WO2012014504A1 - 磁気記録膜用スパッタリングターゲット及びその製造方法 - Google Patents

磁気記録膜用スパッタリングターゲット及びその製造方法 Download PDF

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cristobalite
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英生 高見
淳史 奈良
真一 荻野
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Jx日鉱日石金属株式会社
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    • H01J37/3411—Constructional aspects of the reactor
    • H01J37/3414—Targets
    • H01J37/3426—Material

Definitions

  • the present invention relates to a sputtering target for a magnetic recording film used for forming a magnetic thin film of a magnetic recording medium, in particular, a magnetic recording layer of a hard disk adopting a perpendicular magnetic recording system, and relates to cristobalite that causes generation of particles during sputtering.
  • the present invention relates to a sputtering target capable of suppressing the formation of the film and shortening the time required from the start of sputtering to the main film formation (hereinafter referred to as burn-in time).
  • a material based on Co, Fe, or Ni which is a ferromagnetic metal, is used as a magnetic thin film material for recording.
  • a Co—Cr-based or Co—Cr—Pt-based ferromagnetic alloy containing Co as a main component has been used for a recording layer of a hard disk employing an in-plane magnetic recording method.
  • a composite material composed of a Co—Cr—Pt ferromagnetic alloy containing Co as a main component and a non-magnetic inorganic material is often used for a recording layer of a hard disk employing a perpendicular magnetic recording method that has been put into practical use in recent years. ing.
  • a magnetic thin film of a magnetic recording medium such as a hard disk is often produced by sputtering a ferromagnetic material sputtering target containing the above material as a component because of high productivity.
  • SiO 2 is added to such a magnetic recording film sputtering target in order to magnetically separate the alloy phase.
  • a melting method or a powder metallurgy method can be considered as a method for producing the ferromagnetic material sputtering target. Which method is used depends on the required characteristics, so it cannot be generally stated, but the sputtering target made of a ferromagnetic alloy and non-magnetic inorganic particles used for the recording layer of a perpendicular magnetic recording hard disk is Generally, it is produced by a powder metallurgy method. This is because inorganic particles such as SiO 2 need to be uniformly dispersed in the alloy substrate, and thus it is difficult to produce by the melting method.
  • Patent Document 1 An alloy powder having an alloy phase produced by a rapid solidification method and a powder constituting the ceramic phase are mechanically alloyed, and the powder constituting the ceramic phase is uniformly dispersed in the alloy powder, and then molded by hot pressing and magnetically generated.
  • Patent Document 1 A method for obtaining a sputtering target for a recording medium has been proposed (Patent Document 1).
  • the target structure is dispersed in a state in which the substrate is bonded in a white shape (sperm sperm) and surrounding SiO 2 (ceramics) (FIG. 2 of Patent Document 1) or in a thin string shape. (FIG. 3 of patent document 1)
  • a state can be seen.
  • Other figures are unclear, but are assumed to be similar.
  • Such a structure has the problems described later and cannot be said to be a suitable sputtering target for a magnetic recording medium.
  • the spherical substance shown by FIG. 4 of patent document 1 is a mechanical alloy powder, and is not a structure
  • the ferromagnetic material sputtering target can be produced by mixing by the above method and molding and sintering the mixed powder by hot pressing.
  • a magnetron sputtering apparatus equipped with a DC power source is widely used because of high productivity.
  • a substrate serving as a positive electrode and a target serving as a negative electrode are opposed to each other, and an electric field is generated by applying a high voltage between the substrate and the target in an inert gas atmosphere.
  • the inert gas is ionized and a plasma consisting of electrons and cations is formed.
  • a plasma consisting of electrons and cations is formed.
  • the cations in this plasma collide with the surface of the target (negative electrode)
  • the atoms that make up the target are knocked out.
  • the projected atoms adhere to the opposing substrate surface to form a film.
  • the principle that the material constituting the target is formed on the substrate by such a series of operations is used.
  • SiO 2 is added to the sputtering target for a magnetic recording film in order to magnetically separate the alloy phase.
  • SiO 2 is added to the magnetic metal material, microcracks are generated in the target, and there is a problem that many particles are generated during sputtering. Further, the magnetic material target addition of SiO 2, resulting also disadvantageously burn time longer than the magnetic material target without the addition of SiO 2.
  • Reference 2 discloses a target having a metal phase as a matrix, a ceramic phase dispersed in the matrix phase, an interfacial reaction phase between the metal phase and the ceramic phase, and a relative density of 99% or more. . Although there is a choice of SiO 2 in the ceramic phase, there is no recognition of the above problems and no proposal of a solution.
  • Document 3 proposes that when a CoCrPt—SiO 2 sputtering target is manufactured, Pt powder and SiO 2 powder are calcined, Cr powder and Co powder are mixed with the calcined powder, and pressure sintering is performed.
  • Reference 4 discloses a sputtering target having a metal phase containing Co, a ceramic phase having a particle size of 10 ⁇ m or less, an interfacial reaction phase between the metal phase and the ceramic phase, and the ceramic phase interspersed in the metal phase. It has been proposed that the ceramic phase also has a choice of SiO 2 .
  • Reference 5 below proposes a sputtering target of nonmagnetic oxide 0.5 to 15 mol, Cr 4 to 20 mol, Pt 5 to 25 mol, B 0.5 to 8 mol, and the balance Co.
  • the non-magnetic oxide has been proposed that some selection of SiO 2.
  • Reference 6 below is cited as a reference.
  • This document discloses a technique for producing cristobalite particles as a filler for a sealing element for a semiconductor element such as a memory. Although this document is a technique unrelated to the sputtering target, it is a technique related to cristobalite of SiO 2 .
  • the following document 7 is used as a carrier core material for an electrophotographic developer, and is a technique unrelated to a sputtering target, but discloses a type of crystal relating to SiO 2 .
  • One is a quartz crystal of SiO 2 and the other is a cristobalite crystal.
  • the following document 8 is a technique unrelated to the sputtering target, there is an explanation that cristobalite is a material that impairs the oxidation protection function of silicon carbide.
  • Reference 9 below describes a sputtering target for forming an optical recording medium protective film having a structure in which amorphous SiO 2 is dispersed in a zinc chalcogenide substrate.
  • the occurrence of cracking during the bending strength and the sputtering target made of chalcogenide zinc -SiO 2 has influenced the forms SiO 2 and shape, when the amorphous (amorphous) in a sputtering high output
  • spatter cracks do not occur. Although this suggests in a certain sense, it is only a sputtering target for forming an optical recording medium protective film using zinc chalcogenide, and it is completely unknown whether the problem of magnetic materials with different matrix materials can be solved.
  • a composite material composed of a ferromagnetic alloy and a nonmagnetic inorganic material is often used, and SiO 2 is added as the inorganic material.
  • An object of the present invention is to suppress the generation of particles during sputtering and shorten the burn-in time in a sputtering target for a magnetic recording film to which SiO 2 is added.
  • the present inventors have conducted intensive research. As a result, by devising addition of SiO 2 to the sputtering target for magnetic recording films, cristobalite formation that causes generation of particles during sputtering is performed. It was found that can be suppressed. That is, it was found that microcracks in the target and generation of particles during sputtering can be suppressed and the burn-in time can be shortened.
  • a sputtering target for a magnetic recording film containing SiO 2 crystallized peak intensity ratio of cristobalite is SiO 2 to the background intensity in the X-ray diffraction (cristobalite peak intensity / background intensity) is 1.40
  • a sputtering target for a magnetic recording film characterized by: 2) A sputtering target for a magnetic recording film containing SiO 2 , wherein the rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature is raised from 250 ° C. to 350 ° C. is 7% or less.
  • the sputtering target for magnetic recording films as described.
  • the magnetic recording material of the sputtering target for magnetic recording film containing SiO 2 is not particularly limited and can be applied to various magnetic recording materials. However, it is particularly useful for a target made of the following magnetic recording film material. is there. That is, the present invention provides the following targets 3), 4) and 5). 3) The sputtering target for magnetic recording films according to 1) or 2) above, wherein Cr is 50 mol% or less, SiO 2 is 20 mol% or less, and the balance is Co. 4) The sputtering target for magnetic recording films according to 1) or 2) above, wherein Cr is 50 mol% or less, Pt is 50 mol% or less, SiO 2 is 20 mol% or less, and the balance is Co. 5) The sputtering target for a magnetic recording film according to 1) or 2) above, wherein Pt is 5 mol% or more and 60 mol% or less, SiO 2 is 20 mol% or less, and the remainder is Fe.
  • additive element one or more elements selected from B, Ti, V, Mn, Zr, Nb, Ru, Mo, Ta, W, Au, Cu, and Ag are contained in an amount of 0.01 mol% to 10 mol%.
  • the sputtering target for a magnetic recording film according to any one of 1) to 5) above is provided.
  • the additive material further comprises one or more inorganic materials selected from carbon, oxides other than SiO 2 , nitrides, and carbides, as the additive material, according to any one of 1) to 6) above A sputtering target for a magnetic recording film is provided.
  • the present invention uses an amorphous SiO 2 as the SiO 2 powder raw material, mixing the powder material the SiO 2 and the magnetic metal powder material, sintering the sintering temperature below 1120 ° C
  • the method for producing a sputtering target for a magnetic recording film according to any one of the above 1) to 7) is provided.
  • the sputtering target target for a magnetic recording film of the present invention thus adjusted is excellent in that it can suppress the generation of microcracks in the target, suppress the generation of particles during sputtering, and shorten the burn-in time. Has an effect. Since the generation of particles is small as described above, the defective rate of the magnetic recording film is reduced, and the cost is reduced. The shortening of the burn-in time greatly contributes to the improvement of production efficiency.
  • FIG. 6 is a graph showing measurement results of X-ray diffraction intensities of Co—Cr—Pt—SiO 2 targets of Example 1 and Comparative Example 1.
  • FIG. 6 is a diagram showing a result of comparison between target life and the number of particles when sputtering is performed using the Co—Cr—Pt—SiO 2 target of Example 1 and Comparative Example 1. It is a figure which shows the cross section of the wafer formed into a film on the board
  • FIG. 6 is a diagram showing the measurement results of the X-ray diffraction intensity of the SiO 2 raw material and the Co—Cr—Pt—SiO 2 target of Comparative Example 1.
  • Magnetic recording film for sputtering target of the present invention is a sputtering target for a magnetic recording film containing SiO 2, the peak intensity ratio of cristobalite is SiO 2 crystallized (cristobalite peak intensity / background intensity) is 1.40 It is as follows. That is, it is a sputtering target for a magnetic recording film in which cristobalite that is crystallized SiO 2 is eliminated or reduced as much as possible.
  • a composite material composed of a ferromagnetic alloy and a non-magnetic inorganic material is often used, and SiO 2 is added as an inorganic material.
  • SiO 2 exists as cristobalite crystallized in the target, a volume change due to phase transition occurs in the temperature rising or cooling process of the target (this temperature is about 270 ° C.). This will cause micro cracks in the target. This results in particle generation during sputtering. Therefore, it is effective that the crystallized cristobalite is not generated and exists in the target as amorphous SiO 2 .
  • the magnetic recording film sputtering target is not particularly limited to a magnetic material, but Cr is 50 mol% or less, SiO 2 is 20 mol% or less, and the remainder is Co, Further, a sputtering target for a magnetic recording film in which Cr is 50 mol% or less, Pt is 50 mol% or less, SiO 2 is 20 mol% or less, and the balance is Co, Pt is 5 mol% or more and 60 mol% or less, and SiO 2 is 20 mol% or less. It is useful for a sputtering target for a magnetic recording film in which the balance is Fe.
  • 0 mol% when adding said Cr as an essential component, 0 mol% is remove
  • the present invention includes these. These are components required as a magnetic recording medium, and the mixing ratio varies within the above range, but any of them can maintain the characteristics as an effective magnetic recording medium.
  • Pt is added as an essential component, 0 mol% is excluded. That is, it contains at least a Pt amount that is at least the lower limit that can be analyzed. If the amount of Pt is 50 mol% or less, it is effective even when a very small amount is added.
  • the present invention includes these. These are components required as a magnetic recording medium, and the mixing ratio varies within the above range, but any of them can maintain the characteristics as an effective magnetic recording medium.
  • additive element one or more elements selected from B, Ti, V, Mn, Zr, Nb, Ru, Mo, Ta, W, Au, Cu, and Ag are contained in an amount of 0.01 mol% to 10 mol%. Further, it is effective for the above-mentioned sputtering target for a magnetic recording film.
  • the additive element is an element added as necessary in order to improve characteristics as a magnetic recording medium. Further, the present invention is effective for the sputtering target for magnetic recording film containing one or more inorganic materials selected from carbon, oxides other than SiO 2 , nitrides, and carbides.
  • the present invention provides many alloy systems containing SiO 2 , such as Co—Pt—SiO 2 —X, Co—Cr—Pt—SiO 2 —X, Co—Cr—SiO 2 —X, Fe— Applicable to Pt—SiO 2 —X.
  • amorphous SiO 2 as the SiO 2 powder raw material and aim for amorphization from the raw material itself.
  • the powder raw material of SiO 2 and the magnetic metal powder raw material are mixed and sintered at a sintering temperature of 1120 ° C. or lower. This lowering of the sintering temperature is effective in suppressing crystallization of SiO 2 . Further, by using high-purity SiO 2 , crystallization can be further suppressed. In this sense, it is desirable to use high-purity SiO 2 of 4N or more, more preferably 5N or more.
  • the ferromagnetic material sputtering target of the present invention can be produced by powder metallurgy. First, a powder raw material for each metal element (magnetic metal powder raw material), a SiO 2 powder raw material, and, if necessary, a powder raw material for an additional metal element are prepared. These powder raw materials are desirably those having a maximum particle size of 20 ⁇ m or less.
  • alloy powders of these metals may be prepared instead of the powders of the respective metal elements.
  • the maximum particle size be 20 ⁇ m or less.
  • it is too small there is a problem that oxidation is accelerated and the component composition does not fall within the range.
  • these metal powders are weighed so as to have a desired composition, and mixed using a known method such as a ball mill for pulverization. What is necessary is just to mix with a metal powder at this stage, when adding an inorganic substance powder.
  • the inorganic powder carbon powder, oxide powder other than SiO 2 , nitride powder, or carbide powder is prepared, and it is desirable to use inorganic powder having a maximum particle size of 5 ⁇ m or less.
  • the mixer is preferably a planetary motion type mixer or a planetary motion type stirring mixer. Furthermore, considering the problem of oxidation during mixing, it is preferable to mix in an inert gas atmosphere or in a vacuum.
  • the ferromagnetic material sputtering target of the present invention is produced by molding and sintering the powder thus obtained using a vacuum hot press apparatus and cutting it into a desired shape.
  • the sintering temperature is 1120 ° C. or lower. This lowering of the sintering temperature is a temperature necessary for suppressing the crystallization of SiO 2 .
  • the molding / sintering is not limited to hot pressing, and a plasma discharge sintering method and a hot isostatic pressing method can also be used.
  • the holding temperature at the time of sintering is preferably set to the lowest temperature in a temperature range where the target is sufficiently densified. Although it depends on the composition of the target, in many cases, the temperature range is 900 to 1120 ° C.
  • Example 1 Co powder having an average particle size of 3 ⁇ m, Cr powder having an average particle size of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle size of 1 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle size of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. Co powder 70.76 wt%, Cr powder 9.6 wt%, Pt powder 15.01 wt%, SiO 2 powder 4 so that the composition of the target of the powder is 78Co-12Cr-5Pt-5SiO 2 (mol%). Weighed at a weight ratio of .62 wt%.
  • Co powder, Cr powder, Pt powder, and SiO 2 powder were sealed in a ball mill pot with a capacity of 10 liters together with zirconia balls as a grinding medium, and rotated and mixed for 20 hours.
  • This mixed powder is filled into a carbon mold, and in a vacuum atmosphere, the temperature is 1100 ° C. (to avoid crystallization of SiO 2 powder, the temperature is 1120 ° C. or lower), the holding time is 3 hours, and the applied pressure is 30 MPa.
  • the sintered compact was obtained by hot pressing under the conditions of Further, this was cut with a lathe to obtain a disk-shaped target having a diameter of 180 mm and a thickness of 7 mm.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method.
  • the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° is 35
  • the background intensity (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (22.5 to 23.5 °)) The average value of intensity)) ⁇ 2) was measured.
  • the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.26. This result is shown in the XRD measurement result at the bottom of FIG.
  • the SiO 2 raw material was amorphous, and no cristobalite peak appeared at 2 ⁇ : 21.98 on the target after sintering.
  • the X-ray diffraction intensity of Comparative Example 1 shown below is shown on the same figure, but a cristobalite peak appeared at 2 ⁇ : 21.98.
  • the same results as shown in FIG. 1 were obtained.
  • Rigak Ultima IV was used as a measuring device, and the measurement conditions were tube voltage 40 kv, tube current 30 mA, scan speed 4 ° / min, and step 0.02 °.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient is 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm cut out from the target, and thermal expansion from 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min using a Rigaku Thermo plus2 TMA8310.
  • the coefficient change rate was measured.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 3.6%.
  • FIG. 2 shows the result of comparison between the target life and the number of particles when sputtering was performed using the Co—Cr—Pt—SiO 2 target of Example 1 and Comparative Example 1 below.
  • the sputtering conditions were as follows: power: 1 kW, time 20 seconds, pressure (Ar atmosphere) 1.7 Pa.
  • the number of particles generated in a steady state was 2.8.
  • the burn-in time was 0.37 kWh.
  • Comparative Example 1 Co powder having an average particle diameter of 3 ⁇ m, Cr powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. Co powder 70.76 wt%, Cr powder 9.6 wt%, Pt 15.01 wt%, SiO 2 powder 4.62 wt% so that the target composition is 78Co-12Cr-5Pt-5SiO 2 (mol%). Weighed at a weight ratio of
  • FIG. 3 shows a cross section of the wafer formed on the substrate and the result of elemental analysis by EDX.
  • the left side of FIG. 3 shows particles. As is apparent from the result of elemental analysis on the right side of the figure, almost all particles were SiO 2 .
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method.
  • XRD X-ray diffraction
  • FIG. Although the SiO 2 raw material is amorphous, a cristobalite peak appears at 2 ⁇ : 21.98 in the target after sintering. The lower line is the X-ray diffraction intensity of the SiO 2 raw material and is shown for reference. 2 ⁇ : Peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured.
  • Example 1 the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 56, and the peak intensity ratio of cristobalite, which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity), was 1.42. . These were all larger than Example 1.
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion at the time of temperature increase from 250 ° C. to 350 ° C. is 7.5%, which is larger than that of Example 1, generating a volume change, and this volume change causes microcracks in the target. Occurred.
  • Comparative Example 2 Co powder having an average particle diameter of 3 ⁇ m, Cr powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. These powders were weighed at a weight ratio of 84.11 wt% Co powder, 10.73 wt% Cr powder, and 5.17 wt% SiO 2 powder so that the target composition would be 83Co-12Cr-5SiO 2 (mol%).
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° is as large as 129, and the ratio of the cristobalite crystal intensity, which is crystallized SiO 2 , to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) is 1.92. This also increased. As a result, most SiO 2 was crystallized as compared with Example 1. The measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient at the time of temperature increase from 250 ° C. to 350 ° C. is 11.2%, which is larger than that in Example 1 and generates a volume change. This volume change causes microcracks in the target. Occurred.
  • Example 2 Co powder having an average particle size of 3 ⁇ m, Cr powder having an average particle size of 5 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle size of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. These powders were weighed at a weight ratio of 84.11 wt% Co powder, 10.73 wt% Cr powder, and 5.17 wt% SiO 2 powder so that the target composition would be 83Co-12Cr-5SiO 2 (mol%).
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 31.
  • the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.13.
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 5.5%.
