layer 16-1 with a thickness of 30 nm by vapor deposition.
  • ⁇ -NPD 4,4′-bis [N-1-naptyl] -N-phenyl-amino] -biphenyl
  • ⁇ -NPD 4,4′-bis [N-1-naptyl] -N-phenyl-amino] -biphenyl
  • Alq 3 was deposited on the light-emitting layer 16-3 by an evaporation method as an electron transport layer 16-4 to a thickness of 30 nm, and further, a metal layer 18-1 was formed on the electron transport layer 16-4.
  • the organic light emitting diode 10 was fabricated by forming a film with a thickness by sputtering. In addition, the light emission area was produced in 2 * 2 mm by using a mask in the case of vapor deposition and sputtering.
  • a two-dimensional lattice structure including a plurality of convex portions 12 b is formed on the surface 12 a of the substrate 12, and the reflective layer 22 and the anode conductive layer 14 are formed on the substrate 12.
  • the cathode electroconductive layer 18 composed of the organic EL layer 16 and the metal layer 18-1 formed in a thin layer so as to transmit visible light and the transparent electroconductive layer 18-2 for improving conductivity are sequentially laminated.
  • the top emission type is configured such that light generated in the organic EL layer 16 is extracted from the cathode conductive layer 18 side.
  • the particle size of the particles for forming the particle single layer film is calculated by the above-described equation (4).
  • an image display device using such an organic light emitting diode 10 it is possible to manufacture a long-life, low-power image display device. Furthermore, a long-life, low-power lighting device can be manufactured by using the organic light emitting diode 10 to manufacture a lighting device.
  • FIG. 8 shows a schematic cross-sectional explanatory diagram showing a second embodiment of the organic light-emitting diode according to the present invention.
  • the surface on the upper side in the height direction of each layer constituting the monochromatic organic light emitting diode 100 is appropriately referred to as the upper surface.
  • the lower surface in the height direction is appropriately referred to as the lower surface.
  • the organic light emitting diode according to the second embodiment of the present invention has a concavo-convex structure in which a plurality of concave portions or convex portions are two-dimensionally arranged on the surface by a dry etching method using a particle single layer film as an etching mask.
  • EL layer electroluminescent layer
  • a particle monolayer film is prepared using a mixture of a plurality of particles having different particle diameters, and using such a particle monolayer film, an organic light emitting diode having an uneven structure that satisfies the following requirements: A substrate is manufactured.
  • the shorter wavelength is ⁇ 1
  • the longer wavelength is ⁇ 2
  • the cathode conductive layer When the real part of the propagation constant of the surface plasmon corresponding to the wavelengths 2 ⁇ 1 - ⁇ peak and 2 ⁇ 2 - ⁇ peak at the interface with the organic electroluminescent layer is k 1 and k 2 , respectively, the power of the height distribution of the interface
  • a fine concavo-convex structure is prepared so as to have a value of.
  • the light generated from the organic light emitting diode in the visible light to near infrared region (380 nm to 2500 nm), it is possible to stably obtain the light extraction efficiency of a narrow band having a certain extent around an arbitrary wavelength. be able to.
  • the organic light emitting diode according to the present invention will be described in detail below.
  • the organic light emitting material molecules contained in the light emitting layer in the EL layer emit light
  • near-field light is generated in the very vicinity. Since the distance between the light emitting layer and the metal layer that is the cathode conductive layer is very short, the near-field light is converted into a propagation type surface plasmon on the surface of the metal layer.
  • the propagation type surface plasmon on the surface of the metal layer free-electron density waves near the surface are accompanied by a surface electromagnetic field.
  • the surface plasmons cannot be extracted as light because the dispersion curve of the surface plasmons and the dispersion line of light (spatial propagation light) do not intersect.
  • the dispersion curve of the spatially propagated light diffracted by the fine concavo-convex structure crosses the dispersion curve of the surface plasmon, and the energy of the surface plasmon Can be extracted as radiant light.
  • the two-dimensional uneven structure on the surface of the metal layer on the organic EL layer side, the energy of light lost as surface plasmon is extracted, and the extracted energy is emitted as radiation light on the surface of the metal layer. Radiated from.
  • the fine concavo-convex structure has periodicity, the light radiated from the metal layer has high directivity, most of which is the light extraction surface (the surface of the organic light emitting diode on the side of the organic light emitting diode substrate or on the opposite side). ) Therefore, high intensity light is emitted from the light extraction surface, and the light extraction efficiency is improved.
  • the above-described two-dimensional uneven structure has a lattice structure with high periodicity.
  • an organic light emitting diode having a periodic lattice structure is formed by dry etching using a particle single layer film having a small arrangement deviation using particles having a single particle size and using this as an etching mask.
  • a periodic grating structure is formed on the surface of the metal layer on the organic EL layer side.
  • the two-dimensional concavo-convex structure finally formed on the surface of the metal layer on the organic EL layer side has a lower periodicity than that of Patent Document 4, and the distribution of the intervals between the concave portions or the convex portions is somewhat Has a width.
  • the fine concavo-convex structure is slightly changed in matching the fine concavo-convex structure and the extraction wavelength by giving a certain width to the distribution of the interval between the concave or convex portions.
  • the organic light emitting diode according to the second embodiment of the present invention for example, three types of particles A and B having different particle diameters are used.
  • the power spectrum of the height distribution on the surface of the organic light emitting diode substrate having such an uneven structure is As shown in FIG. 9 (a-2). That is, the power spectrum is not a delta function-like point sequence arranged on an annulus as shown in FIG.
  • An organic light emitting diode 100 according to the present invention shown in FIG. 8 is an organic light emitting diode having a layer structure of a type generally referred to as a bottom emission type. More specifically, the organic light emitting diode 100 is formed by laminating an anode conductive layer 104 made of a transparent conductor on the upper surface of the transparent substrate 102 with the transparent substrate 102 serving as an organic light emitting diode substrate as a bottom, and forming an anode conductive layer.
  • An EL layer 106 formed of a plurality of light emitting layers or the like is stacked on the upper surface of 104, and a cathode conductive layer (metal layer) 108 made of metal is stacked on the surface of the EL layer 106.
  • a plurality of three types of convex portions 102a, convex portions 102b, and convex portions 102c having different diameters are provided at the interface with the anode conductive layer 104, which is the surface of the transparent substrate 102. Arrange and form a concavo-convex structure.
  • the convex portions 102a, the convex portions 102b, and the convex portions 102c forming such a concavo-convex structure are randomly arranged in two dimensions, and as a result, the power spectrum of the concavo-convex structure has a certain width. That is, the annular width of the power spectrum is thicker than the delta function-like point sequence shown in (a-2) of FIG.
  • the EL layer 106 is made of a single organic light emitting material, and each layer includes a hole injection layer 106-1, a hole transport layer 106-2, a light emitting layer 106-3 made of an organic light emitting material, and an electron transport layer.
  • Each layer constituting the EL layer 106 may have one role or may have two or more roles.
  • the case where one layer serves as two or more roles includes the case where one layer serves as both an electron transport layer and a light emitting layer.
  • the electron injection layer 106-5 and the cathode conductive layer 108 stacked on the uppermost surface are sequentially stacked on the transparent substrate 102. Therefore, the concavo-convex structure of the transparent substrate 102 is reflected in each layer, and the transparent substrate 102 An uneven structure similar to the formed uneven structure is formed on the upper surface of each layer.
  • each of the anode conductive layer 104 and the EL layer 106 is a hole injection layer 106-1, a hole transport layer 106-2, a light emitting layer 106-3, an electron transport layer 106-4, an electron injection layer 106-5, and a cathode conductivity.
  • a two-dimensional concavo-convex structure having a shape obtained by inverting the concavo-convex structure described above is formed on the lower surface of each layer of the layer 108.
  • a power source 110 is connected so that a voltage can be applied to the anode conductive layer 104 and the cathode conductive layer 108.
  • the organic light emitting diode 100 When a voltage is applied from the power source 110 to the anode conductive layer 104 and the cathode conductive layer 108, holes and electrons are injected from the respective layers of the anode conductive layer 104 and the cathode conductive layer 108 into the EL layer 106. The injected holes and electrons are combined in the light emitting layer 106-3 to generate excitons, and emit light when these excitons recombine.
  • the organic light emitting diode 100 according to the present invention is realized. The features such as the material and shape for manufacturing each layer constituting the organic light emitting diode 100 will be described in detail below. And
  • a material for producing the transparent substrate 102 may be any material that transmits light having a target wavelength extracted from the organic light emitting diode 100. It can be manufactured using materials including inorganic materials and organic materials and combinations thereof. For example, it is possible to use the inorganic material and the organic material exemplified as the transparent material in the first embodiment. The selection criteria for the material used for such a transparent substrate depends on the use of the organic light emitting diode. In general, a material having a high visible light transmittance is used as the material of the transparent substrate 102.
  • the visible light transmittance is preferably 70% or more, and 80% or more is more preferable. 90% or more is more preferable.
  • the substrate material does not necessarily have to be transparent.
  • a concavo-convex structure in which a plurality of convex portions 102a, convex portions 102b, and convex portions 102c having different diameters are arranged on the surface of the transparent substrate 102 and are randomly arranged in two dimensions. Provided (see FIG. 10B).
  • the anode conductive layer 104, the EL layer 106 (a hole injection layer 106-1, a hole transport layer 106-2, a light emitting layer 106-3, an electron transport layer 106-4, an electron The injection layer 106-5) is sequentially laminated. Since each layer is laminated facing the concavo-convex structure, the same concavo-convex structure as the surface of the transparent substrate 102 is formed on the upper surface of each layer.
  • the cathode conductive layer 108 is finally stacked on the EL layer 106, the same uneven structure as the uneven structure on the surface of the transparent substrate 102 is formed on the upper surface of the cathode conductive layer 108 as in the other layers.
  • a two-dimensional concavo-convex structure in which the concavo-convex structure on the surface of the transparent substrate 102 is inverted a two-dimensional concavo-convex structure in which a plurality of concave portions 108a, concave portions 108b, and concave portions 108c are two-dimensionally arrayed (hereinafter referred to as a two-dimensional concavo-convex structure) , Referred to as “reverse uneven structure” as appropriate) (see FIG. 10A).
  • the diameters and depths of the recesses 108a, the recesses 108b, and the recesses 108c in the reverse uneven structure described above coincide with the diameters and heights of the protrusions 102a, the protrusions 102b, and the protrusions 102c in the uneven structure on the surface of the transparent substrate 102.
  • the arrangement pattern of the concave portions 108a, the concave portions 108b, and the concave portions 108c in the reverse concave-convex structure matches the arrangement pattern of the convex portions 102a, convex portions 102b, and convex portions 102c in the concave-convex structure on the surface of the transparent substrate 102.
  • the above-mentioned “two-dimensional random arrangement” means that a plurality of convex portions 102a, convex portions 102b, convex portions 102c, or concave portions 108a, concave portions 108b, and concave portions 108c are arranged on the same plane, and In other words, the interval between the centers and the direction of arrangement are not constant and are irregularly arranged.
  • an ideal two-dimensional lattice is a structure arranged at regular intervals in at least two directions.
  • the concavo-convex structure in the present invention corresponds to a structure in which such an arrangement of triangular lattices and square lattices is made somewhat uneven (randomized).
  • the “some degree” does not have a numerically defined range, but means a state.
  • “To some extent random” and “to some extent non-uniform” do not mean that the power spectrum of the height distribution of the concavo-convex structure has a delta function peak at a specific wave number, for example, wave numbers including wave numbers K 1 and K 2.
  • the method for obtaining the wave number of the surface plasmon is the same as that for the layer structure of the organic light emitting diode in the case where there is no unevenness, and the concept of the organic light emitting diode is the same for both the bottom emission type and the top emission type.
  • the first layer is composed of the substrate, and the Lth layer is Composed of air.
  • the l (el) layer is one of layers constituting the layers of organic light emitting diodes, and its thickness is assumed that d l, also, its dielectric constant which is given by epsilon l And
  • the thickness d L of the L-th layer is infinite.
  • the thickness d 1 of the first layer may be infinite.
  • the propagation constant of the surface plasmons propagating through the interfaces on both sides of the Mth layer is obtained.
  • This mode concentrates on the interface with the (M + 1) th layer, which is the layer immediately above.
  • the former will be appropriately referred to as M ⁇ mode and the latter as M + mode as appropriate.
  • the surface plasmon propagation constants in these two modes are obtained by solving the system's niequation.
  • this eigen equation cannot be solved analytically, but can only be solved numerically using a nonlinear optimization technique. This calculation becomes more difficult as the total number of parameters increases.
  • the propagation constant of surface plasmons is a complex number, and the above eigen equation accurately gives this complex propagation constant.
  • a method obtained by simple calculation can be applied.
  • the propagation modes (surface plasmon mode and waveguide mode) of the layer structure are characterized by propagation constants.
  • This propagation constant relates to a component parallel to the interface (hereinafter referred to as an in-plane wave number) in the wave number of the propagation mode.
  • an in-plane wave number a component parallel to the interface
  • the energy is dissipated in each mode of the layer structure. Since each mode has a different propagation constant, that is, an in-plane wave number, by examining the in-plane wave number dependence of the energy dissipated from the dipole, it is possible to know which propagation mode this layer structure has.
  • the specific calculation procedure of the in-plane wave number dependence of the dissipative energy of the dipole is as follows.
  • the arrows d ⁇ and d + indicate the distances from the dipole to the lower interface of the Nth layer and the upper interface of the Nth layer, respectively. Further, it is assumed that the moment of the dipole is ⁇ , and the dipole is oscillating at the extraction angular frequency ⁇ .
  • ) dependence of the energy dissipation of this dipole is given by the following equation (5).
  • r ⁇ is a reflection coefficient (amplitude reflectance) of p-polarized light having an in-plane wavenumber k
  • at the N / (N + 1) interface see FIG. 4.
  • K z is a normal component of the wave vector of the light wave in the Nth layer, and is given by k
  • 2 + k z 2 ⁇ N ( ⁇ / c) 2 .
  • C is the speed of light in vacuum.
  • ) of the energy dissipation corresponds to each propagation mode, and the in-plane wave number giving the maximum is the real part of the propagation constant of the mode.
  • the dipole is placed about 20 nm on the air side from the M / (M + 1) interface, and the same calculation is performed.
  • ) of energy dissipation obtained by this calculation has a maximum at the same position as W ⁇ (k
  • FIG. 11 shows energy dissipation when a dipole is placed at a distance of 20 nm from the back surface of the metal layer of the organic light emitting diode, and a dipole at a distance of 20 nm from the back surface of the metal layer of the organic light emitting diode.
  • the energy dissipation diagram is a graph showing which in-plane wave number the dipole energy placed on the element is dissipated, so that in-plane wave numbers such as surface plasmons and guided modes can be understood. .
  • a concavo-convex structure of a bottom emission type organic light emitting diode having a concavo-convex structure on the surface of the cathode conductive layer will be considered.
  • the shorter wavelength is ⁇ 1 and the longer wavelength is ⁇ 2
  • the wave number k 1 of the surface plasmon corresponding to ⁇ min is obtained.
  • W ⁇ is calculated using the angular frequency corresponding to ⁇ min , the dielectric constant of each layer, and Equation (5).
  • the thickness of the cathode conductive layer is assumed to be infinite in the calculation.
  • the wave number of the rightmost peak of the energy dissipation diagram obtained by calculating W ⁇ in this way is k 1 .
  • the wave number k 2 of the surface plasmon corresponding to ⁇ max is obtained by the same method.
  • W + is calculated using the angular frequency corresponding to ⁇ max , the dielectric constant of each layer, and Equation (5).
  • a concavo-convex structure like this is produced inside a bottom emission type organic light emitting diode.
  • the integral value of the spectral intensity within this wave number range is adjusted to have an intensity of 50% or more of the entire spectral intensity.
  • the integral value of the spectrum intensity is 50% or less of the entire spectrum intensity
  • the absolute amount of the extracted energy is reduced.
  • the spectrum is reduced. Since the integrated value of the intensity has an intensity of 50% or more of the entire spectrum intensity, a certain effect can be obtained without reducing the extraction efficiency.
  • the average height of the uneven structure on the surface of the transparent substrate 102 used in the present invention is 15 nm or more and 180 nm or less.
  • the average height of the concavo-convex structure here means the average height of the convex portions 102a, the convex portions 102b, and the convex portions 102c of the transparent substrate 102.
  • the average height of the convex portions 102a, the convex portions 102b, and the convex portions 102c is preferably 15 nm or more and 180 nm or less, and more preferably 20 nm or more and 100 nm or less.
  • the average height of the protrusions is less than 15 nm or more than 180 nm, the effect of improving the light extraction efficiency from the organic light emitting diode 100 becomes insufficient.
  • the average height of the protrusions is less than 15 nm, the height of the protrusions is too low to generate a sufficient surface plasmon diffracted wave as a two-dimensional uneven structure. The effect of extracting the light as radiant light will be reduced.
  • the average height of the protrusions exceeds 180 nm, the height of the protrusions is too high, and the unevenness is steep when the anode conductive layer 104, the EL layer 106, and the cathode conductive layer 108 are stacked.
  • the average height of the convex portions is 15 nm or more and 180 nm or less.
  • FIG. 12 is an explanatory view showing an AFM image obtained by measuring the concavo-convex structure formed on the organic light emitting diode substrate according to the present invention by AFM.
  • the lightness in the AFM image varies depending on the height of the convex portion, and the lightness is high in the portion where the height of the convex portion is high, while the lightness is low in the portion where the height of the convex portion is low. . Since such an AFM image acquisition method is a known technique, a description thereof will be omitted.
  • a straight line is drawn in a diagonal direction on the 5 ⁇ m ⁇ 5 ⁇ m AFM image obtained in this way, and the heights of the convex portions 102a, 102b, and 102c intersecting with the straight line are measured, and the height of the convex portions is measured. Find the average of the measured values.
  • the height is measured as follows.
  • the average height of the protrusions is set within a range of 15 nm or more and 180 nm or less.
  • the average height of the convex portion can be adjusted by dry etching conditions when performing dry etching using the particle single layer film as an etching mask.
  • the diameters and average depths of the recesses 108a, the recesses 108b, and the recesses 108c forming the reverse uneven structure are the same as the diameters and the average heights of the protrusions 102a, 102b, and 102c, respectively (FIG.
  • the average depth of the concave portion can be quantified indirectly from the average height of the convex portion.
  • the light extraction effect of the present invention is not given, for example, in the case of a concavo-convex structure formed using a particle monolayer film having a concavo-convex structure formed using particles having a single particle diameter as an etching mask, the power spectrum Since the intensity has a value only for one wave number and is not distributed over the entire wave number region having a width between the wave number K 1 and the wave number K 2 , if there is a slight mismatch between the extraction wavelength and the concavo-convex structure It becomes difficult to obtain a light extraction effect stably.
  • the anode conductive layer 102 is composed of a transparent conductor that transmits target light.
  • a transparent conductive material for example, the materials exemplified in the first embodiment can be used.
  • the anode conductive layer 102 has a thickness of 30 to 500 nm.
  • the thickness of each layer which comprises the organic light emitting diode 100 can be measured with a spectroscopic ellipsometer, a contact-type level difference meter, AFM, etc.
  • the EL layer 106 is composed of a plurality of layers, and in detail, a hole injection layer 106-1 and a hole transport layer 106-2.
  • the light emitting layer 106-3, the electron transport layer 106-4, and the electron injection layer 106-5 are laminated.
  • Such a configuration of the EL layer 106 may include at least a light emitting layer containing an organic light emitting material, and may be composed of only the light emitting layer.
  • the hole injection layer 106-1 and the electron injection layer 106-5 can be omitted depending on the layer structure, and the electron transport layer 106-4 can also serve as the light emitting layer 106-3.
  • organic light emitting material constituting the light emitting layer 106-3 conventionally known organic light emitting materials constituting the light emitting layer of the organic EL have been used.
  • organic light emitting material include an organic semiconductor compound that generates fluorescence and / or phosphorescence, a compound obtained by doping the organic semiconductor compound into another substance (host material), a compound obtained by doping the organic semiconductor compound with a doping material, and the like. Is mentioned.
  • an organic compound that generates fluorescence and / or phosphorescence materials such as a pigment material, a metal complex material, and a polymer material are known, and any material may be used.
  • the dye-based organic compound include, for example, the aforementioned DPAVB, 2,3,6,7-tetrahydro-1,1,7,7-tetramethyl-1H, 5H, 11H-10- (2-Benzothiazolyl) quinolidino [9,9a, 1-gh] (hereinafter abbreviated as coumarin C545T), 4,4′-bis (2,2-diphenyl-ethen-1yl) biphenyl which is a distilarylene derivative. (Hereinafter abbreviated as DPVBi).
  • the metal complex-based organic compound include, for example, the above-described Alq, ZnPBO, Tris [1-phenylisoquinoline-C2, N] iridium (III) (hereinafter abbreviated as Ir (piq) 3 ). ) And the like.
  • the hole transport material mentioned later an electron transport material, etc. can be utilized, for example.
  • the doping material is used for the purpose of improving luminous efficiency and changing the wavelength of generated light.
  • BcZVBi 4,4′-bis (9-ethyl-3- carbazovinylene) -1,1′-biphenyl
  • organic materials are used as materials constituting the hole injection layer 106-1, the hole transport layer 106-2, and the electron transport layer 106-4, respectively.
  • the material constituting the hole injection layer 106-1 that is, the hole injection material
  • the hole injection material include the aforementioned 2-TNATA.
  • the material constituting the hole transport layer 106-2 that is, as the hole transport material, for example, the above-mentioned TPD, CuPc, 4,4′-bis [N-1-naptyl] -N-phenyl-amino] — and aromatic amine compounds such as biphenyl (hereinafter abbreviated as ⁇ -NPD).
  • Examples of the material constituting the electron transport layer 106-4 that is, the electron transport material, include metal complex compounds such as the above-described oxadiol compounds such as Alq, BND, and PBD.
  • metal complex compounds such as the above-described oxadiol compounds such as Alq, BND, and PBD.
  • lithium fluoride (LiF) or the like can be given as a material constituting the electron injection layer 106-5. Note that in this embodiment mode, the electron injection layer 106-5 is used as the EL layer 106; however, the use of the electron injection layer 106-5 is not essential. However, if the electron injection layer 106-5 is provided between the electron transport layer 106-4 and the cathode conductive layer 108, the work function difference can be reduced. -4 has an effect that electrons easily migrate.
  • the electron injecting layer can be substituted.
  • the electron injecting layer 106-5 is not provided.
  • an electron injection effect can be obtained.
  • the EL layer 106 made of the above materials is usually preferably formed so as to have a total thickness of 30 to 500 nm.
  • Cathode conductive layer 108 of organic light emitting diode 100 is made of a metal material.
  • a metal material for example, Ag, Au, Al, or an alloy mainly containing any of them can be given.
  • main component means that the proportion of Ag, Au, and Al in the alloy is 70% by mass or more.
  • the cathode conductive layer 108 made of the above material is usually preferably formed so as to have a thickness of 50 to 3000 nm.
  • each layer constituting the organic light emitting diode 100 has been described.
  • a method for manufacturing each layer constituting the organic light emitting diode 100 will be described in detail below.
  • the lamination method is a method of laminating one layer at a time in order from the bottom layer of the organic light emitting diode 100.
  • a transparent substrate 102 provided with a concavo-convex structure in which a plurality of 102b and 102c are two-dimensionally arranged at random is provided on the surface (in this specification, such a process is appropriately referred to as a “substrate manufacturing process”).
  • an anode conductive layer 104 an EL layer 106 (a hole injection layer 106-1, a hole transport layer 106-2, a light emitting layer 106-3 (red light emitting layer), an electron transport layer) 106-4, the electron injection layer 106-5) and the cathode conductive layer 108 are sequentially stacked (in this specification, such a process is appropriately referred to as a “stacking process”).
  • a process is appropriately referred to as a “stacking process”.
  • the transparent substrate 102 is formed by etching a particle monolayer film formed on a substrate using a mixture of a plurality of particles having different particle diameters (hereinafter appropriately referred to as mixed particles).
  • the dry etching method using the particle single layer film as an etching mask is performed by forming the particle single layer film on the water surface and using the principle of the LB method described in the first embodiment on the surface of the substrate original plate.
  • a method for producing a transparent substrate having a concavo-convex structure by dry etching the surface of the substrate original plate using such a single layer film as an etching mask is etching a particle monolayer film formed on a substrate using a mixture of a plurality of particles having different particle diameters.
  • particles having a single particle diameter are used in order to obtain a two-dimensional close-packed lattice in which the particle spacing is controlled with high accuracy. That is, in a particle monolayer film formed using particles having a single particle diameter, the particles are two-dimensionally packed closely, so that when this is used as an etching mask and the substrate original plate surface is dry etched, the concavo-convex structure As a result, a highly accurate triangular lattice (hexagonal lattice) two-dimensional lattice structure is formed.
  • the surface of the cathode conductive layer formed using a substrate having such a high-precision triangular lattice (hexagonal lattice) two-dimensional lattice structure has a high-precision two-dimensional lattice structure,
  • organic light-emitting diodes constructed on a substrate having a two-dimensional lattice structure manufactured by a conventional method are optimized to improve the light extraction efficiency at a specific single wavelength, and the pitch of the concavo-convex structure Depending on the manufacturing variation, the emission wavelength of the light emitting layer and the extraction wavelength may be shifted, and the extraction efficiency may not be improved. Therefore, in the present invention, mixed particles composed of a plurality of types of particles having different particle diameters (here, three types are described as examples) are used as the particles constituting the particle monolayer film.
  • the power spectrum of the height distribution of the fine concavo-convex structure has a finite value between the wave number K 1 and the wave number K 2 , and the integral value of the spectrum intensity within this wave number range is 50% of the entire spectrum intensity. What is necessary is just to combine several particle size so that it may have the above intensity
  • the concavo-convex structure formed by the particle single layer film thus formed is a two-dimensional random arrangement of a plurality of convex portions 102a, convex portions 102b, and convex portions 102c having different diameters.
  • the transparent substrate 102 is a step of coating a particle monolayer film made of mixed particles on the surface of a substrate original plate (transparent substrate before forming the concavo-convex structure) that is a prototype of the transparent substrate 102 (hereinafter referred to as such The process is appropriately referred to as a “coating process”) and a dry etching process using a particle monolayer film.
  • a coating process a dry etching process using a particle monolayer film.
  • the coating process is performed by putting a lower layer liquid for developing mixed particles in a water tank and mixing the lower layer liquid with a solvent in the liquid surface. Dropping the dispersion liquid in which particles are dispersed and volatilizing the solvent to form a particle monolayer film consisting of mixed particles on the liquid surface, and the transfer of transferring the particle monolayer film onto the substrate It can implement by performing a process.
  • the coating step of coating the etching mask that covers the surface of the substrate original plate only the particle single layer film is first prepared (particle single layer film formation step), and the particle single layer formed by the particle single layer film formation step The film is transferred onto the substrate original plate surface (transfer step).
  • a hydrophilic liquid is used as the lower layer liquid
  • a hydrophobic liquid is used as the organic solvent and the mixed particles in the dispersion liquid.
  • Liquid may be used, in which case, hydrophilic particles are used as the mixed particles.
  • the particle single layer film formation step for producing the particle single layer film to be coated on the surface of the substrate original plate is performed. Describes a method for obtaining a particle monolayer film by developing a solvent containing mixed particles on a predetermined solvent surface stored in a water tank (trough) as a particle monolayer film forming step. First, a water tank (trough) is prepared, and a predetermined liquid as a lower layer liquid is put therein. In the present embodiment, water is used as the predetermined liquid stored in the water tank. Next, a dispersion liquid is prepared by dispersing mixed particles composed of particles having three different particle sizes in a solvent such as a predetermined organic solvent.
  • the predetermined solvent for dispersing the particles A, particles B, and particles C is a highly volatile and highly hydrophobic solvent (for example, chloroform, methanol, ethanol, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, hexane, etc.) Is used).
  • Three kinds of particles A, particles B, and particles C are added to the solvent and mixed to prepare a dispersion in which the three kinds of particles A, particles B, and particles C are dispersed in the solvent.
  • the particle concentration of these dispersions is preferably 1 to 10% by mass.
  • grains C is dripped at the lower surface liquid surface in the said water tank, and is expand
  • the dropping rate of such a dispersion onto the surface of the lower layer water is preferably 0.001 to 0.01 ml / sec.
  • the concentration of the particles in the dispersion and the dropping speed are within the ranges described above, the particles may partially aggregate in a cluster to form two or more layers, or a defect location where no particles are present may occur.
  • the selection criteria for the three types of particles A, particles B, and particles C are two-dimensionally random projections 102a, projections 102b, and projections 102c having different diameters after dry etching.
  • particle size so as to provide a finite value between the wave number K 1 of K 2.
  • the particle B having a particle size corresponding to the above-described emission spectrum peak ⁇ peak is selected, and the particle A and the particle C are appropriately mixed to obtain a height distribution of the resulting concavo-convex structure.
  • power spectrum is adjusted to take a finite value between the wave number K 1 wavenumber K 2.
  • the particle diameters of the three kinds of particles A, particles B, and particles C are all preferably in the range of 10 nm to 2000 nm, and more preferably in the range of 50 nm to 1700 nm. preferable.
  • the particle diameter of each particle is the value of the primary particle diameter, and can be determined by a known method from the peak obtained by fitting the particle size distribution determined by the dynamic light scattering method to a Gaussian curve. Alternatively, the particle diameter may be measured by directly observing the particles with an AFM image or an SEM image.
  • grains of three types of particle diameters is shown here, this invention is not limited to this, the particle
  • metals such as Al, Au, Ti, Pt, Ag, Cu, Cr, Fe, Ni, and Si, SiO 2 , Al 2
  • metal oxides such as O 3 , TiO 2 , MgO 2 , and CaO 2
  • organic polymers such as polystyrene and polymethyl methacrylate, other semiconductor materials, and inorganic polymers. Two or more of these may be used in combination.
  • the depth and shape of the recess 108a, the recess 108b, and the recess 108c can be adjusted.
  • the surfaces of the three types of particles A, particles B, and particles C may be made of a hydrophobic material. preferable. If the surface of the three kinds of particles is hydrophobic, as described above, when the particle dispersion is developed on the liquid surface of the lower layer liquid in the water tank (trough) to form the particle single layer film, The particle monolayer film can be easily formed using water, and the particle monolayer film can be easily moved to the substrate surface.
  • organic polymer particles such as polystyrene can be used as they are because the surface is hydrophobic, but the surface of the metal particles and metal oxide particles is hydrophilic.
  • hydrophobizing agent examples include surfactants and alkoxysilanes. The surfactant is effective for hydrophobizing a wide range of materials, and is suitable when the particles are made of metal, metal oxide, or the like.
  • Surfactants as such hydrophobizing agents include, for example, cationic surfactants such as brominated hexadecyltrimethylammonium and brominated decyltrimethylammonium, anionic surfactants such as sodium dodecyl sulfate and sodium 4-octylbenzenesulfonate An agent can be preferably used. Moreover, alkanethiol, a disulfide compound, tetradecanoic acid, octadecanoic acid, etc. can also be used.
  • the particles may be dispersed in a liquid such as an organic solvent or water, and the method may be performed in the liquid or the particles in a dry state.
  • a liquid for example, volatile organic solvent comprising one or more of chloroform, methanol, ethanol, isopropanol, acetone, methyl ethyl ketone, ethyl ethyl ketone, toluene, n-hexane, cyclohexane, ethyl acetate, butyl acetate and the like
  • What is necessary is just to add and disperse
  • the surface can be more uniformly hydrophobized.
  • a hydrophobized dispersion can be used as it is as a dispersion for dropping on the liquid surface of the lower layer water.
  • a surfactant is added to the aqueous dispersion, the surface of the particles is hydrophobized with an aqueous phase, and then an organic solvent is added to make the hydrophobized treatment.
  • An oil phase extraction method is also effective.
  • the dispersion thus obtained (a dispersion in which particles are dispersed in an organic solvent) can be used as it is as a dispersion for dropping onto the liquid surface of the lower layer water.
  • the particles can be prevented from agglomerating in clusters, and a particle monolayer film in which the particles are two-dimensionally denser can be obtained more easily.
  • chloroform is selected as the organic solvent, it is preferable to use brominated decyltrimethylammonium as the surfactant.
  • examples include a combination of ethanol and sodium dodecyl sulfate, a combination of methanol and sodium 4-octylbenzenesulfonate, and a combination of methyl ethyl ketone and octadecanoic acid.
  • the ratio of the particles to be hydrophobized and the surfactant is preferably such that the mass of the surfactant is 1 to 20% with respect to the mass of the particles to be hydrophobized.
  • stirring the dispersion during the treatment or irradiating the dispersion with ultrasonic waves is also effective in improving the particle dispersibility.
  • alkoxysilane as a hydrophobizing agent
  • the method of using alkoxysilane as a hydrophobizing agent is effective for hydrophobizing particles such as Si, Fe, and Al and oxide particles such as SiO 2 , Al 2 O 3 , and TiO 2 .
  • the present invention is not limited to these particles, and can be basically applied to any particles as long as they have hydroxyl groups on their surfaces.
  • the alkoxysilane include 3-aminopropyltrimethoxysilane and 3-aminopropyltriethoxysilane in addition to the materials mentioned in the first embodiment.
  • alkoxysilane When alkoxysilane is used as the hydrophobizing agent, the alkoxysilyl group in the alkoxysilane is hydrolyzed to a silanol group, and the silanol group is dehydrated and condensed to the hydroxyl group on the particle surface, thereby hydrophobizing. Therefore, hydrophobization using alkoxysilane is desirably performed in water.
  • the reaction time is a predetermined time, preferably 0, with appropriate stirring in the range of room temperature to 40 ° C. Let react for 5-12 hours.
  • alkoxysilanes other than amines are hydrolyzed under acidic or alkaline conditions, for example, an acetic acid aqueous solution having a concentration of 0.1 to 2.0% by mass is used.
  • the method of adding is preferable because the effect of stabilizing the silanol group can be obtained in addition to the promotion of hydrolysis.
  • the ratio of the particles to be hydrophobized and the alkoxysilane is preferably in the range of 1 to 20 times the mass of the alkoxysilane with respect to the mass of the particles to be hydrophobized.
  • the volume of the organic solvent to be added is preferably in the range of 0.3 to 3 times the dispersion before the addition of the organic solvent.
  • a dispersion obtained by oil phase extraction (a dispersion in which particles are dispersed in an organic solvent) can be used as it is as a dispersion for dropping onto the liquid surface of the lower layer water in the dropping step.
  • stirring, ultrasonic irradiation, etc. it is preferable to carry out stirring, ultrasonic irradiation, etc. in order to improve the particle dispersibility of the dispersion during the treatment.
  • the particle monolayer film forming step is performed while irradiating ultrasonic waves from the lower layer water to the water surface, an effect of reducing the aggregation state of the particles can be obtained.
  • the same condition as the output described in the first embodiment can be adopted for the output of the ultrasonic wave.
  • the ultrasonic irradiation time is sufficient if it is sufficient to promote particle monolayering, and the required time varies depending on the particle size, ultrasonic frequency, water temperature, etc.
  • the irradiation time described in the embodiment can be employed.
  • the frequency (referred to here as the frequency of ultrasonic waves) is too high, the energy absorption of water molecules begins and a phenomenon in which water vapor or water droplets rise from the water surface occurs, which is not preferable for the LB method used in the present invention. .
  • the frequency when the frequency is too low, the cavitation radius in the lower layer water is increased, bubbles are generated in the water, and rise toward the water surface. If such bubbles accumulate under the particle monolayer film, the flatness of the water surface is lost, which is inconvenient for the implementation of the present invention.
  • standing waves are generated on the water surface by ultrasonic irradiation.
  • the particle monolayer film may be destroyed by the water surface wave.
  • the frequency of the ultrasonic wave is appropriately set, it is possible to effectively promote particle monolayering without destroying the particle monolayer film being formed.
  • the particle diameter is small, for example, 100 nm or less, the natural frequency becomes very high, and it is difficult to apply ultrasonic vibration as calculated. In such a case, the calculation is performed assuming that the natural vibration corresponding to the mass of the particle dimer, trimer,... Can be reduced.
  • the monolayering of the particles is promoted.
  • the advantages obtained by ultrasonic irradiation include the effect of breaking the soft agglomerates of particles that are likely to occur during the preparation of particle dispersions, point defects once generated, line defects, or crystal transitions. There is an effect to repair to some extent.
  • the particle monolayer film in which the three kinds of particles A, particles B, and particles C are randomly arranged is preferably made of the above material.
  • the formation principle of the particle single layer film will be described. The formation of the particle single layer film described above is due to self-organization of particles.
  • the principle is that when the particles float on the water surface and move from each other at random, the particles are gathered together, and surface tension acts due to the dispersion medium existing between the particles. As a result, the particles do not exist in a disjointed state, but automatically form a single layer structure that is dense on the water surface. In other words, the formation of a dense structure due to such surface tension can be said to be mutual adsorption of particles due to lateral capillary force. For example, when three types of particles float together on the water surface and come into contact with each other, the surface tension acts so as to minimize the total length of the water line of the particle group, and the three types of particles are triangular (particles having different particle sizes).
  • the particle monolayer film is formed by stabilization in an arrangement based on the basic triangle. If the water line is at the top of the particle group, that is, if the particle is submerged below the liquid surface, such self-organization does not occur and a particle monolayer film is not formed. Therefore, when one of the particles and the lower layer water is hydrophobic, it is important to make the other hydrophilic to avoid the particles from diving below the liquid surface. Therefore, as the lower layer liquid, it is preferable to use water as described above. When water is used, a relatively large surface free energy acts, and a single layer structure in which particles once generated are densely formed. It is easy to sustain stably on top.
  • the transfer step of transferring the particle single layer film prepared by the particle single layer film forming step to the substrate original plate surface will be described.
  • the particle single layer film formed on the liquid surface of the lower layer water in the particle single layer film formation step is transferred onto the substrate original plate, which is an object to be etched, in a single layer state.
  • the specific method for transferring the particle monolayer film onto the substrate original plate is not particularly limited.
  • the hydrophobic substrate original plate is transferred to the particle monolayer in the same manner as the transfer step in the first embodiment.
  • the particle monolayer film While maintaining a state substantially parallel to the film, it is lowered from above and brought into contact with the particle monolayer film, and the particle monolayer film is transferred to the substrate original plate due to the affinity between the particle monolayer film and the substrate original plate which are both hydrophobic.
  • the substrate original plate Before the formation of the particle monolayer film, the substrate original plate is arranged in a substantially horizontal direction in the lower layer water of the water tank in advance, and the liquid surface is formed after the particle monolayer film is formed on the liquid surface.
  • the preferable diffusion pressure when compressing the particle monolayer film is 5 to 80 mNm ⁇ 1 , more preferably 10 to 40 mNm ⁇ 1 . With such a diffusion pressure, it is easy to obtain a particle monolayer film in which each particle is densely packed without a gap.
  • the speed at which the substrate original plate is pulled up is preferably 0.5 to 20 mm / min.
  • the surface of the substrate original plate can be covered with the particle monolayer film.
  • a fixing step for fixing the particle monolayer film on the substrate original plate is performed after the transfer step using the same method and the same conditions as the method described in the first embodiment. Also good.
  • the transparent substrate 102 is obtained by dry etching the surface of the substrate original plate coated with the particle single layer film as described above. Specifically, by performing dry etching on the substrate original plate surface coated with the particle single layer film, the dry etching is started and the etching gas passes through the gaps between the particles constituting the particle single layer film. Reaching the surface of the substrate original plate, a concave portion is formed in that portion, and a convex portion appears at a position corresponding to each particle.
  • the particles on each convex portion are gradually etched and become smaller, and at the same time, the concave portions carved on the substrate original plate surface become deeper, finally having a concavo-convex structure on the substrate surface.
  • the transparent substrate 102 is produced.
  • Such a dry etching process can be performed by a method similar to the method described in the first embodiment, and according to this dry etching process, the bias power, the gas flow rate, the type and amount of the deposition gas, and the like.
  • the average height and shape of the convex portions 102a, 102b, 102c to be formed can be adjusted.
  • examples of the etching gas used for dry etching include the gas exemplified in the first embodiment, but any gas that does not affect the effect of the present invention may be used. It is not limited. And according to the particle
  • the dry etching process is performed using an etching apparatus.
  • an etching apparatus that can be used in this embodiment mode, a reactive ion etching apparatus or an ion beam etching apparatus that can perform anisotropic etching is used.
  • a device that can generate a bias electric field of about 20 W at the minimum is used.
  • the etching selectivity (etching speed of the substrate original plate / etching speed of the particle monolayer film) in the dry etching process can be obtained so that the structural depth necessary for the fine concavo-convex structure can be obtained. It is preferable to set the conditions such as the material of the particles constituting the particle monolayer film, the material of the substrate original plate, the type of etching gas, the bias power, the antenna power, the gas flow rate and pressure, and the etching time.
  • a gas such as Ar or CF 4 is used as the etching gas. Etching with a relatively low amplitude to pitch ratio. Further, when the electric field bias power is set to several tens to several thousand watts (depending on the electrode area of the dry etching apparatus), the positively charged particles in the etching gas in the plasma state are accelerated and applied to the substrate at a high speed almost vertically. Incident. Therefore, when a gas having reactivity with the substrate is used, the reaction rate of the physicochemical etching in the vertical direction can be increased.
  • isotropic etching by radicals generated by plasma may occur in parallel depending on the combination of the material of the substrate and the type of etching gas.
  • Such radical etching is chemical etching, and isotropically performed in any direction of the etching target. Since radicals have no electric charge, the etching rate cannot be controlled by setting the bias power, but is controlled by the concentration of the etching gas in the chamber. In addition, since a certain level of gas pressure must be maintained in order to perform anisotropic etching with charged particles, the effect of isotropic etching cannot be reduced to zero as long as a reactive gas is used.
  • the ratio of the diameter and height of the bottom surface of the convex portion (the bottom surface of the convex portion) is adjusted mainly by adjusting the bias power and pressure and using a so-called deposition gas depending on the situation.
  • the method of forming the concavo-convex structure on the surface of the substrate original plate by the dry etching process has been described, but another example of the method of forming the concavo-convex structure includes a method of forming the concavo-convex structure using a mold. More specifically, in advance, a substrate having a plurality of convex portions 102a, 102b, 102c having different diameters and a two-dimensionally arranged uneven structure is formed on the surface, and the transparent substrate 102 is formed using the substrate as a mold. Make it.
  • the uneven structure on the surface of the mold When the uneven structure on the surface of the mold is transferred to the substrate original plate an even number of times, an uneven structure in which a plurality of convex portions 102a, convex portions 102b, and convex portions 102c having different diameters are randomly arranged in two dimensions is engraved on the substrate original plate surface.
  • a transparent substrate having a concavo-convex structure can be obtained.
  • a transparent substrate having an uneven structure in which a plurality of recesses having different diameters are randomly arranged two-dimensionally on the substrate original plate surface is obtained.
  • the uneven structure on the surface of the transparent substrate has a shape in which the uneven structure on the surface of the mold is inverted.
  • the practical number of transfers is preferably 1 to 4.
  • Such a transfer of the structure of the mold surface is a well-known technique, for example, performed using a method such as a nanoimprint method, a hot press method, an injection molding method, or a UV embossing method as disclosed in Patent Document 4 above. can do.
  • the organic light emitting diode 100 according to the present embodiment has an anode conductive layer 104, a hole injection layer 106-1, which is an EL layer 106, a hole transport layer 106, on the surface of the transparent substrate 102 having a concavo-convex structure manufactured as described above.
  • -2, light emitting layer 106-3, electron transport layer 106-4, electron injection layer 106-5, and cathode conductive layer 108 can be obtained in this order.
  • the method for laminating these layers is not particularly limited, and a known technique used in the production of a general organic light emitting diode can be used.
  • the anode conductive layer 104 and the cathode conductive layer 108 can be formed by a sputtering method, a vacuum evaporation method, or the like, respectively.
  • Each layer of the EL layer 106 is formed by a vacuum evaporation method.
  • the cathode conductive layer 108 laminated on the EL layer 106 has a shape in which the uneven structure is inverted on the back surface.
  • the screen can be stably brightened compared to the conventional image display device. It becomes possible.
  • the lighting device so that the organic light-emitting diode according to the present invention manufactured as described above is used for at least a part of the organic light-emitting diode, it is possible to radiate stably and brighter than the conventional lighting device. Become.
  • the uneven structure formed on the substrate surface is a mixture of a plurality of particles having different particle diameters.
  • the particle monolayer film used as an etching film it has a random two-dimensional concavo-convex structure, which makes it possible to stably extract light from narrowband electromagnetic waves from visible light to the near infrared region. This improves the intensity of light emission. Therefore, the organic light emitting diode 100 according to the second embodiment of the present invention can set the extraction wavelength to an arbitrary wavelength in the entire visible light to near infrared region (380 nm to 2500 nm).
  • an image display device using such an organic light emitting diode 100 By manufacturing an image display device using such an organic light emitting diode 100, a long-life, low-power image display device can be manufactured. Furthermore, by producing an illumination device using such an organic light emitting diode 100, a long-life, low-power illumination device can be produced.
  • the full width at half maximum of the spectrum of the fine concavo-convex structure is 1.04 ⁇ m ⁇ 1 .
  • the K peak is further shown in FIG.
  • the peak of the wave number of cases showing the spectrum where the horizontal axis represents the wave number for the spectrum of the fine unevenness is K peak.
  • the wave number 10.13Myuemu -1 shows a surface plasmon spectrum corresponding to the spectrum of the light emitting material and the full width at half maximum 1.391Myuemu -1 on the horizontal axis as the wave number.
  • the organic light emitting diode 10 is designed to emit light having a wave number of 10.13 ⁇ m ⁇ 1 in the spectrum of the fine concavo-convex structure, and therefore has the same wave number as the spectrum of the light emitting material shown in FIG. It has a peak at the position. Comparing the spectrum of FIG. 14 (a) with the spectrum of Example 1 shown in FIG. 14 (b), the spectrum of FIG. 14 (a) is obtained because the organic light emitting diode 10 includes a substrate having a concavo-convex shape. It is possible to obtain narrow-band light while emitting light of the same wavelength.
  • the light extraction efficiency of the organic light emitting diode 10 is obtained.
  • the overlap between the surface plasmon spectrum corresponding to the emission spectrum in the visible light region (380 nm to 780 nm) and the spectrum of the fine concavo-convex structure obtained from the organic light emitting diode 10 will be described. In these two spectra, the larger the overlapping ratio, the higher the light extraction efficiency corresponding to the emission wavelength.
  • the spectrum of the luminescent material is rewritten using the wave number of the surface plasmon on the horizontal axis.
  • the method used in Example 1 or Example 2 can be used to convert the spectrum of the luminescent material into the wave number of the surface plasmon.
  • the spectral intensity I m (hereinafter referred to as “spectral intensity I m of the light emitting material” as appropriate) with the wave number of the surface plasmon of the light emitting material as the horizontal axis is indicated by a solid line. It shows the spectral intensity I s of the fine unevenness by the one-dot chain line shows an example of a state in which two superposed spectra.
  • the overlapping ratio A is obtained by integrating the overlapping region of the two spectral intensities.
  • the spectral intensity I m of the light emitting material in FIG. 15 (a) the wave number at the peak and k p.
  • the full width at half maximum is the sum of the distance between k p -k 2 and the distance between k p -k 1 and can be expressed as the distance between k 1 -k 2 .
  • the point k 2 of the half-value width of the spectral intensity I m of the light emitting material a point extended by the same distance as the half width and k 3
  • the point k 1 of the half-value width of the spectral intensity I m of the light emitting material a point that was extended by the same distance as the half-width and k 0.
  • the wave number at the peak and K p the wave number at the peak and K p.
  • the wave number and K 1 and K 2 respectively, in the full width at half maximum of the spectral intensity I s of the fine unevenness.
  • the full width at half maximum is the sum of the distance between K p -K 2 and the distance between K p -K 1 , and can be expressed as the distance between K 2 -K 1 .
  • K 3 points K 1 of the half-value width of the spectral intensity I s of the fine unevenness
  • K 0 a point extended by the same distance as the half width is defined as K 0 .
  • the spectral intensity I s of the spectral intensity I m and fine uneven structure of the light emitting material described in the above shows a simplified as a rectangular function in FIG. 15 (b).
  • the ratio A in which the surface plasmon spectrum corresponding to the spectrum of the luminescent material in the visible light region overlaps with the spectrum of the fine concavo-convex structure was very small.
  • the spectrum of the fine uneven structure of the organic light emitting diode 10 of Example 1 shown in FIG. 14A is very small, and the spectrum of the luminescent material includes the spectrum of the fine relief structure.
  • the organic light emitting diode 10 of Example 1 has an element structure designed to extract only light having a wavelength of 620 nm.
  • the current efficiency of the organic light emitting diode 10 of Example 1 and the organic light emitting diode of Comparative Example 1 will be compared.
  • the current efficiency (cd / A) at a unit current amount of 12.5 mA / cm 2 was measured for each, the organic light emitting diode 10 of Example 1 had a current efficiency of 0.76 cd / A, and the organic efficiency of Comparative Example 1
  • the light emitting diode has a current efficiency of 0.32 cd / A.
  • the current efficiency of the organic light emitting diode 10 of Example 1 was 2.38 times higher than that of the organic light emitting diode of Comparative Example 1.
  • the power efficiency of the organic light emitting diode 10 of Example 1 and the organic light emitting diode of Comparative Example 1 will be compared.
  • the power efficiency (lm / W) at a unit current amount of 12.5 mA / cm 2 was measured for each, the organic light emitting diode 10 of Example 1 had a power efficiency of 0.37 lm / W, and the organic efficiency of Comparative Example 1
  • the light emitting diode has a power efficiency of 0.13 lm / W.
  • the power efficiency of the organic light emitting diode 10 of Example 1 was 2.85 times that of the organic light emitting diode of Comparative Example 1.
  • the particles constituting the particle monolayer film form a particle monolayer film with particles having a particle size of 410 nm, 360 nm, and 305 nm.
  • the full width at half maximum of the spectrum of the fine concavo-convex structure is 3.59 ⁇ m ⁇ 1 .
  • the peak of the wavelength when the spectrum is shown with the spectrum of the fine concavo-convex structure as the wavelength on the horizontal axis is K peak .
  • the spectrum of such fine uneven structure of the organic light emitting diode 100 is shown in FIG. Similarly to Example 1, the spectrum of Example 2 shown in FIG.
  • 14D is the organic light emitting diode 100 provided with a substrate having a concavo-convex shape, but the peak of the spectrum of the fine concavo-convex structure is shown in FIG. ) Has a peak different from the spectrum of the light emitting material.
  • Comparative Example 2 has a particle size of 410 nm as particles forming a particle monolayer film.
  • a bottom emission type organic light emitting diode in which a concavo-convex structure is formed using only particles is used.
  • the light extraction efficiency of the organic light emitting diode 100 is obtained.
  • the overlap between the surface plasmon spectrum corresponding to the spectrum of the light emitting material in the visible light region (380 nm to 780 nm) and the spectrum of the fine uneven structure obtained from the organic light emitting diode 100 will be examined.
  • the spectrum of the luminescent material is represented by the wave number of the corresponding surface plasmon.
  • the value of the overlapping portion A shown in (b) is obtained.
  • the ratio at which the spectral intensity I m ′ of the luminescent material in the visible light region and the spectral intensity I s ′ of the fine concavo-convex structure overlap was 82.5%.
  • the overlapping ratio was 35.2%.
  • the spectrum peak broadens, and the spectrum peak of the fine concavo-convex structure deviates from 620 nm, but is 82 for 620 nm light. It is possible to cover 5%.
  • the spectrum peak has a narrow band, and the spectrum peak deviates from 620 nm. Therefore, only 35.2% of the light at 620 nm can be covered.
  • the current efficiency of the organic light emitting diode 100 of Example 2 and the organic light emitting diode of Comparative Example 2 will be compared.
  • the current efficiency (cd / A) at a unit current amount of 12.5 mA / cm 2 was measured for each, the organic light emitting diode 100 of Example 2 had a current efficiency of 0.65 cd / A, and the organic efficiency of Comparative Example 2
  • the light emitting diode has a current efficiency of 0.4 cd / A.
  • the current efficiency of the organic light emitting diode 100 of Example 2 was 1.63 times higher than that of the organic light emitting diode of Comparative Example 2.
  • the power efficiency of the organic light emitting diode 100 of Example 2 and the organic light emitting diode of Comparative Example 2 will be compared.
  • the power efficiency (lm / W) at a unit current amount of 12.5 mA / cm 2 was measured for each, the organic light emitting diode 100 of Example 2 had a power efficiency of 0.32 lm / W, and the organic efficiency of Comparative Example 2
  • the light emitting diode has a power efficiency of 0.19 lm / W.
  • the power efficiency of the organic light emitting diode 100 of Example 2 was 1.68 times that of the organic light emitting diode of Comparative Example 2.
  • the organic light emitting diode 10 having a substrate with a concavo-convex structure with one kind of particle size as in Example 1 has a combination of the wavelength of light emission and the wavelength of the surface plasmon, the directivity becomes high, and a certain direction It has a feature that it emits light strongly, and light emission in other directions becomes weak. For example, when a grating that emits light strongly in the front direction is used, light emitted in the lateral direction becomes weak.
  • the organic light emitting diode 100 according to the second embodiment of the present invention although the substrate structure has a concavo-convex structure, the light directivity of Example 1 is different from that of Example 1. In addition, the directivity of the emitted light is relaxed, and an effect of having the characteristic of emitting isotropic light occurs.
  • the embodiment described above may be modified as shown in the following (1) to (14).
  • the metal layer 18-1 constituting the cathode conductive layer 18 is made of Ag, an alloy having an Ag content of 70% or more, Al or an Al content of 70%.
  • the present invention is not limited to this, and the metal layer 18-1 may be a known metal used as the cathode conductive layer of the organic light emitting diode. .
  • the organic EL layer 16 is replaced with the hole injection layer 16-1, the hole transport layer 16-2, the light emitting layer 16-3, the electron transport layer 16-4, and the electron injection layer 16.
  • the hole injection layer 16-1 the hole transport layer 16-2, the light emitting layer 16-3, the electron transport layer 16-4, and the electron injection layer 16.
  • one layer has the function of two or more of the hole injection layer 16-1, the hole transport layer 16-2, the light emitting layer 16-3, the electron transport layer 16-4, and the electron injection layer 16-5. May be.
  • the light emitting layer 16-3 is essential, but other layers such as the hole injection layer 16-1, the hole transport layer 16-2, the electron transport layer 16-4, and the electron injection layer 16-5 are omitted. It may be.
  • the organic EL layer 16 may be configured by only the light emitting layer 16-3.
  • the particle size of the particles forming the particle monolayer film is determined by focusing on the surface plasmon resonance on the back surface 18-1c of the metal layer 18-1.
  • the particle size of the particles forming the particle monolayer film is determined by paying attention to the surface plasmon resonance in the surface 18-1a of the metal layer 18-1 and the reflection layer 22. Also good.
  • the plurality of convex portions 12b periodically and two-dimensionally arranged on the surface 12a of the substrate 12 are configured.
  • the present invention is not limited to this, and a plurality of recesses periodically and two-dimensionally arranged on the surface 12a of the substrate 12 may be formed.
  • a method for producing a concave fine concavo-convex structure on a substrate a method of producing an inversion type on a resin layer coated on the substrate using a nanoimprint method can be used.
  • a metal such as Cr or Ni on a particle mask (a particle monolayer film made of particles having a particle diameter calculated by the above formula) formed on a substrate
  • the particles are deposited.
  • a method for producing a concave structure in a place where there is no metal by dry etching the substrate using a metal vapor deposition layer (having a mesh structure with holes in the place where particles were present) removed and remaining on the substrate as a mask Etc. are available.
  • a substrate having a structure in which a plurality of recesses are periodically arranged two-dimensionally on the surface thus formed is used as a mold, and the structure on the surface of the mold is transferred to the substrate original plate, thereby being transferred to the surface 12a of the substrate 12.
  • a dimensional lattice structure may be produced.
  • the structure equivalent to the lattice structure is formed, but the structure is not limited to this, and the layers formed of a metal material, that is, the reflective layer 22 and the metal layer 18 of the cathode conductive layer 18 are used.
  • the two-dimensional lattice structure may be formed only on ⁇ 1, or the two-dimensional lattice structure may be formed only on one of the reflective layer 22 and the metal layer 18-1.
  • the surface 18-1a that is, the surface on which the transparent conductive layer 18-2 is located
  • the back surface that is, the surface on which the substrate 12 and the organic EL layer are located.
  • a two-dimensional lattice structure may be formed only on one of the two.
  • the shape of the concavo-convex structure of the convex portion 12a, the convex portion 12b, and the convex portion 12c may be, for example, a cylindrical shape, a conical shape, a truncated cone, or a sinusoidal shape. It is good, and derived shapes based on them may be adopted.
  • the particles used for producing the uneven structure on the surface of the transparent substrate 102 in the above-described embodiment, a mixture of three types of particles having different particle sizes.
  • the present invention is not limited to this, and it may be composed of a mixture of two to five particle sizes. And when using the mixture of such many kinds of particle diameters, it is preferable that the variation coefficient of the particle diameter is 20% or less.
  • the particles have a wide particle size distribution, the effects of the present invention can be obtained even with a single particle size.
  • the particle mask is constituted by one kind of particle diameter, the variation coefficient of the particle diameter can be in the range of 10 to 500%.
  • the effect of the gist of the present invention can be obtained even if a particle mask is formed by combining particles having a coefficient of variation in particle diameter of 0 to 10% and 10 to 500%.
  • the EL layer 106 includes the hole injection layer 106-1, the hole transport layer 106-2, the light emitting layer 106-3, the electron transport layer 106-4, and the electron injection layer 106.
  • the present invention is not limited to this.
  • the hole injection layer 106-1, the hole transport layer 106-2, the light emitting layer 106-3, and the electron transport layer One layer may have the functions of two or more of the layers 106-4 and 106-5.
  • the hole injection layer 106-1, the hole transport layer 106-2, the electron transport layer 106-4, and the electron injection layer 106-5 can be omitted.
  • the EL layer 106 may be composed of only the light emitting layer 106-3, which is the organic EL layer having the simplest configuration.
  • the cathode conductive layer 108 may have the function of an electron injection layer.
  • the anode conductive layer 104, the EL layer 106, and the cathode conductive layer 108 are laminated on the transparent substrate 102 in this order.
  • the order is not limited to this.
  • the stacking order may be reversed. That is, the cathode conductive layer 108, the EL layer 106, and the anode conductive layer 104 may be stacked in this order on the transparent substrate 102. In such a case, the stacking order of the hole injection layer 106-1, the hole transport layer 106-2, the light emitting layer 106-3, the electron transport layer 106-4, and the electron injection layer 106-5 constituting the EL layer 106 is also reversed.
  • the cathode conductive layer 108 is composed of only the cathode conductive layer 108 that is a metal layer.
  • the cathode conductive layer 108 is formed by laminating a plurality of layers. It may be configured by a multilayer structure. In the case of the cathode conductive layer having such a multilayer structure, at least one layer may be a metal layer, and the other layers other than the metal layer may be made of a metal material. It may be made of a conductive material other than the above.
  • examples of conductive materials other than metal include, for example, ITO, IZO, ZnO, ZTO and the like mentioned as materials constituting the anode conductive layer 104.
  • the light extraction method of the organic light emitting diode is the bottom emission method in which the light extraction surface is the surface on the transparent substrate 102 side, but the present invention is limited to this.
  • a top emission method in which the light extraction surface is the surface (laminated upper surface) opposite to the transparent substrate 102 side may be used.
  • the upper surface of the laminate may be a cathode conductive layer or an anode conductive layer.
  • the substrate is not limited to a transparent substrate.
  • the light extraction surface is a transparent substrate.
  • a transparent substrate, an anode conductive layer, an organic EL layer, and a cathode conductive layer are stacked in this order.
  • an organic EL layer a hole injection layer, a hole transport layer, a light emitting layer, The electron transport layer and the electron injection layer are laminated in this order.
  • the transparent substrate has an uneven structure on the surface, the anode conductive layer is a transparent conductor layer, and the cathode conductive layer is a metal layer.
  • the light extraction surface is a cathode conductive layer as shown in FIG.
  • the substrate, the reflective layer, the anode conductive layer, the organic EL layer, the cathode conductive layer A, and the cathode conductive layer B are stacked in this order.
  • the hole injection layer is sequentially formed from the anode conductive layer side.
  • the hole transport layer, the light emitting layer, the electron transport layer, and the electron injection layer are laminated in this order.
  • the substrate has a concavo-convex structure on the surface, the anode conductive layer is a transparent conductor layer, the cathode conductive layer A is a translucent metal layer, and the cathode conductive layer B is a transparent conductor layer.
  • the anode conductive layer is a transparent conductor layer
  • the cathode conductive layer A is a translucent metal layer
  • the cathode conductive layer B is a transparent conductor layer.
  • the light extraction surface is an anode conductive layer as shown in FIG.
  • the substrate, the cathode conductive layer, the organic EL layer, and the anode conductive layer are stacked in this order.
  • the organic EL layer, the electron injection layer, the electron transport layer, the light emitting layer, and the hole are sequentially formed from the cathode conductive layer side.
  • the transport layer and the hole injection layer are laminated in this order.
  • the substrate has an uneven structure on the surface, the cathode conductive layer is a metal layer, and the anode conductive layer is a transparent conductor layer.
  • the reflective layer takes out light from the substrate side and reflects the light directed toward the substrate side to the laminated side and takes it out.
  • the reflective layer is generally made of metal.
  • the metal for example, aluminum, silver, and other various metals can be used.
  • the cathode conductive layer A is translucent in order to extract light from the top surface of the stack. The transparency of the cathode conductive layer A is adjusted by the film thickness. The thickness of the cathode conductive layer A is usually about 10 to 50 nm so as to be translucent.
  • Examples of the metal constituting the cathode conductive layer A include the same metals as those exemplified as the metal constituting the cathode conductive layer 108, but a metal selected from gold, silver, and aluminum is preferably used. At this time, magnesium may be mixed at a concentration of 10 to 90% so as to have the function of the electron injection layer.
  • the cathode conductive layer B is provided because the cathode conductive layer A alone is too thin to obtain a sufficient current.
  • Examples of the transparent conductor constituting the cathode conductive layer B include ITO, IZO, ZnO, ZTO, and the like mentioned as materials constituting the anode conductive layer 104.
  • the light extraction method of the organic light emitting diode is the bottom emission method in which the light extraction surface is the surface on the transparent substrate 102 side, but the present invention is limited to this.
  • a diffusion film may be provided on the transparent substrate 102 serving as a light extraction surface.
  • FIG. 18 illustrates an organic light emitting diode 200 in which a pyramid film 202 is provided as a diffusion film.
  • the pyramid film 202 is a film in which pyramidal uneven shapes are arranged at a constant pitch.
  • the array may be a one-dimensional array or a two-dimensional array.
  • Such an organic light emitting diode 200 differs from the organic light emitting diode 100 shown in FIG.
  • a pyramid film 202 is disposed on the lower side of the substrate 102.
  • the lower surface of the substrate 102 of the organic light emitting diode 200 and the pyramid film 202 are fixed with an adhesive.
  • substrate 102, an adhesive, and a pyramid film 202 are mutually the same refractive index.
  • the diffusion film include a microlens film in addition to the pyramid film.
  • the pitch of the unevenness of the diffusion film used for the organic light emitting diode 200 is preferably 1 ⁇ m or more, more preferably 5 to 20 ⁇ m. Further, as described above, the unevenness of the diffusion film may be a one-dimensional array or a two-dimensional array, but a two-dimensional array is more preferable.
  • the present invention is suitable for use as an organic light emitting diode used in an image display device or a lighting device.

Abstract

 一種の発光材料から作られる単色有機発光ダイオード素子の光の取出し効率が高く、かつ、微細凹凸構造のわずかな変化により取り出し波長が目的の発光波長からずれるおそれがないような、可視光から近赤外域中において任意の中心波長を持つある程度広がりを持った狭帯域の光を取り出すことを可能にした有機発光ダイオード用基板、有機発光ダイオード、有機発光ダイオード用基板の製造方法、有機発光ダイオードの製造方法、画像表示装置および照明装置を提供するものとし、基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機EL層と、半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、上記半透過金属層の上記透明導電層側と接している面に、複数の凸部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成されたトップエミッション型の有機発光ダイオードであって、上記面に形成された凸部における隣り合う凸部間の中心間距離Pは、上記面における複素数で表される表面プラズモンの伝搬定数の実部をkとすると、上記中心間距離Pは式(1)の範囲の値であるようにするものとし、上記式(1)におけるPは、上記二次元格子構造として三角格子構造を形成するときは、次式(2)を満たし、上記二次元格子構造として正方格子構造を形成するときは、次式(3)を満たすようにした。

Description

[規則37.2に基づきISAが決定した発明の名称] 有機発光ダイオード、有機発光ダイオードの製造方法、画像表示装置および照明装置
 本発明は、有機発光ダイオード用基板、有機発光ダイオード、有機発光ダイオード用基板の製造方法、有機発光ダイオードの製造方法、画像表示装置および照明装置に関し、さらに詳細には、電子とホールとの注入および再結合により発光し、凹凸構造を有する有機発光ダイオード用基板、有機発光ダイオード、有機発光ダイオード用基板の製造方法、有機発光ダイオードの製造方法、画像表示装置および照明装置に関する。
 有機発光ダイオードは、有機エレクトロルミネッセンス(以下、有機EL(Organic Electro-Luminescence)と称することとする。)を利用した発光素子であり、一般に、有機発光材料を含有する発光層を含む有機EL層を陽極および陰極で挟んだ構成となっている。
 なお、こうした有機EL層は、発光層のほかに、必要に応じて電子注入層、電子輸送層、ホール注入層、ホール輸送層などにより構成されることとなる。
 また、有機発光ダイオードは、発光層からの光を外部に取り出す面たる光取り出し面の違いにより、ボトムエミッション型とトップエミッション型とに分けられる。
 ボトムエミッション型の有機発光ダイオードは、ガラス基板などの透明な基板上に、酸化インジウム錫(ITO:Indium Tin Oxide)などの透明導電材料からなる陽極、発光層を含む有機EL層、金属材料からなる陰極を順次形成し、基板側から光が取り出される。即ち、ボトムエミッション型の有機発光ダイオードにおいては、基板面が光取り出し面となっている。
 一方、トップエミッション型の有機発光ダイオードでは、ガラス基板などの透明な基板上に、金属材料からなる陰極、発光層を含む有機EL層、ITOなどの透明導電材料からなる陽極を順次形成し、基板側とは反対側、つまり、陽極側から光が取り出される。即ち、トップエミッション型の有機発光ダイオードにおいては、陽極面が光取り出し面となっている。

