TWI555866B - Magnetic particle sputtering target and its manufacturing method - Google Patents

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Description

強磁性材濺鍍靶及其製造方法
本發明係關於一種磁記錄媒體之磁體薄膜(特別是採用垂直磁記錄方式之硬碟的磁記錄層)之成膜所使用的強磁性材濺鍍靶，並關於一種可抑制導致濺鍍時產生顆粒(particle)之氧化物之異常放電的非磁性材粒子分散型強磁性材濺鍍靶及其製造方法。
濺鍍裝置有各種方式，但於上述磁記錄膜之成膜中，就生產性高之方面而言，廣泛使用具備DC電源之磁控濺鍍裝置。所謂濺鍍法，係指使成為正電極之基板與成為負電極之靶相對向，在惰性氣體環境下，於該基板與靶之間施加高電壓而產生電場者。
此時，惰性氣體會發生電離，形成由電子及陽離子所構成之電漿，若該電漿中之陽離子撞擊靶(負電極)之表面，則構成靶之原子會被擊出，該擊出之原子會附著於相對向之基板表面而形成膜。係使用藉由上述一連串動作而使構成靶之材料於基板上成膜之原理者。
另一方面，若觀察磁性材料之相關開發，則於以硬碟驅動器為代表之磁記錄之領域，係使用以強磁性金屬Co、Fe或Ni為基礎之材料作為用以記錄之磁性薄膜的材料。例如，於採用面內磁記錄方式之硬碟之記錄層中使用以Co為主成分之Co-Cr系或Co-Cr-Pt系之強磁性合金。
又，近年來，於採用已實用化之垂直磁記錄方式之硬碟的記錄層中，大多使用由以Co為主成分之Co-Cr-Pt系強磁性合金與非磁性之無機物所構成的複合材料。
並且，就生產性高之方面而言，硬碟等磁記錄媒體之磁性薄膜大多係對以上述材料為成分之強磁性材濺鍍靶進行濺鍍而製作。
此種強磁性材濺鍍靶之製作方法，考慮有熔解法或粉末冶金法。使用何種方法來製作取決於所要求之特性，故不可一概而論，但垂直磁記錄方式之硬碟之記錄層所使用的由強磁性合金與非磁性之無機物粒子所構成的濺鍍靶，一般係藉由粉末冶金法來製作。其原因在於：由於必須使無機物粒子均勻地分散於合金基材中，故難以使用熔解法製作。
例如，提出有如下之方法：對具有以急冷凝固法所製作之合金相的合金粉末與構成陶瓷相的粉末進行機械合金化，將構成陶瓷相之粉末均勻地分散於合金粉末中，藉由熱壓加以成形，而得到磁記錄媒體用濺鍍靶(專利文獻1)。
此時之靶組織，係呈基材結合成魚白(鱈魚之精子)狀，而SiO2(陶瓷)圍繞在其周圍的樣子(專利文獻1之圖2)、或分散成細線狀(專利文獻1之圖3)的樣子。其他之圖雖然不清晰，但推測為相同的組織。此種組織，會有後述的問題，並不能說是好的磁記錄媒體用濺鍍靶。另，專利文獻1之圖4所示之球狀物質為機械合金化粉末，並非靶之組織。
又，即使不使用以急冷凝固法所製作之合金粉末，對於構成靶之各成分亦可準備市售之原料粉末，將其等之原料粉秤量成所欲之組成，然後以球磨機等周知手法加以混合，再藉由熱壓對混合粉末進行成型、燒結，藉此可製作強磁性材濺鍍靶。
又例如提出有如下之方法：將Co粉末、Cr粉末、TiO2粉末及SiO2粉末混合所得之混合粉末與Co球形粉末利用行星運動型混合機加以混合，並將該混合粉藉由熱壓進行成形而獲得磁記錄媒體用濺鍍靶(專利文獻2)。
該情形時之靶組織，可觀察到於均勻分散有無機物粒子之金屬基材即相(A)中含有球形相(B)之狀態(專利文獻2之圖1)。
關於此種組織，在提高漏磁通之方面良好，但就抑制濺鍍時之顆粒產生之方面而言，稱不上是好的磁記錄媒體用濺鍍靶。
又提出有如下方法：混合Co-Cr二元系合金粉末、Pt粉末及SiO2粉末，對所獲得之混合粉末進行熱壓，藉此而獲得磁記錄媒體薄膜形成用濺鍍靶(專利文獻3)。
該情形時之靶組織雖未圖示，但記載有觀察到Pt相、SiO2相及Co-Cr二元系合金相，且於Co-Cr二元系合金層之周圍可觀察到擴散層。此種組織亦稱不上是好的磁記錄媒體用濺鍍靶。
除上述之外，在磁性材料的開發上提出有若干個報告。例如，於專利文獻4，提出一種具有SiC與SiOx(x：1～2)之垂直磁記錄媒體。又，於專利文獻5，記載一種含有Co、Pt、第1金屬氧化物、第2金屬氧化物、第3金屬氧化物之磁性材靶。
又，於專利文獻6，提出一種由Co、Pt之母相與金屬氧化物相所構成的濺鍍靶，提出抑制結晶粒之成長，可得到低磁導率、高密度之靶，使成膜效率提升。
又，於專利文獻7，記載有一種強磁性體材料以Co、Fe為主成分，並選自氧化物、氮化物、碳化物、矽化物，將非磁性材料之形狀加以特定的非磁性材粒子分散型強磁性材濺鍍靶。
又，於專利文獻8，則記載一種於Co-Cr合金之強磁性體材料中，分散有由氧化物所構成之非磁性材粒子的非磁性材粒子分散型強磁性材濺鍍靶，並記載其粒徑被微細規定的濺鍍靶。又，於專利文獻9，記載有一種粒狀構造之磁性膜。
如上述，提出有於Co-Cr-Pt-氧化物等之非磁性材粒子分散型強磁性材濺鍍靶中，使用SiO2或Cr2O3、TiO2作為氧化物，並且亦提出將氧化物之形狀加以特定。然而，由於此等氧化物為絕緣體，因而會導致異常放電。於是，因該異常放電的關係，故在濺鍍時產生顆粒將會成為問題。
迄今為止雖然藉由減小氧化物之粒徑，以減低異常放電之機率，但是由於隨著磁記錄媒體之記錄密度提升，所容許之顆粒程度越趨嚴格，因此目前要求進一步的改善。
專利文獻1：日本特開平10-88333號公報
專利文獻2：日本特願2010-011326
專利文獻3：日本特開2009-1860號公報
專利文獻4：日本特開2006-127621號公報
專利文獻5：日本特開2007-4957號公報
專利文獻6：日本特開2009-102707號公報
專利文獻7：日本再公表特許WO2007/080781
專利文獻8：國際公開WO2009/119812A1
專利文獻9：日本特開2001-76329號公報
一般而言，Co-Cr-Pt-氧化物等之非磁性材粒子分散型強磁性材濺鍍靶中所含有之SiO2、Cr2O3、TiO2等氧化物由於為絕緣體，因而會導致異常放電。於是，因該異常放電的關係，故在濺鍍時產生顆粒將會成為問題。
本發明有鑑於上述問題，其課題為抑制氧化物之異常放電，減少因異常放電所導致之濺鍍時產生顆粒。迄今為止雖然藉由減小氧化物之粒徑，以減低異常放電之機率，但是隨著磁記錄媒體之記錄密度提升，所容許之顆粒程度越趨嚴格，因此以提供進一步獲得改善之非磁性材粒子分散型強磁性材濺鍍靶為課題。
為了解決上述課題，本發明人等經潛心研究的結果，發現藉由調整靶之組成及組織構造，可使濺鍍時不會產生因氧化物所導致之異常放電，可得到顆粒產生少之靶。
根據此種見解，本發明提供：
1)一種強磁性材濺鍍靶，其組成為Cr：20mol%以下、Pt：5～30mol%、SiO2：5～15mol%、Sn：0.05～0.60mol%、剩餘部分為Co，其特徵在於：在分散於金屬基材(A)中之SiO2粒子(B)中，含有前述Sn。
又，本發明提供：
2)如上述第1項之強磁性材濺鍍靶，其中，除了前述SiO2以外，進一步含有5～15mol%之選自TiO2、Ti2O3、Cr2O3、Ta2O5、Ti5O9、B2O3、CoO、Co3O4中之一種以上的氧化物，此等氧化物分散於金屬基材(A)中，且在此等氧化物中含有Sn。
並且，本發明提供：
3)如上述第1或2項之強磁性材濺鍍靶，其含有0.5～10mol%之選自Ru、B、Ta中之一種以上的元素。
4)如上述第1至3項中任一項之強磁性材濺鍍靶，其相對密度在97%以上。
並且，本發明提供：
5)一種強磁性材濺鍍靶之製造方法，以使組成為Cr：20mol%以下、Pt：5～30mol%、SiO2：5～15mol%、Sn：0.05～0.60mol%、剩餘部分為Co的方式，預先調合SiO2粉與SnO2粉或Sn粉並加以混合後，進一步於此混合粉混合同樣以成為上述組成之方式調合而成的Co粉、Cr粉、Pt粉，對此等之混合粉進行熱壓，而得到SiO2粒子(B)分散於燒結金屬基材(A)中且在該分散之SiO2粒子(B)中含有前述Sn之組織的燒結體。
並且，本發明提供：
6)如上述第5項之強磁性材濺鍍靶之製造方法，其中，除了前述SiO2以外，進一步添加5～15mol%之選自TiO2、Ti2O3、Cr2O3、Ta2O5、Ti5O9、B2O3、CoO、Co3O4中之一種以上的氧化物，而得到此等氧化物分散於燒結金屬基材(A)中且在此等氧化物中含有Sn之組織的燒結體。
並且，本發明提供：
7)如上述第5或6項之強磁性材濺鍍靶之製造方法，其添加0.5～10mol%之選自Ru、B、Ta中之一種以上的元素，進行燒結。
經上述方式調整過之本發明之非磁性材粒子分散型的強磁性材濺鍍靶，在濺鍍時不會產生因氧化物所導致之異常放電，可得到顆粒產生少之靶。
並且具有下述優異之效果：可抑制氧化物之異常放電，能減少因異常放電所導致之濺鍍時產生顆粒，可得到因產率提升而使成本獲得改善之效果。
構成本發明之強磁性材濺鍍靶的主要成分，係由Cr：20mol%以下、Pt：5～30mol%、SiO2：5～15mol%、Sn：0.05～0.60mol%、剩餘部分為Co之組成的金屬構成。此等之Cr量、Pt量、Co量分別為作為強磁性材濺鍍靶亦即用以保有強磁性材薄膜之特性的有效量。
另，Cr係作為必需成分而添加者，0mol%除外。亦即，至少含有可分析之下限值以上的Cr量。若Cr量在20mol%以下，則即使於微量添加之情形時亦具有效果。本發明包含此等。該等係作為磁記錄媒體所必需之成分，摻合比例可於上述範圍內作各種調整，但任一種均可維持作為有效磁記錄媒體之特性。
於上述中，強磁性材濺鍍靶可藉由下述方式製作：預先將SiO2粉與SnO2粉或Sn粉調合成上述組成並加以混合後，進一步於此混合粉混合同樣以成為上述組成之方式調合而成的Co粉、Cr粉、Pt粉，對此等之混合粉進行熱壓。
於本發明中，重要的是得到SiO2粒子(B)分散於燒結金屬基材(A)中且在該分散之SiO2粒子(B)中含有前述Sn之組織的燒結體。
一般而言，當於Co-Cr-Pt系之強磁性體添加有SiO2時，SiO2在燒結體濺鍍靶中係以粒子的形式存在，但由於SiO2為絕緣體，故當單獨存在時，會成為誘發電弧(異常放電)的原因。因此於本發明中，將具有導電性之Sn導入於SiO2，以降低電阻，抑制因氧化物所導致之異常放電。