  • Example 3 In Example 3, as a raw material powder, Co powder having an average particle diameter of 3 ⁇ m, Cr powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, Co—B powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, and amorphous having an average particle diameter of 1 ⁇ m. Quality SiO 2 powder was prepared. These powders so that the target composition is 66Co-15Cr-12Pt-2B- 5SiO 2 (mol%), Co powder 53.05wt%, Cr powder 10.64wt%, Pt powder 31.93wt%, B powder 0 .29 wt% and SiO 2 powder 4.10 wt% were weighed.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 30, and the ratio of the peak intensity of cristobalite being crystallized SiO 2 to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.04. .
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 3.8%.
  • Example 4 Co powder having an average particle diameter of 3 ⁇ m, Cr powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, TiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, and amorphous having an average particle diameter of 1 ⁇ m are used as the raw material powder. SiO 2 powder and Cr 2 O 3 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared. These powders so that the target composition is 67Co-10Cr-15Pt-3TiO 2 -2Si0 2 -3Cr 2 O 3 (mol%), Co powder 48.09wt%, Cr powder 6.33wt%, Pt powder 35. Weighed at a weight ratio of 64 wt%, TiO 2 powder 0.69 wt%, SiO 2 powder 0.67 wt%, and Cr 2 O 3 powder 1.07 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 32.
  • the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.18.
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 3.3%.
  • Comparative Example 3 Co powder having an average particle diameter of 3 ⁇ m, Cr powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, TiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, and an average particle diameter of 1 ⁇ m Cr 2 O 3 powder was prepared.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° is as large as 317, and the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) is 4.71. This also increased. As a result, most SiO 2 was crystallized as compared with Example 1. The measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion at the time of temperature increase from 250 ° C. to 350 ° C. is 8.5%, which is larger than that of Example 1 and generates a volume change. This volume change causes microcracks in the target. Occurred.
  • Comparative Example 4 In Comparative Example 4, as a raw material powder, Co powder having an average particle diameter of 3 ⁇ m, Cr powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, TiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, and amorphous having an average particle diameter of 1 ⁇ m SiO 2 powder and Cr 2 O 3 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared. These powders so that the target composition is 67Co-10Cr-15Pt-3TiO 2 -2SiO 2 -3Cr 2 O 3 (mol%), Co powder 48.09wt%, Cr powder 6.33wt%, Pt powder 35. Weighed at a weight ratio of 64 wt%, TiO 2 powder 0.69 wt%, SiO 2 powder 0.67 wt%, and Cr 2 O 3 powder 1.07 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° is as large as 62, and the ratio of cristobalite, which is crystallized SiO 2 to the background intensity, is 1.57 (cristobalite peak intensity / background intensity). This also increased. As a result, most SiO 2 was crystallized as compared with Example 1. The measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion at the time of temperature increase from 250 ° C. to 350 ° C. is 7.6%, which is larger than that of Example 1, causing a volume change, and this volume change causes microcracks in the target. Occurred.
  • Example 5 (Example 5)
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 35.
  • the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.28.
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 7.8%.
  • Comparative Example 5 Fe powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. These powders were weighed in a weight ratio of 21.13 wt% Fe powder, 73.82 wt% Pt powder, and 5.05 wt% SiO 2 powder so that the target composition was 45Fe-45Pt-10SiO 2 (mol%).
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° becomes as large as 224, and the ratio of the peak intensity of cristobalite which is crystallized SiO 2 to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) is 3.4. This also increased. As a result, most SiO 2 was crystallized as compared with Example 1. The measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion at the time of temperature increase from 250 ° C. to 350 ° C. is 8.1%, which is larger than that of Example 1 and generates a volume change, which causes microcracks in the target. Occurred.
  • Example 6 Fe powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. These powders were weighed in a weight ratio of 21.13 wt% Fe powder, 73.82 wt% Pt powder, and 5.05 wt% SiO 2 powder so that the target composition was 45Fe-45Pt-10SiO 2 (mol%).
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 30.
  • the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.12.
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 3.7%.
  • Example 7 Co powder having an average particle diameter of 3 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, TiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. These powders so that the target composition is 84Co-10Pt-3TiO 2 -3SiO 2 (mol%), Co powder 67.62wt%, Pt powder 26.65wt%, TiO 2 powder 3.27wt%, SiO 2 powder Weighed at a weight ratio of 2.46 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 30.
  • the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.11.
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 3.5%.
  • Comparative Example 6 Co powder having an average particle diameter of 3 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, TiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. In these powders, Co powder 67.62 wt%, Pt powder 26.65 wt%, TiO 2 powder 3.27 wt%, SiO 2 powder so that the target composition would be 84Co-10Pt-3TiO 2 -3SiO 2 (mol%). Weighed at a weight ratio of 2.46 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° is as large as 55, and the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) is 1.43. This also increased. As a result, most SiO 2 was crystallized as compared with Example 1. The measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion at the time of temperature increase from 250 ° C. to 350 ° C. is 8.3%, which is larger than that of Example 1 and generates a volume change. This volume change causes microcracks in the target. Occurred.
  • Example 8 In Example 8, as a raw material powder, Co powder with an average particle diameter of 3 ⁇ m, Cr powder with an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder with an average particle diameter of 1 ⁇ m, Ta 2 O 5 powder with an average particle diameter of 1 ⁇ m, non-average particle diameter of 1 ⁇ m A crystalline SiO 2 powder was prepared. These powders were made to have a target composition of 72Co-8Cr-13Pt-5Ta 2 O 5 -2Si0 2 (mol%), Co powder 44.55 wt%, Cr powder 4.37 wt%, Pt powder 26.63 wt%, Weighed at a weight ratio of 23.2 wt% Ta 2 O 5 powder and 1.26 wt% SiO 2 powder.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 32.
  • the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.18.
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min. The rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured. The rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 3.6%.
  • Comparative Example 7 (Comparative Example 7)
  • Co powder with an average particle diameter of 3 ⁇ m, Cr powder with an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder with an average particle diameter of 1 ⁇ m, Ta 2 O 5 powder with an average particle diameter of 1 ⁇ m, non-average particle diameter of 1 ⁇ m A crystalline SiO 2 powder was prepared.
  • These powders were made to have a target composition of 72Co-8Cr-13Pt-5Ta 5 O 2 -2SiO 2 (mol%) with 44.55 wt% Co powder, 4.37 wt% Cr powder, 26.63 wt% Pt powder, Weighed at a weight ratio of 23.2 wt% Ta 2 O 5 powder and 1.26 wt% SiO 2 powder.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° becomes as large as 109, and the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) is 2.81. This also increased. As a result, most SiO 2 was crystallized as compared with Example 1. The measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion at the time of temperature increase from 250 ° C. to 350 ° C. is 7.7%, which is larger than that of Example 1 and generates a volume change. This volume change causes microcracks in the target. Occurred.
  • Example 9 In Example 9, as a raw material powder, Co powder having an average particle diameter of 3 ⁇ m, Cr powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, Co—B powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, and amorphous having an average particle diameter of 1 ⁇ m. SiO 2 powder and CoO powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared. Co powder 56.30 wt%, Cr powder 3.50 wt%, Pt powder 31.50 wt%, B so that the target composition is 71Co-5Cr-12Pt-3B-4Si0 2 -5CoO (mol%). The powder was weighed at a weight ratio of 0.44 wt%, SiO 2 powder 3.23 wt%, and CoO powder 5.04 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 33.
  • the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.21.
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min. The rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured. The rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 3.6%.
  • Comparative Example 8 In Comparative Example 8, as raw material powder, Co powder having an average particle diameter of 3 ⁇ m, Cr powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, Co—B powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, and amorphous having an average particle diameter of 1 ⁇ m. SiO 2 powder and CoO powder having an average particle size of ⁇ ⁇ m were prepared. Co powder 56.30 wt%, Cr powder 3.50 wt%, Pt powder 31.50 wt%, B so that the target composition is 71Co-5Cr-12Pt-3B-4SiO 2 -5CoO (mol%). The powder was weighed at a weight ratio of 0.44 wt%, SiO 2 powder 3.23 wt%, and CoO powder 5.04 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° is as large as 64, and the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) is 1.67. This also increased. As a result, most SiO 2 was crystallized as compared with Example 1. The measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion at the time of temperature increase from 250 ° C. to 350 ° C. is 7.4%, which is larger than that of Example 1 and generates a volume change. This volume change causes microcracks in the target. Occurred.
  • Example 10 Fe powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, Au powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. In these powders, 17.72 wt% Fe powder, 61.89 wt% Pt powder, 15.62 wt% Au powder, and 15.2 wt% SiO 2 powder so that the target composition is 40Fe-40Pt-10Au-10SiO 2 (mol%). Weighed at a weight ratio of 77 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 31.
  • the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.13.
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 3.4%.
  • Comparative Example 9 Fe powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, Au powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. In these powders, 17.72 wt% Fe powder, 61.89 wt% Pt powder, 15.62 wt% Au powder, and 15.2 wt% SiO 2 powder so that the target composition is 40Fe-40Pt-10Au-10SiO 2 (mol%). Weighed at a weight ratio of 77 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° is as large as 70, and the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) is 1.86. This also increased. As a result, most SiO 2 was crystallized as compared with Example 1. The measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion at the time of temperature increase from 250 ° C. to 350 ° C. is 8.1%, which is larger than that of Example 1 and generates a volume change, which causes microcracks in the target. Occurred.
  • Example 11 Fe powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, Cu powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. In these powders, Fe powder 18.87 wt%, Pt powder 64.17 wt%, Cu powder 12.64 wt%, SiO 2 powder 4 so that the target composition is 41Fe-41Pt-8Cu-10SiO 2 (mol%). Weighed at a weight ratio of 82 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 33. In addition, the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.2. The measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 3.5%.
  • Comparative Example 10 Fe powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, Cu powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. In these powders, Fe powder 18.87 wt%, Pt powder 64.17 wt%, Cu powder 12.64 wt%, SiO 2 powder 4 so that the target composition is 41Fe-41Pt-8Cu-10SiO 2 (mol%). Weighed at a weight ratio of 82 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° is as large as 47, and the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) is 1.73. This also increased. As a result, most SiO 2 was crystallized as compared with Example 1. The measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion at the time of temperature increase from 250 ° C. to 350 ° C. is 7.9%, which is larger than that of Example 1 and generates a volume change. This volume change causes microcracks in the target. Occurred.
  • Example 12 Fe powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, Ag powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. These powders are prepared so that the target composition is 45Fe-45Pt-2Ag-8SiO 2 (mol%), Fe powder 20.96 wt%, Pt powder 73.23 wt%, Ag powder 1.8 wt%, SiO 2 powder 4. Weighed at a weight ratio of 01 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 32.
  • the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.18.
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min. The rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured. The rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 3.6%.
  • Comparative Example 11 Fe powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, Pt powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, Ag powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. These powders are prepared so that the target composition is 45Fe-45Pt-2Ag-8SiO 2 (mol%), Fe powder 20.96 wt%, Pt powder 73.23 wt%, Ag powder 1.8 wt%, SiO 2 powder 4. Weighed at a weight ratio of 01 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° is as large as 134, and the ratio of the cristobalite crystallized SiO 2 to the background intensity is 2.02 (cristobalite peak intensity / background intensity). This also increased. As a result, most SiO 2 was crystallized as compared with Example 1. The measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion at the time of temperature increase from 250 ° C. to 350 ° C. is 7.8%, which is larger than that of Example 1 and generates a volume change. This volume change causes microcracks in the target. Occurred.
  • Example 13 a Co powder having an average particle diameter of 3 ⁇ m, a Cr powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, and an amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. These powders were weighed at a weight ratio of Co powder 47.08 wt%, Cr powder 36.92 wt%, and SiO 2 powder 16.00 wt% so that the target composition would be 45Co-40Cr-15SiO 2 (mol%).
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 32.
  • the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.15.
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min. The rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured. The rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 6.1%.
  • Comparative Example 12 Co powder having an average particle size of 3 ⁇ m, Cr powder having an average particle size of 5 ⁇ m, and amorphous SiO 2 powder having an average particle size of 1 ⁇ m were prepared as raw material powders. These powders were weighed at a weight ratio of Co powder 47.08 wt%, Cr powder 36.92 wt%, and SiO 2 powder 16.00 wt% so that the target composition would be 45Co-40Cr-15SiO 2 (mol%).
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° is as large as 161, and the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) is 2.41. This also increased. As a result, most SiO 2 was crystallized as compared with Example 1. The measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the coefficient of thermal expansion at the time of temperature increase from 250 ° C. to 350 ° C. is 9.2%, which is larger than that in Example 1, causing a volume change, and this volume change causes microcracks in the target. Occurred.
  • Example 14 As a raw material powder, Co powder having an average particle diameter of 3 ⁇ m, Cr powder having an average particle diameter of 5 ⁇ m, TiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, amorphous SiO 2 powder having an average particle diameter of 1 ⁇ m, and an average particle diameter of 1 ⁇ m. Cr 2 O 3 powder was prepared. Co powder 78.35 wt%, Cr powder 8.43 wt%, TiO 2 powder 3.88 wt so that these powders have a target composition of 82 Co-10 Cr-3 TiO 2 -2SiO 2 -3Cr 2 O 3 (mol%). %, SiO 2 powder 1.95 wt%, Cr 2 O 3 powder 7.39 wt%.
  • the peak intensity of cristobalite a part of the target was cut out in the same manner as in Example 1, and the X-ray diffraction intensity was measured by the X-ray diffraction (XRD) method. That is, 2 ⁇ : peak intensity and background intensity appearing at 21.98 ° (((average value of intensity of 20.5 to 21.5 °) + (average value of intensity of 22.5 to 23.5 °)) ⁇ 2) was measured. As a result, the peak intensity appearing at 2 ⁇ : 21.98 ° was 40.
  • the peak intensity ratio of cristobalite which is crystallized SiO 2 with respect to the background intensity (cristobalite peak intensity / background intensity) was 1.20.
  • the measurement apparatus and measurement conditions were the same as in Example 1.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient was cut out from 20 mm ⁇ 3 mm ⁇ 3 mm from the target, and in the same manner as in Example 1, using Thermo Plus2 TMA8310 manufactured by Rigaku Corporation, 250 ° C. to 350 ° C. at a temperature rising rate of 5 ° C./min.
  • the rate of change in thermal expansion coefficient up to 0 ° C. was measured.
  • the rate of change of the thermal expansion coefficient when the temperature was raised from 250 ° C. to 350 ° C. was 3.2%.
  • Table 1 summarizes the above results. As shown in Table 1, all of the examples of the sputtering target of the present invention have a cristobalite peak intensity ratio of 1.40 or less within the scope of the present invention. There was little result of shortening the burn-in time of sputtering.
  • the sputtering target for magnetic recording film according to the present invention has excellent effects of suppressing generation of microcracks in the target, suppressing generation of particles during sputtering, and shortening burn-in time. Since the generation of particles is small as described above, the defective rate of the magnetic recording film is reduced, and the cost is reduced. The shortening of the burn-in time greatly contributes to the improvement of production efficiency. This is useful as a ferromagnetic sputtering target used for forming a magnetic thin film of a magnetic recording medium, particularly a hard disk drive recording layer.

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Abstract

ＳｉＯ２を含有する磁気記録膜用スパッタリングターゲットであって、Ｘ線回折におけるバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）が１．４０以下であることを特徴とする磁気記録膜用スパッタリングターゲット。ターゲット中に、スパッタリング時のパーティクル発生の原因となるクリストバライトの形成を抑制し、かつバーンイン時間の短縮が可能な磁気記録膜用スパッタリングターゲットを得ることを課題とする。

Description

磁気記録膜用スパッタリングターゲット及びその製造方法
　本発明は、磁気記録媒体の磁性体薄膜、特に垂直磁気記録方式を採用したハードディスクの磁気記録層の成膜に使用される磁気記録膜用スパッタリングターゲットに関し、スパッタリング時のパーティクル発生の原因となるクリストバライトの形成を抑制し、かつスパッタ開始から本成膜までに要する時間（以下、バーンイン時間）、の短縮が可能であるスパッタリングターゲットに関する。
　ハードディスクドライブに代表される磁気記録の分野では、記録を担う磁性薄膜の材料として、強磁性金属であるＣｏ、Ｆｅ、あるいはＮｉをベースとした材料が用いられている。例えば、面内磁気記録方式を採用するハードディスクの記録層にはＣｏを主成分とするＣｏ－Ｃｒ系やＣｏ－Ｃｒ－Ｐｔ系の強磁性合金が用いられてきた。
　また、近年実用化された垂直磁気記録方式を採用するハードディスクの記録層には、Ｃｏを主成分とするＣｏ－Ｃｒ－Ｐｔ系の強磁性合金と非磁性の無機物からなる複合材料が多く用いられている。
　そしてハードディスクなどの磁気記録媒体の磁性薄膜は、生産性の高さから、上記の材料を成分とする強磁性材スパッタリングターゲットをスパッタリングして作製されることが多い。また、このような磁気記録膜用スパッタリングターゲットには、合金相を磁気的に分離させるために、ＳｉＯ２を添加することが行われている。
　強磁性材スパッタリングターゲットの作製方法としては、溶解法や粉末冶金法が考えられる。どちらの手法で作製するかは、要求される特性によるので一概には言えないが、垂直磁気記録方式のハードディスクの記録層に使用される、強磁性合金と非磁性の無機物粒子からなるスパッタリングターゲットは、一般に粉末冶金法によって作製されている。これはＳｉＯ２等の無機物粒子を合金素地中に均一に分散させる必要があるため、溶解法では作製することが困難だからである。
　例えば、急冷凝固法で作製した合金相を持つ合金粉末とセラミックス相を構成する粉末とをメカニカルアロイングし、セラミックス相を構成する粉末を合金粉末中に均一に分散させ、ホットプレスにより成形し磁気記録媒体用スパッタリングターゲットを得る方法が提案されている（特許文献１）。
　この場合のターゲット組織は、素地が白子（鱈の精子）状に結合し、その周りにＳｉＯ２（セラミックス）が取り囲んでいる様子（特許文献１の図２）又は細紐状に分散している（特許文献１の図３）様子が見える。他の図は不鮮明であるが、同様の組織と推測される。このような組織は、後述する問題を有し、好適な磁気記録媒体用スパッタリングターゲットとは言えない。なお、特許文献１の図４に示されている球状物質は、メカニカルアロイグ粉末であり、ターゲットの組織ではない。
　また、急冷凝固法で作製した合金粉末を用いなくても、ターゲットを構成する各成分について市販の原料粉末を用意し、それらの原料粉を所望の組成になるように秤量し、ボールミル等の公知の手法で混合し、混合粉末をホットプレスにより成型・焼結することによって、強磁性材スパッタリングターゲットは作製できる。
　スパッタリング装置には様々な方式のものがあるが、上記の磁気記録膜の成膜では、生産性の高さからＤＣ電源を備えたマグネトロンスパッタリング装置が広く用いられている。スパッタリング法とは、正の電極となる基板と負の電極となるターゲットを対向させ、不活性ガス雰囲気下で、該基板とターゲット間に高電圧を印加して電場を発生させるものである。
　この時、不活性ガスが電離し、電子と陽イオンからなるプラズマが形成されるが、このプラズマ中の陽イオンがターゲット（負の電極）の表面に衝突するとターゲットを構成する原子が叩き出され、この飛び出した原子が対向する基板表面に付着して膜が形成される。このような一連の動作により、ターゲットを構成する材料が基板上に成膜されるという原理を用いたものである。
　上記の通り、磁気記録膜用スパッタリングターゲットには、合金相を磁気的に分離させるために、ＳｉＯ２を添加することが行われている。磁性金属材料に、このＳｉＯ２を添加するとターゲットにマイクロクラックが発生し、スパッタリング中にパーティクルの発生が多く見られるという問題があった。
　また、ＳｉＯ２を添加した磁性材ターゲットでは、ＳｉＯ２を添加しない磁性材ターゲットに比べてバーンイン時間が長くなるという不都合も生じた。
　これは、ＳｉＯ２自体の問題であるのか、ＳｉＯ２が変質したのか、あるいは他の磁性金属又は添加材料との相互作用の問題か、という程度の問題の提起はあったが、根本的に究明された訳ではなかった。多くの場合、上記の問題は、止むを得ないこととして黙認又は看過されてきたものと考えられる。しかし、今日のように、磁性膜の特性を高度に維持する必要から、スパッタリング膜特性のさらなる向上が求められている。
　従来技術では、磁性材を用いたスパッタリングターゲットにおいて、ＳｉＯ２を添加する技術がいくつか見られる。下記文献２には、マトリックスとしての金属相、このマトリックス相に分散しているセラミックス相、金属相とセラミックス相との界面反応相を有し相対密度が９９％以上であるターゲットが開示されている。セラミックス相の中にＳｉＯ２の選択もあるが、上記の問題の認識及び解決策の提案はない。
　下記文献３には、ＣｏＣｒＰｔ－ＳｉＯ２スパッタリングターゲットの製造に際し、Ｐｔ粉末とＳｉＯ２粉末を仮焼し、得られた仮焼粉末にＣｒ粉末、Ｃｏ粉末を混合して加圧焼結する提案がなされている。しかし、上記の問題の認識及び解決策の提案はない。
　下記文献４には、Ｃｏを含有する金属相、粒径１０μｍ以下のセラミックス相、金属相とセラミックス相との界面反応相を有し、金属相の中にセラミックス相が散在するスパッタリングターゲットが開示され、前記セラミックス相には、ＳｉＯ２の選択もあることが提案されている。しかし、上記の問題の認識及び解決策の提案はない。
　下記文献５には、非磁性酸化物０．５～１５モル、Ｃｒ４～２０モル、Ｐｔ５～２５モル、Ｂ０．５～８モル、残部Ｃｏのスパッタリングターゲットが提案されている。非磁性酸化物には、ＳｉＯ２の選択もあること提案されている。しかし、上記の問題の認識及び解決策の提案はない。
　なお、参考に下記文献６を挙げるが、この文献には、メモリーなどの半導体素子用封止剤の充填剤として、クリストバライト粒子を製造する技術が開示されている。この文献は、スパッタリングターゲットとは無縁の技術ではあるが、ＳｉＯ２のクリストバライトに関する技術である。
　下記文献７は、電子写真現像剤用キャリア芯材として利用されるもので、スパッタリングターゲットとは無縁の技術ではあるが、ＳｉＯ２に関する結晶の種類が開示されている。その一方はＳｉＯ２のクオーツ結晶であり、他方はクリストバライト結晶である。
　下記文献８は、スパッタリングターゲットとは無縁の技術ではあるが、クリストバライトが炭化珪素の酸化防護機能を損ねる材料であるとしての説明がある。
　下記文献９には、カルコゲン化亜鉛素地中に、無定型ＳｉＯ２が分散した組織の、光記録媒体保護膜形成用スパッタリングターゲットが記載されている。この場合、カルコゲン化亜鉛－ＳｉＯ２からなるターゲットの抗折強度とスパッタリング時の割れの発生は、ＳｉＯ２の形態と形状が影響しており、無定形（アモルファス）にすると、高出力のスパッタリングにおいても、スパッタ割れが発生しないとの開示がある。
　これはある意味での示唆はあるが、あくまでカルコゲン化亜鉛を用いた光記録媒体保護膜形成用スパッタリングターゲットであり、マトリックス材料が異なる磁性材料の問題を解決できるかどうかは全く不明である。
特開平１０－８８３３３号公報 特開２００６－４５５８７号公報 特開２００６－１７６８０８号公報 特開２００８－１７９９００号公報 特開２００９－１８６１号公報 特開２００８－１６２８４９号公報 特開２００９－８０３４８号公報 特開平１０－１５８０９７号公報 特開２０００－１７８７２６号公報
　磁気記録膜用スパッタリングターゲットには、強磁性合金と非磁性の無機物からなる複合材料が多く用いられ、無機物としてはＳｉＯ２を添加することが行なわれている。本発明の課題は、ＳｉＯ２を添加した磁気記録膜用スパッタリングターゲットにおいて、スパッタリング中のパーティクルの発生を抑制し、かつバーンイン時間を短縮化することにある。
　上記の課題を解決するために、本発明者らは鋭意研究を行った結果、磁気記録膜用スパッタリングターゲットへのＳｉＯ２の添加を工夫することにより、スパッタリング時のパーティクル発生の原因となるクリストバライト形成を抑制できることを見出した。すなわち、ターゲット中にマイクロクラック及びスパッタリング中のパーティクル発生を抑制し、かつバーンイン時間の短縮化が可能であることが分かった。
　
　このような知見に基づき、本発明は、
　１）ＳｉＯ２を含有する磁気記録膜用スパッタリングターゲットであって、Ｘ線回折におけるバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）が１．４０以下であることを特徴とする磁気記録膜用スパッタリングターゲット。
　２）ＳｉＯ２を含有する磁気記録膜用スパッタリングターゲットであって、２５０°Ｃから３５０°Ｃまで昇温時の熱膨張係数の変化率が７%以下であることを特徴とする前記１）に記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲット。
　ＳｉＯ２を含有する磁気記録膜用スパッタリングターゲットの磁気記録材料については、特に制限はなく、種々の磁気記録材料に適用できるのであるが、次の磁気記録膜用材料からなるターゲットに、特に有用である。すなわち、本願発明は、次の３）、４）、５）のターゲットを提供する。
　３）Ｃｒが５０ｍｏｌ％以下、ＳｉＯ２が２０ｍｏｌ％以下、残余がＣｏであることを特徴とする前記１）又は２）記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲット。
　４）Ｃｒが５０ｍｏｌ％以下、Ｐｔが５０ｍｏｌ％以下、ＳｉＯ２が２０ｍｏｌ％以下、残余がＣｏであることを特徴とする前記１）又は２）記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲット。
　５）Ｐｔが５ｍｏｌ％以上６０ｍｏｌ％以下、ＳｉＯ２が２０ｍｏｌ％以下、残余がＦｅであることを特徴とする前記１）又は２）記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲット。
　６）さらに、添加元素として、Ｂ、Ｔｉ、Ｖ、Ｍｎ、Ｚｒ、Ｎｂ、Ｒｕ、Ｍｏ、Ｔａ、Ｗ、Ａｕ、Ｃｕ、Ａｇから選択した１元素以上を、０．０１ｍｏｌ％以上１０ｍｏｌ％以下含有することを特徴とする前記１）～５）のいずれか一に記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲットを提供する。
　７）また、添加材料として、炭素、ＳｉＯ２を除く酸化物、窒化物、炭化物から選択した１成分以上の無機物材料を含有することを特徴とする前記１）～６）のいずれか一に記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲットを提供する。
　８）また、本発明は、ＳｉＯ２の粉末原料として非晶質ＳｉＯ２を使用し、このＳｉＯ２の粉末原料と磁性金属粉末原料とを混合し、焼結温度を１１２０°Ｃ以下で焼結することを特徴とする前記１）～７）のいずれか一に記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲットの製造方法を提供するものである。
　このように調整した本発明の磁気記録膜用スパッタリングターゲットターゲットは、ターゲットのマイクロクラックの発生を抑制すると共に、スパッタリング中のパーティクル発生を抑制し、かつバーンイン時間の短縮化が可能であるという優れた効果を有する。このようにパーティクル発生が少ないので、磁気記録膜の不良率が減少し、コスト低減化になるという大きな効果を有する。また、前記バーンイン時間の短縮化は、生産効率の向上に大きく貢献するものである。
実施例１と比較例１のＣｏ－Ｃｒ－Ｐｔ－ＳｉＯ２ターゲットのＸ線回折強度の測定結果を示す図である。 実施例１と比較例１のＣｏ－Ｃｒ－Ｐｔ－ＳｉＯ２ターゲットを用いてスパッタリングした場合の、ターゲットライフとパーティクル数の対比を行った結果を示す図である。 比較例１の基板上に成膜したウエハの断面とＥＤＸによる元素分析結果を示す図である。 ＳｉＯ２原料と比較例１のＣｏ－Ｃｒ－Ｐｔ－ＳｉＯ２ターゲットのＸ線回折強度の測定結果を示す図である。
　本発明の磁気記録膜用スパッタリングターゲットは、ＳｉＯ２を含有する磁気記録膜用スパッタリングターゲットであり、結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）が１．４０以下である。すなわち、結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトを無くすか、又は極力減少させた磁気記録膜用スパッタリングターゲットである。
　磁気記録膜用スパッタリングターゲットには、強磁性合金と非磁性の無機物からなる複合材料が多く用いられ、無機物としてＳｉＯ２を添加することが行なわれている。
　しかしながら、このＳｉＯ２がターゲット中で結晶化したクリストバライトとして存在すると、ターゲットの昇温又は降温過程（この温度はおよそ２７０°Ｃ程度）において、相転移による体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生する原因となる。
　これは結果として、スパッタリング中のパーティクル発生の原因となる。したがって、結晶化したクリストバライトを発生させず、非晶質ＳｉＯ２としてターゲット中に存在させるのが有効である。
　上記のように、磁気記録膜用スパッタリングターゲットとしては、磁性材料に特に制限はないのであるが、Ｃｒが５０ｍｏｌ％以下、ＳｉＯ２が２０ｍｏｌ％以下、残余がＣｏである磁気記録膜用スパッタリングターゲット、また、Ｃｒが５０ｍｏｌ％以下、Ｐｔが５０ｍｏｌ％以下、ＳｉＯ２が２０ｍｏｌ％以下、残余がＣｏである磁気記録膜用スパッタリングターゲット、さらに、Ｐｔが５ｍｏｌ％以上６０ｍｏｌ％以下、ＳｉＯ２が２０ｍｏｌ％以下、残余がＦｅである磁気記録膜用スパッタリングターゲットに有用である。
　これらは、磁気記録媒体として必要とされる成分であり、配合割合は上記範囲内で様々であるが、いずれも有効な磁気記録媒体としての特性を維持することができる。
　この場合も、ターゲット中に結晶化したクリストバライトを発生させず、非晶質ＳｉＯ２としてターゲット中に存在させる必要がある。
　なお、前記Ｃｒは、必須成分として添加する場合は、０ｍｏｌ％を除く。すなわち、少なくとも分析可能な下限値以上のＣｒ量を含有させるものである。Ｃｒ量が５０ｍｏｌ％以下であれば、微量添加する場合においても効果がある。本願発明は、これらを包含する。これらは、磁気記録媒体として必要とされる成分であり、配合割合は上記範囲内で様々であるが、いずれも有効な磁気記録媒体としての特性を維持することができる。
　前記Ｐｔも同様に、必須成分として添加する場合は、０ｍｏｌ％を除く。すなわち、少なくとも分析可能な下限値以上のＰｔ量を含有させるものである。Ｐｔ量が５０ｍｏｌ％以下であれば、微量添加する場合においても効果がある。本願発明は、これらを包含する。これらは、磁気記録媒体として必要とされる成分であり、配合割合は上記範囲内で様々であるが、いずれも有効な磁気記録媒体としての特性を維持することができる。
　この他、添加元素として、Ｂ、Ｔｉ、Ｖ、Ｍｎ、Ｚｒ、Ｎｂ、Ｒｕ、Ｍｏ、Ｔａ、Ｗ、Ａｕ、Ｃｕ、Ａｇから選択した１元素以上を、０．０１ｍｏｌ％以上１０ｍｏｌ％以下含有させた上記の磁気記録膜用スパッタリングターゲットに有効である。前記添加元素は、磁気記録媒体としての特性を向上させるために、必要に応じて添加される元素である。さらに添加材料として、炭素、ＳｉＯ２を除く酸化物、窒化物、炭化物から選択した１成分以上の無機物材料を含有する前記磁気記録膜用スパッタリングターゲットに有効である。
　このように、本発明は、ＳｉＯ２を含有する多くの合金系、例えばＣｏ－Ｐｔ－ＳｉＯ２－Ｘ、Ｃｏ－Ｃｒ－Ｐｔ－ＳｉＯ２－Ｘ、Ｃｏ－Ｃｒ－ＳｉＯ２－Ｘ、Ｆｅ－Ｐｔ－ＳｉＯ２－Ｘに適用できる。
　このような磁気記録膜用スパッタリングターゲットの製造に際しては、ＳｉＯ２の粉末原料として非晶質ＳｉＯ２を使用し、原料自体から非晶質化を目途とすることが有効である。このＳｉＯ２の粉末原料と磁性金属粉末原料とを混合し、焼結温度を１１２０°Ｃ以下で焼結する。この焼結温度の低温化は、ＳｉＯ２の結晶化を抑制するのに有効である。また、高純度のＳｉＯ２を使用することにより、さらに結晶化を抑制することが可能となる。この意味で、４Ｎ以上、さらには５Ｎ以上の高純度のＳｉＯ２を使用することが望ましい。
　なお、以下に製造方法の詳細を説明するが、この製造方法は、代表的かつ好適な例を示すものである。すなわち、本発明は以下の製造方法に制限するものではなく、他の製造方法であっても、本願発明の目的と条件を達成できるものであれば、それらの製造法を任意に採用できることは容易に理解されるであろう。
　本発明の強磁性材スパッタリングターゲットは、粉末冶金法によって作製することができる。まず、各金属元素の粉末原料（磁性金属粉末原料）とＳｉＯ２粉末原料、さらに必要に応じて添加金属元素の粉末原料を用意する。これらの粉末原料は、最大粒径が２０μｍ以下のものを用いることが望ましい。
　また、各金属元素の粉末の代わりに、これら金属の合金粉末を用意してもよいが、その場合も最大粒径が２０μｍ以下とすることが望ましい。
　一方、小さ過ぎると、酸化が促進されて成分組成が範囲内に入らないなどの問題があるため、０．１μｍ以上とすることがさらに望ましい。
　そして、これらの金属粉末を所望の組成になるように秤量し、ボールミル等の公知の手法を用いて粉砕を兼ねて混合する。無機物粉末を添加する場合は、この段階で金属粉末と混合すればよい。
　無機物粉末としては炭素粉末、ＳｉＯ２以外の酸化物粉末、窒化物粉末または炭化物粉末を用意するが、無機物粉末は最大粒径が５μｍ以下のものを用いることが望ましい。一方、小さ過ぎると凝集しやすくなるため、０．１μｍ以上のものを用いることがさらに望ましい。
　また、ミキサーとしては、遊星運動型ミキサーあるいは遊星運動型攪拌混合機であることが好ましい。さらに、混合中の酸化の問題を考慮すると、不活性ガス雰囲気中あるいは真空中で混合することが好ましい。
　このようにして得られた粉末を、真空ホットプレス装置を用いて成型・焼結し、所望の形状へ切削加工することで、本発明の強磁性材スパッタリングターゲットが作製される。この場合、上記の通り、焼結温度を１１２０°Ｃ以下で焼結する。
　この焼結温度の低温化は、ＳｉＯ２の結晶化を抑制するのに必要な温度である。
　また、成型・焼結は、ホットプレスに限らず、プラズマ放電焼結法、熱間静水圧焼結法を使用することもできる。焼結時の保持温度はターゲットが十分緻密化する温度域のうち最も低い温度に設定するのが好ましい。ターゲットの組成にもよるが、多くの場合、９００～１１２０°Ｃの温度範囲とするのが良い。
　以下、実施例および比較例に基づいて説明する。なお、本実施例はあくまで一例であり、この例によって何ら制限されるものではない。すなわち、本発明は特許請求の範囲によってのみ制限されるものであり、本発明に含まれる実施例以外の種々の変形を包含するものである。
（実施例１）
　実施例１では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉末、平均粒径５μｍのＣｒ粉末、平均粒径１μｍのＰｔ粉末、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉末を用意した。これらの粉末をターゲットの組成が７８Ｃｏ－１２Ｃｒ－５Ｐｔ－５ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末７０．７６ｗｔ％、Ｃｒ粉末９．６ｗｔ％、Ｐｔ粉末１５．０１ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末４．６２ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　次に、Ｃｏ粉末とＣｒ粉末とＰｔ粉末とＳｉＯ２粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１００°Ｃ（ＳｉＯ２粉の結晶化を避けるため、１１２０°Ｃ以下の温度とした。）、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で切削加工して直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットを得た。
