KR970017597A - 가변 출력 임피던스를 구비한 버퍼 회로 - Google Patents

가변 출력 임피던스를 구비한 버퍼 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR970017597A
KR970017597A KR1019960037788A KR19960037788A KR970017597A KR 970017597 A KR970017597 A KR 970017597A KR 1019960037788 A KR1019960037788 A KR 1019960037788A KR 19960037788 A KR19960037788 A KR 19960037788A KR 970017597 A KR970017597 A KR 970017597A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
output
terminal
current electrode
digital code
pull
Prior art date
Application number
KR1019960037788A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100498789B1 (ko
Inventor
파르항 알리레자
노글 스콧 죠지
Original Assignee
빈센트 비. 인그라시아
모토로라 인코포레이티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=24083917&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=KR970017597(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by 빈센트 비. 인그라시아, 모토로라 인코포레이티드 filed Critical 빈센트 비. 인그라시아
Publication of KR970017597A publication Critical patent/KR970017597A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100498789B1 publication Critical patent/KR100498789B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0005—Modifications of input or output impedance

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Networks Using Active Elements (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

출력 버퍼 회로(20)는 조정가능한 출력 임피던스를 갖는다. 복수의 요구된 출력 임피던스의 배수 저항을 갖는 외부 저항기(32)는 출력 버퍼 회로(20)에 연결된다. 저항기(32) 양단의 전압은 아날로그-디지탈(A/D)변환기(22)를 이용해서 디지탈 코드로 변환된다. A/D변환기(24)로부터의 디지털 코드는 외부 저항기(32)의 저항과 매치시키기 위해서 2진 가중 트랜지스터 어레이(45)의 저항을 조정하는데 사용된다. 다수의 2진 가중 출력 트랜지스터(153,154,155)는 출력 버퍼 회로(20)에 의해 구동되는 로드(load)의 특성 임피던스를 매치시키도록 출력 임피던스를 조절하기 위해 디지탈 코드에 반응해서 선택된다. 출력 임피던스는 외부 저항기(32)의 저항을 변화시킴으로써 쉽게 조정될 수 있고, 그 결과 출력 버퍼 회로가 다양한 로드 임피던스를 구동할 수 있게 한다.

Description

가변 출력 임피던스를 구비한 버퍼 회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 일 실시예에 따른 가변 출력 임피던스를 갖는 출력 버퍼 회로를 부분적인 블럭도 형태, 부분적인 개략도 형태 및 부분적인 논리도 형태로 도시하는 도.

Claims (3)

  1. 선정된 입력 전압을 수신하기 위한 입력 단자, 및 선정된 입력 전압의 전압 레벨에 해당하는 디지탈 코드를 제공하기 위한 다수의 출력 단자를 구비한 아날로그-디지탈 변환기; 및 각각이 전원 공급 전압 단자에 연결된 제1의 전류 전극과, 디지탈 코드의 해당 비트 선정된 논리 상태에 반응해서 데이타 신호를 수신하기 위해 선택적으로 연결된 제어 전극, 및 출력 신호를 제공하기 위한 출력 단자에 연결 제2의 전류 전극을 구비하는 다수의 2진 가중 출력 트랜지스터를 구비한 출력 가등기 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 버퍼 회로.
  2. 버퍼 회로의 입력 단자에 연결된 저항 소자와; 전원 공급 전압 단자에 연결된 제1의 전류 전극과, 제어 전극, 및 버퍼 회로의 입력 단자에 연결된 제2의 전류 전극을 구비하는 제1의 트랜지스터와; 저항 소자의 제1의 단자에 연결된 제1의 입력 단자와, 기준 전압을 수신하기 위한 제2의 입력 단자, 및 제1의 트랜지스터의 제어 전극에 연결된 출력 단자를 구비하는 피드백 증폭기와; 전원 공급 전압 단자에 연결된 제1의 전류 전극과, 피드백 증폭기의 출력 단자에 연결된 제어 전극, 및 제2의 전류 전극을 구비하는 제2의 트랜지스터와; 입력 전압을 수신하기 위한 제2의 트랜지스터의 제2의 전류 전극에 연결된 입력 단자, 및 입력 전압의 전압 레벨에 해당하는 디지탈 코드를 제공하기 위한 다수의 출력 단자를 구비하는 아날로그-디지탈 변환기; 및 각각이 전원 공급 전압 단자에 연결된 제1의 전류 전극과, 디지탈 코드의 해당 비트의 선정된 논리 상태에 반응해서 데이타 신호를 수신하기 위해 선택적으로 연결된 제어 전극, 및 출력 신호를 제공하기 위해 출력 구동기 회로의 출력 단자에 연결된 제2의 전류 전극을 구비하는 다수의 2진 가중 트랜지스터를 구비한 구동기 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 가변 출력 임피던스를 구비한 버퍼 회로.
  3. 제1의 선정된 입력 전압을 수신하기 위한 입력 단자, 및 제1의 선정된 입력 전압의 전압 레벨에 해당하는 풀-업 디지탈 코드를 제공하기 위한 다수의 출력 단자를 구비한 풀-업 아날로그-디지탈 변환기와; 제2의 선정된 입력 전압을 수신하기 위한 입력 단자, 및 제2의 선정된 입력 전압의 전압 레벨에 해당하는 풀-다운 디지탈 코드를 제공하기 위한 다수의 출력 단자를 구비한 풀-다운 아날로그-디지탈 변환기; 및 각각이 제1의 전원 공급 전압 단자에 연결된 제1의 전류 전극과, 풀-업 디지탈 코드의 해당 비트의 선정된 논리 상태에 반응해서 제1의 데이타 신호를 수신하기 위해 선택적으로 연결된 제어 전극, 및 출력 신호를 풀링업(pulling up)하기 위한 출력 단자에 연결된 제2의 전류 전극을 구비한 다수의 2진 가중 풀-업 트랜지스터; 및 각각이 제2의 전원 공급 전압 단자에 연결된 제1의 전류 전극과, 풀-다운 디지탈 코드의 해당 비트의 선정된 논리 상태에 반응해서 제2의 데이타 신호를 수신하기 위해 선택적으로 연결된 제어 전극, 및 출력 신호를 풀링 다운(pulling down)하기 위한 출력 단자에 연결된 제2의 전류 전극을 구비한 다수의 2진 가중 풀-다운 트랜지스터를 포함하는 출력 구동기 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 가변 출력 임피던스를 구비한 버퍼 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960037788A 1995-09-05 1996-09-02 가변출력임피던스를갖는버퍼회로 KR100498789B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US523,165 1990-05-14
US08/523,165 US5606275A (en) 1995-09-05 1995-09-05 Buffer circuit having variable output impedance

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970017597A true KR970017597A (ko) 1997-04-30
KR100498789B1 KR100498789B1 (ko) 2005-10-04

Family

ID=24083917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960037788A KR100498789B1 (ko) 1995-09-05 1996-09-02 가변출력임피던스를갖는버퍼회로

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5606275A (ko)
JP (1) JP3871381B2 (ko)
KR (1) KR100498789B1 (ko)

Families Citing this family (62)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5877632A (en) 1997-04-11 1999-03-02 Xilinx, Inc. FPGA with a plurality of I/O voltage levels
US5958026A (en) * 1997-04-11 1999-09-28 Xilinx, Inc. Input/output buffer supporting multiple I/O standards
KR100318685B1 (ko) * 1997-08-22 2002-02-19 윤종용 프로그래머블임피던스콘트롤회로
US6120551A (en) 1997-09-29 2000-09-19 Xilinx, Inc. Hardwire logic device emulating an FPGA
JPH11186896A (ja) * 1997-12-24 1999-07-09 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体装置
KR100418520B1 (ko) * 1998-05-19 2004-05-20 삼성전자주식회사 프로그래머블 임피던스 출력 드라이버의 코드 선택장치
JP3640800B2 (ja) 1998-05-25 2005-04-20 株式会社東芝 半導体装置
DE19825258B4 (de) * 1998-06-05 2005-11-17 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Ausgangspufferschaltkreis zum Übertragen von digitalen Signalen über eine Übertragungsleitung mit Preemphasis
KR100422441B1 (ko) * 1998-12-08 2004-05-17 삼성전자주식회사 임피던스 조절기능을 갖는 반도체 장치
US6157206A (en) * 1998-12-31 2000-12-05 Intel Corporation On-chip termination
US6674304B1 (en) 1999-02-26 2004-01-06 Motorola Inc. Output buffer circuit and method of operation
US6836151B1 (en) * 1999-03-24 2004-12-28 Altera Corporation I/O cell configuration for multiple I/O standards
US6218863B1 (en) 1999-04-12 2001-04-17 Intel Corporation Dual mode input/output interface circuit
US6194924B1 (en) 1999-04-22 2001-02-27 Agilent Technologies Inc. Multi-function controlled impedance output driver
US6317069B1 (en) 1999-05-06 2001-11-13 Texas Instruments Incorporated Digital-to-analog converter employing binary-weighted transistor array
US6275119B1 (en) * 1999-08-25 2001-08-14 Micron Technology, Inc. Method to find a value within a range using weighted subranges
US6292407B1 (en) 1999-10-12 2001-09-18 Micron Technolgy, Inc. Method and apparatus for circuit variable updates
KR100382718B1 (ko) * 2000-08-21 2003-05-09 삼성전자주식회사 출력전류 보상회로를 구비하는 출력드라이버
JP3670563B2 (ja) * 2000-09-18 2005-07-13 株式会社東芝 半導体装置
KR100391150B1 (ko) * 2000-11-15 2003-07-16 삼성전자주식회사 다단의 상위 코드 선택기를 갖는 반도체 장치의 임피던스콘트롤 출력회로 및 그의 동작방법
US6384621B1 (en) 2001-02-22 2002-05-07 Cypress Semiconductor Corp. Programmable transmission line impedance matching circuit
US6657906B2 (en) * 2001-11-28 2003-12-02 Micron Technology, Inc. Active termination circuit and method for controlling the impedance of external integrated circuit terminals
JP3966016B2 (ja) * 2002-02-26 2007-08-29 株式会社デンソー クランプ回路
US6690211B1 (en) * 2002-11-28 2004-02-10 Jmicron Technology Corp. Impedance matching circuit
JP3885773B2 (ja) * 2003-06-30 2007-02-28 日本電気株式会社 インピーダンス調整回路及び調整方法、インピーダンス調整回路を備える半導体装置
US6924660B2 (en) 2003-09-08 2005-08-02 Rambus Inc. Calibration methods and circuits for optimized on-die termination
US7019553B2 (en) * 2003-12-01 2006-03-28 Micron Technology, Inc. Method and circuit for off chip driver control, and memory device using same
US7057415B2 (en) * 2003-12-10 2006-06-06 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Output buffer compensation control
US6980020B2 (en) * 2003-12-19 2005-12-27 Rambus Inc. Calibration methods and circuits for optimized on-die termination
US7248636B2 (en) * 2004-04-20 2007-07-24 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Systems and methods for adjusting an output driver
US7498846B1 (en) 2004-06-08 2009-03-03 Transmeta Corporation Power efficient multiplexer
KR100610007B1 (ko) * 2004-06-14 2006-08-08 삼성전자주식회사 임피던스 랜지 시프팅 기능을 갖는 반도체 장치의프로그래머블 임피던스 콘트롤 회로 및 그에 따른임피던스 랜지 시프팅 방법
US7888962B1 (en) 2004-07-07 2011-02-15 Cypress Semiconductor Corporation Impedance matching circuit
JP4562175B2 (ja) * 2004-08-31 2010-10-13 ルネサスエレクトロニクス株式会社 終端抵抗調整回路
KR100598017B1 (ko) * 2004-09-20 2006-07-06 삼성전자주식회사 기준 전압 변화에 따른 출력 특성 보정이 가능한 입력버퍼 및 출력 특성 보정이 가능한 입력 버퍼링 방법
KR100699828B1 (ko) * 2004-10-11 2007-03-27 삼성전자주식회사 임피던스 교정 회로와 이를 포함하는 집적 회로 및 이를이용한 출력 드라이버의 임피던스 조절 방법
US7196567B2 (en) * 2004-12-20 2007-03-27 Rambus Inc. Systems and methods for controlling termination resistance values for a plurality of communication channels
US7285976B2 (en) * 2005-01-31 2007-10-23 Freescale Semiconductor, Inc. Integrated circuit with programmable-impedance output buffer and method therefor
US8096994B2 (en) * 2005-02-17 2012-01-17 Kyphon Sarl Percutaneous spinal implants and methods
US7215579B2 (en) * 2005-02-18 2007-05-08 Micron Technology, Inc. System and method for mode register control of data bus operating mode and impedance
US7594149B2 (en) * 2005-02-22 2009-09-22 Integrated Device Technology, Inc. In-situ monitor of process and device parameters in integrated circuits
US7583087B2 (en) * 2005-02-22 2009-09-01 Integrated Device Technology, Inc. In-situ monitor of process and device parameters in integrated circuits
DE102005009593B4 (de) * 2005-02-28 2016-02-04 Infineon Technologies Ag Verfahren und Vorrichtung zum Einstellen der Ausgangsimpedanz einer Treiberstufe
KR100673897B1 (ko) 2005-03-02 2007-01-25 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 출력 드라이버
JP2006270331A (ja) * 2005-03-23 2006-10-05 Nec Corp インピーダンス調整回路及び集積回路装置
US7389194B2 (en) 2005-07-06 2008-06-17 Rambus Inc. Driver calibration methods and circuits
US8036846B1 (en) 2005-10-20 2011-10-11 Cypress Semiconductor Corporation Variable impedance sense architecture and method
JP4916699B2 (ja) * 2005-10-25 2012-04-18 エルピーダメモリ株式会社 Ｚｑキャリブレーション回路及びこれを備えた半導体装置
KR100656470B1 (ko) 2006-02-07 2006-12-11 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리의 드라이버 제어장치 및 방법
JP4978094B2 (ja) * 2006-07-31 2012-07-18 富士通セミコンダクター株式会社 出力バッファ回路
WO2008147932A2 (en) * 2007-05-24 2008-12-04 Bitwave Semiconductor, Incorporated Reconfigurable tunable rf power amplifier
US7551020B2 (en) * 2007-05-31 2009-06-23 Agere Systems Inc. Enhanced output impedance compensation
KR100886644B1 (ko) * 2007-08-29 2009-03-04 주식회사 하이닉스반도체 온 다이 터미네이션 장치의 캘리브래이션 회로
EP2227699B1 (en) * 2007-12-31 2018-03-28 Korea Institute of Geoscience & Mineral Resources Apparatus for automatic control of current electrodes for electrical resistivity survey
JP2009022029A (ja) * 2008-09-01 2009-01-29 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置
JP5642935B2 (ja) * 2009-02-19 2014-12-17 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルＰＳ４ Ｌｕｘｃｏ Ｓ．ａ．ｒ．ｌ． インピーダンス調整回路及びこれを備える半導体装置
US7791367B1 (en) 2009-06-05 2010-09-07 Freescale Semiconductor, Inc. Driver with selectable output impedance
KR101796116B1 (ko) 2010-10-20 2017-11-10 삼성전자 주식회사 반도체 장치, 이를 포함하는 메모리 모듈, 메모리 시스템 및 그 동작방법
US9362912B2 (en) * 2014-03-25 2016-06-07 SK Hynix Inc. Data output circuit of semiconductor apparatus
JP2017216611A (ja) * 2016-06-01 2017-12-07 マイクロン テクノロジー， インク． 半導体装置
EP3373526B1 (en) * 2017-03-07 2020-01-08 Nxp B.V. Transmitter with independently adjustable voltage and impedance
CN114646407B (zh) * 2022-05-20 2022-09-02 深圳众城卓越科技有限公司 电抗器热测试电路及热测试方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56153832A (en) * 1980-04-30 1981-11-28 Nec Corp Digital to analog converter
US5134311A (en) * 1990-06-07 1992-07-28 International Business Machines Corporation Self-adjusting impedance matching driver
JPH04169915A (ja) * 1990-11-02 1992-06-17 Hitachi Ltd 半導体集積回路
US5055847A (en) * 1991-02-19 1991-10-08 Motorola, Inc. Differential sensing current-steering analog-to-digital converter
US5311084A (en) * 1992-06-23 1994-05-10 At&T Bell Laboratories Integrated circuit buffer with controlled rise/fall time
JPH06216751A (ja) * 1993-01-20 1994-08-05 Hitachi Ltd Ｃｍｏｓ集積回路装置とそれを用いた情報処理システム
US5457407A (en) * 1994-07-06 1995-10-10 Sony Electronics Inc. Binary weighted reference circuit for a variable impedance output buffer
KR970005570B1 (ko) * 1994-07-14 1997-04-17 현대전자산업 주식회사 데이타 출력버퍼
KR0124141B1 (ko) * 1994-12-29 1998-10-01 김광호 반도체 메모리장치의 데이타 출력 버퍼회로
KR19990066370A (ko) * 1998-01-24 1999-08-16 구본준 고속 출력버퍼

Also Published As

Publication number Publication date
KR100498789B1 (ko) 2005-10-04
JPH09130229A (ja) 1997-05-16
US5606275A (en) 1997-02-25
JP3871381B2 (ja) 2007-01-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970017597A (ko) 가변 출력 임피던스를 구비한 버퍼 회로
KR100381987B1 (ko) 가변임피던스출력버퍼
KR920008742A (ko) 저항 회로 분기용 다증 데이타 출력을 갖는 집적 회로
KR930001597A (ko) 저항회로망을 갖는 디지탈-아나로그 변환기
JP2000019200A5 (ko)
US5006735A (en) Method and apparatus for compensating a solid state attenuator
KR910020735A (ko) 반도체 기억장치
KR930018850A (ko) 출력 버퍼장치
KR890011223A (ko) 상보적인 전압 보간회로
EP0018739B1 (en) A decoder circuit for a semiconductor memory device
EP0466145A2 (en) D/A converter
KR880008336A (ko) 반도체 집적회로 장치
KR900017317A (ko) 이동식 무선전화기의 rf 전력 제어회로
US5710778A (en) High voltage reference and measurement circuit for verifying a programmable cell
US6072413A (en) Current output type digital-to-analog converter capable of suppressing output current fluctuation using a current mirror
JPH07254830A (ja) 電子ボリューム回路
JP3088393B2 (ja) 抵抗ストリング型ｄ／ａ変換器
KR970701948A (ko) 신호 수신 및 신호 처리 유니트(signal peceiving and signal processing unit)
US7096168B2 (en) Circuit configuration for simulating the input or output load of an analog circuit
KR880005755A (ko) 트랜지스터-트랜지스터 논리회로
JP2680940B2 (ja) Ｄ／ａ変換器
KR950006882A (ko) 프로그램어블 가변저항기 및 조정방법
KR940023013A (ko) 집적회로 신호선 종단장치
KR100356813B1 (ko) 커런트 셀 타입 디지털-아날로그 변환기
US6882183B2 (en) Multi-level output circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
N231 Notification of change of applicant
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130611

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140611

Year of fee payment: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee