WO2000077274A1 - Verfahren und einrichtung zur hochtemperatur-substratbeschichtung mittels sputtern - Google Patents

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WO2000077274A1
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housing
sputtering
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Ursus KRÜGER
Wolfgang Schilling
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Siemens Aktiengesellschaft
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    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/50—Substrate holders
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
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    • C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/54—Controlling or regulating the coating process
    • C23C14/541—Heating or cooling of the substrates
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N60/00—Superconducting devices
    • H10N60/01—Manufacture or treatment
    • H10N60/0268—Manufacture or treatment of devices comprising copper oxide
    • H10N60/0296—Processes for depositing or forming copper oxide superconductor layers
    • H10N60/0408—Processes for depositing or forming copper oxide superconductor layers by sputtering

Definitions

  • the invention relates to a method for high-temperature substrate coating by means of sputtering, in which heating is carried out after attachment of the substrate to a substrate holder arranged movably in a housing, and sputtering by means of a target arrangement while moving the substrate holder.
  • a device which contains a substrate holder in a housing, which is designed as a turntable. Below the turntable is an arrangement for heating a substrate, which is applied to the top of the turntable before it is coated. Opposite the substrate with its side to be coated is a target with which sputtering takes place after the substrate has been sufficiently heated. The sputtering takes place with the rotary movement of the turntable in order to achieve a uniform layer, because the target is arranged so as to run obliquely to the substrate outside the alignment of the center axis of the turntable.
  • substrates can only be coated on one side; if the other side of the substrate is also to be coated, the substrate must be placed upside down on the turntable and a second sputtering process carried out.
  • the invention has for its object to develop a method of the type mentioned in such a way that it can be used to coat a substrate on both sides in a single sputtering step in an economically advantageous manner.
  • At least one substrate is attached to the substrate holder in the method of the type specified at the outset in such a way that it is freely accessible on both sides and can be passed with these sides when the substrate holder is moved through openings in mutually opposite housings comprising the substrate holder ; the heating takes place by means of radiation heating from the housing, and the sputtering is carried out by means of a target arrangement with two targets which are located outside the housing in front of the openings.
  • a substrate is not only understood to mean, for example, a single wafer that is to be coated on both sides in one work step, but also a substrate composite, for example composed of two wafers, if these are to be coated on only one side in one work step .
  • An essential advantage of the method according to the invention is that a substrate can be coated on both sides in a single operation or step, which means that the coating can be carried out economically considerably more economically than in the known method.
  • the additional effort is comparatively low because essentially only one target arrangement with two targets has to be used.
  • Another important advantage is that the layers are identical on both sides due to the fact that only one sputtering step is required Have properties if similar targets are used.
  • the movement of the substrate holder can be carried out in different ways; It is considered to be advantageous if the substrate holder with the at least one substrate is guided past the openings in a translationally oscillating manner. If the target used permits a relatively elongated opening in the housing, then in this embodiment of the method according to the invention a plurality of substrates can be coated on both sides of the substrate holder at the same time.
  • the substrate holder with the at least one substrate is guided past the openings by rotary movements.
  • the substrate holder is advantageously rotated at such a speed that the substrate temperature remains unchanged as it passes the openings in the housing.
  • Radiant heating can be effected in different ways in the method according to the invention; With regard to the effort and controllability, it is considered to be particularly advantageous if an electric heater is used for radiant heating.
  • a device for high-temperature substrate coating by means of sputtering with a substrate heater, with a housing with a substrate holder movably held in it and with a target arrangement is also known from the above-mentioned laid-open publication DE 41 04 592 A1.
  • such a device is to be modified so that it can be used to coat a substrate on both sides in a single sputtering step.
  • the substrate holder has a substrate holding device with such a device
  • the substrate holder can be designed in different ways. It is considered advantageous if the substrate holder is a slide guided inside the housing.
  • the substrate holder is a turntable and has a substrate holding device in such a position in at least one area outside its central axis that the substrate is guided past the openings when the substrate holder is rotated .
  • the device according to the invention can be designed differently for radiant heating, for example it can be ensured by a housing which is heated in any way from the outside.
  • the radiant heater consists of a heating mat on the inside of the sides of the housing which have the openings.
  • the openings in the opposite sides of the housing can be arranged in different ways, for example they can be directly opposite one another. However, it is considered to be particularly advantageous if the openings are provided diametrically with respect to one another, because in this case the temperature loading of the substrate can be made uniform by heat radiation via the two openings.
  • Figure 1 is a section through a schematically illustrated embodiment of a device for performing the method according to the invention and in
  • FIG. 2 shows a top view of the exemplary embodiment according to FIG. 1;
  • FIG. 3 is a section through a further schematically illustrated exemplary embodiment of a device for carrying out the method according to the invention, and FIG. 4 shows a top view of this exemplary embodiment.
  • the device 1 shown has a housing 2 in which a substrate 3 can be moved back and forth in a translatory oscillating manner on a carriage 4 in the direction of the double arrow 5.
  • the drive for the substrate holder is not shown in the figure for better clarity.
  • FIG. 1 also shows that the housing 2 on its opposite sides 6 and 7 each has an opening 8 and 9, through which the substrate holder 4 with the substrate 3 is guided during its translationally oscillating movement.
  • a target 10 and 11 In front of the openings 8 and 9 there is a target 10 and 11, which is also only shown schematically.
  • a heating mat 14 and 15 On the inner wall 12 of the housing side 6 and the inner wall 13 of the side 7 of the housing there is a heating mat 14 and 15, respectively, which is provided with electrical connections in a manner not shown and which represents an electrical heater. Heat radiation is emitted by these heating mats 14 and 15 and the respective substrate 3 is thereby heated to the required temperature. If the substrate 3 has been heated sufficiently, then the targets 10 and 11 are activated and the actual sputtering process begins. The substrate 3 is moved back and forth on the carriage with the substrate holder 4, a frequency being selected such that no significant cooling occurs when the substrate 3 is moved past the openings 8 and 9, that is to say the temperature is maintained.
  • the openings 8 and 9 in the sides 6 and 7 of the housing 2 are formed as elongated rectangles, which includes a correspondingly geometrically designed support 10 and 11, respectively. If the substrates are relatively small compared to the openings 8 and 9, then several substrates can be guided past the openings 8 and 9 in parallel with the slide.
  • the device according to FIGS. 3 and 4 differs from that according to FIGS. 1 and 2 in that the substrate holder is designed as a turntable 20 on which a substrate 22 is held by means of a substrate holder 21 in such a way that it is 23 on both sides thereof and 24 is freely accessible.
  • the turntable 20 is mounted on an axis 25.
  • the substrate mounting 21 with the substrate 22 is positioned on the turntable 20 such that the substrate is guided past openings 26 and 27 in the housing walls 28 and 29 during the rotary movement.
  • In front of these openings 26 and 27 are targets 30 and 31, by means of which the substrate 22 is coated on both sides 23 and 24.
  • Figure 4 shows that the openings 26 and 27 in this
  • Embodiments are circular in accordance with the dimensioning of the substrate 22.

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Abstract

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Einrichtung zur Hochtemperatur-Substratbeschichtung mittels Sputtern, wobei nach Substratanbringung an einem in einem Gehäuse (1) bewegbar angeordneten Substrathalter (4) eine Beheizung vorgenommen wird und unter Bewegen des Substrathalters (4) ein Sputtern vorgenommen wird. Um in einem Verfahrensdurchlauf ein Substrat beidseitig beschichten zu können, ist erfindungsgemäß mindestens ein Substrat (3) derart an dem Substrathalter (4) angebracht, daß es an seinen beiden Seiten (3a, 3b) frei zugänglich ist und mit diesen Seiten beim Bewegen des Substrathalters an Öffnungen (8) und (9) in einander gegenüberliegenden Wänden (6) und (7) des Gehäuses (1) vorbeiführbar. Die Beheizung erfolgt mittels Strahlungsbeheizung (14, 15) vom Gehäuse (1) aus, und das Sputtern wird mittels einer Targetanordnung mit zwei Targets (10) und (11) vorgenommen, die sich außerhalb des Gehäuses (1) vor den Öffnungen (8, 9) befinden.

Description

Beschreibung
Verfahren und Einrichtung zur Hochtemperatur-Ξubstratbe- schichtung mittels Sputtern
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Hochtempera- tur-Substratbeschichtung mittels Sputtern, bei dem nach Sub- stratanbringung an einem in einem Gehäuse bewegbar angeordneten Substrathalter eine Beheizung und unter Bewegen des Substrathalters ein Sputtern mittels einer Targetanordnung vorgenommen wird.
Ein solches Verfahren ist der deutschen Offenlegungsschrift DE 41 04 592 AI entnehmbar. Zur Durchführung dieses bekannten Verfahrens wird eine Einrichtung verwendet, die in einem Gehäuse einen Substrathalter enthält, der als Drehteller ausgebildet ist. Unterhalb des Drehtellers befindet sich eine Anordnung zur Beheizung eines Substrats, das vor seiner Beschichtung oben auf den Drehteller aufgebracht wird. Dem Sub- strat mit seiner zu beschichtenden Seite gegenüber befindet sich ein Target, mit dem ein Sputtern erfolgt, nachdem das Substrat ausreichend aufgeheizt worden ist. Das Sputtern erfolgt dabei unter Drehbewegung des Drehtellers zur Erzielung einer gleichmäßigen Schicht, weil das Target außerhalb der Flucht der Mittenachse des Drehtellers ausgerichtet schräg zum Substrat verlaufend angeordnet ist. Mit dem bekannten Verfahren bzw. mit der bekannten Einrichtung lassen sich Substrate nur auf einer Seite beschichten; soll auch die weitere Seite des Substrats beschichtet werden, dann ist das Substrat umgekehrt auf den Drehteller aufzulegen und ein zweiter Sput- tervorgang durchzuführen. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren der eingangs angegebenen Art so fortzuentwickeln, daß mit ihm in wirtschaftlich günstiger Weise eine beidseitige Beschichtung eines Substrates in einem einzigen Sputterschritt vorgenommen werden kann.
Zur Lösung dieser Aufgabe ist bei dem Verfahren der eingangs angegebenen Art erfindungsgemäß mindestens ein Substrat derart an dem Substrathalter angebracht, daß es an seinen beiden Seiten frei zugänglich und mit diesen Seiten beim Bewegen des Substrathalters an Öffnungen in einander gegenüberliegenden eines den Substrathalter umfassenden Gehäuses vorbeiführbar ist; die Beheizung erfolgt mittels Strahlungsbeheizung vom Gehäuse aus, und das Sputtern wird mittels einer Tar- getanordnung mit zwei Targets vorgenommen wird, die sich außerhalb des Gehäuses vor den Öffnungen befinden. Unter einem Substrat wird dabei nicht nur beispielsweise ein einziger Wa- fer verstanden, der in einem Arbeitsschritt beidseitig beschichtet werden soll, sondern auch ein Substrat-Verbund bei- spielsweise aus zwei Wafern, wenn diese jeweils nur an einer Seite in einem Arbeitsschritt beschichtet werden sollen.
Ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens besteht darin, daß in einem einzigen Vorgang bzw. Schritt ein Substrat beidseitig beschichtet werden kann, wodurch sich die Beschichtung im Vergleich zu dem bekannten Verfahren wirtschaftlich erheblich günstiger durchführen läßt. Dabei ist der zusätzliche Aufwand vergleichsweise gering, weil im wesentlichen lediglich eine Targetanordnung mit zwei Targets zum Einsatz kommen muß. Ein weiterer wesentlicher Vorteil ist darin zu sehen, daß aufgrund des benötigten nur einen Sputterschrittes die Schichten auf beiden Seiten identische Eigenschaften aufweisen, wenn gleichartige Targets verwendet werden .
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren kann das Bewegen des Sub- strathalters in unterschiedlicher Weise ausgeführt werden; als vorteilhaft wird es angesehen, wenn der Substrathalter mit dem mindestens einen Substrat translatorisch oszillierend an den Öffnungen vorbeigeführt wird. Läßt das verwendete Target eine relativ langgestreckte Öffnung im Gehäuse zu, dann können bei dieser Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens jeweils mehrere Substrate auf dem Substrathalter gleichzeitig beidseitig beschichtet werden.
Besonders gute Arbeitsergebnisse lassen sich mit dem erfin- dungsgemäße Verfahren dann erreichen, wenn der Substrathalter mit einer solchen Frequenz translatorisch oszillierend an den Öffnungen vorbei geführt wird, daß während des Vorbeiführens an den Öffnungen des Gehäuses die Substrattemperatur unverändert bleibt.
Bei einer anderen vorteilhaften Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird der Substrathalter mit dem mindestens einen Substrat durch Drehbewegungen an den Öffnungen vorbei geführt. Der Vorteil dieser Ausführungsform des erfin- dungsgemäßen Verfahrens besteht vor allem darin, daß die dazu benötigte Einrichtung verhältnismäßig einfach herstellbar ist.
Bei der eben beschriebenen Ausführungsform des erfindungsge- mäßen Verfahrens wird der Substrathalter vorteilhafterweise mit einer solchen Drehzahl gedreht, daß während des Vorbeiführens an den Öffnungen des Gehäuses die Substrattemperatur unverändert bleibt. Die Strahlungsbeheizung kann bei dem erfindungsgemäßen Verfahren in unterschiedlicher Weise bewirkt werden; als besonders vorteilhaft wird es im Hinblick auf den Aufwand und die Steuerbarkeit angesehen, wenn zur Strahlungsbeheizung eine elektrische Heizung eingesetzt wird.
Aus der oben angegebenen Offenlegungsschrift DE 41 04 592 AI ist auch eine Einrichtung zur Hochtemperatur-Substratbe- Schichtung mittels Sputtern mit einer Substratheizung, mit einem Gehäuse mit einem in ihm bewegbar gehaltenen Substrathalter und mit einer Targetanordnung bekannt.
Gemäß einer weiteren Aufgabe der Erfindung soll eine solche Einrichtung so verändert werden, daß mit ihr in einem einzigen Sputterschritt ein Substrat auf seinen beiden Seiten beschichtet werden kann.
Zur Lösung dieser Aufgabe weist erfindungsgemäß der Substrat- halter eine Substrathalteeinrichtung mit einer derartigen
Ausgestaltung auf, daß ein Substrat an seinen beiden Seiten frei zugänglich haltbar ist; in beiden dem Substrathalter gegenüberliegenden Seiten des Gehäuses sind Öffnungen in einer solchen Lage vorhanden, daß beim Bewegen des Substrat- halters das Substrat an den Öffnungen vorbei geführt wird; die Targetanordnung besteht aus zwei Targets, die jeweils außerhalb des Gehäuses vor den Öffnungen liegen, und die Substratheizung ist von einer Strahlungsheizung des Gehäuses gebildet. Vorteilhaft ist die erfindungsgemäße Einrichtung vor allem insofern, als sie mit vergleichsweise einfachen Mitteln eine Beschichtung eines Substrates in einem Arbeitsschritt auf seinen beiden Seiten zuläßt. Bei der erfindungsgemäßen Einrichtung kann der Substrathalter in unterschiedlicher Weise ausgebildet sein. Als vorteilhaft wird es angesehen, wenn der Substrathalter ein innerhalb des Gehäuses geführter Schlitten ist.
Hinsichtlich des Aufwandes zur Herstellung der erfindungsgemäßen Einrichtung besonders günstig ist es, wenn der Substrathalter ein Drehteller ist und in mindestens einem Bereich außerhalb seiner Mittenachse eine Substrathalteeinrich- tung in einer solchen Lage aufweist, daß beim Drehen des Substrathalters das Substrat an den Öffnungen vorbei geführt wird.
Zur Strahlungsbeheizung kann die erfindungsgemäße Einrichtung unterschiedlich ausgebildet sein, beispielsweise kann sie durch ein in beliebiger Weise von außen beheiztes Gehäuse sichergestellt sein. Aus Gründen einer kostengünstigen Herstellung und zur Erzielung einer guten Temperatursteuerung wird es jedoch als besonders vorteilhaft angesehen, wenn die Strahlungsheizung aus jeweils einer Heizmatte auf der Innenseite der die Öffnungen aufweisenden Seiten des Gehäuses besteht.
Bei der erfindungsgemäßen Einrichtung können die Öffnungen in den einander gegenüberliegenden Seiten des Gehäuses in unterschiedlicher Weise angeordnet sein, beispielsweise können sie direkt einander gegenüberliegen. Als besonders vorteilhaft wird es jedoch angesehen, wenn die Öffnungen diametral zueinander vorgesehen sind, weil sich in diesem Falle eine Ver- gleichmäßigung der Temperaturbelastung des Substrates durch Wärmeabstrahlung über die beiden Öffnungen erzielen läßt.
Zur weiteren Erläuterung der Erfindung ist in Figur 1 ein Schnitt durch ein schematisch dargestelltes Ausführungsbeispiel einer Einrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens und in
Figur 2 eine Draufsicht auf das Ausführungsbeispiel nach Fi- gur 1 wiedergegeben; in
Figur 3 ist ein Schnitt durch ein weiteres schematisch dargestelltes Ausführungsbeispiel einer Einrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens und in Figur 4 eine Draufsicht auf dieses Ausführungsbeispiel ge- zeigt.
Wie die Figur 1 erkennen läßt, weist die dargestellte Einrichtung 1 ein Gehäuse 2 auf, in dem ein Substrat 3 auf einem Schlitten 4 in Richtung des Doppelpfeiles 5 translatorisch oszillierend hin und her bewegt werden kann. Der Antrieb für den Substrathalter ist der besseren Übersichtlichkeit in der Figur nicht gezeigt.
Die Figur 1 läßt ferner erkennen, daß das Gehäuse 2 an seinen einander gegenüberliegenden Seiten 6 und 7 jeweils eine Öffnung 8 und 9 aufweist, an denen der Substrathalter 4 mit dem Substrat 3 bei seiner translatorisch oszillierenden Bewegung vorbeigeführt wird. Vor den Öffnungen 8 und 9 liegt jeweils ein ebenfalls nur schematisch dargestelltes Target 10 bzw. 11.
Auf der inneren Wandung 12 der Gehäuseseite 6 und der inneren Wandung 13 der Seite 7 des Gehäuses befindet sich jeweils eine Heizmatte 14 bzw. 15, die in nicht dargestellter Weise mit elektrischen Anschlüssen versehen ist und eine elektrische Heizung darstellen. Von diesen Heizmatten 14 und 15 wird Wärmestrahlung abgegeben und dadurch das jeweilige Substrat 3 auf die erforderliche Temperatur erwärmt. Ist das Substrat 3 ausreichend aufgeheizt, dann werden die Targets 10 und 11 aktiviert, und es beginnt der eigentliche Sputtervorgang. Dabei wird das Substrat 3 mit dem Substrathalter 4 auf dem Schlitten hin und her bewegt, wobei eine solche Frequenz gewählt wird, daß beim jeweiligen Vorbeiführen des Substrates 3 an den Öffnungen 8 und 9 keine nennenswerte Abkühlung eintritt, also die Temperatur erhalten bleibt.
Wie die Figur 2 deutlich erkennen läßt, sind die Öffnungen 8 und 9 in den Seiten 6 und 7 des Gehäuses 2 als längliche Rechtecke ausgebildet, wozu eine entsprechend geometrisch ausgestaltetes Traget 10 bzw. 11 gehört. Sind die Substrate im Vergleich zur Öffnung 8 bzw. 9 relativ klein, dann können mit dem Schlitten parallel mehrere Substrate an den Öffnungen 8 und 9 vorbeigeführt werden.
Die Einrichtung nach den Figuren 3 und 4 unterscheidet sich von der nach den Figuren 1 und 2 dadurch, daß der Substrathalter als ein Drehteller 20 ausgebildet ist, an dem mittels einer Substrataufnahme 21 ein Substrat 22 derart gehalten ist, daß es an seinen beiden Seiten 23 und 24 frei zugänglich ist. Wie insbesondere die Figur 3 zeigt, ist der Drehteller 20 auf einer Achse 25 gelagert.
Die Substratauf ähme 21 mit dem Substrat 22 ist so an dem Drehteller 20 positioniert, daß bei der Drehbewegung das Substrat an Öffnungen 26 bzw. 27 in Gehäusewänden 28 und 29 vor- beigeführt wird. Vor diesen Öffnungen 26 und 27 liegen Targets 30 und 31, mittels denen eine Beschichtung des Substrates 22 auf seinen beiden Seiten 23 und 24 erfolgt. Die Figur 4 zeigt, daß die Öffnungen 26 und 27 bei diesem
Ausführungsbeispiel kreisrund sind entsprechend der Bemessung des Substrates 22.

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Hochtemperatur-Ξubstratbeschichtung mittels Sputtern, bei dem - nach Substratanbringung an einem in einem Gehäuse (1) bewegbar angeordneten Substrathalter (4) eine Beheizung vorgenommen wird und
- unter Bewegen des Substrathalters (4) ein Sputtern mittels einer Targetanordnung (10, 11) vorgenommen wird, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß
- mindestens ein Substrat (3) derart an dem Substrathalter
(4) angebracht wird, daß es an seinen beiden Seiten (3a, 3b) frei zugänglich ist und mit diesen Seiten (3a, 3b) beim Bewegen des Substrathalters (4) an Öffnungen (8, 9) in einander gegenüberliegenden Wänden (6, 7) des den Substrathalter (4) umfassenden Gehäuses (1) vorbeiführbar ist,
- die Beheizung mittels Strahlungsbeheizung vom Gehäuse (1) aus erfolgt und - das Sputtern mittels einer Targetanordnung mit zwei Targets (10, 11) vorgenommen wird, die sich außerhalb des Gehäuses (1) vor den Öffnungen (8, 9) befinden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß
- der Substrathalter (4) mit dem mindestens einen Substrat (3) translatorisch oszillierend an den Öffnungen (10, 11) vorbeigeführt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß
- der Substrathalter (4) mit einer solchen Frequenz oszillierend an den Öffnungen (10, 11) vorbei geführt wird, daß während des Vorbeiführens an den Öffnungen (10, 11) des
Gehäuses (1) die Substrattemperatur unverändert bleibt.
4. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß
- der Substrathalter (20) mit dem mindestens einen Substrat
(22) durch Drehbewegungen an den Öffnungen (26, 27) vorbei geführt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß
- der Substrathalter (20) mit einer solchen Drehzahl gedreht wird, daß während des Vorbeiführens an den Öffnungen (26, 27) des Gehäuses (1) die Substrattemperatur unverändert bleibt.
6. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß zur Strahlungsbeheizung eine elektrische Heizung einge- setzt wird.
7. Einrichtung zur Hochtemperatur-Substratbeschichtung mittels Sputtern
- mit einer Substratheizung, - mit einem Gehäuse (1) mit einem in ihm bewegbar gehaltenen Substrathalter (4) und
- mit einer Target anordnung (10, 11), d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß
- der Substrathalter (4) eine Substrataufnahme mit einer derartigen Ausgestaltung aufweist, daß ein Substrat (3) an seinen beiden Seiten (3a, 3b) frei zugänglich haltbar ist, in beiden dem Substrathalter (4) gegenüberliegenden Wänden (6, 7) des Gehäuses (1) Öffnungen (8, 9) in einer solchen Lage vorhanden sind, daß beim Bewegen des Substrathalters
(4) das Substrat (3) an den Öffnungen (8, 9) vorbei geführt wird,
- die Targetanordnung aus zwei Targets (10, 11) besteht, die jeweils außerhalb des Gehäuses (1) vor den Öffnungen (8,
9) liegen, und
- die Substratheizung von einer Strahlungsheizung (14, 15) des Gehäuses (1) gebildet ist.
8. Einrichtung nach Anspruch 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß
- der Substrathalter (4) ein innerhalb des Gehäuses geführter Schlitten ist.
9. Einrichtung nach Anspruch 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß
- der Substrathalter ein Drehteller (20) ist und in mindestens einem Bereich außerhalb seiner Mittenachse eine Substrataufnahme in einer solchen Lage aufweist, daß beim Drehen des Substrathalters (20) das Substrat (22) an den Öffnungen (26, 27) vorbei geführt wird.
10. Einrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 9, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß - die Strahlungsheizung aus jeweils einer Heizmatte (14, 15) auf der Innenseite (12, 13) der die Öffnungen (8, 9) aufweisenden Wände (6, 7) des Gehäuses (1) besteht.
11. Einrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 10, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Öffnungen (8, 9) diametral zueinander vorgesehen sind.
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DE (1) DE19928319C1 (de)
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4234590C1 (de) * 1992-10-14 1993-10-07 Kernforschungsz Karlsruhe Verfahren zum beidseitigen kontinuierlichen Beschichten eines Substrats und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE4228573C1 (de) * 1992-08-27 1994-02-10 Zentrum Fuer Funktionswerkstof Verfahren und Vorrichtung zum Beschichten eines Substrates unter Verwendung einer gepulsten Quelle
DE19914129A1 (de) * 1999-03-27 2000-09-28 Forschungszentrum Juelich Gmbh Verfahren zum doppelseitigen Beschichten eines Substrates mit insbesondere einem HTS-Material durch Materialabscheidung und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DD239811A1 (de) * 1985-07-31 1986-10-08 Ardenne Forschungsinst Verfahren zum aufbringen von verbindungsschichten
JPH03122274A (ja) * 1989-10-05 1991-05-24 Asahi Glass Co Ltd 薄膜製造方法および装置
DE4104592A1 (de) * 1991-02-14 1992-08-20 Siemens Ag Verfahren zur herstellung einer hochtemperatursupraleiter-schicht auf einem silizium-substrat
JP3281005B2 (ja) * 1991-09-27 2002-05-13 沖電気工業株式会社 スパッタリング装置及びそれを用いた半導体装置の製造方法
KR970051959A (ko) * 1995-12-29 1997-07-29 김광호 반도체소자 제조용 공정챔버

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4228573C1 (de) * 1992-08-27 1994-02-10 Zentrum Fuer Funktionswerkstof Verfahren und Vorrichtung zum Beschichten eines Substrates unter Verwendung einer gepulsten Quelle
DE4234590C1 (de) * 1992-10-14 1993-10-07 Kernforschungsz Karlsruhe Verfahren zum beidseitigen kontinuierlichen Beschichten eines Substrats und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE19914129A1 (de) * 1999-03-27 2000-09-28 Forschungszentrum Juelich Gmbh Verfahren zum doppelseitigen Beschichten eines Substrates mit insbesondere einem HTS-Material durch Materialabscheidung und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens

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