　クリストバライトのピーク強度は、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。この結果、２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３５となり、またバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。バックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．２６となった。
　この結果を、図１の下のＸＲＤの測定結果に示す。ＳｉＯ２原料はアモルファスであり、焼結後のターゲットには、２θ：２１．９８にクリストバライトのピークは現れなかった。対比として、同図の上に、下記比較例１のＸ線回折強度を示すが、２θ：２１．９８にクリストバライトのピークが現れた。以下の実施例及び比較例においても、図１に示すものと同様の結果となった。
　なお、測定装置としてリガク社製ＵｌｔｉｍａＩＶを用い、測定条件は管電圧４０ｋｖ、管電流３０ｍＡ、スキャンスピード４°／ｍｉｎ、ステップ０．０２°とした。
　又熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５°Ｃ／ｍｉｎにおいて、２５０°Ｃから３５０°Ｃまでの熱膨張係数変化率を測定した。２５０°Ｃから３５０°Ｃまで昇温時の熱膨張係数の変化率は３．６％であった。
　図２に、実施例１と下記比較例１のＣｏ－Ｃｒ－Ｐｔ－ＳｉＯ２ターゲットを用いてスパッタリングした場合の、ターゲットライフとパーティクル数の対比を行った結果を示す。スパッタリング条件は、パワー：１ｋＷ、時間２０秒、圧力（Ａｒ雰囲気）１．７Ｐａで実施した。
　実施例１のターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２．８個であった。また、スパッタリング開始時に発生する初期パーティクル数が３０個以下となる時間をバーンイン時間とした場合、バーンイン時間は０．３７ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。以下の実施例及び比較例においても、図２に示すものと、同様の結果となった。
（比較例１）
　比較例１では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉末、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が７８Ｃｏ－１２Ｃｒ－５Ｐｔ－５ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末７０．７６ｗｔ％、Ｃｒ粉末９．６ｗｔ％、Ｐｔ１５．０１ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末４．６２ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１６０°Ｃ、保持時間２時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　この製作したＣｏ－Ｃｒ－Ｐｔ－ＳｉＯ２ターゲットをＳｉ基板（ウエハ）へスパッタリングし、パーティクルの状況を調べた。基板上に成膜したウエハの断面とＥＤＸによる元素分析結果を図３に示す。この図３の左側はパーティクルを示すが、同図右の元素分析結果から明らかなように、ほぼ全てのパーティクルが、ＳｉＯ２であった。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。この結果を図２に示す。ＳｉＯ２原料はアモルファスであるが、焼結後のターゲットには、このように、２θ：２１．９８にクリストバライトのピークが現れた。下の線はＳｉＯ２原料のＸ線回折強度であり、参考までに示す。
　２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果、２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は５６となり、バックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．４２となった。これらは、実施例１に比べていずれも大きくなった。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は７．５％であり、実施例１に比べて大きくなり、体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生した。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は６．７個と増加した。また、スパッタリングのバーンイン時間は１．４２ｋＷｈであり、バーンインの時間が長くなった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が大きくなると、スパッタリングのバーンインの時間が長くなり、またスパッタ時のパーティクル発生数が増加する結果となった。
（比較例２）
　比較例２では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が８３Ｃｏ－１２Ｃｒ－５ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末８４．１１ｗｔ％、Ｃｒ粉末１０．７３ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末５．１７ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は１２９と大きくなり、またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．９２となり、これも増加した。この結果、実施例１に比べ殆どのＳｉＯ２が結晶化した。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は１１．２％であり、実施例１に比べて大きくなり、体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生した。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は８．７個と増加した。また、スパッタリングのバーンイン時間は１．７５ｋＷｈであり、バーンインの時間が長くなった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が大きくなると、スパッタリングのバーンインの時間が長くなり、またスパッタ時のパーティクル発生数が増加する結果となった。
（実施例２）
　実施例２では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が８３Ｃｏ－１２Ｃｒ－５ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末８４．１１ｗｔ％、Ｃｒ粉末１０．７３ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末５．１７ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１０６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３１となった。またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．１３となった。なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は５．５％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２．５個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．５３ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
（実施例３）
　実施例３では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径５μｍのＣｏ－Ｂ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が６６Ｃｏ－１５Ｃｒ－１２Ｐｔ－２Ｂ－５ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末５３．０５ｗｔ％、Ｃｒ粉末１０．６４ｗｔ％、Ｐｔ粉末３１．９３ｗｔ％、Ｂ粉末０．２９ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末４．１０ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度９００°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３０となり、またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．０４となった。なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は３．８％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は０．４個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．２１ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
（実施例４）
　実施例４では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径１μｍのＴｉＯ２粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉、平均粒径１μｍのＣｒ２Ｏ３粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が６７Ｃｏ－１０Ｃｒ－１５Ｐｔ－３ＴｉＯ２－２Ｓｉ０２－３Ｃｒ２Ｏ３（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末４８．０９ｗｔ％、Ｃｒ粉末６．３３ｗｔ％、Ｐｔ粉末３５．６４ｗｔ％、ＴｉＯ２粉末０．６９ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末０．６７ｗｔ％、Ｃｒ２Ｏ３粉末１．０７ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１０９０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３２であった。またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．１８となった。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は３．３％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．２ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
（比較例３）
　比較例３では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍのＴｉＯ２粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉、平均粒径１μｍのＣｒ２Ｏ３粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が８２Ｃｏ－１０Ｃｒ－３ＴｉＯ２－２ＳｉＯ２－３Ｃｒ２Ｏ３（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末７８．３５ｗｔ％、Ｃｒ粉末８．４３ｗｔ％、ＴｉＯ２粉３．８８ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末１．９５ｗｔ％、Ｃｒ２Ｏ３粉末７．３９ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３１７と大きくなり、またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は４．７１となり、これも増加した。この結果、実施例１に比べ殆どのＳｉＯ２が結晶化した。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は８．５％であり、実施例１に比べて大きくなり、体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生した。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は１３．５個と増加した。また、スパッタリングのバーンイン時間は２ｋＷｈであり、バーンインの時間が長くなった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が大きくなると、スパッタリングのバーンインの時間が長くなり、またスパッタ時のパーティクル発生数が増加する結果となった。
（比較例４）
　比較例４では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径１μｍのＴｉＯ２粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉、平均粒径１μｍのＣｒ２Ｏ３粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が６７Ｃｏ－１０Ｃｒ－１５Ｐｔ－３ＴｉＯ２－２ＳｉＯ２－３Ｃｒ２Ｏ３（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末４８．０９ｗｔ％、Ｃｒ粉末６．３３ｗｔ％、Ｐｔ粉末３５．６４ｗｔ％、ＴｉＯ２粉０．６９ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末０．６７ｗｔ％、Ｃｒ２Ｏ３粉末１．０７ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は６２と大きくなり、またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．５７となり、これも増加した。この結果、実施例１に比べ殆どのＳｉＯ２が結晶化した。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は７．６％であり、実施例１に比べて大きくなり、体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生した。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は７．２個と増加した。また、スパッタリングのバーンイン時間は１．４２ｋＷｈであり、バーンインの時間が長くなった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が大きくなると、スパッタリングのバーンインの時間が長くなり、またスパッタ時のパーティクル発生数が増加する結果となった。
（実施例５）
　実施例５では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径８μｍのＲｕ粉、平均粒径１μｍのＴｉＯ２粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉、平均粒径１μｍのＣｒ２Ｏ３粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が６７Ｃｏ－５Ｃｒ－１８Ｐｔ－２Ｒｕ－３ＴｉＯ２－２Ｓｉ０２－３Ｃｒ２Ｏ３（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末４５．１９ｗｔ％、Ｃｒ粉末２．９８ｗｔ％、Ｐｔ粉末４０．１９ｗｔ％、Ｒｕ粉末２．３１ｗｔ％、ＴｉＯ２粉末２．７４ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末１．３８ｗｔ％、Ｃｒ２Ｏ３粉末５．２２ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１０９０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３５であった。またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．２８となった。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は７．８％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２．２個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．５１ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
（比較例５）
　比較例５では、原料粉末として、平均粒径５μｍのＦｅ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が４５Ｆｅ－４５Ｐｔ－１０ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｆｅ粉末２１．１３ｗｔ％、Ｐｔ粉末７３．８２ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末５．０５ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は２２４と大きくなり、またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は３．４となり、これも増加した。この結果、実施例１に比べ殆どのＳｉＯ２が結晶化した。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は８．１％であり、実施例１に比べて大きくなり、体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生した。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は１０．１個と増加した。また、スパッタリングのバーンイン時間は２．１ｋＷｈであり、バーンインの時間が長くなった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が大きくなると、スパッタリングのバーンインの時間が長くなり、またスパッタ時のパーティクル発生数が増加する結果となった。
（実施例６）
　実施例６では、原料粉末として、平均粒径５μｍのＦｅ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が４５Ｆｅ－４５Ｐｔ－１０ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｆｅ粉末２１．１３ｗｔ％、Ｐｔ粉末７３．８２ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末５．０５ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１０９０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３０となった。またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．１２となった。なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は３．７％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２．７個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．６ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
（実施例７）
　実施例７では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径１μｍのＴｉＯ２粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が８４Ｃｏ－１０Ｐｔ－３ＴｉＯ２－３ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末６７．６２ｗｔ％、Ｐｔ粉末２６．６５ｗｔ％、ＴｉＯ２粉末３．２７ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末２．４６ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１０６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３０となった。またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．１１となった。なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は３．５％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２．４個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．４１ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
（比較例６）
　比較例６では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径１μｍのＴｉＯ２粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が８４Ｃｏ－１０Ｐｔ－３ＴｉＯ２－３ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末６７．６２ｗｔ％、Ｐｔ粉末２６．６５ｗｔ％、ＴｉＯ２粉３．２７ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末２．４６ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は５５と大きくなり、またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．４３となり、これも増加した。この結果、実施例１に比べ殆どのＳｉＯ２が結晶化した。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は８．３％であり、実施例１に比べて大きくなり、体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生した。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は７．１個と増加した。また、スパッタリングのバーンイン時間は１．２４ｋＷｈであり、バーンインの時間が長くなった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が大きくなると、スパッタリングのバーンインの時間が長くなり、またスパッタ時のパーティクル発生数が増加する結果となった。
（実施例８）
　実施例８では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径１μｍのＴａ２Ｏ５粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が７２Ｃｏ－８Ｃｒ－１３Ｐｔ－５Ｔａ２Ｏ５－２Ｓｉ０２（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末４４．５５ｗｔ％、Ｃｒ粉末４．３７ｗｔ％、Ｐｔ粉末２６．６３ｗｔ％、Ｔａ２Ｏ５粉末２３．２ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末１．２６ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１０６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３２であった。またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．１８となった。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は３．６％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２．２個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．２１ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
（比較例７）
　比較例７では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径１μｍのＴａ２Ｏ５粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が７２Ｃｏ－８Ｃｒ－１３Ｐｔ－５Ｔａ５Ｏ２－２ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末４４．５５ｗｔ％、Ｃｒ粉末４．３７ｗｔ％、Ｐｔ粉末２６．６３ｗｔ％、Ｔａ２Ｏ５粉２３．２ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末１．２６ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は１０９と大きくなり、またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は２．８１となり、これも増加した。この結果、実施例１に比べ殆どのＳｉＯ２が結晶化した。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は７．７％であり、実施例１に比べて大きくなり、体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生した。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は９．１個と増加した。また、スパッタリングのバーンイン時間は１．８３ｋＷｈであり、バーンインの時間が長くなった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が大きくなると、スパッタリングのバーンインの時間が長くなり、またスパッタ時のパーティクル発生数が増加する結果となった。
（実施例９）
　実施例９では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径５μｍのＣｏ－Ｂ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉、平均粒径１μｍのＣｏＯ粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が７１Ｃｏ－５Ｃｒ－１２Ｐｔ－３Ｂ－４Ｓｉ０２－５ＣｏＯ（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末５６．３０ｗｔ％、Ｃｒ粉末３．５０ｗｔ％、Ｐｔ粉末３１．５０ｗｔ％、Ｂ粉末０．４４ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末３．２３ｗｔ％、ＣｏＯ粉末５．０４ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１０９０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３３であった。またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．２１となった。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は３．６％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２．６個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．４７ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
（比較例８）
　比較例８では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径５μｍのＣｏ－Ｂ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉、平均粒径○μｍのＣｏＯ粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が７１Ｃｏ－５Ｃｒ－１２Ｐｔ－３Ｂ－４ＳｉＯ２－５ＣｏＯ（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末５６．３０ｗｔ％、Ｃｒ粉末３．５０ｗｔ％、Ｐｔ粉末３１．５０ｗｔ％、Ｂ粉０．４４ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末３．２３ｗｔ％、ＣｏＯ粉末５．０４ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は６４と大きくなり、またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．６７となり、これも増加した。この結果、実施例１に比べ殆どのＳｉＯ２が結晶化した。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は７．４％であり、実施例１に比べて大きくなり、体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生した。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は９．８個と増加した。また、スパッタリングのバーンイン時間は１．３７ｋＷｈであり、バーンインの時間が長くなった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が大きくなると、スパッタリングのバーンインの時間が長くなり、またスパッタ時のパーティクル発生数が増加する結果となった。
（実施例１０）
　実施例１０では、原料粉末として、平均粒径５μｍのＦｅ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径５μｍのＡｕ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が４０Ｆｅ－４０Ｐｔ－１０Ａｕ－１０ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｆｅ粉末１７．７２ｗｔ％、Ｐｔ粉末６１．８９ｗｔ％、Ａｕ粉末１５．６２ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末４．７７ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１０９０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３１となった。またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．１３となった。なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は３．４％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２．６個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．５２ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
（比較例９）
　比較例９では、原料粉末として、平均粒径５μｍのＦｅ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径５μｍのＡｕ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が４０Ｆｅ－４０Ｐｔ－１０Ａｕ－１０ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｆｅ粉末１７．７２ｗｔ％、Ｐｔ粉末６１．８９ｗｔ％、Ａｕ粉末１５．６２ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末４．７７ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は７０と大きくなり、またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．８６となり、これも増加した。この結果、実施例１に比べ殆どのＳｉＯ２が結晶化した。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は８．１％であり、実施例１に比べて大きくなり、体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生した。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は９．２個と増加した。また、スパッタリングのバーンイン時間は１．７８ｋＷｈであり、バーンインの時間が長くなった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が大きくなると、スパッタリングのバーンインの時間が長くなり、またスパッタ時のパーティクル発生数が増加する結果となった。
（実施例１１）
　実施例１１では、原料粉末として、平均粒径５μｍのＦｅ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径５μｍのＣｕ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が４１Ｆｅ－４１Ｐｔ－８Ｃｕ－１０ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｆｅ粉末１８．８７ｗｔ％、Ｐｔ粉末６４．１７ｗｔ％、Ｃｕ粉末１２．６４ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末４．８２ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１０９０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３３となった。またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．２となった。なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は３．５％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２．３個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．４５ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
（比較例１０）
　比較例１０では、原料粉末として、平均粒径５μｍのＦｅ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径５μｍのＣｕ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が４１Ｆｅ－４１Ｐｔ－８Ｃｕ－１０ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｆｅ粉末１８．８７ｗｔ％、Ｐｔ粉末６４．１７ｗｔ％、Ｃｕ粉末１２．６４ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末４．８２ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は４７と大きくなり、またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．７３となり、これも増加した。この結果、実施例１に比べ殆どのＳｉＯ２が結晶化した。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は７．９％であり、実施例１に比べて大きくなり、体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生した。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は６．９個と増加した。また、スパッタリングのバーンイン時間は１．３４ｋＷｈであり、バーンインの時間が長くなった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が大きくなると、スパッタリングのバーンインの時間が長くなり、またスパッタ時のパーティクル発生数が増加する結果となった。
（実施例１２）
　実施例１２では、原料粉末として、平均粒径５μｍのＦｅ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径５μｍのＡｇ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が４５Ｆｅ－４５Ｐｔ－２Ａｇ－８ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｆｅ粉末２０．９６ｗｔ％、Ｐｔ粉末７３．２３ｗｔ％、Ａｇ粉末１．８ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末４．０１ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１０９０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３２となった。またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．１８となった。なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は３．６％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２．１個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．３９ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
（比較例１１）
　比較例１１では、原料粉末として、平均粒径５μｍのＦｅ粉、平均粒径１μｍのＰｔ粉、平均粒径５μｍのＡｇ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が４５Ｆｅ－４５Ｐｔ－２Ａｇ－８ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｆｅ粉末２０．９６ｗｔ％、Ｐｔ粉末７３．２３ｗｔ％、Ａｇ粉末１．８ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末４．０１ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は１３４と大きくなり、またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は２．０２となり、これも増加した。この結果、実施例１に比べ殆どのＳｉＯ２が結晶化した。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は７．８％であり、実施例１に比べて大きくなり、体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生した。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は１０．１個と増加した。また、スパッタリングのバーンイン時間は１．９１ｋＷｈであり、バーンインの時間が長くなった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が大きくなると、スパッタリングのバーンインの時間が長くなり、またスパッタ時のパーティクル発生数が増加する結果となった。
（実施例１３）
　実施例１３では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が４５Ｃｏ－４０Ｃｒ－１５ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末４７．０８ｗｔ％、Ｃｒ粉末３６．９２ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末１６．００ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１０６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は３２となった。またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．１５となった。なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は６．１％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２．４個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．７４ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
（比較例１２）
　比較例１２では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が４５Ｃｏ－４０Ｃｒ－１５ＳｉＯ２（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末４７．０８ｗｔ％、Ｃｒ粉末３６．９２ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末１６．００ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１１６０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は１６１と大きくなり、またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は２．４１となり、これも増加した。この結果、実施例１に比べ殆どのＳｉＯ２が結晶化した。
　なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は９．２％であり、実施例１に比べて大きくなり、体積変化を発生し、この体積変化により、ターゲット中にマイクロクラックが発生した。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は１１．１個と増加した。また、スパッタリングのバーンイン時間は２．３２ｋＷｈであり、バーンインの時間が長くなった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が大きくなると、スパッタリングのバーンインの時間が長くなり、またスパッタ時のパーティクル発生数が増加する結果となった。
（実施例１４）
　実施例１４では、原料粉末として、平均粒径３μｍのＣｏ粉、平均粒径５μｍのＣｒ粉、平均粒径１μｍのＴｉＯ２粉、平均粒径１μｍの非晶質ＳｉＯ２粉、平均粒径１μｍのＣｒ２Ｏ３粉を用意した。これらの粉末をターゲット組成が８２Ｃｏ－１０Ｃｒ－３ＴｉＯ２－２ＳｉＯ２－３Ｃｒ２Ｏ３（ｍｏｌ％）となるように、Ｃｏ粉末７８．３５ｗｔ％、Ｃｒ粉末８．４３ｗｔ％、ＴｉＯ２粉３．８８ｗｔ％、ＳｉＯ２粉末１．９５ｗｔ％、Ｃｒ２Ｏ３粉末７．３９ｗｔ％の重量比率で秤量した。
　そして、これらの粉末を、粉砕媒体のジルコニアボールと共に容量１０リットルのボールミルポットに封入し、２０時間回転させて混合した。
　次に、この混合粉をカーボン製の型に充填し、真空雰囲気中、温度１０９０°Ｃ、保持時間３時間、加圧力３０ＭＰａの条件のもとホットプレスして、焼結体を得た。さらにこれを旋盤で直径が１８０ｍｍ、厚さが７ｍｍの円盤状のターゲットへ加工した。
　クリストバライトのピーク強度は、実施例１と同様に、ターゲットの一部を切出し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）法により、Ｘ線回折強度を測定した。すなわち２θ：２１．９８°に出現するピーク強度及びバックグラウンド強度（（（２０．５～２１．５°の強度の平均値）＋（２２．５～２３．５°の強度の平均値））÷２）を測定した。この結果２θ：２１．９８°に出現するピーク強度は４０となった。またバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）は１．２０となった。なお、測定装置、測定条件は実施例１と同様とした。
　又、熱膨張係数の変化率は、ターゲットから２０ｍｍ×３ｍｍ×３ｍｍを切出し、実施例１と同様に、リガク社製Ｔｈｅｒｍｏ　ｐｌｕｓ２　ＴＭＡ８３１０を用いて、昇温速度５℃／ｍｉｎにおいて、２５０℃から３５０℃までの熱膨張係数変化率を測定した。２５０℃から３５０℃まで昇温時の熱膨張係数の変化率は３．２％であった。
　このターゲットを用いてスパッタリングした結果、定常状態時のパーティクル発生数は２．６個であった。また、スパッタリングのバーンイン時間は０．５２ｋＷｈであった。このように、クリストバライト（結晶化したＳｉＯ２）のピーク強度が低い場合には、バーンインが短縮化され、パーティクル発生数は少ない結果となった。
　以上の結果をまとめたものが表１である。表１に示すように、本発明のスパッタリングターゲットの実施例は、いずれもクリストバライトのピーク強度比が１．４０以下と本発明の範囲内であり、比較例に比べて常にスパッタリング時に発生するパーティクルが少なく、スパッタリングのバーンイン時間が短縮する結果が得られた。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 　
　本発明の磁気記録膜用スパッタリングターゲットターゲットは、ターゲットのマイクロクラックの発生を抑制すると共に、スパッタリング中のパーティクル発生を抑制し、かつバーンイン時間の短縮化が可能であるという優れた効果を有する。このようにパーティクル発生が少ないので、磁気記録膜の不良率が減少し、コスト低減化になるという大きな効果を有する。また、前記バーンイン時間の短縮化は、生産効率の向上に大きく貢献するものである。
　これにより、磁気記録媒体の磁性体薄膜、特にハードディスクドライブ記録層の成膜に使用される強磁性材スパッタリングターゲットとして有用である。

Claims (8)

  1. 　ＳｉＯ２を含有する磁気記録膜用スパッタリングターゲットであって、Ｘ線回折におけるバックグラウンド強度に対する結晶化したＳｉＯ２であるクリストバライトのピーク強度比（クリストバライトピーク強度／バックグラウンド強度）が１．４０以下であることを特徴とする磁気記録膜用スパッタリングターゲット。
  2. 　ＳｉＯ２を含有する磁気記録膜用スパッタリングターゲットであって、２５０°Ｃから３５０°Ｃまで昇温時の熱膨張係数の変化率が７%以下であることを特徴とする請求項１に記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲット。
  3. 　Ｃｒが５０ｍｏｌ％以下、ＳｉＯ２が２０ｍｏｌ％以下、残余がＣｏであることを特徴とする請求項１又は２記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲット。
  4. 　Ｃｒが５０ｍｏｌ％以下、Ｐｔが５０ｍｏｌ％以下、ＳｉＯ２が２０ｍｏｌ％以下、残余がＣｏであることを特徴とする請求項１又は２記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲット。
  5. 　Ｐｔが５ｍｏｌ％以上６０ｍｏｌ％以下、ＳｉＯ２が２０ｍｏｌ％以下、残余がＦｅであることを特徴とする請求項１又は２記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲット。
  6. 　添加元素として、Ｂ、Ｔｉ、Ｖ、Ｍｎ、Ｚｒ、Ｎｂ、Ｒｕ、Ｍｏ、Ｔａ、Ｗ、Ａｕ、Ｃｕ、Ａｇから選択した１元素以上を、０．０１ｍｏｌ％以上１０ｍｏｌ％以下含有することを特徴とする請求項１～５のいずれか一項に記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲット。
  7. 　添加材料として、炭素、ＳｉＯ２を除く酸化物、窒化物、炭化物から選択した１成分以上の無機物材料を含有することを特徴とする請求項１～６のいずれか一項に記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲット。
  8. 　ＳｉＯ２の粉末原料として非晶質ＳｉＯ２を使用し、このＳｉＯ２の粉末原料と磁性金属粉末原料とを混合し、焼結温度を１１２０°Ｃ以下で焼結することを特徴とする請求項１～７のいずれか一項に記載の磁気記録膜用スパッタリングターゲットの製造方法。
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