JPWO2016103310A1 - 搬送装置の制御装置 - Google Patents

搬送装置の制御装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2016103310A1
JPWO2016103310A1 JP2016565610A JP2016565610A JPWO2016103310A1 JP WO2016103310 A1 JPWO2016103310 A1 JP WO2016103310A1 JP 2016565610 A JP2016565610 A JP 2016565610A JP 2016565610 A JP2016565610 A JP 2016565610A JP WO2016103310 A1 JPWO2016103310 A1 JP WO2016103310A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transport mechanism
index parameter
deterioration
deterioration index
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016565610A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6302569B2 (ja
Inventor
敦史 中矢
敦史 中矢
拓之 岡田
拓之 岡田
雅也 吉田
雅也 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kawasaki Motors Ltd
Original Assignee
Kawasaki Jukogyo KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kawasaki Jukogyo KK filed Critical Kawasaki Jukogyo KK
Publication of JPWO2016103310A1 publication Critical patent/JPWO2016103310A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6302569B2 publication Critical patent/JP6302569B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B25HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
    • B25JMANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
    • B25J9/00Programme-controlled manipulators
    • B25J9/16Programme controls
    • B25J9/1615Programme controls characterised by special kind of manipulator, e.g. planar, scara, gantry, cantilever, space, closed chain, passive/active joints and tendon driven manipulators
    • B25J9/162Mobile manipulator, movable base with manipulator arm mounted on it
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67742Mechanical parts of transfer devices
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B25HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
    • B25JMANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
    • B25J19/00Accessories fitted to manipulators, e.g. for monitoring, for viewing; Safety devices combined with or specially adapted for use in connection with manipulators
    • B25J19/06Safety devices
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B25HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
    • B25JMANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
    • B25J9/00Programme-controlled manipulators
    • B25J9/16Programme controls
    • B25J9/1674Programme controls characterised by safety, monitoring, diagnostic
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/406Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by monitoring or safety
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0218Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
    • G05B23/0224Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
    • G05B23/0227Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
    • G05B23/0232Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on qualitative trend analysis, e.g. system evolution
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B9/00Safety arrangements
    • G05B9/02Safety arrangements electric
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67288Monitoring of warpage, curvature, damage, defects or the like
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02PCONTROL OR REGULATION OF ELECTRIC MOTORS, ELECTRIC GENERATORS OR DYNAMO-ELECTRIC CONVERTERS; CONTROLLING TRANSFORMERS, REACTORS OR CHOKE COILS
    • H02P29/00Arrangements for regulating or controlling electric motors, appropriate for both AC and DC motors
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02PCONTROL OR REGULATION OF ELECTRIC MOTORS, ELECTRIC GENERATORS OR DYNAMO-ELECTRIC CONVERTERS; CONTROLLING TRANSFORMERS, REACTORS OR CHOKE COILS
    • H02P29/00Arrangements for regulating or controlling electric motors, appropriate for both AC and DC motors
    • H02P29/02Providing protection against overload without automatic interruption of supply
    • H02P29/024Detecting a fault condition, e.g. short circuit, locked rotor, open circuit or loss of load
    • H02P29/0241Detecting a fault condition, e.g. short circuit, locked rotor, open circuit or loss of load the fault being an overvoltage

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Orthopedic Medicine & Surgery (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Manipulator (AREA)
  • Safety Devices In Control Systems (AREA)
  • Control Of Conveyors (AREA)
  • Control Of Electric Motors In General (AREA)

Abstract

制御装置(3)は、予め設定された閾値を劣化指標パラメータの値が超えると搬送機構(5)を停止させ、且つ、劣化指標パラメータの値の時系列の変化パターンに基づいて、劣化指標パラメータ値の閾値超過が搬送機構(5)の経年劣化によるものであるか否かを判定し、劣化指標パラメータ値の閾値超過が搬送機構(5)の経年劣化によるものであると判定した場合には、搬送機構(5)を、動作速度を低下させて動作させる制御器(33)を備える。