將SiO2的量定在5mol%以上、15mol%以下，係由於此為具有良好磁特性之一般範圍的緣故。
Sn之添加可單獨，或即使是複合添加亦具有效果。另，單獨添加意指以SnO2粉或Sn粉添加，而複合添加則意指以SiO2粉與SnO2粉或SiO2粉與Sn粉的混合粉添加。其有效添加量為0.05～0.60mol%之範圍。若未達下限值，則將不會有對SiO2賦予導電性的效果，又若超過上限值，則會對濺鍍膜之磁特性造成影響，而有無法得到所欲特性之虞。
除了前述SiO2以外，可進一步含有5～15mol%之選自TiO2、Ti2O3、Cr2O3、Ta2O5、Ti5O9、B2O3、CoO、Co3O4中之一種以上的氧化物。
此等氧化物分散於金屬基材(A)中，且亦可使此等氧化物中與前述SiO2同樣地含有Sn。此等氧化物可視所需之強磁性膜的種類，任意地加以選擇添加。前述添加量為用以發揮添加效果之有效量。
並且，本發明之強磁性材濺鍍靶可添加0.5～10mol%之選自Ru、B、Ta中之一種以上的元素。此等元素係為了提升作為磁記錄媒體之特性而視需要所添加的元素。前述添加量為用以發揮添加效果之有效量。
本發明之強磁性材濺鍍靶宜使相對密度在97%以上。一般而言，已知為越高密度之靶，越可減低濺鍍時所產生之顆粒的量。
於本發明中亦同樣地較佳為高密度。於本發明，可達成相對密度97%以上。
於本發明中，相對密度係指靶之實測密度除以計算密度(亦稱為理論密度)所求得之值。計算密度係指假設靶的構成成分不會相互擴散或反應下混合存在時的密度，以下式來計算。
式：計算密度=sigmaΣ(構成成分之分子量×構成成分之莫耳比)/Σ(構成成分之分子量×構成成分之莫耳比/構成成分之文獻值密度)
此處之Σ意指對靶所有的構成成分取總和。
經上述方式調整過之靶，在濺鍍時不會產生因氧化物所導致之電弧(異常放電)，可得到顆粒產生少之靶。
並且如上述，藉由添加Sn賦予SiO2粒子導電性，可防止異常放電之產生，具有可減低會導致產率下降之顆粒的產生量的效果。
本發明之強磁性材濺鍍靶可藉由粉末冶金法製作。此情形時，首先準備各金屬元素之粉末與進一步視需要之添加金屬元素之粉末。此等之粉末宜使用最大粒徑在20μm以下者。又，亦可準備此等金屬之合金粉末來代替各金屬元素之粉末，但此情形時最大粒徑亦宜在20μm以下。
另一方面，若過小，則由於會促進氧化而有成分組成不在範圍內等的問題，因此更加宜在0.1μm以上。
然後，秤量此等金屬粉末及合金粉末成為所欲之組成，使用球磨機等公知方法同時進行粉碎及混合。於添加SiO2以外之氧化物粉末的情形時，可在此階段與金屬粉末及合金粉末混合。
SiO2以外之氧化物粉末宜使用最大粒徑在5μm以下者。另一方面，若過小時，則由於容易凝聚，因此更加宜使用0.1μm以上者。
又，混合機較佳為行星運動型混合機或行星運動型攪拌混合機。並且，若考慮混合時氧化的問題，則較佳在惰性氣體環境中或真空中進行混合。
並且，下述方法是有效的，亦即以使組成為Cr：20mol%以下、Pt：5～30mol%、SiO2：5～15mol%、Sn：0.05～0.60mol%、剩餘部分為Co的方式，預先調合SiO2粉與SnO2粉或Sn粉並加以混合後，進一步於此混合粉混合同樣以成為上述組成之方式調合而成的Co粉、Cr粉、Pt粉，可使用真空熱壓裝置對以上述方式所得之粉末進行成型、燒結，然後切削加工成所欲之形狀，藉此製作本發明之強磁性材濺鍍靶。
於燒結體靶中，優先分散於金屬基材相之SiO2粒含有添加之Sn或SnO2，而使SiO2粒之電阻下降。可使添加後之電阻在5.5×1016Ω‧cm以下。
未添加Sn或SnO2時的電阻會超過5.5×1016Ω‧cm，而會以絕緣物質的形態作用，因而成為引起異常放電的原因，但是本發明可消除此現象，顯著地減少電弧(異常放電)的發生。
前述成型、燒結並不限定於熱壓，亦可使用電漿放電燒結法、熱靜水壓燒結法(hot hydrostatic pressure sintering method)。燒結時之保持溫度較佳為設定在使靶充分緻密化之溫度區域內最低的溫度。雖亦取決於靶之組成，但多數情況係在900～1200℃之溫度範圍內。
於上述中，雖然是對Co-Cr-Pt系之強磁性體加以說明，但是對於Co-Pt系之強磁性體，亦可藉由同樣的成分組成與製造方法，來得到同等的效果。
實施例
以下，基於實施例及比較例進行說明。再者，本實施例僅為一例，並不受到該例任何限制。亦即，本發明僅受到申請專利範圍限制，包括本發明所含之實施例以外的各種變形。
(實施例1)
於實施例1，預先秤量平均粒徑1μm之SiO2粉末與平均粒徑1μm之SnO2粉末成為SiO2粉末95wt%、SnO2粉末5wt%，作為原料粉末，藉由球磨機混合1小時，得到SiO2-SnO2混合粉末。以Co粉末70.56wt%、Cr粉末9.59wt%、Pt粉末14.99wt%、SiO2-SnO2混合粉末4.86wt%之重量比率秤量此混合粉末、平均粒徑3μm之Co粉末、平均粒徑5μm之Cr粉末、平均粒徑3μm之Pt粉末，使靶的組成成為78Co-12Cr-5Pt-5SiO2-0.1SnO2(mol%)。
接著，將Co粉末、Cr粉末、Pt粉末及SiO2-SnO2混合粉末，與粉碎介質之二氧化鋯磨球(zirconia ball)一起封閉在容量10公升的球磨鍋(ball mill pot)，旋轉20小時進行混合。
將此混合粉填充於碳製模具，於真空環境中，以溫度1100℃、保持時間3小時、加壓力30MPa之條件進行熱壓，獲得燒結體。進一步藉由車床對其切削加工而獲得直徑為180mm、厚度為7mm之圓盤狀靶。
使用此靶進行濺鍍的結果，穩定狀態時之顆粒發生數為2.8個。又，相對密度為98.5%，得到超過97%之高密度靶。
又，為了測量混合粉之電阻，將平均粒徑1μm之SiO2粉末95wt%與平均粒徑1μm之SnO2粉末5wt%封閉在容量10公升的球磨鍋，旋轉1小時進行混合。將此混合粉填充於碳製模具，於真空環境中、溫度1100℃、保持時間3小時、加壓力30MPa之條件下進行熱壓而獲得燒結體，測量此時之電阻，結果為4.0×1016Ω‧cm。
(比較例1)
於比較例1，準備平均粒徑3μm之Co粉、平均粒徑5μm之Cr粉、平均粒徑1μm之Pt粉、平均粒徑1μm之SiO2粉，作為原料粉末。以Co粉末70.76wt%、Cr粉末9.60wt%、Pt粉末15.01wt%、SiO2粉末4.62wt%之重量比率秤量此等粉末，使靶組成成為78Co-12Cr-5Pt-5SiO2(mol%)。
然後，將此等粉末與粉碎介質之二氧化鋯磨球一起封閉在容量10公升的球磨鍋，旋轉20小時進行混合。
接著，將此混合粉填充於碳製模具，於真空環境中、溫度1100℃、保持時間2小時、加壓力30MPa之條件下進行熱壓，而獲得燒結體。進一步以車床將其加工成直徑為180mm、厚度為7mm之圓盤狀靶。
使用此靶進行濺鍍的結果，穩定狀態時之顆粒發生數增加至6.7個。另，相對密度為98.0%，得到超過97%之高密度靶。
另，於上述實施例中，雖然是顯示添加SiO2之例，但即使是進一步添加選自TiO2、Ti2O3、Cr2O3、Ta2O5、Ti5O9、B2O3、CoO、Co3O4中之一種以上之氧化物的情形，亦可得到與添加SiO2之情形時同等的效果，又，確認當含有0.5～10mol%之選自Ru、B、Ta中之一種以上的元素時，可進一步提升作為磁記錄媒體之特性。
產業上之可利用性
本發明調整強磁性材濺鍍靶之組織構造，而可使濺鍍時不會產生因氧化物所導致之異常放電，可減少產生顆粒。因此若使用本發明之靶，則在以磁控濺鍍裝置進行濺鍍時可得到穩定之放電。並且由於具有下述優異之效果：可抑制氧化物之異常放電、減少因異常放電所導致之濺鍍時產生顆粒、可得到因產率提升而使成本獲得改善之效果，因此適用作為磁記錄媒體之磁體薄膜(特別是硬碟驅動器記錄層)之成膜所使用的強磁性材濺鍍靶。

Claims (8)

  1. 一種強磁性材濺鍍靶，其組成為Cr：20mol%以下、Pt：5~30mol%、SiO2：5~15mol%、Sn：0.05~0.60mol%、剩餘部分為Co，其特徵在於：在分散於金屬基材(A)中之SiO2粒子(B)中，含有該Sn。
  2. 如申請專利範圍第1項之強磁性材濺鍍靶，其中，除了該SiO2以外，進一步含有5~15mol%之選自TiO2、Ti2O3、Cr2O3、Ta2O5、Ti5O9、B2O3、CoO、Co3O4中之一種以上的氧化物，此等氧化物分散於金屬基材(A)中，且在此等氧化物中含有Sn。
  3. 如申請專利範圍第1或2項之強磁性材濺鍍靶，其含有0.5~10mol%之選自Ru、B、Ta中之一種以上的元素。
  4. 如申請專利範圍第1或2項之強磁性材濺鍍靶，其相對密度在97%以上。
  5. 如申請專利範圍第3項之強磁性材濺鍍靶，其相對密度在97%以上。
  6. 一種強磁性材濺鍍靶之製造方法，以使組成為Cr：20mol%以下、Pt：5~30mol%、SiO2：5~15mol%、Sn：0.05~0.60mol%、剩餘部分為Co的方式，預先調合SiO2粉與SnO2粉或Sn粉並加以混合後，進一步於此混合粉混合同樣以成為上述組成之方式調合而成的Co粉、Cr粉、Pt粉，對此等之混合粉進行熱壓，而得到SiO2粒子(B)分散於燒結金屬基材(A)中且在該分散之SiO2粒子(B)中含 有該Sn之組織的燒結體。
  7. 如申請專利範圍第6項之強磁性材濺鍍靶之製造方法，其中，除了該SiO2以外，進一步添加5~15mol%之選自TiO2、Ti2O3、Cr2O3、Ta2O5、Ti5O9、B2O3、CoO、Co3O4中之一種以上的氧化物，而得到此等氧化物分散於燒結金屬基材(A)中且在此等氧化物中含有Sn之組織的燒結體。
  8. 如申請專利範圍第6或7項之強磁性材濺鍍靶之製造方法，其添加0.5~10mol%之選自Ru、B、Ta中之一種以上的元素，進行燒結。
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