TW200424771A - Alicyclic methacrylate having oxygen substituent group on <alpha>-methyl - Google Patents

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Description

200424771 ⑴ 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明爲有關一種適合作爲使用於微細加工劑樹脂光 阻材料之基礎樹脂用單體,及新穎的在α位甲基上具有氧 取代基之含脂環的甲基丙烯酸酯化合物。 【先前技術】 近年來,隨著LSI之高集積化與高速度化,於尋求圖 案電路微細化之過程中,號稱下一世紀爲劑加工技術之遠 紫外線微影技術爲極有發展之技術。其中又對於以KrF等 離子雷射光、ArF等離子雷射光等作爲光源之光微影技 術,故極期待其可實現〇. 3 // m以下超微細加工所不可欠 缺之技術。 對於使用等離子雷射光,特別是波長193nm之 ArF 等離子雷射光作爲光源之光微影技術所使用之光阻材料 中,除必須確保該波長下之高透明性,對應薄膜化之高蝕 刻耐性,無須負擔高價光學材料即可擁有的感度外,同時 以必須尋求可正確地形成微細圖案之高解像性能。爲滿足 前述要求,必須開發出一種具有高透明性、高剛直性且具 有高反應性之基礎樹脂,目前已知之高分子化合物中,尙 未能出現可充分滿足前述特性之化合物’故仍極期待於光 阻材料上之改善。 高透明性樹脂,一般爲具有丙烯酸或甲基丙烯酸衍生 物之共聚物者,目前爲止,也有許多針對其作爲光阻材料 -5- (2) 200424771 之用途上作許多硏究。但丙烯酸或甲基丙烯酸衍生物之共 聚物,其主鏈結構上具有高度剛直性,而爲確保其必要之 蝕刻耐性時,需導入作爲酯取代基之金剛烷基等脂環結構 (專利文獻1 :特開平4 — 3 9 6 6 5號公報)。又,經由導 入脂環結構而增加聚合物之撥水性,進而妨礙顯像液之四 甲基銨氫氧化物水溶液進行圓滑的顯影過程,特別是會容 易引起超微細圖案之形狀不佳,或造成圖案崩壞等不良影 響。因此,於將前述高分子化合物作爲基礎樹脂以調製光 阻材料時,即使解像性充足,但仍未能具有充分蝕刻耐 性,或即使具有達容許範圍之蝕刻耐性但仍將因低解像性 而陷入性能不佳之結果。 [專利文獻1] 特開平4 — 3 9 6 6 5號公報 【發明內容】 本發明鑒於前述事情,而提出一種於3 〇 〇 n m以下波 鲁 長,特別是使用ArF等離子雷射光作爲光源之光微影技術 中,兼具有優良蝕刻耐性與解像性之光阻材料用聚合物原 料之單體的在α位上具有氧取代基之含脂環的甲基丙烯酸 酯化合物。 本發明者們,爲達前述目的而經過深入硏究結果,得 知經由後述方法,即可高產率且簡便的製得下述式 (1) 、 (2)與(3)所示之在^位上具有氧取代基之含 脂環的甲基丙烯酸酯化合物,又,使用此在α位上具有氧 -6 - (3) 200424771 取代基之含脂環的甲基丙烯酸酯化合物經聚合所得之高分 子化合物於等離子雷射之曝光波長中具有高度透明性,且 使用其作爲基礎樹脂使用之光阻材料,可得到兼具有優良 蝕刻耐性與解像性等特徵。其中之蝕刻耐性推測應爲本發 明化合物之脂環部分所得之效果。又,有關優良解像性部 分’推測應爲本發明化合物中存在有氧甲基而增加聚合物 主鏈附近之親水性,而得到更圓滑的顯像結果。 因此,本發明提供一種以下所示之在α位上具有氧取 代基之含脂環的甲基丙烯酸酯化合。 [I]、一種下述式(1 )所示之在α位上具有氧取代基 之含脂環的甲基丙烯酸酯化合物, OR1 0人 OR2 (1) (R1爲氫原子或碳數1至之院基’此院基可含有 鹵素原子、羥基、醚鍵結、羰基、羧基、或氰基,R2爲 碳數3至20之具有脂環結構之1價有機基)。 [II]、一種下述式(2 )所示之在α位上具有氧取代基 (4) 200424771 (R1爲氫原子或碳數1至10之烷基,此烷基可含有 鹵素原子、經基、醚鍵結、鑛基、竣基、或氰基,R3爲 碳數4至2 0之具有脂環結構之3級烷基)。 [III]、一種下述式(3)所不之在^位上具有氧取代 基之含脂環的甲基丙烯酸酯化合物, OR1
(3)
(R1爲氫原子或碳數1至ίο之烷基,此烷基可含有 鹵素原子、羥基、醚鍵結、羰基、羧基、或氰基,R4爲 碳數4至2 0之具有內酯結構之有機基)。 以下,將詳細說明本發明之內容。 本發明之在α位甲基上具有氧取代基之含脂環的甲基 丙烯酸酯化合物,例如下述式(1 ) 、 ( 2 )與(3 )所示
者。 OR1 OR1
(1) (2) (3) OR1 y 〇 人 OR2 (式中’ R1爲氫原子或碳數1至1〇之烷基,此烷基 可含有鹵素原子 '羥基、醚鍵結、羰基、羧基、或氰基, R2爲碳數3至20之具有脂環結構之!價有機基,R3爲碳 -8 - (5) 200424771 數4至2 0之具有脂環結構之3級烷基,R4爲碳數4至2 0 之具有內酯結構之有機基)。 R1之碳數1至20之烷基可爲直鏈狀、支鏈狀或環狀 烷基皆可,且可含有鹵素原子、羥基、醚鍵結、羰基、羧 基、或氰基;前述烷基之具體例如,甲基、乙基、丙基、 2 -丙基、丁基、2 — 丁基、異丁基、t 一丁基、戊基、己 基、環己基、癸基、氯甲基、二氯甲基、三氯甲基、三氟 甲基、2—羥基乙基、2 —羥基丙基、1 一乙氧基乙基、2 — φ 四氫吡喃基、甲醯基、乙醯基、甲氧基乙醯基、乙醯氧乙 醯基、氰基甲基、2 -氰基乙基等。 R2之碳數3至2 0之具有脂環結構之1價有機基,例 如環丙基、環丁基、環戊基、環己基、環庚基、二環庚 基、二環辛基、二環壬基、二環癸基、三環癸基、金剛烷 基、四環十二烷基、環己基甲基、二環庚基甲基、異原菠 烷基、盖基、羥基環己基、羥基二環庚基、羥基金剛烷 基,及後述R3、R4中所例示之內容。 φ R3之碳數4至20之具有脂環結構之3級烷基,例如 1—甲基環丙基、1 一甲基環戊基、1—乙基環戊基、1 一甲 基環己基、1 一乙基環己基、1 一環戊基環戊基、1 一環己 基環戊基、1 一甲基環己基、1 一乙基環己基、1—環戊基 環己基、1—環己基環己基、2 —甲基—2-原菠烷基、2-乙基—2 —原菠烷基、8 —甲基—8 —三環[5.2.1.02,6]癸 基、8 —乙基一8 —三環[5.2.1.02,6]癸基、3 —甲基一3 —四 環[4·4.0.12’5.Γ’1()]十二烷基、3 —乙基一3 — 四環 -9- (6) 200424771 [4.4·0.12,5.17,1()]十二烷基、2 —甲基一 2 —金剛烷基、2 — 乙基—2—金剛烷基、1—金剛烷基一甲基乙基、1—甲 基—3 -酮基一 1 一環己基、1—甲基一 1 一 (四氫D夫喃一 2 一基)乙基、5 —羥基一 2 -甲基一 2—金剛烷基、5—羥基 —2 -乙基一 2 —金剛烷基等。 R4之碳數4至2 0之具有內酯結構之有機基,例如丁 內酯基、戊內酯基、1,3 —環己烷碳內酯基、4 一氧雜—5 一酮基三環[5.2.1.〇2,6]癸基、2,6 —原菠烷碳內酯一 3 —基 甲基、2,6 —原疲院碳內酯—5 —基、3 —甲氧基鑛基一 2,6 一原菠烷碳內酯一 5 —基、7 —氧雜一 2,6 —原菠烷基碳內 酯—5 -基等。 可依用途之不同,而對R2、R3、R4作適當之選擇, 以將極性等分子全體之性質調整至最適當之狀態,進而調 整利用本化合物所得之光阻特性。 本發明之酯化合物之具體例如下所示化合物,但並不 僅限定於此。又,於下述式中,Me爲甲基,Ac爲乙醯 基、Et爲乙基。 •10- (7)200424771
