JPWO2008107983A1 - 解析装置、解析方法及び解析プログラム - Google Patents
解析装置、解析方法及び解析プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2008107983A1 JPWO2008107983A1 JP2009502399A JP2009502399A JPWO2008107983A1 JP WO2008107983 A1 JPWO2008107983 A1 JP WO2008107983A1 JP 2009502399 A JP2009502399 A JP 2009502399A JP 2009502399 A JP2009502399 A JP 2009502399A JP WO2008107983 A1 JPWO2008107983 A1 JP WO2008107983A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- analysis
- simulation
- elements
- temperature range
- glass transition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/20—Design optimisation, verification or simulation
- G06F30/23—Design optimisation, verification or simulation using finite element methods [FEM] or finite difference methods [FDM]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2111/00—Details relating to CAD techniques
- G06F2111/10—Numerical modelling
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2113/00—Details relating to the application field
- G06F2113/26—Composites
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2119/00—Details relating to the type or aim of the analysis or the optimisation
- G06F2119/08—Thermal analysis or thermal optimisation
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0271—Arrangements for reducing stress or warp in rigid printed circuit boards, e.g. caused by loads, vibrations or differences in thermal expansion
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0005—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits for designing circuits by computer
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Geometry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
Description
Package)受け部14、及びQFP(Quad Flat Package)受け部15等が設けられている。また、ビア11、BGA受け部13、SOP受け部14、及びQFP受け部15は、配線12により接続されている。なお、他の電子部品用の受け部及び配線等が設けられていてもよい。
Access Memory)32、記憶部33、周辺機器接続用インタフェース(周辺機器I/F)35、情報が入力される入力部36及び情報を表示する表示部37が設けられている。そして、制御部31、RAM32、記憶部33、周辺機器I/F35、入力部36及び表示部37がバス34を介して互いに接続されている。
Claims (18)
- 解析対象物を複数の要素に分割する分割手段と、
前記要素を用いて、任意の温度範囲内での前記解析対象物の挙動のシミュレーションを行うシミュレーション手段と、
前記複数の要素のうちで、隣り合う複数の要素の一方が前記温度範囲内にガラス転移点温度を有する材料を含み、他方が前記温度範囲内にガラス転移点温度を有しない材料からなる場合に、当該要素間の摩擦係数を1未満であると擬制する擬制手段と、
を有し、
前記シミュレーション手段は、前記擬制手段による擬制が行われた場合には、擬制後の摩擦係数を用いることを特徴とする解析装置。 - 前記擬制手段は、当該要素間に、厚さが0であり、当該要素間の摩擦係数を1未満とする仮想の層が存在すると擬制することを特徴とする請求項1に記載の解析装置。
- 前記擬制手段は、前記摩擦係数として、前記温度範囲内にガラス転移点温度を有する材料のDMA温度走査における損失値を1から減じて得られた値を用いることを特徴とする請求項1に記載の解析装置。
- 前記擬制手段は、前記DMA温度走査における損失値の値として、前記温度範囲内にガラス転移点温度を有する材料のせん断方向における損失値を用いることを特徴とする請求項3に記載の解析装置。
- 前記シミュレーション手段は、前記挙動のシミュレーションとして、前記解析対象物の変形量のシミュレーションを行うことを特徴とする請求項1に記載の解析装置。
- 前記温度範囲内にガラス転移点温度を有する材料は、熱硬化性樹脂であることを特徴とする請求項1に記載の解析装置。
- 解析対象物を複数の要素に分割する工程と、
前記要素を用いて、任意の温度範囲内での前記解析対象物の挙動のシミュレーションを行う工程と、
前記複数の要素のうちで、隣り合う複数の要素の一方が前記温度範囲内にガラス転移点温度を有する材料を含み、他方が前記温度範囲内にガラス転移点温度を有しない材料からなる場合に、当該要素間の摩擦係数を1未満であると擬制する工程と、
を有し、
前記シミュレーションを行う工程では、前記擬制の工程における擬制を行った場合には、擬制後の摩擦係数を用いることを特徴とする解析方法。 - 前記擬制の工程において、当該要素間に、厚さが0であり、当該要素間の摩擦係数を1未満とする仮想の層が存在すると擬制することを特徴とする請求項7に記載の解析方法。
- 前記擬制の工程において、前記摩擦係数として、前記温度範囲内にガラス転移点温度を有する材料のDMA温度走査における損失値を1から減じて得られた値を用いることを特徴とする請求項7に記載の解析方法。
- 前記擬制の工程において、前記DMA温度走査における損失値の値として、前記温度範囲内にガラス転移点温度を有する材料のせん断方向における損失値を用いることを特徴とする請求項9に記載の解析方法。
- 前記シミュレーションを行う工程において、前記挙動のシミュレーションとして、前記解析対象物の変形量のシミュレーションを行うことを特徴とする請求項7に記載の解析方法。
- 前記温度範囲内にガラス転移点温度を有する材料は、熱硬化性樹脂であることを特徴とする請求項7に記載の解析方法。
- コンピュータに、
解析対象物を複数の要素に分割する手順と、
前記要素を用いて、任意の温度範囲内での前記解析対象物の挙動のシミュレーションを行う手順と、
前記複数の要素のうちで、隣り合う複数の要素の一方が前記温度範囲内にガラス転移点温度を有する材料を含み、他方が前記温度範囲内にガラス転移点温度を有しない材料からなる場合に、当該要素間の摩擦係数を1未満であると擬制する手順と、
を実行させる解析プログラムであって、
前記シミュレーション手順では、前記擬制の手順における擬制を行った場合には、擬制後の摩擦係数を用いることを特徴とする解析プログラム。 - 前記擬制の手順において、当該要素間に、厚さが0であり、当該要素間の摩擦係数を1未満とする仮想の層が存在すると擬制することを特徴とする請求項13に記載の解析プログラム。
- 前記擬制の手順において、前記摩擦係数として、前記温度範囲内にガラス転移点温度を有する材料のDMA温度走査における損失値を1から減じて得られた値を用いることを特徴とする請求項13に記載の解析プログラム。
- 前記擬制手順において、前記DMA温度走査における損失値の値として、前記温度範囲内にガラス転移点温度を有する材料のせん断方向における損失値を用いることを特徴とする請求項15に記載の解析プログラム。
- 前記シミュレーションを行う手順において、前記挙動のシミュレーションとして、前記解析対象物の変形量のシミュレーションを行うことを特徴とする請求項13に記載の解析プログラム。
- 前記温度範囲内にガラス転移点温度を有する材料は、熱硬化性樹脂であることを特徴とする請求項13に記載の解析プログラム。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2007/054445 WO2008107983A1 (ja) | 2007-03-07 | 2007-03-07 | 解析装置、解析方法及び解析プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008107983A1 true JPWO2008107983A1 (ja) | 2010-06-10 |
JP5062249B2 JP5062249B2 (ja) | 2012-10-31 |
Family
ID=39737888
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009502399A Expired - Fee Related JP5062249B2 (ja) | 2007-03-07 | 2007-03-07 | 解析装置、解析方法及び解析プログラム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7996196B2 (ja) |
JP (1) | JP5062249B2 (ja) |
KR (1) | KR101142881B1 (ja) |
CN (1) | CN101641699B (ja) |
WO (1) | WO2008107983A1 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2526501A4 (en) | 2010-01-21 | 2017-09-20 | Firehole Technologies | Automated method to determine composite material constituent properties |
US8494819B2 (en) * | 2010-08-25 | 2013-07-23 | Livermore Software Technology Corp. | Efficient data management for shell finite elements representing layered composite materials |
US8855977B2 (en) * | 2012-01-17 | 2014-10-07 | Livermore Software Technology Corp. | Numerically simulating structural behaviors of a product using explicit finite element analysis with a combined technique of mass scaling and subcycling |
US8855976B2 (en) * | 2012-01-17 | 2014-10-07 | Livermore Software Technology Corp. | Numerically simulating structural behaviors of a product using explicit finite element analysis with a mass scaling enhanced subcycling technique |
CN102693345B (zh) * | 2012-06-08 | 2014-11-19 | 机械科学研究总院先进制造技术研究中心 | 具有仿生结构的复合材料预制体的建模方法 |
EP2860649B1 (en) * | 2012-06-08 | 2017-03-29 | Advanced Manufacture Technology Center, China Academy of Machinery Science & Technology | Composite material having bionic structure, method of preparing same, and modeling method |
JP6645509B2 (ja) * | 2015-11-04 | 2020-02-14 | 富士通株式会社 | 構造解析方法、及び構造解析プログラム |
KR102236268B1 (ko) * | 2016-02-01 | 2021-04-05 | 한화에어로스페이스 주식회사 | 구조 해석 방법 및 이를 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체 |
US10489525B2 (en) * | 2016-02-17 | 2019-11-26 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | Systems and methods for composite thermal interface material microstructure property prediction |
US10108753B2 (en) | 2016-06-07 | 2018-10-23 | International Business Machines Corporation | Laminate substrate thermal warpage prediction for designing a laminate substrate |
US11817359B2 (en) | 2020-09-01 | 2023-11-14 | International Business Machines Corporation | Warp mitigation using pattern-matched metal layers in organic substrates |
JP6908904B1 (ja) * | 2021-02-10 | 2021-07-28 | 株式会社Hasl | 多層流体解析用プログラム、多層流体解析システム、及び多層流体解析方法 |
CN115157679A (zh) * | 2021-04-03 | 2022-10-11 | 嘉兴学院 | 一种柔性复杂增/减材混合制造零件混合分层系统的框架 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3292909B2 (ja) | 1996-02-14 | 2002-06-17 | 日本電信電話株式会社 | パタン位置歪の算出方法 |
JP3329667B2 (ja) | 1996-09-17 | 2002-09-30 | 株式会社東芝 | 補強部位置決定方法、多面取りプリント基板の製造方法、及び多面取りプリント基板 |
JPH10111879A (ja) * | 1996-10-04 | 1998-04-28 | Hitachi Ltd | Cad/cae装置、解析モデル生成方法 |
US5868887A (en) * | 1996-11-08 | 1999-02-09 | W. L. Gore & Associates, Inc. | Method for minimizing warp and die stress in the production of an electronic assembly |
US5888630A (en) * | 1996-11-08 | 1999-03-30 | W. L. Gore & Associates, Inc. | Apparatus and method for unit area composition control to minimize warp in an integrated circuit chip package assembly |
JP2000231579A (ja) | 1999-02-10 | 2000-08-22 | Mitsubishi Electric Corp | 3次元cad/cae連成システム |
JP3927076B2 (ja) | 2002-06-05 | 2007-06-06 | 株式会社東芝 | 基板の反り解析方法及びそのシステム、基板の反り解析プログラム |
JP4579617B2 (ja) * | 2004-08-11 | 2010-11-10 | 富士通株式会社 | 基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラム |
JP4481761B2 (ja) * | 2004-08-11 | 2010-06-16 | 富士通株式会社 | 基板設計支援装置、基板設計支援方法、及び基板設計支援プログラム |
JP2006072893A (ja) * | 2004-09-06 | 2006-03-16 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | タイヤモデル作成方法およびそのタイヤモデルを用いたシミュレーション方法 |
JP4597691B2 (ja) | 2005-01-31 | 2010-12-15 | 富士通株式会社 | 有限要素法を用いた構造解析方法 |
JP2007027152A (ja) * | 2005-07-12 | 2007-02-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プリント基板の設計方法 |
US7873932B2 (en) | 2005-03-10 | 2011-01-18 | Panasonic Corporation | Method for analyzing component mounting board |
JP4588502B2 (ja) | 2005-03-17 | 2010-12-01 | 富士通株式会社 | プリント配線基板設計支援装置、プリント配線基板設計支援方法、及びプリント配線基板設計支援プログラム |
JP4774810B2 (ja) * | 2005-06-02 | 2011-09-14 | 日本電気株式会社 | 基板反り解析方法そのシステム、プログラム及び記録媒体 |