 また、こうしたトップエミッション型の有機発光ダイオードでは、上記したような陽極をトップ(つまり、光が取り出される側に陽極が設けられたものである。)のトップエミッション型の有機発光ダイオードの他に、陰極をトップにした構成のトップエミッション型の有機発光ダイオードが知られている。
 即ち、この陰極トップのトップエミッション型の有機発光ダイオードでは、基板(ガラスなどの透明な基板に限らない。)上に、金属材料からなる反射層、ITOなどの透明導電材料からなる陽極、発光層を含む有機EL層、金属材料からなる陰極を順次形成し、さらに陰極上にITOなどの透明導電材料により層を形成し、基板側とは反対側、つまり陰極側から光が取り出される。つまり、陰極トップのトップエミッション型の有機発光ダイオードにおいては、陰極面が光取り出し面となっている。このため、陰極トップのトップエミッション型の有機発光ダイオードにおいては、陰極の金属層は光が透過可能なように薄膜に形成されている。
 より詳細には、陰極トップのトップエミッション型の有機発光ダイオードは、基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機EL層と、光透過可能な金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層された構成となっている。
 こうした有機発光ダイオードの特徴としては、視野角依存性が少ない、消費電力が少ない、非常に薄く作製することができるといった利点がある一方、発光層からの光を外部に取り出す効率たる光取り出し効率が低いといった問題点がある。
 この光取り出し効率とは、光取り出し面(ボトムエミッション型では基板面であり、陽極トップのトップエミッション型では陽極面であり、陰極トップのトップエミッション型では陰極面である。)から有機発光ダイオードの外部、つまり、自由空間中に放射される光量の割合を意味する。
 有機発光ダイオードにおいては、発光層からの光が全方向に出射するため、その光の多くが屈折率の異なる複数の層の界面で全反射を繰り返す導波モードとなり、層内を導波するうちに熱に変換されたり、各層における他の層と隣接していない側面から放射されるなどして光取り出し効率が低下してしまっていた。
 また、発光層と金属により形成される陰極との間の距離が近いことから、発光層からの近接場光の一部は陰極の表面で表面プラズモンに変換されて失われ、光取り出し効率が低下してしまっていた。
 この有機発光ダイオードにおける光取り出し効率は、当該有機発光ダイオードを利用したディスプレイや照明などの明るさに影響を及ぼすことになるため、効率を向上させるための方法が検討されている。

 従来、ボトムエミッション型の単色有機発光ダイオードに関して、単一周期を持つ格子からなる微細凹凸構造(対応波長は狭帯域である。)を素子内に導入する方法が知られていた。この単一格子によって、ボトムエミッション型の単色有機発光ダイオード素子内の陰極表面(発光層側)に生じる表面プラズモンを伝搬光に変換して取り出し、結果的にボトムエミッション型の単色有機発光ダイオードの光取り出し効率を向上するというものである。
 例えば、特願2010-246653では、周期微細凹凸構造のピッチと取り出し波長の関係を示しており、有機発光ダイオードを構成する発光材料の最大波長に対応した周期微細凹凸構造のピッチを知ることができた。また、ボトムエミッション型素子の層構成をボトム側とトップ側とを反転させた構造を有する陽極トップエミッション型素子の場合も特許文献5として示す国際公開第2012/060404号パンフレットに示した周期微細凹凸構造のピッチと取り出し波長の関係が成り立つ。
 しかし、これまでは陰極トップエミッション型素子について、周期微細凹凸構造のピッチと取り出し波長の関係は知られていなかった。陰極トップエミッション型素子の特徴として、極薄の金属材料からなる半透過電極を陰極とするため、従来の特許文献5に示した周期微細凹凸構造のピッチと取り出し波長の関係がそのまま適用できなかったためである。
 実際に、有機発光ダイオードを利用したアクティブマトリックス型のディスプレイに関しては、陰極トップエミッション型素子が使用されるため、光取り出し効率を高めるための最適な微細凹凸構造が不明であることは著しく不便であった。

 また、有機発光ダイオードの光取り出しに関しては、上記の他に重要な問題が知られている。即ち、有機発光ダイオードの層構成の型を問わず、単色有機発光ダイオードの光取り出し効率を向上するために、単一周期構造を有する格子からなる微細凹凸構造を素子内に導入する場合において、微細凹凸構造のピッチと取り出し波長とのマッチングが正確でないと取り出し効率向上の効果が得られないという問題点があった。
 これは、ボトムエミッション型素子、陽極トップエミッション型素子、陰極トップエミッション型素子のすべてに共通する課題である。
 そこで、後述する白色有機発光ダイオード用の微細凹凸構造(対応波長は広帯域である。)を単色有機発光ダイオード素子に使用することで、微細凹凸構造と取り出し波長とのマッチングを不要にする工夫が考えられた。しかし、白色有機発光ダイオード用の微細凹凸構造の光取り出し効率は、発光波長をある狭帯域に限定した場合には、単色有機発光ダイオード用の微細凹凸構造の光取り出し効率に劣るという問題点があった。
 本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、単色用微細凹凸構造(単一周期)の長所と白色用微細凹凸構造の長所とを併せ持つ新規単色用微細凹凸構造を提案するものである。
 なお、光取り出し効率を向上させる手法としては、特許文献1~5に表面プラズモン共鳴を利用する方法が開示されている。
 即ち、この特許文献1~5には、金属層(陰極)の表面に一次元または二次元の周期的微細凹凸構造を設けることにより、当該周期的微細凹凸構造が回折格子として機能し、金属層(陰極)表面の表面プラズモンを輻射させる。これにより、表面プラズモンとして失われていたエネルギーが光として取り出され、光取り出し効率が向上することとなる。

 上記の特許文献のうち特許文献4においては、粒子単層膜からなる2次元結晶体をエッチングマスクとしたドライエッチング法によって作製された凹凸構造である周期格子構造を有する有機発光ダイオード用基板を作製し、該有機発光ダイオード用基板上に陽極導電層、有機EL層、陰極導電層を順次積層する方法が開示されている。
 つまり、単色有機発光ダイオード用基板表面上に周期格子構造を形成すると、有機発光ダイオード用基板表面上に形成された周期格子構造の形状が各電極層や有機EL層の積層時に各層に順次転写されるため、陰極導電層の発光層側の表面には有機発光ダイオード用基板表面の周期格子構造が複写された形状の周期格子構造が形成され、光取出し効率を向上させることができるようになる。
 ここで、上記したような周期格子構造を形成した有機発光ダイオード用基板を備えた有機発光ダイオードにおいては、周期格子構造の凹凸構造のピッチや高さなどのパラメーターを変化させることにより、有機発光ダイオードから出射される光の強度、角度および波長範囲を変化することができることが知られている。
 従来においては、所望の波長である特定の単一波長の光を効率的に取り出し、強い光を得ることを目的として、凹凸構造の周期が一定となるように周期格子構造を作製するようにしていた。
 こうした背景には、周期格子構造である微細凹凸構造たる凹凸の周期が一定、即ち、凹凸の間隔が一定であるほど、ある波長に対する光の取り出し効率が向上するという理由があったためである。
 例えば、周期的微細凹凸構造に関する第1の従来技術として示す図1(a)は、図1(a)の(a-1)に示すように粒子径が一定の粒子径Dである粒子単層膜からなる2次元結晶体をエッチングマスクとしたドライエッチング法により、凹凸構造の周期が一定の周期格子構造を有する有機発光ダイオード用基板を作製した場合の例を示し、こうした凹凸構造の周期が一定の周期格子構造を有する有機発光ダイオード用基板表面の高さ分布のパワースペクトルが図1(a)の(a-2)に示されている。
 即ち、凹凸構造の周期が一定となるように有機発光ダイオード用基板表面の周期格子構造を形成した場合には、凹凸構造の高さ分布を2次元フーリエ変換して得られるパワースペクトルとしては正六角形の頂点の位置に並んだデルタ関数状の点列が得られるものである。
 そして、凹凸構造の周期が一定となる周期格子構造の高さ分布のパワースペクトルのプロファイルを図1(a)の(a-3)に示している。
 ここで、上記高さ分布のパワースペクトルとは、凹凸構造の高さ分布について2次元フーリエ変換を行うことによって波数ベクトル空間に変換し、パワースペクトル強度(振幅の絶対値の2乗)を求めてプロットしたものである。
 また、パワースペクトルのプロファイルとは、上記パワースペクトルにおいて波数の一定となる円周上でパワースペクトル強度を積分したものを、波数を横軸としてプロットしたものである。
 パワースペクトル空間の各点の座標は、波数ベクトルK=(K、K)に対応する。波数ベクトルの絶対値K=|K|=(K +K 1/2を波数と呼ぶ。また、波数は、空間周波数に2πを掛けたものに等しい。

 こうした高さ分布のパワースペクトルのプロファイルは、図1(a)の(a-3)に示すように、特定の波数で強度が高く、かつ、鋭いピークを備えており、当該特定の波数を持つ表面プラズモンが回折され光に変換されることを示している。その結果、その表面プラズモンと同じ振動数を持つ光の光取出し効率が高いことを示している。
 しかしながら、その一方で、光取出し効率が高い微細凹凸構造は周期のずれの許容範囲が狭いため、微細凹凸構造がわずかに変化しただけで取り出し波長が目的の発光波長からずれるおそれがあるという問題点があった。

 そのため、白色光の光取り出し効率を上げたい場合など、広帯域の光を得ることが目的である場合、凹凸構造の周期が一定の2次元格子構造を有する有機発光ダイオード用基板では、所望の光を得ることは難しいことが指摘されていた。
 なお、広帯域の光を得ることが目的である場合とは、取り出す光の波長が可視光領域全体(380nm~780nm)にわたる白色有機発光ダイオードを作製する場合や、それよりもさらに広帯域の光、例えば、可視光~近赤外領域全体(380nm~2500nm)にわたる光を取り出す場合などである。
 こうした問題点を解決するための手法として、有機発光ダイオード用基板表面に形成する凹凸構造のピッチや高さなどを不揃いにする手法が提案されている。
 また、周期的微細凹凸構造に関する第2の従来技術として示す図1(b)は、図1(b)の(b-1)に示すように複数の粒子径(例えば、2種類以上)の粒子を混合して形成した粒子単層膜からなる2次元結晶体をエッチングマスクとしたドライエッチング法により、ピッチが不揃いの凹凸構造を有する有機発光ダイオード用基板を作製した場合の例を示し、こうしたピッチが不揃いの凹凸構造を有する有機発光ダイオード用基板表面の高さ分布のパワースペクトルが図1(b)の(b-2)に示されている。
 即ち、ピッチが不揃いとなるように有機発光ダイオード用基板表面の凹凸構造を形成した場合には、高さ分布のパワースペクトルとしては円状の領域に分布を示すものが得られる。
 このピッチが不揃いとなる凹凸構造を有する有機発光ダイオードより得られたピッチが不揃いの凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルのプロファイルは、図1(b)の(b-3)に示すように、広帯域の波数域においてある程度の強度を備えているが、その絶対値は凹凸構造の周期が一定となるものと比較して高くないものであった。
 しかし、凹凸構造の高さを単純に高くすることでパワースペクトル強度を得ようとすると、表面プラズモンが局在化してしまう傾向が現れること、および、素子内の短絡が発生しやすくなることという新たな問題が発生するため好ましくない。
 つまり、ピッチが不揃いとなる凹凸構造を有する有機発光ダイオードによれば、可視光から近赤外域において任意の広帯域波長域の電磁波の取出し効率に優れた有機発光ダイオードを実現でき、微細凹凸構造がわずかに変化しただけで取り出し波長が目的の発光波長からずれるおそれはないものの、取り出される光の強度が弱いという新たな問題点を招来するものであった。
特開2002-270891号公報 特開2004-31350号公報 特表2005-535121号公報 特開2009-158478号公報 国際公開第2012/060404号パンフレット
 本発明は、上記したような従来の技術の有する種々の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、(1)陰極トップエミッション型有機発光ダイオード素子について、周期微細凹凸構造のピッチと発光材料のスペクトルの中の取り出し波長の関係を示し、表面プラズモン取り出しによって、狭帯域の光を取り出すことを可能にした光取り出し効率に優れた有機発光ダイオード用基板、有機発光ダイオード、有機発光ダイオード用基板の製造方法、有機発光ダイオードの製造方法、画像表示装置および照明装置を提供しようとすること、および、(2)一種の発光材料から作られる単色有機発光ダイオード素子の光の取り出し効率が高く、かつ、微細凹凸構造のわずかな変化により取り出し波長が目的の発光波長からずれるおそれがないような、可視光から近赤外域中において任意の中心波長を持つある程度広がりを持った狭帯域の光を取り出すことを可能にした光取り出し効率に優れた有機発光ダイオード用基板、有機発光ダイオード、有機発光ダイオード用基板の製造方法、有機発光ダイオードの製造方法、画像表示装置および照明装置を提供しようとすることである。
 上記目的を達成するために、本発明による有機発光ダイオードは、基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、上記半透過金属層の上記透明導電層側と接している面に、複数の凸部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成されたトップエミッション型の有機発光ダイオードであって、上記面に形成された凸部における隣り合う凸部間の中心間距離Pは、上記面における複素数で表される表面プラズモンの伝搬定数の実部をkとすると、上記中心間距離Pは式(1)の範囲の値であるようにするものとし、上記式(1)におけるPは、上記二次元格子構造として三角格子構造を形成するときは、次式(2)を満たし、上記二次元格子構造として正方格子構造を形成するときは、次式(3)を満たすようにしたものである。

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000013

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000014

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000015
 また、本発明による有機発光ダイオードは、基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、上記半透過金属層の上記透明導電層側と接している面に、複数の凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成されたトップエミッション型の有機発光ダイオードであって、上記面に形成された凹部における隣り合う凹部間の中心間距離Pは、上記面における複素数で表される表面プラズモンの伝搬定数の実部をkとすると、上記中心間距離Pは式(1)の範囲の値であるようにするものとし、上記式(1)におけるPは、上記二次元格子構造として三角格子構造を形成するときは、次式(2)を満たし、上記二次元格子構造として正方格子構造を形成するときは、次式(3)を満たすようにしたものである。

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000016

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000017

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000018
 また、本発明による有機発光ダイオードは、基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、上記半透過金属層の上記有機エレクトロルミネッセンス層と接している面に複数の凸部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成されたトップエミッション型の有機発光ダイオードであって、上記面に形成された凸部における隣り合う凸部間の中心間距離Pは、上記面における複素数で表される表面プラズモンの伝搬定数の実部をkとすると、上記中心間距離Pは式(1)の範囲の値であるようにするものとし、上記式(1)におけるPは、上記二次元格子構造として三角格子構造を形成するときは、次式(2)を満たし、上記二次元格子構造として正方格子構造を形成するときは、次式(3)を満たすようにしたものである。

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000019

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000020

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000021

 また、本発明による有機発光ダイオードは、基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、上記半透過金属層の上記有機エレクトロルミネッセンス層と接している面に複数の凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成されたトップエミッション型の有機発光ダイオードであって、上記面に形成された凹部における隣り合う凹部間の中心間距離Pは、上記面における複素数で表される表面プラズモンの伝搬定数の実部をkとすると、上記中心間距離Pは式(1)の範囲の値であるようにするものとし、上記式(1)におけるPは、上記二次元格子構造として三角格子構造を形成するときは、次式(2)を満たし、上記二次元格子構造として正方格子構造を形成するときは、次式(3)を満たすようにしたものである。

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000022

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000023

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000024

 また、本発明による有機発光ダイオードは、基板上に、少なくとも、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる陰極導電層とが順次積層され、上記陰極導電層の上記有機エレクトロルミネッセンス層と接している面に、複数の凹凸部によるランダムな微細凹凸構造が形成された、ボトムエミッション型の有機発光ダイオードであって、上記有機発光材料より得られる光の発光スペクトルのピークλpeakの半値を与える波長のうち、短い方の波長をλ、長い方の波長をλとし、波長2λ-λpeakおよび2λ-λpeakに対応する陰極導電層と有機エレクトロルミネッセンス層との界面における表面プラズモンの伝搬定数の実部をそれぞれkおよびkとしたとき、上記界面の上記微細凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルが波数Kと波数Kとの間で有限の値を持ち、かつ、この波数範囲内のスペクトル強度の積分値が全波数にわたるスペクトル強度の50%以上の強度の値を有するようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードは、基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、上記半透過金属層の上記有機エレクトロルミネッセンス層と接している面に、複数の凹凸部によるランダムな微細凹凸構造が形成された、トップエミッション型の有機発光ダイオードであって、上記有機発光材料より得られる光の発光スペクトルのピークλpeakの半値を与える波長のうち、短い方の波長をλ、長い方の波長をλとし、波長2λ-λpeakおよび2λ-λpeakに対応する陰極導電層と有機エレクトロルミネッセンス層との界面における表面プラズモンの伝搬定数の実部をそれぞれkおよびkとしたとき、上記界面の上記微細凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルが波数Kと波数Kとの間で有限の値を持ち、かつ、この波数範囲内のスペクトル強度の積分値が全波数にわたるスペクトル強度の50%以上の強度の値を有するようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードは、基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、上記半透過金属層の上記透明導電層と接している面に、複数の凹凸部によるランダムな微細凹凸構造が形成された、トップエミッション型の有機発光ダイオードであって、上記有機発光材料より得られる光の発光スペクトルのピークλpeakの半値を与える波長のうち、短い方の波長をλ、長い方の波長をλとし、波長2λ-λpeakおよび2λ-λpeakに対応する陰極導電層と有機エレクトロルミネッセンス層と接している面における表面プラズモンの伝搬定数の実部をそれぞれkおよびkとしたとき、上記界面の上記微細凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルが波数Kと波数Kとの間で有限の値を持ち、かつ、この波数範囲内のスペクトル強度の積分値が全波数にわたるスペクトル強度の50%以上の強度の値を有するようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードは、基板上に、少なくとも、金属材料からなる陰極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、透明導電材料からなる陽極導電層とが順次積層され、上記陰極導電層の上記有機エレクトロルミネッセンス層と接している面に、複数の凹凸部によるランダムな微細凹凸構造が形成された、トップエミッション型の有機発光ダイオードであって、上記有機発光材料より得られる光の発光スペクトルのピークλpeakの半値を与える波長のうち、短い方の波長をλ、長い方の波長をλとし、波長2λ-λpeakおよび2λ-λpeakに対応する陰極導電層と有機エレクトロルミネッセンス層との界面における表面プラズモンの伝搬定数の実部をそれぞれkおよびkとしたとき、上記界面の上記微細凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルが波数Kと波数Kとの間で有限の値を持ち、かつ、この波数範囲内のスペクトル強度の積分値が全波数にわたるスペクトル強度の50%以上の強度の値を有するようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードは、上記した有機発光ダイオードにおいて、上記金属層を形成する金属材料は、AgまたはAlまたはAgの含有率が70質量%以上の合金またはAlの含有率が70質量%以上の合金であるようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードは、上記した有機発光ダイオードにおいて、上記凹部の深さならびに上記凸部の高さは、15~180nmであるようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードの製造方法は、上記した有機発光ダイオードを製造する有機発光ダイオードの製造方法であって、上記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を作製し、複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成された上記基板の表面に、上記反射層と、上記陽極導電層と、上記有機エレクトロルミネッセンス層と、上記陰極導電層とを順次積層するようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードの製造方法は、上記した有機発光ダイオードの製造方法において、所定の粒子が二次元に最密充填した粒子単層膜をエッチングマスクとしたドライエッチング法によって、上記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を形成するようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードの製造方法は、上記した有機発光ダイオードの製造方法において、所定の粒子が二次元に最密充填した粒子単層膜をエッチングマスクとしたドライエッチング法によって、複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した構造が形成された鋳型を作製し、上記鋳型に形成された複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を転写して、上記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を形成するようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードの製造方法は、半透過金属層の上記透明導電層側と接している面に複数の凸部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成されたトップエミッション型の上記した有機発光ダイオードの製造方法において、上記所定の粒子において、粒径Dは、式(4)を満たすようにしたものである。

[数4]
 D=P ・・・(4)
 また、本発明による有機発光ダイオードは、上記金属層を形成する金属材料は、Ag、AlもしくはAgの含有率が10質量%以上の合金またはAlの含有率が10質量%以上の合金であるようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードは、上記凹部の深さならびに前記凸部の高さは、15~180nmであるようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードの製造方法は、上記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を作製し、複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成された上記基板の表面に、少なくとも、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる陰極導電層とを、上記凸部または凹部が複写されるように順次積層するようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードの製造方法は、半透過金属層の上記透明導電層側と接している面に、複数の凸部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成されたトップエミッション型の上記有機発光ダイオードの製造方法において、上記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を作製し、複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成された上記基板の表面に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とを、上記凸部または凹部が複写されるように順次積層するようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードの製造方法は、半透過金属層の上記透明導電層側と接している面に、複数の凸部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成されたトップエミッション型の有機発光ダイオードの製造方法において、上記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を作製し、複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成された上記基板の表面に、少なくとも、金属材料からなる陰極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、透明導電材料からなる陽極導電層とを、上記凸部または凹部が複写されるように順次積層するようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードの製造方法は、平均粒子径の異なる複数の粒子の混合物を用いて形成した粒子単層膜をエッチングマスクとしたドライエッチング法によって、上記基板の表面に複数の凸部または凹部がランダムに二次元に配列した二次元格子構造を形成するようにしたものである。
 また、本発明による有機発光ダイオードの製造方法において、所定の粒子が二次元に最密充填した粒子単層膜をエッチングマスクとしたドライエッチング法によって、複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した構造が形成された原盤を作製し、上記原盤から電鋳法、ナノインプリント法、射出成型法またはUVエンボス法のいずれかの方法で作製した転写体を鋳型とし、上記鋳型からナノインプリント法、射出成型法またはUVエンボス法のいずれかの方法により、上記鋳型に形成された複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を転写して、上記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を形成するようにしたものである。
 また、本発明による画像表示装置は、上記した有機発光ダイオードを備えるようにしたものである。
 また、本発明による照明装置は、上記した有機発光ダイオオードを備えるようにしたものである。
 本発明は、以上説明したように構成されているので、高い光取り出し効率を得ることができ、かつ、微細凹凸構造のわずかな変化により取り出し波長が目的の発光波長からずれるおそれがないような、可視光から近赤外域中でのある程度広がりを持った狭帯域の光を取り出すことが可能になるという優れた効果を奏する。
図1(a)は、周期的微細凹凸構造に関する第1の従来技術を示す説明図であり、図1(a)の(a-1)は、粒子径が一定の粒子径Dである粒子単層膜を示し、また、図1(a)の(a-2)は、凹凸構造の周期が一定の2次元格子構造を有する有機発光ダイオード用基板表面の高さ分布のパワースペクトルを示し、また、図1(a)の(a-3)は、凹凸構造の周期が一定となる2次元格子構造の高さ分布のパワースペクトルのプロファイルを示す。また、図1(b)は、周期的微細凹凸構造に関する第2の従来技術を示す説明図であり、図1(b)の(b-1)は、複数の粒子径(例えば、2種類以上。)の粒子を混合して形成した粒子単層膜を示し、また、図1(b)の(b-2)は、ピッチが不揃いの凹凸構造を有する有機発光ダイオード用基板表面の高さ分布のパワースペクトルを示し、また、図1(b)の(b-3)は、ピッチが不揃いとなる凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルのプロファイルを示す。 図2は、本発明の第1の実施の形態による有機発光ダイオードを示す概略構成説明図である。 図3(a)は、図2の有機発光ダイオードにおける陰極導電層の裏面に形成された微細凹凸構造を示す概略構成斜視説明図であり、また、図3(b)は、図2の有機発光ダイオードにおける基板の表面に形成された微細凹凸構造を示す概略構成斜視説明図である。 図4は、有機発光ダイオードの層構成中の双極子を示す説明図である。 図5は、有機発光ダイオードの金属層の裏面より基板側20nmの距離に双極子をおいたときのエネルギー散逸と、有機発光ダイオードの金属層の裏面より空気側20nmの距離に双極子をおいたときのエネルギー散逸を示すグラフである。 図6は、双極子のエネルギー散逸を示すグラフである。 図7(a)は、ドライエッチング処理後の基板の表面をAFMで観察した説明図が示されており、また、図7(b)は、図7(a)のA-A線により断面図が示されている。 図8は、本発明の第2の実施の形態によるボトムエミッション型の有機発光ダイオードの構造の一例を示す概略構成断面説明図である。 図9は、本発明の第2の実施の形態による有機発光ダイオードの特性を示す説明図であり、図9(a-1)は、本発明の第2の実施の形態による粒子単層膜を示し、また、図9(a-2)は、本発明の第2の実施の形態による凹凸構造を有する有機発光ダイオード用基板表面の高さ分布のパワースペクトルを示し、また、図9(a-3)は、本発明の第2の実施の形態による有機発光ダイオード用基板表面の高さ分布のパワースペクトルのプロファイルを示す。 図10(a)は、本発明による有機発光ダイオードにおける陰極導電層の裏面に形成された微細凹凸構造を示す概略構成斜視説明図であり、また、図10(b)は、本発明による有機発光ダイオードにおける基板の表面に形成された微細凹凸構造を示す概略構成斜視説明図である。 図11は、有機発光ダイオードの金属層の裏面より基板側20nmの距離に双極子をおいたときのエネルギー散逸と、有機発光ダイオードの金属層の裏面より空気側20nmの距離に双極子をおいたときのエネルギー散逸を示すグラフである。 図12は、本発明による有機発光ダイオード用基板に形成された凹凸構造を原子間力顕微鏡(AFM:Atomic Force Microscope)により測定したAFM像を示す説明図である。 図13(a)は、第1の実施の形態の有機発光ダイオード10および第2の実施の形態の有機発光ダイオード100の光取り出し効率および発光効率に関する具体例を示す表であり、図13(b)および(c)は、微細凹凸構造のスペクトルにおけるKpeakについて説明する概念説明図である。 図14(a)は、620nmにピークを有する発光材料のスペクトルに対応する表面プラズモンのスペクトルを概念的に示した説明図であり、図14(b)は、図13(a)に示した第1の実施の形態の有機発光ダイオード10の具体例による微細凹凸構造のスペクトルを概念的に示した説明図であり、図14(c)は、図13(a)に示した比較例1の微細凹凸構造のスペクトルを概念的に示した説明図であり、図14(d)は、図13(a)に示した第2の実施の形態の有機発光ダイオード100の具体例による微細凹凸構造のスペクトルを概念的に示した説明図であり、図14(e)は、図13(a)に示した比較例2の微細凹凸構造のスペクトルを概念的に示した説明図である。 図15は、発光材料のスペクトルに対する表面プラズモンのスペクトル強度と微細凹凸構造のスペクトル強度とが重なる割合について説明する概念説明図である。 図16は、本発明によるトップエミッション型の有機発光ダイオードの構造の一例を示す概略構成断面説明図である。 図17は、本発明によるトップエミッション型の有機発光ダイオードの構造の一例を示す概略構成断面説明図である。 図18は、本発明によるボトムエミッション型の有機発光ダイオードの構造の変形例を示す概略構成断面説明図である。
(1)第1の実施の形態
 以下、添付の図面を参照しながら、本発明による有機発光ダイオードの第1の実施の形態について詳細に説明する。
 なお、以下の説明においては、本発明を用いるものである限り、必ずしも対象とする有機発光ダイオードの構造および方式を限定するものではない。
 (1-1)第1の実施の形態による有機発光ダイオードの構成
 ここで、図2には、本発明による有機発光ダイオードの第1の実施の形態を示す概略構成説明図が示されている。
 この図2に示す有機発光ダイオード10は、一般に陰極トップのトップエミッション型と称されるタイプの単色有機発光ダイオードであり、基板12上に反射層22と陽極導電層14と有機EL層16と陰極導電層18とが順次積層されている。
 そして、陽極導電層14と陰極導電層18とには、電源20により電圧を印加することができるようになされている。
 この有機発光ダイオード10においては、陽極導電層14と陰極導電層18とに電圧を印加すると、陽極導電層14から有機EL層16にホールが注入されるとともに、陰極導電層18から有機EL層16に電子が注入され、陰極導電層18側から有機EL層で発生した光が取り出されるようになる。

 こうした有機発光ダイオード10の反射層22は、有機EL層16からの光を反射して基板12から当該光が取り出されないように設けられた層である。従って、反射層22は、可視光を反射する金属材料により構成されており、例えば、AgあるいはAlを用いて構成される。また、こうした反射層22の厚さは、例えば、100~200nmが好ましい。
 なお、反射層22を含む有機発光ダイオード10を構成する各層の厚さは、分光エリプソメーター、接触式段差計あるいは原子力間顕微鏡(Atomic Force Microscope(AFM))などにより測定することができる。
 また、陽極導電層14は、可視光を透過する透明導電材料により構成されている。こうした透明導電材料は、特に限定されず、透明導電材料として公知のものを用いることができる。具体的には、陽極導電層14に用いる透明導電材料としては、インジウム-スズ酸化物(Indium Tin Oxide(ITO))、インジウム-亜鉛酸化物(Indium Zinc Oxide(IZO))、酸化亜鉛(Zinc Oxide(ZnO))あるいは亜鉛-スズ酸化物(Zinc Tin Oxide(ZTO))などが挙げられる。また、こうした陽極導電層14の厚さは、例えば、50~200nmが好ましい。
 また、有機EL層16は、電源20からホールが注入されるホール注入層16-1と、ホール注入層16-1において注入されたホールを後述する発光層16-3に輸送するとともに、当該発光層16-3からの電子を遮断するホール輸送層16-2と、有機発光材料を含有するとともに、ホール輸送層16-2から輸送されたホールと後述する電子輸送層16-4から輸送された電子とが結合して発光する発光層16-3と、後述する電子注入層16-5において注入された電子を発光層16-3に輸送するとともに、当該発光層16-3からのホールを遮断する電子輸送層16-4と、電源20から電子が注入される電子注入層16-5とにより構成されている。
 そして、有機EL層16は、陽極導電層14上に、ホール注入層16-1、ホール輸送層16-2、発光層16-3、電子輸送層16-4、電子注入層16-5の順で積層されている。
 なお、これらの層は、一層の役割が一つの場合もあるし、二つ以上の役割を兼ねる場合もあり、例えば、電子輸送層16-4と発光層16-3とを一つの層で兼ねることができるものである。
 つまり、有機EL層16は、少なくとも、有機発光材料を含有する発光層16-3を含む層であればよく、発光層16-3のみから構成されてもよいが、一般的には、発光層16-3以外の他の層が含まれるものである。こうした発光層16-3以外の層は、発光層16-3の機能を損なわない限り、有機材料から構成されるものであっても無機材料から構成されるものであってもよい。
 本実施の形態においては、有機EL層16をホール注入層16-1、ホール輸送層16-2、発光層16-3、電子輸送層16-4および電子注入層16-5の5層から構成されるものとした。これらの層の中で最も重要な層は発光層16-3であり、例えば、ホール注入層16-1や電子注入層16-5は省略することも可能である。また、電子輸送層16-4は発光層16-3を兼ねることもできる。
 有機EL層16の各層を構成する材料は、特に限定されず、公知のものを用いることができる。
 即ち、発光層16-3を構成する材料としては、有機発光材料が用いられ、こうした有機発光材料としては、例えば、Tris[1-phenylisoquinoline-C2,N]iridium(III)(Ir(piq)3)、1,4-bis[4-(N,N-diphenylaminostyrylbenzene)](DPAVB)、Bis[2-(2-benzoxazolyl)phenolate]Zinc(II)(ZnPBO)などの色素化合物が挙げられる。
 また、蛍光性色素化合物やりん光発光性材料を他の物質(ホスト材料)にドープしたものを用いてもよい。この場合には、ホスト材料としてはホール輸送層16-2を構成する材料や電子輸送層16-4を構成する材料あるいは専用のホスト材料を用いるようにする。
 ホール注入層16-1、ホール輸送層16-2ならびに電子輸送層16-4を構成する材料としては、それぞれ有機材料が一般的に用いられる。
 ホール注入層16-1を構成する材料としては、例えば、4,4’、4”-tris(N,N-2naphthylphenylamino)triphenylamine(2-TNATA)などの化合物が挙げられる。
 また、ホール輸送層16-2を構成する材料としては、例えば、N,N’-ジフェニル-N,N’-ビス(1-ナフチル)-(1-1’-ビフェニル)-4,4’-ジアミン(NPD)、銅フタロシアニン(CuPc)、N,N’-Diphenyl-N-N’-di(m-tolyl)benzidine(TPD)などの芳香族アミン化合物などが挙げられる。
 さらに、電子輸送層16-4を構成する材料としては、例えば、2,5-Bis(1-naphthyl)-1,3,4-oxadiazole(BND)、2-(4-tert-Butylphenyl)-5-(4-biphenylyl)-1,3,4-oxadiazole(PBD)などのオキサジオール系化合物、Tris(8-quinolinolate)aluminium(Alq)などの金属錯体系化合物などが挙げられる。
 さらにまた、電子注入層16-5を構成する材料としては、例えば、フッ化リチウム(LiF)などが挙げられる。
 こうした電子注入層16-5を電子輸送層16-4と陰極導電層18との間に設けると、仕事関数の差を少なくすることができ、陰極導電層18から電子輸送層16-4に電子が移行しやすくなる。
 なお、陰極導電層18としてMg/Ag=10/90などのマグネシウム合金を使用すると、電子注入層16-5を設けなくても、電子注入効果を得ることが可能となる。
 こうした有機EL層16の全体の厚さとしては、例えば、30~500nmが好ましい。
 また、陰極導電層18は、電源20の陰極と接続された金属層18-1と透明導電層18-2とにより構成されており、有機EL層16上に金属層18-1と透明導電層18-2とが順次積層されている。
 金属層18-1は、Ag、Agの含有率が70%以上の合金、AlまたはAlの含有率が70%以上の合金からなり、当該合金としては、例えば、上記したMg/Ag=10/90などのマグネシウム合金が挙げられる。
 この金属層18-1の厚さとしては、例えば、10~30nmが好ましく、有機EL層16からの光を透過可能としている。
 透明導電層18-2は、陽極導電層14と同様に、可視光を透過する透明導電材料により構成されており、こうした透明導電材料としては、特に限定されず、透明導電材料として公知のものを用いることができる。具体的には、透明導電層18-2に用いる透明導電材料としては、インジウム-スズ酸化物(Indium Tin Oxide(ITO))、インジウム-亜鉛酸化物(Indium Zinc Oxide(IZO))、酸化亜鉛(Zinc Oxide(ZnO))あるいは亜鉛-スズ酸化物(Zinc Tin Oxide(ZTO))などが挙げられる。
 ここで、有機発光ダイオード10は、陰極導電層18側から光を取り出すトップエミッション型である。このため、有機EL層16からの光を透過することを可能とするために、金属層18-1を薄層で形成している。
 このとき、陰極導電層18を金属層18-1のみとすると、金属層18-1が薄層であるため体積抵抗が大きくなる。
 このため有機発光ダイオード10においては、陰極導電層18として金属層18-1とともに透明導電層18-2を補助電極層として設けることにより導電性の向上を図っている。
 こうした透明導電層18-2の厚さは、例えば、50~200nmが好ましい。
 また、基板12は、可視光を透過する透明体または可視光を透過しない不透明体が用いられ、基板12を構成する材料としては、無機材料でも有機材料でもよく、それらの組み合わせであってもよい。
 具体的には、基板12を構成する材料として、透明体の無機材料としては、石英ガラス、無アルカリガラス、ソーダライムガラスなどのアルカリガラス、白板ガラスなどの各種ガラス、マイカなどの透明無機鉱物などが挙げられ、不透明体の無機材料としては、アルミニウム、ニッケル、ステンレスなどの金属、各種セラミックスなどが挙げられる。有機材料としては、シクロオレフィン系フィルム、ポリエステル系フィルムなどの樹脂フィルム、当該樹脂フィルム中にセルロースナノファイバーなどの微細繊維を混入した繊維強化プラスチック材料などが挙げられる。有機材料についても透明体、不透明体の両方が使用可能である。
 また、基板12の陽極導電層14が積層される側の表面12aには、複数の凸部12bを周期的に二次元に配列した構造(以下、「周期的に二次元に配列した構造」を、「二次元格子構造」と適宜に称することとする。)が設けられている。
 この二次元格子構造が形成された基板12上に反射層22、陽極導電層14、有機EL層16、陰極導電層18が順次積層されることで、各層の表面(つまり、基板12が位置する側と反対側の面である。)には、基板12の表面12aと同様の複数の凸部による2次元格子構造が形成されることとなる。
 また、有機発光ダイオード10を構成する各層の裏面(つまり、基板12が位置する側の面である。)には、基板12の表面12aに形成された構造が反転した構造、即ち、複数の凹部が周期的に配列した構造、つまり、複数の凹部による二次元格子構造が形成されることとなる。
 具体的には、金属層18-1について着目すると、金属層18-1の表面18-1a(つまり、透明導電層18-2が位置する側の面である。)には、基板12の表面12aに形成された複数の凸部12bと同等の二次元格子構造を形成して複数の凸部が形成される。一方、金属層18-1の裏面18-1c(つまり、有機EL層16が位置する側の面であり、陰極導電層18の裏面18aである。)には、基板12の表面12aに形成された構造が反転した構造、即ち、複数の凹部18bが周期的に二次元に配列した構造、つまり、複数の凹部18bによる二次元格子構造が形成されることとなる。
 こうした二次元格子構造が設けられることで、陰極導電層18における金属層18-1において励起される表面プラズモンが伝搬光として取り出される。
 発光層16-3で発光分子から発光する際には、ごく近傍に近接場光が発生するものであるが、この近接場光は、発光層16-3と金属層18-1との距離が非常に近いため、金属層18-1の表面18-1aおよび裏面18-1cで伝搬型の表面プラズモンに変換される。

