JPWO2011102049A1 - 弾性波デバイス - Google Patents

弾性波デバイス Download PDF

Info

Publication number
JPWO2011102049A1
JPWO2011102049A1 JP2012500467A JP2012500467A JPWO2011102049A1 JP WO2011102049 A1 JPWO2011102049 A1 JP WO2011102049A1 JP 2012500467 A JP2012500467 A JP 2012500467A JP 2012500467 A JP2012500467 A JP 2012500467A JP WO2011102049 A1 JPWO2011102049 A1 JP WO2011102049A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
filters
piezoelectric substrate
wave device
filter
gap
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012500467A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5327378B2 (ja
Inventor
英雄 木藤
英雄 木藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2012500467A priority Critical patent/JP5327378B2/ja
Publication of JPWO2011102049A1 publication Critical patent/JPWO2011102049A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5327378B2 publication Critical patent/JP5327378B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/70Multiple-port networks for connecting several sources or loads, working on different frequencies or frequency bands, to a common load or source
    • H03H9/72Networks using surface acoustic waves
    • H03H9/725Duplexers
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders; Supports
    • H03H9/0538Constructional combinations of supports or holders with electromechanical or other electronic elements
    • H03H9/0566Constructional combinations of supports or holders with electromechanical or other electronic elements for duplexers
    • H03H9/0576Constructional combinations of supports or holders with electromechanical or other electronic elements for duplexers including surface acoustic wave [SAW] devices
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders; Supports
    • H03H9/10Mounting in enclosures
    • H03H9/1064Mounting in enclosures for surface acoustic wave [SAW] devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Abstract

空隙を介して対向するように圧電基板を配置しても、アイソレーション特性や帯域外減衰量を改善しつつ小型化することができる弾性波デバイスを提供する。弾性波デバイス10は、第1の圧電基板12と第2の圧電基板14とが、空隙18を介して対向するように、接合部13により接合されている。第1の圧電基板12の対向面12sに形成された第1組の複数のフィルタ22,24と、第2の圧電基板14の対向面14sに形成された第2組の複数のフィルタ26,28とは、複数の対22,26;24,28となって空隙18を介して対向する。各対の第1組のフィルタと第2組のフィルタとの中心周波数の差の絶対値は、いずれも、第1組のフィルタと第2組のフィルタとからなる群22,24,26,28から選択された2つのフィルタの中心周波数の差の絶対値のうちの最小値よりも大きい。

