KR100876344B1

KR100876344B1 - 화상 형성 장치 및 그 제어 방법

Info

Publication number: KR100876344B1
Application number: KR1020060074661A
Authority: KR
Inventors: 야스히코 오타와; 미호 사사키
Original assignee: 후지제롯쿠스 가부시끼가이샤
Priority date: 2005-10-19
Filing date: 2006-08-08
Publication date: 2008-12-29
Also published as: JP4929671B2; CN100559304C; JP2007114354A; CN1952809A; US7885553B2; US20070086793A1; KR20070042857A

Abstract

본 발명은 리커버리 처리 시간의 단축을 실현할 수 있는 화상 형성 장치 및 그 제어 방법을 제공하는 것을 과제로 한다.

화상 형성 장치(10)는 화상 형성 장치 본체(12)와, 화상 형성 장치 본체(12)에 착탈 가능하게 장착된 토너 카트리지(34)와, 토너 카트리지(34)에 설치되고, 토너 카트리지(34)에 관한 정보를 기억하는 메모리 칩(37)과, 토너 카트리지(34)를 교환하는 제 1 단계에서 토너 카트리지(34)의 교환 조작 및 교환 이외의 조작을 행하기 위한 조작을 검지하는 개폐 센서(20)와, 토너 카트리지(34)를 교환하는 제 2 단계에서 토너 카트리지(34)의 교환 조작을 검지하는 유무 검지 센서(40)와, 개폐 검지 센서(20)에 의해 제 1 단계의 조작이 검지된 경우, 유무 검지 센서(40)에 의해 제 2 단계의 조작이 검지되었는지의 여부에 따라 메모리 칩(37)으로의 액세스를 제어하는 제어부(68)를 갖는다.

화상 형성 장치, 개폐 커버, 개폐 검지 센서, 프로세스 카트리지

Description

화상 형성 장치 및 그 제어 방법{IMAGE FORMING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF}

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 화상 형성 장치를 나타낸 측면도.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 화상 형성 장치를 나타낸 것으로서, 개폐 커버가 개방된 상태를 나타낸 측면도.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 제어부 및 메모리 칩의 회로 구성을 나타낸 블록도.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 화상 형성 장치에서의 교환 조작 검지 처리의 순서를 예시한 플로차트.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 제어부의 RAM에 기억된 토너 카트리지 착탈(着脫) 이력을 예시한 것으로서, (a)는 교환 조작 검지 처리에서의 갱신 전의 상태, (b)는 교환 검지 처리에서의 갱신 후의 상태를 나타낸 도면.

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 화상 형성 장치에서의 리커버리(recovery) 처리의 순서를 예시한 플로차트.

도 7은 본 발명의 실시예에 따른 화상 형성 장치에서의 액세스 제어 처리의 순서를 예시한 플로차트.

도 8은 본 발명의 실시예에 따른 제어부의 RAM에 기억된 토너 카트리지 착탈 이력을 예시한 것으로서, (a)는 액세스 제어 처리에서의 갱신 전의 상태, (b)는 액세스 제어 처리에서의 갱신 후의 상태를 나타낸 도면.

도 9는 본 발명의 실시예의 제 1 변형예에 따른 화상 형성 장치를 나타낸 측면도.

도 10은 본 발명의 실시예의 제 2 변형예에 따른 화상 형성 장치를 나타낸 측면도.

도 11은 본 발명의 실시예의 제 3 변형예에 따른 화상 형성 장치를 나타낸 측면도.

도 12는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 화상 형성 장치를 나타낸 측면도.

도 13은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 화상 형성 장치에서의 액세스 제어 처리의 순서를 예시한 플로차트.

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

10 : 화상 형성 장치 12 : 화상 형성 장치 본체

16 : 개폐 커버 20 : 개폐 검지 센서

32Y, 32M, 32C, 32B : 프로세스 카트리지

34Y, 34M, 34C, 34B : 토너 카트리지

37Y, 37M, 37C, 37B : 메모리 칩

40Y, 40M, 40C, 40B : 유무(有無) 검지 센서

68 : 제어부

본 발명은 프린터, 복사기 또는 팩시밀리 등의 화상 형성 장치 및 그 제어 방법에 관한 것이다.

이러한 화상 형성 장치에 있어서, 복수의 교환 가능한 유닛(교환 유닛)을 구비한 것이 알려져 있다. 예를 들어 이 교환 유닛에 상기 교환 유닛에 관한 데이터를 저장하는 기억 수단이 구비되고, 상기 기억 수단에 액세스하는 제어 수단을 갖는 것이 알려져 있다(예를 들어 특허문헌 1 내지 3).

[특허문헌 1] 일본국 공개특허2002-169429호 공보

[특허문헌 2] 일본국 공개특허2004-114652호 공보

[특허문헌 3] 일본국 공개특허2005-189280호 공보

그러나, 모든 종래 기술에 있어서 교환 유닛을 착탈할 수 있도록 설치된 개폐 커버를 폐쇄했을 때에, 교환되지 않은 교환 유닛의 기억 수단에 대해서도 액세스하도록 제어하고 있었기 때문에, 리커버리 처리에 시간이 소요되었다.

본 발명은 상기 종래의 문제를 해소하여, 리커버리 처리 시간의 단축을 실현할 수 있는 화상 형성 장치 및 그 제어 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제 1 특징으로 하는 바는, 화상 형성 장치 본체와, 상기 화상 형성 장치 본체에 착탈 가능하게 장착된 적어도 1개의 교환 유닛과, 상기 교환 유닛에 설치되고, 상기 교환 유닛에 관한 정보를 기억하는 기억 수단과, 상기 적어도 1개의 교환 유닛을 교환하는 제 1 단계에서 상기 적어도 1개의 교환 유닛의 교환 조작 및 교환 이외의 조작을 행하기 위한 조작을 검지하는 제 1 검지 수단과, 상기 적어도 1개의 교환 유닛을 교환하는 제 2 단계에서 상기 적어도 1개의 교환 유닛의 교환 조작을 검지하는 제 2 검지 수단과, 상기 제 1 검지 수단에 의해 제 1 단계의 조작이 검지된 경우, 상기 제 2 검지 수단에 의해 제 2 단계의 교환 조작이 검지되면, 상기 기억 수단에 액세스하는 제어 수단을 갖는 화상 형성 장치에 있다. 따라서, 리커버리 처리 시에서 교환 유닛에 대응한 기억 수단으로의 최적의 액세스를 실현할 수 있다. 이것에 의해, 기억 수단으로의 액세스 횟수를 감소시켜 리커버리 처리 시간을 단축할 수 있다.

본 발명의 제 2 특징으로 하는 바는, 화상 형성 장치 본체와, 상기 화상 형성 장치 본체에 착탈 가능하게 장착된 복수의 교환 유닛과, 상기 복수의 교환 유닛에 설치되고, 상기 복수의 교환 유닛에 관한 정보를 기억하는 복수의 기억 수단과, 상기 교환 유닛을 교환하는 제 1 단계에서 상기 교환 유닛의 교환 조작 및 교환 이외의 조작을 행하기 위한 조작을 검지하는 제 1 검지 수단과, 상기 교환 유닛을 교환하는 제 2 단계에서 상기 교환 유닛의 교환 조작을 검지하는 제 2 검지 수단과, 상기 제 1 검지 수단에 의해 제 1 단계의 조작이 검지된 경우, 상기 제 2 검지 수단에 의한 제 2 단계의 교환 조작이 검지되면, 교환된 상기 교환 유닛에 대응한 기억 수단에만 액세스하는 제어 수단을 갖는 화상 형성 장치에 있다. 따라서, 리커버리 처리 시에서 교환된 교환 유닛에 대응한 기억 수단에 대해서만 액세스할 수 있다. 이것에 의해, 기억 수단으로의 액세스 횟수를 감소시켜 리커버리 처리 시간을 단축할 수 있다.

바람직하게는, 상기 제 2 검지 수단은 상기 복수의 교환 유닛의 수보다도 적게 설치되고, 상기 제어 수단은, 상기 제 1 검지 수단에 의해 제 1 단계의 조작이 검지된 경우, 상기 제 2 검지 수단에 의한 제 2 단계의 교환 조작이 검지되면, 교환된 상기 복수의 교환 유닛에 대응한 복수의 기억 수단에 액세스한다. 따라서, 제 1 단계의 조작에서 교환 유닛의 교환 이외의 조작(다른 조작)만이 실행된 경우에는, 기억 수단에 대한 액세스를 행하지 않게 할 수 있어 리커버리 처리 시간을 단축할 수 있다. 또한, 제 2 검지 수단의 수를 적게 할 수 있어 비용을 저감할 수 있다.

바람직하게는, 상기 기억 수단은 불휘발성 메모리로 이루어진다. 따라서, 화상 형성 장치의 전원을 오프(off)로 하여도 데이터를 유지할 수 있기 때문에, 교환 유닛 내에 새롭게 전원을 설치할 필요가 없어 비용을 저감할 수 있다.

바람직하게는, 상기 화상 형성 장치 본체에 상기 교환 유닛의 교환 조작 및 교환 이외의 조작을 실행할 수 있게 설치된 개폐 수단을 갖고, 상기 제 1 검지 수단은 이 개폐 수단의 개폐를 검지한다. 따라서, 교환 유닛의 교환 및 그 이외의 조작 개시를 검출하는 센서, 교환 유닛의 교환 및 그 이외의 조작 종료를 검출하는 센서 등을 새롭게 설치하지 않고, 제 1 단계의 조작, 즉, 교환 유닛의 교환 조작 및 교환 이외의 조작을 행하기 위한 조작을 검지할 수 있다.

또한, 본 발명에 따른 화상 형성 장치의 제어 방법은, 화상 형성 장치 본체에 착탈 가능하게 장착된 적어도 1개의 교환 유닛의 교환 조작 및 교환 이외의 조작을 행하기 위한 조작을 검지하는 제 1 단계와, 상기 적어도 1개의 교환 유닛을 교환하는 조작을 검지하는 제 2 단계와, 상기 제 1 단계의 조작이 검지된 경우, 상기 제 2 단계의 교환 조작이 검지되었으면, 교환된 상기 교환 유닛에 설치된 기억 수단에 제어 수단이 액세스하는 제 3 단계를 포함한다.

다음으로, 본 발명의 실시예를 도면에 의거하여 설명한다.

도 1 및 도 2에 있어서, 본 발명의 실시예에 따른 화상 형성 장치(10)가 도시되어 있다. 이 화상 형성 장치(10)는 화상 형성 장치 본체(12)를 갖고, 이 화상 형성 장치 본체(12) 내에 화상 형성 수단(14), 시트 공급 수단으로서의 시트 공급 장치(54), 전원 유닛(66), 및 제어 수단으로서의 제어부(68)가 배열 설치되어 있다.

화상 형성 장치 본체(12)에는 상기 화상 형성 장치 본체(12)의 상부에 화상 형성이 실행된 시트가 배출되는 시트 배출부(15)가 설치되고, 상기 화상 형성 장치 본체(12)의 우측 면에 개폐 수단으로서의 개폐 커버(16)가 설치된다. 이 개폐 커버(16)는 화상 형성 장치 본체(12) 우측 면의 하단(下端) 근방에 설치된 회동지축(回動支軸)(17)을 지점(支點)으로 하여 화상 형성 장치 본체(12)에 회동 가능하게 설치되어 있다. 도 2에 나타낸 바와 같이, 이 개폐 커버(16)를 화상 형성 장치 본체(12)의 우측 방향(도 2의 화살표 A방향)으로 회동시켜 개방했을 때에는 개방부(18)가 형성되고, 이 개방부(18)를 통하여 후술하는 교환 유닛으로서의 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)나 프로세스 카트리지(32Y, 32M, 32C, 32B) 등을 착탈(교환 조작)할 수 있게 되어 있다. 또한, 후술하는 바와 같이 화상 형성 장치 본 체(12) 내에서 잼(jam)이 발생한 경우에도, 이 개폐 커버(16)를 개방함으로써 잼 처리 조작을 행할 수 있게 되어 있다.

또한, 회동지축(17) 근방에는 예를 들어 개폐 커버(16)의 개폐에 따라 접리(接離)함으로써 개폐 커버(16)의 개폐를 검지하는 제 1 검지 수단으로서의 개폐 검지 센서(20)가 설치되어 있다. 따라서, 개폐 검지 센서(20)는, 개폐 커버(16)의 개폐를 검지함으로써, 교환 유닛의 교환 조작 및 교환 이외의 조작(잼 처리 조작)을 행하기 위한 조작(개폐 커버(16)의 개폐 조작)을 검지하는 센서(검지 수단)로서 기능한다. 이 개폐 검지 센서(20)의 검지 결과(예를 들어 개폐 커버(16)가 개방되었을 때는 ON(검지), 개폐 커버(16)가 폐쇄되었을 때는 OFF는 후술하는 제어부(68)에 출력되게 되어 있다.

화상 형성 수단(14)은 컬러 화상을 형성하는 전자 사진 방식이며, 현상제 화상을 담지(擔持)하는 상담지체로서의 드럼 형상 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)와, 이 각 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)를 균일하게 대전(帶電)하는 대전 롤을 구비한 대전 수단으로서의 대전 장치(24Y, 24M, 24C, 24B)와, 각 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)에 광에 의해 정전 잠상(潛像)을 기입하는 잠상 형성 수단으로서의 광기입 장치(26Y, 26M, 26C, 26B)와, 각 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)에 기입된 잠상을 현상제(토너)에 의해 현상하는 현상 수단으로서의 현상 장치(28Y, 28M, 28C, 28B)와, 후술하는 전사 유닛(42)에 의한 현상제 화상의 전사가 실행된 후에 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)에 잔류되는 현상제를 제거하는 현상제 제거 수단으로서의 클리닝 장치(30Y, 30M, 30C, 30B)를 갖는다.

광기입 장치(26Y, 26M, 26C, 26B)는 각각 레이저 노광 장치로 이루어지며, 광기입 장치(26Y)는 감광체(22Y)에 황색(yellow) 화상에 대응하는 레이저광을, 광기입 장치(26M)는 감광체(22M)에 자홍색(magenta) 화상에 대응하는 레이저광을, 광기입 장치(26C)는 감광체(22C)에 청록색(cyan) 화상에 대응하는 레이저광을, 광기입 장치(26B)는 감광체(22B)에 흑색(black) 화상에 대응하는 레이저광을 각각 조사(照射)하여 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)에 각각 정전 잠상을 기입하게 되어 있다.

교환 유닛으로서의 프로세스 카트리지(32)는 화상 형성 장치 본체(12)에 착탈 가능하게 장착되고, 감광체(22), 대전 장치(24), 현상 장치(28) 및 클리닝 장치(30)를 일체화한 것이다. 또한, 이 프로세스 카트리지(32)에는 현상 장치(28)에 공급되는 현상제(토너)를 수용하는 현상제 수용기(교환 유닛)로서의 토너 카트리지(토너 보틀)(34)와, 클리닝 장치(30)에 의해 제거된 현상제(토너)를 회수하는 현상제 회수 용기로서의 폐(廢)토너 보틀(36)이 상기 프로세스 카트리지(32)와 일체로 또는 착탈 가능하게 설치되어 있다.

이들 프로세스 카트리지(32Y, 32M, 32C, 32B)는 화상 형성 장치 본체(12) 내에서 후술하는 반송 벨트(46)를 따라 도 1에서의 하방(下方)으로부터 상방(上方)으로 프로세스 카트리지(30Y), 프로세스 카트리지(30M), 프로세스 카트리지(30C), 프로세스 카트리지(30B)의 순서로 배열되어 있다.

프로세스 카트리지(32Y)는 황색 현상제 화상의 형성용이고, 프로세스 카트리지(32M)는 자홍색 현상제 화상의 형성용이며, 프로세스 카트리지(32C)는 청록색 현 상제 화상의 형성용이고, 프로세스 카트리지(32B)는 흑색 현상제 화상의 형성용이다. 따라서, 토너 카트리지(34Y)에는 황색 토너가, 토너 카트리지(34M)에는 자홍색 토너가, 토너 카트리지(34C)에는 청록색 토너가, 토너 카트리지(34B)에는 흑색 토너가 충전(수용)되어 있다.

토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)에는 기억 수단으로서의 메모리 칩(37Y, 37M, 37C, 37B)(도 3을 이용하여 후술)이 설치되어 있다. 또한, 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)에는 상기 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)의 유무를 검지하는 제 2 검지 수단으로서의 유무 검지 센서(40Y, 40M, 40C, 40B)(도 3을 이용하여 후술)가 설치되어 있다.

전사 수단으로서의 전사 유닛(42)은 상술한 개폐 커버(16) 내에 설치되고, 프로세스 카트리지(32Y, 32M, 32C, 32B)의 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)와 맞닿도록 배치되어 있다. 이 전사 유닛(42)은 유닛으로서 일체화되어 있는 2개의 지지 롤(44a, 44b)과, 시트 또는 화상을 반송하는 반송 수단으로서의 반송 벨트(46)와, 이 반송 벨트(46)에 시트를 흡착(吸着)시키는 흡착 수단으로서의 흡착 롤(48)과, 반송 벨트(46)에 의해 반송 중인 시트에 각 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)에 형성된 현상제 화상을 각각 전사하는 전사 롤(50Y, 50M, 50C, 50B)이 장착되어 이루어진다. 이 전사 유닛(42)은, 개폐 커버(16)가 개방될 때에는, 개폐 커버(16)와 함께 회동지축(17)을 지점으로 하여 회동하고, 각 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)와의 맞닿음을 해제하게 되어 있다. 따라서, 반송 벨트(46) 위에서 잼이 발생한 경우는, 개폐 커버(16)를 개방함으로써 잼 처리 조작을 행할 수 있게 되어 있다.

흡착 롤(46)은 반송 벨트(46)를 통하여 지지 롤(44a)에 압접(壓接)하는 상태로 설치되고, 전원 유닛(66)으로부터 전압이 인가되어 반송 벨트(46)에 정전적으로 시트를 흡착시키게 되어 있다.

각 전사 롤(50Y, 50M, 50C, 50B)에는 각각 전사 바이어스가 인가되고 있어 상기 전사 롤(50Y, 50M, 50C, 50B)은 감광체(22Y, 22M, 32C, 22B)에 형성된 현상제 화상을 반송 벨트(46)에 의해 반송 중인 시트에 차례로 전사하고, 시트에 황색, 자홍색, 흑색, 청록색의 4색 현상제 화상이 중첩된 컬러 현상제 화상을 형성하게 되어 있다.

또한, 화상 형성 장치 본체(12) 내의 상부에는, 전사 유닛(42)에 의해 시트에 전사된 현상제 화상을 시트에 정착시키는 정착 장치(52)가 설치되어 있다. 정착 장치(52)는 가열 롤(52a)과 가압 롤(52b)로 이루어지며, 가열 롤(52a)과 가압 롤(52b) 사이를 통과하는 시트를 가열 및 가압함으로써 시트에 현상제 화상을 정착시키게 되어 있다.

또한, 화상 형성 장치 본체(12) 내의 하부에는, 시트 공급 수단으로서의 시트 공급 장치(54)가 설치되어 있다. 시트 공급 장치(54)는 시트가 적재(積載)되는 시트 공급 카세트(56)와, 이 시트 공급 카세트(56)로부터 후술하는 레지스트 롤(62)을 향하여 시트를 송출(送出)하는 공급 롤(feed roll)(58)을 갖는다. 시트 공급 카세트(56)는 화상 형성 장치 본체(12)에 대하여 착탈 가능하게 설치되어 있고, 보통지, OHP 시트 등의 피(被)전사체로서의 시트가 수납(적재)된다.

또한, 화상 형성 장치 본체(12)에는 시트 공급 카세트(56)로부터 후술하는 배출 롤(64)에 걸쳐 반송로(60)가 설치되어 있다. 반송로(60)는 시트 공급 카세트(56)로부터 공급된 시트를 시트 배출부(15)까지 반송하는 반송로이며, 이 반송로(60)를 따라 시트 반송 방향 상류(上流)로부터 차례로 레지스트 롤(62), 전사 유닛(42), 정착 장치(52) 및 배출 롤(64)이 배치되어 있다. 레지스트 롤(62)은 소정의 타이밍에 맞추어 시트를 상술한 전사 유닛(42)에 공급하도록 배열 설치되고, 배출 롤(64)은 정착 장치(52)로부터 반송된 시트를 시트 배출부(15)에 배출하도록 배열 설치된다.

또한, 교환 유닛의 일례로서 프로세스 카트리지(32) 및 토너 카트리지(34)를 예시했지만, 화상 형성 장치 본체(12)에 착탈 가능하게 장착된 감광체(22), 대전 장치(24), 광기입 장치(26), 현상 장치(28), 클리닝 장치(30), 폐토너 보틀(36), 전사 유닛(42), 정착 장치(52), 시트 공급 장치(54) 중 1개 이상을 조합시켜 교환 유닛으로 할 수도 있다.

다음으로, 제어부(68) 및 메모리 칩(37)의 각각의 회로 구성에 대해서 설명한다.

도 3은 제어부(68) 및 메모리 칩(37)의 회로 구성을 주로 나타낸 블록도이다.

도 3에 나타낸 바와 같이, 제어부(68)는 CPU(70), ROM(72), RAM(74), 전원 회로(76), 송수신 회로(78), 인터페이스(IF) 회로(80)를 포함한다.

제어부(68)에 있어서, CPU(70)는 제어부(68)의 각 구성 부분을 제어한다. ROM(72)은 예를 들어 플래시 R0M으로 이루어지며, 화상 형성 장치(10)의 제어에 필 요한 정보를 기억한다. RAM(74)은 예를 들어 SRAM으로 이루어지며, IF 회로(80)로부터 입력되는 화상 데이터 등의 일시적인 정보를 기억한다. 또한, 이 RAM(74)에는 후술하는 토너 카트리지 착탈 이력, 토너 유닛 착탈 이력 및 교환 유닛 착탈 이력 등의 정보가 기억(보존)된다. 전원 회로(76)는 제어부(68)의 각 구성 부분의 동작에 필요한 전력을 공급한다. 송수신 회로(78)는 후술하는 안테나(82a∼82d)에 의해 수신된 신호를 복조(複調)하고, 수신 신호에 포함되는 데이터를 생성하여 CPU(70)에 대하여 출력한다. IF 회로(80)는 네트워크 등을 통하여 외부 컴퓨터와의 사이에서 화상 데이터 등을 송수신한다.

또한, CPU(70)에는 개폐 검지 센서(20)의 검지 결과 및 유무 센서(40Y, 40M, 40C, 40B)의 검지 결과가 입력된다.

안테나(82a∼82d)는 토너 카트리지(34)의 메모리 칩(37)으로부터 송신되는 토너 카트리지(34)에 관한 정보를 수신하여 제어부(68)의 송수신 회로(78)에 대하여 출력한다. 예를 들어 안테나(82a∼82d)는 화상 형성 장치 본체(12)에 장착된 토너 카트리지(34)의 근방에 배치되어 있다. 보다 구체적으로는, 제 1 안테나(82a)는 토너 카트리지(34Y)의 근방, 제 2 안테나(82b)는 토너 카트리지(34M)의 근방에 배치되어, 상기 토너 카트리지(34Y, 34M)의 메모리 칩(37Y, 37M)으로부터 송신되는 정보를 각각 수신한다. 제 3 안테나(82c)는 토너 카트리지(34C)의 근방, 제 4 안테나(82d)는 토너 카트리지(34B)의 근방에 배치되어, 상기 토너 카트리지(34C), 토너 카트리지(34B)의 메모리 칩(37C, 37B)으로부터 송신되는 정보를 각각 수신한다. 이렇게 하여, 안테나(54)는 메모리 칩(37)으로부터 송신되는 토너 카트리지(34)에 관한 정보를 수신하는 수신 수단을 구성한다.

또한, 상술한 바와 같이 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)에는 대응하는 메모리 칩(37Y, 37M, 37C, 37B)이 설치되어 있다. 메모리 칩(37)은 CPU(84), EPROM(86), RAM(88), 전원 회로(90), 송수신 회로(92), 안테나(98)를 포함한다. 메모리 칩(37)은 이들 구성요소에 의해 토너 카트리지(34)에 관한 정보를 기억하여 통신 요구를 발행하고, 송신 대상에 대하여 EPROM(86)에 기억되어 있는 정보를 무선에 의해 송신한다.

메모리 칩(37)에 있어서, CPU(84)는 메모리 칩(37)의 각 구성 부분의 동작을 제어한다. 전원 회로(90)는, 전파 신호를 수신하면, 전파 신호에 의한 전자유도에 의해 발생한 전류를 정류(整流)하고, 메모리 칩(37)의 각 구성 부분에 대하여 이들 동작에 필요한 전력을 공급한다. 메모리 칩(37)은, 예를 들어 전원 회로(90)에 의해 발생되는 전압보다도 높은 전압이 필요한 경우에는, 화상 형성 장치 본체(12)로부터 전력 공급을 받도록 구성될 수도 있다. 예를 들어 전력은 메모리 칩(37)에 전원용 코일 등을 더 설치하여 화상 형성 장치 본체(12)에 공급되고 있는 교류(交流)로부터 비접촉으로 공급될 수도 있다.

EPROM(86)은 예를 들어 기입 가능한 불휘발성 메모리이며, CPU(84)로부터 입력되는 신호가 데이터의 기입을 나타낼 경우에는 그 데이터를 기억하고, 데이터의 판독을 나타낼 경우에는 기억되어 있는 데이터를 CPU(84)에 대하여 출력한다. 이 EPROM(86)은 예를 들어 토너에 관한 정보 등 토너 카트리지(34)에 관한 정보를 기억한다. 이와 같이, EPROM(86)에 불휘발성 메모리를 사용함으로써, 화상 형성 장 치(10)의 전원을 오프(off)로 하여도 데이터를 유지할 수 있고, 교환 유닛 내에 새롭게 전원을 설치할 필요가 없어 비용을 저감할 수 있다. 또한, EPROM(86)은 기입 가능한 기억 장치로서, 화상 형성 장치(10)의 전원을 오프로 하여도 데이터를 유지할 수 있으면, 배터리 등에 의해 전원이 백업된 SRAM, HDD(Hard Disk Drive) 또는 광메모리 등일 수도 있다.

RAM(88)은 CPU(84)에 의해 기입 및 판독이 실행되는 일시적인 정보를 기억한다.

송수신 회로(92)는 CPU(84)로부터 입력되는 데이터 등의 신호를 블록 신호에 동기(同期)하여 변조하고, 안테나(98)에 대하여 출력한다. 또한, 송수신 회로(92)는, 전파 신호를 수신하면, 전파 신호에 포함되는 데이터 등의 신호를 블록 신호에 동기하여 CPU(84)에 대하여 출력한다.

안테나(98)는 송수신 회로(92)로부터 입력된 신호를 전파 신호로서 토너 카트리지(34)의 근방에 설치된 안테나(82)에 대하여 송신한다.

또한, 전파 신호로서 송신되는 신호는 CPU(84)에 의해 암호화된 후에 전파 신호로 변환되어 송수신되게 할 수도 있다.

또한, 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)에는, 상기 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)의 유무를 검지하는 제 2 검지 수단으로서의 유무 검지 센서(40Y, 40M, 40C, 40B)가 설치되어 있다. 이 유무 센서(40)는 예를 들어 화상 형성 장치 본체(12)에 대한 토너 카트리지(34)의 착탈에 따라 접리함으로써 상기 토너 카트리지(34)의 유무를 검지하게 되어 있으며, CPU(70)에 상기 토너 카트리지(34)의 검지 결과(예를 들어 토너 카트리지(34)가 있을 때는 OFF, 토너 카트리지(34)가 없을 때는 ON(검지))를 출력하게 되어 있다. 또한, 이 유무 검지 센서(40)는 토너 카트리지(34)의 유무를 검지할 수 있으면 되기 때문에, 기계식 센서, 전기식 센서, 전자유도 등을 이용한 비접촉식 센서 및 무선 통신 수단을 이용한 무선식 센서 등일 수도 있다.

제어부(68)는, 이들 구성요소에 의해, 개폐 검지 센서(20) 및 유무 검지 센서(40Y, 40M, 40C, 40B)에 의해 입력된 정보(검지 결과)에 의거하여 메모리 칩(37Y, 37M, 37C, 37B)으로의 액세스를 제어한다. 구체적으로는, CPU(70)는, 개폐 센서(20)가 검지된 경우, 유무 검지 센서(40Y, 40M, 40C, 40B)의 검지에 따라 교환된 토너 카트리지(34)에 대응한 메모리 칩(37)에만 액세스하도록 제어한다. 또한, 제어부(68)에서의 메모리 칩(37)으로의 액세스의 제어 방법에 대해서는 상세하게 후술한다.

또한, 메모리 칩(37Y, 37M, 37C, 37B)과 제어부(68)의 통신 수단으로서 무선 방식의 통신 수단을 설명했지만, 메모리 칩(37)과 제어부(68)의 통신이 가능하면 되기 때문에, 통신 케이블 등을 이용하는 유선 방식(접촉식)의 통신 수단을 사용할 수도 있다.

다음으로, 상기 실시예의 작용에 대해서 설명한다.

화상 형성 동작이 개시되면, 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)의 표면이 대전 장치(24Y, 24M, 24C, 24B)에 의해 균일하게 대전되고, 이들 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)의 표면에 광기입 장치(26Y, 26M, 26C, 26B)로부터 조사된 광에 의해 잠상의 형성이 실행되며, 이들 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)의 잠상이 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)에 충전(수용)된 현상제(토너)로 현상 장치(28Y, 28M, 28C, 28B)에 의해 현상되어, 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)의 표면에 각각 현상제 화상이 형성된다.

한편, 시트 공급 장치(54)의 시트 공급 카세트(52)에 수납(적재)된 시트가 공급 롤(58)에 의해 레지스트 롤(62)을 향하여 반송되고, 레지스트 롤(62)에 의해 일시 정지되어 소정의 타이밍에서 전사 유닛(42)의 반송 벨트(46)로 유도된다. 이어서, 이 시트에 감광체(22Y, 22M, 22C, 22B)에 형성된 현상제 화상이 전사 롤(50Y, 50M, 50C, 50B)에 의해 각각 전사되고, 시트에 황색 현상제 화상, 자홍색 현상제 화상, 청록색 현상제 화상, 흑색 현상제 화상이 중첩된 현상제 화상이 현상된다. 그리고, 현상제 화상이 형성된 시트가 정착 장치(52)로 보내져 정착 장치(52)에 의해 현상제(토너)의 정착이 실행된 후, 배출 롤(64)에 의해 시트 배출부(15)로 배출된다. 또한, 프린트 처리 중에 잼이 발생한 경우는, 개폐 커버(16)가 개방되어 잼 처리 조작이 실행된다. 이 잼 처리 조작 후, 개폐 커버(16)가 폐쇄됨으로써, 후술하는 리커버리 처리가 실행된다.

또한, 이와 같이 프린트 처리가 반복되면, 교환 유닛이 교환될 필요가 생기게 된다. 교환 유닛의 교환 필요에 따라, 개폐 커버(16)가 개방되어 교환 유닛의 교환 조작이 실행된다.

예를 들어 적어도 1개의 토너 카트리지(34) 내의 토너가 없어지면, 상기 토너 카트리지(34)는 교환될 필요가 있다. 이 때문에, 개폐 커버(16)가 개방되어 사 용 완료의 토너 카트리지(34)가 화상 형성 장치 본체(12)로부터 제거되고, 신규 토너 카트리지(34)가 화상 형성 장치 본체(12)에 장착된다.

이 교환 유닛의 교환 조작 후, 개폐 커버(16)가 폐쇄됨으로써, 후술하는 리커버리 처리가 실행된다.

다음으로, 본 실시예에 따른 화상 형성 장치(10)의 제어 방법을 설명한다. 구체적으로는, 제어부(68)에서의 메모리 칩(37)으로의 액세스 제어 방법을 도 4 내지 도 8에 의거하여 상세하게 설명한다.

또한, 본 실시예에 있어서는 교환 유닛의 일례로서 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)를 예로, 또한 제어부(68)에서의 메모리 칩(37)으로의 액세스의 일례로서 상기 메모리 칩(37)의 데이터 판독 처리를 예로 들어 설명한다.

우선, 교환 유닛의 교환 조작 및 교환 이외의 조작(잼 처리 등) 시의 처리에 대해서 설명한다.

도 4는 본 실시예에 따른 화상 형성 장치(10)에서의 교환 조작 검지 처리(S10), 즉, 개폐 커버(16)가 개방되어 있을 때의 처리를 나타낸 플로차트이다.

도 4에 나타낸 바와 같이, 스텝 S100에서, 제어부(68)는 개폐 검지 센서(20)의 검지 결과에 의거하여 개폐 커버(16)가 개방되어 있는지의 여부를 판정한다. 제어부(68)는, 개폐 커버(16)가 개방되어 있다고 판정된 경우, 즉, 개폐 검지 센서(20)의 검지 결과가 개방(ON)일 경우는 스텝 S105의 처리로 이행(移行)하고, 검지 결과가 폐쇄(OFF)일 경우, 즉, 개폐 커버(16)가 개방되어 있지 않다고 판정된 경우는 다시 스텝 S100의 처리로 이행한다. 이와 같이, 교환 유닛을 교환하는 제 1 단계로서, 적어도 1개의 교환 유닛의 교환 조작 및 교환 이외의 조작(잼 처리 조작 등)을 행하기 위한 조작, 즉, 개폐 커버(16)의 개폐 조작을 검지한다.

다음으로, 스텝 S105에서, 제어부(68)는 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)가 착탈되었는지의 여부를 판정한다. 즉, 제어부(68)는 유무 검지 센서(40Y, 40M, 40C, 40B) 중 어느 하나의 검지 결과가 유(有)(OFF)로부터 무(無)(ON)로 된 경우는 스텝 S110의 처리로 이행하고, 그 이외의 경우는 다시 스텝 S100의 처리로 이행한다. 이와 같이, 교환 유닛을 교환하는 제 2 단계로서, 적어도 1개의 교환 유닛을 교환하는 조작을 검지한다.

다음으로, 스텝 S110에서, 제어부(68)는 RAM(74)에 기억된 토너 카트리지 착탈 이력을 갱신한다. 구체적으로는, 도 5의 (a)에 나타낸 바와 같이, 예를 들어 RAM(74)의 특정 기억 영역에 대상으로 되는 교환 유닛(본 실시예에서는 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B))에 따라 각각 1비트씩 4비트를 할당하고, 도 5의 (b)에 나타낸 바와 같이 유무 검지 센서(40)의 검지 결과에서 OFF로부터 ON으로 된 비트를 1로 한다. 따라서, 예를 들어 유무 검지 센서(40Y, 40M, 40C, 40B)의 검지 결과가 모두 OFF로부터 ON으로 되지 않은 경우, 즉, 모든 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)가 착탈되지 않은 경우는, 토너 카트리지 착탈 이력이 「0000」으로 되는 한편, 모든 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)가 착탈된 경우는, 토너 카트리지 착탈 이력이 「1111」로 된다.

이렇게 하여 제어부(68)는, 스텝 S100 내지 스텝 S110의 처리를 반복함으로써, 개폐 커버(16)가 개방되어 있을 때에 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)가 착 탈되었는지의 여부를 감시하고, 그 결과를 토너 카트리지 착탈 이력으로서 상기 제어부(68)의 RAM(74)에 보존한다.

이와 같이, 개폐 검지 센서(20)는 교환 유닛을 교환하는 제 1 단계에서 교환 유닛 및 그 이외(잼 처리 조작 등)의 조작을 행하기 위한 조작, 즉, 개폐 커버(16)의 개폐 조작을 검지한다. 따라서, 교환 유닛의 교환 및 그 이외의 조작 개시를 검출하는 센서, 교환 유닛의 교환 및 그 이외의 조작 종료를 검출하는 센서 등을 새롭게 설치하지 않고, 제 1 단계의 조작, 즉, 교환 유닛 및 그 이외의 조작을 행하기 위한 조작을 검지할 수 있다. 또한, 유무 검지 센서(40)는 교환 유닛을 교환하는 제 2 단계에서 교환 유닛의 교환 조작을 검지한다. 즉, 개폐 검지 센서(20)가 개방을 검지하고 있을 때에(개폐 커버(16)가 개방되어 있을 때에), 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)의 유무를 검출함으로써, 상기 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)의 교환 조작을 검지한다.

다음으로, 교환 유닛의 교환 조작 종료 후의 처리(리커버리 처리)에 대해서 설명한다.

도 6은 본 실시예에 따른 화상 형성 장치(10)에서의 리커버리 처리(S12), 즉, 개폐 커버(16)가 폐쇄된 후의 처리를 나타낸 플로차트이다.