Description

本発明は、搬送装置の制御装置に関する。
従来、搬送装置の劣化を判断する技術には次のようなものがある。例えば特許文献1には、モータの可動子の位置及び駆動源に流れる電流の少なくとも一方を検出し、可動子の目標位置に対する検出された位置の変化と、検出された電流との少なくとも一方に基づいて駆動機構の劣化状況を判断する駆動機構の劣化検出装置が開示されている。
また、特許文献2には、目標位置に対応するデータと検出手段により検出された可動部材の実際の位置に対応するデータとを比較し偏差を求め、その偏差が所定の許容範囲を越えている場合、搬送システムの動作に異常があると判断する、基板搬送システムの監視装置が開示されている。
特開2005−311259号公報 特開平10−313037号公報
ところで、従来、搬送装置において異常を検出した場合は装置だけでなく、周辺設備を含めたシステム全体を一律に停止し、その後、人手による作業によりエラーの原因を解明し修理を行っていた。このため、経年劣化により搬送機構において機械及び電気的なトラブルが発生した場合であっても人手によらなければ復旧できず、装置のダウンタイムが長くなるという課題があった。
そこで、本発明では、搬送機構においてトラブルが発生した場合の搬送装置のダウンタイムを短縮することを目的とする。
本発明の一態様に係る、搬送装置の制御装置は、サーボモータを位置制御しながら当該サーボモータによって搬送機構を駆動するよう構成された搬送装置の制御装置であって、前記位置制御におけるモータの位置ずれ及びモータに流れる電流の少なくとも一方である劣化指標パラメータの値の時系列を取得する取得器と、取得した前記劣化指標パラメータの値の時系列を記憶する記憶器と、予め設定された閾値を前記劣化指標パラメータの値が超えると前記搬送機構を停止させ、且つ、前記劣化指標パラメータの値の時系列の変化パターンに基づいて、前記劣化指標パラメータ値の前記閾値超過が前記搬送機構の経年劣化によるものであるか否かを判定し、前記劣化指標パラメータ値の前記閾値超過が前記搬送機構の経年劣化によるものであると判定した場合には、前記搬送機構を、動作速度を低下させて動作させる制御器と、を備える。ここで、モータの位置ずれとは、位置制御における目標値と実際値との間の差分(偏差)、オフセット(残留偏差)、基準位置からの逸脱量、又は狂いを含む。
一般に、サーボモータの位置ずれや電流の値が時間経過とともに緩やかに上昇する場合は、経年劣化により搬送機構のサーボモータに連動するギアのつまりやグリスの枯渇が原因となっている可能性が高い。一方、位置ずれや電流値が急激に変化する場合は、障害物との衝突、ギア破損等の駆動系の故障が原因となっている可能性が高い。
上記構成によれば、位置制御におけるモータの位置ずれ及び電流の少なくとも一方である劣化指標パラメータの値の時系列データを取得して記憶する。これにより、搬送装置の自己の状態を監視することができる。そして、予め設定された閾値を劣化指標パラメータの値が超えると搬送機構を停止させる。これにより、機械及び電気的なトラブルが発生した場合の安全を確保することができる。そして、時系列データの変化パターンに基づいて、劣化指標パラメータ値の閾値超過が搬送機構の経年劣化によるものであるか否かを判定し、劣化指標パラメータ値の閾値超過が搬送機構の経年劣化によるものであると判定した場合には、搬送機構を、動作速度を低下させて動作させる。これにより、経年劣化による機械及び電気的なトラブルが発生した場合であっても人手を介することなく復旧できる。また、速度を落とすことで回避できるエラーに関しては自動で速度を落として搬送装置を動作させることによって、装置のダウンタイムを短くすることが可能になる。
前記制御器は、前記閾値を前記劣化指標パラメータの値が超えると警告信号を発し、前記劣化指標パラメータ値の前記閾値超過が前記搬送機構の経年劣化によるものでないと判定した場合にはエラー信号を発してもよい。
上記構成によれば、搬送装置の動作状況が周囲に的確に伝達されるので、作業者は適切な措置をとることができる。具体的には警告信号では、搬送装置は自動復帰する可能性があるので、作業者は直ちに復旧作業を行う必要は無い。例えば半導体設備のように、設備への進入が禁止された環境又は困難な環境下では人を設備内に入れることは望ましくないため、メンテナンスまでの時間を稼ぐことができる。一方、エラー信号では、搬送装置及び生産ライン等の周辺設備を含んだシステム全体を停止させて、観測した偏差や電流値等から故障個所を早期に発見し、修理にかかる時間を短縮することができる。
前記搬送機構の経年劣化を示す前記劣化指標パラメータの値の時系列の変化パターンは、前記劣化指標パラメータ値の所定時間における変化量に基づいて判別されてもよい。