Description

本発明は、弾性波デバイスに関し、詳しくは、空隙を介して対向する圧電基板を備えたマルチバンドのフィルタやデュプレクサなどの弾性波デバイスに関する。
例えば図4の断面図に示すように、弾性表面波励振用の櫛型のIDT(interdigital transducer)電極121,123が形成された2枚の圧電基板112,114を、電極形成面同士が対向するように中間層113を介して接合することにより、圧電基板112,114間に空隙118を形成した弾性波デバイス(デュアルフィルタ)が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特表2008−546207号公報
このように圧電基板が空隙を介して対向する構成を、SAW−DPX(弾性表面波デュプレクサ)に適用する場合、一方の圧電基板にTx(送信)側フィルタを形成し、他方の圧電基板にRx(受信)側フィルタを形成し、Tx側フィルタが形成された面とRx側フィルタが形成された面とが対向するように圧電基板同士を配置することが考えられる。このように構成すると、1つの圧電基板の片側表面にTx側フィルタとRx側フィルタの両方を形成する構成と比べると、小型化が図れる。
しかしながら、Tx側フィルタとRx側フィルタとが僅かな空隙を挟んで対向すると、電磁的な結合によりアイソレーションが悪化する。これを改善するためには、例えば図3の断面図に示すように、圧電基板12,14にそれぞれ形成されるTx側フィルタ21とRx側フィルタ23は、接合部13を介して結合される圧電基板12,14間に形成される空隙18を挟んで対向しないように、ずらして配置する必要がある。Tx側フィルタ21とRx側フィルタ23の配置をずらすと、2つの圧電基板12,14が空隙18を介して対向する構造で得られる小型化のメリットが薄れてしまう。
そのため、圧電基板が空隙を介して対向する構成をSAW−DPXに適用する場合、アイソレーション特性の確保と小型化とは、両立が困難である。
圧電基板が空隙を介して対向する構成をデュアルフィルタに適用する場合でも、2つのフィルタの中心周波数が近い場合は、2つのフィルタの電磁的な結合により、帯域外減衰量が悪化する。そのため、帯域外減衰量の確保と小型化とは、両立が困難になる。
なお、中心周波数とは、帯域阻止フィルタにおいては下側の遮断周波数と上側の遮断周波数の相加平均として定義される周波数であり、帯域通過フィルタにおいては下側の通過周波数と上側の通過周波数の相加平均として定義される周波数である。
本発明は、かかる実情に鑑み、空隙を介して対向するように圧電基板を配置しても、アイソレーション特性や帯域外減衰量を改善しつつ小型化することができる弾性波デバイスを提供しようとするものである。
本発明は、上記課題を解決するために、以下のように構成した弾性波デバイスを提供する。
弾性波デバイスは、(a)第1の圧電基板と、(b)第2の圧電基板と、(c)前記第1の圧電基板と前記第2の圧電基板とが対向し、かつ前記第1の圧電基板と前記第2の圧電基板との間に空隙が形成されるように、前記第1の圧電基板と前記第2の圧電基板とを接合する接合部と、(d)前記空隙を介して前記第2の圧電基板に対向する前記第1の圧電基板の一方主面に形成された第1組の複数のフィルタと、(e)前記空隙を介して前記第1の圧電基板に対向する前記第2の圧電基板の一方主面に形成された第2組の複数のフィルタとを備える。前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとは、複数の対となって前記空隙を介して対向する。前記各対の前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとの中心周波数の差の絶対値は、いずれも、前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとからなる群から選択された2つのフィルタの中心周波数の差の絶対値のうちの最小値よりも大きい。
上記構成によれば、第1組のフィルタと第2組のフィルタとが空隙を介して対向する対には、第1組のフィルタと第2組のフィルタの中心周波数の差の絶対値が最小値になる組み合わせが除かれる。すなわち、中心周波数の最も近いフィルタ同士は対向しない。これにより、中心周波数の近いフィルタ同士を空間的に離して配置することができ、フィルタ間の電磁結合が抑制され、帯域外減衰量やアイソレーションを改善できるとともに、小型化とマルチバンド対応を実現できる。
好ましくは、前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとが複数の前記対となって前記空隙を介して対向する組み合わせは、前記各対の前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとの中心周波数の差の絶対値の最小値が最大となる組み合わせである。
この場合、空隙を介して対向する第1のフィルタと第2のフィルタとの中心周波数の差の絶対値をできるだけ大きくすることができるので、帯域外減衰量やアイソレーションをより改善できる。
好ましい一態様において、前記第1組のフィルタ及び前記第2組のフィルタは、2以上のバンドの受信側フィルタ及び送信側フィルタである。
この場合、弾性波デバイスは、マルチバンドデュプレクサである。
好ましくは、弾性波デバイスは、(f)前記空隙内において、前記対となる前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとが互いに対向する領域の間に配置されるように、前記第1の圧電基板と前記第2の圧電基板とに接合され、導電性を有し、グランドに電気的に接続される接続部材をさらに備える。
