KR100625298B1 - 온 다이 터미네이션 제어 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (14)
- 온 다이 터미네이션 제어신호를 버퍼링하여 출력된 제어신호를 순차적으로 지연하여 내부클럭에 동기된 서로 다른 지연시간을 갖는 복수개의 제어신호를 출력하고, 제 1레이턴시 정보에 따라 상기 복수개의 제어신호 중 어느 하나를 선택하여 레이턴시 제어신호를 출력하는 레이턴시 블럭;상기 레이턴시 제어신호의 활성화시, 제 2레이턴시 정보를 초기값으로 하여 상기 내부클럭을 카운터한 제 1제어신호와, 출력클럭을 카운터하여 발생한 제 2제어신호를 비교하여 그 비교결과에 따라 온 다이 터미네이션 인에이블 신호의 활성화 시점을 제어하는 인에이블 신호 발생부; 및상기 온 다이 터미네이션 인에이블 신호에 따라 터미네이션 단의 저항값을 제어하는 온 다이 터미네이션부를 구비함을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제 1레이턴시 정보는 리드 또는 라이트 동작시에 명령이 몇 클록 만에 인식되는지를 정의하는 애디티브 레이턴시 신호임을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제 1레이턴시 정보는 라이트 명령 신호임을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제 1레이턴시 정보는 모드 레지스터 셋트 계열을 통해 미리 설정된 신호임을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제 2레이턴시 정보는 컬럼 액세스 스트로브 신호의 대기시간을 나타내는 카스 레이턴시 신호임을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 제 1제어신호와 상기 제 2제어신호는 바이너리 코드임을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 레이턴시 블럭은기준전압에 따라 상기 온 다이 터미네이션 제어신호를 버퍼링하여 제 3제어신호를 출력하는 입력버퍼;상기 제 3제어신호를 순차적으로 지연시켜 상기 복수개의 제어신호를 출력하는 레이턴시 제어부; 및상기 제 1레이턴시 정보에 따라 상기 복수개의 제어신호 중 어느 하나를 선택하여 상기 레이턴시 제어신호를 출력하는 레이턴시 선택부를 구비함을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 7항에 있어서, 상기 레이턴시 제어부는 D-플립플롭을 구비함을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 7항에 있어서, 상기 레이턴시 제어부는 쉬프트 레지스터를 구비함을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 7항에 있어서, 상기 레이턴시 제어부는 카운터를 구비함을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 7항에 있어서, 상기 레이턴시 선택부는 멀티플렉서를 구비함을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 인에이블 신호 발생부는상기 제 2레이턴시 정보를 초기값으로 하여 상기 내부클럭을 카운터하여 상기 제 1제어신호를 출력하는 내부 카운터;상기 출력클럭을 카운터하여 상기 제 2제어신호를 출력하는 DLL 카운터;상기 레이턴시 제어신호를 디코딩하여 제 4제어신호를 출력하는 명령 디코더;상기 제 4제어신호의 활성화시 상기 제 1제어신호와 상기 제 2제어신호의 바이너리 코드를 비교하여 코드신호를 출력하는 코드 비교기; 및상기 코드신호에 따라 상기 온 다이 터미네이션 인에이블 신호를 활성화시키는 온 다이 터미네이션 인에이블신호 발생부를 구비함을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 12항에 있어서, 상기 인에이블 신호 발생부는리셋신호에 따라 제 1리셋 제어신호를 상기 DLL 카운터에 출력하고, 상기 제 1리셋 제어신호를 일정시간 지연한 제 2리셋 제어신호를 상기 내부 카운터에 출력하는 리셋 발생부를 더 구비함을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
- 제 12항에 있어서, 상기 코드 비교기는 상기 제 4제어신호의 활성화시 상기 내부클럭의 도메인을 상기 출력클럭의 도메인으로 변경함을 특징으로 하는 온 다이 터미네이션 제어 장치.
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US11/477,539 US7342412B2 (en) | 2005-09-29 | 2006-06-30 | Device for controlling on die termination |
TW095123947A TWI305650B (en) | 2005-09-29 | 2006-06-30 | Device for controlling on die termination |
CN2006101317211A CN1941197B (zh) | 2005-09-29 | 2006-09-29 | 用于控制内部中断电阻的装置 |
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100780962B1 (ko) | 2006-10-27 | 2007-12-03 | 삼성전자주식회사 | 다이나믹 odt 모드 테스트 방법 및 그 방법을 사용하는odt 모드 테스트 회로 |
DE102008040538A1 (de) | 2007-11-02 | 2009-05-07 | Hynix Semiconductor Inc., Icheon | Schaltung und Verfahren zum Steuern einer Abschlussimpedanz |
US7868648B2 (en) | 2007-02-27 | 2011-01-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | On-die termination circuit, method of controlling the same, and ODT synchronous buffer |
KR101075496B1 (ko) | 2010-07-06 | 2011-10-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
KR20140000999A (ko) * | 2012-06-27 | 2014-01-06 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 온 다이 터미네이션 회로 |
KR101853874B1 (ko) * | 2011-09-21 | 2018-05-03 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치의 동작 방법 및 상기 방법을 수행하기 위한 장치들 |
KR20180065743A (ko) * | 2016-12-08 | 2018-06-18 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7142461B2 (en) * | 2002-11-20 | 2006-11-28 | Micron Technology, Inc. | Active termination control though on module register |
KR100575006B1 (ko) * | 2005-04-12 | 2006-04-28 | 삼성전자주식회사 | Ocd 회로와 odt 회로를 제어할 수 있는 반도체 장치및 제어 방법 |
KR100599215B1 (ko) * | 2005-07-19 | 2006-07-12 | 삼성전자주식회사 | 시그너쳐 회로 및 시그너쳐 정보 독출방법과 이를 이용한반도체 칩 |
US7365564B2 (en) * | 2005-09-29 | 2008-04-29 | Hynix Semiconductor Inc. | Apparatus and method for controlling on die termination |
KR100857854B1 (ko) * | 2007-01-10 | 2008-09-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 효과적으로 온다이 터미네이션 동작 타이밍 조절이 가능한반도체 메모리 장치 |
JP2008306145A (ja) * | 2007-06-11 | 2008-12-18 | Toshiba Corp | 抵抗調整回路及び半導体集積回路 |
KR100853468B1 (ko) * | 2007-07-12 | 2008-08-21 | 주식회사 하이닉스반도체 | 온 다이 터미네이션 장치를 구비하는 반도체메모리소자 및그의 구동방법 |
KR100929846B1 (ko) * | 2007-10-23 | 2009-12-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 온 다이 터미네이션 제어 회로 |
US7813217B2 (en) * | 2007-11-05 | 2010-10-12 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor memory device and method for operating the same |
KR100921832B1 (ko) * | 2008-03-03 | 2009-10-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리장치의 온 다이 터미네이션 제어회로 |
KR100929833B1 (ko) * | 2008-04-02 | 2009-12-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 출력 인에이블 신호 생성 회로와 생성 방법 |
KR100936806B1 (ko) * | 2008-07-03 | 2010-01-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 도메인 크로싱 회로 및 방법 |
JP2010056888A (ja) | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Elpida Memory Inc | 同期化制御回路、半導体装置及び制御方法 |
KR100980425B1 (ko) * | 2008-12-30 | 2010-09-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 글로벌 입출력 라인 터미네이션 제어 회로 |
KR101003153B1 (ko) * | 2009-05-15 | 2010-12-21 | 주식회사 하이닉스반도체 | 전압 안정화 회로 및 이를 이용한 반도체 메모리 장치 |
JP2011004216A (ja) * | 2009-06-19 | 2011-01-06 | Renesas Electronics Corp | インピーダンス調整回路 |
JP5474458B2 (ja) * | 2009-09-10 | 2014-04-16 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル | 半導体装置及びこれを備えるデータ処理システム |
KR101110819B1 (ko) * | 2009-11-30 | 2012-03-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리의 동작 타이밍 제어 장치 및 그 방법 |
KR101789077B1 (ko) * | 2010-02-23 | 2017-11-20 | 삼성전자주식회사 | 온-다이 터미네이션 회로, 데이터 출력 버퍼, 반도체 메모리 장치, 메모리 모듈, 온-다이 터미네이션 회로의 구동 방법, 데이터 출력 버퍼의 구동 방법 및 온-다이 터미네이션 트레이닝 방법 |
CN102215037B (zh) * | 2010-04-06 | 2013-10-02 | 安凯(广州)微电子技术有限公司 | 一种延迟信号产生电路 |
KR101095007B1 (ko) * | 2010-09-30 | 2011-12-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 온 다이 터미네이션 신호 생성회로, 생성 방법 및 이를 이용하는 반도체 장치 |
US8497706B2 (en) * | 2011-08-15 | 2013-07-30 | Micron Technology, Inc. | Adjustable data drivers and methods for driving data signals |
KR102079630B1 (ko) | 2013-03-13 | 2020-04-07 | 삼성전자주식회사 | 지연동기회로를 가지는 동기 반도체 메모리 장치 및 파워 세이빙을 위한 지연동기회로 블록 구동 제어 방법 |
KR20160018229A (ko) * | 2014-08-08 | 2016-02-17 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 |
US9571098B2 (en) | 2014-08-11 | 2017-02-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Signal receiving circuits including termination resistance having adjustable resistance value, operating methods thereof, and storage devices therewith |
KR20170005328A (ko) * | 2015-07-03 | 2017-01-12 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 반도체 시스템 |
US10141935B2 (en) * | 2015-09-25 | 2018-11-27 | Intel Corporation | Programmable on-die termination timing in a multi-rank system |
US10566038B2 (en) * | 2017-05-29 | 2020-02-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of controlling on-die termination and system performing the same |
US10148269B1 (en) * | 2017-07-24 | 2018-12-04 | Micron Technology, Inc. | Dynamic termination edge control |
US10153014B1 (en) | 2017-08-17 | 2018-12-11 | Micron Technology, Inc. | DQS-offset and read-RTT-disable edge control |
KR102553266B1 (ko) * | 2017-11-03 | 2023-07-07 | 삼성전자 주식회사 | 온-다이-터미네이션 회로를 포함하는 메모리 장치 |
KR102471523B1 (ko) * | 2018-04-26 | 2022-11-28 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 집적 회로 장치 및 이를 포함하는 반도체 메모리 시스템 |
US10897239B1 (en) | 2019-09-06 | 2021-01-19 | International Business Machines Corporation | Granular variable impedance tuning |
KR20210070140A (ko) * | 2019-12-04 | 2021-06-14 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체장치 및 반도체시스템 |
US11200190B2 (en) * | 2020-04-21 | 2021-12-14 | Innogrit Technologies Co., Ltd. | Command based on-die termination for high-speed NAND interface |
CN115599196A (zh) * | 2021-07-09 | 2023-01-13 | 长鑫存储技术有限公司(Cn) | 使能控制电路以及半导体存储器 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6420899B1 (en) * | 2000-12-29 | 2002-07-16 | Intel Corporation | Dynamic impedance matched driver for improved slew rate and glitch termination |
JP3821678B2 (ja) * | 2001-09-06 | 2006-09-13 | エルピーダメモリ株式会社 | メモリ装置 |
JP4317353B2 (ja) * | 2001-10-19 | 2009-08-19 | 三星電子株式会社 | メモリシステムの能動終端抵抗の制御装置及び方法 |
KR100446292B1 (ko) * | 2001-12-22 | 2004-09-01 | 삼성전자주식회사 | 능동 종단저항값 교정회로와 이를 구비하는 메모리 칩과능동 종단저항 교정방법 |
JP3810361B2 (ja) * | 2002-11-01 | 2006-08-16 | 松下電器産業株式会社 | 半導体集積回路および半導体集積回路の割込み要求出力方法 |
KR100464437B1 (ko) | 2002-11-20 | 2004-12-31 | 삼성전자주식회사 | 온칩 dc 전류 소모를 최소화할 수 있는 odt 회로와odt 방법 및 이를 구비하는 메모리장치를 채용하는메모리 시스템 |
KR100502664B1 (ko) * | 2003-04-29 | 2005-07-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 온 다이 터미네이션 모드 전환 회로 및 그방법 |
KR100515068B1 (ko) * | 2003-12-19 | 2005-09-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 기억 소자의 온 다이 터미네이션을 위한 회로 및방법 |
KR100528164B1 (ko) * | 2004-02-13 | 2005-11-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 기억 소자에서의 온 다이 터미네이션 모드 전환회로 및 그 방법 |
KR100604843B1 (ko) * | 2004-03-26 | 2006-07-31 | 삼성전자주식회사 | 온-다이 종단 회로를 구비한 메모리 모듈 및 그 제어 방법 |
KR100729916B1 (ko) * | 2004-04-08 | 2007-06-18 | 주식회사 하이닉스반도체 | 온 다이 터미네이션 회로 |
US7365564B2 (en) * | 2005-09-29 | 2008-04-29 | Hynix Semiconductor Inc. | Apparatus and method for controlling on die termination |
-
2005
- 2005-09-29 KR KR1020050091520A patent/KR100625298B1/ko active IP Right Grant
-
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Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100780962B1 (ko) | 2006-10-27 | 2007-12-03 | 삼성전자주식회사 | 다이나믹 odt 모드 테스트 방법 및 그 방법을 사용하는odt 모드 테스트 회로 |
US7868648B2 (en) | 2007-02-27 | 2011-01-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | On-die termination circuit, method of controlling the same, and ODT synchronous buffer |
DE102008040538A1 (de) | 2007-11-02 | 2009-05-07 | Hynix Semiconductor Inc., Icheon | Schaltung und Verfahren zum Steuern einer Abschlussimpedanz |
US7816941B2 (en) | 2007-11-02 | 2010-10-19 | Hynix Semiconductor Inc. | Circuit and method for controlling termination impedance |
KR101075496B1 (ko) | 2010-07-06 | 2011-10-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
US8233339B2 (en) | 2010-07-06 | 2012-07-31 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor memory device |
KR101853874B1 (ko) * | 2011-09-21 | 2018-05-03 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치의 동작 방법 및 상기 방법을 수행하기 위한 장치들 |
KR20140000999A (ko) * | 2012-06-27 | 2014-01-06 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 온 다이 터미네이션 회로 |
KR101950319B1 (ko) * | 2012-06-27 | 2019-02-20 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 온 다이 터미네이션 회로 |
KR20180065743A (ko) * | 2016-12-08 | 2018-06-18 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 |
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