JPS6180064A - 液晶セルの評価装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く技術分野〉 本発明は、液晶セルの上下基板間リークチェックを行う
液晶セル評価装置に関するものである。

〈従来技術〉 液晶セルの上下基板間に、上下基板間リークの原因とな
る導電性異物（金属粉等）が存在しているか否かをチェ
ックする方法として、従来は、液晶セルを圧迫用ローラ
で圧迫した後の電流値を人が調べ、これが基準電流値を
超えているか否かで、上記へ導電性異物の有無をチェッ
クする方法が採られていた〇 〈発明の目的〉 本発明は、上記従来の電流値による検出に対して、上下
基板間のリーク時に電流が流れやすくなり、実際の表示
電流以外の漏れ電流が流れて、電圧降下が生じ、これに
よって、表示部のコントラストが低下することに着目し
、液晶セル圧迫用ローラとホトダイオード等の光検出器
とを一体化し、これ全走査して、液晶セルのコントラス
トを上記光検出器で検出することによってリークチェッ
クを行う構成とすることにより、リークチェック工程の
簡略化及び人による作業の軽減をはかる事を目的とする
ものである。

〈実施例〉 以下、本発明に係る光検出器付リークチェック装置の一
実施例について図面を用いて説明する。

第１図は本発明に係る光検出器付リークチェック装置の
一実施例の主要部構成を示す斜視図である。図に於いて
、■は液晶セル圧迫用ローラ、２はホトダイオード等の
光検出器である。該ローラＩ及び光検出器２ば、ともに
、線状の部材で構成された支持枠体３に支持されている
。

第２図は、第１図に示すリークチェック装置を用いてリ
ークチェックを行うときの様子を模式的に表わした図で
ある。図に於いて、４が液晶セルである。

ローラ１で圧迫することによって、リークが出やすぐし
、光検出器２でコントラストの測定、比較を行ない、上
下リークのチェックを行う。

５は評価用光源であり、該光源も支持枠体３に一体化さ
れている。なお、評価用光源は、支持枠体に一体化せず
、リークチェック装置と反対側に配置するようにしても
よい。

以上の応用として、光検出部にフィルタ（ＲＧＢ　）を
取り付けることにより、セル厚の均一性や色ムラ等を検
出することもできる。

〈発明の効果〉 以上詳細に説明したように、本発明の液晶セル評価装置
（上下基板間リークチェック装置）ＶＣよれば、圧迫用
ローラと検出部を一体化することによシ、リークチェッ
ク工程の簡略化及び人による作業の軽減をはかることが
できるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例である光検出器付リークチェ
ック装置の主要部構成を示す斜視図、第２図は同リーク
チェック装置を用いて液晶セルのリークチェック全行う
ときの様子を模式的に示し之図である。 符号の説明 １：ｇｌｌ上セル圧迫ローラ、２：光検出器、３：支持
枠体、４：液晶セル、５：評価用光源。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、液晶セル圧迫用ローラと光検出器とを一体化し、こ
   れを走査して、液晶セルのコントラストを上記光検出器
   で検出することにより、液晶セルの上下基板間リークチ
   ェックを行うことを特徴とする、液晶セルの評価装置。