KR19980068417A - 계층적 워드라인 구조 - Google Patents

계층적 워드라인 구조 Download PDF

Info

Publication number
KR19980068417A
KR19980068417A KR1019970004994A KR19970004994A KR19980068417A KR 19980068417 A KR19980068417 A KR 19980068417A KR 1019970004994 A KR1019970004994 A KR 1019970004994A KR 19970004994 A KR19970004994 A KR 19970004994A KR 19980068417 A KR19980068417 A KR 19980068417A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
word line
sub
sub word
main
row
Prior art date
Application number
KR1019970004994A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100253277B1 (ko
Inventor
정정수
안진홍
Original Assignee
문정환
엘지반도체 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 문정환, 엘지반도체 주식회사 filed Critical 문정환
Priority to KR1019970004994A priority Critical patent/KR100253277B1/ko
Priority to DE19749659A priority patent/DE19749659B4/de
Priority to US09/025,111 priority patent/US5943289A/en
Priority to JP10037196A priority patent/JP2939738B2/ja
Publication of KR19980068417A publication Critical patent/KR19980068417A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100253277B1 publication Critical patent/KR100253277B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/14Word line organisation; Word line lay-out
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/08Word line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, for word lines

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

본 발명은 계층적 워드라인 구조에 관한 것으로, 서로 인접한 서브 워드라인을 서로 다른 메인 워드라인으로써 구동하도록 워드라인을 구성한다. 즉, 메인 워드라인들 중에서 첫 번째 메인 워드라인은 첫 번째 워드라인 행에 포함된 홀수번째의 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD0),(SWD1)에 연결되고, 그 이외의 메인 워드라인은 해당 워드라인 행의 홀수번째의 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD0),(SWD1) 및 이전 워드라인 행의 짝수번째의 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD2),(SWD3)과 연결되며, 마지작 워드라인 행에 포함된 짝수번째의 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD2),(SWD3)은 상기 첫 번째 메인 워드라인과 연결된다.

Description

계층적 워드라인 구조
본 발명은 DRAM의 워드라인(word line)에 관한 것으로, 특히 서로 인접한 서브 워드라인을 서로 다른 메인 워드라인으로써 구동하도록 한 계층적 워드라인 구조에 관한 것이다.
종래의 계층적 워드라인 구조는 도 1에 도시된 바와 같이, 서브 워드라인 구동기(sbu word line driver)(SWD0-SWD3)를 각각 포함하는 복수개의 워드라인 행(R1), (R2), (R3)으로 나누어져 있다.
즉, 예를 들어 첫 번째 워드라인 행(R1)은 한 쌍의 메인(main) 워드라인(MWL0), (MWL0b)과 연결되고 서브 워드라인 구동기 인에이블(enable) 신호(SWDEN0)를 입력받아 서브 워드라인(SWL0)을 구동하는 서브 워드라인 구동기(SWD0)와, 상기 메인 워드라인(MWL0), (MWL0b)과 연결되고 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN1)를 입력받아 서브 워드라인(SWL1)을 구동하는 서브 워드라인 구동기(SWD1)와, 상기 메인 워드라인(MWL0), (MWL0b)과 연결되고 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN2)를 입력받아 서브 워드라인(SWL2)을 구동하는 서브 워드라인 구동기(SWD2)와, 상기 메인 워드라인(MWL0), (MWL0b)과 연결되고 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN3)를 입력받아 서브 워드라인(SWL3)을 구동하는 서브 워드라인 구동기(SWD3)를 포함한다.
여기서, 상기 한 쌍의 메인 워드라인(MWL0), (MWL0b)은 서로 상보적인 관계이고, 또한 상기 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN0, SWDEN1, SWDEN2, SWDEN3)는 로우 어드레스(row address)의 1비트신호를 사용하며, 그 중에서 하나의 신호만 하이레벨이 된다.
두 번째 워드라인 행(R2)은 한 쌍의 메인 워드라인(MWL1), (NWL1b)과 각각 연결되고 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN0-SWDEN3)를 입력받아 서브 워드라인(SWL4-SWL7)을 구동하는 서브 워드라인 구동기(SWD0-SWD3)를 포함한다.
또한, 세 번째 워드라인 행(R3)는 한 쌍의 메인 워드라인(MWL2), (MWL2b)과 각각 연결되고 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN0-SWDEN3)를 입력받는 서브 워드라인 구동기(SWD0-SWD3)를 포함한다.
상기 서브 워드라인 구동기(SWD0)는 도 2에 도시된 바와 같이, 메인 워드라인(MWL0b)과 연결된 게이트와 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN0)를 입력받는 소스와 서브 워드라인(SWL0)과 연결된 드레인을 갖는 PMOS 트랜지스터(MP1)와, 상기 메인 워드라인(MWL0b)과 연결된 게이트와 상기 서보 워드라인(SWL0)과 연결된 드레인과 접지된 소스를 갖는 NMOS 트랜지스터(MN1)와, 메인 워드라인(MWL0)과 연결된 게이트와 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN0)를 입력받는 드레인과 서브 워드라인(SWL0)과 연결된 소스를 갖는 NMOS 트랜지스터(MN2)로 구성된다.
그리고, 그 이외의 서브 워드라인 구동기(SWD1-SWD3)는 상기 서브 워드라인 구동기(SWD0)와 동일하게 구성된다.
이와 같이 구성된 종래의 계층적 워드라인 구조의 동작을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
상위 워드라인인 메인 워드라인(MWL0)에 하이레벨의 신호가 인가되면 첫 번째 워드라인 행(R1)이 선택되고, 서브 워드라인 구동기(SWD0)의 NMOS 트랜지스터(MN2)가 턴온된다. 이때, 메인 워드라인(MWL0b)에는 로우레벨의 신호가 인가되어 PMOS 트랜지스터(MP1)는 턴온되고 NMOS 트랜지스터(MN1)는 턴오프된다. 이때, 하이레벨의 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN0)가 서브 워드라인 구동기(SWD0)에 인가되면, 하이레벨의 신호가 서브 워드라인(SWL0)으로 출력되어 실제의 워드라인이 구동된다.
그런데, 워드라인의 구동에 있어서 중요한 것은 커플링 노이즈(coupling noise)이고, 서브 워드라인(SWL0)이 구동될 때 커플링 노이즈의 영향을 가장 많이 받는 서브 워드라인은 서브 워드라인(SWL0)과 인접한 서브 워드라인(SWL2)이다.
즉, 도 3을 참조하면, 서브 워드라인 구동기(SWD0)에 의해 서브 워드라인(SWL0)이 구동될 때 서브 워드라인 구동기(SWD2)에 의해 구동되는 서브 워드라인(SWL2)에 커플링 노이즈가 인가될 수 있다. 이때, 서브 워드라인 구동기(SWD2)의 PMOS 트랜지스터(MP1') 및 NMOS 트랜지스터(MN2')는 턴온되고 NMOS 트랜지스터(MN1')는 턴오프되고, 로우레벨의 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN2)가 PMOS 트랜지스터(MP1')의 소스 및 NMOS 트랜지스터(MN2')의 드레인에 인가된다.
그러므로, NMOS 트랜지스터(MN2')를 거쳐 로우레벨의 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN2)가 서브 워드라인(SWL2)에 공급되어 서브 워드라인(SWL2)에 인가된 커플링 노이즈가 감쇠될 수 있다.
그러나, 상기와 같은 종래의 계층적 워드라인 구조는 워드라인 와이어링 피치(wiring pitch)의 협소함을 워드라인 션트(shunt) 방식보다 많이 개선할 수 있지만, 한 쌍의 메인 워드라인(MWL0), (MWL0b) 및 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN0), (SWDEN1) 또는 (SWDEN2), (SWDEN3)를 사용하고, 워드라인 션트 방식에 비해 별도의 서브 워드라인 구동기를 필요로 하기 때문에 레이아웃 사이즈(layout size)를 증가시키는 단점을 갖는다.
상기와 같은 종래의 단점을 해결하기 위하여, 본 발명은 서로 인접한 서브 워드라인을 서로 다른 메인 워드라인으로 구동하여 커플링노이즈를 효과적으로 제거하고, 기존의 서브 워드라인 구동기에서 하나의 트랜지스터를 제거함으로써, 레이아웃 사이즈를 줄일 수 있는 계층적 워드라인 구조를 제공한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 복수개의 워드라인 행으로 나누어져 있고, 각각의 워드라인 행은 서로 상보적인 한 쌍의 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호를 입력받는 서브 워드라인 구동기의 쌍을 포함하는 계층적 워드라인 구조에 있어서, 상기 복수개의 워드라인 행은 각각의 메인 워드라인에 대응되고; 서브 워드라인들 중에서 서로 인접한 서브 워드라인을 구동하는 상기 서브 워드라인 구동기의 쌍은 서로 다른 메인 워드라인과 연결되는 것을 특징으로 한다.
도 1은 종래의 계층적 워드라인의 구조도.
도 2는 도 1의 서브 워드라인 구동기의 상세 회로도.
도 3은 도 1의 서브 워드라인 구동에 있어서 커플링 노이즈를 설명하기 위한 회로도.
도 4는 본 발명에 따른 계층적 워드라인의 구조도.
도 5는 도 4의 서브 워드라인 구동기의 상세 회로도.
도 6은 도 4의 서브 워드라인 구동에 있어서 커플링 노이즈를 설명하기 위한 회로도.
도 7 및 도 8은 본 발명의 타실시예에 따른 계층적 워드라인의 구조도.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
R0-Rn:워드라인 행MWL0b-MWLnb:메인 워드라인
SWL0-SWL7:서브 워드라인SWD:서브 워드라인 구동기
SWDEN0-SWDEN3:서브 워드라인 인에이블 신호
이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.
본 발명에 따른 계층적 워드라인 구조는 도 4에 도시된 바와 같이, 각각의 메인 워드라인(MWL0b-MWLnb)에 대응되는 복수개의 워드라인 행(R0-Rn)으로 나누어져 있고, 각각의 워드라인 행(R0-Rn)은 서로 상보적인 한 쌍의 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN0), (SWDEN1) 또는 (SWDEN2), (SWDEN3)를 입력받는 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD0), (SWD1) 또는 (SWD2), (SWD3)을 포함한다.
메인 워드라인(MWL0b-MWLnb) 중에서 첫 번째 메인 워드라인(MWL0b)은 첫 번째 워드라인 행(R0)에 포함된 홀수번째의 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD0), (SWD1)에만 연결되고, 그 이외의 메인 워드라인(MWL1b, MWL2b ... MWLnb)은 해당 워드라인 행의 홀수번째의 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD0), (SWD1)과 이전 워드라인 행의 짝수번째의 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD2), (SWD3)과 연결된다. 또한, 마지막 워드라인 행(Rn)에 포함된 짝수번째의 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD2), (SWD3)은 상기 첫 번째 메인 워드라인(MNL0b)과 연결된다.
첫 번째 워드라인 행(R0)에 포함된 서브 워드라인 구동기(SWD0), (SWD1)는 서브 워드라인(SWL0), (SWL1)과 연결되고 서브 워드라인 구동기(SWD2), (SWD3)는 서브 워드라인(SWL6), (SWL7)과 연결된다.
두 번째 워드라인 행(R1)에 포함된 서브 워드라인 구동기(SWD0), (SWD1)는 서브 워드라인(SWL4), (SWL5)과 연결된다.
마지막 워드라인 행(Rn)에 포함된 서브 워드라인 구동기(SWD2), (SWD3)는 서브 워드라인(SWL2), (SWL3)과 연결된다.
상기 서브 워드라인 구동기(SWD0)는 도 5에 도시된 바와 같이, 메인 워드라인(MWL0b)과 연결된 게이트와 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN0)를 입력받는 소스와 서브 워드라인(SWL0)과 연결된 드레인을 갖는 PMOS 트랜지스터(MP1)와, 상기 메인 워드라인(MWL0b)과 연결된 게이트와 상기 서브 워드라인(SWL0)과 연결된 드레인과 접지된 소스를 갖는 NMOS 트랜지스터(MN1)로 구성된다.
그리고, 그 이외의 서브 워드라인 구동기(SWD1-SWD3)는 상기 서브 워드라인 구동기(SWD0)와 동일하게 구성된다.
이와 같이 구성된 본 발명에 따른 계층적 워드라인 구조의 동작을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
먼저, 메인 워드라인(MWL0b-MWLnb)은 로우레벨의 신호에 의해 구동되고, 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN0), (SWDEN1), (SWDEN2), (SWDEN3)는 종래와 동일한 방식으로 각각의 워드라인 행(R0-Rn)의 서브 워드라인 구동기(SWD0-SWD3)에 입력된다.
메인 워드라인(MWL0b)에 로우레벨의 신호가 인가되면 첫 번째 워드라인 행(R0)이 선택되고, 이때 PMOS 트랜지스터(MP)는 턴온되고 NMOS 트랜지스터(MN)는 턴오프된다. 이때, 하이레벨의 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN0)가 서브 워드라인 구동기(SWD0)에 인가되면, 하이레벨의 신호가 서브 워드라인(SWL0)으로 출력되어 실제의 워드라인이 구동된다.
서브 워드라인(SWL0)이 구동될 때 커플링 노이즈의 영향을 가장 많이 받는 서보 워드라인은 서브 워드라인(SWL0)과 인접한 서브 워드라인(SWL6)이다.
즉, 도 6을 참조하면, 서브 워드라인 구동기(SWD0)에 의해 서브 워드라인(SWL0)이 구동될 때 서브라인 구동기(SWD2)에 의해 구동되는 서브 워드라인(SWL6)에 커플링 노이즈가 인가될 수 있다.
이때, 메인 워드라인(MWL1b)에는 하이레벨의 신호가 인가되어 서브 워드라인 구동기(SWD2)의 PMOS 트랜지스터(MP1')는 턴오프되고 NMOS 트랜지스터(MN1')는 턴온된다. 그리고, 로우레벨의 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN2)가 PMOS 트래지스터(MP1')의 소스에 인가된다.
그러므로, 서브 워드라인(SWL6)에 인가된 커플링 노이즈는 NMOS 트랜지스터(MN1')의 접지측으로 흘러 감쇠된다.
한편, 본 발명에 따른 타실시예는 도 7에 도시된 바와 같이, 각각의 워드라인 행(R0-Rn)은 한 개씩의 서브 워드라인 구동기(SWD0) 또는 (SD1)를 포함할 수 있고, 도 8에 도시된 바와 같이 4개씩의 서브 워드라인 구동기 쌍(SWD0-SWD3) 또는 (SWD4-SWD7)을 포함할 수 있다. 도 8에 있어서, 각각의 워드라인 행(R0-Rn)의 홀수번째의 서브 워드라인 구동기 쌍(SWD0-SWD3)에는 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN0-SWDEN3)이 인가되고, 짝수번째의 서브 워드라인 구동기 쌍(SWD4-SWD7)에는 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호(SWDEN4-SWDEN7)이 인가된다.
본 발명은 서로 인접한 서브 워드라인을 서로 다른 메인 워드라인으로써 구동하여 워드라인 와이어링 피지의 협소함을 개선할 수 있고, 서브 워드라인 구동기를 개선하므로써 레이아웃 사이즈를 줄일 수 있다.

Claims (6)

  1. 복수개의 워드라인 행으로 나누어져 있고, 각각의 워드라인 행은 그중 하나의 신호만 하이레벨이 되는 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호를 입력받는 서브 워드라인 구동기의 쌍을 포함하는 계층적 워드라인 구조에 있어서,
    상기 복수개의 워드라인 행은 각각의 메인 워드라인에 대응되고;
    상기 워드라인들 중에서 서로 인접한 서브 워드라인을 구동하는 상기 서브 워드라인 구동기의 쌍은 서로 다른 하나의 메인 워드라인과 연결되는 것을 특징으로 하는 계층적 워드라인 구조.
  2. 제1항에 있어서, 상기 서브 워드라인 구동기는 메인 워드라인과 연결된 게이트와 서브 워드라인 구동기 인에이블 신호를 입력받는 소스와 서브 워드라인과 연결된 드레인을 갖는 PMOS 트랜지스터와, 상기 메인 워드라인과 연결된 게이트와 상기 서브 워드라인과 연결되는 드레인과 접지된 소스를 갖는 NMOS 트랜지스터로 구성되는 계층적 워드라인 구조.
  3. 제1항에 있어서, 상기 메인 워드라인들 중에서 첫 번째 메인 워드라인은 첫 번째 워드라인 행에 포함된 홀수번째의 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD0), (SWD1)에 연결되고, 그 이외의 메인 워드라인은 해당 워드라인의 행의 홀수번째의 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD0), (SWD1) 및 이전 워드라인 행의 짝수번째의 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD2), (SWD3)과 연결되며, 마지막 워드라인 행에 포함된 짝수번째의 서브 워드라인 구동기의 쌍(SWD2), (SWD3)은 상기 첫 번째 메인 워드라인과 연결되는 것을 특징으로 하는 계층적 워드라인 구조.
  4. 제1항에 있어서, 상기 복수개의 워드라인 행은 하나씩의 서브 워드라인 구동기를 포함하는 것을 특징으로 하는 계층적 워드라인 구조.
  5. 제1항에 있어서, 상기 복수개의 워드라인 행은 4개씩의 서브 워드라인 구동기의 쌍을 포함하는 것을 특징으로 하는 계층적 워드라인 구조.
  6. 제1항에 있어서, 상기 메인 워드라인은 각각 로우레벨의 신호에 의해 구동되는 것을 특징으로 하는 계층적 워드라인 구조.
KR1019970004994A 1997-02-19 1997-02-19 계층적워드라인구조 KR100253277B1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970004994A KR100253277B1 (ko) 1997-02-19 1997-02-19 계층적워드라인구조
DE19749659A DE19749659B4 (de) 1997-02-19 1997-11-10 Hierarchische Wortleitungsstruktur
US09/025,111 US5943289A (en) 1997-02-19 1998-02-17 Hierarchical word line structure
JP10037196A JP2939738B2 (ja) 1997-02-19 1998-02-19 半導体メモリ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970004994A KR100253277B1 (ko) 1997-02-19 1997-02-19 계층적워드라인구조

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19980068417A true KR19980068417A (ko) 1998-10-15
KR100253277B1 KR100253277B1 (ko) 2000-05-01

Family

ID=19497413

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970004994A KR100253277B1 (ko) 1997-02-19 1997-02-19 계층적워드라인구조

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5943289A (ko)
JP (1) JP2939738B2 (ko)
KR (1) KR100253277B1 (ko)
DE (1) DE19749659B4 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100313087B1 (ko) * 1999-12-21 2001-11-07 박종섭 복합 메모리 소자의 워드라인 구동회로
KR20030012421A (ko) * 2001-07-31 2003-02-12 김문근 언어학습 기능이 있는 디지털 오디오 녹음/재생기
KR100567023B1 (ko) * 2001-12-27 2006-04-04 매그나칩 반도체 유한회사 반도체 메모리의 워드라인 구동 회로

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100277436B1 (ko) * 1998-07-25 2001-01-15 윤종용 마스크 롬
KR100283907B1 (ko) * 1998-12-09 2001-03-02 김영환 서브워드라인 구동회로를 구비한 반도체 메모리
KR100303364B1 (ko) * 1999-06-29 2001-11-01 박종섭 서브 워드라인 구동 회로
KR100334573B1 (ko) * 2000-01-05 2002-05-03 윤종용 계층적인 워드 라인 구조를 갖는 반도체 메모리 장치
US6629524B1 (en) 2000-07-12 2003-10-07 Ponwell Enterprises Limited Inhaler
JP2002133873A (ja) * 2000-10-23 2002-05-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置
US7110319B2 (en) * 2004-08-27 2006-09-19 Micron Technology, Inc. Memory devices having reduced coupling noise between wordlines
KR100558561B1 (ko) * 2004-10-28 2006-03-10 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치
JP4993540B2 (ja) * 2005-02-16 2012-08-08 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置
KR100666182B1 (ko) * 2006-01-02 2007-01-09 삼성전자주식회사 이웃하는 워드라인들이 비연속적으로 어드레싱되는 반도체메모리 장치 및 워드라인 어드레싱 방법
US8189396B2 (en) 2006-12-14 2012-05-29 Mosaid Technologies Incorporated Word line driver in a hierarchical NOR flash memory
CN101853700B (zh) * 2007-03-13 2014-11-05 考文森智财管理公司 或非快闪存储器及其字线驱动器电路
KR100934858B1 (ko) * 2008-03-19 2009-12-31 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
KR20130068145A (ko) * 2011-12-15 2013-06-25 에스케이하이닉스 주식회사 서브 워드 라인 드라이버 및 이를 포함하는 반도체 집적 회로 장치
US10332586B1 (en) * 2017-12-19 2019-06-25 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for subrow addressing

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5406526A (en) * 1992-10-01 1995-04-11 Nec Corporation Dynamic random access memory device having sense amplifier arrays selectively activated when associated memory cell sub-arrays are accessed
JP2812099B2 (ja) * 1992-10-06 1998-10-15 日本電気株式会社 半導体メモリ
KR0137320B1 (ko) * 1994-12-15 1998-04-29 김광호 반도체 메모리장치의 워드라인 디코딩회로
KR0170903B1 (ko) * 1995-12-08 1999-03-30 김주용 하위 워드 라인 구동 회로 및 이를 이용한 반도체 메모리 장치
JP3636233B2 (ja) * 1995-12-27 2005-04-06 富士通株式会社 ワードドライバ回路及びそれを利用したメモリ回路
KR100186300B1 (ko) * 1996-04-04 1999-04-15 문정환 계층적 워드라인 구조를 갖는 반도체 메모리 소자
KR100246311B1 (ko) * 1996-09-17 2000-03-15 김영환 반도체 메모리소자
US5854770A (en) * 1997-01-30 1998-12-29 Sgs-Thomson Microelectronics S.R.L. Decoding hierarchical architecture for high integration memories
US5875149A (en) * 1997-02-06 1999-02-23 Hyndai Electronics America Word line driver for semiconductor memories

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100313087B1 (ko) * 1999-12-21 2001-11-07 박종섭 복합 메모리 소자의 워드라인 구동회로
KR20030012421A (ko) * 2001-07-31 2003-02-12 김문근 언어학습 기능이 있는 디지털 오디오 녹음/재생기
KR100567023B1 (ko) * 2001-12-27 2006-04-04 매그나칩 반도체 유한회사 반도체 메모리의 워드라인 구동 회로

Also Published As

Publication number Publication date
DE19749659A1 (de) 1998-08-27
JPH10241365A (ja) 1998-09-11
US5943289A (en) 1999-08-24
JP2939738B2 (ja) 1999-08-25
KR100253277B1 (ko) 2000-05-01
DE19749659B4 (de) 2007-09-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR19980068417A (ko) 계층적 워드라인 구조
KR100380917B1 (ko) 가상 채널 동기 다이나믹 랜덤 액세스 메모리
US5781498A (en) Sub word line driving circuit and a semiconductor memory device using the same
KR950009877B1 (ko) 복수의 셀블록으로 분할된 셀어레이를 구비한 반도체 기억장치
KR100576844B1 (ko) 반도체집적회로장치
EP0778580B1 (en) Semiconductor memory device
US7839704B2 (en) Memory circuit and control method thereof
JP2010027205A (ja) 半導体メモリ
US5517461A (en) Semiconductor storage device having latch circuitry coupled to data lines for eliminating through-current in sense amplifier
US4724341A (en) CMOS decoder circuit resistant to latch-up
KR100328322B1 (ko) 버스 구동 회로 및 이 버스 구동 회로를 갖는 메모리 장치
KR20020033883A (ko) 반도체 메모리 장치의 서브-워드 라인 구동 회로
EP0590591A2 (en) Static random access memory for gate array devices
JP3715805B2 (ja) 半導体メモリ装置のワードライン駆動回路
KR100597639B1 (ko) 저전력 소모를 위한 반도체 메모리 장치
KR100325569B1 (ko) 분할 워드선 방식의 반도체 기억 장치
KR19980029718A (ko) 반도체 메모리 장치의 워드라인 구동회로
US5793669A (en) High density two port memory cell
KR100365563B1 (ko) 비트라인 센스앰프 구동장치
KR100237050B1 (ko) 반도체 메모리 소자의 비트라인과 워드라인간 커플링 노이즈 감소회로
KR100945789B1 (ko) 서브 워드라인 드라이버 및 이를 포함하는 반도체 메모리장치
KR940001410A (ko) 스태이틱형 램
US20020136073A1 (en) Integrated circuit devices having a sense amplifier driver disposed between one or more pairs of sense amplifiers and methods of manufacturing same
KR200303032Y1 (ko) 공동 센스앰프 구동회로
KR20010017198A (ko) 센싱 잡음 및 센싱 전류를 감소시키는 반도체 메모리장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20121224

Year of fee payment: 14

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131223

Year of fee payment: 15

LAPS Lapse due to unpaid annual fee