JP4579617B2 - 基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラム - Google Patents

基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP4579617B2
JP4579617B2 JP2004234717A JP2004234717A JP4579617B2 JP 4579617 B2 JP4579617 B2 JP 4579617B2 JP 2004234717 A JP2004234717 A JP 2004234717A JP 2004234717 A JP2004234717 A JP 2004234717A JP 4579617 B2 JP4579617 B2 JP 4579617B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
substrate
property value
physical property
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004234717A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006053747A (ja
Inventor
庸子 鳥谷部
秀久 酒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2004234717A priority Critical patent/JP4579617B2/ja
Priority to US11/023,689 priority patent/US7139678B2/en
Publication of JP2006053747A publication Critical patent/JP2006053747A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4579617B2 publication Critical patent/JP4579617B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/20Design optimisation, verification or simulation
    • G06F30/23Design optimisation, verification or simulation using finite element methods [FEM] or finite difference methods [FDM]
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2119/00Details relating to the type or aim of the analysis or the optimisation
    • G06F2119/08Thermal analysis or thermal optimisation
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0271Arrangements for reducing stress or warp in rigid printed circuit boards, e.g. caused by loads, vibrations or differences in thermal expansion
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/06Thermal details
    • H05K2201/068Thermal details wherein the coefficient of thermal expansion is important
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/16Inspection; Monitoring; Aligning
    • H05K2203/162Testing a finished product, e.g. heat cycle testing of solder joints

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Description

この発明は、基板の変形を予測する基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラムに関し、特に、プリント配線基板の反りを効率よく予測可能な基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラムに関するものである。
近年、パソコンや携帯電話などの電子機器で使用されるプリント配線基板の薄型化および配線パターンの高密度化に伴って、プリント配線基板の反りによる問題が発生している。そのため、プリント基板に発生する反りを予測し、問題となる反りの発生が予測される場合には、プリント配線基板の補強構造の検討および部品レイアウトの変更などの対策を、事前に行う必要がある。
プリント配線基板に発生する反りを予測する方法としては、プリント配線基板を予め作成し、該作成したプリント配線基板に対して試験を行い、基板の反りに係る問題を検証する方法(試作評価)と、プリント配線基板の配線パターンをモデル化し、有限要素法などのシミュレーション技術を利用して、基板の反りを予測する方法がある。なお、特許文献1では、配線パターンに対して4分木領域分割などのアルゴリズムを導入することによって、プリント配線基板に係る熱解析計算を可能としている。
特開2002−230047号公報
しかしながら、従来に係る技術では、効率よくプリント配線基板の反りを予測することができないという問題があった。
例えば、試作評価によるプリント配線基板の反り予測は、プリント配線基板を設計から製造まで、全てを完了してからでなくては反りに対する検証を行うことができず、検証時間および、コストが膨大なものとなる。
また、有限要素法などのシミュレーションを用いて反り検証を行う場合には、プリント配線基板のモデル化が必要となるが、配線密度の高密度化に伴って、配線部が大きく反りに影響するため、配線パターンを正確にモデル化する必要がある。
しかし、配線ピッチの微細化により、配線パターン全てを詳細にモデル化するためには、莫大な有限要素分割を行う必要があり、現在の計算機性能をもってしても、配線部分を全て詳細にモデル化することは困難である。
この発明は、上述した従来技術による問題点を解消するためになされたものであり、プリント配線基板の反りを効率よく予測することができる基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラムを提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するため、請求項1の発明に係る基板変形予測装置は、基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割する基板分割手段と、前記基板分割手段が分割した領域毎に、分割した領域の複数の配線方向に対する配線密度を算出する配線密度算出手段と、前記配線密度算出手段で算出された複数の配線方向の各々の配線密度と、所定の母材縦弾性係数と、所定の母材熱膨張係数とを基にして、複数の配線方向毎の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出する異方性物性値算出手段と、前記異方性物性値算出手段によって各領域毎に算出された各配線方向の前記異方性物性値を基にして、各領域毎に、前記各配線方向の前記異方性物性値が示す縦弾性係数および熱膨張係数をそれぞれ各配線方向の配線密度の割合で重み付けを行って、各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を算出する係数算出手段と、前記係数算出手段で算出され各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を基にして、基板の変形を予測する変形予測処理手段と、を備えたことを特徴とする。
この請求項1の発明によれば、基板変形予測装置は、基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割し、分割した領域毎に、複数の配線方向に対する配線密度を算出し、算出した複数の配線方向の各々の配線密度と、所定の母材縦弾性係数と、所定の母材熱膨張係数とを基にして、複数の配線方向毎の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出し、各領域毎に算出された各配線方向の異方性物性値を基にして、各領域毎に、各配線方向の異方性物性値が示す縦弾性係数および熱膨張係数をそれぞれ各配線方向の配線密度の割合で重み付けを行って、各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を算出し、該算出した各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を基にして、基板の変形を予測する。
また、請求項2の発明に係る基板変形予測装置は、請求項1の発明において、前記基板分割手段は、前記基板の配線情報を基にして、配線密度が低くなるほど領域の大きさが大きくなるように前記基板を分割することを特徴とする
この請求項2の発明によれば、基板変形予測装置は、配線密度が低くなるほど領域の大きさが大きくなるように基板を分割し、分割した領域毎に縦弾性係数および熱膨張係数を算出する。
また、請求項3の発明に係る基板変形予測方法は、基板の変形を予測する基板変形予測装置が実行する基板変形予測方法であって、前記基板変形予測装置が備える基板分割手段が、基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割する基板分割工程と、前記基板変形予測装置が備える配線密度算出手段が、前記基板分割工程で分割された領域毎に、分割された領域の複数の配線方向に対する配線密度を算出する配線密度算出工程と、前記基板変形予測装置が備える異方性物性値算出手段が、前記配線密度算出工程で算出された複数の配線方向の各々の配線密度と、所定の母材縦弾性係数と、所定の母材熱膨張係数とを基にして、複数の配線方向毎の縦弾性係数および熱膨張係数熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出する異方性物性値算出工程と、前記基板変形予測装置が備える係数算出手段が、前記異方性物性値算出工程によって各領域毎に算出された各配線方向の前記異方性物性値を基にして、各領域毎に、前記各配線方向の前記異方性物性値が示す縦弾性係数および熱膨張係数をそれぞれ各配線方向の配線密度の割合で重み付けを行って、各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を算出する係数算出工程と、前記基板変形予測装置が備える変形予測処理手段が、前記係数算出工程で算出された各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を基にして、基板の変形を予測する変形予測処理工程と、を含んだことを特徴とする
この請求項3の発明によれば、基板変形予測方法は、基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割し、分割した領域毎に、複数の配線方向に対する配線密度を算出し、算出した複数の配線方向の各々の配線密度と、所定の母材縦弾性係数と、所定の母材熱膨張係数とを基にして、複数の配線方向毎の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出し、各領域毎に算出された各配線方向の異方性物性値を基にして、各領域毎に、各配線方向の異方性物性値が示す縦弾性係数および熱膨張係数をそれぞれ各配線方向の配線密度の割合で重み付けを行って、各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を算出し、該算出した各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を基にして、基板の変形を予測する
また、請求項4の発明に係る基板変形予測プログラムは、基板の変形を予測する基板変形予測プログラムであって、基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割する基板分割手順と、前記基板分割手順が分割した領域毎に、分割した領域の複数の配線方向に対する配線密度を算出する配線密度算出手順と、前記配線密度算出手順で算出された複数の配線方向の各々の配線密度と、所定の母材縦弾性係数と、所定の母材熱膨張係数とを基にして、複数の配線方向毎の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出する異方性物性値算出手順と、前記異方性物性値算出手順によって各領域毎に算出された各配線方向の前記異方性物性値を基にして、各領域毎に、前記各配線方向の前記異方性物性値が示す縦弾性係数および熱膨張係数をそれぞれ各配線方向の配線密度の割合で重み付けを行って、各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を算出する係数算出手順と、前記係数算出手順で算出され各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を基にして、基板の変形を予測する変形予測処理手順と、をコンピュータに実行させることを特徴とする。
この請求項4の発明によれば、基板予測プログラムは、基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割し、分割した領域毎に、複数の配線方向に対する配線密度を算出し、算出した複数の配線方向の各々の配線密度と、所定の母材縦弾性係数と、所定の母材熱膨張係数とを基にして、複数の配線方向毎の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出し、各領域毎に算出された各配線方向の異方性物性値を基にして、各領域毎に、各配線方向の異方性物性値が示す縦弾性係数および熱膨張係数をそれぞれ各配線方向の配線密度の割合で重み付けを行って、各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を算出し、該算出した各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を基にして、基板の変形を予測する
請求項1の発明によれば、基板変形予測装置は、基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割し、分割した領域毎に、複数の配線方向に対する配線密度を算出し、算出した複数の配線方向の各々の配線密度と、所定の母材縦弾性係数と、所定の母材熱膨張係数とを基にして、複数の配線方向毎の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出し、各領域毎に算出された各配線方向の異方性物性値を基にして、各領域毎に、各配線方向の異方性物性値が示す縦弾性係数および熱膨張係数をそれぞれ各配線方向の配線密度の割合で重み付けを行って、各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を算出し、該算出した各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を基にして、基板の変形を予測するので効率よく基板の反りを予測することが出来るという効果を奏する。
また、請求項2の発明によれば、基板変形予測装置は、配線密度が低くなるほど領域の大きさが大きくなるように基板を分割するので、効率よく各領域の縦弾性係数および熱膨張係数を算出することができるという効果を奏する。
また、請求項3の発明によれば、基板変形予測方法は、基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割し、分割した領域毎に、複数の配線方向に対する配線密度を算出し、算出した複数の配線方向の各々の配線密度と、所定の母材縦弾性係数と、所定の母材熱膨張係数とを基にして、複数の配線方向毎の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出し、各領域毎に算出された各配線方向の異方性物性値を基にして、各領域毎に、各配線方向の異方性物性値が示す縦弾性係数および熱膨張係数をそれぞれ各配線方向の配線密度の割合で重み付けを行って、各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を算出し、該算出した各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を基にして、基板の変形を予測するので効率よく基板の反りを予測することが出来るという効果を奏する。
また、請求項4の発明によれば、基板変形予測プログラムは、基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割し、分割した領域毎に、複数の配線方向に対する配線密度を算出し、算出した複数の配線方向の各々の配線密度と、所定の母材縦弾性係数と、所定の母材熱膨張係数とを基にして、複数の配線方向毎の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出し、各領域毎に算出された各配線方向の異方性物性値を基にして、各領域毎に、各配線方向の異方性物性値が示す縦弾性係数および熱膨張係数をそれぞれ各配線方向の配線密度の割合で重み付けを行って、各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を算出し、該算出した各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を基にして、基板の変形を予測するので効率よく基板の反りを予測することが出来るという効果を奏する。
以下に添付図面を参照して、この発明に係る基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラムの好適な実施の形態を詳細に説明する。
まず、本実施例に係る基板変形予測の概念について説明する。図1−1および図1−2は、本実施例に係る基板変形予測の概念を説明するための説明図である。図1−1に示すように、本発明は、プリント配線基板に係るCAD(Computer Aided Design)データ(以下、ガーバデータと表記する)10を基にして、基板に含まれる配線パターンをマクロ的にとらえ、有限要素法などで求められる縦弾性係数や熱膨張係数と等価な等価物性値を算出する。
なお、本実施例では、図1−2に示すように、基板を配線パターンの密度に応じた粗さに分割し、分割した領域ごとに等価物性値を算出する。本実施例では、配線パターンの密度が高い領域20に対しては、細かく基板を分割し、配線パターンの密度が低い領域30に対して、粗く基板を分割する。
そして、各層の各領域ごとの等価物性値を算出し、算出した等価物性値を基にして、シミュレーションを実行し、基板の反りを予測する。図1−1の場合では、ガーバデータを基にして等価物性値1〜5(等価物性値1〜5は、各層の各領域ごとの等価物性値を含んだ値である)を算出し、算出した等価物性値1〜5を基にシミュレーションを実行し、プリント配線基板の反りを予測することになる。
次に、本実施例に係る基板変形予測装置の構成について説明する。図2は、本実施例に係る基板変形予測装置の構成を示す機能ブロック図である。同図に示すように、この基板変形予測装置100は、キーボードやマウスなどの入力装置200と、ディスプレイなどの出力装置300とに接続される。
入力装置200は、ガーバデータ、母材物性値(基板母材の縦弾性係数および基板母材の熱膨張係数が含まれる)などを基板変形予測装置100に入力する装置である。図3にガーバデータの一例を示す。同図に示すように、ガーバデータは、基板の配線密度などの情報が含まれている。また、出力装置300は、基板変形予測装置100から出力される基板の反りに係るシミュレーション結果を表示する装置である。
基板変形予測装置100は、入力装置200から入力されるガーバデータなどを基にして基板の反りを予測する装置であり、領域分割処理部110と、等価物性値算出処理部120と、反りシミュレーション実行処理部130とを有する。以下、領域分割処理部110、等価物性値算出処理部120、反りシミュレーション実行処理部130の順に説明を行う。
領域分割処理部110は、入力装置200からガーバデータを受取り、受取ったガーバデータを基にして基板を複数の領域に分割する処理部である。また、領域分割処理部110は、基板を均等に分割するのではなく、配線パターン密度に応じた粗さに基板を分割することになる。ここに、配線パターン密度とは、単位面積あたりの配線の数を表す値である。
また、領域分割処理部110は、分割した各層の各領域に対して配線方向毎の配線パターン密度を、ガーバデータを基に算出する。図4は、配線方向の説明を行うための説明図である。本実施例では、図4に示すように、配線方向を0°、45°、90°および135°の4種類とし、各角度ごとに配線パターン密度を算出する。
そして、領域分割処理部110は、ガーバデータ、分割した領域に係る情報、配線パターン密度および母材物性値などを等価物性値算出処理部120に渡す。
等価物性値算出処理部120は、各層の各領域ごとの等価物性値を算出する処理部であり、層分類処理部120aと、方向性含有層物性値算出部120bと、方向性無層物性値算出部120cと、無関係層物性値算出部120dとを有する。
層分類処理部120aは、ガーバデータを分析し、各層を、配線パターンの方向性を有する層(以下、方向性含有層と表記する)と、電源層およびグランド層などのように配線パターンの方向性を有しない層(以下、方向性無層と表記する)と、基板全体のそりに直接寄与しない層(以下、無関係層と表記する)とに分類する処理部である。
そして、層分類処理部120aは、方向性含有層に分類された層のデータを、方向性含有層物性値算出部120bに渡し、方向性無層に分類された層のデータを、方向性無層物性値算出部120cに渡し、無関係層に分類された層のデータを無関係層算出部120dに渡す。
方向性含有層物性値算出部120bは、方向性含有層に対する等価物性値を算出する処理部である。この方向性含有層物性値算出部120bは、方向性含有層に係る等価物性値を算出する前準備として各配線方向ごとの等価物性値(以下、異方性物性値と表記する)を算出する。
異方性物性値を算出する場合、方向性含有層物性値算出部120bは、予め、配線パターン密度および母材物性値をパラメータとした有限要素解析を実験計画法に基づき行い、計算結果から応用曲面法により、配線パターン密度、配線方向および母材物性値を任意に指定した場合の異方性物性値を計算する近似式を構築する。
異方性物性値を求める式は、
Figure 0004579617
により表わされる。式(1)から式(4)に示すように、各配線方向毎の異方性物性値には、X方向の縦弾性係数Exと、Y方向の縦弾性係数Eyと、X方向の熱膨張係数αxと、Y方向の熱膨張係数αyとからなる。
また、式(1)から式(4)に含まれるx1は配線パターン密度が代入され、x2は母材縦弾性係数が代入され、x3は母材熱膨張係数が代入される。また、式(1)から式(4)に含まれるa0〜a6、b0〜b6、c0〜c6およびd0〜d6は、応答曲面法によって特定される定数である。
例えば、配線方向0°に対する異方性物性値を算出する場合には、配線パターン密度0,20,40,60,100%、プリント配線基板の縦弾性係数(以下、母材縦弾性係数と表記する)1000,1500,2000,2500MPa、プリント配線基板の熱膨張係数(以下、母材熱膨張係数と表記する)10,12,16,18,20ppmの組み合わせ全て(125通り)に対するシミュレーションを実行する必要がある。
しかし、本実施例では、直交表L25を用いて実験計画法を行うため、25通りのシミュレーションを実行し、実行した計算結果と応答曲面方を用いて、定数a0〜a6、b0〜b6、c0〜c6およびd0〜d6を特定し、各配線方向毎の異方性物性値を算出するための近似多項式を構築することができる。また、配線方向45°、90°および135°に係る異方性物性値の算出方法は、配線方向0°の異方性物性値を算出する方法と同様であるため説明を省略する。
そして、方向性含有層物性値算出部120bは、各配線方向の異方性物性値を算出した後、各配線方向の異方性物性値を、分割された領域に含まれる各配線方向の配線パターン密度の割合を基にして荷重平均し、各領域の等価物性値を算出する。なお、方向性含有層物性値算出部120bが算出する各領域の等価物性値には、X方向の等価物性値に係る縦弾性係数(以下、等価縦弾性係数と表記する)と、Y方向の等価縦弾性係数と、X方向の等価物性値に係る熱膨張係数(以下、等価熱膨張係数)と、Y方向の等価熱膨張係数とが含まれる。
例えば、ある分割された領域(以下、分割領域と表記する)において、配線方向0°に対する配線パターン密度が30%存在し、配線方向90°に対する配線パターン密度が40%存在し、その他の配線方向に対する配線パターン密度が30%存在する場合には、分割領域のX方向の等価縦弾性係数Ex´を、Ex´=Ex0×30%+Ex90×40%+Exn×30%の算定式から算出する。
ここで、Ex0は、配線方向0°に係るX方向の縦弾性係数を示し、Ex90は、配線方向90°に係るX方向の縦弾性係数を示し、Exnは、その他の配線方向に係るX方向の縦弾性係数を示す。
また、分割領域のY方向の等価縦弾性係数Ey´は、Ey´=Ey0×30%+Ey90×40%+Eyn×30%の算定式から算出する。ここで、Ey0は、配線方向0°に係るY方向の縦弾性係数を示し、Ey90は、配線方向90°に係るY方向の縦弾性係数を示し、Eynは、その他の配線方向に係るY方向の縦弾性係数を示す。
また、分割領域のX方向の等価熱膨張係数αx´は、αx´=αx0×30%+αx90×40%+αx×30%の算定式から算出する。ここで、αx0は、配線方向0°に係るX方向の熱膨張係数を示し、αx90は、配線方向90°に係るX方向の熱膨張係数を示し、αxnは、その他の配線方向に係るX方向の熱膨張係数を示す。
また、分割領域のY方向の等価熱膨張係数αy´は、αy´=αy0×30%+αy90×40%+αy×30%の算定式から算出する。ここで、αy0は、配線方向0°に係るY方向の熱膨張係数を示し、αy90は、配線方向90°に係るY方向の熱膨張係数を示し、αynは、その他の配線方向に係るY方向の熱膨張係数を示す。
そして、方向性含有層物性値算出部120bは、算出した各領域のX方向の等価縦弾性係数Ex´と、Y方向の等価縦弾性係数Ey´と、X方向の等価熱膨張係数αx´と、Y方向の等価熱膨張係数αy´とを等価物性値として反りシミュレーション実行処理部130に渡す。
方向性無層物性値算出部120cは、方向性無層に対する等価物性値を算出する処理部である。この方向性無層物性値算出処理部120cは、方向性無層の縦弾性係数を、方向性含有層と同様に、事前の有限要素解析によって算出することも可能であるが、面積率および体積比率を基にして、より簡便に、方向性無層の縦弾性係数を算出することができる。
すなわち、方向性無層の等価物性値に係る縦弾性係数を算出する場合には、各分割領域ごとの母材の体積比率に基づいて縦弾性係数を算出する。なお、方向性無層に対する熱膨張係数の計算に関しては、方向性含有層と同様の手法を用いて算出するため、説明を省略する。
方向性無層に対する縦弾性係数Eを算出する具体的な式は、
Figure 0004579617
または、
Figure 0004579617
により表される。式(5)および式(6)に含まれるE1は、分割領域の母材縦弾性係数を示し、V1は、分割領域の母材の体積を示す。ここで、分割領域の母材縦弾性係数および母材の体積は、方向性無層物性値算出部120cが、ガーバデータなどを利用して事前に算出する。
また、式(5)および式(6)に含まれるE2は、分割領域の配線材(主として銅など)の縦弾性係数を示し、V2は、分割領域に係る配線材の体積を示す。ここで、分割領域の配線材の縦弾性係数および配線材の体積は、方向性無層物性値算出部120が、ガーバデータなどを利用して事前に算出する。
なお、方向性無層物性値算出部120cは、荷重負荷条件や、過去の実験データとの照合により、分割領域に最も即した式を式(5)または式(6)のいずれかから選択し、選択した式を利用して分割領域毎の縦弾性係数を算出する。
そして、方向性無層物性値算出部120cは、算出した分割領域ごとの縦弾性係数および熱膨張係数を等価物性値として反りシミュレーション実行処理部130に渡す。
無関係層物性値算出部120dは、無関係層に対する等価物性値を算出する処理部である。この無関係層の等価物性値を算出する場合には、有限要素解析による等価物性値の計算を行わずに、無関係層全体を平均したマクロ物性値を計算し、計算したマクロ物性値を無関係層全体の等価物性値とすることによって、迅速に等価物性値を算出することができる。なお、無関係層に対する縦弾性係数を求める方法は、方向性無層の縦弾性係数を求める方法と同様であるため説明を省略する。
無関係層に対する熱膨張係数αhを算出する具体的な式は、
Figure 0004579617
により表される。式(7)に含まれるνrは、積層板を構成する母材のポアソン比を示し、νfは、積層板を構成する配線材料のポアソン比を示し、αrは、積層板を構成する母材の熱膨張係数を示し、αfは、積層板を構成する配線材料の熱膨張係数を示し、Erは、積層板を構成する母材の縦弾性係数を示し、Efは、積層板を構成する配線材料の縦弾性係数を示し、Vrは、積層板を構成する母材の体積分率を示し、Vfは、積層板を構成する配線材料の体積分率を示す。
ここで、ポアソン比νrνf、熱膨張係数αrαf、体積弾性係数Erfおよび体積分率Vrfは、ガーバデータなどと共に入力装置200から入力され、領域分割処理部110によって等価物性値算出処理部120に渡されることになる。
そして、無関係層物性値算出部120dは、式(5)、式(6)および式(7)を利用して、無関係層の縦弾性係数および熱膨張係数を算出し、算出した縦弾性係数および熱膨張係数を等価物性値として反りシミュレーション実行処理部130に渡す。
反りシミュレーション実行処理部130は、等価物性値算出処理部120から各層の各領域の等価物性値を受取り、受取った等価物性値を基にして基板の変形を予測する処理部である。この反りシミュレーション実行処理部130は、等価物性値算出処理部120から各層の各領域の等価物性値を受取った際に、データ変換プログラムを利用して、等価物性値をシミュレーションファイルに変換する。図5は、シミュレーションファイルのデータ構造の一例を示す図である。
図5に示すように、反りシミュレーション実行処理部130は、等価物性値算出処理部120から渡される等価物性値を材料データに変換し、変換した材料データを反りシミュレーションに利用する。
また、反りシミュレーション実行処理部130は、ガーバデータから、基板の外形、板厚および層構成に係る情報を抽出し、抽出した情報を基に、シミュレーション形状データを作成する。そして、反りシミュレーション実行処理部130は、シミュレーションファイルおよびシミュレーション形状データを用いて、反りシミュレーションを実行し、実行した結果を出力装置300に出力する。
次に、本実施例に係る基板変形予測装置100が出力する反りシミュレーション実行結果の一例を示す。図6は、本実施例に係る基板変形予測装置100が出力する反りシミュレーション実行結果の一例を示す図である。
図6に示すグラフにおいて、横軸は経過時間を示し、縦軸は温度を示す。また、同図から、試作評価による基板および基板を構成する部品の実験値と、基板変形予測装置100が予測した基板および基板を構成する部品の解析値とがほぼ一致していることが分かる。なお、図6に示す基板の画像は、Time1、Time2およびTime3における基板の変形状態を表している。
次に、本実施例に係る基板変形予測装置100が出力する反りシミュレーションの評価結果を示す。図7は、本実施例に係る基板変形予測装置100が出力する反りシミュレーションの評価結果を示す図である。図7に示すグラフにおいて、横軸は温度を示し、縦軸は基板の反り量を示す。また、同図に示す実線は、試作評価による基板変形の実測値を示し、黒丸は、基板変形予測装置100が予測した予測値である。実測値および予測値は、精度よく一致しており、本発明の有用性が確認できる。
次に、図2に示した基板変形予測装置100の処理について説明する。図8は、基板変形予測装置100の処理手順を示すフローチャートである。同図に示すように、この基板変形予測装置100は、領域分割処理部110が、ガーバデータを受付け(ステップS101)、基板配線情報を基にして、基板領域を分割する(ステップS102)。
そして、等価物性値算出処理部120が、各層を方向性含有層、方向性無層および無関係層に分類し(ステップS103)、方向性含有層等価物性値算出処理を実行し(ステップS104)、方向性無層等価物性値算出処理を実行し(ステップS105)、無関係層の縦弾性係数を、基板母材の縦弾性係数と、基板母材の体積と、配線材の縦弾性係数と、配線材の縦弾性係数とを基にして算出する(ステップS106)。
そして、等価物性値算出処理部120は、無関係層の熱膨張係数を、基板母材の熱膨張係数と、基板母材の体積分率と、基板母材のポアソン比と、配線材の熱膨張係数と、配線材の体積分率と、配線材のポアソン比とを基にして算出する(ステップS107)。
そして、反りシミュレーション実行処理部130が、データ変換プログラムを用いて、各等価物性値をシミュレーションファイルに変換し(ステップS108)、ガーバデータから、外形、板厚および層構成に係る情報を抽出し(ステップS109)、抽出した体系、板厚および層構成に係る情報を基にして、シミュレーション形状データを作成する(ステップS110)。
そして、反りシミュレーション実行処理部130は、シミュレーション形状データおよびシミュレーションファイルを用いて反りシミュレーションを実行し(ステップS111)、反りシミュレーション実行結果を出力する(ステップS112)。
このように、基板変形予測装置100は、領域分割処理部110が、基板の配線情報を基にして、配線密度に応じた粗さに基板を分割し、等価物性値算出処理部120が、各層の各領域ごとの等価物性値を算出し、該算出した等価物性値をもとに反りシミュレーションを実行するので、効率よく基板の反りを予測することが出来る。
次に、図8のステップS104に示した方向性含有層等価物性値算出処理について説明する。図9は、図8のステップS104に示した方向性含有層等価物性値算出処理を示すフローチャートである。
図9に示すように、等価物性値算出処理部120は、各領域に対して配線方向毎の配線パターン密度を算出し(ステップS201)、実験計画法に基づいたシミュレーションを実行し、実行結果と応答曲面法を用いて異方性物性値を算出する近似多項式を構築し(ステップS202)、各配線方向に対するXおよびY方向の縦弾性係数と、XおよびY方向の熱膨張係数とを算出する(ステップS203)。
そして、等価物性値算出処理部120は、各配線方向のX方向の縦弾性係数を荷重平均し、分割領域毎のX方向の等価縦弾性係数を算出し(ステップS204)、各配線方向のY方向の縦弾性係数を荷重平均し、分割領域毎のY方向の等価縦弾性係数を算出する(ステップS205)。
そして、等価物性値算出処理部120は、各配線方向のX方向の熱膨張係数を荷重平均し、分割領域毎のX方向の等価熱膨張係数を算出し(ステップS206)、各配線方向のY方向の熱膨張係数を荷重平均し、分割領域毎のY方向の等価熱膨張係数を算出する(ステップS207)。
このように、基板変形予測装置100は、方向性含有層物性値算出処理部120bが、各領域に対して配線方向毎の配線パターン密度を算出し、各配線方向に対するX方向およびY方向の縦弾性係数と熱膨張係数とを算出し、算出した値を基にして方向性含有層の各領域の等価物性値を算出するので、反りシミュレーションに対して信頼性の高い等価物性値を算出することができる。
次に、図8のステップS105に示した方向性無層等価物性値算出処理について説明する。図10は、図8のステップS105に示した方向性無層等価物性値算出処理を示すフローチャートである。
図10に示すように、等価物性値算出処理部120は、各領域に対して配線方向毎の配線パターン密度を算出し(ステップS301)、実験計画法に基づいたシミュレーションを実行し、実行結果と応答曲面法を用いて異方性物性値を算出する近似多項式を構築し(ステップS302)、各配線方向に対するXおよびY方向の熱膨張係数を算出する(ステップS303)。
そして、等価物性値算出処理部120は、各配線方向のX方向の熱膨張係数を荷重平均し、分割領域毎のX方向の等価熱膨張係数を算出し(ステップS304)、各配線方向のY方向の熱膨張係数を荷重平均し、分割領域毎のY方向の等価熱膨張係数を算出する(ステップS305)。
そして、等価物性値算出処理部120は、基板母材の縦弾性係数と、基板母材の体積と、配線材の縦弾性係数と、配線材の体積とを基にして、方向性無層に対する縦弾性係数を算出する(ステップS306)。
このように、基板変形予測装置100は、方向性無層等価物性値算出処理部120cが、方向性無層の等価物性値に係る縦弾性係数を体積比率に基づいて算出するので、迅速に等価物性値を算出することが出来る。
上述してきたように、本実施例に係る基板変形予測装置100は、領域分割処理部110が、入力装置200から入力されるガーバデータを基に、基板を配線パターン密度に応じた大きさの領域に分割し、等価物性値算出処理部120が、各領域の配線方向毎に異方性物性値を算出し、算出した異方性物性値を基にして、各分割領域の等価物性値を算出し、反りシミュレーション実行処理部130が、等価物性値を基にして基板の反りを予測するので、従来の手法による解析方法と同様の精度を維持しつつ、基板の反りに係る解析を短時間かつ低コストで行うことができる。
(付記1)基板の変形を予測する基板変形予測装置であって、
基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割する基板分割手段と、
前記基板分割手段が分割した領域毎に、領域の配線パターンをマクロ的にとらえ、有限要素法で求められる縦弾性係数や熱膨張係数と等価な等価物性値を算出し、該算出した等価物性値を基にして、基板の変形を予測する変形予測処理手段と、
を備えたことを特徴とする基板変形予測装置。
(付記2)前記変形予測処理手段は、分割した領域の複数の配線方向に対する配線密度を算出する配線密度算出手段と、前記配線密度と、母材物性値とを基にして、配線方向の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出する異方性物性値算出手段と、前記異方性物性値を基にして前記等価物性値を算出する等価物性値算出手段とを備えたことを特徴とする付記1に記載の基板変形予測装置。
(付記3)前記変形予測処理手段は、配線パターンの方向性を有しない層に関しては、基板を構成する材料の体積比率に基づいて、前記等価物性値を算出することを特徴とする付記1に記載の基板変形予測装置。
(付記4)前記変形予測処理手段は、基板全体の変形に直接寄与しない層に関しては、層全体を平均したマクロ物性値を算出し、該算出したマクロ物性値を、基板全体の変形に直接寄与しない層に対する前記等価物性値とすることを特徴とする付記1に記載の基板変形予測装置。
(付記5)前記基板分割手段は、前記基板の配線情報を基にして、配線密度が高い部分は領域を細かく分割し、配線密度が低い部分は領域を粗く分割することを特徴とする付記1に記載の基板変形予測装置。
(付記6)基板の変形を予測する基板変形予測方法であって、
基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割する基板分割工程と、
前記基板分割工程によって分割した領域毎に、領域の配線パターンをマクロ的にとらえ、有限要素法で求められる縦弾性係数や熱膨張係数と等価な等価物性値を算出し、該算出した等価物性値を基にして、基板の変形を予測する変形予測処理工程と、
を含んだことを特徴とする基板変形予測方法。
(付記7)前記変形予測処理工程は、分割した領域の複数の配線方向に対する配線密度を算出する配線密度算出工程と、前記配線密度と、母材物性値とを基にして、配線方向の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出する異方性物性値算出工程と、前記異方性物性値を基にして前記等価物性値を算出する等価物性値算出工程とを含んだことを特徴とする付記6に記載の基板変形予測方法。
(付記8)前記基板分割工程は、前記基板の配線情報を基にして、配線密度が高い部分は領域を細かく分割し、配線密度が低い部分は領域を粗く分割することを特徴とする付記6に記載の基板変形予測方法。
(付記9)基板の変形を予測する基板変形予測プログラムであって、
基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割する基板分割手順と、
前記基板分割手順が分割した領域毎に、領域の配線パターンをマクロ的にとらえ、有限要素法で求められる縦弾性係数や熱膨張係数と等価な等価物性値を算出し、該算出した等価物性値を基にして、基板の変形を予測する変形予測処理手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とする基板変形予測プログラム。
(付記10)前記変形予測処理手順は、分割した領域の複数の配線方向に対する配線密度を算出する配線密度算出手順と、前記配線密度と、母材物性値とを基にして、配線方向の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出する異方性物性値算出手順と、前記異方性物性値を基にして前記等価物性値を算出する等価物性値算出手順とをコンピュータに実行させることを特徴とする付記9に記載の基板変形予測プログラム。
(付記11)前記基板分割手順は、前記基板の配線情報を基にして、配線密度が高い部分は領域を細かく分割し、配線密度が低い部分は領域を粗く分割することを特徴とする付記9に記載の基板変形予測プログラム。
以上のように、本発明にかかる基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラムは、プリント配線基板などの反りを効率よくかつ、低コストに予測する必要のある基板変形予測装置などに対して有用である。
本実施例に係る基板変形予測の概念を説明するための説明図である。 本実施例に係る基板変形予測の概念を説明するための説明図である。 本実施例に係る基板変形予測装置の構成を示す機能ブロック図である。 ガーバデータの一例を示す図である。 配線方向の説明を行うための説明図である。 シミュレーションファイルのデータ構造の一例を示す図である。 本実施例に係る基板変形予測装置が出力する反りシミュレーション実行結果の一例を示す図である。 本実施例に係る基板変形予測装置が出力する反りシミュレーションの評価結果を示す図である。 基板変形予測装置の処理手順を示すフローチャートである。 図8のステップS104に示した方向性含有層等価物性値算出処理を示すフローチャートである。 図8のステップS105に示した方向性無層等価物性値算出処理を示すフローチャートである。
符号の説明
100 基板変形予測装置
110 領域分割処理部
120 等価物性値算出処理部
120a 層分類処理部
120b 方向性含有層物性値算出部
120c 方向性無層物性値算出部
120d 無関係層物性値算出部
130 反りシミュレーション実行処理部
200 入力装置
300 出力装置

Claims (4)

  1. 基板の変形を予測する基板変形予測装置であって、
    基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割する基板分割手段と、
    前記基板分割手段が分割した領域毎に、分割した領域の複数の配線方向に対する配線密度を算出する配線密度算出手段と、
    前記配線密度算出手段で算出された複数の配線方向の各々の配線密度と、所定の母材縦弾性係数と、所定の母材熱膨張係数とを基にして、複数の配線方向毎の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出する異方性物性値算出手段と、
    前記異方性物性値算出手段によって各領域毎に算出された各配線方向の前記異方性物性値を基にして、各領域毎に、前記各配線方向の前記異方性物性値が示す縦弾性係数および熱膨張係数をそれぞれ各配線方向の配線密度の割合で重み付けを行って、各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を算出する係数算出手段と、
    前記係数算出手段で算出され各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を基にして、基板の変形を予測する変形予測処理手段と、
    を備えたことを特徴とする基板変形予測装置。
  2. 前記基板分割手段は、前記基板の配線情報を基にして、配線密度が低くなるほど領域の大きさが大きくなるように前記基板を分割することを特徴とする請求項1に記載の基板変形予測装置。
  3. 基板の変形を予測する基板変形予測装置が実行する基板変形予測方法であって、
    前記基板変形予測装置が備える基板分割手段が、基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割する基板分割工程と、
    前記基板変形予測装置が備える配線密度算出手段が、前記基板分割工程で分割された領域毎に、分割された領域の複数の配線方向に対する配線密度を算出する配線密度算出工程と、
    前記基板変形予測装置が備える異方性物性値算出手段が、前記配線密度算出工程で算出された複数の配線方向の各々の配線密度と、所定の母材縦弾性係数と、所定の母材熱膨張係数とを基にして、複数の配線方向毎の縦弾性係数および熱膨張係数熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出する異方性物性値算出工程と、
    前記基板変形予測装置が備える係数算出手段が、前記異方性物性値算出工程によって各領域毎に算出された各配線方向の前記異方性物性値を基にして、各領域毎に、前記各配線方向の前記異方性物性値が示す縦弾性係数および熱膨張係数をそれぞれ各配線方向の配線密度の割合で重み付けを行って、各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を算出する係数算出工程と、
    前記基板変形予測装置が備える変形予測処理手段が、前記係数算出工程で算出され各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を基にして、基板の変形を予測する変形予測処理工程と、
    を含んだことを特徴とする基板変形予測方法。
  4. 基板の変形を予測する基板変形予測プログラムであって、
    基板の配線情報を基にして、基板を複数の領域に分割する基板分割手順と、
    前記基板分割手順が分割した領域毎に、分割した領域の複数の配線方向に対する配線密度を算出する配線密度算出手順と、
    前記配線密度算出手順で算出された複数の配線方向の各々の配線密度と、所定の母材縦弾性係数と、所定の母材熱膨張係数とを基にして、複数の配線方向毎の縦弾性係数および熱膨張係数を示す異方性物性値を、分割された領域毎に算出する異方性物性値算出手順と、
    前記異方性物性値算出手順によって各領域毎に算出された各配線方向の前記異方性物性値を基にして、各領域毎に、前記各配線方向の前記異方性物性値が示す縦弾性係数および熱膨張係数をそれぞれ各配線方向の配線密度の割合で重み付けを行って、各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を算出する係数算出手順と、
    前記係数算出手順で算出され各領域毎の縦弾性係数および熱膨張係数を基にして、基板の変形を予測する変形予測処理手順と、
    をコンピュータに実行させることを特徴とする基板変形予測プログラム。
JP2004234717A 2004-08-11 2004-08-11 基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラム Expired - Fee Related JP4579617B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004234717A JP4579617B2 (ja) 2004-08-11 2004-08-11 基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラム
US11/023,689 US7139678B2 (en) 2004-08-11 2004-12-29 Method and apparatus for predicting board deformation, and computer product

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004234717A JP4579617B2 (ja) 2004-08-11 2004-08-11 基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006053747A JP2006053747A (ja) 2006-02-23
JP4579617B2 true JP4579617B2 (ja) 2010-11-10

Family

ID=35801059

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004234717A Expired - Fee Related JP4579617B2 (ja) 2004-08-11 2004-08-11 基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7139678B2 (ja)
JP (1) JP4579617B2 (ja)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006095498A1 (ja) 2005-03-10 2006-09-14 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 部品実装基板用解析方法
JP4588502B2 (ja) * 2005-03-17 2010-12-01 富士通株式会社 プリント配線基板設計支援装置、プリント配線基板設計支援方法、及びプリント配線基板設計支援プログラム
JP4876777B2 (ja) * 2006-08-23 2012-02-15 日本電気株式会社 有限要素法解析モデルの要素分割システム、要素分割装置及び要素分割方法並びにそのプログラム
JP4980684B2 (ja) * 2006-09-29 2012-07-18 富士通株式会社 基板情報取得変換方法とそのプログラムおよび装置
KR101142881B1 (ko) * 2007-03-07 2012-05-10 후지쯔 가부시끼가이샤 해석 장치, 해석 방법 및 해석 프로그램을 기록한 컴퓨터로 판독가능한 기록 매체
US20090265028A1 (en) * 2008-04-21 2009-10-22 International Business Machines Corporation Organic Substrate with Asymmetric Thickness for Warp Mitigation
US7482180B1 (en) 2008-04-29 2009-01-27 International Business Machines Corporation Method for determining the impact of layer thicknesses on laminate warpage
WO2010021287A1 (ja) * 2008-08-18 2010-02-25 日本電気株式会社 基板の反り予測方法、基板の反り予測システムおよび基板の反り予測プログラム
JP5355988B2 (ja) * 2008-10-29 2013-11-27 株式会社日立製作所 電子部品の熱応力解析方法、樹脂流動解析方法および熱応力解析装置
JP5625921B2 (ja) * 2011-01-06 2014-11-19 富士通株式会社 回路設計支援プログラム、回路設計支援方法および回路設計支援装置
JP6127674B2 (ja) * 2013-04-12 2017-05-17 富士通株式会社 基板設計支援装置、基板設計支援方法、及び基板設計支援プログラム
JP5934171B2 (ja) 2013-11-29 2016-06-15 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーションInternational Business Machines Corporation インターボーザの厚さ決定方法、コンピュータプログラム、インターボーザおよびチップ実装構造体
KR102486558B1 (ko) 2015-06-24 2023-01-10 삼성전자주식회사 회로 기판 및 이를 구비한 반도체 패키지
WO2017001890A1 (en) 2015-06-29 2017-01-05 Bosch Car Multimedia Portugal, S.A. Method for converting gerber data to finite element model for predicting printed circuit board warpage
US10108753B2 (en) 2016-06-07 2018-10-23 International Business Machines Corporation Laminate substrate thermal warpage prediction for designing a laminate substrate
KR102639895B1 (ko) 2019-01-21 2024-02-23 삼성전자주식회사 인쇄 회로 기판이 시뮬레이션을 위한 컴퓨터-구현 방법, 프로세서-구현 시스템, 그리고 명령들을 저장하는 비임시의 컴퓨터로 독출 가능한 저장 매체
US11817359B2 (en) 2020-09-01 2023-11-14 International Business Machines Corporation Warp mitigation using pattern-matched metal layers in organic substrates
EP3964824B1 (en) * 2020-09-02 2024-02-14 AT & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft Expansion coefficient determination with deformation measurement and simulation

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000304630A (ja) * 1999-04-19 2000-11-02 Denso Corp 半導体パッケージ実装構造の解析方法
JP2003167927A (ja) * 2001-12-03 2003-06-13 Sharp Corp 要素分割装置、要素分割方法、要素分割プログラムおよび要素分割プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体
JP2004013437A (ja) * 2002-06-05 2004-01-15 Toshiba Corp 基板の反り解析方法及びそのシステム、基板の反り解析プログラム

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2759573B2 (ja) 1992-01-23 1998-05-28 株式会社日立製作所 回路基板の配線パターン決定方法
JP3329667B2 (ja) 1996-09-17 2002-09-30 株式会社東芝 補強部位置決定方法、多面取りプリント基板の製造方法、及び多面取りプリント基板
JP3274095B2 (ja) 1997-07-18 2002-04-15 富士通株式会社 加熱炉内の被加熱物の熱解析装置及びそれを用いたリフロー炉の制御装置並びにそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JPH11110434A (ja) * 1997-10-07 1999-04-23 Fujitsu Ltd プリント板パターン設計装置
JP2002230047A (ja) 2001-02-02 2002-08-16 Nec Corp 熱回路網データの生成システム、方法及び記録媒体

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000304630A (ja) * 1999-04-19 2000-11-02 Denso Corp 半導体パッケージ実装構造の解析方法
JP2003167927A (ja) * 2001-12-03 2003-06-13 Sharp Corp 要素分割装置、要素分割方法、要素分割プログラムおよび要素分割プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体
JP2004013437A (ja) * 2002-06-05 2004-01-15 Toshiba Corp 基板の反り解析方法及びそのシステム、基板の反り解析プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
US20060036401A1 (en) 2006-02-16
JP2006053747A (ja) 2006-02-23
US7139678B2 (en) 2006-11-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4579617B2 (ja) 基板変形予測装置、基板変形予測方法および基板変形予測プログラム
JP4335862B2 (ja) 半導体集積回路の特性抽出方法及び特性抽出装置
US8117568B2 (en) Apparatus, method and computer program product for fast simulation of manufacturing effects during integrated circuit design
KR101142881B1 (ko) 해석 장치, 해석 방법 및 해석 프로그램을 기록한 컴퓨터로 판독가능한 기록 매체
US8056027B2 (en) Characterizing thermomechanical properties of an organic substrate using three-dimensional finite element analysis
US8215829B2 (en) Method of analyzing thermal stress according to filling factor of filler in resin
JP4792274B2 (ja) 等価材料定数算出システム、等価材料定数算出プログラム、等価材料定数算出方法、設計システムおよび構造体の製造方法
EP1906326A1 (en) Circuit board information acquisition and conversion method, program, and device for the same
JP2008517467A5 (ja)
JP2004013437A (ja) 基板の反り解析方法及びそのシステム、基板の反り解析プログラム
CN109558610B (zh) 膜层刻蚀区域等效力学参数的计算方法和设备
US20020073388A1 (en) Methodology to improve the performance of integrated circuits by exploiting systematic process non-uniformity
JP2006031510A (ja) ジッタ解析方法、ジッタ解析装置及びジッタ解析プログラム
McCaslin et al. Methodology for modeling substrate warpage using copper trace pattern implementation
Najafi et al. Coherent design of hybrid approximate adders: Unified design framework and metrics
WO2010021287A1 (ja) 基板の反り予測方法、基板の反り予測システムおよび基板の反り予測プログラム
Hamdani et al. Reliability analysis of tape based chip-scale packages based metamodel
JP2007027152A (ja) プリント基板の設計方法
JP2003347301A (ja) 均質化法を用いた構造解析方法及び構造設計方法
Stoyanov et al. Deep learning modelling for composite properties of pcb conductive layers
JP5040363B2 (ja) 解析装置、解析方法及び解析プログラム
JP2007079833A (ja) 配線パターン設計装置及び方法並びにプログラム
JP5195918B2 (ja) 解析装置、解析方法及び解析プログラム
JP2007305794A (ja) 回路設計装置、設計方法、およびプログラム
EP4310716A1 (en) Methods for creating a heat sink design

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100608

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100805

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100824

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100826

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130903

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4579617

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees