KR970023373A - 동기식 반도체 메모리 - Google Patents

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KR970023373A
KR970023373A KR1019960047845A KR19960047845A KR970023373A KR 970023373 A KR970023373 A KR 970023373A KR 1019960047845 A KR1019960047845 A KR 1019960047845A KR 19960047845 A KR19960047845 A KR 19960047845A KR 970023373 A KR970023373 A KR 970023373A
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스가와라 미치노리
가와구치 마나부
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가네꼬 히사시
닛폰 덴키 가부시키가이샤
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Abstract

특정 데이터를 메모리하는 메모리 섹션(MS)을 갖는 동기반도체 메모리에서 단일 출력 래치 회로(32)는 메모리 섹션의 출력측에 접속되며 특정 데이터가 출력 래치 회로를 통과하는지의 여부를 펄스 신호를 이용하므로써 제어한다. 펄스 신호는 펄스 발생기(31)에서 발생되어 장치(21 및 22)를 생기게 하는 내부 클럭 신호에서 발생되는 내부 클럭 신호와 동기한다. 펄스 신호는 메모리 섹션이 특정 데이터를 출력할 때 내부 클럭 신호와 무관하고 타이밍에 종속하여 결정되는 펄스 폭을 갖는다.

Description

동기식 반도체 메모리
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명의 실시예에 따른 동기식 반도체 메모리를 도시하는 블록도,
제5도는 제4도에 도시된 동기식 반도체 메모리의 동작을 설명하기 위한 타이밍 차트.

Claims (6)

  1. 특정의 더이터를 기억하는 메모리 센션, 상기 메모리 섹션에 상기 특정의 데이터를 입력시키는 입력 센션, 상기 메모리 섹션으로부터 상기 특정의 데이터를 출력시키는 출력 센서, 및 외부 클럭신호에 응답해서 상기 입력 섹션과 상기 출력 섹션 각각의 동작을 동기적으로 제어하는 제어수단을 구비하는 동기식 반도체 메모리에 있어서, 상기 제어수단은 상기 외부 클럭신호에 응답해서 상기 외부 클럭신호로부터 지연된 내부 클럭신호를 생성하는 내부 클럭신호 생성수단; 상기 내부 클럭신호 생성수단에 접속되어 있으며 상기 내부 클럭신호에 응답해서 상기 입력 섹션의 동작을 제어하는데 사용되는 입력 섹션 제어신호를 생성하는 제어신호 생성수단; 및 상기 내부 클럭신호 생성수단에 접속되어 있으며 상기 내부 클럭신호에 응답해서 상기 내부 클럭신호에 동기하는 펄스신호를 생성하며, 이 펄스신호는 상기 내부 클럭신호와는 독립적이고 상기 메모리 섹션이 상기 특정의 데이터를 출력할 때의 시간에 따라 결정되는 펄스폭을 갖는, 펄스신호 생성수단을 포함하며, 상기 출력 섹션은 상기 특정의 데이타가 단일 출력 래치회로를 통해 통과되는 안되는 간에 상기 펄스신호의 사용을 제어하기 위해 상기 메모리 섹션과 상기 펄스신호 생성수단에 접속된 상기 단일 출력 래치회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리.
  2. 제1항에 있어서, 상기 펄스신호는 간헐적 펄스를 포함하며 이 간헐적 펄스 각각은 상기 외부 클럭신호의 천이 시간으로부터 특별한 시간 간격만큼 지연되는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리.
  3. 제2항에 있어서, 상기 펄스폭과 상기 특정의 시간 간격은 상기 메모리 섹션이 상기 펄스를 중 하나가 출현하는 동안 상기 특정의 데이터를 새로이 출력하도록 결정되는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리.
  4. 제1항에 있어서, 상기 특정의 데이터는 상기 단일 출력 래치 회로를 통해 로칼 출력 데이터로서 통과되며, 상기 출력 섹션은 상기 출력 래치 회로에 접속되어 상기 로칼 출력 데이터를 버퍼된 출력 데이터로 처리하는 출력 버퍼 회로; 및 상기 출력 버퍼에 접속되어 상기 버퍼된 출력 데이터를 출력하는 데이터 출력 단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리.
  5. 제1항에 있어서, 상기 입력 센션은 원래의 데이터를 구비하는 데이터 입력 단자; 상기 데이터 입력 단자에 접속되어 있으며, 상기 내부 클럭신호에 동기하도록 상기 원래의 데이터로부터 지연되는 버퍼된 입력 데이터로 상기 원래의 데이터를 처리하는 입력 버퍼 회로; 상기 입력 버퍼회로에 접속되어 있으며, 상기 버퍼된 입력 데이터가 상기 제1입력 래치 회로를 통해 로칼 입력 데이터로서 통과되는 안되든 간에 상기 입력 섹션 제어신호에 따라 제1입력 제어신호의 사용에 의해 제어되는 제1입력 래치회로; 및 상기 제1입력 래치회로에 접속되어 있으며, 상기 로칼 입력 데이터가 상기 제2입력 래치 회로를 통해 상기 특정의 데이터로서 통과되는 안되든간에 상기 입력 센션 제어신호에 따라 제2입력 제어신호의 사용에 의해 제어되는 제2입력 래치회로를 포함하며, 상기 제어신호 생성수단은 상기 내부 클럭신호 생성수단과 상기 제1입력 래치회로에 접속되어 있으며 상기 제1이벽 제어신호에 따라 상기 내부 클럭신호를 상기 제1입력 래치회로에 공급하는 공급수단; 및 상기 내부 클럭신호 생성수단과 상기 제2입력 래치회로에 접속되어 있으며 상기 제2입력 제어신호를 생성하도록 상기 내부 클럭신호의 극성을 반전시키는 반전수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리.
  6. 제1항에 있어서, 상기 내부 클럭신호 생성수단은 상기 외부 클럭신호를 공급받는 클럭신호 입력 단자; 및 상기 클럭신호 입력단자에 접속되어 있으며 상기 외부 클럭신호를 상기 외부 클럭신호로부터 지연되는 상기 내부 클럭신호로 처리하는 클럭 버퍼회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 동기식 반도체 메모리.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960047845A 1995-10-20 1996-10-21 동기식 반도체 메모리 KR100230120B1 (ko)

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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100225947B1 (ko) * 1996-06-27 1999-10-15 김영환 라이트 리커버리 보장 회로
JP2988392B2 (ja) * 1996-08-09 1999-12-13 日本電気株式会社 半導体メモリ集積回路
JP4090088B2 (ja) * 1996-09-17 2008-05-28 富士通株式会社 半導体装置システム及び半導体装置
JPH10228773A (ja) * 1997-02-14 1998-08-25 Hitachi Ltd ダイナミック型ram
JP3825862B2 (ja) * 1997-02-27 2006-09-27 株式会社ルネサステクノロジ 同期型ダイナミック型半導体記憶装置
US5933369A (en) * 1997-02-28 1999-08-03 Xilinx, Inc. RAM with synchronous write port using dynamic latches
KR100244456B1 (ko) * 1997-03-22 2000-02-01 김영환 데이터 출력 버퍼를 위한 클럭 조절 장치
KR100265591B1 (ko) * 1997-05-19 2000-11-01 김영환 클럭입력버퍼를분리시킨반도체메모리장치
KR100496785B1 (ko) * 1997-07-24 2005-09-02 삼성전자주식회사 웨이브 파이브 라인의 데이터 구조를 갖는 동기형 반도체 메모리 장치
US6185664B1 (en) * 1997-11-17 2001-02-06 Micron Technology, Inc. Method for providing additional latency for synchronously accessed memory
JP2000076853A (ja) * 1998-06-17 2000-03-14 Mitsubishi Electric Corp 同期型半導体記憶装置
US6629274B1 (en) * 1999-12-21 2003-09-30 Intel Corporation Method and apparatus to structurally detect random defects that impact AC I/O timings in an input/output buffer
US6163502A (en) * 1999-12-21 2000-12-19 Advanced Micro Devices, Inc. Clocking to support interface of memory controller to external SRAM
KR100608355B1 (ko) 2004-03-25 2006-08-08 주식회사 하이닉스반도체 메모리 장치의 동작 주파수 변동에 따른 내부 제어 신호의인에이블 구간을 제어하는 장치와 그 방법
US7602906B2 (en) * 2005-08-25 2009-10-13 Microsoft Corporation Cipher for disk encryption
US7577029B2 (en) * 2007-05-04 2009-08-18 Mosaid Technologies Incorporated Multi-level cell access buffer with dual function
JP2007294108A (ja) * 2007-08-10 2007-11-08 Ricoh Co Ltd 半導体集積回路への入力信号の制御方法
KR101103066B1 (ko) * 2010-02-26 2012-01-06 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 어드레스 지연 회로
US8427899B2 (en) * 2010-10-29 2013-04-23 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Self-adaptive sensing design

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR940008295B1 (ko) * 1989-08-28 1994-09-10 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 반도체메모리
JP2917314B2 (ja) 1989-10-06 1999-07-12 日本電気株式会社 同期式半導体記憶装置
JP2830594B2 (ja) * 1992-03-26 1998-12-02 日本電気株式会社 半導体メモリ装置
KR960004567B1 (ko) * 1994-02-04 1996-04-09 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 데이타 출력 버퍼
JP3177094B2 (ja) * 1994-05-31 2001-06-18 富士通株式会社 半導体記憶装置
JP3157681B2 (ja) * 1994-06-27 2001-04-16 日本電気株式会社 論理データ入力ラッチ回路
JP3013714B2 (ja) * 1994-09-28 2000-02-28 日本電気株式会社 半導体記憶装置
JP2697633B2 (ja) * 1994-09-30 1998-01-14 日本電気株式会社 同期型半導体記憶装置

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DE69618739D1 (de) 2002-03-14

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