JPS6237861A - イオントラツプを利用した質量分析方法 - Google Patents

イオントラツプを利用した質量分析方法

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JPS6237861A JP61118973A JP11897386A JPS6237861A JP S6237861 A JPS6237861 A JP S6237861A JP 61118973 A JP61118973 A JP 61118973A JP 11897386 A JP11897386 A JP 11897386A JP S6237861 A JPS6237861 A JP S6237861A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、イオントラップをＭＳ／ＭＳモードで使用す
る方法に関するものである。
（発明が解決しようとする問題点） イオントラップ質量分析計、すなわち四極子イオン貯蔵
装置は、かなり前から知られており、解説書も多数ある
。これらは、無線周波数（ＲＦ）、直流（Ｄ　Ｃ）およ
びそれらの組合せ等の静電界を用いた物理的構造の中で
イオンを作り、貯蔵する装置である。一般に、４極子電
界は、双曲線電極構造または同等な４極子トラツピング
電界を発生する球形電極構造を使用してイオン貯蔵領域
を提供する。
一般に、質量貯蔵は、質量対電荷量比が有限範囲内にあ
るイオンが、装置内部で安定して捕捉されるように設定
したＲＦ雷電圧、その周波数ｆ、直流電圧Ｕ、および装
置サイズｒ０の値でトラップ電極を動作させることによ
って行なわれる。上記のパラメータは、操作パラメータ
と呼ばれることもあり、捕捉されたイオンの質量対電荷
量比と一定の関係がある。捕捉されたイオンについては
、質量対電荷量比の多値に対し明確な固有振動数（ｓｅ
ｃｕｉａｒ　ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ　）がある。イオンを
検出する一方法では、これらの固有振動数をトラップ内
のイオンの振動運動に結合する周波数共振回路で測定し
たあと、改良された分析技術を用いて質量対電荷量比を
求めることができる。
イオントラップ質量分析計とそれを使用して試料の質量
分析を行なう方法がかなり以前より知られていたにもか
かわらず、最近まで普及しなかったのは、質量選別技術
が十分でないこと、実施が歎かしいこと、質量分析結果
が劣ること、さらに質量範囲に制限があることのためで
ある。新しいイオントラップ動作方法（米国特許第２．
９３９．９５２号、同特許出願第４５３，３５１号）は
、過去の制約の大部分を克服したものであり、イオント
ラップ検出装置と呼ばれる製品として評判を得ている。
（問題点を解決するための手段） 本発明の目的は、イオントラップをＭＳ／ＭＳと呼ばれ
る動作モードで動作させる新しい方法を提供することで
ある。
本発明に従って提供される、イオントラップをＭＳ／Ｍ
Ｓモードで使用する新しい方法は、イオントラップ内で
イオンを作って貯蔵すること、それらを質量分析計で質
量選別を行なうこと、ガスまたは表面による衝突を用い
てそれらを解離すること、および質量すなわちエネルギ
ー分析針によってイオン片を分析することの諸ステップ
から成っている。
（実施例） 第１図を参照すると、３次元イオントラップ１０は、リ
ング電極１１と互いに向い合った２つのエンド・キャッ
プ１２．１３を備えている。す＼　ング電極１１に接続
された無線周波数（ＲＦ）電圧発生器１４は、エンドキ
ャップとリング電極の間に無線周波数電圧Ｖｓｉｎ　ｗ
ｔ　（基本ＲＦ電圧）を供給して、イオン貯蔵領域すな
わち半径ｒ。と垂直寸法Ｚｏ　　（Ｌ”　＝ｒＯ”　／
　２）を有する空間１６内にイオンを捕える４極子電界
を発生させる。捕捉に必要な電界は、図示のように結合
変成器３２を介して同相接地されたキャンプ電極１２．
１３とリング電極１１との間にＲＦ雷電圧印加して形成
される。エンドキャンプ２２．２３に接続された補助Ｒ
Ｆ電圧発生器３５は、両エンドキャンプ間に無線周波数
電圧Ｖｇ　ｓｉｎ　Ｗｚｔを供給し、捕捉したイオンを
その主軸共振周波数で共振させる。
イオン貯蔵領域１６に導入された試料分子をイオン化す
るために、フィラメント電源１Ｂに接続され、イオン化
電子ビームを発生するフィラメント１７が設置されてい
る。円筒形ゲート電極とレンズ１９は、フィラメントレ
ンズ制御器２１で駆動される。ゲート電極は、所望通り
電子ビームをゲートするオンオフ制御を行なう。エンド
キャップ１２には、電子ビームが通過する開口が設けら
れている。反対側のエンドキャップ１３には多数の孔が
あけられている。それらの孔を通って出たイオントラッ
プ電界内の不安定イオンは、電子増倍管２４が検出して
線２６にイオン信号を発生する。
線２６上の信号は、静電電位計２７によって電流から電
圧に変換される。この信号は、装置２８によって加算さ
れたあと記憶され、装置２９によって処理される。制御
器３１は、基本ＲＦ電圧発生器１４に接続されていて、
質量選別のため、基本ＲＦ雷電圧大きさと（または）周
波数を変化させる。また、制御器３１は、補助ＲＦ電圧
発生器３５にも接続されていて、補助ＲＦ雷電圧大きさ
と（または）周波数を変化させる、すなわちゲートする
。また、制御器３１は、線３２を通じて、フィラメント
レンメ制御器２１をゲートし、走査時間以外の時間だけ
イオン化電子ビームを供給する。イオントラップの機械
的細部構造は、たとえば米国特許第２，９３９，９５２
号、最近のものでは本出願人による米国特許出願筒４５
４．３５１号に記載されている。
イオントラップ１０の対称電界により第２図に示すよう
な周知の安定度グラフが得られる。第２図のパラメータ
ａとｑは、次式で定義される。
ａ　＝　−ｇ　ｅ　Ｕ／ｎ＋ｒ、”　ｗ２ｑ＝　４　ｅ
　Ｖ　／ｍｒ、”　ｗ” ここで、ｅとｍは、それぞれ荷電粒子の電荷量と質量で
ある。任意の特定イオンについて、もしそのイオンがイ
オントラップの４極子電界内に捕捉されるものであれば
、ａとｑの値は、安定包絡線内になければならない。
荷電粒子が前述の３次元４極子電界内でとる軌道の形は
、安定度グラフの上に位置するように、粒子の比質量ｍ
　／　ｅと、電界パラメータＵ、Ｖ、ｒｏｓ　Ｗがどの
ように組み合わされるかによって決まる。もし走査パラ
メータが安定包絡線の内側に位置するように組み合わさ
れれば、一定の粒子は形成された電界内で安定軌道をと
る。３次元４極、子電界内で安定軌道をとる荷電粒子は
、電界の中心まわりの周期的軌道に拘束され、このよう
な粒子は、電界によって捕捉されたと考えることができ
る。もし、粒子ｍ　／　ｅについて、Ｕ％　Ｖ％　ｒｏ
およびＷが安定度グラフの安定包絡線の外側に位置する
ように組み合わされれば、その一定の粒子は形成された
電界内で不安定な軌道をとる。３次元４極子電界内で不
安定な軌道をとる粒子は、電界の中心から偏れていき、
時間の経過と共に無限大に近ずく。このような粒子は、
電界から離脱していると考えられ、したがって捕捉でき
ないとみなされれる。
Ｕ、■、ｒいおよびＷで定義される３次元４極子電界に
対して、全ての可能な質量対電荷量比の軌跡は、原点を
通り勾配が一２Ｕ／Ｖの１本の直線として安定度グラフ
上に描かれる（この軌跡は、走査線とも呼ばれる）。全
ての可能な質量対電荷量比の軌跡のうち安定領域内に位
置する部分は、粒子が加えた電界内に捕捉されるべきも
のであれば、その粒子がとることのできる質量対電荷量
比の領域を規定する。ＵとＶの大きさを適当に選ぶこと
によって、捕捉可能な粒子に対する比質量の範囲を選択
することができる。もし、可能な比質量の軌跡が安定領
域の頂点を通るように（第２図の直線Ａ）Ｕと■の比を
選べば、非常に限られた範囲内の比質量をもつ粒子のみ
が安定軌道をとるであろう。これに対し、可能な比質量
の軌跡が安定ｔＪＩＡの中央を通るように（第２図の直
線Ｂ）、ＵとＶの比を選べば、広い範囲の比質量をもつ
粒子が安定軌跡をとるであろう。
本発明によれば、上述形式のイオントラップは、以下の
ように操作される。まず電子のバーストをフィラメント
１７からトラップの中にゲートすることによってトラッ
プの空間１６内にイオンが作られる。所望する質量また
は質量範囲のイオンは安定であるが、他の全てのイオン
は不安定であり、トラップ構造から追い出されるように
、ＤＣおよびＲＦ雷電圧３次元電極構造に印加される。
このステップは、捕捉されたイオンが第２図の安定度グ
ラフの原点を通る水平線上にあるように（ａ−０）　、
ＲＦ雷電圧みを使って実施することができる。次に電子
ビームが遮断され、この過程を通じて捕捉された全ての
安定イオンの軌跡が安定度グラフの安牟領域の内側にと
どまるようなやり方で、Ｕが０になるまでトラッピング
電圧が下げられる。
関心のあるイオンばかりでなく、以下に述べる次の解離
過程におし、１てそれらから生じた全てのイオン片も捕
捉されたままであるように、ｑの値を滅少させ十分低く
しなければならない（質量対電荷量が小さいことは、ｑ
値が大きいことを意味するからである）。
解離過程では、関心のあるイオンがイオン片に解離され
、それらがトラップ内に、すなわち第２図の安定領域内
に残るように、ガスと衝突させられる。破砕すべきイオ
ンは、ガスとの衝突によって破砕されるだけの十分なエ
ネルギーを有しているとは限らないので、システムがイ
オンの破砕を引き起す十分なエネルギーをもっているよ
うに、関心のあるイオンにエネルギーを付与するか、あ
るいは高エネルギー状態すなわち励起された中性粒子と
衝突させる必要があるかもしれない。解離のあと、イオ
ン片は、検出のため、第２図の水平線（ａ　＝　Ｏ）に
沿ってＲＦ雷電圧よりイオントラップから追い出される
。
上記ステップにおいて、活動的中性粒子は、既知のどの
方法を用いて作ってもよい。アルゴンまたはヘキサノン
の励起された中性粒子を適当な時間にパルス駆動された
ガンから注入してもよいし、代りに放電源を使用しても
よい。また、イオンもしくは中性粒子のどちらかを介し
てシステムにエネルギーを供給するためレーザーパルス
を使用してもよい。
次に、ニトロベンゼンイオン（分子ＩＭ＝１２３、電離
度Ｚ−１）のケースにおいて、背景ガスたとえばアルゴ
ンと衝突させることにより親イオンの解離を生じさせた
とき、イオン片（娘イオン）、イオン片のイオン片（孫
娘イオン）等が生じたことも判定するいくつかの実験結
果を示す。得られたイオンは、イオントラップから出さ
れ、それらの質量スペクトルを求めるため走査される。
’［３（Ａ）図は、ニトロベンゼンの電子イオン化質ス
ペクトログラムである。線Ｍ／Ｚ＝１２４は、光子をＭ
／Ｚ＝１２３に加えるイオン分子反応によって生じる。
Ｕ＝Ｏ、アルゴンの圧力が１ｘｌＯ−’）ルの状態のモ
ードで動作中、最初に、１２０以上のＭ／Ｚを有するイ
オンのみが、試料のイオン化が終ったとき、イオントラ
ップ内に貯蔵されるように、ＲＦ雷電圧調整した。次に
、カットオフ値（この値より大きいＭ／Ｚを有するイオ
ンは、イオントラップの中で捕捉される、すなわち安定
である）がＭ／Ｚ＝２０であるように、ＲＦ雷電圧下げ
た。
イオン化後、イオントラップの中に捕捉されて残ったＭ
Ｚ＝１２３を有する親イオンは、アルゴンの背景ガスと
衝突して、解離された。次に、ＲＦ雷電圧上げて走査し
、第３（Ｂ）図に示す質量スムクトログラムを得た。こ
の質量スペクトログラムは、Ｍ／Ｚ＝１２３を有する親
イオンからイオン片が生じたことを表わしている。
ＲＦ電界などＡＣ電界を重畳することにより、いろいろ
な新しい走査モードが可能である。イオントラップ内に
貯蔵された任意のイオンについて、任意の空間座標にお
ける偏位は、時間の周期関数の合成でなければならない
。ｉし、個々のイオン粒子について運動の部分振動数の
どれかに一致する補助ＲＦ雷電圧印加すれば、そのイオ
ンはその座標に沿って増大した振幅で振動し始めるであ
ろう。イオンは、トラップから放出され逮か、電極に当
るか、それとも十分な圧力の試料または減衰用不活性ガ
スの存在のもとで補助ＲＦ電位の印加前よりも大きな平
均偏位の安定軌道をトラップ内でとるかもしれない。も
し、補助ＲＦ雷電圧限られた時間印加すれば、低い圧力
状態のもとであっても安定軌道をとることができる。
第４図は、ノツチフィルタモードのとき使用することが
できるプログラムを示す。この図を参照すると、期間Ａ
において関心のある質量範囲のイオンが作られたあと貯
蔵される。次に、一定値以下のＭ／Ｚの全てのイオンを
追い出すため、リシグ電極に印加される基本ＲＦ雷電圧
増加される。
そのあと、基本ＲＦ雷電圧、別の一定値以上のＭ／Ｚの
全てのイオンを捕捉するする一定レベルに保たれる”（
期間Ｄ）。次に、両エンドキャンプ間に一当な周波数と
大きさの補助ＲＦ雷電圧印加され、特定のＭ／Ｚ値の全
てのイオンがトラップから追い出される。次に、補助Ｒ
Ｆ雷電圧ターン゛オフされたあと、トラップ内になお残
っているイオンの質量スペクトルを得るため、゛基本Ｒ
Ｆ電圧が走査される（期間Ｅ）。
第５（Ａ）図は、ヘキサノンのスペクトルを示す。
このケースでは、第４図と同様に、基本ＲＦ雷電圧走査
されるが、補助ＲＦ雷電圧使用されない。
第５（Ｂ）図は、期間りにおいてＭ／Ｚ＝１３１のイオ
ンを追い出すため適当な周波数と大きさの補助ＲＦ雷電
圧使用されていることを除いて同じ条件のもとで得られ
たスペクトルを示す。第５（Ｂ）図は、上記のイオンの
大部分がトラップから除去されたことを示している。ノ
ツチフィルタモードを実際に使うには多くのやり方があ
る。たとえば、イオン化期間は、補助ＲＦ雷電圧ターン
オンし、他の全ての時間はターンオフすれば、大量に存
在するイオンが追い出されるのでわずかに存在するイオ
ンの調査は容易になるであろう。
基本ＲＦ雷電圧たはその関連ＤＣ成分が一定レベルに維
持される期間でなく、走査される期間において、補助電
界を使用すれば、別の有効な走査モードが可能である。
たとえば、もし、期間Ｅ（期間りの代りに）のとき十分
な振幅と一定の周波数の補助電圧をターンオフすれば、
基本ＲＦ雷電圧より、補助電圧の周波数に一致する共振
振動が各イオン粒子内に連続的に発生するので、トラッ
プから連続的にイオンが放出される。このように、基本
ＲＦ雷電圧減少した最大値により、特定範囲のＭＺｚ値
について質量スペクトルを得ることができる、すなわち
、基本ＲＦ雷電圧一定の最大値に対し、より大きな最大
Ｍ／Ｚ値を達成することができる。通常の走査モードに
おける質量範囲は、基本ＲＦ雷電圧最大達成可能値によ
って制限されるから、補助ＲＦ雷電圧よって装置の質量
範囲が拡張される。
・　また、補助ＲＦ雷電圧周波数を走査することによっ
て、有効な走査モードが可能である。たとえば、基本Ｒ
Ｆ雷電圧固定しておいて補助ＲＦ雷電圧周波数を走査す
ることができる。これは、期間Ｅを除いて、期間りのと
き補助ＲＦ雷電圧周波数を走査するようにした第４図に
相当する。イオンが連続的に共振されるので、質量スペ
クトルが得られる。この動作モードにおいては、高い質
量骨解能が可能である。また、基本ＲＦ雷電圧一定であ
るため、拡張された質量範囲が得られる。
補助ＲＦ雷電圧存在することによって、共振もしくはそ
れに近い状態でイオンの破砕を引き起すことができる。
第６（Ａ）図は、第４図の走査プログラムにより、ただ
し補助ＲＦ雷電圧しで得られたニトロベンゼンの質量ス
ペクトル（ＩＸＩＯ−３トルのヘリウムを用いて）を示
す。Ｍ／Ｚが１１８以下の全てのイオンは、周期Ｂへの
前およびその間に追い出されるから、Ｍ／Ｚ＝９３にお
ける小ピークは、周期Ｂのあとであって、周期Ｅにおい
てＭ／Ｚ＝９３のイオンが放出される前に形成されたに
違いない。第６（Ｂ）図は、周期りのときＭ／Ｚ＝１２
３の共振周波数で補助Ｒ，Ｆ電圧を印加したことを除い
て同一条件のもとで得られたスペクトルを示す。この質
量スペクトルは、Ｍ／Ｚ＝９３と６５における大量の破
砕を示している。同様に、第６（ｃ）図は、Ｍ／Ｚｆ；
＜８８以上の全てのイオンが期間Ｂの前およびその・間
に放出されたことを除いて、第６（Ａ）図と同じ条件の
も・とで得たものである。第６（Ｄ）図は、期間りのと
きＭ／Ｚ−９３の共振周波数で補助ＲＦ雷電圧印加した
ことを除いて第６（ｃ）図と同じ条件のもとで得られた
ものである。この質量スペクトルは、Ｍ／Ｚ＝６５にお
ける大量の破砕を示している。
補助ＲＦ電界により娘イオンが生じ、次に、娘イオンが
共振状態になるように、基本ＲＦ電界または補助ＲＦ電
界の電圧もしくは周波数などの条件を調節することによ
って、これらの娘イオンから孫娘イオンが生じるような
逐次実験が可能である。第７図は、娘イオンを作ること
ができる独自の方法を示す。補助ＲＦ雷電圧、一定のま
まであるが、娘イオンが発生するように個々の親イオン
を共振させるため、期間ＤＡのとき、基本ＲＦ雷電圧調
節される。次に孫娘イオンが発生するように個々の娘イ
オンを共振させるため、期間ＤＢのとき、基本ＲＦ雷電
圧調節される。第８（Ａ）図は、補助Ｒ”Ｆ電圧を使っ
ていないことを除いて、第７図の走査プログラムを使っ
て得たｎ−へブタンのスペクトルを示す。Ｍ／Ｚが９５
以下のすべてのイオンは期間Ｂの前およびその間に放出
されるので、Ｍ／Ｚ＝７０，７１における小ピークは、
期間Ｂのあとに形成されたイオンによるものに違いない
。第８（Ｂ）図は、補助ＲＦ雷電圧周波数をＭ／Ｚ＝１
００の共振周波数にして、第４図の走査プログラムを使
って得たものである。Ｍ／Ｚ＝７０．７１において大量
の娘イオンが見られ、またＭ／Ｚ＝５５．５６．５７に
おける微弱なピークもはっきりわかる。第８（ｃ）図は
、補助ＲＦ雷電圧使ったことを除き、第８（Ａ）図のと
き使った走査プログラムで得たものである。期間ＤＡと
ＤＢにおける基本ＲＦ雷電圧よび補助ＲＦ雷電圧周波数
は、娘イオンが発生するように、期間ＤＡにおいてＭ／
Ｚ＝１００が共振状態であるように、選んだ。期間ＤＡ
のとき発生したＭ／Ｚ＝７０の個々の娘イオンから孫娘
イオンが発生するように期間ＤＢにおいて共振状態にさ
れた。これらの孫娘イオンは、第８（ｃ）図においてＭ
／Ｚ＝５５．５Ｇ、５７における増大したピークの強さ
から明らかである。第８（Ｄ）図は、期間ＤＡにおいて
Ｍ／Ｚ＝１００が共振状態であり、期間ＤＢにおいてＭ
／Ｚ＝７１が共振状態にあることを除いて、第８（Ａ）
図に類似した図である。
逐次娘走査は、他の多くの方法を用いて実施できる。た
とえば、基本ＲＦ雷電圧変化させる代りに、補助ＲＦ雷
電圧周波数を変化させてもよい。
また、娘イオンが発生したあと、孫娘イオンが発生する
前に、不用のイオンをトラップから違い出すことができ
る。もちろん、基本ＲＦ雷電圧しくは補助ＲＦ雷電圧周
波数を逐次変化させ、連続する破砕の生成物を共振させ
ることによって、その次の破砕を引き起すことができる
。
・以上により、限られた数の実例についてのみ本発明を
説明したが、本発明の範囲内で、なお、それらに対しな
し得るさまざまな修正が考えられる。
たとえば、印加するＲＦ雷電圧正弦波である必要はなく
、周期的でありさえすればよい。異なる安定度グラフが
できるであろうが、その一般的特性は、走査線を含め、
類似している。言い替えると、ＲＦ雷電圧、方形波、三
角形波等で構成することができよう。それでも、４極子
イオントランプは、順次同様に動作するであろう。以上
、イオントラップの側面を双曲線として述べたが、イオ
ントラップを円筒形すなわち円筒トラップ側面で作るこ
ともできる。近似的３次元４極子電圧を発生するもので
あれば、どの電極構造でも使うことができよう。本発明
の範囲は、特許請求の範囲によってのみ限定される。
【図面の簡単な説明】
第１図は、４極子イオントラツプの略図と本発明の方法
に従って使用されるように構成された関連電荷回路のブ
ロック図、 第２図は、第１図に示した形式のイオン貯蔵装置の安定
度包絡線を示すグラフ、 第３（Ａ）図と第３（Ｂ）図は、本発明の方法を用いて
、ルトロベンゼン試料について一連の実験で得られたス
ペクトログラムを示すグラフ、第４図は、ノツチフィル
タ走査モードの場合に、補助電圧について使用すること
ができるプログラムを示すタイムチャート、 第５（Ａ）図と第５（Ｂ）図は、第４図の方法を用いて
、ヘキサノン試料で得られたスペクトログラムを示すグ
ラフ、 第６（＾）図ないし第６（Ｄ）図は、第４図の方法を用
いて、ニトロベンゼン試料で得られたスペクトログラム
を示すグラフ、 第７図は、本発明のイオン走査モードのための別のプロ
グラムを示すタイムチャート、および第８（Ａ）図ない
し第８（Ｄ）図は、第４図と第７図の両方法を用いた一
連の実験で得られたｎ−へブタン試料についてのスペク
トログラムを示すグラフである。 １０・・・イオントラップ、　　１１・・・リング電極
、１２．１３・・・エンドキャップ、 １４・・・無線周波数（ＲＦ）電圧発生器、１６・・・
イオン貯蔵領域、１７・・・フィラメント、１８・・・
フィラメント電源、 １９・・・円筒形ゲート、電極とレンズ、２１・・・フ
ィラメントレンズ制御器、２２．２３・・・エンドキャ
ップ、２４・・・電子増倍管、２６・・・線、２７・・
・静電電位計、２８・・・信号出力記憶加算装置、２９
・・・処理装置、３１・・・計算機制御器、３２・・・
結合変成器、３５・・・補助ＲＦ電圧発生器。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）試料を質量分析する方法であって、 （ａ）質量対電荷量比が所定の範囲内にあるイオンを捕
    捉するように構成された３次元４極子電界をもつトラッ
    プ空間を形成すること、 （ｂ）前記トラップ空間の中にイオンを形成するか、注
    入することにより、前記所定の範囲のイオンを前記トラ
    ップ空間の中に捕捉すること、（ｃ）前記４極子電界を
    制御し、前記捕捉されたイオンをイオン片に解離するこ
    とにより、前記トラップ空間の中に質量対電荷量比が所
    望する範囲内にある前記イオンまたは前記イオン片を捕
    捉した状態に保つこと、および （ｄ）次に、分析および検出のため、前記４極子電界を
    変化させることにより、連続する質量のイオンを前記ト
    ラップから放出すること、 の諸ステップから成ることを特徴とする前記の方法。
  2. （２）トラッピング電界でトラップ空間の中に捕捉され
    た、質量対電荷量比が所定範囲内にあるイオンを検出す
    る方法であって、 （ａ）前記トラッピング電界に重量する補助交流電界を
    加えることにより前記トラップ空間から連続する質量対
    電荷量比のイオンを放出すること、 （ｂ）前記イオンを検出すること、および （ｃ）そのあと前記トラッピング電界の強さを変化させ
    ること、 の諸ステップから成ることを特徴とする前記の方法。
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