この場合、接続部材によるグランドを備えることにより、接続部材の両側に配置された異なる対のフィルタ間の電磁的な結合が抑制される。これにより、帯域外減衰量やアイソレーションをさらに改善できる。また、接続部材を介して熱を伝えることにより、電力印加時のフィルタの自己発熱の放熱効果を向上させることが可能になり、素子の集積にともなう耐電力性能の劣化を抑制することが可能になる。また、接続部材によって第1及び第2の圧電基板の間隔を保持することができるので、弾性波デバイスの強度が向上する。
好ましくは、前記接合部と前記接続部材とが同一材料で形成される。
この場合、接合部と接続部材とを同一材料で形成することにより、製造コストを抑えることができる。
好ましくは、前記第2の圧電基板の厚みは、前記第1基板の厚みよりも小さい。前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとの前記各対において、前記第2組のフィルタの中心周波数が前記第1のフィルタの中心周波数よりも高い。
この場合、相対的に薄い第2の圧電基板に、相対的に中心周波数が高いフィルタを形成することにより、バルク波による不要レスポンスを効果的に抑えることができる。
本発明の弾性波デバイスは、空隙を介して対向するように圧電基板を配置しても、アイソレーション特性や帯域外減衰量を改善しつつ小型化することができる。
弾性波デバイスの断面図である。(実施例1−1、1−2、2−1,2−2) 弾性波デバイスの断面図である。(実施例3) 弾性波デバイスの断面図である。(比較例) 弾性波デバイスの断面図である。(従来例)
以下、本発明の実施の形態について、図1及び図2を参照しながら説明する。
<実施例1−1> 実施例1−1の弾性波デバイス10について、図1の断面図を参照しながら説明する。
図1に示すように、弾性波デバイス10は、第1の圧電基板12と第2の圧電基板14とが対向し、かつ第1の圧電基板12と第2の圧電基板14との間に空隙18が形成されるように、第1の圧電基板12と第2の圧電基板14とが、接合部13を介して接合されている。
第1の圧電基板12には、空隙18を介して第2の圧電基板14に対向する一方主面(「対向面」ともいう。)12sに、第1のフィルタ22(「フィルタ1」ともいう。)及び第2のフィルタ24(「フィルタ2」ともいう。)と、接続電極12aとが形成されている。
第2の圧電基板14には、空隙18を介して第1の圧電基板12に対向する一方主面(「対向面」ともいう。)14sに、第3のフィルタ26(「フィルタ3」ともいう。)及び第4のフィルタ28(「フィルタ4」ともいう。)と、接続電極14aとが形成されている。
第1の圧電基板12の接続電極12aと第2の圧電基板14の接続電極14aとは、バンプ等により電気的に接続されている。
第2の圧電基板14には、第2の圧電基板14を貫通するビアホール導体14bが形成されている。ビアホール導体14bの一端は、接続電極14aに接続されている。第2の圧電基板14の他方主面には、外部に露出する端子電極14cが形成されている。端子電極14cは、ビアホール導体14bの他端に接続されている。
第1の圧電基板12及び第2の圧電基板14は、タンタル酸リチウム(LiTaO)やニオブ酸リチウム(LiNbO)などの圧電材料からなる基板である。接合部13は、はんだ合金や樹脂等を用いて形成する。
第1の圧電基板12の対向面12sに形成された第1及び第2のフィルタ22,24と、第2の圧電基板14の対向面14sに形成された第3及び第4のフィルタ26,28とは、弾性表面波(SAW)や境界波などの弾性波を励振する櫛型のIDT電極を含むフィルタである。
第1の圧電基板12の対向面12sに形成された第1及び第2のフィルタ22,24は、第1組のフィルタである。第2の圧電基板14の対向面14sに形成された第3及び第4のフィルタ26,28は、第2組のフィルタである。
第1のフィルタ22と第3のフィルタ26とは第1の対となっており、空隙18を介して互いに対向している。第2のフィルタ24と第4のフィルタ28とは第2の対となっており、空隙18を介して互いに対向している。
第1乃至第4のフィルタ22,24,26,28(フィルタ1〜4)の中心周波数をf1,f2,f3,f4とすると、第1対のフィルタの中心周波数の差の絶対値は|f1−f3|、第2対のフィルタの中心周波数の差の絶対値は|f2−f4|である。
実施例1−1では、フィルタ1〜4の中心周波数f1〜f4は、各対の中心周波数の差の絶対値|f1−f3|、|f2−f4|が、いずれも、第1組のフィルタと第2組のフィルタとからなる群(すなわち、フィルタ1〜4)から選択された2つのフィルタの中心周波数の差の絶対値のうちの最小値よりも大きくなるように、決定されている。
例えば、GSM4波(中心周波数:850MHz,900MHz,1800MHz,1900MHz)のクワッドバンドフィルタを例に取ると、フィルタ1〜4の中心周波数f1〜f4は、次の表1−1に示す組み合わせのうち、850MHz,900MHz,1800MHz,1900MHzのフィルタからなる群から選択された2つのフィルタの中心周波数の差の絶対値の最小値である50MHzを含むケース5、6以外、すなわちケース1〜4のいずれかの組み合わせを選択する。
Figure 2011102049
表中の「○」は、実施例1−1において選択可能なケースである。表中の「×」は、実施例1−1において選択しないケースである。
これにより、複数のフィルタ22,24,26,28を含む弾性波デバイス10を小型化することができる。あるいは、同じ大きさのパッケージにより多くのフィルタを組み込み、より多くのバンドに対応できる弾性波デバイスを提供し、部品点数の削減及び実装面積削減によるコストダウンに寄与することが可能となる。
