TWI722193B - 發光裝置及其製造方法 - Google Patents

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TWI722193B
TWI722193B TW106117343A TW106117343A TWI722193B TW I722193 B TWI722193 B TW I722193B TW 106117343 A TW106117343 A TW 106117343A TW 106117343 A TW106117343 A TW 106117343A TW I722193 B TWI722193 B TW I722193B
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阿部耕治
岡本康志
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日商日亞化學工業股份有限公司
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Abstract

本發明提供一種使光提取效率提高之發光裝置。 本發明之發光裝置100具備封裝體2、設置於封裝體2上之發光元件1、及覆蓋發光元件1之透光性構件5。於透光性構件5之上表面5a及封裝體2之上表面4a具有複數個突起，透光性構件5含有折射率較透光性構件5之母材51低的透光性之第1填充劑52之粒子，第1填充劑52之粒子之一部分於透光性構件5之上表面5a自透光性構件5之母材51露出至空氣中。

Description

發光裝置及其製造方法
本發明係關於一種具備發光元件之發光裝置及其製造方法。
發光二極體(LED，Light Emitting Diode)被用於照明器具、個人電腦(PC，personal computer)或電視之背光、大型顯示器等各種用途。LED光源之適於此類各種用途之需求增加，並且提昇光輸出之要求亦提高。 例如，於專利文獻1中提示有一種光半導體裝置，其具備具有凹部之配線基板、收容於凹部之發光元件、以及將發光元件密封之透光密封構件，且使透光密封構件之表面粗面化。於專利文獻2中揭示有一種發光裝置，其具備基體、載置於基體上之發光元件、以及將發光元件密封之密封構件，且藉由在密封構件之表面側配置填充劑之粒子而設置凹凸。 [先前技術文獻] [專利文獻] [專利文獻1]日本專利特開2007-324220號公報 [專利文獻2]日本專利特開2012-151466號公報
[發明所欲解決之問題] 然而，此種方法需要變更構成構件之材料或形狀，故存在能夠應用之發光裝置之形狀或材料等受到限定之情況。 本發明之實施形態之課題在於提供一種使光提取效率提高之發光裝置及其製造方法。 [解決問題之技術手段] 本發明之實施形態之發光裝置具備基台、載置於上述基台之發光元件、及覆蓋上述發光元件之透光性構件，上述透光性構件及上述基台於各自之上表面具有複數個突起，上述透光性構件含有折射率較上述透光性構件之母材低的透光性之第1填充劑之粒子，上述第1填充劑之粒子之一部分於上述透光性構件之上表面自上述透光性構件之母材露出。 本發明之實施形態之發光裝置之製造方法係具備基台、載置於上述基台之發光元件、及覆蓋上述發光元件之透光性構件的發光裝置之製造方法，且包含以下步驟：將上述發光元件載置於上述基台之後，形成覆蓋上述發光元件之上述透光性構件；及對上述透光性構件及上述基台各自之上表面實施噴擊加工處理；且於形成上述透光性構件之步驟中，上述透光性構件係使用透光性樹脂作為母材，且使用含有折射率較該母材低之透光性之第1填充劑之粒子的樹脂材料而形成，藉由實施上述噴擊加工處理之步驟，而於上述透光性構件之上表面，使上述第1填充劑之粒子之一部分自上述透光性構件之母材露出。 [發明之效果] 根據本發明之實施形態之發光裝置及其製造方法，能夠提供一種使光提取效率提高之發光裝置。
以下，對實施形態之發光裝置及其製造方法進行說明。再者，於以下之說明中所參照之圖式係概略地表示本實施形態者，故存在各構件之尺度或間隔、位置關係等誇大、或構件之一部分之圖示被省略之情形。又，於以下之說明中，對於標註有同一名稱及符號者，原則上表示同一或相同性質之構件，而適當省略詳細說明。 ＜第1實施形態＞ [發光裝置之構成] 參照圖1A～圖1C對第1實施形態之發光裝置之構成進行說明。 圖1A係表示第1實施形態之發光裝置之構成之立體圖。圖1B係表示第1實施形態之發光裝置之構成之俯視圖。圖1C係表示第1實施形態之發光裝置之構成之剖視圖，且表示圖1B之IC-IC線處之剖面。 再者，於圖1C中，分別將遮光性構件及透光性構件之上表面附近之以虛線所包圍之部分放大表示。又，於圖1C中，以圓形及菱形表示2種第1填充劑，以圓形表示第2填充劑。該等形狀並非表示相當之構件之具體形狀，而是為了區分填充劑之粒子之種類而方便使用。 第1實施形態之發光裝置100具備基台、載置於基台之發光元件1、及覆蓋發光元件1之透光性構件5。透光性構件5及基台於各自之上表面具有凹凸形狀即複數個突起。透光性構件5含有折射率較透光性構件5之母材51低之透光性的第1填充劑52之粒子，第1填充劑52之粒子之一部分於透光性構件5之上表面自透光性構件5之母材51露出。基台相當於封裝體2。 更具體而言，發光裝置100之俯視形狀為大致正方形，且具備：封裝體2，其具有於上表面側開口之凹部2a；發光元件1，其安裝於凹部2a內；及透光性構件5，其配置於凹部2a內，且覆蓋發光元件1。又，封裝體2具有引線電極3與遮光性構件4，發光元件1係使用導線6而與配置於凹部2a之底面之引線電極3電性連接。 發光元件1係安裝於封裝體2之凹部2a內。於本實施形態中，在凹部2a內安裝有發光色互不相同之3個發光元件11、12、13。例如，可將發光元件11之發光色設為藍色，將發光元件12之發光色設為綠色，將發光元件13之發光色設為紅色。 再者，以下於不特別地區分3個發光元件11、12、13之各者之情形時，有時稱為「發光元件1」。 發光元件11、12、13係黏晶於配置在凹部2a之底面2b之中央部的引線電極33上。又，作為發光元件11、12、13之一電極之陽極電極係使用導線6而電性連接於引線電極34。又，作為發光元件11、12、13之另一電極之陰極電極係使用導線6而與分別對應之引線電極31、32、33之任一者電性連接。亦即，3個發光元件11、12、13構成為可分別獨立地施加電壓。藉此，能夠使發光元件11、12、13個別地點亮，或任意地調節發光元件11、12、13之亮度階，從而能夠使發光裝置100之發光色及明亮度任意地變化。因此，發光裝置100可用作彩色圖像顯示裝置之1像素。 此處所使用之發光元件1之形狀或大小、半導體材料等不受特別限定。作為發光元件1之發光色，可視用途而選擇任意之波長者。發光為藍色或綠色之發光元件11、12可較佳地使用於近紫外至可見光區域具有發光波長、且包含由InX AlY Ga1 - X - Y N(0≦X≦1，0≦Y≦1，X+Y≦1)所表示之氮化物半導體的發光元件。又，作為發光為紅色之發光元件13，亦能夠使用GaAs、AlInGaP、AlGaAs系之半導體。 於本實施形態中，作為發光元件1，可為將正負之電極配置於相同面側者，亦可為將正負之電極配置於互不相同之面側者。於使用將正負之電極配置於相同面側之發光元件1之情形時，可為面朝上安裝型、面朝下安裝型之任一者。又，於搭載複數個發光元件1之情形時，亦可使安裝型不同之發光元件混合存在。 再者，安裝於凹部2a內之發光元件1之數量只要為1個以上即可，搭載複數個發光元件1之情形時之發光色之組合、發光元件1之外形形狀等可適當地變更。 封裝體2具有引線電極3與遮光性構件4，於俯視下具有大致正方形之外形形狀，且設置有於上表面側具有開口之凹部2a。凹部2a係用以安裝發光元件1之區域，凹部2a之底面2b係由引線電極3與遮光性構件4所構成。又，凹部2a之側壁係由遮光性構件4所構成。 引線電極3係由4個引線電極31～34所構成，且係用以將經由導線6而電性連接之3個發光元件11～13與外部電源連接之配線。 引線電極31～34係以如下方式配置：各自之一部分構成凹部2a之底面2b，於俯視下分別延伸至遮光性構件4之端部且於該端部朝下方彎折，並沿遮光性構件4之側面延伸，進而沿遮光性構件4之下表面朝內側彎折。發光裝置100係下表面側為安裝面，於遮光性構件4之下表面側朝內側彎折而設置之引線電極31～34之部位係使用焊料等導電性接合構件而接合之接合部。 又，引線電極31～34之於凹部2a之底面2b露出之部分係經由導線6而與發光元件11～13電性連接之部位。分別地，引線電極31與發光元件11之陰極電極電性連接，引線電極32與發光元件12之陰極電極電性連接，引線電極33與發光元件13之陰極電極電性連接。引線電極34與發光元件11～13各自之陽極電極電性連接。 又，引線電極33係配置於凹部2a之底面2b之中央部，且兼作為使用黏晶構件將發光元件11～13接合之發光元件配置區域。 引線電極3可藉由對平板狀之金屬板實施衝壓加工之沖孔或彎折而形成。作為原材料之金屬板只要係用於發光元件之封裝體之引線框架者即可，並無特別限定。金屬板之厚度係根據封裝體之形狀或大小等而適當地選擇，例如可使用100～500 μm左右之厚度者，進而較佳為120～300 μm之厚度。又，作為金屬板之材料，可使用例如Cu系之合金。 又，為了提高光反射性或/及與導線6或黏晶構件等之接合性，成為凹部2a之底面2b之引線電極3之上表面亦可實施Ag、Au、Ni等之鍍覆處理。 遮光性構件4係將4個引線電極31～34相互隔開而固定並且構成凹部2a之側壁的構件。遮光性構件4係由不使光透過而遮光之材料所構成，可使用藉由將光反射而遮光之光反射性材料、或藉由將光吸收而遮光之光吸收性材料。 具體而言，遮光性構件4可使用如下樹脂材料而形成，該樹脂材料係將具有透光性之樹脂作為母材41，且含有用以賦予遮光性之第2填充劑42作為填料。又，作為凹部2a之側壁之上表面之遮光性構件4之上表面4a中，第2填充劑42之粒子之一部分自母材41露出，從而該上表面4a具有源自第2填充劑42之粒子之凹凸形狀即突起。 於對遮光性構件4使用光反射性材料之情形時，遮光性構件4以如下方式發揮功能，即，使自發光元件1出射且於透光性構件5傳播並到達至遮光性構件4之光返回至透光性構件5內。藉此，可使來自發光裝置100之上表面之光提取效率提高。 又，於對遮光性構件4使用光吸收性材料之情形時，遮光性構件4吸收自發光元件1出射並透過透光性構件5而入射至遮光性構件4之光。因此，可使光僅自發光裝置100之上表面出射。 又，無論於對遮光性構件4使用光反射性材料或光吸收性材料中之那一種之情形時，均藉由設置此種遮光性構件4而將來自發光裝置100之光之出射限定於透光性構件5之上表面，故可製成發光區域與非發光區域之對比度較高之所謂「分隔性」良好之發光裝置100。 作為用於遮光性構件4之母材41之樹脂，例如可列舉熱塑性樹脂或熱固性樹脂。 於熱塑性樹脂之情形時，例如可使用聚鄰苯二甲醯胺樹脂、液晶聚合物、聚對苯二甲酸丁二酯(PBT，polybutylene terephthalate)、不飽和聚酯等。 於熱固性樹脂之情形時，例如可使用環氧樹脂、改性環氧樹脂、矽酮樹脂、改性矽酮樹脂等。 於遮光性構件4具有光反射性之情形時，可使用使母材41含有光反射性物質之粒子作為第2填充劑42從而賦予光反射性之樹脂材料而形成遮光性構件4。作為光反射性物質，例如可列舉TiO2 、Al2 O3 、ZrO2 、MgO等。 又，凹部2a之內側面於發光元件1發出之光之波長區域中反射率較佳為70%以上，更佳為80%以上。遮光性構件4中之光反射性物質即第2填充劑42之含量只要為5質量%以上且50質量%以下即可，較佳為10質量%以上且30質量%以下。 又，第2填充劑42之粒徑較佳設為0.1 μm以上且0.5 μm以下程度。藉由將第2填充劑42之粒徑設為該範圍，從而遮光性構件4可獲得良好之光反射性。 再者，只要事先未特別說明，則於本說明書中，各種填料或研磨劑等之粒徑之值係依據透氣法或Fisher-SubSieve-Sizers-No.(F.S.S.S.法)。 又，遮光性構件4之上表面4a之複數個突起較佳為形成為以JIS標準B0601：2013所規定之算術平均粗糙度Ra計為0.090 μm以上且0.210 μm以下之程度。尤其是藉由將遮光性構件4之上表面4a以算術平均粗糙度Ra計設為0.130 μm以上，可使外來光效率更佳地散射。 於遮光性構件4具有光吸收性之情形時，可使用使上述母材41含有光吸收性物質之粒子作為第2填充劑42從而被賦予光吸收性之樹脂材料而形成。作為用於第2填充劑42之光吸收性物質，可列舉黑色顏料，更具體而言，可列舉碳黑或石墨等碳系顏料。 再者，使用光吸收性物質作為第2填充劑42之情形時之粒徑及含量可設為與上述使用反射性物質之情形相同程度。例如，於添加碳黑作為第2填充劑42之情形時，可設為1質量%左右。進而，例如亦可添加25質量%左右之作為強化劑之矽灰石等作為其他填料。 遮光性構件4可使用藉由在母材41中含有第2填充劑42而被賦予光反射性或光吸收性之樹脂材料，藉由使用有模具之轉注成形法、射出成形法、壓縮成形法等成形法、網版印刷法等塗佈法等而形成。 又，遮光性構件4之上表面4a之複數個突起係可藉由對上表面4a實施噴擊加工處理使第2填充劑42之粒子之一部分自母材41露出而形成。亦即，遮光性構件4之上表面4a之複數個突起較佳為源自第2填充劑42之粒子而形成。 藉由源自上述範圍之粒徑之第2填充劑42之粒子而形成之複數個突起，能夠將由遮光性構件4之上表面4a反射之外界光之鏡面反射光成分減少至良好。於將發光裝置100用作圖像顯示裝置之像素之情形時，即便於外界光照射至圖像顯示裝置之情形時，由於使外界光之鏡面反射光成分減少，故亦能夠不依賴於觀察方向而良好地辨識像素之明暗或色彩。 透光性構件5係設置於封裝體2之凹部2a內且將發光元件1密封之密封構件。 透光性構件5於使用具有透光性之樹脂作為母材51而形成時，含有第1填充劑52作為用以調整未硬化之樹脂之黏度、或對透光性構件5賦予光擴散性之填料。又，透光性構件5之上表面5a中，第1填充劑52之粒子之一部分自母材51露出，從而該上表面5a具有源自第1填充劑52之粒子之凹凸形狀即複數個突起。 透光性構件5中所含有之第1填充劑52可為1種，但亦可如本實施形態般含有2種第1填充劑52a、52b，進而亦可為3種以上。具體而言，第1填充劑52a與第1填充劑52b可使用不同材質者，亦可使用即便為相同材質粒徑或形狀亦不同者。 又，透光性構件5亦可以不損及透光性之程度含有碳黑等光吸收性物質之粒子作為其他填料。藉由使透光性構件5含有適量之光吸收性物質之粒子，能夠抑制引線電極3之表面等之鏡面反射光自光提取面之出射。藉此，能夠改善來自發光裝置100之出射光之配光特性。 進而，又，亦可使透光性構件5視需要含有螢光體或著色顏料、折射率較母材51高之光擴散性物質等粒子。 作為透光性構件5之母材51，可使用具有透光性之熱固性樹脂，例如可列舉矽酮樹脂、環氧樹脂、尿素樹脂等。又，作為第1填充劑52，可使用折射率較母材51低之透光性材料。關於第1填充劑52，具體而言，可列舉SiO2 。例如，於使用折射率為1.53之環氧樹脂作為母材51之情形時，可使用折射率為1.46之SiO2 作為第1填充劑52。 又，第1填充劑52之粒徑較佳設為0.5 μm以上且10 μm以下之程度。藉由將第1填充劑52之粒徑設為該範圍，可藉由源自第1填充劑52之粒子而形成之複數個突起效率良好地減少上表面5a中之外界光之鏡面反射光成分。 又，透光性構件5中之第1填充劑52之含量較佳設為2質量%以上且40質量%以下之程度。 透光性構件5之上表面5a之複數個突起較佳為形成為以JIS標準B0601：2013所規定之算術平均粗糙度Ra計成為0.095 μm以上且0.220 μm以下之程度，進而較佳為0.180 μm以下。 又，於發光裝置100之光提取面即透光性構件5之上表面5a，使折射率較母材51低之第1填充劑52露出，藉此能夠減小透光性構件5與光被提取之先前之媒介即空氣(折射率1.0)之折射率差。又，藉由減小光被提取之界面上之折射率差，而能夠減小該界面上之光反射率。因此，能夠提高發光裝置100向外部之光提取效率。此處，母材51與第1填充劑52之折射率差若為0.03以上，則藉由使第1填充劑52露出而能夠提高發光裝置100之光提取效率。 再者，關於發光裝置100之光提取效率提高之機制之詳情將於下文敍述。 又，藉由在發光裝置100之上表面即遮光性構件4之上表面4a及透光性構件之上表面5a設置複數個突起，而於上表面與其他構件接觸之情形時成為點接觸，故能夠防止所接觸之其他構件之黏著(附著)，從而製造時或安裝時之發光裝置100之操作變得容易。 導線6係用以將發光元件1或保護元件等電子零件與引線電極31～34電性連接之配線。作為導線6之材質，可列舉使用有Au(金)、Ag(銀)、Cu(銅)、Pt(鉑)、Al(鋁)等金屬、及其等之合金者，但特佳為使用熱導率等優異之Au。再者，導線6之粗度並無特別限定，可根據目的及用途而適當選擇。 [發光裝置之動作] 其次，參照圖1C及圖2A～圖2C對發光裝置100之動作進行說明。 圖2A係表示第1實施形態之發光裝置中之透光性構件及填料之一部分的剖視圖。圖2B係表示先前之發光裝置中之透光性構件及填料之一部分的剖視圖。圖2C係用以說明於第1實施形態之發光裝置中透光性構件及遮光性構件之上表面之光反射的剖視圖。 再者，發光裝置100之光提取面即透光性構件5之上表面5a係設為與空氣接觸者而進行說明。 藉由將外部電源連接於引線電極31～34而使發光元件1發光。來自發光元件1之光於透光性構件5內傳播，直接或經凹部2a之底面或內側面反射後自上表面5a被提取至外部。於上表面5a，來自發光元件1之光之一部分通過母材51與空氣之界面而被提取至外部。又，於上表面5a附近配置有第1填充劑52之粒子之部分，來自發光元件1之光通過第1填充劑52與空氣之界面而被提取至外部。 此處，對通過第1填充劑52將光提取至外部之情形進行說明。 如圖2A所示，於第1填充劑52之表面自母材51露出之情形時，於透光性構件5內向上方傳播之光L1通過第1填充劑52與空氣之界面而被提取至外部。 又，圖2B所示，於第1填充劑52之表面由母材51被覆之情形時，於透光性構件5內向上方傳播之光L2通過母材51與空氣之界面而被提取至外部。 一般而言，於光入射至具有折射率差之界面時，朝界面之入射光之一部分會根據折射率差而被反射。若將隔著界面之2個介質之折射率設為n1 、n2 ，則垂直地入射至該界面之光之反射率R可由式(1)表示。 R＝(n1 －n2 )2 /(n1 ＋n2 )2 …(1) 因此，於發光裝置100之光提取面與空氣接觸之情形時，將作為光提取面之透光性構件5之上表面5a之最表面設為較作為母材51之樹脂更低折射率、即與空氣之折射率差較小之第1填充劑52，可減少與空氣之界面上之光反射。作為其結果，能夠提高發光裝置100之光提取效率。 又，於光自相對較高折射率之介質傳播至較低折射率之介質之情形時，基於斯奈爾定律，光於界面被全反射。藉由減小透光性構件5與空氣之界面上之折射率差，而能夠減少於該界面被全反射之光量。亦即，就減少全反射之觀點而言，亦能夠提高向外部之光提取效率。 又，於將發光裝置100例如用作圖像顯示裝置之像素之情形時，存在螢光燈等之照明光作為外界光入射至發光裝置100之上表面之情況。於發光裝置100之上表面為平坦面之情形時，該上表面成為光澤面，外界光之較多成分被鏡面反射(mirror reflection)。如圖2C所示，於光L3作為外界光入射至透光性構件5之上表面5a之情形時，其大部分如光L5般被鏡面反射。因此，若自外界光被鏡面反射之方向(光L5之行進方向)觀察，則於外界光之鏡面反射光成分之影響下發光裝置100之表面看起來明亮地發亮，從而發光裝置100原本之出射光之明暗對比度降低。即，因表面之所謂「發亮」而導致圖像顯示裝置顯示之圖像之視認性降低。 此處，藉由在上表面5a設置源自第1填充劑52之粒徑之突起，而能夠使光L3如光L4般擴散反射。換言之，可減少鏡面反射光成分。因此，即便自外界光被鏡面反射之方向觀察，亦能夠減少來自發光裝置100之出射光之明暗對比度之降低。 再者，於遮光性構件4之上表面4a，亦與透光性構件5之上表面5a同樣地，作為外界光之光L6之一部分由上表面4a如光L8般鏡面反射。此處，藉由在上表面4a設置源自第2填充劑42之粒徑之突起，而能夠使光L6如光L7般擴散反射。因此，即便自外界光被鏡面反射之方向(光L8之行進方向)觀察，亦能夠減少來自發光裝置100之出射光之明暗對比度之降低。 再者，上表面5a及上表面4a之表面粗糙度較佳設為上述範圍。若表面過於粗糙，則存在發光裝置100之上表面5a及上表面4a看起來白濁，從而發光裝置100之明暗對比度反而降低之情況。藉由將第1填充劑52及第2填充劑42之粒徑設為上述範圍，且於上表面5a及上表面4a設置源自第1填充劑52及第2填充劑42之突起，而能夠將表面粗糙度設為適當之範圍。 [發光裝置之製造方法] 其次，參照圖3～圖6B對第1實施形態之發光裝置之製造方法進行說明。 圖3係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之順序的流程圖。圖4A係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之封裝體準備步驟中所準備之封裝體之構成的剖視圖。圖4B係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之發光元件安裝步驟的剖視圖。圖4C係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之樹脂供給步驟的剖視圖。圖4D係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之樹脂硬化步驟的剖視圖。圖4E係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之噴擊加工處理步驟的剖視圖。圖5A係表示於第1實施形態之發光裝置之製造方法之噴擊加工處理步驟中投射研磨劑之方向之第1例的俯視圖。圖5B係表示於第1實施形態之發光裝置之製造方法之噴擊加工處理步驟中投射研磨劑之方向之第2例的俯視圖。圖5C係表示於第1實施形態之發光裝置之製造方法之噴擊加工處理步驟中投射研磨劑之方向之第3例的俯視圖。圖6A係表示於第1實施形態之發光裝置之製造方法之噴擊加工處理步驟中之第1步驟的剖視圖。圖6B係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之噴擊加工處理步驟中之第2步驟的剖視圖。 再者，於圖4A～圖4E中，封裝體2僅示出凹部2a之底面2b及構成側壁之上部，下部省略。 第1實施形態之發光裝置100之製造方法包含如下步驟：於將發光元件1載置於封裝體2之後，形成覆蓋發光元件1之透光性構件5；及對透光性構件5及封裝體2各自之上表面實施噴擊加工處理。於形成透光性構件5之步驟中，透光性構件5係使用如下樹脂材料而形成，該樹脂材料係使用透光性樹脂作為母材51，且含有折射率較母材51低之透光性之第1填充劑52之粒子。藉由實施噴擊加工處理之步驟，而於透光性構件5之上表面，使第1填充劑52之粒子之一部分自透光性構件5之母材51露出。 第1實施形態之發光裝置100之製造方法包含：封裝體準備步驟S11、發光元件安裝步驟S12、透光性構件形成步驟S13、及噴擊加工處理步驟S14。又，透光性構件形成步驟S13包含樹脂供給步驟S131、及樹脂硬化步驟S132。 封裝體準備步驟S11係準備封裝體2之步驟，該封裝體2係將引線電極3配置於底面2b，並具有將遮光性構件4作為側壁而包圍且於上方開口之凹部2a。 具體而言，於本步驟中，首先，藉由衝壓加工對金屬板進行沖孔，藉此形成具備引線電極3之外形之引線框架。其次，利用與遮光性構件4之形狀相當之具有空腔之上下模具將引線框架夾入。其次，向模具內之空腔注入於成為母材41之樹脂中含有第2填充劑42之樹脂材料，使樹脂材料固化或硬化後自模具取出，藉此將遮光性構件4與引線電極3一體地形成。繼而，將自遮光性構件4之側面突出之引線電極3沿著遮光性構件4之側面及下表面彎折，藉此準備封裝體2。 再者，於本步驟中所準備之封裝體2中，配置於遮光性構件4之上表面4a附近之第2填充劑42由母材41被覆。 發光元件安裝步驟S12係將發光元件1安裝於封裝體2之凹部2a內之步驟。於本步驟中，發光元件1(11～13)係黏晶於引線電極33上，並使用導線6而與各發光元件1所對應之引線電極31～34電性連接。 透光性構件形成步驟S13係於將發光元件1安裝於凹部2a內之後於凹部2a內形成被覆發光元件1之透光性構件5之步驟。如上所述，透光性構件形成步驟S13包含樹脂供給步驟S131及樹脂硬化步驟S132。 首先，於樹脂供給步驟S131中，將於成為母材51之未硬化之樹脂中含有第1填充劑52(52a，52b)之樹脂材料例如以使用分注器71之灌注法供給至凹部2a。 其次，於樹脂硬化步驟S132中，使用加熱器或回焊爐等加熱裝置72進行加熱，藉此使樹脂材料硬化。藉此，形成透光性構件5。 再者，於本步驟中所形成之透光性構件5中，配置於上表面5a附近之第1填充劑52由母材51被覆。 噴擊加工處理步驟S14係對透光性構件5之上表面5a及遮光性構件4之上表面4a實施噴擊加工處理之步驟。藉由本步驟，使配置於上表面5a附近之第1填充劑52及配置於上表面4a附近之第2填充劑42露出，從而於上表面5a形成源自第1填充劑52之突起，並且於上表面4a形成源自第2填充劑42之突起。 藉由以使第1填充劑52及第2填充劑42露出之方式實施噴擊加工處理，而使上表面5a及上表面4a微細地粗糙，故能夠使上表面5a及上表面4a之光擴散性提高，從而於該等面取得抗反射效果。 噴擊加工處理較佳為以濕式噴擊法進行，例如，藉由將使純水中含有研磨劑74而成之漿料自噴嘴73投射至加工對象面而進行。濕式噴擊法與乾式噴擊法相比，可減小研磨劑74對加工對象物之衝擊。因此，可不對用於第1填充劑52或第2填充劑42之無機物之粒子造成較大損傷，藉由選擇性地削掉相對較軟質之樹脂材料而去除。又，根據濕式噴擊法，可使用更小徑之研磨劑74，故適於微細之加工。因此，可去除被覆第1填充劑52或第2填充劑42之表面之母材51及母材41，而不會於透光性構件5之上表面5a或遮光性構件4之上表面4a形成粗糙之凹凸。藉此，第1填充劑52之粒子及第2填充劑42之粒子分別於上表面5a及上表面4a露出，從而可形成源自第1填充劑52之粒子及第2填充劑42之粒子之突起。 具體而言，於去除被覆上表面5a附近之第1填充劑52之上方之母材51及被覆上表面4a附近之第2填充劑42之上方之母材41時，較佳為以儘可能地不使第1填充劑52及第2填充劑42分別自母材51及母材41剝離之方式進行噴擊加工處理。 具體而言，研磨劑74之粒徑較佳設為3 μm以上且14 μm以下之程度。又，藉由濕式噴擊法，於使用使純水中含有研磨劑74而成之漿料之情形時，漿料中之研磨劑74之含量較佳設為5體積%以上且30體積%以下之程度。 又，研磨劑74較佳為硬度較藉由噴擊加工處理而被去除之母材51及母材41高者，例如可列舉氧化鋁(Al2 O3 )、碳化矽(SiC)、不鏽鋼、氧化鋯(ZrO2 )、玻璃等。 又，含有研磨劑74之漿料之投射角度73a相對於作為加工處理之對象面之上表面5a及上表面4a較佳設為15°以上且45°以下，更佳設為30°附近。 若以相對於加工處理之對象面接近垂直(90°)之投射角度73a投射研磨劑74，則研磨劑74會紮入至母材41或母材51，從而易殘存於噴擊加工處理後之封裝體2。又，若以接近水平之投射角度73a投射研磨劑74，則存在利用研磨劑74去除母材41或母材51之效率降低之情況。因此，藉由將投射角度73a設為上述範圍，而能夠效率良好地去除母材51及母材41。 又，於濕式噴擊法中，使上述漿料與壓縮空氣一併自噴射槍之噴嘴73朝向加工處理之對象面噴射。此時之壓縮空氣之壓力(噴射槍之槍壓)之最佳值根據噴嘴73之形狀或投射角度73a、研磨劑74之材質或形狀、粒徑等而不同，但可設為例如0.1 MPa～0.5 MPa左右。 又，若以上述投射角度73a於俯視下僅自一方向D1投射研磨劑74，則第1填充劑52之單側(於圖6A中為左側)之母材51被去除，相反側之母材51易殘存。因此，較佳為於自方向D1投射研磨劑74之後，變更噴嘴73之朝向，自相反方向(於圖6B中為右側)即方向D2亦投射研磨劑74。 進而，亦可自於俯視下與方向D1、D2正交之方向D3、D4亦投射研磨劑74。又，例如，亦可自於俯視下相互錯開120°之不同之3個方向投射研磨劑74。 再者，於自複數個方向投射研磨劑74之情形時，對上表面5a及上表面4a之整個面於一方向實施處理之後，依序變更噴嘴73之方向而進行處理。又，噴嘴73係只要相對於發光裝置100相對地變更方向即可，亦可維持將噴嘴73固定之狀態不變而變更發光裝置100之朝向。 以上，對透光性構件5之上表面5a進行了說明，但藉由對發光裝置100之上表面整體均勻地實施噴擊加工處理，而對於遮光性構件4之上表面4a，亦自第2填充劑42之表面去除母材41。 藉由如以上所說明般執行各步驟而製造發光裝置100。 ＜應用例＞ [圖像顯示裝置之構成] 繼而，參照圖7A及圖7B，對作為第1實施形態之發光裝置100之應用例之使用有發光裝置100之圖像顯示裝置進行說明。 圖7A係表示使用有第1實施形態之發光裝置之圖像顯示裝置之構成的立體圖。圖7B係表示使用有第1實施形態之發光裝置之圖像顯示裝置之構成的分解立體圖。 圖像顯示裝置200具備電路基板210、安裝於電路基板210之上表面之複數個發光裝置100、被覆發光裝置100及電路基板210之電極或配線部之保護構件220、及以覆蓋複數個發光裝置100之間之方式設置之框架構件230。圖像顯示裝置200係將1個發光裝置100用作1像素者。 圖像顯示裝置200係將9個發光裝置100以3×3之矩陣狀安裝於電路基板210，但亦可以安裝更多之發光裝置100之方式構成。又，例如將搭載有3×3之發光裝置100之電路基板210作為1單元，且將複數個單元排列使用，藉此亦可構成像素數更多之圖像顯示裝置。 電路基板210係用以將複數個發光裝置100機械地保持並且電性連接之基板。電路基板210形成為矩形平板狀。又，具體而言，電路基板210可由安裝有驅動發光裝置100之驅動控制電路或通訊電路等之包含環氧玻璃等之基板構成。 保護構件220係防止外部大氣中之雨水或濕氣等水分滲入至發光裝置100之內部者。保護構件220可使用矽酮樹脂等防水性材料，於電路基板210上以覆蓋發光裝置100之側面之方式形成。 框架構件230係用以保護電路基板210及電路基板210上之保護構件220之構件。框架構件230形成為矩形平板狀，且以與電路基板210大致相同之面積形成。又，於框架構件230，僅以與發光裝置100相同之個數形成有與各個發光裝置100之面積對應之開口部230a。而且，框架構件230係以使發光裝置100之上表面自開口部230a露出之方式配置，且藉由螺釘構件等與電路基板210接合。 又，框架構件230可使用金屬、樹脂、陶瓷等而形成，但較佳為以上表面進行粗面化等而抑制外界光之鏡面反射之方式構成。 發光裝置100係藉由如上所述般於上表面側設置複數個突起，而減少外界光之鏡面反射光成分。因此，將發光裝置100用作像素之圖像顯示裝置200可降低外界光之影響，且可不依賴於觀察方向而良好地辨識像素之明暗或色彩。 ＜第2實施形態＞ [發光裝置之構成] 其次，參照圖8A～圖8C對第2實施形態之發光裝置進行說明。 圖8A係表示第2實施形態之發光裝置之構成的立體圖。圖8B係表示第2實施形態之發光裝置之構成的俯視圖。圖8C係表示第2實施形態之發光裝置之構成的剖視圖，且表示圖8B之VIIIC-VIIIC線處之剖面。 再者，於圖8C中，以圓形及菱形表示2種第1填充劑，以圓形表示第2填充劑，以五邊形表示波長轉換物質。該等形狀並非表示相當之構件之具體形狀，而是為了區分填充劑之粒子之種類而方便使用。 第2實施形態之發光裝置100A係俯視形狀為長方形，且具備：封裝體2A，其具有於上表面側開口之凹部2Aa；發光元件1，其安裝於凹部2Aa內；及透光性構件5A，其設置於凹部2Aa內且將發光元件1密封。又，封裝體2A具有引線電極3A與遮光性構件4A，發光元件1係使用導線6而與設置於凹部2Aa之底面之引線電極3A電性連接。又，發光裝置100A於凹部2Aa內安裝有保護元件8。 再者，保護元件8例如為齊納二極體，其係保護發光元件1免受靜電放電之破壞之元件。 第2實施形態之發光裝置100A具備外形形狀與第1實施形態之發光裝置100之封裝體2不同之封裝體2A。進而，發光裝置100A與發光裝置100不同之處在於：所安裝之發光元件1為1個；安裝有保護元件8；及於透光性構件5A中，除含有第1填充劑52(52a，52b)以外，還含有波長轉換物質53之粒子。 封裝體2A包含引線電極3A與遮光性構件4A，於俯視下具有大致長方形之外形形狀，且設置有於上表面側具有開口之凹部2Aa。凹部2Aa係用以安裝發光元件1之區域，凹部2Aa之底面2Ab係由引線電極3A與遮光性構件4A構成。又，凹部2Aa之側壁係由遮光性構件4A構成。 又，封裝體2A之下表面為平坦面，並且以引線電極31A、32A露出之方式設置，該下表面成為發光裝置100A之安裝面。 引線電極3A包含平板狀之引線電極31A及引線電極32A，且相互隔開而設置於封裝體2A之底部。引線電極31A、32A於外周之端部，以下表面側凹陷之方式設置有階差，而以難以自遮光性構件4A剝落之方式構成。 引線電極31A、32A之上表面之一部分構成凹部2Aa之底面2Ab，於引線電極31A上黏晶有發光元件1，並且於引線電極32A上黏晶有保護元件8。又，發光元件1經由導線6而與引線電極31A、32A電性連接。保護元件8係藉由將設置於下表面側之一電極黏晶而與引線電極32A電性連接，且設置於上表面側之另一電極經由導線6而與引線電極31A電性連接。 遮光性構件4A可使用與第1實施形態中之遮光性構件4相同之材料形成，於上表面4Aa露出有第2填充劑42之粒子之一部分。 透光性構件5A係設置於凹部2Aa內，且將發光元件1及保護元件8密封。透光性構件5A於母材51中除含有第1填充劑52(52a，52b)以外，還含有波長轉換物質53之粒子。透光性構件5A中，第1填充劑52之粒子之一部分自母材51露出至上表面5Aa。又，波長轉換物質53主要配置於發光元件1之周圍及凹部2Aa之底面2Ab之附近，且以不自上表面5Aa露出之方式配置。 再者，母材51及第1填充劑52可使用與第1實施形態中之透光性構件5相同之材料。 波長轉換物質53係藉由吸收來自發光元件1之光之一部分或全部以發出不同波長之光而進行波長轉換之螢光體。 例如，可藉由將發出藍色光之發光元件1、與吸收藍色光並發出黃色光之波長轉換物質53加以組合而產生白色光。再者，波長轉換物質53並不限定於1種，亦可使用發光色不同之複數種。 作為波長轉換物質53，可使用將來自發光元件1之光吸收並進行波長轉換者。波長轉換物質53較佳為比重大於製造時之未硬化之透光性構件5A之母材51者。關於波長轉換物質53，若比重大於未硬化之母材51，則於形成製造時之透光性構件5A時可使波長轉換物質53之粒子沈降而配置於發光元件1或引線電極31A、32A之表面附近。 藉由將波長轉換物質53配置於發光元件1或引線電極31A、32A之表面附近，能夠提高波長轉換之效率。又，藉由將波長轉換物質53配置成不自上表面5Aa露出，能夠抑制因與外部大氣之接觸而導致之波長轉換物質53之劣化或變質。 作為波長轉換物質53，具體而言可列舉例如以Y3 Al5 O12 ：Ce表示之YAG螢光體或矽酸鹽等黃色螢光體、或者以CaAlSiN3 ：Eu表示之CASN螢光體或以K2 SiF6 ：Mn表示之KSF螢光體等紅色螢光體。 [發光裝置之動作] 發光裝置100A將來自發光元件1之光之一部分或全部藉由波長轉換物質53進行波長轉換並自作為光提取面之透光性構件5A之上表面5Aa提取至外部。 再者，照射至發光裝置100A之上表面之外界光之至少一部分由設置於上表面5Aa及上表面4Aa之複數個突起擴散反射，藉此，使表面之「發亮」減少，該情況與第1實施形態相同。又，藉由第1填充劑52之一部分自透光性構件5A之上表面5Aa露出而使光提取效率提高，該情況亦與第1實施形態相同。 [發光裝置之製造方法] 其次，參照圖8A～圖8C及圖9對第2實施形態之發光裝置之製造方法進行說明。 圖9係表示第2實施形態之發光裝置之製造方法之順序的流程圖。 第2實施形態之發光裝置100A之製造方法包含：封裝體準備步驟S21、發光元件安裝步驟S22、透光性構件形成步驟S23、及噴擊加工處理步驟S24。又，透光性構件形成步驟S23包含樹脂供給步驟S231、波長轉換物質沈降步驟S232、及樹脂硬化步驟S233。 封裝體準備步驟S21係準備封裝體2A之步驟。所要準備之封裝體之形狀不同，但可利用與第1實施形態中之封裝體準備步驟S11相同之方法準備封裝體2A。 再者，於本步驟中所準備之封裝體2A中，配置於遮光性構件4A之上表面4Aa附近之第2填充劑42由母材41被覆。 發光元件安裝步驟S22係將發光元件1安裝於封裝體2A之凹部2Aa內之步驟。發光元件1可利用與第1實施形態中之發光元件安裝步驟S12相同之方法進行。 再者，於本步驟中，保護元件8亦安裝於凹部2Aa內。 透光性構件形成步驟S23係於凹部2Aa內形成透光性構件5A之步驟，如上所述，包含樹脂供給步驟S231、波長轉換物質沈降步驟S232及樹脂硬化步驟S233。 樹脂供給步驟S231可利用與第1實施形態中之樹脂供給步驟S131相同之方法進行。供給至凹部2Aa內之樹脂材料係以於未硬化之母材51中含有第1填充劑52與波長轉換物質53之方式調製。又，波長轉換物質53及母材51較佳為以波長轉換物質53之比重較未硬化之母材51大之方式選擇各自之材料。 波長轉換物質沈降步驟S232係於樹脂供給步驟S231中將未硬化之樹脂材料供給至凹部2Aa內之後使樹脂材料中所含有之波長轉換物質53沈降之步驟。具體而言，波長轉換物質沈降步驟S232係比重大於未硬化之母材51之波長轉換物質53放置至因重力而沈降並來到發光元件1或引線電極31A、32A之表面附近為止之步驟。 樹脂硬化步驟S233可與第1實施形態中之樹脂硬化步驟S132同樣地進行，故省略說明。 噴擊加工處理步驟S24可與第1實施形態中之噴擊加工處理步驟S14同樣地進行，故省略說明。 再者，於不使波長轉換物質53沈降之情形時，於樹脂供給步驟S231之後快速地進行樹脂硬化步驟S233。 藉由進行以上之步驟而能夠製造發光裝置100A。 [實施例] 其次，對本發明之實施例進行說明。 分別利用上述製造方法製作圖1A所示之形態之發光裝置及圖8A所示之形態之發光裝置。此時，改變噴擊加工處理之條件而製作複數個樣本。 (發光裝置之形狀及材料：第1實施形態之樣本) ∙透光性構件： 母材：環氧樹脂(折射率1.53) 第1填充劑：氧化矽(SiO2 )(折射率1.46，粒徑1.5 μm，含量40質量%) ∙遮光性構件(光吸收性構件)： 母材：聚鄰苯二甲醯胺樹脂 第2填充劑：碳黑(粒徑3 μm，含量1質量%) ∙封裝體： 俯視下之外形尺寸：1邊為3 mm 透光性構件之開口徑：1邊為2.6 mm ∙發光元件：將藍色LED、綠色LED、紅色LED各安裝1個 (發光裝置之形狀及材料：第2實施形態之樣本) ∙透光性構件： 母材：矽酮樹脂(折射率1.52) 第1填充構件：氧化矽(SiO2 )(折射率1.46，粒徑6 μm，含量15質量%) 波長轉換物質：YAG系螢光體 ∙遮光性構件(光反射性構件)： 母材：環氧樹脂 第2填充劑：TiO2 (粒徑0.3 μm，含量17質量%) ∙封裝體： 俯視下之外形尺寸：長邊為3 mm，短邊為1.4 mm 透光性構件之開口徑：長邊為2.6 mm，短邊為1.0 mm ∙發光元件：安裝1個藍色LED (噴擊加工處理之條件：於各實施形態之樣本中共通) ∙研磨液(漿料)： 溶劑：純水 研磨劑：氧化鋁(Al2 O3 )(粒徑3 μm(D50)，含量5體積%) ∙投射角度：30°/90° ∙投射方向：1方向/2方向/4方向 ∙槍壓：0.2/0.3/0.4(MPa) ∙加工處理速度：40 mm/秒 於上述各條件下，施加空氣壓而將研磨液自噴嘴呈霧狀噴射，藉此對發光裝置之樣本之上表面實施噴擊加工處理。 (評價) 對於改變噴擊加工處理之條件而製作之各樣本，確認以未進行噴擊加工處理之樣本作為基準時之光輸出、上表面之抗光反射效果、上表面之表面粗糙度、及填料(第1填充劑及第2填充劑)脫落之有無。 經確認，於任一條件下進行噴擊加工處理後之樣本均於加工面露出有填料。 雖亦確認到越升高槍壓則填料之露出量變得越多且填料自表面脫落之樣本，但於其他條件相同之情形時，經確認槍壓越高則光輸出(光通量)越高。光輸出之提高於第1實施形態之各樣本中為1～2.9%，於第2實施形態之各樣本中為0.3～0.9%。 於將投射角度設為90°、即與加工面垂直地投射研磨劑之情形時，若以相同之槍壓進行比較，則填料之露出量較將投射角度設為30°之情形少。 又，於將投射角度設為30°時自一方向投射之情形時，與投射方向對向之填料之面露出，但相反側之面成為填料本身之背面，故並未過於露出。藉由將投射方向設為二方向、進而設為四方向，從而填料之露出量增加，且露出量較將投射角度設為90°時增加。認為藉由使投射角度小於垂直而使研磨劑易於將樹脂剝下。可確認，將投射角度設為90°、槍壓設為0.4 MPa時之樣本與將投射角度設為30°、槍壓設為0.2 MPa、投射方向設為四方向時之樣本之光輸出相同程度地提高。 又，以目測可確認，與未實施噴擊加工處理之樣本相比，各樣本均具有外界光之抗反射效果。 再者，各樣本均為上表面之表面粗糙度(算術平均粗糙度Ra)與未實施噴擊加工處理之樣本大致相同程度。亦即，可確認，藉由噴擊加工處理僅去除被覆填料之表面之樹脂，而不會對作為樹脂構件之透光性構件之本體造成如形成較大之凹凸般之損傷。 [產業上之可利用性] 本發明之實施形態之發光裝置可利用於液晶顯示器之背光光源、各種照明器具、大型顯示器、廣告或目的地引導等各種顯示裝置，進而可利用於數位攝錄影機、傳真機、影印機、掃描器等圖像讀取裝置、投影器裝置等。
1‧‧‧發光元件2‧‧‧封裝體(基台)2A‧‧‧封裝體(基台)2Aa‧‧‧凹部2Ab‧‧‧底面2a‧‧‧凹部2b‧‧‧底面3‧‧‧引線電極3A‧‧‧引線電極4‧‧‧遮光性構件4A‧‧‧遮光性構件4Aa‧‧‧上表面4a‧‧‧上表面4b‧‧‧切口部5‧‧‧透光性構件5A‧‧‧透光性構件5Aa‧‧‧上表面5a‧‧‧上表面6‧‧‧導線8‧‧‧保護元件11‧‧‧發光元件12‧‧‧發光元件13‧‧‧發光元件31‧‧‧引線電極31A‧‧‧引線電極32A‧‧‧引線電極32‧‧‧引線電極33‧‧‧引線電極34‧‧‧引線電極31A‧‧‧引線電極32A‧‧‧引線電極41‧‧‧母材42‧‧‧第2填充劑51‧‧‧母材52‧‧‧第1填充劑52a‧‧‧第1填充劑52b‧‧‧第1填充劑53‧‧‧波長轉換物質71‧‧‧分注器72‧‧‧加熱裝置73‧‧‧噴嘴73a‧‧‧投射角度74‧‧‧研磨劑100‧‧‧發光裝置100A‧‧‧發光裝置200‧‧‧圖像顯示裝置210‧‧‧電路基板220‧‧‧保護構件230‧‧‧框架構件230a‧‧‧開口部D1‧‧‧方向D2‧‧‧方向D3‧‧‧方向D4‧‧‧方向L1‧‧‧光L2‧‧‧光L3‧‧‧光L4‧‧‧光L5‧‧‧光L6‧‧‧光L7‧‧‧光L8‧‧‧光S11～S14‧‧‧步驟S131、S132‧‧‧步驟S21～S24‧‧‧步驟S231～S233‧‧‧步驟
圖1A係表示第1實施形態之發光裝置之構成之立體圖。 圖1B係表示第1實施形態之發光裝置之構成之俯視圖。 圖1C係表示第1實施形態之發光裝置之構成之剖視圖，且表示圖1B之IC-IC線處之剖面。 圖2A係表示第1實施形態之發光裝置中之透光性構件及填料之一部分的剖視圖。 圖2B係表示先前之發光裝置中之透光性構件及填料之一部分的剖視圖。 圖2C係用以說明於第1實施形態之發光裝置中透光性構件及遮光性構件之上表面之光反射的剖視圖。 圖3係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之順序的流程圖。 圖4A係表示於第1實施形態之發光裝置之製造方法之封裝體準備步驟中所準備之封裝體之構成的剖視圖。 圖4B係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之發光元件安裝步驟的剖視圖。 圖4C係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之樹脂供給步驟的剖視圖。 圖4D係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之樹脂硬化步驟的剖視圖。 圖4E係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之噴擊加工處理步驟的剖視圖。 圖5A係表示於第1實施形態之發光裝置之製造方法之噴擊加工處理步驟中投射研磨劑之方向之第1例的俯視圖。 圖5B係表示於第1實施形態之發光裝置之製造方法之噴擊加工處理步驟中投射研磨劑之方向之第2例的俯視圖。 圖5C係表示於第1實施形態之發光裝置之製造方法之噴擊加工處理步驟中投射研磨劑之方向之第3例的俯視圖。 圖6A係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之噴擊加工處理步驟中之第1步驟的剖視圖。 圖6B係表示第1實施形態之發光裝置之製造方法之噴擊加工處理步驟中之第2步驟的剖視圖。 圖7A係表示使用有第1實施形態之發光裝置之圖像顯示裝置之構成的立體圖。 圖7B係表示使用有第1實施形態之發光裝置之圖像顯示裝置之構成的分解立體圖。 圖8A係表示第2實施形態之發光裝置之構成之立體圖。 圖8B係表示第2實施形態之發光裝置之構成之俯視圖。 圖8C係表示第2實施形態之發光裝置之構成之剖視圖，且表示圖8B之VIIIC-VIIIC線處之剖面。 圖9係表示第2實施形態之發光裝置之製造方法之順序的流程圖。
1‧‧‧發光元件
2‧‧‧封裝體(基台)
2a‧‧‧凹部
2b‧‧‧底面
3‧‧‧引線電極
4‧‧‧遮光性構件
4a‧‧‧上表面
5‧‧‧透光性構件
5a‧‧‧上表面
6‧‧‧導線
11‧‧‧發光元件
31‧‧‧引線電極
33‧‧‧引線電極
34‧‧‧引線電極
41‧‧‧母材
42‧‧‧第2填充劑
51‧‧‧母材
52‧‧‧第1填充劑
52a‧‧‧第1填充劑
52b‧‧‧第1填充劑
100‧‧‧發光裝置

Claims (18)

  1. 一種發光裝置，其具備：基台；發光元件，其載置於上述基台；及透光性構件，其覆蓋上述發光元件；且上述基台具備引線電極及固定上述引線電極之遮光性構件，上述透光性構件及上述基台之遮光性構件於各自之上表面具有複數個突起，上述透光性構件含有折射率較上述透光性構件之母材低的透光性之第1填充劑之粒子，上述第1填充劑之粒子之一部分於上述透光性構件之上表面自上述透光性構件之母材露出，設置於上述透光性構件之上表面之上述突起係源自上述第1填充劑之粒子而形成，上述遮光性構件於包含樹脂之母材中含有第2填充劑之粒子，上述第2填充劑之粒子之一部分於上述遮光性構件之上表面自上述遮光性構件之母材露出，設置於上述遮光性構件之上表面之上述突起係源自上述第2填充劑之粒子而形成。
  2. 如請求項1之發光裝置，其中上述基台上形成有於上表面具有開口之凹部，上述發光元件載置於上述凹部內，包圍上述凹部之側壁係藉由上述遮光性構件所形成。
  3. 如請求項1或2之發光裝置，其中上述第1填充劑與上述透光性構件之母材之折射率差為0.03以上。
  4. 如請求項1之發光裝置，其中上述透光性構件及上述遮光性構件係使用具有透光性之樹脂作為母材。
  5. 如請求項1之發光裝置，其中關於上述第1填充劑，透氣法或Fisher-SubSieve-Sizers-No.所規定之粒徑為0.5μm以上且10μm以下。
  6. 如請求項1或2之發光裝置，其中關於上述透光性構件之上表面，JIS標準B0601：2013所規定之算術平均粗糙度Ra為0.095μm以上且0.220μm以下。
  7. 如請求項1或2之發光裝置，其中上述第1填充劑為SiO2。
  8. 如請求項1或2之發光裝置，其中上述透光性構件之母材包含選自環氧樹脂、矽酮樹脂之材料。
  9. 如請求項1或2之發光裝置，其中上述透光性構件進而含有將來自上述發光元件之光轉換成不同波長之光的波長轉換物質之粒子，上述波長轉換物質之粒子係以不自上述透光性構件之母材露出之方式設置。
  10. 一種發光裝置之製造方法，該發光裝置具備基台、載置於上述基台之發光元件、及覆蓋上述發光元件之透光性構件，該發光裝置之製造方法包含以下步驟：將上述發光元件載置於上述基台之後，形成覆蓋上述發光元件之上述透光性構件；及對上述透光性構件及上述基台各自之上表面實施噴擊加工處理；且於形成上述透光性構件之步驟中，上述透光性構件係使用透光性樹脂作為母材，且使用含有折射率較該母材低之透光性之第1填充劑之粒子的樹脂材料而形成，藉由實施上述噴擊加工處理，而於上述透光性構件之上表面，使上述第1填充劑之粒子之一部分自上述透光性構件之母材露出。
  11. 如請求項10之發光裝置之製造方法，其中上述基台具備引線電極及固定上述引線電極之遮光性構件。
  12. 如請求項10之發光裝置之製造方法，其中於上述基台形成有於上表面具有開口之凹部，且於上述凹部內載置有上述發光元件。
  13. 如請求項10之發光裝置之製造方法，其中上述第1填充劑之粒子係透氣法或Fisher-SubSieve-Sizers-No.所規定之粒徑為0.5μm以上且10μm以下。
  14. 如請求項10之發光裝置之製造方法，其中上述噴擊加工處理係投射含有水與研磨劑之漿料的濕式噴擊加工處理。
  15. 如請求項14之發光裝置之製造方法，其中上述噴擊加工處理係對上述透光性構件之上表面以15°以上且45°以下之角度投射上述漿料。
  16. 如請求項15之發光裝置之製造方法，其中上述噴擊加工處理係自俯視下不同之2個以上之方向依序投射上述漿料。
  17. 如請求項11之發光裝置之製造方法，其中上述遮光性構件係使用樹脂作為母材，且使用於該母材中分散有第2填充劑之粒子的樹脂材料而形成，藉由上述噴擊加工處理，而於上述遮光性構件之上表面，使上述第2填充劑之粒子之一部分自上述遮光性構件之母材露出。
  18. 如請求項12之發光裝置之製造方法，其中上述透光性構件係使用於上述透光性構件之母材中除了含有上述第1填充劑之粒子以外、進而含有將來自上述發光元件之光轉換成不同波長之光之波長轉換物質之粒子的樹脂材料而形成，於形成上述透光性構件之步驟中，將含有上述第1填充劑之粒子及上述波長轉換物質之粒子的未硬化之上述樹脂材料供給至上述凹部內，於上述波長轉換物質之粒子沈降之後，使上述樹脂材料硬化。
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6791105B2 (ja) * 2017-11-30 2020-11-25 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法
JP7064129B2 (ja) * 2017-12-22 2022-05-10 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP6777104B2 (ja) 2018-01-31 2020-10-28 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
JP6777105B2 (ja) 2018-01-31 2020-10-28 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法
CN108447959A (zh) * 2018-02-01 2018-08-24 广州硅能照明有限公司 一种提高led性能的荧光粉涂覆方法
JP7082280B2 (ja) * 2018-03-30 2022-06-08 日亜化学工業株式会社 発光装置
KR102193700B1 (ko) * 2018-07-11 2020-12-21 엘지전자 주식회사 반도체 발광소자를 이용한 디스플레이 장치
TWI713237B (zh) * 2018-08-01 2020-12-11 大陸商光寶光電（常州）有限公司 發光二極體封裝結構
DE102018127691A1 (de) * 2018-11-06 2020-05-07 Osram Opto Semiconductors Gmbh Deck- und/oder Füllmaterial, optoelektronische Vorrichtung, Verfahren zur Herstellung einer optoelektronischen Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung eines Deck- und/oder Füllmaterials
TWI742335B (zh) * 2018-12-25 2021-10-11 友達光電股份有限公司 顯示面板與其操作方法
KR20200085082A (ko) * 2019-01-04 2020-07-14 서울반도체 주식회사 발광 다이오드 패키지
KR20200088950A (ko) * 2019-01-15 2020-07-24 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 제조 방법
JP7078863B2 (ja) * 2020-04-01 2022-06-01 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
KR20220037069A (ko) * 2020-09-17 2022-03-24 삼성전자주식회사 반도체 패키지 및 그 제조 방법
JP7460911B2 (ja) 2020-12-21 2024-04-03 日亜化学工業株式会社 発光装置及びそれを用いたディスプレイ
CN113703226B (zh) * 2021-09-08 2022-09-27 广东粤港澳大湾区国家纳米科技创新研究院 高亮度、防蓝光量子点光学板及其制备方法和背光模组

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040241894A1 (en) * 2000-07-21 2004-12-02 Yoshifumi Nagai Light emitting device, display apparatus with an array of light emitting devices, and display apparatus method of manufacture
US20130011617A1 (en) * 2010-03-23 2013-01-10 Asahi Rubber Inc. Silicone resin reflective substrate, manufacturing method for same, and base material composition used in reflective substrate
US20130062592A1 (en) * 2011-09-12 2013-03-14 SemiLEDs Optoelectronics Co., Ltd. Light emitting diode (led) dice having wavelength conversion layers and methods of fabrication
US20150028373A1 (en) * 2013-07-25 2015-01-29 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing light emitting device

Family Cites Families (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3545447B2 (ja) 1994-02-04 2004-07-21 大日本印刷株式会社 光拡散フィルム
JPH1048985A (ja) 1996-08-05 1998-02-20 Ricoh Co Ltd 定着ローラ及びその製造方法
JPH10296635A (ja) 1997-04-23 1998-11-10 Toyota Motor Corp ウエットブラスト装置
JP2001257410A (ja) 2000-03-09 2001-09-21 Kyocera Corp 電子部品
JP2001343531A (ja) 2000-05-30 2001-12-14 Canon Inc 照明装置、この照明装置を有するイメージセンサーおよびこのイメージセンサーを用いた画像読取装置ならびに情報処理システム
JP3539634B2 (ja) 2000-10-26 2004-07-07 日立金属株式会社 回路搭載用窒化ケイ素基板および回路基板
JP2004231513A (ja) 2000-10-26 2004-08-19 Hitachi Metals Ltd 高強度・高熱伝導性に優れた回路基板
JP2003298115A (ja) * 2002-04-05 2003-10-17 Citizen Electronics Co Ltd 発光ダイオード
JP2004221163A (ja) 2003-01-10 2004-08-05 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置およびその形成方法、並びにその発光装置を用いた面状発光装置
JP4452464B2 (ja) * 2003-08-08 2010-04-21 スタンレー電気株式会社 発光ダイオード
JP4442216B2 (ja) 2003-12-19 2010-03-31 豊田合成株式会社 Ｌｅｄランプ装置
JP4496774B2 (ja) 2003-12-22 2010-07-07 日亜化学工業株式会社 半導体装置の製造方法
JP3881653B2 (ja) 2003-12-25 2007-02-14 京セラ株式会社 発光装置
JP4238792B2 (ja) 2004-08-04 2009-03-18 ソニー株式会社 光拡散シート及びその製造方法、並びにスクリーン
JP4901184B2 (ja) 2004-11-11 2012-03-21 株式会社不二製作所 研磨材及び該研磨材の製造方法，並びに前記研磨材を用いたブラスト加工方法
KR100709587B1 (ko) 2004-11-11 2007-04-20 가부시끼가이샤 후지세이사쿠쇼 연마재 및 동 연마재의 제조 방법, 및 상기 연마재를이용한 블라스트 가공 방법
JP2007180203A (ja) 2005-12-27 2007-07-12 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP4315162B2 (ja) 2006-03-10 2009-08-19 パナソニック電工株式会社 発光装置の製造方法
JP2007266246A (ja) 2006-03-28 2007-10-11 Mitsubishi Electric Corp Ｌｅｄモジュール
JP2007324220A (ja) 2006-05-30 2007-12-13 Toshiba Corp 光半導体装置
US8061876B2 (en) 2006-08-25 2011-11-22 The Furukawa Electric Co., Ltd Illumination device
DE102007015474A1 (de) * 2007-03-30 2008-10-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Elektromagnetische Strahlung emittierendes optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements
JP2009070869A (ja) 2007-09-11 2009-04-02 Panasonic Corp 半導体発光装置
CN101821867B (zh) 2007-10-23 2012-01-04 松下电器产业株式会社 半导体发光器件及使用它的半导体发光装置以及该半导体发光装置的制造方法
JP4167717B1 (ja) * 2007-11-21 2008-10-22 Ｅ＆Ｅ Ｊａｐａｎ株式会社 発光装置及びその製造方法
JP2009147178A (ja) * 2007-12-14 2009-07-02 Ngk Spark Plug Co Ltd セラミック部品及びその製造方法、配線基板
JP4678437B2 (ja) 2008-12-29 2011-04-27 ソニー株式会社 光学素子およびその製造方法、ならびに表示装置
TW201041192A (en) * 2009-05-11 2010-11-16 Semi Photonics Co Ltd LED device with a roughened light extraction structure and manufacturing methods thereof
WO2010150880A1 (ja) 2009-06-26 2010-12-29 株式会社朝日ラバー 白色反射材及びその製造方法
DE102009055765A1 (de) 2009-09-30 2011-03-31 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optisches oder optoelektronisches Bauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
JP5659519B2 (ja) 2009-11-19 2015-01-28 豊田合成株式会社 発光装置、発光装置の製造方法、発光装置の実装方法及び光源装置
JP2012134362A (ja) 2010-12-22 2012-07-12 Mitsubishi Chemicals Corp 半導体発光装置用パッケージ及び発光装置
EP2472578B1 (en) * 2010-12-28 2020-06-03 Nichia Corporation Light emitting device
JP2013033910A (ja) * 2011-06-29 2013-02-14 Hitachi Cable Ltd 発光素子搭載用基板、ｌｅｄパッケージ、及びｌｅｄパッケージの製造方法
JP5878362B2 (ja) 2011-12-22 2016-03-08 新光電気工業株式会社 半導体装置、半導体パッケージ及び半導体装置の製造方法
CN103367565A (zh) * 2012-04-06 2013-10-23 展晶科技(深圳)有限公司 发光二极管封装方法
JP2013218245A (ja) 2012-04-12 2013-10-24 Seiko Epson Corp 光学素子、撮像装置、カメラ及び光学素子の製造方法
WO2013157310A1 (ja) 2012-04-17 2013-10-24 シャープ株式会社 発光装置及びその製造方法
JP2014041993A (ja) 2012-07-24 2014-03-06 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置及びその製造方法
JP2014157989A (ja) 2013-02-18 2014-08-28 Toshiba Corp 半導体発光装置及びその製造方法
JP5819335B2 (ja) 2013-02-18 2015-11-24 株式会社東芝 半導体発光装置およびその製造方法
JP6077392B2 (ja) 2013-06-11 2017-02-08 シチズン時計株式会社 Ｌｅｄ装置の製造方法
CN103811634A (zh) 2014-01-26 2014-05-21 佛山市国星光电股份有限公司 封装胶体表面哑光的led器件及其封装方法及led显示屏
DE102014102256A1 (de) 2014-02-21 2015-08-27 Osram Oled Gmbh Glasware, Glasware mit Leuchtstoff-Partikeln, Vorrichtung zum Herstellen einer Glasware, Verfahren zum Herstellen einer Glasware und Verfahren zum Herstellen einer Glasware mit Leuchtstoff-Partikeln
CN103881385A (zh) * 2014-03-28 2014-06-25 木林森股份有限公司 一种led荧光罩及其制作方法
JP2016021435A (ja) 2014-07-11 2016-02-04 株式会社小糸製作所 発光モジュール
JP6652696B2 (ja) 2015-01-14 2020-02-26 セントラル硝子株式会社 表示装置用の防眩性ガラス板物品及びその製法
WO2016113970A1 (ja) 2015-01-14 2016-07-21 セントラル硝子株式会社 表示装置用の防眩性ガラス板物品及びその製法
JP6020657B2 (ja) 2015-05-25 2016-11-02 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP6217711B2 (ja) * 2015-08-21 2017-10-25 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040241894A1 (en) * 2000-07-21 2004-12-02 Yoshifumi Nagai Light emitting device, display apparatus with an array of light emitting devices, and display apparatus method of manufacture
US20130011617A1 (en) * 2010-03-23 2013-01-10 Asahi Rubber Inc. Silicone resin reflective substrate, manufacturing method for same, and base material composition used in reflective substrate
US20130062592A1 (en) * 2011-09-12 2013-03-14 SemiLEDs Optoelectronics Co., Ltd. Light emitting diode (led) dice having wavelength conversion layers and methods of fabrication
US20150028373A1 (en) * 2013-07-25 2015-01-29 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing light emitting device

Also Published As

Publication number Publication date
TW201806198A (zh) 2018-02-16
CN107452853A (zh) 2017-12-08
US10418533B2 (en) 2019-09-17
KR102306760B1 (ko) 2021-09-28
EP3252835A1 (en) 2017-12-06
CN107452853B (zh) 2021-06-15
JP2017216369A (ja) 2017-12-07
JP6418200B2 (ja) 2018-11-07
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US20170345982A1 (en) 2017-11-30
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