KR930022523A - 반도체장치 - Google Patents
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Abstract
반도체장치의 배선구조에 관한 것으로써, 접속구멍의 매립특성향상과 배선재료의 신뢰도의 향상을 도모하기 위해, 반도체기판의 주면상에 피착된 절연막중에 형성된 접속구멍상에 도전막을 퇴적해서 반도체소자간의 도통을 취하는 제1배선층재료의 적어도 하나의 층을 CVD법으로 형성하는 텅스텐막으로 한다. 이 구성에 의해서 CVD법으로 형성한 텅스텐막에 의해 접속구멍을 매립하는 것 또는 피착성의 향상이 가능하게 되어 접속구멍을 고신뢰도로 형성할 수 있다. 또, 텅스텐막을 사용하는 것에 의해 배선의 전자이동내성의 향상에 의한 고신뢰도를 도모할 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예인 바이폴라트랜지스터를 포함하는 반도체장치의 주요부 단면도.
제2도는 본 발명의 제2실시예인 바이폴라트랜지스터를 포함하는 반도체장치의 주요부 단면도.
제3도는 본 발명의 제3실시예인 바이폴라트랜지스터를 포함하는 반도체장치의 주요부 단면도.
제4도는 본 발명의 제4실시예인 바이폴라트랜지스터를 포함하는 반도체장치의 주요부 단면도.
Claims (8)
- 반도체기판의 주면에 마련된 여러개의 바이폴라트랜지스터, 상기 여러개의 바이폴라트랜지스터를 덮도록 상기 반도체기판의 주면상에 마련된 절연막 및 상기 절연막상에 마련된 제1배선층을 가지며, 상기 제1배선층은 상기 절연막중에 마련된 여러개의 접속구멍을 통해서 상기 여러개의 바이폴라트랜지스터에 전기적으로 접속되고, 상기 제1배선층은 적어도 CVD법으로 형성된 제1텅스텐막을 포함하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제1항에 있어서, 상기 제1배선층은 상기 CVD법으로 형성되는 제1텅스텐막외에 시퍼터법으로 형성되는 제2텅스텐막을 포함하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제2항에 있어서, 상기 제1배선층은 상기 제2텅스텐막상에 상기 제1텅스텐막을 적층한 적층배선인 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제1항에 있어서, 또 상기 제1배선층상에 마련된 제2배선층을 포함하며, 상기 제2배선층은 상기 제1배선층보다도 저저항값의 재료로 형성되어 있는 반도체 장치.
- 특허청구의 범위 제4항에 있어서, 상기 제2배선층은 알루미늄막을 포함하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제5항에 있어서, 상기 제2배선층은 상기 알루미늄막의 상하에 형성된 텅스텐막을 또 포함하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제3항에 있어서, 상기 제1배선층은 상기 제1 및 제2텅스텐막으로 이루어지는 적층배선상에 또 알루미늄막을 적층한 적층배선인 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제7항에 있어서, 상기 제1배선층은 상기 알루미늄막상에 마련된 텅스텐막을 또 포함하는 반도체장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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