TW297956B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TW297956B
TW297956B TW085101913A TW85101913A TW297956B TW 297956 B TW297956 B TW 297956B TW 085101913 A TW085101913 A TW 085101913A TW 85101913 A TW85101913 A TW 85101913A TW 297956 B TW297956 B TW 297956B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
layer
current
current path
region
type
Prior art date
Application number
TW085101913A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Sharp Kk
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2842095A external-priority patent/JP3240097B2/ja
Priority claimed from JP3737795A external-priority patent/JP3240099B2/ja
Application filed by Sharp Kk filed Critical Sharp Kk
Application granted granted Critical
Publication of TW297956B publication Critical patent/TW297956B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • H01L33/24Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate of the light emitting region, e.g. non-planar junction
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/14Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure
    • H01L33/145Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure with a current-blocking structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • H01L33/382Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape the electrode extending partially in or entirely through the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
    • H01L33/46Reflective coating, e.g. dielectric Bragg reflector

Description

A7 B7 ^07906 五、發明説明丄 發明背景 1 .發明範圍: (請先閱讀^-面之注意事項再填寫本頁) 本發明係關於一半導體發光裝置及其製造方法,特別地 ,本發明係關於:一種裝置結構,能在不增加製造步·驟數 目之下加強亮度;及其製造方法。 2 .相關技藝又 近年來發光廣泛使用於室内與室外顯示裝置 ,特別地,可期來數年内室外顯示裝置的市場會擴 展,且有增加亮度5^需求,而LED會在顯示媒體市場中成 長,且於—未來可取代霓虹燈廣告。在具有AlGaAs型雙異 質(D Η )結構之紅色LED中可實現高亮度的LED,近年來 在具有AlGalnP型DH結構之摘色至綠色LED中’,也可實 亮度LED。 ,、
AlGalnP型材料在(III-V)群複合半導體材料中除了j 化物外,具有最大的直接轉移型帶隙,在用於0.6至0.¥多 Am發光裝置的材料中已引起大家注意。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 特別地,用GaAs作基體材料的ρ η接-面型LED ϋ具有由-AlGalnP製成的發光部分,其與GaAs晶格匹配,並能發射 高亮先的紅光至綠光,這是與使用間接轉移型材料如GaP 及GaAs p以取代發光部分的材料相比。爲了實現高亮度的 LED,亦即爲了減少LED的發光量,重要的是··在裝置的 發光部分增加發光效率;在考慮裝置的吸光性下,有效利 用裝置發光部分產生的光;及發光部分與電極間的相對位 置關係。 -4 -本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) A7 A7 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 - —~B7 五、發明説明_ (_ 2 ) 圖 2 1 Δ 與圖2 1 B是具有AlGalnP發光部分的傳統LED之 圖(參考曰本專利第4_229665號),在圖21a中用虛線 表不電泥分布,在圖2 1 b中用發光部分^發射光(以下簡稱 LED光)的路徑(實線)表示裝置中發光的方式。 參考這些附圖’ Pn接面型LED10包括一 p-GaAs基體1 1 上形成一具有D Η接面部分的層狀結構1 〇 a。此層狀 結構 1 〇 a 包括:一 P - AlGalnP 下覆蓋層 1 2,一 n - AlGalnP 活性層1 3,及一 n _ A1GaInp上覆蓋層i 4,此順序是由p _ GaAs基體11之表面看去。一 η型電極15a設置於一n_ GaA.s接觸層υ上,該層於n_ A1GaInP上覆蓋層1 4的一部 分上形成,及—P型電極11a設置於整個p - GaAs基體1 1的 反面。郅分AlGainp活性層i 3就在η型電極5 a下面,及 其四週形成L E D1 0的發光邵分1 3 a。具有上述結構的 LED 10有3個問題,第一,因爲發光部分13a限於^型電 極1.5 a下方的窄小區域’所以裝置上表面發射光的效率很 低。 換言之,η-AlGalnP上覆蓋層14的電阻稍小於p__ AlGalnP下覆蓋層1 2的電阻,然而,即使n-AlGalnP上覆 盖層1^4約捧雜3 , Ai g alnl*上覆蓋層14中電子 移動的程度仍很低(即1 00 cm/V. s),因此電流沒有在n _ AlGalnP上覆蓋層14中完全擴散。 因此,增加η型電極15a正下方部分AlGalnP活性層工3 的發光量,如圖21B所示,而η型電極15a反射從η型電極 1 5正下方部分AlGalnP活性1 3的上流LED光(a,b與c )。 " -5- ^纸張尺度適用中國國家標準(匚奶)八4規格(210'乂297公釐) '~~Γ — ~7 ^ 裝 訂 —^:〉 (樣先閱讀t面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣準局員工消費合作衽印製 A7 ------------B7 五、發明説明(:3 ) ~ ---—- 因此裝置前表面發射光的效率很低。 第二,發射光的效率低是因爲LED光被裝置上表面反射 亦即,如圖2lb所示,從η型電运15a正下方部分 AlGalnP活性層13中,流向n型電極i5a設置於裝置表面 上位置之外的LED光(d),入射在裝置上表面,其角度等 於或大於臨界角,並由裝置上表面反射回裝置内部。因此 裝置上表面發射光的效率極低。 第三,橘色至綠色範圍.内的高亮度LED發射LED光,使 用混合半導體材料作爲其组成材料。因此,當此結晶材料 在基.體面(100)上生長時,生長層中即形成超級晶格。 超級晶格在< 111>方向是長距順序化結構,由、In、 與A1等群III原子组成。wGaInP爲例,Ga〇5ln〇5p帶隙 中形成的超級晶格,與理想混合結晶狀態下於“Μ 5p 帶隙中形成的超級晶格相比,約小9〇mev。因此在此種情 況下形成的超級晶格,其波長比期望波長更長。這需要增 加A1的成分,以允許波長採用原來設定値。因此,Ai成 分的增加會減少效率與可靠度。 _ - 曰本專利第4-229665號揭露一種可克服上述第一問題之 發明\根據此專利而設置一電流擴散層,其允許電流於發 光部分與一邊上電極之間擴散,而光從該邊上射出,因此 改善發光部分的電流分佈。 圖2 2是具有上述電流擴散層的LED之剖視圖。參考此圖 ’具有一電流擴散層2 8的LED 2 0包括一n - GaAs基體2 1, 其與圖21a與21b所示的LED10相同,具有dh接面部分 -6- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (#.先閲讀t·面之注意事項再填寫本頁) .裝· *-° 經濟部中央標準局工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明—(:4 ) . 的層狀結構2 0 a設置於上面。該層狀結構2 0 a包括:一 η -AlGalnP下覆蓋層22,一 AlGalnP活性層23,及一 ρ-AlGalnP上覆蓋層24,此順序是由n - G.aAs基體2 1表面看 去。一 p - GalnP立即帶隙層2 6設置在p - AlGalnP上覆蓋層 2 4上,一 η - GalnP電流阻擋層2 7設置在p - GalnP立即帶隙 層26表面之預設區。 電流擴散層2 8設置在p - GalnP立即帶隙層26與n-AlGalnP電流阻擋層2 7的整個表面上。經由一 p - GaAs接 觸層25而Ip型電極25a設置在電流擴散層28的表面上, 以反.抗n_: A1 GalnP電流阻擋層27。一 η型電極21a形成在 η - GaAs基體21的整個反面上。 、 以下説明製造上述LED的方法。 在第一結晶生長步驟中,η-AlGalnP下覆蓋層22, AlGalnP活性層2 3,及p - AlGalnP上覆蓋層2 4皆以此次序 形成j於結晶生長裝置的η - GaAs層21上。接著p - GalnP立 即帶隙層2 6與η - AlGalnP在p - AlGalnP上覆蓋層24上生長 〇 - _ _ 從結晶生長裝置中取出最後的η - GaAs基體2 1,並置於 蚀刻養置中,作第一次蚀刻處理。特別地,選擇性蚀刻 n-AlGalnP層,以便在p-GalnP立即帶隙層26上以圓圈樣 式形成n-AlGalnP電流阻擋層27。 接著將作過上述蝕刻處理的η - GaAs基體2 1置於結晶生 長裝置’作第二次結晶生長。在第二結晶生長步驟中’電 流擴散層2 8生長在p - GalnP立即帶隙層26與n - GalnP電流 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) —^ ^ ™ 裝 訂 ^ /. (鍊先閱讀"-面之注意事項再填寫本頁) 1 f\ r-j r\ ^ A7 B7 五、發明説明ς 5 ) : 阻擋層27的整個表面上,而ρ - GaAs層則在電流擴散層2 8 上生長。 從結晶生長裝置中取出最後的n- Ga人s基體2 1,而P型 電極25a與η型電極21a分別形成於p - GaAs層與η - GaAs的 反面上。在此,ρ型電極25a就在電流阻擋層27上方ρ-GaAs層表面上的區域中形成。藉著選擇性蝕刻以去除ρ型 電極25a下面p - GaAs層所在位置以外部分,以便在ρ型電 極25a正下方形成p - GaAs接觸層2 5。 在圖2 2的傳統LED 2 0中,從ρ型電極2 5 a注入電流擴散 層2》的電流,大致擴散至電流擴散層2 8的ρ型電極2 5 a的 兩邊’並經由p - GalnP立即帶隙層26注入p - AlGalnP上覆 蓋層2 4。因此在具有上述結構的LED 20中’,發光區廣布 於P型電極25a正下方區域,及其附近以外區域。,_電流阻 擋層2 7阻擋從ρ型電極2 5 a流向其正下方區域的電流,以 使注_入卩型電極25a正下方AlGalnP活性層2 3的電流導入 其他區域。因此,增加射入ρ型電極25&正下方以外區域 光量,並增加發射LED光的效率。-- 但是爲了製造這種結構的LED20,需要兩個結晶生長步 驟,&而產生成本與發光量的問題。此外選擇性蝕刻n_ AlGalnP層成爲電流阻擋層2 7後,電流擴散層2 8即又在 p - GalnP立即帶隙層26與電流阻擋層27上生長。因此產 生再生長介面的晶質問題’而影響裝置的特性與可靠度。 如上所述圖2 0的傳統LED 2 0可克服上述第—問題,亦 即發光部分限於ρ型電極下的窄小區域,因此減少裝置上 -8 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CMS ) Α4規格(210X297公釐 請· 先、 閲 讀 背- 意 事 項 嗜 ί 本衣 頁 訂 Λ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 經濟部中央標準局t貝工消費合作社印製 A7 I---—_ B7 五、發明説明(τ " " * ' — 表面發射光的效率。伸^ 干疋LED 20在製造過程中產生與此 相關的第四問題。 此外LED20的結構不能克服上述第二:問題,亦即因裝置 表面反射LED光而產生發光效率低落的問題。此外也沒克 服第三問題’亦即A1GaInP混合半導體材料在基體面(⑽) 上生長而產生與超級晶格有關的問題。因此,根據 LED 2 0很難增加亮度,保持滿意的特性、可靠度等。 如上所述圖2la、2113與22所示的傳統半^體發光裝置 分別具有多種問題。 總Λ在傳統LED10中,電流充分地在n_A1GaInp上覆蓋 層14中擴散,因此增加n型電極正下方區域的發患量,而 η型電極15a反射從η型電極正下方區域上流:的LED光(& , b與c) ’如圖21b所示。這導致裝置上表面發射光.的效率 低落。 此外從發光郅分流向η型電極設置於裝置表面上位置之 外的LED光(d),入射在裝置上表面,其角度等於或大於 臨界角,此光並未從裝置中射出,由此觀之裝置上表面發— 射光的效率低落。 還#MtAlGaInP半導體發光裝置中,—超級晶格於具有 平面(1 0 0 )的基體表面上形成,以使LED光的波長大於期 望波長。然而爲了調整因過長波長導致發射LED光的色移 ,需要增加A1成分。這會產生發光效率與可靠度減少的 問題。 在圖2 2所示的LED中電流擴散層與電流阻擋層使發光區 — -9 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ~ ~ ;- η裝------訂------^1 (洗先閱請#·面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(:7 ) : 延伸至電極正下方以外的區域,以加強發射光的效率。然 而從裝置内部以等於或大於臨界角的角度入射在基體上表 面的LED光,不能從裝置上表面輸出。因此仍存在裝置上 表面發射光效率極低的問題。此外LED 2 0的結構不能解 決因AlGalnP混合半導體LED中超級晶格產生的問題。 此外,根據製造具有圖2 2中所示結構之LED 2 0的方法 ,需要二次結晶生長步驟,因此會增加成本又減少發光量 〇 此外根據此方法,下覆蓋層、活性層、上覆蓋層、立即 帶,層、一及當作電流阻擋層的半導體層之後,皆生長在晶 圓(基體)上,晶圓取自結晶生長裝置,並選擇性兮刻半導 體層,因此形成電流阻擋層。接著再將晶圓γ放在結晶生長 裝置上,並以曝露立即帶隙層及電流阻擋層的方式’將電流 擴散層再生長於晶圓上。因此當蚀刻電流阻擂層時,從結 晶生長裝置中取出晶圓並曝露在空氣中,這可能導致生長 介面氧化及雜質混合。因此會產生再生長介面的晶質劣化 ,及裝置特性與可靠度下降等問題Q . 發明之概述 一#V本發明之半導體發光裝置,包括:一第一導電性型 之半導體基體,具有一上表面與一下表面;一電流路徑調 整層,包括一電流阻擋區與一電流通過區,包含:一第一 導電性型之第一掺雜劑與一第二導電性型之第二摻雜劑; 多層結構,形成於半導體基體上表面與電流路徑調整層之 間,多層結構包括:一活性層,以發光;及一對覆蓋層, 一 -10- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ( J ^-----「裝-- (株先閱讀t面之注意事項再填寫本頁) -3 A7 B7 五、發明説明(:8 ) r 請-先: 閲 讀 背· ιέ 意 事 項 再一 填 ί装 頁 將活性層插入之間;一第一電極,形成於半導體基體之下 表面上;及一第二電極形成於電流路徑調整層之電流阻擋 區之上,其中半導體基體之上表面具有一平坦區與一槽狀 區,其中至少形成一槽,而電流路徑調整層之導電性依槽 斜坡之結晶方向’及半導體基體上表面之平坦區之結晶方 向而局部改變,而槽狀區域上之電流阻擋區具有第一導電 性,平坦區域上之電流通過區具有第二導電性。 在本發明之一具體實例中,半導電基體上表面之平坦區 之結晶方向是(1 00),槽狀區域中槽斜坡之結晶方向是A 方向.。… 訂 在本發明之另一具體實例中,具有第二導電性冬覆蓋層 形成於電流路徑調整層與第二電極之間。~ -4 ,.泉 在本發明之另一具體實例中,上述半導體發光裝’置包括 一電流擴散層,其具有第二導電性型,形成於電流路徑調 整層與第二電極之間,擴散一電流以使電流路徑之剖面於 電流路徑調整層邊上變成大於第二電極邊上。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 在本發明之另一具體實例中,電流擴散層於其冲包括一 第二電流路徑調整層,第二電流路徑調整層包含:一第一 掺雜秦,用於第一導電性型;及第二摻雜劑型,用於第二 導電性型;而第二電流路徑調整層包括:一第二電流阻擋 區,根據半導體基體槽狀區域中槽斜坡之結晶方向,於第 一摻雜劑邊具有一第一導電性型;及一第二電流通過區, 根據半導體基體平坦區之結晶方向,於第二摻雜劑邊具有 一第一導電性型。 -11 - 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) Α4規格(2丨0 X 297公釐)
電流路徑調整層之電流阻 多層結構包括一反射層, 多層結構係由(A1 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 在本發明之另一具體實例中 擋區係—高電阻區域。 在本發明之另—具體實例中 以反射產生於活性層中之光。 在本發明之另一具體實例中/ q…π叩 Ui-yln^^ (〇 ,osyd)製成 =發明之另—具體實例中,t流路徑調整層係由 層(0SxSl,0 0^1)製成。 在本發明之另—具體實例中,電流擴散層係由A1 Ga1:xAs(t)SxS1)製成。 x 在本發明〈另一具體實例中,電流擴散層係由( ai-Axh-yP 層(〇SxS1,〇SySl)製成、 或者,一種本發明之半導體發光裝置, 一 電性型之半導俨某触 目女 乐導 爷基植,具有一上表面與一下表面;一多層 結構,今括. « ,、匕括.一活性層,以發光;及一對覆蓋層,置於活 陡層之間,—電流路徑調整層,形成於半導體基體上表面 與多層結構之間,該電流路徑調整層,.包括一電流阻擋區 與:電流通過區,包含:一第一導電性型之第一摻雜劑與 -第 '導黾性型之第一摻雜劑;一第一電極,形成於半導 體基體之下表面上;一第二電極形成於電流路徑調整層之 電流阻擋區之上;而其中半導體基體之上表面具有—平坦 區與一槽狀區,其中至少形成一槽,而電流路徑調整層2 導電性依槽斜坡之結晶方向,及半導體基體上表面之平坦 區t結晶方向而局部改變,而槽狀區域上之電流阻擋區具 12 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) (請先閱讀t-面之注意事項再填寫本頁) .裝_ 訂 五 、發明説明《 A7 B7 有第一導雷,Μ: φ ’平坦區域上之電流通過區具有第二導電性 —發月之具隨實例中,電流路徑調.整層之電流阻擋區 係—高電阻區域。 言在本發明之另—具體實例中,半導體基體包括-第二覆 層^具有第—導電性,形成於半導體基體與電流路徑 碉整層之間。 电u格铋 本發明 < 另—具體實例中,上述半導體發光裝置包括 流擴散層,其具有第二導電性,設置於多層結構與第 电.棱乏間,擴散—電流以使電流路徑之剖面於層狀結構 邊上變成大於第二電極邊上。 在本發明之另—具體實例中,一反射層反T射產生於活性 層中之光,係形成於半導體基體上。 在本發明之另一具體實例中,多層結構係由(Α、 Gal-x)l-yInyP層(0 SxSl,〇$ySl)製成。 在本發明之另一具體實例中,電流路徑調整層係由 (AlXG*ai-x)l-yInyP 層(0 含 Xgl,〇gy-gl)製成。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製
在本發明之另一具體實例中,電流擴散層係由A、 Gal-xXs(〇 S X s 1 )製成。 X 在本發明之另一具體實例中,電流擴散層係由Ο、 (Gai-xAlxh-yP 層(〇 运 X 运 1,OSySl)製成。 根據本發明之另一觀點,一種製造半導體發光裝置之方法 ,包括以下步驟:於第一導電性型半導體基體之上表面上 ,形成一槽狀區與一平坦區;於半導體基體之上表面邊上 -13- 表紙乐尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) A7
2072〇G B7 五、發明説呀(:11 ) : 形成一多層結構,該多層結構包括:一活性層,以發光; 及一對覆蓋層,將活性層插入之間;且在以第一導電性型 之第一摻雜劑及第二導電性型之第二摻:雜劑摻雜電流路徑 調整層之同時,於多層結構上生長電流路徑調整層,其中 在電流路徑調整層中,一電流阻擋區形成於半導體基體之 槽狀區之上,以便具有一第一導電性型,而電流通過區形 成於半導體基體之平坦區之上,以便具有第二導電性型。 在本發明之具體實例中,第一摻雜劑係ζ η,而第二摻 雜劑係S e。- 或_者,…一種製造半導體發光裝置之方法,包括以下步驟 :於第一導電性型半導體基體之上表面上,形成了槽狀區 與一平坦區;在以第一導電性型之第一摻雜>1及第二導電 性型之第二掺雜劑摻雜電流路徑調整層之同時,於半導體 基體上表面之上形成一電流路徑調整層;以及於電流路徑 調整層上形成一多層結構,該多層結構包括:一活性層, 以發光;及一對覆蓋層將活性層插入之間;其中在電流路 徑調整層中,一電流阻擋區形成於半導體基體之槽狀區之-上,以便具有第二摻雜劑之第二導電性,而電流通過區形 成於本導體基體之平坦區之上,以便具有第一掺雜劑之第 一導電性。 在本發明之具體實例中,第一掺雜劑係S e,而第二摻雜 劑係Ζ η。 根據本發明之另一觀點,一半導體發光裝置包括:一第 '一導電性型之半導體基體,具有一上表面與一下表面;一 ’ -14- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐) ( J. . ^ 裝 訂 ^ (I先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A 7 B7 五、發明説呀(:12 ) . 電流路徑調整層,包括一電流阻擋區與一電流通過區,包 含:一第一導電性型之第一摻雜劑與一第二導電性型之第 二摻雜劑;一多層結構,形成於半導體'基體上表面與電流 路徑調整層之間,多層結構包括:一活性層,以發光;及 一對覆蓋層,將活性層插入之間;一第一電極,形成於半 導體基體之下表面;及一第二電極形成於電流路徑調整層 之電流阻擋區之上,其中半導體基體之上表面於上表面上 具有一平坦區與一槽狀區,而電流路徑調整層之導電性依 槽斜坡之結晶方向,及半導體基體上表面之平坦區域之結 晶方.向為局部改變,而平坦區上之電流阻擒區具有第一導 電性型,槽狀區域上之電流通過區具有第二導電性。 在本發明之具體實例中,上述半導體發光k置包括一電 流擴散層,其具有第二導電性型,形成於電流路徑'調整層 與第二電極之間,擴散一電流以使電流路徑之剖面於電流 路徑調整層邊上變成大於第二電極邊上。 在本發明之另一具體實例中,電流擴散層包括一第二電 流路徑調整層,第二電流路徑調整層包含:一第-一捧雜劑-,用於第一導電性;及第二摻雜劑型,用於第二導電性; 而第Λ電流路徑調整層包括:一成形之第二電流阻擋區, 以便根據半導體基體平坦區之方向而具有第一掺雜劑之導 電性;及一成形第二電流通過區,以便根據半導體基體槽 狀區中槽斜坡之方向而具有第二摻雜劑之導電性。 在本發明之另一具體實例中,電流阻擋區係一高電阻區 域。 — -15- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) : —^ « ^丨裝 訂 ^ V、 (請先閱讀t-面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 __B7 五、發明説明(:13 ) . 在本發明之另一具體實例中,一反射層反射產生於活性 層中之光,係形成於半導體基體上。 或者,一種半導體發光裝置包括:一'第一導電性型之半 導體基體,具有一上表面與一下表面;一多層結構包括: 一活性層,以發光;及一對覆蓋層,將活性層插入之間; 一電流路徑調整層,形成於半導體基體上表面與多層結構 之間,該電流路徑調整層,包括一電流阻擋區與一電流通 過區,包含:一第一導電性型之第一摻雜劑與一第二摻雜 劑,用於第二導電性型;一第一電極,形成於半導體基體 之下,表®·上;及一第二電極形成於電流路徑調整層之電流 阻擋區之上,其中半導體基體之上表面具有一平每區與一 槽狀區,槽在其中形成,而電流路徑調整層之導電性依槽 斜坡之結晶方向’及半導體基體上表面之平坦區域’之結晶 方向而局部改變,而平坦區上之電流阻擋區具有第二導電 性型,而槽狀區上之電流通過區具有第一導電性型。 在本發明之具體實例中,電流阻擋區係一高電阻區域。 在本發明之另一具體實例中,上述半導體發光-裝置包括-一電流擴散層,其具有第二導電性設置於多層結構與第二 電極i間,擴散一電流以使電流路徑之剖面於層狀結構邊 上變成大於第二電極邊上。 在本發明之另一具體實例中,一反射層反射產生於活性 層中之光,係形成於半導體基體上。 根據本發明之另一觀點,一種製造一半導體發光裝置之 方法,包括以下步驟:於第一導電性型半導體基體之上表 — -16- ✓ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) ( ―:---------(1¾衣-- (I先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、\=° .^1.,1 A7 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説呀(-14 ) : 一 面上,形成一 槽狀區與 一 平坦 區 ;於半導 體基 體 上 表面 邊 之上形成一多 層結構, 該 多層 結構包括: 一活 性層 ,以 發 光;及一對覆 蓋層,將 活 性層 插 入之間'; 且在 以 用 於第 一 導電性型之第 一摻雜劑 及 用於 第 二導電性 型之 第 二 掺雜 劑 摻雜電流路徑 調整層之 同 時, 於 多層結構 上形 成 電 流路從 調整層,其中 在電流路徑 調整層 中,一阻 擋電 流 之 電流 阻 擋區形成平坦 區上’以 便 具有 第 一掺雜劑 之第 一 導 電性 型 ,而通過電流 之電流通 過 區形 成於槽狀區 上, 以 便 具有 第 二摻雜劑之第 二導電性 〇 在,本發_ S月之 具體實例 中 ,第 —— 掺雜劑係 S e, 而 第 二掺雜 劑係Ζ η。 - 或者,一種 製造半導 體 發光裝 置之方法 ,包括 以 下步 驟 :於第一導電 性半導體 基 體之 上 表面上, 形成 一 檜狀區 與 一平坦區;在 以用於第 — 導電 性 型之第一 掺雜 劑 及 用於 第 二導電性型之 第二摻雜 劑 摻雜 流路徑調 整層 之 同 時, 於 半導體基體上 表面之上 形 成一 電 流路徑調 整層 以 及於 電 流路徑調整層 上形成一 多 層結 構 ,該多層 結構 包-括 :一 活- 性層,以發光 ;及一對 覆 蓋層 將活性層 插入 之 間 ;其 中 在電^路徑調 整層中, 阻擋電 流 之電流阻 擋區 形 成於平 坦 區上,以便具 有第二摻雜 劑之 第 二導電性 ,而 通 過 電流 之 電流通過區形 成於槽狀 區 上, 以 便具有第 一導 電 性 0 在本發明之 具體實例 中 ,第 -摻雜劑係Ζ η , 而 第二 摻 雜劑係S e。 根據本發明 之另一觀 點 ,-- 半 導電發光 裝置 包 括 : — 半 -- -17 - 訂 ,泉 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐) 請. 先; 閱 背 ώ 冬 意 事 項 再― 填 I裝 頁 A7 B7 五、發明説明(:15 請-先. 閱 讀 背. 面 冬 意 事 項 再一 I裝 頁 導體基體,具有一不均勻形狀之上表面,具有一第一導電 性型;一發光邵分包括:一活性層;及一對覆蓋層,置於 活性層之間;發光部分位於半導體基體:上表面之上,發射 活性層中產生之光;一第一電極,形成於半導體基體之下 表面上;及一第二電極,形成於發光部分,其中包括在發 光部分之各半導體層,具有一不均勻形狀之前表面,以對 應半導體基體上表面之不均勻形狀。 在本發明之具體實例中,複數條形槽形成於半導體基體 上表面之上,以致上表面變成不均勻,而槽斜坡之方向相 對於.半# Μ結晶平面(1 〇〇)係一 A平面。 訂 在本發明之另一具體實例中,半導體基體上表面係以 [0 11 ]方向從半導體結晶平面(1 00)傾斜。 在本發明之另一具體實例中,半導體基體上表面’包括: 一平面,以[0 11 ]方向從半導體結晶平面(1 00)傾斜;及一 平面(100)。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 根據本發明,由阻擋電流之電流阻擋區,與通過電流之 電流通過區组成之電流路徑調整層,係設置於層-狀結構上 ,並包括位於p型複合半導體基體表面邊上之活性層,而 η型電^極設置於電流路徑調整層上邊之上,以便反抗電流 阻擋區。因此裝置之工作電流被η型電極正下方之電流阻 擂區阻擋,並廣泛擴散於其兩邊。因此,LED光在η型電 極正下方以外區域中產生,因此在沒有被η型電極阻擋下 將產生之光有效地從裝置中射出。這可改善射出LED光之 效率,以使半導體發光裝置具有較高亮度。 18- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 A7 __——— ____ B7_
五、發明説明_ 16T 此外Ρ型複合半導體基體具有一槽狀區,一或複數個槽 在此形成,而諸槽各斜坡之方向,與基體表面平坦區之方 向,調節半導體層之導電性,該層生長'於含有預設摻雜劑 之基體上。因此電流.阻擋區與電流通過區能同時在包含第 一與第二摻雜劑之電流路徑調整層中形成。特別地,形成 電流阻擋區,以便根據基體之諸槽之各斜坡方向而具有第 一掺雜劑之導電性,而形成電流通過區,以便根據基體平 坦區之方向而具有第二摻雜劑之導電性。這導致藉接單— 結晶生長步骤’即可於活性層上邊之—部分中,形成具有 電流J且轎'區之裝置結構。 根據本發明,Ρ型複合半導體基體表面平坦區之方向具 有一平面(100),槽狀區中諸槽的各斜坡方、具有Α面, 而電流路徑調整層包括:電流阻擋區’具有Ρ型導,電性; 電流通過區,具有nS導電性。因此藉著將Ζη當成電流路 徑調_整層之ρ型摻雜劑,及Se當成η型摻雜劑使用,即可 將根據基體方向之ρ型電流阻擋區與η型電流通過區,於 各區中作成高載子密度,以使電流路徑調整層之功能有效一 〇 根^本發明,第二η型上覆蓋層設置在電流路徑調整層 上,以使電流路把調整層與活性層間之η型上覆蓋層的厚 度較薄。這可使電流路徑調整層之電流阻擋區防止已從擴 散£擴散至黾流阻擋·區下方的電流’以減少注入η型電極 正下方的活性層的區域之電流。因此,射入η型電極正下 方以外活性層的區域的光量增加,以改善發光的效率。 ✓ -19- 本紙張尺度適用中標準(CNS)八4胁(210χ 297公釐) ;-- f請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1Τ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(-17 ) : 根據本發明,一電流擴散層設置於電流路徑調整層與η 型電極之間。因此,從η型電極流向活性層的電流,於電 流路徑調整層邊上比η型電極邊上擴散更大。這使得活性 層的發光區擴散的區域離η型電極正下方更遠,因而改善 發光效率。 此外藉著允許電流路徑調整層具有比活性層寬的帶隙, 在不使電流路徑調整層吸收活性層產生的光之下改善發光 效率,因而得到高亮度的半導體發光裝置。 根據本發明,η型電流擴散層具有一第二電流路徑調整 層,.由電~流阻擋區與電流通過區組成,其具有與上述電流 路徑調整層相同的結構,因此可將電流擴散至一電流路徑 中的較寬廣區域,該路徑是從η型電極至活k層。這可增 加射至η型電極正下方活性層區域以外的光量,以’改善發 光效率。 根據本發明,由阻擋電流之電流阻擋區,與通過電流之 電流通過區组成之電流路徑調整層,係設置於層狀結構上 ,並包括位於η型複合半導體基體表面-邊上之活性層,而_ ρ型電極設置於電流路徑調整層上邊之上,以便反抗電流 阻擋各。因此裝置之工作電流被ρ型電極正下方之電流阻 擋區阻擋,並廣泛擴散於其兩邊。因此,LED光在ρ型電 極正下方以外區域中產生,因此在沒有被p型電極阻擋下 將產生之光有效地從裝置中射出。這可改善射出led光之 效率,以使半導體發光裝置具有較高亮度。 此外,一η型複合半導體具有一槽形區,複數槽在此形 ’ -20- 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) Α4規格(210X 297公釐) 1 J--'-----·(' i------IT------ (秦先閱讀f·面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 A7 B7 五、發明説明(:18 ) : 成,而該等槽各斜坡之方向及基體表面平坦區之方向,調 節半導體層之導電性,該層生長於含有預設摻雜劑之基體 上。因此電流阻擋區與電流通過區能同:時在包含第一與第 二摻雜劑之電流路徑調整層中形成。這導致藉接單一結晶 生長步驟,即可於活性層上邊之一部分中,形成具有電流 阻擋區之裝置結構。 此外因爲使用η型複合半導體基體,由p型電流阻擋區 與η型電流通過區組成的電流路徑調整層可設置於層狀結 構下,以靠近基體。因此基體上形成的槽之配置足以傳輸 至電,流 < 徑調整層,根據下層方向可將ρ型電流阻擋區的 載子密度與η型電流通過區的載子密度,依個別導電性設 定在期望的大値,以使電流路徑調整層的功能更有效。 根據本發明,電流路徑調整層的電流阻擋區具有’ 一高電 阻,所以可減少第一或第二摻雜劑之摻雜量。 根據本發明,第二η型下覆蓋層設置在η型複合半導體 基體與電流路徑調整層之間,因此電流路徑調整層與活性 層間之η型下覆蓋層的厚度可以較薄。’以減少流向活性層--的區域以反抗ρ型電極之電流。因此’可將電流擴散至較 廣區‘,而射入槽狀區以外的活性層中的光量增加,以改 善發光效率。 根據本發明,電流擴散層設置於Ρ型電極與包含活性層 的層狀結構之間。因此,電流於電流擴散層擴散的同時也 從ρ型電極流向活性層。以增加射入活性層以外區域以反 抗ρ型電極之光量,以改善發光效率。此外藉著允許電流 -21 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X 297公釐) ( I.--------~ 裝------訂------^..Α (*.先閱讀t·面之注意事項再填寫本頁)
五、發明説明_ 19 擴散層具有比活性層寬的帶隙,在不使電流擴散層吸收活 性層產生的光之下改善發光效率’因而得到高亮度的半導 體發光裝置。 , 根據本發明的上述半導體發光裝置,其光反射設置在複 合半導體基體上,以使活性層反射從活性層射人基體邊的 光。因此具有較高折射率的基體沒有吸收光,以改善發光 效率。 根據本發明的上述半導體發光裝置,具有Dh接面部份 的層狀結構係由(AlxGaix)i W層1,osys
1 )製成,藉著改變A1成分以便能看到發光從紅變成綠。 根據本發明電流擴散層由(AlxGaix)iyInyP層(〇SxS 1 ’ 0 S y S i )製成,因此可防止活性層發射-的光被電流路 徑調整層吸收,此外摻雜有211與“的電流路徑調,整層之 導電性是依基體的方向而定。 、根據本發明電流擴散層由AlxGai xAs製成,因此可防止 、f生層發射的光被電流路徑調整層吸收,而電流擴散層與 基體係晶格匹配’因而在沒有任何拉緊下允許電流擴散層 與基體間的半導體層具有滿意的晶質。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 根泰本發明電流擴散層係由(AlxGai山W層(〇各X S 1,〇 S y S i )製成,因此電流擴散層可具有比 Gh-xAs製成的層更寬的帶隙,以減少活性層中被電流擴 散層吸收的發光,以改善發光效率。 .根據本發明槽是在p型複合半導體基體的預設區域中形 成,生長於含有預設掺雜劑之基體上的半導體,其導電性 -22- 本紙張尺度準(CNS ) A4規格(21〇~^^y A7五、發明説明·(: 20 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 依諸槽各斜坡的方向與基體表面平坦區之方向而不同,具 有DH接面部分的層狀結構形成於基體上,電流路徑調整 層以具有不同導電性之第一與第二掺雜,劑摻雜之同時,於 層狀結構上形成。因此電流阻擋區形成於反抗基體槽狀區 的電流路徑調整層的區域中,以便根據諸槽各斜坡之方向 而具有第一摻雜劑之方向,而電流通過區形成於反抗基體 平坦區的電流路徑調整層的區域中,以便根據平坦之方向 而具有第二摻雜劑之方向。 因此可用單一 MOCVD生長於半導體層狀結構中製造具 有電.流擋區的半導體發光裝置,以大致減少成本並大幅 改善發光量。此外,MOCVD生長時電流路徑調整層中的 電流阻擋區,可選擇性的形成於電流路徑調γ整層,如此於 形成電流阻擂區時即不需要作蝕刻處理。特別地,更不需 要:於基體上生長半導體層,從生長裝置中取出基體,以 及將基體作蝕刻處理等步驟。因此生長時半導體層的表面 不會曝露在處理種下,因再生長介面的氧化而在再生長介 面中引起與晶質有關的問題,及雜質於其中混合等都可克 服。因此可保持半導體發光裝置的特性與可靠度在高水平 。 根據本發明將η型複合半導體基體表面作處理,以使要 在半導體上生長的槽狀區與平坦區對於其導電性能作選擇 ,含有預設摻雜劑之電流路徑調整層,以具有不同導電性 之第一與第二摻雜劑摻雜之同時,於基體上形成,而包括 活性層的層狀結構形成於電流路徑調整層上。因此電流阻 -23-
—--------(· ·裝-- (I先閱讀t面之注意事項再填寫本頁) -* --.-----
I -. —II —^ϋ I . 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(:21 ) : 擋區形成於對應基體槽狀區的電流路徑調整層的區域中, 而電流通過區形成於對應基體平坦區的電流路徑調整層的 區域中。因此藉著單一 MOCVD生長而挺供具有電流阻擋 區的半導體發光裝置,以大致減少成本及改善發光量,以 克服在再生長介面中與晶質有關的問題。 此外因爲使用η型複合半導體基體,由p型電流阻擋區 與η型電流通過區組成的電流路徑調整層可設置於層狀結 構下,以靠近基體。因此基體上形成的槽之配置足以傳輸 至電流路徑調整層,並可控制ρ型電流阻擋區與η型電流 通巧區的-載子密度,以具有良好精度。 根據本發明的製造上述半導體發光裝置之方法I分別使 用Ζ η與S e作爲群II摻雜劑與群VI摻雜劑。因此可根據基 體方向來规劃ρ型電流阻擋區與η型電流通過區的‘導電性 ,以使各區具有高的載子密度,因此可有效利用電流路徑 調整胃層的功能。 根據本發明5由電流阻擔區與電流通過區組成的電流路 徑調整層可設置於層狀結構上,該結構包括形成於η型複-合半導體基體表面邊上的活性層,而η型電極設置於電流 路徑整層的上侧,以反抗電流阻擒區。因此從Ρ型電極 流向活性層的電流被電流阻擋區阻擋,並廣泛擴散於其兩 邊。這使得在Ρ型電極正下方以外活性層的區域中發射的 LED光的量增加,因此在沒有被ρ型電極阻擋下將產生的 LED光有效地從裝置中射出。因此可改善發光效率,以使 半導體發光裝置具有較高亮度。 一 -24- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) ( —Γ . ^ 裝 訂 ^-^ (I先閱讀t面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(:22 ) r 此外η型複合半導體基體具有槽狀區與平坦區,而生長 於含有預設摻雜劑之基體上的半導體層的導電性,依諸槽 各斜坡之方向與基體平坦區之方向而定'。因此電流阻擋與 電流通過區能同在含有第一與第二摻雜劑摻雜之電流路徑 調整層中形成。如此可藉著單一結晶生長步驟在活性層的 下方部分形成具有電流阻擋區的裝置結構。 此外因爲ρ型電極並未設置在基體表面上的區域中,該 區域可發射LED光,因此阻擋了 LED光。而且此區域的表 面具有一不均勻形狀,以對應基體槽狀區的表面,因此 LE只光徒_裝置内部以等於或大於臨界角的角度入射在基體 表面的比例減少了,因而改善基體上表面的發光敢率。 因爲定位關路徑調整層的電流通過區以對'應基體的槽狀 區,因此也可定位活性層的發光區以對應槽狀區,’且具有 對應槽狀區形狀的不均勻形狀。因此活性層的發光面積變 得比具有平坦發光區的LED的面積大,並增加發光量,因 而改善發光效率。 此外藉著允許電流路徑調整層具有比活性層寬-的帶隙,-在不使電流路徑調整層吸收活性層產生的光之下改善發光 效率、因而得到高亮度的半導體發光裝置。 此外藉著使基體槽狀區的諸槽的各斜坡方向是面,即使 用MOCVD方法發種AlGalnP混合半導體,也不能在活性 層的發光區域中形成超級晶格,並可防止發光的波長因超 級晶格而變大。因此不必增加活性層的A1成分即可得到 一預設波長,並可得到具有高亮度與高可靠度的半導體發 -25- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ( —^ 一 裝 訂 ^ π (橡先閱讀t面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 五、發明説明(:23 光裝置。 請· 先 閱 讀 背- ii 意 事 項 再 填 寫 本 頁 此外p型電極下方的基體區域的平的,因此p型電極的 表面也變平了,並可加強P型電極與爲移之間的接合。 根據本發明,P型電流擴散層設置在電流路徑調整層的 上方。因此可將電流擴散在p型電流擴散層中,而光可以 射入活性層以外之更寬區域,該活性層對應p型電極。藉 著允許電流擴散層具有比活性層寬的帶隙,可防止活性層 射出的光被電流擴散層吸收,以得到具有高亮度的半導體 發光裝置。< 根.據未 > 明,由電流阻擋區與電流通過區組成的P型電 流擴散層,具有與上述電流路徑調整層相同的結構,因此 可將電流擴散在電流路徑中的寬廣區域,該路徑是從P型 電極至活性層。這可增加射至P型電極正下方的活'性層的 區域以外的光量,以改善發光效率。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 根據本發明,可將複合半導體基體的導電性規劃爲P型 ,具有D Η接面部分的層狀結構包括一活性層,位於p型 下覆蓋層與η型上覆蓋層之間,而具有η型電流阻擋區與-Ρ 型電流通過區的電流路徑調整層,定位於層狀結構與基體 之間。\因此可使半導體發光裝置中電流路徑調整層的功能 更有效。 更特別地,因爲使用ρ型複合半導體基體,由η型電流 阻擋區與ρ型電流通過區组成的電流路徑調整層可設置於 層狀結構下,以靠近基體。因此基體上形成的槽之配置足 以傳輸至電流路徑調整層,依下層方向可將η型電流阻擋 26 - ( 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) A7 B7 五、發明説晛(:24 區與P型電流通過區的載子密度,依個別導電性設定在期 望的大値,以使電流路徑調整層的功能更有效。 請-先: 閱. 背' 意 事 項 填 %裝 頁 根據本發明,電流路徑調整層的電流阻擋區具有一高電 阻,所以可減少第一或第二掺.雜劑之摻雜量。 根據本發明,電流擴散層設置在具有D Η接面部分的層 狀結構上,因此可將電流擴散在電流擴散層中,而光可以 射入活性層以外之更寬區域,該活性層對應η型電極。 訂 η型電流擴散層中的載子移動程度比在ρ型電流擴散層 中大。因此—η型電流擴散層具有較大的電流擴散效應,以 使先射(更廣的區域。藉著允許電流擴散層具有比活性層 寬的帶隙,可在不使活性層射出的光被電流擴散層吸收之 下,改善發光效率。
A 根據本發明,在各上述半導體發光裝置中,光反’射層設 .置在複合半導體基體的表面上,以使反射層反射從活性層 射入基體邊的光。因此光沒有被具有高折射率的基體吸收 ,以改善發光效率。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 根據本發明,將η型複合半導體基體·作處理,-以使要在 半導體層上生長的槽狀區與平坦區對於半導體層的導電性 能作¥擇,以含有預設摻雜劑,包括活性層的層狀結構, 形成於基體上,而電流路徑調整層以具有不同導電性之第 一與第.二掺雜劑摻雜之同時,於層狀結構上形成。因此電 流阻擋區形成於電流路徑調整層的區域中,該層對應基體 的槽狀區,而電流通過區形成於電流路徑調整層的區域中 ,該層對應基體的平坦區。因此藉著單一 MOCVD生長可 -27 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨Ο X 297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(:25 ) : 製造具有電流阻擋區的半導體發光裝置。更特別地,不需 要:於基體上生長半導體層,從生長裝置中取出基體,以 及將基體作蝕刻處理等步驟。因此生長·時半導體層的表面 不會曝露在處理種下,因再生長介面的氧化而在再生長介 面中引起與晶質有關的問題,及雜質於其中混合等都可克 月艮。此外可大致減少成本並大幅加強發光量。 根據本發明,槽狀區與平坦區形成於基體表面,電流路 徑調整層形成於基體上,而p型下覆蓋層,活性層,及η 型上覆蓋層接著生長於電流路徑調整層上以形成層狀結構 。a此具有電流路徑調整層的個別導電性之電流阻擋區與 電流通過區的載子密度可以提高。 、 更特別地,因爲使用p型複合半導體基體,由η型電流 阻擋區與ρ型電流通過區组成的電流路徑調整層可’設置於 層狀結構下,以靠近基體。因此基體上形成的槽之配置足 以傳-輸至電流路徑調整層,並可準確地控制η型電流阻擋 區與ρ型電流通過區的載子密度,以將其提高。 根據本發明,因爲Ζη與Se分別作爲'群II摻雜劑與群VI--摻雜劑使用。因此可根.據基體方向使ρ型電流阻擋區與η 型電^通過區的載子密度提高,以有效利用電流路徑調整 層的功能。 根據本發明,複合半導體基體具有不均勻表面,位於基 體上的發光部分至少包括:下覆蓋層,具有一第一導電性 型;活性層;及上覆蓋層,具有一第二導電性型;而包括 在發光部分的各半導體層具有對應基體表面之不均勻形狀 -28- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X 297公釐) ( (t先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝 、ν5 ,求 A7 B7 經濟部中央標準局舅工消費合作社印製 五、發明説明(:26 ) . 。因此發射LED光的裝置表面也具有不均勻形狀,而以等 於或大於臨界角的角度入射在基體表面的LED光比例減少 了,此外即使LED光以等於或大於臨界:角的角度入射在基 體表面,並被反射,而LED光仍以小於臨界角的角度入射 在基體表面,並從裝置射出。因此改善裝置表面LED光的 發射效率。 此外,是LED發光區的活性層具有一不均勻形狀,以對 應基體表面。因此發光面積比平坦活性層的發光面積大, 以增加L E D —的發光效率。 發.光政率的增加與射出光效率的改善,可使半導體發光 裝置具有較高的亮度。 在本發明之具體實例中,複數條形槽形成τ於複合半導體 基體<表面上,以致表面具有不均勻形狀,而諸槽各斜坡 I方向根據半導體結晶平面(丨〇 〇 )作成Α面。因此即使當 AlGalnP混合半導體材料是用M〇cVp方法在基體表面生 長,仍不會形成超級晶格,並可防止lED光因超級晶格之 故而具有較長的波長。因此不必藉_著.增加A1成分以調整 LED ^的波長’並可得到具有高亮度與高可靠度的半導體 發光秦置。 因此本文所示之發明具有以下優點:(1)提供一種半導 體發光裝置及其製造方法,其中藉著允許注入活性層的電 流,廣泛擴散在裝置表面上電極的正下方區域之外,以加 強發出光的效率,而具有電流阻播區的裝置結構,其形成 於活性層上方的部分’則可藉著單一結晶生長步驟而得到 -29- 本紙張尺度適用中國) (請·先聞讀免面之注意事項再填寫本頁} -裝
、iT
II - I
I -1— I - I 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 A7 --------67 — 五、發明説明(:27 ) 〜 - ;(2)提供一種半導體發光裝置及其製造方法,其中藉著 抑制被裝置表面反射的LED光,以及藉著允許注入活性層 的電流擴散,以加強發出光的效率,使用A1GaInp混合半 導m材料時,藉著防止形成超級晶格,在不減少發光效率 與可靠度下,得到期望發光波長的發射光,藉著單一結晶 生長步據,可以在活性層上的一處形成具有電流阻擋區的 裝置結構。 業者藉著閲讀並了解以下參考附圖之詳細説明,即可明 瞭本發明之這些與其他優點。 * 附圖之簡單説明 圖1 a疋根據本發明第一例子的LED之剖面圖;、圖1 b是 包括在LED中的基體之平視圖;圖1<:是包括在lED中的 基體之剖視圖。 . 圖2 a是根據本發明顯示製造第一例子的LED之方法的結 晶生長步驟;而圖2b顯示將金屬層形成電極之步驟。 圖3以圖表顯示AlGalnP層生長的載予密度,與同時於 下表面之方向以Ζ η及S e摻雜其間的關杈。 — 圖4是根據本發明第二例子的LED之剖視圖。 圖根據本發明第三例子的LED之剖視圖。 圖6是根據本發明第四例子的LED之剖視圖。 圖7是根據本發明第五例子的LED之剖視圖。 圖8是根據本發明第六例子的LED之剖視圖。 圖9是根據本發明第七例子的LED之剖視圖。 圖1 〇 a是根據本發明的第八例子的lED之剖視圖;而圖 _:_____ -30- 本紙張尺度適用中國國家標規格(2ι〇χ297 )---— _; 裂 訂 (說先閲讀t面之注意事項再填寫本頁) A7 ~-—-------B7 五、發明説明'(:28 ) ~ ~~-:----- 1 〇 b疋包括在LED中的基體之剖視圖。 圖1 1疋根據本發明第九例子的LED之剖視圖。 圖1 2疋根據本發明第十例子的LED之剖視圖。 圖1 3疋根據本發明第十一例子的LED之剖視圖。 圖14 a包括在十—例子的led中的基體之剖視圖;而圖 1 4b的剖視圖顯示電流路徑調整層於基體上形成時的狀態 〇 圖5疋根據本發明第十二例子的LED之剖視圖。 圖1 6疋根據本發明大第十三例子的LED之剖視圖。 圖.1 7疋根據本發明第十四例子的LED之剖視圖。 圖1 8疋根據本發明第十五例子的led之剖視圖。、 圖19a是根據本發明第十六例子的led之‘視圖;而圖 1 9 b包括在LED中的基體之剖視圖。 ' 圖2 0是根據本發明第十七例子的LED之剖視圖。 圖21a疋傳統Pn接面LED之剖視圖,以顯示電流分佈; 而圖2 1 b顯示LED中發光的情況。 圖2 2是具有電流擴散層的傳統LED之剖視圖。_ 、 較佳具體實例之詳細説明 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 以著參考具附圖之繪示例子以説明本發明。
圖1 a至1 c各繪示根據本發明第一例子的LED作爲一半 導姐發光裝置。特別地’圖1 &是LED結構的剖視圖;而 圖lb與圖lc是包括在LEE)中的基體之平視圖與剖視圖。 圖2a與2b繪示製造LED之方法,特別地,圖2a顯示LED _._ -31 - I紙張尺度適用中@國家標準(CNS ) M規格(21()χ 297公瘦) ( 20?, Α7 Β7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(· 29) 中多種半導體層之結晶生長步驟;而圖2b顯示在LED中 形成電極之步驟。 在這些圖中,在本例中LED 100a具有DH接面部分之層 狀結構110 ’其包括:一 P型下覆蓋層2,一活性層3,及 η』上覆蓋層4 ’以此次序設置在p型GaAs基體1表面上 。在本例中,一電流路徑調整層5由阻擋電流之p型半導 體區(電流阻擋區)5 a,及通過電流之n型半導體區(電流 通過區)5b组成,並設置在層狀結構11〇的η型覆蓋層4之 上。—Ρ型GaAs接觸層7經由一 η型電流擴散層6設置在電 成蹲fe _整層5上’以定位在電流路徑調整層5的電流阻 擋區5a正上方。*AuGe製成的η型電極102設置在ρ型 GaAs接觸層7上,一 ρ型電極101形成在ρ型GaAs基體1的 -整個反面。 . P型GaAs基體1具有複數條形V槽la,深度爲4.3 y m, 寬度爲6 "m,位於圓形區(槽狀區)la中,在基體11;^、 的直徑爲200 ju m。基體1中槽狀區1 a以外的區域都是各 具有一平坦表面之平坦區lb。基體1的平坦glb具有〜 (100)平面方向,而得槽la各斜坡具有一(lll)A平面士。\ 万向 下覆蓋層2,活性層3,及上覆蓋層4分別由(Α1χ Gal-x)l-yInyP 層(OSxSl,OSySl)製成;下覆蓋層 2 與上覆蓋層4具有的成分比爲x = 0.70與y = 0.50,卫u + 丹有厚 度1 "m;下覆蓋層2具有lx 1018 cm· 3之Zn載子密戶 而上覆蓋層4具有5xl017 cm-3之Si載子密度。例— 邓)舌性 ,_ ' - 32 - 本紙張尺度適用中國國家榡準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) ~~~' (請·先閱讀t-面之注意事項再填寫本頁) -裝_ 訂 Λ A7 B7 五、發明説明—3〇 層3具有之成分比與厚度"瓜。 電流路徑調整層5也由(AlxGai_x)i”InyP(()各!,〇 y — 1)製成,具有的成分比爲χ = 〇·7〇與y = 〇5,且具有 厚度〇·7〇 A m。電流路徑調整層5摻雜有作爲群VI摻雜劑 之Ζ η與作爲群π掺雜劑之s e。電流路徑調整層5的電流阻 擔區5a定位在基體1槽狀區的正上方,並具有3 χ1〇1 s Cmd的載子密度,根據(ηι)Α平面而展示摻雜劑之口 型導電性,該平面是基體1的槽la之各斜坡方向。電流路 徑調整層5之電流通過區5b定位於基體丨的平坦區11?之上 ,並·具肴'3 X l〇is cm·3的載子密度,根據(1〇〇)平面而展 示Se摻雜劑之η型導電性,該平面是平坦區11?之方向。 η型電流擴散層6由η型(AlxC}ai_xAs (〇 s χ δ j )製成, 有的成分比爲χ = 〇.7〇與厚度5 " m。η型電流擴散層6與 η型GaAs接觸層7分別具有5 x i〇l8 cm-3的載子密度。 以下説明製造LED 1 00a之方法。 藉著在p型GaAs基體1上蝕刻出直徑2〇〇 " m的圓形區來 形成複數個條形槽1 a,以具有4,3 > m的深度,_ 6 " m的 寬度,及一斜坡方向,如(111)A平面(參考圖1&與113)。 接承半導體層2至7中的各層形成在基體!上,其可於第〆 結卵生長步驟(圖2A)中用MO C VD方法作蚀刻處理。 特別地,p型(Al0 7Ga0 3)〇 5In0 5P生長成p型下覆蓋層2 ’以具有約1.0 A m的厚度’及1 X i〇i8 cm-3之Zn載子密 度。接著(Al0.3Ga0.7)0.5In0.5P生長成活性層3,以具有約 0.50 " m的厚度,而 „型(AV7Ga〇.3)〇 5ln〇.5p生長成 -33 本紙張尺度通用中國國豕標準(CNS ) Α4規格(210X297公餐) 請. 閱 讀 背- τέ 之 事 項 存 裝 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(-31 上覆蓋層4,以具有約} " m的厚度,及5 χ 1〇17 cm_3的 Si載子密度。此時,基體1的表面配置傳輸至生長的半導 體層上。亦即,對應基體丨槽狀區13的n型上覆蓋層4的表 面區域,具有複數槽,其斜坡方向爲(ιιι)α,而對應基 體1平坦區lb的η型上覆蓋層4的表面區域,具有一平坦面 ’其結晶方向爲(100)。 此外,(A1〇.7Ga〇.3)〇.5In〇5P於η型上覆蓋層4上生長成電 "ib路徑凋整層5,以具有約〇. 7 " m的厚度,同時以ζ η ( 群II掺雜劑)及Se (群VI摻雜劑)摻雜。 已> A—lGalnP生長的同時以Zn (群π摻雜劑)及^ (群 VI摻雜劑)摻雜,因此導電性與載子密度因下層半導體結 晶的方向而改變。圖3顯示導電性及載子密 > 變化的實驗 結果,與(100)A平面至(111)A平面斜角間的關係.。圖中 〇與△表示p型載子密度與n型載子密度對應的斜角。 由此圖可了解,當AlGalnP生長並同時分別以3 χ 1〇i s cm·3的Ζιι及Se摻雜,則可在(311)Α平面與(ln)A平面 上得到3 χ 1 0 1 8 Cm - 3載子密度的ρ型半導體區,以及在 (100)平面上得到3 χ 1〇1 8 cm-3載子密度的η型半導體區 。\ 因此’當(A1〇.7Ga〇.3)〇.5ln0.5P在η型上覆蓋層4生長並同 時以3 Χ 1018 cm·3的Ζη與Se摻雜,則形成3 x 1018 cm-3 載子密度的P型半導體區,作爲電流阻擋區5a,這是在η 型上覆蓋層4的區域中曝露(ιιι)α平面之處,即對應基體 1槽狀區la的區域,並形成3χ10ι 8 cm·3載子密度的η型 -34 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 χ 297公釐) 請 晃· 閱_ 讀 背. 意 事 項 再〜 寫 本 頁 裝 訂 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 A7 ------- B7 五、發明説明乂 32) 半導體區,作爲電流阻擋區5b,這是在n型上覆蓋層4的 區域中曝露(100)平面之處,即對應基體i平坦區i b的區 域。 ϋ型Al0 7Ga0 3 As在電流路徑調整層上生長作爲電流擴散 層6,以具有約5 " m的厚度,而n型GaAs層7 a在電流擴 散層6上生長以具有約1 " m的厚度,及5χ 1〇18 cm-3 的Si載子密度。 在圖2b中AuGe層102a形成於η型GaAs層7a上,而 AuZ η層101形成於p型基體1的反面作爲p型電極。此後選 擇性.蚀刻'η型GaAs層7 a與AuGe層102,以保持定位於基體 1槽狀區la正上方的部分,以形成η型GaAs接觸層7與n型 電極102,因此完成LED 10〇a (參考圖1A)。、 將順向電壓2伏施在本例子的LED 1 00a,以導通20 mA 的電流。得到的LED光,在584 nm最大波長時具有5 cd以 上的強度° - 當分別設定(AlxGabObyliiyP活性層3的X與y成分爲 0_ 50時,純綠光色發光在5 5 5 nm最大波長處可得到3 cd 0 上的強度。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (諳_先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 在叔例的LED 1 00a中,由電流阻擋區5 a與電流阻播區 5 b組成的電流路徑調整層5定位於電流阻擒區5 a的—邊, 並形成層狀結構110上,其包括p型GaAs基體1上的活性 區3,而n型電極1 〇2經由電流擴散層6設置在電流路徑調 整層5之上,以便定位在電流阻擋區5 ^的正上方。因此電 流擴散層6允許電流從η型電極1 02正下方擴散至活性層3 ’ -35- _✓ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Μ規格(210χ 297公董) ~ -— 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 -------------B7 五、發明説明 (τ 33) 與n型電極102之間的2側。此外因爲電流阻擋區5 a之故, 電流不可能流向小於電極1 〇2正下方的活性層3部分,活 性層3的發光區不會在η型電極1 〇2正下方的區域中形成, 以擴散至區域的兩側。因此有效地將活性層3中產生的 LED光射出led 10 〇a表面上的區域,該處並未定位η型電 極 1 0 2。 此外因爲電流擴散層6與電流路徑調整層$是由 (Al0 7Ga〇 3)〇 5ln〇 5ρ製成,其具有大於由 (Al〇 3Ga〇 7)〇 5in〇 5P製成的活性層3的帶隙,這不允許電 流擴.散6'與電流路徑調整層5吸收從活性層3射出的LED光 ’以改善發光效率,以使LED 1 00a的亮度更高。 在本例子中’ P型GaAs基體1於其表面上真有(1〇〇)平面 ’具有條形槽的槽狀區la形成其中以具有(111)A.平面的 斜坡’並部分曝露,因此槽狀區1 a的(111) a平面與平坦 區l.b的(1〇〇)平面,出現在包括活性層3的層狀結構ιι〇的 表面上,即在η型上覆蓋層4的表面上。 此外在本例子中AlGalnP於生長在η型上覆蓋層4的同時_ 以Ζ η與S e摻雜,因此,具有s e摻雜劑的η型導電性之電 流阻也區5a,形成於(100)平面上,而具有Ζη摻雜劑的ρ 型導電性之電流通過區5 b,形成於(111) Α平面上。因此 於形成具有電流阻擋區5 a的電流路徑調整層5的步驟中, 並未中斷結晶生長過程;而η型上覆蓋層4,活性層5,電 流擴散層6,及η型接觸層7皆於單一 MOC VD步驟中生長 。這可減少成本並大致增加發光量》 ~ -36- (請先閱讀^-面之注意事項再填寫本頁) -裝. ,?τ -Λ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 ·----------___ 五、發明説明·(: 34 ) ' ~~~~—--~--- 此外也可防止特性與可靠度的劣化,其導因於再生長介 面的晶質在LED的半導體層狀結構中。 更特別地,根據製造LED的傳統方法:,包括活性層的層 狀結構與作爲電流阻擒層的半導體層皆生長於基體上。此 後,從結晶生長裝置中取出基體(晶圓),並選擇性蝕刻半 導體層以形成電流阻擒層。接著將晶圓再置於結晶生長裝 置中,而電流擴散層則在晶圓上再生長,其上形成的立即 帶隙層與電流阻擒層即曝露了。因此再生長彳面可能氧化 ,而雜I可旎混合在再生長介面中,而導致再生長介面的 晶質·問題―,以致影響裝置的特性與可靠度。 對比下,根據本例製造LED的方法,包括在LED中的各 半導體層可以在沒任何再生長下用單一 M〇dVD生長方法 而形成,因此可得到高可靠度與滿意的特性。 例2 圖4的剖面圖繪示LED作爲根據本發明第二例子的半導 體發光裝置。圖中數字1 〇〇b表示本例的LED ;而圖中與 圖1 a、1 b及1 c相同的數字則表示相-同-元件。led 1 〇〇b與-例1 LED 100a的不同處在於,第二η型上覆蓋層4a置在 電流‘徑調整層5與電流擴散層6之間。 第二η型上覆蓋層4a由具有5 xlO1? cm-3 Si載子密度 的11型(八10.7〇&0.3)0.51110.51>製成,與活性層3及電流路徑 調整層5之間的η型上覆蓋層4相同,並具有約1 # m的厚 度。 本例製造LED 1 00b的方法與例1製造LED 1 〇〇a的相同, -37- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公瘦) (請t閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. 訂 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 A7 _____B7_ 五、發明説明乂 35) 除了第二η型上覆蓋層4a形成於電流路徑調整層5上之外 〇 將順向電壓2伏施在本例子的LED 10’Ob,以導通20 mA 的電流。得到的LED光,在584 nm最大波長時具有5.5 cd 以上的強度。 當分別設定(AlxGahd^ylnyP活性層3的X與y成分爲 〇· 50時,純綠光色發光在5 5 5 nm最大波長處可得到3.5 cd. 以上的強度。 在本例中第二η型,上覆蓋層4 a置於電流路徑調整層5與 電流.擴散層6之間,以使電流路徑調整層與活性層3之間 的η型上覆蓋層4的厚度作成小到約〇. 5 "瓜。這元許電流. 路徑调整層5的電流阻擋區5 a防止已擴散的電流,擴散在 %流阻擒區5 a的下方,以減少電流流入^型電極1.02正下 方的活性層3的區域。因此η型電極1 〇2正下方以外的活性 層3.區域中會增加發光量,與例1的LED丨〇〇a相比,可增 加射出光的效率。 圖5的剖面圖繪示LED作爲根據本發明第三例子的半導 體發k裝置。圖中數字l00c表示本例的LED ;在LED 1 0 0 c中形成具有第一電流路徑調整層1 〇 5的η型電流擴散 層106,以取代圖!的電流擴散層6,而第二電流路徑調整 層105由定位於!!型電極102正下方的電流阻擋區1〇5a及定 位於電流阻擋區1 05a的電流通過區丨05b組成,與圖}電流 路徑調整層5相同。 (請f閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. 訂 -38-
Α7 Β7 ------- 五、發明説明乂 36 第二電流路徑調整層105由(A1〇 7Ga〇 3)〇 5ΐη〇 5ρ製成, 具有摻雜Ζη與Se的厚度0.7 A m,而電流路徑調整層1〇5 的電流阻擋區105a,並具有3 x 1〇18 cm_3的載子密度, 根據(111) A而展示Zn摻雜劑之p型導電性,其是基體1的 槽la之各斜坡方向。 η型包/瓦擴散層106的下方部分1〇6a與上方部分1〇仏分 別具有2.5 " m的厚度。 本例製造LED 1 00c的方法與例}製造LED丨〇〇a的相同, 除了第二電流路徑調整層1〇5形成於生長電流擴散層的通 道t之外—。
將順向電壓2伏施在本例子的led 1 00c,以導通20 mA 的電流。得到的LED光,在584 11111最大波長·時具有5 ^以 以上的強度。 , 當分別設定(A1xGal-x)l-yInyP活性層3的\與y成分爲 0 5 0時’純綠光色發光在55 5 ηιη最大波長處可得到3 2 cd 以上的強度。 在本例中,除了電流路徑調整層5設.置於η型上覆蓋層4 與電流擴散層1 06間之外,第二電流路徑調整層又設置於 η型電\瓦擴散層1 〇6,因此η型電極1 〇2與活性層3之間的 電流在2處被阻擋,即被電流路徑調整層$的電流阻擋區 5 a與第二電流路徑調整層1 〇 5的電流阻擋區1 〇 5 &,並擴散 在η型電極102正下方活性層3區域以外。因此流入活性層 3的電流J可擴散至更廣區域。這可減少^型電極1 〇 2下方活 性層3區域及其附近的發光量,藉著遠離η型電極1〇2正下 -39- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(2丨〇><297公釐) (請七閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝· 、1Τ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明C 37 方活性層3處的減少區域面積,以增加發光量,因而增加 射出光的效率。 例4 : 圖6的剖面圖缯示LED作爲根據本發明第四例子的半導 體發光裝置。圖中數字100d表示本例的LED。LED l〇〇d 包括一 η型GaAs基體5 1,上面設置有一電流路徑調整層 5 5,其由阻擋電流的p型半導體區(電流阻擋區)5 5 a,與 通過電流的η型半導體區(電流通過區)5 5 b組成。 一具有D Η接面部分的層狀結構丨5 〇設置於電流路徑調整 層5 上’該層狀結構1 50 : — n型下覆蓋層5 2,一活性層 5 3,及一 ρ型覆蓋層5 4,此次序係由基體側看出。 此外一 η型GaAs接觸層5 7經由一 ρ型電流七散層5 6設置 在層狀結構150上,由AuZn製成的η型電極151位於η型 GaAs接觸層5 7上,由AuGe製成的η型電極152形成在 GaAs基體5 1的整個反面。 η型GaAs基體51具有複數條形v槽51a,深度爲4 3 Am ,寬度爲6 "m,位於圓形區(槽狀區)-5la中,在基體1中 心的直徑爲200 a m。基體5 i中槽狀區5丨a以外的區域都 是具表一平坦表面之平坦區5丨b。基體5 i的平坦區5丨b具 有一(100)平面方向,而得槽5la各斜坡具有一平 面方向。 電流路徑調整層55由(AlxGai-x)1_ylnyP層(〇SxS1,〇 1)製成,其中X是0.70,丫是0.50,且具有厚度〇7 A m。電流路徑調整層55摻雜有作爲群摻雜劑<ζη與作 -40- ‘紙張尺度適用中國國家標準(CNS〉六4^格(210X297公羞) (請先閲讀背&之注意事項再填寫本頁) -裝 五、發明説明C 38 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 爲群摻雜劑之Se。電流路徑調整層55的電流阻擋區“a 位在基體51槽狀區51a之上,並具有3xl〇is cm_3的載 子岔度,根據(111) A平面而展示z n摻雜劑之p型導電性 邊平面疋基體5 1的槽5 1 a之各斜坡方向。電流路徑調整 層55之電流通過區55b位於基體51的平坦區5ib之上, 並具有3xl〇H cm·3的載子密度,根據(1〇〇)平面而展示 s e摻雖劑之n型導電性,該平面是平坦區$丨b之方向。 下覆蓋層5 2,活性層5 3,及上覆蓋層5 4分別由 (八1\<^14)1-”111彳層(〇2;&31,〇5¥$1)製成;11型下 覆A層5—2與p型上覆蓋層54具有的成分比爲\ = 〇7〇與 y = o.5〇,且具有厚度lo v m ; n型下覆蓋層52具有5χ 1〇17 cm·3之Si載子密度,而ρ型上覆蓋,層54具有1χ 1 〇 1 8 cm - 3之Ζ η載子密度。例如活性層5 3具有χ = 〇 3 〇與 y = 0.50之成分比與厚度〇,5〇 # m。 此外P型電流路徑調整層56由卩型AlxGai xAs(0 g x运n 製成,具有x = 0,70的成分比,與5 " m的厚度。p型電流 擴散層56與p型GaAs接觸層57分別-具·有3 X i〇i—8 cm-3的_ Zn載子密度。 以卡V説明製造LED 1 00d的方法。 藉著在圓形區中以直徑200 "m於η型GaAs基體5 1上蚀 刻,以形成複數條形槽5 1 a ’以具有深度4_3 " m,寬度6 "m,及一斜坡的結晶方向,如與圖}(參考圖1八與16) 相同的(11 1) A。 接著半導體層55,52至54,及56各在基體51上形成, -41 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CMS ) Α4規格(210Χ297公釐) (請先閲讀背•面之注意事項再填寫本頁) _裝_
-、1T 泉 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 ________B7 五、發明説明(:39 ) 於第一結晶生長步驟中用MOCVD方法作蚀刻處理。 特別地’蚀刻處理後,(A1〇 7Ga〇 3)〇 5ln〇 5p上基體5 i上 生長爲電流路徑碉整層5 5,以具有約〇· 7 " m的厚度,同 時以Zn(群II摻雜劑)及Se(群VI摻雜劑)摻雜。此時形成 具有3 xlO18 cm-3的Zn載子密度的p型半導體區域,作 爲電流阻擋區5 5 a,位於(111) a平面曝露的基體5 i表面 區域,即在基體51的槽狀區51a上,並形成具有3 χι〇ΐ8 cm-3的Se載子密度的η型半導體區域,作爲電流通過區 55b,位於(100)平面曝露的基體51表面區域,即在基體 5 1的平运區5 1 a上。 此後(Al0 7Ga0 3)0 5In〇 5P在電流路徑調整層5 5 *生長, 同時控制導電性與厚度,以生長η型下覆蓋^52,活性層 53 ’ ρ型上覆蓋層54,及電流擴散層56,並在電流擴散 層56上生長ρ型GaAs層。 接著在?型〇8八8層上形成一八11〇6層,而八11〇6層15 2在11 型基體5 1的反面上形成作爲n型電極。接著選擇性蚀刻ρ 型GaAs層與AuZn層,以保持該部分定.位於基體5 j槽狀區_ 51a的正上方,以形成ρ型GaAs接觸層57與ρ型電極151 ,因^完成LED 10 0d(參考圖6 )。 將順向電壓2伏施在本例子的LED 1 〇〇d,以導通.2 〇 mA 的電流。得到的LED光’在584 nm最大波長時具有54 cd 以上的強度。 當分別設定(AlxGai-JbylnyP活性層5 3的X與y成分爲 〇-5〇時,純綠光色發光的555 nm最大波長處可得到3 3 cd ,__ -42- 本紙張尺度適]國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) '~~'~~' 7~- I请先閲讀背面之注意事項存填寫本頁) -装· --° 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 五、發明説明(: 以上的強度。 在本例子中’藉著如圖1所示的方式利用電流路徑調整 層與電流擴散層,可改善射出LED光的效率。於單一結晶 生長步驟中可連續形成包括在LED中的半導體層。因此可 簡化製造步驟,減少成本,並增加發光量。此外,蝕刻處 理與類似處理不會中斷結晶生長,以保持LED的特性及可 靠度在高水平’以防止再生長介面的晶質劣化。 此外在本例子中於LED使用一η型基體。因此,由P型電 流阻擒區5 5 a與η型電流通過區5 5 b組成的電流路徑調整 層5.5,苛設置於基體51之上與層狀結構15〇之下。因此 下層結晶結構的方向不會扭曲,並可下層結晶的方向而將 P型電流阻擋區5 5 &與n型電流通過區5 5 b滿▲的選擇性生 長,同時可將各區的載子密度規劃成很大。因此電,流路徑 調整層5 5的功能更有效的,並增加p型電椏1 5 1正下方活 性層5 3區域中的發光量,以及增加射出光的效率。 例5 圖7的剖面圖繪示LED作爲根據本發-明第五例子的半導 體發光裝置。圖中數字100e表示本例的LED。LED 1〇〇e與 圖4 LkD 100d不同之處在於,第二η型下覆蓋層52a置於n 型GaAs基體5 1與電流路徑調整層5 5之間。 第一 η型下覆盖層52a由具有5xi〇i7 cni-3 8丨載子密度 的η型(Al〇7Ga〇3)〇5In〇5P製成,與活性層53及電流路徑 調整層55之間的η型下覆蓋層52相同,並具有約〇5 的厚度。 -43- 各紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇'〆297公釐) (請4'閲讀背•面之注意事項再填寫本頁) -裝· 訂 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(:41 ) 本例製造LED 1 OOe的方法與例4製造LED 1 〇〇d的相同, 除了電流路徑調整層55形成之前,第二η型下覆蓋層52a 已形成於基體5 1上之外。 ’: 將順向電壓2伏施在本例子的LED 1 OOe,以導通20 mA 的電流。得到的LED光,在584 nm最大波長時具有5.8 cd 以上的強度。 當分別設定(AlxGabJbyinyP活性層$ 3的X與y成分爲 0_50時’純綠光色發光在555 nm最大波長處可得到3 5cd 以上的強度-。 在-本例中第一 η型下覆蓋層5 4 a置於電流路徑調整層5 5 與η型GaAs基體5 1之間,以使電流路徑調整層5與活性 層5 3之間的η型下覆蓋層5 2的厚度作成小到約〇. 5 // m。 這允許電流路徑調整層5 5的電流阻擋區5 5 a防止已擴散的 電泥’擴散在電流阻擋區5 5 a的下方,以減少電流流入p 型電—極1 5 1正下方的活性層5 3的區域。因此p型電極1 5 1 正下方以外的活性層5 3區域中的發光量增加,與例4的 LED 1 〇〇a相比,可增加射出光的效率-。 — _ 例6 圖8、剖面圖繪示LED作爲根據本發明第六例子的半導 體發光裝置。圖中數字100f表示本例的LED ;而圖中與圖 1 a、1 b及1 c相同的數字則表示相同的元件。led 1 0Of具 有與圖1 LED 100a相同的結構,除了 p型反射層120反射 LED光,經由活性層3行進至p型GaAs基體1,而到達活 性層3之外,活性層3具有D Η接面,且位於p型GaAs基體 -44- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公瘦) (請先閱讀t.面之注意事項再填寫本頁) '-° , 五 發明説明(42 ) A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製
1與層狀結構11 0之間。 P型反射層120具有十對GaAs層與GalnP層,其互相交 錯著。各GaAs區具有0_01 v m的厚度:,各GalnP層具有 〇·〇〇5 ym的厚度,而p型反射層120具有約0.15 jum的厚 度。 本例製造LED 100f的方法與例1製造LED 100a的相同, 除了 P型下覆蓋層2形成之前,p型反射層120已形成於p型 GaAs基體1上之外。 將順向電壓2伏施在本例子的LED 100f,以導通20 mA 的電·流。得到的LED光,在5 8 5 nm最大波長時具有6 cd以 上的強度。 當分別設定(AlxGai-xL-ylriyP活性層3的* X與y成分爲 0.50時,純綠光色發光在555 nm最大波長處可得到4 cd以 上的強度。 在本例中p型反射層120反射LED光,經由活性層3行進 至P型GaAs基體1,而到達活性層3,活性層3具有D Η接 面部分,且位於ρ型GaAs基體1與層狀結構i ! 0之間。因 此,行進至基體邊的光與活性層3發出的LED光一樣,都 沒有?k p型GaAs基體1吸收’基體1具有高於層狀結構11〇 的折射係數,與例1的LED 1 00a相比,可増加射出光的效 率。 本例中的p型反射層120由GaAs層與InA1P層之合併組成 ’但疋’組成P型反射層1 2 0的半導體材料之合併不僅限 於此。可使用其他半導體材料之合併,只要其能反射LED
(請先閱讀t面之注意事項再填寫本頁) 裝 訂 B7 五、發明説明(:43 ) 光,其經由活性層3行進至P型基體1,而到達活性層3。 例7 圖9的剖面圖I會示LED作爲根據本發明第七例子的半導 體發光裝置。圖中數字⑽g表示本例的咖。㈣i〇〇g 包=一 η型GaP電流擴散層76,具有5χ i〇18 em_3的〜載 子密度,以取代AluGawAs作爲圖i LED 1〇〇3的電流擴 散層6,而n型電極1〇2設置於nsGap電流擴散層76上, 以反抗基體1的槽狀部分〗a。裝置的其他結構與圖i A、 1 B、1 C中例1所示的LED 1 0〇a相同。 本.例製造LED l00g的方法與例}製造LED 1〇〇&的不相同 ,其中GaP長成電流路徑調整層5上的電流擴散展76,一
AuGe層生長在電流擴散層7 6上,並選擇性無刻AuGe層, 以保持反抗基體1槽狀區丨a的那部分,因而形成n.型電極 102。
將順向電壓2伏施在本例子的led丨00g,以導通2〇 mA 的%泥。得到的LED光,在5 85 nm最大波長時具有6 cd以 上的強度。 .- 當分別設定(A1xGal-x)l-yInyP活性層3的X與y成分爲 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 0_50*,純綠光色發光在555 ηιη最大波長處可得到4 cd以 上的強度。 本例子的η型電流擴散層7 6由GaP製成,其帶隙大於 Al0.7Ga0.3As的帶隙,以增力口射出光的效率,與例j的LED 100a相比,其中n型電流擴散層6由A1〇 ?Ga〇 3As製成,可 提南LED亮度。 ,_-46- 本紙乐尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 A7 __B7 五、發明説明C 44 ) 此外由AuGe製成的η型電極可設置在η型電流擴散層76 上,因此不必提供一接觸層,以減少製造步驟。 例8 : 圖1 Ο Α與1 Ο Β分別缯示LED作爲根據本發明第八例子的 半導體發光裝置。圖10A是LED結構的剖面圖,而圖1 〇B 是包括在LED中的基體的剖面圖。 這些圖中數字l〇〇h表示本例的LED,其中具有一 DH接 面部分的層狀結構130,包括:一 η型下覆蓋層32,一活 性層3 3,及-一 ρ型上覆蓋層3 4,以此次序設置在η型GaAs 基體.3 1表面上。在本例中’一電流路徑調整層5由阻擋電 流之η型半導體區(電流阻擔區)35a,及通過電流之p型半 導體區(電流通過區)3 5 b组成,並設置在層奴結構〗3 〇的p 型覆蓋層34之上。第二p型覆蓋層34a置在電流路徑調整 層3 5上,一 p型(JaAs接觸層37設置在第二p型上覆蓋層 3 4 a上,以定位在電流路徑調整層3 5的電流阻擋區3 5 a正 上方。p型電極131設置在p型GaAs接觸層3 7上,由AuGe 製成的η型電極132形成在η型GaAs基體31的整個反面。--η型GaAs基體31具有一圓形平坦區31a,其在基體31中 心的1徑爲200 "m。基體31中的其他區域是各具有複數 條形V槽31b的諸槽狀區31b,其深度爲2.3 "也而寬度爲 10 "m。基體1的平坦區31a具有一(1〇〇)平面方向,而v 槽31b各斜坡具有·一(311)A平面方向。 下覆蓋層3 2,活性層3 3,及上覆蓋層3 4分別由 (ALGai-xh-yInyPCO SxSl,Osysi)製成;下覆蓋層 一 ._ -47- 本紙張尺度適用中II國家(CNS) A4規格(2nGx297公酱) ; (請·先閲讀t面之注意事項再填寫本頁) .裝 訂 ”泉 B7五、 發明説明(: 45 32與上覆蓋層34具有的成分比爲χ=;〇·7〇與y = 〇.5〇,且具 有厚度1.0只m ;下覆蓋層32具有1 χ i〇18 cm-3<Si載子 密度,而上覆蓋層34具有5xl〇l8 cm_:3iZn載子密度。 例如活性層33具有χ = 0·30與7 = 0.5〇之成分比與厚度〇 5 m ° 電流路徑調整層3 5也由(AlxGai_x)i_yInyP層(〇gxs工 ,i)製成,其中χ = 〇.7〇,y = 0 5〇,且具有厚度〇 7 A m。電流路徑調整層35摻雜有作爲群π摻雜劑之211與 作爲群vi摻雜劑之Se ^電流路徑調整層35的電流阻擋區 3 5\位在—基體31槽狀區31&之上,並具有3\1〇18咖_3的 載子密度’根據(100) A平面而展示Se摻雜劑之η型導電性 ’該平面是平坦區3 1 a之方向。電流路徑調’整層3 5之電流 通過區35b位於基體31的槽狀區31b之上,並具有3 x 101 8 cm ·3的載子密度,根據(3 11)平面而展示ζ η摻雜劑 之Ρ型導電性’該平忐是基體31諸槽3.lb各斜坡之方向。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 第二上覆蓋層34a由具有1 xlO18 cm·3 Zn載子密度的 P型(Al0 7 Ga〇 3 )〇 5 In〇 5 P製成,與活.性層3 3及·電流路徑. 調整層3 5之間的上覆蓋層3 4相同,並具有約1 " m的厚 度。?\型〇&八8接觸層37具有1\1018<:111-3之載子密度, 及1 A m厚度。 以下説明製造LED 1 00h的方法。 藉著在η型GaAs基體3 1中蝕刻,除了直徑200只m的圓 形區3 1 a之外,以形成複數條形槽3 1 b,以具有深度2 3 "m,寬度1〇 a m,及例如(參考圖i〇b)(311)A平面的 -48 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 29796 A7 B7 五、發明説明(46 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 各斜坡方向。 接著半導體層32至35,34a及37各在基體31上形成, 於第一結晶生長步驟中用MOCVD方法#蝕刻處理。 特別地,蝕刻處理後,η型(Al〇 7Ga〇 3)〇 5ln〇 5p於上基 體31上生長爲η型下覆蓋層32,以具有約丨.0 的厚度 , 及 1x10 cm〕的 Si載子密度。接著 (Al0.3Ga0.7)0.5In0.5P 長成活性層 3 3,以具有約 〇. 5〇 M m 的厚度’而p型(Al07Ga0 3)0 5In05P長成p型上覆蓋層34 ’以具有约1 " m的厚度,與1 x ! 〇 1 8 cm - 3的z n載子密 度 '此時'基體31的表面配置傳輸至生長於其上的半導體 。亦即,對應基體1的槽狀區31b的p型上覆蓋層34的表 面區域,具有複數槽’其斜坡方向是(311)、A平面,而對 應基體3 1的平坦區3 1 a的p型上覆蓋層3 4的表面區.域,具 有一平面,其方向是(100)平面。 此外’(八107〇&0 3)0 51110 5?於15型上覆蓋層34表面上長 成電流路徑調整層35以具有約0.7 " m的厚度,同時以Zn (群II摻雜劑)與S e (群VI掺雜劑)摻雜、 如圖1所述,形成具有3 X l〇H cm-3載子密度的p型半 導體I,作爲電流通過區35b,這是在p型上覆蓋層34的 區域中曝露(311)A平面之處,即對應基體31槽狀區31b 的區域,並形成3 xl〇i 8 cm-3載子密度的η型半導體區, 作爲電流阻擋區35a,這是在ρ型上覆蓋層34的區域中曝 露(丨〇〇)平面之處,即對應基體31平坦區31b的區域。 接著,ρ型(Al〇 7Ga0 3)0 5In〇 jP在電流路徑調整層上生 -49 本紙張尺度適用中關家標準(CNS )八4雛(2i〇X297公釐) (請4·閲讀t-面之注意事項再填寫本頁) •裝_ -δ .泉 A7 B7 五、發明説明(τ 47 請 先、 鬩_ 讀 背. 意 事 項 再β 填 馬 本 頁 長作爲第二ρ型上覆蓋層34a,以具有約1 的厚度,而 P型GaAs層在第二p型上覆蓋層34a上生長以具有約1 的厚度,及3 X 1018 cm·3的Zn载子密度。 接著在p型GaAs層上形成一 AuZe層,而AuGe層132在η 型基體31的反面上形成作爲η型電極。接著選擇性蝕刻ρ 型GaAs層與AuZn層,以保持該部分定位於基體3 1槽狀區 31a的正上方’以形成ρ型GaAs接觸層37與ρ型電極131 ,因而完成LED 100h(參考圖10A)。 將順向電壓2伏施在本例子的LED 1 OOh,以導通20 mA 的電.流。得到的LED光,在5 8 5 nm最大波長時具有4 cd以 上的強度。 1Τ 當分別設足(AlxGa卜JhylriyP活性層53的X奚y成分爲〇 5〇 時,純綠光色發光在5 5 5 nm最大波長處可得到2 cd以上的 強度。 泉 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 在本例的LED 1 OOh中,由電流阻擋區3 5 a與電流通過區 3 5 b組成的電流路徑調整層3 5定位於包括活性層3 3的層 狀結構130上,其位於n型GaAs基體3 1—上,而p型電極131 — 名k由弟一ρ型覆蓋層34a與ρ型接觸層37設置在電流路徑 調整^3 5之上,以便定位在電流阻擋區3 5 &的正上方。因 此因爲電流路徑調整層3 5的電流阻擋區3 5 a之故,電流不 可能流向ρ型電極1 3 1正下方的活性層3 3區域。因此活性 層3的發光區擴散至活性層35的四周,以避免ρ型電極131 正下方的區域,並有效地將活性層3中產生的led光射出 LED 100h表面上的區域,該處並未定位ρ型電極〖ο】。 -50- 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) Α4規格(210X297公瘦) A7 B7 五、發明説明(:48 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 此外因爲電流路徑調整層3 5,第二p型上覆蓋層3 4 a等 是由(Al07Ga03)〇5in〇5p製成,其具有大於由 (Al03Ga0 7)0 5In05P製成的活性層33岛帶隙,這不允許 電流路徑調整層3 5與第二上覆蓋層3 4a吸收從活性層3 3 射出的LED光,以改善射出光效率,以使led 1 〇〇h的亮 度更高。 在本例子中,藉著選擇蝕刻一預設圓形區以外的(丨〇〇) 平面,於η型GaAs基體31的(1〇〇)平面上形成複數條形槽 31b,以曝露(311)A平面。因此曝露在槽狀區31b與平坦 區3,1a (Ί〇〇)平面中的(3u)a平面出現在層狀結構13〇表 面,其包括形成於基體31的活性層33,即在p型上覆蓋層 3 4的表面。 v 對應電流路徑調整層3 5的電流通過區3 5 b的裝置表面區 域,根據基體31槽狀區3115的表面配置而具有不均勻配置 。因-此LED光從電流通過區3 5 b正下方活性層3 3的發光區 射入裝置表面,該角度大於或等於一臨界角的比例減少了 ,因而改吾從裝置表面射出光的效率-。此外活性層33的— 發光區也具有不均勻配置,以致與平的發光區相比,發光 區變秦較大,因而增加射出光的效率。 此外,(311)A平面出現在基體31槽狀區中槽3ib的 各斜坡。因此即使當A1GaInP混合半導體材料於槽狀區 j 1 b中生長也未形成超級晶格。在本例巾電流路徑調整 層3 5的電流通過區3 5 b定位於槽狀區3 i b之上。因此即使 藉著MOCVD方法將A1GaInP混合半導體材料長成活性層 51 - 木紙張尺度適财® ®緖準(CNS ) A4規格(210X297公釐 (請,先閲讀#-面之注意事項再填寫本頁) -裝. 、ν5 泉 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(49 ) 一— 3 3 ’也未在對應電流通過區3 5 b的活性層發光區中形成超 級晶格,因爲超級晶格之故可防止LED光的波長變大。因 此不必爲了得到預設波長LED光的目的而增加A1成分比 例’因此可得到高亮度與高可靠度的led。 此外在本例子中A1GaInP於生長在卩型上覆蓋層34的同 時以Zn與Se摻雜,因此,具有Se摻雜劑的11型導電性之 電流阻擋區3 5a,形成於(1〇〇)平面上,而具有Zn摻雜劑 的P型導電性之電流通過區35b,形成於(311)八平面上。 因此於形成-具有電流阻擋區3 5 a的電流路徑調整層3 5的步 叛t,產未中斷結晶生長過程;而p型上覆蓋層3 4,電流 路乙調整層35,第二p型上覆蓋層34a,及p型接觸層37 皆於單一MOCVD步驟中生長。這可減少成’本並大致增加 發光量。 此外也可防止特性與可靠度的劣化,其導因於再生長介 面的晶質在LED的半導體層狀結構中。 此外在本例子中與例丨至7不同處是,設置電極的裝置 表面部分是平的。因此p型電極13 i表面變平了,而p型電一 極1 3 1與線之間的接合也更緊密且滿意。例9、 圖11的剖面圖繪示LED作爲根據本發明第九例子的半導 體發光裝置。圖中數字100i表示本例的LED。LED 1001包 括一 p型電流擴散層1 56,以取代圖8 LED J 〇〇h的第二p 型上覆蓋層34ρρ型電流擴散層156由A1〇 7Ga〇 3As製成 ,具有5xl〇i8 cm-3的211載子密度,及5 "爪的厚度。 ,_ 一 _-52- ^氏張尺度適用中國國家標準( CNS ) A4規格(210X 297公釐一)一 —-;- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝. 訂 ,1 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 _____B7____ 五、發明説明(τ 50 ) _ * . — 攻置於電流擴散層1 5 6上的p型GaAs接觸層3 7具有5 X 10 8 cm-3的Zn載子密度。裝置的另一結構與圖8的LED 10〇h相同。 根據本例子的製造LED 100i之方法,形成電流路徑調整 層3 5 ’接著形成作爲電流路徑調整層15 6的p型 A1o.7Ga0 3As,以取代第二p 型(Al〇 7Ga0 3)〇 5ΐη〇 5p 上覆蓋 層34a。其他步驟與圖8製造LED 1 OOh的方法相同。 將順向電壓2伏施在本例子的LED 1 00i,以導通2〇 mA 的電流。得到的LED光,在585 nm最大波長時具有5 cd以 上的.強度—。 當分別設定(AlxGauUnyP活性層3 3的乂與y成分爲 〇.5〇時,純綠光色發光在555 nm最大波長▲可得到2.5 Cd 以上的強度。 本例子的p型電流擴散層1 5 6設置在電流路徑調整層3 5 上,以便用p型電流擴散層156也可擴散電流,而光可以 射至活性層3 3區域以外的更廣區域,該活性層3 3區域對 應P型電極1 3 1。這可改善射出光的效·率而且LED可具有 鬲亮度。 在朱例中Al〇 7Ga〇 3As電流擴散層156具有比 (Al0.3Ga0.7)0.5In0.5P活性層3 3寬的帶隙,因此電流擴散 層1 56可增加從活性3 3吸收光’以増加射出光的效率,及 提高LED的亮度。 例1 0 圖1 2的剖面圖繪示LED作爲根據本發明第十例子的半導 (請七閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝 訂 -泉 -53- 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 ____B7 五、發明説明G 51 ) _ 體發光裝置。圖中數字1 OOj表示本例的LED。LED 1 00j包 括一具有第二電流路徑調整層13 5的電流擴散層1 3 6,以 取代圖9的電流擴散層1 5 6。第二電流路徑調整層丨3 5的組 成係由:一電流阻擒區135a,位於p型電極131正下方; 及電流通過區13 5b,位於電流阻擋區丨3 5a附近。η型 GaAs基體31槽狀區31b中槽31b的各斜坡具有(lll)A平 面的結晶方向。 第二電流路徑調整層135也由(Al0 7Ga0 3)〇 5In〇 5P製成 ,其摻雜有Z n與S e。電流路徑調整層丨3 5的電流通過區 13 5^»定桎於基體31的槽狀區31b之上,並具有3 xl〇18 cm·3的載子密度,根據(u丨)a平面而展示Zn摻雜劑之P 型導電性,該平面是基體31的槽31b之各斜^方向。電流 路徑調整層1 3 5之電流阻擋區〖3 5a定位於基體3 1的平坦區 31 a之上,並具有3 X 1〇18 cm_ 3的載子密度,根據(100) 平面而展示Se掺雜劑之n型導電性,該平面是平坦區31a 之方向。 電流擴散層1 3 6中電流路徑調整層Γ3 5的上層部分1 3 6 a _ 與下層部分136b分別具有2.5 ju m的厚度。 本命製造LED 1 OOj的方法與例9製造LED 100i的相同, 除了第二電流路徑調整層1 3 5形成於生長電流擴散層1 3 6 的通道中之外。 將順向電壓2伏施在本例子的LED 1 00j,以導通2〇 mA 的電流。得到的LED光,在585 run最大波長時具有6 cd以 上的強度。 ^__- 54 - ___ 本纸張尺i適用中國國Μ規格(210X 297公釐) '" (請Λ,'閱讀t.面之注意事項再填寫本頁) 裝- Ή '泉 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 -----—__B7 五、發明説明(:52 ) . 當分別設定(AlxGai_x)wInyp活性層33的X與y成分爲 〇· 50時,純綠光色發光在555 ηιη最大波長處可得到3 cd 以上的強度。 在本例中,除了電流路徑調整層3 5設置於p型上覆蓋層 3 4與p型電流擴散層丨3 6間之外,第二電流路徑調整層 135又設置於p型電流擴散層136,因此p型電極131與活 性層3 3之間的電流在2處被阻擋,即被電流路徑調整層3 5 的電流阻擋區3 5 a與第二電流路徑調整層1 3 5的電流阻擋 區13 5a,並擴散在p型電極13ι正下方活性層33區域以外 。玛此流入活性層3 3的電流可擴散至更寬的區域,這可 減少p型電極131下方活性層33區域及其附近的發光量, 藉著遠離p型電極1 3 1正下方活性層3 3處的’減少區域面積 ’以增加發光量,因而增加射出光的效率。 ., 此外根據製造本例中LED的方法,包括在LED中的複數 半導體層可於單一 MOCVD生長步驟中生長,半導體層生 長時並沒有再生長。如此可容易製造出具有三個電流路徑 調整層的LED,要注意的是,電流路徑調整層可_設置在任— 何部分只要其在活性層3 3之上。 例1 1 \ 圖1 3的剖面圖繪示LED作爲根據本發明第十一例子的半 導體發光裝置。圖14A與14B分別燴示製造lED的部分步 驟;特別地,圖1 4 A是包括在LED中的基體之剖視圖;而 圖14B的剖視圖顯示電流路徑調整層於基體上形成時的狀 態。圖中數字100k是本例的LED。LED 100k包括一 p型 ^ -55- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ----;-- (請先閱讀^-面之注意事項再填寫本頁) 裝· 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(:53 )
GaAs基體71,上面設置有一電流路徑調整層75,其由η 型半導體區(阻擋電流區)75a,75b2及75b3,與通過電流 的P型半導體區(電流通過區)7 5 b i組成_。 一具有D Η接面部分的層狀結構i 70設置於電流路徑調整 層7 5上,該層狀結構170 : 一 p型下覆蓋層74,一活性層 73 ’及一n型上覆蓋層72,其連續以此次序生長。 一η型GaAs接觸層77設置在層狀結構170上,由AuGe製 成的η型電極132位於η型GaAs接觸層77上,由AuZn製成 的P型電極Γ3 1設置p型GaAs基體7 1的整個反面。 p裂Ga^As基體71具有複數條形槽75%,位於槽狀區71b 中除了於基體71中心具有直徑200 " m的圓形平坦區71a 之外。槽75b〇分別具有一底面71b2及斜坡751^,皆以一 預設間距形成,以具有深度5 " m,寬度1 5 " m。’基體7 1 的平坦區71a,各槽7lb〇的底面71b2,各個相都槽71b〇 之間.基體7 1的表面部分71b3,具有(1〇〇)平面方向,而各 槽71b〇的斜坡711^具有(lll)A平面方向。 電流路徑調整層75由(AlxGahh-y-InyP (0 x爸1,-〇-SySl)製成,其中χ = 0·70與y = 〇.5的成分比,且具有厚 度1 A m。電流路徑調整層7 5摻雜有作爲群Π摻雜劑之 Ζ η與作爲群VI摻雜劑之S e。電流路禋調整層7 5的電流阻 擋區75a位在基體71平坦區71a之上,並具有3χ1〇18 cm - 3的載子密度,根據(1 00)平面而展示s e摻雜劑之η型 導電性,該平面是平坦區7 1 a之方向。電流路徑調整層7 5 之電流通過區75b2與75b3分別位於各槽71bQ底面7lb〇正 -56- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) (請C閱讀t-面之注意事項再填寫本頁) 、τ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 ___ B7 五、發明説明(-54) , . 上方,及各個相鄰槽7 1 b 0之間的表面部分7 1 b 3正上方, 並具有3xl〇i8crn-3的載子密度,根據各槽71b0底面 7 1 b 2的(1 〇〇)平面,及各個相鄰槽7 q之間的表面部分 71 b 3,而展示s e摻雜劑之η型導電性。 電流路徑調整層7 5的電流通過區7 5 b i具有3 X 1 0 1 8 cm-3的載子密度,根據(1 a平面,其是基體7 1各槽 71 b 〇的斜坡71 b f之方向,而展示Ζ η掺雜劑之p型導電性 〇 下覆蓋/層7 4,活性層7 3,及上覆蓋層7 2分別由 (AJxGa'l-Ji - yInyP (OSxgl,OgySl)製成;下覆蓋層 74與上覆盖層72具有的成分比爲χ = 0.70與y = 0.、50,且分 別具有厚度1.0# m與3.〇A m ;下覆蓋層74具有1 X 1018 cm- 3之Ζ η載子密度,而上覆蓋層72具有1χ 1〇18 cm- 3之 S i載子密度。例如活性層7 3具有X = 0.3 0與y = 〇. 50之成分 比與厚度0.5 μ m。 此外η型GaAs接觸層7 7具有3 X 1 0 1 8 cm - 3的S 1載子密 度與1 // m的厚度。 ’ — - 以下説明製造LED 10Ok的方法。 — ..除J直徑200 μ m的圓形區7 1 a外,將p型GaAs基體7 1 的表面作蝕刻處理,因而形成具有深度5 " m與宽度i 5 "m的複數條形槽71b 〇,以具有(111) A平面之各钭坡 71bj方向’ |4(參考圖i4A)(100)的各表面71b2方向3 接著半導體區75,72至74,及77各在基體7丨上形成, 於單結晶生長步驟中用MO C VD方法作蝕刻處理。 -57 - 木紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4«i^7i〇x297公釐 !----Γ 裝| (請·先閱讀t.面之注意事項再填寫本頁) 訂 Α7 Β7
20793G 五、發明説明(:55
特別地,蝕刻處理後,(Α1„ Γτα λ T kAV7Ga〇 3)〇 5ΐη〇 5ρ 於基體 71 上 生長爲電流路徑調整層75,以具有約工"瓜的厚度,同時 以Zn(群Π摻雜劑)及Se(群VI摻雜劑)摻雜。此時具有3 X 1〇18 Cm_^Se載子密度的n型半導體區形成於曝露(100) 平面的基體71表面區域,即基體71的平坦區71&,各槽 71bG的底面7ib2,各個相鄰槽71、之間的表面部分7ι^ ,分別作爲電流阻擋區75a,75b2&75b3。具有3 X 1〇18 Ctn-3Zn載子密度的p型使區形成於曝露(1〇〇)八平面的基 體71表面區域,即基體71各槽71b〇的斜坡71、作爲電流 通過區75b i。 此後(Al〇 7Ga〇 3)0 5In〇 5p在電流路徑調整層7 5上生長, 同時控制導電性與厚度,以便於n型上覆蓋層72上生長p 型下覆蓋層74,活性層73,η型上覆蓋層72,‘及 GaAs 層0 接著在η型GaAs層上形成一 AuGe層.,而AuGe層在p型基 體71的反面上形成作爲p型電極13ι。接著選擇性蝕刻n型 GaAs層與AuGe層,以保持該部分定彳立於基體7丨平坦區_ 7 la的正上方,以形成n型GaAs接觸層77與η型電極132 ,因‘完成LED 100k(參考圖1 3 )。 將順向電壓2伏施在本例子的LED 1 00k,以導通20 mA 的電流。得到的LED光,在584 nm最大波長時具有7 cd以 上的強度。 當分別設定(AlxGai.x^yltiyP活性層73的乂與y成分爲 0.50時’純綠光色發光在555 nm最大波長處可得到3 5 cd - _ -58- 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS〉A4規格(2π)χ297公產) 一 --*—;- (請先閱讀免面之注意事項再填寫本頁) .裝. 、-口 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(:56 ;> 以上的強度。 在本例子中’電流路徑調整層與電流擴散層,利用與上 例子相同的方式改善射出LED光的效率。於單—結晶生 長T驟中可連續形成包括在led中的半導體層。因此可簡 化製k步驟,減少成本,並增加發光量。此外,蝕刻處理 與類,處理不會中斷結晶生長,以保持LED的特性及可靠 度在问水平,以防止再生長介面的晶質劣化。 a此外在本例子中於LED使用一p型基體。因此,由η型電 机阻播區7 5 a ’ 75b 2及75b 3,與ρ型電流通過區75b i組成 的電流路徑調整層75,可設置於層狀結構i7〇下方的基體 7 1表面。因此當電流路徑調整層75長成時,即可防止下 層〜0曰結構的方向不扭曲,並可根據下層結晶的方向而滿 意的執仃電流阻擋區7 5 a,75b 2及75b 3與電流,通過區 75b i的選擇性生長,同時可將各區的載子密度作成很大 。因此電流路徑調整層75的功能更有效,並增加n型電極 1 3 2正下方活性層7 3區域中的發光量,以及增加射出光的 效率。 ^ . 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 在本例中ρ型基體71上的槽71b具有底面7ί、與表面部 分71b\,其具有(1〇〇)平面結晶方向並加以曝露。此外, 除了 η型%流阻擋區7 5 a定位於n型電接13 2正下方的區域 以外,η型電流阻擋區751^與75b3分離定位於η型電極132 正下方的區域附近。因此被η型電極132正下方電流阻擋 區7 5 a阻擋的電流且在四周擴散,η在即可被電流阻擋區 75b2與7 5b 3擴散至更廣區域。 〆_ _59_ 本紙張尺度適财酬家標準(CNS 規格(21QX297公廣: A7 A7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(:57) 例1 2 圖1 5的剖面圖繪示LED作爲根據本發明第十二例子的半 導體發光裝置。圖中數字100m表示本例的LED ^ led 1〇〇 包括P型GaAs基體8 1,上面設置有一電流路徑調整層 85,其由阻擋電流型半導體區(電流阻擋區)85 &,與 通過電流的p型半導體區(電流通過區)85b組成。 一具有D Η接面部分的層狀結構丨8〇設置於電流路徑調整 層8 5上,孩層狀結構丨8〇 : 一 p型下覆蓋層8 4,一活性層 83,及一n型覆蓋層82,此次序係由基體侧看去。 " 此外一 η型GaAs接觸層77經由_ η型電流擴散層86設置 在層狀結構180上,由AuGe製成的η型電極132位於η型 GaAs接觸層77上,由AuZn製成的η型電極131形成在η型 Ga As基體81的整個反面。 . 與圖8的η型GaAs基體3 1相同,p型基體8 1具有一 圓形平坦區81a,其在基體81中心的直徑爲2〇〇 v m。基 體81的其他區域是槽狀區81b,各複數條形^槽811),其 深度爲2.3 ’寬度爲10 # m。基體81鈞平坦區8丨b具有一-(100)平面方向,而V槽81\各斜坡具有一(311)a&面方 向。、 電流路徑調整層8 5由(㈧各χ $ i,〇 各y S 1)製成,其中x = 0.70與y=:0 5〇的比例,且厚度爲1 A m。電流路徑調整層8 5摻雜有作爲群〗〗掺雜劑之ζ η與 作爲群VI摻雜劑之S e。電流路徑調整層8 5的電流阻擋區 85a位在基體81平坦區81a之上’並具有3 χ i〇18 cm-3的 -60- ✓ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公^~~ ~~~:-- --------•「裝------訂------^涑 (請£閲讀#'面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 _____B7 五、發明説明(:58 )~' —---—- 載子法、度’根據(1〇〇)Α平面而展示Se換令卞,,、 丁 ύ e修雖劑疋η型導電性 ,該平面是平坦區81a之方向。電流路徑調整層85之電流 通過區85b與位於基體81的槽狀區81b之卜,1曰士匕
亚具有3 X 1018 cm-3的載子密度,根據(3 平面而展示Zn摻雜劑 之η型導電性,該平面是基體81槽811^各斜坡之方向。 下覆蓋層84’活性層83’及上覆蓋層82分別由 (AlxGa 卜 xh-yliiyP (〇 含 xsi ’ OSySl)製成;下覆蓋層 8 4與上覆蓋層8 2具有的成分比爲x = 0.70與y = 〇 5〇,且具 有厚度1.0 " m ;下覆蓋層84具有5x 1〇18 cm-3之2:1載 子密度;而上覆蓋層82具有1 X 1〇18 cm·3之Si載子密度 。例如活性層83具有χ = 〇.30與y = 〇_50之成分比與厚度〇5 μ m ° η型電流擴散層8 6由η型Alx GahAs (OSxgi)‘製成, 具有x = 0_70的成分比,與5 的厚度。η型電流擴散層 8 6與η型GaAs接觸層57具有5 X l〇18cm'3的Si載子密度 〇 以下説明製造LED 100m的方法。 ' ^ 藉著在p型GaAs基體8 1表面,除了具有直徑200 m的 圓形^ 8 1 a之外的部分蝕刻,以形成複數條形槽8 1 b 1,以 具有深度2.3 ym,寬度10 ;um’及(311)A平面各斜坡的 方向,這與圖8相同。 接著半導體層85,84,83,82至86,及77各在基體 81上形成,於第一結晶生長步驟中用MOCVD方法作蝕刻 處理。 I. ' ^ j裝------訂------丨Ί (請,先閲讀Ϊ-面之注意事項再填寫本頁〕 1 -61 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) A7 B7 五、發明説明(:59 特別地,蝕刻處理後,(八1〇 7以〇 3)〇 5111〇 51)上基體81上 生長爲電流路徑調整層8 5,以具有約丨〇 a m的厚度,同 時以Zn(群Π掺雜劑)及Se (群VI摻雜劑:)接雜。 此時形成具有3xl〇〖8 (;„1-3的“載子密度的^^型半導體 區,作爲電流阻擋區85a,位於(100)平面曝露的基體81 表面區域,即在基體81的平坦區8la上,並形成3 χ 1〇ls cm-3的Zn載子密度的p型半導體區域,作爲電流通過區 85b,位於(311)A平面曝露的基體81表面區域,即在基 體81的槽狀區81a上。 此·後(Al〇 7Ga0 3)0 5In0 5卩在電流路徑調整層8 5上生長, 同時控制導電性與厚度,以生長p型下覆蓋層8 4 s活性層 83,及n型上覆蓋層82,而具有m厚度的 Al〇.7Ga〇.3As與具有1 " m厚度的η型GaAs層分別於η型上 覆蓋層82形成以具有5 X 1〇18 crn-3的Si載子密度。 接著在η型GaAs層上形成一 AuGe層,而AuZn層在P型 基體81的反面上形成作爲p型電極131。接著選擇性蝕刻η 型GaAs層與AuGe層,以保持該部分定位於基體8 i槽狀區 81a巧正上方,以形成η型GaAs接觸層77與n型電極132 ,_因各完成LED 100m(參考圖15)。 將順向電壓2伏施在本例子的LED 1 00m,以導通20 mA 的電流。得到的LED光,在5 84 nm最大波長時具有8 cd 以上的強度。 當分別設定(AlxGa^xh yinyP活性層8 3的X與y成分爲 0.50時,純綠光色發光在555 nm最大波長處可得到4 cd -62- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐) 請_ 先: 閱 讀 背- 面 之 注 意 事 項 再 寫 本 頁 裝 玎 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 Μ ----------Β7 五、發明説明(_ 60) 以上的強度。 在本例子中,藉著如例9所示的方式利用電流路徑 層8 5與電流擴散層8 6,可改善射出lED光 正 — 人千。於單 —、.吉晶生長步驟中可連續形成具有電流阻擋區8 5 &主 體層狀結構。 半導 此外在本例子中於LED使用一 p型基體。以使由打型電流 阻擔區8 5 3與p型電流通過區8 5 b組成的電流路徑調:2 85,可設置於層狀結構180下方的基體81表面。因此,杏 電流路徑調整層8 5生長時,即可防止下層結晶結構的; 向不扭曲,並可根據下層結晶的方向而滿意的執行電流阻 擋區85a,與電流通過區85b的選擇性生長,同時可將各 區的載子密度作成很大。因此電流路徑調整層8 5的功能 更有效,並增加η型電極132正下方活性層8 3區域’中的發 光量,以及増加射出光的效率。 在本例中因爲電流擴散層8 6具有η型導電性,因此電流 移動程度比ρ型電流擴散層大。此外,因爲電阻減少,電 流可以擴散至離開η型電極13 2正下方_活性層8 3-區域以外 的區域’因而更加改善射出光的效率。 例1 3、
圖1 6的剖面圖繪示LED作爲根據本發明第十三例子的半 導體發光裝置。圖中數字1 〇〇n表示本例的LED。LED 100η中,使用GaP電流擴散層97,具有3 X 101 8 Cm-3的 Ζ η載子密度,及5 μ m的厚度,以取代例9中作爲電流擴 散層156的Al〇 7Ga〇 3As,並將ρ型電極131設置於η型GaP -63- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) —. I ^ ^~ 裝 訂 ^ π (請先閱讀免面之注意事項再填寫本頁)
經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 電流擴散層9 7上,以便定位於η型GaAs基體3 1的正上方 。此外形成於η型GaAs基體31槽狀區3ib中的槽3lb“々 各斜坡,具有(lll)A平面之方向。 ’ 本例製造LED 1 00η的方法與例9製填LED 1 OOi的不同, 其中GaP於電流路徑調整層3 5上長成爲電流擴散層9 7, —AuZri層生長在電流擴散層9 7上,並選擇性蝕刻AuZn層 ’以維持對應基體3 1平坦區3 1 a那部分,以形成p型電極 131 〇 將順向電塵2伏施在本例子的LED 1 〇On,以導通20 mA 的電流。得到的LED光,在584 nm最大波長時具有9 cd 以上的強度。 S刀別5又疋(Al^Ga^xh-ylriyP活性層3 3的X與y成分爲 〇_ 50時,純綠光色發光在555 nm最大波長處可得釣4.5 cd 以上的強度。 本例子的η型電流擴教廣7 6由GaP.製成,其帶隙大於 Al0 7Ga0 3 As的帶隙,因此減少n型電流擴散層9 7從活性 層3 3吸收的光,與例9的LED 1 00a相比,其中η_型電流擴-散層由Al0.7Ga0.3As製成’可增加面出光的效率,並提高 LED备度。 此外p型電極131可設置在GaP電流擴散層狀97上,且 不需要接觸層,因此簡化了製造步驟。 例1 4 圖1 7的剖面圖繒示LED作爲根據本發明第十四例子的半 導體發光裝置。圖中數字l〇〇p表示本例的LED。LED -64- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐__) 1- (I先閱讀t面之注意事項再填寫本頁) .裝·
'tT 旅 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(· 62 ) l〇〇p包括一 η型反射層1〇9,定位於η型GaAs基體3 1與具 有Ο Η接面部分的層狀結構丨3 〇之間,並反射led光,從 活性層3 3至n型GaAs基體3 1,而到達活性層3 3。裝置的 其他結構與例9 LED的相同。 ϋ型反射層109具有10對GaAs層與AllnP層,其互相交 錯著。各GaAs區具有0.01 的厚度,各ΑΠηΡ層具有 〇_〇〇5 " m的厚度,而η型反射層ι〇9具有約〇 15 ν m的厚 度。 本例製造LED 1 00p的方法與例9製造LED 1 00i的相同, 除了—η型下覆蓋層32形成之前,n型反射層1〇9已形成於η 型GaAs基體3 1上之外。 將順向電壓2伏施在本例子的LED 1 00p,'以導通20 mA 的電流。得到的LED光,在585 nm最大波長時具有i〇 cd 以上的強度。 當分別設定(AlxGai-xh-yhyP活性層3 3的X與y成分爲 0.5 0時’純綠光色發光在5 5 5 ηηι最大波長處可得到5 cd 以上的強度。 - 在本例中η型反射層1 09反射LED光,從活性層3 3行進 至η型\}aAs基體31上,而到達活性層3 3,且位於n型(jaAs 基體3 1與具有d Η接面的層狀結構1 3 0之間。因此,行進 至基體邊的光與活性層3 3發出的LED光一樣,都沒有被ρ 型GaAs基體3 1吸收,基體1具有高於層狀結構13〇的折射 係數,與例9的LED 1 00i相比,可增加射出光的效率。 本例中的η型反射層1 09由GaAs層與InA1P層之合併組成 . -65- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) M規格(210x297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝.
-tT
T 旅 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 _______B7 五、發明説明(· 63 ) ,但是,組成η型反射層1 〇9的半導體材料之合併不僅限 於此。可使用其他半導體材料之合併,只要其能反射LED 光,其經由活性層33行進至nSGaAs基體31,而到達活 性層3 3。 例1 5 圖1 8的剖面圖繪示i^ED作爲根據本發明第十五例子的半 導體發光裝置。圖中數字l〇〇q表示本例的LED。在LED中 具有DH接面部分的層狀結構16〇由AlGaAs型混合半導體 I成’以取代圖9使用的AlGalnP型混合半導體。 下-覆蓋層62 ’活性層63 ,及包括在層狀結構^❻的卩型 上覆蓋層64分別由AlxGai_xAs (〇SxS1)製成v下覆蓋 層62與上覆蓋層64具有x = 0.70的比例與厚度1 a m。下 覆蓋層62具有1 X i〇is cm-3之5丨載子密度,而上.覆蓋層 64具有1 x 1〇18 cm-3tZn載子密度。例如活性層63具有 成分比x = 〇.30與厚度〇.5〇 裝置的其他結構與例9的LED i相同。
將順向電壓2伏施在本例子的LED 100q,以導通2〇 mA 的屯$。得到的LED光’在660 nm最大波長時具有3〇 C(j 以上合強度。
在本例中具有DH接面部分的層狀結構是由A1GaAs型混 合半導體製成,但是活性層射出的LED光並未被AiGaInP 型半導體製成的電流路徑調整層吸收,因此可得到與例9 相同的效應。 要注意的是,即使當具有D Η接面部分的層狀結構是由 _:____ -66- 本紙張尺度適用中_家標準(CNS ) Α4規格(2歐297公董) j··1^—裝 訂------^旅 (I先閲讀t面之注意事項再填寫本頁) Α7 Β7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(:64 )
AlGaAs或AlGalnP以外的材料製成,如GaInN,也可得到 與上述例子相同的效應。 本發明並不限於上述個別例子的LED,例如在各上述例 子中’用具有A1成分0.3或0.5的AlGalnP或AlGaAs作爲活 性層。但是當藉著改變A丨成分而從LED中發出led光時 ,也可得到從紅色至綠色的可見光區域的射出光。這種情 況下即使A1成分改變也可得到本發明的相同效應。 藉著改變活性層的半導體材料爲其他材料如A1GaInN型 混合材料,也可得到從紅色至藍色的可見光區域的射出光 。藉著改變AlGalnN型混合半導體或類似的A1成分,也可 知到從紅色至藍色的可見光區域的射出光。 此外關於各例中包括在LED中的其他半導體層,亦即覆 蓋層j電流路徑調整層,與電流擴散層,可用活性.層中相 同的方式將成分比與材料改變。 在各例中,槽的各斜坡具有(311)A平面或(ln)A平面 。或者槽的各斜坡可從半導體結晶(丨〇 〇)平面向[〇〗丨]方向 傾斜。如圖3所示,即使當各斜坡具有.另一方向時,也可 把制【槽以具有一p型導電性,只要方向是A平面。在這 種情於下可以得到本發明的相同效應。 =在各例中基體平坦區上形成具有(ι〇〇)平面的電流 ®:。然而如圖3所示,即使當平坦區具有一 A平面, 仍二相同效應只要於平坦區上生長的半導體層具有非 P型導電性的結晶方向,即— 古 , n 土万向或奇電阻方向。例 措考形成1電阻區作爲電流阻㈣,即可減少接雜於 ---------j|·-裝-- (I先閲讀t·面之注意事項再填寫本頁) ·I- I - I · * I— .
經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 ___B7 五、發明説明(-65) : 電流路徑調整層中的P型摻雜劑或η型摻雜劑。 在基體中心對應電流阻擋區的槽狀區或平坦區不限於圓 形,即使使用其他形狀也可得到相同效應。 此外在各例中電流擴散層是由Alx Ga^ ·χ As (OSxS 1)或 (AlxGaj.xh-ylnyP (〇Sx各 1 ’ OSySl)製成,然而電流 擴散層也可由其他材料製成,只要材料具有的帶隙允許活 性層中產生的光透過材料。 在各例中雖然LED中使用GaAs基體,基體的材料不限 於GaAs。使用任何複合半導體材料如AlGaAs型, AlGalnP型(如GaP),與AlGalnN(如GaN)等也可得到本發 明的相同效應。 、 例1 6 圖1 9A與1 9B的剖面圖,分別繪示LED作爲根據’本發明 第十六例子的半導體發光裝置。特別地,圖1 9 A的剖視圖 顯示LED的結構;而圖1 9 B的剖視圖顯示包括在LED中的 基體結構。 在這些圖中400是本例的LED。LED 400包括一 n型-
GaAs基體401,上面設置有一發光部分400a。發光部分 \ 400a包括:一η型下覆蓋層402,一活性層403,及一 p型 上覆蓋層4 0 4,此次序係由基體側看去。發光部分4 〇 〇 a具 有一 DH接面部分,並將活性層403中的產生的光射出。 由AuZn製成的p型電極411經由一p型GaAs接觸層408設 置在發光部分400b的p型上覆蓋層404上,此外,由AuGe 製成的η型電極410形成在n型GaAs基體401的整個反面。 二_____-68- 本紙浪尺度適财家縣(CNS〉A4規格(21GX297公楚)' ;-- _*--------(-裝------訂---I -^-^ (請先閱讀^-面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(:66 ) ' ; 在本例中於η型GaAs基體4〇1表面上形成複數條形v槽 40U,以具有5 "爪的深度與20 " m的寬度,因此,基體 .401表面具有不均勻配置。諸槽各斜坡的斜角爲3〇〇。 下覆蓋層402,活性層403,及上覆蓋層4〇4分別由 (AlxGaj-JbylnyP (0 S X S 1,〇 S y s i )製成;下覆蓋層 402與上覆蓋層404分別具有^0.70與广〇 5〇的成分比, 且具有厚度1 Am ;下覆蓋層402之Si載子密度,與上覆 蓋層404之Zn載子密度分別是1 X i〇i8 em-3。 活性層403具有x = 0.30與y = 0.50的成分比,及〇 5〇. " m 的厚·度。 p型GaAs接觸層408設置於直徑200 " m的圓形區,在 發光部分400a的中心,並具有3 xlO18 cm-3的Zn載子密 度與1 V m的厚度。 . 以下説明製造LED 400的方法。 藉著η型GaAs基體401表面以形成複數條形槽,以具有5 的深度’ 20 "m的寬度,及各斜度的斜角爲30。(參 考圖 1 9 B)。 · - 藉号於基體401上形成半導體層402至404,與408,並 且用I^OCVD法作蚀刻處理。 特別地,蝕刻處理後,η型(八1〇 70&() 3)() 5111() 5?於基體 401上形成作爲η型下覆蓋層402,以具有約1.0 //m的厚 度,及1 X 101 8 cm·3的Si載子密度。接著 (Al0 3Ga〇 5)〇 5In0 5P於η型下覆蓋層402上形成作爲活性 層403以具有約0.5" m的厚度,而p型 - -69- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公董) ! —··-----^ -¾衣-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 五 發明説明(: 67 A7 B7 經濟部_央標準局員工消費合作社印製 (Al〇.7Ga0.3)0.5In0.5P於活性層403上形成作爲p型上覆蓋 層404以具有約1 " m的厚度,及1 x l〇l 8 cm-3的Zn厚度 〇 此時,基體401的表面配置傳輸至生長的半導體層上。 因此活性層4 0 3具有一波狀表面,此外複數個具有各斜坡 方向角約30的槽形成於p型上覆蓋層1〇4上,因此,p型上 覆蓋層404具肴不均勻形狀。 接著在上覆蓋層404上形成p型GaAs層以高約1 a m的厚 度與3 X 1〇18 cm-3的81載子密度。此後AuZn層形成於p 型電型GaAs層上,而AuGe層410形成於η型基體4〇1的反 面作爲η型電極。選擇性蚀刻ρ型GaAs與AuZn層1以保持 定位於發光部分400a中心,具有直徑200 ^ m的圓形區上 的那部分,以形成η型GaAs接觸層408與p型電極4.11,因 此完成LED 400(參考圖19A)。 將順向電壓2伏施在本例子的LEd 400,以導通2〇 mA的 %流。得到的LED光,在595 nm最大波長時具有3 cd以 上的強度。 . 當分別設定(A1xGai-x)i-yInyP活性層4〇3的X與y成分爲 0.50時’純綠光色發光在5 65 nm最大波長處可得到1 cd 以上的強度。 如上所述在本例中,η型GaAs基體401具有不均勻表面 ’設置在基體401上的發光部分4〇〇a包括:η型下覆蓋層 402 ’活性層403,及依此次序生長的ρ型上覆蓋層4〇4, 而包括在發光部分400a的各半導體層的402至404,具有 ----------|批衣------IT------^ ^ (請·先閱讀t面之注意事項再填寫本頁)
經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 ' ----___ 五、發明説明(-68) 對應基體表面的不均勻形狀。因此射出lED光的裝置表面 具有不均勻形狀,而LED光以一角度入射在裝置表面,該 角度大於或等於一臨界角的比例減少了 :,即使當LED光以 大於或等於一臨界角的角度入射都被乓射回,而LED光以 一角度入射在裝置表面,該角度小於臨界角,都被引至裝 置外。因此改善射出光的效率。 此外,發射LED光的活性層403也具有對應基體4〇1的不 均勻表面,因此與平坦活性層相比,增加了發光積面。這 導致LED光的發光效率增加。 發·光效率的增加與射出光效率的改善都使得Led 400具 有較高亮度。 例1 7 r 圖2 0的剖面圖繪示LED作爲根據本發明第十七例’子的半 導體發光裝置。圖中數字5〇〇表示本例的LED。LED 500 包括一 ti型GaAs基體521,其上形成複數個條形v槽521a ,以具有4.3 " m的深度’ 6 " m的寬度及(111)a平面的 各斜坡方向。 .- LED 5 00的其他結構與圖1 6的LED 400相同,特別地, \ 具有DH接面部分的發光部分5〇〇a設置於基體521上。發 光部分5〇Oa包括:一η型下覆蓋層522,一活性層523,及 一 Ρ型上覆蓋層524,此次序係由基體側看去。發光部分 500a將活性層523中產生的光面出。由AuZn製成的ρ型電 極511經由一 ρ型GaAs接觸層528設置在發光部分500b的ρ 型上覆蓋層524上,接觸層528具有3 xlO18 cm-3的Zn載 . -71 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210x 297公慶) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
-、1T 五、發明説明(, 69 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 子《度。此外’由AuGe製成的η型電極510形成在η型 GaAs基體521的整個反面。 P型GaAs接觸層528與p型電極51丨具有直徑2〇〇 " m的 圓形,這與上述例子相同。n型下覆蓋層522,活性層523 ,與P型覆蓋層524都由(AlxGa^J^yinyP製成,這與例 16的方式相同。n型不覆蓋層522與p型上覆蓋層524的成 分,載子密度,及厚度,與活性層523的成分皆與例丨6相 同。 將順向電壓2伏施在本例子的LED 5〇〇,以導通2〇 電流。得到的LED光,在585 nm最大波長時具有3 cd以 上的強度。 當分別設定(AlxGa^h yinyP活性層523的χ與y成分爲 〇. 5 0時,純綠光色發光在5 5 5 nm最大波長處可得到1 cd 以上的強度。 在本例中η型基體521具有複數條形槽521a,以具有不 均勻配置,而形成於基體521表面上的槽52la的各斜坡方 向’根據GaAs結晶的(1〇〇)平面是(111)a平面或者槽 521a $各斜坡從基體521的(1〇〇)平面向[ο〗〗]方向傾斜。 因此务得到與例1 6相同的效應。此外,即使用M〇CVD法 當AlGalnP混合半導體材料於上面生長時,也未於基體 5 21表面上形成超級晶格。更特別地,用M〇C VD法於η型 GaAs基體 5 2 1上生長作爲活性層 5 2 3的 (Al0 3Ga〇 7)0 5In〇結晶也沒包含超級晶格。因此可防止 L E D光因爲此一超級晶格而具有較長的波長。因此不必藉 -72- 本紙張又度適用中國國家標準(CNS ) 210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .裝
,1T Τ 旅--Ί. A7 A7 經濟部中央樣準局員工消費合作社印製 五、發明説明(:70) —~' 著増加A1成分以調整Led光的波長,並可得到高亮度與 高可靠度的LED。 形成槽的區域的形狀或大小不限於例1 6與例1 7,包括 一平坦區與一槽狀區的半導體基體的上表面,其中形成諸 槽’其説明如例1至1 5。 本發明不限於例1至i 7,特別地,在例i 6中活性層由 AlGaluP型半導體材料製成,然而活性層可由,或 AlGaInN型或MgZnSe型的半導體材料製成。藉著改變活 性層的材料可得到從紅色至藍色的可見光區域的led光。這 也適用於覆蓋層。 此外在各例中藉著調整(AlxGai x)Hinyp中的χ的Μ成 分,也可得到從紅色至藍色的可見光區域的乙£]3光。 顯而易見,即使改變活性層的材料與其材料的成,分比, 仍可得到本發明的相同效應。 材料與材料成分比的這種改變適用於覆蓋層,接觸層, 及活性層。 業者只要在不偏離本發明之精神與旄圍下,可對本發明一 作許多^其他修正。於是附屬申請專利範圍並不僅限於上述 説明,而是要將申請專利範圍作廣義解釋。 1 S - S - -» »^ϋ u I - - - ml HI. 4— ί I : r〜 c靖,先閲讀t面之注意事項再填寫本頁〕 7 -73-

Claims (1)

  1. 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 : 1. 一種半導體發光裝置,包括: 一第一導電性型之半導體基體,具声一上表面與一底表 面; 一電流路徑調整層,包括一電流阻擋區與一電流通過區 ,包含:一第一導電性型之第一摻雜劑,與一第二導電 性型之第二摻雜劑; 一多層結構,形成於半導體基體上表面與電流路徑調整 層之間,該多層結構包括:一活性層,以發光;及一對 覆蓋層,將活性層插入之間; '一第一電極,形成於半導體基體之底表面上;及 一第二電極,形成於電流路徑調整層之;t流阻擒區之上 其中半導體基體之上表面具有一平坦區與一槽狀區,其 中至少形成一槽,而電流路徑調整層之導電性依槽斜坡 之結晶方向’及半導體基體上表面之平坦區之結晶方向 而局部改變;及 槽狀區上之電流阻擋區具有第一導電性,平坦區上之電 流通過區具有第二導電性。 \ 2. 根據申請專利範圍第1項之半導體發光裝置,其中半導體 基體上表面之平坦區之結晶方向係(1 〇〇),槽狀區中槽斜 坡之結晶方向係A方向。 3. 根據申請專利範圍第1項之半導體發光裝置,其中一覆蓋 層具有第二導電性型,係形成於電流路徑調整層與第二 電極之間。 . -74- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) I- (-裝 訂 ^^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 々、申請專利範圍 4. 根據申請專利範圍第1項之半導體發光裝置,又包括:一 電流擴散層,具有第二導電性型,巧成於電流路徑調整 層與第一 %極之間,擴散_電流以使一電流路徑之剖面 ’於電流路徑調整層邊上變成大於第二電極邊上。 5. 根據申請專利範圍第4項之半導體發光裝置, 其中電流擴散層於其中包括—第二電流路徑調整層,第 二電流路徑調整層,包含:一第—摻雜劑,用於第一導 電性型’·及第二摻雜劑型,用於第二導電性型;及 第二電流路徑調整層,包括:一第二電流阻擋區,根據 半導體基體槽狀區中槽之斜坡結晶方向,於第一摻雜劑 邊具有一第一導電性型;及—第二電流缉過區,根據半 導體基體平坦區之結晶方向,於第二摻雜劑邊具有一第 二導電性型。 ’ 6_根據申請專利範圍第i項之半導體發光裝置,其中電流路 楂調整層之電流阻擋區係—高電阻區域。 7. 根據申請專利範圍第〗項之半導體發光裝置,其中多層結 構包括一反射層,以反射產生於活性層中之光。 - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 8. 根雙申請專利範圍第i項之半導體發光裝置,其中多層結 構係由諸(AlxGabxh-ylriyP 層(〇 客 xgi,ogygj)製成 〇 9. 根據申請專利範圍第1項之半導體發光裝置,其中電流路 瓜-周整層係由(AlxGa! -x) i __yInyP 層(〇gxsl,〇gySi 製成。 l〇.根據申請專利範圍第1項之半導體發光裝置,其中電流擴 -_ - 75 - 本紙張適用中國國家標準(CNS )八4祕(21〇χ297公釐) ------ A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 . 散層係由AlxGa^xAs (OSx运1)製成。 11. 根據申請專利範圍第1項之半導體發光裝置,其中電流擴 散層係由111/0&1_)(八1>()1_^層(0容乂3 1,0$7$1)製成 〇 12. —種半導體發光裝置,包括·· 一第一導電性型之半導體基體,具有一上表面與一底表 面; 一多層結構,包括:一活性層,以發光;及一對覆蓋層 ,將活性層插入之間; -一電流路徑調整層,形成於半導體基體上表面與多層結 構之間,該電流路徑調整層,包括:一 f:流阻播區與一 電流通過區,包含:一第一導電性型之第一摻雜劑與一 第二導電性型之第二摻雜劑; ’ 一第一電極,形成於半導體基體之底表面上; 一第二電極,形成於電流路徑調整層之電流阻擋區之上 ;及 其中半導體基體之上表面具有一平坦區與一槽狀區,真 中矣少形成一槽,而電流路徑調整層之導電性依槽斜坡 \ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 之結晶方向,及半導體基體上表面之平坦區之結晶方向 而局部改變;及 槽狀區上之電流阻擋區具有第一導電性,而平坦區上之 電流通過區具有第二導電性。 13. 根據申請專利範圍第1 2項之半導體發光裝置,其中電流 路徑調整層之電流阻擋區係一高電阻區域。 _ -76- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 1 發光裝置,其中半導 一導電性,形成於半 發光裝置,包括一電 於多層結構與第二電 控之剖面,於層狀結 發光裝置,其中一反 係形成於半導體基體 發光黎置’、其中多層 【SI , 〇SyS1)製成 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 14_根據申請專利範圍第1 2項之半導體 體基體包括一第二覆蓋層,具有第 導體基體與電流路徑調整層之間。 I5.根據申請專利範圍第1 4項之半導體 流擴散層’具有第二導電性,設置 極之間,擴散一電流以使一電流路 構邊上變成大於第二電極邊上。 I6·根據申請專利範圍第1 5項之半導體 射層,反射產生於活性層中之光, 上-。 I7.根據申請專利範園第1 6項之半導體 結構係由(AlxGabxhjInyP 層(0s? 18.根據申請專利範圍第! 6項之半導體發光裝置,其中電流 路徑調整層係由(AlxGakUny;^ 1, 1)製成。 !9.根據申請專利範圍第! 6項之半導體發光裝置、其中電^ 擴^層係由AlxGahAs ( 0 s X s 1 )製成。 20. 根據申請專利範圍第1 6項之半導體發光裝置,其中電流 擴散層係由 In/GauAlA-yP 層,〇Sysi)製 成。 21. —種製造半導體發光裝置之方法,包括以下步驟: 於第一導電性型半導體基體之上表面,形成—槽狀區與 —平坦區; 本紙張又 1-^— ^—ϋ n^i ml I ^^^^1 —^m ^ vm —^ϋ t^m a^in -,vm nn m nn (Ί^'v (請t閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央榡準局員工消費合作衽印製 -77- 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8六、申請專利範圍 : 於半導體基體之上表面邊上形成一多層結構,該多層結 構包括:一活性層,以發光;及一對覆蓋層,將活性層 插入之間;及 以一第一導電性型之第一摻雜劑及一第二導電性型之第 二摻雜劑,摻雜電流路徑調整層之同時,於多層結構上 生長電流路徑調整層, 其中在電流路徑調整層,一電流阻擋區形成於一半導體 基體之槽狀區上,以便具有一第一導電性型,而一電流 通過區形成於半導體基體之平坦區上,以便具有第二導 刪。 參 22. 根據申請專利範圍第2 1項製導體梦光裝置之方法 ,其中第一摻雜劑係Zn,而第劑係S e。 23. —種製造半導體發光裝置之方法释以下步驟: 於一第一導電性型半導體基體之上表面,形成一槽狀區 與一平坦區; 以一第一導電性型之第一摻雜劑及一第二導電性型之第 二摻雜劑,摻雜電流路徑調整層之同時,於半導體基體 上表面上形成一電流路徑調整層,及 \ 於電流路徑調整層上形成一多層結構,該多層結構包括 :一活性層,以發光;及一對覆蓋層,將活性層插入之 間; 其中在電流路徑調整層,一電流阻擋區形成於半導體基 體之槽狀區上,以便具有第二摻雜劑之第二導電性,而 一電流通過區形成於半導體.基體之平坦區上,以便具有 . -78 - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 2iJ7d6Q A8 Βδ C8 D8 、申請專利範圍 第一摻雜劑之第一導電性。 24. 根據申請專利範圍第23項製f體發光裝置之方法 ,其中第一摻雜劑係Se,而第劑係Ζ η。 25. —種半導體發光裝置,包括: 第一導電性型之半導體基體,具有一上表面與一底表 面 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 一電流路徑調整層,包括:一電流阻擋區與一電流通過 區,包含:一第一導電性型之第一摻雜劑,與一第二導 電性型之第二摻雜劑; •一多層結構,形成於半導體基體上表面與電流路徑調整 層之間,該多層結構包括:一活性層,0發光;及一對 覆蓋層,將活性層插入之間; 一第一電極,形成於半導體基體之下表面上;及 一第二電極,形成於電流路徑調整層之電流阻擋區之上 . ' 其中半導體基體之上表面,於上表面上具有一平坦區與一 槽狀區,而電流路徑調整層之導電性依槽斜坡之結晶方 向、,及半導體基體上表面之平坦區之結晶方向而局部改 \ 變;及 平坦區上之電流阻擋區具有第一導電性型,而槽狀區上 之電流通過區具有第二導電性。 26.根據申請專利範圍第2 5項之半導體發光裝置,包括:一 電流擴散層,具有第二導電性型,形成於電流路徑調整 層與第二電極之間,擴散一.電流以使一電流路徑之剖面 79 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ^ϋν 1^1^1 m^i HB^i nn —^ —1 8Mm —^i·— ^ 、言^v, (請t閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ABCD 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 六、申請專利範圍 : ,於電流路徑調整層邊上變成大於第二電極邊上。 27. 根據申請專利範圍第2 6項之半導體發光裝置, 其中電流擴散層包括一第二電流路徑調整層, 第二電流路徑調整層,包含:一第一摻雜劑,用於第一 導電性;及一第二摻雜劑型,用於第二導電性;及第二 電流路徑調整層,包括:一成形之第二電流阻擋區,以 便根據半導體基體平坦區之方向,而具有一第一摻雜劑 之導電性;及一成形之第二電流通過區,以便根據半導 體基蹲槽狀區中槽斜坡之方向,而具有一第二摻雜劑之 導電性。 28. 根據申請專利範圍第2 5項之半導體發光裝置,'其中電流 阻擂區係一高電阻區域。 29. 根據申請專利範圍第2 5項之半導體發光裝置,其中一反 射層反射產生於活性層中之光,係形成於半導體基體上 〇 ' 30. —種半導體發光裝置,包括: 一第一導電性型之半導體基體,具有一上表面與一底i 面.; \ 一多層結構包括:一活性層,以發光;及一對覆蓋層, 將活性層插入之間; 一電流路徑調整層,形成於半導體基體上表面與多層結 構之間,該電流路徑調整層,包括:一電流阻擋區與一 電流通過區,包含:一第一導電性型之第一摻雜劑,與 一第二摻雜劑,用於第二導電性型; . -80 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .裝. 訂 經濟部十央標準局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 : 一第一電極,形成於半導體基體之底表面上;及 一第二電極,形成於電流路徑調整肩之電流阻擋區之上 ;及 其中半導體基體之上表面具有一平坦區與一槽狀區,諸 槽在其中形成,而電流路徑調整層之導電性依槽斜坡之 結晶方向,及半導體基體上表面平坦區之結晶方向而局 部改變;及 平坦區上之電流阻擋區具有第二導電性型,而槽狀區上 之電碑通過區具有第一導電性型。 31. 根據申請專利範圍第3 0項之半導體發光裝置,其中電流 阻擋區係一高電阻區域。 _ ' 32. 根據申請專利範圍第3 0項之半導體發光裝置,包括一電 流擴散層,具有第二導電性,設置於多層結構與第二電 極之間,擴散一電流以使一電流路徑之剖面,於層狀結 構邊上變成大於第二電極邊上。 33. 根據申請專利範圍第3 2項之半導體發光裝置,其中一反 射層反射產生於活性層中之光,係形成於半導體基體上 〇 \ 34. —種製造一半導體發光裝置之方法,包括以下步骤: 於一第一導電性型半導體基體之上表面,形成一槽狀區 與一平坦區; 於半導體基體之上表面邊上形成一多層結構,包括:一 活性層,以發光;及一對覆蓋層,將活性層插入之間; 及 . -81 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) — _「— l·----(裝 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 Λ
    申請專利範圍 經濟部中央榇準局員工消費合作社印製 以—用於第一導電性型之s 性型之第-揀濰π ''摻雜劑及一用於第二導電 土 ·^矛—谬雜劑,搀雜雷、,六抓 層社構上彤忐雷、、 /IU路裎調整層之同時,於多 '、。構·上九成電流路徑調整層, ’ 其中在電流路徑調整層,— + ·、 ώ ^ ^ , B F , 阻擋—電流心電流阻檔區形 机於十坦區上,以便且 .,a ,R 文/、可罘一摻雜劑之第一導電性型, 而通過一電流之電流通 匕巧成於槽狀區上,以便具有 弟一接雜劑之第二導電性。 35·根專利範圍第34項製造-半導體發光裝置之方法 36其中第—摻雜劑係“,而第二接雜劑係Zn。 36·-種製造—半導體發光裝置之方法,包括以下步驟: 於弟-導電性半導體基體之上表面上,形成—槽狀區 與一平坦區; 、 λ用於第一導電性型之第—摻雜劑及一用於.第二導電 性型I第二摻雜劑,摻雜電流路徑調整層之同時,於半 導體基體足上表面上形成—電流路.徑調整層;及於電流 路徑碉整層上形成一多層結構,該多層結構包括:一活 性層,以發光;及一對覆蓋層,將活性層插入―之間;-I中在電流路徑調整層,阻擋一電流之電流阻擋區形成 於平坦區上’以便具有第二接雜劑之第二導電性,而通 過一電流之電流通過區形成於槽狀區上,以便具有第一 導電性。 37. 根據申請專利範圍第3 6項製造一半導體發光裝置之方法 ,其中第一摻雜劑係Ζ η,而第二摻雜劑係s e。 38. —種半導體發光裝置,包括: -82 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
    經濟部中央榡準局員工消費合作社印震 導:::基體,具有-不均勻形狀之上表面’具有 插入部分广發括光、—活性層:及-對覆蓋層,將活㈣ 您門,该發先邵分位於半導體基體之上表面上,f 射洽性層中產生之光; 屬 二第-電極’形成於半導體基體之下表面上;及 —第二電極,形成於發光部分上; 之it包括在發光部分之各半導體層,具有—不均勾形狀 39根二由面’以對應半導體基體上表面之不均勻形狀。 • *申請專利範圍第3 8項之半導體發光裝置, 其中複數條形槽形成於半導體基體上表面之上 表面變成不均句;及 ’ 攻上 面槽斜坡之方向相對於半導體結晶之(10。)平面係―八平 4°’:::=利範圍第38項之半導體發光裝置,其中半導 傾t上表面係以-[011]方向,從半導體結晶平面⑽ 41·根费中請專利S圍第38項之半導體發置, 似體上表面包括〜平面rnn方向從半導2 印爻(100)平面傾斜;及一(100)平面。
    本紙張
    210X297公釐)
TW085101913A 1995-02-16 1996-02-15 TW297956B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2842095A JP3240097B2 (ja) 1995-02-16 1995-02-16 半導体発光素子
JP3737795A JP3240099B2 (ja) 1995-02-24 1995-02-24 半導体発光素子およびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW297956B true TW297956B (zh) 1997-02-11

Family

ID=26366526

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW085101913A TW297956B (zh) 1995-02-16 1996-02-15

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5814839A (zh)
KR (1) KR100208108B1 (zh)
CN (1) CN1080939C (zh)
NL (1) NL1002372C2 (zh)
TW (1) TW297956B (zh)

Families Citing this family (95)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3807638B2 (ja) * 1997-01-29 2006-08-09 シャープ株式会社 半導体発光素子及びその製造方法
JPH10294531A (ja) * 1997-02-21 1998-11-04 Toshiba Corp 窒化物化合物半導体発光素子
JPH114020A (ja) * 1997-04-15 1999-01-06 Toshiba Corp 半導体発光素子及びその製造方法、並びに半導体発光装置
US6091083A (en) * 1997-06-02 2000-07-18 Sharp Kabushiki Kaisha Gallium nitride type compound semiconductor light-emitting device having buffer layer with non-flat surface
US6091085A (en) * 1998-02-19 2000-07-18 Agilent Technologies, Inc. GaN LEDs with improved output coupling efficiency
JP2000068554A (ja) * 1998-08-21 2000-03-03 Sharp Corp 半導体発光素子
WO2000052795A1 (fr) * 1999-02-26 2000-09-08 The Furukawa Electric Co., Ltd. Dispositif electroluminescent a semi-conducteurs
TW425726B (en) * 1999-10-08 2001-03-11 Epistar Corp A high-luminance light emitting diode with distributed contact layer
EP1234344B1 (en) * 1999-12-03 2020-12-02 Cree, Inc. Enhanced light extraction in leds through the use of internal and external optical elements
DE10031821B4 (de) * 2000-06-30 2006-06-14 Osram Opto Semiconductors Gmbh LED mit Auskoppelstruktur
DE10033496A1 (de) * 2000-07-10 2002-01-31 Osram Opto Semiconductors Gmbh Halbleiterchip für die Optoelektronik
JP3882539B2 (ja) * 2000-07-18 2007-02-21 ソニー株式会社 半導体発光素子およびその製造方法、並びに画像表示装置
JP4595198B2 (ja) * 2000-12-15 2010-12-08 ソニー株式会社 半導体発光素子及び半導体発光素子の製造方法
WO2002065556A1 (fr) * 2001-02-15 2002-08-22 Sharp Kabushiki Kaisha Element de source lumineuse a semi-conducteur a base de nitrure et son procede de realisation
JP5283293B2 (ja) * 2001-02-21 2013-09-04 ソニー株式会社 半導体発光素子
DE10111501B4 (de) * 2001-03-09 2019-03-21 Osram Opto Semiconductors Gmbh Strahlungsemittierendes Halbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
US7211833B2 (en) 2001-07-23 2007-05-01 Cree, Inc. Light emitting diodes including barrier layers/sublayers
JP4055503B2 (ja) 2001-07-24 2008-03-05 日亜化学工業株式会社 半導体発光素子
US6903379B2 (en) * 2001-11-16 2005-06-07 Gelcore Llc GaN based LED lighting extraction efficiency using digital diffractive phase grating
JP3802424B2 (ja) * 2002-01-15 2006-07-26 株式会社東芝 半導体発光素子及びその製造方法
US7659547B2 (en) * 2002-05-22 2010-02-09 Phoseon Technology, Inc. LED array
KR101030068B1 (ko) * 2002-07-08 2011-04-19 니치아 카가쿠 고교 가부시키가이샤 질화물 반도체 소자의 제조방법 및 질화물 반도체 소자
DE10245628A1 (de) * 2002-09-30 2004-04-15 Osram Opto Semiconductors Gmbh Elektromagnetische Strahlung emittierender Halbleiterchip und Verfahren zu dessen Herstellung
US7071494B2 (en) * 2002-12-11 2006-07-04 Lumileds Lighting U.S. Llc Light emitting device with enhanced optical scattering
JP2004288799A (ja) * 2003-03-20 2004-10-14 Sony Corp 半導体発光素子およびその製造方法、集積型半導体発光装置およびその製造方法、画像表示装置およびその製造方法ならびに照明装置およびその製造方法
US7521854B2 (en) * 2003-04-15 2009-04-21 Luminus Devices, Inc. Patterned light emitting devices and extraction efficiencies related to the same
US7274043B2 (en) * 2003-04-15 2007-09-25 Luminus Devices, Inc. Light emitting diode systems
US20040259279A1 (en) * 2003-04-15 2004-12-23 Erchak Alexei A. Light emitting device methods
US7083993B2 (en) * 2003-04-15 2006-08-01 Luminus Devices, Inc. Methods of making multi-layer light emitting devices
US7074631B2 (en) * 2003-04-15 2006-07-11 Luminus Devices, Inc. Light emitting device methods
US7667238B2 (en) * 2003-04-15 2010-02-23 Luminus Devices, Inc. Light emitting devices for liquid crystal displays
US7166871B2 (en) * 2003-04-15 2007-01-23 Luminus Devices, Inc. Light emitting systems
US7098589B2 (en) * 2003-04-15 2006-08-29 Luminus Devices, Inc. Light emitting devices with high light collimation
US7211831B2 (en) * 2003-04-15 2007-05-01 Luminus Devices, Inc. Light emitting device with patterned surfaces
US7084434B2 (en) * 2003-04-15 2006-08-01 Luminus Devices, Inc. Uniform color phosphor-coated light-emitting diode
US6831302B2 (en) * 2003-04-15 2004-12-14 Luminus Devices, Inc. Light emitting devices with improved extraction efficiency
US7105861B2 (en) * 2003-04-15 2006-09-12 Luminus Devices, Inc. Electronic device contact structures
US7262550B2 (en) * 2003-04-15 2007-08-28 Luminus Devices, Inc. Light emitting diode utilizing a physical pattern
EP3166152B1 (en) * 2003-08-19 2020-04-15 Nichia Corporation Semiconductor light emitting diode and method of manufacturing its substrate
US7344903B2 (en) * 2003-09-17 2008-03-18 Luminus Devices, Inc. Light emitting device processes
US7341880B2 (en) * 2003-09-17 2008-03-11 Luminus Devices, Inc. Light emitting device processes
US7348600B2 (en) * 2003-10-20 2008-03-25 Nichia Corporation Nitride semiconductor device, and its fabrication process
US7450311B2 (en) * 2003-12-12 2008-11-11 Luminus Devices, Inc. Optical display systems and methods
KR20050071238A (ko) * 2003-12-31 2005-07-07 엘지전자 주식회사 고휘도 발광 소자 및 그 제조 방법
ATE527571T1 (de) * 2004-04-15 2011-10-15 Univ Boston Optische bauelemente mit texturierten halbleiterschichten
US8035113B2 (en) * 2004-04-15 2011-10-11 The Trustees Of Boston University Optical devices featuring textured semiconductor layers
US7795623B2 (en) 2004-06-30 2010-09-14 Cree, Inc. Light emitting devices having current reducing structures and methods of forming light emitting devices having current reducing structures
US20090023239A1 (en) * 2004-07-22 2009-01-22 Luminus Devices, Inc. Light emitting device processes
US7557380B2 (en) 2004-07-27 2009-07-07 Cree, Inc. Light emitting devices having a reflective bond pad and methods of fabricating light emitting devices having reflective bond pads
KR100649494B1 (ko) * 2004-08-17 2006-11-24 삼성전기주식회사 레이저를 이용하여 발광 다이오드 기판을 표면 처리하는발광 다이오드 제조 방법 및 이 방법에 의해 제조된 발광다이오드
US20060038188A1 (en) 2004-08-20 2006-02-23 Erchak Alexei A Light emitting diode systems
US8174037B2 (en) * 2004-09-22 2012-05-08 Cree, Inc. High efficiency group III nitride LED with lenticular surface
US7737459B2 (en) 2004-09-22 2010-06-15 Cree, Inc. High output group III nitride light emitting diodes
US7692207B2 (en) * 2005-01-21 2010-04-06 Luminus Devices, Inc. Packaging designs for LEDs
US7170100B2 (en) 2005-01-21 2007-01-30 Luminus Devices, Inc. Packaging designs for LEDs
US7335920B2 (en) * 2005-01-24 2008-02-26 Cree, Inc. LED with current confinement structure and surface roughening
US20060204865A1 (en) * 2005-03-08 2006-09-14 Luminus Devices, Inc. Patterned light-emitting devices
US20070045640A1 (en) 2005-08-23 2007-03-01 Erchak Alexei A Light emitting devices for liquid crystal displays
JP2006324324A (ja) * 2005-05-17 2006-11-30 Sumitomo Electric Ind Ltd 発光装置、発光装置の製造方法および窒化物半導体基板
KR20070012930A (ko) 2005-07-25 2007-01-30 엘지이노텍 주식회사 반도체 발광소자 및 그 제조방법
US20080099777A1 (en) * 2005-10-19 2008-05-01 Luminus Devices, Inc. Light-emitting devices and related systems
KR100735490B1 (ko) 2006-01-02 2007-07-04 삼성전기주식회사 수직구조 질화갈륨계 발광 다이오드 소자 및 그 제조방법
KR100743470B1 (ko) * 2006-04-18 2007-07-30 에피밸리 주식회사 3족 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조 방법
US7952110B2 (en) * 2006-06-12 2011-05-31 3M Innovative Properties Company LED device with re-emitting semiconductor construction and converging optical element
US20070284565A1 (en) * 2006-06-12 2007-12-13 3M Innovative Properties Company Led device with re-emitting semiconductor construction and optical element
KR20090018623A (ko) * 2006-06-12 2009-02-20 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 재발광 반도체 구성 및 수렴 광학 요소를 갖는 led 소자
US7902542B2 (en) 2006-06-14 2011-03-08 3M Innovative Properties Company Adapted LED device with re-emitting semiconductor construction
DE102006043400A1 (de) * 2006-09-15 2008-03-27 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronischer Halbleiterchip
US8110838B2 (en) * 2006-12-08 2012-02-07 Luminus Devices, Inc. Spatial localization of light-generating portions in LEDs
US8110425B2 (en) 2007-03-20 2012-02-07 Luminus Devices, Inc. Laser liftoff structure and related methods
TWI452716B (zh) * 2007-06-08 2014-09-11 Formosa Epitaxy Inc Gallium nitride based light emitting diode and manufacturing method thereof
KR101289230B1 (ko) 2007-07-23 2013-07-29 엘지이노텍 주식회사 발광 소자 및 그 제조방법
US8592800B2 (en) * 2008-03-07 2013-11-26 Trustees Of Boston University Optical devices featuring nonpolar textured semiconductor layers
US8373152B2 (en) * 2008-03-27 2013-02-12 Lg Innotek Co., Ltd. Light-emitting element and a production method therefor
US7989834B2 (en) * 2008-04-30 2011-08-02 Lg Innotek Co., Ltd. Light emitting device and method for manufacturing the same
KR100986461B1 (ko) * 2008-05-08 2010-10-08 엘지이노텍 주식회사 발광 소자 및 그 제조방법
KR101533296B1 (ko) 2008-07-08 2015-07-02 삼성전자주식회사 패턴 형성 기판을 구비한 질화물 반도체 발광소자 및 그제조방법
JP5195452B2 (ja) * 2009-01-22 2013-05-08 ソニー株式会社 発光素子
KR101134720B1 (ko) * 2009-02-16 2012-04-13 엘지이노텍 주식회사 반도체 발광소자 및 그 제조방법
KR20100122998A (ko) * 2009-05-14 2010-11-24 엘지이노텍 주식회사 발광소자 및 그 제조방법
WO2011050179A2 (en) * 2009-10-23 2011-04-28 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Optoelectronic semiconductor device and method of fabrication
US8859305B2 (en) * 2010-02-10 2014-10-14 Macron Technology, Inc. Light emitting diodes and associated methods of manufacturing
KR101007136B1 (ko) * 2010-02-18 2011-01-10 엘지이노텍 주식회사 발광 소자, 발광 소자 패키지 및 발광 소자 제조방법
US8299479B2 (en) * 2010-03-09 2012-10-30 Tsmc Solid State Lighting Ltd. Light-emitting devices with textured active layer
US20110233521A1 (en) * 2010-03-24 2011-09-29 Cree, Inc. Semiconductor with contoured structure
US8993993B2 (en) * 2010-05-11 2015-03-31 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor light emitting device and method for fabricating the same
CN102468377A (zh) * 2010-11-23 2012-05-23 孙智江 一种提高电流扩展效应的led制作方法
EP2528114A3 (en) * 2011-05-23 2014-07-09 LG Innotek Co., Ltd. Light emitting device, light emitting device package, and light unit
KR101285164B1 (ko) 2011-10-14 2013-07-11 삼성전자주식회사 반도체 발광소자 및 이의 제조방법
JP5661660B2 (ja) * 2012-02-07 2015-01-28 株式会社東芝 半導体発光素子
US9012933B2 (en) * 2013-04-08 2015-04-21 Epistar Corporation Light-emitting diode having a roughened surface
DE102013103602A1 (de) * 2013-04-10 2014-10-16 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronischer Halbleiterchip und Verfahren zu seiner Herstellung
TWI597862B (zh) * 2013-08-30 2017-09-01 晶元光電股份有限公司 具阻障層的光電半導體元件
KR101776917B1 (ko) 2015-05-14 2017-09-08 이민우 샌드위치형 미세패턴 복합 발광소자
DE102017104719A1 (de) * 2017-03-07 2018-09-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Strahlungsemittierender Halbleiterkörper und Halbleiterchip

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60105287A (ja) * 1983-11-12 1985-06-10 Fujitsu Ltd 半導体発光装置
JPH0834330B2 (ja) * 1988-03-22 1996-03-29 キヤノン株式会社 半導体レーザ装置
JP3251603B2 (ja) * 1990-08-20 2002-01-28 株式会社東芝 半導体発光装置
JPH04162689A (ja) * 1990-10-26 1992-06-08 Mitsubishi Electric Corp 半導体発光装置の製造方法
KR940005764B1 (ko) * 1991-02-06 1994-06-23 삼성전자 주식회사 레이저 다이오드 어레이 및 그 제조방법
JPH05102599A (ja) * 1991-10-07 1993-04-23 Shimadzu Corp 半導体レーザ
JP2798545B2 (ja) * 1992-03-03 1998-09-17 シャープ株式会社 半導体発光素子及びその製造方法
JP2860217B2 (ja) * 1992-12-25 1999-02-24 シャープ株式会社 半導体レーザ素子およびその製造方法
JPH0738194A (ja) * 1993-07-20 1995-02-07 Mitsubishi Electric Corp 半導体レーザ及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5814839A (en) 1998-09-29
CN1141512A (zh) 1997-01-29
KR960032781A (ko) 1996-09-17
NL1002372A1 (nl) 1996-08-20
KR100208108B1 (ko) 1999-07-15
NL1002372C2 (nl) 1999-02-25
CN1080939C (zh) 2002-03-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW297956B (zh)
CN101669219B (zh) 带有直立式纳米线结构的led及其制作方法
JP3266207B2 (ja) 熱的安定ダイオードレーザ構造
US5250462A (en) Method for fabricating an optical semiconductor device
US5789768A (en) Light emitting diode having transparent conductive oxide formed on the contact layer
JP3845138B2 (ja) スタック活性領域レーザの形成方法
JP4021148B2 (ja) Iii−v族半導体構造に対する拡散障壁スパイク
DE19756856B4 (de) Halbleiterlichtemissionsvorrichtung mit hoher Lichtemissionswirksamkeit
DE102009054564A1 (de) Laserdiodenanordnung und Verfahren zum Herstellen einer Laserdiodenanordnung
US5300791A (en) Light emitting diode
IL99303A (en) A laser from a wave router buried in a variable structure and a method for its production
US4817103A (en) Semiconductor light emitting device with stacked active regions
JP3488597B2 (ja) 窒化ガリウム系化合物半導体装置
US6037603A (en) Opto-electronic device with transparent high lateral conductivity current spreading layer
TWI795364B (zh) 發光器件及其形成之方法
US5138624A (en) Multiwavelength LED and laser diode optical source
JP2004179657A (ja) Iii−v族半導体素子
US4905060A (en) Light emitting device with disordered region
US5801404A (en) High efficiency, aluminum gallium arsenide LED arrays utilizing zinc-stop diffusion layers
JP3486193B2 (ja) 光電半導体素子
US7968867B2 (en) Light-emitting device and method for manufacturing the same
Bhat et al. Orientation‐dependent doping in organometallic chemical vapor deposition on nonplanar InP substrates: Application to double‐heterostructure lasers and lateral p‐n junction arrays
US5185289A (en) Process for the selective growth of GaAs
AU618100B2 (en) Process for the selective growth of gaas
KR102189614B1 (ko) 초격자를 갖는 iii-p 발광 디바이스