上記構成によれば、パラメータ値時系列データの変化パターンが搬送機構の経年劣化を示すものであるか否かを好適に判別することができる。
前記制御器は、前記搬送装置を復帰させる際には、動作速度を段階的に低下させてもよい。
上記構成によれば、搬送装置の動作を復帰させやすくなる。
前記搬送装置は、真空環境下で使用される多軸ロボットでもよい。
本発明によれば、搬送機構においてトラブルが発生した場合の搬送装置のダウンタイムを短縮することが可能になる。
本発明の上記目的、他の目的、特徴、及び利点は、添付図面参照の下、以下の好適な実施態様の詳細な説明から明らかにされる。
図1は、本実施形態に係る搬送システムの構成を示す概略図である。 図2は、図1の搬送機構の駆動系及びその制御系を示すブロック図である。 図3は、図2の制御装置に記憶された劣化指標パラメータの経年変化を模式的に示したグラフである。 図4は、図3の状態において故障が発生した場合の劣化指標パラメータの変化を模式的に示したグラフである。 図5は、図2の制御装置による自己状態監視動作及び自動復帰動作を説明するためのフローチャートである。
以下、本発明に係る実施形態について図面を参照しつつ説明する。以下では、全ての図面を通じて同一又は相当する要素には同じ符号を付して、重複する説明は省略する。
[構成]
図1は、本実施形態に係る搬送システムの構成を示す概略図である。図1に示すように、搬送システム1は、搬送装置2と、搬送装置2に通信可能に接続された制御装置3と、制御装置3に接続された警報装置4を備えている。
搬送装置2は、特に限定されず、物品を搬送するものであればよい。搬送装置2は、例えば、半導体処理設備において半導体ウェハ、表示パネル用のガラス基板等を搬送するスカラ型の多軸ロボットである。搬送装置2の搬送機構5は、基台6に設けられた昇降軸7と、昇降軸7に設けられた第1リンク8と、第1リンク8の先端部に設けられた第2リンク9と、第2リンク9の先端部に設けられた第3リンク10と、第3リンク10の先端に設けられたエンドエフェクタ11で構成される。搬送機構5の各構成部材にはそれぞれ駆動用のサーボモータ(図2参照)が内蔵される。
制御装置3は、搬送機構5に内蔵された複数のサーボモータを位置制御しながらサーボモータによって搬送機構5を駆動するよう構成される。制御装置3は、例えばマイクロコントローラ等のコンピュータを備えており、後述する搬送機構5の状態の監視動作及び自動復帰動作を行う。制御装置3は単一の装置とは限らず、複数の装置で構成されてもよい。
警報装置4は、周囲の現場オペレータに搬送装置2が警告状態又はエラー状態にあることを通知する。警報装置4は、制御装置3からの警告信号又はエラー信号により制御され、パトライト(登録商標)のライト及びメロディーホーンの警報によりエラーを報知するが、その他の報知手段により報知してもよい。
図2は、搬送機構5の駆動系及びその制御系の構成を示すブロック図である。図2に示すように、搬送機構5の駆動系は、交流電源21に接続されるAC/DC変換回路22と、平滑回路23と、インバータ回路24と、サーボモータ25と、電流検出器26と、位置検出器27を有している。ここでは搬送機構5に内蔵された1つのサーボモータ25の駆動系のみ示しているが、その他のサーボモータ25の駆動系も同様である。
交流電源21は、例えば三相交流電源である。AC/DC変換回路22は、交流電源21の出力端子に接続され、交流電源21から出力された三相交流電力を直流電力に変換して平滑回路23に出力する。AC/DC変換回路22は、例えば三相全波整流回路である。
平滑回路23は、AC/DC変換回路22の出力端子に接続され、AC/DC変換回路22の直流出力電圧を平滑化してインバータ回路24に出力する。平滑回路23は、例えばコンデンサである。
インバータ回路24は、平滑回路23及び制御装置3の出力端子に接続され、制御装置3から入力される制御指令に基づいて、平滑回路23から出力される直流電力を交流電力に変換して、駆動電流をサーボモータ25へ出力する。インバータ回路24は、例えば6つの半導体スイッチング素子を有する三相ブリッジインバータ回路と、制御信号に従って、各スイッチング素子の制御端子に駆動信号を供給する駆動回路で構成される。
サーボモータ25は、インバータ回路24の駆動電流により、搬送機構5(図1参照)を駆動する。サーボモータ25は、例えばDCサーボモータである。
電流検出器26は、インバータ回路24の出力端子に接続され、サーボモータ25の駆動電流を検出し、検出結果を制御装置3に出力する。ここで駆動電流は、モータの「負荷電流」又は「電機子電流」である。
位置検出器27は、サーボモータ25に取り付けられ、サーボモータ25の位置(回転子の基準回転角度位置に対する回転角度位置)を検出して、制御装置3に出力する。位置検出器27は、例えばモータの回転軸に取り付けられたエンコーダ又はレゾルバである。
制御装置3は、各検出器26,27の出力を受け取る取得器31と、情報を記憶するための記憶器32と、搬送装置2の動作を制御するとともに搬送機構の状態監視動作及び自動復帰動作を行う制御器33と、入出力インターフェース(図示せず)を備える。記憶器32には、本実施形態における制御プログラムが記憶され、制御器33は、当該制御プログラムに従って、各種演算を行うことにより、搬送装置2の搬送動作とともに、搬送機構5の状態の監視動作及び自動復帰動作が行われる。
取得器31は、位置制御におけるモータ25の位置ずれ及びモータ25に流れる電流(駆動電流)である劣化指標パラメータの値を取得する。ここでモータの位置ずれとは、位置制御における目標値と実際値との間の差分(偏差)、オフセット(残留偏差)、基準位置からの逸脱量、又は狂いを含む。取得器31は、位置検出器17で検出された位置情報(モータ25の位置)と、位置情報の理論値から位置ずれを算出する。取得器31は、電流検出器16で検出されたサーボモータ25に流れる電流値を取得する。
記憶器32は、制御プログラムの他、取得した劣化指標パラメータの値の時系列データ及び閾値等の情報を記憶する。記憶器32は、取得器31で算出した位置ずれ及び取得した電流を、劣化指標パラメータの値の時系列(時間経過順に並ぶ一群のパラメータ値)として記憶する(図3、図4参照)。
制御器33は、予め設定された閾値を劣化指標パラメータの値が超えると搬送機構5を停止させ、且つ、時系列データの変化パターンに基づいて、劣化指標パラメータ値の閾値超過が搬送機構5の経年劣化によるものであるか否かを判定し、劣化指標パラメータ値の閾値超過が搬送機構5の経年劣化によるものであると判定した場合には、搬送機構5を、動作速度を低下させて動作させる。
[動作]
まず、以上の構成の搬送装置2の基本の搬送動作について説明する。制御装置3は、搬送装置2の動作経路の位置指令値に対する位置検出器27で検出された実測値の位置偏差に基づいて、モータを駆動するのに必要な電流を決定し、当該電流が流れるように制御命令を生成し、インバータ回路14に出力する。このように、制御装置3は、搬送機構5(図1)に内蔵された複数のサーボモータ25(図2)をフィードバック制御によって位置指令値となるように位置制御しながらサーボモータ25によって搬送機構5を駆動することにより、所定の位置へ基板を搬送する。
次に、本発明の特徴である自己状態監視動作及び自動復帰動作の原理について図3を用いて説明する。図3は、制御装置3の記憶器32に記憶された劣化指標パラメータの経年変化を模式的に示したグラフである。図3(a)は、サーボモータ25に流れる電流の値Iの経年変化を示している。ここでの電流値は、サーボモータ25が例えば所定回転数で回転した場合の電流値が時系列に記憶されている。例えばサーボモータ25の特性に応じて電流制限値Ithが設定される。
図3(b)は、サーボモータ25の位置ずれPの経年変化をそれぞれ示している。ここでの位置ずれPは、サーボモータ25の指令位置が例えば所定の基準位置である場合における位置検出器27で検出されるモータの25位置の基準位置からの逸脱量が時系列に記憶されている。例えば位置制御の精度に応じて位置ずれ閾値Pthが設定される。尚、いずれも装置の出荷時から例えば5年間の時系列データが記憶される。
図3(a)及ぶ図3(b)に示すように、劣化指標パラメータであるサーボモータ25の位置ずれPや電流の値Iは時間経過とともに緩やかに上昇している。このような傾向が維持された場合は、電流値I又は位置ずれPが、いずれも電流制限値Ith又は位置ずれ閾値Pthを越えた場合であっても、経年劣化により搬送機構5のサーボモータ25に連動するギアのつまりやグリスの枯渇が原因となっている可能性が高い。動作速度を低下させれば、電流値を低下させることができ、且つ位置ずれは補正により支障を来たさないようにできるので、ソフトウエアの判断で速度を低下させ、搬送装置2の動作を継続することができる。
これに対し、図4は、図3の状態において故障が発生した場合の劣化指標パラメータの変化を模式的に示したグラフである。図4(a)及び図4(b)は、図3(a)及び図3(b)に対応する。図4に示すように、時刻t0において、劣化指標パラメータである位置ずれPや電流値Iが急激に上昇している。この場合は、障害物との衝突、ギア破損等の駆動系の故障が原因となっている可能性が高い。つまり、モータ等の物自体が破損している可能性があるため、ソフトの判断で動作を継続させることは困難である。このため、観測した偏差や電流値等から故障個所を早期に発見し、修理にかかる時間を短縮することができる。
次に、制御装置3による自己状態監視及び自動復帰動作について図5のフローチャートを用いて説明する。
まず、図5に示すように、制御装置3は、劣化指標パラメータを監視する(ステップS1)。取得器31は、位置制御におけるモータの位置ずれ及びモータに流れる電流である劣化指標パラメータの値の時系列データを取得する。取得した劣化指標パラメータの値は時系列データとして記憶器32に記憶される。これにより、搬送装置2の自己の状態を監視することができる。
次に、制御器33は、劣化指標パラメータの値が予め設定された閾値を超えたか否かを判断する(ステップS2)。制御器33は劣化指標パラメータの値が閾値を越えるまで監視を継続し、劣化指標パラメータの値が閾値を越えた場合は搬送機構を停止させる(ステップS3)。これにより、機械及び電気的なトラブルが発生した場合の安全を確保することができる。ここで制御器33は、閾値を劣化指標パラメータの値が超えると警報装置4に警告信号を発する。これを受けた警報装置4は、周囲の現場オペレータに搬送装置2が警告状態である旨を報知する。これにより、警告信号では、搬送装置2は自動復帰する可能性があるので、作業者は直ちに復旧作業を行う必要は無い。特に半導体設備内の真空環境下では人を設備内に入れることは望ましくないため例えば定期的なメンテナンスまでの時間を稼ぐことができる。
次に、制御器33は、搬送機構5を停止させた後、劣化指標パラメータ値の閾値超過が搬送機構5の経年劣化によるものであるか否かを時系列データの変化パターンに基づいて判定する(ステップS4)。本実施形態では、搬送機構5の経年劣化を示す時系列データの変化パターンは、劣化指標パラメータ値の所定時間における変化量に基づいて判別される。これにより、時系列データの変化パターンが搬送機構5の経年劣化示すものであるか否かを好適に判別することができる。
ステップS4で、劣化指標パラメータ値の閾値超過が搬送機構5の経年劣化によるものであると判定した場合には、搬送機構5を、動作速度を所定の速度に低下させて動作復帰させる(ステップS5)。これにより、経年劣化による機械及び電気的なトラブルが発生した場合であっても人手を介することなく復旧できる。また、速度を落とすことで回避できるエラーに関しては自動で速度を落として搬送装置2を動作させることによって、装置のダウンタイムを短縮することが可能になる。
ステップS5で、劣化指標パラメータ値の閾値超過が搬送機構5の経年劣化によるものではないと判定した場合には、警報装置4にエラー信号を発するとともにシステム全体をダウンさせる(ステップS6)。エラー信号を受けた警報装置4は、周囲にエラー状態である旨を通知する。作業者は、搬送装置2及び生産ライン等の周辺設備を含んだシステム全体を停止させて、観測した偏差や電流値等から故障個所を早期に発見し、修理にかかる時間を短縮することができる。
従って、本実施形態によれば、機械及び電気的なトラブルが発生した場合でも、搬送装置の自己の状態を監視することにより、動作の鈍化や電流及び電圧の増減を把握することが可能となる。そのため、状態によってはエラーとすることや、エラーになる以前にワーニングを出すことが可能になる。また、速度を落とすことで回避できるエラーに関しては自動で速度を落として搬送装置を動作させることによって、装置のダウンタイムを最小限にすることが可能になる。
尚、本実施形態では、劣化指標パラメータは、位置制御におけるモータの位置ずれ及びモータに流れる電流の双方としたが、いずれか一方にしてもよい。また、劣化指標パラメータは、サーボモータの速度のずれでもよい。
尚、本実施形態では、制御装置3は、搬送装置2を復帰させる際には、動作速度を所定の速度に低下させたが、段階的に低下させてもよい。例えば動作速度を100%、50%、25%、12.5%(停止)のように、パラメータの値が回復しない場合は段階的に落としていく。これにより、搬送装置2の動作を復帰させやすくなる。
上記説明から、当業者にとっては、本発明の多くの改良や他の実施形態が明らかである。従って、上記説明は、例示としてのみ解釈されるべきであり、本発明を実行する最良の態様を当業者に教示する目的で提供されたものである。本発明の精神を逸脱することなく、その構造及び機能の一方又は双方の詳細を実質的に変更できる。
本発明は、半導体基板等の搬送装置に有用である。
1 搬送システム
2 搬送装置
3 制御装置
4 警報装置
5 搬送機構
6 基台
7 昇降軸
8 第1リンク
9 第2リンク
10 第3リンク
11 エンドエフェクタ
21 交流電源
22 AC/DC変換回路
23 平滑回路
24 インバータ回路
25 サーボモータ
26 電流検出器
27 位置検出器
31 取得器
32 記憶器
33 制御器

Claims (5)

  1. サーボモータを位置制御しながら当該サーボモータによって搬送機構を駆動するよう構成された搬送装置の制御装置であって、
    前記位置制御におけるモータの位置ずれ及びモータに流れる電流の少なくとも一方である劣化指標パラメータの値の時系列を取得する取得器と、
    取得した前記劣化指標パラメータの値の時系列を記憶する記憶器と、
    予め設定された閾値を前記劣化指標パラメータの値が超えると前記搬送機構を停止させ、且つ、前記劣化指標パラメータの値の時系列の変化パターンに基づいて、前記劣化指標パラメータ値の前記閾値超過が前記搬送機構の経年劣化によるものであるか否かを判定し、前記劣化指標パラメータ値の前記閾値超過が前記搬送機構の経年劣化によるものであると判定した場合には、前記搬送機構を、動作速度を低下させて動作させる制御器と、を備える、搬送装置の制御装置。
  2. 前記制御器は、前記閾値を前記劣化指標パラメータの値が超えると警告信号を発し、前記劣化指標パラメータ値の前記閾値超過が前記搬送機構の経年劣化によるものでないと判定した場合にはエラー信号を発する、請求項1に記載の搬送装置。
  3. 前記搬送機構の経年劣化を示す前記劣化指標パラメータの値の時系列の変化パターンは、前記劣化指標パラメータ値の所定時間における変化量に基づいて判別される、請求項1又は請求項2に記載の搬送装置。
  4. 前記制御器は、前記搬送装置を復帰させる際には、動作速度を段階的に低下させる、請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の搬送装置。
  5. 前記搬送装置は、真空環境下で使用される多軸ロボットである、請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の搬送装置。
JP2016565610A 2014-12-26 2014-12-26 搬送装置の制御装置 Active JP6302569B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2014/006514 WO2016103310A1 (ja) 2014-12-26 2014-12-26 搬送装置の制御装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2016103310A1 true JPWO2016103310A1 (ja) 2017-06-01
JP6302569B2 JP6302569B2 (ja) 2018-03-28

Family

ID=56149414

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016565610A Active JP6302569B2 (ja) 2014-12-26 2014-12-26 搬送装置の制御装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10699929B2 (ja)
JP (1) JP6302569B2 (ja)
KR (1) KR101959963B1 (ja)
CN (1) CN107155370B (ja)
TW (1) TWI584400B (ja)
WO (1) WO2016103310A1 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3321044A4 (en) * 2015-08-25 2019-05-29 Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha REMOTELY CONTROLLED MANIPULATOR SYSTEM AND METHOD FOR OPERATION THEREOF
JP6812925B2 (ja) * 2017-08-01 2021-01-13 トヨタ自動車株式会社 ロボットアーム、鉄粉量推定方法及び異常予兆判定システム
JP6889631B2 (ja) * 2017-08-04 2021-06-18 川崎重工業株式会社 状態監視システム及び状態監視方法
JP7021895B2 (ja) 2017-10-03 2022-02-17 川崎重工業株式会社 異常の生じた部位の推定方法及び異常の生じた部位の推定を行わせるプログラム
JP7364371B2 (ja) * 2019-06-28 2023-10-18 川崎重工業株式会社 基板搬送ロボット及び基板搬送ロボットの制御方法
JP7335103B2 (ja) * 2019-07-09 2023-08-29 ニデックインスツルメンツ株式会社 産業用ロボットおよび産業用ロボットの制御方法
CN114334763B (zh) * 2021-12-17 2022-10-21 北京京仪自动化装备技术股份有限公司 晶圆传送系统
CN117233602B (zh) * 2023-11-07 2024-01-30 迈为技术(珠海)有限公司 刺晶机老化检测方法和刺晶机

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07100724A (ja) * 1993-09-30 1995-04-18 Jatco Corp 被加工物用移動機構の監視装置
JPH07182002A (ja) * 1993-12-22 1995-07-21 Nissan Motor Co Ltd 故障未然防止装置
JPH09262517A (ja) * 1996-03-28 1997-10-07 Trinity Ind Corp 自動塗装装置の劣化度合監視装置
JPH1015629A (ja) * 1996-07-02 1998-01-20 Komatsu Ltd トランスファプレスにおけるサーボアンプの過負荷予告装置
JP2001202134A (ja) * 2000-01-17 2001-07-27 Toshiba Mach Co Ltd 制御装置、制御方法、および、制御装置の警報出力方法
JP2006285688A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Yamaha Corp 製造設備の故障診断方法および装置
JP2010201556A (ja) * 2009-03-03 2010-09-16 Kawasaki Heavy Ind Ltd ロボット及びその制御方法
JP2011091072A (ja) * 2009-10-20 2011-05-06 Hitachi High-Tech Control Systems Corp 半導体ウェーハ搬送装置の診断方法
JP2013210703A (ja) * 2012-03-30 2013-10-10 Mitsubishi Electric Corp プラント機器の経年劣化故障兆候判定システム

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10313037A (ja) 1997-05-06 1998-11-24 Applied Materials Inc 基板搬送システムの監視装置
DE59813927D1 (de) * 1997-12-06 2007-04-12 Elan Schaltelemente Gmbh & Co Verfahren zur Überwachung einer technischen Anlage mit erhöhten Sicherheitsanforderungen insbesondere eines Handhabungsgerätes, sowie Überwachungs- und Steuergerät
JP2004104011A (ja) * 2002-09-12 2004-04-02 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置
JP3911258B2 (ja) * 2003-08-18 2007-05-09 川崎重工業株式会社 制御装置による駆動装置の制御方法および制御装置
JP2005137127A (ja) 2003-10-30 2005-05-26 Nissan Motor Co Ltd モータの絶縁材料劣化検出方法およびこの方法を実施可能なモータ駆動制御装置
JP2005311259A (ja) 2004-04-26 2005-11-04 Nikon Corp 駆動機構の劣化検出装置及び方法並びに露光装置
US8036776B2 (en) * 2005-11-16 2011-10-11 Abb Ab Method and device for controlling motion of an industrial robot with a position switch
JP2007251088A (ja) 2006-03-20 2007-09-27 Tokyo Electron Ltd 縦型熱処理装置及び縦型熱処理装置における移載機構の制御方法
CN200983104Y (zh) * 2006-09-08 2007-11-28 和舰科技(苏州)有限公司 一种检测传送机异常运行的装置
EP1927440A1 (en) * 2006-11-30 2008-06-04 Abb Research Ltd. Method and device for monitoring the condition of an industrial robot
JP5110405B2 (ja) 2010-04-07 2012-12-26 村田機械株式会社 走行台車システム
JP5664543B2 (ja) 2011-12-26 2015-02-04 東京エレクトロン株式会社 搬送装置及び搬送方法
US9205560B1 (en) * 2013-06-24 2015-12-08 Redwood Robotics, Inc. System and method for failure detection of a robot actuator
CN111584355B (zh) * 2014-04-18 2021-07-13 株式会社荏原制作所 基板处理装置及基板处理系统

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07100724A (ja) * 1993-09-30 1995-04-18 Jatco Corp 被加工物用移動機構の監視装置
JPH07182002A (ja) * 1993-12-22 1995-07-21 Nissan Motor Co Ltd 故障未然防止装置
JPH09262517A (ja) * 1996-03-28 1997-10-07 Trinity Ind Corp 自動塗装装置の劣化度合監視装置
JPH1015629A (ja) * 1996-07-02 1998-01-20 Komatsu Ltd トランスファプレスにおけるサーボアンプの過負荷予告装置
JP2001202134A (ja) * 2000-01-17 2001-07-27 Toshiba Mach Co Ltd 制御装置、制御方法、および、制御装置の警報出力方法
JP2006285688A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Yamaha Corp 製造設備の故障診断方法および装置
JP2010201556A (ja) * 2009-03-03 2010-09-16 Kawasaki Heavy Ind Ltd ロボット及びその制御方法
JP2011091072A (ja) * 2009-10-20 2011-05-06 Hitachi High-Tech Control Systems Corp 半導体ウェーハ搬送装置の診断方法
JP2013210703A (ja) * 2012-03-30 2013-10-10 Mitsubishi Electric Corp プラント機器の経年劣化故障兆候判定システム

Also Published As

Publication number Publication date
KR20170103806A (ko) 2017-09-13
JP6302569B2 (ja) 2018-03-28
CN107155370B (zh) 2020-07-31
WO2016103310A1 (ja) 2016-06-30
TWI584400B (zh) 2017-05-21
CN107155370A (zh) 2017-09-12
US10699929B2 (en) 2020-06-30
US20170341240A1 (en) 2017-11-30
TW201623123A (zh) 2016-07-01
KR101959963B1 (ko) 2019-03-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6302569B2 (ja) 搬送装置の制御装置
JP6659730B2 (ja) アクチュエータ駆動ロボットジョイントの開ループ/閉ループ制御のための方法および装置
JP5367623B2 (ja) サーボシステム、サーボモータ駆動装置、セーフティユニットおよびサーボシステムの制御方法
EP3388906B1 (en) Motor control system, motor controller, and method for setting safety function
CN107562014B (zh) 机床的控制装置
US20200254631A1 (en) System for determining abnormal condition of detection device, detection device, device for determining abnormal condition of detection device, and method of determining abormal condition of detection device
JP2015062970A (ja) 多軸ロボットの動力遮断装置及び多軸ロボット
JP5370039B2 (ja) ロボットシステム
CN111954588A (zh) 机器人控制装置、维护管理方法以及维护管理程序
US10060983B2 (en) Method and apparatus for determining a physical quantity of a multiphase synchronous machine
CN114465526B (zh) 电动马达用的控制装置、具备该控制装置的机器人以及电动马达的控制方法
JP6961821B2 (ja) タップ切換器用電動操作装置およびタップ切換方法
CN110695769B (zh) 机床的异常检测装置
CN108802611B (zh) 异常诊断装置和异常诊断方法
JP4538730B2 (ja) モータ制御装置
JP2014110704A (ja) ダイナミックブレーキ検査機能を備えたインバータ装置
EP2632653B1 (en) Method and apparatus for monitoring and limiting the velocity of an industrial robot
JP2007288829A (ja) 機械の異常検出方法およびその装置
WO2024085148A1 (ja) ロボットシステム
JP2019193510A (ja) 機械状態監視装置
JP2012036003A (ja) エレベータの制御装置
JP2017094445A (ja) ロボット制御装置
JP2023110262A (ja) ロボット診断装置、ロボット診断方法およびロボット診断プログラム
JP5786291B2 (ja) インバータ装置
JP6334096B2 (ja) 車両用制御装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170206

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20171003

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171129

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180206

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180302

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6302569

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250