TWI690501B - 顯示器用覆蓋構件及其製造方法 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種可實現背景之映入較少且抗眩光性優異之顯示器的顯示器用覆蓋構件。 該顯示器用覆蓋構件之特徵在於:其中一個主面由凹凸面構成,且上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線要素的平均長度(RSm)為1 μm以上30 μm以下,上述凹凸面之粗糙度曲線之平均傾斜角(θ)與JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之尖峰值(Rku)之比即θ/Rku為0.40°以上1.08°以下。

Description

顯示器用覆蓋構件及其製造方法
本發明係關於一種背景之映入較少且抗眩光性優異之顯示器用覆蓋構件及其製造方法。
先前,揭示有為了抑制顯示器之表面中之背景之映入,而將具有防眩(AG,Anti-Glare)層之覆蓋構件配置於顯示器之正面之方法(例如參照專利文獻1)。 [先前技術文獻] [專利文獻] [專利文獻1]日本專利特表2012-521958號公報
[發明所欲解決之問題] 就抑制覆蓋構件之表面中之背景之映入的觀點而言,較佳為增大防眩層之表面粗糙度,以使覆蓋構件之霧度變大。然而,於正面配置有霧度較大之覆蓋構件之顯示器,存在產生所謂的「眩光(sparkling)」之問題,即顯示器之像素與覆蓋構件之表面凹凸干涉,產生亮度分佈而變得難以看見。因此,期望一面抑制鏡面反射而抑制背景之映入,一面防止眩光之產生。 本發明之主要目的在於提供一種可實現背景之映入較少且抗眩光性優異之顯示器的顯示器用覆蓋構件。 [解決問題之技術手段] 本發明之第1顯示器用覆蓋構件之特徵在於:其中一個主面由凹凸面構成,且上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線要素之平均長度(RSm)為1 μm以上30 μm以下,上述凹凸面之粗糙度曲線之平均傾斜角(θ)與上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之尖峰值(Rku)之比即θ/Rku為0.40°以上1.08°以下。 本發明之第2顯示器用覆蓋構件之特徵在於:其中一個主面由凹凸面構成,且上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線要素之平均長度(RSm)為1 μm以上30 μm以下,上述凹凸面之粗糙度曲線之平均傾斜角(θ)為1.2°以上7.0°以下,上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之尖峰值(Rku)為2.2以上10以下。 本發明之第1或第2顯示器用覆蓋構件較佳為霧度為1%以上50%以下。 本發明之第1或第2顯示器用覆蓋構件較佳為上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之算術平均粗糙度(Ra)為0.04 μm以上0.25 μm以下。 本發明之第1或第2顯示器用覆蓋構件較佳為上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之歪度(Rsk)的絕對值即|Rsk|為2以下。 本發明之第1或第2顯示器用覆蓋構件較佳為具備透光板及塗膜,該塗膜覆蓋上述透光板之一個主面之至少一部分,構成上述凹凸面。 本發明之第1或第2顯示器用覆蓋構件較佳為上述塗膜覆蓋上述透光板之一個主面之全體。 本發明之第1或第2顯示器用覆蓋構件較佳為上述塗膜由無機膜構成。 本發明之第1或第2顯示器用覆蓋構件較佳為上述塗膜之JIS K5600-5-4-1999所規定之鉛筆硬度為6H以上。 本發明之第1或第2顯示器用覆蓋構件較佳為上述透光板由玻璃板構成。 本發明之第1或第2顯示器用覆蓋構件較佳為上述玻璃板由強化玻璃板構成。 本發明之顯示器用覆蓋構件之製造方法之特徵在於:其係用以製造上述第1或第2顯示器用覆蓋構件之方法,並於透光板之上藉由噴霧法形成構成上述凹凸面之塗膜。 本發明之顯示器用覆蓋構件之製造方法較佳為使上述透光板由玻璃板構成,並於形成上述塗膜之後對上述玻璃板進行化學強化。 本發明之顯示器用覆蓋構件之製造方法較佳為使用強化玻璃板作為上述透光板。 [發明之效果] 根據本發明,可提供一種可實現背景之映入較少且抗眩光性優異之顯示器的顯示器用覆蓋構件。
以下,對本發明之較佳實施形態之一例進行說明。但是,下述實施形態僅為舉例說明。本發明不受下述實施形態之任何限定。 圖1係本發明之一實施形態之顯示器用覆蓋構件1之示意性剖視圖。顯示器用覆蓋構件1係配置於顯示器之正面而使用之構件。具體而言,顯示器用覆蓋構件1係以第1主面1a朝向外側(觀者側)而第2主面1b朝向內側之方式設置於顯示器而使用。顯示器用覆蓋構件1例如可為構成顯示器之前面板之構件,亦可為設置於前面板之上之構件。 顯示器用覆蓋構件1之第1主面1a由凹凸面2構成。 詳細而言,於本實施形態中,顯示器用覆蓋構件1具有透光板10及塗膜11。不過,於本發明中,顯示器用覆蓋構件1亦可由具有凹凸面之一個透明構件構成。 凹凸面2之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線要素之平均長度(RSm)為1 μm以上30 μm以下。若RSm在上述範圍內並相較於顯示器之像素尺寸(60~100 μm左右)足夠小,則可實現抗眩光性優異之顯示器。RSm較佳為3 μm以上,更佳為5 μm以上,進而較佳為8 μm以上,特佳為10 μm以上。若RSm過小,則存在凹凸之凸部之寬度變小,而表面之耐久性(耐擦傷性)降低之情形。另一方面,RSm較佳為25 μm以下,更佳為22 μm以下,進而較佳為20 μm以下,特佳為18 μm以下。若RSm過大,則變得易於產生顯示器之眩光。 凹凸面2之粗糙度曲線之平均傾斜角(θ)係表示凹凸面2之平均斜率之指標。有如下傾向,即θ越小,越易於產生背景之映入。再者,平均傾斜角(θ)藉由下述數式(1)而定義。 平均傾斜角(θ)=tan-1 Δa ……… (1) 於數式(1)中,Δa係如下述數式(2)所示,對於JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之基準長度l,將相鄰之山之頂點與谷之最低點之差(高度h)的絕對值之總計(h1+h2+h3…+hn)除以上述基準長度l而得之值。 Δa=(h1+h2+h3…+hn)/l ……… (2) 平均傾斜角(θ)具體可按以下方式測定。 藉由使雷射或觸針沿一個方向在凹凸面2之上進行掃描,並沿一個方向測定凹凸面2之表面之高度。沿進行該高度測定之一個方向之長度(測定長度)例如可設為200 μm~350 μm左右。高度之測定例如可間隔0.5 μm進行。 其次,決定中心線L。具體而言,決定通過凹凸面之粗糙度曲線之高度之平均值的中心線L。 其次,每間隔0.5 μm,測定凹凸面2與中心線L所成之角之大小的絕對值。繼而,可藉由將每間隔0.5 μm所測定之每間隔0.5 μm凹凸面2與中心線L所成之角之大小的絕對值平均,而算出平均傾斜角(θ)。 於本發明之一實施形態中,凹凸面2之粗糙度曲線之平均傾斜角(θ)較佳為1.2°以上,更佳為1.5°以上,進而較佳為1.8°以上,特佳為2°以上。若θ過小,則有變得易於產生背景之映入之傾向。另一方面,θ較佳為7°以下,更佳為5°以下,進而較佳為4°以下,特佳為3°以下。若θ過大,則有顯示器之解像度降低之傾向。 凹凸面2之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之尖峰值(Rku)係表示凹凸部之頂端之尖銳的程度之指標。Rku越大,凹凸部之頂端尖銳者變得越多,因此,凹凸之頂端部附近之傾斜角變大,但其他部分之傾斜角變小,而有變得易於產生背景之映入之傾向。又,Rku越小,凹凸部之頂端成為平坦者變得越多,因此,凹凸之頂端部之傾斜角變小,而有變得易於產生背景之映入之傾向。於本發明之一實施形態中,Rku較佳為1以上,更佳為1.5以上,進而較佳為2以上,特佳為2.2以上。若Rku過小,則有變得易於產生背景之映入之傾向。另一方面,Rku較佳為10以下,更佳為8以下,進而較佳為6以下,特佳為4以下。若Rku過大,則有顯示器之解像度降低之傾向。 於本發明之一實施形態中,凹凸面2之粗糙度曲線之平均傾斜角(θ)與凹凸面2之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之尖峰值(Rku)之比即θ/Rku為0.40°以上,較佳為0.5°以上,更佳為0.6°以上。若θ/Rku過小,則有變得易於產生背景之映入之傾向。另一方面,θ/Rku為1.08°以下,較佳為1.0°以下,更佳為0.95°以下,特佳為0.9°以下。若θ/Rku過大,則有變得易於產生背景之映入之傾向。 於本發明之另一實施形態中,θ為1.2°以上,更佳為1.5°以上,進而較佳為1.8°以上,特佳為2°以上。若θ過小,則有變得易於產生背景之映入之傾向。另一方面,θ為7°以下,更佳為5°以下,進而較佳為4°以下,特佳為3°以下。若θ過大,則有顯示器之解像度降低之傾向。 於本發明之另一實施形態中,Rku為2.2以上,更佳為2.3以上,特佳為2.5以上。