-11 - 200424771
本發明之式(1)之在α位甲基上具有氧取代基之含 脂環的甲基丙烯酸酯化合物,例如可依下所示合成法製 得,但本發明並不受此方法所限定。以下將詳細說明其內 -12- (9) 200424771 容。 首先,式(1 )之R1 = 1時,可將依一般方法所製得 之對應丙烯酸酯化合物(4 )依以下1階段步驟合成。本 反應,如下所示般,可將丙烯酸酯化合物之α位之羥基甲 基化反應所得式(4 )所示丙烯酸酯化合物於溶媒中或無 溶媒中,於胺化合物之存在下,與1當量之甲醛等價物進 行反應,而得式(5 )所示α —(羥基甲基)丙烯酸酯化 合物。 ΟΗ
(4) (5) (式中’ R2爲碳數3至2 0之具有脂環結構之1價有 機基)。 上述經基甲基化反應所使用之胺化合物,例如三甲基 胺、三乙基胺、三丁基胺、吡啶、1,4 一二氮雜二環[2.2·2] 辛烷、1,5 -二氮雜二環[4·3〇]5 —壬烯、ι,8 一二氮雜二環 [5· 4·〇] 7 —十〜烯等。胺化合物之使用量,以對原料1莫 耳使用〇 · 〇 〇 1至丨〇莫耳,特別是〇. 至1莫耳爲佳。低 於0.0 01莫耳時,反應會有未能進行之情形,超過莫 耳時’則医I過量使用會有爲能充分發揮效果之情形。 甲醒等價物,例如氣體狀甲醛、嗎啉、對甲醛、 1,3,5 -三I]惡院等。甲醛等價物之使用量,以對原料1莫 耳使用〇. 2至! 〇莫耳甲醛爲佳,又以使用〇. 5至2莫耳 -13- (10) (10)200424771 爲更佳。低於〇. 2莫耳時,因原料之丙烯酸酯化合物大量 殘留,故產率會有大幅降低之情形,超過1 〇莫耳時,則 會產生大量副產物,而會有使產率大幅下降之情形。 進行上述羥基甲基化反應所使用之溶媒,例如可使用 甲苯、己烷、庚烷等烴類;二丁基醚、二乙二醇二乙基 醚、四氫呋喃等醚類;甲醇、乙醇等醇類;二氯甲烷等鹵 化烴類;乙酸乙酯等酯類;丙酮、2 — 丁酮等同類;乙腈 等腈類;二甲基亞硕、N,N’ 一二甲基甲醯胺、N,N’ —二甲 基乙醯胺等非質子性極性溶媒類;水等所選出之單獨或2 種以上混合所得者。 上述羥基甲基化反應之反應溫度,以—20 °C至10(TC 左右爲佳’其可配合原料及反應條件適當地選擇反應溫 度,例如將胺化合物之1,4 一二氮雜雙環[2 · 2.2 ]辛烷,於 使用甲醛等價物之甲醛於水中進行反應時,以0°C至60 °C 爲最佳。反應溫度越局時副反應越顯著,又,經由蒸發會 造成甲醛之流失,故於現實速度下進行反應時,以越低溫 下進行反應時,可達到高產率效果,而爲較佳。 上述加成反應之反應時間,爲配合產率之提昇,以使 用薄層滲透分析法、氣體滲透分析法等追蹤反應進行狀態 而決定,一般爲1至2 0 0小時。 反應結束後,可使用一般常用之水系後處理 (aqueous work — up )而製得標的物(5 )之α —(羥基 甲基)丙烯酸酯化合物。標的物(5 )可再使用再結晶、 色層分析、蒸餾等一般方法進行精製。 -14- (11) (11)200424771 其次,式(1)之R1爲碳數1至10之可含有鹵素原 子、羥基、醚鍵結、羰基、羧基、或氰基之烷基時’相對 於上述反應所得之α - (羥基甲基)丙烯酸酯化合物 (5 ),可使用—般常用方法之院基化或釀基化反應結 果,得標的之化合物(6 )。所得α —(院氧基甲基)或 α —(醯氧基甲基)丙烯酸酯化合物(6)可再使用色層 分析、蒸餾、再結晶等一般方法進行精製。 ΟΗ 1^ 烷基化或醯基化 OR1 y OR2 0 入 OR: (5) ⑹ (式中,R1爲碳數1至10之烷基,此烷基可含有鹵 素原子、羥基、醚鍵結、羰基、羧基、或氰基,R2爲碳 數3至20之具有脂環結構之1價有機基)。 本發明之化合物,極適合作爲光阻材料之基礎聚合物 的聚合物單體。 使用本發明之α位甲基上具有氧取代基之含脂環的甲 基丙烯酸酯化合物作爲單體使用,以製造聚合物時,一般 而言,爲將單體與溶媒混合後,再添加觸媒或聚合聚合 劑’依各種情形之不同,可於加熱或冷卻中方式進行聚合 反應。此聚合方法可依一般常用方法進行。上述聚合之 例’如自由基聚合、陽離子聚合、陰離子聚合等,必要時 -15· (12) (12)200424771 可再與其他1種或1種以上具有聚合性雙鍵之化合物進行 共聚。 上述聚合所得之聚合物作爲基礎聚合物之光阻材料, 一般可使用於其中加入有機溶劑與酸產生劑後進行調製之 方法。又必要時,可再添加交聯劑、鹼性化合物、溶解阻 礙劑等。前述光阻材料之調製,可依一般常用方法進行。 【實施方式】 以下’將使用實施例與參考例對本發明作更具體之說 明,但本發明並不受此實施例所限定。又,下記式中, Me爲甲基,Ac爲乙醯基。 [實施例1 ] α -(羥基甲基)丙烯酸(2,6 -原菠烷碳 內酯一 5—基)之合成
將丙烯酸(2,6—原菠烷碳內酯一5—基)118§、1,4 一二氮雜二環[2_2.2]辛烷31.8g、37%嗎啉50.6g、四氫呋 喃2 5 0g混合後攪拌20小時。反應液使用鹽酸中和後’進 行一般常用之水系後處理(aqueous work — up )。將溶媒 減壓餾除後,以矽膠柱狀滲透分析儀進行精製’得式 -16- (13) 200424771 (7 )所示α — (羥基甲基)丙烯酸(2,6 -原菠烷碳內酯 —5 —基)81.0g (產率 60% )。 (IR、NMR分析結果) I R (薄膜): v = 3 4 7 9, 2 9 8 0, 2 8 8 3, 1 7 8 2, 1 7 1 6, 1 6 3 7, 1 4 5 2 ,1396,1342, 1 3 0 8, 1 2 6 7, 1180, 1 1 6 3, 1 1 5 1,
1057,1 0 4 3, 1 0 2 8, 1 0 1 2, 998, 9 5 4 cm-1 ^-NMR (6 0 0MHz i n CDC 1 3): (5 = 1. 58 (1H, br. d, J = 1 1. 6Hz) , 1. 69 (1H, b r. d, J = 1 3. 8Hz) , 1. 9 3 (1H, br. d, J = 1 1. 6Hz) , 1 • 97 (1H, d d d, J = 1 3. 7, 1 1. 3, 4. 5Hz) , 2. 2 4(1 H, br. s) , 2. 4 6 - 2. 5 2 (2H, m) , 3. 1 4 (1H, m) , 4
• 2 3 (2H, s) , 4. 4 9 (1H, d, J =4. 8Hz) , 4. 5 8 (1H ,m) , 5. 81 (1H, d, J = l. 0Hz) , 6. 15 (1H, d, J = 1 .0Hz).
