WO2018131489A1

WO2018131489A1 - パネル検査システム

Info

Publication number: WO2018131489A1
Application number: PCT/JP2017/046999
Authority: WO
Inventors: 小林　正芳; 諭斉藤
Original assignee: 日本電産サンキョー株式会社
Priority date: 2017-01-13
Filing date: 2017-12-27
Publication date: 2018-07-19
Also published as: KR20190085537A; JP2018112515A; CN110178010A

Abstract

表示パネルの外観検査を行う外観検査装置と表示パネルの点灯検査を行う点灯検査装置とを備えるパネル検査システムにおいて、過検出を抑制することが可能なパネル検査システムを提供する。パネル検査システム１は、表示パネル２の外観検査を行う外観検査装置３と、表示パネル２の点灯検査を行う点灯検査装置４とを備えている。このパネル検査システム１では、外観検査装置３での表示パネル２の外観検査の後に点灯検査装置４での表示パネル２の点灯検査が行われる。また、このパネル検査システム１では、点灯検査装置４は、外観検査装置３での検査データに基づいて表示パネル２の点灯検査を行う。

Description

パネル検査システム

　本発明は、液晶パネル等の表示パネルの検査を行うためのパネル検査システムに関する。

　従来、液晶表示装置の製造方法が知られている（たとえば、特許文献１参照）。特許文献１に記載の液晶表示装置の製造方法には、液晶パネルの外観検査工程と、液晶パネルの点灯検査工程とが含まれている。

特開２０１１－３９１２１号公報

　特許文献１に記載の液晶表示装置の製造方法では、たとえば、液晶パネルの外観検査を行った後に、液晶パネルの点灯検査を行う。この場合、外観検査では、液晶パネルの表面の傷、割れ、欠け等の表面の欠陥の有無や液晶パネルの表面に付着する塵埃の有無の検出が検査の主目的になる。また、点灯検査では、ドット抜けや輝度ムラ等の液晶パネルの内部の欠陥の有無の検出が検査の主目的となる。

　しかしながら、点灯検査においても、液晶パネルの表面の欠陥や液晶パネルの表面に付着する塵埃が検出されるため、外観検査において良品と判定された液晶パネルが、点灯検査において、液晶パネルの表面の欠陥や液晶パネルの表面に付着する塵埃が原因となって不良品と判定されるおそれがある。すなわち、本来良品と判定されるべき液晶パネルが点灯検査において不良品と判定される過検出が発生するおそれがある。過検出が発生すると、液晶表示装置の製造工程の直行率が低下するといった問題や、過検出品の目視再検査が必要となって検査人員の増員が必要になるといった問題等の種々の問題が生じる。

　そこで、本発明の課題は、表示パネルの外観検査を行う外観検査装置と表示パネルの点灯検査を行う点灯検査装置とを備えるパネル検査システムにおいて、過検出を抑制することが可能なパネル検査システムを提供することにある。

　上記の課題を解決するため、本発明のパネル検査システムは、表示パネルの外観検査を行う外観検査装置と、表示パネルの点灯検査を行う点灯検査装置とを備え、外観検査装置での表示パネルの外観検査の後に点灯検査装置での表示パネルの点灯検査が行われる場合、点灯検査装置は、外観検査装置での検査データに基づいて表示パネルの点灯検査を行い、点灯検査装置での表示パネルの点灯検査の後に外観検査装置での表示パネルの外観検査が行われる場合、外観検査装置は、点灯検査装置での検査データに基づいて表示パネルの外観検査を行うことを特徴とする。

　本発明のパネル検査システムでは、表示パネルの外観検査の後に表示パネルの点灯検査が行われる場合、点灯検査装置は、外観検査装置での検査データに基づいて表示パネルの点灯検査を行っている。そのため、本発明では、外観検査で良品と判定された表示パネルが、点灯検査において、外観検査での検査項目の不良が原因となって不良品と判定されるのを抑制することが可能になる。また、本発明では、表示パネルの点灯検査の後に表示パネルの外観検査が行われる場合、外観検査装置は、点灯検査装置での検査データに基づいて表示パネルの外観検査を行っているため、点灯検査で良品と判定された表示パネルが、外観検査において、点灯検査での検査項目の不良が原因となって不良品と判定されるのを抑制することが可能になる。したがって、本発明では、過検出を抑制することが可能になる。また、本発明では、過検出を抑制することが可能になるため、パネル検査システムの検査レベルを最適化することが可能になる。

　本発明において、たとえば、外観検査装置での表示パネルの外観検査の後に点灯検査装置での表示パネルの点灯検査が行われ、外観検査装置は、表示パネルの表面の塵埃の付着箇所および表示パネルの表面の欠陥箇所の少なくともいずれか一方を含む特定箇所を検出し、点灯検査装置は、外観検査装置での検査データに基づいて表示パネルの特定箇所を除いた箇所の異常の有無を検査する。この場合には、外観検査で良品と判定された表示パネルが、点灯検査において、表示パネルの表面に付着する塵埃や表示パネルの表面の欠陥が原因となって不良品と判定されるのを抑制することが可能になる。

　以上のように、本発明では、表示パネルの外観検査を行う外観検査装置と表示パネルの点灯検査を行う点灯検査装置とを備えるパネル検査システムにおいて、過検出を抑制することが可能になる。

本発明の実施の形態にかかるパネル検査システムの概略平面図である。図１に示すパネル検査システムでの表示パネルの検査方法を説明するための図である。

　以下、図面を参照しながら、本発明の実施の形態を説明する。

　（パネル検査システムの構成）
　図１は、本発明の実施の形態にかかるパネル検査システム１の概略平面図である。図２は、図１に示すパネル検査システム１での液晶パネル２の検査方法を説明するための図である。

　本形態のパネル検査システム１は、表示パネルである液晶パネル２の外観検査を行う外観検査装置３と、液晶パネル２の点灯検査を行う点灯検査装置４とを備えている。液晶パネル２は、たとえば、携帯端末等に使用される小型の液晶パネルである。外観検査装置３と点灯検査装置４とは、互いに隣り合うように配置されている。また、外観検査装置３の制御部と点灯検査装置４の制御部とは、電気的に接続されており、外観検査装置３と点灯検査装置４とは、制御的に一体化されている。本形態のパネル検査システム１では、外観検査装置３での液晶パネル２の外観検査の後に点灯検査装置４での液晶パネル２の点灯検査が行われる。

　外観検査装置３は、液晶パネル２の表側の面をカメラで撮影して、液晶パネル２の表側の面の傷、割れ、欠け等の欠陥の有無や液晶パネル２の表側の面に付着する塵埃の有無を検出する第１検査部７と、液晶パネル２の裏側の面をカメラで撮影して、液晶パネル２の裏側の面の傷、割れ、欠け等の欠陥の有無や液晶パネル２の裏側の面に付着する塵埃の有無を検出する第２検査部８とを備えている。また、外観検査装置３は、液晶パネル２を搬送するパネル搬送機構や、第１検査部７と第２検査部８との間で液晶パネル２を表裏反転させるパネル反転機構等を備えている。

　点灯検査装置４は、ドット抜けや輝度ムラ等の液晶パネル２の内部の欠陥の有無を検出する。この点灯検査装置４は、液晶パネル２の点灯検査を行う装置本体１０と、液晶パネル２を搬送するコンベヤ１１と、装置本体１０とコンベヤ１１との間で液晶パネル２を搬送する搬送用のロボット１２とを備えている。装置本体１０は、液晶パネル２の背面から光を照射するバックライトやカメラ等の点灯検査用の各種の機器が収容される筺体１３を備えており、筐体１３の内部で液晶パネル２の点灯検査が行われる。なお、本形態のパネル検査システム１で検査される液晶パネル２には、バックライトが取り付けられていないが、液晶パネル２にバックライトが取り付けられていても良い。

　パネル検査システム１では、外観検査装置３は、外観検査装置３での検査データを点灯検査装置４に送信する。具体的には、外観検査装置３は、液晶パネル２の表面（表側の面および裏側の面）の塵埃の付着箇所および液晶パネル２の表面の欠陥箇所を含む特定箇所Ｐ１（図２（Ａ）参照）を検出するとともに、特定箇所Ｐ１の位置データ（座標データ）を含む検査データを点灯検査装置４に送信する。なお、外観検査装置３が送信する検査データには、特定箇所Ｐ１のサイズデータや形状データ等が含まれていても良い。

　また、点灯検査装置４は、外観検査装置３での検査データに基づいて液晶パネル２の点灯検査を行う。具体的には、点灯検査装置４は、外観検査装置３から送信された外観検査装置３での検査データに基づいて、液晶パネル２の特定箇所Ｐ１を除いた箇所の異常の有無を検査する。本形態では、点灯検査装置４は、点灯検査装置４での点灯検査で検出された液晶パネル２の表面（表側の面および裏側の面）の塵埃の付着箇所Ｐ２および特定箇所Ｐ１（図２（Ｂ）参照）を除いた箇所の異常の有無を検査する。すなわち、点灯検査装置４での点灯検査時には、特定箇所Ｐ１および塵埃の付着箇所Ｐ２のマスク処理が行われる。また、点灯検査装置４での点灯検査では、たとえば、液晶パネル２の内部の点欠陥Ｆ（図２（Ｃ）参照）等が検出される。

　（本形態の主な効果）
　以上説明したように、本形態では、点灯検査装置４は、外観検査装置３での検査データに基づいて液晶パネル２の点灯検査を行っている。具体的には、外観検査装置３は、液晶パネル２の表面の塵埃の付着箇所および液晶パネル２の表面の欠陥箇所を含む特定箇所Ｐ１を検出し、点灯検査装置４は、点灯検査装置４での点灯検査で検出された液晶パネル２の表面の塵埃の付着箇所Ｐ２および特定箇所Ｐ１を除いた箇所の異常の有無を検査している。

　そのため、本形態では、外観検査で良品と判定された液晶パネル２が、点灯検査において、外観検査での検査項目の不良が原因となって不良品と判定されるのを抑制することが可能になる。具体的には、外観検査で良品と判定された液晶パネル２が、点灯検査において、液晶パネル２の表面に付着する塵埃や液晶パネル２の表面の欠陥が原因となって不良品と判定されるのを抑制することが可能になる。したがって、本形態では、過検出を抑制することが可能になる。また、本形態では、過検出を抑制することが可能になるため、パネル検査システム１の検査レベルを最適化することが可能になる。

　（他の実施の形態）
　上述した形態は、本発明の好適な形態の一例ではあるが、これに限定されるものではなく本発明の要旨を変更しない範囲において種々変形実施が可能である。

　上述した形態では、外観検査装置３での液晶パネル２の外観検査の後に点灯検査装置４での液晶パネル２の点灯検査が行われているが、点灯検査装置４での液晶パネル２の点灯検査の後に、外観検査装置３での液晶パネル２の外観検査が行われても良い。この場合には、外観検査装置３は、点灯検査装置４での検査データに基づいて液晶パネル２の外観検査を行う。この場合であっても、点灯検査で良品と判定された液晶パネル２が、外観検査において、点灯検査での検査項目の不良が原因となって不良品と判定されるのを抑制することが可能になるため、過検出を抑制することが可能になる。

　上述した形態では、液晶パネル２の表面の塵埃の付着箇所および液晶パネル２の表面の欠陥箇所が特定箇所Ｐ１に含まれているが、液晶パネル２の表面の塵埃の付着箇所のみが特定箇所Ｐ１に含まれていても良いし、液晶パネル２の表面の欠陥箇所のみが特定箇所Ｐ１に含まれていても良い。また、上述した形態において、パネル検査システム１で検査される表示パネルは、液晶パネル２以外の表示パネルであっても良い。たとえば、パネル検査システム１で検査される表示パネルは、有機ＥＬパネルであっても良い。

　１　パネル検査システム
　２　液晶パネル（表示パネル）
　３　外観検査装置
　４　点灯検査装置
　Ｐ１　特定箇所

Claims

　表示パネルの外観検査を行う外観検査装置と、前記表示パネルの点灯検査を行う点灯検査装置とを備え、
　前記外観検査装置での前記表示パネルの外観検査の後に前記点灯検査装置での前記表示パネルの点灯検査が行われる場合、前記点灯検査装置は、前記外観検査装置での検査データに基づいて前記表示パネルの点灯検査を行い、
　前記点灯検査装置での前記表示パネルの点灯検査の後に前記外観検査装置での前記表示パネルの外観検査が行われる場合、前記外観検査装置は、前記点灯検査装置での検査データに基づいて前記表示パネルの外観検査を行うことを特徴とするパネル検査システム。
　前記外観検査装置での前記表示パネルの外観検査の後に前記点灯検査装置での前記表示パネルの点灯検査が行われ、
　前記外観検査装置は、前記表示パネルの表面の塵埃の付着箇所および前記表示パネルの表面の欠陥箇所の少なくともいずれか一方を含む特定箇所を検出し、
　前記点灯検査装置は、前記外観検査装置での検査データに基づいて前記表示パネルの前記特定箇所を除いた箇所の異常の有無を検査することを特徴とする請求項１記載のパネル検査システム。