 こうした金属表面の伝搬型表面プラズモンは、入射した電磁波(近接場光など)により生じる自由電子の粗密波が表面電磁場を伴うものである。平坦な金属表面に存在する表面プラズモンの場合、当該表面プラズモンの分散曲線と光(空間伝搬光)の分散直線とは交差しないため、表面プラズモンのエネルギーを光として取り出すことができない。これに対し、金属表面に格子構造が形成されていると、当該格子構造によって回折された表面プラズモンの分散曲線が空間伝搬光の分散曲線と交差するようになり、表面プラズモンを輻射光として取り出すことができる。
 このように、二次元格子構造が設けられていることにより、表面プラズモンとして失われていた光のエネルギーが取り出されるようになる。こうして取り出されたエネルギーは、輻射光として陰極導電層18における金属層18-1から放射される。
 このとき、金属層18-1から輻射される光は指向性が高く、適切な設計をすればその大部分が光取り出し面たる陰極導電層18の表面18c(つまり、透明導電層18-2における金属層18-1が位置する側と反対側の面である。)に向かう。そのため、有機発光ダイオード10においては、光取り出し面から高強度の光が出射し、光取り出し効率が向上することとなる。
 こうした二次元格子構造では、例えば、陰極導電層18に着目すると、裏面18a(つまり、金属層18-1の裏面18-1cである。)に形成された凹部18bが二次元に配列されることにより、一次元の場合(つまり、配列方向が一方向であることであり、例えば、複数の溝が一方向に並んで配置されたような構造である。)よりも取り出し効率が高くなる。
 こうした二次元格子構造の好ましい具体例としては、配列方向が2方向で、その交差角度が90°であるもの(正方格子)、配列方向が3方向で、その交差角度が60°であるもの(三角格子(六方格子ともいう。))などが挙げられ、三角格子構造が特に望ましい。これは、配列方向が多い方が、回折光を得られる条件が多くなり、高効率で表面プラズモンを回折できるためである。
 こうした二次元格子構造において三角格子構造を形成するには、粒子が二次元的な六方最密充填配置を取る粒子単層膜を形成し、当該粒子単層膜をエッチングマスクとしてドライエッチングを行うことにより、簡単に取得することができる。なお、こうした粒子単層膜による三角格子構造を形成する方法については、後述する。
 ここで、裏面18aに形成される凹部18bの深さD1としては、15nm≦D1≦180nmとし、30nm≦D1≦100nmが好ましく、D1<15nmあるいはD1>180nmであるときには、光取り出し効率の向上効果が不十分となってしまう。
 上記した凹部18bの深さD1の範囲は、以下の理由に基づく。

 即ち、凹部18bの深さD1が15nm未満であると(つまり、D1<15nmのときである。)、二次元格子構造として十分な表面プラズモンの回折波を生成できなくなり、表面プラズモンを輻射光として取り出す効果が低下する。
 また、凹部18bの深さD1が180nmを超えると(つまり、D1>180nmのときである。)、表面プラズモンが局在型の性質を持ち始め、伝搬型ではなくなってくるため、輻射光の取り出し効率が低下する。さらに、この場合には、有機発光ダイオード10の反射層22、陽極導電層14、有機EL層16、陰極導電層18を順次積層する際に、凹凸が急峻であるため陽極導電層14と陰極導電層18とが短絡する可能が高くなってくるため好ましくない。
 凹部18bの深さD1は、基板12の表面12aに形成された凸部12bの高さH1と同じとなっているため、凸部12bの高さをAFMにより測定することで間接的に定量することができる。
 例えば、まず、二次元格子構造内の無作為に選択された5μm×5μmの領域1カ所についてAFM像を取得し、次に、取得したAFM像の対角線方向に線を引き、この線と交わった凸部12bの最大高さをそれぞれ単独に算出する。その後、算出した凸部12bの高さの平均値を算出する。こうした処理を無作為に選択された合計25カ所の5μm×5μmの領域について同様に実行し、各領域における凸部12bの平均値を算出し、得られた25カ所の領域における平均値をさらに平均した値を凸部12bの高さとする。
 この凸部12bの形状は、特に限定されず、例えば、円柱形状、円錐形状、円錐台形状)、正弦波形状、ドーム形状あるいは、それらを基本とした派生形状などが挙げられる。
 次に、有機発光ダイオード10の製造方法について説明するが、はじめに、この有機発光ダイオード10の製造方法は、特に限定されるものではないが、好ましくは、その表面12aに複数の凸部12bが二次元格子構造で形成された基板12の当該表面12a上に反射層22と、陽極導電層14と、有機EL層16(ホール注入層16-1、ホール輸送層16-2、発光層16-3、電子輸送層16-4、電子注入層16-5)と、陰極導電層18(金属層18-1、透明導電層18-2)とを順次積層する。

 この場合、陰極導電層18の裏面18a(つまり、金属層18-1の裏面18-1cである。)に形成された複数の凹部18bによる二次元格子構造は、基板12の表面12aに形成された複数の凸部12bによる二次元格子構造に対応したものとなる(図3(a)(b)を参照する。)。
 即ち、陰極導電層18の裏面18aに形成された複数の凹部18bにおける隣り合う凹部18b間の中心間距離P1(以下、「隣り合う凹部18b間の中心間距離P1」を、「凹部18bの中心間距離P1」と称することとする。)は、基板12の表面12aに形成された複数の凸部12bにおける隣り合う凸部12b間の中心間距離P2(以下、「隣り合う凸部12b間の中心間距離P2」を、「凸部12bの中心間距離P2」と称することとする。)と一致し、凹部18bの深さD1は凸部12bの高さH1と一致するものとなる。
 このため、基板12の表面12aに形成された凸部12bの中心間距離P2および凸部12bの高さH1をそれぞれ測定することで、陰極導電層18の裏面18aに形成された凹部18bの中心間距離P1および凹部18bの深さD1を測定することができる。
 なお、こうした凹部18bの中心間距離P1は、凸部12bの中心間距離P2をレーザー回折法で測定することにより間接的に測定することができ、また、凹部18bの深さD1は、凸部12bの高さH1をAFMにより測定することにより間接的に測定することができる。
 以下、有機発光ダイオード10の製造方法についてさらに詳細に説明することとする。
 まず、基板12の表面12aに形成された複数の凸部12bによる二次元格子構造の作製方法には、例えば、電子ビームリソグラフィー、機械式切削加工、レーザー加工、二光束干渉露光、縮小露光などを用いることができる。また、原盤を先に作製しておけば、ナノインプリント法による微細凹凸構造の転写・複製も可能である。
 こうした手法のうち、二光束干渉露光およびナノインプリント法以外の手法は、大面積に周期格子構造を作製するのに適さないため、工業的な利用面において面積の制約を受ける。
 また、二光束干渉露光は、ある程度の小面積は作製可能であるが、一辺が数cm以上の大面積の場合には、光学セットアップ全体に対する振動、風、熱収縮、膨張、空気の揺らぎ、電圧変動などの様々な外乱要因が影響して、均一で正確な周期格子構造を作製することは極めて困難である。

 そこで、有機発光ダイオード10における基板12の表面12aに形成された複数の凸部12bによる二次元格子構造の作製方法としては、粒子単層膜をエッチングマスクとしたドライエッチング方法(以下、「粒子単層膜をエッチングマスクとしてドライエッチングを行う方法」を、「粒子単層膜を用いたエッチング方法」と称することとする。)が好ましい。
 この方法は、基板12の表面12aに発光波長以下の一次粒子径を有する粒子の単層膜を、ラングミュア・ブロジェット法(以下、「LB法」と適宜に称する。)の原理を用いて作製することで、粒子間隔の制御が高精度で行われた二次元的最密充填格子が得られることを利用した方法であり、こうした方法は、例えば、上記した特許文献4に開示されている。
 この粒子単層膜においては、粒子が二次元に最密充填しているため、これをエッチングマスクとして基板原板(つまり、二次元格子構造を形成する前の基板12のことである。)表面をドライエッチングすることにより、高精度な三角格子(六方格子)状の二次元格子構造を形成することができる。
 このような二次元格子構造を有する基板を用いて形成された陰極導電層18の裏面18aの二次元格子構造も同様に高精度となることから、こうした方法を用いることによって、大面積の場合であっても高効率で表面プラズモンの回折波を得ることができ、光取り出し効率が向上した高輝度の有機発光ダイオード10を得ることができる。
 この粒子単層膜を用いたエッチング方法では、基板原板の表面を粒子単層膜で被覆する被覆工程と、当該粒子単層膜をエッチングマスクとして用いて基板原板をドライエッチングする工程(ドライエッチング工程)とを行うことにより基板12に複数の凸部12bによる二次元格子構造を形成するようにしている。
 以下、上記した被覆工程およびドライエッチング工程について詳細に説明することとする。
 (1-2)被覆工程
 基板原板の表面を粒子単層膜により被覆する被覆工程は、水槽に、その液面上で粒子を展開させるための液体(以下、「液面上に粒子を展開させるための液体」を、「下層液」と適宜に称する。)を入れ、この下層液の液面に有機溶剤中に粒子が分散した分散液を滴下し、滴下した分散液から有機溶剤を揮発させることにより、粒子からなる粒子単層膜を下層液の液面上に形成する粒子単層膜形成工程と、粒子単層膜を基板12上に移し取る移行工程とを行うことにより実施される。
 なお、以下の説明では、下層液として親水性の液体を使用し、分散液においては有機溶剤および粒子としてそれぞれ疎水性のものを使用する場合について説明する。なお、下層液として疎水性の液体を使用してもよく、その場合には、粒子として親水性のものを使用する。
  (1-2-1)粒子単層膜形成工程
 この工程では、まず、揮発性が高く疎水性の高い有機溶剤(例えば、クロロホルム、メタノール、エタノール、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、ヘキサンなどである。)中に、表面が疎水性の粒子を加えて分散液を調製する。また、水槽を用意し、当該水槽に下層液として水(以下、下層液としての水を「下層水」と適宜に称する。)を入れる。
 そして、調製した分散液を水槽に貯留された下層水の液面に滴下すると、分散液中の粒子が分散媒によって下層水の液面に展開する。その後、この分散媒である有機溶剤が揮発することにより、粒子が二次元的に最密充填した粒子単層膜が形成される。
 なお、粒子単層膜の形成に用いる粒子の粒径は、形成しようとする凸部12bの中心間距離P2を考慮して設定される。即ち、使用する粒子の粒径により、基板12の表面12aに形成される凸部12bの中心間距離P2が決定され、凸部12bの中心間距離P2が決定されることにより、凹部18bの中心間距離P1が決定されることとなる。

 ここで、粒子単層膜を形成する粒子の粒径の決定方法について、図4を参照しながら説明することとする。

 この粒子単層膜を形成する粒子の粒径については、取り出したい表面プラズモンモードによって異なる格子ピッチ(つまり、凹部18bの中心間距離P1であり、凸部12aの中心間距離P2に相当する。)から算出される。
 はじめに、凹凸のない従来より公知のトップエミッション型有機発光ダイオードについて検討すると、この素子には基板上に様々な薄膜層が堆積されているが、計算においては反射金属層界面での表面プラズモンの影響を避けるため、反射金属層とそれより基板側の層を無視し、陽極導電層より上の空気までを含めた層構成に対して計算を行うものとする。
 図4に示すように、陽極導電層から空気までがL層で成り立っているとすると、第一層は陽極導電層となり、第L層は空気となる。第l(エル)層の厚さはdとし、その比誘電率はεで与えられているものとする。第1層の厚さおよび第L層の厚さであるdおよびdは無限大である。
 ここで、第M層が表面プラズモンを担持する金属層であるとし、まず、この層の両側の界面を伝搬する表面プラズモンの伝搬定数を求める。
 この金属層の界面を伝搬する表面プラズモンモードは2つ存在する。一方は、エネルギーが主として第(M-1)層と第M層との界面に集中するモードであり、もう一方は、主として第M層と第(M+1)層との界面に集中するモードである。以下、前者をMモード、後者をMモードと称することとする。これらの2つのモードの伝搬定数は、系の固有方程式を解くことによって得られる。
 一般にこの固有方程式は解析的に解くことはできず、非線形最適化の手法を用いて数値的に解くしかない。パラメーター総数が多くなるに従い、この計算は困難になってくる。表面プラズモンの伝搬定数は、複素数であり、上記の固有方程式は、この複素伝搬定数を正確に与える。しかし、格子ピッチPを決めるために必要となるものは、伝搬定数の実部だけでよく、この場合には、簡易的な方法が適用できる。
 層構造が有する伝搬モード(表面プラズモンモードと導波路モード)は、伝搬定数で特徴づけられる。この伝搬定数は、伝搬モードの波数の界面に平行な成分(以下、面内波数と称する。)に関する。
 この層構造中におかれた振動双極子のエネルギーは、これらの各モードに散逸する。従って、双極子からの散逸エネルギーの面内波数依存性を調べれば、この層構造がどのようなモードを有するのかが分かる。

 図4には、有機発光ダイオードの層構造および当該層構造中の双極子を示す説明図が示されている。この図4においては、l=N層内に双極子がおかれている。dおよびdはそれぞれ双極子から基板側界面までの距離および金属側界面までの距離を示す。
 具体的な計算手順は、以下の通りである。
 まず、(M-1)/M界面より基板側20nm程度の距離に界面に垂直に双極子を1個おく。双極子がおかれる層は、所望の取り出し角周波数ωにおいて吸収を持たない必要がある。双極子のモーメントをμとし、取り出し角周波数ωで振動しているものとする。この双極子が第N層にあり、そこから(N-1)/N界面までの距離dとし、N層の厚さをdとすると、N/(N+1)界面までの距離はd=d-dとなる。
 この双極子のエネルギー散逸の面内波数(k||)依存性は、下記の(5)式で与えられる。

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000025
 ここで、rはN層側から見た(N-1)/N界面での面内波数k||を持つp偏光の磁場に対する反射係数(振幅反射率)で、rはN層側から見たN/(N+1)界面での面内波数k||を持つp偏光の磁場に対する反射係数である(図4を参照する。)。勿論、これらの反射係数には、基板あるいは空気までの全ての層の影響が含まれる。また、k|| +k =ε(ω/c)である。ここで、cは真空中の光速である。

 W(k||)の極大が各伝搬モードに対応し、その極大を与える面内波数がそのモードの伝搬定数の実部となっている。
 次に、双極子をM/(M+1)界面より空気側20nm程度のところにおき、同様の計算を行う。この計算によって得られるエネルギー散逸W(k||)はW(k||)と同じ位置に極大を持つ。ただし、その極大値は異なる。
 これらの極大のうち、波数の大きい方から2つのモードが表面プラズモンモードに対応する。この2つの極大を与える面内波数におけるエネルギー散逸の極大値はWとWで異なる。
 Wにおいて大きい方の極大値を示す面内波数をk、Wにおいて大きい方の極大値を示す面内波数をkとすると、kがMモードの伝搬定数で、kがMモードの伝搬定数となっている。
 格子ピッチP(つまり、凹部18bの中心間距離P1であり、凸部12aの中心間距離P2に相当する。)は、取り出したい表面プラズモンモードによって異なる式で与えられる。
 具体的には、格子ピッチPは、二次元格子構造として三角格子構造を形成する場合には、下記の(6)式で与えられる。


Figure JPOXMLDOC01-appb-M000026

 また、格子ピッチPは、二次元格子構造として正方格子構造を形成する場合には、下記の(7)式で与えられる。

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000027

 なお、上記した(6)式および(7)式で与えられる格子ピッチPと粒子の粒径(つまり、直径)Dは等しいものとなる。
 即ち、取り出される表面プラズモンモードは、二次元格子構造として三角格子構造を形成する場合と、正方格子構造をとる場合とでは異なるものであり、上記した(6)式を満足する格子ピッチPで三角格子構造を作製した場合および上記した(7)式を満足する格子ピッチPで正方格子構造を作製した場合には、表面プラズモンのエネルギーを光として取り出すことができるようになる。

 ただし、どのような発光材料もその発光スペクトルにおいては半値全幅として値に幅を有するものであるため、そうした幅に対応するように格子ピッチPは、

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000028

上記(1)式に与えられる範囲の変動許容値をもつものとする。
 このようにして与えられた(6)式、(7)式および(1)式から粒子単層膜を用いたエッチング方法において粒子単層膜を用いたエッチング方法において粒子単層膜を形成するための粒子の粒径を算出する。なお、こうした粒子単層膜を用いたエッチング方法で作製できるのは二次元格子構造として三角格子構造を形成する場合のみである。

 具体的には、有機発光ダイオード10を基板12上に形成された反射層22側からIZO(陽極導電層14に相当する。)/2-TNATA[膜厚30nm](ホール注入層16-1に相当する。)/NPD[膜厚70nm](ホール輸送層16-2に相当する。)/PH-1にIr(piq)を5%濃度でドープしたもの[膜厚30nm](発光層16-3に相当する。)/Alq[膜厚30nm](電子輸送層16-4に相当する。)/Ag[膜厚10nm](金属層18-1に相当する。)/IZO[膜厚110nm](透明導電層18-2に相当する。)/Airとするとき、図5に示すようなエネルギー散逸を示す。
 図5において、破線は、金属層18-1の裏面18-1c(つまり、陰極導電層18の裏面18aである。)より基板側20nmの距離に双極子をおいたときのエネルギー散逸を示し、一方、実線は、金属層18-1の表面18-1aより空気側20nmの距離に双極子をおいたときのエネルギー散逸を示すものである。
 基板側および空気側のいずれかに双極子をおいた場合、面内波数k||=15.6μm-1とk||=43.6μm-1の位置にそれぞれピークが認められる。これらのピークが表面プラズモンモードに対応する。
 k||=15.6μm-1のピークの高さは基板側に双極子をおいた場合のピークR(Log10[W(k||)/(ωμ/8πε)]=5.0507)が空気側に双極子をおいた場合のピークQ(Log10[W(k||)/(ωμ/8πε)]=4.8804)と比較して高く、k||=43.6μm-1のピークでは、その高さは逆となり、基板側に双極子をおいた場合のピークF(Log10[W(k||)/(ωμ/8πε)]=4.0663)が空気側に双極子をおいた場合のピークG(Log10[W(k||)/(ωμ/8πε)]=4.6284)と比較して低くなっている。
 このことから、前者(k||=15.6μm-1)は金属層18-1の裏面18-1c(陰極導電層18の裏面18a)にエネルギーが集中する表面プラズモンモードで、後者(k||=43.6μm-1)は金属層18-1の表面18-1a(つまり、透明導電層18-2が位置する側の面である。)にエネルギーが集中する表面プラズモンモードであることがわかる。
 即ち、k=15.6μm-1となり、k=43.6μm-1となり、この伝搬定数を利用して上記した(6)式、(7)式および(1)式から粒子の粒径を算出することとなる。
 こうした粒子は、粒径の変動係数(つまり、標準偏差を平均値で除算した値である。)が15%以下であることが好ましく、10%以下がより好ましく、5%以下がさらに好ましい。
 このように粒径の変動係数が小さく、粒径のばらつきが小さい粒子を使用すると、形成される粒子単層膜に粒子が存在しない欠陥箇所が生じにくくなり、配列のずれが小さい粒子単層膜を形成することができる。
 こうした粒子単層膜の配列のずれが小さいと、最終的に陰極導電層18の裏面18a(金属層18-1の裏面18-1c)に形成される二次元格子構造における配列のずれも小さくなる。そして、二次元格子構造のずれが小さいほど、陰極導電層18における金属層18-1において表面プラズモン共鳴が効率的に光に変換されるため好ましい。
 次に、粒子単層膜を構成する粒子材料について説明すると、粒子単層膜を構成する粒子材料としては、例えば、Al、Au、Ti、Pt、Ag、Cu、Cr、Fe、Ni、Siなどの金属、SiO、Al、TiO、MgO、CaOなどの金属酸化物、ポリスチレン、ポリメチルメタクリレートなどの有機高分子、その他の半導体材料、無機高分子などが挙げられる。これらは、いずれか1種類を単独で用いてもよいし、2種類以上を併用するようにしてもよい。
 取得したい格子ピッチに基づいて、上記した(6)式などから、この粒子の粒径を算出することができる。

 粒子は、下層液として水(または、親水性の液体)を使用する場合には、表面が疎水性であるものが好ましい。粒子の表面が疎水性であれば、水槽の下層液の液面上に粒子の分散液を展開させて粒子単層膜を形成する際に、下層液として水を用いて容易に粒子単層膜を形成できるとともに、粒子単層膜を基板12上に容易に移行させることができる。
 上記において示した粒子材料のうち、ポリスチレンなどの有機高分子の粒子材料では、表面が疎水性であるため、そのまま使用することができるが、金属や金属酸化物の粒子材料では、表面を疎水化剤により疎水性にすることにより使用することができる。こうした疎水化剤としては、例えば、界面活性剤、アルコキシシランなどが挙げられる。
 界面活性剤を疎水化剤として使用する方法は、幅広い材料の疎水化に有効であり、金属や金属酸化物などの粒子材料に対して適している。
 こうした界面活性剤としては、臭化ヘキサデシルトリメチルアンモニウム、臭化デシルトリメチルアンモニウムなどのカチオン性界面活性剤、ドデシル硫酸ナトリウム、4-オクチルベンゼンスルホン酸ナトリウムなどのアニオン性界面活性剤を用いることができる。さらに、アルカンチオール、ジスルフィド化合物、テトラデカン酸、オクタデカン酸なども用いることができる。
 このような界面活性剤を用いた疎水化処理は、有機溶剤や水などの液体に粒子を分散させて液中で行ってもよいし、乾燥状態にある粒子に対して行ってもよい。
 液中で疎水化処理を行う場合には、例えば、クロロホルム、メタノール、エタノール、イソプロパノール、メチルエチルケトン、エチルエチルケトン、トルエン、n-ヘキサン、シクロヘキサン、酢酸エチル、酢酸ブチルなどの少なくとも1種類からなる揮発性有機溶剤中に、疎水化対象の粒子を加えて分散させ、その後、界面活性剤を混合してさらに分散を行えばよい。このように粒子を分散させた後に界面活性剤を加えると、当該粒子の表面をより均一に疎水化することができる。
 このような疎水化処理後の分散液は、そのまま下層水の液面に滴下するための分散液として使用することができる。
 疎水化対象の粒子が水分散体の状態である場合には、この水分散体に界面活性剤を加えて水相で粒子表面の疎水化処理を行った後、有機溶剤を加えて疎水化処理済みの粒子を油相抽出する方法も有効である。こうして得られた分散液(つまり、有機溶剤中に粒子が分散した分散液である。)は、そのまま下層水の液面に滴下するための分散液として使用することができる。
 なお、この分散液の粒子分散性を高めるためには、有機溶剤の種類と界面活性剤の種類とを適切に選択し、組み合わせるようにする。粒子分散性の高い分散液を使用することによって、粒子が凝集することを抑制することができ、各粒子が高精度で二次元に最密充填した粒子単層膜が得られやすくなる。
 例えば、有機溶剤としてクロロホルムを選択した場合には、界面活性剤として臭化デシルトリメチルアンモニウムを使用することが好ましい。こうした分散液の粒子分散性を高めるための有機溶剤と界面活性剤との組み合わせとしては、エタノールとドデシル硫酸ナトリウム、メタノールと4-オクチルベンセンスルホン酸ナトリウム、メチルエチルケトンとオクタデカン酸など挙げられる。
 疎水化対象の粒子と界面活性剤の比率は、疎水化対象の粒子の質量に対して、界面活性剤の質量が1/3~1/15倍の範囲が好ましい。
 また、こうした疎水化処理の際には、処理中の分散液を撹拌したり、分散液に超音波照射したりすることも粒子分散性向上の点で効果的である。
 アルコキシシランを疎水化剤として使用する方法は、Si、Fe、Alなどの粒子材料やSiO、Al、TiOなどの粒子材料を疎水化する際に有効である。なお、これらの粒子材料に限らず、基本的には、水酸基などを表面に有する粒子であればどのような粒子材料に対しても適用することができる。

 アルコキシシランとしては、モノメチルトリメトキシシラン、モノメチルトリエトキシシラン、ジメチルジエトキシシランフェニルトリエトキシシラン、ヘキシルトリメトキシシラン、デシルトリメトキシシラン、ビニルトリクロルシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、2-(3,4エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、p-スチリルトリメトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3-アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、N-2(アミノエチル)3-アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N-2(アミノエチル)3-アミノプロピルトリメトキシシラン、N-2(アミノエチル)3-アミノプロピルトリエトキシシラン、N-フェニル-3アミノプロピルトリメトキシシラン、3-ウレイドプロピルトリエトキシシラン、3-クロロプロピルトリメトキシシラン、3-メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、3-メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3-イソシアネートプロピルトリエトキシシランなどが挙げられる。
 疎水化剤としてアルコキシシランを用いる場合には、アルコキシシラン中のアルコキシシリル基シラノール基に加水分解し、このシラノール基が粒子表面の水酸基に脱水縮合することで疎水化が行われる。従って、アルコキシシランを用いた疎水化は、水中で行うことが望ましい。
 このように、水中で疎水化を行う場合には、例えば、界面活性剤などの分散剤を併用して、疎水化前の粒子の分散状態を安定化するのが好ましい。なお、分散剤の種類によってはアルコキシシランの疎水化効果を低減することもあるため、分散剤とアルコキシシランとの組合わせは適切に選択する。

 アルコキシシランにより疎水化する具体的方法としては、まず、水中に粒子を分散させておき、これとアルコキシシラン含有水溶液(つまり、アルコキシシランの加水分解物を含む水溶液である。)とを混合し、室温から40℃の範囲で適宜撹拌しながら所定時間、好ましくは6~12時間反応させる。
 このような条件で反応させることによって、反応が適度に進行し、十分に疎水化された粒子の分散液を取得することができる。このとき、反応が過度に進行すると、シラノール基同士が反応して粒子同士が結合してしまい、分散液の粒子分散性が低下し、得られる粒子単層膜は、粒子が部分的にクラスター状に凝集した2層以上のものになりやすい。一方、反応が不十分であると、粒子表面の疎水化も不十分となり、得られる粒子単層膜は粒子間のピッチが広がったものになりやすい。
 また、アミン系以外のアルコキシシランは、酸性またはアルカリ性の条件下で加水分解するため、反応時には分散液のpHを酸性またはアルカリ性に調製する必要がある。pHの調整法には制限はないが、0.1から2.0質量%濃度の酢酸水溶液を添加する方法によれば、加水分解促進のほかにシラノール基安定化の効果の得られるために好ましい。
 疎水化対象の粒子とアルコキシシランの比率としては、疎水化対象の粒子の質量に対してアルコキシシランの質量が1/10~1/100倍の範囲が好ましい。
 所定時間反応後、この分散液に対して上記した揮発性有機溶剤のうちの1種類以上を加え、水中で疎水化された粒子を油相抽出する。この際、添加する有機溶剤の体積は、有機溶剤添加前の分散液に対して0.3~3倍の範囲が好ましい。
 こうして得られた分散液(つまり、有機溶剤中に粒子が分散した分散液である。)は、そのまま下層水の液面に滴下するための分散液として使用することができる。
 なお、こうした疎水化処理においては、処理中の分散液の粒子分散性を高めるために、撹拌、超音波照射などを実施することが好ましく、分散液の粒子分散性を高めることによって、粒子がクラスター状に凝集することを抑制することができ、各粒子が高精度で二次元に最密充填した粒子単層膜が取得しやすくなる。
 分散液の粒子の濃度は1~10質量%とすることが好ましく、また、分散液の下層水への滴下速度を0.001~0.01ml/秒とすることが好ましい。
 分散液中の粒子の濃度や滴下量が上記したような範囲であると、粒子が部分的に凝集して2層以上となる、粒子が存在しない欠陥箇所が生じる、粒子間のピッチが広がるなどの傾向が抑制され、各粒子が高精度で二次元に最密充填した粒子単層膜を取得しやすくなる。
 粒子単層膜形成工程は、超音波照射条件下で実施することが好ましく、下層水中から液面に向けて超音波を照射しながら粒子単層膜形成工程を行うと、粒子の最密充填が促進され、各粒子が高精度で二次元に最密充填した粒子単層膜を取得することができる。
 この際、超音波の出力は、1~1200Wが好ましく、50~600Wがより好ましい。また、超音波の周波数は特に制限はないが、例えば、28kHz~5MHzが好ましく、700kHz~2MHzがより好ましい。
 一般に、周波数が高すぎると水分子のエネルギー吸収が始まり、水面から水蒸気または水滴が立ち上る現象が生じるため好ましくない。また、一般に周波数が低すぎると、下層水中のキャビテーション半径が大きくなり、水中に泡が発生して水面に向かって浮上してくる。このような泡が下層水の液面に形成された粒子単層膜の下に集積すると、下層水の液面の平坦性が失われることになり、適当な粒子単層膜の形成ができなくなってしまう。
 また、超音波照射によって下層水の液面に定常波が発生する。いずれの周波数でも出力が大きすぎたり、超音波振動子と発振器のチューニング条件によって当該液面の波高が高くなりすぎると、粒子単層膜が当該液面で破壊される可能性がある。
 こうしたことから超音波の周波数を適切に設定すると、形成されつつある単粒子膜を破壊することなく、効果的に粒子の最密充填を促進することができる。しかし、粒径が、例えば、100nm以下などの小さな粒子になると、粒子の音響学的固有振動数は非常に高くなってしまうため、計算結果の通りの超音波振動を与えることは困難となる。
 この場合には、粒子2量体、3量体、・・・20量体程度までの質量に対する固有振動を与えると仮定して計算を行うと、必要な振動数を現実的な範囲まで低減させることができる。粒子の会合体の固有振動数に対応する超音波振動を与えた場合でも、粒子の充填率向上効果は発現する。
 超音波の照射時間は、粒子の再配列が完了するのに十分であればよく、粒径、超音波の周波数、下層水の温度などによって所要時間が変化する。しかし、通常の作製条件では、10秒間~60分間で行うことが好ましく、3~30分間で行うことがより好ましい。
 超音波照射によって得られる利点は粒子の最密充填化(つまり、ランダム配列を六方最密化することである。)のほかに、分散液調整時に発生しやすい粒子の軟凝集体を破壊する効果、一度発生した点欠陥、線欠陥、または結晶転移などについてもある程度の修復効果を有する。
 上記した下層水の液面における粒子単層膜の形成は、粒子の自己組織化によるものであり、その原理は、粒子が集結するとその粒子間に存在する分散媒に起因して表面張力が作用し、その結果、粒子同士はランダムに存在するのではなく、二次元に最密充填した構造を自動的に形成するというものである。このような表面張力による最密充填は、別異の表現では、横方向の毛細管力による配列化ということができる。

 特に、例えば、コロイダルシリカのように球形であって、粒径の均一性の高い粒子が下層水の液面に浮いた状態で3つ集まり接触すると、粒子群の喫水線の合計長を最小にするように表面張力が作用し、3つの粒子は正三角形を基本とする配置で安定化する。
 仮に、喫水線が粒子群の頂点にくる場合、つまり、粒子が当該液面下に潜ってしまう場合には、このような自己組織化は起こらず、粒子単層膜は形成されない。従って、粒子と下層水は一方が疎水性である場合には、他方を親水性にして粒子群が下層水の液面下に潜らないようにすることが重要である。
 下層液としては、以上の説明のように水を使用することが好ましく、水を使用すると、比較的大きな表面自由エネルギーが作用して、いったん生成した粒子の最密充填配置が液面上安定的に持続しやすくなる。
  (1-2-2)移行工程
 移行工程では、粒子単層膜形成工程により下層水の液面上に形成された粒子単層膜を、単層状態のままエッチング対象物である基板原板上に移し取る。
 粒子単層膜を基板原板上に移し取る具体的な方法は、特に制限されるものではなく、例えば、疎水性の基板原板を粒子単層膜に対して略平行な状態に保ちつつ、上方から降下させて粒子単層膜に接触させ、ともに疎水性である粒子単層膜と基板原板との親和力により、粒子単層膜を基板原板に移行させて、基板原板に粒子単層膜を移し取る方法を用いることができる。
 より具体的には、粒子単層膜を形成する前に、予め水槽の下層水内に基板原板を略水平方向に配置しておき、粒子単層膜を下層水の液面上に形成した後に当該液面を徐々に降下させることにより、基板原板上に粒子単層膜を移し取るようにする。
 こうした方法によれば、特別な装置を使用せずに粒子単層膜を基板原板上に移し取ることができるが、より大面積の粒子単層膜であっても、その二次元的な最密充填状態を維持したまま基板原板上に移し取りやすいという点では、所謂、LBトラフ法を採用することが好ましい。
 LBトラフ法では、水槽(トラフ)内の下層水中に基板原板を当該下層水の液面に対して略垂直方向に浸漬しておき、その状態で上記した粒子単層膜形成工程を行い、当該液面上に粒子単層膜を形成する。
 そして、粒子単層膜形成工程後に、基板原板を上方に引き上げることによって、下層水の液面上に形成された粒子単層膜を基板原板上に移し取ることができる。
 このとき、粒子単層膜は、粒子単層膜形成工程により下層水の液面上で既に単層の状態に形成されているため、移行工程の温度条件(つまり、下層水の温度である。)や基板原板の引き上げ速度などを多少変動しても、粒子単層膜が崩壊して多層化するなどのおそれはない。
 移行工程の温度条件たる下層水の温度は、通常、季節や天候により変動する環境温度に依存し、およそ10~30℃程度である。
 また、この際の水槽として、粒子単層膜の表面圧を計測するウィルヘルミープレートなどを原理とする表面圧力センサーと、粒子単層膜を下層水の液面に沿う方向に圧縮する可動バリアとを具備するLBトラフ装置を使用すると、より大面積の粒子単層膜をより安定的に基板原板上に移し取ることができる。
 こうしたLBトラフ装置によれば、表面圧力センサーにより粒子単層膜の表面圧を計測しながら、粒子単層膜を好ましい拡散圧(密度)に圧縮することができ、また、基板原板の方に向けて一定の速度で移動させることができる。このため、粒子単層膜の下層水の液面から基板原板上への移行が円滑に進行し、小面積に粒子単層膜しか基板原板上に移行できないなどの不具合が生じにくくなる。
 好ましい拡散圧としては、5~80mNm-1であり、より好ましくは10~40mNm-1である。このような拡散圧であると、各粒子がより高密度で二次元に最密充填した粒子単層膜を取得しやすい。また、基板原板を引き上げる速度としては、0.5~20mm/分が好ましい。
 こうした移行工程により、基板原板表面を粒子単層膜で被覆した後に、さらに、必要に応じて、粒子単層膜を基板原板上に固定するための固定処理を行うようにしてもよい。
 固定処理により粒子単層膜を基板原板上に固定することによって、この後のドライエッチング時に粒子が基板原板上を移動してしまう可能性が抑えられ、より安定的に高精度に基板原板表面をエッチングすることができるようになる。なお、ドライエッチングが進むにつれて、各粒子の粒径が徐々に小さくなるため、基板原板上を移動する可能性は大きくなるため、こうした固定工程は有効である。
 こうした固定処理方法としては、バインダーを使用する方法や焼結法がある。バインダーを使用する方法では、粒子単層膜が形成された基板原板の当該粒子単層膜側にバインダー溶液を供給して粒子単層膜と基板原板との間にこれを浸透させる。
 バインダーの使用量としては、粒子単層膜の質量の0.001~0.002倍が好ましい。このような範囲であれば、バインダーが多すぎて粒子間にバインダーが詰まってしまい、粒子単層膜のエッチングの精度に悪影響を与えるという問題を生じることがなく、十分に粒子を固定することができるものである。
 バインダー溶液を多く供給してしまった場合には、バインダー溶液が浸透した後に、スピンコーターを使用したり、基板を傾けたりしてバインダー溶液の余剰分を除去すればよい。
 バインダー溶液の材料の種類としては、先に疎水化剤として示したアルコキシシランや一般の有機バインダー、無機バインダーなどを用いることが可能であり、バインダー溶液が浸透した後には、バインダーの種類に応じて適宜加熱処理を行うようにする。例えば、アルコキシシランをバインダーとして使用した場合には、40~80℃で3~60分間加熱処理することが好ましい。
 また、固定処理方法として焼結法を用いる場合には、粒子単層膜が形成された基板原板を加熱して、粒子単層膜を構成している各粒子を基板に融着させればよい。加熱温度は、粒子の材料と基板の材料とに応じて決定すればよいが、粒径が1μm以下の粒子はその物質本来の融点よりも低い温度で界面反応を開始するため、比較的低温側で焼結は完了する。
 焼結時に加熱温度が高すぎると粒子の融着面積が大きくなり、その結果、粒子単層膜としての形状が変化するなど、精度に悪影響を与える可能性がある。
 また、加熱を空気中で行うと、基板や各粒子が酸化する可能性があるため、不活性ガス雰囲気下で行うことが好ましい。酸素を含む雰囲気下で焼結を行う場合には、後述するドライエッチング工程で酸化層を考慮した条件を設定することが必要となる。
 このようにして基板原板上に形成された粒子単層膜においては、下記の(8)式で定義される粒子の配列のずれS(%)が10%以下であることが好ましい。

[数8]
 S(%)=|B-A|×100/A    ・・・(8)
   A:粒子の平均粒径
   B:粒子単層膜における粒子間の平均ピッチ

 この(8)式において、Aの「粒子の平均粒径」とは、粒子単層膜を構成する粒子の平均一次粒径のことであり、粒子動的光散乱法により算出した粒度分布をガウス曲線にフィッティングさせて得られるピークから常法により求めることができる。また、Bの「粒子単層膜における粒子間の平均ピッチ」とは、粒子単層膜における隣り合う2つの粒子の頂点と頂点の距離の平均値である。なお、粒子が球形であれば、隣り合う粒子の頂点と頂点との距離は、隣り合う粒子の中心と中心の距離と等しいものとなる。
 粒子単層膜における粒子間の平均ピッチは、AFMにより凸部12aの中心間距離P2と同様にして求められる。
 この粒子の配列のずれSが10%以下である粒子単層膜は、各粒子が二次元に最密充填し、粒子の間隔が制御されていて、その配列の精度は高いものとなる。
 (1-3)ドライエッチング工程
 上記したようにして粒子単層膜で被覆された基板表面を、ドライエッチングすることにより、複数の凸部12bが周期的に二次元に配列した構造を有する基板12を取得することができる。
 具体的には、ドライエッチングを開始すると、まず、粒子単層膜を構成している各粒子の隙間をエッチングガスが通り抜けて基板原板の表面に到達し、エッチングガスが到達した部分において当該エッチングガスにより基板表面がエッチングされて凹部が形成され、各粒子が位置する部分において凸部が現れる。
 その後、さらにドライエッチングを継続すると、各凸部上の粒子もエッチングガスにより徐々にエッチングされて小さくなるとともに、基板原板表面の凹部も深くなる。そして、最終的に各粒子はエッチングガスにより消失し、それとともに基板原板の表面に複数の凸部が周期的に二次元に配列した構造が形成される。このようにして基板12の表面12aに複数の凸部12bを形成し、当該複数の凸部12により基板12上に二次元格子構造を形成することとなる。
 また、ドライエッチングの条件(バイアスパワー、ガス流量、堆積ガスの種類と量など)を調節することによって、形成される凸部の高さや形状を調節できる。
 ドライエッチングに使用するエッチングガスとしては、例えば、Ar、SF、F、CF、C、C、C、C、C、CHF、CH、CHF、C、Cl、CCl、SiCl、BCl、BCl、BC、Br、Br、HBr、CBrF、HCl、CH、NH、O、H、N、CO、COなどが挙げられるが、本発明の効果を阻害しない範囲でこれらに限定されることはない。粒子単層膜を構成する粒子や基板の材質などに応じて、これらのうち1種類以上を使用することができる。
 使用可能なエッチング装置としては、反応性イオンエッチング装置、イオンビームエッチング装置などの異方性エッチングが可能なものであって、最小で10W程度のバイアス電場を発生できるものであれば、プラズマ発生の方式、電極の構造、チャンバーの構造、高周波電源の周波数などの仕様に特に制限はない。
 このドライエッチング工程でのエッチング選択比(つまり、基板のエッチング速度/粒子単層膜のエッチング速度である。)が1.0以下となるように各種条件(粒子単層膜を構成する粒子材料、基板の材質、エッチングガスの種類、バイアスパワー、アンテナパワー、ガスの流量と圧力、エッチング時間など)を設定することが好ましい。
 例えば、エッチングマスクたる粒子単層膜を構成する粒子としてコロイダルシリカ粒子を選択するとともに、基板として石英基板を選択して、当該石英基板上にコロイダルシリカ粒子による粒子単層膜を形成した場合、エッチングガスにArやCFなどのガスを用いることで、比較的低いピッチと振幅の比のエッチングをすることができる。
 また、電場のバイアスパワーを数十から数百Wに設定すると、プラズマ状態にあるエッチングガス中の正電荷粒子が加速されて高速でほぼ垂直に基板に入射する。従って、基板に対して反応性を有する気体を用いた場合は、垂直方向の物理化学エッチングの反応速度を高めることができる。
 基板の材質とエッチングガスの種類との組み合わせにもよるが、ドライエッチングでは、プラズマによって生成したラジカルによる等方性エッチングも並行して生じる。ラジカルによるエッチングは化学エッチングであり、エッチング対象物のどの方向にも等方的にエッチングを行う。
 また、ラジカルは電荷を持たないため、バイアスパワーの設定でエッチング速度をコントロールすることはできず、エッチングガスのチャンバー内濃度でエッチング速度をコントロールする。荷電粒子による異方性エッチングを行うためには、ある程度のガス圧を維持しなければならないので、反応性ガスを用いる限りラジカルの影響はゼロにできない。しかし、基板を冷却することでラジカルの反応速度を遅くする手法は広く用いられており、その機構を備えた装置も多いので、それを利用することが好ましい。
 さらに、ドライエッチング工程において、主としてバイアスパワーを調整し、かつ状況に応じて、所謂、堆積ガスを併用することで、基板表面の凸部の中心間距離と当該凸部の高さとの比(中心間距離/高さ)が比較的低い二次元格子構造を形成することができる。
 このようにして基板表面に形成された構造について、粒子単層膜における粒子間の平均ピッチBを求める方法と同様にして、その凸部の中心間距離Cを求めると、中心間距離Cは、使用した粒子単層膜の平均ピッチBとほぼ同じ値となる。また、この構造について、下記の(9)式で定義される配列のずれS’(%)を求めると、その値も使用した粒子単層膜における配列のずれSとほぼ同じ値となる。

[数9]
  S’(%)=|C-A|×100/A   ・・・(9)
   A:使用した粒子単層膜を構成する粒子の平均粒径
   C:基板表面に形成された凸部の中心間距離

 なお、上記したようにして形成された、表面に複数の凸部が周期的に二次元に配列した構造を有する基板を鋳型として用い、この鋳型表面の構造を基板原板に転写することにより基板12を作製してもよい。
 鋳型表面の構造の転写は、公知の方法、例えば、上記した特許文献4に開示されている、ナノインプリント法、熱プレス法、射出成型法、UVエンボス法などの方法により実施することができる。
 転写回数が増えると、微細凹凸の形状は鈍化するので、元の原盤からの実用的な派生的な転写回数としては5回以内が好ましい。
 上記したようにして複数の凸部12bによる二次元格子構造が形成された基板12の表面12a上に、反射層22および陽極導電層14を順次積層し、陽極導電層14の表面14a上にホール注入層16-1、ホール輸送層16-2、発光層16-3、電子輸送層16-4および電子注入層16-5を順次積層して有機EL層16を形成し、電子注入層16-5の表面16-5a上に金属層18-1および透明導電層18-2を順次積層して陰極導電層18を形成することで、有機発光ダイオード10を取得することができる。
 これら各層の積層方法は、特に限定されず、一般的な有機発光ダイオードの製造に用いられている公知の技術を利用することができる。例えば、陽極導電層14および透明導電層18-2は、それぞれ、スパッタリング法、真空蒸着法などによって形成することができる。また、反射層22、ホール注入層16-1、ホール輸送層16-2、発光層16-3、電子輸送層16-4、電子注入層16-5および金属層18-1は、それぞれ真空蒸着法によって形成することができる。
 これら各層の厚さは非常に薄いため、上記のようにして各層を順次積層することで、基板12の表面12aにおける複数の凸部12bによる二次元格子構造が透明導電層18-2まで反映され、反射層22および金属層18-1において、基板12の表面12に形成された複数の凸部12bによる二次元格子構造に対応した複数の凸部または凹部による二次元格子構造が形成されることとなる。
 次に、上記した製造方法に基づいて、有機発光ダイオード10を作製する場合について、具体例を挙げて説明する。
 作製する有機発光ダイオード10としては、基板/Ag[膜厚50nm]/IZO[膜厚20nm]/2-TNATA[膜厚30nm]/NPD[膜厚70nm]/Ir(piq)3@PH-1(5%)[膜厚30nm]/Alq[膜厚30nm]/MgAg[膜厚10nm]/IZO[膜厚110nm]とする。
 即ち、この有機発光ダイオード10は、石英ガラスにより形成された基板12と、Agにより形成された厚さ50nmの反射層22と、IZOにより形成された厚さ20nmの陽極導電層14と、2-TNATAにより形成された厚さ30nmのホール注入層16-1と、NPDにより形成された厚さ70nmのホール輸送層16-2と、Ir(piq)を5%ドープしたPH-1により形成された厚さ30nmの発光層16-3と、Alq(tris(8-hydroxyquinolinato)aluminium)により形成された厚さ30nmの電子輸送層16-4と、MgAg(Agの含有率が70%以上のマグネシウム合金)により形成された厚さ10nmの金属層18-1と、IZOにより形成された厚さ110nmの透明導電層18-2とにより構成されている。
 この有機発光ダイオード10を作製するために、まず、基板12の表面12aに複数の凸部12bによる二次元格子構造を作製する際に必要となる粒子単層膜を形成する粒子の粒径を算出する。
 即ち、有機発光ダイオード10において、陰極導電層18のうち金属層18-1の厚さを10nmとしたときのエネルギー散逸の強度を上記した(2)式によって求める。
 ここでは、金属層18-1の裏面18-1c(つまり、陰極導電層18の裏面18aである。)に生じる表面プラズモンのエネルギーを伝搬光として取り出すときの粒子単層膜を形成する粒子の粒径を算出することとする。
 上記した(2)式において、波数の大きい方から2つ目のモード(ピーク)が金属層18-1の裏面18-1c(陰極導電層18の裏面18a)に生じる表面プラズモンのエネルギー散逸強度であるため、このピークを与える面内波数k||を求める。
 なお、この計算では、ピーク強度は目的ではなくk||を求めることが目的であるため、ωμ/8πεは寄与しない項として計算から除外し、上記した(5)式における


Figure JPOXMLDOC01-appb-M000029

の計算を行う。
 また、同様にこの計算ではピーク強度は目的ではなくk||の値を求めることが目的であるため、双極子の位置は金属層18-1の裏面18-1c(陰極導電層18の裏面18a)から20nmとする。
 上記した(10)式に代入する数値として、d=20nm、d=10nm、rとrは通常の多層薄膜の反射係数を求める式により計算され、k=(ε(ω/c)-k|| 0.5となる。なお、上記した通常の多層薄膜の反射係数を求める式としては、非特許文献の「プラズモニクス-基礎と応用」岡本隆之・梶川浩太郎著、講談社サイエンティフィク(2010年10月1日出版)、P16-22を参照する。
 そして、上記した(10)式をk||を変数とする関数として計算すると、図6に示すような結果が得られる。
 図6において面内波数の大きい方から2つ目のモード(ピーク)のk||は15.6μm-1となっている。この値を上記した(6)式に代入すると、この波数に対応する微細凹凸構造(つまり、二次元格子構造のことである。)を作製するための粒子の粒径Dは、454nmと算出された。
 なお、この具体例においては、粒子単層膜を用いたエッチング方法について説明するため、(6)式を用いて粒子単層膜を形成する粒子の粒径を算出するようにしているが、粒子単層膜を用いたエッチング方法以外の方法により有機発光ダイオード10を作製する場合には、上記した(6)式あるいは(7)式を用いて格子ピッチPを算出し、算出した格子ピッチPとなるようにして各種条件を調整して作製すればよい。
 上記した(6)式で算出した粒子の粒径Dの値に基づいて、平均粒径が451.2nmで、粒径の変動係数が4.0%であるコロイダルシリカの5.0質量%水分散体(分散液)を作製した。なお、平均粒径および粒径の変動係数は、Malvern Instruments Ltd製のZetasizer Nano-ZSによる粒子動的光散乱法で求めた粒度分布をガウス曲線にフィッティングさせて得られるピークから算出した。
 次に、作製した分散液中のコロイダルシリカの表面を疎水化処理するために、当該分散液に濃度1.0質量%のフェニルトリエトキシシランの加水分解物を含む水溶液を加え、約40℃で3時間反応させた。この際、フェニルトリエトキシシランの質量がコロイダルシリカ粒子の質量の0.015倍となるように分散液と当該水溶液とを混合した。
 そして、反応終了後の分散液に、当該分散液の5倍の体積のメチルイソブチルケトンを加えて撹拌して、疎水化されたコロイダルシリカを油相抽出した。
 こうして得られた濃度1.05質量%の疎水化コロイダルシリカ分散液を粒子単層膜の表面圧を計測する表面圧センサーと、粒子単層膜を液面に沿う方向に圧縮する可動バリアとを備えた水槽(LBトラフ装置)中に貯留された液面(下層液として水を使用し、水温は26.5℃とした。)に滴下速度0.01ml/秒で滴下した。なお、水槽に貯留された下層水には、予め有機発光ダイオード10の基板12として用いるための透明の石英基板(30mm×30mm×1.0mm、両面鏡面研磨処理済)を略鉛直方向に浸漬している。
 疎水化コロイダルシリカ分散液を下層水の液面に滴下し始めた時点から、下層水中から液面に向けて、出力100W、周波数1500kHzの条件で超音波を10分間照射することにより、疎水化したコロイダルシリカ粒子が二次元的に最密充填するのを促すとともに、当該分散液中の有機溶剤であるメチルイソブチルケトンを揮発させて、当該下層水の液面に粒子単層膜を形成した。
 その後、形成した粒子単層膜を可動バリアにより、拡散圧が22~30mNm-1になるまで圧縮し、基板12を3mm/分の速度で引き上げて、基板12の一方の面に当該粒子単層膜を移し取った。なお、基板12の一方の面とは、二次元格子構造を形成しようとする面のことである。
 次に、基板12の一方の面上に移し取った粒子単層膜の当該一方の面への固定処理として、粒子単層膜を移し取った基板12の一方の面上にバインダーとして0.15質量%のモノメチルトリメトキシシランの加水分解液を浸透させ、その後、当該加水分解液の余剰分をスピンコーター(3000rpm)で1分間処理して除去した。そして、加水分解液の余剰分を除去した基板12を100℃で10分間加熱してバインダーを反応させ、コロイダルシリカ粒子からなる粒子単層膜が形成された基板12を取得した。
 こうして粒子単層膜が形成された基板12を取得すると、次に、当該基板12に対してCHFガスによりドライエッチング処理を行った。
 このドライエッチング処理の条件は、アンテナパワー1500W、バイアスパワー50~300W(13.56MHz)、ガス流量50~200sccmとした。
 ドライエッチング処理を行った後の基板12の一方の面をAFMで観察したところ、断面形状が円錐台形形状であり(図7(b)を参照する。)、平面配置は凸部が三角格子状に配列した微細凹凸構造が形成されていた(図7(a)を参照する。)。
 このようにして基板12の一方の面に形成された微細凹凸構造における凸部の中心間距離p’(格子定数)をAFMにより測定したところ、3回の試験の平均値で455.4nmであった。

 また、AFM像から無作為に選択された25カ所の5μm×5μmの領域における当該微細凹凸構造の凸部の平均値を算出し、当該25カ所それぞれの平均値をさらに平均することにより求めた当該微細凹凸構造における凸部の平均高さhは、30.9nmであった。さらに、上記した(11)式を用いて算出した結果、配列のずれSは4.9%であった。さらにまた、平均高さhと中心間距離p’の平均値との比(平均高さh/中心間距離p’)は0.078であった。
 その後、微細凹凸構造が形成された基板12の一方の面に、反射層22としてAgを50nmの厚さで蒸着法により成膜した。また、反射層22上に、陽極導電層14としてIZOを20nmの厚さでスパッタリング法により成膜した。さらに、ホール注入層16-1として2-TNATAを30nmの厚さで蒸着法によって成膜した。
 次に、ホール注入層16-1上に、ホール輸送層16-2として4,4’-bis[N-1-napthyl]-N-phenyl-amino]-biphenyl(α-NPD)を70nmの厚さで蒸着法によって成膜し、その後、ホール輸送層16-2上に、発光層16-3としてIr(piq)をホスト材料PH1(SFC社製)に5%濃度でドープしたものを30nmの厚さで蒸着法によって成膜した。
 さらに、発光層16-3上に、電子輸送層16-4としてAlqを30nmの厚さで蒸着法によって成膜し、さらにまた、電子輸送層16-4上に、金属層18-1としてMg/Ag=10/90(質量比)のマグネシウム/銀合金を10nmの厚さで蒸着法によって成膜し、また、金属層18-1上に、透明導電層18-2としてIZOを110nmの厚さでスパッタリング法により成膜して、有機発光ダイオード10を作製した。
 なお、蒸着およびスパッタリングの際にマスクを使用することにより、発光エリアは2×2mmに作製した。
 以上において説明したように、本発明による有機発光ダイオード10は、基板12の表面12aに複数の凸部12bによる二次元格子構造が形成され、この基板12上に、反射層22、陽極導電層14、有機EL層16、可視光を透過可能に薄層に形成された金属層18-1と導電性を向上させるための透明導電層18-2とにより構成された陰極導電層18を順次積層して構成されており、有機EL層16において発生した光を陰極導電層18側から取り出すようにしたトップエミッション型とした。
 また、有機発光ダイオード10を粒子単層膜を用いたエッチング方法により作製する場合には、上記した(4)式により粒子単層膜を形成するための粒子の粒径を算出するようにした。
 これにより、本発明による有機発光ダイオード10においては、表面プラズモンモードに応じて、基板12の表面12aに複数の凸部12bによる二次元格子構造を形成することができる。
 従って、本発明による有機発光ダイオード10においては、表面プラズモンモードに対する光取り出し効率を最適化することができ、従来の技術による有機発光ダイオードに比べて光取り出し効率を向上させることができる。
 そして、こうした有機発光ダイオード10を利用して画像表示装置を作製することにより、長寿命、小電力の画像表示装置を作製することができる。
 さらに、こうした有機発光ダイオード10を利用して照明装置を作製することにより、長寿命、小電力の照明装置を作製することができる。
(2)第2の実施の形態
 以下、添付の図面を参照しながら、本発明による有機発光ダイオードの第2の実施の形態の一例について詳細に説明するものとする。

 なお、本実施の形態においても、以下の説明においては、本発明を用いるものである限り、必ずしも対象とする有機発光ダイオードの構造および方式を限定するものではない。
 (2-1)第2の実施の形態による有機発光ダイオードの構成
 まず、図8には、本発明による有機発光ダイオードの第2の実施の形態を示す概略構成断面説明図が示されている。
 なお、図8に示す本発明による有機発光ダイオード100に関する説明においては、説明の便宜上、単色の有機発光ダイオード100を構成する各層の高さ方向における上方側の表面を上面と適宜に称し、各層の高さ方向における下方側の表面を下面と適宜に称する。

 ここで、本発明による第2の実施の形態による有機発光ダイオードは、粒子単層膜をエッチングマスクとしたドライエッチング法により、表面に複数の凹部または凸部が二次元に配列した凹凸構造が設けられた有機発光ダイオード用基板を作製する基板作製工程と、上記凹凸構造上に、少なくとも、陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含むエレクトロルミネッセンス層(EL層)と、金属層を含む陰極導電層とを、陰極導電層の表面に凹凸構造が複写されるように積層する積層工程とを有するものである。
 そして、基板作製工程において、粒子単層膜を異なる粒子径を有する複数の粒子の混合物を用いて作製し、こうした粒子単層膜を用いて、下記の要件を満たす凹凸構造を有する有機発光ダイオード用基板を作製することを特徴とする。
 即ち、最終的に得られる有機発光材料より得られる光の発光スペクトルのピークλpeakの半値を与える波長のうち、短い方の波長をλ、長い方の波長をλとし、陰極導電層と有機エレクトロルミネッセンス層との界面における波長2λ-λpeakおよび2λ-λpeakに対応する表面プラズモンの伝搬定数の実部をそれぞれkおよびkとしたとき、上記界面の高さ分布のパワースペクトルが波数K=kと波数K=kとの間で有限の値を持ち、かつ、この波数範囲内でのスペクトル強度の積分値が全波数にわたるスペクトル強度の50%以上の強度の値を有するように微細凹凸構造を作製する。

 これにより、上記有機発光ダイオードより生じる光について、可視光~近赤外領域(380nm~2500nm)において、任意の波長を中心としたある程度広がりを持った狭帯域の光の取出し効率を安定的に得ることができる。

 なお、上記「ある程度の広がり」とは、例えば、有機発光材料より得られる光の発光スペクトルのピークλpeakの半値を与える波長のうち、短い方の波長をλ、長い方の波長をλとしたとき、概ね、陰極導電層と有機エレクトロルミネッセンス層との界面における波長λmin=2λ-λpeakからλmax=2λ-λpeakの間の広がりをもった狭帯域の光であることを意味する。
 本発明による有機発光ダイオードについて以下に詳細に説明すると、EL層内の発光層に含まれる有機発光材料分子が発光する際に、ごく近傍に近接場光が発生する。そして、発光層と陰極導電層である金属層との距離が非常に近いため、近接場光は金属層の表面にて伝搬型の表面プラズモンに変換される。
 ここで、金属層表面の伝搬型表面プラズモンは、表面近傍の自由電子の粗密波が、表面電磁場を伴うものである。
 平坦な金属層表面に存在する表面プラズモンの場合、該表面プラズモンの分散曲線と光(空間伝搬光)の分散直線とは交差しないため、表面プラズモンを光として取り出すことはできないものである。
 一方、金属層表面にナノメートルオーダーの2次元微細凹凸構造があると、該微細凹凸構造によって回折された空間伝搬光の分散曲線が表面プラズモンの分散曲線と交差するようになり、表面プラズモンのエネルギーを輻射光として取り出すことができる。
 従って、金属層の有機EL層側の面に二次元凹凸構造が設けられていることで、表面プラズモンとして失われていた光のエネルギーが取り出され、取り出されたエネルギーは、輻射光として金属層表面から放射される。
 このとき、微細凹凸構造が周期性をもつ場合、金属層から輻射される光は指向性が高く、その大部分が光取出し面(有機発光ダイオードの有機発光ダイオード用基板側またはその反対側の表面)に向かう。そのため、光取出し面から高強度の光が出射し、光取出し効率が向上する。

 従来の有機発光ダイオードにおいては、上記した二次元凹凸構造を周期性の高い格子構造としていた。
 例えば、上記特許文献4では、単一の粒子径の粒子を用いて配列のずれの少ない粒子単層膜を形成し、これをエッチングマスクとしたドライエッチング法によって周期格子構造を有する有機発光ダイオード用基板を作製することで、金属層の有機EL層側の面に周期格子構造を形成している。
 一方、本発明の第2の実施の形態においては、異なる粒子径を有する複数種類の粒子(例えば、異なる粒子径を有する3種類の粒子によるものとする。)の混合物を用いて粒子単層膜を形成するため、最終的に金属層の有機EL層側の面に形成される二次元凹凸構造は、上記特許文献4のものより周期性が低く、凹部または凸部の間隔の分布はある程度の幅を持つようになる。
 本発明の第2の実施の形態のように、凹部または凸部の間隔の分布にある程度の幅を持たせることにより、微細凹凸構造と取り出し波長とのマッチングにおいて、微細凹凸構造が多少変化したとしても、常に取り出し波長に対応する凹凸の周期構造を有するようになり、ある程度広がりを持った狭帯域の電磁波の光取出しが安定的に行われるように寄与するものである。

 より具体的には、本発明の第2の実施の形態による有機発光ダイオードについて、図9(a-1)の例に示すように、例として異なる粒子径を有する3種の粒子A、粒子B、粒子Cにより形成した粒子単層膜を用いてドライエッチング法を行い、有機発光ダイオード用基板に凹凸構造を形成すると、そうした凹凸構造を有する有機発光ダイオード用基板表面の高さ分布のパワースペクトルは図9(a-2)に示されるようになる。即ち、パワースペクトルは、従来技術として示した図1(a)の(a-2)に示すような円環上に並んだデルタ関数状の点列ではなく、図9(a-2)に示す幅のある円環状の領域に分布を示す像が得られるものである。
 また、こうしたランダムな二次元凹凸構造を有する本発明による有機発光ダイオードによれば、図9(a-3)の高さ分布のパワースペクトルのプロファイルに示すような、ある程度広がりを持った狭帯域で、かつ、強度の大きい光を得ることができる。
 以下に、上記において説明した特徴を有する本発明による有機発光ダイオード100について、添付の図面を参照しながら説明する。
 図8に示す本発明による有機発光ダイオード100は、一般にボトムエミッション型と称されているタイプの層構成を有する有機発光ダイオードである。
 より詳細には、有機発光ダイオード100は、有機発光ダイオード用基板たる透明基板102を底部として、透明基板102の上方側における表面上に透明導電体からなる陽極導電層104を積層し、陽極導電層104の上面に複数の発光層などより形成されるEL層106を積層し、EL層106の表面上に金属からなる陰極導電層(金属層)108を積層することにより形成されるものである。
 また、本発明による有機発光ダイオード100においては、透明基板102の表面である陽極導電層104との界面には、それぞれ異なる直径を有する3種類の凸部102a、凸部102b、凸部102cを複数配置し、凹凸構造を形成する。
 こうした凹凸構造を形成する凸部102a、凸部102b、凸部102cは、二次元にランダムに配列されており、その結果凹凸構造のパワースペクトルは、ある程度の幅を持つようになる。即ち、こうしたパワースペクトルの円環状の幅は、従来技術として示した図1(a)の(a-2)に示すデルタ関数状の点列に比べて太くなる。

 また、EL層106は、単一の有機発光材料からなり、各層としては、ホール注入層106-1、ホール輸送層106-2、有機発光材料で構成される発光層106-3、電子輸送層106-4および電子注入層106-5を、陽極導電層104の表面上に順次積層することにより構成される。
 こうしたEL層106を構成する各層は、一層が一つの役割を担う場合と二つ以上の役割を兼ねる場合とがある。
 例えば、一層が二つ以上の役割を兼ねる場合としては、一層で電子輸送層と発光層との両方の役割を兼ねる場合などが挙げられる。
 そして、透明基板102上に積層される陽極導電層104、EL層106を構成する各層であるホール注入層106-1、ホール輸送層106-2、発光層106-3、電子輸送層106-4、電子注入層106-5、最上面に積層される陰極導電層108は、透明基板102上に順次積層されることから、それぞれ透明基板102が有する凹凸構造が各層に反映され、透明基板102に形成された凹凸構造と同様の凹凸構造が各層の上面に形成されるものである。
 一方、陽極導電層104、EL層106の各層であるホール注入層106-1、ホール輸送層106-2、発光層106-3、電子輸送層106-4、電子注入層106-5、陰極導電層108の各層の下面には、上記において説明した凹凸構造が反転した形状を有する二次元凹凸構造が形成されるようになる。

 また、上記有機発光ダイオード100においては、陽極導電層104と陰極導電層108とに対して電圧が印加できるように電源110が接続されている。
 こうした電源110から、陽極導電層104および陰極導電層108に電圧が印加されると、陽極導電層104と陰極導電層108とのそれぞれの層から、EL層106にホールおよび電子が注入される。
 そして、注入されたホールおよび電子は発光層106-3で結合して励起子が生成され、こうした励起子が再結合する際に発光するものである。

 以上の構成において、本発明による有機発光ダイオード100が実現されるものであるが、こうした有機発光ダイオード100を構成する各層を作製するための材料および形状などの特徴について、以下に詳細に説明することとする。
 (2-2)各層の構成
   (2-2-1)透明基板
 はじめに、透明基板102を作製するための材料としては、有機発光ダイオード100より取り出す目的の波長の光を透過させるものであればよいものであり、無機材料および有機材料をはじめとし、それらを組み合わせた材料などを用いて作製することができる。
 例えば、第1の実施の形態で透明材料として例示された無機材料および有機材料を用いることが可能である。
 こうした透明基板に用いる材料の選択基準は、有機発光ダイオードの用途によるものであるが、一般に、透明基板102の材料としては可視光透過率が高い材料が使用される。
 具体的には、可視光領域(波長380nm~780nm)でスペクトルに偏りを与えないものが望まれることから、該可視光透過率は70%以上が好ましいものであり、また、80%以上がより好ましいものであり、また、90%以上がさらに好ましいものである。
 なお、トップエミッション素子の場合は、基板材料は必ずしも透明である必要はないことも付記しておく。

 次に、透明基板102の形状について説明すると、透明基板102の表面には、直径がそれぞれ異なる凸部102a、凸部102b、凸部102cを複数配置し、二次元にランダムに配列した凹凸構造を設けるようにする(図10(b)を参照する。)。
 こうした透明基板102の凹凸構造を有する面上に、陽極導電層104、EL層106(ホール注入層106-1、ホール輸送層106-2、発光層106-3、電子輸送層106-4、電子注入層106-5)が順次積層される。各層は、凹凸構造に面して積層されるため、各層の上面に透明基板102表面と同様の凹凸構造が形成されるものである。
 そのため、最終的にEL層106上に陰極導電層108を積層すると、他の層と同様に陰極導電層108の上面には、透明基板102表面の凹凸構造と同じ凹凸構造が形成され、また、陰極導電層108の下面には、透明基板102表面の凹凸構造が反転した形状の二次元凹凸構造、凹部108a、凹部108b、凹部108cが複数、二次元にランダムに配列した二次元凹凸構造(以下、「逆凹凸構造」と適宜に称する。)が形成される(図10(a)を参照する。)。
 上記した逆凹凸構造における凹部108a、凹部108b、凹部108cのそれぞれの直径および深さは、透明基板102表面の凹凸構造における凸部102a、凸部102b、凸部102cそれぞれの直径および高さと一致する。
 また、逆凹凸構造における凹部108a、凹部108b、凹部108cの配列パターンは、透明基板102表面の凹凸構造における凸部102a、凸部102b、凸部102cの配列パターンと一致する。
 ここで、上記した「二次元にランダムに配列」とは、複数の凸部102a、凸部102b、凸部102c、または、凹部108a、凹部108b、凹部108cが、同一平面上に配置され、かつ、それらの中心間の間隔および配列方向が一定でなく不規則に配列させた状態を意味するものである。
 こうした凸部もしくは凹部をある程度ランダムに二次元に配列させることで、高さ分布のパワースペクトルのプロファイルに対応したある程度広がりを持った狭帯域の光の取出しが安定的に行われるようになる。
 ここで、理想的な二次元格子とは、少なくとも二方向に一定の間隔で配列された構造であり、例えば、三角格子状(六方格子状)、正方格子状などの形状となることが考えられるが、本発明における凹凸構造は、このような三角格子や正方格子の配列がある程度不均一化(ランダム化)したものに相当する。

 なお、上記「ある程度」とは、数値的に規定される範囲をもつものではなく、状態を意味しているものである。
 そして、「ある程度ランダム」「ある程度不均一」とは、凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルが特定の波数でデルタ関数的なピークを持つのではなく、例えば、波数KおよびKを含む波数領域において広く分布しているような微細凹凸構造の乱雑さを意味する。凹凸面の高さ分布のパワースペクトルが波数Kおよび波数Kの間において十分に有限の値を与えるような微細凹凸構造の乱雑さを意味する。

 さらに、高精度に配列した周期構造では、ある特定波長の光を取り出す場合、その取り出し波長と微細凹凸構造の周期とが完全に一致していれば光の取出し効率は向上するものであるが、微細凹凸構造の周期がわずかにでもずれていれば光の取出し効率は不良となる。
 ここで、粒子単層膜を形成する粒子の粒径の具体的な決定方法について、図4を参照しながら説明することとする。
 まず、波長λの光に対応する表面プラズモンの波数(伝搬定数)の求め方について示す。
 この表面プラズモンの波数の求め方は、凹凸のない場合の有機発光ダイオードの層構成に対するものと同じであり、また、有機発光ダイオードはボトムエミッション型、トップエミッション型双方とも考え方は同じである。
 上記図4に示すように、基板から空気までが第1層から第L層までの複数の層を積層して成り立っている場合に、第一層は基板より構成され、また、第L層は空気より構成される。
 ここで、有機発光ダイオードの層を構成するひとつの層である第l(エル)層について、その厚さをdであるものとし、また、その比誘電率はεで与えられているものとする。
 第L層の厚さdは無限大となる。また、第一層の厚さdも無限大として差し支えない。

 次に、l=Mである第M層が表面プラズモンを担持する金属層であるとすると、まず、この第M層の両側の界面を伝搬する表面プラズモンの伝搬定数を求める。
 ここで、この金属層の界面を伝搬する表面プラズモンモードは2つ存在する。
 一方は、エネルギーが主として第M層の直下の層である第(M-1)層と第M層との界面に集中するモードであり、もう一方は、エネルギーが主として第M層と第M層の直上の層である第(M+1)層との界面に集中するモードである。以下、前者をMモード、後者をMモードと適宜に称することとする。これらの2つのモードにおける表面プラズモンの伝搬定数は、系の固有方程式を解くことによって得られる。

 一般に、この固有方程式は解析的に解くことはできず、非線形最適化の手法を用いて数値的に解くしかない。パラメーター総数が多くなるに従い、この計算は困難になってくる。
 表面プラズモンの伝搬定数は、複素数であり、上記の固有方程式は、この複素伝搬定数を正確に与える。しかし、ここで必要となるものは、表面プラズモンの伝搬定数の実部だけであるため、この場合には、簡易的な計算により求める方法が適用できる。
 まず、層構造が有する伝搬モード(表面プラズモンモードおよび導波路モード)は、伝搬定数で特徴づけられる。この伝搬定数は、伝搬モードの波数のうち界面に平行な成分(以下、面内波数と称する。)に関する。
 この層構造中に振動双極子を配置すると、そのエネルギーは、この層構造が有する各モードに散逸する。それぞれのモードは異なる伝搬定数、即ち、面内波数を有するため、双極子からの散逸エネルギーの面内波数依存性を調べれば、この層構造がどの伝搬モードを有するのかが分かる。

 ここで、双極子の散逸エネルギーの面内波数依存性の具体的な計算手順は、以下の通りである。
 まず、(M-1)/M界面より基板側20nm程度の距離に界面に垂直に双極子を1個おくものとする。なお、双極子がおかれる層は、所望の取り出し角周波数ωにおいて吸収を持たないか、もしくは、吸収が小さいものとする。この双極子が置かれた層を第N層とする。図4には、有機発光ダイオードの層構造が示されており、l=Nである第N層には、当該層構造中におかれた双極子を示す説明図が示されている。この図4においては、第N層内に双極子が置かれている。
 ここで、矢印dおよびdは、双極子から第N層の下方側界面および第N層の上方側界面までの距離をそれぞれ示したものである。
 また、双極子のモーメントをμとし、取り出し角周波数ωで振動しているものとする。
 上記の各種値を用いた場合、この双極子のエネルギー散逸の面内波数(k||)依存性は、下記の(5)式で与えられる。

Figure JPOXMLDOC01-appb-M000030
 ここで、rはN層側から見た(N-1)/N界面での面内波数k||を持つp偏光の反射係数(振幅反射率)で、rはN層側から見たN/(N+1)界面での面内波数k||を持つp偏光の反射係数である(図4を参照する。)。もちろん、これらの反射係数には、基板あるいは空気までの全ての層の影響が含まれる。また、kは第N層における光波の波数ベクトルの法線成分で、k|| +k =ε(ω/c)により与えられる。また、cは真空中の光速である。

 上記エネルギー散逸の面内波数依存性W(k||)の極大が各伝搬モードに対応し、その極大を与える面内波数がそのモードの伝搬定数の実部となっている。

 次に、双極子をM/(M+1)界面より空気側20nm程度のところにおき、同様の計算を行う。この計算によって得られるエネルギー散逸の面内波数依存性W(k||)は、W(k||)と同じ位置に極大を持つ。ただし、その極大値は異なる。

 これらの極大のうち、波数の大きい方から2つのモードが表面プラズモンモードに対応する。
 この2つの極大を与える面内波数におけるエネルギー散逸の極大値はWとWとで異なる。Wにおいて大きい方の極大値を示す面内波数をkとし、Wにおいて大きい方の極大値を示す面内波数をkとすると、kがMモードの伝搬定数で、kがMモードの伝搬定数となっている。

 なお、図11には、有機発光ダイオードの金属層の裏面より基板側20nmの距離に双極子をおいたときのエネルギー散逸と、有機発光ダイオードの金属層の裏面より空気側20nmの距離に双極子をおいたときのエネルギー散逸の計算結果を示したエネルギー散逸図を図示している。
 ここで、エネルギー散逸図とは、素子に置いた双極子のエネルギーがどの面内波数に散逸するかをグラフ化したものであり、これにより、表面プラズモンや導波モードなどの面内波数がわかる。
 次に、上記表面プラズモンの伝搬定数の算出方法を踏まえ、陰極導電層表面に凹凸のあるボトムエミッション型有機発光ダイオードの凹凸構造について考える。
 この素子の有機発光材料より得られる光の発光スペクトルのピークλpeakの半値を与える波長のうち、短い方の波長をλ、長い方の波長をλとし、陰極導電層と有機エレクトロルミネッセンス層との界面における波長λmin=2λ-λpeakおよびλmax=2λ-λpeakに対応する表面プラズモンの伝搬定数の実部を求める。
 まず、λminに対応する表面プラズモンの波数kを求める。λminに対応する角振動数、各層の誘電率および式(5)を用いてWを計算する。ボトムエミッション型の場合、陰極導電層の空気側の表面プラズモンは光取り出しに寄与しないため、計算では陰極導電層の厚さは無限大とする。
 このようにしてWを算出して得られたエネルギー散逸図の最も右側のピークの波数がkである。

 次に、λmaxに対応する表面プラズモンの波数kを同様の方法で求める。即ち、λmaxに対応する角振動数、各層の誘電率および式(5)を用いてWを計算する。
 このようにしてWを算出して得られたエネルギー散逸図の最も右側のピークの波数がkである。

 このようにして求めた表面プラズモンの波数kおよびkで決まる上記界面の凹凸面の高さ分布のパワースペクトルが波数K=kおよび波数K=kの間で有限の値をもつような凹凸構造をボトムエミッション型有機発光ダイオード内部に作製する。
 本発明では、この波数範囲内でのスペクトル強度の積分値が全体のスペクトル強度の50%以上の強度を有するように調整する。
 なお、一般に、上記スペクトル強度の積分値が全体のスペクトル強度の50%以下の強度であった場合、取り出されるエネルギーの絶対量が少なくなるものであるが、本発明による有機発光ダイオードでは、上記スペクトル強度の積分値が全体のスペクトル強度の50%以上の強度を有するため、取り出し効率を低下させることなく、一定の効果を得られるものである。
 次に、本発明において用いる透明基板102表面の凹凸構造の平均高さについて説明すると、透明基板102表面の凹凸構造の平均高さは15nm以上180nm以下である。ここでいう凹凸構造の平均高さとは、透明基板102の凸部102a、凸部102b、凸部102cの平均高さを意味するものである。
 こうした凸部102a、凸部102b、凸部102cの平均高さは、15nm以上180nm以下が好ましく、また、20nm以上100nm以下がより好ましいものである。

 ここで、平均高さが15nm未満、または、180nmを超えるものであった場合、有機発光ダイオード100からの光の取出し効率向上の効果が不充分となる。
 この理由について以下に説明すると、凸部の平均高さが15nm未満であると、凸部の高さが低すぎるため二次元凹凸構造として十分な表面プラズモンの回折波を生成できなくなるため、表面プラズモンを輻射光として取り出す効果が低下することとなる。
 また、凸部の平均高さが180nmを超えるものであると、凸部の高さが高すぎるため陽極導電層104、EL層106、陰極導電層108を積層する際に、凹凸が急峻であるため、陽極導電層104と陰極導電層108とが短絡する可能性も高くなる。
 こうした理由により、凸部の平均高さは、15nm以上180nm以下とすることを本発明の要件としている。
 次に、凹凸構造の凸部の平均高さの測定方法について説明するが、凸部の平均高さは原子間力顕微鏡(AFM:Atomic Force Microscope)により測定することが可能である。
 具体的には、まず、凹凸構造の領域のうち、無作為に選択された5μm×5μmのある領域について、AFM像を取得する。
 図12には、本発明による有機発光ダイオード用基板に形成された凹凸構造をAFMにより測定したAFM像を示す説明図を示している。こうしたAFM像においては、凸部の高低に応じてAFM像における明度が異なるものであり、凸部の高さが高い部分では明度が高く、一方、凸部の高さが低い部分では明度が低い。
 なお、こうしたAFM像の取得方法については、公知の技術であることから、その説明は省略するものとする。

 次に、こうして取得した5μm×5μmのAFM像上の対角線方向に直線を引き、この直線と交わった凸部102a、凸部102b、凸部102cのそれぞれの高さを測定し、凸部の高さの測定値の平均値を求める。

 ここで、高さの測定は以下のように行う。即ち、基板面を、基板面に対して垂直方向(積層方向)から観察し、ある凸部X0に注目したとき、凸部X0を取り囲むように隣接する他の凸部X1、X2、X3・・・Xnが存在する。X0とX1の間の鞍部の鞍点をx1、同様に他の凸部との鞍部の鞍点をx2、x3・・・xnとし、これらの平均高さと、凸部X0の中心の高さとの差として求められる。

 こうした処理を、無作為に選択された5μm×5μmの領域合計25カ所に対して行い、各領域における凸部の高さの平均値を求める。そして、得られた25カ所の領域における平均値をさらに平均した値を算出し、平均高さとする。
 本発明においては、凸部の平均高さ15nm以上180nm以下の範囲に収まるようにする。

 また、凸部の作製方法については後に詳説するが、凸部の平均高さは粒子単層膜をエッチングマスクとしてドライエッチングを行う際のドライエッチング条件により調節することが可能である。
 なお、逆凹凸構造を形成する凹部108a、凹部108b、凹部108cの直径および平均深さは、それぞれ、凸部102a、凸部102b、凸部102cの直径および平均高さと同じである(図10(a)(b)を参照する。)。そのため、凹部の平均深さは、凸部の平均高さから間接的に定量できるものである。

 一方、本発明の光取出し効果を与えない場合、例えば、単一粒子径の粒子を用いて形成された凹凸構造を有する粒子単層膜をエッチングマスクとして形成された凹凸構造の場合、該パワースペクトル強度は1つの波数のみに値を持つようになり、波数Kおよび波数Kの間の幅を持つ波数域全体には分布しないため、取り出し波長と凹凸構造のわずかなミスマッチが起きた場合は安定的に光取り出し効果を得ることが難しくなる。
 (2-2-2)陽極導電層
 次に、陽極導電層102は、目的の光を透過するような透明導電体より構成されるものである。
 こうした透明導電材料は、例えば、第1の実施の形態において例示した材料を用いることができる。
 また、第2の実施の形態においては、陽極導電層102の厚さは30~500nmとする。
 なお、有機発光ダイオード100を構成する各層の厚さは、分光エリプソメーター、接触式段差計、AFM等により測定できるものである。
 (2-2-3)有機EL層
 第2の実施の形態においては、EL層106を複数の層より構成するものであり、詳細には、ホール注入層106-1、ホール輸送層106-2、発光層106-3、電子輸送層106-4および電子注入層106-5とを積層して構成するものである。
 こうしたEL層106の構成は、少なくとも、有機発光材料を含有する発光層を含むようにし、発光層のみから構成されるようにしてもよいが、一般的には、発光層以外の他の層を設けることでホールと電子を効率よく注入し発光効率を高める工夫を行う。
 また、ホール注入層106-1や電子注入層106-5は層構成によっては省略可能であり、電子輸送層106-4は発光層106-3を兼ねることもできる。
 これらの層を構成する材質は、公知のものを使用することが可能である。
 上記のうち、発光層106-3を構成する有機発光材料としては、これまで、有機ELの発光層を構成する有機発光材料として公知のものが利用されてきた。
 こうした有機発光材料としては、例えば、蛍光および/または燐光を発生する有機半導体化合物、該有機半導体化合物を他の物質(ホスト材料)にドープした化合物、該有機半導体化合物にドーピング材料をドープした化合物等が挙げられる。
 ここで、蛍光および/または燐光を発生する有機化合物としては、色素系材料、金属錯体系材料、高分子系材料等の材料が知られており、いずれの材料を用いてもよいものである。
 そして、色素系の有機化合物の具体的な例としては、例えば、前述のDPAVB、2,3,6,7-テトラヒドロ-1,1,7,7-テトラメチル-1H,5H,11H-10-(2-ベンゾチアゾリル)キノリジノ[9,9a,1-gh](以下、クマリンC545Tと略記する。)、ジスチルアリーレン誘導体である4,4’-bis(2,2-diphenyl-ethen-1yl)biphenyl(以下、DPVBiと略記する。)等が挙げられる。
 また、金属錯体系の有機化合物の具体的な例としては、例えば、前述のAlq、ZnPBO、Tris[1-phenylisoquinoline-C2,N]iridium(III)(以下、Ir(piq)と略記する。)等が挙げられる。
 また、ホスト材料としては、例えば、後述するホール輸送材料、電子輸送材料等が利用できる。
 さらに、ドーピング材料としては、発光効率の向上、発生する光の波長を変化させる等の目的で用いられるもので、例えば、ジスチルアリーレン誘導体である4,4’-bis(9-ethyl-3-carbazovinylene)-1,1’-biphenyl(以下、BcZVBiと略記する。)等が挙げられる。
 次に、ホール注入層106-1、ホール輸送層106-2、電子輸送層106-4を構成する材料としては、それぞれ有機材料を用いる。
 ホール注入層106-1を構成する材料、即ち、ホール注入材料としては、例えば、前述の2-TNATA等が挙げられる。
 また、ホール輸送層106-2を構成する材料、即ち、ホール輸送材料としては、例えば、前述のTPD、CuPc、4,4’-bis[N-1-napthyl]-N-phenyl-amino]-biphenyl(以下、α-NPDと略記する。)等の芳香族アミン化合物などが挙げられる。
 また、電子輸送層106-4を構成する材料、即ち、電子輸送材料としては、例えば、上述したAlq、BND、PBD等のオキサジオール系化合物等の金属錯体系化合物などが挙げられる。
 また、電子注入層106-5を構成する材料としては、フッ化リチウム(LiF)などが挙げられる。
 なお、本実施の形態においては、EL層106として電子注入層106-5を用いたが、電子注入層106-5を採用することは必須ではない。しかしながら、電子輸送層106-4と陰極導電層108との間に電子注入層106-5を設けると、仕事関数の差を少なくすることが可能であるため、陰極導電層108から電子輸送層106-4に電子が移行しやすくなるという効果がある。
 ただし、陰極導電層108としてMg/Ag=10/90~90/10等のマグネシウム合金を使用することにより、電子注入層の代わりとなるため、こうした場合は、電子注入層106-5を設けなくとも電子注入効果が得られるものである。
 なお、上記材料により作製されたEL層106は、通常、その全体の厚さを30~500nmであるように形成することが好ましい。
(2-2-4)陰極導電層に用いる材料
 本実施の形態による有機発光ダイオード100の陰極導電層108は、金属材料により構成される。
 こうした金属材料としては、例えば、Ag、Au、Al、または、それらのうちのいずれかを主成分とする合金が挙げられる。
 ここで「主成分とする」とは、当該合金中、Ag、Au、Alの金属が占める割合が70質量%以上存在することを意味する。
 さらに、合金の場合、合金の主成分以外の金属としては、Mg等が挙げられる。
 具体的には、例えば、Mg/Ag=10/90~90/10(質量比)等のマグネシウム合金が挙げられる。
 なお、上記材料により作製された陰極導電層108は、通常、その厚さを50~3000nmであるように形成することが好ましい。

 以上において、本発明による有機発光ダイオード100を構成する各層の材料について説明したが、こうした有機発光ダイオード100を構成する各層の作製方法について、以下に詳細に説明することとする。
 なお、本実施の形態においては、有機発光ダイオード100の製造方法として積層方式を採用するものとする。
 ここで、積層方式とは、有機発光ダイオード100の底部となる層から順に1層ずつ積層していく手法であり、本実施の形態においては、まず、直径がそれぞれ異なる3種類の凸部102a、102b、102cが複数、二次元にランダムに配列した凹凸構造が表面に設けられた透明基板102を作製する(本明細書においては、こうした工程について「基板作製工程」と適宜に称する。)。
 次に、透明基板102の凹凸構造上に、陽極導電層104と、EL層106(ホール注入層106-1、ホール輸送層106-2、発光層106-3(赤色発光層)、電子輸送層106-4、電子注入層106-5)と、陰極導電層108とを順次積層させていく(本明細書においては、こうした工程について「積層工程」と適宜に称する。)ものである。
 以下、基板作製工程と積層工程とについて、それぞれ詳細に説明する。
 (2-3)基板作製工程
 はじめに、透明基板102は、基板上に粒子径の異なる複数の粒子の混合物(以下、混合粒子と適宜に称する。)を用いて形成した粒子単層膜をエッチングマスクとしてドライエッチングを行うドライエッチング法により作製する。
 ここで、粒子単層膜をエッチングマスクとするドライエッチング法は、粒子単層膜を水面上に製膜し、上記第1の実施の形態において説明したLB法の原理を用いて基板原板表面上に移行し、こうした単層膜をエッチングマスクとして基板原板表面をドライエッチングすることにより、凹凸構造を有する透明基板を作製する方法であり、例えば、上記した特許文献4に詳細に開示されている。
 従来法では、粒子間隔の制御が高精度で行われた2次元的最密充填格子を得るために、単一の粒子径の粒子を用いている。
 つまり、単一の粒子径の粒子を用いて形成された粒子単層膜においては、粒子が2次元に最密充填しているため、これをエッチングマスクとして基板原板表面をドライエッチングすると、凹凸構造として高精度な三角格子状(六方格子状)の二次元格子構造が形成される。
 このような高精度な三角格子状(六方格子状)の二次元格子構造を有する基板を用いて形成された陰極導電層の表面は、同様に高精度な二次元格子構造であることから、これを使用することによって、大面積である場合であっても高効率で表面プラズモンの回折波を得ることができるため、光取出し効率が向上し、高輝度の有機発光ダイオードを得ることが可能となるものである。
 しかしながら、従来法で製造された二次元格子構造を有する基板上に構成された有機発光ダイオードは、特定の単一の波長において光の取出し効率が向上するように最適化されており凹凸構造のピッチの製造バラつきによっては発光層の発光波長と取り出し波長とがずれてしまい、取り出し効率の向上が得られない場合があった。

 そのため、本発明においては、粒子単層膜を構成する粒子として、異なる粒子径を有する複数種類(ここでは3種類を例にとって説明している。)の粒子による混合粒子を用いるようにした。
 ここで、選択する粒径は互いにある程度近いものを用いるのが本発明の効果を得るのに効果的であるが、粒径の近似に関する目安として具体的な規定はない。結局、微細凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルが波数Kおよび波数Kの間で有限の値を持ち、かつ、この波数範囲内でのスペクトル強度の積分値が全体のスペクトル強度の50%以上の強度を有するように複数の粒径を組み合わせれば良い。

 こうして形成される粒子単層膜による凹凸構造は、上記において説明したように、直径がそれぞれ異なる凸部102a、凸部102b、凸部102cが複数、二次元にランダムに配列したものとなる。
 そして、こうした凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルは波数KからKの間に有限の値を与えるため、凹凸構造のピッチの製造バラつきが多少生じたとしても、取り出し波長と凹凸構造との関係がずれることなく、安定的に光取り出し効率に優れた格子を提供するものとなる。

 より詳細には、透明基板102は、透明基板102の原型となる基板原板(凹凸構造を形成する前の透明基板)の表面に、混合粒子からなる粒子単層膜を被覆する工程(以下、こうした工程を「被覆工程」と適宜に称する。)と、粒子単層膜を用いたドライエッチング工程とを行うことにより作製できる。
 以下、被覆工程とドライエッチング工程とについて、それぞれ詳細に説明する。
 (2-3-1) 被覆工程
 被覆工程は、第1の実施の形態において説明したように、水槽に混合粒子を展開させるための下層液を入れ、該下層液の液面に溶剤中に混合粒子が分散した分散液を滴下し、溶剤を揮発させることにより混合粒子からなる粒子単層膜を液面上に形成する粒子単層膜形成工程と、粒子単層膜を基板上に移し取る移行工程とを行うことにより実施できる。
 つまり、基板原板の表面に被覆するエッチングマスクを被覆する被覆工程においては、はじめに粒子単層膜のみを作製し(粒子単層膜形成工程)、粒子単層膜形成工程により作製された粒子単層膜を基板原板表面上に移し取るようにするものである(移行工程)。
 なお、以下の説明においては、下層液として親水性のものを使用し、分散液においては有機溶剤および混合粒子として疎水性のものを使用する場合について例を示したが、下層液として疎水性の液体を使用してもよく、その場合には、混合粒子として親水性のものを使用する、
 以下、粒子単層膜形成工程と移行工程とについて、それぞれ詳細に説明する。
 (2-3-2) 粒子単層膜形成工程
 上記したように、被覆工程においては、基板原板表面に被覆する粒子単層膜を作製する粒子単層膜形成工程を行うが、本実施の形態においては、粒子単層膜形成工程として、水槽(トラフ)に貯留された所定の溶媒表面上に混合粒子を含有する溶剤を展開させることにより、粒子単層膜を得る手法について説明する。
 はじめに、水槽(トラフ)を用意し、下層液となる所定の液体を入れる。本実施の形態においては、上記水槽に貯留する所定の液体として水を用いるものとする。
 次に、所定の有機溶剤等の溶剤中に、3種の異なる粒径を有する粒子よりなる混合粒子を分散させることにより分散液を調製する。

 ここで、こうした3種の粒子の材料としては、表面が疎水性で、かつ、粒子径がそれぞれ異なる3種の粒子A、粒子B、粒子C(粒子径は、「粒子A>粒子B>粒子C」とする。)を用いるようにする。
 そして、それらの粒子A、粒子B、粒子Cを分散させる所定の溶剤としては、揮発性が高く、かつ、疎水性の高い溶剤(例えば、クロロホルム、メタノール、エタノール、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、ヘキサン等である。)を用いるようにする。
 上記溶剤中に3種の粒子A、粒子B、粒子Cを加えて混合し、3種の粒子A、粒子B、粒子Cが溶剤中に分散した分散液を調製するものである。
 こうした分散液の粒子濃度(粒子A、粒子B、粒子Cの合計の濃度)は、1~10質量%とすることが好ましい。
 そして、上記粒子A、粒子B、粒子Cを分散させた分散液を、上記水槽内の下層液表面に滴下して該水槽内の下層液液面上に展開する。
 こうした分散液の下層水の液面への滴下速度は、0.001~0.01ml/秒とすることが好ましい。
 なお、分散液中の粒子の濃度や滴下速度を上記に記載した範囲で行うと、粒子が部分的にクラスター状に凝集して2層以上となることや、粒子が存在しない欠陥箇所が生じることなどの傾向が抑制された粒子単層膜が得られやすいものである。
 そして、上記滴下後に、所定の時間を経過させることにより分散液のうち有機溶剤が揮発し、混合粒子A、粒子B、粒子Cがランダムに2次元に密集した粒子単層膜が、水槽内の下層液面上に形成される。
 ここで、上記3種の粒子A、粒子B、粒子Cの選定基準は、上記において説明したように、ドライエッチング後に直径がそれぞれ異なる凸部102a、凸部102b、凸部102cが二次元にランダムに配列した凹凸構造を形成した際、その凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルは波数KからKの間に有限の値を与えるような粒径を選定する。
 具体的には、粒子Bは上述の発光スペクトルピークλpeakに対応する粒径を有するものを選定し、粒子Aと粒子Cを適宜混合することにより、結果として得られる凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルが波数Kから波数Kの間で有限の値をとるように調整する。

 本発明においては混合粒子を用いているため、凹凸構造中の複数の凸部の直径や中心間の距離にばらつきが生じる。こうしたばらつきは、ばらつきがない場合と比較して、スペクトル強度が有限の値を持つ波数の範囲が広くなるのを利用する。
 そして、スペクトル強度が有限の値を持つ波数の範囲は、凹凸構造中の複数の凸部の直径や、隣接する凸部との中心間の距離のばらつきの程度、3種の粒子A、粒子B、粒子Cそれぞれの粒度分布、平均粒子径、3種の粒子A、粒子B、粒子Cの混合比率などによって調節できる。
 上記条件を踏まえると、3種の粒子A、粒子B、粒子Cの粒子径は、いずれも、10nm以上2000nm以下の範囲内であることが好ましく、50nm以上1700nm以下の範囲内であることがより好ましい。
 また、各粒子の粒子径は、一次粒子径の値であり、動的光散乱法により求めた粒度分布をガウス曲線にフィッティングさせて得られるピークから公知の方法により求めることができる。あるいは、粒子をAFM像またはSEM像にて直接観察して粒径を計測してもよい。
 なお、ここでは3種の粒子径の粒子を用いた例を示しているが本発明はこれに限定されるものではなく、粒子径が異なる粒子は2種以上であればよい。
 狭帯域において取り出し効率の向上効果を均等化する観点からは、2種~5種程度であることが好ましい。
 次に、3種の粒子A、粒子B、粒子Cの材料については、例えば、Al、Au、Ti、Pt、Ag、Cu、Cr、Fe、Ni、Siなどの金属や、SiO、Al、TiO、MgO、CaOなどの金属酸化物や、ポリスチレン、ポリメチルメタクリレートなどの有機高分子や、その他の半導体材料や、無機高分子等が挙げられる。
 これらは2種以上を併用してもよい。
 この3種の粒子A、粒子B、粒子Cの材料や後述するドライエッチング条件を選択することにより、形成される凸部102a、凸部102b、凸部102cの高さや形状を調節することができ、結果的に凹部108a、凹部108b、凹部108cの深さや形状を調節することができる。
 また、他の条件としては、本実施の形態においては、上記下層液として水を使用するため、3種の粒子A、粒子B、粒子Cの表面は、疎水性の材料より構成されることが好ましい。
 3種の粒子の表面が疎水性であれば、上述したように水槽(トラフ)の下層液の液面上に粒子の分散液を展開させて粒子単層膜を形成する際に、下層液として水を用いて容易に粒子単層膜を形成できる上に粒子単層膜を基板表面に容易に移動させることができる。

 上記で例示した3種の粒子の材料うち、ポリスチレンなどの有機高分子の粒子は表面が疎水性であるため、そのまま使用できるものであるが、金属粒子や金属酸化物粒子のうち表面が親水性のものにおいては疎水化剤により表面を疎水性に変えることで使用できる。
 ここで、疎水化剤としては、例えば、界面活性剤、アルコキシシランなどが挙げられる。
 上記界面活性剤は、幅広い材料の疎水化に有効であり、粒子が金属、金属酸化物などからなる場合に好適である。
 こうした疎水化剤としての界面活性剤は、例えば、臭素化ヘキサデシルトリメチルアンモニウム、臭素化デシルトリメチルアンモニウムなどのカチオン性界面活性剤、ドデシル硫酸ナトリウム、4-オクチルベンゼンスルホン酸ナトリウムなどのアニオン性界面活性剤が好適に使用できる。また、アルカンチオール、ジスルフィド化合物、テトラデカン酸、オクタデカン酸なども使用できる。
 このような界面活性剤を用いた疎水化処理の方法としては、有機溶剤や水などの液体に粒子を分散させて液中で行ってもよいし、乾燥状態にある粒子に対して行ってもよい。
 液中で行う場合には、例えば、クロロホルム、メタノール、エタノール、イソプロパノール、アセトン、メチルエチルケトン、エチルエチルケトン、トルエン、n-ヘキサン、シクロヘキサン、酢酸エチル、酢酸ブチルなどの1種以上からなる揮発性有機溶剤中に、疎水化対象の粒子を加えて分散させ、その後、界面活性剤を混合してさらに分散を続ければよい。このように、あらかじめ粒子を分散させておき、それから界面活性剤を加えると、表面をより均一に疎水化することができる。このような疎水化処理後の分散液は、そのまま、下層水の液面に滴下するための分散液として使用することもできる。
 疎水化対象の粒子が水分散体の状態である場合には、この水分散体に界面活性剤を加えて水相で粒子表面の疎水化処理を行った後、有機溶剤を加えて疎水化処理済みの粒子を油相抽出する方法も有効である。こうして得られた分散液(有機溶剤中に粒子が分散した分散液)は、そのまま、下層水の液面に滴下するための分散液として使用できる。
 なお、この分散液の粒子分散性を高めるためには、有機溶剤の種類と界面活性剤の種類とを適切に選択し、組み合わせることが好ましい。粒子分散性の高い分散液を使用することによって、粒子がクラスター状に凝集することを抑制でき、各粒子が2次元に密集した粒子単層膜がより得られやすくなる。例えば、有機溶剤としてクロロホルムを選択する場合には、界面活性剤として臭素化デシルトリメチルアンモニウムを使用することが好ましい。その他にも、エタノールとドデシル硫酸ナトリウムとの組み合わせ、メタノールと4-オクチルベンゼンスルホン酸ナトリウムとの組み合わせ、メチルエチルケトンとオクダデカン酸との組み合わせなどを好ましく例示できる。
 疎水化対象の粒子と界面活性剤の比率は、疎水化対象の粒子の質量に対して、界面活性剤の質量が1~20%の範囲が好ましい。
 また、こうした疎水化処理の際には、処理中の分散液を撹拌したり、分散液に超音波照射したりすることも粒子分散性向上の点で効果的である。
 アルコキシシランを疎水化剤として使用する方法は、Si、Fe、Alなどの粒子や、SiO、Al、TiOなどの酸化物粒子を疎水化する際に有効である。
 ただし、これら粒子に限らず、基本的には、水酸基等を表面に有する粒子であればいかなる粒子に対して適用することができる。
 アルコキシシランとしては、例えば、第1の実施の形態において挙げた材料の他に、3-アミノプロピルトリメトキシシランや3-アミノプロピルトリエトキシシランなどが挙げられる。
 疎水化剤としてアルコキシシランを用いる場合には、アルコキシシラン中のアルコキシシリル基がシラノール基に加水分解し、このシラノール基が粒子表面の水酸基に脱水縮合することで疎水化が行われる。よって、アルコキシシランを用いた疎水化は、水中で行うことが望ましい。
 このように水中で疎水化を行う場合には、例えば界面活性剤などの分散剤を併用して、疎水化前の混合粒子の分散状態を安定化するのが好ましい。ただし、分散剤の種類によってはアルコキシシランの疎水化効果が低減することもあるため、分散剤とアルコキシシランとの組み合わせは適切に選択する。