[實施例2]a —(甲氧基甲氧基甲基)丙烯酸(2,6 — 原菠烷碳內酯一 5—基)之合成
將實施例1所得之α — (經基甲基)丙條酸(2,6 - 原菠烷碳內酯一5 —基)23.8g、三乙基胺15.2g、乙腈 2 00g之混合物,於攪拌中加入氯甲基甲基醚9.7g。攪拌 2 0小時後,加入水使反應停止。隨後於進行一般常用之 水系後處理(a q u e 〇 u s w 〇 r k — u p )後,將溶媒減壓I留除’ -17- (14) 200424771 以矽膠柱狀滲透分析儀進行精製,得式(8 )所示α -(甲氧基甲氧基甲基)丙_酸(2,6-原疲院碳內酯一 5— 基)22.0g (產率 78% )。 [實施例3] α — (羥基甲基)丙烯酸(1 一乙基環戊 基)之合成
除將丙烯酸(2,6 -原菠烷碳內酯一 5 —基)以丙烯酸 (1 一乙基環戊基)9 5 · 4 g替代外,其他皆依實施例1相同 方法進行反應,並以減壓蒸餾精製(沸點:8 2 °C /30Pa),得式(9)所示α —(羥基甲基)丙烯酸(1 — 乙基環戊基)(產率68% )。 (IR、NMR分析結果) I R (薄膜): ν = 3 4 6 6, 2 9 7 0, 2 8 7 7, 1 7 0 7, 1 6 3 5, 1 4 6 2, 1 3 9 2 ,1 3 3 6, 1 2 7 3, 1 2 2 7, 1 1 6 3, 1113, 1 0 5 5, 9 4 9 cm -1 ^-NMR (6 0 0MHz in CDC 1 3):
(5 = 0. 8 6 (3H, m) , 1. 56 - 1. 7 6 (6H, m) , 2. 0 1 (2H ,m) , 2. 1 4 (2H, m) , 2. 6 1 (1H, b r) , 4. 2 8 (2H, s ),5. 7 4 (1H, m) , 6. 1 6 (1H, m). -18- (15) 200424771 [實施例4] α - (甲氧基甲基)丙烯酸(1 一乙基環戊 基)之合成
將α — (羥基甲基)丙烯酸(1 一乙基環戊基) 19.8g、碘化甲酯 40.0g、氧化銀(I) 30.0g、Ν,Ν’ 一二甲 基甲醯胺50g之混合物於50 °C下攪拌30小時。將固體成 分以過濾方式去除後,進行一般常用之水系後處理 (a q u e 〇 u s w 〇 r k — u p )。將溶媒減壓態除後,以減壓蒸態 方式精製(沸點:5 3 °C /16 P a ),得式(10 )所示α — (甲氧基甲基)丙烯酸(1_乙基環戊基)(產率 62 (IR、NMR分析結果) I R (薄膜): ν = 2 9 7 0, 1939, 2877, 2 8 3 5, 2 8 1 6,1 7 2 0, 1 7 0 9 ,1 6 3 7, 1 4 6 0, 1 3 9 6, 1 3 2 3,1 2 7 7, 1 1 6 1, 1 1 1 3, 9 4 8 c m一1 ^-NMR (6 0 0MHz in CDC 1 3): 5 = 0. 8 6 (3 H, t , J = 7. 6 H z) , 1. 58 — 1。75 (6H,m) ,2. 0 0 (2H, q, J = 7. 6Hz) , 2. 1 4 (2 H, m) , 3. 3 8 ( 3H, s) , 4. 09 (2H, d d) , 5. 76 (1H, d t) , 6. 20.(1 H5 d t). -19- (16) 200424771 [實施例 5 ] α — (羥基甲基)丙烯酸(8 -三環 [5.2.1.02’6]癸基)之合成
Ο ί 。伽 (11) 除將丙烯酸(2,6 —原菠烷碳內酯一 5 —基)以丙烯酸 (8 -三環[5.2.1.02,6]癸基)117g替代外,其他皆依實施 例1相同方法進行反應,得式(1 1 )所示α — (羥基甲 基)丙烯酸(8 —三環[5·2.1 ·02’6]癸基)(產率60% ) (IR、NMR分析結果) I R (薄膜):. ν == 3 4 6 7, 2 9 4 9, 2 8 6 2, 1 7 0 9, 1 6 3 5, 1 4 7 5, 1 4 4 8 ,1 3 9 6,1 3 0 9,1 2 6 7,1 2 2 3,1 1 5 7, 1 1 3 4, 1 0 5 5, 1 0 2 2, 9 8 4, 9 4 7 cm'1
^-NMR (6 0 0MHz in C D C 1 3): δ = 0. 8 8 - 1. 0 0 (2H, m) , 1. 22 (1 H, d t t , J = 1 2. 4 ,12.4, 6. 9Hz) , 1. 29 (1H, m) , 1. 36 (1H, m) , 1 • 45 (1H, ddd, J = 1 3. 4, 4. 5,2. 1Hz) , 1. 63 - 1. 7 2 (2H, m) , 1. 7 3 - 1. 9 0 (4H, m) , 2. 0 4 (1 H, d, J =4. 5Hz) , 2. 11 (1H, . s) , 2. 40 (1H, b r. s) , 4· 3 0 (2H, s) , 4. 6 5 (1H, J = 7. 2Hz) , 5. 78 (1H, m), 6. 19 (1H, d, J = 1. 0Hz).
[實施例6] α — (乙醯氧基甲基)丙烯酸(8 —三環 [5.2.1.02’6]癸基)之合成 -20- (17)200424771 一 O Ac TXK&gt; (12) 於α — (羥基甲基)丙烯酸(8 —三環[5.2.1.02’6]癸 基)2 3 · 6 g、吡啶1 5 · 8 g之混合物中,加入乙酸酐1 5 · 3 g 後,攪拌2 0小時。加入水使反應停止,隨後於進行一般
常用之水系後處理(aqueous work— up)後’將溶媒減壓
餾除,並以減壓蒸餾方式進行精製(沸點:1 2 3 °C /13Pa),得式(12)所示α-(乙醯氧基甲基)丙烯酸 (8 -三環[5.2.1.02,6]癸基)23.7g (產率 90% )。 (I R、NMR分析結果) I R (薄膜): v = 2 9 5 1, 2 8 6 4, 1 7 4 9, 1 7 2 2, 1 6 4 3, 1 4 7 5, 1 4 4 8 ,1 4 0 0, 1 3 6 9, 1 3 1 1, 1 2 7 1, 1 2 2 8, 1 1 8 4, 1 1 6 7,
1 1 5 7, 1134, 1047,982,9 5 3 cm-1 ^-NMR (6 0 0MHz in CDC 1 3): 0· 8 8 —0. 9 9 (2H, m) , 1. 2 1 (1H, d t t ,J ==1 2. 4 2. 4, 6. 5Hz) , 1. 2 8 (1H, d t, J = 1 0. 3, 1 . 2Hz 1 · 3 5 (1H, b r. d, J = 1 0. 3Hz),1. 4 4 (1H, d d d ,J = 1 3. 4, 4· 5, 2. 1Hz) , 1. 62 - 1· 7 0 (2 Η, m) ? 1 .7 2~1. 8 9 (4Η, m) , 2· 03 (1 Η, d, J =4. 5Ηζ) , 2. 0 8 (3Η, s),2. 11 (1 Η, b r. s) , 4. 6 5 (1Η, b r · d, J = 6. 9Hz) , 4. 77 (2H, b r. s) , 5. 7 8 (1H, m) , 6. 3 1 (1H, d, J = l. 0Hz).
[實施例7] α -(羥基甲基)丙烯酸(1 一金剛烷基) 之合成 -21 - (18) 200424771
除將丙烯酸(2,6 -原菠烷碳內酯一 5 -基)以丙烯酸 (1 一金剛烷基)Η 7g替代外,其他皆依實施例1相同方 法進行反應,得式(1 3 )所示α — (羥基甲基)丙烯酸 鲁 (1 —金剛烷基)(產率60% )。 [參考例1] 本發明之α —(氧代甲基)丙烯酸酯化合物之聚合物 合成例
〇八 〇 (y&quot;o
(14) 將實施例7所製得之α -(羥基甲基)丙烯酸(1 一 金剛烷基)7 · 1 g、甲基丙烯酸(2 —乙基一 2 -金剛烷基) 8.7g、甲基丙烯酸(2 -酮基四氫呋喃一 3 -基)6.0g、 N,N’-偶氮雙異丁腈6〇mg、四氫呋喃8〇ml之混合物於氮 氣環境、6 0 °C下加熱2 0小時。放冷後,將反應混合物滴 -22- (19) 200424771 入劇烈攪拌之2公升甲醇中,將析出之沉澱物過濾分離。 所得固體以甲醇洗淨後,經減壓乾燥,得式(1 4 )所示之 標的聚合物16.4g (產率 75% ) 。1H— NMR光譜之積分 比求得之共聚比約爲3 0 : 3 5 : 3 5。使用GP C分析所得重 量平均分子量以聚苯乙烯換算時爲 9,800,分散度 (Mw/Mn )爲 1 · 8 0。 [參考例2]使用聚合物之光阻圖案之形成例 φ 使用參考例1所得聚合物,依以下組成內容調製光阻 材料。 (A )基礎聚合物(參考例1所得聚合物) 8 0重 量份 (B )酸產生劑之三氟甲烷磺酸三苯基鱗 1 . 〇重量 份 (C )作爲溶劑之丙二醇單甲基醚乙酸鹽 480重量 份 · (D )鹼性化合物之三丁基胺 0 · 0 8重量份。 將此光阻材料使用孔徑0.2 // m鐵氟隆(商標)過濾 器過濾後,將其迴轉塗佈於以9(TC、40秒間噴以六甲基 二矽胺烷之矽晶圓上,並進行120t、90秒間之熱處理, 形成厚度5 00nm之光阻膜。隨後,經使用 ArF等離子雷 射進行曝光,並進行120 °C、90秒間之熱處理後,冷卻至 2 3 °C,再使用2 · 3 8 %四甲基銨氫氧化物水溶液,於2 3 °C 下進行6 0秒間之浸漬顯像結果,得知形成1 : 1之空間與 -23- (20) 200424771 電路圖案。對經顯像後之晶圓,使用上空SEM觀察結 果’確認其至〇.13//m爲止之圖案並未發現圖案崩解或產 生剝離等現象。基此,可確認本發明之光阻材料具有優異 之解像性。 [參考例3 ]聚合物透明性之評估 將參考例1所得之聚合物1 . 0 g溶解於環己酮6.0 g 中,使用孔徑〇. 2 μ m鐵氟隆(商標)過濾器過濾後,將 馨 所得溶液迴轉塗佈於石英基板上,並進行90 °C、60秒間 之熱處理,形成厚度5 00nm之薄膜。對此薄膜,使用紫 外線分光光度計測定其於1 9 3 nm之透過率結果,得知膜 厚5 0 Onm下具有76%之透過率。其結果可確認本發明之 聚合物於作爲等離子雷射用光阻基礎聚合物使用時具有優 異之透明性。 [參考例4] · 將參考例1所得之聚合物2.0 g溶解於環己酮1 〇 g 中,使用孔徑〇·2 # m鐵氟隆(商標)過濾器過濾後,將 所得溶液迴轉塗佈於矽晶圓上,並進行90 °C、60秒間之 熱處理,形成厚度7 0 0 nm之薄膜。對此薄膜,使用反應 性離子蝕刻裝置,於Power 100W '壓力5Pa、氣體流量 30ml/min之條件下,測定對CF4之蝕刻速度。其結果, 得知蝕刻速度(將酚醛淸漆光阻作爲1 ·〇〇所得規格化數 値)爲1 · 1 〇。又,爲進行比較,同時對作爲KrF光阻基 -24- (21) 200424771 之基礎樹脂之聚(p -羥基苯乙烯)進行測定結果,得知 其蝕刻速度爲1 . 2 0。其結果得知,本發明之聚合物對C F 4 之蝕刻速度較爲緩慢,而確認出本發明具有顯著乾蝕刻耐 性。 產業上之可利用性 本發明之在α位甲基上具有氧取代基之含脂環的甲基 丙烯酸酯化合物所製得之聚合物,具有優良之透明性,特 馨 別是於等離子曝光波長下具有優良透明性與乾蝕刻耐性, 又’使用本發明之在α位甲基上具有氧取代基之含脂環的 甲基丙烯酸酯化合物所製得之聚合物所調製之光阻材料, 可容易感應高能量線、具有優良解像性,且可使顯像步驟 圓滑進行’故容易形成微細之圖案,而極適合作爲製造超 L SI用之微細圖案形成材料。因此,本發明之在^位甲基 上具有氧取代基之含脂環的甲基丙烯酸酯化合物,於作爲 光阻材料用基礎聚合物用單體時,可達到兼具光阻解像性 春 與蝕刻耐性等優點。 -25-

Claims (1)

  1. (1) 200424771 拾、申請專利範圍 1 · 一種下述式(1)所示之在^位上具有氧取代基之 含脂環的甲基丙烯酸酯化合物, O^OR2 (式中,R1爲氫原子或碳數1至10之烷基,此烷基 可含有鹵素原子、羥基、醚鍵結、羰基、羧基、或氰基, R2爲碳數3至20之具有脂環結構之1價有機基)。 2. —種下述式(2)所示之在α位上具有氧取代基之 含脂環的甲基丙烯酸酯化合物,
    (式中,R1爲氫原子或碳數1至10之烷基’此烷基 可含有鹵素原子、羥基、醚鍵結、羰基、羧基、或氰基, R3爲碳數4至2 0之具有脂環結構之3級烷基)° 3. —種下述式(3)所示之在^位上具有氧取代基之 含脂環的甲基丙烯酸酯化合物, -26- (2) (2)200424771 OR1
    (3) (R1爲氫原子或碳數1至10之烷基,此烷基可含有 鹵素原子、羥基、醚鍵結、羰基、羧基、或氰基,R4爲 碳數4至20之具有內酯結構之有機基)。
    -27- 200424771 柒、(一)、本案指定代表圖為:無 (二)、本代表圖之元件代表符號簡單說明: Μ j\ w
    捌、本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵的化學 式: OR1
    -4-
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