空隙18を挟んで対向するフィルタ22,26;24,28は、空間的に最も近接しているため電磁的な結合が強くなりやすいが、表1−1のケース1〜4のように、互いの中心周波数がケース5,6に比べ離れていると、電磁的な結合が抑えられるため、帯域外減衰量を向上させることが可能となる。
なお、対となるフィルタの中心周波数の差の絶対値が大きいほど、対となるフィルタ間の電磁的な結合が弱くなるので、表1−1のケース1〜4の中でも、各対のフィルタの中心周波数の差の絶対値の最小値(ケース1では950MHz、ケース2では900MHz、ケース3では950MHz、ケース4では900MHz)が最大になる組み合わせであるケース1及びケース3の方が、ケース2及びケース4に比べ、帯域外減衰量やアイソレーションをより改善でき、好ましい。
<実施例1−2> 実施例1−2は、実施例1−1の弾性波デバイス10と略同じ構成である。以下では、図1を参照しながら相違点を中心に説明する。
実施例1−2では、図1に示されているように、第2の圧電基板14の厚みが第1の圧電基板12の厚みよりも小さい。
第1乃至第4のフィルタ22,24,26,28(フィルタ1〜4)の中心周波数f1〜f4は、実施例1−1と同様に、空隙16を介して対向する各対におけるフィルタの中心周波数の差の絶対値|f1−f3|、|f2−f4|が、いずれも、第1組のフィルタと第2組のフィルタとからなる群(すなわち、フィルタ1〜4)から選択された2つのフィルタの中心周波数の差の絶対値のうちの最小値よりも大きくなるようにする。
実施例1−2では、上記の実施例1−1と同じ条件を満たした上、さらに、各対において、相対的に薄い第2の圧電基板14の対向面14sに形成される第2組のフィルタ26,28の中心周波数の方が、相対的に厚い第1の圧電基板12の対向面12sに形成される第1組のフィルタ22,24の中心周波数よりも高くなるようにする。つまり、第1対においてフィルタ3の中心周波数がフィルタ1の中心周波数よりも高く、かつ、第2対においてフィルタ4の中心周波数がフィルタ2の中心周波数よりも高くなる組み合わせを選択する。
例えば、実施例1−1と同じGSM4波(中心周波数:850MHz,900MHz,1800MHz,1900MHz)のクワッドバンドフィルタを例に取ると、フィルタ1〜4の中心周波数f1〜f4は、次の表1−2に示すように、2つのフィルタ間の中心周波数の差の絶対値の最小値である50MHzを含むケース5、6を除くケース1〜4のうち、フィルタ3の中心周波数がフィルタ1の中心周波数よりも高く、かつ、フィルタ4の中心周波数がフィルタ2の中心周波数よりも高くなるケース1又は2を選択する。
Figure 2011102049
表中の「○」は実施例1−2において選択可能なケースである。表中の「×」は実施例1−2において選択しないケースである。
IDT電極によって励振される弾性波のうちの圧電基板の深さ方向に放射されるバルク波による不要レスポンスは、IDT電極のピッチで規格化した圧電基板の厚みが小さいほど大きくなってくる。フィルタ同士が対向する各対において、相対的に薄い第2の圧電基板14の対向面14sに、相対的に厚い第1の圧電基板12の対向面12sに形成された第1組のフィルタ22,24の中心周波数によりも中心周波数が高い第2組のフィルタ26,28を配することにより、バルク波による不要レスポンスを効果的に抑えることができる。
<実施例2−1> 実施例2−1は、実施例1−1で示した4個のフィルタ22,24,26,28(フィルタ1〜4)によって、2つのバンド用のデュアルDPX(デュプレクサ)が構成される。第1及び第2の圧電基板12,14の対向面12s,14sに形成されるフィルタ22,24,26,28は、別のバンドのTx(送信)側フィルタあるいはRx(受信)側フィルタが互いに対向するように構成する。
例えばBand2とBand8のデュアルDPXの場合、各バンドのTx及びRxの中心周波数は、
Band2 Tx :1880MHz
Band2 Rx :1960MHz
Band8 Tx :897.5MHz
Band8 Rx :942.5MHz
となる。
この場合、フィルタ1〜4の中心周波数f1〜f4は、次の表2−1に示す組み合わせのうち、1880MHz,1960MHz,897.5MHz,942.5MHzのフィルタからなる群から選択された2つのフィルタの中心周波数の差の絶対値の最小値である45MHzを含むケース5、6以外、すなわちケース1〜4のいずれかの組み合わせを選択する。
Figure 2011102049
表中の「○」は、実施例2−1において選択可能なケースである。表中の「×」は、実施例2−1において選択しないケースである。
実施例2−1は、実施例1−1と同じく、中心周波数が近いフィルタ同士が空隙18を介して対向しないように配置することにより、フィルタ間の電磁的な結合が抑制され、アイソレーション特性を改善できる。
なお、対となるフィルタの中心周波数の差の絶対値が大きいほどフィルタ間の電磁的な結合が弱くなるので、表2−1のケース1〜4の中でも、各対のフィルタの中心周波数の差の絶対値の最小値(ケース1では982.5MHz、ケース2では937.5MHz、ケース3では982.5MHz、ケース4では937.5MHz)が最大になる組み合わせであるケース1及びケース3の方が、ケース2及びケース4に比べ、帯域外減衰量やアイソレーションをより改善でき、好ましい。
<実施例2−2> 実施例2−2は、実施例2−1のDPXと略同じ構成である。以下では、図1を参照しながら相違点を中心に説明する。
実施例2−2では、図1に示されているように、第2の圧電基板14の厚みが第1の圧電基板12の厚みよりも小さい。
第1乃至第4のフィルタ22,24,26,28(フィルタ1〜4)の中心周波数f1〜f4は、実施例2−1と同様に、空隙18を介して対向する各対におけるフィルタの中心周波数の差の絶対値|f1−f3|、|f2−f4|が、いずれも、第1組のフィルタと第2組のフィルタとからなる群(すなわち、フィルタ1〜4)から選択された2つのフィルタの中心周波数の差の絶対値のうちの最小値よりも大きくなるようする。
実施例2−2では、上記の実施例2−1と同じ条件を満たした上、さらに、各対において、相対的に薄い第2の圧電基板14の対向面14sに形成される第2組のフィルタ26,28の中心周波数が、相対的に厚い第1の圧電基板12の対向面12sに形成される第1組のフィルタ22,24の中心周波数よりも高くなるようにする。つまり、第1対においてフィルタ3の中心周波数がフィルタ1の中心周波数よりも高く、かつ、第2対においてフィルタ4の中心周波数がフィルタ2の中心周波数よりも高くなる組み合わせを選択する。
例えば、実施例2−1と同じBand2とBand8のデュアルDPXを例に取ると、フィルタ1〜4の中心周波数f1〜f4は、次の表2−2に示すように、2つのフィルタ間の中心周波数の差の絶対値の最小値である45MHzを含むケース5、6を除くケース1〜4のうち、フィルタ3の中心周波数がフィルタ1の中心周波数よりも高く、かつ、フィルタ4の中心周波数がフィルタ2の中心周波数よりも高くなるケース1又は2を選択する。
Figure 2011102049
表中の「○」は、実施例2−2において選択可能なケースである。表中の「×」は、実施例2−2において選択しないケースである。
IDT電極によって励振される弾性波のうちの圧電基板の深さ方向に放射されるバルク波による不要レスポンスは、IDT電極のピッチで規格化した圧電基板の厚みが小さいほど大きくなってくる。フィルタ同士が対向する各対において、相対的に薄い第2の圧電基板14の対向面14sに、相対的に厚い第1の圧電基板12の対向面12sに形成された第1組のフィルタ22,24の中心周波数によりも中心周波数が高い第2組のフィルタ26,28を配することにより、バルク波による不要レスポンスを効果的に抑えることができる。
<実施例3> 実施例3の弾性波デバイス10aについて、図2の断面図を参照しながら説明する。
図2に示すように、実施例3の弾性波デバイス10aは、実施例1−1の弾性波デバイス10の構成に、接続部材16をさらに備えている。
接続部材16は、第1の圧電基板12の対向面12sと第2の圧電基板14の対向面14sとに接合された柱状あるいは壁状の金属製の構造物であり、導電性を有する。接続部材16は、第1の圧電基板12と第2の圧電基板14との間の空隙18において、第1対のフィルタ22,26が互いに対向する領域15と、第2対のフィルタ24,28が互いに対向する領域17との間に配置されている。図示していないが、接続部材16は、配線パターンやビアホール導体を介して、グランド電極に電気的に接続される。
接続部材16は、接合部13と同一材料(例えば、はんだ合金や導電性ペースト)で形成すると、製造コストを抑えることができるので、好ましい。
実施例3の弾性波デバイス10aは、実施例1−1等と同様に、小型化してもアイソレーション特性や帯域外源数量を改善することができる。
実施例3の弾性波デバイス10aは、第1対のフィルタ22,26が互いに対向する領域15と第2対のフィルタ24,28が互いに対向する領域17との間に配置された接続部材16がシールド電極となり、第1対のフィルタ22,26と第2対のフィルタ24,28との間の電磁的な結合が抑制される。これにより、帯域外減衰量やアイソレーションをさらに改善できる。
接続部材16は放熱経路となり、フィルタ22,24,26,28に電力が印加されることによって発生する熱を逃がしやすくなるため、電力印加時のフィルタ22,24,26,28の温度上昇を抑えることができる。これにより、素子の集積にともなう耐電力性能の劣化を抑制することが可能になる。
接続部材16を設けることにより、第1及び第2の圧電基板12,14のうち空隙18を介して対向する部分の間隔を保持することができるので、弾性波デバイス10aの強度が向上する。これにより、例えば、弾性波デバイス10aは、モールド耐性が向上する。
なお、接続部材16は、紙面(図2)奥行き方向に渡って空隙18を空隙15,17に完全に遮蔽(分離)できることが望ましいが、部分的に対向面12sと14sに接続された支柱状の構造であっても、一定のシールド効果とモールド耐性の向上は期待できる。
<まとめ> 以上に説明したように、空隙を介して対向する圧電基板の対向面に形成するフィルタについて、空隙を介して対向し対となるフィルタ同士の中心周波数の差の絶対値に着目して、各フィルタの中心周波数を決定することにより、マルチ(クワッド)バンドフィルタの帯域外減衰量を改善したり、デュアルバンドデュプレクサのアイソレーション特性を改善したりすることができる。
なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、種々変更を加えて実施することが可能である。
例えば、本発明は、第1及び第2の圧電基板に帯域通過フィルタが形成されている場合に限らず、第1及び第2の圧電基板に帯域阻止フィルタが形成されている場合にも適用することができる。また、本発明は、クワッドバンドよりもバンド数が多いマルチバンドフィルタやデュアルバンドよりバンド数が多いマルチバンドデュプレクサにも適用することができる。
10,10a 弾性波デバイス
12 第1の圧電基板
12s 一方主面(対向面)
13 接合部
14 第2の圧電基板
14s 一方主面(対向面)
16 接続部材
18 空隙
22 第1のフィルタ(第1組のフィルタ、第1対のフィルタ、フィルタ1)
24 第2のフィルタ(第1組のフィルタ、第2対のフィルタ、フィルタ2)
26 第3のフィルタ(第2組のフィルタ、第1対のフィルタ、フィルタ3)
28 第4のフィルタ(第2組のフィルタ、第2対のフィルタ、フィルタ4)

Claims (6)

  1. 第1の圧電基板と、
    第2の圧電基板と、
    前記第1の圧電基板と前記第2の圧電基板とが対向し、かつ前記第1の圧電基板と前記第2の圧電基板との間に空隙が形成されるように、前記第1の圧電基板と前記第2の圧電基板とを接合する接合部と、
    前記空隙を介して前記第2の圧電基板に対向する前記第1の圧電基板の一方主面に形成された第1組の複数のフィルタと、
    前記空隙を介して前記第1の圧電基板に対向する前記第2の圧電基板の一方主面に形成された第2組の複数のフィルタと、
    を備え、
    前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとは、複数の対となって前記空隙を介して対向し、
    前記各対の前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとの中心周波数の差の絶対値は、いずれも、前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとからなる群から選択された2つのフィルタの中心周波数の差の絶対値のうちの最小値よりも大きいことを特徴とする、弾性波デバイス。
  2. 前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとが複数の前記対となって前記空隙を介して対向する組み合わせは、
    前記各対の前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとの中心周波数の差の絶対値の最小値が最大となる組み合わせであること特徴とする、請求項1に記載の弾性波デバイス。
  3. 前記第1組のフィルタ及び前記第2組のフィルタは、2以上のバンドの受信側フィルタ及び送信側フィルタであることを特徴とする、請求項1又は2に記載の弾性波デバイス。
  4. 前記空隙内において、前記対となる前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとが互いに対向する領域の間に配置されるように、前記第1の圧電基板と前記第2の圧電基板とに接合され、導電性を有し、グランドに電気的に接続される接続部材をさらに備えることを特徴とする、請求項1乃至3のいずれか一つに記載の弾性波デバイス。
  5. 前記接合部と前記接続部材とが同一材料で形成されることを特徴とする、請求項4に記載の弾性波デバイス。
  6. 前記第2の圧電基板の厚みは、前記第1基板の厚みよりも小さく、
    前記第1組のフィルタと前記第2組のフィルタとの前記各対において、前記第2組のフィルタの中心周波数が前記第1のフィルタの中心周波数よりも高いことを特徴とする、請求項1乃至5のいずれか一つに記載の弾性波デバイス。
JP2012500467A 2010-02-17 2010-12-10 弾性波デバイス Active JP5327378B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012500467A JP5327378B2 (ja) 2010-02-17 2010-12-10 弾性波デバイス

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010032921 2010-02-17
JP2010032921 2010-02-17
JP2012500467A JP5327378B2 (ja) 2010-02-17 2010-12-10 弾性波デバイス
PCT/JP2010/072222 WO2011102049A1 (ja) 2010-02-17 2010-12-10 弾性波デバイス

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2011102049A1 true JPWO2011102049A1 (ja) 2013-06-17
JP5327378B2 JP5327378B2 (ja) 2013-10-30

Family

ID=44482658

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012500467A Active JP5327378B2 (ja) 2010-02-17 2010-12-10 弾性波デバイス

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8723621B2 (ja)
JP (1) JP5327378B2 (ja)
CN (1) CN102763327B (ja)
DE (1) DE112010005279B4 (ja)
WO (1) WO2011102049A1 (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5549792B1 (ja) * 2012-08-29 2014-07-16 株式会社村田製作所 弾性波装置
JP6335476B2 (ja) * 2013-11-06 2018-05-30 太陽誘電株式会社 モジュール
JP6348701B2 (ja) * 2013-11-06 2018-06-27 太陽誘電株式会社 モジュール
US9634641B2 (en) * 2013-11-06 2017-04-25 Taiyo Yuden Co., Ltd. Electronic module having an interconnection substrate with a buried electronic device therein
CN105814796B (zh) * 2013-12-25 2019-04-19 株式会社村田制作所 弹性波滤波器设备
WO2016067873A1 (ja) * 2014-10-31 2016-05-06 株式会社村田製作所 弾性波装置及び弾性波モジュール
JP5999295B1 (ja) * 2015-04-01 2016-09-28 株式会社村田製作所 デュプレクサ
WO2017110993A1 (ja) * 2015-12-25 2017-06-29 株式会社村田製作所 高周波モジュール
JP6454299B2 (ja) * 2016-05-13 2019-01-16 太陽誘電株式会社 弾性波デバイス
CN110114975B (zh) 2016-12-26 2023-02-24 株式会社村田制作所 弹性波装置、高频前端模块以及通信装置
JP6534406B2 (ja) * 2017-03-21 2019-06-26 太陽誘電株式会社 マルチプレクサ
CN111492588B (zh) * 2017-11-30 2022-03-25 株式会社村田制作所 无线通信装置
JP7084739B2 (ja) * 2018-02-21 2022-06-15 太陽誘電株式会社 マルチプレクサ
JP7084744B2 (ja) * 2018-03-12 2022-06-15 太陽誘電株式会社 弾性波デバイス、モジュールおよびマルチプレクサ
JP7068902B2 (ja) * 2018-04-09 2022-05-17 太陽誘電株式会社 マルチプレクサ
JP7093694B2 (ja) * 2018-07-17 2022-06-30 太陽誘電株式会社 通信用モジュール
US11581870B2 (en) * 2019-09-27 2023-02-14 Skyworks Solutions, Inc. Stacked acoustic wave resonator package with laser-drilled VIAS
CN112994638B (zh) * 2019-12-13 2024-06-07 芯知微(上海)电子科技有限公司 一种薄膜压电声波谐振器及其制造方法
CN111327296B (zh) * 2020-02-27 2020-12-22 诺思(天津)微系统有限责任公司 体声波滤波器元件及其形成方法、多工器及通讯设备

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001345673A (ja) * 2000-05-31 2001-12-14 Kyocera Corp 弾性表面波装置
JP2002043890A (ja) * 2000-07-31 2002-02-08 Kyocera Corp 弾性表面波装置
JP2004297633A (ja) * 2003-03-28 2004-10-21 Hitachi Ltd アンテナ共用器およびそれを用いた無線端末
WO2006008940A1 (ja) * 2004-07-20 2006-01-26 Murata Manufacturing Co., Ltd. 圧電フィルタ
JP2006186747A (ja) * 2004-12-28 2006-07-13 Nec Corp 弾性波デバイスおよび携帯電話
JP2007060465A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Seiko Epson Corp 薄膜弾性表面波デバイス
JP2008113178A (ja) * 2006-10-30 2008-05-15 Hitachi Media Electoronics Co Ltd 中空封止素子およびその製造方法
JP2008546207A (ja) * 2005-06-07 2008-12-18 エプコス アクチエンゲゼルシャフト 電気的素子および製造方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4295102A (en) * 1979-09-28 1981-10-13 Texas Instruments Incorporated Surface acoustic wave sensor sensing circuits
US4622855A (en) * 1984-12-31 1986-11-18 Schlumberger Technology Corporation Low thermal response time surface acoustic wave sensors
JP3088189B2 (ja) 1992-02-25 2000-09-18 三菱電機株式会社 弾性表面波装置
TW488044B (en) * 2001-02-09 2002-05-21 Asia Pacific Microsystems Inc Bulk acoustic filter and its package
JP3648462B2 (ja) 2001-04-27 2005-05-18 沖電気工業株式会社 弾性表面波分波器
TW200520201A (en) * 2003-10-08 2005-06-16 Kyocera Corp High-frequency module and communication apparatus
JP4587732B2 (ja) * 2004-07-28 2010-11-24 京セラ株式会社 弾性表面波装置
US7591415B2 (en) 2004-09-28 2009-09-22 3M Innovative Properties Company Passport reader for processing a passport having an RFID element
JP4423210B2 (ja) * 2005-01-21 2010-03-03 京セラ株式会社 高周波モジュール及びそれを用いた通信機器
EP1903676A4 (en) 2005-07-13 2012-08-22 Murata Manufacturing Co ELASTIC WAVE FILTER
KR100629498B1 (ko) * 2005-07-15 2006-09-28 삼성전자주식회사 마이크로 패키지, 멀티―스택 마이크로 패키지 및 이들의제조방법
KR101302132B1 (ko) * 2006-02-06 2013-09-03 삼성전자주식회사 멀티 밴드용 필터 모듈 및 그의 제작 방법
JP4937605B2 (ja) * 2006-03-07 2012-05-23 太陽誘電株式会社 弾性境界波デバイス
JP5125728B2 (ja) * 2008-04-28 2013-01-23 パナソニック株式会社 弾性波素子と、これを用いた共振器、フィルタ、及び電子機器
US7863699B2 (en) * 2008-05-21 2011-01-04 Triquint Semiconductor, Inc. Bonded wafer package module

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001345673A (ja) * 2000-05-31 2001-12-14 Kyocera Corp 弾性表面波装置
JP2002043890A (ja) * 2000-07-31 2002-02-08 Kyocera Corp 弾性表面波装置
JP2004297633A (ja) * 2003-03-28 2004-10-21 Hitachi Ltd アンテナ共用器およびそれを用いた無線端末
WO2006008940A1 (ja) * 2004-07-20 2006-01-26 Murata Manufacturing Co., Ltd. 圧電フィルタ
JP2006186747A (ja) * 2004-12-28 2006-07-13 Nec Corp 弾性波デバイスおよび携帯電話
JP2008546207A (ja) * 2005-06-07 2008-12-18 エプコス アクチエンゲゼルシャフト 電気的素子および製造方法
JP2007060465A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Seiko Epson Corp 薄膜弾性表面波デバイス
JP2008113178A (ja) * 2006-10-30 2008-05-15 Hitachi Media Electoronics Co Ltd 中空封止素子およびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN102763327A (zh) 2012-10-31
DE112010005279B4 (de) 2017-03-30
JP5327378B2 (ja) 2013-10-30
CN102763327B (zh) 2015-07-29
US8723621B2 (en) 2014-05-13
WO2011102049A1 (ja) 2011-08-25
US20120306593A1 (en) 2012-12-06
DE112010005279T5 (de) 2013-01-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5327378B2 (ja) 弾性波デバイス
US11831300B2 (en) Elastic wave filter apparatus
JP4586897B2 (ja) 分波器
CN106253877B (zh) 梯型弹性波滤波器和天线共用器
CN107070428B (zh) 电子部件
US9385686B2 (en) Acoustic wave device
US9722576B2 (en) Elastic wave filter and duplexer using same
JP2003332885A (ja) 弾性表面波分波器およびそれを有する通信装置
US10536132B2 (en) Elastic wave element, filter element, and communication device
JP5700121B2 (ja) 弾性波フィルタ装置
JPWO2005011114A1 (ja) 弾性表面波デバイス
US7915972B2 (en) Balance filter and duplexer
CN108631745B (zh) 复用器
JP2011087282A (ja) 弾性境界波フィルタ及びそれを備える分波器
US10177740B2 (en) Ladder filter and duplexer
CN106416068A (zh) 弹性波装置
JP4535286B2 (ja) 弾性表面波素子および当該素子を備えた弾性表面波装置
JP5168360B2 (ja) 分波器
JP2011199810A (ja) 弾性波分波器
JP5826036B2 (ja) 弾性表面波装置
JP2006129057A (ja) 弾性表面波装置
WO2012132093A1 (ja) 弾性波装置
JP2024057347A (ja) フィルタ装置
JP2011171848A (ja) 弾性波デバイス
JP2013150196A (ja) 弾性表面波フィルタ

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130625

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130708

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5327378

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150