TW202006016A - 支鏈共聚物、及使用其之光敏性樹脂組成物、光敏性樹脂膜和光學裝置 - Google Patents

Abstract

本發明係關於一種具有與支鏈聚醯胺官能基團之每一端基鍵結之聚醯亞胺聚合物嵌段的支鏈聚合物、及包含彼之光敏性樹脂組成物、光敏性樹脂膜、及光學裝置。

Description

支鏈共聚物、及使用其之光敏性樹脂組成物、光敏性樹脂膜和光學裝置

相關申請案之交互引用 本申請案主張在2018年6月21日，向韓國智慧財產局提出申請之韓國專利申請案10-2018-0071580之申請日的利益，該申請案整體內容藉由引用併入本文中。 本發明係關於一種可在低溫下被固化，具有優越黏合強度及機械強度，且可實現良好的絕緣性質及圖案化性質的支鏈聚合物，使用彼之光敏性樹脂組成物、光敏性樹脂膜、及光學裝置。

芳香族聚醯亞胺樹脂是一種大抵具有非晶型結構之聚合物，且展現優越的耐熱性、耐化學性、電性質、及由於其剛性鏈結構所致之尺寸穩定性。已廣泛地使用此類聚醯亞胺樹脂作為電/電子材料。 然而，該聚醯亞胺樹脂在用途上有很多限制，因為彼由於該醯亞胺鏈中存在之π電子的CTC(電荷轉移錯合物)的形成而為深棕色。 為要解決該等限制且獲得無色透明的聚醯亞胺樹脂，曾建議一種藉由將強的拉電子(electron withdrawing)基團諸如三氟甲基(-CF₃ )基團導入以限制該π電子移動的方法；一種藉由將磺基(-SO₂ -)基團、醚(-O-)基團、或類似者導入該主鏈中以製造彎曲結構而降低該CTC之形成的方法；或一種藉由將脂族環狀化合物導入以抑制該π電子之共振結構形成的方法。 然而，由於彎曲結構或該脂族環狀化合物，根據上述建議之該聚醯亞胺樹脂難以展現充足的耐熱性，且使用彼所製造之膜仍具有限制，諸如差的機械性質。 近來，為要改良聚醯亞胺之機械性質，已發展聚(醯胺-醯亞胺)共聚物，其在該聚醯亞胺樹脂中具有導入的醯胺單元結構。該醯胺單元結構對該共聚物賦予大的結晶度，從而令耐刮性之表現能達到取代玻璃以作為用於多種電子裝置之顯示器和窗罩(window covers)的材料的程度。 因此，有需要發展一種新穎的樹脂，其具有改良的黏合性、絕緣性質、圖案化性質、及供用於多種光學裝置的類似性質以及改良該聚醯亞胺樹脂之機械性質。

[技術問題] 本發明之目的是要提供一種支鏈聚合物，其能在低溫下固化，具有優越黏合強度及機械性質，且能實現良好絕緣和圖案化性質。 本發明之另一目的是要提供使用上述支鏈聚合物之光敏性樹脂組成物、光敏性樹脂膜、及光學裝置。 [技術解決方法] 在本發明之一態樣中，提供一種支鏈聚合物，其包括藉由以下化學式1表示之支鏈醯胺官能基團；及與該支鏈醯胺官能基團之端基鍵結之聚醯亞胺嵌段： [化學式 1]

在化學式1中，A是三價或更高價之官能基團，a是3或更大之整數，且L₁ 是直接鍵結或二價官能基團中之一者。 在本發明之另一態樣中，提供一種包括上述支鏈共聚物之光敏性樹脂組成物。 在本發明之又一態樣中，提供一種包括該光敏性樹脂組成物之固化產物的光敏性樹脂膜。 在本發明之進一步的態樣中，提供一種包括上述光敏性樹脂膜的光學裝置。 在下文中將更詳細描述根據本發明之特定具體例的支鏈共聚物、使用彼之光敏性樹脂組成物、光敏性樹脂膜、和光學裝置。 除非在本文中另外定義，否則以下用語的定義如下。 在本說明書中，“包括”或“包含”某些成分之某一部分的描述意指能進一步包括其他成分，且不排除其他成分之存在或添加，除非特別有相反的陳述。 在本說明書中，用語“經取代”意指其他官能基團代替該化合物中的氫被鍵結，且被取代之位置不受限制，只要彼是該氫原子被取代的位置，亦即可用該取代基取代的位置。當二或更多個取代基被取代時，該二或更多的取代基彼此可相同或不同。 如本文中使用的，用語“經取代或未經取代的”是指未經取代或以選自下列群組之一或多個取代基取代：氘；鹵素基團；氰基基團；硝基基團；羥基基團；羰基基團；酯基團；醯亞胺基團；醯胺基團；一級胺基基團；羧基基團；磺酸基團；磺醯胺基團；氧化膦基團；烷氧基基團；芳氧基基團；烷硫基(alkylthioxy)基團；芳硫基基團；烷亞磺醯基(alkylsulfoxy)基團；芳亞磺醯基(arylsulfoxy)基團；矽基基團；硼烷基基團；烷基基團；環烷基基團；烯基基團；芳基基團；芳烷基基團；芳烯基基團；烷基芳基基團；烷氧矽烷基基團；芳基膦基基團；或包含N、O、和S中至少一者的雜環基團，或未經取代，或經一個與二或更多個以上例示的取代基連接之取代基所取代。例如，“與二或更多個取代基連接之取代基”可以是聯苯基團。亦即，該聯苯基團也可以是芳基基團，且可被解釋成一種與二個苯基基團連接之取代基。 在本說明書中，符號

或

意指與另一取代基基團連接的鍵結，且直接鍵結是指在以L表示之部分中沒有其他原子的情況。 在本說明書中，烷基基團是由烷衍生之單價官能基團，且可以是直鏈或支鏈。該直鏈烷基基團之碳原子數目不特別受限，但較佳是1至20。並且，該支鏈烷基基團之碳原子數目是3至20。該烷基基團之特定實例包括甲基、乙基、丙基、正丙基、異丙基、丁基、正丁基、異丁基、第三丁基、第二丁基、1-甲基-丁基、1-乙基-丁基、戊基、正戊基、異戊基、新戊基、第三戊基、己基、正己基、1-甲基戊基、2-甲基戊基、4-甲基-2-戊基、3,3-二甲基丁基、2-乙基丁基、庚基、正庚基、1-甲基己基、辛基、正辛基、第三辛基、1-甲基庚基、2-乙基己基、2-丙基戊基、正壬基、2,2-二甲基庚基、1-乙基丙基、1,1-二甲基丙基、異己基、2-甲基戊基、4-甲基己基、5-甲基己基、2,6-二甲基庚烷-4-基及類似者，但不限於此。該烷基基團可經取代或未經取代。 在本說明書中，伸烷基基團是由烷衍生之二價官能基團，且可適用於以上定義之該烷基基團的描述，除了彼等是二價官能基團之外。例如，該伸烷基基團是直鏈或支鏈，且可包括伸甲基基團、伸乙基基團、伸丙基基團、伸異丁基基團、伸第二丁基基團、伸第三丁基基團、伸戊基基團、伸己基基團、或類似者。該伸烷基基團可以經取代或未經取代。 在本說明書中，鹵烷基基團意指一種官能基團，其中上述烷基基團以鹵素取代，且該鹵素基團之實例包括氟、氯、溴、或碘。該鹵烷基基團可經取代或未經取代。該鹵烷基基團之特定實例可以是三氟甲基基團(-CF₃ )。 在本說明書中，多價官能基團是一種殘基，其中與任意化合物鍵結之多個氫原子被移除，且例如，彼可以是二價官能基團、三價官能基團、或四價官能基團。作為一實例，由醯胺化合物衍生之四價官能基團意指一種殘基，其中與該醯胺化合物鍵結之任四個氫原子被移除。 在本說明書中，直接鍵結或單鍵意指與鍵結線連接，其中在對應位置上沒有原子或原子基團。尤其，彼意指在化學式中以L₁ 和L₂ 表示之部分中沒有其他原子。 在本說明書中，重量平均分子量或數目平均分子量意指藉由GPC方法所測量之相對於聚苯乙烯之重量平均分子量或數目平均分子量。在藉由GPC方法所測量之相對於聚苯乙烯之重量平均分子量或數目平均分子量的測量程序中，可以使用普遍已知之分析裝置、偵測器諸如折射率偵測器、及分析管柱。可以使用對於溫度、溶劑、及流速之普遍適用條件。測量條件之特定實例包括30℃之溫度、氯仿溶劑、及1 mL/min之流速。1. 支鏈聚合物 根據本發明之一具體例，可以提供一種支鏈聚合物，其包括藉由化學式1表示之支鏈醯胺官能基；及與該支鏈醯胺官能基團之端基鍵結之聚醯亞胺嵌段。 本發明人透過實驗發現：如化學式1中顯示的，藉由包括含有三個或更多醯胺官能基團之支鏈官能基團作為核心，且藉由使用具有特定支鏈結構之共聚物(其中聚醯亞胺嵌段分別形成在該支鏈核心官能基團之三個或更多個端基)，可以實現優越之固化效能、黏合效能、及機械性質，改良使用該共聚物所得之膜的絕緣性質，且正型圖案或負型圖案的形成也是容易的。本發明已基於這些發現而完成。 尤其，因為含有三或更多個醯胺官能基團之支鏈官能基團係透過添加相對該四羧酸二酐單體之莫耳數目為過量之二胺單體的反應被導入作為核心，可透過在該支鏈醯胺官能基團中所含之大量醯胺鍵結以賦予結晶度，從而實現比僅包括聚醯亞胺單元結構之聚醯亞胺聚合物優越的機械性質。 另外，如化學式1中顯示的，因為該支鏈醯胺官能基團含有呈多重支鏈型之三或更多個官能基團，在該共聚物中能反應之表面積增加且三維網絡結構的交聯結構可更容易地被形成，因此實現優越機械性質。此外，該圖案可藉由曝光及化學蝕刻而容易地被形成，且因此能容易地被施加至不同的光學裝置。 再者，該支鏈醯胺官能基團經由較高碳數之脂族鏈或聚矽氧烷鏈來鍵結而非醯胺鍵結和聚醯亞胺嵌段之直接鍵結，從而使該支鏈共聚物具有合適彈性。所以，該支鏈共聚物展現高的抗張伸長度及彈性模數特性且降低在伸長時所產生之負荷，且因此，該膜之物理性質即使在特別的熱處理程序之後也不明顯改變。另外，可能抑制由於該膜之結晶作用及類似作用所致之結構改變，且可能實現優越持久性而使由該共聚物製成之模製物件不易破裂。 此外，與該支鏈醯胺官能基團之端基鍵結之該聚醯亞胺嵌段含有大量交聯用官能基團，而使該共聚物即使在相對低溫度下能進行交聯並伴隨固化，且最後，可獲得具有高交聯密度的固化產物。因此，含該支鏈共聚物之固化產物的膜具有優越持久性和絕緣特性，且因此可容易施加至不同光學裝置。 尤其，一具體例之支鏈共聚物可包括藉由以上化學式1表示之支鏈醯胺官能基團。該支鏈醯胺官能基團具有支鏈形式且可含有至少一個，較佳三或更多個醯胺鍵結在該官能基團內。 透過在該支鏈醯胺官能基團中所含之多個醯胺鍵結可賦予結晶度，因此實現比只含有聚醯亞胺單元結構之聚醯亞胺聚合物優越的機械性質。 在化學式1中，A是三價或更高價，或三價至五價的官能基團，a是3或更大，或3至5之整數，且L₁ 是直接鍵結或二價官能基團中之一者。 該A是位於該支鏈醯胺官能基團中心的多價官能基團，且在化學式1中藉由括弧“()”表示之官能基團可按照a的數目與A之端基鍵結。亦即，在化學式1中，當a是3時，A是三官能基團。並且，當a是4時，A是四價官能基團。另外，當a是5時，A是五價官能基團。 當藉由列舉的具體實施例來說明時，在化學式1中，當A是四價官能基團且a是整數4時，彼可以是藉由以下化學式1-1表示之官能基團。 [化學式1-1]

在化學式1-1中，A₁ 是四價官能基團，且L₂ 至L₅ 彼此相同或不同，且各自獨立是直接鍵結或二價官能基團中之一者。 因為該支鏈醯胺官能基團含有三或更多個呈多重支鏈型之醯胺官能基團，在共聚物中能反應之表面積增加且該三維網絡結構之交聯結構可更容易地被形成，因此實現優越的機械性質。此外，該圖案能容易地藉由曝光和化學蝕刻而形成，且因此能被施加至不同光學裝置。 在化學式1之L₁ 中使用之二價官能基團可以是由在該支鏈醯胺官能基團之合成中使用的二胺化合物衍生的官能基團。尤其，在化學式1中，L₁ 之二價官能基團可以是具有5至100個碳原子之伸烷基基團；或具有5至100個碳原子之聚伸矽氧烷基基團。考慮到聚醯亞胺嵌段與在化學式1中之L₁ 的端基鍵結，該支鏈醯胺官能基團經由較高碳數的脂族鏈或聚矽氧烷鏈鍵結而非醯胺鍵和聚醯亞胺嵌段的直接鍵結，從而使該支鏈共聚物具有合適的彈性。 尤其，具有5至100個碳原子之伸烷基基團的實例包括9,10-二辛基十九烷-1,19-二基。 另外，具有1至50個碳原子之聚伸矽氧烷基團之實例包括藉由以下化學式1-2表示之聚二甲基伸矽氧烷基基團。 [化學式1-2]

在化學式1-2中，Z是1至10,000之整數。 具有1至50個碳原子之聚伸矽氧烷基團可具有100 g/mol至1000 g/mol，200 g/mol至800 g/mol，400 g/mol至500 g/mol，或420 g/mol至440 g/mol的數目平均分子量。 同時，在化學式1中之A或在化學式1-1中之A₁ 可以是由在該支鏈醯胺官能基團之合成中使用之四羧酸二酐化合物衍生之官能基團。亦即，在化學式1中，A可以是藉由以下化學式2表示之有機基團中之一者。另外，在化學式1-1中，A₁ 可以是藉由以下化學式2表示之有機基團中之一者。 [化學式2]

在化學式2中，Y是選自由直接鍵結、-O-、-CO-、 -COO-、-S-、-SO-、-SO₂ -、-CR₇ R₈ -、-(CH₂ )_t -、 -O(CH₂ )_t O-、-COO(CH₂ )_t OCO-、-CONH-、伸苯基、或其組合組成之群組的任一者，其中R₁ 至R₈ 各自獨立是氫、或具有1至10個碳原子之烷基基團或鹵烷基基團，且t是1至10之整數。 更佳地，在化學式1中的A和在化學式1-1中的A₁ 可以是由4,4’-氧基二酞酸酐衍生之化學式2-1的有機基團，或由焦蜜石酸二酐衍生之化學式2-2的有機基團。 [化學式2-1]

[化學式2-2]

另外，一具體例之支鏈共聚物可包括與支鏈醯胺官能基團之端基鍵結的聚醯亞胺嵌段。該聚醯亞胺嵌段是指由多個聚醯亞胺重複單元構成之寡聚物或聚合物鏈，且可與化學式1之支鏈醯胺官能基團的端基(

)鍵結。更特別地，在聚醯亞胺嵌段中之醯亞胺官能基團內所含的氮原子能與化學式1之支鏈醯胺官能基團的端基(

)鍵結。 聚醯亞胺嵌段大抵具有非結晶結構，且能展現優越的耐熱性、耐化學性、電性質、及由於彼之剛性鏈結構所致之尺寸穩定性。該聚醯亞胺嵌段可包括與聚醯亞胺主幹或支鏈鍵結之交聯用官能基團。以此方式，彼即使在相對低溫度下能使該共聚物進行交聯，伴隨固化，且最後，能獲得具有高交聯密度之固化產物。因此，含該支鏈共聚物之固化產物的膜具有優越持久性和絕緣特性，且因此可容易施加至不同光學裝置。 該交聯用官能基團之實例不特別受限，且能無限制地使用交聯用官能基團以供形成在形成交聯產物或固化產物之技術領域中廣泛使用之不同交聯。該交聯用官能基團之實例包括選自由羥基基團、硫醇基團、矽醇基團、胺基基團、羧基基團、酸酐基團、異氰酸酯基團、醯基鹵化物基團、乙烯基基團、及環氧基團組成之群組中的至少一者。尤其，羥基較佳能用來作為該交聯用官能基團。在此情況中，在該等羥基之間的交聯可在250℃或更低，220℃或更低，180℃至250℃，或190℃至220℃之相對低溫下進行。 亦即，該交聯用官能基團可以是羥基基團、硫醇基團、矽醇基團、胺基基團、羧基基團、酸酐基團、異氰酸酯基團、醯基鹵化物基團、乙烯基基團、環氧基團、或彼之二或多者的混合物。 該交聯用官能基團的含量以該支鏈共聚物之總重量計可以是5重量%至50重量%，10重量%至40重量%，或25重量%至30重量%。當該交聯用官能基團之含量太低(亦即以該支鏈共聚物之總重量計低於5重量%)時，即使在低溫下亦無法使該共聚物充分地交聯，而難以確保足夠程度的交聯密度，且含有該支鏈共聚物之固化產物的膜可具有降低的持久性和絕緣性質。 同時，當該交聯用官能基團之含量太高(亦即以該支鏈共聚物之總重量計高於50重量%)時，該支鏈共聚物之交聯密度過度地提高且因此模數或結晶度過度地提高，且可能難以確保所需之彈性或彈性恢復率。 尤其，該聚醯亞胺嵌段可包括藉由以下化學式3表示之聚醯亞胺重複單元。 [化學式3]

在化學式3中，A₂ 是四價官能基團，且L₆ 是經鹵烷基基團和交聯用官能基團取代之二價官能基團。 在化學式3中之A₂ 可以是由在合成該聚醯亞胺嵌段中使用之四羧酸二酐化合物衍生之官能基團。亦即，在化學式3中A₂ 可以是藉由化學式2表示之有機基團中之一者。 同時，該L₆ 是由在合成聚醯亞胺嵌段中使用之二胺化合物衍生的官能基團。在化學式3中，L₆ 可以是經鹵烷基基團和交聯用官能基團取代之二價基團。 在該L₆ 中，可以使用三氟甲基基團作為該鹵烷基基團。藉由導入強的拉電子基團諸如三氟甲基(-CF₃ )基團以限制π電子的轉移，可能抑制在該聚醯亞胺嵌段之醯亞胺鏈中所存在之π電子的電荷轉移錯合物(CTC)的形成，從而形成無色透明的聚醯亞胺嵌段。 作為在該L₆ 中的該鹵烷基基團，可以無限制地使用交聯用官能基團以供形成在用於形成交聯產物或固化產物之技術領域中所廣泛使用之不同交聯。該交聯用官能基團之實例包括選自由羥基基團、硫醇基團、矽醇基團、胺基基團、羧基基團、酸酐基團、異氰酸酯基團、醯基鹵化物基團、乙烯基基團、及環氧基團組成之群組的至少一者。尤其，較佳能使用羥基作為該交聯用官能基團。在此情況中，在該等羥基之間的交聯可在250℃或更低，220℃或更低，180℃至250℃，或190℃至220℃之相對低溫下進行。 作為特定實例，在化學式3中，L₆ 可以是藉由化學式4表示之官能基團。 [化學式4]

在化學式4中，R₁₁ 是經鹵烷基基團取代之伸烷基基團，且X₁ 及X₂ 中至少一者是交聯用官能基團，且其餘是氫。較佳地，在化學式4中，R₁₁ 是二(三氟甲基)伸甲基 (-C(CF₃ )₂ -)，且X₁ 及X₂ 各自獨立是羥基。更佳地，彼可以是以下化學式4-1，其為由2,2-雙(3-胺基-4-羥基苯基)六氟丙烷衍生之二價官能基團。 [化學式4-1]

更特別地，一具體例之支鏈共聚物可包括藉由以下化學式5表示之共聚物或藉由以下化學式6表示之共聚物。 [化學式5]

[化學式6]

在化學式5和6中，A₃ 是三價或更高價之基團，或三價至五價之官能基團，a1是3或更大，或3至5之整數，L₇ 是二價官能基團，A₃ 是四價基團，L₈ 是經鹵烷基基團和交聯用官能基團取代之二價官能基團，且n1是1至10,000，10至10,000，50至10,000，或100至10,000之整數。 尤其，在化學式5和6中之A₃ 與化學式1中之A相同，在化學式5和6中之L₇ 與化學式1中之L₁ 相同，在化學式5和6中之A₃ 與化學式3中之A₂ 相同，在化學式5和6中之L₈ 與化學式3中之L₆ 相同。 藉由化學式5表示之共聚物可藉由在二胺化合物和四羧酸二酐化合物(二者是在聚醯亞胺嵌段合成中使用之反應單體)間添加比四羧酸酐化合物之莫耳含量更大莫耳含量的二胺化合物而獲得。 藉由化學式6表示之共聚物可藉由在二胺化合物和四羧酸二酐化合物(二者是在聚醯亞胺嵌段合成中使用之反應單體)間添加比二胺化合物之莫耳含量更大莫耳含量的四羧酸酐化合物而獲得。 該支鏈共聚物具有1000 g/mol至1,000,000 g/mol，2000 g/mol至500,000 g/mol，或3000 g/mol至100,000 g/mol之重量平均分子量。另外，該支鏈共聚物具有100 g/mol至100,000 g/mol，500 g/mol至50,000 g/mol，或1000 g/mol至16,000 g/mol之數目平均分子量。 因此，該支鏈共聚物之聚合反應能穩定地進行，且能確保足夠的機械性質。當該支鏈共聚物之分子量過度降低時，難以確保由彼製造之膜產物有足夠機械性質及黏合性。當該支鏈共聚物之分子量過度提高時，該支鏈共聚物之結晶度可能過度提高，且可能難以確保所需之彈性或彈性恢復率。 作為用於製備一具體之支鏈共聚物之方法，可以提及一種方法，其包括：使第一種二胺化合物與聚羧酸酐化合物反應的第一步驟；及使該第一步驟之反應產物、第二種二胺化合物和聚羧酸酐反應的第二步驟，其中在第一步驟中，以1莫耳之該第一種二胺化合物計，該聚羧酸酐化合物中有0.5莫耳或更少之量被反應。 更特別地，在該第一步驟中，當以1莫耳之該第一種二胺化合物計，該聚羧酸酐化合物有0.5莫耳或更少，0.3莫耳或更少，0.01莫耳至0.5莫耳，0.01莫耳至0.3莫耳，或0.02莫耳至0.3莫耳之量被反應時，因為添加相對大量之該第一種二胺化合物，在該聚羧酸酐中存在之該酸酐基團與該第一種二胺之胺基基團反應以製造醯胺酸(amic acid)化合物，然後自該醯胺酸化合物中存在之該羧基基團可再次與該第一醯胺化之二胺的胺基基團反應以合成聚醯胺化合物。該聚醯胺化合物對應於含有該具體例之支鏈醯胺官能基團的前趨體化合物。 在該第一步驟中，當添加以1莫耳之該第一種二胺化合物計多於0.5莫耳之量的該聚羧酸酐化合物時，醯胺酸化合物沒有充分地進行轉換成聚醯胺化合物，以致難以形成在該具體例中的支鏈醯胺官能基團。 隨後，在該第一步驟中所合成之該聚醯胺化合物之胺基端基與該第二種二胺化合物和該聚羧酸酐反應以形成聚醯胺酸，然後透過閉環反應形成聚醯亞胺嵌段。 該第一步驟和該第二步驟之反應皆可分別地在100℃至200℃或140℃至160℃下進行，且反應時間可在0.1小時至20小時之範圍內調節。 該第一種二胺化合物可以是一種化合物，其中胺基基團與具有5至100個碳原子之伸烷基基團的二端基鍵結；或一種化合物，其中胺基基團與具有5至100個碳原子之聚伸矽氧烷基基團的二端基鍵結。作為一較佳實例，可以使用9,10-二辛基十九烷-1,19-二胺或聚二甲基矽氧烷基二胺。 該第二種二胺化合物可以是一種化合物，其中胺基基團與經鹵烷基基團和交聯用官能基團取代之二價官能基團的二端基鍵結。作為一較佳實例，可以使用2,2-雙(3-胺基-4-羥基苯基)六氟丙烷。 該第一種二胺化合物之添加量以100重量份之該第二種二胺化合物計可以是0.01至20重量份，0.1至18重量份，或0.5至17重量份。因此，因為該第一種二胺化合物與該第二種二胺化合物相比，添加量是極小的，在該第一步驟之反應中所得之反應產物是單一化合物(尤其是含多個醯胺基團之聚醯胺化合物)。在第二步驟之反應中，可以形成聚醯亞胺寡聚物或聚合物嵌段。 該聚羧酸酐之實例不特別受限，但四羧酸二酐是較佳的，且尤其可以使用4,4’-氧基二酞酸酐、焦蜜石酸二酐、或類似者。 在該第二步驟中，該聚羧酸酐化合物之反應量以1莫耳之該第二種二胺化合物計可以是0.8莫耳至1.2莫耳，0.9莫耳至1.1莫耳，0.8莫耳至0.99莫耳，0.9莫耳至0.99莫耳，1.01莫耳至1.2莫耳，或1.01莫耳至1.1莫耳。當該聚羧酸酐化合物之反應量以1莫耳之該第二種二胺化合物計是0.8莫耳至0.99莫耳，或0.9莫耳至0.99莫耳時，可以形成在化學式5中顯示之以胺為端基之聚醯亞胺嵌段。另外，當該聚羧酸酐化合物之反應量以1莫耳之該第二種二胺化合物計是1.01莫耳至1.2莫耳，或1.01莫耳至1.1莫耳時，可以形成在化學式6中顯示之以酸酐為端基之聚醯亞胺嵌段。 該第一步驟或該第二步驟之反應可在有機溶劑存在下進行。該有機溶劑之特定實例包括甲苯、四氫呋喃、N,N-二甲基甲醯胺、N,N-二甲基乙醯胺、N-甲基-2-吡咯啶酮、N-甲基己內醯胺、2-吡咯啶酮、N-乙基吡咯啶酮、N-乙烯基吡咯啶酮、二甲基亞碸、四甲基脲、吡啶、二甲基碸、六甲基亞碸、γ-丁內酯、3-甲氧基-N,N-二甲基丙醯胺、3-乙氧基-N,N-二甲基丙醯胺、3-丁氧基-N,N-二甲基丙醯胺、1,3-二甲基咪唑啶酮、乙基戊基酮、甲基壬基酮、甲基乙基酮、甲基異戊基酮、甲基異丙基酮、環己酮、碳酸乙二酯、碳酸丙二酯、二甘二甲醚、4-羥基-4-甲基-2-戊酮、乙二醇單甲醚、乙二醇單甲醚乙酸酯、乙二醇單乙醚、乙二醇單乙醚乙酸酯、乙二醇單丙醚、乙二醇單丙醚乙酸酯、乙二醇單異丙醚、乙二醇單異丙醚乙酸酯、乙二醇單丁醚、乙二醇單丁醚乙酸酯、二乙二醇甲基乙基醚、及類似者。彼等能單獨被使用或二或更多者被結合使用。II. 光敏性樹脂組成物 根據本發明之另一具體例，能提供包括一具體例之支鏈共聚物的光敏性樹脂組成物。該支鏈共聚物之細節可包括所有在上文的具體例中所描述者。 該光敏性樹脂組成物可以是其中一具體例之該支鏈共聚物被溶解或分散在有機溶劑中者。該有機溶劑之特定實例包括甲苯、四氫呋喃、N,N-二甲基甲醯胺、N,N-二甲基乙醯胺、N-甲基-2-吡咯啶酮、N-甲基己內醯胺、2-吡咯啶酮、N-乙基吡咯啶酮、N-乙烯基吡咯啶酮、二甲基亞碸、四甲基脲、吡啶、二甲基碸、六甲基亞碸、γ-丁內酯、3-甲氧基-N,N-二甲基丙醯胺、3-乙氧基-N,N-二甲基丙醯胺、3-丁氧基-N,N-二甲基丙醯胺、1,3-二甲基咪唑啶酮、乙基戊基酮、甲基壬基酮、甲基乙基酮、甲基異戊基酮、甲基異丙基酮、環己酮、碳酸乙二酯、碳酸丙二酯、二甘二甲醚、4-羥基-4-甲基-2-戊酮、乙二醇單甲醚、乙二醇單甲醚乙酸酯、乙二醇單乙醚、乙二醇單乙醚乙酸酯、乙二醇單丙醚、乙二醇單丙醚乙酸酯、乙二醇單異丙醚、乙二醇單異丙醚乙酸酯、乙二醇單丁醚、乙二醇單丁醚乙酸酯、二乙二醇甲基乙基醚、及類似者。彼等能單獨被使用或二或更多者結合使用。 該光敏性樹脂組成物之固體含量以該光敏性樹脂組成物之總重量計可以是10重量%至50重量%，20重量%至40重量%，或25重量%至35重量%。 此外，該光敏性樹脂組成物除了一具體例之該支鏈共聚物和該有機溶劑之外，還可進一步包括其他成分。在非限制性實例中，當該光敏性樹脂組成物被塗覆時，可進一步包括能改良膜厚度之均勻性及表面平滑性、改良膜與基材之間的黏合性、改變膜之介電常數和傳導性、或提高膜之緻密性的添加劑。這些添加劑之實例包括不同種類之溶劑、著色材料、無機填料、界面活性劑、基於矽烷之化合物、介電材料、交聯用化合物、及類似者。其添加量不特別受限，且可以該光敏性樹脂組成物之總重量計在0.1重量%至50重量%之範圍內自由地調節。III. 光敏性樹脂膜 根據本發明之另一具體例，可以提供包括其他具體例之光敏性樹脂組成物的固化產物的光敏性樹脂膜。尤其，該固化產物意指一種透過其他具體例之光敏性樹脂組成物之固化程序所得之材料。在該光敏性樹脂組成物之固化步驟中，進行一具體例之支鏈共聚物的交聯反應。亦即，其他具體例之光敏性樹脂組成物之固化產物可包括該一具體例之支鏈共聚物之固化產物。 該光敏性樹脂膜之熱固化溫度可以是250℃或更低，180℃至250℃，或190℃至220℃之溫度。尤其，在一具體例之支鏈共聚物的聚醯亞胺嵌段中所含的該交聯用官能基團可在250℃或更低，180℃至250℃，或190℃至220℃之溫度下進行交聯反應。因此，因為在該膜中之該支鏈共聚物的熱變形或在該膜成形程序中該膜之熱變形被最小化，故能穩定地確保均勻形狀和數值，並在最後獲得之光敏性樹脂膜中有優越物理性質。 尤其，該光敏性樹脂膜可具有100 MPa或更大，100 MPa至150 MPa，或120 MPa至145 MPa之最終抗張強度，如根據ASTM D882試驗方法測量。此外，該光敏性樹脂膜具有2%或更多，2%至10%，5%至10%，或6%至8%的抗張伸長度，根據ASTM D 882試驗方法測量。另外，該光敏性樹脂膜具有3 GPa或更大，3 GPa至10 GPa，3 GPa至5 GPa，或3.1 GPa至3.6 GPa之彈性模數，根據ASTM D 882試驗方法測量。 該光敏性樹脂膜之厚度不特別受限，但能在例如0.001 μm至100 μm之範圍內自由地調節。當該光敏性樹脂膜之厚度增加或減少特定值時，藉由該光敏性樹脂膜所測量之物理性質也可改變某一值。 同時，該光敏性樹脂膜可包括開口圖案(opening pattern)。該開口圖案是指具有最大直徑100 μm或更小之微孔隙(孔)的光敏性樹脂膜，且該微孔可透過該光敏性樹脂膜之選擇性曝光和顯影程序而形成。 當該光敏性樹脂膜包括開口圖案時，彼可在施加至電子裝置、光學裝置等之時變為與其他膜的連接通道(通孔)，且因此，可使用彼作為絕緣膜或類似者。 製造該光敏性樹脂膜之方法的實例不特別受限，但例如，該方法可包括以下步驟：將其他具體例之光敏性樹脂膜塗覆在基材上以形成塗覆膜(步驟1)；乾燥該塗覆膜(步驟2)；及熱處理並固化該乾燥的塗覆膜(步驟3)。 步驟1是將上述光敏性樹脂組成物塗覆在基材上以形成塗覆膜的步驟。該光敏性樹脂組成物之細節包括所有在上文的於其他具體例中所述者。 將該光敏性樹脂組成物塗覆在該基材上之方法不特別受限，但例如，可以使用諸如旋轉塗覆、網印、平版印刷、柔版印刷、噴墨、及類似者之方法。可以提及矽晶圓作為該基材之實例。 步驟2是藉由塗覆該光敏性樹脂組成物在基材上所形成之該塗覆膜的乾燥步驟。該塗覆膜之乾燥步驟可藉由加熱裝置諸如加熱板、熱空氣循環爐、紅外線爐、及類似者進行，且該乾燥可在50℃至150℃，或100℃至150℃之溫度下進行。 步驟3是熱處理並固化該乾燥的塗覆膜的步驟。在此時，該熱處理可藉由加熱裝置諸如加熱板、熱空氣循環爐、紅外線爐、及類似者進行，且該熱處理可在180℃至250℃，或190℃至220℃之溫度下進行。在該含有一具體例之支鏈共聚物的該光敏性樹脂組成物的情況中，因為藉由該熱處理所致的固化溫度係在250℃或更低之相對低溫度下進行，該支鏈共聚物之熱變形被最小化，且因此能穩定地確保均勻形狀和數值，並在最終獲得之膜中有優越物理性質。 同時，視需要，該方法可進一步包括在步驟3之前使乾燥的塗覆膜曝光並顯影。該開口圖案可透過該曝光並顯影步驟而形成在該乾燥膜上。 該塗覆膜之曝光方法的實例不特別受限，但例如，透過諸如下述之方法可以進行選擇性曝光：接觸具有形成在該塗覆膜上之預定圖案的光罩且照射紫外光，透過投影物鏡使在該光罩中所含之預定圖案成像且然後照射紫外光，或使用雷射二極體作為光源而直接成像且然後照射紫外光。在此時，作為紫外線照射條件的實例，可以提及用5 mJ/cm² 至600 mJ/cm² 之量的光照射。 作為該塗覆膜之顯影方法的實例，可以提及處理鹼性顯影劑的方法。該鹼性顯影劑之實例不特別受限，但例如，彼可藉由調節鹼性水溶液諸如氫氧化鉀、氫氧化鈉、碳酸鈉、碳酸鉀、磷酸鈉、矽酸鈉、氨、氫氧化四甲基銨、胺類、及類似者的濃度和溫度被使用，且也可使用市售的鹼性顯影劑。 所用之特定量的該鹼性顯影劑不特別受限，但需要調節該濃度和該時間，以不破壞該塗覆膜，且該顯影可在2.38 wt%的氫氧化四甲基銨水溶液中進行150秒。IV. 光學裝置 根據本發明之又一具體例，可以提供包括另一具體例之光敏性樹脂膜的光學裝置。 可藉由已知方法將該光敏性樹脂膜導入光學裝置、電器裝置或類似者中。該光敏性樹脂膜係由一具體例之支鏈共聚物製造，且可實現優越穩定性與優越物理性質。因此，能提供一種能展現高可靠性之光學裝置。 [有利效果] 根據本發明，可以提供一種能在低溫下被固化、具有優越黏合強度及機械性質，且能實現良好絕緣性質和圖案化性質之支鏈共聚物、一種使用彼以製造液晶配向膜(liquid crystal aligning film)的方法、及一種光敏性樹脂組成物、一種光敏性樹脂膜、及使用彼之光學裝置。

以下將藉由實例更詳細描述本發明。然而，這些實例僅供說明之用且無意限制本發明之範圍。＜實例＞ 實例1 製備一個配備Dean-Stark設備之250 mL的燒杯，其中將0.33 g(0.64 mmol)的9,10-二辛基十九烷-1,19-二胺溶解在二乙二醇甲基乙基醚(MEDG)中，然後將0.05 g(0.16 mmol)的4,4’-氧基二酞酸酐添加於此。該混合物係在氮氣中在150℃下反應2小時以合成藉由以下化學式a表示之化合物。 [化學式a]

在化學式a中，Q₁ 至Q₄ 皆是9,10-二辛基十九烷-1,19-二基。為供參考，圖1中顯示藉由化學式a表示的化合物的¹ H NMR光譜結果。 然後，將16.5 g(0.053 mol)的4,4’-氧基二酞酸酐和20 g (0.055 mol)的2,2-雙(3-胺基-4-羥基苯基)六氟丙烷添加至藉由化學式a表示之化合物，然後添加二乙二醇甲基乙基醚(MEDG)和甲苯，以使該固體含量是30wt%，且該混合物在150℃下反應12小時以合成支鏈共聚物。 在反應完成後，獲得98.5 g之光敏性樹脂組成物，其中該支鏈共聚物被溶解在該MEDG中。該支鏈共聚物之分子量係藉由使用THF溶劑之GPC測量，且結果發現數目平均分子量(Mn=3000 g/mol)及重量平均分子量(Mw=5500 g/mol)。 實例2 以如實例1中之相同方式獲得支鏈共聚物和光敏性樹脂組成物，除了使用藉由以下化學式b表示之化合物代替在實例1中之藉由化學式a表示之化合物。 [化學式b]

在化學式b中，Q₅ 至Q₈ 皆是9,10-二辛基十九烷-1,19-二基。 製備一個配備Dean-Stark設備之250 mL的燒杯，其中將0.48 g(0.92 mmol)的9,10-二辛基十九烷-1,19-二胺溶解在二乙二醇甲基乙基醚(MEDG)中，然後將0.05 g(0.22 mmol)的焦蜜石酸二酐添加於此。該混合物係在氮氣中在150℃下反應2小時以合成藉由以下化學式b表示之化合物。 該支鏈共聚物之分子量係藉由使用THF溶劑之GPC測量，且結果發現數目平均分子量(Mn=1000 g/mol)及重量平均分子量(Mw=3000 g/mol)。 實例3 以如實例1中之相同方式獲得支鏈共聚物和光敏性樹脂組成物，除了將0.28 g(0.54 mmol)之聚二甲基矽氧烷二胺(Mn=430 g/mol)而非9,10-二辛基十九烷-1,19-二胺溶解在二乙二醇甲基乙基醚(MEDG)中，然後與實例1中之0.05 g(0.16 mmol)的4,4’-氧基二酞酸酐反應。該支鏈共聚物之分子量係藉由使用THF溶劑之GPC測量，且結果發現數目平均分子量(Mn=5000 g/mol)及重量平均分子量(Mw= 100,000 g/mol)。 實例4 以如實例1中之相同方式獲得支鏈共聚物和光敏性樹脂組成物，除了在實例1中添加並反應3.3 g(6.4 mmol)之9,10-二辛基十九烷-1,19-二胺。該支鏈共聚物之分子量係藉由使用THF溶劑之GPC測量，且結果發現數目平均分子量(Mn=16,000 g/mol)及重量平均分子量(Mw=35,000 g/mol)。＜ 比較實例 ＞ 比較實例1 以如實例1中之相同方式獲得支鏈共聚物和光敏性樹脂組成物，除了使用藉由以下化學式c表示之化合物(1,3,5-三嗪-2,4,6-三胺)代替在實例1中之藉由化學式a表示之化合物。 [化學式c]

＜ 參考實例 ＞ 參考實例1 製備一個配備Dean-Stark設備之250 mL的燒杯，其中將0.3 g的9,10-二辛基十九烷-1,19-二胺、16.9 g的4,4’-氧基二酞酸酐和20 g的2,2-雙(3-胺基-4-羥基苯基)六氟丙烷添加至二乙二醇甲基乙基醚(MEDG)和甲苯中，且該混合物係在150℃下反應12小時以獲得線性聚醯亞胺共聚物。該線性聚醯亞胺共聚物之分子量係藉由使用THF溶劑之GPC測量，且結果發現數目平均分子量(Mn=25,000 g/mol)及重量平均分子量(Mw=32,000 g/mol)。＜ 實驗實例 ＞ 實驗實例1 使用旋轉塗覆方法，在800至1200 rpm下，將在以上實例和比較實例中獲得之光敏性樹脂組成物塗覆在4吋矽晶圓上，然後在120℃之溫度下乾燥2分鐘以獲得基材，其上形成具有5.0 μm厚度的光敏性樹脂膜。 然後，該基材藉由寬波段對準器曝光設備，使用具有細圖案形成在其上之光罩，被曝露於500 mJ/cm² 之能量。之後，經曝露之基材在2.38wt%之氫氧化四甲基銨水溶液中顯影150秒，以超純水清洗，然後在氮氣下乾燥以在該光敏性樹脂膜上形成圖案。然後，所得者在200℃之溫度下再次固化2小時以獲得基材，其上形成圖案化之光敏性樹脂膜。 所得之具有圖案化光敏性樹脂膜形成於其上之基材浸入選自丙酮、DMF、及GBL之溶劑中30分鐘，以異丙醇清洗，且在氮氣下乾燥。然後，透過顯微鏡獲取該圖案化光敏性樹脂膜的表面條件，且該耐化學性按照以下準則評估，且結果顯示於以下表1中。 優越：沒有類似熔化的標記或裂痕的損壞。 不良：有諸如熔化的標記或裂痕的損壞。 [表1] 實例和比較實例之實驗實例1的測量結果

如表1中顯示的，由實例1至4之含有支鏈醯胺官能基團的共聚物所得的光敏性樹脂膜，對丙酮、DMF、和GBL中之所有溶劑，均展現優越耐化學性，但由比較實例1之不含醯胺官能基團的共聚物所得的光敏性樹脂膜與該等實例相比，對丙酮、DMF、和GBL中之所有溶劑，均展現不良耐化學性。 實驗實例2 使用旋轉塗覆方法，在約1000 rpm下，將在以上實例和比較實例中獲得之光敏性樹脂組成物塗覆在4吋矽晶圓上，然後在120℃之溫度下乾燥約2分鐘且在200℃下固化約1小時以獲得具有10 μm至15 μm厚度之光敏性樹脂膜，然後移除該矽晶圓以確保光敏性樹脂膜。 關於該光敏性樹脂膜，最終之抗張強度(MPa)、抗張伸長度(%)、及彈性模數(GPa)使用Universal試驗機，根據ASTM D 882試驗方法分別測量。測量結果顯示於以下表2中。 [表2] 實例和比較實例之實驗實例2的測量結果

如表2中顯示的，由實例1至4之含有支鏈醯胺官能基團的共聚物所得的光敏性樹脂膜展現122 MPa至140 MPa之最終抗張強度、6.5%至7.6%之抗張伸長度、及3.1 GPa至3.6 GPa之彈性模數，從而實現優越機械性質。另一方面，由比較實例1之不含醯胺官能基團的共聚物所得的光敏性樹脂膜展現37 MPa之最終抗張強度、1.9%之抗張伸長度、及2.8 GPa之彈性模數，確認機械性質與實例者相比是不良的。 實驗實例3 對於在實例1中獲得之支鏈共聚物和在參考實例1中獲得之線性共聚物，利用動力光散射(DLS)分析儀在溶液相中測量該共聚物的流體動力尺寸分布，且結果顯示於圖2中。 參見圖2，在參考實例1中獲得之二維線性共聚物的情況中，平均粒度被測量為25 nm，但在實例1中獲得之支鏈共聚物的情況中，該平均粒度比參考實例1者大，被測量為100 nm，確認實例1之共聚物具有支鏈三維結構。

圖1顯示在實例1中所合成之化學式a的化合物的¹ H NMR光譜。 圖2顯示在實例1和參考實例1中所得之共聚物的尺寸分布。

Claims (15)

1. 一種支鏈聚合物，其包含： 藉由以下化學式1表示之支鏈醯胺官能基團；及 與該支鏈醯胺官能基團之端基鍵結之聚醯亞胺嵌段： [化學式1]

   

   其中，在化學式1中， A是三價或更高價之官能基團， a是3或更大之整數，且 L₁ 是直接鍵結或二價官能基團中之一者。
2. 如申請專利範圍第1項之支鏈聚合物，其中在化學式1中，L₁ 之二價基團可以是具有5至100個碳原子之伸烷基基團；或具有5至100個碳原子之聚伸矽氧烷基基團。
3. 如申請專利範圍第2項之支鏈聚合物，其中具有5至100個碳原子之該聚伸矽氧烷基基團具有100 g/mol至1000 g/mol之數目平均分子量。
4. 如申請專利範圍第1項之支鏈聚合物，其中藉由以下化學式1表示之該支鏈醯胺官能基團包括藉由以下化學式1-1表示之官能基團： [化學式1-1]

   

   其中，在化學式1-1中， A₁ 是四價基團，且 L₂ 至L₅ 彼此相同或不同，且各自獨立是直接鍵結或二價官能基團中之一者。
5. 如申請專利範圍第1項之支鏈聚合物，其中在化學式1中，A是藉由以下化學式2表示之有機基團中之一者: [化學式2]

   

   其中，在化學式2中，Y是選自由直接鍵結、-O-、 -CO-、-COO-、-S-、-SO-、-SO₂ -、-CR₇ R₈ -、-(CH₂ )_t -、 -O(CH₂ )_t O-、-COO(CH₂ )_t OCO-、-CONH-、伸苯基、或其組合者組成之群組的任一者，其中R₁ 至R₈ 各自獨立是氫、或具有1至10碳原子之烷基基團或鹵烷基基團，且t是1至10之整數。
6. 如申請專利範圍第1項之支鏈聚合物，其中該聚醯亞胺嵌段包括與聚醯亞胺主幹或支鏈鍵結之交聯用官能基團。
7. 如申請專利範圍第6項之支鏈聚合物，其中該交聯用官能基團的含量以該支鏈共聚物之總重量計為5重量%至50重量%。
8. 如申請專利範圍第1項之支鏈聚合物，其中該聚醯亞胺嵌段包括藉由以下化學式3表示之聚醯亞胺重複單元： [化學式3]

   

   其中，在化學式3中， A₂ 是四價官能基團，且 L₆ 是經鹵烷基基團和交聯用官能基團取代之二價官能基團。
9. 如申請專利範圍第8項之支鏈聚合物，其中經鹵烷基基團和交聯用官能基團取代之該二價官能基團係藉由以下化學式4表示： [化學式4]

   

   其中，在化學式4中， R₁₁ 是經鹵烷基基團取代之伸烷基基團，且 X₁ 及X₂ 中至少一者是交聯用官能基團，且其餘是氫。
10. 如申請專利範圍第1項之支鏈聚合物，其中該支鏈共聚物包括藉由以下化學式5表示之共聚物或藉由以下化學式6表示之共聚物： [化學式5]

    

    [化學式6]

    

    其中，在化學式5和6中， A₃ 是三價或更高價之官能基團， a1是3或更大之整數， L₇ 是二價官能基團， A₃ 是四價基團， L₈ 是經鹵烷基基團和交聯用官能基團取代之二價官能基團，且 n1是1至10,000之整數。
11. 如申請專利範圍第1項之支鏈聚合物，其中該支鏈共聚物具有1000 g/mol至1,000,000 g/mol之重量平均分子量。
12. 一種光敏性樹脂組成物，其包含申請專利範圍第1項之支鏈共聚物。
13. 一種光敏性樹脂膜，其包含申請專利範圍第12項之光敏性樹脂組成物的固化產物。
14. 如申請專利範圍第13項之光敏性樹脂膜，其中該光敏性樹脂膜之熱固化溫度是250℃或更低。
15. 一種光學裝置，其包含申請專利範圍第13項之光敏性樹脂膜。

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