JP2003179442A - 受光装置 - Google Patents

受光装置

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JP2003179442A
JP2003179442A JP2001375749A JP2001375749A JP2003179442A JP 2003179442 A JP2003179442 A JP 2003179442A JP 2001375749 A JP2001375749 A JP 2001375749A JP 2001375749 A JP2001375749 A JP 2001375749A JP 2003179442 A JP2003179442 A JP 2003179442A
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light
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Mitsuhiko Ueda
光彦 植田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 受光素子としてフォトダイオードを使用した
受光装置において、応答速度を低下させることなく、受
光面積を大きくして受光感度を向上すること。 【解決手段】 複数の小面積のフォトダイオードで同一
方向からの光を受光し、受光した光に応じたフォトダイ
オードの光電流を変換・緩衝増幅などの光電流検出手段
によりそれぞれ別々に検出する。そして検出した値を加
算手段により加算して出力する。これにより、フォトダ
イオードを用いて、高感度で高速応答が可能な受光装置
を得る。

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、受光素子としてフ
ォトダイオードを使用した受光装置に関する。 【0002】 【従来の技術】受光装置の受光素子として、フォトダイ
オードを使用したものが広く使用されている。この受光
装置の受光感度を上げるために、受光面積の広いフォト
ダイオードを用いたり、或いは複数のフォトダイオード
を使用することが行われている。 【0003】図5は、複数のフォトダイオードを使用し
た従来の受光装置の回路構成を示す図である。この図5
では、複数のフォトダイオードPD61〜PD6nが並
列に接続され、その並列接続点がオペアンプOP61の
反転入力端子−に接続されている。このオペアンプOP
61の反転入力端子−と出力端子間に抵抗R61が接続
され、オペアンプOP61の非反転入力端子+は基準電
圧Vrefに接続されて、反転増幅回路が構成されてい
る。なお、Vddは正の電源電圧であり、フォトダイオ
ードPD61〜PD6nは逆バイアスされている。ま
た、基準電圧Vrefは、グランド電圧でもよく、また
一定のバイアス電圧でもよい。 【0004】この図5においては、複数のフォトダイオ
ードPD61〜PD6nを用いて並列に接続しているか
ら、全体としての受光面積が大きくなり、フォトダイオ
ードからの光電流が大きくなる。この結果、オペアンプ
OP61及び抵抗R61で構成される反転増幅回路の出
力電圧は大きくなり、受光装置としての受光感度が向上
される。 【0005】図6は、他の従来の受光装置の回路構成を
示す図であり、複数のフォトダイオードPD71〜PD
7nが並列に接続され、その並列接続点が抵抗R71を
介して基準電圧Vrefに接続されるとともにオペアン
プOP71の非反転入力端子+に接続されている。この
オペアンプOP71の反転入力端子−と出力端子間に抵
抗R73が接続され、オペアンプOP71の反転入力端
子−は抵抗R72を介して基準電圧Vrefに接続され
て、非反転増幅回路が構成されている。この図6でも複
数のフォトダイオードPD71〜PD7nを用いて並列
に接続しているから、同様に、オペアンプOP71及び
抵抗R72,R73で構成される非反転増幅回路の出力
電圧は大きくなり、受光装置としての受光感度が向上さ
れる。 【0006】なお、図5、図6におけるように、各フォ
トダイオードPD61〜PD6n、PD71〜PD7n
は逆バイアスにするが、それらフォトダイオードを、電
源電圧Vddに接続するのでなく、例えばグランド電圧
などに接続する構成が取られる場合もある。この場合に
は、図5,図6の基準電圧Vrefは、電源電圧Vdd
とグランド電圧の中間の適当な電圧とされることにな
る。 【0007】 【発明が解決しようとする課題】しかし、フォトダイオ
ードの接合容量(空乏層容量)はその面積の増加ととも
に大きくなる。このことにより、複数のフォトダイオー
ドを用いることによってその受光面積を増加させ受光感
度を向上することはできるものの、複数のフォトダイオ
ードを並列に接続することによりそれらの接合容量も並
列接続され、全体としての接合容量が大きくなる。 【0008】従って、外部から光が入射されたときの受
光装置の出力電圧は、受光面積の増加によって大きくな
るが、フォトダイオード全体としての接合容量がその面
積に応じて増大する。この増大された接合容量と、その
内部抵抗や負荷抵抗により応答速度が低下してしまうこ
とになる。このため高速度のパルス状の光信号などを正
確に受信することが難しくなる。 【0009】この点は、仮に、フォトダイオードの光電
流を電圧に変換する抵抗の値を増大して受光感度を上げ
たとしても、やはり抵抗値の増加により応答速度が低下
してしまうから、解決手段とはならない。 【0010】そこで、本発明は、受光素子としてフォト
ダイオードを使用した受光装置において、応答速度を低
下させることなく、受光面積を大きくして受光感度を向
上することを目的とする。 【0011】 【課題を解決するための手段】請求項1記載の受光装置
は、同一方向からの光が入射可能に同一箇所に集合され
た複数のフォトダイオードと、前記複数のフォトダイオ
ードの出力電流をそれぞれ検出する複数の光電流検出手
段と、前記複数の光電流検出手段のそれぞれの出力を加
算して出力する加算手段とを有することを特徴とする。 【0012】この請求項1記載の受光装置によれば、複
数の小面積のフォトダイオードで同一方向からの光を受
光し、受光した光に応じたフォトダイオードの光電流を
変換・緩衝増幅などの光電流検出手段によりそれぞれ別
々に検出した後に、加算手段により加算して出力する。
これにより、フォトダイオードを用いて、高感度で高速
応答が可能な受光装置を得ることができる。 【0013】また、高い逆バイアスによるアバランシェ
増倍作用を利用するアバランシェフォトダイオード等の
特殊な素子を用いることなく、高速・高感度の受光装置
を構成することができるから、フォトダイオードを電流
検出手段や加算手段とともに容易にIC化することが可
能になる。 【0014】 【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の受
光装置の実施の形態について説明する。 【0015】図1は本発明による受光装置の第1の実施
の形態に係る回路構成を示す図であり、図2は受光装置
に用いるフォトダイオードの配置構成の例を示す図であ
る。なお、図2などのフォトダイオードの配置構成は、
他の実施形態にも同様に適用できる。 【0016】図1において、複数の受光ユニット11〜
1nが設けられ、それらの各出力が加算手段(加算器;
加算回路)20で加算されて、受光装置としての出力が
得られる。それぞれの受光ユニット11〜1nの内部構
成は同一である。 【0017】受光ユニット11についてみると、受光素
子であるフォトダイオードPD11のカソードが正の電
源電圧Vddに接続され、そのアノードがオペアンプO
P11の反転入力端子−に接続される。このオペアンプ
OP11の反転入力端子−と出力端子間に抵抗R11が
接続され、オペアンプOP11の非反転入力端子+は基
準電圧Vrefに接続される。これにより反転増幅回路
が構成されている。なお、基準電圧Vrefは、グラン
ド電圧でもよく、また一定のバイアス電圧でもよい。 【0018】フォトダイオードPD11は、外部から光
が照射されることにより、そのPN接合部の空乏層の中
またはその近傍に電気伝導に寄与する電子と正孔対が形
成されることにより逆方向電流が増加するから、その電
流は照射光の強さ及び照射される面積に応じて増加す
る。一方、フォトダイオードPD11の接合容量(空乏
層容量)はその接合面積により決まるから、フォトダイ
オードPD11のパルス応答速度はその接合面積の増加
とともに低下する。 【0019】その逆方向電流は、オペアンプOP11と
抵抗R11とで構成されている光電流検出手段に供給さ
れる。なお、フォトダイオードPD11の内部抵抗もそ
の電流検出手段の動作に関与する。光電流検出手段か
ら、その逆方向電流の大きさに見合った電圧が出力され
る。この光電流検出手段はしたがって、電圧変換回路と
バッファ回路としての機能を持つことになる。 【0020】加算手段20は、オペアンプOP20と、
受光ユニット11〜1nからの出力電圧が一端に印加さ
れ他端が共通に接続されてオペアンプOP20の反転入
力端子−に接続される抵抗R21〜R2nと、オペアン
プOP20の出力端子と反転入力端子−との間に接続さ
れる抵抗R20とを有し、オペアンプOP20の非反転
入力端子+は基準電圧Vrefに接続されている。な
お、基準電圧Vrefは、グランド電圧でもよく、また
一定のバイアス電圧でもよい。また、加算手段20にお
ける基準電圧Vrefとしては、受光ユニット11等の
基準電圧Vrefと同じ値でもよく、或いは、異なる値
としてもよい。 【0021】これら各受光ユニット11〜1nのフォト
ダイオードPD11〜PD1nは、同一方向からの光が
入射可能に小面積のフォトダイオードが同一箇所に集合
されている。具体的には、小面積の複数のフォトダイオ
ードを集めて使用することもできる。また、図2に示さ
れるように、大面積のフォトダイオードを複数の小面積
のフォトダイオードに分割して使用することもできる。
なお、図2では例えば4mm角×4とした4分割(PD
11〜PD14)の例を示している。 【0022】さて、図1の受光装置において、外部から
光が照射されると、各受光ユニット11〜1nのフォト
ダイオードPD11〜PD1nからの逆方向電流が同時
に増加する。各フォトダイオードPD11〜PD1nは
それぞれ小面積であり、その接合容量は小さくされてい
るから、その内部抵抗や所定の抵抗R11〜R1nとで
定まる時定数は小さい。従って、照射された光に対する
各受光ユニット11〜1nの出力電圧の変化、即ち応答
速度は高速度となる。 【0023】そして、光照射に高速応答して同時に出力
された各受光ユニット11〜1nの出力電圧は、それぞ
れ加算手段20に入力される。加算手段20からは、各
受光ユニット11〜1nから入力された、光照射に同時
に高速応答した電圧が、入力抵抗R21〜R2n、オペ
アンプOP20、帰還抵抗R20により加算される。 【0024】したがって、加算手段20からは、各フォ
トダイオードPD11〜PD1nで同時に発生された光
電流の合成値に応じた大きさの出力電圧が、小面積のフ
ォトダイオードの接合容量に応じた高速の応答速度で出
力される。 【0025】このように、複数の小面積のフォトダイオ
ードPD11〜PD1nで同一方向からの光を受光し、
受光した光に応じたフォトダイオードの光電流を変換・
緩衝増幅などの光電流検出手段OP11、R11などに
よりそれぞれ別々に構成された受光ユニット11〜1n
で検出する。この検出した後に、加算手段20により加
算して出力する。このように受光装置を構成することに
より、フォトダイオードを用いて、入射光に対して、高
感度で高速応答が可能になる。 【0026】また、高い逆バイアスによるアバランシェ
増倍作用を利用するアバランシェフォトダイオード等の
特殊な素子を用いることなく、高速・高感度の受光装置
を構成することができるから、フォトダイオードPD1
1〜PD1nを電流検出手段OP11〜OP1n、R1
1〜R1nや加算手段20とともに容易にIC化するこ
とが可能になる。 【0027】図3は、本発明に係る第2の実施の形態に
係る回路構成を示す図である。この図3で加算手段20
は図1におけると同様であり、またフォトダイオードP
D31〜PD3nについてはその構造や動作、配置構成
についても図1に示されたものと同様である。 【0028】図3において、受光ユニット31〜3nの
内部構成は同一であり、受光ユニット31についてみる
と、受光素子であるフォトダイオードPD11のカソー
ドが正の電源電圧Vddに接続され、そのアノードが抵
抗31を介して基準電圧Vrefに接続される。これに
よりフォトダイオードPD31の照射光による逆方向電
流が抵抗R31に流れ、電圧に変換される。この逆方向
電流が変換された電圧がオペアンプOP31の非反転入
力端子+に接続される。また、このオペアンプOP31
の反転入力端子−と出力端子間に抵抗R33が接続さ
れ、その反転入力端子−は抵抗R32を介して基準電圧
Vrefに接続される。なお、基準電圧Vrefは、グ
ランド電圧でもよく、また一定のバイアス電圧でもよ
い。また、抵抗R31への基準電圧Vrefと、抵抗R
32への基準電圧Vrefは、同じ値でもよく、或い
は、異なる値としてもよい。 【0029】これにより非反転増幅回路が構成されてい
る。このように図3では、図1のものと比較して、増幅
回路の構成が一部相違するだけで、基本的な動作は同様
である。即ち、この図3の第2の実施の形態において
も、光照射に高速応答して同時に出力された各受光ユニ
ット31〜3nの出力電圧は、それぞれ加算手段20に
入力され、各受光ユニット11〜1nから入力された、
光照射に同時に高速応答した電圧が加算される。 【0030】したがって、この第2の実施の形態におい
ても、第1の実施の形態におけると同様の作用及び効果
を得ることができる。 【0031】図4は、本発明に係る第3の実施の形態に
係る回路構成を示す図である。この図4でフォトダイオ
ードPD41〜PD4nについてはその構造や動作、配
置構成についても図1に示されたものと同様である。 【0032】図4において、複数の受光ユニット41〜
4nが設けられ、それらの各出力が加算手段(加算回
路)50で加算されて、受光装置としての出力が得られ
る。それぞれの受光ユニット41〜4nの内部構成は同
一である。 【0033】受光ユニット41についてみると、受光素
子であるフォトダイオードPD41のカソードが正の電
源電圧Vddに接続され、そのアノードがNPN型トラ
ンジスタQ41を介して基準電圧Vrefに接続され
る。また、このトランジスタQ41のコレクタがベース
に接続されている。そして、この受光ユニット41の出
力端と基準電圧Vref間にNPN型トランジスタQ4
2が接続され、そのベースがトランジスタQ41のベー
スと接続されている。 【0034】このトランジスタQ41とトランジスタQ
42とでカレントミラー回路が形成されているから、フ
ォトダイオードPD11に光が照射され、逆方向電流が
流れると、まずこの逆方向電流がトランジスタQ41に
流れ、この電流に比例した電流がトランジスタQ42に
流れるように動作する。したがって、トランジスタQ4
1,Q42は光電流検出手段として動作し、その逆方向
電流の大きさに見合った電流が出力される。この光電流
検出手段はしたがって、電流変換回路としての機能を持
つことになる。 【0035】加算手段50では、電源電圧Vddにエミ
ッタが接続されたPNP型トランジスタQ52と、コレ
クタが基準電圧Vrefに接続されたPNP型トランジ
スタQ51とが、トランジスタQ52のベースとコレク
タがトランジスタQ51のエミッタとベースにそれぞれ
接続されている。また、電源電圧Vddにエミッタが接
続され、加算手段50の出力端にコレクタが接続された
PNP型トランジスタQ53を有し、このトランジスタ
Q53のベースとトランジスタQ52のベースとが接続
されている。そして、トランジスタQ51のベースに各
受光ユニット41〜4nの出力端が共通に接続されてい
る。なお、基準電圧Vrefは、グランド電圧でもよ
く、また一定のバイアス電圧でもよい。また、受光ユニ
ット41〜4nの基準電圧Vrefと、加算手段の基準
電圧Vrefは、同じ値でもよく、或いは、異なる値と
してもよい。 【0036】この構成により、加算手段50では、各受
光ユニット41〜4nの出力電流が加算され、加算され
た電流が出力されることになる。 【0037】さて、図4の受光装置において、外部から
光が照射されると、各受光ユニット41〜4nのフォト
ダイオードPD41〜PD4nからの逆方向電流が同時
に増加する。各フォトダイオードPD41〜PD4nは
それぞれ小面積であり、その接合容量は小さくされてい
るから、その内部抵抗などとで定まる時定数は小さい。
従って、照射された光に対する各受光ユニット41〜4
nの出力電流の変化、即ち応答速度は高速度となる。 【0038】そして、光照射に高速応答して同時に出力
された各受光ユニット41〜4nの出力電流は、それぞ
れ加算手段50に入力される。加算手段50からは、各
受光ユニット41〜4nから入力された、光照射に同時
に高速応答した電流が、加算手段を構成するトランジス
タQ51,Q52,Q53により加算される。 【0039】したがって、加算手段50からは、各フォ
トダイオードPD41〜PD4nで同時に発生された光
電流の合成値に応じた大きさの出力電流が、小面積のフ
ォトダイオードの接合容量に応じた高速の応答速度で出
力される。 【0040】このように、この第3の実施の形態では、
第1,第2の実施の形態とは具体的な変換手法は異なっ
ているが、やはり、複数の小面積のフォトダイオードP
D41〜PD4nで同一方向からの光を受光し、受光し
た光に応じたフォトダイオードの光電流を変換・増幅な
どの光電流検出手段Q41,Q42によりそれぞれ別々
に構成された受光ユニット41〜4nで検出する。この
検出した後に、加算手段50により加算して出力する。
このように受光装置を構成することにより、フォトダイ
オードを用いて、入射光に対して、高感度で高速応答が
可能になる。 【0041】なお、これらの実施の形態において、各フ
ォトダイオードPD11,PD12,PD31,PD4
1は逆バイアスにするが、それらフォトダイオードを、
電源電圧Vddに接続するのでなく、例えばグランド電
圧などに接続する構成を採ることも可能である。この場
合には、各々の基準電圧Vrefは、電源電圧Vddと
グランド電圧の中間の適当な電圧とされることになる。 【0042】 【発明の効果】本発明によれば、複数の小面積のフォト
ダイオードで同一方向からの光を受光し、受光した光に
応じたフォトダイオードの光電流を変換・緩衝増幅など
の光電流検出手段によりそれぞれ別々に検出した後に、
加算手段により加算して出力する。これにより、フォト
ダイオードを用いて、高感度で高速応答が可能な受光装
置を得ることができる。 【0043】また、高い逆バイアスによるアバランシェ
増倍作用を利用するアバランシェフォトダイオード等の
特殊な素子を用いることなく、高速・高感度の受光装置
を構成することができるから、フォトダイオードを電流
検出手段や加算手段とともに容易にIC化することが可
能になる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明による受光装置の第1の実施の形態に係
る回路構成を示す図。 【図2】受光装置に用いるフォトダイオードの配置構成
の例を示す図。 【図3】本発明による受光装置の第2の実施の形態に係
る回路構成を示す図。 【図4】本発明による受光装置の第3の実施の形態に係
る回路構成を示す図。 【図5】従来の受光装置の回路構成を示す図。 【図6】他の従来の受光装置の回路構成を示す図。 【符号の説明】 11〜1n、31〜3n、41〜4n 受光ユニット 20、50 加算手段 OP11、OP12、OP20、OP31 オペアンプ PD11〜PD14、PD31、PD41 フォトダイ
オード R11、R12、R20、R21〜R2n、R31〜R
33 抵抗 Q41、Q42、Q51〜Q53 トランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5F049 MA02 NA01 NA03 RA02 RA06 UA01 UA13 UA20 5J069 AA01 AA47 AA56 CA00 CA65 CA91 FA15 HA08 HA19 HA25 HA44 KA01 KA04 KA09 KA26 KA28 MA10 QA04 TA01 5J092 AA01 AA47 AA56 CA00 CA65 CA91 FA15 HA08 HA19 HA25 HA44 KA01 KA04 KA09 KA26 KA28 MA10 QA04 TA01 UL03 5J500 AA01 AA47 AA56 AC00 AC65 AC91 AF15 AH08 AH19 AH25 AH44 AK01 AK04 AK09 AK26 AK28 AM10 AQ04 AT01 LU03

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 同一方向からの光が入射可能に同一箇所
    に集合された複数のフォトダイオードと、 前記複数のフォトダイオードの出力電流をそれぞれ検出
    する複数の光電流検出手段と、 前記複数の光電流検出手段のそれぞれの出力を加算して
    出力する加算手段とを有することを特徴とする受光装
    置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009260503A (ja) * 2008-04-14 2009-11-05 Sharp Corp 受光アンプ素子、光ピックアップ、およびそれを備える光ディスク記録再生装置
US8207488B2 (en) 2005-03-14 2012-06-26 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector circuit
JP2016152583A (ja) * 2015-02-19 2016-08-22 旭化成エレクトロニクス株式会社 出力アンプ及びそれを備えたicチップ

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8207488B2 (en) 2005-03-14 2012-06-26 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector circuit
JP2009260503A (ja) * 2008-04-14 2009-11-05 Sharp Corp 受光アンプ素子、光ピックアップ、およびそれを備える光ディスク記録再生装置
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