TWI320178B - - Google Patents

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1320178 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 . 本發明係關於一種適用於使用照射近場光以進行記錄及/ • 或重現之光記錄媒體時之光記錄重現裝置、光記錄重現方 法及傾斜檢測方法。 【先前技術】 以 CD(Compact Disc)、MD(Mini Disc)、j)VD(Digital

Versatile Disc)為代表之光（或磁光）記錄媒體係作爲音樂資 鲁訊、影像資訊、資料、程式等之儲存媒體而被廣泛利用。 在記錄重現此等光記錄媒體之系統中，物鏡以非接觸式與 光記錄媒體之表面對置，檢測形成於光記錄媒體之記錄面 上之微小凹凸或相變材料之反射率變化結構、又，於磁光 記錄方式時則檢測科爾（Kerr)旋轉角變化之磁疇結構，讀 取微小之記錄記號。 近年來，在如此之光記錄媒體中，透過日益追求大容量 化、高記錄密度化，而開始探討在光記錄媒體上形成更小 • 之記錄記號、並以高解析度對其進行讀取之技術。 照射在光記錄媒體上之光點的大小，當令照射光之波長 為九、將該光聚光於光記錄媒體上之聚光透鏡之數值口徑 為NA時’可以用大齡/财求出’而且解析度也與該值成 正比。數值口徑ΝΑ為： NA=nxsin0 式中：η係媒質之折射率、θ係物鏡周圍光線之入射角。媒 質既然是空氣’ΝΑ便無法超過i，而且解析度有極限。爲 108902.doc 1320178 此，在光記錄重現裝置上期望實現該光源、例如半導體雷 射之短波長化、以及聚光透鏡之數值口徑的增大化。 與此對應’作為實現比1大之數值口徑之方法，係提出 有使用漸逝波、即使用從界面起成指數函數地衰減的光之 所謂近場光記錄重現方式。在該近場光記錄重現方式中， 必須將聚光透鏡與光記錄媒體之表面的間隙縮得非常小。 作爲將近場光照射在光記錄媒體上進行記錄重現之方 法’係提出有使用固態浸沒透鏡（SIL: Solid Immersion Lens)之光記錄重現方法（例如，參照專利文獻1、非專利文 獻1)。 再者，作爲使用SIL等之近場光照射部進行近場光記錄 及/或重現之光記錄媒體，係提出有例如圖丨2中作為其一 例之概略截面構造圖所示，在由玻璃或聚碳酸酯（pc)等構 成之基板1上，依序層積形成由^等構成之反射膜2、由

Si〇2等構成之電介體層3、由GeSbTe等構成之相變材料層 4、由Si〇2等構成之電介體層5的構造之相變記錄型之光記 錄媒體10、或者，如圖13中作為其一例之概略截面構造圖 所示’在由玻璃或PC等構成之基板^，形成與記錄資訊 相對應之凹凸孔，再於凹凸孔上形成由幻等構成之反射層 2之重現專用型之光記錄媒體1()等（例如，參照非專利文獻 2及3。）。 在圖12及圖，顧千你益山 .，肩不使猎由SIL 4構成之近場光照射 部2 6與光記錄媒體丨〇之表面 衣囟以微小間隔對置，照射入射光

Li之狀態。 108902.doc 1320178 再者，有報告顯示，在使用此SIL等之近場光照射部 時，其表面與光記錄媒體表面之間的間隔、即所謂的間 • 隙，宜在照射光之波長的10分之1以下（例如，參照非專利 • 文獻4)。 因此，在光之波長短之情況下，光記錄媒體之表面與近 場光照射部之表面變成僅隔著極微小之間隔而配置。而 且，SIL等之近場光照射部與光記錄媒體之表面發生碰撞 之可能性變高，當發生碰撞時，有光記錄媒體之記錄有資 籲 訊的部分產生損傷之虞。爲了抑制和避免此問題，如在圖 14中作為其一例之概略截面構造圖所示，係提出有在光記 錄媒體10之資訊記錄面之最表面，設置厚度為i㈣以上之 保護層8之構造（例如，參照非專利文獻5)。在圖14中，對 於與圖12相對應之部分賦予相同符號，省略重複説明。 在此情況下，如在圖14中所示，藉由近場光照射部“照 射的光之焦點位置，透過保護層8被設定在記錄重現層、 纟圖示例中料相變材料層4之表面^此外，光記錄媒 •體1〇之保護層8的表面與SIL等構成之近場光照射部26之表 面間的間隔，即使在此情形下仍必須為照射光的波長之1〇 分之1以下。 另方面，係提出有藉由將SIL之前端作成圓錐形，以 確保與光記錄媒體表面之傾斜容許範圍（容許度）之結構⑼ 如，參照非專利文獻6) 夺如在圖15中作為其一例之概略截面構造圖所示’ 直kD例如殘留有40 μιη左右的平坦表面，進而將SIL前端 108902.doc 1320178 部加工成圓錐狀。藉由做成此前端形狀，對於SIL表面與 光記錄媒體10之表面間之傾斜，可以確保容許範圍。 [專利文獻1]曰本特開平5-189796號公開公報 [非專利文獻 1] I. Ichimura et al.，"Near-Field Phase-flange Optical Recording of 1.36 Numerical Aperture" » Japanese Journal of Applied Physics > Vol. 39 » pp. 962-967 (2000)

[非專利文獻2]M.Shinodaetal.，"HighDensityNear-Field Optical Disc Recording”，Digest of ISOM2004，We-E-03 [非專利文獻3] M· Furuki et al·，"Progress in Electron Beam Mastering of 100Gb/inch2 Density Disc" > Japanese Journal of Applied Physics > Vol. 43 > pp. 5044-5046 (2004) [非專利文獻 4] K. Saito et al.，"A Simulation of Magneto-Optical Signals in Near-Field Recording"， Japanese Journal of Applied Physics，Vol. 38，pp. 6743-6749 (1999) [非專利文獻5](3.八.\/^3〇1111代1161&1.，"7'〇界&犷<18。0乂61> layer incident read-out of a dual-layer disc with a NA=1.5 solid immersion lens"，Digest of ISOM2004，We-E-05 [非專利文獻 6] M. Shinoda，"High-Density Near-Field Readout over 5 0GB Capacity Using Solid Immersion Lens with High Refractive Index”，Japanese Journal of Applied Physics，Vol. 42，pp. 1101-1104 (2003) 108902.doc -10- 1320178 [發明欲解決之問題] 但是，如上述非專利文獻4所記載，近場光照射部與光 記錄媒體表面間之間隙宜為照射光之波長之1〇分之^以 下’例如使用波長405 nm之光作為照射光時，圖丨5中所示 之近場光照射部26與光記錄媒體10之表面間之距離、即所 謂之間隙g成為大約20 nm左右之極微小間隙。 因此，可知此時由SIL構成之近場光照射部與光記錄媒 體之傾斜的容許量為： 20(ηπι)χ2/40(μπι)χ 180/Π 与 0.057(度） 僅得到極小之傾斜容許範圍。 一般而言，在CD上之傾斜容許範圍約±1度左右，而在 DVD (Digital Versatile Disc)及BD (Blu-ray Disc、註冊商 標）上，具有±0.6度左右之傾斜容許範圍。藉此可知，在近 場光記錄重現方式下，傾斜容許範圍極小。 因此，g光a己錄媒體有傾斜或艇曲時，即使藉由物鏡驅 動時之微小的傾斜，SIL和光記錄媒體之表面仍存在接觸 之可能。 【發明内容】 鑒於上述問題，本發明之目的在於提供一種可以容易地 檢測出光記錄媒體與近場光照射部之傾斜之光記錄重現裝 置、光學頭、光記錄重現方法以及傾斜檢測方法。 [解決問題之方法] 為解決上述問題’本發明係提供一種光記錄重現裝置， 其係將來自光源之光藉由近場光照射部作為近場光照射在 1〇89〇2.doc 1320178 記錄媒體上’可以很容易地確保受光面積。 藉由求得已分割之複數的間隙檢測信號之差分，可以較 簡易之裝置構造高精度地檢測出近場光照射部與光記錄媒 體表面之傾斜。 [發明效果] 依本發明之光記錄重現裝置、光學頭、光記錄重現方法 及傾斜檢測方法，可以較簡單之裝置構造檢測出近場光照 射部與光記錄媒體表面之傾斜。 【實施方式】 以下’說明用於實施本發明之最佳形態之例，但是本發 明並不限定於以下之例。 圖1係顯示藉由本發明之光記錄重現裝置（包括光學頭） 之一實施形態例之概略構造圖。如圖1所示，在該光記錄 重現裝置中’在由光源20射出之光的光軸上依序配置有： 使用半導體雷射構成之光源20、準直透鏡21、分光鏡22、 偏光分光鏡23、1/4波長板24、光學透鏡25及由SIL等構成 之近場光照射部26。而且，在藉由偏光分光鏡23反射之光 的光路上配鞏有第1受光部27’此外，在藉由分光鏡22反 射之光的光路上配置有第2受光部28。 在此構成之光記錄重現裝置中’由光源2〇射出之光藉由 準直透鏡21成為平行光’通過分光鏡22、偏光分光鏡23 後’藉由1/4波長板24使相位前進波長之1/4，再藉由光學 透鏡25、近場光照射部26作爲近場光照射至光記錄媒體1〇 之記錄面上。 108902.doc -14- 1320178 藉由光記錄媒體1 〇所反射之返回光，經由近場光照射部 26、光學透鏡25、1/4波長板24入射至偏光分光鏡23上。 於此，因為來自光記錄媒體10之返回光在去路和返回路上 通過1/4波長板24，使位相前進波長之1/4，所以被偏光分 光鏡23反射，並在第1受光部27受光。 另一方面’來自近場光照射部26之返回光、即此時被與 光記錄媒體10對置之SIL之端面全反射之返回光，因為於 SIL之端面被反射時偏光方向稍有旋轉，所以透過偏光分 光鏡23被分光鏡22反射，並在第2受光部28受光。 即’在圖1所示例中，藉由偏光分光鏡23和分光鏡22構 成光分離部35 ’分離來自光記錄媒體1〇和近場光照射部26 之返回光’藉由偏光分光鏡23分離來自光記錄媒體1〇之返 回光，使其在第1受光部受光，藉由分光鏡22反射來自近 場光照射部端面之返回光，使其在第2受光部受光。 在圖1所示之光記錄重現裝置中，在第1受光部27檢測出 記錄於光記錄媒體10之記錄面上之資訊β另一方面，在第 2受光部28，如後所述，檢測出藉由與光記錄媒體1〇對置 之近場光照射部2 6與光記錄媒體1 〇之距離而改變之全反射 返回光《所以，藉由在該第2受光部28檢測出之返回光 量，可以檢測出光記錄媒體10之表面與SIL等之近場光照 射部26之端面的距離，即所謂的間隙。 於此，參照圖16A和16B，對與使用近場光進行記錄及/ 或重現之光記錄媒體10對置之近場光照射部26與光記錄媒 體10之間隙g之檢測原理加以說明。圖16A係顯示光記錄媒 108902.doc -15- 1320178 體10與近場光照射部26之光記錄媒體側之端面之間隙g的 概略構造圖，圖16B係顯示相對於間隙之全反射返回光量 之變化之圖。 當近場光照射部26與光記錄媒體丨〇之間隔（間隙），一般 而言在產生入射光波長之1/4以下之近場光之距離以上 時，即圖16B中以虛線箭頭Ff表示之遠場區域内，以在近 場光照射部26之端面引起全反射之角度入射之光，因為入 射光在該端面全反射，所以如圖16B所示，返回光量^經 常保持一定。 另一方面，近場光照射部26與光記錄媒體1〇之間隙成為 入射光之波長λ的約1/4以下，且成為近場光產生之距離以 下時，因為從近場光照射部26之端面起，以全反射之角度 入射之光部分漏出，所以返回光量^減少。而且，當近場 光照射部26與光記錄媒體10接觸時（即間隙為〇之位置），因 為全部的入射光透過光記錄媒體1〇，所以返回光Lr變成 零。 在產生此近場光之間隙區域内之返回光量之變化，產生 於圖16B中由虛線箭頭〜所示之近場區域，從間隙約λ/4之 位置起，隨著接近光記錄媒體，返回光量開始緩慢減少， 並在中間部分略呈線形地減少，進而接近光記錄媒體表面 之區域内得到再次緩慢漸減之曲線。 因此，利用該全反射返回光量相對於間隙長度在一定範 圍内略呈線形地變化，可以從返回光量檢測出近場光照射 部26與光記錄媒體丨〇之間的間隙。 108902.doc -16 - 1320178 而且，在本發明中，如圖1中之28Sa、28Sb、28Sc及 28Sd所示，構造成例如於4分割之受光部分別檢測在上述 第2受光部2 8檢測之返回光。 於此，若將在各受光部28Sa〜28Sd檢測出之信號分別設 為GES11、GES12、GES21、GES22時，將其等相加而得 之信號GES，即以下式： GES=GES11+GES12+GES21+GES22 表示之信號，便成為間隙誤差信號。 • 圖2係顯示相對於間隙之該間隙誤差信號量之變化。對 於間隙目標值g，設定藉由伺服機構等之控制標準值s，從 與上述GES之差分可求出間隙控制量。 為了控制相對於光記錄媒體1〇之SIL等之近場光照射部 26之間隙（間隔），可以該間隙誤差信號為基準，例如在控 制部29中從與上述間隙基準值之差分計算間隙誤差量，從 驅動控制部30向由2軸致動器等構成之驅動部31輸出間隙 控制信號Sg，進行間隙控制。 • 再者，雖未圖示，但以來自第1之受光部27之資訊信號 為基準，同樣於控制部29生成追蹤控制信號，再藉由將追 蹤控制信號St從驅動控制部30同樣輸出到驅動部31，即可 進行追蹤控制。 . 關於間隙控制方法，如曰本實用物理學Vol. 42，pp 2719-2724 (2003)雜誌"近場讀出系統之二軸裝置用光學信 號間隙伺服系統"（以下記為論文1)一文中所記載，可以利 用使用2轴致動器，階段性地進行從遠場向近場之間隙控 108902.doc •17- 1320178 制之方法等各種控制方法。 而且，在本發明之光記錄重現裝置中， ♦丨 错由取上述4分 »彳彳§號之差分’來檢測近場光照射部2 6與杏〜 汽尤C錄媒體1〇之 表面之傾斜》 在圖1中，當光記錄媒體10例如為盤狀記錄媒體時，八 相對於第2受光部28之箭頭r為徑向（半徑方向），與箭頭 直相交之箭頭t為切線方向（記錄軌跡之切線方向）時，π u 之傾斜傾斜錯誤信號可以下式： # GES(r)=GESll + GES12-(GES21+GES22) 求出。此外，切線方向之傾斜錯誤信號可以下式： GES(t)=GESll + GES22-(GES12 + GES21) 求出’以此等結果為基準，在控制部29生成傾斜錯誤作 號’再從驅動控制部30分別向驅動部31輸出徑向之傾斜斤 制信號Srs、切線方向之傾斜控制信號Sts，可修正傾斜。 當近場光照射部26相對於光記錄媒體丨〇並未傾斜時，如 圖3中之在第2受光部28檢測出之受光量之一例所示，可知 籲 周邊部之光量一樣，而且從中心起，幾乎成點對稱地分 佈。圖3顯示間隙為20 nm時之情形。 相對於此’如圖4中之概略截面構造圖所示，考慮作為 近場光照射部26之SIL的與光記錄媒體10相對的端面、與 光記錄媒體1 〇之表面產生傾斜之情形。在該例中，顯示在 記錄面9上形成有於光記錄媒體1〇表面之折射率為η之厚度 t之保護層8於之例。該記錄面9雖未圖示，但形成有凹凸 孔或相變材料層上之記錄記號。在此情況下，在光記錄媒 108902.doc -18- 1320178 體10之表面之光點直徑w以擴散狀態進行照射。 圖5係顯示此時在圖！中所示之苐2受光部28上之返回光 之分佈例。被聚光之光的周邊光、即圖4中以箭頭LiA、 UB所示之周邊光，可知因為SIL等之近場光照射部％與光 記錄媒體10之表面的間隙不同，所以分佈上發生如圖5所 示之偏移，此時，從以圖4之箭頭LiB所示之光記錄媒體1〇 之表面遠離之側的周邊光之返回光強度很強。 於此，在圖6中顯示在4分割受光部之檢測區域的上述圖 1中所示例中，當設 GES1=GES11+GES12 GES2=GES21+GES22 時，其相對於間隙g、即SIL端面中心位置與光記錄媒體ι〇 表面的距離之各間隙誤差信號量之變化例。 藉由近場光照射部26之傾斜，可知此等信號量向著橫軸 方向移動。 藉此’為使已分割之檢測信號之差消失，即為使傾斜信 號（=GES1-GES2)為〇而進行控制，藉由使SIL等近場光照 射部26反向傾斜，可以使近場光照射部26相對於光記錄媒 體10呈平行狀態。 在此’若設光記錄媒體1〇之保護層8之厚度為t、折射率 為η，此外設包括近場光照射部26在内之聚光光學系統之 數值口徑為ΝΑ時，上述圖4中所示之光記錄媒體1〇之表面 的光點直徑w可用下式表示： w=2txtan(sin'1(NA/n)···⑴ 108902.doc 19 1320178 又，右设光記錄媒體l 〇與近場光照射部26之傾斜為θ，圖4 中所不之周邊光LiA、LiB之間隙差（1即變成： d=0xw . --(2) 作爲間隙控制方法，例如藉由上述論文丨所示之控制方 法時，藉由間隙伺服機構產生之殘餘量、即以伺服機構未 被取盡之間隙之變動量5(峰_峰值）為： δ=2 nm ...(3) 左右。所以，近場光照射部26、在此情況下SIL之傾斜控 ϋ 制之殘餘量亦大約成為： 0res=tan【（δ/w) % δ/w …（4) 另一方面，由前述之非專利文獻5，間隙g被設定為使用 之波長的1 0分之1左右，例如20 nm左右。在此，使用SJL 作為近場光照射部26，並且若將其與光記錄媒體1〇對置之 4面之直徑設為D’那麼可允許之傾斜之最大角度為： tan-1(2g/D) = 2g/D … （5) 為了使近場光照射部26不與光記錄媒體1〇碰撞，傾斜控 # 制之殘餘量必須是： 2g/D>6/w (6) 由以上結果可知’作為形成於光記錄媒體1〇之表面上的 保護層8之厚度’要求下述數式1所示之條件。 數式1 1 4xgxtan{sin'f(NA/ny}" 例如’當聚光光學系統之數值口徑ΝΑ為1.7，設置於光 &己錄媒體10之表面之保護層8的折射率為1.8時，可知其厚 108902.doc -20· !32〇178 度必須達到174 nm以上。 另外，即使在光記錄媒體10之表面的保護層8低於該厚 度時，亦可藉由以下所示之方法，同樣檢測出傾斜。 即，如圖7和圖8所示，如果用於檢測間隙誤差的光之焦 點位置，相對於光記錄媒體10之記錄面9向前後方向中之 至少一方向偏移一定程度以上時，同樣地，可以進行避免 近場光照射部26與光記錄媒體1〇之碰撞的傾斜控制。在圖

7和圖8中’與圖4相對應之部分賦予相同符號，從而省略 重複説明。 針對記錄及/或重現用之入射光Li，分別在圖7、圖名中 顯示下述兩種情形。在圖7中’顯示由間隙檢測用之箭頭 “所示之光，作為相對於光記錄媒體1〇之記錄面9在前方 之光記錄媒體1G側、即在基板1之内部具有焦點面之光進 行照射之情形’而在圖8中’則顯示間隙檢測用之光Lg， 作為相對於光記錄媒體1()之記錄面9在後方之近場光照射 部26之内部具有焦點面之光進行照射之情形。 —藉此，#由作為在相對於記錄面9朝前後方向中之至少 方向偏移之位置上具有焦點面之光進行照射，同樣可以 從間隙之差分檢測出光記錄媒體1G與近場光照射部26之傾 斜’進而避免其等之碰撞。 圖9係顯示此構成之光記錄重現襞置之概略構造圖。在 圖9中’與圖1對應之部分職予相同符號，省略重複説明。 在圖9中顯不在準直透鏡21與分光鏡η之間，配置分 離光源20射出之光的分離光學元件32之示例。 108902.doc •21 · 1320178 作爲該分離光學元件32可使用繞射晶格、全像元件等。 圖 10 Ss .·-貝示使用全像元件作為分離光學元件32時之一例之概 略平面構造圖。 藉此’若藉由全像元件等分離光學元件32來分離光，則 八焦點面則如圖9所示，處於相對於光記錄媒體1之記錄面 (圖9中表示光記錄媒體1〇之表面）向前後方向中之至少一 方向偏移之位置。 此時’在第1及第2受光部2 7和2 8中’分別可在兩侧檢測 出來自光記錄媒體1〇之記錄面的信號，和藉由分離光學元 件32在分離方向偏移焦點面之光的返回光量。圖9中顯示 分別檢測時之各受光部之配置例◦例如在第1受光部27， 以中心之受光部27S檢測記錄及/或重現用之返回光，且以 兩側之受光部27S1、27S2檢測之信號也可以作為追蹤控制 用、或間隙控制信號來利用。 此外’在第2受光部2 8中，以從光軸中心偏移之單側較 大區域之受光部28Sa〜28Sd進行如上所述之間隙差分之檢 測’而在光軸中心即中央之受光部28S1和受光部 28Sa〜28Sd相反側之受光部28S2檢測之信號，也可以作為 例如間隙控制用信號來利用。 圖9中顯示在偏光分光鏡23及分光鏡22與第1及第2受光 部27、28之間配置光學透鏡33、34之示例。 此外，如圖11所示，亦可使用20及40兩個光源，形成藉 由近場光照射部26將記錄及/或重現用光和檢測間隙誤差 之光照射到光記錄媒體10上之構造。在圖11中，在與圖9 108902.doc -22- 1320178 相對應之部分賦予相同符號，省略重複説明。在此情況 下，由光源20和40射出之光在光路合成糾合成形成入 射準直透鏡21之構造。藉由使光路合成部41與各光源20、 4〇之間隔不同’可將由一側之光源2〇射出之光作為在光吃 錄媒體Π)之記錄面上具有焦點面之光進行照射，將由另二 側光源40射出之光作為相對於光記錄媒體ι〇之記錄面朝前 後方向中之至少-方向偏移之位置上具有焦點面之光進行 照射。 而且，在此情況下，在第!及第2受光部27和以中，分別 檢測來自光記錄媒體10之記錄面的信號，和焦點面偏移之 光的返回光量。圖U顯示分別檢測時之受光部之配置例。 例如在第1受光部27中’以中央之受光部⑺檢測記錄及/ 或重現用之返回光’並且在單側之受光部則檢測之信號 還可以作為追蹤控制用或間隙控制用信號來利用。 此外，在第2受光部28中，在一側之較大區域之受光部 28Sa〜28Sd進行上述之間隙差分之檢測，在另_側之受光 部2881檢測之信號還可以作為例如間隙控制用信號來利 用。 藉由此種圖9及圖U所示構造之光記錄重現裝置，與對 設置上述之保護層之光記錄媒體進行的傾斜檢測時一樣， 可以精確地檢測出光記錄媒體1〇與近場光照射部％之傾 斜’並可避免其等發生碰撞。 再者，爲了控制SIL等之近場光照射部26之傾斜，如τ Kawasaki et al., -Radial tilt and tangential tilt servo using 108902.doc -23- 1320178 four-axis actuat〇r"，Digest 〇f IS〇M2〇〇4 , Th j-们所記載 地，可以利用在4軸、即追蹤方向、聚焦（間隙）方向、切線 U斜方向、徑向傾斜方向具有可動範圍之4轴致動器之方 去或者，如上述論文1所記載地，可使用將2轴致動器載 置於可在切線傾斜方向及徑向傾斜方向自動調整之可動區 塊上之方法等。 在光記錄媒體1〇之記錄和/或重現中，為防止SIL等近場 光照射部26與光記錄媒體10相接觸，可以同時進行間隙控 • 制和SIL等傾斜控制，但是亦必須避免使SIL等近場光照射 部26接近光記錄媒體1〇時之接觸。 爲此，例如在使SIL接近光記錄媒體之際，即在前述圖6 中顯示間隙信號變化量之圖中，當從橫軸之右向左移動 時，在前述之圖1所示之本發明構成的光記錄重現裝置 中’使用在第2受光部28檢測出之4個信號GE11、GES12、 GES21、GES22中信號位準最快下降之信號，首先進行間 隙控制，其後再進行SIL等之近場光照射部之傾斜控制， • 藉此亦可以防止在進行此記錄及/或重現時發生接觸。 如以上所說明地，依本發明，藉由分割返回光之分佈， 獲得複數的間隙檢測信號，再將其等信號之差分作為檢測 SIL等近場光照射部表面與光記錄媒體表面之傾斜之信號 使用’基於此彳§號控制近場光照射部之傾斜，可提供一種 避免近場光照射部與光記錄媒體之接觸，從而進行經由穩 定之近場光記錄重現之高密度記錄重現、高可靠性之光記 錄重現裝置、光記錄重現方法。 108902.doc .24· 1320178 再者，藉由本發明之光記錄重現裝置、光記錄重現方法 以及傾斜檢測方法，不僅限於上述各例，例如作為近場光 知射部，除上述SIL之外，還可以使用SIM(s〇Hd Immersion Mirror)，且毫無疑問，在不脫離本發明構造之 範圍内可以進行各種變形、變更。 【圖式簡單說明】 圖1係顯不本發明之光記錄重現裝置之一實施形態例之 概略構造圖。 圖2係顯示在本發明之光記錄重現裝置之一實施形態例 中所檢測之間隙錯誤信號量相對於間隙之變化之一例之 圖。 圖3係顯示本發明之光記錄重現裝置之一實施形態例中 之返回光量之分佈之一例之圖。 圖4係用以説明本發明之光記錄重現方法之概略截面構 造圖》 圖5係顯示本發明之光記錄重現裝置之一實施形態例中 之返回光量之分佈之一例之圖。 圖ό係顯示本發明之光記錄重現裝置之一實施形態例中 所檢測之間隙錯誤信號量相對於間隙之變化之一例之圖。 圖7係本發明之光記錄重現裝置之一實施形態例之主要 部分之概略構造圖。 圖8係本發明之光記錄重現裝置之一實施形態例之主要 部分之概略構造圖。 圖9係本發明之光記錄重現裝置之一實施形態例之概略 I08902.doc -25· 1320178 構造圖。 圖ίο係可利用於本發明之光記錄重現裝置中之分離部之 一例之概略平面構造圖。 圖11係本發明之光記錄重現裝置之一實施形態例之概略 構造圖。 圖12係使用近場光之光記錄媒體之一例之概略戴面構造 圖。 圖13係使用近場光之光記錄媒體之一例之概略截面構造 圖。 圖14係使用近場光之光記錄媒體之一例之概略截面構造 圖。 圖1 5係使用近場光之光記錄媒體之一例之概略截面構造 圖。 圖16A係顯示使用近場光之光記錄媒體與近場光照射部 之間隙之概略構造圖；圖16B係顯示使用近場光之光記錄 媒體中之間隙與返回光量之關係圖。 【主要元件符號說明】 2 3 4 5 6 8 基板 反射層 電介體層 相變材料層 電介體層 均質層 保護層 108902.doc -26- 記錄面 光記錄媒體 光源 準直透鏡 分光鏡 偏光分光鏡 1 / 4波長板 光學透鏡 近場光照射部 第1受光部 第2受光部 控制部 驅動控制部 驅動部 分離光學元件 光學透鏡 光分離部 光源 光路合成部 -27-

Claims (1)

1. D201 J^9511559〇號專利申請案 . ,中文申請專利範圍替換本(98年8月) . 十、申請專利範圍： 之光错由近場光照 ’進行記錄及/或重 一種光d錄重現裝置，係將來自光源 射部作為近場光照射在光記錄媒體上 現者’其具有： 射出光之光源； 光記錄媒體 將由上述光源射出之光作為近場光照射在 上之近場光照射部；

   接受來自上述光記錄媒體 受光部； 之返回光而進行檢測之第 由刀。J成複數之文光部接受來自上述近場光照射部之 返回光而檢測複數之檢測信號之第2受光部； 將糟由上述第2受光部所檢測出之複數之檢測信號相 加而產生複數之間隙檢測信號，並根據上述所產生之複 數之間隙檢測信號u而檢測上述光記錄媒體與上述近場光 照射部之相對傾斜之控制部；及 根據在上述控制部檢測出之傾斜，將至少修正上述近 %光照射部之傾斜的驅動信號向驅動部輸出之驅動控制 部。 工 2·如請求項1之光記錄重現裝置，其具有將來自上述光源 之光分離成複數之光束的分離光學元件，且藉由該分離 光學件分離的至少—束光係以相對於上述光記錄媒體 之記錄面而朝前後方向中之至少一方向偏移的位置作為 焦點之焦點面’向上述光記錄媒體照射。 3.如請求項1之光記錄重現裝置，其設置兩個以上之上述 108902-980824.doc I32_ 光源且至）從上述光源中之一個光源射出之光係以相 對於上述光記錄媒體之記錄面朝前後方向中之至少一方 向偏移的位置作為焦點之焦點面，向上述光記錄媒體照 射。 4. 如凊求項1之光記錄重現裝置，其中上述第2受光部具有 接又入射光之分割為複數個之受光面，且從該分割之受 光面分別輸出檢測信號。 5. 如請求則之光記錄重現裝置，其令上述近場光照射部 係固態浸沒透鏡》 6·如請求们之光記錄重現裝置’其中上述光記錄重現裝 置具有光分離部’該光分離部係分離來自上述光記錄媒 體和上述近場光照射部之返回光’使來自上述光記錄媒 體之返回光在上述第丨受光部受光，使來自上述近場光 照射部之返回光在上述第2受光部受光。 7. —種光學頭，係將來自光源之光藉由近場光照射部作為 近場光照射在光記錄媒體上，進行記錄及/或重現者，其 具有： 射出光之光源； 將由上述先源射出之光作為近場光照射在光記錄媒體 上之近場光照射部； 接受來自上述光記錄媒體之返回光進行檢測之第1受 光部； 由刀割成複數之受光部接受來自上述近場光照射部之 返回光而檢測複數之檢測信號之第2受光部； 108902-980824.doc 1320178

   將稭由上述第2受光部所檢測出之複數之檢測信號相 加而產生複數之間隙檢測信號，並根據上述所產生之複 數之間隙檢測信號而檢測上述光記錄㈣與上述近場光 照射部之相對傾斜，對應於檢測出之傾斜而將至少修正 上述近％光照射部之傾斜的驅動信號向驅動部輸出之驅 動控制部。 8.如請求項7之光學頭，其具有將來自上述光源之光分離 成：數之光束的分離光學元件，且藉由該分離光學元件 所刀離之至少一纟光係以相對於上述光記錄媒體之記錄 面而朝前後方向中之至少_方向偏移的位置作為焦點之 焦點面，向上述光記錄媒體照射。 如吻求項7之光學頭，其設置兩個以上之上述光源，且 至^從上述光源中之至少一光源射出之光係以相對於上 述光》己錄媒體之記錄面而朝前後方向中之至少一方向偏 移的位置作為焦點之焦點面，向上述光記錄媒體照射。 10.如請求項7之光學頭，其中上述第2受光部具有接受入射 光之分割為複數個之受光面，且從該分割之受光面分別 輸出檢測信號。 如叫求項7之光學頭，其中上述近場光照射部係固態浸 沒透鏡。 12·如請求項7之光學頭，其中上述光學頭具有光分離部， 該光分離部係分離來自上述光記錄媒體和上述近場光照 射。卩之返回光，使來自上述光記錄媒體之返回光在上述 第1文光部受光’使來自上述近場光照射部之返回光在 I08902-980824.doc 1320178 丨(擎H正健頁I 上述第2受光部受光。 13· 一種光記錄重現方法，係將來自光源之光藉由近場光照 射部作為近場光照射在光記錄媒體上，進行記錄及/或重 現者，且 由分割成複數之受光部接受來自上述近場光照射部之 返回光而檢測複數之檢測信號，將檢測出複數之檢測信 號相加而獲得複數的間隙檢測信號； 由上述複數之間隙檢測信號之差分檢測上述光記錄媒 體與上述近場光照射部之相對傾斜。 14. 如請求項13之光記錄重現方法，其中上述光記錄媒體係 在記錄面上至少設置有由光透過性材料構成之保護層。 15. -種傾斜檢測方法，係將來自光狀光藉由近場光照射 部作為近場光照射在光記錄媒體上； 由分割成複數之受光部接受來自上述近場光照射部之 返回光而檢測複數之檢測信號，將檢測出複數之檢測信 號相加而獲得複數的間隙檢測信號； 由上述複數的間隙檢測信號之差分檢測上述光記錄媒 體與上述近場光照射部之相對傾斜。 、 108902-980824.doc