TWI500940B - Item sorting device - Google Patents
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Description
本發明係關於一種物品分類裝置,詳細而言係關於一種將物品根據分類結果而移載至儲藏庫中所載置之所需之分類托盤的物品分類裝置。
以往,已知有如下之物品分類裝置,其具有載置有多個收容物品之分類托盤的儲藏庫、以及將供應至供應位置之物品根據分類結果而移載至上述儲藏庫中之所需之分類托盤的移載手段(專利文獻1、2)。
其中,於專利文獻1之物品分類裝置中,於設定在儲藏庫之3處的卸載部分別載置有分類托盤,作為移載手段之夾頭將物品移載至該卸載部之分類托盤內,若此後分類托盤內收容有既定數量之物品,則與移載手段分開設置之托盤載具(tray carrier)將空的分類托盤重疊於該分類托盤之上方。
又,專利文獻2之物品分類裝置具有如下之構成:於在儲藏庫之上表面設定有5處之安裝位置上,分別安裝有分類托盤,於其中一個安裝位置上,上下地設置有具有多片可於水平方向往復移動之滑板的種類單元(category unit),且於上述各滑板上分別載置有1個分類托盤。
[先行技術文獻]
專利文獻1:日本登錄第3644567號公報
專利文獻2:日本登錄第4171119號公報
然而專利文獻1中,若物品分類之類別變多,則必須於水平方向上配置多個分類托盤,而使得設置空間增大,且移載手段之動作範圍增大,因此,存在作業時間增加,無法有效地進行分類之問題。
又,因專利文獻1中係利用不同之移載手段進行物品之移載與空托盤之供應,故存在物品分類裝置之構成變得複雜,成本變高之問題。
進而,於專利文獻2中,因於構成上述種類單元之滑板上僅載置有1個分類托盤,無法收容多個物品,故存在每當於分類托盤內收容既定數量之物品時就必須使裝置停止而排出托盤,裝置之運轉效率較差之問題。
鑒於上述問題,本發明提供一種可不侷限於小設置空間而將物品分類為多種類別,且運轉效率良好之物品分類裝置。
即,本發明之物品分類裝置,具備載置有收容物品之複數個分類托盤之儲藏庫、及將供應至供應位置之物品根據分類結果而移載至該儲藏庫中所欲之分類托盤之移載手段,其特徵在於:該儲藏庫具備將分類托盤在複數個排列之狀態下載置之滑板、及將該滑板在上下保持複數段,且使各滑板於水平方向往復移動之驅動機構;進一步在接近該儲藏庫之位置設置保持空的分類托盤之空托盤供應手段;
當該移載手段將物品移載至所欲之分類托盤時,該儲藏庫之驅動機構使滑板移動,而使對應該物品之分類托盤露出;當所欲之分類托盤收容有既定數量之物品時,該儲藏庫之驅動機構使滑板移動,使收容有該既定數量之物品之分類托盤露出,該移載手段保持該空托盤供應手段之空的分類托盤,並將該空的分類托盤重疊於收容有該既定數量之物品之分類托盤之上部。
根據上述發明,藉由上下地設置多段載置有多個分類托盤之滑板,可不侷限於小設置空間而進行多種類別之分類,又藉由將空的分類托盤疊加於收容有既定數量之物品之分類托盤上,可延長連續運轉時間。
進而,因上述移載手段兼用於上述物品之移載與空的分類托盤之補充,故無需設置用以搬送空的分類托盤之另外之搬送手段,可低成本地進行空的分類托盤之補充。
以下,利用圖示實施例說明本發明,圖1至圖3表示對作為物品之LED(Light Emitting Diode,發光二極體)元件1進行分類之物品分類裝置2。
上述物品分類裝置2係由檢查由未圖示之LED製造裝置供應之LED元件1之檢查手段3、保持多個分類托盤4之儲藏庫5、根據檢查結果將LED元件1移送至上述儲藏庫5上所保持之任一分類托盤4之第1移載手段6、及準備供應至上述儲藏庫5之空的分類托盤4之空托盤供應手段7
所構成,其等藉由未圖示之控制手段控制。
LED元件1係製成大致長方形、上表面為平坦之平板狀,根據亮度等之特性或搬送中有無損傷等而分類成多個等級。
於上述分類托盤4上,縱橫地分別形成有多個可收容1個LED元件1之收容部,又如圖2、圖3所示,上述分類托盤4可上下地重疊,而重疊時不會損傷收容於上述收容部之LED元件1。
另外,以下之說明中,X方向係指圖1中之圖示左右方向,Y方向係指圖示上下方向,Z方向係指圖2中之圖示上下方向。
上述檢查手段3係由自收容有多個LED元件1之供應托盤11逐一移載LED元件1之第2移載手段12、及具有多個載置台13a並進行各種作業之旋轉台13所構成。
上述供應托盤11與上述分類托盤4相同,可收容多個LED元件1並上下地重疊,且在收容有LED元件1之供應托盤11重疊有多片之狀態下而供應至相鄰於第2移載手段12之供應載台3A上。
若此後將已供應至該供應載台3A之供應托盤11利用未圖示之搬送手段逐一移動至接近上述旋轉台13之移載載台3B上,且於該移載載台3B上,上述第2移載手段12將全部LED元件1移載至旋轉台13上,則該空的供應托盤11進而重疊於相鄰之排出載台3C上。
上述第2移載手段12係先前公知者故省略詳細之說
明,其係逐一吸附保持移動至上述移載載台3B上之供應托盤11內之LED元件1,且將其移載至上述旋轉台13。
於上述旋轉台13上等間距地設置有各自可載置一個LED元件1之8個載置台13a,該旋轉台13配合於該載置台13a之間距而間歇性地旋轉。
並且,旋轉台13使各載置台13a停止在相鄰於第2移載手段12之供應載台13A、測定上述LED元件1之亮度之亮度測定載台13B、檢查LED元件1之損傷之損傷檢查載台13C、根據其等之檢查結果而將所需之標記賦予於LED元件1之標記載台13D、檢查由標記載台13D所賦予之標記之標記檢查載台13E、及相鄰於上述儲藏庫5之排出載台13F。
於上述亮度測定載台13B上設置有測定LED元件1之亮度之未圖示之測定裝置,又,於上述損傷檢查載台13C上設置有檢查LED元件1有無損傷之未圖示之檢查裝置。
又,於上述標記載台13D上設置有根據上述測定結果或檢查結果而賦予所需之標記的噴墨器或雷射標示器等,於上述標記檢查載台13E上設置有檢查上述標記之未圖示的檢查裝置。
另外,控制手段根據上述亮度測定載台13B、損傷檢查載台13C、標記檢查載台13E之檢查結果,將全部LED元件1分類為A~I等級該9個等級或不良品,合計10種類別,根據該分類結果,上述控制手段控制上述儲藏庫5及第1移載手段6。
再者,本實施例中,將供應至上述檢查手段3之LED元件1之大部份分類為A等級,其他B~G等級之LED元件1以中等程度之頻率產生,H、I等級之LED元件1以更低之頻率產生。
上述儲藏庫5具有可載置多個分類托盤4之5段之第1~第5滑板21A~21E、及保持第1~第5滑板21A~21E並使其等於Y方向往復移動之驅動手段22。
如圖1所示,於第1~第5滑板21A~21E上可載置合計10片分類托盤4,該10片分類托盤4係分別於X方向上載置5片、於Y方向上載置2片;且利用固定於該等第1~第5滑板21A~21E之上表面之制動件21a來保持上述分類托盤4,使其無法移動。
又如圖2、圖3所示,可在位於最上段之第1滑板21A上於Z方向重疊10片分類托盤4,且可於其下方之4個第2~第5滑板21B~21E上分別將5片分類托盤4重疊於Z方向。
本實施例中,第1滑板21A上之10片分類托盤4均收容被分類為A等級之LED元件1,第2滑板21B上之圖3之圖示左側的5片分類托盤4收容B等級之LED元件1,圖示右側之5片分類托盤4收容C等級之LED元件1。
與此相同,第3滑板21C上之圖示左側的5片分類托盤4收容D等級之LED元件1,圖示右側之5片分類托盤4收容E等級之LED元件1,第4滑板21D上之圖示左側的5片分類托盤4收容F等級之LED元件1,圖示右側之5
片分類托盤4收容G等級之LED元件1。
而且,第5滑板21E上,圖示左側之5片分類托盤4中,3片分類托盤4收容H等級之LED元件1,2片分類托盤4收容I等級之LED元件1,圖示右側之5片分類托盤4收容被判定為不良品之LED元件1。
再者,該等分類係一例,根據本實施例之儲藏庫5,最多可分類為50種類別。
上述驅動手段22由保持上述第1~第5滑板21A~21E的框架31、固定於該框架31上的5個馬達32、可旋轉地設置於框架31之兩側面的5組滑輪33、及鋪設於上述馬達32之驅動軸32a與滑輪33之間的傳送帶34構成。
如圖2所示,於上述框架31之內側面,沿Y方向設置有5組滑軌35,於第1~第5滑板21A~21E之X方向兩端部設置有用以沿著該滑軌35移動之滑動構件36。
於上述傳送帶34上連結有上述第1~第5滑板21A~21E之端部,上述馬達32使驅動軸32a旋轉,藉此,隨著傳送帶34之旋轉,滑板於Y方向進退移動。
藉由上述驅動手段22,第1~第5滑板21A~21E通常可分別移動至圖1中之圖示上方(圖3中為圖示左方)之待機位置、僅露出位於圖1之圖示下方(圖3中為圖示右方)的第1列分類托盤4之第1移動位置、及露出位於圖1之圖示上方(圖3中為圖示左方)的第2列分類托盤4之第2移動位置。
再者,圖1、圖3表示上述第3滑板21C已移動至上述
第2移動位置之狀態。
並且,於第1~第5滑板21A~21E上,分別於圖2之圖示右方端設置有被檢測構件37,並於上述框架31上設置有接近感測器38。
並且,若上述第1~第5滑板21A~21E分別停止於待機位置、第1、第2動作位置之各位置上,則上述接近感測器38檢測上述被檢測構件37,而控制手段識別第1~第5滑板21A~21E之位置。
上述第1移載手段6係由吸附保持LED元件1及分類托盤4之第1吸附頭41、以及使該第1吸附頭41於X-Y-Z之各方向移動之第1移動手段42所構成。
圖4係表示自與圖2相同之方向所見之上述第1吸附頭41之放大前視圖,該第1吸附頭41係由固定於上述第1移動手段42上之升降構件43、設置於該升降構件43上之用以吸附保持LED元件1之物品用吸附杯44、設置成相對於升降構件43可於Z方向升降且吸附保持上述分類托盤4之托盤用吸附杯45、及使該托盤用吸附杯45升降之升降手段46所構成。
2個上述物品用吸附杯44沿Y方向設置於保持構件47之下端部,且分別連接於未圖示之負壓產生手段,上述保持構件47係經由2個托架43a、43b而設置於上述升降構件43之下端。又,上述保持構件47係藉由上述托架43a、43b而固定於在X方向上與升降構件43隔離之位置上。
又,上述保持構件47藉由設置於上述托架43b上之軌
道43c及滑件47a可相對於上述升降構件43升降,進而,上述保持構件47具有使上述物品用吸附杯44所保持之LED元件1之衝擊緩和的第1吸收器48、及檢測分類托盤4之偏移的第1檢測手段49。
當物品用吸附杯44自上方吸附保持LED元件1時、及將LED元件1載置於上述分類托盤4之收容部時,上述第1吸收器48容許該物品用吸附杯44上升,從而防止LED元件1之損傷。
上述第1檢測手段49作動以使物品用吸附杯44藉由第1吸收器48而上升既定量以上,經由上述控制手段而產生所需之警告。
其次,上述托盤用吸附杯45係設置於以圍繞上述物品用吸附杯44之方式而設置之大致四角形之框架50的4個角落,且分別連接於未圖示之負壓產生手段。
上述升降手段46係連接於未圖示之空氣供應源之氣缸,上述框架50連結於利用該升降手段46而升降之桿46a之下端。
該升降手段46切換為如下狀態:藉由使上述框架50升降而使物品用吸附杯44突出於下方,並藉由上述托盤用吸附杯45而可吸附保持LED元件1之狀態;及使托盤用吸附杯45突出於較物品用吸附杯44更下方,而可吸附保持分類托盤4之狀態。
又,上述升降手段46固定於具有沿著上述升降構件43上所設之軌道43c上下地移動之滑件51a的支持構件51之
上端,進而,上述桿46a經由滑件46b而沿著支持構件51上所設之軌道51b上下地移動。
如此,固定有上述升降手段46之支持構件51係相對於上述升降構件43升降,藉此,當上述托盤用吸附杯45自上方吸附保持分類托盤4時、及重疊上述分類托盤4時,容許該托盤用吸附杯45之上升。
並且,第1吸附頭41具有用以檢測分類托盤4之偏移等之第2檢測手段52,該第2檢測手段52由設置於上述升降構件43上之接近開關52a、及設置於上述支持構件51上之檢測片52b所構成,若上述支持構件51相對於升降構件43而上升,則檢測片52b與接近開關52a隔離而將該訊號發送至控制手段。
上述第1移動手段42如圖1所示具有沿X方向架設於框架31之上部之X方向軌道53、設置於Y方向之Y方向軌道54、及設置於Z方向之Z方向軌道55。
上述Y方向軌道54藉由未圖示之驅動手段而沿著上述X方向軌道53在X方向上移動,上述Z方向軌道55藉由未圖示之驅動手段沿著上述Y方向軌道54在Y方向上移動,上述第1吸附頭41藉由未圖示之驅動手段沿著上述Z方向軌道55在Z方向上移動。
上述X方向軌道53如圖2所示,使上述第1吸附頭41自上述旋轉台13之排出載台13F之位置跨及上述第1~第5滑板21A~21E上所載置之圖示右方端之分類托盤4而移動。
又,上述Y方向軌道54如圖3所示,使上述第1吸附頭41在較位於上述待機位置之第1~第5滑板21A~21E更靠近圖示右方側於僅露出1行之分類托盤4的範圍內移動。
換言之,第1吸附頭41係於水平之X-Y方向上,在移動至上述第1移動位置之滑板上之第1行的5個分類托盤4、或移動至上述第2移動位置之滑板上之第2行的5個分類托盤4可載置LED元件1之範圍內移動。
並且,上述Z方向軌道55如圖2所示,對上述第1吸附頭41分別確保如下衝程:上述物品用吸附杯44於上述旋轉台13之排出載台13F上吸附保持LED元件1並將其收納於分類托盤4內之衝程;及上述托盤用吸附杯45吸附保持上述空托盤供應手段7上所保持之空的分類托盤4並將其供應至最上段之第1滑板21A之衝程。
上述空托盤供應手段7係設置於上述第1~第5滑板21A~21E之下方,且設置於上述第1吸附頭41藉由第1移動手段42而可於X-Y方向移動之範圍的下方。
空托盤供應手段7係由設置於框架61上且載置上述分類托盤4之平台62、及使該平台62相對於上述框架31而升降之多段氣缸63所構成。
上述平台62上,可如圖2、圖3所示,使分類托盤4以X方向上為3個、Y方向上為1個之方式排列,於其上部可分別將10片左右之空的分類托盤4以重疊之狀態而載置。
上述多段氣缸63連接於未圖示之空氣供應源,可使上述平台階段性地上升,以載置於平台62之分類托盤4中之最上段之分類托盤4維持一定高度之方式使平台62緩緩上升,且最上段之分類托盤4保持於不干擾上述第5滑板21E之高度。
以下,就具有上述構成之物品分類裝置2之動作進行說明。
首先,分別將10片空分類托盤4以排列之狀態下載置於儲藏庫5中之第1~第5滑板21A~21E上,該等分類托盤4並不沿Z方向重疊而是逐一載置,該等係由作業人員以人工作業而進行。
另一方面,上述檢查手段3中,自未圖示之LED製造裝置收容有LED元件1之供應托盤11以重疊有多段之狀態而供應至供應載台3A上,且將其中的最下段之供應托盤11移動至移載載台3B。
從而,上述第2移載手段12逐一吸附保持供應托盤11內之LED元件1,且將其移載至停止於上述供應載台13A的旋轉台13之載置台13a上。
此後,若自移載載台3B之供應托盤11移載全部LED元件1,則該供應托盤11被移動且重疊於相鄰之排出載台3C上。
其次,若LED元件1移載至上述旋轉台13之位於供應載台13A的載置台13a上,則旋轉台13間歇性地旋轉,分別利用上述亮度測定載台13B進行亮度之測定、及利用損
傷檢查載台13C進行損傷有無之檢查,於上述標記載台13D根據上述測定結果及檢查結果賦予所需之標記。
此後,若於標記檢查載台13E檢查賦予LED元件1之標記,則控制手段根據其等之結果對各LED元件1進行A~I等級或不良品之判定,將該LED元件1向上述排出載台13F搬送。
首先,當搬送至排出載台13F之LED元件1被判定為A等級時,控制手段控制上述儲藏庫5之驅動手段22,使第1滑板21A自待機位置移動至第1停止位置。
另一方面,上述第1移載手段6中,上述第1吸附頭41之托盤用吸附杯45藉由升降手段46退開至物品用吸附杯44之上方,於此狀態下,上述第1移動手段42使第1吸附頭41移動至排出載台13F之上方。
此後,若第1吸附頭41下降而物品用吸附杯44吸附保持LED元件1,則藉由第1移動手段42使第1吸附頭41上升、X-Y移動、下降,從而將LED元件1收容於位於上述第1停止位置之第1滑板21A中之第1列分類托盤4內。
其次,若例如被判定為等級D之LED元件1位於排出載台13F,則控制手段控制上述儲藏庫5,而使上述第1滑板21A移動至待機位置並使第3滑板21C移動至第2停止位置(圖3之狀態)。
藉此,使對應於等級D之分類托盤4位於第1吸附頭41之移動範圍之下方,上述第1移載手段6吸附保持排出載台13F之LED元件1,從而將其收容於第3滑板21C中
之第2列分類托盤4內。
此處,當載置於第1~第5滑板21A~21E上之各分類托盤4收容最初之LED元件1時,控制手段確認分類托盤4之偏移。
若詳細說明,即,控制手段使吸附保持有LED元件1之第1吸附頭41低速地下降,且分類托盤4無偏移地載置於滑板上時,LED元件1無阻抗地被收容於分類托盤4之收容部,因此雖然上述物品用吸附杯44藉由第1吸收器48略微上升,但上述第1檢測手段49並不作動。
另一方面,上述分類托盤4於偏移之狀態下載置於滑板上時,因上述LED元件1會干擾分類托盤4之收容部,故上述物品用吸附杯44藉由上述第1吸收器48而上升了既定量以上,且上述第1檢測手段49作動。
從而,控制手段利用未圖示之警報手段輸出表示分類托盤4有偏移之警告,作業人員以人工修正該分類托盤4之偏移。
此後,控制手段根據位於排出載台13F之LED元件1之等級來控制上述儲藏庫5,使載置有對應於該LED元件1之等級之分類托盤4的滑板移動至第1、第2移動位置,進而控制第1移載手段6而使該LED元件1收容至對應之分類托盤4。
控制手段儲存各分類托盤4內所收容之LED元件1之數量及收容之位置,例如若於第1滑板21A上之第1片分類托盤4內收容既定數量之LED元件1,則第1移載手段6
將LED元件1收容於相鄰之分類托盤4內。
此後,若於上述第1滑板21A中之圖1中之第1列的全部5片分類托盤4內收容所需數量之LED元件1,則控制手段此後使第1滑板21A移動至第2移動位置,此次使第2列之5片分類托盤4收容LED元件1。
再者,當同等級之LED元件1連續地供應至排出載台13F時,無需每次均使第1~第5滑板21A~21E移動至待機位置,而亦可使其仍位於第1移動位置或第2移動位置。
此後,例如若於第1滑板21A之全部10片分類托盤4內收容LED元件1,則進行將上述空托盤供應手段7之空的分類托盤4重疊於收容有該LED元件1之分類托盤4上之作業。
具體而言,控制手段控制上述儲藏庫5,使全部第1~第5滑板21A~21E移動至待機位置,控制上述第1移載手段6,藉由第1吸附頭41之升降手段46而使托盤用吸附杯45下降至物品用吸附杯44之下方。
繼而,控制手段利用第1移載手段6之托盤用吸附杯45,來吸附保持上述空托盤供應手段7上所重疊之空的分類托盤4中之最上段之分類托盤4,使該空之分類托盤4上升至第1滑板21A之上方。
從而,控制手段使第1滑板21A移動至第1移動位置,並於該狀態下利用上述第1移載手段6將空的分類托盤4重疊於收容有LED元件1之分類托盤4之上段。
此時,控制手段儲存各滑板上所載置之分類托盤4之
重疊的片數,並且預先登錄重疊分類托盤4時之每段的第1吸附頭41之行程量。
因此,將第2片分類托盤4重疊於第1滑板21A上所載置之第1片分類托盤4上時,吸附保持有上述分類托盤4之第1吸附頭41僅下降預先設定之行程。
此時,於第1片分類托盤4與第2片分類托盤4無偏移地載置之情形下,第1吸附頭41僅下降上述設定之行程,若第2片分類托盤4無阻抗地重疊於第1片分類托盤4上,則托盤吸附用杯45藉由支持構件51而略微上升,第2檢測手段52作動。
於如上所述使第1吸附頭41僅下降既定之行程之後第2檢測手段52作動時,控制手段判定第1片分類托盤4係無偏移地載置,且第2片分類托盤4正常地重疊。
另一方面,當第1片分類托盤4與第2片分類托盤4於有偏移之狀態下載置之情形時,於第1吸附頭41僅下降上述設定之行程之前,第2片分類托盤4干擾第1片分類托盤4,第2檢測手段52作動。
控制手段係於如上所述使第1吸附頭41僅下降既定之行程之前第2檢測手段52作動之情形時,判定第1片分類托盤4與第2片分類托盤4有偏移地載置,且產生所需之警告。
另一方面,當因某些原因第1片分類托盤4未載置於滑板上之情形時,即便第1吸附頭41僅下降上述設定之行程,第2檢測手段52亦不作動。
控制手段於即便如上所述使第1吸附頭41僅下降既定之行程而第2檢測手段52亦不作動之情形時,判定第1片分類托盤4未載置於滑板上,且產生所需之警告。
如此,若於已移動至第1移動位置之第1滑板21A之第1列之5片分類托盤4的上部分別重疊空分類托盤4,則此次使第1滑板21A移動至第2移動位置,同樣,於第2列之5片分類托盤4之上部分別重疊空的分類托盤4。
又,例如於第3滑板21C之位於第2列之對應於等級D的5片分類托盤4內收容有既定數量之LED元件1之情形時,控制手段亦使第3滑板21C移動至第2移動位置,在對應於等級D之第2列的5片分類托盤4之上部分別重疊空的分類托盤4。
另一方面,控制手段控制上述空托盤供應手段7,利用上述多段氣缸63使平台62僅上升既定量,使得以重疊於平台62上之狀態而載置之空的分類托盤4中,位於最上段之分類托盤4維持既定之高度。
而且,若藉由反覆進行上述作業,而使第1滑板21A上重疊10片分類托盤4、或第2~第5滑板21B~21E中之任一滑板上重疊5片分類托盤4,則控制手段使物品分類裝置2停止。
而且,若作業人員除去該以既定片數重疊之分類托盤4,取而代之,重新載置1片空的分類托盤4,則再次開始上述之作業而進行LED元件1之分類。
此時,因分類托盤4藉由上述第1檢測手段49及第2
檢測手段52判明為無偏移,故而,於該重疊之分類托盤4內收容最初之LED元件1時,無需如上所述使上述第1吸附頭41以低速下降。
又,當上述空托盤供應手段7之分類托盤4不存在時,控制手段亦使物品分類裝置2停止,作業人員補充空的分類托盤4。
如以上所述,根據上述實施例之物品分類裝置2,可於上述儲藏庫5中設置多片第1~第5滑板21A~21E,且分別載置多片分類托盤4,藉此即便設置空間較小亦可將LED元件1分類為多種類別。
又,若於所需之分類托盤4內收容既定數量之LED元件1,則因於該分類托盤4之上方重疊有由上述空托盤供應手段7所保持之空分類托盤4,故可延長物品分類裝置2之運轉時間。
此處,因上述空的分類托盤4係利用移載上述LED元件1之第1吸附頭41而重疊,故無需設置用以搬送空分類托盤4之另外之搬送手段,可低成本地進行空的分類托盤4之補充。
進而,藉由上述儲藏庫5,將第1~第5滑板21A~21E自待機位置移動至第1、第2移動位置,從而,滑板之分類托盤4逐列地露出,上述第1移載手段中之第1吸附頭41之移動範圍設定為該露出之1列分類托盤4之範圍內,因此,可將該第1吸附頭41之移動範圍成為最小限度,而有效地進行分類。
再者,上述實施例中,係移載作為物品之LED元件1,但被移載之物品當然不僅限於LED元件1,又,關於上述檢查手段3中之LED元件1之檢查內容,亦當然不僅限於上述實施例。
又,本實施例中,設置有5片第1~第5滑板21A~21E,但並不僅限於此片數,又,載置於各滑板上之分類托盤4之數量,亦不僅限於縱方向上5片、橫方向上2片。
例如,於橫方向排列有3個之情形時,上述驅動手段22可使滑板位於第1行分類托盤4露出之第1停止位置、第2行分類托盤4露出之第2停止位置、及第3行分類托盤4露出之第3停止位置上。
進而,上述實施例中,上述第1移載手段6中之第1吸附頭41之移動範圍為露出之1列分類托盤4之範圍,但亦可於作業時間不變長之範圍內,將該移動範圍設為2列以上之多列分類托盤4之範圍。
另外,對於上述實施例,亦可不預先由作業人員以人工將分類托盤4載置於第1~第5滑板21A~21E之各個上,而是由上述第1移載手段6吸附保持上述空托盤供應手段7上所保持之分類托盤4,並將其載置於第1~第5滑板21A~21E之各個上。
1‧‧‧LED元件
2‧‧‧物品分類裝置
3‧‧‧檢查手段
4‧‧‧分類托盤
5‧‧‧儲藏庫
6‧‧‧第1移載手段
7‧‧‧空托盤供應手段
3A、13A‧‧‧供應載台
3B‧‧‧移載載台
3C、13F‧‧‧排出載台
11‧‧‧供應托盤
12‧‧‧第2移載手段
13‧‧‧旋轉台
13a‧‧‧載置台
13B‧‧‧亮度測定載台
13C‧‧‧損傷檢查載台
13D‧‧‧標記載台
13E‧‧‧標記檢查載台
21a‧‧‧制動件
21A~21E‧‧‧第1~第5滑板
22‧‧‧驅動手段
31、50、61‧‧‧框架
32‧‧‧馬達
32a‧‧‧驅動軸
33‧‧‧滑輪
34‧‧‧傳送帶
35‧‧‧滑軌
36‧‧‧滑動構件
37‧‧‧被檢測構件
38‧‧‧接近感測器
41‧‧‧第1吸附頭
42‧‧‧第1移動手段
43‧‧‧升降構件
43a、43b‧‧‧托架
43c、51b‧‧‧軌道
44‧‧‧物品用吸附杯
45‧‧‧托盤用吸附杯
46‧‧‧升降手段
46a‧‧‧桿
46b、47a、51a‧‧‧滑件
47‧‧‧保持構件
48‧‧‧第1吸收器
49‧‧‧第1檢測手段
51‧‧‧支持構件
52‧‧‧第2檢測手段
52a‧‧‧接近開關
52b‧‧‧檢測片
53‧‧‧X方向軌道
54‧‧‧Y方向軌道
55‧‧‧Z方向軌道
62‧‧‧平台
63‧‧‧多段氣缸
圖1係本實施例之物品分類裝置之俯視圖。
圖2係物品分類裝置之前視圖。
圖3係物品分類裝置之側視圖。
圖4係第1吸附頭之放大圖。
1‧‧‧LED元件
2‧‧‧物品分類裝置
4‧‧‧分類托盤
5‧‧‧儲藏庫
6‧‧‧第1移載手段
7‧‧‧空托盤供應手段
21A~21E‧‧‧第1~第5滑板
31、61‧‧‧框架
41‧‧‧第1吸附頭
42‧‧‧第1移動手段
44‧‧‧物品用吸附杯
45‧‧‧托盤用吸附杯
54‧‧‧Y方向軌道
55‧‧‧Z方向軌道
62‧‧‧平台
63‧‧‧多段氣缸
Claims (5)
- 一種物品分類裝置,具備載置有收容物品之複數個分類托盤之儲藏庫、及將供應至供應位置之物品根據分類結果而移載至該儲藏庫中所欲之分類托盤之移載手段,其特徵在於:該儲藏庫具備將分類托盤在複數個排列之狀態下載置之滑板、及將該滑板在上下保持複數段,且使各滑板於水平方向往復移動之驅動機構;進一步在接近該儲藏庫之位置設置保持空的分類托盤之空托盤供應手段;當該移載手段將物品移載至所欲之分類托盤時,該儲藏庫之驅動機構使滑板移動,而使對應該物品之分類托盤露出;當所欲之分類托盤收容有既定數量之物品時,該儲藏庫之驅動機構使滑板移動,使收容有該既定數量之物品之分類托盤露出,該移載手段保持該空托盤供應手段之空的分類托盤,並將該空的分類托盤重疊於收容有該既定數量之物品之分類托盤之上部。
- 如申請專利範圍第1項之物品分類裝置,其中,將該分類托盤在於行方向及列方向分別複數個排列之狀態下載置於各滑板,該儲藏庫之驅動機構使各滑板移動至複數個滑板上下重疊之退開位置、及自該退開位置於列方向移動而排列之該分類托盤露出之移動位置;將該移載手段之作動範圍設定成可將物品移載至因該 滑板自退開位置移動至該移動位置而露出之1行量之分類托盤之範圍。
- 如申請專利範圍第2項之物品分類裝置,其中,該空托盤供應手段將該空的分類托盤保持於較該儲藏庫中最下段之滑板更下方之位置;且若該儲藏庫中所有滑板位於該退開位置,則空的分類托盤在該移載手段之作動範圍內露出。
- 如申請專利範圍第1或2項之物品分類裝置,其中,該移載手段具備吸附保持該物品之物品用吸附杯、吸附保持該分類托盤之托盤用吸附杯、及切換該物品用吸附杯與托盤用吸附杯之相對高度之升降手段;當吸附保持物品時,該升降手段使該物品用吸附杯突出於下方,當吸附保持空的分類托盤時,使該托盤用吸附杯突出於下方。
- 如申請專利範圍第3項之物品分類裝置,其中,該移載手段具備吸附保持該物品之物品用吸附杯、吸附保持該分類托盤之托盤用吸附杯、及切換該物品用吸附杯與托盤用吸附杯之相對高度之升降手段;當吸附保持物品時,該升降手段使該物品用吸附杯突出於下方,當吸附保持空的分類托盤時,使該托盤用吸附杯突出於下方。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57211746A (en) * | 1981-06-23 | 1982-12-25 | Fujitsu Ltd | Wafer conveying apparatus |
JP2000162271A (ja) * | 1998-11-25 | 2000-06-16 | Advantest Corp | カテゴリーユニット、部品ハンドリング装置および部品の分類方法 |
JP2000206191A (ja) * | 1999-01-11 | 2000-07-28 | Advantest Corp | 電子部品基板の試験装置 |
JP2003267552A (ja) * | 2002-03-15 | 2003-09-25 | Yamaha Motor Co Ltd | 部品取り出し方法および部品収納装置 |
Family Cites Families (5)
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---|---|---|---|---|
JP3739844B2 (ja) * | 1995-12-19 | 2006-01-25 | 株式会社アドバンテスト | ハンドラ装置のストッカ部 |
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---|---|---|---|---|
JPS57211746A (en) * | 1981-06-23 | 1982-12-25 | Fujitsu Ltd | Wafer conveying apparatus |
JP2000162271A (ja) * | 1998-11-25 | 2000-06-16 | Advantest Corp | カテゴリーユニット、部品ハンドリング装置および部品の分類方法 |
JP2000206191A (ja) * | 1999-01-11 | 2000-07-28 | Advantest Corp | 電子部品基板の試験装置 |
JP2003267552A (ja) * | 2002-03-15 | 2003-09-25 | Yamaha Motor Co Ltd | 部品取り出し方法および部品収納装置 |
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