 アルコキシシランにより疎水化する具体的方法としては、前述した第1の実施の形態における方法と同様であるが、反応時間としては、室温から40℃の範囲で適宜攪拌しながら所定時間、好ましくは0.5~12時間反応させるものとする。

 また、第1の実施の形態において説明したように、アミン系以外のアルコキシシランは、酸性またはアルカリ性の条件下で加水分解するため、例えば、0.1~2.0質量%濃度の酢酸水溶液を添加する方法によれば、加水分解促進の他に、シラノール基安定化の効果も得られるため好ましい。

 疎水化対象の粒子とアルコキシシランの比率は、疎水化対象の粒子の質量に対して、アルコキシシランの質量が1~20倍の範囲が好ましい。

 所定時間反応後、この分散液に対して、前述の揮発性有機溶剤のうちの1種以上を加え、水中で疎水化された粒子を油相抽出する。この際、添加する有機溶剤の体積は、有機溶剤添加前の分散液に対して0.3~3倍の範囲が好ましい。油相抽出して得られた分散液(有機溶剤中に粒子が分散した分散液)は、そのまま、滴下工程において下層水の液面に滴下するための分散液として使用できる。なお、こうした疎水化処理においては、処理中の分散液の粒子分散性を高めるために、撹拌、超音波照射など実施することが好ましい。分散液の粒子分散性を高めることによって、粒子がクラスター状に凝集することを抑制でき、粒子単層膜がより得られやすくなる。
 ここで、超音波照射により粒子凝集を低減する方法を以下に説明する。
 まず、下層水から水面に向けて超音波を照射しながら粒子単層膜形成工程を行うと、粒子の凝集状態を低減する効果が得られる。この際、超音波の出力は第1の実施の形態において説明した出力と同じ条件を採用することができる。また、超音波の照射時間については、粒子の単層化の促進に十分であればよいものであり、粒径、超音波の周波数、水温などによって所要時間が変化するものであるが、第1の実施の形態において説明した照射時間を採用することができる。

 一般的に振動数(ここでは超音波の周波数を指す。)が高すぎると、水分子のエネルギー吸収が始まり、水面から水蒸気または水滴が立ち上る現象が起きるため、本発明において用いるLB法にとって好ましくない。また、一般的に振動数が低すぎると、下層水中のキャビテーション半径が大きくなり、水中に泡が発生して水面に向かって浮上してくる。このような泡が粒子単層膜の下に集積すると、水面の平坦性が失われるため本発明の実施に不都合となる。また、超音波照射によって水面に定常波が発生する。いずれの周波数でも出力が高すぎたり、超音波振動子と発振機のチューニング条件によって水面の波高が高くなりすぎたりすると、粒子単層膜が水面波で破壊される可能性がある。

 以上のことから超音波の周波数を適切に設定すると、形成されつつある粒子単層膜を破壊することなく、効果的に粒子の単層化を促進することができる。しかし、粒径が例えば100nm以下など小さな粒子になると固有振動数は非常に高くなってしまうため、計算結果のとおりの超音波振動を与えるのは困難になる。
 このような場合は、粒子2量体、3量体、・・・20量体程度までの質量に対応する固有振動を与えると仮定して計算を行うと、必要な振動数を現実的な範囲まで低減させることが出来る。粒子の会合体の固有振動数に対応する超音波振動を与えた場合でも、粒子の単層化は促進される。

 超音波照射によって得られる利点は粒子の単層化促進の他に、粒子分散液調製時に発生しやすい粒子の軟凝集体を破壊する効果、一度発生した点欠陥、線欠陥、または結晶転移などもある程度修復する効果がある。

 上記において説明したように、3種の粒子A、粒子B、粒子Cをランダムに配置した粒子単層膜としては、上記材料により作製することが好ましい。

 ここで、粒子単層膜の形成原理について説明すると、上記した粒子単層膜の形成は、粒子の自己組織化によるものである。
 その原理は、粒子が水面上に浮いており、かつ、互いにランダムに動ける状態から、粒子同志が集結する状態になる際、粒子間に存在する分散媒に起因して表面張力が作用し、その結果、粒子同士はバラバラの状態で存在するのではなく、水面上で密集した単層構造を自動的に形成するというものである。このような表面張力による密集構造の形成は、別の表現をすると横方向の毛細管力による粒子同士の相互吸着とも言える。
 例えば、3種の粒子が水面上に浮いた状態で集まり接触すると、粒子群の喫水線の合計長を最小にするように表面張力が作用し、3種の粒子は三角形(粒径が異なる粒子同士では正三角形とはならない)を基本とする配置で安定化することにより、粒子単層膜が形成されるものである。
 仮に、喫水線が粒子群の頂点にくる場合、すなわち、粒子が液面下に潜ってしまう場合には、このような自己組織化は起こらず、粒子単層膜は形成されない。
 よって、粒子と下層水は、一方が疎水性である場合には他方を親水性にして、粒子群が液面下に潜ることを回避することが重要である。
 そのため、下層液としては、以上の説明のように水を使用することが好ましく、水を使用すると、比較的大きな表面自由エネルギーが作用して、一度生成した粒子の密集した単層構造が液面上に安定的に持続しやすくなる。
(2-3-3)移行工程
 次に、上記粒子単層膜形成工程により作成した粒子単層膜を基板原板表面に移し取る移行工程について説明する。
 この移行工程では、粒子単層膜形成工程により下層水の液面上に形成された粒子単層膜について、単層状態のままエッチング対象物である基板原板上への移行が行われる。

 粒子単層膜を基板原板上に移行させる具体的な方法としては、特に制限されるものではなく、例えば、第1の実施の形態における移行工程と同様に、疎水性の基板原板を粒子単層膜に対して略平行な状態に保ちつつ、上方から降下させて粒子単層膜に接触させ、ともに疎水性である粒子単層膜と基板原板との親和力により粒子単層膜が基板原板に移行させて移し取る方法や、粒子単層膜を形成する前にあらかじめ水槽の下層水内に基板原板を略水平方向に配置しておき、粒子単層膜を液面上に形成した後に液面を徐々に降下させることにより、基板原板上に粒子単層膜を移し取る方法などがある。

 これらの方法によれば、特別な装置を使用せずに粒子単層膜を基板上に移行させることができるが、より大面積の粒子単層膜であってもその粒子の密集状態を維持したまま基板原板上に移行させやすい点を考慮すると、第1の実施の形態において説明したLBトラフ法を採用することが好ましい。

 本実施の形態において用いるLBトラフ法は、第1の実施の形態において説明したLBトラフ法と同様の手法であるため、その説明は省略する。

 なお、第2の実施の形態においても、粒子単層膜を圧縮する際に好ましい拡散圧としては、5~80mNm-1であり、より好ましくは、10~40mNm-1である。このような拡散圧であると、各粒子が隙間無く密集した粒子単層膜が得られやすい。
 また、基板原板を引き上げる速度は、0.5~20mm/分が好ましい。
 上記のようにして、上記した移行工程によれば、基板原板表面を粒子単層膜で被覆することができる。

 必要に応じて、第1の実施の形態に示した方法と同様の方法および同様の条件で、移行工程の後、さらに、粒子単層膜を基板原板上に固定するための固定工程を行ってもよい。
 (2-4) ドライエッチング工程
 以上のようにして粒子単層膜で被覆した基板原板表面を、ドライエッチングすることにより透明基板102を得る。

 粒子単層膜で被覆した基板原板表面に対してドライエッチングを施すことにより、具体的には、ドライエッチングを開始とともに、粒子単層膜を構成している各粒子の隙間をエッチングガスが通り抜けて基板原板の表面に到達し、その部分に凹部が形成され、各粒子に対応する位置にそれぞれ凸部が現れるようになる。
 さらに、引き続きドライエッチングを続けると、各凸部上の粒子も徐々にエッチングされて小さくなり、同時に、基板原板表面に刻まれる凹部も深くなっていき、最終的に、基板表面に凹凸構造を有する透明基板102が作製されるものである。

 こうしたドライエッチング工程は、第1の実施の形態において説明した方法と同様の方法で行うことが可能であり、このドライエッチング工程によれば、バイアスパワー、ガス流量、堆積ガスの種類と量などのドライエッチング条件を調節することによって、形成される凸部102a、102b、102cの平均高さおよび形状を調節できる。
 また、ドライエッチングに使用するエッチングガスとしては、例えば、第1の実施の形態において例示した気体が挙げられるが、本発明の効果に影響しない気体であればよく、こうした気体であれば上記気体に限定されることはないものである。
 そして、粒子単層膜を構成する粒子や基板原板の材料などに応じて、上記気体のうち1種以上を選択して使用するようにする。

 また、上記ドライエッチングの処理はエッチング装置を用いて行うものとするが、本実施の形態において使用可能なエッチング装置としては、異方性エッチングが可能な反応性イオンエッチング装置やイオンビームエッチング装置などであって、かつ、最小で20W程度のバイアス電場を発生できるものを使用するものとする。
 こうしたエッチング装置であれば、プラズマ発生の方式、電極の構造、チャンバーの構造、高周波電源の周波数等の装置における仕様は特に制限しないものとする。

 また、本発明においては、ドライエッチング工程でのエッチング選択比(基板原板のエッチング速度/粒子単層膜のエッチング速度)が、上記微細凹凸構造に必要な構造深さを得られるように、エッチングの各条件である、粒子単層膜を構成する粒子の材料、基板原板の材料、エッチングガスの種類、バイアスパワー、アンテナパワー、ガスの流量と圧力、エッチング時間などを設定することが好ましい。

 そのため、例えば、粒子単層膜エッチングマスクを構成する粒子としてコロイダルシリカ粒子を選択し、基板として石英基板を選択してこれらを組み合わせた場合、エッチングガスにArやCFなどのガスを用いることで、比較的低い振幅とピッチの比のエッチングをすることができる。
 また、電場のバイアスパワーを数十から数千Wに設定すると(ドライエッチング装置の電極面積による。)、プラズマ状態にあるエッチングガス中の正電荷粒子は加速されて、高速でほぼ垂直に基板に入射する。よって、基板に対して反応性を有する気体を用いた場合は、垂直方向の物理化学エッチングの反応速度を高めることができる。

 さらに、ドライエッチングでは、基板の材料とエッチングガスの種類の組み合わせによっては、プラズマによって生成したラジカルによる等方性エッチングが並行して起こる場合がある。こうしたラジカルによるエッチングは化学エッチングであり、エッチング対象物のどの方向にも等方的にエッチングが行われる。
 ラジカルは電荷を持たないためバイアスパワーの設定でエッチング速度をコントロールすることはできず、エッチングガスのチャンバー内濃度でコントロールするものである。
 また、荷電粒子による異方性エッチングを行うためにはある程度のガス圧を維持しなければならないので、反応性ガスを用いる限り等方的エッチングの影響はゼロに出来ない。
 しかしながら、基材を冷却することでラジカルの反応速度を遅くする手法は広く用いられており、その機構を備えた装置も多いので、状況に応じてそうした装置を利用することが好ましい。
 また、ドライエッチング工程において、主としてバイアスパワーと圧力を調整し、かつ、状況に応じていわゆる堆積ガスを併用することにより、基板原板表面に、凸部底面の直径と高さとの比(凸部底面の直径/高さ)が比較的低い二次元格子構造を形成することができる。
 上記においては、ドライエッチング工程により基板原板表面に凹凸構造を形成させる方法について説明したが、凹凸構造の形成方法のその他の例としては、鋳型を用いて凹凸構造を形成させる方法が挙げられる。
 より詳細には、予め、直径がそれぞれ異なる凸部102a、102b、102cが複数、二次元にランダムに配列した凹凸構造が表面に設けられた基板を形成し、該基板を鋳型として透明基板102を作製する。
 こうした鋳型表面の凹凸構造を基板原板に偶数回転写すると、基板原板表面に、直径がそれぞれ異なる凸部102a、凸部102b、凸部102cが複数、二次元にランダムに配列した凹凸構造が刻まれ、凹凸構造を有する透明基板が得られるものである。
 また、該鋳型表面の凹凸構造を基板原板に奇数回転写すると、基板原板表面に、直径がそれぞれ異なる凹部が複数、二次元にランダムに配列した凹凸構造を有する透明基板が得られる。この透明基板表面の凹凸構造は、鋳型表面の凹凸構造が反転した形状となる。
 ただし、転写回数が増えると微細凹凸の形状は鈍化するので、実用的な転写回数としては1~4回が好ましい。
 こうした鋳型表面の構造の転写は、公知の技術であり、例えば、上記特許文献4に開示されているような、ナノインプリント法、熱プレス法、射出成型法、UVエンボス法等の方法を用いて実施することができる。
  (2-5) 積層工程
 次に、本実施の形態による有機発光ダイオード100を構成する各層を積層させる工程について、以下に説明する。
 本実施の形態による有機発光ダイオード100は、上記のようにして作製した凹凸構造を有する透明基板102の表面上に、陽極導電層104、EL層106たるホール注入層106-1、ホール輸送層106-2、発光層106-3、電子輸送層106-4、電子注入層106-5、陰極導電層108を順次積層することで取得することができる。
 こうした各層の積層方法は、特に限定されないものであり、一般的な有機発光ダイオードの製造において用いられている公知の技術を利用できる。
 例えば、陽極導電層104および陰極導電層108は、それぞれ、スパッタリング法、真空蒸着法などによって形成できる。
 また、EL層106の各層は、真空蒸着法によって形成される。
 さらにまた、陽極導電層104、EL層106の厚さは非常に薄いため、上記のように各層を順次積層していくと、透明基板102表面の凹凸構造が各層に複製されていく。
 そのため、該EL層106上に積層された陰極導電層108は、裏面に、該凹凸構造が反転した形状を有するものとなる。

 以上のようにして作製された本発明による有機発光ダイオードを、少なくともその一部に用いるように画像表示装置を構成することにより、従来の画像表示装置よりもその画面を安定的に明るくすることが可能となる。
 また、以上のようにして作製された本発明による有機発光ダイオードを、少なくともその一部に用いるように照明装置を構成することにより、従来の照明装置よりも安定的に明るく照射することが可能となる。
 以上において説明したように、本発明の第2の実施の形態の製造方法により製造された有機発光ダイオードおいては、基板表面に形成する凹凸構造を、異なる粒子径を有する複数の粒子の混合物を用いた粒子単層膜をエッチング膜としてドライエッチングを行うことで、ランダムな二次元凹凸構造であるようにしたことにより、可視光から近赤外域における狭帯域の電磁波の光取出し性能が安定的に向上し、高強度の発光が得られるようになる。
 従って、本発明の第2の実施の形態による有機発光ダイオード100は、取出し波長を可視光~近赤外領域全体(380nm~2500nm)の任意の波長に設定できる。

 そして、こうした有機発光ダイオード100を利用して画像表示装置を作製することにより、長寿命、小電力の画像表示装置を作製することができる。
 さらに、こうした有機発光ダイオード100を利用して照明装置を作製することにより、長寿命、小電力の照明装置を作製することができる。
 (3)本発明による有機発光ダイオードの特性
 上記した2つの実施の形態において説明した、素子構成を陰極トップエミッション型とした有機発光ダイオード10および素子構成をボトムエミッション型とした有機発光ダイオード100について、光取り出し効率および発光効率について図13に示す具体例を挙げながら以下に説明する。

 まず、実施例1とした有機発光ダイオード10では、粒子単層膜を構成する粒子として、粒径524nmの粒子のみを用いて粒子単層膜を形成するものとする。
 そして、こうした粒子単層膜により形成された凹凸構造を有する基板を備えた有機発光ダイオード10が、発光スペクトルのピークがλpeak=620nm、また、発光スペクトルの半値全幅が85nmである光を発光することが目的であるものとすると、微細凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルのプロファイル(以下、「微細凹凸構造のスペクトル」と適宜に称する。)は、Kpeak=13.83μm-1にピークを有するものとなる。その際、微細凹凸構造のスペクトルの半値全幅は1.04μm-1である。

 ここで、上記Kpeakは、さらに、図13(b)に示すように、微細凹凸構造のスペクトルについて横軸を波数としたスペクトルを示す場合の波数のピークがKpeakとなる。
 なお、こうした有機発光ダイオード10の微細凹凸構造のスペクトルを概念的に示した場合、図14(b)に示すようになる。
 ここで、図14(a)には、波数10.13μm-1、半値全幅1.391μm-1とする発光材料のスペクトルに対応する表面プラズモンスペクトルを横軸を波数として示している。上記有機発光ダイオード10は、微細凹凸構造のスペクトルにおいて波数10.13μm-1の光を発光するように素子構造を設計されているため、上記図14(a)に示す発光材料のスペクトルと同じ波数の位置にピークを有する。
 こうした図14(a)のスペクトルと、図14(b)に示す実施例1のスペクトルとを比較すると、凹凸形状を有する基板を備えた有機発光ダイオード10であるため、図14(a)のスペクトルと同じ波長の光を発するものでありながら、狭帯域の光を得ることが可能である。
 次に、実施例1との比較として比較例1の有機発光ダイオードについて説明すると、図13(a)に示すように、比較例1では、粒子単層膜を形成する粒子を用いない、即ち、凹凸形状を持たないフラットな基板を有する陰極トップエミッション型の有機発光ダイオードを用いるものとする。
 こうした凹凸形状を持たない有機発光ダイオードの特徴として、発光スペクトルのピークkpeak=10.13μm-1、該ピークの半値全幅が1.391μm-1である光を発光する比較例1の有機発光ダイオードの場合、表面プラズモンが発する光は観察されないことにより、光取り出し効率の向上は得られない。

 次に、有機発光ダイオード10の光取り出し効率を求める。

 可視光領域(380nm~780nm)における発光スペクトルに対応する表面プラズモンスペクトルと、有機発光ダイオード10より得られる微細凹凸構造のスペクトルとの重なりについて説明する。
 この2つのスペクトルは、重なりの割合が大きいほど発光波長に対応した光の取り出し効率が高いものとなる。

 こうした重なりの割合を算出する場合、はじめに、発光材料のスペクトルを表面プラズモンの波数を横軸に用いて書き換える。
 ここで、例えば図14(a)に示されるように、発光材料のスペクトルを表面プラズモンの波数に換算するためには、実施例1や実施例2で用いた手法が利用できる。
 次に、上記において得られた発光材料の表面プラズモンの波数を横軸としたスペクトル強度Iと有機発光ダイオード10の微細凹凸構造のスペクトル強度Iとを重ねる。

 ここで、図15(a)には、発光材料の表面プラズモンの波数を横軸としたスペクトル強度I(以下、「発光材料のスペクトル強度I」と適宜に称する。)を実線で示し、微細凹凸構造のスペクトル強度Iを一点鎖線で示し、2つのスペクトルを重ねた状態の一例を示している。
 このように2つのスペクトル強度の重なる領域を積分することにより重なる割合Aを求めるものであるが、図15(a)の重なり方の場合は、図15(b)に示すような簡略化により、以下の式(11)を用いて重なる割合Aを算出することができるものである。

[数11]
   A=(k-K/(K-k  ・・・(11)

 ここで、図15(a)における発光材料のスペクトル強度Iにおいて、ピークにおける波数をkとする。また、発光材料のスペクトル強度Iの半値全幅における波数をそれぞれkおよびkとする。
 即ち、半値全幅はk-k間の距離とk-k間の距離の和であり、k-k間の距離と表すことができる。
 さらに、発光材料のスペクトル強度Iの半値幅の点kより、半値幅と同じ距離だけ伸ばした点をkとし、また、発光材料のスペクトル強度Iの半値幅の点kより、半値幅と同じ距離だけ伸ばした点をkとする。

 同様に、図15(a)における微細凹凸構造のスペクトル強度Iにおいても、ピークにおける波数をKとする。また、微細凹凸構造のスペクトル強度Iの半値全幅における波数をそれぞれKおよびKとする。そして、半値全幅はK-K間の距離とK-K間の距離の和であり、K-K間の距離と表すことができる。
 さらに、微細凹凸構造のスペクトル強度Iの半値幅の点Kより、半値幅と同じ距離だけ伸ばした点をKとし、また、微細凹凸構造のスペクトル強度Iの半値幅の点Kより、半値幅と同じ距離だけ伸ばした点をKとする。
 上記において説明した発光材料のスペクトル強度Iおよび微細凹凸構造のスペクトル強度Iを、矩形関数として簡略化したものを図15(b)に示す。
 上記発光材料のスペクトル強度Iに対応する矩形関数をI’とし、上記微細凹凸構造のスペクトル強度Iに対応する矩形関数をI’とする。
 上記式(11)によれば、発光材料のスペクトルの矩形関数I’による点kから点kまでの範囲の矩形と、微細凹凸構造のスペクトルの矩形関数I’による点Kから点Kまでの範囲の矩形とが重なる部分Aを算出することができるものである。
 こうして算出した重なる部分Aが、図13(a)に示す表の「スペクトル強度Iとスペクトル強度Iとが重なる割合A(%)」を表すものとなる。

 スペクトル強度Iとスペクトル強度Iのスペクトル強度の重なり方には図15(b)の他に、図15(c)~図15(f)に示す場合があり、全部で5通りのパターンがある。
 従って、図15(c)~15(f)の重なり方の場合は、それぞれに対応する重なる割合Aを求める場合、以下の式(12)、(13)、(14)および(15)をそれぞれ用いる。

[数12]
   A=(K-k/(k-K  ・・・(12)

[数13]
   A=(K-K/(k-k  ・・・(13)

[数14]
   A=(k-k/(K-K  ・・・(14)

[数15]
   A=0               ・・・(15)

 こうした重なる割合Aは、微細凹凸構造のスペクトルのピークが発光材料のスペクトルのピークとずれていたとしても、重なる割合A(%)の値が大きければ発光材料のスペクトルと微細凹凸構造のスペクトルとが重なる部分が大きくなるため、光取り出し効率がよいこととなる。

 ここで、実施例1の例では、上記可視光領域における発光材料のスペクトルに対応する表面プラズモンスペクトルと微細凹凸構造のスペクトルとが重なる割合Aは非常に小さかった。

 この場合、例えば、図14(a)に示す波長620nmの発光材料のスペクトルに対応する表面プラズモンスペクトルに対して、図14(b)に示す実施例1の有機発光ダイオード10の微細凹凸構造のスペクトルとが重なる割合Aは非常に小さく、発光材料のスペクトルに微細凹凸構造のスペクトルが包含される状態である。
 こうした実施例1の有機発光ダイオード10は、波長620nmの波長の光のみを取り出すように素子構造を設計されたものとなっている。
 次に、上記実施例1の有機発光ダイオード10と、比較例1の有機発光ダイオードとの電流効率について比較する。それぞれについて、12.5mA/cmの単位電流量における電流効率(cd/A)を測定したところ、実施例1の有機発光ダイオード10では0.76cd/Aの電流効率となり、比較例1の有機発光ダイオードでは0.32cd/Aの電流効率となった。
 なお、実施例1の有機発光ダイオード10の電流効率は、比較例1の有機発光ダイオードに対して2.38倍の輝度を有するものであった。

 次に、上記実施例1の有機発光ダイオード10と、比較例1の有機発光ダイオードとの電力効率について比較する。それぞれについて、12.5mA/cmの単位電流量における電力効率(lm/W)を測定したところ、実施例1の有機発光ダイオード10では0.37lm/Wの電力効率となり、比較例1の有機発光ダイオードでは0.13lm/Wの電力効率となった。
 なお、実施例1の有機発光ダイオード10の電力効率は、比較例1の有機発光ダイオードに対して2.85倍の電力効率であった。
 次に、実施例2とした有機発光ダイオード100では、粒子単層膜を構成する粒子が、粒径410nm、360nm、305nmの粒子により粒子単層膜を形成するものとする。粒子の配合比は、410nm:360nm:305nm=25:50:25の割合であるものとする。
 そして、こうした粒子単層膜により形成された凹凸構造を有する基板を備えた有機発光ダイオード100は、発光スペクトルのピークがλpeak=620nm、また、発光スペクトルの半値全幅が85nmの光を発光することが目的であるが、微細凹凸構造による発光材料のスペクトル、即ち、微細凹凸構造のスペクトルは、Kpeak=17.49μm-1にピークを有するものとなる。その際、微細凹凸構造のスペクトルの半値全幅は3.59μm-1である。

 さらに、図13(c)に示すように、微細凹凸構造のスペクトルを横軸に波長としてスペクトルを示す場合の波長のピークがKpeakとなる。
 なお、こうした有機発光ダイオード100の微細凹凸構造のスペクトルを概念的に示したものを図14(d)に示している。
 実施例1と同様に、図14(d)に示す実施例2のスペクトルは、凹凸形状を有する基板を備えた有機発光ダイオード100であるが、微細凹凸構造のスペクトルのピークは、図14(a)に示す発光材料のスペクトルとは異なるピークを有する。
 次に、実施例2との比較として比較例2の有機発光ダイオードについて説明すると、図13(a)の表に示すように、比較例2では、粒子単層膜を形成する粒子として粒径410nmのみの粒子を用いて凹凸構造を形成されたボトムエミッション型の有機発光ダイオードを用いるものとする。
 こうした比較例2の凹凸形状を有する有機発光ダイオードについても、ピークはλpeak=620nm、かつ、半値全幅が85nmの発光スペクトルを有するものとし、その微細凹凸構造のスペクトルは図14(e)に概念的に示される。

 次に、有機発光ダイオード100の光取り出し効率を求める。

 ここで、可視光領域(380nm~780nm)における発光材料のスペクトルに対応する表面プラズモンスペクトルと、有機発光ダイオード100より得られる微細凹凸構造のスペクトルとの重なりについて検討する。

 こうした重なりの割合を算出する場合、はじめに、上記実施例1の場合と同様に、発光材料のスペクトルを対応する表面プラズモンの波数で表す。

 そして、上記において得られた発光材料のスペクトル強度Iと有機発光ダイオード100の微細凹凸構造のスペクトル強度Iとを重ね、実施例1の場合と同様に、式(13)を用いて図15(b)に示される重なる部分Aの値を求める。

 実施例2の例では、上記可視光領域における発光材料のスペクトル強度I’と微細凹凸構造のスペクトル強度I’とが重なる割合が82.5%であった。
 また、1種類の粒子より形成された凹凸構造を有する有機発光ダイオードである比較例2の場合、その重なる割合は35.2%であった。

 この場合、図14(a)に示す波長620nmの発光材料のスペクトルの表面プラズモンスペクトルと、図14(d)に示す実施例2の有機発光ダイオード100の微細凹凸構造のスペクトルとが重なる割合が82.5%であり、3種類の粒子により形成された凹凸構造を有することにより、スペクトルのピークがブロード化し、微細凹凸構造のスペクトルのピークは620nmからはずれているものの、620nmの光に対して82.5%をカバーすることが可能である。

 一方、比較例2においては、スペクトルのピークが狭帯域となり、さらにそのスペクトルのピークは620nmからははずれているため、620nmの光に対して35.2%しかカバーできていない。
 次に、上記実施例2の有機発光ダイオード100と、比較例2の有機発光ダイオードとの電流効率について比較する。それぞれについて、12.5mA/cmの単位電流量における電流効率(cd/A)を測定したところ、実施例2の有機発光ダイオード100では0.65cd/Aの電流効率となり、比較例2の有機発光ダイオードでは0.4cd/Aの電流効率となった。
 なお、実施例2の有機発光ダイオード100の電流効率は、比較例2の有機発光ダイオードに対して1.63倍の輝度を有するものであった。

 次に、上記実施例2の有機発光ダイオード100と、比較例2の有機発光ダイオードとの電力効率について比較する。それぞれについて、12.5mA/cmの単位電流量における電力効率(lm/W)を測定したところ、実施例2の有機発光ダイオード100では0.32lm/Wの電力効率となり、比較例2の有機発光ダイオードでは0.19lm/Wの電力効率となった。
 なお、実施例2の有機発光ダイオード100の電力効率は、比較例2の有機発光ダイオードに対して1.68倍の電力効率であった。

 上記において説明したように、本発明による第1の実施の形態および第2の実施の形態によれば、上記に示した光取り出し効率および発光効率を実現することが可能である。

 さらに、その他の効果としては、本発明の第2の実施の形態の製造方法により製造された有機発光ダイオードが有する他の効果について以下に説明すると、通常、比較例1のように平らな基板を有する有機発光ダイオードを用いて発光させた場合、ランバート則に従って光の強度が等方的に広がるような特徴を有する。

 また、実施例1のように1種類の粒径による凹凸構造の基板を有する有機発光ダイオード10は、発光する波長と表面プラズモンの波長とを合わせているため、指向性が高くなり、ある一方向に強く発光し、他の方向への発光が弱くなるという特徴を有する。例えば、正面方向に強く発光する格子を使用した場合、横方向へ発光する光が弱くなるものである。

 しかしながら、本発明の第2の実施の形態による有機発光ダイオード100によれば、凹凸構造を有する基板構造をしているものの、実施例1の光の指向性とは異なり、実施例1の場合よりも発光する光の指向性が緩和され、等方的に発光するという特徴を有するようになる効果が生じる。
 なお、上記した実施の形態は、以下の(1)乃至(14)に示すように変形するようにしてもよい。
 (1)上記した第1の実施の形態においては、陰極導電層18を構成する金属層18-1を、Ag、Agの含有率が70%以上の合金、AlまたはAlの含有率が70%以上の合金により構成するものとしたが、これに限られるものではないことは勿論であり、金属層18-1を有機発光ダイオードの陰極導電層として用いられる公知の金属を用いるようにしてもよい。
 (2)上記した第1の実施の形態においては、有機EL層16をホール注入層16-1、ホール輸送層16-2、発光層16-3、電子輸送層16-4および電子注入層16-5の5層により構成されるようにしたが、これに限られるものではないことは勿論である。
 例えば、ホール注入層16-1、ホール輸送層16-2、発光層16-3、電子輸送層16-4および電子注入層16-5のうち2つ以上の層の機能を1つの層が兼ね備えてもよい。
 また、発光層16-3は必須であるが、その他の層、例えば、ホール注入層16-1、ホール輸送層16-2、電子輸送層16-4、電子注入層16-5を省略するようにしてもよい。
 この場合、最も単純な構成として、有機EL層16を発光層16-3のみから構成するようにしてもよい。
 なお、電子注入層16-5を省略して、当該電子注入層16-5の機能を陰極導電層18が兼ね備える場合には、金属層18-1を、例えば、Mg/Ag=10/90などのマグネシウム合金で構成するようにすればよい。
 (3)上記した第1の実施の形態においては、金属層18-1の裏面18-1cにおける表面プラズモン共鳴について着目して粒子単層膜を形成する粒子の粒径を決定したが、これに限られるものではないことは勿論であり、金属層18-1の表面18-1a、反射層22における表面プラズモン共鳴について着目して粒子単層膜を形成する粒子の粒径を決定するようにしてもよい。
 (4)上記した第1の実施の形態においては、有機発光ダイオード10を作製する際に、基板12の表面12aに周期的に二次元に配列した複数の凸部12bを構成するようにしたが、これに限られるものではないことは勿論であり、基板12の表面12aに周期的に二次元に配列した複数の凹部を構成するようにしてもよい。
 具体的には、基板に凹型の微細凹凸構造を作製する手法としては、ナノインプリント方を用いて基板上に塗布された樹脂層に反転型を作製する方法などが利用できる。
 また、基板上に作製した粒子マスク(上記した計算式により算出された粒径の粒子により作製された粒子単層膜のことである。)上にCr、Niなどの金属を蒸着した後に粒子を除去し、基板上に残る金属蒸着層(粒子があった場所に穴が空いたメッシュ構造をしている。)をマスクとして基板をドライエッチングし、金属がなかった場所に凹構造を作製する方法などが利用できる。
 なお、こうして形成された表面に複数の凹部が周期的に二次元に配列した構造を有する基板を鋳型として用い、この鋳型表面の構造を基板原板に転写することにより、基板12の表面12aに二次元格子構造を作製するようにしてもよい。
 (5)上記した第1の実施の形態においては、反射層22、陽極導電層14、有機EL層16および陰極導電層18において基板12の表面12aに形成された複数の凸部12bによる二次元格子構造と同等の構造が形成されるものとしたが、これに限られるものではないことは勿論であり、金属材料により形成される層、つまり、反射層22および陰極導電層18の金属層18-1のみに二次元格子構造を形成するようにしてもよいし、反射層22または金属層18-1のいずれか一方にのみ二次元格子構造を形成するようにしてもよい。さらに、金属層18-1において、表面18-1a(つまり、透明導電層18-2が位置する側の面である。)または裏面(つまり、基板12や有機EL層が位置する側の面である。)のいずれか一方にのみ二次元格子構造を形成するようにしてもよい。
 (6)上記した第2の実施の形態においては、凸部12a、凸部12b、凸部12cの凹凸構造の形状は、例えば、円柱状、円錐状、円錐台、正弦波状を採用してもよいものであり、また、それらを基本とした派生形状等を採用してもよいものである。
 (7)上記した第2の実施の形態においては、透明基板102の表面に凹凸構造を作製するために用いる粒子として、上記した実施の形態においては、異なる粒子径を有する3種の粒子の混合物を用いたものであるが、これに限定されるものではなく、2種類~5種類の粒子径の混合物で構成してもよいものである。
 そして、こうした多種類の粒子径の混合物を使用する場合、その粒子径の変動係数が20%以下であるようにすることが好ましい。

 また、粒度分布が広い粒子であれば、1種類の粒子径でも本発明の主旨の効果を得ることが可能である。
 ここで、1種類の粒子径で粒子マスクを構成する場合、その粒子径の変動係数は、10~500%の範囲で可能である。
 粒子径の変動係数が0~10%のものと10~500%のものを組み合わせて粒子マスクを構成しても本発明の主旨の効果を得ることが可能である。
 (8)上記した第2の実施の形態においては、EL層106は、ホール注入層106-1、ホール輸送層106-2、発光層106-3、電子輸送層106-4、電子注入層106-5の5層から構成されるものとしたが、本発明はこれに限定されないものであり、例えば、ホール注入層106-1、ホール輸送層106-2、発光層106-3、電子輸送層106-4、電子注入層106-5のうちの2種類以上の層の機能を一つの層が兼ね備えるようにしてもよいものである。
 さらにまた、発光層106-3以外の層については、ホール注入層106-1、ホール輸送層106-2、電子輸送層106-4、電子注入層106-5を省略することも可能であり、EL層106を、最も単純な構成の有機EL層である発光層106-3のみから構成するようにしてもよいものである。
 (9)上記した第2の実施の形態においては、電子注入層106-5を設けた例を示したが、陰極導電層108が電子注入層の機能を兼ね備えるようにしてもよいものである。
 陰極導電層108は、例えば、陰極導電層18をMg/Ag=10/90等のマグネシウム合金で構成するようにすることで電子注入効果が得られるため、電子注入層の機能を兼ね備えることが可能である。
 そうした場合、電子注入層106-5を設けずに、電子注入層の機能を備えた陰極導電層18を用いるようにすればよいものである。
 (10)上記した第2の実施の形態においては、透明基板102上に、陽極導電層104、EL層106、陰極導電層108の順序で積層させるようにしたが、こうした順序に限られるものではないものであり、積層順序を反転させてもよいものである。
 即ち、透明基板102上に、陰極導電層108、EL層106、陽極導電層104の順で積層してもよい。
 こうした場合、EL層106を構成するホール注入層106-1、ホール輸送層106-2、発光層106-3、電子輸送層層106-4、電子注入層106-5の積層順も反転させる。
 (11)上記した第2の実施の形態において、陰極導電層108について、金属層である陰極導電層108のみから構成される例を示したが、陰極導電層108は複数の層が積層された多層構造より構成するようにしてもよいものである。
 こうした多層構造の陰極導電層である場合、少なくとも1層を金属層であるようにすればよいものであり、金属層以外の他の層は、金属材料から作製されるものであっても、金属以外の導電材料から作製されるものであってもよい。
 ここで、金属以外の導電材料の例としては、例えば、陽極導電層104を構成する材料として挙げたITO、IZO、ZnO、ZTO等が挙げられる。
 (12)上記した第2の実施の形態においては、有機発光ダイオードの光取出し方式として、光取り出し面が透明基板102側の面であるボトムエミッション方式としたが、本発明はこれに限定されるものではなく、光取り出し面が透明基板102側とは反対側の面(積層上面)であるトップエミッション方式であっても良い。
 トップエミッション方式である場合、積層上面は、陰極導電層であっても陽極導電層であっても良いものである。
 ただし、いずれの場合でも、有機EL層側から放射された光を透過するために、透明または半透明の材料で作製される必要がある。
 また、トップエミッション方式の場合、基板は透明基板に限定されない。
 以下に、上記した光取り出し方式において一般に用いられる積層構成を示す。
  (i) ボトムエミッション方式
 ボトムエミッション方式では、上記本実施の形態において説明したように、光取り出し面は透明基板であるようにする。
 積層順としては、透明基板、陽極導電層、有機EL層、陰極導電層の順に積層するようにし、有機EL層としては、陽極導電層側から順に、ホール注入層、ホール輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層の順に積層するようにする。
 また、透明基板は表面に凹凸構造を有するようにし、陽極導電層は透明導電体層であるものとし、陰極導電層は金属層であるようにする。
  (ii) 第1のトップエミッション方式
 第2の実施の形態による技術を用いた第1のトップエミッション方式では、図16に示すように、光取り出し面は陰極導電層であるようにする。
 積層順としては、基板、反射層、陽極導電層、有機EL層、陰極導電層A、陰極導電層Bの順に積層するようにし、有機EL層としては、陽極導電層側から順に、ホール注入層、ホール輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層の順に積層するようにする。
 また、基板は表面に凹凸構造を有するようにし、陽極導電層は透明導電体層であるものとし、陰極導電層Aは半透明の金属層であるようにし、陰極導電層Bは透明導電体層であるようにする。
  (iii) 第2のトップエミッション方式
 第2の実施の形態による技術を用いた第2のトップエミッション方式では、図17に示すように、光取り出し面は陽極導電層であるようにする。
 積層順としては、基板、陰極導電層、有機EL層、陽極導電層の順に積層するようにし、有機EL層としては、陰極導電層側から順に、電子注入層、電子輸送層、発光層、ホール輸送層、ホール注入層の順に積層するようにする。
 また、基板は表面に凹凸構造を有するようにし、陰極導電層は金属層であるものとし、陽極導電層は透明導電体層であるようにする。
 上記のうち、(ii)に示した第1のトップエミッション方式において、反射層は、基板側から光が出ないようにするため、および、基板側に向かった光を積層側に反射して取り出すために設けられる。反射層は一般的には金属で構成される。該金属としては、例えば、アルミニウム、銀、その他の各種金属が使用できる。
 また、陰極導電層Aは、積層上面から光を取り出すために半透明とされている。陰極導電層Aの透明性は膜厚によって調整される。陰極導電層Aの厚さは、通常、半透明とするために、10~50nm程度とされる。陰極導電層Aを構成する金属としては、陰極導電層108を構成する金属として挙げたものと同様のものが挙げられるが、好ましくは、金、銀、アルミニウムより選択される金属が用いられる。この際、電子注入層の機能を併せ持つように、マグネシウムを10~90%の濃度で混入しても良い。
 また、陰極導電層Bは、陰極導電層Aのみでは厚さが薄すぎて充分な電流を得られないために設けられるものである。陰極導電層Bを構成する透明導電体としては、例えば、陽極導電層104を構成する材料として挙げたITO、IZO、ZnO、ZTO等が挙げられる。
 (13)上記した第2の実施の形態においては、有機発光ダイオードの光取出し方式として、光取り出し面が透明基板102側の面であるボトムエミッション方式としたが、本発明はこれに限定されるものではなく、光取り出し面となる透明基板102に拡散フィルムを配設してもよいものである。

 図18には、拡散フィルムとしてピラミッドフィルム202を配設した有機発光ダイオード200を図示している。ここで、ピラミッドフィルム202は、ピラミッド状の凹凸形状を一定のピッチで配列したものである。なお、配列は1次元配列でも2次元配列でもよいものである。

 こうした有機発光ダイオード200は、図8に示す有機発光ダイオード100とは、基板102の下方側にピラミッドフィルム202を配設していることのみが構成上異なる。
 詳細には、有機発光ダイオード200の基板102の下方側の面とピラミッドフィルム202とを粘着剤で固定するようにする。
 そして、こうした基板102、粘着剤およびピラミッドフィルム202は、それぞれ互いに同じ屈折率とすることが好ましい。

 こうしたピラミッドフィルム202などの拡散フィルムを設けることにより、基板モードの光、即ち、基板中を伝搬する光の取り出し効率が向上する。
 なお、上記拡散フィルムとしては、ピラミッドフィルムの他に、マイクロレンズのフィルムが挙げられる。
 上記有機発光ダイオード200に用いる拡散フィルムの凹凸のピッチは、1μm以上であることが好ましく、さらに好ましくは5~20μmのピッチのものを用いるとよい。
 また、上述したように、拡散フィルムの凹凸の配列は、1次元配列でも2次元配列でもよいものであるが、2次元配列がより好ましい。
 (14)上記した実施の形態ならびに上記した(1)乃至(13)に示す変形例は、適宜に組み合わせるようにしてもよい。
 本発明は、画像表示装置や照明装置に用いる有機発光ダイオードとして用いて好適である。
  10、100、200    有機発光ダイオード
  12、102    基板
  14、104    陽極導電層
  16、106    有機EL層
  16-1、106-1    ホール注入層
  16-2、106-2    ホール輸送層
  16-3、106-3    発光層
  16-4、106-4    電子輸送層
  16-5、106-5    電子注入層
  18、108    陰極導電層
  18-1    金属層
  18-2    透明導電層
  20、110    電源
  22    反射層

Claims (23)

  1.  基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、
     前記半透過金属層の前記透明導電層側と接している面に、複数の凸部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成されたトップエミッション型の有機発光ダイオードであって、
     前記面に形成された凸部における隣り合う凸部間の中心間距離Pは、前記面における複素数で表される表面プラズモンの伝搬定数の実部をkとすると、前記中心間距離Pは式(1)の範囲の値であるようにするものとし、前記式(1)におけるPは、前記二次元格子構造として三角格子構造を形成するときは、次式(2)を満たし、前記二次元格子構造として正方格子構造を形成するときは、次式(3)を満たす
     ことを特徴とする有機発光ダイオード。

    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001

    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002

    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
  2.  基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、
     前記半透過金属層の前記透明導電層側と接している面に、複数の凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成されたトップエミッション型の有機発光ダイオードであって、
     前記面に形成された凹部における隣り合う凹部間の中心間距離Pは、前記面における複素数で表される表面プラズモンの伝搬定数の実部をkとすると、前記中心間距離Pは式(1)の範囲の値であるようにするものとし、前記式(1)におけるPは、前記二次元格子構造として三角格子構造を形成するときは、次式(2)を満たし、前記二次元格子構造として正方格子構造を形成するときは、次式(3)を満たす
     ことを特徴とする有機発光ダイオード。

    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004

    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005

    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
  3.  基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、
     前記半透過金属層の前記有機エレクトロルミネッセンス層と接している面に複数の凸部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成されたトップエミッション型の有機発光ダイオードであって、
     前記面に形成された凸部における隣り合う凸部間の中心間距離Pは、前記面における複素数で表される表面プラズモンの伝搬定数の実部をkとすると、前記中心間距離Pは式(1)の範囲の値であるようにするものとし、前記式(1)におけるPは、前記二次元格子構造として三角格子構造を形成するときは、次式(2)を満たし、前記二次元格子構造として正方格子構造を形成するときは、次式(3)を満たす
     ことを特徴とする有機発光ダイオード。

    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007

    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000008

    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000009
  4.  基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、
     前記半透過金属層の前記有機エレクトロルミネッセンス層と接している面に複数の凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成されたトップエミッション型の有機発光ダイオードであって、
     前記面に形成された凹部における隣り合う凹部間の中心間距離Pは、前記面における複素数で表される表面プラズモンの伝搬定数の実部をkとすると、前記中心間距離Pは式(1)の範囲の値であるようにするものとし、前記式(1)におけるPは、前記二次元格子構造として三角格子構造を形成するときは、次式(2)を満たし、前記二次元格子構造として正方格子構造を形成するときは、次式(3)を満たすものとし、
     ことを特徴とする有機発光ダイオード。

    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000010

    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000011

    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000012
  5.  基板上に、少なくとも、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる陰極導電層とが順次積層され、
     前記陰極導電層の前記有機エレクトロルミネッセンス層と接している面に、複数の凹凸部によるランダムな微細凹凸構造が形成された、ボトムエミッション型の有機発光ダイオードであって、
     前記有機発光材料より得られる光の発光スペクトルのピークλpeakの半値を与える波長のうち、短い方の波長をλ、長い方の波長をλとし、波長2λ-λpeakおよび2λ-λpeakに対応する陰極導電層と有機エレクトロルミネッセンス層との界面における表面プラズモンの伝搬定数の実部をそれぞれkおよびkとしたとき、
     前記界面の前記微細凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルが波数Kと波数Kとの間で有限の値を持ち、かつ、この波数範囲内のスペクトル強度の積分値が全波数にわたるスペクトル強度の50%以上の強度の値を有する
     ことを特徴とする有機発光ダイオード。
  6.  基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、
     前記半透過金属層の前記有機エレクトロルミネッセンス層と接している面に、複数の凹凸部によるランダムな微細凹凸構造が形成された、トップエミッション型の有機発光ダイオードであって、
     前記有機発光材料より得られる光の発光スペクトルのピークλpeakの半値を与える波長のうち、短い方の波長をλ、長い方の波長をλとし、波長2λ-λpeakおよび2λ-λpeakに対応する陰極導電層と有機エレクトロルミネッセンス層との界面における表面プラズモンの伝搬定数の実部をそれぞれkおよびkとしたとき、
     前記界面の前記微細凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルが波数Kと波数Kとの間で有限の値を持ち、かつ、この波数範囲内のスペクトル強度の積分値が全波数にわたるスペクトル強度の50%以上の強度の値を有する
     ことを特徴とする有機発光ダイオード。
  7.  基板上に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とが順次積層され、
     前記半透過金属層の前記透明導電層と接している面に、複数の凹凸部によるランダムな微細凹凸構造が形成された、トップエミッション型の有機発光ダイオードであって、
     前記有機発光材料より得られる光の発光スペクトルのピークλpeakの半値を与える波長のうち、短い方の波長をλ、長い方の波長をλとし、波長2λ-λpeakおよび2λ-λpeakに対応する陰極導電層と有機エレクトロルミネッセンス層と接している面における表面プラズモンの伝搬定数の実部をそれぞれkおよびkとしたとき、
     前記界面の前記微細凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルが波数Kと波数Kとの間で有限の値を持ち、かつ、この波数範囲内のスペクトル強度の積分値が全波数にわたるスペクトル強度の50%以上の強度の値を有する
     ことを特徴とする有機発光ダイオード。
  8.  基板上に、少なくとも、金属材料からなる陰極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、透明導電材料からなる陽極導電層とが順次積層され、
     前記陰極導電層の前記有機エレクトロルミネッセンス層と接している面に、複数の凹凸部によるランダムな微細凹凸構造が形成された、トップエミッション型の有機発光ダイオードであって、
     前記有機発光材料より得られる光の発光スペクトルのピークλpeakの半値を与える波長のうち、短い方の波長をλ、長い方の波長をλとし、波長2λ-λpeakおよび2λ-λpeakに対応する陰極導電層と有機エレクトロルミネッセンス層との界面における表面プラズモンの伝搬定数の実部をそれぞれkおよびkとしたとき、
     前記界面の前記微細凹凸構造の高さ分布のパワースペクトルが波数Kと波数Kとの間で有限の値を持ち、かつ、この波数範囲内のスペクトル強度の積分値が全波数にわたるスペクトル強度の50%以上の強度の値を有する
     ことを特徴とする有機発光ダイオード。
  9.  請求項1、2、3または4のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードにおいて、
     前記金属層を形成する金属材料は、AgまたはAlまたはAgの含有率が70質量%以上の合金またはAlの含有率が70質量%以上の合金である
     ことを特徴とする有機発光ダイオード。
  10.  請求項1、2、3、4または9のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードにおいて、
     前記凹部の深さならびに前記凸部の高さは、15~180nmである
     ことを特徴とする有機発光ダイオード。
  11.  請求項1、2、3、4、9または10のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードを製造する有機発光ダイオードの製造方法であって、
     前記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を作製し、
     複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成された前記基板の表面に、前記反射層と、前記陽極導電層と、前記有機エレクトロルミネッセンス層と、前記陰極導電層とを順次積層する
     ことを特徴とする有機発光ダイオードの製造方法。
  12.  請求項11に記載の有機発光ダイオードの製造方法において、
     所定の粒子が二次元に最密充填した粒子単層膜をエッチングマスクとしたドライエッチング法によって、前記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を形成する
     ことを特徴とする有機発光ダイオードの製造方法。
  13.  請求項11に記載の有機発光ダイオードの製造方法において、
     所定の粒子が二次元に最密充填した粒子単層膜をエッチングマスクとしたドライエッチング法によって、複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した構造が形成された鋳型を作製し、
     前記鋳型に形成された複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を転写して、前記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を形成する
     ことを特徴とする有機発光ダイオードの製造方法。
  14.  請求項12または13のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードの製造方法において、
     前記所定の粒子において、粒径Dは、次式(4)を満たす
     ことを特徴とする有機発光ダイオードの製造方法。

    [数4]
     D=P ・・・(4)
  15.  請求項5、6、7または8のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードにおいて、
     前記金属層を形成する金属材料は、Ag、AlもしくはAgの含有率が10質量%以上の合金またはAlの含有率が10質量%以上の合金である
     ことを特徴とする有機発光ダイオード。
  16.  請求項5、6、7、8または15のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードにおいて、
     前記凹部の深さならびに前記凸部の高さは、15~180nmである
     ことを特徴とする有機発光ダイオード。
  17.  請求項5、6、7、8、15または16のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードを製造する有機発光ダイオードの製造方法であって、
     前記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を作製し、複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成された前記基板の表面に、少なくとも、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる陰極導電層とを、前記凸部または凹部が複写されるように順次積層する
     ことを特徴とする有機発光ダイオードの製造方法。
  18.  請求項5、6、7、8、15または16のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードを製造する有機発光ダイオードの製造方法であって、
     前記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を作製し、複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成された前記基板の表面に、少なくとも、金属材料からなる反射層と、透明導電材料からなる陽極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、金属材料からなる半透過金属層および透明導電材料からなる透明導電層が積層された陰極導電層とを、前記凸部または凹部が複写されるように順次積層する
     ことを特徴とする有機発光ダイオードの製造方法。
  19.  請求項5、6、7、8、15または16のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードを製造する有機発光ダイオードの製造方法であって、
     前記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を作製し、複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造が形成された前記基板の表面に、少なくとも、金属材料からなる陰極導電層と、有機発光材料を含有する発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、透明導電材料からなる陽極導電層とを、前記凸部または凹部が複写されるように順次積層する
     ことを特徴とする有機発光ダイオードの製造方法。
  20.  請求項17乃至19のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードの製造方法において、
     平均粒子径の異なる複数の粒子の混合物を用いて形成した粒子単層膜をエッチングマスクとしたドライエッチング法によって、前記基板の表面に複数の凸部または凹部がランダムに二次元に配列した二次元格子構造を形成する
     ことを特徴とする有機発光ダイオードの製造方法。
  21.  請求項17乃至20のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードの製造方法において、
     所定の粒子が二次元に最密充填した粒子単層膜をエッチングマスクとしたドライエッチング法によって、複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した構造が形成された原盤を作製し、
     前記原盤から電鋳法、ナノインプリント法、射出成型法またはUVエンボス法のいずれかの方法で作製した転写体を鋳型とし、
     前記鋳型からナノインプリント法、射出成型法またはUVエンボス法のいずれかの方法により、前記鋳型に形成された複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を転写して、前記基板の表面に複数の凸部または凹部が周期的に二次元に配列した二次元格子構造を形成する
     ことを特徴とする有機発光ダイオードの製造方法。
  22.  請求項1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、15または16のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードを備える画像表示装置。
  23.  請求項1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、15または16のいずれか1項に記載の有機発光ダイオードを備える照明装置。
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WO (1) WO2013099915A1 (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016009554A (ja) * 2014-06-23 2016-01-18 王子ホールディングス株式会社 半導体素子用基板、有機発光ダイオード素子、または有機薄膜太陽電池素子
WO2016031679A1 (ja) * 2014-08-26 2016-03-03 シャープ株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、照明装置、および表示装置
CN105684182A (zh) * 2013-10-25 2016-06-15 欧司朗Oled股份有限公司 光电子器件和用于制造光电子器件的方法
JP2016201445A (ja) * 2015-04-09 2016-12-01 王子ホールディングス株式会社 凹凸基板の製造方法。
WO2016189868A1 (ja) * 2015-05-28 2016-12-01 凸版印刷株式会社 有機el素子
KR20170010820A (ko) * 2014-05-23 2017-02-01 더 리젠츠 오브 더 유니버시티 오브 미시건 광전자 및 광자 공학 응용을 위한 도핑된 귀금속 초박막
JP2017054713A (ja) * 2015-09-10 2017-03-16 王子ホールディングス株式会社 金型、有機発光ダイオードの製造方法及び有機発光ダイオード
JP2018104568A (ja) * 2016-12-27 2018-07-05 王子ホールディングス株式会社 シート
CN108476562A (zh) * 2015-12-10 2018-08-31 王子控股株式会社 基板、光学元件、模具、有机发光元件、有机薄膜太阳能电池、以及基板的制造方法
CN110600632A (zh) * 2019-08-28 2019-12-20 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 电致发光器件及显示装置
US11430969B2 (en) 2019-08-28 2022-08-30 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Electroluminescent component having metal layer disposed between two of optical coupling layers and display device having the same

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140129464A (ko) * 2013-04-29 2014-11-07 삼성디스플레이 주식회사 도너 기판, 도너 기판의 제조 방법 및 유기 발광 표시 장치의 제조 방법
TWI674671B (zh) * 2013-05-28 2019-10-11 日商新力股份有限公司 顯示裝置及電子機器
GB201309601D0 (en) * 2013-05-29 2013-07-10 Lomox Ltd Organic light emitting diode structure
WO2015052853A1 (en) 2013-10-10 2015-04-16 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Resin composition and film using same
AU2014371573B2 (en) * 2013-12-27 2017-09-21 Jx Nippon Oil & Energy Corporation Light-emitting element
EP3104427B1 (en) * 2013-12-31 2021-07-28 Kunshan New Flat Panel Display Technology Center Co., Ltd. Organic light-emitting display device and top emitting oled device for improving viewing angle characteristics
CN104835919A (zh) * 2015-05-26 2015-08-12 京东方科技集团股份有限公司 一种电致发光器件及其制备方法、显示基板、显示装置
CN105609534A (zh) 2016-01-06 2016-05-25 京东方科技集团股份有限公司 一种oled显示基板及显示装置
JP6620035B2 (ja) * 2016-02-25 2019-12-11 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
US10566391B2 (en) 2016-05-27 2020-02-18 3M Innovative Properties Company OLED display with improved color uniformity
CN105977393B (zh) * 2016-05-27 2019-03-08 纳晶科技股份有限公司 一种电致发光器件及其制作方法
DE102016122901A1 (de) * 2016-11-28 2018-05-30 Osram Oled Gmbh Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements
JP6880681B2 (ja) * 2016-12-01 2021-06-02 凸版印刷株式会社 有機el素子、ならびに、当該有機el素子を含む照明装置、面状光源、および表示装置
KR102581601B1 (ko) * 2016-12-13 2023-09-21 엘지디스플레이 주식회사 발광 특성이 향상된 양자 발광다이오드 및 이를 포함하는 양자 발광 장치
CN107065371B (zh) 2017-01-23 2023-10-10 京东方科技集团股份有限公司 一种双面多功能装置及其显示方法
US11331019B2 (en) 2017-08-07 2022-05-17 The Research Foundation For The State University Of New York Nanoparticle sensor having a nanofibrous membrane scaffold
KR102435409B1 (ko) * 2018-01-04 2022-08-24 엘지전자 주식회사 반도체 발광소자를 이용한 디스플레이 장치
CN108536929B (zh) * 2018-03-23 2021-09-24 电子科技大学 一种应用arpack求解波导结构色散特性的方法
CN109192869B (zh) * 2018-08-10 2020-12-11 云谷(固安)科技有限公司 显示模组及显示屏
KR102607862B1 (ko) 2018-08-20 2023-11-29 삼성전자주식회사 발광 소자 및 이를 포함하는 디스플레이 장치
CN109461834B (zh) * 2018-09-19 2022-02-11 云谷(固安)科技有限公司 发光显示器件及其制作方法、电子设备
KR20200048310A (ko) * 2018-10-29 2020-05-08 엘지디스플레이 주식회사 발광 표시 장치
KR102124173B1 (ko) * 2019-02-08 2020-06-23 임성규 색깔과 무늬를 tv화면처럼 변화시킬 수 있는 자가 맞춤형 마이크로 led 의류
CN109873088A (zh) * 2019-02-20 2019-06-11 湖畔光电科技(江苏)有限公司 一种有机电致发光二极管及制作方法
JP2021057443A (ja) * 2019-09-30 2021-04-08 セイコーエプソン株式会社 発光装置、および、プロジェクター
CN111883687B (zh) * 2020-09-07 2022-08-30 云谷(固安)科技有限公司 Oled显示面板及其制备方法、显示装置
CN112186124B (zh) * 2020-10-12 2023-06-13 京东方科技集团股份有限公司 有机发光二极管和显示面板
CN112201761B (zh) * 2020-10-13 2023-01-24 云谷(固安)科技有限公司 显示屏、显示装置及显示屏的制备方法
CN113258016B (zh) * 2021-05-13 2023-04-11 京东方科技集团股份有限公司 一种发光器件、显示面板和显示装置
CN113270468A (zh) * 2021-05-28 2021-08-17 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002270891A (ja) 2001-03-12 2002-09-20 Japan Science & Technology Corp 低次元プラズモン発光装置
JP2004031350A (ja) 2002-06-27 2004-01-29 Eastman Kodak Co アクティブマトリクス式有機発光ダイオード表示装置
JP2005535121A (ja) 2002-08-02 2005-11-17 キネティック リミテッド 光電デバイス
JP2006313667A (ja) * 2005-05-06 2006-11-16 Institute Of Physical & Chemical Research 有機el素子
JP2009158478A (ja) 2007-12-07 2009-07-16 Oji Paper Co Ltd プラズモニック結晶面発光体、画像表示装置及び照明装置
JP2010246653A (ja) 2009-04-13 2010-11-04 Canon Inc 補償光学系を備えた光画像取得装置、及び、その制御方法
JP2012028067A (ja) * 2010-07-21 2012-02-09 Oji Paper Co Ltd 有機発光ダイオード素子、画像表示装置及び照明装置
WO2012060404A1 (ja) 2010-11-02 2012-05-10 王子製紙株式会社 有機発光ダイオードおよびその製造方法、画像表示装置および照明装置
WO2013005638A1 (ja) * 2011-07-01 2013-01-10 王子製紙株式会社 有機発光ダイオードの製造方法、有機発光ダイオード、画像表示装置、照明装置および基板

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3967081B2 (ja) * 2000-02-03 2007-08-29 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置及びその作製方法
US6559594B2 (en) * 2000-02-03 2003-05-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device
TWI249363B (en) 2000-02-25 2006-02-11 Seiko Epson Corp Organic electroluminescence device and manufacturing method therefor
GB2361355B (en) * 2000-04-14 2004-06-23 Seiko Epson Corp Light emitting device
JP4578131B2 (ja) 2003-03-31 2010-11-10 三洋電機株式会社 発光素子用化合物およびそれを用いた有機発光素子
DE10393385T5 (de) 2003-06-13 2005-08-25 Fuji Electric Holdings Co., Ltd., Kawasaki Organische EL-Vorrichtung und organische EL-Tafel
JP2006269163A (ja) * 2005-03-23 2006-10-05 Konica Minolta Holdings Inc 有機エレクトロルミネッセンス素子
WO2009063954A1 (ja) * 2007-11-16 2009-05-22 Ulvac, Inc. 基板処理方法及びこの方法によって処理された基板
CN101540373A (zh) * 2009-04-22 2009-09-23 南京邮电大学 蓝光顶发光型有机发光二极管结构及其制作方法
KR101521687B1 (ko) * 2009-07-16 2015-05-19 제이엑스 닛코닛세키에너지주식회사 회절 격자 및 그것을 이용한 유기 el 소자, 및 이들의 제조 방법
CN102791452B (zh) * 2010-03-10 2015-07-08 旭化成电子材料株式会社 树脂模具
JP2012060404A (ja) 2010-09-08 2012-03-22 Toshiba Corp デジタル共聴システム及びそのコンテンツサーバ

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002270891A (ja) 2001-03-12 2002-09-20 Japan Science & Technology Corp 低次元プラズモン発光装置
JP2004031350A (ja) 2002-06-27 2004-01-29 Eastman Kodak Co アクティブマトリクス式有機発光ダイオード表示装置
JP2005535121A (ja) 2002-08-02 2005-11-17 キネティック リミテッド 光電デバイス
JP2006313667A (ja) * 2005-05-06 2006-11-16 Institute Of Physical & Chemical Research 有機el素子
JP2009158478A (ja) 2007-12-07 2009-07-16 Oji Paper Co Ltd プラズモニック結晶面発光体、画像表示装置及び照明装置
JP2010246653A (ja) 2009-04-13 2010-11-04 Canon Inc 補償光学系を備えた光画像取得装置、及び、その制御方法
JP2012028067A (ja) * 2010-07-21 2012-02-09 Oji Paper Co Ltd 有機発光ダイオード素子、画像表示装置及び照明装置
WO2012060404A1 (ja) 2010-11-02 2012-05-10 王子製紙株式会社 有機発光ダイオードおよびその製造方法、画像表示装置および照明装置
WO2013005638A1 (ja) * 2011-07-01 2013-01-10 王子製紙株式会社 有機発光ダイオードの製造方法、有機発光ダイオード、画像表示装置、照明装置および基板

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
S. WEDGE ET AL.: "Surface plasmon-polariton mediated emission of light from top-emitting organic light-emitting diode type structures", ORGANIC ELECTRONICS, vol. 8, 10 August 2006 (2006-08-10), pages 136 - 147, XP005933426 *
See also references of EP2800456A4
TAKAYUKI OKAMOTO; KOTARO KAJ IKAWA: "Plasmonics-Fundamentals and Applications", 1 October 2010, KODANSHA SCIENTIFIC LTD., pages: 16 - 22

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9882160B2 (en) 2013-10-25 2018-01-30 Osram Oled Gmbh Optoelectronic component and method for producing an optoelectronic component
CN105684182A (zh) * 2013-10-25 2016-06-15 欧司朗Oled股份有限公司 光电子器件和用于制造光电子器件的方法
KR102341963B1 (ko) * 2014-05-23 2021-12-22 더 리젠츠 오브 더 유니버시티 오브 미시건 광전자 및 광자 공학 응용을 위한 도핑된 귀금속 초박막
KR20170010820A (ko) * 2014-05-23 2017-02-01 더 리젠츠 오브 더 유니버시티 오브 미시건 광전자 및 광자 공학 응용을 위한 도핑된 귀금속 초박막
JP2016009554A (ja) * 2014-06-23 2016-01-18 王子ホールディングス株式会社 半導体素子用基板、有機発光ダイオード素子、または有機薄膜太陽電池素子
WO2016031679A1 (ja) * 2014-08-26 2016-03-03 シャープ株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、照明装置、および表示装置
JP2016201445A (ja) * 2015-04-09 2016-12-01 王子ホールディングス株式会社 凹凸基板の製造方法。
WO2016189868A1 (ja) * 2015-05-28 2016-12-01 凸版印刷株式会社 有機el素子
US10651415B2 (en) 2015-05-28 2020-05-12 Toppan Printing Co., Ltd. Organic EL (electroluminescent) device
JP2016225086A (ja) * 2015-05-28 2016-12-28 凸版印刷株式会社 有機el素子
JP2017054713A (ja) * 2015-09-10 2017-03-16 王子ホールディングス株式会社 金型、有機発光ダイオードの製造方法及び有機発光ダイオード
CN108476562A (zh) * 2015-12-10 2018-08-31 王子控股株式会社 基板、光学元件、模具、有机发光元件、有机薄膜太阳能电池、以及基板的制造方法
CN108476562B (zh) * 2015-12-10 2020-01-21 王子控股株式会社 基板、光学元件、模具、有机发光元件、有机薄膜太阳能电池、以及基板的制造方法
JP2018104568A (ja) * 2016-12-27 2018-07-05 王子ホールディングス株式会社 シート
CN110600632A (zh) * 2019-08-28 2019-12-20 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 电致发光器件及显示装置
US11430969B2 (en) 2019-08-28 2022-08-30 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Electroluminescent component having metal layer disposed between two of optical coupling layers and display device having the same

Also Published As

Publication number Publication date
CN104335679B (zh) 2016-12-14
KR20140128301A (ko) 2014-11-05
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JP2016035932A (ja) 2016-03-17
TW201336134A (zh) 2013-09-01
JP6061305B2 (ja) 2017-01-18
JPWO2013099915A1 (ja) 2015-05-07

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