KR19990068062A - 부동 게이트를 갖는 ｍｏｓ 트랜지스터를 구비한 기준전압 발생회로 - Google Patents

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Abstract

부동 게이트를 갖는 MOS 트랜지스터를 구비한 기준전압 발생회로를 개시한다. 기준전압 발생회로는 전류 미러회로에 의해 거의 동일한 전류가 흐르는 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터를 구비한다. 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터의 문턱 전압간의 차 전압이 기준전압으로서 제 1 트랜지스터의 소스로부터 인가된다. 이 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터는 부동 게이트를 포함하는 구조로서, 그 문턱 전압이 부동 게이트에 주입된 전하량에 의해 임의의 값으로 설정될 수 있다.

Description

부동 게이트를 갖는 ＭＯＳ 트랜지스터를 구비한 기준전압 발생회로 {REFERENCE VOLTAGE GENERATING CIRCUIT WITH MOS TRANSISTORS HAVING A FLOATING GATE}
본 발명은 반도체 집적 장치에 탑재되어 외부 변화에 의한 변동이 거의 없는 기준전압을 발생시키는 기준전압 발생회로에 관한 것이다.
반도체 집적 장치에서는, 외부 전원 전압 또는 외부 온도 변화에 의해 반도체 집적 장치내의 회로 동작이 변동될 수도 있는 위험성이 있다. 특히, 아날로그 회로에서는, 외부 변동에 의해 회로 동작이 불안정하게 되어 오동작이 발생하게 된다. 따라서, 외부 변동에 의한 변동이 거의 없는 기준전압이 필요하게 된다. 외부 변동에 의한 영향을 비교적 받지 않는 기준전압을 발생시키는 기준전압 발생회로의 일 예가 일본 특개평 제 296491/89 호에 개시되어 있다.
도 1 은 이와 같은 종래의 기준전압 발생회로의 회로도를 나타낸 것이다.
이 기준전압 발생회로는 P-채널 MOS 트랜지스터 (11-13), N-채널 MOS 트랜지스터 (21-24, 45 및 46) 및 저항 (1) 으로 구성되어 있다.
P-채널 MOS 트랜지스터 (11) 는 전원 전압 (VCC) 에 접속된 소스 및 기준전압 발생회로 활성화 신호 (BVREF) 에 접속된 게이트를 구비한다. 이 경우, 기준전압 발생회로를 활성화하는 경우에는 기준전압 발생회로 활성화 신호 (BVREF) 가 로우 레벨 (이하 "L" 로 표시한다) 로 되고, 기준전압 발생회로를 비활성화하는 경우에는 기준전압 발생회로 활성화 신호 (BVREF) 가 하이 레벨 (이하 "H" 로 표시한다) 로 된다. 저항 (1) 은 P-채널 MOS 트랜지스터 (11) 의 드레인과 N-채널 MOS 트랜지스터 (23) 의 드레인 사이에 접속된다. N-채널 MOS 트랜지스터 (23) 는 서로 접속된 게이트와 드레인, 및 접지에 접속된 소스를 구비한다. N-채널 MOS 트랜지스터 (21) 는 N-채널 MOS 트랜지스터 (23) 의 게이트에 접속된 게이트를 구비하며, N-채널 MOS 트랜지스터 (23) 와 함께 전류 미러회로를 구성한다.
P-채널 MOS 트랜지스터 (12) 는 서로 접속된 게이트와 드레인, 및 VCC 에 접속된 소스를 구비하며, 그 드레인은 N-채널 MOS 트랜지스터 (21) 의 드레인에 접속된다. P-채널 MOS 트랜지스터 (13) 는 VCC 에 접속된 소스 및 P-채널 MOS 트랜지스터 (12) 의 게이트에 접속된 게이트를 구비하며, P-채널 MOS 트랜지스터 (12) 와 함께 전류 미러회로를 구성한다. N-채널 MOS 트랜지스터 (45) 는 P-채널 MOS 트랜지스터 (13) 의 드레인에 접속된 드레인 및 이 드레인과 함께 접속된 게이트를 구비한다. N-채널 MOS 트랜지스터 (46) 는 P-채널 MOS 트랜지스터 (13) 의 드레인에 접속된 드레인, 이 드레인과 함께 접속된 게이트 및 접지에 접속된 소스를 구비한다. N-채널 MOS 트랜지스터 (45 및 46) 의 문턱 전압은 서로 다른 값으로 설정되며, 각각 VT45및 VT46으로 표시된다. N-채널 MOS 트랜지스터 (22) 는 N-채널 MOS 트랜지스터 (45) 의 소스에 접속된 드레인, 접지에 접속된 소스 및 N-채널 MOS 트랜지스터 (23) 의 게이트에 접속된 게이트를 구비한다. N-채널 MOS 트랜지스터 (22) 의 게이트 폭은 N-채널 MOS 트랜지스터 (21 및 23) 의 게이트 폭의 1/2 로 설정되므로 , 게이트 전압이 동일할 경우에 N-채널 MOS 트랜지스터 (21 및 23) 의 전류값의 1/2 이 그 드레인과 소스 사이에 흐르게 된다.
종래의 기준전압 발생회로에서는, N-채널 MOS 트랜지스터 (45) 의 소스 전압을 기준전압 (VREF) 으로 출력하였다.
N-채널 MOS 트랜지스터 (24) 는 기준전압 발생회로 활성화 신호 (BVREF) 가 인가되는 게이트, 접지된 소스 및 N-채널 MOS 트랜지스터 (23) 의 게이트에 접속된 드레인을 구비한다.
N-채널 MOS 트랜지스터 (24) 는, 기준전압 발생회로의 동작이 정지되어 기준전압 발생회로 활성화 신호 (BVREF) 가 H 로 될 경우에, N-채널 MOS 트랜지스터 (21, 22 및 23) 의 게이트 전압을 L 로 되게 한다.
이하, 종래의 기준전압 발생회로의 동작을 설명한다.
기준전압 발생회로를 동작시키기 위하여, 먼저, 기준전압 발생회로 활성화 신호 (BVREF) 는 P-채널 MOS 트랜지스터 (11) 을 온으로 하고 N-채널 MOS 트랜지스터 (24) 를 오프로 한다.
그 후, 저항 (1) 및 N-채널 MOS 트랜지스터 (23) 에 의해 결정된 전류 (I) 가 N-채널 MOS 트랜지스터 (23) 의 드레인과 소스 사이에 흐르며, 전원 전압 (VCC) 보다 더 낮은 전압 (V1) 을 발생시킨다. 전압 (V1) 이 N-채널 MOS 트랜지스터 (21) 의 게이트에 인가되어, N-채널 MOS 트랜지스터 (21) 의 소스와 드레인 사이에도 전류 (2I) 가 흐르게 된다. 또한, N-채널 MOS 트랜지스터 (22) 에서는, 전압 (V1) 이 게이트에 인가되어, 그 소스와 드레인 사이에 전류 (2I) 의 전류값의 1/2 인 전류 (I) 가 흐르게 된다. 또한, N-채널 MOS 트랜지스터 (45) 의 드레인과 소스 사이에는 전류 (I) 가 흐른다. 동일값의 전류를 P-채널 MOS 트랜지스터 (12) 및 P-채널 MOS 트랜지스터 (13) 로 흐르도록 하는 전류 미러회로가 제공되므로, P-채널 MOS 트랜지스터 (13) 의 소스와 드레인 사이에도 전류 (2I) 가 흐른다.
N-채널 MOS 트랜지스터 (45) 의 드레인과 N-채널 MOS 트랜지스터 (46) 의 드레인은 N-채널 MOS 트랜지스터 (13) 의 드레인에 모두 접속되며, 정전류원으로서 동작한다. 따라서, N-채널 MOS 트랜지스터 (45) 로 흐르는 것과 동일한 값의 전류 (I; 2I-I=I) 가 N-채널 MOS 트랜지스터 (46) 로 흐르게 된다.
N-채널 MOS 트랜지스터 (45 및 46) 가 둘다 트랜지스터 포화 영역에서 동작한다고 가정하면, 그 각 드레인과 소스 사이에 흐르는 전류는 동일하고, 다음식
이 성립되며, 이 때, β45및 β46은 각각 N-채널 MOS 트랜지스터 (45 및 46) 의 컨덕턴스 계수이고, V2는 P-채널 트랜지스터 (13) 의 드레인 전압이다.
β45및 β46가 거의 동일한 경우, N-채널 MOS 트랜지스터 (45 및 46) 의 각 문턱값의 차 전압인 ｜VT46｜- ｜VT45｜ 은 N-채널 MOS 트랜지스터 (45) 의 소스로부터의 출력인 기준전압 (VREF) 으로 출력된다. 이 값 (VREF) 은 N-채널 MOS 트랜지스터 (45) 와 N-채널 MOS 트랜지스터 (46) 의 문턱 전압간의 차에만 의존한다. 그 결과, 반도체 장치의 제조시에 트랜지스터 문턱값의 변동 또는 외부 온도에 의한 MOS 트랜지스터의 문턱값의 변동에도 불구하고, 기준전압 (VREF) 값은 거의 변화되지 않게 된다.
그러나, 종래의 기준전압 발생회로는, N-채널 MOS 트랜지스터 (45 및 46) 의 문턱값이 일정하기 때문에, 특정의 일정한 기준전압 (VREF) 만을 발생시킬 수 있다는 문제점을 갖고 있다. 또한, 상술한 종래의 기준전압 발생회로는, 제조시의 회로 소자의 특성 변화가 기준전압의 출력을 변화시키게 되므로, 원하는 기준전압을 얻을 수 없게 된다.
본 발명의 목적은, 임의의 값의 기준전압을 얻을 수 있는 기준전압 발생회로를 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 기준전압 발생회로는 게이트와 드레인이 함께 접속된 제 1 MOS 트랜지스터, 및 게이트와 드레인이 함께 접속되고 상기 제 1 MOS 트랜지스터와는 다른 문턱값을 갖는 제 2 MOS 트랜지스터를 구비한다.
전류 미러회로에 의해 상기 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터에 거의 동일한 값의 전류가 흐르며, 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 소스 전압이 기준전압으로서 출력된다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터 중의 하나 이상은 부동 게이트를 포함하는 구조이다. 따라서, 2 개의 MOS 트랜지스터의 문턱 전압을 임의의 값으로 설정할 수 있게 됨으로써, 기준전압의 전압값을 임의의 값으로 설정할 수 있게 된다.
본 발명의 또다른 실시예에 따르면, 본 발명의 기준전압 발생회로는 부동 게이트를 갖는 MOS 트랜지스터의 부동 게이트에 주입되는 전하량을 제어하여 문턱 전압을 변경하는 수단을 더 포함한다. 따라서, 이 실시예는 기준전압의 전압값을 제조후나 출하후에도 자유롭게 재설정할 수 있게 한다.
도 1 은 종래의 기준전압 발생회로를 나타낸 회로도.
도 2 는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 기준전압 발생회로를 나타낸 회로도.
도 3 은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 기준전압 발생회로를 나타낸 회로도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
1 : 저항
5,6 : 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터
11-13 : P-채널 MOS 트랜지스터
21-24, 36-38, 45, 46 : N-채널 MOS 트랜지스터
26 : 문턱값 설정 제어회로 27 : 기록 회로
28 : 소거 회로 29 : 판독 회로
31-35 : 전압 발생회로 VCC : 전원 전압
VREF : 기준전압 VREF : 기준전압 발생회로 활성화 신호
제 1 실시예
도 2 를 참조하면, 이 실시예에 따른 기준전압 발생회로는, 각각, 도 1 에 도시된 종래의 기준전압 발생회로의 N-채널 MOS 트랜지스터 (45 및 46) 대신에 부동 게이트를 갖는 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 를 포함한다.
부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 의 문턱 전압은 서로 다른 값으로 설정되며, 각각 VT5, VT6로 표시된다.
이 실시예의 동작은, 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 의 문턱 전압의 차 전압 (｜VT6｜-｜VT5｜) 이 기준전압 (VREF) 으로 제공된다는 점을 제외하고는, 도 1 에 도시된 종래 예의 동작과 동일하다.
부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 의 문턱 전압이 부동 게이트에 주입되는 전하량에 따라 변화되므로, 문턱 전압의 전압값 (VT6및 VT5) 을 자유롭게 설정할 수 있으며, 또한, 이 전압값들의 차 전압인 기준전압 (VREF) 값도 임의의 값으로 설정할 수 있다.
제 2 실시예
이하, 도 3 을 참조하여, 본 발명의 제 2 실시예를 설명한다.
이 실시예의 기준전압 발생회로는, N-채널 MOS 트랜지스터 (36-38) 및 도 2 에 도시된 제 1 실시예의 기준전압 발생회로의 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 의 부동 게이트에 주입될 전하량을 설정하는 전압 발생회로 (31-35) 를 포함할 뿐만 아니라, 문턱값 설정 제어회로 (26) 를 더 포함한다.
N-채널 MOS 트랜지스터 (38) 는 P-채널 MOS 트랜지스터 (13) 의 드레인과 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5) 의 드레인 사이에 접속되며, 문턱값 설정 신호 (VTSET) 가 인가되는 게이트를 갖는다.
문턱값 설정 신호 (VTSET) 는, 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 의 문턱 전압을 설정할 때 L 로 되고, 기준전압 (VREF) 을 발생시키는 동작을 행할 때에는 VPP 레벨로 된다. 이 경우, VPP 레벨은 N-채널 MOS 트랜지스터 (36, 37 및 38) 를 온하는 데 충분한 전압 레벨이다.
N-채널 MOS 트랜지스터 (36) 는 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5) 의게이트와 드레인 사이에 접속되고, N-채널 MOS 트랜지스터 (37) 는 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (6) 의 게이트와 드레인 사이에 접속되며, 각 N-채널 MOS 트랜지스터 (36 및 37) 의 게이트에는 문턱값 설정 신호 (VTSET) 가 인가된다.
문턱 전압을 설정할 때에는, 문턱값 설정 신호 (VTSET) 가 L 로 변함에 따라 N-채널 MOS 트랜지스터 (36, 37 및 38) 가 오프됨으로써, 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 의 게이트와 드레인이 비접속 상태로 되며, 또한, P-채널 MOS 트랜지스터 (13) 와 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5) 도 비접속상태로 된다.
기준전압 (VREF) 이 발생되는 정상적인 동작 동안에는, 문턱값 설정 신호 (VTSET) 가 VPP 레벨로 변경되어, N-채널 MOS 트랜지스터 (36, 37 및 38) 를 오프시킨다. 이 때, 이 동작은 도 2 에 도시된 기준전압 발생회로의 동작과 동일하게 행해진다.
문턱값 설정 제어회로 (26) 는 기록 회로 (27), 소거 회로 (28) 및 판독 회로 (29) 로 구성된다. 각 기록 회로 (27), 소거 회로 (28) 및 판독 회로 (29) 는, 각각, 기록시, 소거시 및 판독시에 전압 발생회로 (31-35) 가 소정의 전압을 출력하도록 제어한다.
전압 발생회로 (31) 는 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 의 드레인에 전압을 인가하며, 전압 발생회로 (32) 는 N-채널 MOS 트랜지스터 (5) 의 게이트에 전압을 인가하고, 전압 발생회로 (33) 는 N-채널 MOS 트랜지스터 (6) 의 게이트에 전압을 인가하며, 전압 발생회로 (34) 는 N-채널 MOS 트랜지스터 (6) 의 소스에 전압을 인가하고, 전압 발생회로 (35) 는 N-채널 MOS 트랜지스터 (5) 의 소스에 전압을 인가한다. 전압 발생회로 (34) 는, 문턱값 설정 신호 (VTSET) 가 VPP 레벨인 정상 동작시에는 GND 레벨의 전위를 발생시켜, 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (6) 의 소스에 GND 레벨의 전위를 인가함으로써, 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (6) 의 소스를 GND 에 접속시킬 필요성을 제거한다.
하기의 표 1 은, 기록 회로 (27), 소거 회로 (28) 및 판독 회로 (29) 의 제어하에, 전압 발생회로 (31-35) 가 각 모드에서 출력하는 전압의 예를 나타낸 것이다.
모드 드레인 게이트 소스
전압 발생회로 (31) 전압 발생회로 (32, 33) 전압 발생회로 (34, 45)
기록 6V 12 V GND
소거 Open GND 12 V
판독 VCC 6 V GND
이하, 도 3 을 참조하여, 이 실시예의 동작을 설명한다.
먼저, 기준전압 발생회로를 문턱 전압 설정 상태로 하기 위해 문턱값 설정 신호 (VTSET) 가 VPP 레벨에서 L 레벨로 전환된다. 그 후, 문턱값 설정 제어회로 (26) 에 의해 아래와 같은 제어가 이루어진다. 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 의 문턱 전압을 높게 하기 위해서는, 기록용의 전압이 선택되며, 각 게이트에 12 V, 각 드레인에 6 V 및 각 소스에 GND 레벨이 인가된다. 이와 유사하게, 문턱 전압을 낮게 하기 위해서는, 소거용의 전압이 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 의 각 게이트, 드레인 및 소스에 인가된다. 이와 같이, 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 의 문턱 전압을 가변시킬 수 있다.
문턱값을 판독하여 검증하기 위해서는, 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 의 각 게이트, 드레인 및 소스에 판독용의 전압이 인가된다. 도면에는 도시되어 있지 않지만, 판독된 전압값은, 예를 들면, 센스 증폭기를 사용하여 검증될 수도 있다.
이 때, 일 예로서 12 V 및 6 V 의 전압값이 주어지나, 다른 전압값을 사용할 경우에도 동일한 동작을 실현할 수 있다. 또한, 부동 게이트 N-채널 MOS 트랜지스터 (5 및 6) 양쪽의 문턱 전압을 동시에 변경할 필요는 없고, 어느 한 쪽의 전압만을 변경시켜 원하는 기준전압 (VREF) 을 발생시킬 수 있다.
끝으로, 기준전압 발생회로를 정상 동작 상태로 하기 위해 문턱값 설정 신호 (VTSET) 가 L 레벨에서 VPP 레벨로 전환된다.
이 실시예에 따른 기준전압 발생회로는 상술한 제 1 실시예에 따른 기준전압 발생회로와 동일한 효과를 가짐과 동시에, 부동 게이트 N-채널N-채널랜지스터 (5 및 6) 의 문턱 전압이 변경될 수 있기 때문에, 출력된 기준전압 (VREF)의 전압값을 재설정할 수 있다.
지금까지 도면을 이용하여 제 1 및 제 2 실시예에 대해 설명하였지만, 본 발명이 여기에 한정되는 것은 아니며, 추후 설명될 경우에서도 유사하게 적용될 수 있다.
서로 다른 문턱값을 갖는 2 개의 MOS 트랜지스터의 문턱 전압차를 기준전압으로서 출력하는 기준전압 발생회로에서는, 그 2 개의 MOS 트랜지스터 중의 하나 이상이 부동 게이트를 갖는 트랜지스터이면, 이 회로 구성은 어떠한 형태도 취할 수 있다. 본 발명은, 전원 전압 및 접지가 전환되고, 제 1 및 제 2 실시예의 회로 구성에서 도전율이 바뀌더라도 실현가능하다. 제 2 실시예에서 설명한 문턱값 설정 방법은 자외선 조사와 같은 또다른 형태를 취할 수도 있다.
특정 용어를 사용하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하였지만, 그러한 설명은 단지 예시 목적을 위해서이며, 다음의 청구 범위의 취지 또는 범주를 벗어남이 없이 수정 및 변경이 가능하다는 것을 이해해야 한다.
본 발명의 기준전압 발생회로는 2 개의 MOS 트랜지스터 중의 적어도 하나가 부동 게이트를 포함하는 구조로서, 2 개의 MOS 트랜지스터의 문턱 전압을 임의로 설정할 수 있게 되어, 기준전압을 전압값을 원하는 어떠한 값으로도 설정할 수 있다.

Claims (18)

  1. 부동 게이트를 가지며, 게이트와 드레인이 함께 접속되고, 소스 전압을 기준전압으로서 출력시키는 제 1 MOS 트랜지스터;
    게이트와 드레인이 함께 접속되며, 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 문턱 전압과는 다른 문턱 전압을 갖는 제 2 MOS 트랜지스터; 및
    상기 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터로 거의 동일한 값의 전류를 흐르게 하는 전류 미러회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  2. 제 1 항에 있어서,
    문턱 전압의 설정을 변경하기 위하여, 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 부동 게이트에 주입될 전하량을 제어하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  3. 제 2 항에 있어서,
    전하량을 제어하는 상기 수단은,
    상기 부동 게이트에 전하를 주입할 때, 상기 부동 게이트로부터 전하를 제거할 때 및 문턱 전압을 검증할 때에, 각각 소정 전압을 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 게이트, 드레인 및 소스에 각각 인가하는 복수의 전압 발생 수단;
    상기 각 전압 발생 수단으로 하여금 상기 부동 게이트에 전하를 주입하고, 상기 부동 게이트로부터 전하를 제거하며, 문턱 전압을 검증하도록 하는 문턱 전압 설정 제어 수단;
    상기 제 1 MOS 트랜지스터와 상기 전류 미러회로간의 접속 상태를 전환하는 제 1 스위치; 및
    상기 제 1 MOS 트랜지스터의 게이트와 드레인간의 접속 상태를 전환하는 제 2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  4. 게이트와 드레인이 함께 접속되며, 소스 전압을 기준전압으로서 출력시키는 제 1 MOS 트랜지스터;
    부동 게이트를 가지며, 게이트와 드레인이 함께 접속되고, 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 문턱 전압과는 다른 문턱 전압을 갖는 제 2 MOS 트랜지스터; 및
    상기 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터로 거의 동일한 값의 전류를 흐르게 하는 전류 미러회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  5. 제 4 항에 있어서,
    문턱 전압의 설정을 변경하기 위하여, 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 부동 게이트에 주입될 전하량을 제어하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  6. 제 5 항에 있어서,
    전하량을 제어하는 상기 수단은,
    상기 부동 게이트에 전하를 주입할 때, 상기 부동 게이트로부터 전하를 제거할 때 및 문턱 전압을 검증할 때에, 각각 소정 전압을 상기 제 2 MOS 트랜지스터의 게이트, 드레인 및 소스에 각각 인가하는 복수의 전압 발생 수단;
    상기 각 전압 발생 수단으로 하여금 상기 부동 게이트에 전하를 주입하고, 상기 부동 게이트로부터 전하를 제거하며, 문턱 전압을 검증하도록 하는 문턱 전압 설정 제어 수단;
    상기 제 2 MOS 트랜지스터와 상기 전류 미러회로간의 접속 상태를 전환하는 제 1 스위치; 및
    상기 제 2 MOS 트랜지스터의 게이트와 드레인간의 접속 상태를 전환하는 제 2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  7. 부동 게이트를 가지며, 게이트와 드레인이 함께 접속되고, 소스 전압을 기준전압으로서 출력시키는 제 1 MOS 트랜지스터;
    부동 게이트를 가지며, 게이트와 드레인이 함께 접속되고, 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 문턱 전압과는 다른 문턱 전압을 갖는 제 2 MOS 트랜지스터; 및
    상기 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터로 거의 동일한 값의 전류를 흐르게 하는 전류 미러회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  8. 제 7 항에 있어서,
    문턱 전압의 설정을 변경하기 위하여, 상기 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터의 부동 게이트에 주입될 전하량을 제어하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  9. 제 8 항에 있어서,
    전하량을 제어하는 상기 수단은,
    상기 부동 게이트에 전하를 주입할 때, 상기 부동 게이트로부터 전하를 제거할 때 및 문턱 전압을 검증할 때에, 각각 소정 전압을 상기 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터의 게이트, 드레인 및 소스에 각각 인가하는 복수의 전압 발생 수단;
    상기 각 전압 발생 수단으로 하여금 상기 부동 게이트에 전하를 주입하고, 상기 부동 게이트로부터 전하를 제거하며, 문턱 전압을 검증하도록 하는 문턱 전압 설정 제어 수단;
    상기 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터와 상기 전류 미러회로간의 접속 상태를 전환하는 제 1 스위치; 및
    상기 제 1 MOS 트랜지스터의 게이트와 드레인간의 접속 상태를 전환하는 제 2 스위치; 및
    상기 제 2 MOS 트랜지스터의 게이트와 드레인간의 접속 상태를 전환하는 제 3 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  10. 부동 게이트를 가지며, 게이트와 드레인이 함께 접속되고, 소스 전압을 기준전압으로서 출력시키는 제 1 MOS 트랜지스터;
    상기 제 1 MOS 트랜지스터와 접지 사이에 제공되어, 소정의 일정한 전류값을 갖는 전류를 발생시키는 제 1 정전류원;
    함께 접속된 게이트와 드레인, 및 접지에 접속된 소스를 갖고, 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 문턱 전압과는 다른 문턱 전압을 갖는 제 2 MOS 트랜지스터; 및
    상기 제 1 및 상기 제 2 MOS 트랜지스터의 드레인에 공통으로 접속된 한 단자 및 전원 전압에 접속된 다른 단자를 갖고, 상기 제 1 정전류원에 의해 발생된 전류의 거의 2 배의 전류값을 갖는 전류를 발생시키는 제 2 정전류원을 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  11. 제 10 항에 있어서,
    문턱 전압의 설정을 변경하기 위하여, 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 부동 게이트에 주입될 전하량을 제어하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  12. 제 11 항에 있어서,
    전하량을 제어하는 상기 수단은,
    상기 부동 게이트에 전하를 주입할 때, 상기 부동 게이트로부터 전하를 제거할 때 및 문턱 전압을 검증할 때에, 각각 소정 전압을 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 게이트, 드레인 및 소스에 각각 인가하는 복수의 전압 발생 수단;
    상기 각 전압 발생 수단으로 하여금 상기 부동 게이트에 전하를 주입하고, 상기 부동 게이트로부터 전하를 제거하며, 문턱 전압을 검증하도록 하는 문턱 전압 설정 제어 수단;
    상기 제 1 MOS 트랜지스터와 상기 제 2 정전류원간의 접속 상태를 전환하는 제 1 스위치; 및
    상기 제 1 MOS 트랜지스터의 게이트와 드레인간의 접속 상태를 전환하는 제 2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  13. 게이트와 드레인이 함께 접속되며, 소스 전압을 기준전압으로서 출력시키는 제 1 MOS 트랜지스터;
    상기 제 1 MOS 트랜지스터와 접지 사이에 제공되어, 소정의 일정한 전류값을 갖는 전류를 발생시키는 제 1 정전류원;
    부동 게이트 및 함께 접속된 게이트와 드레인, 및 접지에 접속된 소스를 가지며, 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 문턱 전압과는 다른 문턱 전압을 갖는 제 2 MOS 트랜지스터; 및
    상기 제 1 및 상기 제 2 MOS 트랜지스터의 드레인에 공통으로 접속된 한 단자 및 전원 전압에 접속된 다른 단자를 갖고, 상기 제 1 정전류원에 의해 발생된 전류의 거의 2 배의 전류값을 갖는 전류를 발생시키는 제 2 정전류원을 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  14. 제 13 항에 있어서,
    문턱 전압의 설정을 변경하기 위하여, 상기 제 2 MOS 트랜지스터의 부동 게이트에 주입될 전하량을 제어하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  15. 제 14 항에 있어서,
    전하량을 제어하는 상기 수단은,
    상기 부동 게이트에 전하를 주입할 때, 상기 부동 게이트로부터 전하를 제거할 때 및 문턱 전압을 검증할 때에, 각각 소정 전압을 상기 제 2 MOS 트랜지스터의 게이트, 드레인 및 소스에 각각 인가하는 복수의 전압 발생 수단;
    상기 각 전압 발생 수단으로 하여금 상기 부동 게이트에 전하를 주입하고, 상기 부동 게이트로부터 전하를 제거하며, 문턱 전압을 검증하도록 하는 문턱 전압 설정 제어 수단;
    상기 제 2 MOS 트랜지스터와 상기 제 2 정전류원간의 접속 상태를 전환하는 제 1 스위치; 및
    상기 제 2 MOS 트랜지스터의 게이트와 드레인간의 접속 상태를 전환하는 제 2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  16. 부동 게이트를 가지며, 게이트와 드레인이 함께 접속되고, 소스 전압을 기준전압으로서 출력시키는 제 1 MOS 트랜지스터;
    상기 제 1 MOS 트랜지스터와 접지 사이에 제공되어, 소정의 일정한 전류값을 갖는 전류를 발생시키는 제 1 정전류원;
    부동 게이트 및 함께 접속된 게이트와 드레인, 및 접지에 접속된 소스를 갖고, 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 문턱 전압과는 다른 문턱 전압을 갖는 제 2 MOS 트랜지스터; 및
    상기 제 1 및 상기 제 2 MOS 트랜지스터의 드레인에 공통으로 접속된 한 단자 및 전원 전압에 접속된 다른 단자를 갖고, 상기 제 1 정전류원에 의해 발생된 전류의 거의 2 배의 전류값을 갖는 전류를 발생시키는 제 2 정전류원을 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  17. 제 16 항에 있어서,
    문턱 전압의 설정을 변경하기 위하여, 상기 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터의 부동 게이트에 주입될 전하량을 제어하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
  18. 제 11 항에 있어서,
    전하량을 제어하는 상기 수단은,
    상기 부동 게이트에 전하를 주입할 때, 상기 부동 게이트로부터 전하를 제거할 때 및 문턱 전압을 검증할 때에, 각각 소정 전압을 상기 제 1 MOS 트랜지스터의 게이트, 드레인 및 소스에 각각 인가하는 복수의 전압 발생 수단;
    상기 각 전압 발생 수단으로 하여금 상기 부동 게이트에 전하를 주입하고, 상기 부동 게이트로부터 전하를 제거하며, 문턱 전압을 검증하도록 하는 문턱 전압 설정 제어 수단;
    상기 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터와 상기 제 2 정전류원간의 접속 상태를 전환하는 제 1 스위치;
    상기 제 1 MOS 트랜지스터의 게이트와 드레인간의 접속 상태를 전환하는 제 2 스위치; 및
    상기 제 2 MOS 트랜지스터의 게이트와 드레인간의 접속 상태를 전환하는 제 3 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 기준전압 발생회로.
KR1019990001875A 1998-01-28 1999-01-22 부동 게이트를 갖는 ｍｏｓ 트랜지스터를 구비한 기준전압 발생회로 KR100326824B1 (ko)

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