-
2007
- 2007-03-07 WO PCT/JP2007/054445 patent/WO2008107983A1/ja active Application Filing
- 2007-03-07 KR KR1020097016877A patent/KR101142881B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-03-07 CN CN2007800519878A patent/CN101641699B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-03-07 JP JP2009502399A patent/JP5062249B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-09-03 US US12/553,326 patent/US7996196B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2008107983A1 (ja) | 2008-09-12 |
CN101641699B (zh) | 2013-03-06 |
KR101142881B1 (ko) | 2012-05-10 |
KR20100004962A (ko) | 2010-01-13 |
US7996196B2 (en) | 2011-08-09 |
CN101641699A (zh) | 2010-02-03 |
US20090326883A1 (en) | 2009-12-31 |
JP5062249B2 (ja) | 2012-10-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5062249B2 (ja) | 解析装置、解析方法及び解析プログラム | |
JP4597691B2 (ja) | 有限要素法を用いた構造解析方法 | |
JP5040363B2 (ja) | 解析装置、解析方法及び解析プログラム | |
WO2010021287A1 (ja) | 基板の反り予測方法、基板の反り予測システムおよび基板の反り予測プログラム | |
US8260571B2 (en) | Analysis apparatus | |
JP2011039741A (ja) | 基板反り解析方法、基板反り解析システム、および基板反り解析プログラム | |
JP2010134497A (ja) | プリント基板解析装置、プリント基板解析方法、プリント基板解析プログラム | |
JP2006252113A (ja) | 基板解析方法及び装置及び基板解析用プログラム及びそれを記録した記録媒体 | |
Refai-Ahmed et al. | Electronic PCB and PKG thermal stress analysis | |
JP5195918B2 (ja) | 解析装置、解析方法及び解析プログラム | |
Chung et al. | Thermo-mechanical analyses of printed board assembly during reflow process for warpage prediction | |
Gschwandl et al. | Finite element analysis of arbitrarily complex electronic devices | |
Weninger et al. | Evaluation of thermomechanical behavior of electronic devices through the use of a reduced order modelling approach | |
JP2005050137A (ja) | 自動メッシュ生成装置、自動メッシュ生成方法及びプログラム | |
JP4204530B2 (ja) | 部品実装基板用解析方法 | |
JP2017162207A (ja) | 熱伝導率算出プログラム、熱伝導率算出方法、および情報処理装置 | |
Wan et al. | Highly efficient and accurate algorithm for multiscale equivalent modeling and mechanical performance simulation of printed circuit boards | |
WO2019176282A1 (ja) | 抵抗器の熱解析モデル及びその熱解析装置、並びに、熱解析プログラム及びモデル生成プログラム | |
JP4990088B2 (ja) | 熱伝導率計算方法、熱伝導率計算装置、熱伝導率計算プログラム、熱解析方法、熱解析装置および熱解析プログラム | |
JP7308352B2 (ja) | 基板解析支援方法、及び基板解析支援システム | |
JP2016085678A (ja) | 熱解析方法、熱解析装置及びプログラム | |
JP5625921B2 (ja) | 回路設計支援プログラム、回路設計支援方法および回路設計支援装置 | |
JP2011204142A (ja) | モデル生成装置、生成方法、プログラムおよびシミュレーションシステム | |
JP2008052499A (ja) | 熱伝導率算出装置、熱伝導率算出方法および熱伝導率算出プログラム | |
JP2023082383A (ja) | 多層基板の簡易熱シミュレーションモデルの作成方法および作成装置、簡易モデル作成プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111115 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120111 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120710 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120723 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150817 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |