WO1988004070A1 - Dust cover with excellent light transmittance for photomask reticle - Google Patents

Dust cover with excellent light transmittance for photomask reticle Download PDF

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WO1988004070A1
WO1988004070A1 PCT/JP1984/000485 JP8400485W WO8804070A1 WO 1988004070 A1 WO1988004070 A1 WO 1988004070A1 JP 8400485 W JP8400485 W JP 8400485W WO 8804070 A1 WO8804070 A1 WO 8804070A1
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thin film
light
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Yasunori Fukumitsu
Mitsuo Kohno
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Yasunori Fukumitsu
Mitsuo Kohno
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Definitions

  • the present invention relates to a dust mask cover for a photo mask ⁇ reticle having excellent light transmittance. More specifically, a light-transmitting mask excellent in light transmission, in which at least a thin film made of a specific fluorine-based polymer is adhered to a support frame at least in the outermost layer. ⁇ Regarding dust cover for reticle. Background art
  • the dust is present on the reticle, the dust is also imaged at the time of the circumstance, and the circuit is short-circuited or missing.
  • the reticle is used because several images on the reticle are secondarily reduced and projected onto the wafer. Since the above one trash can cause all LSIs to be defective, it is becoming extremely important to eliminate garbage.
  • the photo mask ⁇ reticle (hereinafter abbreviated as “mask”)
  • a method has been proposed to prevent dust on the mask by arranging a transparent film on one or both sides in a certain space (USP 433336). According to the garbage, the garbage only adheres to the transparent film, and the garbage is focused on the image on the mask during projection. This is not an image on the screen, and it is possible to prevent defects caused by dust.
  • This power member for removing dust is referred to herein as a dustproof cover member.
  • the dust-proof par body is attached to the mask and mounted for exposure.
  • the film forming the main part of the dust-proof par body is arranged in the exposure optical path.
  • the film must transmit light without causing image distortion or distortion, and it is required that the film thickness be uniform, free of dust and scratches, and free of internal distortion. .
  • the exposure light transmittance of the film is important. In other words, the lower the light transmittance, the longer the exposure time must be, and therefore the lower the throughput. Since LSI production often involves extremely large-scale production, it is extremely important to improve throughput. ' In particular, in the case of a stepper, ⁇ exposure may be performed several hundred times per wafer. Therefore, the improvement of the light transmittance of the film integrated with the anti-dust cover greatly contributes to the improvement of the throughput.
  • a double-cellulose film is used as a film of such a dustproof power member.
  • the two-cell mouth is thin film strength
  • the light transmittance of the film used is 35.0 times that of the exposure light currently used. At a wavelength of 4450 nm, it is about 92%, and the two-cellulosic film has a low light transmittance as it is, and is used as a film for the dust-proof power body. Is not enough. Therefore, as one method, the reflected wave between the front surface and the back surface is canceled out at the wavelength of the light to be used, by utilizing the interference phenomenon of the reflected light on the front and back surfaces of the film.
  • a method for setting the film thickness has been proposed so that
  • the light transmittance is 9.9%, but the film thickness is very thin, 0.865 ⁇ m.
  • the drawback is that you need to be very careful in handling it.
  • increasing the film thickness means extremely narrowing the allowable range of the film thickness for obtaining a light transmittance of 98% or more, and the production of the film is extremely large. It becomes difficult.
  • the thickness of the film is increased to 6 m or more, the light transmittance is reduced due to the minute roughness of the film surface.
  • Another method is a method in which an inorganic compound is formed by vapor deposition or the like on both surfaces of a double-cellulose film to prevent reflection.
  • This method is based on the method used for optical lenses, eyeglasses, etc., and by changing the thickness of the anti-reflection layer, it can be applied to light of any wavelength. On the other hand, reflection can be prevented, and even if the film thickness is relatively thick, a light transmittance of 98% or more can be obtained.
  • expensive equipment such as a vacuum evaporation apparatus is required, and at the time of evaporation, low temperature is used so as not to damage the film of nitrocellulose. Must be deposited.
  • the currently used 350 to 4 Exposure to light with a wavelength of 50 nra does not have sufficient resolving power and requires far-infrared light of 240 to 290 nm, which is shorter wavelength light.
  • the cellulose film shows a sharp decrease in light transmittance in a wavelength region of 300 nm or less, and is remarkably deteriorated by far ultraviolet light, so that it can no longer be used.
  • the present invention consists essentially of a support frame and a thin film adhered to the surface thereof.
  • the film has a single layer or a multi-layer structure of three or more layers. In the case of a single layer, the film has a thickness of 10 m. In terms of film thickness, the average light transmittance for light having a wavelength of 240 to 29 m is 90% fUR £.
  • OMPI V IPO has an average light transmittance of 93.5% or more and a refractive index of 1.42 or less with respect to light having a wavelength of 290 to 500 nm.
  • at least both outermost layers have a photomask excellent in light transmittance as compared with the above-mentioned fluoropolymer film. This is to provide a dustproof cover for the chickle.
  • the above-mentioned fluoropolymer thin film consisting of only a thin film and a support frame, and a dust-proofing force par body which is more essential, and an anti-reflection dust-proofing force parcel comprising the above-mentioned fluoropolymer thin film as a core.
  • the body is excellent in the transmittance of far ultraviolet rays of 240 to 290 nm.
  • the light transmittance of the currently used exposure wavelength of 350 to 450 nm is obtained.
  • the antireflection performance does not change, and a stable dustproof cover can be formed.
  • the present invention is characterized in that the above-mentioned respective layers of the film constituting the essential part are formed by dissolving the polymer in a solvent by a coating method, preferably a spin coating method. It also provides a method of manufacturing a dust-proof cover for a reticle. According to the method of the present invention, each layer can be manufactured easily and with good reproducibility.
  • FIG. 1 is an enlarged cross-sectional view showing an example of a film which is a main part of the present invention
  • FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view showing another example of a film which is a main part of the present invention.
  • Fig. 3 shows the dustproof power
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of the embodiment using the anti-dust power unit of the present invention
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of the dust-proof cover of Example 1 and Comparative Example 1
  • FIG. 6 is a diagram showing the relationship between the wavelength and the light transmittance of the dustproof cover of Example 3 and Comparative Example 2
  • FIG. 8 is a graph showing the relationship between the wavelength and the light transmittance of the integrated dustproof cover of Example 10
  • FIG. 8 shows the relationship between the wavelength and the light transmittance of the integrated dustproof cover of Comparative Example 3.
  • FIG. 9 is a diagram showing the relationship between the wavelength and the light transmittance of the dust-proof power member of Example 1, and FIG.
  • the film currently used for the anti-dust coating is a dinitrocellulose film.Nitrocellulose absorbs light with a wavelength of 350 to 450 nm. It has excellent light transmittance, but it can be used in deep ultraviolet rays of 300 nm or less.
  • the fluoropolymer used in the present invention is 240 to
  • light scattering is caused by debris in the polymer and crystal of the polymer.
  • Polymer debris can be removed by a method such as sufficiently purifying the polymer.
  • the problem of polymer crystallization is that amorphous polymers are extremely preferred, since they do not occur when the polymer is amorphous, but they are crystalline polymers. Also, those which can be made amorphous by quenching or other means can be used sufficiently.
  • the reflection of light is attributable to the refractive index of the polymer, and the higher the refractive index, the higher the reflectance. Since the refractive index of Nitrocellulose is about 1.5, the reflectance of the film is about 8%, and the wavelength range of 350 to 450 nm without absorption / scattering. Even in this case, the average light transmittance was limited to 92%. On the other hand, since the refractive index of the fluoropolymer used in the present invention is as low as 1.42 or less, the reflectance is reduced to about 6% or less, and the average light transmittance is about 9%. 4 96 or more.
  • the dust-proof cover of the present invention in which the film of the specific fluoropolymer is a main part is not limited to far ultraviolet rays of 240 to 290 nm, and is used as the current exposure light. 3 5 ⁇ ⁇
  • Such a fluorine-based polymer has an average light transmittance of 90% or more for light having a wavelength of 240 to 290 nm at a film thickness of 10 m, and 2 9 C! Any fluorine-based polymer having an average light transmittance of 93.5% or more for light having a wavelength of up to 500 nm and a refractive index of 1.42 or less.
  • Examples of sigma that may be a terpolymer include copolymers of tetrafluoroethylene (TFE) and hexafluoropropylene (HF ⁇ ), homopolymers of vinylidene fluoride And copolymers of vinylidene fluoride (VdF) with TFE, copolymers of TFE with monofluoroalkyl vinyl ether, and copolymers of VdF with ethylene.
  • TFE tetrafluoroethylene
  • HF ⁇ hexafluoropropylene
  • VdF vinylidene fluoride
  • VdF vinylidene fluoride
  • TFE tetrafluoroethylene
  • VdF vinylidene fluoride
  • copolymers of TFE with monofluoroalkyl vinyl ether copolymers of VdF with ethylene.
  • Preferred fluorine-based polymers are vinylidene fluoride homopolymers.
  • TFE tetrafluoroethylene
  • HFP hexafluoropropylene
  • VdF vinylidene fluoride
  • the film forming the main part is replaced with the fluorine-based polymer used in the present invention.
  • the fluorine-based polymer has excellent transmittance in a wide wavelength range from far ultraviolet rays to ordinary ultraviolet rays.
  • the refractive index of the film 1 which forms the core on both sides of the film 1 which forms the core is, as shown in FIG. 1, the refractive index of the film 1 which forms the core on both sides of the film 1 which forms the core.
  • a polymer having a lower refractive index may be disposed as the outermost layer 3 with an optical thickness (refractive index X thickness) corresponding to 14 of the wavelength of the antireflective light. It is done. Since the accuracy of this thickness greatly affects the antireflection performance, it is sufficient if the thickness is not controlled so that the deviation from the set thickness is within 10% or less. No anti-reflection performance is provided.
  • the core film 1 When the light to be antireflection is ordinary ultraviolet light having a wavelength of 350 to 450 nm, the core film 1 has a thickness of 0.5 to 15 ⁇ m.
  • the membrane of the cell opening is used, and as the membrane 3 to be arranged on both sides thereof, The fluorine-based polymer is used.
  • the condition for complete anti-reflection is that the refractive index of the core film 1 is ni, the refractive index of the film 3 disposed on both sides is n 3, the thickness is d 3 , If the wavelength of the light to be anti-reflective is S, then
  • the refractive index of the fluoropolymer is 1.4. 2 or less and low
  • N Even if N is 1 or 2, although there is an anti-reflection effect, the wavelength range of light in which the effect appears is narrowed, and the thickness is reduced. Manufacturing is difficult due to tight tolerances
  • Another configuration is a core membrane, as shown in FIG.
  • a polymer having a refractive index larger than the refractive index of the film forming the core on both surfaces of the film 1 is used as the intermediate layer 2, and furthermore, the polymer having a refractive index close to the refractive index of the film 1 forming the core on both surfaces is obtained.
  • the body is disposed as the outermost layer 3 with an optical thickness corresponding to 1 Z 4 of the wavelength of the light to be antireflective.
  • the fluoropolymer when the antireflection light is far ultraviolet light having a wavelength of 240 to 290 nm, the fluoropolymer is used as the film 1 forming the core, and is disposed on both surfaces thereof.
  • the intermediate layer 2 a transparent polymer having a refractive index of 1.45 or more is disposed, and the fluoropolymer is disposed on both surfaces thereof as an outermost layer 3.
  • the light to be antireflection is normal ultraviolet light having a wavelength of 350 to 450 nm, the above-mentioned three-layered film can of course be used.
  • a transparent polymer having a refractive index of about 5.5 or more is used as the intermediate layer 2 on both surfaces thereof, and the fluoropolymer is used as the outermost layer 3 on both surfaces thereof.
  • the five-layer film is also formed by arranging the layers.
  • the core film 1 is a film of the fluoropolymer.
  • the polymer having a ratio of 1.47 is used as the outermost layer 3 as the fluorine-based polymer.
  • the refractive index of the outermost layer 3 is smaller than the refractive index of the core film 1.
  • the membrane 1 forming the core is a two-port
  • the refractive index of the fluoropolymer is used as the outermost layer 3.
  • the polymer used for the intermediate layer 2 is the fluorine-based polymer.
  • the refractive index should be .45 or more.
  • Any polymer can be used as long as it is
  • Examples of merging are ethylcellulose and acetylcellulose.
  • the membrane 1 forming the core is a two-cell cellulose field.
  • a polymer having a refractive index of 1.57 or more and well transmitting ordinary ultraviolet light having a wavelength of 350 to 450 nm is used.
  • An example of such a polymer is polystyrene. , Polysulfone, polyethersulfone, polyphenylene ether, polycarbonate, aromatic polyester, and the like.
  • the thickness of the film used in the present invention may be such that the film made of the fluorine-based polymer is used alone or, in the case of the film forming the core, the film made of the fluorine-based polymer is used. Thickness is 1 ⁇
  • the thickness of the nitrose film is preferably 0.5 to 15 m. It is better. If the thickness is less than this, the strength is low and handling becomes difficult.If the thickness is more than this, it is difficult to form a uniform film with high accuracy. No advantage.
  • the amount of change in the projection position of the mask image due to the increase in the film thickness ie, the focus shift, is about 0.1 in the case of a stepper even if the film thickness is 15 m. Since it is as small as 0 to 0, it hardly affects the imaging.
  • the configuration of the dustproof power member other than the membrane is as shown in FIG. 3, and is basically the same as the conventional one.
  • the membrane 4 is adhered to the support frame 5 with no adhesive or stiffness by the adhesive layer 6, and the adhesive layer 7 is provided on the other end surface of the support frame 5.
  • the protective film 8 is disposed on the adhesive layer 7.
  • the height is about 1 to 6 inch diameter or about 1 to 6 inch angle corresponding to the size of the mask, and the height is about 2 to 10 mm.
  • the dustproof power unit is housed in a clean case until used, preventing dust from adhering.
  • the protective film 8 shown in FIG. 3 is peeled off, and the dustproof par body of the present invention is attached so that the image 10 of the mask 9 is completely removed as shown in FIG.
  • the toner By storing the toner in the form shown in FIG. 4, dust is prevented from adhering to the image 10 portion, and the mask does not need to be cleaned when it is used again.
  • a coater method such as a spin coating method, a knife coater, and a rod coater may be used.
  • a solution casting method such as an immersion pull-up method can be used, and a thermoplastic polymer can be a melt extrusion method such as a T-die method or an inflation method.
  • Rotation coating is the most recommended solution casting method because accuracy and uniform thickness are extremely important, and it is essential to create a film free of dust and scratches. .
  • a polymer is dissolved in a solvent, and the solution is dropped on a smooth substrate or on a previously formed film and spun at an appropriate speed.
  • a film having a desired thickness is formed.
  • dust and the like are completely removed by passing the solution through a filter or the like.
  • Can be cleaned and cleaned as a substrate The use of a silicon wafer, a smooth glass plate, etc. eliminates the occurrence of scratches, and ensures that the film thickness, solution concentration, and coating rotation speed are appropriate. The choice you obtain will give you the desired one.
  • a method for producing a dust-proof cover having a sufficient uniformity of the film thickness is based on the case where the film consists only of the fluoropolymer film.
  • a film of the above polymer is formed on a smooth substrate such as a wafer by a spin coating method or the like, and the surface of the adhesive previously applied to the support frame is changed to the surface of the film. And then immersed in water to separate the film from the substrate.
  • a core film is formed on a substrate, and then an intermediate layer is formed on the core film, or an outermost layer is formed without an intermediate layer. Is formed on it, the support frame is adhered to the film surface with an adhesive, and then the substrate is separated. It is formed by forming an outermost layer without an intermediate layer or without an intermediate layer.
  • the thickness of the film was measured by the following method.
  • the thickness of the film is relatively thin, and an interference wave is observed in a measurement using a spectrophotometer (manufactured by Shimadzu Corporation, UV-240), the thickness is calculated by the following formula. Calculated.
  • a silicon wafer was set on a spin coater (rotary coating machine), this solution was dropped, and then the silicon wafer was rotated to form a thin coating film on the wafer.
  • the support frame with the membrane is removed from the water, and the membrane is taken out of the water and air-dried.
  • the film thickness of ⁇ _ is about 14 m, no interference wave is observed in the spectrophotometer measurement, and the light transmittance for light with a wavelength of 240 ⁇ m is 92.5. %, And 350 to
  • Nitrocellulose (HIG-20 manufactured by Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd.) was dissolved in n-butyl acetate to prepare a 10% by weight solution.
  • the obtained dust-proof par body thin film had a thickness of 2,861 m, and an interference wave was observed '.
  • the light transmittance of this film is 35% with respect to light having a wavelength of 240 ⁇ , and the maximum transmittance near 350 nm is 98.2%.
  • the minimum transmittance was 84.8%, and the average was 91.5%.
  • the average light transmittance for light having a wavelength of 350 to 450 nm was 92.0% (see FIG. 5).
  • TFE tetrafluoroethylene
  • HFP hexafluoropropylene
  • VdF vinylidene difluoride
  • terpolymer 43 (manufactured by 3M) was polymerized at 85 using ammonium persulfate as an initiator and getylmalonate as a chain transfer agent.
  • the refractive index of the terpolymer was 1.36.
  • the terpolymer was converted to perfluoro-2-methyl-1-year-old 3-thiocyanocyclohexane-3,3- Jix
  • the average light transmittance for light having a wavelength of 240 nm was 93.%, and the average light transmittance for light having a wavelength of 350 to 500 nm was 9596.
  • Nitguchi Cell mouth H-20, manufactured by Asahi Kasei Kogyo Nuka
  • n-butyl group acid Nitguchi Cell mouth (H-20, manufactured by Asahi Kasei Kogyo Nuka) was dissolved in n-butyl group acid to form a 7% by weight solution.
  • Silicon wafer (125 mm ⁇ ) is used as the sinker After settling, the above-mentioned two-nitrocellulose solution was dropped, and a uniform two-nitrocellulose coating film was formed on the wafer. This was dried with an infrared lamp, and a TFEZHFPZV dF terpolymer solution was dropped thereon, and the wafer was rotated at 700 rpm for 20 seconds. After that, it was dried with an infrared lamp. Next, an epoxy resin adhesive applied to a 100 mm0 (outer diameter) aluminum ring (support frame) was overlaid on the film surface, and the adhesive was cured.
  • this antireflection film showed that the light transmittance near 400 nm was 96.5 to 99.5% based on the measurement of spectral characteristics by a spectrophotometer. The average transmittance was 98%.
  • the dust-proofing power of the ditrocellulose alone without the coating of the TFEZHFP / VdF terpolymer was found to have a light transmittance of 84 to 9996. A large interference wave was observed, and the average transmittance was 92%.
  • Aciduria By using the middle solution and repeating the method of Example 3 to form a film, an integrated dustproof cover was obtained. From the measurement of the spectral characteristics of this material, the light transmittance between 3-50 and 45 O nm was 92.5-99.5%, and the average transmittance was 96%. ⁇ with effect
  • Nitrocellulose (Asahi Kasei Corporation, ⁇ -20) was dissolved in ethyl lactate to prepare a 9% by weight solution.
  • Polystyrene (produced by Asahi Kasei Corporation, GP 683, nD
  • a VdF terpolymer layer was formed to obtain a dust-proof power body having a two-cell cellulose layer as a central layer.
  • the minimum light transmittance was 98% or more for both, and the dustproof cover for steppers was used. He had enough performance as a body.
  • the concentration of the double cellulose solution in Example 6 was reduced to about 4% by weight.
  • Fig. 7 shows the spectrophotometer measurement data of the film thus obtained.
  • Fig. 8 shows the data of only the two-cell cellulose film that forms the core of
  • the thickness of the two-cell cellulose film is
  • Example 10 the two-microcell serving as the core ⁇
  • the light transmission at 436 nm is even greater for such thick films.
  • the TF ⁇ VdF copolymer of Example 1 was dissolved in ethyl methyl ketone to prepare a 20% by weight solution, and acetyl cellulose (refractive index: 1 • 488) was added to milk crest ethylnoacetic acid — A 0.6% by weight solution was prepared by dissolving in a mixed solvent of butyl petanol (40/35 Z25 by weight). Further, the TF ⁇ / HFP / VdF terpolymer of Example 2 was dissolved in perfluoro-2- (methyl-1-oxy-1--3-thiacic) hexan-1,3-dioxide. A 0.6% by weight solution was prepared.
  • Example 5 In the same manner as in Example 5, these were used with the TFEZV dF copolymer as the core, acetyl cellulose as the intermediate layer, and TFE /
  • a multi-layered dustproof par body having HF F / VdF terpolymer as the outermost layer was prepared.
  • the film thickness of the TFEXV dF copolymer forming the core of the obtained film was about 2.25 ⁇ m, and the light transmittance was 87.59 on average at 280 nm (No. 9). See figure).

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Description

明 細
光透過性 に 優れた フ 才 卜 マス ク レ チ ク ル用
防塵カ バ ー 体及び製造方法 技術分野
本発明 は光透過性に優れた フ ォ 卜 マス ク ♦ レ チクル用 防塵 カ バ ー体に 関 する 。 更に 詳 し く は 、 特定 の弗素系重 合体か ら なる薄膜を少な く と も最外側層 に 有す る膜が支 持枠 に接着 し て い る光透過性 に 優れた フ 才 卜 マス ク ♦ レ チクル用 防塵カ バ ー 体に 関 する 。 背景技術
近年の半導体集積回路の高密度化 に よ り 、 そ の 回路の 画線巾 も 1 〜 3 ^ m と極めて 微細 と なっ て お り 、 こ の画 像を ウ ェハ ー上 に 形成す る リ ソ グラ フ ィ 技術も 、 プ ロ ジ ェ ク シ ヨ ン方式か ら ステッパ ー方式へ と移行 しつつ あ る
こ の リ ソ グラ フ イ エ程 に お い て 、 フ 才 卜 マ ス ク ♦ レ チ ク ル上 に ゴ ミ が存在す る と ゴ ミ も周 時に結像さ れる た め 回路の短絡及び欠'損 と な り 、 L S I の収率を低下さ せる 特 に ス テ ッパー の場合 に は 、 レチ クル上の数個 の画像を ウ ェハ ー 上に顾次縮小投影さ せる た め 、 レ チクル上の 1 つ の ゴ ミ が全て の L S I を不良 と する こ と も あ り 、 ゴミ をゼ ロ と す る こ と が極め て重要 と なっ て き て い る 。
そ こ で フ ォ 卜 マス ク ♦ レ チク ル ( 以下、 マス ク と 略す
ΟίνίΡΙ
、Ί WI?0
? Λ ΑΤίΟ るこ とあ り 。 ) の片面また は両面に 、 透明な膜をある空 を とつて配置させる こ とに よ り 、 マスク上へのゴミ を 防止する方法が提案されている ( U S P 4 3 3 6 3 ) この方法によれば、 ゴミ はこの透明な膜の上に しか付着 しないので、 投影の際に、 マスク上の画像に ピン 卜 を合 わせる こ とに よ り 、 ゴミはァ ゥ 卜 ♦ 才ブ ♦ フ才一力スと な り 、 ゥェ八一上に結像されず、 ゴミ に よ る不良を防止 する こ とがでぎる 。 このゴミ 除けの力パー体を、 ここで は防麈カパー体と呼称する。
防塵力パー体はマスクに貼られて露光襪に裝着される 防塵力パー体の要部をなす膜は、 露光光路中 に配置され
-5
その為、 膜は、 画像の歪みや乱れを生じる こ となく光 を透過させる必要があ り 、 膜厚みの均一性、 ゴミ及びキ ズのないこ と、 内部歪みのないこ とが要求される。
又、 膜の露光光線透過性も重要である。 即ち 、 光の透 過性が低ければ、 その分、 露光時間を長く する必要があ るので、 スループッ ト が低下する。 L S I 製造では、 極 めて大量に生産を行なう こ とが多 Ι ので、 スループッ 卜 の向上は極めて重要なこ とである'。 特にステッパ―の-場 合に は、 Ί ウェハー当 り数百回もの露光を行なう場合が あるので、 防麈カゾ 一体の膜の光線透過性の向上は、 ス ループッ 卜の向上に大きく 寄与する。
かかる防塵力パー体の膜と しては、 二 卜 ロ セル ロ ース の膜が使用 されている。 二 ト 口セル口一スは、 薄膜強度
O PI
v IPO ·^Ατ\ο が髙 く し かも均一性が極め て高い薄膜を作成でき る ので 、 使用 さ れて い るも の の 、 そ の膜の光線透過率 は 、 現在使 用 さ れて い る露光光線の 3 5.0〜 4 5 0 nmの 波長 に於い て 、 9 2 %程度で あ り 、 二 卜 ロ セル ロ ー ス膜 はその ま ま で は光線透過率が低 く 、 防塵力 パ ー 体の膜 と し て は不十 分で あ る 。 そ れゆ え 、 1 つ の方法 と し て 、 該膜の表裏面 で の反射光の干渉現象を利用 し て 、 使用 する光の波長 に 於い て表面 と裏面 とで 、 反射波が相殺さ れる よ う に 、 膜 厚みを設定 する方法が提案さ れて い る
( U S P 4 3 7 8 9 5 3 ) 。 こ の方法 に よ れば、 光線透 過率 は 9 9 %と な.る も のの 、 膜厚みが 0 . 8 6 5 ^ m .と 極め て 薄 く な る ので 、 かかる防塵力 パ ー体を取 り 扱 う に あ た り 十分な注意を必要 と する と い う 欠点があ る 。 ま た 、 膜厚みを厚 く する こ と は、 9 8 %以上の光線透過率を得 る た め の膜厚みの許容範囲 を極め て狭 く する こ と に な り 、 そ の製造 は極め て難 し く なる 。 ま た 、 膜厚みを 6 m 以 上 に厚 く する と 、 膜表面の微小な荒れ に よ っ て 、 その光 線透過率 は低下 し て し ま う 。
も う 1 つ の方法 は 、 二 卜 ロ セル ロ ー スの膜の 両面 に 、 無機化合物 を蒸着等 に よ り 形成さ せて反射防止を お こ な う 方法で あ る 。 こ の方法 は光学 レ ンズ、 メ ガネ等に用 い ら れて い る方式を適用 し た も ので あ り 、 反射防止層 の厚 みを変え る こ と に よ り 、 任意の波長の光 に対 し て 反射を 防止する こ と が出来、 又膜厚みの比較的厚い も の に対 し て も 、 9 8 %以上の光線透過率を得る こ と が 可能 と な る 。 しか しなが ら 、 かかる腠を作成する に は、 真空蒸着装 置等の高価な装置を必要とする と ともに、 蒸着に際して は、 ニ ト ロ セルロ ースの膜を損傷 しないよう に 、 低温で 蒸着 し なければな ら い。 しかしながら 、 低温で蒸着を 行なう と、 コ ー ト する無撐化合物がち密に蒸着されず、 温度条伴によ り屈折率が変化 して しま う 。 それゆえ、 目 標とする反射防止性能を示さないことがある 。 更に は蒸 着 ¾質に よっては、 蒸着後、 空気によ り漦化されること があ り 、 屈折率が変化して し まう こ ともあ り 、 従っ て防 麈カパー体と しての性能が安定 しない。
—方、 し S I の高密度化に よ り サブミ ク ロ ンオーダー の画線巾が要求されるよう になってきており 、 かかる要 求に対して は、 現在使われている 3 5 0 〜 4 5 0 nraの波 長.の光の露光では、 十分なる解像力がな く 、 よ り短波長 の光である 2 4 0 〜 2 9 0 nmの遠紫外線が必要となるが、 現在の二 卜 ロ セルロ ースの膜は、 3 0 0 nm以下の波長域 で光線透過率の急激な低下を示す と ともに、 遠紫外線に より著し く劣化され、 もはや使用 することが出来ない。
それゆえ、 新しい防塵カバー体が期待されている。 発明の開示
本発明は、 支持枠とその表面に接着された薄膜とよ り 本質的になり 、 該膜は単層又は三層以上の多屢を有し、 単層の場合は該膜は 1 0 m の膜厚みに於いて 、. 2 4 0 〜 2 9 ひ mの波長の光に対する平均光線透過率が 9 0 % fUR£
OMPI V IPO 以上であ り 、 かつ 、 2 9 0〜 5 0 0 nmの波長の光 に対 し 9 3 . 5 %以上の平均光鎳透過率を有 し 、 かつ 1 . 4 2 以下の屈折率を有す る弗素系重合体の膜か ら な り 、 多層 の場合は 、 少な く と も両最外側層が上記弗素系重合体の 膜よ り な る光透過性 に優れた フ ォ 卜 マス ク ♦ レ チクル用 防塵 カ バ ー体を提供す る も ので あ る 。 上記弗素系重合体 の 薄膜の みか ら な る膜 と支持枠 と よ り 本質的 に な る 防塵 力 パ ー体 と 、 上記弗素系重合体の薄膜が芯部をな す反射 防止性防塵力 パ ー 体 と は 、 2 4 0〜 2 9 0 nmの遠紫外線 の光線透過性 に優れた ものであ る 。 ま た上記弗素系重合 体を二 卜 ロ セル ロ ー ス 薄膜の両面 に 配置す る こ と に よ り 現在使用 さ れて い る露光波長 3 5 0〜 4 5 0 nmの光の透 過性を向上さ せ る と と も に 、 反射防止性能が変化す る こ と な く 、 安定 し た 防塵カ バ ー 体が形成さ れ得る 。 ま た 、 本発明 は要部をな す膜の上記各層をそ の重合体を溶媒に 溶解せ し め て塗布法、 好ま し く は 回転塗布法、 に よっ て 形成す る こ と を特徴 と す る光透過性 に優れた フ 才 卜 マス ク ♦ レ チクル用 防塵 カ バ ー体の製造方法も提供す る もの で あ る 。 本発明 の方法 に よ れば、 各層 を容易 に 、 かつ 再 現性よ く 製造する こ と ができる 。 図面の 簡単な説明
第 1 図 は本発明 の要部で あ る膜の Ί 例を示す拡大断面 図で あ り 、 第 2 図 は本発明 の要部であ る膜の別 の例 を示 す拡大断面図で あ り 、 第 3 図 は 、 防塵力 パ ー体の全体の
OMPI 断面図であ り 、 第 4 図 は、 本発明の防麈力パ一体を使用 する態様の断面図であ り 、 第 5 図は、 実施例 1 及び比較 例 1 の防塵カバ一体の波 ; Κと光 透過率と の闋係を示す 図であ り 、 第 6 図 は、 実施例 3 及び比較例 2 の防塵カバ 一体の波長と光線透過率との関係を示す図であ り 、 第 7 図は、 実施例 1 0 の防塵力パ一体の波長と光線透過率と の関係を示す図で δ り 、 第 8 図は、 比較例 3 の防塵カバ 一体の波長と光線透過率 と の関係を示す図であ り 、 第 9 図は実施例 1 の防塵力パー体の波長と光線透過率との 関係を示す図であ り 、 第 Λ 一 4 図に於て
1 は芯部をなす膜を、 2 は中間員を、 3 は最外側層を 4 は膜を 、 5 は枠を、 6 は接着層を、 7 は粘着層を、 8 は保護フィルムを、 9 はマスクを、 1 0 は画像を示す。 発明を実施するための最良の形態
光の透過性は、 膜が光を吸収、 散乱、 反射するこ と に よ り低下するものであるか ら 、 これらを無く するか、 減 少させるこ とに よ り光の透過性の優れた防廛カ パー体が 得られる 。
光の吸収性は膜そのものの性質であるので、 防塵力-パ
—体 用い られる膜は、 光の透通性に優れた重合体を選 定する必要がある 。 現在防麈力パー体に使用されている 膜は、 二 卜 ロ セルロ ース膜であるが、 ニ ト ロ セルロ ース は 3 5 0 〜 4 5 0 n mの波長の光に対しては吸収がなく 優 れた光線透過性を示すが、 3 0 0 nm以下の遠紫外線に於
_o Pi i k' い て は著 し い吸収を示す ので 、 かかる 波長域で の 防塵力 パ ー体 と し て はも はや使用 す る こ と が出来ない 。 こ れ に 対 し て本発明で使用 す る弗素系重合体 は 、 2 4 0〜
2 9 0 nmの遠紫外線を ほ と ん ど吸収する こ と な く 、 優れ た 透過性を示す 。
又 、 光の散乱 は重合体中 の ゴ ミ 及び重合体の結晶 に 起 因 す る も のであ る 。 重合体の ゴミ は重合体を十分 に精製 す る等の方法 に よ り 除去する こ と が 出来る 。 重合体の結 晶 の 問題 は 、 重合体が非晶性で あ る場合 に は 、 生 じ な い ので 、 非晶性重合体が極め て好 ま し い が 、 結晶性の重合 体で あつ て も 、 急冷等の手段 に よ っ て 非晶状態 に す る こ と ができ るも の は十分使用 出来る 。
一方、 光の反射 は重合体の屈折率 に起因す る も のであ り 、 屈折率の大きいほ どその反射率は大きい 。 二 卜 ロ セ ル ロ ー ス の屈折率 は約 1 . 5 であ る ので、 そ の膜の反射 率 は約 8 % と な り 、 3 5 0〜 4 5 0 nmの吸収散乱の ない 波長域に 於い て も 、 その 平均光線透過率は 9 2 %が限度 であっ た 。 こ れに 対 し て 、 本発明で使用 する弗素系重合 体 は屈折率が 1 . 4 2 以下 と低い ので 、 その反射率は約 6 %以下 に減少 し 、 そ の平均光線透過率は約 9 4 96以上 と なる 。
以上の通 り 、 特定の弗素系重合体の膜が要部をな す本 発明 の防塵カ バ ー 体 は、 2 4 0 〜 2 9 0 nmの遠紫外線の みな ら ず 、 現在露光光線 と し て使われて い る 3 5 〇 〜
4 5 0 nmの光 に対 し て も優れた光線透過性を示す 。
O ?I かかる弗素系重合体と して は、 1 0 m の膜厚みに於 いて、 2 4 0〜 2 9 0 nmの波長の光に対する平均光線透 過率が 9 0 %以上であ り 、 かつ、 2 9 C! 〜 5 0 0 nmの波 長の光に対 し 9 3 . 5 %以上の平均光線透過率を有 し、 しかも 1 . 4 2以下の屈折率を有する弗素系重合体であ れぱ、 いかなる弗素系重合体であつてもかまわない σ 例 示すれば、 テ 卜 ラフ ロ ロ エチレン ( T F E ) とへキサフ ロ ロプロ ピ レン ( H F Ρ ) との共重合体、 弗化ビニ リ デ ン単独重合体、 弗化ビニ リ デン ( V d F ) と T F Eとの 共重合体、 T F E とノ 一フ ロ ロ アルキルビニルェ一テル との共重合体、 V d Fとエチレン との共重合体等が挙げ られるが、 溶媒に溶解させる こ とができ、 塗布法、 特に 回転塗布法に よっ て 、 均一な膜を形成するこ とができる 好ま し い弗素系重合体は、 弗化ビニ リ デン単独重合体、 弗化ビニ リ デンの含量が 5 0モル%以上の弗化 ビニ リ デ ン とテ 卜ラフ ロ ロ エチレンとの共重合体、 及びテ 卜ラフ ロ ロ エチレンの含量が 3 5 - 6 5モル%のテ 卜ラフ ロ ロ エチレン ( T F E ) とへキサフ ロ ロプロ ピ レン ( H F P ) と弗化ビニ リ デン ( V d F ) との三元共重合体 ( H F P 対 V d Fのモル比が 1 : 1 〜Ί : 2 . 3である ) であ-る 。
又、 よ り 光線透過性の優れた防麈カバ -体が必要な場
合に は、 要部をなす膜を、 本発明で使用する弗素系重合
体を最外側層に有する多屢膜にすること によ り可能とな る。 即ち 、 該弗素系重合体は上述の通り 、 遠紫外線から 通常の紫外線に亘る広い波長域に対して透過性に優れて .' —-.
* V ·: i Λ — - \ - 、- い る と と も に 、 低い屈折率を有す る ので 、 該弗 素系重合 体の膜を最外側層膜 と し て配置す る こ と に よ り 、 反射波 を相殺さ せ て 反射を 防止す る こ と ができ 、 そ れ に よ り 、 得 ら れた多層膜 は さ ら に優れた光線透過性を示す よ う に な る 。 こ の こ と は 、 前に述べ た 二 卜 ロ セル ロ ー ス の膜に 無機化合物を蒸着等 に よ り 形成させた反射防止防塵カ パ 一体 と 、 基本的 に は周 じ理論に 基 く も ので あ る が 、 本発 明 に あっ て は 、 反射防止層 をそ れぞれ重合体 と す る こ と に よ り 、 真空蒸着装置等の高価な装置が不必要 と な り 、 更 に重要な こ と は 、 各層 が全て重合体で構成さ れるので 、 そ の反射防止性能が ほ と ん ど変化す る こ と な く 、 安定 し た性能を示す防塵 カ バ —体が得 ら れる 。 こ れ は本発明の 大きな特徴であ る 。
かかる反射防止性防塵カ バ 体の要部をなす膜の構成 の 1 つ は、 第 1 図 に 示す通 り 、 芯部を な す膜 1 の両面 に 芯部を な す膜 1 の屈折率よ り 低い屈折率を有す る重合体 を最外側層 3 と し て 、 反射防止すべ き光の波長の 1 4 に相 当 す る光学厚み ( 屈折率 X 厚み ) で配置す る こ と に よ り な さ れる 。 こ の厚みの精度 は、 反射防止性能 に 大き く 影響す る ので 、 設定 し た厚み に対するズ レ が 1 0 %以 内 と な る よ う に厚みを コ ン ト ロ ール し ない と 、 十分な反 射防止性能が付与さ れない 。 反射防止すべき光が 3 5 0 〜 4 5 0 n mの波長の通常の紫外線の場合に は 、 芯部を な す膜 1 と し て 、 0 . 5〜 1 5 ^ m の厚みの 二 卜 ロ セル 口 一ス の膜を使用 し 、 その両面 に 配置す る膜 3 と し て 、 当 一 ΟΜΡΪ _ 該弗素系重合体を使甩する。 この場合、 反射防止を完全 にお こなう条件は、 芯部をなす膜 1 の屈折率を n i と し 、 その両面に配置する膜 3 の屈折率を n 3 、 厚みを d 3 と し、 反射防止すべき光の波長を ス とする と 、
n 3 = V" n v n d 3 = λ ( 2 N + 1 ) [ こ こ に N は 0, 1 又は 2 ] である しか し 、 二 卜 口セル口一スの屈折率は 1 . 5 で あるので、 n - V T . "5"の条件を篛足する物質はないた め、 反射防止を完全におこなう こと は出来ない ¾のの 、 当該弗素系重合体にあつ ては屈折率が 1 . 4 2 以下と低
( ので、 かなり の反射防止効果があ り 、 その平均光線透 過率は約 9 6 %以上となり 、 二 卜 ロ セルロ ース単独よ り 約 4 %以上光線透過率が向上する。 又、 上記の式に於い て N の好ま しい値は 0 である。 N が 1 又は 2 の値であつ ても、 反射防止効果はあるあのの、 その効果が現われる 光の波長範囲が狭く な り 、 厚みの許容誤差が狭 < なるの で、 製造が難しく なる
う 1 つ の構成は、 第 2 図に示す通り 、 芯部をなす膜
1 の両面に、 芯部をなす膜の屈折率よ り大きい屈折率を 有する重合体を中間層 2 と して、 更には、 その両面に芯 部をなす膜 1 の屈折率と周 じかよ り 低い屈折率を有する
体を最外側層 3 と して、 それぞれ反射防止すべき光 の波長の 1 Z 4 に相当する光学厚みで配置する こ と に よ
OMPI り 得 ら れる 。 即 ち 、 反射防止す べ き光が 2 4 0〜 2 9 0 nmの遠紫外線の場合 に は 、 芯部を なす膜 1 と し て 、 当該 弗素系重合体を使用 し 、 そ の 両面 に 配置す る 中 間層 2 と し て 、 屈折率 1 . 4 5以上の透明 な重合钵を 、 更に は 、 そ の両面 に 当該弗素系重合体を最外側屬 3 と し て 配置す る 。 又 、 反射防止すべき光が 、 3 5 0〜 4 5 0 nmの通常 の紫外線の場合 に は 、 上記三層膜も勿論使用 し 得る が 、 芯部をな す膜 1 を 二 卜 ロ セル ロ ー ス と し て 、 そ の両面に 屈折率 Ί . 5 7以上の透明な重合体を 中 間層 2 と し て 、 更 に は 、 その両面に 当該弗素系重合体を最外側層 3 と し て 配置す る こ と に よ っ て 五層膜も形成さ れる 。
かかる構成 に よ る反射防止の条件 は 、 芯部をなす膜 1 の屈折率を 、 中 間層 2 の屈折率を nク 、 厚みを d 2 - 最外側層 3 の屈折率を n 3 、 厚みを と し 、 反射防止 す べき光の波長を ス と する と 、 - 一
n n V n
1
n 2 d 2 n 3 α 3 λ ( 2 N + ) C <_ し に N は
4
0 , 1 又 は 2 ] であ る 。 実際 に は上記の式を完全 に満足 し な く と も 、 .近 い値 と な る よ う 各層 の屈折率を選定 すれば、 こ の多層膜 は優れた反射防止性能を示す 。 又 、 上記 の式 に於い て N の好 ま し い値 は 0で ある 。 N が 1 又 は 2 の値で あっ て も 、 反射防止効果 は あ る もの の 、 そ の効果が現わ れる光の波
OMPI WIFO 長範囲が狭く な り 、 厚みの許容謨差が狭く なるので、 製
造が難 し く なる 。
例えば、 芯部をなす膜 1 が当該弗素系重合体の膜であ
り 、 その屈折率が 1 . 3 7 であ り 、 中間層 2 と し て屈折
率 1 . 4 7 の重合体を、 最外側層 3 と して当該弗素系重
合体であって芯部をなす膜 1 と周 じ重合体を選定 した場
合、 2 8 0 nmにおいて、 その ^均光線透過率は 9 6 . 5
% となり 、 単独の場合よ り 2 %以上光線透過性が向上す
る。 ここ に中間層 2 の屈折率が 1 . 4 5 よ り低い場合、
及び、 最外側層 3 の屈折率が芯部をなす膜 1 の屈折率よ
り高い場合に は、 反射防止の効果がほとんど無く なるか
場合に よつて は逆に悪化するこ とが ®るので各層の屈折
率の選定 は十分注意すべきで る。
又、 例えば、 芯部をなす膜 1 が二 卜 口 tルロ ースの場
合、 中閩屢 2 と して屈折率 1 . 5 9 の重合体を、 更に は
最外側層 3 と して 、 当該弗素系重合体の う ち屈折率
1 . 3 7 のものを使用 した とき、 現在ステヅパ一の露光
光源と し て通常用 い られている 4 3 6 nmの波長の光に対
して、 9 9 . 5 %の光線透過率を示す
中間層 2 に用い られる重合体と しては、 当該弗素系ポ
リマーが芯部をなす場合に は、 屈折率が . 4 5 以上で
2 4 0〜 2 9 0 の波長の遠紫外線をよ く 透 する重合
体であればいかなる重合体であってち よいが、 かかる重
合体の例は、 ェチルセルロ ース、 ァセチルセル ロ ースな
どである 。 又、 芯部をなす膜 1 が二 卜 口 セルロ ースの場
ΟΜΡΙ 、 " 。 、 ΑΤΊΟ 合に は 、 屈折率が 1 . 5 7 以上で 、 3 5 0〜 4 5 0 n mの 通常の紫外線を よ く 透過する重合体が使用 さ れ、 かかる 重合体の例 は 、 ポ リ ス チ レ ン 、 ポ リ スルホ ン 、 ポ リ エ ー テルスルホ ン 、 ポ リ フ エ二 レ ン エ ー テル、 ポ リ カ ー ポネ 一 卜 、 芳香族ポ リ エ ス テル等であ る 。
又、 本発明で使用 する膜の厚み は 、 当該弗素系重合体 よ り なる膜が単独で使用 さ れるか 、 又は芯部を な す膜の 場合 に は 、 当該弗素系重合体 よ り なる膜の厚み は 1 〜
1 5 m が 、 芯部をな す膜 1 が二 卜 ロ セル ロ ー ス の膜で あ る場合 に は、 ニ ト ロ セル ロ ー ス の膜の厚みが 0 . 5〜 1 5 m が好 ま し い 。 こ れ以下の厚みで は強度が低 く 、 その取 り 扱い が困難 に な り 、 こ れ以上の厚みの場合に は 、 精度良 く 均一な膜を作る の が 困難であ り 、 な ん ら利点が ない。
膜厚みの増大 に よ るマス ク画像の投影位置の変化量、 即ち フ ォ ー カ ス シ フ ト は 、 膜の厚みが 1 5 m であっ て も、 ステ ッパ ー の場合約 0 . 1 〜 0 . と小さ く 、 結像 に殆 ど影響を与えない 。
膜以外の 防塵 力 パ ー体の構成 は、 第 3 図 に示す通 り で あっ て 、 基本的 に は従来のも の と周 じ で あ る 。 防塵カ バ 一体.は支持枠 5 に 膜 4 が接着層 6 に よ り シ ヮ も タ ルミ も な く 固着さ れて お り 、 支持枠 5 の他の端面 に は粘着層 7 が設け ら れて いて 、 その粘着層 7 の上 に 保護フ ィ ルム 8 が配置さ れて い る 。 支持枠 5 の材質 と し て は 、 通常 アル ミ ニ ユ ウ ム合金、 プラス チッ ク 等が用 い ら れ 、 そ の大き さ はマスクの大きさに対応 して 1 〜 6 ィ ンチ径、 ま た は 1 〜 6 イ ンチ角程度であ り 、 その高さ は 2 〜 1 0 mm程度 である。
防塵力パー体は使用 に供される まで、 清浄なケ一スに 収納され、 ゴミ の付着を防止する。 使用 に際して は、 第 3 図の保護フ ィルム 8 を剥離 し 、 第 4 図の よう にマスク 9 の画像 1 0 をカノ t一すベ ぐ、 本発明の防塵力パー体を 装着する。 保管も、 第 4 図の形態で行なう こ と に より画 像 1 0部分へのゴミの付着が防止され、 再度の使用 に際 し 、 マスクの洗浄が不要となる。
以上説明 した各種態様の膜を製造する方法と して は、 溶媒に溶解 し得る重合体にあっては、 回 Is塗布法、 ナイ フ コ ー タ ー 、 ロ ッ ドコータ ー等のコータ一法、 浸漬引き 上げ法等の溶液キャス 卜法が、 熱可塑性重合体にあって は Tダイ 法、 イ ンフ レーショ ン法等の溶融押出法が利用 できるが、 本発明で使用する膜はその膜厚みの精度、 及 ぴその均一厚み性が極めて重要であるこ と と、 ゴミ 、 キ ズ等のない膜の作成が不可欠である こ と とのため、 溶液 キャス 卜 法のうちでも回転塗布法が最も推奨され.る。
回転塗布法は、 重合体を溶媒に溶解せ し め、 平滑な基 板の上に、 ま た は既.に形成された膜の上に 、 この溶液を 滴下し 適切な回転数で回転させる こ とによ り 、 希望す る厚みの膜を形成する方法であ り 、 この方法に よれば、 ゴミ等は溶液をフ ィルタ 一等で口過する こ と に よ り 、 完 全に除去する ことが可能であ り 、 基板と し て洗淨された シ リ コ ン ウ ェハ ー 、 平滑なガ ラ ス板等を用 い る こ と に よ り 、 キズ等の発生 を皆無 に し 、 かつ 膜厚みも 、 溶液の濃 度、 塗布回転数を適切 に選定 す る こ と に よ り 希望す る も のが得 ら れる 。 し かもそ の膜厚みの均一性も十分で あ る 防塵カ バ ー 体を作成す る方法 は 、 膜が当該弗素系重合 体の膜の みか ら な る場合 に あっ て は 、 シ リ コ ン ウ ェハ ー 等の平滑な基板上 に 回転塗布法等 に よ っ て 上記重合体の 膜を形成さ せ 、 支持枠 に あ ら か じ め塗布さ れた 接着剤面 を 、 こ の膜面 に重ね 、 接着後 、 水中 に 浸漬 し 、 基板 と膜 と を分離する こ と に よ り なる 。 又 、 多層膜の場合 に あつ て は 、 基板上に 芯部を な す膜を形成さ せ 、 次いで芯部を なす膜の上に 中間層 を 、 又 は 中 間層 な しで 、 最外側層 を そ の上 に 形成さ せ 、 支持枠をそ の膜面 に 接着剤で接着さ せ 、 その後基板を分離 し 、 次いで 、 芯部を な す膜の も う 一方の面 に 、 上 と 周様 に 中間層 、 又は中間層 な し で 、 最 外側層 を形成させ る こ と に よっ て 作成さ れる 。
以下実施例 に て 本発明を更 に 詳細 に 説明 す る 。
尚 、 以下の実施例及び比較例 に於いて 、 膜の厚みの測 定 は以下の方法 に よ っ た 。
膜厚みが比較的薄 く 、 分光光度計 ( 島津㈱製 、 U V — 2 4 0 ) に よ る測定 に於い て 、 干渉波が観測 さ れる場合 に あっ て は 、 下記式 に てその厚みを計算 し た 。
ί\ ^ Ί
d =
2 η ( λ 1 — ス レ k ) d 膜厚み ( n m )
λ D線付近 ( 5 8 7 . 6 ηιπ ) の干渉
波の ピーク波長 ( nm )
λ λ
k 1 よ り k 番目 の ピー ク波長 ( n m ) n 膜の屈折率
又、 干渉波が観測されない比較的厚い膜については、 シ ョ ッ /\°一型膜厚計に よった 。
実施例 1
卜ラフ □ □ ェチ レン と弗化ビニ リ デン との共重合体
( ぺンゥ才ル 卜線製カ イ ナー 7 2 0 1 、 テ 卜ラ フ ロ ロ ェ チレ ン含量約 1 0 モル 96、 屈折率 1 . 4 0 ) をェチルメ チルケ 卜 ンに溶解させて 2 0 重量%の溶液を調製 した。
ス ピンコ ー タ ー ( 回転塗布機) にシ リ コ ンウェハーを セヅ 卜 し 、 この溶液を滴下し 、 その後シ リ コ ンウェハー を回転させるこ と に よ り 、 ゥェハー上に薄い塗膜を形成 した a C_のちのを赤外線ランプで乾燥させ、 その上に.ァ ルミ 二ュゥムの支持枠の端面にェポキシ接着剤を塗布し たものを置いて両者を接着させ、 接着剤を硬化させた。
のものを水の中に浸漬し、 3 0分間放置後、 ゥェハ
一を剥 mし 、 膜付支持枠を水よ り 取出 し、 風乾させるこ と に よ ΰ 、 支持枠に薄膜が張られた防麈カパ 一体が得ら れ†:
<_の膜の厚みは約 1 4 m であ り 、 分光光度計の測定 では、 干渉波は観測されず、 2 4 0 ^ m の波長の光に対 する光線透過率は、 9 2 . 5 %であ り 、 又、 3 5 0 〜
REA CT
ΟΜΡΙ
、 >〜 WIPO
ATlO^ 4 5 0 nmの 波長の光 に 対す る 平均光線透過率 は 9 4 , 5 %で あ り 、 遠紫外線か ら 紫外線領域 ま で の広い範囲で優 れた 性能を示 し た ( 第 5 図参照 〉 。
比較例 1
二 卜 ロ セル ロ ー ス ( 旭化成工業眯製 、 H I G— 2 0 ) を 、 酢酸 n — ブチル に 溶解さ せ て 1 0重量% の溶液を調 製 し た 。
こ の溶液を使い 、 実施例 1 と 周様の方法に よ り 防塵力 パ ー体を作製 し た 。
得 ら れた 防塵力 パ ー体の薄膜 は 、 膜厚み 2 , 8 6 1 m で あ り 、 干渉波が観測 さ れた'。 又 、 こ の膜の光線透 過率 は 、 2 4 0 ^の波長の光に対 し て 3 5 %で ぁ り 、 3 5 0 nm付近での最大透過率 は 9 8 . 2 %で あ り 、 最低 透過率 は 8 4 . 8 %であ り 、 平均 9 1 . 5 %で あっ た 。 又 、 3 5 0〜 4 5 0 nmの 波長の光 に 対す る平均光線透過 率 は 9 2 . 0 %で あっ た ( 第 5 図参照 ) 。
実施例 2
テ 卜 ラ フ ロ ロ エ チ レ ン ( T F E ) /へキサフ ロ ロ プ ロ ピ レ ン ( H F P ) ノ弗化 ビ ニ リ デ ン ( V d F ) の混合物 を 、 乳化剤 と し て 弗素系界面活性剤
( C 8 F 17C 00 N H 4 : 商品名 フ ロ ラ ー ド F C—
4 3 ( 3 M社製 ) ) を 、 開始剤 と し て過硫酸 ア ン モ ニ ゥ ム を 、 連鎖移動剤 と し て ジェチルマ ロ ネ ー 卜 を使用 し 、 8 5 で重合さ せ た 。 得 ら れた 三元共重合体 は添加 し た 各モ ノ マ ー量のバ ラ ン スか ら 、 T F E Z H F P Z V d F = 4 8 . 2 / 2 0 . · X 3 1 . 7 ( モル比 ) と計算され た。 又、 この三元共重合体の屈折率は 1 . 3 6であつた この三元共重合体をパーフ ロ ロ一 2—メ チルー 1 一 才キ シー 3—チアシク ロへキサン一 3 , 3 —ジ才キシ ド
0 一 C F 2 \
( C 3 一 C / C F 2 ) に溶解させ
S 02 - C 2
て 3重量 %溶液を調製した。
この溶液を実施例 1 と周様に処理して防塵カバー体を 作成した
得られた防塵力パー体の膜の分光光度計に よる測定に 於いて 、 干渉波が観測され、 膜厚みは 2. 0 4 m と計 算された 。 又、 2 4 0 nmの波長の光に対する光線透過率 は平均 9 3 . %であ り 、 3 5 0〜 5 0 0 nmの波長の光 に対する平均光鎳透過率は 9 596であった 。
実施例 3及び比較例 2
二 卜 口 セル口一ス (旭化成工業糠製、 H— 20 ) を群 酸 n—プチルに溶解させて 7重量%溶液を謂製した。 又 T F E / H F P / V d Fの三元共重合体 ( T F E - 49 . 2モル%、 H F P = 1 9 . 1 モル% 、 V d F = 3 . 7モル%ヽ n D = 1 . 3 5 ) を、 パー フ ロ ロ一 2 一メ チル - -才キシ一 3—チアシク 口 へキサンー 3, 3 一ジォキシ ドに溶解させて、 0. 6重量%溶液を調製 した。
シ リ コ ンウェハー ( 1 2 5 mm φ》 をス ビンコ一タ ー に セ ッ 卜 し 、 上記の 二 卜 ロ セル ロ ー ス溶液を滴下 し 、 ゥ ェ ハ ー上 に均一な二 卜 ロ セル ロ ー ス塗膜を形成さ せた 。 こ のも の を赤外ラ ンプで乾燥 さ せ 、 更 に 、 こ の上 に T F E Z H F P Z V d F三元共重合体溶液を滴下 し 、 ウェハ ー を 7 0 0 rpm で 2 0秒間回 転さ せ 、 そ の.後 、 赤外ラ ンプ で乾燥さ せ た 。 次いで 、 こ の膜面に 、 1 O O mm0 ( 外径 ) の アル ミ リ ング ( 支持枠 ) に エ ポキ シ接着剤 を塗布 し た も の を重ね合せ 、 接着剤を硬化さ せ た 。
こ のも の を 、 水の 中 に浸瀆 し 、 3 0分放置後 、 ウ ェハ 一 と膜 と を分離 し 、 アルミ リ ン グ に 固着さ れた 薄膜を水 中 よ り 回収 し 、 風乾さ せ 、 再度ス ピ ン コ ー タ ー に膜面が 上 と なる様セッ 卜 し 、 丁 已 ^! ノ 三元共重 合体溶液を滴下 し 、 上 と周 じ条件で 回転成膜 し 、 その後、 乾燥さ せ る こ と に よ り 目 的 と する防塵 カ バ ー体を得た 。 第 6図か ら 明 ら かな よ う に 、 こ の反射防止膜 は分光光度 計に よ る分光特性測定か ら 、 4 0 0 nm付近の光線透過率 が 9 6 . 5〜 9 9 . 5 %で 、 平均透過率が 9 8 %であ つ た 。 一方、 T F E Z H F P / V d Fの三元共重合体を塗 布 し なかっ た 二 卜 ロ セル ロ ー ス単独の 防塵力 パ ー体の分 光特性 は 、 光線透過率が 8 4〜 9 9 96と大ぎ な干渉波が 観察さ れ 、 平均透過率も 9 2 %であっ た 。
実施例 4
実施例 3 の T F E / H F P Z V d F三元共重合体に 代 ぇ て 、 丁 £ 0! 共重合体 ( 丁 已 含量 = 3 8 . 7 モル % 、 n 1 . 4 0 ) の へキサメ チル リ ン酸 卜 リ ア ミ ド溶液を使用 し実施例 3の方法を繰返して成膜する こ とに よ り 防塵力バ一体を得た 。 このものの分光特性の測 定から、 3 -5 0〜 4 5 O nm間の光線透通率は、 9 2 . 5 〜 9 9 . 5 %でぁ り 、 平均透過率も 9 6 %と反射防止効 果がぁつ た α
実施例 5 , 6 , 7 , 8及び 9
二 卜 ロ セルロ ース ( 旭化成ェ業㈱製 、 Η - 2 0 ) を乳 酸ェチルに溶解させて 9重量%の溶液を調製 した。 又、 ポ リ スチレン (旭化成ェ業㈱製、 G P一 68 3 、 n D
1 . 5· 9 ) 、 ポ リ スルホン ( 日産化学㈱製、 Ρ - 3 5 0 0、 n D = . 6 3 ) 、 ポ リ ェーテルスルホン
( I C I 製、 Ρ - 20 0 、 N D = 1 . 63 ) 、 ポ リ 力一
ポネ一 卜 (帝人㈱製、 1 2 5 0 、 N 0 = 1 . 5 9 ) 、 ポ リ フェ二 レンエーテル (旭化成工業㈱製、 ザイ ロ ン T - 1 0 4 5、 π D = 1 . 5 9 ) を、 各々 1 , , 2 , 2一
テ 卜 ロ ク ロルェタ ンに溶解させて 0. 7 5重量%の溶液 を調製し た。 又、 / H F p κ V d Fの三元共重合 体 ( T F Ε = 4 4 . 2モル% 、 H F Ρ = 2 0. 7モル%
V d F = 3 5. 1 モル % 、 N D = 1 . 37 ) をパーフ ロ π - 2— メ チルー 1 一才キシ一 3 —チァシク ロ へキサン
- 3 , 3 — ジ才キシ ドに溶解させて 0. 6重量%の溶液 を調製した。
これら の溶液をシ リ コンウェハー上にス ピンコ ー タ ー を使用 して、 二 卜 ロ セルロ ース と 、 ポ リ スチ レン等の中 間屬ポ リ マーと、 T F E Z H F P ZV d F三元共重合体
Ο ΡΙ
、 > WIP。- ¾/?xVATlO^ と を 、 こ の順 に 成膜 し 、 実施例 3 と周様 に そ れ に アル ミ リ ングを接着さ せ 、 水中で シ リ コ ン ウェハ ー を分離させ 更に 、 ス ピン コ ー タ ー に て 中 間層 、 T F E / H F P /
V d F三元共重合体層を形成せ し め 、 二 卜 ロ セル ロ ー ス 層を.中心層 と する 防塵力 パ ー 体を得た 。 こ れ ら の分光特 性を測定 し た と こ ろ 、 第 1 表の通 り で あ り 、 最低光線透 過率はいず れも 9 8 %以上 と 、 ス テ ッパ ー 用 防塵カ バ ー 体 と し て充分なる性能を有 し て い た 。
第 1 表
Figure imgf000023_0001
実施例 1 0 及び比較例 3
実施例 6 の 二 卜 ロ セル ロ ー ス溶液濃度を Ί 4 重量% と
し た以外 は 、 周 じ方法で防塵カバ ー体を作成 し た 。 得 ら
れ た膜の分光光度計測定デー タ を第 7 図 に示す 。 この膜
の芯部をな す二 卜 ロ セル ロ ー ス膜の みのデー タ を第 8 図
に示す 。 第 8 図 よ り 、 二 卜 ロ セル ロ ー ス膜の厚みは
9 . 5 in と 計算さ れ、 4 3 6 nm付近での平均光線透過
率 は 9 1 . 5 % と 低かっ た ( 比較例 3 〉 。
こ れ に対 し 、 実施例 1 0 で は 、 芯部をな す 二 卜 ロ セル ^
OMPI WIK3一 * ノ WAT10 ロ ース膜の厚みは周 じ 9 . 5 m と推定されるものの、
4 3 6 nmの光線透過率はこの様に厚い膜に於いても
9 9 . 5 %と高いちのであつた 。
実施例 Ί 1
実施例 1 の T F Ε Ζ V d F共重合体をェチルメ チルケ 卜 ンに溶解させて 2 0重量%の溶液を調製し、 ァセチル セルロ ース ( 屈折率 1 • 4 8 ) を乳稜ェチルノ酢酸 n— プチル Ζェタ ノ ール ( 4 0 / 3 5 Z 2 5重量比) の混合 溶媒に溶解させて 0. 6重量 %の溶液を調製した 。 更に は、 実施例 2の T F Ε / H F P / V d F三元共重合体を パーフ ロ 口一 2—メ チルー 1 —ォキシ一 3—チアシク 口 へキサン一 3 , 3 -ジォキシ ドに溶解させて 0. 6重量 %の溶液を調製した。
これらを実施例 5 と周様に T F E ZV d F共重合体を 芯部と し 、 ァセチルセルロ ースを中間層、 T F E /
H F Ρ / V d F三元共重合钵を最外側層 とする多層膜の 防塵力パー体を作成した。
得られた膜の芯部をなす T F E X V d F共重合体の膜 厚みは約 2 . 2 5 ^ m であ り 、 光線透過率は 2 8 0 nmで 平均 9 7 . 59 であつた ( 第 9図参照) 。
ΟΙΛΡΙ
、 - 'ΊΡΟ

Claims

請 求 の 範 囲
1. 支持枠 と 、 そ の端面 に 接着さ れた薄膜 と よ り 本 質的 に な り 、 該薄膜 は単層構造又 は Ξ層以上の多層構造 を有 し 、 単層構造の場合は該膜 は 、 " 1 0 ^ m の膜厚み に お い て 、 2 4 0〜 2 9 0 nmの波長の光に対す る 9 0 %以 上の平均光線透過率 と 、 2 9 0〜 5 0 0 nmの波長の光に 対する 9 3 . 5 % 以上の平均光線透過率 と 、 1 . 4 2以 下の屈折率 と を有する弗素系重合体よ り な り 、 多層構造 の場合 は 、 少な く と も 両最外側層が、 上記の弗素系重合 体よ り な る 、 光透過性 に優れた フ ォ ト マス ク ♦ レチクル 用 防塵 力 パ ー体。
2. 上記薄膜が 1 〜 1 5 ^ m の厚さ を有する単屬構 造の も ので あ る請求の範囲第 1 項 に記載の 防塵力 パ ー体 ,
3. 上記薄膜が三層構造を有 し 、 芯部 は 0 . 5〜
1 5 m の厚さ を有す る 二 卜 ロ セル ロ ー ス薄膜で あ る請 求の範囲第 Ί 項に 記載の防塵カバ ー体。
4. 両最外側層 は使用 す る光の波長の 1Z4 ± 1 0 % に相当 する光学厚みを有する 請求の範囲第 3項に 記載 の 防塵 カ バ ー体。
5. 上記薄膜 は 、 芯部 と 、 そ の両面に 結合 し た 中 間 層 と 、 両最外側層 と よ り な る 5 層構造を有 し 、 芯部 は 、 1 0 ^ m の膜厚み に おい て 、 2 4 0〜 2 9 0 の波長の 光 に 対す る 9 0 %以上の平均光線透過率 と 、 2 9 0〜
5 0 0 nraの波長の光 に対する 9 3 . 5 %以上の平均光線
_ OMPI 透過率 と 、 1 . 4 2 以下の屈折率 とを有する弗素系重合
体の薄膜であ り 、 中間屢は 1 . 4 5 以上の屈折率を有す
* る透明な重合体の薄膜であ り 、 最外側層は上記の弗素系
重合体の薄膜であって、 芯部の膜の屈折率以下の屈折率
を有する請求の範囲第 1 項に記載の防麈カパー体。
6 . 中間層 と最外側層 と は、 使用する光の波長の
1 Z 4 ± 1 0 % に相当する光学厚さを有する請求の範囲 第 5項に記載の防塵力パー体。
7. 上記薄膜は、 芯部と 、 その両面に結合 した中間 層と、 両最外側雇 とよ りなる 5層構造を有し 、 芯部は
0 . 5 〜 1 . 5 01 の厚みを有する二 卜 ロセルロ ース膜
であ り 、 中間層は 5 7以上の屈折率を有する透明な
重合体の膜である、 請求の範囲第 1 項に記載の防麈カパ
一体。
8. 中 層及び最外側扈は、 使用する光の波長の
1 Z 4 ± 1 0 % に相当する光学厚みを有する請求の範囲
第 7 項に記載の防麈カパー体。
9. 上記の弗素系重合体が弗化ビニ リ デン単独重合
体又は 5 0 モル%以上の弗化ビ二 リ デン含量を有する弗
化ビニ リ デンとテ 卜 ラフ □ 口 エチレン との共重合体であ
る請求の範囲第 1 一 8項のいずれかに記載の防塵カバ一
体。
1 0. 上記の弗素系重合体が、 テ 卜 ラフ ロ ロ エチレン
( 丁 F E ) と、 へキサフ ロ ロプ ロ ピ レン ( H F P ) と、
弗化 ビニ リ デン ( V d F ) との三元共重合体であって、
ΟΜΡΓ
wn>o " . T F E の含量が 3 5〜 6 5 モル 06で あ り 、 H F P対
V d F の モル比が 1 : 1 〜 1 : 2 . 3で あ る 請求の範囲 第 1 — 8項のいず れか に 記載の 防塵力 パ ー 体。
11. 最外側層 を構成する重合休の溶媒溶液を基板上 に 塗布 し て 薄膜を形成 し 、 そ の上 に 支持枠を接着剤 を介 し て重ね て接着 するか 、 又 は先ず芯を構成する重合体の 溶媒溶液を基板上 に塗布 し て 薄膜を形成 し 、 次いで 中 間 層を構成する重合体の溶媒溶液をその上 に 塗布 し て薄膜 を形成 し 、 更に 、 又 は中 閭層 の形成を行なわず に 、 最外 側層を構成する重合体の溶媒溶液を塗布 し て 薄膜を形成 し 、 こ の最外側層上 に支持枠を接着剤 を介 し て 重ね て 接 着 し 、 得 ら れた膜付き支持枠を基板よ り 分離 し 、 それを 反転 し て 膜面を上 に し て 基板上 に 支持枠 を 固定 し 、 表面 に 表わ れた芯部の上 に 、 中間層膜又は最外側層膜又はそ の両者を 、 上述 と周 じ処理を繰返す こ と に よ り 形成する こ と よ り 本質的に なる 、 請求の範囲第 " 1 項に 記載の防塵 力 パ ー体の製造方法。
_O PI
、 WIPO
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