若Rku過小,則有變得易於產生背景之映入之傾向。另一方面,Rku為10以下,更佳為8以下,進而較佳為6以下,特佳為4以下。若Rku過大,則有顯示器之解像度降低之傾向。 於本發明之另一實施形態中,θ與Rku之比即θ/Rku較佳為0.40°以上,較佳為0.5°以上,更佳為0.6°以上。若θ/Rku過小,則有變得易於產生背景之映入之傾向。另一方面,θ/Rku較佳為1.08°以下,較佳為1.0°以下,更佳為0.95°以下,特佳為0.9°以下。若θ/Rku過大,則有變得易於產生背景之映入之傾向。 凹凸面2之JIS B0601-2013所規定之算術平均粗糙度(Ra)較佳為0.04 μm以上,更佳為0.05 μm以上,特佳為0.06 μm以上。若Ra過小,則有變得易於產生背景之映入之傾向。另一方面,Ra較佳為0.3 μm以下,更佳為0.25 μm以下,進而較佳為0.2 μm以下,特佳為0.15 μm以下。若Ra過大,則有顯示器之解像度降低之傾向。 凹凸面2之JIS B0601-2013所規定之均方根粗糙度(Rq)較佳為0.05 μm以上,更佳為0.06 μm以上,進而較佳為0.07 μm以上,特佳為0.08 μm以上。若Rq過小,則有變得易於產生背景之映入之傾向。另一方面,Rq較佳為0.4 μm以下,更佳為0.3 μm以下,進而較佳為0.26 μm以下,特佳為0.2 μm以下。若Rq過大,則有顯示器之解像度降低之傾向。 凹凸面2之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之最大剖面高度(Rt)較佳為0.2 μm以上,更佳為0.3 μm以上,進而較佳為0.4 μm以上,特佳為0.5 μm以上。若Rt過小,則有變得易於產生背景之映入之傾向。另一方面,Rt較佳為3 μm以下,更佳為2 μm以下,進而較佳為1.7 μm以下,特佳為1 μm以下。若Rt過大,則有顯示器之解像度降低之傾向。 凹凸面2之JIS B0601-2013所規定之十點平均粗糙度(RzJIS )較佳為0.2 μm以上,更佳為0.3 μm以上,進而較佳為0.35 μm以上,特佳為0.4 μm以上。若RzJIS 過小,則有變得易於產生背景之映入之傾向。另一方面,RzJIS 較佳為1.6 μm以下,更佳為1.4 μm以下,特佳為1.2 μm以下。若RzJIS 過大,則有顯示器之解像度降低之傾向。 凹凸面2之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之歪度(Rsk)之絕對值即|Rsk|較佳為3以下,更佳為2.5以下,進而較佳為2以下,特佳為1.5以下。|Rsk|越大,表示表面凹凸形狀之相對於平均線之非對稱性越大。於表面凹凸形狀之非對稱性較大時,會存在急遽之山部分及平緩之谷部分(Rsk>0時),表示凹凸面2之傾斜角分佈產生了偏差。即,山部分之傾斜角變大,谷部分之傾斜角變小(Sk<0時,山與谷之關係變為相反)。於此種情形時,於傾斜角較小之部分中,有變得易於產生背景之映入之虞。因此,若|Rsk|過大,則有變得易於產生背景之映入之傾向。 凹凸面2之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之均方根傾斜(RΔq)較佳為0.04以上,更佳為0.05以上,特佳為0.06以上。若RΔq過小,則有變得易於產生背景之映入之傾向。另一方面,RΔq較佳為0.17以下,更佳為0.18以下,特佳為0.16以下。若RΔq過大,則有顯示器之解像度降低之傾向。 霧度係漫透射光之相對於全光線透過光之比率。因而,可藉由減小霧度,而減少漫透射光。因此,可實現較高之解像度。顯示器用覆蓋構件1之霧度較佳為1%以上,更佳為2%以上,進而較佳為3%以上,特佳為5%以上。再者,本發明之霧度係指藉由依據JIS K7136-2000之方法而測定之值。若霧度過小,則有變得易於產生背景之映入之傾向。另一方面,顯示器用覆蓋構件1之霧度較佳為50%以下,更佳為30%以下,進而較佳為20%以下,特佳為15%以下。若霧度過大,則有顯示器之解像度降低之傾向。 顯示器用覆蓋構件1之光澤度較佳為10%以上,更佳為20%以上,特佳為30%以上。再者,本發明之光澤度係指藉由依據JIS Z8741-1997之方法而於入射角為60°之條件下測定之值。若光澤度過小,則有顯示器之解像度降低之傾向。另一方面,顯示器用覆蓋構件1之光澤度較佳為80%以下,更佳為75%以下,特佳為70%以下。若光澤度過大,則有變得易於產生背景之映入之傾向。 透光板10及透明構件只要係使來自顯示器之光透過者,則並無特別限定。透光板10及透明構件例如可由無鹼玻璃、鈉鈣玻璃、強化玻璃等玻璃板、Li2 O-Al2 O3 -SiO2 系結晶化玻璃等結晶化玻璃板、樹脂板等構成。例如,於如要求顯示器用覆蓋構件1有較高之機械強度之情形時,較佳為使透光板10及透明構件由強化玻璃板構成。 透光板10及透明構件之厚度並無特別限定。透光板10及透明構件之厚度例如可設為0.01 mm~10 mm左右。再者,透光板10及透明構件可為剛體,亦可具有可撓性。透光板10及透明構件亦可為片狀。 再者,適合用作透光板10及透明構件之強化玻璃板之玻璃組成較佳為,以質量%計,含有50%以上80%以下之SiO2 、5%以上25%以下之Al2 O3 、15%以下之B2 O3 、1%以上20%以下之Na2 O、10%以下之K2 O。如上述般限定各成分之含有範圍之理由示於下述。再者,於各成分之含有範圍之說明中,%表示係指質量%。 SiO2 係形成玻璃之網絡之成分。SiO2 之含量較佳為50%以上80%以下。若SiO2 之含量過少,則變得難以玻璃化,又,熱膨脹係數變得過高而耐熱衝擊性變得易於降低。由此,SiO2 之含量之適宜之下限範圍為52%以上,尤其是55%以上。另一方面,若SiO2 之含量過多,則熔融性及成形性變得易於降低。由此,SiO2 之含量之適宜之上限範圍為75%以下、72%以下、70%以下,尤其是67.5%以下。 Al2 O3 係提高離子交換性能之成分,又,係提高應變點及楊氏模數之成分。Al2 O3 之含量較佳為5%以上25%以下。若Al2 O3 之含量過少,則除熱膨脹係數變得過高而耐熱衝擊性變得易於降低以外,會產生無法充分地發揮離子交換性能之虞。由此,Al2 O3 之含量之適宜之下限範圍為7%以上、8%以上、10%以上、12%以上、14%以上、15%以上,尤其是16%以上。另一方面,若Al2 O3 之含量過多,則玻璃中會易於析出失透結晶而變得難以藉由溢流下拉法等使玻璃板成形。又,熱膨脹係數變得過低而變得難以配合周邊材料之熱膨脹係數,進而,高溫黏性變高而熔融性變得易於降低。由此,Al2 O3 之含量之適宜之上限範圍為22%以下、20%以下、19%以下、18%以下,尤其是17%以下。 B2 O3 係使高溫黏度及密度降低並且使玻璃穩定而使其難以析出結晶並使液相溫度降低之成分。又,係提高抗裂性之成分。B2 O3 之含量較佳為15%以下。若B2 O3 之含量過多,則有由於離子交換處理而產生被稱作風化之表面之著色,耐水性降低,壓縮應力層之壓縮應力值降低,壓縮應力層之應力深度變小之類之問題的傾向。由此,B2 O3 之含量之適宜之上限範圍為15%以下、12%以下、10%以下、8%以下、6%以下,尤其是5%以下。再者,於玻璃組成中導入B2 O3 之情形時,B2 O3 之含量之適宜之下限範圍為0.1%以上、1%以上、超過1%、1.5%以上,尤其是2%以上。 Na2 O係主要之離子交換成分,又,係使高溫黏度降低而提高熔融性及成形性之成分。又,Na2 O亦係改善耐失透性之成分。Na2 O之含量較佳為1%以上20%以下。若Na2 O之含量過少,則熔融性降低,熱膨脹係數降低,離子交換性能變得易於降低。由此,於導入Na2 O之情形時,Na2 O之適宜之下限範圍為10%以上、11%以上,尤其是12%以上。另一方面,若Na2 O之含量過多,則熱膨脹係數變得過高而耐熱衝擊性降低,變得難以配合周邊材料之熱膨脹係數。又,存在應變點過於降低,欠缺玻璃組成之成分平衡反而耐失透性降低之情形。由此,Na2 O之適宜之上限範圍為17%以下,尤其是16%以下。 K2 O係促進離子交換之成分,且係於鹼金屬氧化物之中,使壓縮應力層之應力深度増大之效果較大之成分。又,係使高溫黏度降低而提高熔融性及成形性之成分。進而,亦係改善耐失透性之成分。K2 O之含量較佳為10%以下。若K2 O之含量過多,則熱膨脹係數變得過高而耐熱衝擊性降低,變得難以配合周邊材料之熱膨脹係數。又,有應變點過於降低,欠缺玻璃組成之成分平衡反而耐失透性降低之傾向。由此,K2 O之適宜之上限範圍為8%以下、6%以下、4%以下,尤其是未達2%。 除上述成分以外,例如亦可導入以下成分。 Li2 O係離子交換成分,並且係使高溫黏度降低而提高熔融性及成形性之成分。又,係提高楊氏模數之成分。進而,於鹼金屬氧化物之中,使壓縮應力值増大之效果較大。但是,若Li2 O之含量過多,則液相黏度降低而玻璃變得易於失透。又,熱膨脹係數變得過高而耐熱衝擊性降低,變得難以配合周邊材料之熱膨脹係數。進而,存在若低溫黏性過於降低而變得容易產生應力緩和,則壓縮應力值反而變小之情形。因此,Li2 O之含量之適宜之上限範圍為,3.5%以下、2%以下、1%以下、0.5%以下,尤其是0.2%以下。再者,於玻璃組成中導入Li2 O之情形時,Li2 O之含量之適宜之下限範圍為0.01%以上。 Li2 O+Na2 O+K2 O之適宜之含量為5以上25%以下。若Li2 O+Na2 O+K2 O之含量過少,則離子交換性能及熔融性變得易於降低。由此,Li2 O+Na2 O+K2 O之含量之適宜之下限範圍為10%以上、15%以上,尤其是17%以上。另一方面,若Li2 O+Na2 O+K2 O之含量過多,則除玻璃變得易於失透以外,熱膨脹係數會變得過高而耐熱衝擊性降低,變得難以配合周邊材料之熱膨脹係數。又,存在應變點過於降低而變得難以獲得較高之壓縮應力值之情形。進而,亦存在液相溫度附近之黏性降低而變得難以確保較高之液相黏度之情形。由此,Li2 O+Na2 O+K2 O之含量之適宜之上限範圍為22%以下。再者,「Li2 O+Na2 O+K2 O」係Li2 O、Na2 O及K2 O之合計含量。 MgO係使高溫黏度降低而提高熔融性及成形性,並提高應變點及楊氏模數之成分,且係於鹼土類金屬氧化物之中,提高離子交換性能之效果較大之成分。但是,若MgO之含量過多,則密度及熱膨脹係數易於變高,又,玻璃變得易於失透。由此,MgO之含量之適宜之上限範圍為12%以下、10%以下、8%以下、5%以下,尤其是4%以下。再者,於玻璃組成中導入MgO之情形時,MgO之適宜之下限範圍為0.1%以上、0.5%以上、1%以上,尤其是2%以上。 與其他成分相比較,CaO不伴隨耐失透性之降低,而使高溫黏度降低而提高熔融性及成形性,且提高應變點及楊氏模數之效果較大。但是,若CaO之含量過多,則密度及熱膨脹係數變高,又,欠缺玻璃組成之成分平衡,玻璃反而變得易於失透,且離子交換性能變得易於降低。由此,CaO之含量之適宜之上限範圍為5%以下、4%以下、3%以下,尤其是2.5%以下。再者,於玻璃組成中導入CaO之情形時,CaO之適宜之下限範圍為0.01%以上、0.1%以上,尤其是1%以上。 SrO係不伴隨耐失透性之降低,而使高溫黏度降低且提高熔融性及成形性,並提高應變點及楊氏模數之成分。但是,若SrO之含量過多,則密度及熱膨脹係數變高,離子交換性能降低,欠缺玻璃組成之成分平衡,玻璃反而變得易於失透。SrO之含量之適宜之上限範圍為5%以下、3%以下、1%以下,尤其是未達0.1%。 BaO係不伴隨耐失透性之降低,而使高溫黏度降低且提高熔融性及成形性,並提高應變點及楊氏模數之成分。但是,若BaO之含量過多,則密度及熱膨脹係數變高,離子交換性能降低,欠缺玻璃組成之成分平衡,玻璃反而變得易於失透。BaO之含量之適宜之上限範圍為5%以下、3%以下、1%以下,尤其是未達0.1%。 ZnO係提高離子交換性能之成分,尤其是使壓縮應力值増大之效果較大之成分。又,係不使低溫黏性降低而使高溫黏性降低之成分。但是,若ZnO之含量過多,則有玻璃分相,耐失透性降低,密度變高,壓縮應力層之應力深度變小之類之傾向。由此,ZnO之含量之適宜之上限範圍為6%以下、5%以下、1%以下、0.5%以下,尤其是未達0.1%。 ZrO2 係顯著提高離子交換性能之成分,並且係提高液相黏度附近之黏性及應變點之成分,但若其含量過多,則有耐失透性顯著降低之虞,又,有密度變得過高之虞。由此,ZrO2 之適宜之上限範圍為10%以下、8%以下、6%以下,尤其是5%以下。再者,於欲提高離子交換性能之情形時,較佳為於玻璃組成中導入ZrO2 ,於該情形時,ZrO2 之適宜之下限範圍為0.001%以上、0.01%以上、0.5%,尤其是1%以上。 P2 O5 係提高離子交換性能之成分,尤其是增大壓縮應力層之應力深度之成分。但是,若P2 O5 之含量過多,則玻璃變得易於分相。由此,P2 O5 之適宜之上限範圍為10%以下、8%以下、6%以下、4%以下、2%以下、1%以下,尤其是未達0.1%。 亦可導入0~30000 ppm(3%)選自As2 O3 、Sb2 O3 、SnO2 、F、Cl、SO3 之群(較佳為SnO2 、Cl、SO3 之群)中之一種或二種以上,作為澄清劑。就恰當地享受澄清效果之觀點而言,SnO2 +SO3 +Cl之含量較佳為0~10000 ppm、50~5000 ppm、80~4000 ppm、100~3000 ppm,尤其是300~3000 ppm。此處「SnO2 +SO3 +Cl」係指SnO2 、SO3 及Cl之合計含量。 SnO2 之適宜之含有範圍為0~10000 ppm、0~7000 ppm,尤其是50~6000 ppm,Cl之適宜之含有範圍為0~1500 ppm、0~1200 ppm、0~800 ppm、0~500 ppm,尤其是50~300 ppm。SO3 之適宜之含有範圍為0~1000 ppm、0~800 ppm,尤其是10~500 ppm。 Nd2 O3 、La2 O3 等稀土類氧化物係提高楊氏模數之成分,又,係若添加成為補色之色則可使玻璃脫色而控制玻璃之色調之成分。但是,原料本身之成本較高,又,若大量地導入,則耐失透性變得易於降低。由此,稀土類氧化物之含量較佳為4%以下、3%以下、2%以下、1%以下,尤其是0.5%以下。 於本發明中,出自環境方面之考慮,較佳為實質上不含As2 O3 、F、PbO、Bi2 O3 。此處,所謂「實質上不含As2 O3 」,其宗旨為雖不積極添加As2 O3 作為玻璃成分,但容許以雜質狀態混入之情形,具體而言,係指As2 O3 之含量未達500 ppm。所謂「實質上不含F」,其宗旨為雖不積極添加F作為玻璃成分,但容許以雜質狀態混入之情形,具體而言,係指F之含量未達500 ppm。所謂「實質上不含PbO」,其宗旨為雖不積極添加PbO作為玻璃成分,但容許以雜質狀態混入之情形,具體而言,係指PbO之含量未達500 ppm。所謂「實質上不含Bi2 O3 」,其宗旨為雖不積極添加Bi2 O3 作為玻璃成分,但容許以雜質狀態混入之情形,具體而言,係指Bi2 O3 之含量未達500 ppm。 透光板10具有第1主面10a及第2主面10b。於本實施形態中,第1及第2主面10a、10b分別為平坦面。顯示器用覆蓋構件1之第2主面1b由透光板10之第2主面10b構成。於透光板10之第1主面10a之上,設置有塗膜11。藉由該塗膜11,構成凹凸面2之第1主面10a之至少一部分得以覆蓋。塗膜11例如可覆蓋第1主面10a之全體,亦可覆蓋第1主面10a之一部分。塗膜11例如亦可設置為島狀。於塗膜11覆蓋第1主面10a之一部分之情形時,顯示器用覆蓋構件1之第1主面1a由塗膜11及第1主面1a構成。 於顯示器用覆蓋構件1例如用於觸控感測器等之情形時,要求顯示器用覆蓋構件1之表面之耐久性(耐擦傷性等)較高。因此,塗膜11較佳為硬質。塗膜11之JIS K5600-5-4-1999所規定之鉛筆硬度較佳為6H以上,更佳為7H以上,進而較佳為8H以上,尤佳為9H以上。 塗膜11例如可由包括氧化矽、氧化鈦、氧化鋁、氯化鋯等無機氧化物之無機膜構成。其中,塗膜11較佳為由氧化矽構成。 塗膜11之厚度例如較佳為0.1 μm以上5 μm以下。 再者,於本實施形態中,對塗膜11直接設置於透光板10之第1主面10a之正上方之例進行說明。但是,本發明並不限定於該構成。例如,亦可於塗膜與透光板之間設置抗反射膜等。又,亦可於透光板10之第2主面10b之上設置抗反射膜及透明導電膜等。 再者,抗反射膜例如亦可為折射率相較於透光板10較低之低折射率膜,或者折射率相對較低之低折射率層與折射率相對較高之高折射率層交替積層而成之介電多層膜。抗反射膜例如可藉由濺鍍法及CVD(chemical vapor deposition,化學氣相沈積)法等而形成。 於使用透光板10作為覆蓋玻璃之情形時,透明導電膜作為觸控感測器用之電極發揮功能。作為透明導電膜,例如可列舉摻銦二氧化錫(ITO,Indium Doped Tin Oxide)膜、摻氟二氧化錫(FTO,Fluorine Doped Tin Oxide)膜、摻銻二氧化錫(ATO,Antimony Doped Tin Oxide)膜等。其中,ITO膜電阻較低,故而較佳使用。ITO膜例如可藉由濺鍍法而形成。又,FTO膜及ATO膜可藉由CVD(Chemical Vapor Deposition)法而形成。 於本實施形態中,塗膜11構成顯示器用覆蓋構件1之正面。但是,本發明並不限定於該構成。於塗膜之上,例如亦可進而設置用以防止指紋之附著並賦予撥水性、撥油性之抗指紋膜(AF膜,Anti-Fingerprint膜)及抗反射膜、透明導電膜,用以賦予防眩功能而使可見度提昇或使使用觸控筆等之書寫性能提昇之防眩膜,用以防止指紋之附著並賦予撥水性、撥油性之防污膜等其他膜。 再者,抗指紋膜(AF膜)較佳為包含於主鏈中包含矽之含氟共聚物。作為含氟共聚物,例如可列舉於主鏈中具有-Si-O-Si-單元且於支鏈具有包含氟之撥水性之官能基的共聚物。含氟共聚物例如可藉由使矽烷醇脫水縮合而合成。 透明導電膜亦可形成於透光板10之背面側(顯示裝置側、透光板之第2主面側)。於使用透光板10作為覆蓋玻璃之情形時,透明導電膜作為觸控感測器用之電極發揮功能。 作為透明導電膜,例如可列舉摻銦二氧化錫(ITO)膜、摻氟二氧化錫(FTO)膜、摻銻二氧化錫(ATO)膜等。其中,ITO膜電阻較低,故而較佳使用。ITO膜例如可藉由濺鍍法而形成。又,FTO膜及ATO膜可藉由CVD(Chemical Vapor Deposition)法而形成。 於在塗膜11之凹凸面側或透明構件之凹凸面上形成抗反射膜及AF膜之情形時,較佳為於凹凸面之上形成抗反射膜,並於抗反射膜之上形成AF膜。 塗膜11較佳為如微粒子分散膜等般不含散射粒子之均質之膜。於該情形時,可進而提高解像度,並且可進而有效地抑制映入。 塗膜11較佳為折射率低於透光板10。於該情形時,可進而有效地抑制映入。 其次,對顯示器用覆蓋構件1之製造方法之一例進行說明。 首先,準備透光板10。其次,藉由於透光板10之第1主面10a之上,利用噴霧法塗佈透光性材料並使其乾燥,而成膜塗膜11。藉由使用噴霧法形成塗膜11,而容易將RSm及θ/Rku設為較佳之範圍。 更詳細而言,塗膜11之成膜可按以下方式進行。於塗佈室內,一面搬送透光板10,一面沿相對於透光板10之搬送方向垂直之方向使噴嘴往返掃描,一面將透光性材料自噴嘴朝向透光板10噴出。其後,可藉由使所獲得之塗佈膜乾燥而完成塗膜11。成膜中,較佳為將自上方朝向下方流動之層流賦予至塗佈室。 所製造之顯示器用覆蓋構件1之RSm及θ/Rku,例如可藉由控制使噴嘴流動之空氣之流量、每單位面積噴出之量、層流之流量等而調節。 例如,可藉由減小使噴嘴流動之空氣之流量,而減小粗糙度曲線要素之平均長度(RSm)。使噴嘴流動之空氣之流量較佳為153L/分以下。 例如,可藉由減小每單位面積之塗佈量相對於層流之流量之比即塗佈量(g/m2 )/層流之流量(m2 /分),而減小θ/Rku。塗佈量(g/m2 )/層流之流量(m2 /分)例如較佳為0.18以下。 例如,可藉由減小每單位面積之塗佈量相對於使噴嘴流動之空氣之流量之比即塗佈量(g/m2 )/空氣流量(m2 /分),而增大θ/Rku。塗佈量(g/m2 )/空氣流量(m2 /分)例如較佳為0.05以下。 再者,於使透光板10由強化玻璃板構成之情形時,可於強化玻璃板之上成膜塗膜11,亦可於在玻璃板之上成膜塗膜11之後,藉由化學強化及風冷強化對玻璃板進行強化。 又,於顯示器用覆蓋構件1由具有凹凸面之一個透明構件構成之情形時,可利用對透明構件之主面實施凍結處理、噴砂處理、濕噴砂處理等表面處理而形成所期望之凹凸之方法。 凍結處理係例如藉由使透明構件浸漬於氟化氫與氟化銨之混合溶液中,並對浸漬面進行化學性表面處理,而於透明構件之主面形成凹凸之處理。尤其是,使用氟化氫等藥液之凍結處理,因難以產生被處理體表面中之微裂紋,且難以產生機械強度降低,故而較佳。 噴砂處理係例如藉由將結晶質二氧化矽粉、碳化矽粉等,利用加壓空氣吹送至透明構件表面,而於透明構件之主面形成凹凸之處理。又,以此方式作成凹凸後,為了塑造表面形狀,一般會對玻璃表面進行化學蝕刻。藉由如此操作,而可去除由於噴砂處理等而產生之龜裂。作為蝕刻,較佳為使用使作為被處理體之透明基體浸漬於以氟化氫為主成分之溶液中的方法。 濕噴砂處理係藉由將由氧化鋁等個體粒子構成之研磨粒與水等液體均勻地攪拌而製成漿料,並使用壓縮空氣將其自噴射嘴高速噴射至透明構件之表面,而於透明構件之主面形成凹凸之處理。藉由濕噴砂處理而形成於透明構件之主面之凹凸面之表面粗糙度,主要可藉由漿料所含之研磨粒之粒度分佈及將漿料噴射至透明構件時之噴射壓力而調整。於濕噴砂處理中,於將漿料噴射至透明構件之情形時,因液體將研磨粒搬運至透明構件,故可使用與噴砂處理相比微細之研磨粒,並且研磨粒碰撞至工件時之衝擊變小,可進行精細之加工。 [實施例] 以下,基於具體實施例,進而對本發明進行詳細說明,但本發明完全不限定於以下實施例,於不變更該要旨之範圍內可適當變更實施。 (實施例1~9及比較例1~4) 藉由於強化玻璃平板(日本電氣硝子股份公司製強化玻璃平板,厚度0.7 mm)之上,利用噴霧法塗佈包含氧化矽成分之液體,並使其乾燥,而形成包括氧化矽之塗膜,從而獲得顯示器用覆蓋構件。詳細之條件表示於表1、2。 (凹凸面之表面特性參數之測定) 對實施例1~9及比較例1~4之顯示器用覆蓋構件之凹凸面之JIS B0601-2013所規定的表面特性參數(RSm、θ、Rku、Ra、Rq、Rt、RzJIS、|Rsk|、Rdq),使用非接觸表面∙層斷面形狀計測系統VertScan2.0(Ryoka Systems Inc.製)進行測定。將結果表示於表1、2。 (霧度之測定) 基於JIS K7136-2000,對實施例1~9及比較例1~4之顯示器用覆蓋構件之霧度,使用NDH-5000(日本電色工業股份公司製)進行測定。將結果表示於表1、2。 (光澤度之測定) 基於JIS Z8741-1997,對實施例1~9及比較例1~4之顯示器用覆蓋構件之入射角為60°之光澤度,使用IG-331(堀場製作所公司製)進行測定。將結果表示於表1、2。 (映入程度之評價) 於顯示器用覆蓋構件之背面貼附隱形膠帶(3M公司製),使螢光燈映入至覆蓋構件凹凸面上。進行如下判定,即該被反射之螢光燈較為模糊而完全看不見者為◎,雖稍微看得見但較為模糊者為○,看得見螢光燈但稍微模糊者為△,可清楚地看見螢光燈者為×。將結果表示於表1、2。 (眩光程度之評價) 於像素間距為264 ppi之顯示器之上,配置實施例1~9及比較例1~4之顯示器用覆蓋構件,並觀察眩光程度。此時,進行如下判定,即確認不存在眩光問題者為○,可確認存在眩光問題者為×。將結果表示於表1、2。 (鉛筆硬度之評價) 基於JIS K5600-5-4-1999,對實施例1~9及比較例1~4之顯示器用覆蓋構件之塗膜的鉛筆硬度,使用HEIDON表面性試驗機,於鉛筆角度為45°、刮速為100 mm/分、負載為750g之條件下,使用三菱HI-uni鉛筆進行評價。將結果表示於表1、2。 [表1]
Figure 105129441-A0304-0001
[表2]
Figure 105129441-A0304-0002
實施例1~9因RSm為12.70 μm~17.79 μm、θ為1.81°~5.29°、Rku為2.32~6.99、θ/Rku為0.56°~1.07°,故背景之映入較少且抗眩光性優異。另一方面,比較例1及2因RSm大至32.53 μm、35.25 μm,故可確認存在眩光問題。又,比較例3因θ小至1.14°、θ/Rku小至0.38°,故可確認存在映入問題。又,比較例4因Rku小至2.14、θ/Rku大至1.09°,故可確認存在映入問題。 [產業上之可利用性] 本發明適於背景之映入較少且抗眩光性優異之顯示器用覆蓋構件。
1‧‧‧覆蓋構件 1a‧‧‧第1主面 1b‧‧‧第2主面 2‧‧‧凹凸面 10‧‧‧透光板 10a‧‧‧第1主面 10b‧‧‧第2主面 11‧‧‧塗膜 L‧‧‧中心線
圖1係本發明之一實施形態之顯示器用覆蓋構件之示意性剖視圖。
1‧‧‧覆蓋構件
1a‧‧‧第1主面
1b‧‧‧第2主面
2‧‧‧凹凸面
10‧‧‧透光板
10a‧‧‧第1主面
10b‧‧‧第2主面
11‧‧‧塗膜
L‧‧‧中心線

Claims (14)

  1. 一種顯示器用覆蓋構件,其特徵在於:其中一個主面由凹凸面構成,且上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線要素之平均長度(RSm)為1μm以上30μm以下,上述凹凸面之粗糙度曲線之平均傾斜角(θ)與上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之尖峰值(Rku)的比即θ/Rku為0.40°以上1.08°以下。
  2. 一種顯示器用覆蓋構件,其特徵在於:其中一個主面由凹凸面構成,且上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線要素之平均長度(RSm)為1μm以上30μm以下,上述凹凸面之粗糙度曲線之平均傾斜角(θ)為1.2°以上7°以下,上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之尖峰值(Rku)為2.2以上10以下。
  3. 如請求項1或2之顯示器用覆蓋構件,其中霧度為1%以上50%以下。
  4. 如請求項1或2之顯示器用覆蓋構件,其中上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之算術平均粗糙度(Ra)為0.04μm以上0.25μm以下。
  5. 如請求項1或2之顯示器用覆蓋構件,其中上述凹凸面之JIS B0601-2013所規定之粗糙度曲線之歪度(Rsk)之絕對值即|Rsk|為2以下。
  6. 如請求項1或2之顯示器用覆蓋構件,其具備透光板及塗膜,該塗膜覆 蓋上述透光板之一個主面之至少一部分,構成上述凹凸面。
  7. 如請求項6之顯示器用覆蓋構件,其中上述塗膜覆蓋上述透光板之一個主面之全體。
  8. 如請求項6之顯示器用覆蓋構件,其中上述塗膜由無機膜構成。
  9. 如請求項6之顯示器用覆蓋構件,其中上述塗膜之JIS K5600-5-4-1999所規定之鉛筆硬度為6H以上。
  10. 如請求項6之顯示器用覆蓋構件,其中上述透光板由玻璃板構成。
  11. 如請求項10之顯示器用覆蓋構件,其中上述玻璃板由強化玻璃板構成。
  12. 一種顯示器用覆蓋構件之製造方法,其特徵在於:其係製造請求項1至11中任一項之顯示器用覆蓋構件之方法,於上述透光板之上,藉由噴霧法形成構成上述凹凸面之塗膜。
  13. 如請求項12之顯示器用覆蓋構件之製造方法,其中由玻璃板構成上述透光板,並於形成上述塗膜之後,對上述玻璃板進行化學強化。
  14. 如請求項12之顯示器用覆蓋構件之製造方法,其中使用強化玻璃板作為上述透光板。
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