JP2006333019A - 光電気変換回路 - Google Patents

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信太郎 柴田
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直志 美濃谷
Katsuyuki Ochiai
克幸 落合
Mitsuru Shinagawa
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Abstract

【課題】検出した光信号を電気信号に変換する光検出素子を有する光電気変換回路において、光検出素子により変換された信号成分に対して十分な利得を得つつ、電源電圧を低下させた場合でも光検出素子を正常に動作させることを目的とする。
【解決手段】光検出素子2と電圧源3との間に直列に接続された誘導性負荷4を備えたことで、誘導性負荷4のコイルのインダクタンスLにより、電流信号Iの信号成分を電圧信号Vの信号成分に変換し十分な利得を得ることができる。一方で、コイルが有する内部抵抗の抵抗値Rは無視できる程度に小さいので、電圧源3が供給するバイアス電圧VDDをほぼそのまま、光検出素子2に供給することができ、電源電圧VDDが低い場合であっても、光検出素子2の動作に必要な逆バイアス電圧VPDを確保することができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、検出した光信号を電気信号に変換する光検出素子を有する光電気変換回路に関する。
半導体レーザを光源とした通信システムにおいては、一般的に半導体レーザは周囲の温度によってレーザの光の出力が変化してしまうため、周囲の温度に応じて駆動電流を調整する周辺回路を付加する必要がある。
これに対し、システムの低コスト化、低消費電力化の要請から、近年、このような周辺回路を使用しない通信システムが提案されている。図13は、温度制御を行わない半導体レーザのパワースペクトルを示すグラフである。縦軸は電力密度を、横軸は周波数をそれぞれ表す。同図に示すように半導体レーザの雑音は低周波数領域に集中する。
このような半導体レーザをキャリアバンド通信に適用する場合には、送信側では、搬送波の周波数を、雑音が支配的な低周波数領域より高い周波数fに設定し、通信に必要な周波数帯域を確保する。さらに受信側では、検出した光信号を電気信号に変換するフォトダイオードなどの光検出素子を有する光電気変換回路などを用いて受信回路を構成する(例えば、特許文献1を参照)。
図14は温度制御を行わない半導体レーザを光源とした通信システムの受信回路の概略的な構成を示す回路図である。同図の受信回路は、光電気変換回路13、1段目の増幅器5、バンドパスフィルタ6、2段目の増幅器7で構成される。
光電気変換回路13は、検出した光信号を電流信号に変換する光検出素子2と、光検出素子2にバイアス電圧を供給する電圧源3と、光検出素子2と電圧源3の間に直列に接続された負荷抵抗14とを有する。負荷抵抗14は抵抗値Rを有する。
具体的には、負荷抵抗14の一方の端子が第1電圧電極40に電気的に接続され、他方の端子が光検出素子2のカソード側(陰極)の端子に接続される。負荷抵抗14の他方の端子が光電気変換回路の出力端子42に電気的に接続される。光電気変換回路1の出力端子42が次段の増幅器5の入力端子に電気的に接続される。ここで、第1電圧電極40は、電圧源3により正の電源電圧VDDが供給され、光検出素子2のアノード端子(陽極)に電気的に接続される第2電圧電極41は接地される。
ここで例えば、光検出素子2にはフォトダイオードを使用する。フォトダイオードを動作させるために必要な逆バイアス電圧VPDをフォトダイオードの両端に印加する。
このような構成により、光電気変換回路13において、光検出素子2により変換された電流信号Iは、抵抗値Rを有する負荷抵抗14により電圧信号に変換されるので、出力端子42から出力される出力電圧Vは、次の式(4)で表すことができる。
V = VDD − I × R ・・・・・・(4)
これにより、受信回路は、1段目の増幅器5により電圧信号Vを増幅し、バンドパスフィルタ6により所定の周波数帯域の信号成分を通過させ、2段目の増幅器7によりバンドパスフィルタ6を通って出力された信号を増幅し、出力電圧Voutを出力する。
図15は、光電気変換回路13に供給する電源電圧VDDの値を変化させた場合における、光電気変換回路13の出力電圧Vの時間変化を概略的に表したグラフである。同図では、縦軸は出力電圧、横軸は時間を表している。Vは電源電圧の値がVDDのときの出力電圧を表し(図中の実線で示した出力電圧)、V´は電源電圧の値がVDD´のときの出力電圧を表す(図中の破線で示した出力電圧)。ここで出力波形は簡略化のため正弦波とした。フォトダイオードVPDと電源電圧との関係は以下の式を満たす。
PD < VDD´ < VDD ・・・・・・(5)
光電気変換回路13の出力電圧Vの利得を大きくするために負荷抵抗の抵抗値Rを大きくした場合、同図に示すように、電源電圧VDDの値が高ければ十分なバイアス成分を確保できるので、出力電圧Vの信号成分は十分な利得を得ることができる。
特開2003−110368号公報
しかしながら、近年は、更なる低消費電力の要請とMOSトランジスタの微細化により、回路に供給する電源電圧の値を低下させる傾向にある。同図に示すように、光電気変換回路13において、電源電圧VDD´の値が低ければバイアス成分を確保できず、出力電圧V´の信号成分は十分な利得を得ることができなくなり、信号成分の振幅が光検出素子2の逆バイアス電圧の値VPDを下回ってしまう。
このため、光検出素子2が正常に動作しなくなることに加えて、光検出素子2の寄生容量CPDの影響が無視できなくなり、光電気変換回路13の出力端子42に出力される出力電圧Vの高周波数成分が減衰されてしまう。
本発明は、上記問題点に鑑み、検出した光信号を電気信号に変換する光検出素子を有する光電気変換回路において、光検出素子により変換された信号成分に対して十分な利得を得つつ、電源電圧を低下させた場合でも光検出素子を正常に動作させることを目的とする。
本発明に係る光電気変換回路は、検出した光信号を電流信号に変換する光検出素子と、光検出素子にバイアス電圧を供給する電圧源と、光検出素子と電圧源との間に直列に接続された誘導性負荷を備えた電流電圧変換手段とを有することを特徴とする。
本発明にあっては、光検出素子と電圧源との間に直列に誘導性負荷を接続したことで、誘導性負荷はコイルと抵抗とを備えているので、このコイルのインダクタンスにより、光検出素子が光を検出して発生させた電流信号の信号成分を電圧信号に変換することができる。一方で、誘導性負荷の抵抗が有する抵抗値を無視できる程度に小さく設定した場合には、電圧源が供給するバイアス電圧をほぼそのまま、光検出素子に供給することができる。
上記光電気変換回路の電流電圧変換手段は、誘導性負荷に対して直列に接続された負荷抵抗とを更に備えたハイパスフィルタであることを特徴とする。
本発明にあっては、誘導性負荷と、誘導性負荷に対して直列に接続した負荷抵抗とを備えたハイパスフィルタにより、出力電圧の低周波数帯域の信号成分を減衰させ、高周波数帯域の信号成分を通過させることができる。
上記光電気変換回路の電流電圧変換手段は、誘導性負荷に対して並列に接続された容量性負荷と、誘導性負荷に対して直列に接続された負荷抵抗とを更に備えたバンドパスフィルタであること特徴とする。
本発明にあっては、誘導性負荷と、誘導性負荷に対して並列に接続された容量性負荷と、誘導性負荷に対して直列に接続された負荷抵抗とで構成されたバンドパスフィルタにより、
出力電圧における所定の周波数帯域の信号成分のみを通過させ、それより低い周波数帯域の信号成分と高い周波数帯域の信号成分とを減衰させることができる。
上記光電気変換回路の電流電圧変換手段は、誘導性負荷に対して並列に接続された容量性負荷と、誘導性負荷に対して並列に接続された負荷抵抗とを更に備えたLC並列共振回路であることを特徴とする。
本発明にあっては、誘導性負荷と、誘導性負荷に対して並列に接続された容量性負荷と、
誘導性負荷に対して並列に接続された負荷抵抗とで構成されたLC並列共振回路により、共振周波数における出力電圧の信号成分のみを通過させ、共振周波数以外の周波数の信号成分を減衰させることができる。
上記光電気変換回路の光検出素子は、フォトダイオード、pinフォトダイオード、アバランシフォトダイオード、フォトトランジスタのうちの少なくとも1つであることが望ましい。
本発明の光電気変換回路によれば、光検出素子により変換された信号成分に対して十分な利得を得つつ、電源電圧を低下させた場合でも光検出素子を正常に動作させることが可能となる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。
[第1の実施の形態]
図1は、第1の実施の形態に係る光電気変換回路を有する受信回路の概略を示す構成図である。同図の受信回路は、光電気変換回路1、1段目の増幅器5、バンドパスフィルタ6、2段目の増幅器7で構成される。
光電気変換回路1は、検出した光信号を電流信号に変換する光検出素子2と、光検出素子2にバイアス電圧を供給する電圧源3と、光検出素子2と電圧源3との間に直列に接続された誘導性負荷4(図中の破線で囲んだ部分)とを有する。誘導性負荷4にはインダクタンスLを有するコイルを使用し、コイルは抵抗値Rの内部抵抗を有する。
具体的には、コイルの一方の端子が第1電圧電極40に電気的に接続され、他方の端子が光検出素子2のカソード側(陰極)の端子に接続される。コイルの他方の端子が光電気変換回路の出力端子42に電気的に接続される。光電気変換回路1の出力端子42が次段の増幅器5の入力端子に電気的に接続される。ここで、第1電圧電極40には、電圧源3により正の電源電圧VDDが供給され、光検出素子2のアノード端子(陽極)に電気的に接続される第2電圧電極41は接地される。
ここで例えば、光検出素子2にはフォトダイオードを使用する。フォトダイオードの両端には逆バイアス電圧VPDを印加する。VPDはフォトダイオードを正常に動作させるために必要な逆バイアス電圧であり、電源電圧VDDとは以下の関係式(1)を満たす。
PD < VDD ・・・・・・(1)
このような構成により、光電気変換回路1において、光検出素子2が光を検出して発生させた電流信号Iは、インダクタンスLを有するコイル及び抵抗値Rを有する内部抵抗により電圧信号に変換されるので、出力端子42から出力される出力電圧Vは、次の式(2)で表すことができる。ここでωは信号成分の角周波数である。
V = VDD − I × (R + jωL) ・・・・・・(2)
式(2)示すように、誘導性負荷4のコイルが有するインダクタンスLにより、電流信号Iの信号成分が電圧信号Vの信号成分に変換され十分な利得を得ることができる。一方で、コイルの内部抵抗の抵抗値Rは無視できるほど小さいことから、光検出素子2に電源電圧VDDとほぼ等しいバイアス電圧を供給することができる。これにより、電源電圧VDDが低い場合であっても、光検出素子2に供給する逆バイアス電圧VPDを確保することができる。
次に図1の受信回路において、光電気変換回路1の後段に接続された増幅器5又は増幅器7、バンドパスフィルタ6について説明する。1段目の増幅器5は、光電気変換回路1の出力端子42から出力された電圧信号を増幅する。バンドパスフィルタ6は、所定の周波数帯域の信号成分を通過させ、それより低い周波数帯域の信号成分と高い周波数帯域の雑音成分とを減衰させる。2段目の増幅器7は、バンドパスフィルタ6を通って出力された信号を増幅し出力電圧Voutを出力する。
増幅器5又は増幅器7には、例えばオペアンプなどの差動増幅回路を使用し、信号成分に対するノイズ成分などを考慮して、入力信号に対して出力信号が所望の電圧利得を得るように設計する。図2の回路図は、図1の受信回路で使用する増幅器の構成例を示している。同図の(a)に示す増幅器は、差動増幅回路を用いて構成される。差動増幅回路の正相入力端子(同図のプラス側)には増幅器の入力端子INが接続され、逆相入力端子(同図のマイナス側)には予め設定された一定の基準電圧Vrefが供給される。差動増幅回路の出力が増幅器の出力端子OUTに接続される。ここでは電源電圧を供給する電圧源及び接地電位は省略してある。
これにより、差動増幅回路は、逆相入力端子から入力された電圧信号と基準電圧Vrefの大小を比較し、入力電圧が大きければ電源電圧の値を出力し、小さければ接地電位を出力する。このような回路は、一般にアナログ信号をデジタル信号へ変換するための波形整形用論理ゲート等に使用される。
同図の(b)に示す増幅器は、差動増幅回路を用いて構成される。差動増幅回路の正相入力端子(同図のプラス側)には増幅器の入力端子INが接続され、逆相入力端子(同図のマイナス側)には増幅器の出力端子OUTが帰還接続されている。これにより、増幅器の増幅利得は1となる。このような回路は、ボルテージフォロワ回路とよばれ、一般に抵抗性負荷や大きな容量の負荷を駆動するために使用される。
図3は、図2の増幅器に使用する差動増幅回路の構成を示した回路図である。同図に示す差動増幅器は、差動入力段と、カレントミラー負荷回路と、定電流源とで構成される。
差動入力段は、2つの等価なnチャネルMOSトランジスタであるQ1,Q2で構成される。カレントミラー負荷回路は、2つの等価なpチャネルMOSトランジスタQ3,Q4で構成され、Q3とQ4のソース電極とゲート電極が共通になっているので、両MOSトランジスタには同一のドレイン電流が流れる。定電流源には、例えば、nチャネルMOSトランジスタを使用し、飽和領域で動作させることで一定のドレイン電流を生成し、同相信号成分の増幅を抑制する。これにより、差動増幅器は、Q1,Q2のゲートに入力された差動信号を増幅しQ2のドレインから出力する。
このような構成としたことで、受信回路は、1段目の増幅器5により光電気変換回路1から出力された電圧信号Vを増幅し、バンドパスフィルタ6により所定の周波数帯域の信号成分を通過させ、2段目の増幅器7により、バンドパスフィルタ6から出力された信号を増幅し、出力電圧Voutを出力する。
したがって、第1の実施の形態によれば、光検出素子2と電圧源3との間に直列に誘導性負荷4を接続したことで、誘導性負荷4のコイルのインダクタンスLにより、光検出素子2が光を検出して発生させた電流信号Iの信号成分を電圧信号Vの信号成分に変換し十分な利得を得ることができる。一方で、コイルの内部抵抗が有する抵抗値Rは無視できる程度に小さいので、電圧源3が供給するバイアス電圧VDDをほぼそのまま、光検出素子2に供給することができ、電源電圧VDDが低い場合であっても、光検出素子2の逆バイアス電圧VPDを確保することができ、光検出素子2を正常に動作させることが可能となる。
尚、第1の実施の形態において、図1で示した光電気変換回路1の後段に接続した増幅器が有する差動増幅器は、図3で示したように、差動入力段には、2つの等価なnチャネルMOSトランジスタであるQ1,Q2を使用し、カレントミラー回路には、2つの等価なpチャネルMOSトランジスタであるQ3,Q4を使用したが、これに限られるものではなく、双対なMOSトランジスタを使用するようにしてもよい。例えば、差動入力段の2つの等価なQ1,Q2にはpチャネルMOSトランジスタを使用し、カレントミラー回路の2つの等価なQ3,Q4にはnチャネルMOSトランジスタを使用して差動増幅器を構成してもよい。
図4は、図1で示した受信回路を双対なMOSトランジスタで構成した構成図である。図1の受信回路と異なる点は、同図の受信回路では、増幅器の差動入力段を構成するpチャネルMOSトランジスタへ負の電圧を入力するために、光電気変換回路1の光検出素子2と、誘導性負荷4の接続が逆になっている点である。尚、作用、効果については図1の受信回路と同様であるので説明は省略する。
[第2の実施の形態]
以下、第2の実施の形態について説明する。第2の実施の形態に係る光電気変換回路は、図1を用いて説明した第1の実施の形態と基本的な構成は同様である。
第1の実施の形態と異なる点は、光電気変換回路において、検出した光信号を電流信号に変換する電流電圧変換手段が、誘導性負荷と、誘導性負荷に対して直列に接続された負荷抵抗とで構成されるハイパスフィルタという点である。以下、第2の実施の形態において、第1の実施の形態と異なる点を中心に説明する。
図5は、第2の実施の形態に係る光電気変換回路を有する受信回路の概略を示す回路図である。同図の受信回路は、光電気変換回路8、1段目の増幅器5、ローパスフィルタ9、2段目の増幅器7で構成される。尚、第1の実施の形態と同一の構成要素には同一の符号を付し、説明は省略する。
光電気変換回路8は、検出した光信号を電流信号に変換する光検出素子2と、光検出素子2にバイアス電圧を供給する電圧源3と、光検出素子2と電圧源3との間に直列に接続されたハイパスフィルタ10(図中の破線で囲んだ部分)とを有する。
ハイパスフィルタ10は、インダクタンスLを有するコイルと、コイルに対して直列に接続された抵抗値Rを有する負荷抵抗とで構成される。ここでコイルは抵抗値Rの内部抵抗を有する。
具体的には、コイルの一方の端子が第1電圧電極40に電気的に接続される。さらにコイルの他方の端子42が抵抗値Rを有する負荷抵抗の一方の端子に直列に接続され、負荷抵抗の他方の端子が光検出素子2のカソード側(陰極)の端子42´に電気的に接続される。光電気変換回路1の出力端子42が次段の増幅器5の入力端子に電気的に接続される。ここで、第1電圧電極40は、電圧源3により正の電源電圧VDDが供給され、光検出素子2のアノード端子(陽極)に電気的に接続される第2電圧電極41は接地される。
ここで例えば、光検出素子2にはフォトダイオードを使用する。フォトダイオードの両端には逆バイアス電圧VPDを印加する。VPDはフォトダイオードを正常に動作させるために必要な逆バイアス電圧であり、電源電圧VDDとは以下の関係式(1)を満たす。
PD < VDD ・・・・・・(1)
光検出素子2が光を検出して発生させた電流信号Iは、ハイパスフィルタ10において、電圧信号に変換されるので、光検出素子2のカソード端子42´に印加される電圧V´は、次の式(2)´で表すことができる。ここでωは信号成分の角周波数である。
V´ = VDD − I × (R+R+jωL) ・・・・・・(2)´
式(2)´に示すように、コイルが有するインダクタンスLにより電流信号Iの信号成分が電圧信号V´の信号成分に変換され十分な利得を得ることができる。一方で、コイルの内部抵抗の抵抗値Rは無視できるほど十分小さいことから、光検出素子2に電源電圧VDDとほぼ等しいバイアス電圧を供給することができるので、電源電圧VDDが低い場合であっても、光検出素子2に供給する逆バイアス電圧VPDを確保することができる。
また、V´と抵抗値Rを有する負荷抵抗を介して直列に接続された出力端子42に出力される出力電圧Vとの関係は、Rを無視すると以下の式(2)で表される。
V = (jωL / (R + jωL)) × V´・・・・・・(2)
式(2)に示すように、ハイパスフィルタ10により、光電気変換回路8の出力電圧Vにおける低周波数帯域の信号成分を減衰させ、高周波数帯域の信号成分を通過させることができる。
したがって、第2の実施の形態によれば、インダクタンスLを有するコイルと、コイルに対して直列に接続され抵抗値Rを有する負荷抵抗とを備えたハイパスフィルタ10により、電流信号Iの信号成分を電圧信号V´の信号成分に変換され十分な利得を得ることができる。一方で、コイルの内部抵抗の抵抗値Rは無視できるほど小さいことから、光検出素子2に電源電圧VDDとほぼ等しいバイアス電圧を供給することができるので、電源電圧VDDが低い場合であっても、光検出素子2の逆バイアス電圧VPDを確保することができ、光検出素子2を正常に動作させることが可能となる。
また、ハイパスフィルタ10により、変換された出力電圧Vにおける低周波数帯域の信号成分を減衰させ、高周波数帯域の信号成分を通過させることができる。これにより、低周波数領域に集中する半導体レーザのノイズ成分を抑制することが可能となる。
尚、第2の実施の形態においては、図5で示した光電気変換回路8の後段に接続した増幅器が有する差動増幅器は、図3で示したように、差動入力段には、2つの等価なnチャネルMOSトランジスタであるQ1,Q2を使用し、カレントミラー回路には、2つの等価なpチャネルMOSトランジスタであるQ3,Q4を使用したが、これに限られるものではなく、双対なMOSトランジスタを使用してもよい。例えば、差動入力段の2つの等価なQ1,Q2にはpチャネルMOSトランジスタを使用し、カレントミラー回路の2つの等価なQ3,Q4にはnチャネルMOSトランジスタを使用して差動増幅器を構成してもよい。
図6は、図5で示した受信回路を双対なMOSトランジスタで構成した構成図である。図5の受信回路と異なる点は、同図の受信回路では、増幅器の差動入力段を構成するpチャネルMOSトランジスタへ負の電圧を入力するために、光電気変換回路8の光検出素子2と、ハイパスフィルタ10の接続が逆になっている点である。尚、作用、効果については図5の受信回路と同様であるので説明は省略する。
[第3の実施の形態]
以下、第3の実施の形態について説明する。第3の実施の形態に係る光電気変換回路は、図1を用いて説明した第1の実施の形態と基本的な構成は同様である。
第1の実施の形態と異なる点は、光電気変換回路において、検出した光信号を電流信号に変換する電流電圧変換手段が、誘導性負荷と、誘導性負荷に並列に接続された容量性負荷と、誘導性負荷に対して直列に接続された負荷抵抗とで構成されるバンドパスフィルタという点である。以下、第3の実施の形態において、第1の実施の形態と異なる点を中心に説明する。
図7は、第3の実施の形態に係る光電気変換回路を有する受信回路の概略を示す回路図である。同図の受信回路は、光電気変換回路11、増幅器5で構成される。尚、第1の実施の形態と同一の構成要素には同一の符号を付し、説明は省略する。
光電気変換回路11は、検出した光信号を電流信号に変換する光検出素子2と、光検出素子2にバイアス電圧を供給する電圧源3と、光検出素子2と電圧源3との間に直列に接続されるバンドパスフィルタ12(図中の破線で囲んだ部分)とを有する。
バンドパスフィルタ12は、インダクタンスLを有するコイルと、コイルに並列に接続されキャパシタンスCを有するコンデンサと、コイル及びコンデンサに直列に接続され抵抗値Rを有する負荷抵抗とで構成される。ここでコイルは抵抗値Rの内部抵抗を有する。
具体的には、コイルの一方の端子が第1電圧電極40に電気的に接続される。さらにコイルの他方の端子42がキャパシタンスCを有するコンデンサの一方の端子に並列に接続され、コンデンサの他方の端子が第1電圧電極40に電気的に接続される。そしてコイルの他方の端子42が抵抗値Rを有する負荷抵抗の一方の端子に直列に接続され、負荷抵抗の他方の端子が光検出素子2のカソード端子42´に電気的に接続される。光電気変換回路11の出力端子42が次段の増幅器5の入力端子に電気的に接続される。ここで、第1電圧電極40は、電圧源3により正の電源電圧VDDが供給され、光検出素子2のアノード端子に電気的に接続される第2電圧電極41は接地される。
ここで例えば、光検出素子2にはフォトダイオードを使用する。フォトダイオードの両端には逆バイアス電圧VPDを印加する。VPDはフォトダイオードを正常に動作させるために必要な逆バイアス電圧であり、電源電圧VDDとは以下の関係式(1)を満たす。
PD < VDD ・・・・・・(1)
光検出素子2が光を検出して発生させた電流信号Iは、バンドパスフィルタ12において、電圧信号に変換されるので、光検出素子2のカソード端子42´に印加される電圧V´は、バンドパスフィルタのアドミタンスYを用いて、次の式(2)´で表すことができる。
V´ = VDD − I × (R+ 1/ Y) ・・・・・・(2)´
ここで、コイルの内部抵抗の抵抗値Rは無視できるほど小さいことから、Yはコイルが有するインダクタンスL、コンデンサが有するキャパシタンスC、次の式(3)で表すことができる。ωは信号成分の角周波数である。
Y = j(ωC − (1 / ωL)) ・・・・・・(3)
式(2)´、(3)に示すように、コイルが有するインダクタンスLとコンデンサが有するキャパシタンスCにより、電流信号Iの信号成分が電圧信号V´の信号成分に変換され十分な利得を得ることができる。一方で、コイルの内部抵抗の抵抗値Rは無視できるので、光検出素子2に電源電圧VDDとほぼ等しいバイアス電圧を供給することができ、電源電圧VDDが低い場合であっても、光検出素子2に供給する逆バイアス電圧VPDを確保することができる。
また、V´と、抵抗値Rを有する負荷抵抗を介して直列に接続された出力端子42に出力される出力電圧Vとの関係は、以下の式(2)で表される。
V = (1/Y) / (1/Y + R) × V´・・・・・・(2)
式(2)に示すように、バンドパスフィルタ12により、出力電圧Vにおける所定の周波数帯域の信号成分のみを通過させ、それより低い周波数帯域の信号成分と高い周波数帯域の信号成分とを減衰させることができる。
したがって、第3の実施の形態によれば、インダクタンスLを有するコイルと、コイルに対して並列に接続されキャパシタンスCを有するコンデンサと、コイルに対して直列に接続され抵抗値Rを有する負荷抵抗とを備えたバンドパスフィルタ12により、光検出素子2が光を検出して発生させた電流信号Iの信号成分が電圧信号V´の信号成分に変換され、十分な利得を得ることができる。一方で、コイルの内部抵抗の抵抗値Rは無視できるので、光検出素子2に電源電圧VDDとほぼ等しいバイアス電圧を供給することができ、電源電圧VDDが低い場合であっても、光検出素子2の逆バイアス電圧VPDを確保することができ、光検出素子2を正常に動作させることが可能となる。
また、バンドパスフィルタ12により、出力電圧Vにおける所定の周波数帯域の信号成分のみを通過させ、それより低い周波数帯域の信号成分と高い周波数帯域の信号成分とを減衰させることができるので、低周波数領域に集中する半導体レーザのノイズ成分を抑制し、通信に必要な周波数帯域の信号成分を受信することができる。
尚、第3の実施の形態においては、図7で示した光電気変換回路11の後段に接続した増幅器が有する差動増幅器は、図3で示したように、差動入力段には、2つの等価なnチャネルMOSトランジスタであるQ1,Q2を使用し、カレントミラー回路には、2つの等価なpチャネルMOSトランジスタであるQ3,Q4を使用したが、これに限られるものではなく、双対なMOSトランジスタを使用するようにしてもよい。例えば、差動入力段の2つの等価なQ1,Q2にはpチャネルMOSトランジスタを使用し、カレントミラー回路の2つの等価なQ3,Q4にはnチャネルMOSトランジスタを使用して差動増幅器を構成してもよい。
図8は、図7で示した受信回路を双対なMOSトランジスタで構成した構成図である。図7の受信回路と異なる点は、同図の受信回路では、増幅器の差動入力段を構成するpチャネルMOSトランジスタへ負の電圧を入力するために、光電気変換回路11の光検出素子2と、バンドパスフィルタ12の接続が逆になっている点である。尚、作用、効果については図7の受信回路と同様であるので説明は省略する。
[第4の実施の形態]
以下、第4の実施の形態について説明する。第4の実施の形態に係る光電気変換回路は、図1を用いて説明した第1の実施の形態と基本的な構成は同様である。
第1の実施の形態と異なる点は、光電気変換回路において、検出した光信号を電流信号に変換する電流電圧変換手段が、誘導性負荷と、誘導性負荷に対して並列に接続された容量性負荷及び負荷抵抗とで構成されるLC並列共振回路という点である。以下、第4の実施の形態において、第1の実施の形態と異なる点を中心に説明する。
図9は、第4の実施の形態に係る光電気変換回路を有する受信回路の概略を示す回路図である。同図の受信回路は、光電気変換回路15、増幅器5で構成される。尚、第1の実施の形態と同一の構成要素には同一の符号を付し、説明は省略する。
光電気変換回路15は、検出した光信号を電流信号に変換する光検出素子2と、光検出素子2にバイアス電圧を供給する電圧源3と、光検出素子2と電圧源3との間に直列に接続されたLC並列共振回路16(図中の破線で囲んだ部分)とを有する。
LC並列共振回路16は、インダクタンスLを有するコイルと、コイルに並列に接続されキャパシタンスCを有するコンデンサと、コイル及びコンデンサに並列に接続され抵抗値Rを有する負荷抵抗とで構成される。ここでコイルは抵抗値Rの内部抵抗を有する。また、負荷抵抗には抵抗値Rを調整可能な可変抵抗を使用する。
具体的には、コイルの一方の端子が第1電圧電極40に電気的に接続され、他方の端子が光検出素子2のカソード側(陰極)の端子に接続される。さらにコイルの他方の端子がキャパシタンスCを有するコンデンサの一方の端子に並列に接続され、コンデンサの他方の端子が第1電圧電極40に電気的に接続される。さらにコイルの他方の端子が抵抗値Rを有する負荷抵抗の一方の端子に並列に接続され、負荷抵抗の他方の端子が第1電圧電極40に電気的に接続される。そしてコイルの他方の端子が光電気変換回路の出力端子42に電気的に接続される。光電気変換回路1の出力端子42が次段の増幅器5の入力端子に電気的に接続される。ここで、第1電圧電極40は、電圧源3により正の電源電圧VDDが供給され、光検出素子2のアノード端子(陽極)に電気的に接続される第2電圧電極41は接地される。
ここで例えば、光検出素子2にはフォトダイオードを使用する。フォトダイオードの両端には逆バイアス電圧VPDを印加する。VPDはフォトダイオードを正常に動作させるために必要な逆バイアス電圧であり、電源電圧VDDとは以下の関係式(1)を満たす。
PD < VDD ・・・・・・(1)
光電気変換回路15において、光検出素子2が光を検出して発生させた電流信号Iは、LC並列共振回路16により電圧信号に変換されるので、コイルの端子42から出力される電圧Vは、LC並列共振回路16のアドミタンスYを用いて次の式(2)で表すことができる。ここでωは信号成分の角周波数である。
V = VDD − I × 1 / Y ・・・・・・(2)
ここで、アドミタンスYは、コイルの内部抵抗の抵抗値Rは無視できるほど小さいことから、コイルが有するインダクタンスL、コンデンサが有するキャパシタンスC、負荷抵抗が有する抵抗値Rを用いて次の式(3)で表すことができる。
Y = 1/R + j(ωC − (1 / ωL)) ・・・・・・(3)
ここで信号成分の周波数fを以下の式(4)に示す共振周波数fLCとし、LC並列共振回路16を共振状態にすれば、式(3)は第1項のみになる。
LC = 1 / 2π√(LC) ・・・・・・(4)
このように、光電気変換回路8において、LC並列共振回路16を共振状態とすることで、電流信号Iが共振周波数fLCにおける電圧信号Vの信号成分に変換され十分な利得を得ることができる。一方で、式(3)の第1項の抵抗値Rを調整することで、光検出素子2に電源電圧VDDとほぼ等しいバイアス電圧を供給することができ、電源電圧VDDが低い場合であっても、光検出素子2に供給する逆バイアス電圧VPDを確保することができる。
したがって、第4の実施の形態によれば、インダクタンスLを有するコイルと、コイルに対して並列に接続されキャパシタンスCを有するコンデンサと、コイルに対して並列に接続され抵抗値Rを有する負荷抵抗とを備えたLC並列共振回路16により、光検出素子2が光を検出して発生させた電流信号Iが電圧信号Vの信号に変換され十分な利得を得ることができる。一方で、式(3)の第1項の抵抗値Rを調整することで、光検出素子2に電源電圧VDDとほぼ等しいバイアス電圧を供給することができ、電源電圧VDDが低い場合であっても、光検出素子2に供給する逆バイアス電圧VPDを確保することができる。
また、LC並列共振回路により、共振周波数における出力電圧の信号成分のみを通過させ、共振周波数以外の周波数の信号成分を減衰させることができる。これにより、低周波数領域に集中する半導体レーザのノイズ成分を抑制し、通信に必要な周波数の信号成分を受信することができる。
尚、第4の実施の形態においては、受信回路は、光電気変換回路15と増幅器5とを1つづつ有する構成としたが、これに限られるものでなく、例えば、偏光ビームスプリッタでS波成分とP波成分からなる逆相の光信号に分離したレーザ光を、2つの光電気変換回路15によりそれぞれ検出するような構成にしてもよい。
以下、第4の実施の形態に係る光電気変換回路15を2つ使用して受信回路を構成した場合について図10の構成図を用いて説明する。同図の受信回路は、光電気変換回路15aと、光電気変換回路15bと、差動増幅器17とで構成される。
光電気変換回路15aにおいては、光検出素子2aにより、偏光ビームスプリッタにより分離されたレーザ光のS波成分の光強度変化を検出し、検出した光信号を電流信号に変換する。そしてLC並列共振回路16aにより変換された電圧信号を出力端子42a出力する。
同様に、光電気変換回路15bにおいては、光検出素子2bにより、偏光ビームスプリッタにより分離されたレーザ光のS波成分の光強度変化を検出し、検出した光信号を電流信号に変換する。そしてLC並列共振回路16bにより変換された電圧信号を出力端子42b出力する。光電気変換回路15bの負荷抵抗には、抵抗値R2bを調整可能な可変抵抗を使用する。
これにより、差動増幅器17は、光電気変換回路15aおよび15bからの差動入力信号のバイアス成分のレベルを合わせることが可能となり、信号成分のみを増幅することができる。
尚、負荷抵抗は抵抗値R2bを調整可能な可変抵抗を使用したが、抵抗値R2aを有する負荷抵抗、若しくはR2bを有する負荷抵抗のいずれかを調整可能な可変抵抗としても、光電気変換回路15aおよび15bからの入力信号のバイアス成分のレベルを合わせることが可能である。
また、第4の実施の形態においては、図9および図10で示した光電気変換回路15の後段に接続した差動増幅器17又は増幅器5が有する差動増幅器は、図3で示したように、差動入力段には、2つの等価なnチャネルMOSトランジスタであるQ1,Q2を使用し、カレントミラー回路には、2つの等価なpチャネルMOSトランジスタであるQ3,Q4を使用したが、これに限られるものではなく、双対なMOSトランジスタを使用してもよい。例えば、差動入力段の2つの等価なQ1,Q2にはpチャネルMOSトランジスタを使用し、カレントミラー回路の2つの等価なQ3,Q4にはnチャネルMOSトランジスタを使用し差動増幅器を構成してもよい。
第4の実施の形態で説明した受信回路に使用する差動増幅器を双対なMOSトランジスタで構成した場合、図9、図10の受信回路は以下のように構成される。
図11は、図9で示した受信回路に使用する差動増幅器を双対なMOSトランジスタで構成した場合の受信回路の構成図である。図9の受信回路と異なる点は、同図の受信回路では、増幅器の差動入力段を構成するpチャネルMOSトランジスタへ負の電圧を入力するために、光電気変換回路15の光検出素子2と、LC並列共振回路16の接続が逆になっている点である。
図12は、図10で示した受信回路に使用する差動増幅器を双対なMOSトランジスタで構成した場合の受信回路の構成図である。図10の受信回路と異なる点は、同図の受信回路では、増幅器の差動入力段を構成するpチャネルMOSトランジスタへ負の電圧を入力するために、光電気変換回路15aの光検出素子2aとLC並列共振回路16a、光電気変換回路15bの光検出素子2bとLC並列共振回路16bの接続が逆になっている点である。尚、作用、効果については図10の受信回路と同様であるので説明は省略する。
また、上述の各実施の形態においては、検出した光信号を電流信号に変換する光検出素子にはフォトダイオードを使用したが、入射した光によって励起された自由電子又は正孔を、電流や電圧として検出する光起電力形の光検出素子であれば、これに限られるものではなく、例えば、pinフォトダイオード、アバランシフォトダイオード、フォトトランジスタなどの光検出素子であってもよい。
また、上述の各実施の形態においては、光電気変換回路の後段に配置した増幅回路又は差動増幅器は、入力された電圧を増幅し電圧を出力する電圧−電圧変換回路であったが、これに限られるものではなく、例えば、入力された電流を電圧に変換し出力する電流−電圧変換回路であってもよい。一般に光通信システムなどの受信回路においては、電流−電圧変換回路として、低雑音特性と広帯域特性の優れたトランスインピーダンスアンプが使用される。
第1の実施の形態に係る光電気変換回路を有する受信回路の概略的な構成を示す回路図である。 第1の実施の形態に係る受信回路が有する増幅器の構成例を示す回路図である。 第1の実施の形態に係る増幅器に使用する差動増幅回路の構成を示す回路図である。 第1の実施の形態に係る受信回路を双対なMOSトランジスタで構成した構成図である。 第2の実施の形態に係る光電気変換回路を有する受信回路の概略的な構成を示す回路図である。 第2の実施の形態に係る受信回路を双対なMOSトランジスタで構成した構成図である。 第3の実施の形態に係る光電気変換回路を有する受信回路の概略的な構成を示す回路図である。 第3の実施の形態に係る受信回路を双対なMOSトランジスタで構成した構成図である。 第4の実施の形態に係る光電気変換回路を有する受信回路の概略的な構成を示す回路図である。 第4の実施の形態に係る光電気変換回路を2つ使用した場合の受信回路の概略的な構成を示す回路図である。 第4の実施の形態に係る受信回路に使用する差動増幅器を双対なMOSトランジスタで構成した場合の受信回路の概略的な構成を示す回路図である。 第4の実施の形態に係る光電気変換回路を2つ使用した場合の受信回路に使用する差動増幅器を双対なMOSトランジスタで構成した受信回路の概略的な構成を示す回路図である。 温度制御を行わない半導体レーザにおける信号成分の周波数と電力密度の関係を示すグラフである。 従来の温度制御を行わない半導体レーザを光源とした通信システムの受信回路の概略的な構成を示す回路図である。 従来の温度制御を行わない半導体レーザを光源とした通信システムの受信回路に使用される光電気変換回路の出力電圧の波形を簡略化したタイミングチャートである。
符号の説明
1…第1の実施の形態に係る光電気変換回路
2…フォトダイオード
3…電圧源
4…誘導性負荷
5…1段目の増幅器
6…バンドパスフィルタ
7…2段目の増幅器
8…第2の実施の形態に係る光電気変換回路
9…ローパスフィルタ
10…第2の実施の形態に係る光電気変換回路が有するハイパスフィルタ
11…第3の実施の形態に係る光電気変換回路
12…第3の実施の形態に係る光電気変換回路が有するバンドパスフィルタ
13…従来の光電気変換回路
14…負荷抵抗
15…第4の実施の形態に係る光電気変換回路
16…第4の実施の形態に係る光電気変換回路が有するLC並列共振回路
17…差動増幅回路
40…第1電圧電極
41…第2電圧電極
42…光電気変換回路の出力端子

Claims (5)

  1. 検出した光信号を電流信号に変換する光検出素子と、
    前記光検出素子にバイアス電圧を供給する電圧源と、
    前記光検出素子と前記電圧源との間に直列に接続された誘導性負荷を備えた電流電圧変換手段と、
    を有することを特徴とする光電気変換回路。
  2. 前記電流電圧変換手段は、前記誘導性負荷に対して直列に接続された負荷抵抗とを更に備えたハイパスフィルタであることを特徴とする請求項1記載の光電気変換回路。
  3. 前記電流電圧変換手段は、前記誘導性負荷に対して並列に接続された容量性負荷と、前記誘導性負荷に対して直列に接続された負荷抵抗とを更に備えたバンドパスフィルタであること特徴とする請求項1記載の光電気変換回路。
  4. 前記電流電圧変換手段は、前記誘導性負荷に対して並列に接続された容量性負荷と、前記誘導性負荷に対して並列に接続された負荷抵抗とを更に備えたLC並列共振回路であることを特徴とする請求項1記載の光電気変換回路。
  5. 前記光検出素子は、フォトダイオード、pinフォトダイオード、アバランシフォトダイオード、フォトトランジスタのうちの少なくとも1つであることを特徴とする請求項1記載の光電気変換回路。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102546013A (zh) * 2012-02-17 2012-07-04 华为技术有限公司 一种检测信号功率的方法及设备
JP2012195692A (ja) * 2011-03-15 2012-10-11 Outstanding Technology:Kk 可視光通信装置
JP2017126949A (ja) * 2016-01-15 2017-07-20 国立研究開発法人情報通信研究機構 光電変換器
JP2019134056A (ja) * 2018-01-31 2019-08-08 日本ルメンタム株式会社 光送信サブアセンブリ及び光モジュール
CN112994633A (zh) * 2021-02-25 2021-06-18 中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所 用于风洞弹道靶自由飞模型探测的光电感应电路及装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61222330A (ja) * 1985-03-27 1986-10-02 Nec Corp 光受信回路
JPS6224438A (ja) * 1985-07-23 1987-02-02 Mitsubishi Electric Corp 光検出回路
JPS63106242U (ja) * 1986-12-24 1988-07-09
JPH04326024A (ja) * 1991-04-26 1992-11-16 Mitsubishi Electric Corp 光電変換装置
JPH05300042A (ja) * 1991-03-11 1993-11-12 Mitsubishi Electric Corp 光電変換回路
JPH1188069A (ja) * 1997-09-03 1999-03-30 Nec Eng Ltd 受光回路
JP2000261385A (ja) * 1999-03-11 2000-09-22 Fujitsu Denso Ltd 光信号受信回路

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61222330A (ja) * 1985-03-27 1986-10-02 Nec Corp 光受信回路
JPS6224438A (ja) * 1985-07-23 1987-02-02 Mitsubishi Electric Corp 光検出回路
JPS63106242U (ja) * 1986-12-24 1988-07-09
JPH05300042A (ja) * 1991-03-11 1993-11-12 Mitsubishi Electric Corp 光電変換回路
JPH04326024A (ja) * 1991-04-26 1992-11-16 Mitsubishi Electric Corp 光電変換装置
JPH1188069A (ja) * 1997-09-03 1999-03-30 Nec Eng Ltd 受光回路
JP2000261385A (ja) * 1999-03-11 2000-09-22 Fujitsu Denso Ltd 光信号受信回路

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012195692A (ja) * 2011-03-15 2012-10-11 Outstanding Technology:Kk 可視光通信装置
CN102546013A (zh) * 2012-02-17 2012-07-04 华为技术有限公司 一种检测信号功率的方法及设备
US9025953B2 (en) 2012-02-17 2015-05-05 Huawei Technologies Co., Ltd. Method and device for detecting signal power
JP2017126949A (ja) * 2016-01-15 2017-07-20 国立研究開発法人情報通信研究機構 光電変換器
WO2017122610A1 (ja) * 2016-01-15 2017-07-20 国立研究開発法人情報通信研究機構 光電変換器
CN108463946A (zh) * 2016-01-15 2018-08-28 国立研究开发法人情报通信研究机构 光电转换器
JP2019134056A (ja) * 2018-01-31 2019-08-08 日本ルメンタム株式会社 光送信サブアセンブリ及び光モジュール
JP7073121B2 (ja) 2018-01-31 2022-05-23 日本ルメンタム株式会社 光送信サブアセンブリ及び光モジュール
CN112994633A (zh) * 2021-02-25 2021-06-18 中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所 用于风洞弹道靶自由飞模型探测的光电感应电路及装置
CN112994633B (zh) * 2021-02-25 2022-06-03 中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所 用于风洞弹道靶自由飞模型探测的光电感应电路及装置

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