TW200536134A - Lsi package provided with interface module, and transmission line header employed in the package - Google Patents
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- H01L2224/29338—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/29339—Silver [Ag] as principal constituent
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- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
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- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29338—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
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Description
200536134 (1) 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於設有一介面(I/F )模組的一 LSI封裝, 一互連體與使用於LSI封裝中的/模組,以及執行I/F模組 的一傳輸線頭。 【先前技術】 # 隨著電譬如雙極性電晶體與場效電晶體之互連裝置之 效能的提高,操作速度的明顯發展則被用在大型積體電路 中,供信號處理(下文稱爲,,信號處理LSI”)。不過’雖 然信號處理LSI的內部操作速度本來就高,但在安裝信號 處理LSI之印刷配線板層次上的操作速度仍會低於信號處 理L SI內的操作速度,再來,在由印刷配線板所進行的支 架層次封裝等級上,操作速度會進一步變慢。上述操作速 度的問題是因爲與電性互連相關之傳輸耗損、雜訊與電石玆 • 干擾的增加所造成,其係隨著操作頻率變得更高而增加° 亦即是,不可避免地,隨著配線長度變長,操作頻率則變 i 得更低以便確保信號品質。因此,封裝技術限制該系統之 操作速度而非限制信號處理LSI之操作速度的此一趨勢’ w 在目前電性互連裝置中變得越來越明顯。 在考慮到電性互連裝置中之此些問題的情形下’提出 藉由光學互連而建立信號處理L S I之間通訊的光學互連裝 置。在光學互連中,因爲關於耗損與頻率相依性’所以在 分配線中的電磁千擾以及與接地電位變動有關的雜訊’ $ -4- 200536134 (2) 在從直流到超過100GHz高頻帶的頻率範圍中被 輕易地實施Gbps的通訊。藉由光學互連而建立 L S I間之通訊的此一光學互連裝置,其係例如在 12 月 3 日 NIKKEI ELECTRONICS 第 8 1 0 號,第 1 中被揭示,其中提出一種直接將I/F模組安裝在 處理LSI之互連體的結構,該I/F模組適用於外 速信號。 # 在上述較早的技術中,因爲互連體之面板安 互連體混以I/F模組的情況下實施,所以在真實 裝製程中實施互連體之面板安裝有其困難。 例如,因爲IF模組具有一光學傳輸線,譬 等,所以不可能如以往地將光纖放入銲錫熔焊爐 處理。因爲相同的問題爲在譬如小同軸電纜被使 輸線的時候產生,所以此問題並不限於使用光學/ 然後,形成光學傳輸線以致於它可藉由可分 ® 連接器而與I/F模組分開的此方法可被視;! NIKKIE ELECTRONICS。不過,在可拆光學連接 t 需要避免光學半導體元件與光學連接器受到機械 染。此外,用於降低製程溫度以避免光學連接器 變形並縮短製程時間之種種不同架構是必須的。 必需條件,所以問題則是假設安裝在相同面板上 份的安裝情況不符合I/F模組的安裝情況,而且 組裝設備不能夠如以往地被應用。再者,因爲光 的壓力機制與固持機制必須設置在可拆的光學連 忽略,以 信號處理 200 1 年 2卜122頁 具有信號 部連接高 裝係在一 互連體安 如光纖等 地進行熱 用當作傳 專輸線。 開的光學 i揭示於 法中,有 損壞與污 接點的熱 由於這些 之其它部 現存面板 學連接器 接法中, -5- 200536134 (3) 所以該架構會變得越來越複雜,因此製造成本大幅增加。 【發明內容】 有鑑於這些情況,本發明之目的乃在提供具有高頻率 1 特徵的LSI封裝,其係可經由現存生產線來製造且不附有 _ 極複雜的架構,以及提供實施部份上述LSI封裝的LSI封 裝,以及實施部份上述LSI封裝的傳輸線頭。 Φ 本發明之態樣本來就存在於可安裝在印刷配線板上的 LSI封裝中,其係包含(a ) —傳輸線頭,包含一頭基部, 由頭基部所固持的一傳輸線,以及安裝在頭基部上的一介 面1C晶片;(b ) —互連體基板,具有複數個板連接點, 其係有助於與印刷配線板的連接;(c ) 一 LSI晶片,安 裝在互連體基板上;以及(d) —插座,具有一導線端並 安裝在互連體基板上,其係架構以容納傳輸線頭,以致於 介面1C晶片能夠經由導線端而電性連接到LSI晶片。 ® 本發明的另一態樣本來就存在於可安裝在印刷配線板 上的中間封裝物中,其係適用於容納將傳輸線與介面1C t 晶片固持的一傳輸線頭,包含(a )由第一主表面與相對 _ 第一主表面之第二主表面所界定的一互連體基板,具有複 數個板連接點在第二主表面,該連接點促進與印刷配線板 的連接;(b ) — L SI晶片,安裝在指派於第一主表面中 的安裝區域上;以及(c )具有一導線端並安裝在互連體 基板上的一插座,其係架構以容納傳輸線頭,以便界面I C 晶片能夠經由導線端而電性連接到LSI晶片。 200536134 (4) 本發明之仍另一態樣本來就存在於傳輸線頭部,其係 架構以插入到一插座內,其係包含(a ) —頭基部;(b ) 一介面IC晶片,安裝在指派於頭基部上的晶片安裝面上 ;以及(c ) 一由頭基部所固持的傳輸線,其中產生在介 面1C晶片中的熱能會經由插座或設置在插座中的開口來 傳送。 【實施方式】 在以下說明中,特定的細節被陳述,譬如特定材料、 製程與裝置’以便提供對本發明的完整理解。不過,對一 般熟證該技藝者而言,本發明顯然可在不具有這些特定細 節的情形下實施。在其他情形中,已知的製造材料、製程 與設備並不被詳細陳述,以致於不會多餘地混淆本發明。 前置詞,譬如”上”、,,上方”、,,下”、,,下面,,與,: 垂直”乃關於基板的平表面來界定,不管實際固持基板的 方向。一層是在另一層上,縱使有插入層。 在解釋本發明各種不同實施例以前,在2004年2月 17日提出申請之美國專利申請案序號1〇/7 7 8,〇3〇中由本 發明發明人所提出的、'設有I/F模組的L SI封裝〃將參考 圖23來解釋,其全文在此以引用的方式倂入文中。LSI封 裝包括一互連體基板丨、安裝在互連體基板1之頂表面上 的LSI晶片5以及連接墊3a與3b。互連體基板】的底表 面藉由板連接點(銲球)9 a、9 b、9 c.....9 r而連接到印 刷配線板’其說明省略。而且散熱器(發熱器)3的底表 -7-
200536134 (5) 面則附加在L SI晶片5的上部上。電路板1 8 a與1 列情形使得電路板1 8a與1 8b能夠圍繞散熱器3庭 的LSI晶片5。雖然電路板1 8a與18b被分別顯元 電路板18a與18b可當作整合元件,以便以楣樑架 著LSI晶片5。再者,驅動IC61a係安裝在散熱器 面上的電路板1 8 a上,並連接到由驅動I C 6 1 a所驅 光(EO)或光電(OE)轉換器62a。同樣地,驅顧 安裝在散熱器3底表面的電路板1 8b上,並連接到 IC61b所驅動的EO/OE轉換器62b。 EO/OE轉換器62a與62b包含藉由使用半導 光檢測器當作主動區域而將複數個半導體雷射與光 等等整合在半導體晶片中的結構。雖然在EO/OE 62a與62b之表面互連等等上的詳細說明被省略, 極配線的圖案卻自EO/OE轉換器62a與62b抽出, 成EO/OE轉換器62a與62b以及驅動IC61a與61b 電性連接。驅動 I C 6 1 a與 6 1 b可內建或單石地 EO/OE轉換器62a與62b的同一晶片中。EO/OE 62a與62b面對相對光纖64a與64b之每一光纖的 ,以致於能夠以高度精確的放置技術,將EO/OE 62a與62b的主動區域相對於相對光纖64a與64b 光纖的末端面地來對準,以便能光學耦合光纖64a 。光纖64a與64b使用作爲高速I/F模組之外部連 局速I / F模組是由電路板1 8 a與1 8 b、驅動I C 6 1 a 以及EO/OE轉換器62a與62b所構成。 8b的排 表面上 ,但是 構圍繞 3底表 動的電 IC61b 由驅動 雷射與 檢測器 轉換器 但是電 以便完 之間的 積集在 轉換器 末端面 轉換器 之每一 與64b 接,該 與61b 200536134 (6) 來自L SI晶片5的高速信號並不經由銲球9 a、9 b、9 c .....9r而被供應到放置於互連體基板1之底表面的印刷 配線板側,但卻經由放置在互連體基板1之上部上的連接 墊3 a、3 b與電路板1 8 a、1 8 b,而供應到驅動IC 6 1 a與 61b。然後,電信號藉由EO/OE轉換器62a、62b轉換成光 學信號,並被供給到光纖束64a、64b。 在此, ''互連體基板〃係爲在1C封裝中的元件,其 • 係將半導體晶片連接到主機板等等。該封裝基板可由導線 架、TAB帶、樹脂基板等所執行。因爲散熱器3與冷卻風 扇4會被附加到LSI晶片5的上部上,所以便能夠建立 LSI晶片5的發熱。 具有圖23所示之此架構的LSI封裝,其係以完全相 同於現存生產線所製造之印刷配線板上的那些標準L S I封 裝製程之步驟與情況來組裝,而那些標準L S I封裝製程是 由現存封裝裝置(熔焊爐等等)所實施。而且,只有將包 _ 括電路板18a、18b、驅動IC61a、61b、與EO/OE轉換器 62a、62b的I/F模組,從印刷配線板頂部固定到互連體基 i 板的製程,例如藉由螺絲或黏結劑,變成用來組裝圖23
μ 所示之LSI封裝的特徵工作製程。不過,因爲用來將i/F 模組固定在互連體基板的製程係爲藉由將IF模組放置在 互連體基板頂部上’所以該構造並不需要高度精確的位置 控制技術(例如,± ] 0 // m )。亦即是,一般電連接器用 的此位置控制技術足夠用在將I/F模組固定到互連體基板 的製程’而且圖2 3所示之l SI封裝的組裝製程成本並不 200536134 (7) 增加很多。亦即是,甚至以使用現存低成本印刷配線板( 例如,玻璃環氧樹脂面板等等)的現存封裝方法,例如 2 0 Gbps的高速互連也變得可能,其係通常無法以一般的 面板電性互連來實施。 雖然設有圖23所示之I/F模組的LSI封裝具有每一晶 片的散熱可容易建立之優點,但由於信號處理L SI晶片5 與驅動IC 6 1 a、6 1 b的二維排列,但是L S I封裝的缺點則 是從EO/OE轉換器62a、62b的光學半導體元件(其圖式 被省略)到驅動IC6 1 a、6 1 b之類比電配線變得太長,而 可能干擾高速信號處理。再者,設有IF模組的LSI封裝 需要執行I/F模組之支撐體的電路板18a、18b,而且假如 可能的話,電路板18a、18b的次級封裝成本可較佳地被 節省。 本發明的各種不同實施例將參考附圖來說明。要注意 白勺是’在所有圖式中,相同或類似的參考數字會被應用到 +目同或類似的部件與元件,且相同或類似部件或元件的說 明將被省略或簡化。 以下的本發明第一至第四實施例提供一設有I/F模組 的LSI封裝,其中介面ic合倂傳輸線,實施部分LSI封 ^ t LSI封裝的次級組裝封裝,以及實施部分LSI封裝的 '線頭,以致於介面Ι/C與光學半導體元件之間的連接 胃Pi ’或者介面1C與傳輸線之間的連接間隔能夠被縮短 ’進一步地,I/F模組用的子基板(支撐基板)與I/F模 組的次級組裝製程可被忽略。 -10- 200536134 (8) 例如,雖然在第一至第四實施例的說明中,使用光學 互連的實例被顯示作爲高速I/F模組的外部互連,但是譬 如小同軸纜線陣列的電性互連可被接受用於外部互連。在 外部互連是電性互連的情形中,譬如線驅動器1C與線接 收器1C的高速配線介面1C可取代驅動1C與光學元件來 ‘安裝,而且假如需要的話,預加強電路與等化器等等可被 包含在內。 # 一般而言且習知在半導體封裝的代表圖式中,各種不 同圖式將被理解到並非按比例地從一圖繪製到另一圖,也 不是在已知的圖式中,而且層厚度尤其可任意地繪製,以 助於圖式之讀取。 (第一實施例) 如圖1所示,根據本發明第一實施例所設計的LSI封 裝包括信號處理LSI晶片(以下稱爲”一 LSI晶片”)5, • 以及架構以電連接到印刷配線板的一互連體基板,LSI基 板5係安裝在互連體基板1上,以及安裝在互連體基板1 , 上的複數個插座(插口插座)21、22、23、24。插座21、 _ 22、23、24的每一插座實施進出LSI晶片5的信號與進出 外部傳輸線的信號之間的部分介面機制。 根據本發明第一實施例所設計的LSI封裝進一步包括 由頭體部3 1、3 2、…所實施的複數個傳輸線頭,每一頭體 部係架構以分別插入於相應的插座2 1、2 2、2 3、24中。 在頭體部31、32·.·的每一頭體部上安裝有介面1C晶片83 - 11 - 200536134 (9) ,以實施如圖2所示的傳輸線頭部。介面IC晶片8 3實施 部分的介面機制。頭體部3 1、3 2…的每一頭體部建立從介 面IC晶片8 3至相應插座2 1、2 2、2 3、2 4的熱流。 互連體基板1的幾何結構是由第一主表面(頂表面) 與相對第一主表面的第二主表面(底表面)所界定。LSI 晶片5係被安裝在互連體基板1之第一主表面(頂表面) 上所指派的安裝區域上。用來促進與印刷配線板(圖省略 )之連接的複數個板連接點(電性接觸區域)係被排列在 第二主表面(底表面)上。頭體部3 1、3 2…的每一頭體部 被插入到插座21、22、23、24裡面,以便能夠將每一頭 體部與插座21、22、23、24分開。在被插入的架構中, 頭體部 31、32…的每一頭體部經由插座21、22、23、24 而電性連接到L SI晶片5。由第一頭基部3 1與第一插座 2 1所執行的第一對傳輸線頭,由第二頭基部32與第二插 座22所執行的第二對第二傳輸線頭,由第三頭基部(未 顯不)與第三插座2 3所執行的第三對第三傳輸線頭,由 第四頭基部(未顯示)與第四插座24所執行的第四對第 四傳輸線頭,其係分別稱爲 '、介面模組(I/F模組)〃。 雖然在圖1中,只有兩頭體部3 1與3 2顯示,但是圖 1本來就代表四個傳輸線頭分別被插入到四個插座2 1、2 2 、23與24的一種架構。第一至第四傳輸線頭非別對應圖 2 3所示的I /F模組。雖然圖式被省略,但是每一傳輸線頭 包含當作EO/OE轉換器的光學半導體元件(稍後說明) ’以及當作驅動IC的介面IC (稍後說明)。四個頭體部 -12- 200536134 (10) 31、32、…分別連接到四條傳輸線41 ' 42、43與44的相 對應端點。在圖1中,十二芯的平行光纖纜線(帶狀結構 的光纖陣列)係以對準的傳輸線捆4 1、4 2、4 3與4 4地顯 示。例如,通常以石英爲基礎的光纖係使用於對準捆線4 1 、42、43與44中的每一傳輸線。特別是,每一條均具有 纖芯直徑5 0 // m以及包層直徑1 2 5 // m的複數條多模態光 纖(MMF ),可被部署在每一對準傳輸線捆41、42、43 • 與4 4之中間線節距2 5 0 // m的陣列中。同樣地,每條均具 有纖芯直徑980//m以及包層直徑1000/zm的塑膠光纖( POF )陣列,其係可被接受用於對準的傳輸線捆4 1、42、 43與44。雖然圖式被省略,但是每一對準的傳輸線捆41 、42、43與44可被連接到光學連接器,以用來連接外面 的對準傳輸線捆(平行光纖纜線)。對準的傳輸線捆4 1、 42、43與44不僅由光纖,亦由被紫外線硬化的環氧樹脂 、聚醯亞胺樹脂、氟碳聚醯亞胺樹脂等等形成的光波導薄 ® 膜實施。具有截面尺寸大約5 0 // m多模態光波導,且截面 尺寸大約9 // m單模態光波導之脊結構的線性纖芯陣列’ 其係可被建立在光波導薄膜裡面。 在本發明的第一態樣中,傳輸線頭被從圖1所示之完 全組裝架構拉出的中空構造係被定義爲 '、中間封裝〃。而 且傳輸線頭被分別插入到圖1所示之插座2 1、22、23與 24裡面的完全組裝架構被定義爲、、設有I/F模組的LSI封 裝〃或L S I封裝〃。本定義可應用在稍後將說明的第二 至第四實施例。 -13- 200536134 (11) 在圖1所示之本發明第一實施例的L SI封裝 I/F模組的LSI封裝)中,雖然四對準傳輸線捆41 43與44沿著傳輸線頭四方向延伸的拓樸被顯示, 對準傳輸線捆沿著三或更少方向取出的另一拓樸亦 。而且假如傳輸線頭被排列成能夠在五邊形上形成 狀的g舌’將複數條對準傳輸線捆沿超過五方向的複 向取出的拓樸亦有可能。儘管如此,類似互連體, 成樹脂之有機基材料與譬如陶瓷、玻璃之無機基材 種不同材料可被使用當作頭體部3 1、3 2、…的材料 在完成安裝互連體基板1到印刷配線板上的一 程以後,該製程係由現存的封裝裝置(熔焊爐等等 施,傳輸線頭會被分別插入到相應的插座2 1、2 2、 24內,以便能夠形成圖1所示的完全組裝架構。互 板係爲用來連接LSI晶片到印刷配線板的封裝元件 體),其係並且藉由類似圖2 3所示架構的電性連 連接到印刷配線板。亦即是,和圖2 3的架構一樣 連接印刷配線板的電性接點(板連接點),會被連 來連接印刷配線板的接觸盤(墊),該印刷配線板 在互連體基板1的第二主表面(抵表面)上,然而 的說明被省略。 同樣地,雖然用來連接印刷配線板的板連接點 示,例如如同圖23所示的銲球l〇a、10b…、1 〇r, 接受用於板連接點。具體地,包括球柵陣列封裝、 格陣列與基板柵格陣列等等的各種不同封裝架構, (設有 、42、 但是三 有可能 多角形 數個方 包括合 料的種 〇 連串製 )所實 23與 連體基 (互連 接端來 ,用來 接到用 係建立 接觸盤 沒有顯 可令人 針腳栅 可令人 -14- 200536134 (12) 5έ用於互連體基板1。此外,因爲互連體基板是架構以 將L S I晶片(丨s疏處理L S I ) 5連接到L S I封裝之完全組 裝架構中主機板(印刷配線板)的其中一封裝元件,所以 導線架、捲帶自動接合(TAB )帶、或樹脂基板等等可被 使用當作互連體基板1。因此,種種不同有機材料,譬如 合成樹脂,以及無機材料,譬如陶瓷、玻璃等等,可被接 受用於互連體基板1的基板材料。有機基樹脂包括酚基樹 • 脂、聚脂、環氧樹脂、聚醯亞胺樹脂、氟碳聚合物等等。 紙、波形玻璃纖維、或玻璃基質材料等等可使用於加固基 質材料,其係充當作疊層厚片結構中的基質。基板材料用 的代表性無機材料係爲陶瓷。金屬基板使用於改善互連體 基板1之散熱特徵的目的。而且,玻璃可當透明基板爲互 連體基板1所必需時被使用。氧化鋁、多鋁紅柱石、氧化 鈹、氮化鋁、碳化矽等等可被使用當作互連體基板1的陶 瓷基板。此外,在譬如鐵與銅的金屬上,具有多層結構、 ® 以聚亞醯胺爲基礎材料的疊層抗熱樹脂薄膜之以金屬爲基 礎的基板(金屬絕緣基板),亦可充分被使用作互連體基 .板1。 如圖2與3所示,根據第一實施例所設計的頭基邰3 3 是以凹形七面體(L型方塊)爲基礎的絕緣支撐體,該方 塊是由準備用來安裝介面1C晶片83之晶片安裝面的凹入 部份所形成。圖2顯示一架構,其中安裝有當作”介面1C” 的介面1C晶片83。圖3顯示頭基部33的分解圖,其中介 面IC晶片8 3被分開顯不。從圖3目纟輕易理解到’日日片女 -15- 200536134 (13) 裝面經由垂直延伸到插座接觸面的的層差距(邊牆面)而 連接到配置於最上層的插座接觸面。電性端6 3經由層差 距,從晶片安裝面延伸到插座接觸面。當頭基部3 3被插 入到插座23時,電性端63係爲外部吸引電極,其係用來 電性連接頭基部3 3與插座2 3的電性接點(導線端)。進 一步如圖2所示,光學半導體晶片93安裝在與晶片安裝 面之平面垂直的連接端面上。而且,中間互連73係放置 ® 在連接光學半導體晶片93的連接端面與晶片安裝面之間 的間隔中。以下的解釋將顯示,除了高度精確的位置控制 機制(例如,1 // m以下)以外,根據第一實施例所設計 的頭基部33可適合成本非常低的大量製造。雖然頭基部 33的尺寸取決於介面1C之光纖(傳輸線)43的固持長度 與介面IC晶片8 3的尺寸等等,但是插座接觸面與晶片安 裝面之間層差距的高度較佳大於介面1C晶片83的厚度。 圖2至3係爲鳥瞰圖,其係顯示圖1所示之四傳輸線 ^ 41、42、43與44之中傳輸線43的末端部份,其係同樣地 顯示頭基部3 3附著到傳輸線43末端部份的一種結構。雖 ,然說明與部份重疊的解釋被省略,但是其它的頭體部3 1、 i 3 2與3 4可同樣地附著到傳輸線4丨、42與44的相應末端 部份。 晶片安裝面、插座接觸面以及根據圖3所示第一實施 例所設計之頭基部3 3的晶片安裝面與插座接觸面之間的 層差距面的個別形狀皆爲矩形。晶片安裝面與插座接觸面 分別平行相對一平底面,其面積等於晶片安裝面與插座接 -16- 200536134 (14) 觸面的全部面積。換句話說,晶片安裝面與相對底面建立 一薄平行面板架構,而且插座接觸面與相對底面則建立另 一薄平行面板架構。藉由垂直晶片安裝面與插座接觸面之 平面的兩垂直凹型多角形(L型多角形),晶片安裝面、 層差距面與插座接觸面會被分別連接到底面。薄平行面板 架構的垂直端面,亦即是一矩形面,充當作用來連接光學 半導體晶片93的''連接端面〃,該薄平行面板架構的四 • 側面是由一側晶片安裝面、一側底面與L形多角形的兩側 面所界定。同時,厚平行面板架構的垂直端面,亦即矩形 面,充當作平行連接端面而相對的'v相對端面〃,而厚平 行面板架構的四側面則由另一側插座接觸面與另一側底面 與L形多角形的另兩側面所界定。 圖4詳細說明圖3所示的電性端63與中間互連73。 如眉4所不,在根據第一實施例所設計的頭基部3 3中, 複數個圓筒形固持套會穿透用來連接光學半導體晶片93 ^ 的連接端面與相對端面之間的間隔,以便分別機械性地固 持光學傳輸線(光纖)l〇a、l〇b、10c…。而且,複數個 -中間互連73a、73b、73c、73d…彼此平行地形成,其係從 ,圓筒形固持套開口附近延伸到晶片安裝面之面。中間互連 7 3a、73b、73c、73d…係爲類似互連,或者由接地配線 73a、73c、73e、73g··· 所形成的單端配線(雙軸互連) ,以及與接地配線7 3 a、7 3 c、7 3 e、7 3 g…交替排列的信號 配線73b、73d、73f…。當使用每一線寬50 // m而以75 // m的空間寬度來排列的中間互連7 3 a、7 3 b、7 3 c、7 3 d… -17- 200536134 (15) 時,中間寬度互連7 3 a、7 3 b、7 3 c、7 3 d…的排列情形可對 準以2 5 0 // m間距來排列的光纖捆l〇a、l〇b、10c···。 同時,建立差動數位互連的電性端63a、63b、63c、 6 3 d…,沿著經由層差距面(邊牆面),從晶片安裝面至 插座接觸面的路徑延伸。圖5顯示電性端63a、63b、63c 、6 3 d…的排列詳細情形。 如圖5所示,建立差動數位互連的電性端63a、63b、 • 63c、63d…架構包含接地配線(GND ) 63a、63d,傳播信 號S的信號配線63c,以及傳播反向信號S條的反向信號 配線63b。反向信號S條的相位對著信號S而言是相反的 。反向信號配線63b與信號配線63c被接地配線(GND ) 63a、63d所夾擠。差動數位互連進一步包含傳播信號S的 信號配線6 3 e,以及傳播反向信號S條的反向信號配線 63f。信號配線63e與反向信號配線63f夾擠於接地配線 63d與連接反向信號配線63f的另一接地配線之間。當差 # 動數位互連的架構由線寬度各爲40 // m的電性端點63a、 63b、63c、63d…所實施時,差動數位互連的架構可對準 . 以間距2 5 0 // m來排列的光纖1 〇 a、1 0 b、1 0 c…排列情形 ,以致於反向信號配線63b與信號配線63c之間的空間寬 是50 // m,接地配線63a與反向信號配線63b之間的空間 寬是4 0 // m,而且接地配線6 3 d與信號配線ό 3 c之間的空 間寬是40// m。當電性端63a、63b、63c、63d…不是差動 數位互連時,但兩極互連卻具有接地配線與信號配線交替 放置的排列情形,藉由使用每一線寬5 0 # m而以空間寬度 -18- 200536134 (16) 7 0 A m排列的電性端點6 3 a、6 3 b、6 3 c、6 3 d…,電性端點 6 3 a、6 3 b、6 3 c、6 3 d…的架構可對準具有2 5 0 μ m排列間 距的光纖l〇a、10b、10c…排列情形。 在圖5中,第一實施例頭基部3 3的形成使電性端點 63a、63b、63c、63d…之每一端點的線寬度能夠變寬爲60 // m。電性端點63a、63b、63c、63d…的末端係配置在電 性端點63a、63b、63c、63d…與插座之間的接觸位置。相 • 反地,反向信號配線端63b與信號配線端63c之間的空間 寬會變窄爲3 0 // m,接地配線端63 a與反向信號配線端 63b之間的線寬會變窄爲20 // m,而且接地配線端63d與 信號配線端63c之間的線寬會變窄爲20 // m,以有助於與 插座23的電性連接。當使用兩極互連取代差動數位互連 時,在插座接觸面23上電性端點63 a、63 b、63 c、63d… 之每一末端的線寬度加寬到1 〇〇 // m,且電性端點 63a、 6 3 b、6 3 c、6 3 d…之末端之間的空間寬變窄到2 5 // m的架 B 構有助於與插座23的電性連接。 如圖2所示,在根據第一實施例所設計的頭基部3 3 上,光學半導體晶片93與介面1C晶片83以使用凸點等 等的覆晶接合來安裝。圖3與4所示之架構的形成,使得 光纖1 0 a、1 0 b、1 0 c…能夠被插入到圓筒固持套內,以致 於光纖l〇a、l〇b、10c…能夠足夠地緊密接觸光學半導體 晶片93。或者,光纖10a、10b、〗0c…可接觸光學半導體 晶片93的頂表面。在一連串的組裝製程中,當將光纖1 〇a 、:I Ob、10c···插入到圓筒固持套內,以便由頭基部33所 -19- 200536134 (17) 固持時,因爲光學半導體晶片9 3被光纖〗0 a、 …太過推擠,所以光學半導體晶片93有時會 26a、2 6b、26c、2 6d…脫離(見圖 6 )。爲了 導體晶片9 3的脫落,在將光學半導體晶片9 3 部3 3以前,光學半導體晶片93可由附著到光 片93背面的加固板與光纖l〇a、l〇b、10c…所 不過,因爲光學半導體晶片93普遍脆弱 • 監測相反壓力增加,光纖1 0a、1 〇b、1 0c…必 到加固板抗光纖10a、10b、10c…之力所施加 開始些微增加爲止的一位置。關於光纖1 〇a、 之每一纖芯末端面的表面型態,具有比較性高 學平端面可藉由劈開得到,以便以光纖切割器 的光纖,而因爲光纖 10a、10b、10c··.的每一 由破裂方法,也不藉由機械切割方法來切,但 方法來切,以致於光纖10a、10b、l〇c···的每 面㉟輕微地被鑽石工具的刀刃凹進,而且在該 分,光纖1 0a、1 Ob、1 0c…的每一光纖能被橫 此,根據本發明頭基部3 3,譬如硏磨與拋光的 可藉由使用維持原狀之光纖10a、l〇b、l〇c... 開端面來排除。 就頭基部3 3的材料而言,譬如合成樹脂 材料與譬如陶瓷、玻璃等等的無機材料可令人 基樹脂包括環氧樹脂、聚苯硫醚、聚對苯二甲 、樹脂、聚酯樹脂、聚亞醯胺樹脂、氟碳聚 10b、 10c、 自電極配線 避免光學半 固定到頭基 學半導體晶 夾擠。 ,所以經由 須被推入直 的相反壓力 10b、10c··· 精確度的光 來切開一般 光纖既不藉 卻藉由劈開 一光纖側表 輕微凹進部 向加壓。因 高成本製程 之纖芯的劈 的種種有機 接受。有機 酸丁二醇酯 合物等等。 -20- 200536134 (18) 玻璃與石英可當透明基板爲頭基部3 3所必需時被使用。 氧化鋁、多鋁紅柱石、氧化锆、氧化鈹、氮化鋁、碳化矽 等等可被使用當作頭基部3 3的陶瓷基板。尤其是,因爲 頭基部3 3可藉由金屬模、使用樹脂模而簡單且高度精確 地形成,所以使用混以大約8 0% 3 0 // m的玻璃塡充劑以建 立頭基部3 3的環氧樹脂是合適的。 圓筒固持套分別平行延伸到L形多角形之晶片安裝面 H 、底面與兩側面的平面,並垂直用來連接光學半導體晶片 93的連接端面與相對端面。因爲,一般而言,光纖包層的 外徑是125 // m,固持套的內徑可被設定約1 2 5.5 — 1 2 8 # m ,而且光纖包層的外徑125//m。鑑於覆蓋光纖l〇a、l〇b 、:l 0 c…之塗層(見圖8 )的厚度,固持套排列情形的節距 可被選擇爲包層的兩倍外徑。 圖6顯示解釋光學半導體晶片93之輪廓的槪要鳥瞰 圖,根據第一實施例,該晶片安裝在頭基部3 3上。圖7 (I 係爲光學半導體晶片93安裝在頭基部3 3上的槪要上面圖 ,其係已經於圖3至4解釋。如圖6所示,在光學半導體 晶片93的頂表面上,複數個主動區域25a、25b、25c、 2 5 d、…被整合。進一步地,用來傳播信號的複數條電極 酉己茅泉2 6a、 26b、 26c、 2 6 d 、 · · ·與接地酉己線27a、 27b、 27c 、2 7d、…係被描繪於光學半導體晶片93的頂表面上。 當光學半導體晶片93合倂光檢測元件陣列以便對準 十二芯光纖帶,十二個光檢測元件係被整合在光學半導體 晶片93的元件形成面上。例如,在由譬如砷化鎵(GaAs -21 - 200536134 (IS) )之化合物半導體形成的主動區域25 a、25 b、25c、2 5d、 …中,十二個以砷化鎵爲基礎的針腳光電二極體可分別被 建立。複數個大量摻雜約lx 1 〇18cm·3 — 1 X 1021cnT3受子 或施子的區域係形成在主動區域25a、25b、25c、25d、… 的最上層。大量摻雜的區域充當做針腳二極體的陽極或陰 極區域。然後,在主動區域25a、25b、25c、25d、…之大 量摻雜區域的頂表面上,有助於與主動區域25a、25b、 § 25c、25d、…歐姆接觸的複數個金屬電極會被相連,以便 實施複數個電性互連26a、26b、26c、2 6d、…圍繞著光檢 測元件的入射窗,該入射窗的直徑大於具有圓形框架構之 光纖纖芯的外徑。一般而言,多模態光纖10a、10b、10c 、:l 〇d…之纖芯的外徑是50 // m,單模態光纖10a、10b、 l〇c、l〇d…之纖芯的外徑是 9//m。主動區域 25a、25b、 2 5 c、2 5 d、…的外徑較佳被設成大於上述纖芯的外徑,以 致於從獲得高效率的觀點看,主動區域25a、25b、25c、 _ 25d、…可接收從光纖纖芯發射的所有光束。有鑑於光信 號的操作頻率,可能會有由於起因於CR時間常數元件的 延遲,主動區域之每一區域受到限制的情形。因爲,例如 爲了接收1 OGbps的光信號,大約60 # m的直徑變成以砷 化鎵爲基礎之光檢測元件幾何結構的上限,所以光檢測元 件有必要由於光束發散而非常靠近光纖端面地放置。譬如 摻錫氧化銦薄膜(ITO)、摻銦氧化鋅薄膜(IZO)、摻鎵 氧化鋅薄膜(GZO )、氧化錫的透明電極可被使用,以替 代金屬電極。然後,由譬如鋁(A1 )或鋁合金(An -22- 200536134 (20) LSI,A1-Cu-Si )之金屬製成的電性互連26a、26b、26c、 2 6 d、…可連接到透明電極,以便建立與透明電極的歐姆 接觸。 當光學半導體晶片9 3合倂譬如垂直共振腔面射型雷 射(VCSEL )之發光元件陣列時,主動區域25a、25b、 25c、25d、…則對應以250 // m間距排列的VCSEL發光面 。形成在化合物半導體基板等等上之以GaAlAs/GaAs爲基 # 礎的雷射可接受用於VCSEL,每一雷射發射出大約8 50nm 波長的光。當使用十二芯光纖帶纜線時,十二個VCSEL 應該被整合在光學半導體晶片93的元件形成上。定義 VCSEL的複數個發光面,以致於每一發光面能夠小於光纖 纖芯的外徑。在主動區域25a、25b、25c、25d、…中,有 助於描繪與電極區域進行歐姆接觸的複數個金屬電極,該 些電極區域則充當做發光元件的陽極區域或陰極區域。在 圓形框架構中,金屬電極繞著小於光纖纖芯的每一發光面 ® 。而且,每一金屬電極將充分地合倂如圖6所示之電性互 連2 6a、2 6b、2 6c、2 6d、…的相應任一互連,以便實施單 .一片金屬圖案。因爲在例如發出大約85 Onm波長光、以 _ 10G bps操作之以砷化鎵爲基礎的發光元件中,發光面的 直徑可被制定爲大約1 0 // m,以得到高應用效率的光束, 故VCSEL發光面的直徑可有效地小於多模態光纖(MMF )纖芯的直徑。在單模態光纖(S M F )的情形中,假如發 光面直徑小於單模態光纖直徑的話,無法由於操作基板溫 度增加而得到高速操作的此一問題可能會發生。然後,雖 -23- 200536134 (21) 然就單模態光纖而言,光束應用效率的減少必須被 但是因爲無法總是使發光面小於單模態光纖纖芯的 故無論如何,主動區域25a、25b、25c、25d、…的 可選爲數十// m。 在圖6所示第一實施例的頭基部3 3中,顯示 互連26a、26b、26c、26d、…的拓樸,每一電性互 有一錐形部分與一固定寬度的條帶部分,以致於經 Φ 形部分,電性互連26a、26b、26c、26d、…之每一 連的寬度能夠自主動區域25a、25b、25c、25d、… 逐漸變寬,以便主動區域25a、25b、25c、25d、… 區域能連接到相應的條帶部分,而電性互連2 6 a、 26c、2 6d、…的幾何結構與拓樸則不限於圖6所示 結構與拓樸。 此外,在電性互連26a、26b、26c、26d、…上 氧化矽薄膜(S i Ο 2 )、磷矽玻璃(P S G )薄膜、硼 ^ 璃(B P S G )薄膜、氮化矽薄膜、或聚亞醯胺薄膜 薄膜可沈積,以致於電性互連26a、26b、26c、26d 、每一部分能夠經由形成在鈍態薄膜中的窗口而露出, . 雖然電性互連26a、26b、26c、26d、…可由譬 矽薄膜的導電薄膜或者譬如鎢、鈦或鉬薄膜的耐火 膜形成,但是自連接可靠度的觀點來看,電性互連 2 6b、26c、26d、…較佳地由疊層在導電薄膜之頂 的鋁薄膜所覆蓋。 與電性互連26a、26b、26c、2 6d、…隔離的第 考慮, 直徑, 直徑皆 了電性 連皆具 由該錐 電性互 的外徑 的每一 26b、 的幾何 ,譬如 磷矽玻 的鈍態 、…的 如多晶 金屬薄 2 6a、 表面上 二主電 -24- 200536134 (22) 極係分別連接到接地配線 27a、27b、27c、27d、27e、… 。 ''第二主電極〃是發光元件之陽極與陰極電極的另一電 極。例如,假如第一主電極是陽極電極的話,那第二主電 極則是發光元件的陰極電極。 藉由濺射譬如銅(Cu )與鋁(A1 )等等的金屬薄膜, 接地配線 27a、27b、27c、21 ά > 27e、…與電性互連 26a 、26b、26c、26d、…可使用一金屬遮罩而被同時描繪。 # 圖7顯示一種架構,在此光學半導體晶片93藉由面 朝下(覆晶)架構而面朝頂表面地安裝在頭基部3 3之連 接端面的頂表面上,其中主動區域25a、25b、25c、25d、 …則倂到頭基部3 3的連接端面。藉由採用面朝下(覆晶 )架構,光學半導體晶片93上之電性互連26a、26b、… 的每一互連會藉由電性接點(導電點)28b、28d…而分別 電性連接到頭基部33上的中間互連73b、73d···。而且同 樣地,光學半導體晶片93上之接地配線27a、27b、27c… ® 的每一互連會藉由電性接點(導電點)28a、2 8d、28g… 而電性連接到頭基部33上的中間互連73a、73c、73e…。 • 就電性接點(導電點)28a、28b、28c、28d…的材料而言 . ,銲球、金(An )塊、銀(Ag )塊、銅(Cu )塊、鎳金 合金塊或者鎳金銦合金塊等皆可被接受。直徑1 〇 m至 2 5 // m、高度5 m至2 0 # m之具有譬如錫(S η ):鉛( Pb )= 6:4合成物比例的共熔銲錫可被使用於銲球。或者 ,具有錫(Sn ):鉛(Pb ) = 5:95 且錫(Sn ):金(Au )=2 : 8之此合成物比例的共熔銲錫可被使用於銲球。藉 -25- 200536134 (23) 由此結構’安裝在連接端面上之光學半導體晶片9 3的輸 入/輸出電fe號’其係可藉由延伸到晶片安裝面的中間互 連73b、73d…而被吸引到晶片安裝面外面。 在圖7中’電性接點(導電塊)可藉由塡底膠樹脂29 所封膠’其係藉由自連接端面注射透明樹脂(液體)以來 安裝光學半導體晶片93所產生。透明塡底膠樹脂29可自 光纖10a、10b、l〇c···之圓筒固持套的背面注入。就塡底 ® 膠樹脂29的材料而言,可用譬如丙烯酸、矽樹脂與環氧 樹脂的透明樹脂’而且更有效地是使用此塡底膠樹脂,其 係由熱處理或者由紫外光所固化。 圖8顯示第一實施例之頭基部3 3的截面圖,其係藉 由以tti者圖3與4所不之光纖i〇a、l〇b、10c…中心軸的 平面來切割而形成。如圖8的截面圖所示,中間互連73 b 從連接端面延伸到頭基部3 3的晶片安裝面,而且電性端 63b沿著從晶片安裝面經由層差距(邊牆面)到插座接觸 ® 面的路徑延伸。同時,因爲中間互連73a、73b、73c、7 3d …從連接端面形成到晶片安裝面,所以在晶片安裝面上, ( 光纖10a、10b、l〇c…的軸方向可被維持平行中間互連73 _ 、73b、73c、73d···的延伸方向。該架構使光纖i 〇a、10b ' 1 0c…的軸方向垂直安裝面方向,其係有助於頭基部3 3 的整體變薄。 電性端63a、63b、63c、63d…與中間互連 73a、73b 、7 3 c、7 3 d…係被描繪成複數條譬如鋁與銅等等之金屬薄 膜的條帶圖案,其係並且以金屬遮罩藉由金屬化製程來輕 -26- 200536134 (24) 易描繪’經由此’金屬薄膜係由濺射或電鍍技術形成。電 性端 63a、63b、63c、03d.··與中間互連 73a、73b、73c、 7 3 d…亦可由其它金屬薄膜製成,包括譬如銅-鐵,銅-鉻, 銅-鎳-矽,銅·錫等等的銅合金,譬如鎳-鐵,鐵-鎳-鈷等等的 鐵鎳合金’以及銅的合成材料與不鏽鋼等等。此外,這些 電性互連可由這些金屬材料上的鎳電鍍與/或金電鍍等等 所提供。鈦與鉑亦可利用當作一底部鋪設金屬。 ® 複數個信號輸入/輸出端(接合墊)被排列在當作介 面1C之介面1C晶片83的頂表面上,然而其說明被省略 。而且,介面1C晶片83之頂表面上的每一接合墊係分別 經由導電塊35a與36b而彼此且電連接到中間互連73b與 電性端63b。同樣地,經由其它導電塊(未顯示),其它 電性端 63a、63c、63d…與其它中間互連 73a、73c、73d …亦同樣地彼此且電連接到介面1C晶片83之頂表面上的 接合墊。 ® 雖然如圖8所示,電性接點(導電塊)可由塡底膠樹 脂37所封膠,其係藉由自介面1C晶片83之晶片安裝面 ,的橫側注入樹脂(液體)所產生,但不一定要使用透明樹 _ 脂用作塡底膠樹脂3 7。塡底膠樹脂3 7可由各向異性導電 材料製成,其中金、銀、鎳或譬如鈦—鎳合金(Ti~Ni )等 等的金屬粉末係以譬如氨基鉀酸酯樹脂與環氧樹脂等等的 絕緣樹脂來散佈。 圖9與1 0顯示一槪要截面圖’其係顯示適於接受第 一實施例頭基部3 3所實施之傳輸線頭的插座2 3結構。從 -27- 200536134 (25) 圖1槪要鳥瞰圖可理解到’圖9與I 0所示的插座2 3 (其 截面是L形)會與互連體基板1形成盒型結構。在盒型結 構中,該盒子的其中一面是開啓的’而頭基部3 3所實施 的傳輸線頭則經由該面被插入。 如圖9所示,插座2 3包含一導線端(信號端)1 1 a, 其係架構以將介面1C晶片83電性連接到LSI晶片5。圖 9係爲第一實施例的插座2 3與傳輸線頭2 3截面圖,其係 • 沿著導線端(信號端)1 1 a的延伸方向而切開。導線端 1 1 a係隱藏在插座23的屋頂與後牆內,其係實施如圖9所 示的L形截面圖。再者,導線端(信號端)1 1 a的一端延 伸到互連體基板1的中間層厚度,完全穿透插座23的後 牆。導線端(信號端)1 1 a的另一端則自插座2 3屋頂伸出 ,在截面圖中,該屋頂實施部份的L形插座2 3。導線端 1 1 a的伸出部份建立一 V鉤型,其係具有彈性。 如圖9所示,插座23進一步包含一熱連接器(放熱 ® 導線)12b,其係架構以傳送來自介面1C晶片83的熱能 。在圖9中,V鉤型熱連接器12b的頂端係從插座23天 . 花板向下伸出,其係放置在該截面圖的背側。雖然圖9的 說明被省略,但是另一發熱端1 2a則放置在靠近紙張的那 側。 圖1 0係爲熱連接器(放熱導線)1 2b的截面圖,其係 沿著置於圖9插座23之導線端1 1背側之放熱端1 2b的延 伸方向而切開。放熱端1 2b的主要部份隱藏在一凸面部份 ,其係置於形成L形截面之插座2 3屋頂的頂表面上。在 -28- 200536134 (26) 插座2 3屋頂的中間部份’凸面部份在垂直紙張的方向中 延伸。放熱端1 2 b的V鉤型頂端係自插座2 3的天花板向 下伸出。在圖〗〇中,在該截面圖的背側,V鉤型導線端 lib的頂端自插座23天花板向下伸出。再者,放熱端i2c 係隱藏在紙張背側地放置。換句話說,導線端1 1 a、1 1 b… 與熱連接器(1 2 a ) 、1 2 b、 ( 1 2 c )…係規則且交替地安 排在圖9與1 0中紙張的垂直方向上。導線端n a、1丨b… • 之間距的定義使得導線端1 1 a、1 1 b…的排列情形能夠對應 電性端6 3 b、6 3 c ; 6 3 e、6 3 f…的排列情形。沿著在圖9與 1 〇中紙張垂直方向的熱連接器(12a )、12b、( 12c )… 排列情形對應著電性端6 3 a、6 3 d、6 3 g的排列情形。 將圖9與1 0所示之第一實施例插座2 3之導線端n a 、1 1 b…與熱連接器(1 2a ) 、1 2b、( 1 2c )…的高度(水 平層)調整,以致於導線端1 1 a、1 1 b…能夠接觸圖2之頭 基部3 3的電性端63 b、63 c ; 63 e、63 f…,且熱連接器( ® 12a )、12b、( 12c )…能夠接觸安裝在頭基部33上之介 面IC晶片8 3的底面。在頭基部3 3所實施的傳輸線頭被 ,插入到插座2 3內的組裝情況中,導線端n a、n b…的每 . 一導線端會被獨立地壓擠,以接觸頭基部3 3的相應電性 端 63b、63c ; 63e、63f·..,且熱連接器(1 2a ) 、1 2b、( 1 2 c )…的每一熱連接器會被獨立地壓擠,以接觸介面i C 晶片8 3的底面。 尤其是,當使用圖2架構時,導線端1 ] a、:π b…的接 觸高度(接觸層)較佳地設定高於熱連接器(i 2 a )、1 2 b •29- 200536134 (27) 、(1 2c )…的接觸高度(接觸層),以便使介面1C晶片 8 3能夠免於當將頭基部3 3所實施的傳輸線頭插入到插座 2 3內時由於接觸與摩擦導線端1 1 a、1 1 b…所引起的毀壞 〇 再者,在第一實施例頭基部33所實施的插座23與傳 輸線頭中,如圖9至1 0所示,在紙張的垂直方向中,導 線端1 la、1 lb…會與熱連接器(12a )、12b、( 12c )… # 規則且交替地排列,而熱連接器(l2a ) 、l2b、( Ik ) …則分別電性連接到接地電位的電性端 6 3 a、6 3 d、6 3 g… 。熱連接器(12a ) 、12b、 ( 12c )…電性連接到接地電 位之電性端63a、63d、63g…的架構可降低雜訊,譬如電 性端63 b、63 c ; 63 e、63 f···之間的串音。 第一實施例插座23之導線端1 la、1 lb…與熱連接器 (12a )、12b、( 12c )…的各V鉤型頂端實施面板彈簧 ,每一面板彈簧具有3 0 //至5 0 // m的面板寬度。就插座 # 2 3的材料而言,例如其中混以玻璃塡充劑的聚苯硫醚( PPS )樹脂、液晶聚合物(LCP )與聚亞醯胺樹脂可被接 ,受。導線端1 1 a、1 1 b…較佳由具彈性的導電材料所形成, 且熱連接器(12a )、12b、( 12c )…較佳由具彈性的導 熱材料形成。爲了建立插座2 3的導線端1 1 a、1 1 b…與熱 連接器(1 2a )、1 2b、( 1 2c )…,例如複數個具有彈性 的傳導帶,譬如磷青銅帶,係被插入成型在插座23中, 而且導線端1 la、1 lb…與熱連接器(12a )、〗2b、 ( 12c )…之V鉤型頂端的每一伸出部份會被塗以N i電鍍、鎳 -30- 200536134 (28) (Ni )電鍍與/或金電鑛等等。 接著解釋根據第一實施例所設計的一種L S I封裝電路 架構的實例。雖然該解釋將參考光學輸出介面,但是同軸 傳輸線的光學輸入介面與輸入/輸出介面亦可適用於LSI 封裝。圖1 2係爲顯示電路架構的功能性方塊圖,其係包 括信號處理LSI晶片5的輸出緩衝器電路501與當作介面 1C晶片83大多被簡化實例的緩衝放大器201,以及面射 • 型雷射25a、供電端Vcc。而且圖12的虛線顯示電路元件 的方塊邊界。 首先,輸出緩衝器電路501是LSI晶片5的內部電路 與週邊互連之間的緩衝器電路,其係架構以傳送作爲輸出 信號的數位信號。至於供應數位信號的邏輯電路架構,有 助於高速信號互連的種種邏輯電路,譬如射極耦合邏輯( ECL )、電流模式邏輯(CM L)、低電壓差動信號(LVDS )是可使用的。三極互連(正、負、GND )應該藉由使用 • 儘可能長的差動數位互連而被應用於數位信號’其係考慮 因爲複數個電性接觸與不同種類的互連在輸出緩衝電路 . 5 0 1的互連路徑中互相混合,故難以完成完全的阻抗匹配 ,而且無法與接地面(供電面、GN D面)維持固定關係的 部份可輕易地產生。因此’藉由採用差動數位互連’藉由 差動操作來擴展操作極限’並藉由確保差動數位互連之間 的A C迴路,可增加互連架構中的彈性。而且’就在互連 體基板1中二至三公分的一般互連長度而言’大約 2 OGbps的信號互連,其係可藉由數位信號自此傳送之三 -31 - 200536134 (29) 極互連(信號配線、反向信號配線與接地配線) 位互連而比較輕易地建立。 自輸出緩衝電路5 0 1傳送的差動數位信號是 (未顯示),經由塊電極(未顯示)或接合配線 )而電性連接到互連體基板1。而且進一步,差 號藉由差動數位互連而連接到介面1C晶片83的 器201,其係通過連接到插座23之導線端11a, 頭基部3 3之電性端6 3 a、6 3 b、6 3 c ; 6 3 d ;…之 板1內部的隱藏互連,或者互連體基板1頂表面 互連(第一表面互連)。緩衝放大器201數位 VCSEL25a,以產生光學數位信號,其係對應緩 2 0 1所收到的差動數位信號。所產生的光學數位 發送到光纖 l〇a、10b、10c···。當 VCSEL25a 產 入電流的光信號時,假如在緩衝放大器20 1與 之間的互連中有寄生電容或寄生電感的話,那麼 放大器201的輸出是在低阻抗被電壓驅動或者在 電流驅動,實際被施加到VCSEL25的電流波形 單調。換句話說,雖然緩衝放大器20 1的輸出被 ,但是該些輸出卻實質被數位互連驅動。因此, ,就可得到更佳的反應特徵。反之,因爲該互連 雜訊與串音影響,所以採用緩衝放大器 201 VCSEL25a之間的電性互連並非較佳。作爲光學; 之針腳光電二極體與緩衝放大器之間的反應特徵 似地考慮,故介面1C晶片83與光學半導體晶片 的差動數 從電極墊 (未顯示 動數位信 緩衝放大 、1 lb…與 互連體基 上的表面 式地驅動 衝放大器 信號會被 生對應輸 VCSEL25 不論緩衝 高阻抗被 都會變得 數位驅動 互連越短 易受外部 輸出與 輸入介面 必須被類 93之間 -32-
200536134 (30) 的互連距離應盡可能較佳地設定成很短。在第一實5彳 LSI封裝中,LSI晶片5與當作介面1C之介面1C晶 之間的互連是由三極差動數位互連實施’且介面IC 8 3與光學半導體晶片9 3之間的互連是由長度最短 電性配線所實施。 當圖5所示之第一實施例頭基部3 3之電性端 6 3 b、6 3 c、6 3 d…的排列間距很窄的時候,因爲導線立 、n b…被彼此非常靠近地排列,故難以在導線端 1 1 b…之間的間隔中建立指間相叉之熱連接器(1 2丨 12b、( 12c )…。在該情形中,如圖13所示,當竹 彈簧之各具有250//m至800//m面板寬度的一對蒙 器121與122可被使用來包夾導線端1 la、1 lb…的3 ,以致於該對熱連接器1 2 1與1 22能夠在導線端1 1 a …排列外接觸介面1C晶片83底表面的兩末端。 圖1 3係爲由第一實施例頭基部3 3所實施之傳轉 的鳥瞰圖,其中在由頭基部3 3所實施的傳輸線頭招 到插座23頂蓋下的組裝情況中,導線端丨〗a、! ! b、 可藉由切開盒型插座2 3頂蓋的左末端部分來看見。 熱連接器121與122藉由面板彈簧實施而配置在介 晶片8 3底表面的兩末端,以便接觸在導線端丨〗a、 排列情形外面的介面IC晶片8 3。 同樣地,圖1的其他插座21、22與24具有與 之插座2 3相同的結構,而且由圖1頭基部3 1、3 2 所實施的其他傳輸線頭具有與圖1 3所示頭基部3 3戶j: g例的 片83 晶片 類似 63a、 m 11 a 1 1 a、 a ) ' =面板 \連接 ί末端 、lib ί線頭 ?插入 11c··· 該對 面1C lib"· 圖13 與34 ί實施 -33- 200536134 (31) 之傳輸線頭相同的結構,以致於能夠形成圖1所示的架構 ,其中由頭體部3 1、3 2、3 3與3 4實施的傳輸線頭會被分 別插入到在四方向中延伸的相應四插座21、22、23與24 〇 接著,圖1 4顯示一組裝情況,其中根據第一實施例 ,散熱器3被固定到設有I/F模組的LSI封裝架構。散熱 器3由作爲主材料的鋁(A1 )與銅(Cu )製成,其係藉由 # 推進成型、塡隙方法與熔接製程等等而設有一散熱片。如 圖14所示,當在中間部分的散熱器3底表面接觸LSI晶 片5,而LSI晶片5底表面的高度與放置在LSI晶片5周 圍部分之I/F模組或插座21與23的水平層不同時,可能 可建立散熱器3之底表面的中間部分與周圍部分之間的層 差距。雖然垂直紙張的說明被省略,但是相似的層差距會 被建立在散熱器3底表面上的中間部分與周圍部分之間, 以便就圖1所示的對稱結構調整在中間部分L SI晶片5底 ® 表面的高度與在周圍部分之插座22與24高度之間的差距 ,其中四插座21、22、23與24則在四個垂直方向中延伸 〇 以此方式,根據第一實施例,L S I封裝設有/模組,層 差距則建立在散熱器的底表面上,以致於散熱器3的整個 底表面能夠均勻接觸LSI晶片5的底表面,以及插座2 1、 22、23與24的頂表面,以便藉由使用螺絲與定位器等等 來固定散熱器。導熱層可被夾擠於LSI晶片5的發射表面 或者插座21、22、23與24的發射表面之間,以便藉由導 -34- 200536134 (32) 熱層厚度來吸收散熱器3底表面與插座2 1、2 2、2 3與2 4 放射表面之間的層差距。由於該架構,縱使頭體部3 1、3 2 、3 3與3 4上介面IC晶片8 1、8 2、8 3與8 4的厚度,亦即 頭體部3 1、3 2、3 3與3 4上放射面的高度會改變,但到散 熱器3的熱流可藉由熱連接器(面板彈簧)1 2來吸收每一 機械誤差。 圖1 5係爲一截面圖’其係顯不根據第一·實施例所設 ® 計,從LSI封裝的LSI晶片5至插座23之數位互連的架 構。在LSI晶片5頂表面上,建立有複數個信號輸入-輸 出端(接合墊),雖然其說明被省略。而且在圖15中, 互連體基板1形成一多層結構,其中嵌入有交流電接地面 ,譬如GND電位分佈面與供電分佈面,雖然其說明被省 略。 在嵌入交流電接地面的互連體基板1中,譬如條帶線 與微條電線的高頻傳輸線可被形成,以便建立阻抗匹配互 ^ 連。不過,如圖1 5所示,當插入基板型的導線端1 1 a被 連接到互連體基板1時,有必要不管一般架構以插入到第 -一穿孔電極3 1 6 a或第二穿孔電極3 1 4 a之導線端1 1 a的條 . 帶長度,而形成穿透互連體基板1到互連體基板1底表面 (第二主表面)的第一穿孔電極 316a與第二穿孔電極 3 1 4 a。此乃因爲難以在互連體基板1中穩定地形成任意位 置、任意深度的插入孔,雖然如圖1 4所示,不可能形成 封閉端置於互連體基板中間層的一看不見插入孔。而且, 譬如以電鍍與銲膏充塡來形成一電極於插入孔裡面亦非常 -35- 200536134 (33) 地困難。再者,例如,雖然可能可形成有助於連接到互連 體基板1中間厚度的通過電極,但在堆疊圖案絕緣層與圖 案互連層的組合基板中形成貫穿電極是困難的。 因此在圖1 5所示之第一實施例的L s I封裝中,形成 第一穿孔電極316a與第二穿孔電極314a,以實施高速信 號互連。不過,假如穿孔電極僅僅使用於導線端1 1 a之插 入孔的話’換句話說,假如圍在周圍的互連被形成在第二 穿孔電極3 1 4a之入口側表面上的話,多餘的電容則產生 在第二穿孔電極3 1 4a的較低部份,而且非常大的信號反 射與信號降級則產生在第二穿孔電極3 1 4 a。爲了避免信號 反射與信號降級,在圖1 5所示之第一實施例的L SI封裝 中,當導線端11a被插入第二穿孔電極314a時,來自導 線端11a的信號會進入第二穿孔電極314a的較低部份, 並穿過置於互連體基板1底表面上的表面互連(第二表面 互連)3 1 5a,第二表面互連3 1 5a則從第二穿孔電極3 14a 延伸到第一穿孔電極316a,並且藉由第一穿孔電極316a 回到互連體基板1的頂表面。 如圖15所示,比起僅將凸塊3 26a直接形成在第一穿 孔電極3 1 6 a,將銲球等等所實施的凸塊3 2 6 a配置在L S I 晶片5與地面互連3 1 8 a之間則較佳,其係在互連體基板1 頂表面上,從第一穿孔電極3 1 6 a延伸到凸塊3 2 6 a所安裝 的位置。藉由圖1 5所示之第一實施例的L SI封裝架構, 不會發生與電性互連有關的寄生超載阻抗,並可得到良好 的互連特徵。凸塊3 2 6 a周圍的接點部份可由塡底膠樹脂 -36- 200536134 (34) 封膠。塡底膠樹脂可由各向異性導電材料製成,其中金、 銀、鎳或譬如鈦-鎳合金(Ti -N i )等等的金屬粉末係以譬 如氨基鉀酸酯樹脂與環氧樹脂等等的絕緣樹脂來散佈。第 一穿孔電極316a與第二穿孔電極314a可由金屬面板製成 ,包括譬如銅-鐵,銅-鉻,銅-鎳-矽,銅-錫等等的鋁(A1 )、 銅(Cn )、黃銅(Cu-Zn )合金,譬如鎳-鐵,鐵-鎳-銘的鐵 鎳合金,以及銅的合成材料與不鏽鋼等等。此外,這些穿 # 孔電極可在這些金屬材料上設有鎳電鍍與/或金電鍍等等 〇 由於根據第一實施例所設計的L S I封裝,互連體基板 1與介面1C晶片(介面IC ) 83之間的間隔藉由使用三極 互連(信號配線、反向信號配線與接地配線)的差動數位 互連而以短距離連接,該差動數位互連具有比較高之抗阻 抗不匹配的免疫’以便確保阻抗保證並避免在該間隔中輕 易產生的阻抗不連續性。而且在該間隔中,建立了電性端 # 點63a、63b、63c、63d…,每一電性端點可連接到相應的 導線端Π、1 1 b…以及與其分開。而且在確保阻抗保證的 傳輸線中,長距離的高速互連會藉由經過介面ic晶片( 介面1C ) 83的波形而變得可能。或者不然的話,藉由將 介面IC晶片(介面I c ) 8 3靠近光學半導體晶片9 3地配 置’可得到介面1C晶片(介面1C ) 83與光學半導體晶片 93之間的短距離類似互連,其係被採用作爲光學互連。因 此,由於根據第一實施例所設計的LSI封裝,在可分開的 連接系統中會得到高品質的長距離互連,其係包括藉由電 -37- 200536134 (35) 性端63a、63b、63c、63d…來互連。 在根據圖1至1 5所示之本發明第一實施例所設計的 LSI封裝中,互連體基板以那些完全相同於LSI封裝的步 驟與情況而組裝在印刷配線板上,其係由現存生產線所製 造之印刷配線板上的現存封裝設備(熔焊爐等等)實施。 而且之後’只有藉由將頭體部31至34插入插座21至24 內而來固定頭體部3 1至3 4所實施之傳輸線頭的製程,變 Φ 成用來組裝根據第一實施例所設計之L S I封裝的獨特工作 。因爲用來將頭體部3 1至3 4所實施之傳輸線頭固定到插 座2 1至24的製程不需要高度準確的位置控制技術(例如 ,土 1 0 // m )。亦即是,一般電連接器用的此位置控制準 確性足夠用於將頭體部3 1至34所實施之傳輸線頭固定到 插座21至24的製程,而LSI封裝的組裝製程成本並不增 加很多。亦即是,甚至以使用現存低成本印刷配線板(例 如,玻璃環氧樹脂面板等等)的現存封裝方法,處理例如 ® 20Gbps高速互連的高速面板變得可能,其係通常無法以 一般的面板電性互連來實施。根據本實施例的封裝,在一 般生產線中,在自互連體基板1移除傳輸線41、42、43、 44與頭體部31、32、33、34以後實施熔焊製程是有可能 的。此外,藉著經由機械性接觸在互連體基板1與傳輸線 41、42、43、44之間進行電性接觸,而來建立比較簡單固 持機制之具有非常高度準確的位置控制準確性並不需要。 對新產生線的投資會由於該架構而變得多餘,其中特定儀 器被準備來使得熔焊製程僅僅能在特定情況之下有可能。 -38- 200536134 (36) 此外,因爲對電性連接器的架構而言,譬如高準確性插入 機制、壓力機制、與固持機制的機械性機制是不需要的, 所以成本可明顯被降低。 因此,根據第一實施例的LSI封裝,複數個高速LSI 晶片之間的互連可低成本地實施,從而有助於資訊通訊設 備等等的升級。 圖16顯示根據第一實施例變更所設計的LSI封裝架 • 構,其中,在沒有使用圖15所示之第一穿孔電極31 6a與 第二穿孔電極3 1 4 a的情形下,由譬如微條帶線之高頻傳 輸線所實施的表面互連(第一表面互連)3 1 7a係被設置在 互連體基板1的頂表面上,以便得到較佳的互連特徵。在 根據圖16所示之第一實施例變更所設計的LSI封裝中, 架構以將插座2 3機械性地固持到互連體基板1的插入電 極,其係會與高頻傳輸線結構的第一表面互連3 17a分開 地形成。亦即是,在複數個導線端1 1、1 1 b…之中,用於 ® 信號互連的諸導線端會被折疊,以接觸互連體的表面電極 ,且適合插入電極的導線端會被插入到第一穿孔電極3 1 6a 與第二穿孔電極3 1 4 a內。插入用的導線端充當作直流端 或低速信號端,譬如供電端、接地端與信號控制端。 在根據圖1 6所示之第一實施例變更所設計的L SI封 裝中,與信號穿過第一穿孔電極316a與第二穿孔電極 3 1 4a之圖1 5架構相較之下,高頻特徵會進一步改善。 (第二實施例) -39- 200536134 (37) 如圖1 7所示,根據本發明第二實施例所設計之L SI 封裝架構設有被簡化的I/F模組,以適合介面1C晶片83 的放熱比較小的情形,亦即所產生的熱非常小,以致於有 足夠的熱被傳送到互連體基板1與印刷配線板(未顯示) 。如圖1 7所示,就幾何結構而言,根據第二實施例所設 計的頭基部3 3類似根據第一實施例所設計的頭體部3 1、 3 2…’其係依據來自矩型平行導管、準備用來安裝介面ϊ C • 晶片8 3之晶片安裝面的凹形七面體(L形塊)切開部分 。不過,在根據第二實施例所設計的頭基部3 3中,複數 個熱導孔4 1 7沿著從晶片安裝面到頭基部3 3之平底面的 垂直方向,交替地建立在光纖l〇a、l〇b、10c…排列情形 的每一間隔。複數個熱導孔417形成在頭基部33中,該 頭基部係僅僅自介面1C晶片83的晶片安裝面向下放置。 在圖7中,雖然七個熱導孔417被排列在光纖10a、10b、 1 0 c…的延伸方向中,但是熱導孔4 1 7的數目並不限於七 ® 個,而且熱導孔417的數目可藉由考慮介面1C晶片83的 尺寸等等來決定。每一熱導孔4 1 7係排列在光纖1 〇a、1 〇b 、1 0c…之排列情形之每一間隔中的陣列架構,以便藉由 將金屬與導熱膏塡充入穿孔內而來建立導熱通道,該穿孔 延伸到從頭基部3 3之晶片安裝面到平底面的垂直方向。 因此,如圖1 7所示的導熱樹脂3 8會被塡充入介面I c晶 片8 3的晶片與頭基部3 3之晶片安裝面之間的空間內,以 建立熱連接。 雖然圖1 5與1 6中的說明被省略,但是在根據第二實 -40 - 200536134 (38) 施例所設計之L S I封裝的互連體基板中,接地面4〗4如圖 1 7所示地被嵌入於互連體基板1的多層結構中。亦即是, 圖1 7所示之第二實施例L SI封裝的互連體基板1包含第 一基板1、在第一基板1 a上的接地面4 1 4與在接地面4 1 4 上的第二基板1 b。不過,互連體基板1的多層結構並不限 於圖1 7所示的架構。而且在第二實施例頭基部3 3的熱導 孔417下’上互連體位置熱通道411形成在第二基板lb Φ 中,或者互連體基板1的上部。上互連體位置熱通道411 連接到接地面4 1 4。接地面4 1 4連接到形成在第一基板1 中的下互連體位置熱通道412,或者互連體基板丨的下部 。在該情形中,能更有效地將熱脂塗層在頭基部3 3與互 連體基板1之間。 在圖17中,雖然顯示單一插座23以及由架構以插入 到單一插座23內之頭基部3 3所實施的單一傳輸線頭,其 係類似圖1的架構,但是根據第二實施例所設計的L SI封 ® 裝可能包含四個插座21、22、23、24,以及由架構以插入 到四相應插座21、22、23、24內之頭體部31、32、33、 3 4所實施的四傳輸線頭。亦即是,類似圖1所示的架構, 根據本發明第二實施例所設計的LSI封裝包括一信號處理 L S I ( L S I晶片;未顯示),以及上面安裝L S I晶片、架構 以電性連接到印刷配線板(未顯示)的互連體基板1 ’以 及安裝在互連體基板1上的複數個插座21、22、23.、24。 插座21、22、23、24的每一插座實施來去LSI晶片之信 號與來去外部傳輸線之信號之間的部分介面機制。根據本 -41 - 200536134 (39) 發明第二實施例所設計的LSI封裝進一步包括由頭體部3 ;ι 、3 2、3 3與3 4實施的複數條傳輸線頭,每一頭體部分別 被插入到相應的插座21、22、23與24內。在頭體部31、 32…的每一頭體部上安裝有一介面1C晶片83。介面1C晶 片8 3實施部分介面機制。頭體部3 1、3 2…的每一頭體部 建立從介面1C晶片83至相應插座21、22、23、24的熱 流。由頭體部3 1、3 2…實施的每一傳輸線頭會被插入到插 座2 1、2 2、2 3、2 4裡面,以致於每一傳輸線頭能夠與插 座21、22、23、24分開。在被插入的架構中,由頭體部 31、32···實施的每一傳輸線頭會經由插座21、22、23、24 而電性連接到LSI晶片5。實際上與第一實施例LSI封裝 之解釋部分重疊的其他解釋會被省略。 在根據第二實施例所設計之L S I封裝架構中,與第一 實施例LSI封裝架構類似地,從LSI晶片5到充當做介面 1C之介面1C晶片83的互連是由三極差動數位互連所實施 ,而且從介面1C晶片83到光學半導體晶片93的互連則 是由長度最短的類似電性配線所實施。亦即,由於根據第 二實施例所設計的L SI封裝,互連體基板】與介面IC晶 片(介面1C ) 83之間的間隔藉由使用三極互連(信號配 線、反向信號配線與接地配線)的差動數位互連而呈短距 離連接,該差動數位互連具有比較高之抗阻抗不匹配的免 疫,以便確保阻抗保證並避免在該間隔中輕易產生的阻抗 不連續性。而且在該間隔中,建立了電性端點6 3 a、6 3 b、 6 3 c、6 3 d…,每一電性端點可與相應的導線端1 1、11 b… • 42- 200536134 (40) 分開地連接。而且在確保阻抗保證的傳輸線中,可藉由介 面Ϊ c晶片(介面I C ) 8 3建立經由波型成形的長距離高速 互連。再者,藉由將介面1C晶片83靠近光學半導體晶片 93地配置’短距離類似互連會設置在介面ic晶片(介面 1C ) 83與光學半導體晶片93之間,其係被採用作爲光學 互連。因此,高品質的長距離互連會藉由該架構而在可分 開的連接系統中得到,其係包括以電性端63a、63b、63c 、63d…的連接方法。 再者,在圖17所示之本發明第二實施例的LSI封裝 (設有I/F模組的LSI封裝)中,沿著三或更少方向取出 三對準傳輸線捆的拓樸亦有可能。而且假如插座2 1、22、 23、24被排列成能夠在五邊形上形成多角形狀的話,將複 數條對準傳輸線捆沿超過五方向的複數個方向取出之拓樸 亦有可能。 由於圖17的架構,第二實施例的LSI封裝可簡化成 導線端1 1 a、1 1 b…被單一排列在圖1 7紙張垂直方向中的 此種架構,插座2 3的內部則會被簡化。圖1 7係爲藉由以 放置於光纖1 〇 a、1 0 b、1 0 c…之間的中間面來切割所形成 的截面圖。導線端1 1 b的V鉤形頂端自插座2 3屋頂向下 伸出,其係在該截面圖背側。進一步在圖1 7中,導線端 1 1 b、1 1 c、Π d…被規則地排列,其係隱藏在該紙張背側 。在根據圖1 7所示第二實施例所設計的L s 1封裝中’因 爲如圖9至Π以及圖13至16所示用來與介面1C晶片83 機械性接觸的熱連接器(12a、12b、12c、…;12 ; 121、 -43- 200536134 (41) 1 22 )並非必要,所以譬如介面IC晶片83損壞的缺點則 可被解決,以便提高I/F模組的可靠度。 根據第二實施例的封裝,在一般生產線中,在自互連 體基板1移除傳輸線41、42、43、44與頭體部31、32、 3 3、3 4以後實施熔焊製程是可能的。此外,藉著經由機械 性接觸在互連體基板1與傳輸線41、42、43、44之間進 行電性接觸,建立比較簡單固持機制之具有非常高度準確 • 的位置控制準確性並不需要。對新產生線的投資會由於該 架構而變得多餘,其中包括在特定情形下用於熔焊製程的 特定儀器。此外,因爲對電性連接器的架構而言,譬如高 準確性插入機制、壓力機制、與固持機制的機械性機制並 不需要的,所以成本可明顯被降低。 ’. 因此’根據第二實施例的LSI封裝,複數個高速LSI 晶片之間的高速互連可低成本地實施,而且可促進資訊通 訊設備等等的升級。 參 (第三實施例) 、如圖1 8所示,根據本發明第三實施例所設計的LSI 、封裝包括一頭基部3 3,其係包含一種將第二實施例頭基部 3 3上側轉向下的拓樸。亦即,如圖1 8所示,根據第三實 施例所設計的頭基部3 3是依據凹面七面體(L型塊)所 設計的絕緣支撐體,該絕緣支撐體係由準備用來安裝介面 1C晶片8 3之晶片安裝面的切開部分所形成,其係在矩型 平行導管的左下部。由圖1 8所能輕易理解地,晶片安裝 -44 - 200536134 (42) 面經甶垂直延伸到插座接觸面的層差距(邊牆面 到配置在最上層的插座接觸面。電性端4 1 6經由 從晶片安裝面延伸到插座接觸面。該電性端4 1 6 立在互連體基板1之頂表面上的封裝互連(未顯 性連接頭基部3 3用的外部吸引電極,其係當頭3 實施之傳輸線頭被插入到插座2 3內時延伸在插| 再者,類似第一與第二實施例的架構,如圖18 # 學半導體晶片93係安裝在垂直晶片安裝面之平 端面上。而且,中間互連415配置在用來連接光 晶片93的連接端面與晶片安裝面之間的間隔中 所示,插座接觸面與晶片安裝面之間層差距的高 於介面1C晶片83的厚度。 雖然說明被省略,但是類似圖2至5所示的 間互連4 1 5與電性端4 1 6係爲由信號配線、反向 、接地配線所實施的差動數位互連或者三極互連 ® 著紙張的垂直方向而規則性地排列,具有線寬 以及空間寬5 0 - 7 0 // m。而且在第三實施例的頭基 ,複數個熱導孔417被建立在光纖l〇a、i〇b、1 情形的每一間隔中—該些光纖由圖1 8參考數字 一起同標記…-沿著從晶片安裝面到頭基部33上 面)的垂直方向。該熱導孔4 1 7係形成在頭基部 部分中,該頭基部置於介面IC晶片8 3的晶片安 在圖1 8中,雖然七個熱導孔4 1 7被排列在光纖 、1 0 c…的延伸方向中,但是熱導孔4 1 7的數目 ),連接 層差距, 係爲以建 示)而電 S部3 3所 g 23 內。 所示,光 面的連接 學半導體 。如圖1 8 度較佳大 互連,中 信號配線 ,其係沿 4 0 - 5 0 # m :部3 3中 0c…排列 '、43"所 表面(頂 33的一 裝面上。 10a、1 Ob 並不限於 -45- 200536134 (43) 七,而且第二實施例的架構與熱導孔4 1 7的數目可在考慮 到介面1C晶片83之尺寸等等的情形下被選出。每一熱導 孔417係交替地排列在光纖10a、l〇b、10c…排列情形的 每一間隔中,呈一陣列架構,以便藉由將金屬與導熱膏塡 充入沿著從晶片安裝面到頭基部3 3上表面(頂面)之垂 直方向延伸的每一穿孔內來建立導熱通道。 而且,如圖1 8所示,加熱面板4 1 8係配置在頭基部 3 3的大部分頂表面上。加熱面板4 1 8接觸面板寬度很寬的 熱連接器(壓力彈簧)2 0,熱連接器(壓力彈簧)2 0則被 建立在插座23中。而且加熱面板418可當作熱導孔417 之熱流分佈的等化器。就加熱面板4 1 8的材料而言,例如 ,可用塗以厚度5 0 0 μ m鎳電鍍層之厚度5 0 0 // m的銅面 板,或者不然塗以厚度20/im鎳電鍍層之厚度200// m的 銅面板薄膜。類似第一實施例的架構,電性端4 1 6與中間 互連4 1 5係被描繪成複數條譬如鋁與銅等等之金屬薄膜的 條帶圖案,其係並且以金屬遮罩藉由金屬化製程來輕易描 繪’經由此’金屬薄膜由擺射或電鑛技術形成。電性端 416與中間互連415亦可由金屬薄膜製成,包括譬如銅-鐵 ,銅-鉻,銅-鎳-砂,銅-錫等等的銅合金,譬如鎳-鐵,鐵_鎳.銘 等_的鐵鎳合金’以及銅的合成材料與不鏽鋼等等。此外 ’迨些電性互連可由這些金屬材料上的鎳電鍍與/或金電 鍍等等所提供。鈦與鉑亦可利用當作一底部鋪設金屬。 複數個丨g號輸入/輸出細(接合塾)被排列在當作介 面Ϊ c之介面I c晶片8 3的頂表面上,然而其說明被省略 -46 - 200536134 (44) 。而且,介面I C晶片8 3之頂表面上的每一接合墊係分別 經由導電塊(未顯示)而彼此電連接到中間互連4 I 5與電 性端4 1 6。同樣地,放置在紙張後側與紙張近側的其它接 合墊亦經由其它導電塊(未顯示)而分別彼此電連接到對 應的中間互連4 1 5與電性端4 1 6。而且如圖1 7所示的導熱 樹脂38可被塡入介面1C晶片83的晶片與頭基部33的晶 片安裝面之間的空間,以便建立熱連接。 • 類似第一與第二實施例的架構,適用於接受第三實施 例頭基部3 3所實施之傳輸線頭、截面是L型的插座23架 構,其係會與互連體基板1形成盒型結構。在該盒型結構 中,該盒子的其中一面是開啓的,頭基部3 3所實施之傳 輸線頭則經由·此而插入。如圖1 8所:示,垂直紙張背側而 延伸的熱連接器(壓力彈簧)20主要部份係隱藏在插座 2 3之屋頂的中間部份,該屋頂實施插座2 3的L形截面。 面板架構的熱連接器2 0則隱藏在凸面部份中,其係配置 • 在插座23屋頂的頂表面上。凸面部份延伸於垂直圖1 8紙 張的方向中。熱連接器20的V鉤型頂端自插座23的天花 . 板向下延伸。 在圖18所示之第三實施例的LSI封裝中,介面1C晶 片83接觸建立在互連體基板1頂表面上的封裝互連(未 顯示),其係不經由圖9至1 1以及圖1 3至1 7所示的導 線端1 1 a、1 1…但卻直接經由電性端4 1 6以便能夠電性連 接介面1C晶片83與封裝互連。封裝互連是由差動數位互 連’或者信號配線、反向信號配線、接地配線實施的三極 -47- 200536134 (45) 互連所實施,其係類似電性端4 1 6。因此,第三實施例所 設計的LSI封裝可排除圖9至1 1與圖〗3至1 7所示的機 械性彈簧機制,以建立電性連接,並節省用來吸收機械彈 性操作所造成之位移的空間邊緣。同時,來自介面1C晶 片8 3的導熱通道係經由頭基部3 3的熱通道而到面板架構 的熱連接器(壓力彈簧)20,其係並且自適合熱連接到熱 連接器20的熱散佈器(未顯示)放熱。 # 根據圖1 8所示之第三實施例L SI封裝的架構,電性 端4 1 6之排列間距的微型化是可能的。例如,電性端4 i 6 的排列間距可輕易地減少到1 〇 0 // m以下,其係有助於排 列間距的高密緻性。再者,因爲自介面1C晶片83之導熱 通道的寬度或截面面積可變寬,所以與具有圖13所示之 熱連接器121、122的LSI封裝架構相較之下,導熱通道 中的熱阻抗能輕易地降低。 在圖18,雖然顯示由插入單一插座23內之頭基部33 ® 所實施的單一插座23與單一傳輸線頭,但是根據第三實 施例所設計的L S I封裝可能包含四個插座2 1、2 2、2 3、2 4 與架構以插入四個相應插座21、22、23、24之頭體部31 , 、3 2、3 3、3 4所實施的四個傳輸線頭,類似圖1架構。亦 即是,類似圖1,根據本發明第三實施例所設計的L SI封 裝包括一信號處理LSI ( LSI晶片;未顯示),以及將LSI 晶片安裝於上的互連體基板1,其係架構以電連接到印刷 配線板(未顯示),以及安裝在互連體基板1上的複數個 插座21、22、23、24。插座21、22、23、24的每一插座 -48- 200536134 (46) 貫k來去L S I晶片的信號與來去外部傳輸線的信號之間的 邰份介面機制。根據本發明第三實施例所設計的L S I封裝 進一步包括複數個傳輸線頭,其係由分別插入到相對應插 座21、22、23、24的頭體部31、32、33、34所實施。在 頭體部3 1、32…的每—頭體部上安裝有介面ic晶片83。 介面1C晶片8 3實施部分的介面機制。頭體部3 1、3 2…的 每一頭體部建立從介面1C晶片83至相對應插座21、22、 ® 2 3、2 4的導熱通道。由頭體部3 1、3 2…所實施的每一傳 輸線頭係被插入到插座2 1、2 2、2 3、2 4裡面,以致於各 傳輸線頭能與插座2 1、2 2、2 3、2 4分開。在所插入的架 構中,由頭體部3 1、3 2 ···所實施的每一傳輸線頭並非經由 插座21、22、23、24,但卻經由與建立在互連體基板1之 頂表面上的封裝互連或高頻傳輸線而電性連接到LSI晶片 5 °實際上與第一以及第二實施例LSI封裝之解釋部分重 疊的其他解釋會被省略。 ^ 類似第一與第二實施例之L S I封裝的架構,在根據第 三實施例所實施的LSI封裝架構中,從LSI晶片5至當作 ,介面1C之介面1C晶片83的互連是由三極差動數位互連 , 所實施,且從介面1C晶片83與光學半導體晶片93的互 連是由長度最短的類似電性配線所實施。亦即是,藉由根 據第三實施例所設計的L S I封裝,互連體基板1與介面I C 晶片(介面1C ) 83之間的間隔,其係藉由使用信號配線 、反向信號配線與接地配線所貫施之二極互連的差動數位 互連而呈短距離連接,該差動數位互連具有比較高之抗阻 -49- 200536134 (47) 抗不匹配的免疫,以便確保阻抗保證並避免在該間隔中 易產生的阻抗不連續性。而且在該間隔中,諸電性端 4 1 6的每一電性端點可從建立在互連體基板1頂表面上 相對應封裝互連或高頻傳輸線分開地連接。而且在確保 抗保證的傳輸線中,可藉由介面1C晶片(介面1C ) 83 立經由波型成形的長距離高速互連。或者不然,藉由將 面1C晶片(介面1C ) 83配置靠近光學半導體晶片93, # 介面1C晶片(介面1C ) 83與光學半導體晶片93之間 短距離類似互連則變得可能,其係被採用作爲光學互連 因此,由於該架構,高品質的長距離互連會在可分開的 接系統中得到,其係藉由與電性端4 1 6連接來實施。 再者,在圖18所示之本發明第三實施例的LSI封 (設有I/F模組的LSI封裝)中,三對準傳輸線捆沿著 或更少方向取出的一拓樸同樣有可能。而且假如由插座 、22、23、24所實施的傳輸線頭被排歹[J成能夠在五邊形 # 形成多角形狀的話,那將複數條對準傳輸線捆沿超過五 方向的複數個方向取出之拓樸亦有可能。 根據第三實施例的L SI封裝,在一般生產線中,自 連體基板1移除傳輸線41、42、43、44與頭體部31、 、3 3、3 4以後實施熔焊製程是有可能的。此外,藉由經 機械性接觸而在互連體基板1與傳輸線4 1、42、43、 之間進行電性接觸,故建立比較簡單固持機制之具有非 高度準確的位置控制準確性並不需要。對新產生線的投 會由於該架構而變得多餘,其係包括在特定情況之下熔 輕 點 的 阻 建 介 在 的 〇 連 裝 2 1 上 個 互 3 2 適 44 常 資 焊 - 50- 200536134 (48) 製程用的特定儀器。此外,因爲對電性連接器的架構而言 ,譬如高準確性插入機制、壓力機制、與固持機制的機械 性機制不需要,所以成本可明顯被降低。 因此,根據第三實施例的LSI封裝,複數個高速LSI 晶片之間的高速互連可低成本地得到,從而有助於資訊通 訊設備等等的升級。 圖1 9顯示根據第三實施例之變更所設計的實例,其 > 係適用於圖181所示之LSI封裝的小放熱介面1C晶片83 。亦即是,根據第三實施例變更所設計之LSI封裝架構可 適用於一種情形,在該情形中,互連體基板1與印刷配線 板(未顯示)可被充分地當作一散熱器,以用來接收來自 介面IC晶片8 3的熱輻射。在圖1 9所示的L SI封裝中, 導熱樹脂419被塗層在介面1C晶片83的頂表面上,以助 於與互連體基板1的熱連接。因此,第三實施例之變更的 熱連接器(壓力彈簧)20並不當作一導熱通道,僅當作一 I 機械壓力彈簧。因此,沒有必要在第三實施例之變更的傳 輸線頭中提供圖1 8所示的熱導孔4 1 7,也沒有必要在根據 第三實施例之變更所設計的L SI封裝中提供圖9至1 1與 圖1 3至1 7所示的導線端1 1 a、1 1 b…。藉由該架構,在低 成本製造結構非常簡單的一種L S I封裝則變得可能。不過 ,因爲L S I封裝的熱輻射容量比較小,故較佳地採取比較 小的晶片以用於介面1C晶片83。 (第四實施例) -51 - 200536134 (49) 如圖20所示,根據本發明第四實施例所設計的LSl 封裝包括一頭基部3 3,其係類似第一與第二實施例的頭基 部3 3,由L形塊形成。如圖2 0所示,根據第四實施例所 設計的頭基部3 3是依據凹面七面體(l型塊)所設計的 絕緣支撐體’該絕緣支撐體係由準備用來安裝介面I C晶 片8 3之晶片安裝面的切開部分所形成,其係在矩型平行 導管的左下部。不過,根據第四實施例所設計之將光傳輸 φ 線10a、10b、1〇c…固持的固持套與將光學半導體晶片93 安裝在頭基部33上之位置的拓樸,其係不同於第一與第 二實施例的頭基部3 3。 根據圖2 0所示第四實施例所設計之在頭基部3 3中之 晶片安裝面、層差距與最上表面.的各形狀皆爲矩形。最上 表面係經由垂直延伸到最上表面的層差距(邊牆面)而配 置於最上層上。晶片安裝面與最上表面係與底面平行相對 ’底面的面積則等於晶片安裝面與最上表面的全部面櫝。 # 換句話說’在右邊’晶片安裝面與底表面實現一薄的平行 面板架構,而且在左邊,最上面與底表面實現一厚的平行 .面板架構。晶片安裝面、層差距與最上表面是藉由兩L型 多角形而連接到底表面’該兩L型多角形係垂直晶片安裝 面、層差距與最上面的平面來配置。而且如圖20所示, 從晶片安裝面垂直延伸到最上表面之厚平行面板架構的層 差距(邊牆表面),其係充當作用來連接光學半導體晶片 93的一連接端面。將複數個圓桶固持套挖開,以貫穿連接 端面與相對端面之間,其係相對垂直層差距(邊牆面), -52- 200536134 (50) 架構以固持光學傳輸線(光纖捆)1 0a、] Ob、1 0c…。在 圖20中,電性端5 0 6是以從晶片安裝面右端至L型塊底 面的路徑來描繪,其係經由薄平行面板架構的單面,亦即 矩形所實施的面,其四側面則分別由晶片安裝面、底面與 L型多角形的兩側面所界定。雖然電性端5 06在沒有詳細 說明之下被集體顯示,但電性端5 06卻是差動數位互連, 或由沿著紙張垂直方向規則排列之線寬40_50 // m且空間 • 寬度5 0-70 // m之信號配線、反向信號配線、接地配線所 實施的三極互連,其係類似圖2至5所示的電性互連。電 性端5 06係爲用來電性連接頭基部33與封裝互連(沒顯 示)的外部吸引電極,電性端係被描繪在互連體基板1的 頂表面上,其係當頭基部3 3所實施的傳輸線領被插入到 插座23內時延伸到插座23裡面。封裝互連是由差動數位 互連,或者信號配線、反向信號配線、接地配線所實施的 三極互連所實施,其係類似電性端5 06。 • 如圖20所示,最上表面與晶片安裝面之間的層差距 高度較佳大於介面IC晶片8 3的厚度。介面IC晶片8 3是 、由導熱樹脂5 2 2所封膠。在充當做底部塡膠樹脂的透明樹 脂已經將光學半導體晶片9 3封膠以後,導熱樹脂5 2 2會 將介面IC晶片8 3的頂表面封膠。熱蓋5 2 1係隱藏在導熱 樹脂5 2 2的上部。熱蓋5 2 1係爲對頭基部3 3而言具有反 向拓樸的L形塊。導熱樹脂5 22係熱性與機械性地插入於 介面IC晶片8 3與熱蓋5 2 1之間的空間內。如圖2 0所示 ’熱蓋5 2 1係建立在頭基部3 3之上部的所有面上。而且 - 53- 20 200536134 (51) 熱蓋5 2 1的頂表面與頭基部3 3的底面彼此平行。如圖 所示,熱蓋521接觸建立在插座23之寬面板的熱連接 (壓力彈簧)2 0。熱蓋5 2 1例如由用於熱蓋5 2 1厚部分 塗以厚度20/zm鎳電鍍層之具有800至1500//m厚度 銅面板,以及用於熱蓋521厚部分之塗以厚度20// m鎳 鍍層之具有200至500//m厚度的銅面板所製成。 類似第一至第三實施例的架構,電性端點5 06係被 φ 繪爲譬如鋁或銅等等之金屬薄膜的條帶圖案,其係並且 藉著用金屬遮罩的金屬化製程來輕易描繪,經由該製程 金屬薄膜可藉由濺射或電鍍技術來沈積。電性端點5 06 由金屬薄膜製成,包括譬如銅-鐵,銅-鉻,銅-鎳-矽,銅-錫 等的銅合金,譬如鎳-鐵,鐵-鎳-鈷等等的鐵鎳合金,以 銅合成材料與不鏽鋼等等。此外,這些電性互連可由這 金屬材料上的鎳(Ni )電鍍與/或金(Au )電鍍等等所 供。鈦(Ti )與鉑(Pt )亦可用作一底層金屬。 • 複數個信號輸入/輸出端(接合墊)排列在當作介 1C之介面1C晶片83的頂表面上,雖然其說明被省略。 ,且,在介面1C晶片83頂表面上的每一接合墊分別經由 電塊(未顯示)而彼此電連接到電性端5 06。同樣地, 置在紙張背側與紙張近側的其他接合墊亦分別經由其他 電塊(未顯示)而彼此電連接到相應的電性端5 0 6。 類似第一至第三實施例的架構,截面L型、適合接 第四實施例頭基部3 3所實施之傳輸線頭的插座2 3架構 其係會與互連體基板丨形成一盒型結構。在該盒型結構 器 之 的 電 描 可 可 等 及 些 提 面 而 導 放 導 受 中 -54- 200536134 (52) ,由頭基部3 3實施之傳輸線頭所插入經過的其中一盒子 面是開啓的。如圖20所示,熱連接器(壓力彈簧)20的 主要部分,其係爲沿著紙張垂直方向延伸的面板,隱藏在 插座2 3屋頂的中央部分,該屋頂實施插座2 3的L形截面 。面板架構的熱連接器20係隱藏在一凸狀部分,該凸狀 部分配置在插座2 3屋頂的頂表面上。凸狀部分在垂直圖 20紙張的方向中延伸。熱連接器20的V鉤形頂端則自插 座23的天花板向下伸出。 在圖20所示之第四實施例的LSI封裝中,介面1C晶 片83接觸被描繪在互連體基板1之頂表面上的封裝互連 (未顯示),其係並非經由圖9至1 1與圖1 3至1 7所示 的導線端1 1 a、1 1 b…,但卻直接經由電性端506,以電性 連接介面1C晶片83與封裝互連。因此,第四實施例的 LSI封裝可排除圖9至1 1與圖13至17所示的機械彈簧機 制以來建立電性互連,以便節省用來吸收機械彈性操作所 導致位移的圖案空間邊緣。同時,從介面1C晶片83的導 熱通道會經由導熱樹脂5 22與熱蓋521而到面板架構的熱 連接器(壓力彈簧)20,其係並且從架構以熱連接到熱連 接器20的散熱器(未顯示)來放熱。 根據圖20所示之第四實施例的LSI封裝架構,電性 端5 0 6之排列間鉅的小型化變得有可能。例如,電性端 5 06的排列間距能輕易降低到1 〇〇 // m以下,其係有助於 排列間距的緻密性。再者,因爲自介面1C晶片83之導熱 通道的寬度(截面面積的寬度)可變寬,所以相較於具有 -55- 200536134 (53) 圖13所示之熱連接器ι21、122的[SI封裝架構,導熱通 道中的熱阻抗能被輕易地減少。 如圖2 0所示,在根據第四實施例所設計的l SI封裝 中’光學半導體晶片9 3、介面1C晶片8 3與電性端5 0 6係 按順序地排列,其係均面對L SI晶片5 (未顯示),L SI 晶片被假定安裝在置於圖2 0架構右側的互連體基板1上 。藉由該架構’每一元件互連之間的間隔可被設定成最短 # 。再者,因爲介面1C晶片83被嵌入於導熱樹脂5 22中, 而且熱流可被確定經過熱蓋5 2 1,所以L S I封裝可擁有大 的熱輻射容量。仍進一步地,L S I封裝的此種架構等同於 光學半導體晶片93與介面1C晶片83被頭基部33所實施 之傳輸線頭裡面之樹脂所封膠的一種架構,其係可增加半 導體晶片的可靠性。 同樣地,在根據第四實施例所設計的LSI封裝中,頭 基部3 3的整個上表面可被使用做一輻射面,而且可能可 • 藉由建立複數個機械熱連接器來使一有效接觸面積變寬。 此外,插座23之天花板的底部與熱蓋521頂表面之間的 、空間可充塡以熱脂。 雖然在圖20顯示被插入到單一插座23內之頭基部33 所實施的單一插座2 3與單一傳輸線頭,類似圖1架構, 但是根據第四實施例所設計的LSI封裝可能包含四個插座 2 1、2 2、2 3、2 4,以及被架構以插入到四個相應插座2 1、 2 2、2 3、2 4內之頭體部3 1、3 2、3 3、3 4所實施的四個傳 輸線頭。亦即是,類似圖1 ’根據本發明第四實施例所設 - 56- 200536134 (54) 計的L S I封裝包括一信號處理L S I ( L S I晶片;未顯示) ,以及LSI晶片安裝於上的互連體基板1,其係被架構以 電連接到印刷配線板(未顯示),以及複數個安裝在互連 體基板1上的插座21、22、23、24。插座21、22、23、 2 4的每一插座實施來去L S I晶片的信號與來去外部傳輸線 的信號之間的部分介面機制。根據本發明第四實施例所設 計的LSI封裝進一步包括由分別插入於相對應插座21、22 、23與24之頭體部31、32、33與34所實施的複數個傳 輸線頭。介面I C晶片8 3係安裝在頭體部3 1、3 2…的每一 頭體部上。介面IC晶片8 3實施部分的介面機制。頭體部 3 1、3 2…的每一頭體部建立從介面i C晶片8 3到相對應插 座2l·、22、23、24的導熱通道。由頭體部3 1、32…所實 施的每一傳輸線頭會被插入到插座2 1、2 2、2 3、2 4裡面 ,以致於每一傳輸線頭能夠與插座2 1、2 2、2 3、2 4分開 。在被插入的架構中,由頭體部3 1、3 2…所實施的每一傳 輸線頭會電性連接到L SI晶片5,其係並非經由插座2 1、 22、23、24 ’但卻經由直接接觸被描繪在互連體基板1頂 表面上的封裝互連或高頻傳輸線。實質部分重疊第一至第 三實施例之LSI封裝解釋的其他解釋會被省略。 再者’在圖20所示之本發明第四實施例所設計的LSI 封裝中’沿著三或更少方向將三對準傳輸線捆取出的拓樸 亦有可能。而且假如插座2 1、2 2、2 3、2 4被排列成能夠 在五邊形上形成多角形狀的話,將複數條對準傳輸線捆沿 超過五方向之複數個方向取出的拓樸亦有可能。 -57- 200536134 (55) 類似第一至第三實施例的LSI封裝架構,在根據 實施例所設計的L S 1封裝架構中’從L s 1晶片5至當 面1C之介面1C晶片83之間的互連是由三極差動數 連實施,且從介面1C晶片83至光學半導體晶片93 連是由長度最短的類似電性配線所實施。亦即,由於 第四實施例所設計的LSI封裝’互連體基板1與介ί 晶片(介面1C ) 8 3之間的間隔是藉由使用信號配線 向信號配線與接地配線所實施之三極互連的差動數位 而以短距離連接,該差動數位互連具有比較高之抗阻 匹配的免疫,以便確保阻抗保證並避免在該間隔中輕 生的阻抗不連續性。而且在該間隔中,建立在互連體 1之頂表面上的電性端5 06,每個皆可自相應的封裝 或高頻傳輸線分開。而且在確保阻抗保證的傳輸線中 由波型成形的長距離高速互連是藉由介面1C晶片( 1C ) 83來建立。或者不然的話,藉由將介面1C晶片 面1C) 83靠近光學半導體晶片93地配置,介面1C (介面1C ) 83與光學半導體晶片93之間的短距離類 連則變得有可能,其係被採用作爲一光學互連。因此 於該架構,在可分開的連接系統中會得到高品質的長 互連,其係包括得到利用電性端5 06的連接方法在。 方式中,根據第四實施例的L SI封裝,在主要考慮互 通訊速度與具有非常小排列間距之電性端5 06的情形 可提供有效的此種封裝(設有I/F模組的LSI )。該 封裝可適用於例如電性端5 0 6的排列間距低於100// 第四 作介 位互 的互 根據 D 1C 、反 互連 抗不 易產 基板 互連 ,經 介面 (介 晶片 似互 ,由 距離 在此 連的 中, LSI m , -58- 200536134 (56) 電性端5 0 6互連之通訊速度高於丨o G b p s的情形中。 根據第四實施例的LSI封裝,在一般生產線中 互連體基板1移除傳輸線4 1、4 2、4 3、4 4與頭體; 3 2、3 3、:> 4以後貫施溶焊製程是可能的。此外,藉 •機械性接觸在互連體基板1與傳輸線4 1、4 2、4 3 間進行電性接觸,而來建立比較簡單固持機制之具 高度準確的位置控制準確性並不需要。由於該架構 φ 產生線的投資會而變得多餘,其中包括在特定情況 熔焊製程的特定儀器。此外,因爲對電性連接器的 言,譬如高準確性插入機制、壓力機制、與固持機 械性機制不需要,所以可明顯降低成本。 因此,根據第四實施例的LSI封裝,複數個高 晶片之間的高速互連可低成本地得到,從而有助於 訊設備等等的升級。 圖21顯示根據第四實施例變更所設計的LSI φ 例。第四實施例變更的LSI封裝包括在成形爲L型 基部33底面上的底部金屬面板523。底部金屬面板 由塗以20//m厚鎳電鍍層之具有l〇〇-500#m厚度 鍍層所製。 亦即是,如圖2 1所示,在根據第四實施例變 計之由頭基部3 3實施的傳輸線頭中,介面1C晶片 由導熱樹脂5 22所封膠。熱蓋521係隱藏在導熱樹 的上部。熱蓋5 2 1係爲L型塊,具有對頭基部3 3 拓樸。如圖2 1所示,熱蓋5 2 1係建立在頭基部3 3 ,在自 部3卜 著經由 、44之 有非常 ,對新 下用於 架構而 制的機 速LSI 資訊通 封裝實 塊之頭 5 2 3可 的銅電 更所設 83是 脂522 的反向 上部的 -59- 200536134 (57) 所有面上。放置在頭基部3 3底面上之底部金屬面 的底表面係平行熱蓋5 2 1的頂表面。 藉由圖21底部金屬面板523建立在頭基部33 的架構,起因於頭基部3 3與熱蓋5 2 1之間線性擴 差所產生的內部應力會被減輕’從而使頭基部3 3 應力降低。 (其它實施例) 那些熟諳該技藝者在接收到本發明教理以後’ 之種種不背離發明範圍的變更是可能的。例如,$1 所示,插座23可能包括開口 221與222,其係被建 LSI晶片5之導熱通道相同的方向中(見圖1 ), 立放熱。圖22係爲由根據其它實施例之頭基部3 3 之傳輸線頭的鳥瞰圖,其中導線端1 1 a、1 1 b、1 1 c 由在頭基部3 3所實施的傳輸線頭插入到插座內的 況中,切開L形插座23屋頂的左端部份而看到, 座23係與互連體基板1形成盒型結構。開口 221 的寬度可選擇爲2 5 0- 8 0 0 // m。較佳地,將開口 221 切開,其係在插座23的兩端夾擠導線端1 1 a、1 1、 的排列情形。配置在插座23屋頂之頂表面上、用 熱流之散熱器的伸出部份,其係會被鬆或緊地插入 22 1與222內。由於該架構,可能可建立經過開口 222,來自介面1C晶片83底表面兩端之介面ICJ 的放熱。藉由使用介面IC晶片8 3之放熱可經過開 板5 23 底面上 散係數 的翹曲 所進行 □圖 22 立在與 以便建 所實施 …可藉 組裝情 L形插 與222 與222 11c··· 來接收 到開口 221與 I片83 □ 22 1 -60- 200536134 (58) 與2 2 2而建立在導線端1 ! a、1丨b、1 1 c…排列情形外面的 架構,在電性端63a、63b、63c、63d…之排列間距很窄的 情形中是有效的。 再者,被安裝在互連體基板1上的LSI晶片並不特別 限於信號處理LSI,而且關於當作I/F模組之頭體部31、 32···所實施之傳輸線頭而來操作的各式各樣LSI晶片可被 採用。而且電性端63a、63b、63c、63d···與導線端 11a、 φ 1 1 b、1 1 c…的形狀與材料與排列情形是隨意的,其係因此 並不限於第一至第四實施例的上述實例。 而且熱導孔417與熱蓋521的組合可被採用當作應用 於L S I封裝中之頭基部3 3的另一架構。 雖然圖1顯示單一 LSI晶片5被安裝在互連體基板1 上的一種架構,但是複數個LSI晶片亦可被安裝在互連體 基板1上。因此,本發明當然包括上文所沒詳述的種種實 施例與變更與類似物。因此,本發明的範圍將被定義於以 # 下的申請專利範圍中。 【圖式簡單說明】 圖1係爲一槪要鳥瞰圖,其係說明根據本發明第一實 施例所設計之設有I/F模組之LSI封裝的架構; 圖2係爲一槪要鳥瞰圖,其係說明在圖所示之LSI封 裝中所使用之傳輸線頭的架構,其係說明介面1C晶片被 安裝在傳輸線頭上的架構; 圖3係爲分別將介面1C晶片顯示之傳輸線頭的分解 -61 - 200536134 (59) 圖; 圖4顯示傳輸線頭的擴大鳥瞰圖,其係說明電性端與 中間互連; 圖5顯示傳輸線頭的進一步擴大鳥瞰圖,其係說明電 性端排列情形的詳情; 圖6係爲一槪要鳥職圖’其係說明根據本發明第一實 施例所設計之光學半導體晶片的架構; 圖7係爲說明一組裝架構的槪要上表面圖,其中光學 半導體晶片安裝在傳輸線頭上; 圖8係爲傳輸線頭的槪要截面圖,其上安裝有介面ic 晶片與光學半導體晶片; 圖9係爲顯示插座與準備用來插入到插座內之傳輸線 頭的槪要截面圖,其係顯示該插座之一導線端; 圖1 0係爲說明一放置在顯示圖9導線端之截面後側 之發熱端(熱連接器)的截面圖,其係在沿著發熱端之延 伸方向而切開的截面上; 圖1 1係爲一槪要截面圖,其係顯示一插座的組裝結 構,以及插入在插座中的傳輸線頭; 圖1 2係爲根據本發明第一實施例所設計之L S I封裝 的功能性方塊圖,其係顯示一電路架構,包括信號處理 L S I晶片的一輸出緩衝器電路,介面I C晶片中的緩衝放大 器,以及一表面發射雷射; 圖1 3係爲顯示插座與插入於插座中之傳輸線頭的組 裝結構的一槪要鳥瞰圖,其係說明由面板彈簧所執行的一 -62- 200536134 (60) 對熱連接器,接觸導線端排列情形外面的介面1C晶片; 圖I 4係爲根據本發明第一實施例所設計固定散熱器 之L S I封裝之完全組裝架構的槪要截面圖; 圖1 5係爲一槪要截面圖,其係說明一插座與插入於 插座之傳輸線頭的組裝結構,並進一步說明從LSI晶片至 插座之數位式互連的架構; 圖16係爲一槪要截面圖,其係說明一插座與插入於 φ 插座之傳輸線頭的組裝結構,並進一步說明一高頻傳輸線 (微條線),其係設置在根據第一實施例變更所設計之 LSI封裝架構中互連體基板頂表面上; 圖1 7係爲一槪要截面圖,其係說明根據本發明第二 實施例,所設計之一插座與插入於插座之傳輸線頭的組裝結 構; 圖1 8係爲一槪要截面圖,其係說明根據本發明第三 實施例所設計之一插座與插入於插座之傳輸線頭的組裝結 ⑩構; 圖〗9係爲一槪要截面圖,其係說明根據本發明第三 實施例變更所設計之一插座與插入於插座之傳輸線頭的組 裝結構; 圖2 0係爲一槪要截面圖’其係說明根據本發明第四 實施例所設計之一插座與插A於插座之傳輸線頭的組裝結 構; 圖2 1係爲一槪要截面圖’其係說明根據本發明第四 實施例變更所設計之一插座與插入於插座之傳輸線頭的組 -63- 200536134 (61) 裝結構; 圖2 2係爲一槪要鳥瞰圖,其係說明根據本發明另一 實施例所設計之一插座與插入於插座之傳輸線頭的組裝結 構; 圖23係爲一槪要截面圖,其顯示一互連體與在設有 IF模組之LSI封裝中的ι/F模組之間的電性連接,其係說 明於美國專利案序號1 0/778,03 0。 【主要元件符號說明】 1 互連體基板 3 散熱器(發熱器) 3a 連接墊 3b 連接墊 4 冷卻風扇 5 LSI晶片 9a、9b、9c、…、9r 板連接點(銲球) 10a、10b、10c··· 光纖 11a、lib、11c·" 導線端(信號端) 12 熱連接器(面板彈簧) (12a) 、1 2b、(12c)··. 熱連接器 18a 電路板 18b 電路板 20 熱連接器(壓力彈簧) 21 、 22 、 23 、 24 插座 -64- 200536134 (62) 23 25 25a、 25b、 25c、 25d、 26a、 26b、 26c、 26d ·· 27a、 27b、 27c、 27d、 28a、 28b、 28c、 28d·. 傳輸線頭 垂直共振腔面射型雷射 主動區域 電極配線 接地配線 電性接點(導電點)
31、 32、 33 與 34 33 35a 36b 37 38 41 、 42 、 43 、 44 6 1a 6 1b 62a 62b 63 63a 63b 63c 63d 63e
63f 頭體部 頭基部 導電塊 導電塊 塡底膠樹脂 導熱樹脂 傳輸線 驅動I C 驅動1C 電光或光電轉換器 電光/光電轉換器 電性端 接地配線(GND) 反向信號配線 信號配線 接地配線(GND ) 信號配線 反向信號配線 -65- 200536134 (63) 64a 64b 73 73a、73b、73c、73d··· 73a、73b、73c、73d··· 73a、73c、73e、73g··· 73b、73d、73f·.·
81、 82 、 83 與 84 93 12 1 122 20 1 22 1 222 3 16a 光纖 光纖 中間 中間 中間 接地 信號 介面 光學 熱連 熱連 緩衝 開口 開口 第一
3 15a 3 17a 3 18a 3 2 6 a 4 11 4 1 2 4 14 4 15 第一 地面 凸塊 上互 下互 接地 中間 互連 互連 互連 配線 配線 I C晶片 半導體晶片 接器 接器 放大器 穿孔電極 穿孔電極 表面互連 表面互連 互連 連體位置熱通道 連體位置熱通道 面 互連 -66- 200536134 (64) 4 16 電性端 4 17 熱導孔 4 18 加熱面板 501 輸出緩衝電路 506 電性端 52 1 熱蓋 522 導熱樹脂 V c c 供電端 -67-
Claims (1)
- 200536134 ⑴ 十、申請專利範圍 1 ·一種可安裝在印刷配線板的LSI封裝物,包含·· 一傳輸線頭,包含: 一頭基座, 一傳輸線,由頭基座所固持,以及 一介面1C晶片,安裝在頭基座上; 一互連體基板,具有複數個板連接點,其促進與印刷 Φ 配線板的連接; 一 LSI晶片,安裝在該互連體基板;以及 一插座,具有一導線端,並被安裝在互連體基板上, 其係架構以容納傳輸線頭,以致於介面1C晶片能夠經由 導線端価連接到LSI晶片。 2 ·如申請專利範圍第1項之封裝物,進一步包含一散 熱器設置在插座上。 3 ·如申請專利範圍第1項之封裝物,其中該插座具有 φ 一開口,架構以帶開來自介面1C晶片的熱能。 4 ·如申請專利範圍第2項之封裝物,其中產生在介面 1C晶片中的熱能會被帶開到散熱器。 5 .如申請專利範圍第1項之封裝物,其中該插座進一 步包含一熱連接器,其係架構以帶開來自介面1C晶片的 熱能。 6 ·如申請專利範圍第5項之封裝物,其中產生在介面 1C晶片中的熱能會經由熱連接器而被帶開到互連體基板。 7 ·如申請專利範圍第5項之封裝物,其中熱連接器係 -68- 200536134 (2) 由具有彈性的導熱材料所形成。 8 .如申請專利範圍第1項之封裝物,其中數位信號經 由插座,從L SI晶片傳播到介面IC晶片。 9 ·如申請專利範圍第1項之封裝物,其中差動數位信 號經由插座,從LSI晶片傳播到介面1C晶片。 1 〇 .如申請專利範圍第1項之封裝物,其中該傳輸線 包含一光學傳輸線。 Φ u .如申請專利範圍第1 0項之封裝物,其中該傳輸線 頭進一*步包含一光學半導體晶片。 1 2 · —種可安裝在印刷配線板的中間封裝物,適合用 來容納一種固持傳輸線與介面1C晶片的傳輸線頭,該封 裝物包含: 一互連體基板,其係由第一主表面與相對第一主表面 的第二主表面所定義,其在第二主表面上具有複數個板連 接點,其促進與印刷配線板的連接; # 一 LSI晶片,其係安裝在第一主表面中所指派的安裝 區域上;以及 一插座,具有一導線端並且安裝在互連體基板上,其 係架構以容納該傳輸線頭,以致於介面1C晶片能夠經由 導線端而電性連接到LSI晶片。 1 3 ·如申請專利範圍第1 2項之封裝物,進一步包含一 第一表面互連設置在第一主表面上,其中導線端經由第〜 表面互連而電性連接到LSI晶片。 1 4.如申請專利範圍第1 2項之封裝物,進一步包含: -69- 200536134 (3) 第一與第二通孔電極,其係從第一主表面,穿透互連 體基板,而到第二主表面;以及 一第二表面互連,連接在第二主表面的第一與第二通 孔電極。 其中導線端經由第二通孔電極、第二表面互連與第一 通孔電極,而連接到L SI晶片。 1 5 · —種架構以插入到插座內的傳輸線頭,包含: φ —頭基座; 一介面1C晶片,安裝在被指派於頭基座上的晶片安 裝面;以及 一傳輸線,由頭基座所固持, 其中產生在介面1C晶片中的熱能會被傳送經過該插 座或者設置在該插座中的一開口。 1 6 ·如申請專利範圍第1 5項之傳輸線頭,其中該傳輸 線包含一光學傳輸線。 # 1 7 .如申請專利範圍第1 6項之傳輸線頭,進一步包含 一光學半導體晶片,其中往返於介面IC晶片的電信號係 藉由光學半導體晶片而與光信號耦合,而且該光信號傳播 於光學傳輸線中。 1 8 .如申請專利範圍第1 5項之傳輸線頭,進一步包含 一電性端,其係由從晶片安裝面延伸到插座接觸面的傳導 片所形成,在此該電性端係與該插座的導線端電性接觸。 1 9 ·如申請專利範圍第1 5項之傳輸線頭,其中該介面 1C晶片係以覆晶架構而安裝在晶片安裝面上,從該插座伸 -70- 200536134 (4) 出的熱連接器則與介面1C晶片底表面熱接觸。 2 0 .如申請專利範圍第1 5項之傳輸線頭,進一步包含 一熱通道,其係從晶片安裝面,穿透頭基座,而到相對晶 片安裝面的一面,其中產生在介面1C晶片中的熱能會經 過該熱通道被帶開。-71 -
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