TWI443328B - 光學檢測裝置 - Google Patents

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TWI443328B TW100116681A TW100116681A TWI443328B TW I443328 B TWI443328 B TW I443328B TW 100116681 A TW100116681 A TW 100116681A TW 100116681 A TW100116681 A TW 100116681A TW I443328 B TWI443328 B TW I443328B
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Cooper S K Kuo
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Description

光學檢測裝置
本發明概言之關於光學檢測，更特定而言係關於一種用於檢測相關之物件的缺陷或特徵的裝置。
例如液晶顯示器(Liquid crystal display，「LCD」)裝置的顯示裝置，係用於電子式顯示包括文字、影像及動畫的資訊。LCD可以包括一些疊層，例如可判定該LCD的品質之偏光濾光板、玻璃基板、彩色濾光板、液晶及反射表面。為了檢查一LCD是否合格，也就是說，該LCD是否具有少於預定數量之缺陷，有時候採用肉眼來檢測。但是，肉眼檢測在LCD的大量生產中代表耗時、耗工及不準確。再者，隨著半導體製造的進步，由肉眼檢測來檢驗具較小尺寸特徵之LCD產品變得更為困難。因此，已經開發出用於自動檢測LCD面板的檢測系統或裝置。然而，一些自動掃描系統可能無法辨識除非在一特定方向上觀看才能看到或偵測到的光學特性之缺陷。另外，在檢測程序期間，外來物質(例如塵土或灰塵等)可能被錯認為缺陷。再者，在檢測之前可能需要手動開啟面板，這使得這種掃描系統並非如此自動化。
因此需要提供一種能夠辨識光學特性的缺陷，且在檢測期間能夠移除面板表面上的外來物質之裝置。另外，亦需要提供一種能夠供應電力給檢測中的面板之裝置。
本發明之範例可提供一種光學檢測裝置。該裝置包含一平台，其在第一方向上延伸的；一傳送單元，用於在該第一方向上由其一輸入埠輸送至少一載板至一輸出埠，該至少一載板之每一者用於支撐要被檢測的至少一物件其中之一；一第一偵測器，其設置在該平台之上，並在與該第一方向垂直的第二方向上延伸，用於檢測在該至少一載板上的該至少一物件，該第一偵測器包括一第一掃描器，其在該第二方向上延伸於該輸入埠與該輸出埠之間；以及一第一滾輪組，其位在該第一掃描器與該輸入埠之間，用於施加力量至該至少一物件之每一者的表面上。
本發明之範例亦可提供一種光學檢測裝置。該裝置包括一第一裝置單元，其包含：一第一平台，其在第一方向上延伸；一第一傳送單元，用於在該第一方向上由其一第一輸入埠輸送一載板至一第一輸出埠；以及一第一偵測器，其設置在該第一平台之上，並在與該第一方向垂直的第二方向上延伸，用於縱向地檢測在該載板上的一物件；以及一第二裝置單元，其包含：一第二平台，其在該第二方向上延伸；一第二傳送單元，用於在該第二方向上由其一第二輸入埠輸送該載板至一第二輸出埠；以及一第二偵測器，其設置在該第二平台之上，並在該第一方向上延伸，用於橫向地檢測在該載板上的該物件。
本發明之範例另可以提供一種光學檢測裝置。該裝置包括一平台，其在第一方向上延伸；一第一偵測器，其設置在該平台之上，並在與該第一方向垂直的第二方向上延伸，用於檢測一物件；以及一傳送單元，用於在該第一方向上由其一輸入埠輸送一載板至一輸出埠，其中該載板具有一第一表面以支撐在其上的該物件，及一第二表面，在其上提供一電力控制單元以控制對該物件的電力供應，該載板包括在該第二表面上的一對導電軌，用於在檢測期間當該載板由該傳送單元輸送時，經由該傳送單元電氣耦合該電力控制單元至一電源。
於下文的說明中將部份提出本發明的其他特點與優點，而且從該說明中將瞭解本發明其中一部份，或者藉由實施本發明亦可習得。藉由隨附之申請專利範圍中特別列出的元件與組合將可瞭解且達成本發明的特點與優點。
應該瞭解的係，上文的概要說明以及下文的詳細說明都僅供作例示與解釋，其並未限制本文所主張之發明。
現將詳細參照於本發明範例，其範例圖解於附圖之中。盡其可能，所有圖式中將依相同元件符號以代表相同或類似的部件。
圖1為根據本發明一範例之光學檢測裝置20的示意圖。請參照圖1，裝置20可包括一平台21、一偵測器22、一清洗器23、一傳送單元24、複數載板25-1、25-2與25-3用於在檢測時分別承載物件26-1、26-2與26-3、及一控制器27。
平台21可做為光學檢測用的工作台。在根據本發明的一範例中，平台21可包括一金屬架構，並延伸於第一方向上。再者，平台21之長度可設計成允許排列例如六個物件。
傳送單元24可包括一組輸送帶241及導軌(未示出)，用於在該第一方向上由其一輸入埠242輸送物件26-1到26-3至一輸出埠243。
偵測器22可包括一或多個掃描器用於檢測物件26-1到26-3。該掃描器可包括由Cooper S. K. Kuo與Ron Tsai(與本申請案之發明人相同)在2010年3月26日立案的美國專利申請編號12/732,586(名為「檢測系統(Inspection System)」)中描述與例示的掃描器。偵測器22可以設置在平台21之上，並於實質上與該第一方向垂直的第二方向上延伸。
清洗器23可用於移除外來物質，例如由於環境因素而於檢測時附著在一物件的表面上之灰塵或塵土。這些外來物質如果未經適當地移除會被偵測器22偵測到，並會在檢測時被誤認為該物件之缺陷，其在當需要高的缺陷辨識率時無法被接受。清洗器23可設置在輸入埠242與偵測器22之間，並可延伸於第二方向上。
圖2為圖1所例示之裝置20的清洗器23之放大圖。請參照圖2，清洗器23可包括一離子移除器231與一空氣刀232。離子移除器231設置在輸入埠242與空氣刀232之間，其可在當物件26-1在第一方向上朝向偵測器22傳送時，在檢測時去離子化一物件上所不需要的或外來的物質，例如物件26-1。然後，該等去離子化的粒子可由來自空氣刀232的氣流輕易地移除。在根據本發明之一範例中，離子移除器231可包括但不限於HAUG IonizationTM 所生產的離子化棒「EI RN」，而空氣刀232可包括但不限於NEX FLOWTM 所生產的「silentx-streamTM air bladeTM 」空氣刀。
請回到圖1，載板25-1到25-3之尺寸適合於支撐物件26-1到26-3，並配合在例如傳送單元24的導軌內。在根據本發明之一範例中，其更在以下討論，物件26-1到26-3可包括但不限於液晶顯示器(LCD)面板，其尺寸例如為13”、14”及15”。載板25-1到25-3之尺寸可配合不同尺寸的LCD面板。再者，亦如以下將討論者，載板25-1到25-3可由一外部電源經由傳送單元24來供電，藉以開啟該等LCD面板來促進檢測。
控制器27可耦合於清洗器23、偵測器22與一組感測器(未示出)，藉以控制檢測的進行。該組感測器可設置在平台21中所需的位置處以便於檢測。另外，控制器27可配置成由偵測器22收集關聯於一物件之已掃描的資料，分析該已掃描的資料，並即時地在一螢幕(未示出)上顯示一特定物件的檢測結果。
在操作時，第一物件26-1與第一載板25-1在它們共同放置在輸入埠242處之前被定位在第一載板25-1上。然後第一物件26-1由傳送單元24在第一方向上朝向輸出埠243傳送。藉助於一第一感測器(未示出)，第一物件26-1在當其靠近清洗器23汲出時被偵測到，然後控制器27可回應於要到達的第一物件26-1而使清洗器23運作。接著，第一物件26-1可由偵測器22進行掃描。藉助於一第二偵測器(未示出)，可辨識出將第一物件26-1與其它物件區分出來之關聯於第一物件26-1之一第一條碼(未示出)。該已掃描的資料與該已辨識出的條碼可由控制器27收集。在根據本發明之一範例中，當第一物件26-1後續行進到輸出埠243時，可同時顯示第一物件26-1的該已掃描的資料。另外，控制器27可使得一警報裝置(未示出)在當一物件之缺陷數目超過一預定值時發出警示聲音或燈號。
第二物件26-2連同第二載板25-2可在當第一物件26-1沿著第一方向行進時被放置在輸入埠242處。例如，第二物件26-2可在當第一物件26-1到達清洗器23或偵測器22時被放置在輸入埠242處。同樣地，第三物件26-3可在當第二物件26-2在稍後到達清洗器23或偵測器22時被放置在輸入埠242處。另外，一物件在當到達輸出埠243時將被拾取，以預留空間給後續物件。
圖3A為圖1所例示之裝置20的偵測器22之俯視圖。請參照圖3A，偵測器22可包括一第一掃描器221與一第二掃描器222，其由一支撐結構220固持於平台21之上所需的高度處。第一與第二掃描器221、222可延伸於該第二方向，且如本範例所示，當物件26-1在第一方向上行進時縱向地掃描物件26-1。第一與第二掃描器221、222之每一者可包括配置在第二方向上的一些掃描單元，其足以覆蓋物件26-1的寬度。
圖3B為圖1所例示之裝置20的偵測器22之後視立面圖。請參照圖3B，裝置20更可包括一第一調整工具22H來調整偵測器22相對於平台21或一物件之高度。具體而言，偵測器22可被調整成向上或向下移動到在實質上與該第一方向及該第二方向垂直的第三方向上的一所需的高度處。
再者，裝置20亦可包括一第二調整工具22R，用於調整一組滾輪(未示出)在檢測時施加於一物件之表面上的力量，其將在以下參照圖3C進行討論。另外，裝置20仍可包括一或多個第三調整工具22A，藉以調整第一與第二掃描器221、222在檢測時相對於一物件之表面的法線方向之角度。
圖3C為圖1所例示之裝置20的左側示意圖。請參照圖3C，設置在支撐結構220(如虛線所示)處的一第三感測器S3可偵測與物件26-1的表面之距離D1 。距離D1 可由控制器27分析，以判定偵測器22是否到達所需要的高度。如果否，偵測器22以及第一與第二掃描器221、222可經由第一調整工具22H被調整到所需要的高度。在一範例中，第一調整工具22H可允許手動調整。在另一範例中，第一調整工具22H可允許藉由輸入一命令至控制器27而由控制器27進行調整。
關聯於偵測器22的第一組滾輪228可配置在輸入埠242與第一掃描器221之間以壓住物件26-1的表面，藉以便於在檢測程序中的後續掃描。在掃描之前按壓一物件可降低將一良好的像素點誤認為缺陷(反之亦然)的風險，特別是在當一物件由於例如製造因素而有翹曲表面的情況。此外，須藉外力才能顯像之異物，亦能經由第一組滾輪228對於物件26-1的表面所施加的壓力而顯像，而被第一掃描器221偵測到。另外，利用來自第一組滾輪228的壓力，在一物件內的缺陷在被壓住的區域中可更容易地與正常的像素辨識與區別出來。在本範例中，在第一組滾輪228與第一掃描器221之間被壓住的一區域中的缺陷y1可變得更容易偵測。再者，為了均勻地按壓一物件之表面，第一組滾輪228可被配置成延伸於第二方向上，並覆蓋在第一方向上縱向行進的該物件之寬度。滾輪228施加於物件26-1之表面上的力量或壓力可由控制器27分析，並經由第二調整工具22R進行調整，其可由手動或由控制器27進行。
圖3D為根據本發明另一範例如圖1所例示之裝置20的左側示意圖。請參照圖3D，偵測器22更可包括設置在第二掃描器222與傳送單元24之輸出埠243之間的第二組滾輪229。在本發明之一範例中，第二組滾輪229與第二掃描器222之間的缺陷y2 可變得更容易偵測。另外，第二組滾輪229可由第四調整工具23R以類似於第一組滾輪228的方式固持與調整。
圖3E為根據本發明一範例之一滾輪調整機構的示意圖。請參照圖3E，該滾輪調整機構可包括第二調整工具22R與第一組滾輪228。第二調整工具22R可包括一滾輪支撐227用於支撐第一組滾輪228。在本範例中，滾輪支撐227包括一組滾輪支撐單元227R，其每一者支撐第一組滾輪228中相對應者。另外，每個滾輪支撐單元227R可為伸縮狀，所以可調整一相對於物件26-1的對應滾輪的高度以及該對應滾輪施加於物件26-1之表面上的力量。在如圖3E所例示之非平面表面的情況下，藉由調整滾輪支撐單元227R之每一者，即可達到橫跨該非平面表面的均勻壓力。
圖3F為根據本發明另一範例之一滾輪調整機構的示意圖。請參照圖3F，該滾輪調整機構可包括一滾輪支撐327與一單一滾輪328。滾輪328可採用圓柱形式，在其上具有多個直線溝槽329。滾輪327施加於物件26-1上的力量可由滾輪支撐327在第三方向上的伸縮移動來控制。
圖3G為根據本發明又另一範例之一滾輪調整機構的示意圖。請參照圖3G，該滾輪調整機構可包括一單一滾輪428，在其上具有對角線溝槽429。
請回頭參照圖3C，第一掃描器221可被固持於第三調整工具22A其中之一當中。第一掃描器221與物件26-1的表面之法線方向(在本範例中為第三方向)之間的角度可經由相關的第三調整工具22A調整。具體而言，第一掃描器221可環繞第一軸X1被旋轉至一第一需要角度，其可由手動或藉由控制器27進行。
同樣地，第二掃描器222可被固持於第三調整工具22A之另一者中。第二掃描器222與物件26-1的表面之法線方向之間的角度可經由相關的第三調整工具22A調整。具體而言，第二掃描器222可環繞一第二軸X2被旋轉到一第二需要角度，其可由手動或藉由控制器27進行。在根據本發明之一範例中，每個掃描器221、222可旋轉的角度的範圍由大約負30度到正30度(±30°)。例如，第一掃描器221相對於一法線LN 可在範圍由0到30度的第一角度A1 內旋轉，而第二掃描器222相對於法線LN 可在範圍由0到-30度的第二角度A2 內旋轉該視角調整可便於進行全方向的偵測，所以可以一特定角度偵測像是灰塵或具有一光學方向的刮痕之缺陷。
圖4為根據本發明另一範例之光學檢測裝置30的示意圖。請參照圖4，裝置30可類似於參照圖1所描述及例示的裝置20，除了例如加入另一偵測器32。具體而言，裝置30包括輸入埠242與輸出埠243之間的一第一掃描器22，及第一偵測器22與輸出埠242之間的一第二偵測器32。另外，第二偵測器32之結構與功能可類似或相同於第一偵測器22，因此不更做討論。裝置30可應用於當被檢測中的一物件具有多個相關層時的方案，其中需要對一物件進行冗餘掃描，或需要快速掃描。在快速掃描方案中，第一與第二偵測器22、32可一次掃描兩個物件。例如，在如圖4所例示之輸送順序中，第二偵測器32可被指定掃描第一物件26-1，而指定第一偵測器22掃描第二物件26-2，藉此加倍掃描速率。本技藝專業人士將瞭解，根據本發明之裝置可在當檢測程序允許時裝設有三個或更多的偵測器。
圖5A及5B為根據本發明又另一範例之光學檢測裝置50的示意性俯視圖。請參照圖5A，裝置50可包括一第一裝置單元51與一第二裝置單元52。在本範例中，第一裝置單元51可包括一清洗器與一對偵測器，且其結構與功能可類似或相同於圖4所例示之裝置30。另外，第二裝置單元52可包括一對偵測器，且其結構與功能可類似於圖4所例示之裝置30，除了第二裝置單元52並未包括如第一裝置單元51的一清洗器，因為在檢測時可附著在一物件表面上的外來物質可能已由第一裝置單元51的清洗器所移除。在另一範例中，第一與第二裝置單元51、52其每一者包括一單一偵測器，並可類似或相同於圖1所例示之裝置20，除了第二裝置單元52可能未包括如第一裝置單元51的清洗器。
第一裝置單元51可配置成在第一方向上傳送物件26-1到26-3，並縱向地掃描它們。因此，由於窄光束照射或者由於僅可沿著第一方向看到及偵測到的缺陷可由第一裝置單元51之該對偵測器或單一偵測器的掃描器偵測到。另一方面，第二裝置單元52可配置成在與該第一方向垂直的第二方向上傳送物件26-1到26-3，並橫向地掃描它們。因此，僅有沿著第二方向可看到與偵測到的缺陷可由第二裝置單元52之該對偵測器或單一偵測器的掃描器偵測到。為了便於這種掃描，第一裝置單元51與第二裝置單元52可配置成在互相垂直的方向上延伸，將第一裝置單元51的輸出埠243耦合於或做為第二裝置單元52的輸入埠242。
在操作時，物件26-1到26-3可放置在第一裝置單元51的輸入埠242處，其每一者之寬度側面向第一裝置單元51的輸出埠243，使得物件26-1到26-3在當它們行進在第一裝置單元51的第一方向上時縱向地進行掃描。現在請參照圖5B，當第一物件26-1到達第一裝置單元51的輸出埠243時，將其長度側面向第二裝置單元52的輸入埠242、物件26-1以及後續的物件26-2與26-3即可在當其行進在第二裝置單元52的第二方向上時橫向地進行掃描。
圖6A為圖1所例示之光學檢測裝置20中載板25-1的俯視立面圖。請參照圖6A，載板25-1具有複數第一開口251、複數第二開口252、複數第三開口253與複數連接器254。第一開口251可藉助插頭而配置成使得載板25-1可被應用到不同尺寸的面板之一樣式。圖7-1到7-6為其中可應用根據本發明之載板25-1的不同尺寸之面板的示意圖。該等面板可包括但不限於13”、14”與15”面板。具體而言，如圖7-1到7-3所例示之該等面板之長寬比為16：9，而圖7-4到7-6所例示之該等面板之長寬比為4：3。
請回頭參照圖6A，第二開口252之形式為在第一方向上延伸的長方形通孔，其可以連接於產品資訊的位置的樣式(例如印刷在一面板之底面上的面板條碼)來配置。該條碼位置可隨著面板尺寸不同而不同。因此，根據面板尺寸，第二開口252其中之一可露出一特定尺寸之面板的條碼。
第三開口253可用於將一面板固定至載板25-1上。類似於第一開口251，第三開口253可將一面板保持在定位，所以該面板在檢測期間不會相對於載板25-1移動。在載板25-1上一面板的位移可能造成檢測錯誤，例如一偵測到的缺陷與其座標之間的不符。
連接器254可包括配置在載板25-1之上方或第一表面25t上的導電墊，藉以在檢測期間經由傳送單元24維持與一外部電源的電氣連接。
圖6B為圖6A所例示之載板25-1的底視圖。請參照圖6B，載板25-1更可包括一電力控制單元60，及在載板25-1的底面或第二表面25b上的一對導電軌61、62。電力控制單元60可控制對一面板之電力供應，例如一光源(像是該面板之背光源)。至少在一檢測周期期間，需要電力控制單元60來開啟該背光源，以便於該面板的掃描，並使得像是亮點或暗點的缺陷可被看到及偵測到。再者，延伸於第一方向上的導電軌61、62可接觸傳送單元24，藉以經由連接器254與傳送單元24電氣耦合電力控制單元60至該外部電源。
圖8A為顯示根據本發明一範例中當其上固定有一第一物件26-1的載板25-1的俯視立面圖。請參照圖8A，一些插頭81之每一者的尺寸能夠緊密配合在第一開口251之內，並被插入至第一開口251的一第一選出的群組中，以將第一尺寸的第一物件26-1固定於載板25-1的第一表面25t上。另外，電氣連接於第一物件26-1的光源的可撓性電路板(Flexible circuit board，「FCB」)82可耦合至連接器254的一選出的組合，藉以開啟該等光源來便於光學檢測。再者，該等光源每一者可包括內含於一磁性金屬外殼中的一冷陰極螢光燈(Cold cathode fluorescence lamp，「CCFL」)。在該例中，插頭81可由磁性材料製成，藉以更固定第一物件26-1。
圖8B為顯示根據本發明一範例中當其上固定有第二物件26-2的載板25-1的俯視立面圖。請參照圖8B，一些插頭81可被插入到第一開口251之一第二選出的群組中，以將第二尺寸的第二物件26-2固定於載板25-1的第一表面25t上。相較於圖8A所例示之第一物件26-1，該第二尺寸小於該第一尺寸。因此，藉助於插頭81及藉由選擇一預定樣式之第一開口251的適當組合，載板251可適用於支撐不同尺寸的面板。
圖8C為顯示根據本發明一範例中當其上固定有第三物件26-3的載板25-1的俯視立面圖。請參照圖8C，一些插頭81可被插入到第一開口251的一第三選出的群組中，以將第三尺寸的第三物件26-3固定在載板25-1的第一表面25t上。再者，第三物件26-3的該等光源每一者可包括可由一塑膠罩所覆蓋的發光二極體(Light emitting diode，「LED」)串。在該例中，其一端在第三開口253中的夾鉗83，即可利用其另一端將第三物件26-3固定在載板25-1的第一表面25t上。
圖9A為圖8A所例示之第一物件26-1的底視圖。請參照圖9A，一條碼92可沿著第一方向印刷在物件26-1的底表面26b上。條碼92可以用於區別26-1與其它物件。為了辨識一面板之條碼，如前所述，可於平台21的一適當位置處裝設一第二感測器。
圖9B為顯示當其上固定有第一物件26-1的載板25-1的底視圖。請參照圖9B，一預定樣式之第二開口252其中之一可露出第一物件26-1的條碼92。條碼92可由該第二感測器偵測到，然後傳送至控制器27。
熟習此項技藝者應即瞭解可對上述各項範例進行變化，而不致悖離其廣義之發明性概念。
更者，在說明本發明之代表性範例時，本說明書可將本發明之方法及/或製程表示為一特定之步驟次序；不過，由於該方法或製程的範圍並不繫於本文所提出之特定的步驟次序，故該方法或製程不應受限於所述之特定步驟次序。身為熟習本技藝者當會了解其它步驟次序也是可行的。所以，不應將本說明書所提出的特定步驟次序視為對申請專利範圍的限制。此外，亦不應將有關本發明之方法及/或製程的申請專利範圍僅限制在以書面所載之步驟次序之實施，熟習此項技藝者易於瞭解，該等次序亦可加以改變，並且仍涵蓋於本發明之精神與範疇之內。
20．．．光學檢測裝置
21．．．平台
22．．．偵測器
22A．．．第三調整工具
22H．．．第一調整工具
22R．．．第二調整工具
220．．．支撐結構
221．．．第一掃描器
222．．．第二掃描器
227．．．滾輪支撐
227R．．．滾輪支撐單元
228．．．第一組滾輪
229．．．第二組滾輪
23．．．清洗器
23R．．．第四調整工具
231．．．離子移除器
232．．．空氣刀
24．．．傳送單元
241．．．輸送帶
242．．．輸入埠
243．．．輸出埠
25-1．．．載板
25-2．．．載板
25-3．．．載板
251．．．第一開口
252．．．第二開口
253．．．第三開口
254．．．連接器
25t．．．上方或第一表面
25b．．．底面或第二表面
26b．．．底表面
26-1．．．物件
26-2．．．物件
26-3．．．物件
27．．．控制器
30．．．光學檢測裝置
32．．．偵測器
327．．．滾輪支撐
328．．．單一滾輪
329．．．直線溝槽
428．．．單一滾輪
429．．．對角線溝槽
50．．．光學檢測裝置
51．．．第一裝置單元
52．．．第二裝置單元
60．．．電力控制單元
61,62．．．導電軌
81．．．插頭
82．．．可撓性電路板
83．．．夾鉗
92．．．條碼
X1．．．第一軸
X2．．．第二軸
S3．．．第三感測器
y1 ．．．缺陷
y2 ．．．缺陷
當併同各隨附圖式而閱覽時，即可更佳瞭解本發明之上文詳細說明。為達本發明之說明目的，各圖式裏圖繪有範例。所繪之精確排置方式及設備裝置。
在各圖式中：
圖1為根據本發明一範例之光學檢測裝置的示意圖；
圖2為圖1所例示之裝置的清洗器之放大圖；
圖3A為圖1所例示之裝置的偵測器之俯視圖；
圖3B為圖3A所例示之裝置的偵測器之後視立面圖；
圖3C為圖1所例示之裝置的左側示意圖；
圖3D為根據本發明另一範例如圖1所例示之裝置的左側示意圖；
圖3E為根據本發明一範例之一滾輪調整機構的示意圖；
圖3F為根據本發明另一範例之一滾輪調整機構的示意圖；
圖3G為根據本發明又另一範例之一滾輪調整機構的示意圖；
圖4為根據本發明另一範例之光學檢測裝置的示意圖；
圖5A及5B為根據本發明又另一範例的光學檢測裝置之示意性俯視圖；
圖6A為圖1所例示之光學檢測裝置中一載板的俯視立面圖；
圖6B為圖6A所例示之載板的底視圖；
圖7-1到7-6為其中可應用根據本發明之載板的不同尺寸之面板的示意圖；
圖8A為顯示根據本發明一範例中當其上固定有一第一物件的一載板的俯視立面圖；
圖8B為顯示根據本發明一範例中當其上固定有一第二物件的該載板的俯視立面圖；
圖8C為顯示根據本發明一範例中當其上固定有一第三物件的該載板的俯視立面圖；
圖9A為圖8A所例示之該第一物件的底視圖；以及
圖9B為顯示當其上固定有該第一物件的該載板的底視圖。
20．．．光學檢測裝置
21．．．平台
22．．．偵測器
23．．．清洗器
24．．．傳送單元
241．．．輸送帶
242．．．輸入埠
243．．．輸出埠
25-1．．．載板
25-2．．．載板
25-3．．．載板
26-1．．．物件
26-2．．．物件
26-3．．．物件
27．．．控制器

Claims (29)

  1. 一種光學檢測裝置，該裝置包含：一平台，其延伸於一第一方向上；一傳送單元，用於在該第一方向上由其一輸入埠輸送至少一載板至一輸出埠，該至少一載板之每一者用於支撐要被檢測之至少一物件其中之一；一第一偵測器，其設置於該平台之上，並延伸於與該第一方向垂直的一第二方向上，用於檢測在該至少一載板上該至少一物件，該第一偵測器包括一第一掃描器，其在該第二方向上延伸於該輸入埠與該輸出埠之間，以及一第二掃描器，其在該第二方向上延伸於該第一掃描器與該輸出埠之間，該第一掃描器包括配置在該第二方向上的複數個掃描單元，其足以覆蓋該至少一物件在該第二方向上的寬度；一第一滾輪組，其位在該第一掃描器與該輸入埠之間，用於施加力量至該至少一物件之每一者的一表面上；一第二滾輪組，其位在該第二掃描器與該輸出埠之間，用於施加力量至該至少一物件之每一者的一表面上；以及一第一角度調整工具或一第二角度調整工具之至少之一者，該第一角度調整工具用以相對於該至少一物件之每一者的該表面之法線方向調整該第一掃描器的角度，該第二角度調整工具，用以相對於該每一物件之法線方向調整該第二掃描器的角度；其中，該至少一物件之每一者包括一面板，且其中該至少一載板之每一者具有在其一第一表面上的複數第一開口，以允許該至少一載板之每一者可支撐不同尺寸的面板。
  2. 如申請專利範圍第1項之裝置，其中該至少一面板之每一者為一液晶顯示器(LCD)面板。
  3. 如申請專利範圍第2項之裝置，其中該至少一載板之每一 者具有在該第一表面上的複數第二開口，以暴露該面板的一條碼。
  4. 如申請專利範圍第2項之裝置，其中該至少一載板之每一者包括在其一第二表面上的一電力控制單元，以控制對該面板的電力供應。
  5. 如申請專利範圍第4項之裝置，其中該至少一載板之每一者包括在該第二表面上的一對導電軌，以在當該至少一載板之每一者由該傳送單元輸送時，經由該傳送單元電氣耦合該電力控制單元至一電源。
  6. 如申請專利範圍第1項之裝置，其中該第一滾輪組或該第二滾輪組中至少一者被允許在與該第一方向及該第二方向所形成之平面垂直的一第三方向上移動。
  7. 如申請專利範圍第1項之裝置，其中該第一滾輪組或該第二滾輪組中至少一者包括一單一滾輪，其具有在一滾輪表面上的直線溝槽與對角線溝槽中的一種。
  8. 如申請專利範圍第1項之裝置，其中該第一滾輪組或該第二滾輪組中至少一者包括複數滾輪，其每一者被允許在與該第一方向及該第二方向所形成之平面垂直的一第三方向上移動。
  9. 如申請專利範圍第1項之裝置，更包含一清洗器，其設置在該傳送單元的該輸入埠與該第一偵測器的該第一掃描器之間的該平台之上，並延伸於該第二方向上。
  10. 如申請專利範圍第1項之裝置，更包含一第二偵測器，其設置在該輸入埠與該第一偵測器之間的該平台之上，並延伸於該第二方向上。
  11. 一種光學檢測裝置，該裝置包含：一第一裝置單元，其包含：一第一平台，其延伸於一第一方向上；一第一傳送單元，用於在該第一方向上由其一第一輸入埠輸送一載板至一第一輸出埠；以及 一第一偵測器，其設置於該第一平台之上，並延伸於與該第一方向垂直的一第二方向上，用於縱向地檢測在該載板上的一物件；以及一第二裝置單元，其包含：一第二平台，其延伸於該第二方向上；一第二傳送單元，用於在該第二方向上由其一第二輸入埠輸送該載板至一第二輸出埠；以及一第二偵測器，其設置在該第二平台之上，並延伸於該第一方向上，用於橫向地檢測在該載板上的該物件；其中，該至少一物件之每一者包括一面板，且其中該至少一載板之每一者具有在其一第一表面上的複數第一開口，以允許該至少一載板之每一者可支撐不同尺寸的面板。
  12. 如申請專利範圍第11項之裝置，其中該面板為一液晶顯示器(LCD)面板。
  13. 如申請專利範圍第12項之裝置，其中該載板具有在該第一表面上的複數第二開口，以暴露該面板的一條碼。
  14. 如申請專利範圍第12項之裝置，其中該載板包括在其一第二表面上的一電力控制單元，以控制對該面板的電力供應。
  15. 如申請專利範圍第14項之裝置，其中該載板包括在該第二表面上的一對導電軌，以在當該載板由該傳送單元輸送時，經由該傳送單元電氣耦合該電力控制單元至一電源。
  16. 如申請專利範圍第11項之裝置，其中該第一偵測器包括一第一掃描器，其位在該第一輸入埠與該第一輸出埠之間，平行於該第一偵測器而延伸，更包含一第一滾輪組，其位在該第一輸入埠與該第一掃描器之間，用以施加力量至該物件的一表面上。
  17. 如申請專利範圍第16項之裝置，其中該第一偵測器包括一第二掃描器，其位在該第一掃描器與該第一輸出埠之間，平行於該第一偵測器而延伸，更包含一第二滾輪組，其位在該第二掃描器與該第一輸出埠之間，用以施加力量至該 物件的該表面上。
  18. 如申請專利範圍第17項之裝置，其中該第一滾輪組或該第二滾輪組中至少一者被允許在與該第一方向及該第二方向垂直的一第三方向上移動。
  19. 如申請專利範圍第17項之裝置，其中該第一滾輪組或該第二滾輪組中至少一者包括一單一滾輪，其具有在一滾輪表面上的直線溝槽與對角線溝槽中的一種。
  20. 如申請專利範圍第17項之裝置，其中該第一滾輪組或該第二滾輪組中至少一者包括複數滾輪，其每一者被允許在與該第一方向及該第二方向垂直的一第三方向上移動。
  21. 如申請專利範圍第17項之裝置，更包含一第一角度調整工具或一第二角度調整工具之至少之一者，該第一角度調整工具用以相對於該物件的該表面之法線方向調整該第一掃描器的角度，該第二角度調整工具，用以相對於該物件之法線方向調整該第二掃描器的角度。
  22. 如申請專利範圍第11項之裝置，更包含一清洗器，其設置在該第一傳送單元的該第一輸入埠與該第一偵測器之間的該第一平台之上，並延伸於該第二方向上。
  23. 如申請專利範圍第11項之裝置，更包含一第三偵測器，其設置在該第一輸入埠與該第一偵測器之間的該第一平台之上，並延伸於該第二方向上。
  24. 如申請專利範圍第11項之裝置，其中該第二偵測器包括一第一掃描器，其位在該第二輸入埠與該第二輸出埠之間，平行於該第二偵測器而延伸，更包含一第一滾輪組，其位在該第二輸入埠與該第一掃描器之間，用以施加力量至該物件的一表面上。
  25. 如申請專利範圍第24項之裝置，其中該第二偵測器包括一第二掃描器，其位在該第一掃描器與該第二輸出埠之間，平行於該第二偵測器而延伸，更包含一第二滾輪組，其位在該第二掃描器與該第二輸出埠之間，用以施加力量至該 物件的該表面上。
  26. 如申請專利範圍第25項之裝置，其中該第一滾輪組或該第二滾輪組中至少一者被允許在與該第一方向及該第二方向垂直的一第三方向上移動。
  27. 如申請專利範圍第25項之裝置，其中該第一滾輪組或該第二滾輪組中至少一者包括一單一滾輪，其具有在一滾輪表面上的直線溝槽與對角線溝槽中的一種。
  28. 如申請專利範圍第25項之裝置，其中該第一滾輪組或該第二滾輪組中至少一者包括複數滾輪，其每一者被允許在與該第一方向及該第二方向垂直的一第三方向上移動。
  29. 如申請專利範圍第25項之裝置，更包含一第一角度調整工具或一第二角度調整工具之至少之一者，該第一角度調整工具用以相對於該物件的該表面之法線方向調整該第一掃描器的角度，該第二角度調整工具，用以相對於該物件之法線方向調整該第二掃描器的角度。
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