TWI299943B - Delay locked loop in semiconductor memory device and its clock locking method - Google Patents

Delay locked loop in semiconductor memory device and its clock locking method Download PDF

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TWI299943B TW093119516A TW93119516A TWI299943B TW I299943 B TWI299943 B TW I299943B TW 093119516 A TW093119516 A TW 093119516A TW 93119516 A TW93119516 A TW 93119516A TW I299943 B TWI299943 B TW I299943B
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Description

1299943 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種延遲鎖定迴路(DLL);尤指一種DLL 於回應重置訊號時能穩定地被啓動。 【先前技術】 一般而言,一系統或一電路之時脈訊號被用作爲同步化 一執行時序及保證無誤之高速操作所用之參考訊號。 在外部時脈訊號及內部時脈訊號間便產生時脈偏移,當 將一外部時脈訊號輸入至一半導體記憶元件當做一內部時 脈訊號時,因爲外部時脈信號遲延,因此,內部時脈訊號 及外部時脈訊號需加以同步化,已有多種此類同步化裝置 被介紹。 舉例而言,相鎖迴路(PLL)及延遲鎖定迴路(DLL)即被 開發以便使內部時脈訊號與外部時脈訊號同步。 然而,由於DLL較PLL不爲雜訊所影向,故DLL廣用 於同步動態隨機存取記憶體(SDRAM)或雙倍資料速率 (DDR)SRAM等同步半導體記憶裝置中。 第1圖爲包含於一傳統DDR SDRAM之傳統DLL的方塊 圖。 如圖所示,傳統DLL包含一時脈緩衝單元101、一時脈 除頻器102、一相位比較器103、一延遲控制器104、一延 遲線單元105、一虛延遲線單元106、一延遲模組107及一 輸出緩衝器108。 時脈緩衝單元1 〇 1接收一外部時脈訊號CLK及一該 外部時脈訊號CLK之反相訊號(即外部時脈之反相訊號 1299943 /CLK),藉緩衝該外部時脈訊號CLK及該外部時脈反相訊 號/CLK產生,以產生一上升緣時脈訊號rclk及一下降緣時 脈訊號fclk。 時脈除頻器102接收該上升緣時脈訊號rclk,藉將該 上升緣時脈訊號rclk除以N之方式產生之,其中N爲自然 數,以產生一參考時脈訊號ref及一延遲監視時脈訊號 dly__in ° 相位比較器103接收該參考時脈訊號ref及一由延遲模 組107輸出之饋回時脈訊號fbjlk,並將該饋回時脈訊號 fb_clk之一上升緣與一該參考時脈訊號ref之反相訊號(即 一反參考時脈訊號/ref)的上升緣比較,並輸出該比較結果 至該延遲控制器104。 延遲控制器1 04依該相位比較器1 03之比較結果控制延 遲線單元105及虛延遲線單元106之延遲量。 延遲線單元105接收上昇及下降緣時脈訊號rclk及 fclk,以將該接收得訊號延遲一預定延遲時間。此處所言預 定延遲時間係由延遲控制器1 04依該相位比較器1 03之比 較結果而控制之。 同樣地,虛延遲線單元1 06接收該延遲監視時脈訊號 dly_in,並將該延遲監視時脈訊號延遲以一預定延遲時間。 此處所指應延遲時間係內延遲控制器1 04依相位比較器 1 03之比較結果所控制,虛延遲線單元1 06之結構同於延遲 線單元1 05者,虛延遲線單元1 06所用之功率小於延遲線 單元105所用者,此乃因虛延遲線單元106接收一經除時 脈訊號即延遲監視時脈訊號dly_in。 1299943 延遲模組1 07對虛延遲線單元1 06之一輸出訊號加以 延遲,以輸出饋回時脈訊號fb_clk。此處,延遲模組1〇7 延遲量同於外部時脈訊號CLK通過傳統DLL者,以爲輸出 緩衝器108輸出時產生之延遲。 輸出緩衝器108同步於自延遲線單元105輸出之時脈 訊號輸出資料。 第2圖爲傳統DLL之動作的時序圖。 若饋回時脈訊號fb_clk及參考時脈訊號ref輸入至相 位比較器103,則相位比較器103將饋回時脈訊fb_clk之 一上升緣與反參考時脈訊號/ref加以比較。如上所述,延 遲線單元105及虛延遲線單元106之延遲量的控制係依相 位比較器1 0 3之比較結果而爲之。 若傳統DLL在起始狀態時之操作頻率低,那麼饋回時 脈訊號fb_clk之一上升緣領先一反參考時脈訊號之一上升 緣時間周期tl。因此,饋回時脈訊號fbjlk應延遲時間周 期q,以與反參考時脈訊號/ref同步。因此,延遲控制器 104增加延遲線單元105及虛延遲線單元106之延遲量。 另一方面,若傳統饋回時脈訊號fb_clk其在起始狀態 時之操作頻率高,那麼饋回時脈訊號fb_clk之一上升緣落 後反參考時脈訊號/ref —時間周期t2。因此,延遲線單元 105及虛延遲線單元106之延遲量應減少一時間周期t2。 不過,在起始狀態延遲線單元105及虛延遲線單元106 之延遲量分別被設定爲最小延遲量,故反參考時脈訊號/ref 及饋回時脈訊號fb_clk之上升緣不能同步化。亦即,反參 考時脈訊號/ref及饋回時脈訊號fb_clk之上升緣間的的時 1299943 clk-v8。第一及第二時脈除頻訊號elk —V4-pl及elk —v4_p2 由對上升緣時脈訊號rclk除頻以4之方式產生;而第三時 脈除頻信號clkj8則爲對上升緣時脈訊號除頻以4之方式 產生。 此處,第一及第二時脈除頻訊號clk_v4-pl及clkj4_p2 的每一時脈週期皆等於外部時脈訊號CLK之四個時脈週 期。在外部時脈訊號CLK之一時脈週期內時,第一及第二 時脈除頻信號爲高邏輯準位狀態;並在外部時脈訊號C L K 之三個時脈週期內時爲低邏輯準位。同樣地5第三時脈除 頻訊號elk^8之一時脈週期等於外部時脈訊號CLK之八個 時脈週期,在外部時脈訊號CLK之一時脈週期內此第三時 脈除頻信號clk_v8爲高邏輯位準狀態,並在外部時脈訊號 CLK之七個時脈訊號期間,爲低邏輯位準狀態。 比較器致能訊號產生器303接收第二及第三時脈除頻 訊號 clk_v4_p2及 elk,以產生一比較器致能訊號 cmp一en 〇 半鎖偵測器3 04接收第二時脈除頻訊號clk_v4_p2、比 較器致能訊號cmp_en及由相位比較器3 05輸出之一比較訊 號outl,用以產生一半鎖偵測訊號semi_lock。 相位比較器3 05接收由延遲模組308輸出之一饋回時 脈訊號、上升緣時脈訊號rclk及用以產生比較訊號out 1之 半鎖偵測訊號semLlock,及複數個右移控制訊號及左移控 制訊號,即一第一右移控制訊號sr 1、一第二右移控制訊號 sr2、一第一左移控制訊號sll及一第二左移控制訊號sl2。 延遲控制器306控制延遲線單元307之延遲量,基於 1299943 該第一及第二右移控制訊號srl及sr2與第一及第二左移訊 號 sll,sl2 。 延遲線單元307對上升緣時脈訊號rclk及下降緣時脈訊 號fclk延遲一預定延遲時間,以產生延遲鎖定時脈訊號, 即一延遲鎖定上升緣時脈訊號rclk_dll及一延遲鎖定下降 緣時脈訊號fclk__dll。此處,如上所述預定延遲時間爲延遲 控制器3 06所決定,係基於第一及第二右移控制訊號srl 及sr2與第一及第二左移控制訊號sll及sl2爲之。 延遲模組3 08對延遲鎖定上升緣時脈訊號加以 延遲,以輸出延遲鎖定上升緣時脈訊號rclk_dll作爲饋回 時脈訊號fb jlk。此處,延遲模組3 08之延遲量相同於外 部時脈控制訊號CLK在通過傳統DDL至由緩衝器108輸出 爲止之延遲量。 輸出緩衝器309輸出資料係以同步於鎖定上升緣及下降 緣時脈訊號rclkjll及fclk_dll之方式爲之。 第4圖爲第3圖中時脈除頻器3 02之電路示意圖。 如圖所示,時脈除頻器302包含一第一至一第三 D型 正反器411至413及複數個邏輯閘,即一第一至一第六反 相器II及16及一第一及一第三 NAND 閘ND1至 ND3。 第一及第二D型正反器411及412經由它們的時脈輸入 端接收上升緣時脈訊號rclk 。第一 D型正反器之一資料端 接收第五反相器15之輸出端,並輸出一第一 D型正反器輸 出訊號dffl。此處,第五反相器之一輸入端連接至第二D 型正反器412之一輸出端及第三D型正反器413之一時脈 輸入端。 -11- 1299943 第二D型正反器412之資料端接收第一 D型正反器輸 出訊號dff 1,以輸出一第二D型正反器輸出訊號dff2。 第三D型正反器4 1 3之一資料端接收一第六反相器 16,該反相器16之輸入端連接至第三D型正反氣器413之 一輸出端,該第三D型正反器413輸出端則輸出一第三D 型正反器輸出訊號dff3。 ~ 第一反相器II反相第一 D型正反器輸出訊號dffl加, : 第一 NAND閘ND1對第一反相器II及第二D型正反器dff2 輸出訊號執行一邏輯NAND運算。第二反相器12對第一 φ NAND閘ND1之一輸出訊號加以反相,以輸出一第二時脈 除頻訊號clkj4_p2。 第二NAND閘ND2對第一及第二D型正反器輸出訊號 dffl及dff2執行一邏輯NAND運算,及第三反相器13反相 第二NAND閘ND2之一輸出訊號,以輸出第一時脈除頻訊 號 clk—v4一p1 〇 同樣地,第三NAND閘ND3對第三D型正反器dff3及 第一時脈除頻訊號clk_v4 執行一邏輯NAND運算,第四 _ 反相器14反相第三NAND閘ND 3之一輸出訊號,以輸出第 三時脈除頻訊號clk_v8。 第5圖爲第3圖中比較器致能訊號產生器303之電路 示意圖。 比較器致能訊號產生器303以加大一重置訊號rst之脈 波寬度的方式產生比較器致能訊號cmp_en。 比較器致能訊號cmp__en設計爲未正常操作之DLL所 用,未正常操作乃因在重置訊號輸入DLL後一仍存在時脈 -12- 1299943 如上所述,本發明之DLL得以較習知技術者高之頻率執 行相位比較動作,並可避免DLL起始狀態時產生之不可補 償的時脈偏斜。此外,DLL可無誤穩定執行重置動作,並 可因DLL未含虛延遲線而減少功率消耗。 本申請案包含與2004年3月5日提申之韓國專利申請 案2004- 1 49 1 0相關之標的,其全部倂入本案中以供參閱。 雖然本發明已一特定實施例說明於上,熟習該項技術 \ 者得在未偏離本發明之精神及範圍的條件下對本發明加以 修改,其中本發明之精神及範圍定義如後述申請專利範圍 φ 中〇 【圖式簡單說明】 在詳閱過下述較佳實施例及圖式配合說明後,本發明 之上述及其它目的及特徵將變得顯然,其中: 第1圖爲一傳統DDR SDRAM中一習知DLL之方塊圖; 第2圖爲第1圖中傳統DLL之動作的時序圖; 第3圖爲本發明一 DLL較佳實施例之方塊圖; 第4圖爲第3圖中時脈除頻器的電路示意圖; φ 第5圖爲第3圖中比較器致能訊號產生器之電路示意 圖; 第6圖爲第3圖中半鎖偵測器之電路示意圖; 第7圖爲第3圖中相位比較器及一延遲控制器之電路 不意圖; 第8圖爲第7圖中相位比較器之操作時序圖;及 第9圖爲第3圖中DLL之操作時序圖。 -16- 1299943 【主要元> 件符丨 號i 說 明 】 101 時 脈 緩 衝 單 元 102 相 位 時 脈 除 頻 器 103 相 位 比 較 器 104,306 延 遲 控 制 器 105 延 遲 線 單 元 106 虛 延 遲 線 單 元 107 延 遲 模 組 108 輸 出 緩 衝 器 30 1 時 脈 緩 衝 單 元 302 時 脈 除 頻 器 303 比 較 器 致 能 訊 號產生器 304 半 鎖 偵 測 器 305 相 位 比 較 器 306 延 遲 控 制 器 307 延 遲 線 單 元 308 延 遲 模 組 309 輸 出 緩 衝 器 4 11 第 一 D 型 正 反 器 4 12 第 二 D 型 正 反 器 4 13 第 三 D 型 正 反 器 501 第 一 閂 鎖 502 第 二 閂 鎖 601 第 二 閂 鎖 3 05 1 第 四 D 型 正 反 器 3 052 第 五 D 型 正 反 器 3 053 第 D 型 正 反 器 3 06 1 T 型 正 反: 器

Claims (1)

1299943 5 正替換f 第93 1 1 95 1 6號「半導體記憶元件之延遲鎖定迴路及其時脈 鎖定方法」專利案 (2008年2月修正) 十、申請專利範圍: 1· 一種延遲鎖定迴路(DLL),用以產生一延遲鎖定時脈訊 號,其包含: 一比較器致能訊號產生器,用以響應一重置訊號及複 數個已時脈除頻之訊號產生,而產生一比較器致能訊號; 一半鎖偵測器,用以響應該比較器致能訊號而產生一 半鎖偵測訊號; 一相位比較器,爲該比較器致能訊號所致能,用以接 收一上升緣時脈訊號及一饋回時脈訊號,以比較該上升 緣時脈訊號及該饋回時脈訊號,並輸出該比較結果;及 一 DLL產生器,用以響應該比較結果而產生該延遲鎖 定之時脈訊號, 其中該比較器致能訊號係由對重置訊號之脈波寬度放 大達一預定量所產生。 2 ·如申請專利範圍第1項之DLL,其中若該比較器致能訊 號被致動,則該相位比較器響應該半鎖偵測訊號而輸出 該比較結果。 3.如申請專利範圍第2項之DLL,其中該DLL產生器包含: 一時脈緩衝器,接收一外部時脈訊號,以產生該上升 緣時脈訊號及一下降緣時脈訊號; 一時脈除頻器,用以藉除頻該上升緣時脈訊號而產生複 數個已時脈除頻之訊號; Q7 O pi ~~ 莩背δ修正替換頁, 1299943 一延遲線單元,用以藉由響應複數個右移訊號及左移訊 號而延遲該上升緣時脈訊號及該下降緣時脈訊號’來產 生該延遲鎖定之時脈訊號; 一延遲線單元控制器’用以產生複數個右移訊號及左 移訊號;及 一延遲模組,對產生該饋回時脈訊號的延遲鎖定之時 脈訊號加以延遲。 4.如申請專利範圍第3項之DLL,其中該比較器致能訊號 產生器包含: 一第一傳輸閘,用以響應該複數個已時脈除頻之訊號 之一*來傳輸一'電源供應電壓; 一 N A N D閘,用以接收該重置訊號及該第一傳輸閘之 一輸出訊號; 一反相器,並聯連接至該NAND閘; 一第二傳輸閘,用以響應該複數個已時脈除頻之訊號 之一來傳輸該NAND閘之一輸出訊號;及 一閂鎖,用以響應該重置訊號及該第二傳輸閘之一輸 出訊號,而輸出處於第一邏輯狀態之半鎖偵測訊號。 5 .如申請專利範圍第4項之DLL,其中該半鎖偵測器包含: 一 PMOS電晶體,用以接收該比較器致能訊號; 一第一 NMOS電晶體,用以接收該複數個已時脈除頻之 訊號之一,並連接至該PMOS電晶體; 一邏輯閘單元,用以接收該相位比較器之一輸出訊號 及該比較器致能訊號; 一第二NMOS電晶體,用以接收該邏極閘單元之一輸 1299943 「年月日修正雜頁丨 Μ 裊 τ—- .., rr- I ii τ ^ 出訊號;及 PMOS電晶 訊號。 ;較器包含: 訊號及該上 右移或左移 回之時脈訊 線單元之延 D型正反器 並經由一時 比較器更包 出該電源供 之一° D型正反器 一閂鎖,其閂鎖該第一 NMOS電晶體及該 體之汲極的一輸出訊號,以輸出該半鎖偵測 6. 如申請專利範圍第5項之DLL,其中該相位tt 一第一 D型正反器,接收該已饋回之時脈 升緣時脈訊號,以決定是否對該延遲線單元 一延遲量;及 一第二及一第三D型正反器,接收該已饋 號及該上升緣時脈訊號,以決定移動該延遲 遲量的速度。 7. 如申請專利範圍第6項之DLL,其中該第一 經由一資料端來接收該已饋回之時脈訊號, 脈輸入端來接收該上升緣時脈訊號。 8 .如申請專利範圍第7項之DLL,其中該相位 含一多工器,用以響應該半鎖偵測訊號而輸 應電壓及該第一 D型正反器之輸出訊號其中 9.如申請專利範圍第8項之DLL,其中該第二 比較該已饋回之時脈訊號及一已延遲之上升緣時脈訊 號,而該第三D型正反器比較該上升緣時脈訊號及一被 延遲的已饋回之時脈訊號。
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Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7477716B2 (en) * 2003-06-25 2009-01-13 Mosaid Technologies, Inc. Start up circuit for delay locked loop
US7190201B2 (en) 2005-02-03 2007-03-13 Mosaid Technologies, Inc. Method and apparatus for initializing a delay locked loop
US7428284B2 (en) * 2005-03-14 2008-09-23 Micron Technology, Inc. Phase detector and method providing rapid locking of delay-lock loops
US7355464B2 (en) * 2005-05-09 2008-04-08 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for controlling a delay- or phase-locked loop as a function of loop frequency
US7449930B2 (en) * 2005-09-29 2008-11-11 Hynix Semiconductor Inc. Delay locked loop circuit
KR100810070B1 (ko) * 2005-09-29 2008-03-06 주식회사 하이닉스반도체 지연고정루프
KR100757921B1 (ko) * 2006-03-07 2007-09-11 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 dll 회로 및 클럭 지연 고정 방법
JP5134779B2 (ja) * 2006-03-13 2013-01-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 遅延同期回路
KR100829453B1 (ko) * 2006-08-11 2008-05-15 주식회사 하이닉스반도체 Dll 회로의 기준 클럭 생성 장치 및 방법
KR100810073B1 (ko) * 2006-09-29 2008-03-05 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그 구동방법
KR100807116B1 (ko) * 2006-10-31 2008-02-26 주식회사 하이닉스반도체 지연 고정 루프
US7755403B2 (en) * 2006-11-14 2010-07-13 Hynix Semiconductor Inc. Apparatus and method of setting operation mode in DLL circuit
KR100837810B1 (ko) * 2006-11-14 2008-06-13 주식회사 하이닉스반도체 Dll 회로 및 그 제어 방법
KR100906998B1 (ko) * 2006-12-07 2009-07-08 주식회사 하이닉스반도체 Dll 회로의 동작 주파수 제어 장치 및 방법
KR100845784B1 (ko) 2006-12-08 2008-07-14 주식회사 하이닉스반도체 지연 고정 루프의 지연 장치
KR100857429B1 (ko) * 2006-12-18 2008-09-09 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 지연 고정 루프 회로
KR100834401B1 (ko) * 2007-01-08 2008-06-04 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자와 그의 구동 방법
KR100837822B1 (ko) * 2007-01-10 2008-06-16 주식회사 하이닉스반도체 Dll 회로 및 그 제어 방법
KR100834399B1 (ko) 2007-01-10 2008-06-04 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그의 구동방법
KR101018706B1 (ko) 2007-03-29 2011-03-04 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그 구동방법
US7602224B2 (en) * 2007-05-16 2009-10-13 Hynix Semiconductor, Inc. Semiconductor device having delay locked loop and method for driving the same
TWI337004B (en) * 2007-05-24 2011-02-01 Nanya Technology Corp Duty cycle corrector and duty cycle correction method
US20080315927A1 (en) * 2007-06-11 2008-12-25 Hynix Semiconductor Inc. Frequency adjusting apparatus and dll circuit including the same
KR100907002B1 (ko) * 2007-07-12 2009-07-08 주식회사 하이닉스반도체 지연 동기 루프 및 그의 제어 방법
KR100892678B1 (ko) 2007-10-10 2009-04-15 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법
KR20090045773A (ko) * 2007-11-02 2009-05-08 주식회사 하이닉스반도체 고속으로 동작하는 반도체 장치의 지연 고정 회로
TW200924385A (en) 2007-11-28 2009-06-01 Realtek Semiconductor Corp Jitter generator for generating jittered clock signal
CN102006160B (zh) * 2007-12-24 2013-09-11 瑞昱半导体股份有限公司 用来产生抖动时钟信号的抖动产生器
KR100974211B1 (ko) 2008-02-14 2010-08-06 주식회사 하이닉스반도체 락킹 상태 검출기 및 이를 포함하는 dll 회로
KR101086502B1 (ko) 2008-12-26 2011-11-25 주식회사 하이닉스반도체 위상혼합회로 및 그를 포함하는 지연고정루프회로
KR101062743B1 (ko) 2009-04-15 2011-09-06 주식회사 하이닉스반도체 반도체 집적 회로 및 그 제어 방법
US8045402B2 (en) * 2009-06-29 2011-10-25 Arm Limited Assisting write operations to data storage cells
KR101040243B1 (ko) 2009-07-30 2011-06-09 주식회사 하이닉스반도체 Dll 회로의 업데이트 제어 장치
JP5588254B2 (ja) * 2009-08-04 2014-09-10 キヤノン株式会社 遅延同期ループ回路
KR101027688B1 (ko) * 2009-09-30 2011-04-12 주식회사 하이닉스반도체 반도체 장치
CN102088286B (zh) * 2009-12-02 2013-07-31 晨星软件研发(深圳)有限公司 延迟锁定回路及相关方法
TWI508458B (zh) 2009-12-02 2015-11-11 晨星半導體股份有限公司 延遲鎖定迴路及相關方法
KR101034617B1 (ko) * 2009-12-29 2011-05-12 주식회사 하이닉스반도체 지연 고정 루프
KR20130098683A (ko) * 2012-02-28 2013-09-05 삼성전자주식회사 지연 위상 루프 회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치
US8760946B2 (en) * 2012-05-22 2014-06-24 Advanced Micro Devices Method and apparatus for memory access delay training
CN105321552B (zh) * 2015-11-17 2018-08-10 西安紫光国芯半导体有限公司 一种延迟锁相环及其复位控制方法
CN107579736B (zh) * 2016-07-05 2023-09-19 综合器件技术公司 混合锁定检测器
CN109900971B (zh) * 2017-12-11 2023-01-24 长鑫存储技术有限公司 脉冲信号的处理方法、装置以及半导体存储器
CN111478698B (zh) * 2020-04-03 2023-06-02 上海安路信息科技股份有限公司 锁相环锁定检测电路
CN112951309B (zh) * 2021-03-15 2021-11-19 长江存储科技有限责任公司 半导体存储器的验证错误位量化电路和方法
US11483005B1 (en) * 2022-06-28 2022-10-25 Iq-Analog, Inc. System reference (SYSREF) signal system and method

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5337285A (en) * 1993-05-21 1994-08-09 Rambus, Inc. Method and apparatus for power control in devices
KR100224690B1 (ko) * 1997-02-05 1999-10-15 윤종용 위상동기 지연회로
US5977801A (en) 1997-07-07 1999-11-02 International Business Machines Corporation Self-resetting phase/frequency detector with reduced dead zone
KR100263484B1 (ko) 1998-04-25 2000-08-01 김영환 클럭신호 지연 장치
US6069506A (en) 1998-05-20 2000-05-30 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for improving the performance of digital delay locked loop circuits
JP4036531B2 (ja) 1998-05-27 2008-01-23 富士通株式会社 半導体集積回路
JP3439670B2 (ja) * 1998-10-15 2003-08-25 富士通株式会社 階層型dll回路を利用したタイミングクロック発生回路
KR100326809B1 (ko) 1999-04-09 2002-03-04 박종섭 딜레이 동기회로
US6262608B1 (en) * 1999-05-21 2001-07-17 Parthus Technologies Plc Delay locked loop with immunity to missing clock edges
JP2001060392A (ja) 1999-08-24 2001-03-06 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
US20020130691A1 (en) 2001-03-15 2002-09-19 Silvestri Paul A. Method and apparatus for fast lock of delay lock loop
US6937680B2 (en) 2001-04-24 2005-08-30 Sun Microsystems, Inc. Source synchronous receiver link initialization and input floating control by clock detection and DLL lock detection
KR100422585B1 (ko) * 2001-08-08 2004-03-12 주식회사 하이닉스반도체 링 - 레지스터 제어형 지연 고정 루프 및 그의 제어방법
KR100444298B1 (ko) * 2001-11-02 2004-08-16 주식회사 하이닉스반도체 지연고정방법 및 이를 이용한 지연고정루프
KR100502675B1 (ko) * 2001-12-12 2005-07-22 주식회사 하이닉스반도체 레지스터 제어형 지연고정루프회로
KR100527399B1 (ko) 2002-05-10 2005-11-15 주식회사 하이닉스반도체 반도체메모리장치의 디엘엘구동회로
KR100484252B1 (ko) * 2002-11-27 2005-04-22 주식회사 하이닉스반도체 지연 고정 루프 회로

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