WO2006098278A1 - 光検出回路 - Google Patents

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WO2006098278A1
WO2006098278A1 PCT/JP2006/304910 JP2006304910W WO2006098278A1 WO 2006098278 A1 WO2006098278 A1 WO 2006098278A1 JP 2006304910 W JP2006304910 W JP 2006304910W WO 2006098278 A1 WO2006098278 A1 WO 2006098278A1
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light receiving
terminal
light
circuit
transistor
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PCT/JP2006/304910
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French (fr)
Inventor
Takashi Suzuki
Yoshitaka Terada
Original Assignee
Hamamatsu Photonics K.K.
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
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    • GPHYSICS
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    • G01J1/46Electric circuits using a capacitor
    • HELECTRICITY
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    • H03FAMPLIFIERS
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    • H03F3/04Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only
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    • H03F3/08Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light
    • H03F3/087Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light with IC amplifier blocks

Definitions

  • the present invention relates to a photodetection circuit used for an on-vehicle radar device.
  • in-vehicle radar devices using laser light have been developed in order to reduce driver load, improve convenience, and improve safety.
  • This in-vehicle radar device irradiates laser light from a light emitting element in a plurality of directions at least within a predetermined angle range in the vehicle width direction by a polygon mirror having a plurality of reflection angles.
  • the in-vehicle radar device receives the reflected light with respect to each laser beam by the photodetection circuit, and detects the reflected object based on the time from the irradiation timing of the laser beam to the reception timing of the reflected light.
  • Patent Document 1 listed below improves the detection sensitivity of reflected light reflected by a reflecting object.
  • a photodetection circuit is disclosed.
  • the photodetection circuit described in Patent Document 1 below integrates a predetermined number of received light signals output based on a predetermined number of laser beams irradiated in contact with P, and outputs an integrated signal.
  • the received light signal component corresponding to the reflected light from the reflecting object is amplified. Therefore, the detection sensitivity of reflected light from the reflecting object can be improved.
  • Patent Document 1 JP 2004-177350 A
  • the light reception timing of the reflected light from the reflecting object is a timing at which the integrated signal, that is, the voltage corresponding to the intensity of the reflected light crosses the reference voltage. Therefore, in order to increase the detection accuracy of the photodetection circuit, the reference voltage is changed to a DC voltage corresponding to the intensity of the reflected light so that it intersects the reference voltage even if the voltage corresponding to the intensity of the reflected light is small. It is common to set them close.
  • the received light received by the light detection circuit is not only reflected light but also an outdoor ring. Disturbance light existing at the boundary is also included.When this disturbance light is large, the DC voltage corresponding to the intensity of the received light, that is, the voltage corresponding to the intensity of the disturbance light fluctuates, and the intensity of the reflected light The voltage corresponding to the degree does not cross the reference voltage. Further, when the disturbance light is large, the amplification circuit used for the light detection circuit is saturated, and the output of the light detection circuit is not a voltage corresponding to the intensity of the disturbance light.
  • An object of the present invention is to provide a photodetection circuit capable of performing
  • a photodetection circuit is a photodetection circuit including an adder that selectively adds outputs of a plurality of photodetection circuits, and each of the photodetection circuits includes a photodetection element and a photodetection circuit Light receiving transimpedance amplifier with element connected to first input terminal, transconductance amplifier with light receiving transimpedance amplifier output terminal connected to first input terminal, and light receiving transimpedance amplifier output terminal and light receiving And a feedback circuit that is connected between the first input terminal of the transimpedance amplifier and applies feedback to keep the output voltage of the light receiving transimpedance amplifier constant.
  • the first input terminal is, for example, an inverting input terminal of an operational amplifier.
  • the feedback circuit applies feedback so as to keep the output voltage of the light receiving transimpedance amplifier constant. Therefore, even if the disturbance light existing in the outdoor environment fluctuates, the output voltage of the adder Is held constant.
  • the photodetector circuit of the second invention is characterized in that the feedback circuit of the photodetector circuit of the first invention includes a feedback error amplifier, a smoothing circuit, and a feedback transistor.
  • the feedback error amplifier the output terminal of the light receiving transimpedance amplifier is connected to the first input terminal, and the light receiving reference voltage is input to the second input terminal.
  • the smoothing circuit the output terminal of the feedback error amplifier is connected to the input terminal.
  • the output terminal of the smoothing circuit is connected to the control terminal, and the first input terminal of the light receiving transimpedance amplifier is connected to the terminal connected to the photodetecting element.
  • the DC component of the input current of the light-receiving transimpedance amplifier and The low frequency component flows to the feedback transistor, the low frequency component of the output voltage of the light receiving transimpedance amplifier is reduced, and the DC component is held at the light receiving reference voltage.
  • the feedback circuit reduces the low frequency component of the output voltage of the light receiving transimpedance amplifier by removing the direct current component and low frequency component of the input current of the light receiving transimpedance amplifier. Hold constant. Therefore, even if the disturbance light existing in the outdoor environment fluctuates, the low-frequency component of the output voltage of the adder is reduced and the DC component is kept constant.
  • a photodetector circuit of a third invention is characterized in that the feedback circuit of the photodetector circuit of the first invention includes a feedback error amplifier, a smoothing circuit, and a feedback transistor.
  • the feedback error amplifier the output terminal of the light receiving transimpedance amplifier is connected to the first input terminal, and the first input terminal of the light receiving transimpedance amplifier is input to the second input terminal.
  • the smoothing circuit the output terminal of the feedback error amplifier is connected to the input terminal.
  • the output terminal of the smoothing circuit is connected to the control terminal, and the first input terminal of the light receiving transimpedance amplifier is connected to the terminal connected to the photodetecting element.
  • the direct current component and low frequency component of the input current of the light receiving transimpedance amplifier flow to the feedback transistor, the low frequency component of the output voltage of the light receiving transimpedance amplifier is reduced, and the direct current component Is held at the voltage at the first input terminal of the transimpedance amplifier for receiving light.
  • the feedback circuit removes the direct current component and low frequency component of the input current of the light receiving transimpedance amplifier, thereby reducing the low frequency component of the output voltage of the light receiving transimpedance amplifier and integrating the direct current component. Keep it constant. Therefore, even if the ambient light existing in the outdoor environment fluctuates, the low frequency component of the output voltage of the adder is reduced and the DC component is kept constant.
  • the light-receiving transimpedance amplifier of the photodetector circuit of the second invention includes a light-receiving operational amplifier and a first light-receiving feedback resistor.
  • the light detecting element is connected to the first input terminal which is the first input terminal of the light receiving transimpedance amplifier, and the light receiving reference voltage is input to the second input terminal.
  • the first light receiving feedback resistor is connected between the output terminal of the light receiving operational amplifier, which is the output terminal of the light receiving transimpedance amplifier, and the first input terminal of the light receiving operational amplifier.
  • the light-receiving transimpedance amplifier of the photodetection circuit of the third invention includes a light-receiving transistor, a current control resistor, and a second light-receiving feedback resistor.
  • the light detection element is connected to the control terminal which is the first input terminal of the light receiving transimpedance amplifier.
  • the current control resistor is connected between the output terminal of the light receiving transistor, which is the output terminal of the light receiving transimpedance amplifier, and a fixed potential.
  • the second light receiving feedback resistor is connected between the output terminal of the light receiving transistor and the control terminal of the light receiving transistor.
  • the light receiving reference voltage is not required. Therefore, the circuit can be reduced.
  • the photodetector circuit of the sixth invention is characterized in that the second input terminal of the feedback error amplifier of the photodetector circuit of the fifth invention is connected to the control terminal of the light receiving transistor.
  • the voltage at the control terminal of the light receiving transistor is used as the light receiving reference voltage.
  • the second input terminal of the light receiving transimpedance amplifier in the second invention is connected to the first input terminal of the light receiving transimpedance amplifier. Therefore, the light receiving transimpedance amplifier of the present invention includes a light receiving transistor, a current control resistor, and a second light receiving feedback resistor, and does not require a light receiving reference voltage. Therefore, the circuit can be reduced.
  • the voltage at the control terminal of the light receiving transistor is determined by the current at the output terminal of the light receiving transistor and is substantially constant. Therefore, the feedback circuit removes the DC component and low-frequency component of the input current of the light-receiving transimpedance amplifier, thereby reducing the low-frequency component of the output voltage of the light-receiving transimpedance amplifier and making the DC component almost constant. Hold on. Therefore, even if disturbance light existing in the outdoor environment becomes large, the low frequency component of the output voltage of the adder is reduced and the DC component is kept constant.
  • the feedback error amplifier of the photodetector circuit of any one of the second to sixth inventions includes a first error amplification transistor, a second error amplification transistor, A first error amplification load, a second error amplification load, and an error amplification current source are included.
  • First error amplification The control transistor is connected to the output terminal of the light receiving transimpedance amplifier.
  • the second error amplification transistor the light receiving reference voltage is input to the control terminal.
  • the first error amplification load is connected to the output terminal of the first error amplification transistor.
  • the second error amplification load is connected to the output terminal of the second error amplification transistor.
  • the error amplification current source is connected to a common node of the first error amplification transistor and the second error amplification transistor.
  • the smoothing circuit is only a capacitor connected between the input terminal and the output terminal.
  • a necessary and sufficient low-pass filter is configured by the relatively large output impedance of the feedback error amplifier and the capacitor of the smoothing circuit. Therefore, sufficient feedback can be applied to the DC component and low-frequency component of the input current of the light-receiving transimpedance amplifier.
  • the photodetection circuit according to an eighth aspect of the present invention is the photodetection circuit according to any one of the first to seventh aspects, wherein the transconductance amplifier includes a first conversion transistor, a second conversion transistor, and a first conversion transistor.
  • a load, a second conversion load, and a conversion current source are included.
  • the control terminal of the first conversion transistor is connected to the output terminal of the light receiving transimpedance amplifier.
  • the conversion reference voltage is input to the control terminal.
  • the first conversion load is connected to the output terminal of the first conversion transistor.
  • the second conversion load is connected to the output terminal of the second conversion transistor.
  • the conversion current source is connected to a common node of the first conversion transistor and the second conversion transistor.
  • the photodetection circuit of any one of the first to eighth inventions is a selection control circuit for selecting outputs of a plurality of light receiving circuits, a plurality of light receiving circuits, and the adder. And a plurality of selection switches that operate according to the output of the selection control circuit.
  • the adder has a transimpedance amplifier for addition in which a plurality of light receiving circuits are connected to an input terminal via the plurality of selection switches.
  • the addition transimpedance amplifier includes an addition operational amplifier in which output terminals of a plurality of light receiving circuits are connected to the first input terminal via the selection switch, and an addition reference voltage is connected to the second input terminal.
  • the adder since the adder performs current addition, the gain-frequency characteristic does not change depending on the number of channels to be added as in the case of voltage addition. That is, the gain and frequency band of the adder do not change.
  • Laser light irradiation timing force When measuring by time-of-flight, which detects a reflected object based on the time until the reflected light is received, a change in the gain or frequency band of the light detection circuit is the cause of the measurement error. However, according to the present invention, no measurement error occurs.
  • each selection switch operated by a signal from the selection control circuit selectively connects each light receiving circuit to the adder. For this reason, only necessary and sufficient light receiving circuits among multiple light receiving circuits are added to predict the incident position of the reflected pulse light and to predict the incident position of the reflected ghost light and to receive the reflected pulse light. Can be connected. In other words, a light-receiving circuit without an output signal can be separated from the adder, so that the S / N ratio of the output of the light detection circuit can be increased.
  • the first-stage gain is increased by setting the first-stage gain large regardless of the saturation of the amplifier due to the disturbance light. It can be set and the amplifier can be made low noise.
  • a photodetection circuit is the photodetection circuit according to any of the first to eighth aspects, wherein the photodetection circuit of the plurality of the photodetection circuits is controlled by controlling the operation or non-operation of the transconductance amplifier.
  • a selection control circuit for selecting an output is further provided.
  • the adder includes a transimpedance amplifier for addition in which a plurality of light receiving circuits are connected to input terminals.
  • the addition transimpedance amplifier includes an addition operational amplifier in which the output terminals of a plurality of light receiving circuits are connected to the first input terminal and the reference voltage for addition is connected to the second input terminal, and the output terminal of the addition operational amplifier.
  • An addition feedback resistor connected to the first input terminal of the addition operational amplifier.
  • the gain-frequency characteristic does not change depending on the number of channels to be added as in the case of voltage addition. That is, the gain and frequency band of the adder do not change. Therefore, according to the present invention, the measurement error does not occur as described above.
  • the transconductance amplifier of each light receiving circuit is based on a signal from the selection control circuit. It works. Therefore, as described above, only necessary and sufficient light receiving circuits among the plurality of light receiving circuits can be operated. That is, since the light receiving circuit without an output signal can be kept in an inoperative state, the S / N ratio of the output of the photodetection circuit can be increased and the power consumption of the photodetection circuit can be reduced.
  • An optical detection circuit is the optical detection circuit according to any one of the first to tenth aspects, wherein the output terminal of the adder is connected to the first terminal, and the comparison capacitor.
  • a comparator having a second terminal connected to the first input terminal and a reference voltage for comparison input to the second input terminal, and a comparison DC voltage source for supplying a DC voltage to the first input terminal of the comparator,
  • a light receiving timing detection circuit having a charge / discharge control circuit inserted between the first input terminal of the comparator and the comparison DC voltage source and controlling the potential of the comparison capacitor.
  • a reference voltage generation circuit is a photodetecting element, a light receiving transistor having the photodetecting element connected to a control terminal, and being connected between an output terminal of the light receiving transistor and a fixed potential.
  • Current control resistor, the (second) light receiving feedback resistor connected between the output terminal of the light receiving transistor and the control terminal of the light receiving transistor, and the output terminal of the light receiving transistor become the first input terminal.
  • a feedback error amplifier in which the control terminal of the light receiving transistor is connected to the second input terminal, a smoothing circuit in which the output terminal of the feedback error amplifier is connected to the input terminal, and an output terminal of the smoothing circuit Is connected to the control terminal, and the control terminal of the light receiving transistor includes a feedback transistor connected to a terminal connected to the light detection element.
  • the smoothing circuit and the light receiving transistor remove the DC component and low frequency component of the current flowing through the (second) light receiving feedback resistor. Therefore, the low frequency component of the voltage at the output terminal of the light receiving transistor is reduced, and the direct current component is held constant and equal to the direct current component of the voltage at the control terminal of the light receiving transistor.
  • the voltage at the control terminal of the light receiving transistor is determined by the current at the output terminal of the light receiving transistor and is substantially constant. Therefore, the output terminal of the light receiving transistor The low frequency component of the voltage is reduced and the DC component is always kept constant.
  • the feedback circuit removes the disturbance light component, reduces the low frequency component of the output voltage of the photodetection circuit, and keeps the DC component constant. It can be compared with a reference voltage set close to the DC component of this voltage. Therefore, by using the photodetection circuit of the present invention, it is possible to improve the detection accuracy of the reflected light reflected by the reflecting object that is not affected by the disturbance light existing in the outdoor environment.
  • the adder performs current addition, its gain-frequency characteristic does not change depending on the number of channels to be added as in the case of voltage addition. In other words, the frequency band of the adder does not change. Therefore, the light detection circuit of the present invention is used for measurement by time flight that detects a reflected object based on the time from the irradiation timing of laser light to the reception timing of reflected light, but the distance to the detected object is also used. Can be detected with high accuracy.
  • the selection circuit that selects only the necessary light receiving circuit among the plurality of light receiving circuits is provided, the output of only the necessary light receiving circuit can be added. In other words, since unnecessary output of the light receiving circuit is not added, noise due to unnecessary disturbance light can be removed. Therefore, the light detection accuracy can be improved with a simple circuit configuration.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a photodetection circuit according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a photodetection circuit embodying the first embodiment of the present invention.
  • Fig. 3- (a) is a timing chart of light intensity
  • Fig. 3_ (b) is a timing chart of voltage
  • Fig. 3- (c) is a timing chart of light intensity
  • Fig. 3_ (d) is a timing of voltage.
  • the chart, Fig. 3- (e) is a voltage timing chart.
  • FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of a photodetection circuit according to the second embodiment of the present invention.
  • Fig. 5 is a circuit diagram showing a modification of the configuration of the light receiving circuit according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a circuit diagram showing a modified example of the configuration of the light receiving circuit according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a circuit diagram showing a modification of the configuration of the light receiving circuit according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a circuit diagram showing a modification of the configuration of the light receiving circuit according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is a circuit diagram showing a modification of the configuration of the light receiving circuit according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a photodetection circuit according to the first embodiment of the present invention.
  • the light detection circuit 10 shown in FIG. 1 includes a plurality of light receiving circuits 12, an adder 14, a selection control circuit 60, a plurality of selection switches 62, and a light reception timing detection circuit 70.
  • Each light receiving circuit 12 includes a light detecting element 16, a light receiving transimpedance amplifier 18, a light receiving reference voltage 20a, a conversion reference voltage 20b, a transconductance amplifier 22, and a feedback circuit 24.
  • the light detection element 16 for example, a photodiode is used.
  • the force sword of the light detecting element 16 is connected to the first power supply line 26a, and the anode of the light detecting element 16 is connected to the input node 28a (the first input terminal of the light receiving transimpedance amplifier 18).
  • the light detecting element 16 receives the received light and generates a current corresponding to the received light.
  • the light receiving transimpedance amplifier 18 includes a light receiving operational amplifier 30 and a first light receiving feedback resistor 32.
  • the inverting input terminal (first input terminal) of the light receiving operational amplifier 30 is connected to the input node 28a, and the light receiving reference voltage 20a is input to the non-inverting input terminal (second input terminal) of the light receiving operational amplifier 30. Yes.
  • the output terminal of the light receiving operational amplifier 30 is connected to the feedback node 28b (the output terminal of the light receiving transimpedance amplifier 18).
  • One end of the first light receiving feedback resistor 32 is connected to the input node 28a, and the other end of the first light receiving feedback resistor 32 is connected to the feedback node 28b.
  • the light receiving transimpedance amplifier 18 receives the output current of the light detection element 16 and outputs a voltage corresponding to the current.
  • the light receiving reference voltage 20a is a constant voltage generated by a band gap reference circuit and a circuit that generates a constant voltage.
  • the transconductance amplifier 22 for example, a differential amplifier is used.
  • the first input terminal 21a of the transconductance amplifier 22 is connected to the feedback node 28b, and the conversion reference voltage 20b is input to the second input terminal 21b of the transconductance amplifier 22.
  • the output terminal of the transconductance amplifier 22 is connected to the output node 28c.
  • the transconductance amplifier 22 receives the output voltage of the light-receiving transimpedance amplifier 18 and outputs a current corresponding to this voltage including the polarity.
  • the conversion reference voltage 20b is a constant voltage generated by a band gap reference circuit and a circuit that generates a constant voltage.
  • the conversion reference voltage 20b may be the same as the light reception reference voltage 20a. In this case, since there is no need to be aware of tracking between the light receiving reference voltage 20a and the conversion reference voltage 20b, use a reference voltage generation circuit with a relatively simple configuration that does not suppress temperature fluctuations or power supply voltage fluctuations. I can do it.
  • the feedback circuit 24 includes a feedback error amplifier 34, a smoothing circuit 36, and a feedback transistor 38.
  • the negative input terminal (first input terminal) of the feedback error amplifier 34 is connected to the feedback node 28b, and the positive input terminal (second input terminal) of the feedback error amplifier 34 is connected to the light receiving reference voltage 20a.
  • the output terminal of the feedback error amplifier 34 is connected to the input terminal of the smoothing circuit 36.
  • the output terminal of the smoothing circuit 36 is connected to the control terminal (gate) of the feedback N-type transistor 38.
  • the first terminal (drain) of the feedback N-type transistor 38 is connected to the input node 28a, and the second terminal (source) of the feedback N-type transistor 38 is connected to the second power supply line 26b.
  • the feedback circuit 24 removes the DC component and low-frequency component of the input current of the light receiving transimpedance amplifier 18 to thereby output the light receiving transimpedance amplifier 18. Reduces the low-frequency component of the force voltage and keeps the DC component at the reference voltage for light reception 20a.
  • the feedback N-type transistor 38 is a transistor that can remove the DC component and low-frequency component of the input current of the light-receiving transimpedance amplifier 18, that is, can extract the DC component and low-frequency current of ambient light. It is necessary to increase the size.
  • the adder 14 includes, for example, an addition transimpedance amplifier 40 similar to the light receiving transimpedance amplifier 18 and an addition reference voltage 42. Negative input terminal of summing transimpedance Nsuanpu 40 (first input terminal) is connected to their respective through a selection switch 62 to a plurality of output nodes 28c, bra scan input terminal (second input of summing transimpedance amplifier 40 Terminal) is connected to the reference voltage 42 for addition.
  • the adder 14 selectively adds the output currents of the plurality of light receiving circuits 12 and outputs a voltage corresponding to the added current.
  • a transistor is used for the selection switch 62.
  • the selection switch 62 is switched between “N” and “OFF” by the selection control circuit 60.
  • the selection control circuit 60 outputs a signal for selecting the output current of the light receiving circuit 12 input to the adder 14 among the plurality of light receiving circuits 12.
  • the addition reference voltage 42 is a constant voltage generated by a circuit that generates a constant voltage, such as a band gap reference circuit, and may be the same as the light reception reference voltage 20a.
  • the light reception timing detection circuit 70 has a comparator and a reference voltage for comparison. The detailed configuration of the light reception timing detection circuit 70 will be described later.
  • the light reception timing detection circuit 70 receives the output voltage from the adder 14 and compares the output voltage with the reference voltage for comparison by the comparator to detect the light reception timing. Details of the method for detecting the light reception timing will also be described later.
  • FIG. 2 is a circuit diagram showing an example in which the photodetector circuit according to the first embodiment of the present invention is embodied.
  • a differential amplifier circuit can be used as the feedback error amplifier 34 of the transconductance amplifier 22 and the feedback circuit 24, and a low-pass filter or a capacitor is used as the smoothing circuit 36, for example. be able to.
  • the feedback error amplifier 34 includes a first error amplification P-type transistor Trl, a second error amplification P-type transistor Tr2, an N-type transistor Tr3 (first error amplification load), and an N-type transistor Tr. 4 (second error amplification load) and an error amplification current source Icml.
  • the control terminal (gate) of the first error amplification P-type transistor Trl is connected to the feedback node 28b, and the first terminal (drain) of the first error amplification P-type transistor Trl is the N-type transistor Tr 3.
  • the second terminal (source) of the first error amplification P-type transistor Trl is connected to the common node N1 and connected to the first terminal (drain).
  • the second terminal (source) of the N-type transistor Tr3 is connected to the second power supply line 26b, and the control terminal (gate) of the N-type transistor Tr3 is connected to the common node N2.
  • the first terminal (drain) of the first error amplification P-type transistor Trl is used as the output terminal of the feedback error amplifier 34 and is connected to the input terminal of the smoothing circuit 36.
  • the light receiving reference voltage 20a is input to the control terminal (gate) of the second error amplification P-type transistor Tr2.
  • the first terminal (drain) of the second error amplification P-type transistor Tr2 is connected to the first terminal (drain) of the N-type transistor TM, and the second terminal of the second error amplification P-type transistor Tr2 ( Source) is connected to common node N1.
  • the second terminal (source) of the N-type transistor Tr4 is connected to the second power supply line 26b, and the control terminal (gate) of the N-type transistor Tr4 is connected to the common node N2.
  • This common node N2 is connected to the first terminal (drain) of the N-type transistor Tr4.
  • One terminal of the error amplification current source Icml is connected to the common node N1, and the other terminal of the error amplification current source Icml is connected to the first power supply line 26a.
  • a current mirror circuit or a resistor may be used as the error amplification current source Icml.
  • resistors using active load circuits may be used for the first error amplification load and the second error amplification load.
  • the transconductance amplifier 22 includes a first conversion P-type transistor Tr5, a second conversion P-type transistor Tr6, an N-type transistor Tr7 (first conversion load), and an N-type transistor Tr8 (first 2 conversion load) and conversion current source Icm2.
  • the control terminal (gate) of the first conversion P-type transistor Tr5 is connected to the feedback node 28b, and the first terminal (drain) of the first conversion P-type transistor Tr5 is the first terminal of the N-type transistor Tr7. Connected to the terminal (drain), the second terminal (source) of the first conversion P-type transistor Tr5 is connected to the common node N3. The second terminal (source) of the N-type transistor Tr7 is the second The control terminal (gate) of the N-type transistor Tr7 is connected to the common node N4. The first terminal (drain) of the first conversion P-type transistor Tr5 is connected to the output node 28c and connected to the selection switch 62.
  • the reference voltage for conversion 20b is input to the control terminal (gate) of the second conversion type P-type transistor Tr6.
  • the first terminal (drain) of the second conversion P-type transistor Tr6 is connected to the first terminal (drain) of the N-type transistor Tr8, and the second terminal (source) of the second conversion P-type transistor Tr6. Is connected to the common node N3.
  • the second terminal (source) of the N-type transistor Tr8 is connected to the second power supply line 26b, and the control terminal (gate) of the N-type transistor Tr8 is connected to the common node N4.
  • This common node N4 is connected to the first terminal (drain) of the N-type transistor Tr8.
  • conversion current source Icm2 is connected to common node N3, and the other terminal of conversion current source Icm2 is connected to first power supply line 26a.
  • a current mirror circuit or a resistor may be used as the error amplification current source Icm2.
  • active load circuits are used for the first conversion load and the second conversion load, but other embodiments that can convert the input voltage difference between Tr5 and Tr6 into current may be used.
  • the light reception timing detection circuit 70 includes a comparison capacitor 71, a comparison DC voltage source 75, a comparator 76, a charge / discharge control circuit 77, and a comparison reference voltage 78.
  • the first terminal of the comparison capacitor 71 is connected to the output terminal of the adder 14.
  • the second terminal of the comparison capacitor 71 is connected to the first input terminal of the comparator 76.
  • One terminal of the comparison DC voltage source 75 is connected to the first input terminal of the comparator 76 via the charge / discharge control circuit 77.
  • the other terminal of the comparative DC voltage source 75 is connected to the third power supply line 26c having the same potential as the second power supply line 26b.
  • a comparison reference voltage 78 is input to the second input terminal of the comparator 76.
  • the charge / discharge control circuit 77 includes a resistor 72 connected in parallel to a resistor 73 and a switch 74 connected in series.
  • the reference voltage 78 for comparison is a constant voltage generated by a circuit that generates a constant voltage such as a band gap reference circuit.
  • the reference voltage for light reception 20a, the reference voltage for conversion 20b, and the addition reference voltage 78 It may be the same as the reference voltage 42.
  • the laser light from the light emitting element is irradiated in a plurality of directions over a predetermined angle range in the vehicle width direction by a polygon mirror having a plurality of reflection angles. Each laser beam is reflected by a reflecting object and becomes reflected light. Also, ambient light such as sunlight exists in the outdoor environment.
  • the received light received by the light detection circuit 10 includes this reflected light and disturbance light.
  • the photodetecting element 16 receives the received light, and a current corresponding to the received light is input to the light receiving transimpedance amplifier 18.
  • the light receiving transimpedance amplifier 18 operates so that the voltage at the input node 28a becomes equal to the light receiving reference voltage 20a, and the input current flows through the light receiving feedback resistor 32. Therefore, the voltage at the feedback node 28 b is lowered from the light receiving reference voltage 20 a due to the voltage drop of the light receiving feedback resistor 32.
  • the feedback error amplifier 34 of the feedback circuit 24 amplifies the error between the voltage at the feedback node 28b and the light receiving reference voltage 20a, and outputs the amplified error voltage.
  • the amplified error voltage is smoothed by the smoothing circuit 36 and input to the control terminal (gate) of the feedback N-type transistor 38. Due to the voltage at the control terminal (gate), a direct current flows between the first terminal (drain) and the second terminal (source) of the feedback N-type transistor 38. Therefore, in a normal operation state, the direct current component of the current flowing into the light receiving transimpedance amplifier 18 is removed, and the direct current component of the voltage at the feedback node 28b is kept constant equal to the light receiving reference voltage 20a.
  • the low-pass filter is configured by the capacitor of the smoothing circuit 36 and the output impedance of the feedback error amplifier 34, the low-frequency component of the current flowing into the light-receiving transimpedance amplifier 18, that is, The low-frequency component below the cut-off frequency of the low-pass filter is also removed, the low-frequency component of the voltage at the feedback node 28b is reduced, and the DC component is held constant and equal to the light-receiving reference voltage 20a.
  • the transconductance amplifier 22 converts the voltage difference between the voltage at the feedback node 28b and the conversion reference voltage 20b into a current and outputs the current to the output node 28c.
  • the frequency component is reduced and the DC component is constant.
  • the adder 14 has a plurality of outputs.
  • the current from the power node 28c, whose low frequency component is reduced, and whose DC component is constant, is added and converted to voltage, and this voltage is output, so the low frequency component of this output voltage is reduced
  • the DC component becomes constant according to the number of the light receiving circuits 12 selected by the selection control circuit 60 and the selection switch 62.
  • FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the received light and the output voltage of the adder 14.
  • 3_ (a) is a timing chart of light intensity
  • FIG. 3- (b) is a timing chart of voltage
  • FIG. 3- (c) is a timing chart of light intensity
  • FIG. 3_ (d) is a timing chart of voltage
  • Figure 3- (e) is a voltage timing chart.
  • the received light is a light in which a disturbance-like reflected light is superimposed on the disturbance light.
  • the photodetection circuit 10 of the present embodiment superimposes a panoramic voltage corresponding to pulsed reflected light on a DC voltage corresponding to disturbance light as shown in FIG.
  • the voltage to be output is output from the adder 14.
  • the light reception timing detection circuit 70 takes out the output from the adder 14 through the comparison capacitor 71 in a form in which the DC component is cut.
  • the output from the adder 14 with the DC component cut off is supplied to the DC voltage source 75 for comparison through a charge / discharge control circuit 77 in which a resistor 72 is mounted in parallel with a circuit in which the resistor 73 and the switch 74 are connected in series.
  • the voltage is superimposed and input to the first input terminal of the comparator 76.
  • the comparator 76 detects the light reception timing at which the output voltage input to the first input terminal intersects the reference voltage 78 for comparison, and detects the reflection object based on the laser light irradiation timing force and the time until the light reception timing of the reflected light. To detect.
  • the reference voltage should be set close to the DC voltage of the output voltage.
  • the charge / discharge control circuit 77 in which the resistor 72 is attached in parallel to the circuit in which the resistor 73 and the switch 74 are connected in series, the switch 74 is turned on when necessary to eliminate the offset fluctuation, and the capacitor 71 is turned on.
  • a quick charge circuit that rapidly charges and discharges with a small time constant using a resistor 73 having a value sufficiently smaller than that of the resistor 72 is provided.
  • the feedback circuit 24 of the present embodiment when the selection channel to be added is switched as shown in FIG. 3- (c), for example, the channel is switched from a channel with small disturbance light to a large channel.
  • the current input to the light receiving transimpedance amplifier 18 increases, and the voltage drop of the light receiving feedback resistor 32 causes a DC component of the voltage at the feedback node 28b. Minutes drop. Therefore, the direct current component of the output current of the transconductance amplifier 22 increases, and the direct current component of the output voltage of the adder 14 decreases.
  • the feedback circuit 24 removes the DC component and low-frequency component of the current input to the light receiving transimpedance amplifier 18, reduces the low-frequency component of the voltage of the feedback node 28b, and The component is kept equal to the light receiving reference voltage 20a. Therefore, the low frequency component of the output current of the transconductance amplifier 22 is reduced, and the DC component is kept constant. Therefore, the low frequency component of the output voltage of the adder 14 is reduced, and the DC component is kept constant.
  • the output voltage of the adder 14 always crosses the reference voltage 78 for comparison of the light reception timing detection circuit 70, and the light reception timing of the reflected light can be detected. This is the same whether the channel is switched or the number of selected channels to be added is changed.
  • the feedback circuit 24 removes the disturbance light component, reduces the low frequency component of the output voltage of the light detection circuit 10, and keeps the DC component constant. Therefore, it is possible to compare the output voltage of the photodetection circuit 10 with a reference voltage set close to the DC component of this voltage. Therefore, by using the photodetection circuit 10 of the present invention, it is possible to improve the detection accuracy of the reflected light reflected by the reflecting object that is not affected by the disturbance light existing in the outdoor environment. Further, since the light receiving circuit 12 is divided, the deterioration of the frequency band due to the parasitic capacitance of the light detection element 16 is reduced.
  • an amplifier (light receiving transimpedance amplifier 18 and transconductance amplifier 22) is connected to each photodetecting element 16, it is connected to the adder 14 by the selection control circuit 60 and the selection switch 62. Even if the number of light receiving circuits 12, that is, the number of photodetecting elements 16, increases or decreases, the detection accuracy of the photodetecting circuit 10 in which the gain-frequency characteristics of this amplifier do not vary is stabilized.
  • the adder 14 since the adder 14 performs current addition, the gain-frequency characteristic does not change depending on the number of channels to be added as in the case of voltage addition. That is, the gain and frequency band of the adder 14 do not change.
  • a change in the gain or frequency band of the light detection circuit 10 may cause a measurement error. However, according to the present invention, no measurement error occurs.
  • each selection switch 62 that operates in response to a signal from the selection control circuit 60 selectively connects each light receiving circuit 12 to the adder 14. For this reason, the necessary and sufficient light receiving circuits among the plurality of light receiving circuits 12 are used to predict the incident position of the reflected pulse light, to predict the incident position of the reflected ghost light and to receive the reflected pulse light. Connecting only 12 to adder 14 That is, since the light receiving circuit 12 having no output signal can be disconnected from the adder 14, the S / N ratio of the output of the light detection circuit 10 can be increased.
  • the light detection accuracy can be improved with a simple circuit configuration.
  • FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of a photodetection circuit according to the second embodiment of the present invention.
  • the photodetection circuit 10a shown in FIG. 4 has a configuration in which each light receiving circuit 12a has a light receiving transimpedance amplifier 18 as a light receiving transimpedance amplifier 18a and does not have a light receiving reference voltage 20a. Different from form.
  • the positive input terminal (second input terminal) of the feedback error amplifier 34 of the feedback circuit 24 is connected to the input node 28a. This is different from the first embodiment.
  • the photodetection circuit 10a is different from the first embodiment in that the gate-source voltage V of the light receiving N-type transistor 50 is used instead of the light receiving reference voltage 20a. Also,
  • the transconductance amplifier 22 is a transconductance amplifier 22a having a transconductance amplifier operation control terminal 64 that receives a signal from the selection control circuit 60 without using the selection switch 62.
  • the light receiving transimpedance amplifier 18 a includes a light receiving N-type transistor 50, a second light receiving feedback resistor 52, and a current control resistor 54.
  • the control terminal (gate) of the light-receiving N-type transistor 50 is connected to the input node 28a.
  • the first terminal (drain) of the light receiving N-type transistor 50 is connected to the feedback node 28b, and the second terminal (source) of the light receiving N-type transistor 50 is connected to the second power supply line 26b. .
  • One end of the second light receiving feedback resistor 52 is connected to the input node 28a, and the second light receiving feedback resistor 52
  • the other end of 52 is connected to the feedback node 28b.
  • One end of the current control resistor 54 is connected to the first power supply line 26a, and the other end of the current control resistor 54 is connected to the feedback node 28b.
  • the light receiving transimpedance amplifier 18a receives the output current of the photodetecting element 16 and outputs a voltage corresponding to the current.
  • the feedback circuit 24 removes the direct current component of the input current of the light receiving transimpedance amplifier 18a, thereby converting the direct current component of the output voltage of the light receiving transimpedance amplifier 18a to the input voltage of the light receiving transimpedance amplifier 18a. Holds the same constant DC component.
  • the transconductance amplifier 22a receives a signal from the selection control circuit 60 at the transconductance amplifier operation control terminal 64, and determines whether to operate or not to operate based on this signal. For example, the current source Icm2 is controlled to OFF or OFF by a signal input to the transconductance amplifier operation control terminal 64.
  • the light detection element 16 receives the received light, and a current is input to the light receiving transimpedance amplifier 18a.
  • the light receiving transimpedance amplifier 18a receives the input current via the second light receiving feedback resistor 52 and the first N of the light receiving N-type transistor 50. Between the first terminal (drain) and the second terminal (source). Accordingly, the voltage of the feedback node 28b is lowered from the voltage of the input node 28a by the voltage drop of the second light receiving feedback resistor 52.
  • the feedback error amplifier 34 of the feedback circuit 24 amplifies the error between the voltage at the feedback node 28b and the voltage at the input node 28a, and outputs the amplified error voltage.
  • the amplified error voltage is smoothed by the smoothing circuit 36 and input to the control terminal (gate) of the feedback N-type transistor 38. Due to the voltage at the control terminal (gate), a direct current flows between the first terminal (drain) and the second terminal (source) of the feedback transistor 38.
  • the voltage of the input node 28a is determined by the drain current of the light receiving N-type transistor 50 and is substantially constant. Therefore, in a normal operation state, the direct current component of the current flowing into the light receiving transimpedance amplifier 18a is removed, and the direct current component of the voltage at the feedback node 28b is held constant and equal to the direct current component of the voltage at the input node 28a.
  • the low-pass filter is configured by the capacitor of the smoothing circuit 36 and the output impedance of the feedback error amplifier 34, the low-frequency component of the current flowing into the light-receiving transimpedance amplifier 18, that is, The low-frequency component below the cut-off frequency of the low-pass filter is also removed, and the DC component of the voltage at the feedback node 28b is kept constant equal to the light-receiving reference voltage 20a.
  • the feedback circuit 24 removes the disturbance light component and keeps the DC component of the output voltage of the light detection circuit 10a constant.
  • the output voltage can be compared with a reference voltage set close to the DC component of this voltage. Therefore, by using the light detection circuit 10a of the present invention, it is possible to improve the detection accuracy of the reflected light reflected by the reflecting object without being affected by the disturbance light existing in the outdoor environment.
  • the adder 14 performs current addition, the gain-frequency characteristic thereof does not change depending on the number of channels to be added, as in the case of voltage addition. That is, the gain and frequency band of the adder 14 do not change.
  • a change in the gain or frequency band of the light detection circuit 10 may cause a measurement error. However, according to the present invention, no measurement error occurs.
  • each light receiving circuit 12 can be selectively connected to the adder 14 in order to control the current source Icm2 to be turned on or off by a signal input from the selection control circuit 60 to the transconductance amplifier operation control terminal 64. it can. For this reason, the necessary and sufficient light receiving circuits among the plurality of light receiving circuits 12 are used to predict the incident position of the reflected pulse light, to predict the incident position of the reflected ghost light and to receive the reflected pulse light. Connecting only 12 to adder 14 That is, since the light receiving circuit 12 having no output signal can be disconnected from the adder 14, the S / N ratio of the output of the light detection circuit 10 can be increased.
  • the light detection accuracy can be improved with a simple circuit configuration.
  • the light receiving circuit 12a may have the configuration of the light receiving circuit 12b.
  • the light receiving circuit 12b is different from the light receiving circuit 12a in a configuration in which the light receiving transimpedance amplifier 18a is replaced with a light receiving transimpedance amplifier 18b.
  • the light receiving transimpedance amplifier 18b differs from the light receiving transimpedance amplifier 18a in that the light receiving transistor 50 is changed from an N-type transistor to a P-type transistor. Therefore, the second terminal (source) of the light receiving transistor 50 is connected to the first power supply line 26a, and the current control resistor 54 is connected to the second power supply line 26b. Further, as shown in FIG.
  • the light receiving circuit 12a may have the configuration of the light receiving circuit 12c.
  • the light receiving circuit 12c is different from the structure in which the voltage drop of the light detecting element, that is, the almost constant voltage is determined from the first power supply line 26a, to the structure determined from the second power supply line 26b. And different. At this time, the voltage fluctuation of the feedback node 28b is in the opposite direction to the light receiving circuit 12a. Therefore, the light receiving circuit 12c is configured by replacing the feedback circuit 24 with the feedback circuit 24b and the transconductance amplifier 22a with the transconductance amplifier 22b. However, it is different from the light receiving circuit 12a.
  • the feedback circuit 24b includes the first error amplification transistor Trl and the second error amplification transistor Tr2 from the P-type transistor to the N-type transistor, and the transistor Tr3 and transistor Tr4 from the N-type transistor to the P-type transistor. It differs from the feedback circuit 24 in that the conversion transistor 38 is changed from an N-type transistor to a P-type transistor.
  • the second terminals (sources) of the transistors Tr3 and Tr4 are connected to the first power supply line 26a, and the error amplification current source Icml is connected to the second power supply line 26b. Further, the capacitor of the smoothing circuit 36 and the second terminal (source) of the feedback transistor 38 are connected to the first power supply line 26a.
  • the first conversion transistor Tr5 and the second conversion transistor Tr6 are changed from the P-type transistor to the N-type transistor, and the transistor Tr7 and the transistor Tr8 are changed from the N-type transistor to the P-type transistor. This is different from the transconductance amplifier 22 in that respect. Therefore, the second terminals (sources) of the transistors Tr7 and Tr8 are connected to the first power supply line 26a, and the error amplification current source Icm2 is connected to the second power supply line 26b.
  • the light receiving circuit 12c may have the configuration of the light receiving circuit 12d.
  • the light receiving circuit 12d is different from the light receiving circuit 12c in a configuration in which the light receiving transimpedance amplifier 18a is replaced with a light receiving transimpedance amplifier 18b.
  • the photodetection circuit 10 may have the configuration of the photodetection circuit 100.
  • the light detection circuit 100 is different from the light detection circuit 10 in a configuration in which the light reception circuit 120 is used instead of the light reception circuit 12.
  • the light receiving circuit 120 is a first input terminal of a light receiving transimpedance amplifier 18 in which the second input terminal of the feedback error amplifier 34 is connected to the light receiving reference voltage 20a. It is different from the light receiving circuit 12 in that it is connected to. Since the voltage at the first input terminal and the voltage at the second input terminal of the transimpedance amplifier for light reception 18 are substantially the same, the light reception circuit 120 performs the same operation as the light reception circuit 12. That is, the photodetection circuit 100 performs the same operation as the photodetection circuit 10.
  • the photodetection circuit 10a may have the configuration of the photodetection circuit 100a.
  • the light detection circuit 100a is different from the light detection circuit 10a in a configuration in which the light reception circuit 120a is used instead of the light reception circuit 12a.
  • the light receiving circuit 120a differs from the light receiving circuit 12a in a configuration that does not have the conversion reference voltage 20b.
  • the light receiving circuit 120a is different from the light receiving circuit 12a in that the control terminal of the second conversion P-type transistor Tr6 of the transconductance amplifier 22a is connected to the input node 28a. That is, the light receiving circuit 120a uses the gate-source voltage V of the light receiving N-type transistor 50 instead of the conversion reference voltage 20b.
  • the V of the light receiving N-type transistor 50 is almost
  • the light receiving circuit 120a performs the same operation as the light receiving circuit 12a. That is, the photodetection circuit 100a performs the same operation as the photodetection circuit 10a.
  • a force bipolar transistor using a field effect transistor as the transistor may be used.
  • a switch element may be provided in the current source Icml and the current source Icm2. Specifically, a switch element that short-circuits the control terminal (gate) of the transistor of the current mirror circuit to the first or second power supply line is provided. According to this configuration, a light receiving circuit that is not used can be stopped, and power consumption can be reduced. In addition, it is possible to reduce the deterioration of the frequency characteristics due to the light receiving circuit not used.
  • a control terminal similar to the transconductance amplifier operation control terminal may be provided in the transimpedance amplifier, the error amplifier circuit, and the like. In this case, it is necessary to stabilize the feedback loop by turning on the power of the light receiving circuit a certain time before operating the light receiving circuit. However, according to this configuration, it is possible to further reduce power consumption. Degradation of frequency characteristics can be reduced.

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Abstract

 この光検出回路は、複数の受光回路の出力を選択的に加算する加算器を備えている。それぞれの受光回路は、光検出素子と、光検出素子が第1入力端子に接続された受光用トランスインピーダンスアンプと、受光用トランスインピーダンスアンプの出力端子が第1入力端子に接続されたトランスコンダクタンスアンプと、受光用トランスインピーダンスアンプの出力端子と受光用トランスインピーダンスアンプの第1入力端子との間に接続され、受光用トランスインピーダンスアンプの出力電圧を一定に保持するべく帰還をかける帰還回路とを有する。

Description

明 細 書
光検出回路
技術分野
[0001] 本発明は、車載用レーダ装置に用いられる光検出回路に関するものである。
背景技術
[0002] 近年、ドライバーの負荷軽減、利便性向上、及び、安全性向上のため、レーザ光を 用いた車載用レーダ装置の開発が行われている。この車載用レーダ装置は、発光素 子からのレーザ光を、複数の反射角を有するポリゴンミラーによって、少なくとも車幅 方向の所定角度範囲内に渡り複数の方向に照射する。車載用レーダ装置は、この 各レーザ光に対する反射光を光検出回路によって受信し、レーザ光の照射タイミン グから反射光の受光タイミングまでの時間に基づいて反射物体を検出する。
[0003] この車載用レーダ装置に用いられる光検出回路には、高い検出精度が求められて おり、例えば、下記特許文献 1には、反射物体によって反射された反射光の検出感 度を向上する光検出回路が開示されている。下記特許文献 1に記載の光検出回路 は、 P 接して照射される所定個数のレーザ光に基づいて出力される所定個数の受光 信号を積算して、積算信号を出力する。所定個数の受光信号を積算することによつ て、反射物体からの反射光に対応する受光信号成分が増幅される。したがって、反 射物体からの反射光の検出感度を向上することができるとしている。
特許文献 1:特開 2004— 177350号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0004] 反射物体からの反射光の受光タイミングは、積算信号、すなわち、反射光の強度に 応じた電圧が基準電圧と交差するタイミングである。したがって、光検出回路の検出 精度を上げるためには、反射光の強度に応じた電圧が小さくても基準電圧と交差す るように、基準電圧を反射光の強度に応じた電圧の直流電圧に近づけて設定するの が一般的である。
[0005] し力、しながら、通常、光検出回路が受信する受信光には、反射光のほかに、屋外環 境に存在する外乱光も含まれており、この外乱光が大きい場合、受信光の強度に応 じた電圧の直流電圧、すなわち、外乱光の強度に応じた電圧が変動し、反射光の強 度に応じた電圧が基準電圧と交差しなくなる。更に外乱光が大きい場合には、光検 出回路に用レ、られる増幅回路等が飽和してしまい、光検出回路の出力が、外乱光の 強度に応じた電圧でなくなる。
[0006] そこで、本発明は、屋外環境に存在する外乱光の影響を受けることなぐ反射物体 によって反射された反射光の検出精度を向上し、且つ、それを簡単な回路構成で実 現することができる光検出回路を提供することを目的としている。
課題を解決するための手段
[0007] 第 1の発明の光検出回路は、複数の受光回路の出力を選択的に加算する加算器 を備える光検出回路であって、それぞれの前記受光回路は、光検出素子と、光検出 素子が第 1入力端子に接続された受光用トランスインピーダンスアンプと、受光用トラ ンスインピーダンスアンプの出力端子が第 1入力端子に接続されたトランスコンダクタ ンスアンプと、受光用トランスインピーダンスアンプの出力端子と受光用トランスインピ 一ダンスアンプの第 1入力端子との間に接続され、受光用トランスインピーダンスアン プの出力電圧を一定に保持するべく帰還をかける帰還回路とを有する。なお、第 1入 力端子は、例えばオペアンプの反転入力端子である。
[0008] 本発明によれば、帰還回路が、受光用トランスインピーダンスアンプの出力電圧を 一定に保持するべく帰還をかけるため、屋外環境に存在する外乱光が変動しても、 加算器の出力電圧は一定に保持される。
[0009] 第 2の発明の光検出回路は、第 1の発明の光検出回路の帰還回路が、帰還用誤差 増幅器と、平滑化回路と、帰還用トランジスタとを含むことを特徴とする。帰還用誤差 増幅器は、受光用トランスインピーダンスアンプの出力端子が第 1入力端子に接続さ れ、受光用基準電圧が第 2入力端子に入力される。平滑化回路は、帰還用誤差増 幅器の出力端子が入力端子に接続される。帰還用トランジスタは、平滑化回路の出 力端子が制御端子に接続され、受光用トランスインピーダンスアンプの第 1入力端子 が光検出素子と接続する端子に接続される。
[0010] 本発明によれば、受光用トランスインピーダンスアンプの入力電流の直流成分及び 低周波成分が帰還用トランジスタに流れ、受光用トランスインピーダンスアンプの出 力電圧の低周波成分が低減され、直流成分が受光用基準電圧に保持される。すな わち、帰還回路が、受光用トランスインピーダンスアンプの入力電流の直流成分及び 低周波成分を除去することによって、受光用トランスインピーダンスアンプの出力電 圧の低周波成分を低減し、直流成分を一定に保持する。したがって、屋外環境に存 在する外乱光が変動しても、加算器の出力電圧の低周波成分は低減され、直流成 分は一定に保持される。
[0011] 第 3の発明の光検出回路は、第 1の発明の光検出回路の帰還回路が、帰還用誤差 増幅器と、平滑化回路と、帰還用トランジスタとを含むことを特徴とする。帰還用誤差 増幅器は、受光用トランスインピーダンスアンプの出力端子が第 1入力端子に接続さ れ、受光用トランスインピーダンスアンプの第 1入力端子が第 2入力端子に入力され る。平滑化回路は、帰還用誤差増幅器の出力端子が入力端子に接続される。帰還 用トランジスタは、平滑化回路の出力端子が制御端子に接続され、受光用トランスィ ンピーダンスアンプの第 1入力端子が光検出素子と接続する端子に接続される。
[0012] 本発明によれば、受光用トランスインピーダンスアンプの入力電流の直流成分及び 低周波成分が帰還用トランジスタに流れ、受光用トランスインピーダンスアンプの出 力電圧の低周波成分が低減され、直流成分が受光用トランスインピーダンスアンプ の第 1入力端子の電圧に保持される。すなわち、帰還回路が、受光用トランスインピ 一ダンスアンプの入力電流の直流成分及び低周波成分を除去することによって、受 光用トランスインピーダンスアンプの出力電圧の低周波成分を低減し、直流成分を一 定に保持する。したがって、屋外環境に存在する外乱光が変動しても、加算器の出 力電圧の低周波成分は低減され、直流成分は一定に保持される。
[0013] 第 4の発明の光検出回路は、第 2の発明の光検出回路の受光用トランスインピーダ ンスアンプが、受光用オペアンプと、第 1受光用帰還抵抗とを含む。受光用オペアン プは、光検出素子が、受光用トランスインピーダンスアンプの第 1入力端子である第 1 入力端子に接続され、受光用基準電圧が第 2入力端子に入力される。第 1受光用帰 還抵抗は、受光用トランスインピーダンスアンプの出力端子である受光用オペアンプ の出力端子と受光用オペアンプの第 1入力端子との間に接続される。 [0014] 第 5の発明の光検出回路は、第 3の発明の光検出回路の受光用トランスインピーダ ンスアンプが、受光用トランジスタと、電流制御抵抗と、第 2受光用帰還抵抗とを含む 。受光用トランジスタは、光検出素子が、受光用トランスインピーダンスアンプの第 1 入力端子である制御端子に接続される。電流制御抵抗は、受光用トランスインピーダ ンスアンプの出力端子である受光用トランジスタの出力端子と固定電位との間に接続 される。第 2受光用帰還抵抗は、受光用トランジスタの出力端子と受光用トランジスタ の制御端子との間に接続される。
[0015] 本発明によれば、受光用基準電圧が不要となる。したがって、回路を削減すること ができる。第 6の発明の光検出回路は、第 5の発明の光検出回路の帰還用誤差増幅 器の第 2入力端子が、前記受光用トランジスタの前記制御端子に接続されていること を特徴とする。
[0016] 本発明によれば、受光用トランジスタの制御端子の電圧を受光用基準電圧として用 いている。第 2の発明の受光用トランスインピーダンスアンプの第 1入力端子の電圧と 第 2入力端子の電圧とがほぼ同一であることに基づき、第 2の発明において受光用ト ランスインピーダンスアンプの第 2入力端子に接続された帰還用誤差増幅器の第 2入 力端子を、第 3の発明では、受光用トランスインピーダンスアンプの第 1入力端子に 接続した。したがって、本発明の受光用トランスインピーダンスアンプは、受光用トラ ンジスタ、電流制御抵抗、及び、第 2受光用帰還抵抗で構成され、受光用基準電圧 が不要となる。故に、回路を削減することができる。
[0017] 受光用トランジスタの制御端子の電圧は、受光用トランジスタの出力端子の電流に よって決まり、ほぼ一定である。したがって、帰還回路が、受光用トランスインピーダン スアンプの入力電流の直流成分及び低周波成分を除去することによって、受光用ト ランスインピーダンスアンプの出力電圧の低周波成分を低減し、直流成分をほぼ一 定に保持する。したがって、屋外環境に存在する外乱光が大きくなつても、加算器の 出力電圧の低周波成分は低減され、直流成分は一定に保持される。
[0018] 第 7の発明の光検出回路は、第 2〜6のいずれかの発明の光検出回路の帰還用誤 差増幅器が、第 1誤差増幅用トランジスタと、第 2誤差増幅用トランジスタと、第 1誤差 増幅用負荷と、第 2誤差増幅用負荷と、誤差増幅用電流源とを含む。第 1誤差増幅 用トランジスタは、受光用トランスインピーダンスアンプの出力端子に制御端子が接 続される。第 2誤差増幅用トランジスタは、受光用基準電圧が制御端子に入力される 。第 1誤差増幅用負荷は、第 1誤差増幅用トランジスタの出力端子に接続される。第 2誤差増幅用負荷は、第 2誤差増幅用トランジスタの出力端子に接続される。誤差増 幅用電流源は、第 1誤差増幅用トランジスタと前記第 2誤差増幅用トランジスタとの共 通ノードに接続される。また、平滑化回路は、入力端子と出力端子との間に接続され るキャパシタのみである。
[0019] 本発明によれば、帰還用誤差増幅器の比較的大きな出力インピーダンスと平滑化 回路のキャパシタによって、必要十分な低域通過フィルタが構成される。したがって、 受光用トランスインピーダンスアンプの入力電流の直流成分及び低周波成分に対し て、十分な帰還をかけることができる。
[0020] 第 8の発明の光検出回路は、第 1〜7のいずれかの発明の光検出回路のトランスコ ンダクタンスアンプが、第 1変換用トランジスタと、第 2変換用トランジスタと、第 1変換 用負荷と、第 2変換用負荷と、変換用電流源とを含む。第 1変換用トランジスタは、受 光用トランスインピーダンスアンプの出力端子に制御端子が接続される。第 2変換用 トランジスタは、変換用基準電圧が制御端子に入力される。第 1変換用負荷は、第 1 変換用トランジスタの出力端子に接続される。第 2変換用負荷は、第 2変換用トランジ スタの出力端子に接続される。変換用電流源は、第 1変換用トランジスタと第 2変換 用トランジスタとの共通ノードに接続される。
[0021] 第 9の発明の光検出回路は、第 1〜8のいずれかの発明の光検出回路が、複数の 受光回路の出力を選択する選択制御回路と、複数の受光回路と前記加算器との間 に揷入され、選択制御回路の出力に応じて動作する複数の選択スィッチとを更に備 える。加算器は、複数の受光回路が複数の前記選択スィッチを介して入力端子に接 続された加算用トランスインピーダンスアンプを有する。加算用トランスインピーダンス アンプは、複数の受光回路の出力端子が前記選択スィッチを介して第 1入力端子に 接続され、加算用基準電圧が第 2入力端子に接続された加算用オペアンプと、加算 用オペアンプの出力端子と前記加算用オペアンプの前記第 1入力端子との間に接 続された加算用帰還抵抗とを含む。 [0022] 本発明によれば、加算器は電流加算を行うため、電圧加算を行う場合のように、そ の利得—周波数特性が加算するチャネル数によって変化することがない。すなわち 、加算器の利得及び周波数帯域は変化しない。レーザ光の照射タイミング力 反射 光の受光タイミングまでの時間に基づいて反射物体を検出するタイムォブフライトに よる計測を行う場合、光検出回路の利得または周波数帯域の変化が計測エラーの原 因となるが、本発明によれば、計測エラーが生じない。
[0023] また、選択制御回路からの信号で動作する各選択スィッチが、各受光回路を選択 的に加算器に接続する。このため、反射パルス光の入射位置予測と反射パルス光の ゴースト光の入射位置予測や反射パルス光の受光の際の欠けを防ぐために、複数の 受光回路のうち必要かつ十分な受光回路のみを加算器に接続することができる。す なわち、出力信号のない受光回路を加算器力 切り離すことができるので、光検出回 路の出力の S/N比を大きくすることができる。
[0024] また、外乱光が発生する電流は光検出回路の入力端にて除去されるため外乱光に よるアンプの飽和とは無関係に初段のゲインを大きく設定して初段アンプの感度を大 きく設定することができ、アンプを低ノイズにする事ができる。
[0025] 第 10の発明の光検出回路は、第 1〜8のいずれかの発明の光検出回路が、トラン スコンダクタンスアンプの動作または非動作を制御することによって、複数の前記受 光回路の出力を選択する選択制御回路を更に備える。加算器は、複数の受光回路 が入力端子に接続された加算用トランスインピーダンスアンプを有する。加算用トラン スインピーダンスアンプは、複数の受光回路の出力端子が第 1入力端子に接続され 、加算用基準電圧が第 2入力端子に接続された加算用オペアンプと、加算用ォペア ンプの出力端子と前記加算用オペアンプの前記第 1入力端子との間に接続された加 算用帰還抵抗とを含む。
[0026] 本発明によれば、加算器は電流加算を行うため、電圧加算を行う場合のように、そ の利得—周波数特性が加算するチャネル数によって変化することがない。すなわち 、加算器の利得及び周波数帯域は変化しない。したがって、本発明によれば、上述 のように計測エラーが生じなレ、。
[0027] また、各受光回路のトランスコンダクタンスアンプは、選択制御回路からの信号に基 づき動作する。このため、上述のように、複数の受光回路のうち必要かつ十分な受光 回路のみを動作させることができる。すなわち、出力信号のない受光回路を非動作 の状態にしておけるので、光検出回路の出力の S/N比を大きくでき、且つ、光検出 回路の消費電力を低減できる。
[0028] 第 11の発明の光検出回路は、第 1〜: 10のいずれかの発明の光検出回路が、加算 器の出力端子が第 1端子に接続された比較用キャパシタと、比較用キャパシタの第 2 端子が第 1入力端子に接続され、比較用基準電圧が第 2入力端子に入力された比 較器と、比較器の第 1入力端子に直流電圧を供給する比較用直流電圧源と、比較器 の第 1入力端子と比較用直流電圧源との間に挿入され、比較用キャパシタの電位を 制御する充放電制御回路とを有する受光タイミング検出回路を更に備える。
[0029] 第 12の発明の基準電圧生成回路は、光検出素子と、光検出素子が制御端子に接 続された受光用トランジスタと、受光用トランジスタの出力端子と固定電位との間に接 続された電流制御抵抗と、受光用トランジスタの出力端子と受光用トランジスタの制 御端子との間に接続された (第 2)受光用帰還抵抗と、受光用トランジスタの出力端子 が第 1入力端子に接続され、受光用トランジスタの制御端子が第 2入力端子に接続さ れた帰還用誤差増幅器と、帰還用誤差増幅器の出力端子が入力端子に接続された 平滑化回路と、平滑化回路の出力端子が制御端子に接続され、受光用トランジスタ の制御端子が光検出素子と接続する端子に接続された帰還用トランジスタとを備える
[0030] 本発明によれば、光検出素子が光を受けると、受光用トランジスタの出力端子に電 圧が発生する。光検出素子が受ける光の強度が変動すると、(第 2)受光用帰還抵抗 に流れる電流が変動して、受光用トランジスタの出力端子の電圧が変動するが、帰 還用誤差増幅器がその変動を検出することによって、平滑化回路と受光用トランジス タとが(第 2)受光用帰還抵抗に流れる電流の直流成分及び低周波成分を除去する 。したがって、受光用トランジスタの出力端子の電圧の低周波成分は低減され、直流 成分は受光用トランジスタの制御端子の電圧の直流成分と等しく一定に保持される。
[0031] ここで、受光用トランジスタの制御端子の電圧は、受光用トランジスタの出力端子の 電流によって決まり、ほぼ一定である。したがって、受光用トランジスタの出力端子の 電圧の低周波成分は低減され、直流成分は常に一定に保持される。
発明の効果
[0032] 本発明によれば、帰還回路が、外乱光成分を除去し、光検出回路の出力電圧の低 周波成分を低減し、直流成分を一定に保持するため、光検出回路の出力電圧を、こ の電圧の直流成分に近づけて設定する基準電圧と比較することができる。したがって 、本発明の光検出回路を用いれば、屋外環境に存在する外乱光の影響を受けること なぐ反射物体によって反射された反射光の検出精度を向上することができる。
[0033] また、受光回路を分割しているため、光検出素子の寄生容量による周波数帯域の 劣化が軽減される。
[0034] また、光検出素子ごとに増幅器を接続しているため、光検出素子の数が増減しても 、この増幅器の利得—周波数特性がばらつくことがなぐ光検出回路の検出精度が 安定する。
[0035] また、加算器は電流加算を行うため、電圧加算を行う場合のように、その利得-周 波数特性が加算するチャネル数によって変化することがない。すなわち、加算器の 周波数帯域は変化しない。したがって、本発明の光検出回路は、レーザ光の照射タ イミングから反射光の受光タイミングまでの時間に基づいて反射物体を検出するタイ ムォブフライトによる計測に用レ、られても、検出物体までの距離を高精度に検出する こと力 Sできる。
[0036] また、受光回路ごとに外乱光成分を除去しているため、光検出素子ごとに外乱光が ばらつレ、ても、高レ、検出精度を保持することができる。
[0037] また、複数の受光回路のうち必要な受光回路のみを選択する選択回路を有してい るので、必要な受光回路のみの出力を加算することができる。すなわち、不要な受光 回路の出力を加算しないので、不要な外乱光による雑音を除去することができる。し たがって、簡単な回路構成によって光検出精度を向上することができる。
[0038] また、複数の受光回路のうち必要な受光回路のみを動作させる選択回路を有して いるため、消費電力を低減することができる。
図面の簡単な説明
[0039] [図 1]図 1は本発明の第 1の実施形態に力、かる光検出回路の構成を示す回路図であ る。
[図 2]図 2は本発明の第 1の実施形態に力かる光検出回路を具体化した一例を示す 回路図である。
[図 3]図 3- (a)は光強度のタイミングチャート、図 3_ (b)は電圧のタイミングチャート、 図 3- (c)は光強度のタイミングチャート、図 3_ (d)は電圧のタイミングチャート、図 3- ( e)は電圧のタイミングチャートである。
[図 4]図 4は本発明の第 2の実施形態に力、かる光検出回路の構成を示す回路図であ る。
[図 5]図 5は本発明の第 2の実施形態に力、かる受光回路の構成の一変形例を示す回 路図である。
[図 6]図 6は本発明の第 2の実施形態に力、かる受光回路の構成の一変形例を示す回 路図である。
[図 7]図 7は本発明の第 2の実施形態に力かる受光回路の構成の一変形例を示す回 路図である。
[図 8]図 8は本発明の第 1の実施形態に力かる受光回路の構成の一変形例を示す回 路図である。
[図 9]図 9は本発明の第 2の実施形態に力かる受光回路の構成の一変形例を示す回 路図である。
符号の説明
10 光検出回路
12 受光回路
14 加算器
16 光検出素子
18 受光用トランスインピーダンスアンプ
20a 受光用基準電圧
20b 変換用基準電圧
22 トランスコンダクタンスアンプ
24 帰還回路 30 受光用オペアンプ
32 受光用帰還抵抗
34 帰還用誤差増幅器
36 平滑化回路
38 '帰還用トランジスタ
40 カロ算用トランスインピーダンスアンプ
42 加算用基準電圧
60 選択制御回路
62 選択スィッチ
70 受光タイミング検出回路。
発明を実施するための最良の形態
[0041] 以下、図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、 各図面にぉレ、て同一又は相当の部分に対しては同一の符号を附すこととする。
[0042] 図 1は、本発明の第 1の実施形態に力かる光検出回路の構成を示す回路図である 。図 1に示す光検出回路 10は、複数の受光回路 12、加算器 14、選択制御回路 60、 複数の選択スィッチ 62、及び、受光タイミング検出回路 70を備える。それぞれの受 光回路 12は、光検出素子 16、受光用トランスインピーダンスアンプ 18、受光用基準 電圧 20a、変換用基準電圧 20b、トランスコンダクタンスアンプ 22、及び、帰還回路 2 4を有する。
[0043] 光検出素子 16には、例えばフォトダイオードを用いる。光検出素子 16の力ソードは 第 1の電源線 26aに接続され、光検出素子 16のアノードは入力ノード 28a (受光用ト ランスインピーダンスアンプ 18の第 1入力端子)に接続されている。光検出素子 16は 、受信光を受けて、受信光に応じた電流を生成する。
[0044] 受光用トランスインピーダンスアンプ 18は、受光用オペアンプ 30と第 1受光用帰還 抵抗 32とを含む。受光用オペアンプ 30の反転入力端子(第 1入力端子)は入力ノー ド 28aに接続され、受光用オペアンプ 30の非反転入力端子(第 2入力端子)には受 光用基準電圧 20aが入力されている。受光用オペアンプ 30の出力端子は、帰還ノー ド 28b (受光用トランスインピーダンスアンプ 18の出力端子)に接続されている。 [0045] 第 1受光用帰還抵抗 32の一端は入力ノード 28aに接続され、第 1受光用帰還抵抗 32の他端は帰還ノード 28bに接続されている。受光用トランスインピーダンスアンプ 1 8は、光検出素子 16の出力電流が入力され、この電流に応じた電圧を出力する。
[0046] なお、受光用基準電圧 20aは、バンドギャップリファレンス回路とレ、つた一定な電圧 を生成する回路によって生成された一定な電圧である。
[0047] トランスコンダクタンスアンプ 22には、例えば差動増幅器が用いられる。トランスコン ダクタンスアンプ 22の第 1入力端子 21aは帰還ノード 28bに接続され、トランスコンダ クタンスアンプ 22の第 2入力端子 21bには変換用基準電圧 20bが入力されている。ト ランスコンダクタンスアンプ 22の出力端子は出力ノード 28cに接続されている。トラン スコンダクタンスアンプ 22は、受光用トランスインピーダンスアンプ 18の出力電圧が 入力され、極性まで含めてこの電圧に応じた電流を出力する。
[0048] なお、変換用基準電圧 20bは、バンドギャップリファレンス回路とレ、つた一定な電圧 を生成する回路によって生成された一定な電圧である。変換用基準電圧 20bは、受 光用基準電圧 20aと同一であってもよい。この場合、受光用基準電圧 20aと変換用 基準電圧 20bとの間のトラッキングを意識する必要がなくなるので、温度変動や電源 電圧変動を抑制しない比較的簡単な構成の基準電圧生成回路を使用することがで きる。
[0049] 帰還回路 24は、帰還用誤差増幅器 34、平滑化回路 36、及び、帰還用トランジスタ 38を含む。帰還用誤差増幅器 34のマイナス入力端子(第 1入力端子)は帰還ノード 28bに接続され、帰還用誤差増幅器 34のプラス入力端子 (第 2入力端子)は受光用 基準電圧 20aに接続されている。帰還用誤差増幅器 34の出力端子は平滑化回路 3 6の入力端子に接続されている。平滑化回路 36の出力端子は、帰還用 N型トランジ スタ 38の制御端子(ゲート)に接続されている。
[0050] 帰還用 N型トランジスタ 38の第 1の端子(ドレイン)は入力ノード 28aに接続され、帰 還用 N型トランジスタ 38の第 2の端子(ソース)は第 2の電源線 26bに接続されてレ、る
[0051] 帰還回路 24は、受光用トランスインピーダンスアンプ 18の入力電流の直流成分及 び低周波成分を除去することによって、受光用トランスインピーダンスアンプ 18の出 力電圧の低周波成分を低減し、直流成分を受光用基準電圧 20aに保持する。
[0052] なお、帰還用 N型トランジスタ 38は、受光用トランスインピーダンスアンプ 18の入力 電流の直流成分及び低周波成分を除去できるくらい、すなわち、外乱光の直流成分 及び低周波電流を引き抜けるくらい、トランジスタサイズを大きくしておく必要がある。
[0053] 加算器 14は、例えば受光用トランスインピーダンスアンプ 18と同様な加算用トラン スインピーダンスアンプ 40と加算用基準電圧 42とを含む。加算用トランスインピーダ ンスアンプ 40のマイナス入力端子(第 1入力端子)は複数の出力ノード 28cにそれぞ れ選択スィッチ 62を介して接続され、加算用トランスインピーダンスアンプ 40のブラ ス入力端子 (第 2入力端子)は加算用基準電圧 42に接続されている。加算器 14は、 複数の受光回路 12の出力電流を選択的に加算して、この加算した電流に応じた電 圧を出力する。
[0054] 選択スィッチ 62には、例えばトランジスタが用いられる。選択スィッチ 62は、選択制 御回路 60によって〇N、 OFFを切り替える。選択制御回路 60は、複数の受光回路 1 2のうち、加算器 14に入力する受光回路 12の出力電流を選択するための信号を出 力する。
[0055] なお、加算用基準電圧 42は、バンドギャップリファレンス回路といった一定な電圧を 生成する回路によって生成された一定な電圧であり、受光用基準電圧 20aと同一で あってもよい。
[0056] 受光タイミング検出回路 70は、比較器と比較用基準電圧とを有している。受光タイ ミング検出回路 70の詳細な構成は後述する。受光タイミング検出回路 70は、加算器 14からの出力電圧を受けて、比較器によってこの出力電圧と比較用基準電圧とを比 較し、受光タイミングを検出する。受光タイミングの検出方法の詳細も後述する。
[0057] 図 2は、本発明の第 1の実施形態にかかる光検出回路を具体化した一例を示す回 路図である。図 2に示すように、トランスコンダクタンスアンプ 22及び帰還回路 24の帰 還用誤差増幅器 34には、例えば差動増幅回路を用いることができ、平滑化回路 36 には、例えばローパスフィルタやキャパシタを用いることができる。
[0058] 帰還用誤差増幅器 34は、第 1誤差増幅用 P型トランジスタ Trl、第 2誤差増幅用 P 型トランジスタ Tr2、 N型トランジスタ Tr3 (第 1誤差増幅用負荷)、 N型トランジスタ Tr 4 (第 2誤差増幅用負荷)、及び、誤差増幅用電流源 Icmlを有する。
[0059] 第 1誤差増幅用 P型トランジスタ Trlの制御端子(ゲート)は帰還ノード 28bに接続さ れ、第 1誤差増幅用 P型トランジスタ Trlの第 1の端子(ドレイン)は N型トランジスタ Tr 3の第 1の端子(ドレイン)に接続され、第 1誤差増幅用 P型トランジスタ Trlの第 2の 端子(ソース)は共通ノード N1に接続されてレ、る。 N型トランジスタ Tr3の第 2の端子( ソース)は第 2の電源線 26bに接続され、 N型トランジスタ Tr3の制御端子(ゲート)は 共通ノード N2に接続されている。また、第 1誤差増幅用 P型トランジスタ Trlの第 1の 端子 (ドレイン)は帰還用誤差増幅器 34の出力端子とされ、平滑化回路 36の入力端 子に接続されている。
[0060] 第 2誤差増幅用 P型トランジスタ Tr2の制御端子(ゲート)には受光用基準電圧 20a が入力されている。第 2誤差増幅用 P型トランジスタ Tr2の第 1の端子(ドレイン)は N 型トランジスタ TMの第 1の端子(ドレイン)に接続され、第 2誤差増幅用 P型トランジス タ Tr2の第 2の端子(ソース)は共通ノード N1に接続されている。 N型トランジスタ Tr4 の第 2の端子(ソース)は第 2の電源線 26bに接続され、 N型トランジスタ Tr4の制御 端子(ゲート)は共通ノード N2に接続されている。この共通ノード N2は N型トランジス タ Tr4の第 1の端子(ドレイン)に接続されている。
[0061] 誤差増幅用電流源 Icmlの一方の端子は共通ノード N1に接続され、誤差増幅用 電流源 Icmlの他方の端子は第 1の電源線 26aに接続されている。誤差増幅用電流 源 Icmlには、例えばカレントミラー回路や抵抗を用いればよい。本実施の形態では 、第 1誤差増幅用負荷及び第 2誤差増幅用負荷にアクティブロード回路を用いている 力 それぞれ抵抗を用いてもよい。
[0062] 同様に、トランスコンダクタンスアンプ 22は、第 1変換用 P型トランジスタ Tr5、第 2変 換用 P型トランジスタ Tr6、 N型トランジスタ Tr7 (第 1変換用負荷)、 N型トランジスタ T r8 (第 2変換用負荷)、及び、変換用電流源 Icm2を有する。
[0063] 第 1変換用 P型トランジスタ Tr5の制御端子(ゲート)は帰還ノード 28bに接続され、 第 1変換用 P型トランジスタ Tr5の第 1の端子(ドレイン)は N型トランジスタ Tr7の第 1 の端子(ドレイン)に接続され、第 1変換用 P型トランジスタ Tr5の第 2の端子(ソース) は共通ノード N3に接続されている。 N型トランジスタ Tr7の第 2の端子(ソース)は第 2 の電源線 26bに接続され、 N型トランジスタ Tr7の制御端子(ゲート)は共通ノード N4 に接続されている。また、第 1変換用 P型トランジスタ Tr5の第 1の端子(ドレイン)は出 力ノード 28cと接続され、選択スィッチ 62に接続されている。
[0064] 第 2変換用 P型トランジスタ Tr6の制御端子(ゲート)には変換用基準電圧 20bが入 力されている。第 2変換用 P型トランジスタ Tr6の第 1の端子(ドレイン)は N型トランジ スタ Tr8の第 1の端子(ドレイン)に接続され、第 2変換用 P型トランジスタ Tr6の第 2の 端子(ソース)は共通ノード N3に接続されている。 N型トランジスタ Tr8の第 2の端子( ソース)は第 2の電源線 26bに接続され、 N型トランジスタ Tr8の制御端子(ゲート)は 共通ノード N4に接続されている。この共通ノード N4は N型トランジスタ Tr8の第 1の 端子(ドレイン)に接続されてレ、る。
[0065] 変換用電流源 Icm2の一方の端子は共通ノード N3に接続され、変換用電流源 Icm 2の他方の端子は第 1の電源線 26aに接続されている。誤差増幅用電流源 Icm2に は、例えばカレントミラー回路や抵抗を用いればよい。本実施の形態では、第 1変換 負荷及び第 2変換用負荷にアクティブロード回路を用いているが、 Tr5と Tr6の入力 電圧差を電流に変換できる他の実施形態でも良い。
[0066] 受光タイミング検出回路 70は、比較用キャパシタ 71、比較用直流電圧源 75、比較 器 76、充放電制御回路 77、及び、比較用基準電圧 78を有する。
[0067] 比較用キャパシタ 71の第 1端子は、加算器 14の出力端子に接続されている。比較 用キャパシタ 71の第 2端子は、比較器 76の第 1入力端子に接続されている。比較器 76の第 1入力端子には、充放電制御回路 77を介して、比較用直流電圧源 75の一 方の端子が接続されている。比較用直流電圧源 75の他方の端子は第 2の電源線 26 bと同電位の第 3の電源線 26cに接続されている。比較器 76の第 2入力端子には、比 較用基準電圧 78が入力されている。充放電制御回路 77は、直列に接続された抵抗 73とスィッチ 74とに対して、並列に接続された抵抗 72で構成される。
[0068] なお、比較用基準電圧 78は、バンドギャップリファレンス回路といった一定な電圧を 生成する回路によって生成された一定な電圧であり、受光用基準電圧 20a、変換用 基準電圧 20b、及び、加算用基準電圧 42と同一であってもよい。
[0069] 以下、本発明の第 1の実施形態に力かる光検出回路 10の動作を説明する。まず、 光検出回路 10が受ける受信光について説明する。図示しない車載用レーダ装置は
、発光素子からのレーザ光を、複数の反射角を有するポリゴンミラーによって、少なく とも車幅方向の所定角度範囲内に渡り複数の方向に照射する。この各レーザ光は、 反射物体によって反射し、反射光となる。また、屋外環境には、太陽光といった外乱 光が存在する。光検出回路 10が受ける受信光には、この反射光と外乱光とが含まれ る。
[0070] まず過渡状態のことを考える。光検出素子 16がこの受信光を受けて、受信光に応 じた電流が受光用トランスインピーダンスアンプ 18に入力される。受光用トランスイン ピーダンスアンプ 18は、入力ノード 28aの電圧が受光用基準電圧 20aと等しくなるよ うに動作し、入力される電流を受光用帰還抵抗 32に流す。したがって、帰還ノード 28 bの電圧は、受光用帰還抵抗 32の電圧降下によって、受光用基準電圧 20aより低下 する。
[0071] 帰還回路 24の帰還用誤差増幅器 34は、帰還ノード 28bの電圧と受光用基準電圧 20aの誤差を増幅し、増幅された誤差電圧を出力する。増幅された誤差電圧は、平 滑化回路 36によって平滑され、帰還用 N型トランジスタ 38の制御端子 (ゲート)に入 力される。この制御端子(ゲート)の電圧によって、帰還用 N型トランジスタ 38の第 1の 端子(ドレイン) 第 2の端子(ソース)間に直流電流が流れる。したがって、通常の動 作状態では、受光用トランスインピーダンスアンプ 18に流れ込む電流の直流成分が 除去され、帰還ノード 28bの電圧の直流成分は受光用基準電圧 20aと等しく一定に 保持される。
[0072] 実際には、平滑化回路 36のキャパシタと帰還用誤差増幅器 34の出力インピーダン スとで低域通過フィルタが構成されるので、受光用トランスインピーダンスアンプ 18に 流れ込む電流の低周波成分、すなわち、低域通過フィルタのカットオフ周波数以下 の低周波成分も除去され、帰還ノード 28bの電圧の低周波成分は低減され、直流成 分は受光用基準電圧 20aと等しく一定に保持される。
[0073] トランスコンダクタンスアンプ 22は、この帰還ノード 28bの電圧と変換用基準電圧 20 bとの差電圧を電流に変換して、その電流を出力ノード 28cに出力するため、この出 力電流の低周波成分は低減され、直流成分は一定となる。加算器 14は、複数の出 力ノード 28cからの電流であって、低周波成分が低減され、直流成分が一定である 電流を加算して、電圧に変換し、この電圧を出力するため、この出力電圧の低周波 成分は低減され、直流成分は選択制御回路 60及び選択スィッチ 62によって選択さ れた受光回路 12の数に応じて一定となる。
[0074] 図 3は、受信光と加算器 14の出力電圧の関係を示す図である。すなわち、図 3_ (a) は光強度のタイミングチャート、図 3- (b)は電圧のタイミングチャート、図 3- (c)は光強 度のタイミングチャート、図 3_ (d)は電圧のタイミングチャート、図 3- (e)は電圧のタイ ミングチャートである。図 3_ (a)に示すように、受信光は、外乱光にノ^レス状の反射光 が重畳している光である。本実施形態の光検出回路 10は、この受信光を受けると、 図 3- (b)に示すような、外乱光に応じた直流電圧に、パルス状の反射光に応じたパ ノレス電圧が重畳する電圧を加算器 14から出力する。
[0075] 受光タイミング検出回路 70は、この加算器 14からの出力を、比較用キャパシタ 71 を介して、直流分をカットした形で取り出す。直流分がカットされた加算器 14からの出 力は、抵抗 73とスィッチ 74を直列にした回路と並列に抵抗 72を取り付けた充放電制 御回路 77を介して比較用直流電圧源 75の直流電圧を重畳され、比較器 76の第 1 入力端子に入力される。比較器 76は、第 1入力端子に入力された出力電圧が比較 用基準電圧 78と交差する受光タイミングを検出し、レーザ光の照射タイミング力 反 射光の受光タイミングまでの時間に基づいて反射物体を検出する。この受光タイミン グの検出精度を上げるためには、基準電圧を出力電圧の直流電圧に近づけて設定 すればよい。
[0076] なお、この抵抗 73とスィッチ 74を直列にした回路と並列に抵抗 72を取り付けた充 放電制御回路 77は、オフセット変動を除去するために必要な際にスィッチ 74を ON としてキャパシタ 71を抵抗 72よりも十分に小さい値を持つ抵抗 73を用いて小さい時 定数で急速に充放電するクイックチャージ回路となっている。
[0077] し力 ながら、本実施形態の帰還回路 24がない場合、図 3- (c)に示すように加算 する選択チャネルを切り替えたとき、例えば、外乱光の小さなチャネルから大きなチヤ ネルに切り替えたときには、受光用トランスインピーダンスアンプ 18に入力される電流 が増加し、受光用帰還抵抗 32の電圧降下によって帰還ノード 28bの電圧の直流成 分が低下する。したがって、トランスコンダクタンスアンプ 22の出力電流の直流成分 が増加し、加算器 14の出力電圧の直流成分が低下する。
[0078] 図 3- (d)に示すように、加算器 14の出力電圧が受光タイミング検出回路 70の比較 用基準電圧 78と交差するタイミングがなくなる。加算器 14の出力をそのまま直流で 処理することは一般的でなぐ前述のように一度比較用キャパシタ 71で直流分をカツ トした上で、もう一度バイアスして処理することになる力 直流分がカットされていても 通常はスィッチ 74のない CRの高周波通過フィルタで結合するため、 CRの時定数に よっては、高域通過フィルタを通過した後も図 3- (d)のように比較器 76で比較用基準 電圧 78と交差するタイミングがなくなり、反射光の受光タイミングを検出できなくなる。
[0079] また、加算する選択チャネルの数を変えたとき、例えば、増やしたときには、各チヤ ネルに入っている外乱光が同じ位だとしても加算器 14の出力電圧の直流成分は低 下することになり、同じことが起きる。
[0080] 本実施形態では、帰還回路 24が、受光用トランスインピーダンスアンプ 18に入力さ れる電流の直流成分及び低周波成分を除去し、帰還ノード 28bの電圧の低周波成 分を低減し、直流成分を受光用基準電圧 20aと等しく一定に保持する。したがって、 トランスコンダクタンスアンプ 22の出力電流の低周波成分が低減され、直流成分が一 定に保持される。故に、加算器 14の出力電圧の低周波成分が低減され、直流成分 が一定に保持される。
[0081] 図 3- (e)に示すように、加算器 14の出力電圧が受光タイミング検出回路 70の比較 用基準電圧 78と常に交差し、反射光の受光タイミングを検出できる。これは、チヤネ ル切り替えを行った場合でも、加算する選択チャネルの数を変えた場合でも、同じで ある。
[0082] このように、本発明の実施形態によれば、帰還回路 24が、外乱光成分を除去し、光 検出回路 10の出力電圧の低周波成分を低減し、直流成分を一定に保持するため、 光検出回路 10の出力電圧を、この電圧の直流成分に近づけて設定する基準電圧と 比較すること力 Sできる。したがって、本発明の光検出回路 10を用いれば、屋外環境 に存在する外乱光の影響を受けることなぐ反射物体によって反射された反射光の 検出精度を向上することができる。 [0083] また、受光回路 12を分割しているため、光検出素子 16の寄生容量による周波数帯 域の劣化が軽減される。
[0084] また、光検出素子 16ごとに増幅器 (受光用トランスインピーダンスアンプ 18及びトラ ンスコンダクタンスアンプ 22)を接続しているため、選択制御回路 60及び選択スイツ チ 62にて加算器 14に接続される受光回路 12の数、すなわち光検出素子 16の数が 増減しても、この増幅器の利得—周波数特性がばらつくことがなぐ光検出回路 10の 検出精度が安定する。
[0085] また、加算器 14は電流加算を行うため、電圧加算を行う場合のように、その利得— 周波数特性が加算するチャネル数によって変化することがない。すなわち、加算器 1 4の利得及び周波数帯域は変化しなレ、。レーザ光の照射タイミングから反射光の受 光タイミングまでの時間に基づいて反射物体を検出するタイムォブフライトによる計測 を行う場合、光検出回路 10の利得または周波数帯域の変化が計測エラーの原因と なるが、本発明によれば、計測エラーが生じない。
[0086] また、選択制御回路 60からの信号で動作する各選択スィッチ 62が、各受光回路 1 2を選択的に加算器 14に接続する。このため、反射パルス光の入射位置予測と反射 パルス光のゴースト光の入射位置予測や反射パルス光の受光の際の欠けを防ぐた めに、複数の受光回路 12のうち必要かつ十分な受光回路 12のみを加算器 14に接 続すること力 Sできる。すなわち、出力信号のない受光回路 12を加算器 14から切り離 すことができるので、光検出回路 10の出力の S/N比を大きくすることができる。
[0087] また、受光回路 12ごとに外乱光成分を除去しているため、光検出素子 16ごとに外 乱光がばらつレ、ても、高レ、検出精度を保持することができる。
[0088] 更に、簡単な回路構成によって光検出精度を向上することができる。
[0089] 次に、本発明の第 2の実施形態に力、かる光検出回路について説明する。図 4は、本 発明の第 2の実施形態に力かる光検出回路の構成を示す回路図である。図 4に示す 光検出回路 10aは、それぞれの受光回路 12aが、受光用トランスインピーダンスアン プ 18を受光用トランスインピーダンスアンプ 18aとし、受光用基準電圧 20aを有しな い構成において、第 1の実施形態と異なる。また、光検出回路 10aは、帰還回路 24 の帰還用誤差増幅器 34のプラス入力端子 (第 2入力端子)が入力ノード 28aに接続 されている点において第 1の実施形態と異なる。
[0090] すなわち、光検出回路 10aは、受光用基準電圧 20aの代わりに受光用 N型トランジ スタ 50のゲート一ソース間電圧 V を使う点で第 1の実施形態と異なっている。また、
gs
選択スィッチ 62を用いず、トランスコンダクタンスアンプ 22が、選択制御回路 60から の信号を受けるトランスコンダクタンスアンプ動作制卸端子 64を有するトランスコンダ クタンスアンプ 22aである点において第 1の実施形態と異なる。
[0091] 受光用トランスインピーダンスアンプ 18aは、受光用 N型トランジスタ 50、第 2受光 用帰還抵抗 52、及び、電流制御抵抗 54を含む。受光用 N型トランジスタ 50の制御 端子 (ゲート)は入力ノード 28aに接続されている。受光用 N型トランジスタ 50の第 1 の端子(ドレイン)は帰還ノード 28bに接続され、受光用 N型トランジスタ 50の第 2の 端子(ソース)は第 2の電源線 26bに接続されてレ、る。
[0092] 第 2受光用帰還抵抗 52の一端は入力ノード 28aに接続され、第 2受光用帰還抵抗
52の他端は帰還ノード 28bに接続されている。電流制御抵抗 54の一端は第 1の電 源線 26aに接続され、電流制御抵抗 54の他端は帰還ノード 28bに接続されている。 受光用トランスインピーダンスアンプ 18aは、光検出素子 16の出力電流が入力され、 この電流に応じた電圧を出力する。
[0093] 帰還回路 24は、受光用トランスインピーダンスアンプ 18aの入力電流の直流成分を 除去することによって、受光用トランスインピーダンスアンプ 18aの出力電圧の直流成 分を受光用トランスインピーダンスアンプ 18aの入力電圧の直流成分と等しく一定に 保持する。
[0094] トランスコンダクタンスアンプ 22aは、選択制御回路 60力らの信号をトランスコンダク タンスアンプ動作制御端子 64で受け、この信号に基づいて動作する力、または動作し ないかを決める。例えば、トランスコンダクタンスアンプ動作制御端子 64に入力される 信号によって電流源 Icm2を〇Nまたは OFF制御する。
[0095] 以下、本発明の第 2の実施形態に力かる光検出回路 10aの動作を説明する。
[0096] まず過渡状態で考える。光検出素子 16が受信光を受けて、受光用トランスインピー ダンスアンプ 18aに電流が入力される。受光用トランスインピーダンスアンプ 18aは、 入力される電流を、第 2受光用帰還抵抗 52を介して受光用 N型トランジスタ 50の第 1 の端子(ドレイン)—第 2の端子(ソース)間に流す。したがって、帰還ノード 28bの電 圧は、第 2受光用帰還抵抗 52の電圧降下によって、入力ノード 28aの電圧より低下 する。
[0097] 帰還回路 24の帰還用誤差増幅器 34は、帰還ノード 28bの電圧と入力ノード 28aの 電圧の誤差を増幅し、増幅された誤差電圧を出力する。増幅された誤差電圧は、平 滑化回路 36によって平滑され、帰還用 N型トランジスタ 38の制御端子 (ゲート)に入 力される。この制御端子(ゲート)の電圧によって、帰還用トランジスタ 38の第 1の端 子(ドレイン)—第 2の端子(ソース)間に直流電流が流れる。
[0098] ここで、入力ノード 28aの電圧は、受光用 N型トランジスタ 50のドレイン電流によって 決まり、ほぼ一定である。したがって、通常の動作状態では受光用トランスインピーダ ンスアンプ 18aに流れ込む電流の直流成分が除去され、帰還ノード 28bの電圧の直 流成分は入力ノード 28aの電圧の直流成分と等しく一定に保持される。
[0099] 実際には、平滑化回路 36のキャパシタと帰還用誤差増幅器 34の出力インピーダン スとで低域通過フィルタが構成されるので、受光用トランスインピーダンスアンプ 18に 流れ込む電流の低周波成分、すなわち、低域通過フィルタのカットオフ周波数以下 の低周波成分も除去され、帰還ノード 28bの電圧の直流成分は受光用基準電圧 20 aと等しく一定に保持される。
[0100] このように、本発明の実施形態によれば、帰還回路 24が、外乱光成分を除去し、光 検出回路 10aの出力電圧の直流成分を一定に保持するため、光検出回路 10aの出 力電圧を、この電圧の直流成分に近づけて設定する基準電圧と比較することができ る。したがって、本発明の光検出回路 10aを用いれば、屋外環境に存在する外乱光 の影響を受けることなぐ反射物体によって反射された反射光の検出精度を向上する こと力 Sできる。
[0101] また、受光回路 12aを分割しているため、光検出素子 16の寄生容量による周波数 帯域の劣化が軽減される。
[0102] また、光検出素子 16ごとに増幅器 (受光用トランスインピーダンスアンプ 18a及びト ランスコンダクタンスアンプ 22a)を接続しているため、選択制御回路 60及びトランス コンダクタンスアンプ動作制御端子 64に入力される信号で電流源 Icm2を〇Nまたは OFF制御して加算器 14に接続される受光回路 12を選択的に接続するため、加算 器 14に接続される受光回路 12の数、すなわち光検出素子 16の数が増減しても、こ の増幅器の利得 周波数特性がばらつくことがなぐ光検出回路 10aの検出精度が 安定する。
[0103] また、加算器 14は電流加算を行うため、電圧加算を行う場合のように、その利得— 周波数特性が加算するチャネル数によって変化することがない。すなわち、加算器 1 4の利得及び周波数帯域は変化しなレ、。レーザ光の照射タイミングから反射光の受 光タイミングまでの時間に基づいて反射物体を検出するタイムォブフライトによる計測 を行う場合、光検出回路 10の利得または周波数帯域の変化が計測エラーの原因と なるが、本発明によれば、計測エラーが生じない。
[0104] また、選択制御回路 60からトランスコンダクタンスアンプ動作制御端子 64に入力さ れる信号で電流源 Icm2を ONまたは OFF制御するため、各受光回路 12を選択的に 加算器 14に接続することができる。このため、反射パルス光の入射位置予測と反射 パルス光のゴースト光の入射位置予測や反射パルス光の受光の際の欠けを防ぐた めに、複数の受光回路 12のうち必要かつ十分な受光回路 12のみを加算器 14に接 続すること力 Sできる。すなわち、出力信号のない受光回路 12を加算器 14から切り離 すことができるので、光検出回路 10の出力の S/N比を大きくすることができる。
[0105] また、受光回路 12aごとに外乱光成分を除去しているため、光検出素子 16ごとに外 乱光がばらつレ、ても、高レ、検出精度を保持することができる。
[0106] 更に、簡単な回路構成によって光検出精度を向上することができる。
[0107] なお、本発明は上記した本実施形態に限定されることなく種々の変形が可能である 。図 5に示すように、受光回路 12aは、受光回路 12bの構成であってもよレ、。受光回 路 12bは、受光用トランスインピーダンスアンプ 18aを受光用トランスインピーダンスァ ンプ 18bに替えた構成において、受光回路 12aと異なる。受光用トランスインピーダ ンスアンプ 18bは、受光用トランジスタ 50を N型トランジスタから P型トランジスタに替 えた点において、受光用トランスインピーダンスアンプ 18aと異なる。そのため、受光 用トランジスタ 50の第 2の端子(ソース)は第 1の電源線 26aに接続され、電流制御抵 抗 54は第 2の電源線 26bに接続されることとなる。 [0108] また、図 6に示すように、受光回路 12aは、受光回路 12cの構成であってもよい。受 光回路 12cは、光検出素子の電圧降下、すなわちほぼ一定の電圧が第 1の電源線 2 6aから決まる構成を、第 2の電源線 26bから決まる構成に変えた点において、受光回 路 12aと異なる。このとき、帰還ノード 28bの電圧変動が受光回路 12aとは逆方向とな るため、受光回路 12cは、帰還回路 24を帰還回路 24bに、トランスコンダクタンスアン プ 22aをトランスコンダクタンスアンプ 22bに替えた構成において、受光回路 12aと異 なる。
[0109] 帰還回路 24bは、第 1誤差増幅用トランジスタ Trl及び第 2誤差増幅用トランジスタ Tr2を P型トランジスタから N型トランジスタに、トランジスタ Tr3及びトランジスタ Tr4を N型トランジスタから P型トランジスタに、 'j帚還用トランジスタ 38を N型トランジスタから P型トランジスタに替えた点において、帰還回路 24と異なる。
[0110] そのため、トランジスタ Tr3及びトランジスタ Tr4の第 2の端子(ソース)は第 1の電源 線 26aに接続され、誤差増幅用電流源 Icmlは第 2の電源線 26bに接続されることと なる。また、平滑化回路 36のキャパシタ、及び、帰還用トランジスタ 38の第 2の端子( ソース)は第 1の電源線 26aに接続されることとなる。
[0111] トランスコンダクタンスアンプ 22bは、第 1変換用トランジスタ Tr5及び第 2変換用トラ ンジスタ Tr6を P型トランジスタから N型トランジスタに、トランジスタ Tr7及びトランジス タ Tr8を N型トランジスタから P型トランジスタに替えた点において、トランスコンダクタ ンスアンプ 22と異なる。そのため、トランジスタ Tr7及びトランジスタ Tr8の第 2の端子 (ソース)は第 1の電源線 26aに接続され、誤差増幅用電流源 Icm2は第 2の電源線 2 6bに接続されることとなる。
[0112] また、図 7に示すように、受光回路 12cは、受光回路 12dの構成であってもよい。受 光回路 12dは、受光用トランスインピーダンスアンプ 18aを受光用トランスインピーダ ンスアンプ 18bに替えた構成において、受光回路 12cと異なる。
[0113] また、図 8に示すように、光検出回路 10は、光検出回路 100の構成であってもよい 。光検出回路 100は、受光回路 12の代わりに受光回路 120を用いる構成において 光検出回路 10と異なる。受光回路 120は、帰還用誤差増幅器 34の第 2入力端子が 受光用基準電圧 20aでなぐ受光用トランスインピーダンスアンプ 18の第 1入力端子 に接続されている点で、受光回路 12と異なる。受光用トランスインピーダンスアンプ 1 8の第 1入力端子の電圧と第 2入力端子の電圧とはほぼ同一であるので、受光回路 1 20は受光回路 12と同一の動作を行う。すなわち、光検出回路 100は光検出回路 10 と同一の動作を行う。
[0114] また、図 9に示すように、光検出回路 10aは、光検出回路 100aの構成であってもよ レ、。光検出回路 100aは、受光回路 12aの代わりに受光回路 120aを用いる構成にお レ、て光検出回路 10aと異なる。受光回路 120aは、変換用基準電圧 20bを有しない 構成において、受光回路 12aと異なる。また、受光回路 120aは、トランスコンダクタン スアンプ 22aの第 2変換用 P型トランジスタ Tr6の制御端子が入力ノード 28aに接続さ れている点において受光回路 12aと異なる。すなわち、受光回路 120aは、変換用基 準電圧 20bの代わりに受光用 N型トランジスタ 50のゲート一ソース間電圧 V を使う点
gs で受光回路 12aと異なっている。上述したように受光用 N型トランジスタ 50の V はほ
gs ぼ一定であるため、受光回路 120aは受光回路 12aと同一の動作を行う。すなわち、 光検出回路 100aは光検出回路 10aと同一の動作を行う。
[0115] また、本実施の形態では、トランジスタに電界効果トランジスタを用いている力 バイ ポーラトランジスタを用いてもょレ、。
[0116] また、トランスコンダクタンスアンプ動作制御端子の実現方法として、電流源 Icml及 び電流源 Icm2にスィッチ素子を設けてもよい。具体的には、カレントミラー回路のトラ ンジスタの制御端子 (ゲート)を第 1又は第 2の電源線に短絡するスィッチ素子を設け る。この構成によれば、使用しない受光回路を停止でき、消費電力化が可能である。 また、使用しない受光回路による周波数特性の劣化を軽減できる。
[0117] トランスコンダクタンスアンプ動作制御端子と同様の制御端子を、トランスインピーダ ンスアンプ及び誤差増幅回路等に設けてもよい。この場合には、受光回路を動作さ せる一定時間前に受光回路の電源を ONとして帰還ループを安定させておく必要が あるが、この構成によれば、更に消費電力化が可能であり、更に周波数特性の劣化 を軽減できる。

Claims

請求の範囲
[1] 複数の受光回路の出力を選択的に加算する加算器を備える光検出回路であって、 それぞれの前記受光回路は、
光検出素子と、
前記光検出素子が第 1入力端子に接続された受光用トランスインピーダンスアンプ と、
前記受光用トランスインピーダンスアンプの出力端子が第 1入力端子に接続された トランスコンダクタンスアンプと、
前記受光用トランスインピーダンスアンプの前記出力端子と前記受光用トランスイン ピーダンスアンプの前記第 1入力端子との間に接続され、前記受光用トランスインピ 一ダンスアンプの出力電圧を一定に保持するべく帰還をかける帰還回路と、 を有する光検出回路。
[2] 前記帰還回路は、
前記受光用トランスインピーダンスアンプの前記出力端子が第 1入力端子に接続さ れ、受光用基準電圧が第 2入力端子に入力された帰還用誤差増幅器と、
前記帰還用誤差増幅器の出力端子が入力端子に接続された平滑化回路と、 前記平滑化回路の出力端子が制御端子に接続され、前記受光用トランスインピー ダンスアンプの前記第 1入力端子が前記光検出素子と接続する端子に接続された帰 還用トランジスタと、
を含むことを特徴とする請求項 1に記載の光検出回路。
[3] 前記帰還回路は、
前記受光用トランスインピーダンスアンプの前記出力端子が第 1入力端子に接続さ れ、前記受光用トランスインピーダンスアンプの前記第 1入力端子が第 2入力端子に 接続された帰還用誤差増幅器と、
前記帰還用誤差増幅器の出力端子が入力端子に接続された平滑化回路と、 前記平滑化回路の出力端子が制御端子に接続され、前記受光用トランスインピー ダンスアンプの前記第 1入力端子が前記光検出素子と接続する端子に接続された帰 還用トランジスタと、 を含むことを特徴とする請求項 1に記載の光検出回路。
[4] 前記受光用トランスインピーダンスアンプは、
前記光検出素子が、前記受光用トランスインピーダンスアンプの前記第 1入力端子 である第 1入力端子に接続され、前記受光用基準電圧が第 2入力端子に入力された 受光用オペアンプと、
前記受光用トランスインピーダンスアンプの前記出力端子である前記受光用オペァ ンプの出力端子と前記受光用オペアンプの前記第 1入力端子との間に接続された第 1受光用帰還抵抗と、
を含む請求項 2に記載の光検出回路。
[5] 前記受光用トランスインピーダンスアンプは、
前記光検出素子が、前記受光用トランスインピーダンスアンプの前記第 1入力端子 である制御端子に接続された受光用トランジスタと、
前記受光用トランスインピーダンスアンプの前記出力端子である前記受光用トラン ジスタの出力端子と固定電位との間に接続された電流制御抵抗と、
前記受光用トランジスタの前記出力端子と前記受光用トランジスタの前記制御端子 との間に接続された第 2受光用帰還抵抗と、
を含む、
請求項 3に記載の光検出回路。
[6] 前記帰還用誤差増幅器の前記第 2入力端子は、前記受光用トランジスタの前記制 御端子に接続されていることを特徴とする請求項 5に記載の光検出回路。
[7] 前記帰還用誤差増幅器は、
前記受光用トランスインピーダンスアンプの前記出力端子に制御端子が接続され た第 1誤差増幅用トランジスタと、
前記受光用基準電圧が制御端子に入力される第 2誤差増幅用トランジスタと、 前記第 1誤差増幅用トランジスタの出力端子に接続された第 1誤差増幅用負荷と、 前記第 2誤差増幅用トランジスタの出力端子に接続された第 2誤差増幅用負荷と、 前記第 1誤差増幅用トランジスタと前記第 2誤差増幅用トランジスタとの共通ノード に接続された誤差増幅用電流源と、 を含み、
前記平滑化回路は、前記入力端子と前記出力端子との間に接続されるキャパシタ である、
請求項 2に記載の光検出回路。
[8] 前記トランスコンダクタンスアンプは、
前記受光用トランスインピーダンスアンプの前記出力端子に制御端子が接続され た第 1変換用トランジスタと、
変換用基準電圧が制御端子に入力される第 2変換用トランジスタと、
前記第 1変換用トランジスタの出力端子に接続された第 1変換用負荷と、 前記第 2変換用トランジスタの出力端子に接続された第 2変換用負荷と、 前記第 1変換用トランジスタと前記第 2変換用トランジスタとの共通ノードに接続され た変換用電流源と、
を含む請求項 1に記載の光検出回路。
[9] 複数の前記受光回路の出力を選択する選択制御回路と、
複数の前記受光回路と前記加算器との間に挿入され、前記選択制御回路の出力 に応じて動作する複数の選択スィッチと、
を更に備え、
前記加算器は、複数の前記受光回路が複数の前記選択スィッチを介して入力端 子に接続された加算用トランスインピーダンスアンプを有し、
前記加算用トランスインピーダンスアンプは、複数の前記受光回路の出力端子が前 記選択スィッチを介して第 1入力端子に接続され、加算用基準電圧が第 2入力端子 に接続された加算用オペアンプと、前記加算用オペアンプの出力端子と前記加算用 オペアンプの前記第 1入力端子との間に接続された加算用帰還抵抗とを含む、 請求項 1に記載の光検出回路。
[10] 前記トランスコンダクタンスアンプの動作または非動作を制御することによって、複 数の前記受光回路の出力を選択する選択制御回路を更に備え、
前記加算器は、複数の前記受光回路が入力端子に接続された加算用トランスイン ピーダンスアンプを有し、 前記加算用トランスインピーダンスアンプは、複数の前記受光回路の出力端子が第
1入力端子に接続され、加算用基準電圧が第 2入力端子に接続された加算用オペ アンプと、前記加算用オペアンプの出力端子と前記加算用オペアンプの前記第 1入 力端子との間に接続された加算用帰還抵抗とを含む、
請求項 1に記載の光検出回路。
[11] 前記加算器の出力端子が第 1端子に接続された比較用キャパシタと、
前記比較用キャパシタの第 2端子が第 1入力端子に接続され、比較用基準電圧が 第 2入力端子に入力された比較器と、
前記比較器の前記第 1入力端子に直流電圧を供給する比較用直流電圧源と、 前記比較器の前記第 1入力端子と前記比較用直流電圧源との間に挿入され、前記 比較用キャパシタの電位を制御する充放電制御回路と、
を有する受光タイミング検出回路を更に備える、
請求項 1に記載の光検出回路。
[12] 光検出素子と、
前記光検出素子が制御端子に接続された受光用トランジスタと、
前記受光用トランジスタの出力端子と固定電位との間に接続された電流制御抵抗 と、
前記受光用トランジスタの前記出力端子と前記受光用トランジスタの前記制御端子 との間に接続された受光用帰還抵抗と、
前記受光用トランジスタの前記出力端子が第 1入力端子に接続され、前記受光用ト ランジスタの前記制御端子が第 2入力端子に接続された帰還用誤差増幅器と、 前記帰還用誤差増幅器の出力端子が入力端子に接続された平滑化回路と、 前記平滑化回路の出力端子が制御端子に接続され、前記受光用トランジスタの前 記制御端子が前記光検出素子と接続する端子に接続された帰還用トランジスタと、 を備える基準電圧生成回路。
[13] 複数の受光回路に接続された加算器を備える光検出回路であって、
それぞれの前記受光回路は、
光検出素子と、 前記光検出素子に接続された受光用トランスインピーダンスアンプと、
前記受光用トランスインピーダンスアンプの出力端子に接続されたトランスコンダク タンスアンプと、
前記受光用トランスインピーダンスアンプの入出力端子間に介在する帰還回路と、 を有する光検出回路。
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