도 6에 나타낸 바와 같이, 스텝 S120에서, 제어부(68)는 개폐 검지 센서(20)의 검지 결과에 의거하여 교환 유닛의 교환 및 그 이외의 조작을 행하기 위한 조작이 종료되었는지의 여부, 즉, 개폐 커버(16)가 폐쇄되었는지의 여부를 판정한다. 개폐 커버(16)가 개방되어 있다고 판정된 경우, 즉, 개폐 검지 센서(20)의 검지 결 과가 개방(ON)일 경우는 다시 스텝 S120의 처리로 이행하고, 개폐 커버(16)가 폐쇄(OFF)로 판정된 경우는 스텝 S125의 처리로 이행한다.

다음으로, 스텝 S125에서, 제어부(68)는 후술하는 착탈 검지에 의거한 메모리 데이터 판독 처리(액세스 제어 처리(S14))를 실시한다. 제어부(68)는 착탈 검지에 의거한 메모리 데이터 판독 처리(액세스 제어 처리(S14))의 종료 후 스텝 S170의 처리로 이행한다. 스텝 S170에서, 제어부(68)는 다른 리커버리 처리를 실시하고, 일련의 리커버리 처리(S12)를 종료한다.

다음으로, 상술한 착탈 검지에 의거한 메모리 데이터 판독 처리(액세스 제어 처리(S14))에 대해서 상술한다.

도 7에 나타낸 바와 같이, 액세스 제어 처리(S14)를 개시하면, 스텝 S130에서, 제어부(68)는 RAM(74)에 보존된 토너 카트리지 착탈 이력을 참조하고, 4개의 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)에서의 교환 조작 유무를 조사했는지의 여부를 판정하여, 모든(4개) 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)가 조사되었다고 판정된 경우는 스텝 S150의 처리로 이행하고, 그 이외의 경우는 스텝 S135의 처리로 이행한다.

스텝 S135에서, 제어부(68)는 상술한 스텝 S110에서 RAM(74)에 갱신된 토너 카트리지 착탈 이력을 참조하고, 특정 토너 카트리지(34)가 교환되었는지의 여부를 판정한다. 구체적으로, 제어부(68)는 예를 들어 토너 카트리지(34Y)에 할당된 비트를 참조하고, 이 비트에 할당된 토너 카트리지(34Y)가 교환되었지의 여부를 판정한다. 즉, 특정 토너 카트리지(34)에 할당된 비트가 O인지 1인지를 판단하여, O인 경우는 상기 특정 카트리지가 교환되지 않았다고 판정하여 스텝 S145의 처리로 이행하고, 1인 경우는 상기 특정 카트리지(34)가 교환되었다고 판정하여 스텝 S140의 처리로 이행한다.

스텝 S140에서, 상기 스텝 S135에서 교환되었다고 판정된 토너 카트리지(34)에 대응한 메모리 칩(37)으로부터 상기 메모리 칩(37)에 기억된 데이터를 판독한다. 즉, 제어부(68)는 교환된 토너 카트리지(34)에 대응한 메모리 칩(37)에 액세스한다. 예를 들어 제어부(68)는, 스텝 S135에서 토너 카트리지(34Y)에 할당된 비트가 1이라고 판단된 경우, 토너 카트리지(34Y)의 메모리 칩(37Y)에 기억된 상기 토너 카트리지(34Y)에 관한 데이터를 판독한다.

스텝 S145에서, 제어부(68)는 토너 카트리지 착탈 이력을 갱신한다. 예를 들어 제어부(68)는 토너 카트리지 착탈 이력을 참조하고, 스텝 S135에서 참조한 비트를 0으로 하여 상기 비트의 참조 완료 처리를 행한다. 보다 구체적으로는, 도 8의 (a) 및 (b)에 나타낸 바와 같이, 예를 들어 참조한 토너 카트리지(34Y)에 할당된 비트를 1에서부터 0으로 하여, 이 비트의 참조 완료 처리를 행한다. 제어부(68)는, 토너 카트리지 착탈 이력을 갱신한 후, 다시 스텝 S130의 처리로 이행한다.

이와 같이, 제어부(68)는 스텝 S130에서부터 스텝 S145를 소정 횟수 반복하고, 토너 카트리지 착탈 이력의 첫 번째 비트로부터 네 번째 비트를 차례로 참조한다. 이 때, 제어부(68)는 참조한 비트가 1일 경우에는 상기 비트가 할당된 토너 카트리지(34)에 대응한 메모리 칩(37)으로부터 데이터를 판독하고, 상기 참조한 비 트를 O으로 하여 상기 비트의 참조 완료 처리를 행한다. 한편, 참조한 비트가 O일 경우에는 메모리 칩(37)으로부터 데이터의 판독은 행하지 않고, 상기 비트의 참조 완료 처리를 행한다. 이렇게 하여 제어부(68)는, 스텝 S130에서 토너 카트리지 착탈 이력의 모든(4개) 비트로 참조 완료 처리가 실행되었을 때, 즉, 토너 카트리지 착탈 이력이 「0000」으로 된 경우에는 일련의 처리를 종료하고, 스텝 S150의 처리로 이행한다.

다음으로, 스텝 S150에서, 제어부(68)는 RAM(74)에 기억된 교환 유닛 착탈 이력을 참조하고, 상술한 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B) 이외의 교환 유닛에서의 교환 조작 유무를 조사했는지의 여부를 판정하여, 모든 교환 유닛을 조사했다고 판정된 경우는 일련의 처리를 종료하여 스텝 S170(도 6에 도시)으로 이행한다. 한편, 모든 교환 유닛을 조사하지 않았다고 판정된 경우는, 스텝 S155의 처리로 이행한다.

상기 스텝 S130 내지 스텝 S145와 마찬가지로, 제어부(68)는 스텝 S150 내지 스텝 S165를 소정 횟수 반복한다. 즉, 제어부(68)는 교환 유닛 착탈 이력의 첫 번째 비트로부터 n개째 비트를 차례로 참조하여, 참조한 비트가 1일 경우는, 상기 비트가 할당된 교환 유닛에 대응한 메모리 칩으로부터 데이터를 판독하고, 상기 참조한 비트를 0으로 하여 상기 비트의 참조 완료 처리를 행한다. 한편, 참조한 비트가 0일 경우는, 메모리 칩으로부터 데이터의 판독은 행하지 않고, 상기 비트의 참조 완료 처리를 행한다. 스텝 S150에서 교환 유닛 착탈 이력의 1∼n개째의 모든 비트로 참조 완료 처리가 실행되었을 때, 즉, 교환 유닛 착탈 이력이 「000…0」으 로 된 경우에는 일련의 처리를 종료하고, 스텝 S170(도 6에 도시)의 처리로 이행한다.

이와 같이, 제어부(68)는, 개폐 검지 센서(20)에 의해 제 1 단계의 조작(개폐 커버(16)의 개폐 조작)이 검지된 경우, 유무 검지 센서(40)에 의해 제 2 단계의 조작(적어도 1개의 토너 카트리지(34)의 교환 조작)이 검지되었는지의 여부에 따라 메모리 칩(37)으로의 액세스를 제어한다. 보다 구체적으로는, 제어부(68)는, 개폐 검지 센서(20)에 의해 개폐 커버(16)의 개방이 검지된 경우, 유무 검지 센서(40)에 의해 토너 카트리지(34)의 유무 검지에 따라 교환된 상기 토너 카트리지(34)에 대응한 메모리 칩(37)에만 액세스하도록 제어한다. 따라서, 리커버리 처리 시에 교환되지 않은 토너 카트리지(34)에 대응한 메모리 칩(37)에 액세스를 행하지 않기 때문에, 메모리 칩(37)으로의 액세스 횟수를 감소시킬 수 있다. 이것에 의해, 리커버리 처리 시간을 단축할 수 있다.

다음으로, 상기 실시예의 제 1 변형예를 설명한다.

도 9에 제 1 변형예에서의 화상 형성 장치(10)가 도시되어 있다.

도 9에 나타낸 바와 같이, 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)에는 각각 제 1 메모리 칩(37Ya, 37Ma, 37Ca, 37Ba) 및 제 2 메모리 칩(37Yb, 37Mb, 37Cb, 37Bb)이 설치되어 있다. 제 1 메모리 칩(37Ya, 37Ma, 37Ca, 37Ba)에는 각 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C 34B)에 충전(수용)되어 있는 토너에 관한 정보 등이 기억되고, 제 2 메모리 칩(37Yb, 37Mb, 37Cb, 37Bb)에는 제 1 메모리 칩(37Ya, 37Ma, 37Ca, 37Ba)과 예를 들어 동일한 정보를 포함하는 데이터가 기억되어 있다. 즉, 제 2 메 모리 칩(37Yb, 37Mb, 37Cb, 37Bb)은 백업용으로 설치되어 있다.

본 예에서의 제어부(68)는 상기 제어부(68)와 제 1 메모리 칩(37Ya, 37Ma, 37Ca, 37Ba) 및 제 2 메모리 칩(37Yb, 37Mb, 37Cb, 37Bb)의 통신이 가능하게 설치되어 있다. 따라서, 예를 들어 제 1 메모리 칩(37Ya)의 데이터가 파손된 경우에도, 제어부(68)가 제 2 메모리 칩(37Yb)의 백업 데이터에 액세스함으로써 제 1 메모리 칩(37Ya)과 동일한 데이터를 얻을 수 있다. 즉, 돌발적인 장해에 대하여 강해진다.

따라서, 본 예와 같이, 1개의 교환 유닛에 대하여 복수의 기억 수단을 갖는 구성으로 할 수도 있다.

다음으로, 상기 실시예의 제 2 변형예를 설명한다.

도 10에 제 2 변형예에서의 화상 형성 장치(10)가 도시되어 있다.

도 10에 나타낸 바와 같이, 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)에는 각각의 메모리 칩(37Y, 37M, 37C, 37B)과 접속된 유닛 CPU(98Y, 98M, 98C, 98B)가 설치되어 있다. 본 예에서의 제어부(68)는, 상기 제어부(68)와 유닛 CPU(98Y, 98M, 98C, 98B)의 통신이 가능하게 설치되어 있다.

이와 같이, 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)에 유닛 CPU(98Y, 98M, 98C, 98B)를 설치함으로써, 제어부(68)는 토너 카트리지(34)의 개량(改良) 등에 대응할 수 있다. 즉, 예를 들어 토너 카트리지(34)가 개량(버전 업(version-up))됨으로써, 메모리 칩(37)의 토너 카트리지(34)에 관한 데이터의 배열 등이 변경되어, 제어부(68)에 의한 메모리 칩(37)으로의 액세스가 불가능해지는 경우가 있다. 그래 서, 제어부(68)에 의한 메모리 칩으로의 액세스가 가능하도록 유닛 CPU(98)는 제어부(68)를 갱신(버전 업)한다. 이와 같이, 교환 유닛이 개량(버전 업)될 때마다 제어 수단을 갱신(버전 업)함으로써, 제어 수단에서의 기억 수단으로의 액세스 안정성을 유지할 수 있다.

따라서, 본 예와 같이, 교환 유닛이 제어 수단을 갖는 구성으로 할 수도 있다.

다음으로, 상기 실시예의 제 3 변형예를 설명한다.

도 11에 제 3 변형예에서의 화상 형성 장치(10)가 도시되어 있다.

도 11에 나타낸 바와 같이, 토너 카트리지(34B)에는 상기 토너 카트리지(34B)의 유무를 검지하는 유무 검지 센서(40B)가 설치되어 있으며, 이 유무 검지 센서(40B)의 검지 결과(예를 들어 토너 카트리지(34B)가 유(有)일 때는 OFF, 토너 카트리지(34B)가 무(無)일 때는 ON(검지)을 출력)는 제어부(68)에 출력되게 되어 있다. 즉, 본 예에서의 유무 검지 센서(40)는 토너 카트리지(34Y, 34M, 34C, 34B)의 수보다도 적게(본 예에서는 1개) 설치되어 있다.

본 예에서의 제어부(68)는, 개폐 검지 센서(20)의 검지 결과에서 개폐 커버(16)가 개방(ON)일 경우에, 유무 검지 센서(40B)의 검지 결과에 의해 프로세스 카트리지(32B)가 교환되었다고 판정한 경우, 모든 메모리 칩(37Y, 37M, 37C, 37B)에 액세스하도록 제어한다.

이와 같이, 본 예에서의 제어부(68)는, 개폐 검지 센서(20)에 의해 개폐 커버(16)의 개방이 검지된 경우, 유무 검지 센서(40)에 의한 적어도 1개의 토너 카트 리지(34)의 교환 조작 검지에 따라 복수의 메모리 칩(37)에 액세스하도록 제어한다. 이것에 의해, 개폐 커버(16)가 개방되고, 토너 카트리지(34)의 교환 이외의 조작(예를 들어 잼 처리 조작 등)만이 실행된 경우에는, 토너 카트리지(34)의 메모리 칩(37)으로의 액세스를 행하지 않게 할 수 있어 리커버리 처리 시간을 단축할 수 있다. 또한, 모든 토너 카트리지(34)에 유무 검지 센서(40)를 설치한 경우와 비교하면, 유무 검지 센서(40)의 수를 적게 할 수 있어 비용 저감을 실현할 수 있다. 또한, 유무 검지 센서(40)의 수를 적게 함으로써, 상기 유무 검지 센서(40)의 부착이 곤란한 경우나 제어부(68)의 CPU(70)의 포트 수가 적은 경우에도 대응할 수 있다.

따라서, 본 예와 같이, 제 2 검지 수단이 기억 수단의 수보다도 적게 설치되는 구성으로 할 수도 있다.

다음으로, 제 2 실시예를 도 12 및 도 13에 의거하여 설명한다.

도 12에 제 2 실시예에서의 화상 형성 장치(10)가 도시되어 있다.

교환 유닛으로서의 토너 유닛(32Y)은, 토너 유닛 본체(32Ya)와 상기 토너 유닛 본체(32Ya)의 뒤쪽(광기입 장치(26Y) 측)에 설치된 서브유닛(32Yb)으로 이루어진다. 화상 형성 장치 본체(12)에 장착된 서브유닛(32Yb)의 교환은 토너 유닛 본체(32Ya)를 화상 형성 장치 본체(12)로부터 제거한 후에 행하도록 되어 있다.

마찬가지로, 토너 유닛(32M)은 토너 유닛 본체(32Ma)와 서브유닛(32Mb)을 갖고, 토너 유닛(32C)은 토너 유닛 본체(32Ca)와 서브유닛(32Cb)을 가지며, 토너 유닛(32B)은 토너 유닛 본체(32Ba)와 서브유닛(32Bb)을 갖는다.

또한, 토너 유닛 본체(32Ya, 32Ma, 32Ca, 32Ba)에는 기억 수단으로서의 메모리 칩(37Ya, 37Ma, 37Ca, 37Ba)이 설치되어 있고, 서브유닛(32Yb, 32Mb, 32Cb, 32Bb)에는 메모리 칩(37Yb, 37Mb, 37Cb, 37Bb)이 설치되어 있다.

또한, 토너 유닛 본체(32Ya, 32Ma, 32Ca, 32Ba)에는 상기 토너 유닛 본체(32Ya, 32Ma, 32Ca, 32Ba)의 유무를 검지하는 유무 검지 센서(40Y, 40M, 40C, 40B)가 설치되어 있고, 이 유무 검지 센서(40Y, 40M, 40C, 40B)는 검지 결과(토너 유닛 본체가 유(有)일 때는 OFF, 토너 유닛 본체가 무(無)일 때는 ON(검지)을 출력)를 제어부(68)에 출력하게 되어 있다.

다음으로, 본 실시예에서의 착탈 검지에 의거한 메모리 데이터 판독 처리(액세스 제어 처리)에 대해서 설명한다.

도 13에 나타낸 바와 같이, 액세스 제어 처리 S16을 개시하면, 스텝 S200에서, 제어부(68)는 RAM(74)에 갱신된 토너 유닛 착탈 이력을 참조하고, 모든(4개) 토너 유닛(32Y, 32M, 32C, 32B)에서의 교환 조작 유무를 조사했는지의 여부를 판정하여, 4개의 토너 유닛(32Y, 32M, 32C, 32B)을 조사했다고 판정된 경우는 스텝 S150의 처리로 이행하고, 그 이외의 경우는 스텝 S205의 처리로 이행한다.

스텝 S205에서, 제어부(68)는 RAM(74)에 갱신된 토너 유닛 착탈 이력을 참조하고, 특정 토너 유닛 본체가 교환되었는지의 여부를 판정한다. 특정 토너 유닛 본체가 교환되지 않았다고 판정된 경우는 스텝 S220의 처리로 이행하고, 특정 토너 유닛 본체가 교환되었다고 판정된 경우는 스텝 S210의 처리로 이행한다.

스텝 S210에서, 제어부(68)는 착탈된 특정 토너 유닛 본체에 대응한 메모 리(37a)로부터 상기 메모리(37a)에 기억된 상기 토너 유닛 본체에 관한 데이터를 판독한다.

스텝 S215에서, 제어부(68)는 착탈된 특정 토너 유닛 본체의 뒤쪽(광기입 장치 측)에 설치된 서브유닛의 메모리(37b)로부터 상기 메모리(37b)에 기억된 상기 서브유닛에 관한 데이터를 판독한다.

스텝 S220에서, 제어부(68)는 토너 유닛 착탈 이력을 갱신한다. 이어서, 제어부(68)는, 토너 카트리지 착탈 이력을 갱신한 후, 다시 스텝 S200의 처리로 이행한다.

이와 같이, 제어부(68)는, 개폐 검지 센서(20)에 의해 개폐 커버(16)의 개폐 조작이 검지된 경우, 유무 검지 센서(40)에 의한 적어도 1개의 교환 유닛(토너 유닛 본체)의 교환 조작 검지에 따라 복수의 교환 유닛에 대응한 복수의 기억 수단(메모리 칩)에 액세스하도록 제어한다. 이것에 의해, 교환 유닛의 수에 대한 유무 검지 센서(40)의 수를 적게 하는 것이 가능해져, 유무 검지 센서(40)의 부착이 곤란한 경우나 제어부(68)의 CPU(70)의 포트 수가 적은 경우에도 대응할 수 있다. 또한, 개폐 커버(16)가 개방되고, 토너 유닛(32)의 교환 이외의 조작(예를 들어 잼 처리 조작 등)만이 실행된 경우에는, 토너 유닛(32)에 대응한 메모리 칩(37)으로의 액세스를 행하지 않게 할 수 있어 리커버리 처리 시간을 단축할 수 있다.

따라서, 본 실시예와 같이, 제 2 검지 수단이 교환 유닛의 수보다도 적게 설치되는 구성으로 할 수도 있다.

또한, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않아, 예를 들어 로터리(rotary)식 의 현상 장치를 갖는 화상 형성 장치일 수도 있다.

상술한 바와 같이, 본 발명은 기억 수단이 설치된 교환 유닛을 갖는 화상 형성 장치에 이용할 수 있다.

본 발명에 의하면, 제 1 검지 수단에 의해 제 1 단계의 조작이 검지된 경우, 제 2 검지 수단에 의해 제 2 단계의 조작이 검지되었는지의 여부에 따라 기억 수단으로의 액세스를 제어하도록 했기 때문에, 상기 기억 수단으로의 액세스 횟수를 감소시켜 리커버리 처리 시간의 단축을 실현할 수 있다.

Claims

화상 형성 장치 본체와,

상기 화상 형성 장치 본체에 착탈(着脫) 가능하게 장착된 적어도 1개의 교환 유닛과,

상기 교환 유닛에 설치되고, 상기 교환 유닛에 관한 정보를 기억하는 기억 수단과,

상기 적어도 1개의 교환 유닛을 교환하는 제 1 단계에서 상기 적어도 1개의 교환 유닛의 교환 조작 및 교환 이외의 조작을 행하기 위한 조작을 검지하는 제 1 검지 수단과,

상기 적어도 1개의 교환 유닛을 교환하는 제 2 단계에서 상기 적어도 1개의 교환 유닛의 교환 조작을 검지하는 제 2 검지 수단과,

상기 제 1 검지 수단에 의해 제 1 단계의 조작이 검지된 경우, 상기 제 2 검지 수단에 의해 제 2 단계의 교환 조작이 검지되면, 상기 기억 수단에 액세스하는 제어 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
화상 형성 장치 본체와,

상기 화상 형성 장치 본체에 착탈 가능하게 장착된 복수의 교환 유닛과,

상기 교환 유닛에 설치되고, 상기 복수의 교환 유닛에 관한 정보를 기억하는 복수의 기억 수단과,

상기 교환 유닛을 교환하는 제 1 단계에서 상기 교환 유닛의 교환 조작 및 교환 이외의 조작을 행하기 위한 조작을 검지하는 제 1 검지 수단과,

상기 교환 유닛을 교환하는 제 2 단계에서 상기 교환 유닛의 교환 조작을 검지하는 제 2 검지 수단과,

상기 제 1 검지 수단에 의해 제 1 단계의 조작이 검지된 경우, 상기 제 2 검지 수단에 의한 제 2 단계의 교환 조작이 검지되면, 교환된 상기 교환 유닛에 대응한 기억 수단에만 액세스하는 제어 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
제 2 항에 있어서,

상기 제 2 검지 수단은 상기 복수의 교환 유닛의 수보다도 적게 설치되고, 상기 제어 수단은 상기 제 1 검지 수단에 의해 제 1 단계의 조작이 검지된 경우, 상기 제 2 검지 수단에 의한 제 2 단계의 교환 조작이 검지되면, 교환된 상기 복수의 교환 유닛에 대응한 복수의 기억 수단에 액세스하는 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 기억 수단은 불휘발성 메모리로 이루어지는 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 화상 형성 장치 본체에 상기 교환 유닛의 교환 조작 및 교환 이외의 조작을 행할 수 있게 설치된 개폐 수단을 갖고, 상기 제 1 검지 수단은 이 개폐 수단의 개폐를 검지하는 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치.
화상 형성 장치 본체에 착탈 가능하게 장착된 적어도 1개의 교환 유닛의 교환 조작 및 교환 이외의 조작을 행하기 위한 조작을 검지하는 제 1 단계와, 상기 적어도 1개의 교환 유닛을 교환하는 조작을 검지하는 제 2 단계와, 상기 제 1 단계의 조작이 검지된 경우, 상기 제 2 단계의 교환 조작이 검지되었으면, 교환된 상기 교환 유닛에 설치된 기억 수단에 제어 수단이 액세스하는 제 3 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 형성 장치의 제어 방법.