JPH11513187A - イオントラップにイオンを捕らえるための方法およびそのためのイオントラップ質量分光計システム - Google Patents
イオントラップにイオンを捕らえるための方法およびそのためのイオントラップ質量分光計システムInfo
- Publication number
- JPH11513187A JPH11513187A JP10508763A JP50876398A JPH11513187A JP H11513187 A JPH11513187 A JP H11513187A JP 10508763 A JP10508763 A JP 10508763A JP 50876398 A JP50876398 A JP 50876398A JP H11513187 A JPH11513187 A JP H11513187A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion trap
- ion
- mass spectrometer
- spectrometer system
- improved
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/4295—Storage methods
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/36—Radio frequency spectrometers, e.g. Bennett-type spectrometers, Redhead-type spectrometers
- H01J49/38—Omegatrons ; using ion cyclotron resonance
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.イオンを捕獲するための改良されたイオントラップ質量分光計システムで あって、 イオンビームを生成するための外部のイオン源、 イオン蓄積時間の間にイオンビームが入射し、該イオンビームの軸線に沿 って間隔をあけた入口および出口領域を有するイオントラップ、 前記出口領域の近くに配置された、少なくとも一つの捕獲電極、および 蓄積時間の間、前記イオントラップ内にフリンジ減速場をつくり、前記イ オントラップ内にイオンを保持するために、前記捕獲電極に減速DC電圧を印加し 、検出時間の間、前記捕獲電極に対してバイアスDC電圧を印加するための電源 、 を含む、 をところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 2.請求項1に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 前記イオントラップは、さらに、入口、出口および側部電極を含む、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 3.請求項2に記載の改良されたイオントラップ質量分 光計システムであって、 前記入口領域は、前記入口電極と前記側部電極の一つとの間に配置される 、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 4.請求項2に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 前記入口領域および前記出口領域は、それぞれ前記入口電極および出口電 極内に配置されている、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 5.請求項4に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 前記イオントラップは、三次元四重極イオントラップである、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 6.請求項4に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 前記イオントラップは、イオンサイクロトロン共鳴セルである、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 7.改良されたイオントラップ質量分光計システムで あって、 イオンビームを生成するための外部のイオン源、および イオンビームの軸線に沿って配置されたイオントラップ、 を含み、 前記イオントラップは、 イオンビームを通すための開口部をもつ入口電極、 前記開口部と向かい合ったオリフィスをもつ出口電極、 前記オリフィスの近くに配置された捕獲電極、および イオン蓄積時間の間、前記イオントラップ内にフリンジ減速場を生成する ために、前記捕獲電極に対してDC電圧を印加するための電源、 を含む、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 8.請求項7に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 さらに、イオン蓄積時間の間に印加されるDC電圧の値を、イオン検出時 間の間に印加されるDC電圧の値に変換するための、前記電源に接続されたスイ ッチを含む、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 9.請求項8に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 前記捕獲電極は、イオンビーム軸線に沿って配置されている、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 10.請求項9に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 前記捕獲電極は、前記出口電極から分離された部分である、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 11.請求項9に記載の改良されたイオントラップ質量分計システムであって、 前記捕獲電極は、中央オリフィスをもつ中空体を有する、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 12.請求項8に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 前記捕獲電極は、前記イオントラップの内部に配置される、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 13.請求項8に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 前記捕獲電極は、前記イオントラップの外部に配置される、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 14.請求項13に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであっ て、 前記捕獲電極は、イオンビーム軸線からそれて配置される、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 15.請求項8に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 前記イオントラップは、高周波四重極イオントラップである、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 16.請求項8に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 前記イオントラップは、イオンサイクロトロン共鳴セルである、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 17.請求項8に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 前記外部のイオン源は、連続的なイオン源である、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 18.請求項8に記載の改良されたイオントラップ質量分光計システムであって 、 前記外部のイオン源は、パルスイオン源である、 ところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。 19.外部のイオン源により生成されたイオンをイオントラップ内に捕獲する方 法であって、 入口領域を通してイオントラップ内に入るように、イオンを向かわせる工 程、 前記イオントラップからのイオンのために、出口領域のところに少なくと も一つの捕獲電極を提供する工程、および イオンを前記イオントラップ内に保持するために、イオン蓄積時間の間に 、前記捕獲電極に対して、減速DC電圧を印加する工程、 を含み、 前記入口および出口領域は、イオンビームの軸線上 にある、 ところの方法。 20.請求項19に記載の方法であって、 前記捕獲電極は、イオンビームの軸線上に配置される、 ところの方法。 21.請求項19に記載の方法であって、 前記捕獲電極は、イオンビームの軸線上からそれて配置される、 ところの方法。 22.イオントラップ内のイオンを捕獲して解析するための方法であって、 互いに向かい合ったオリフィスおよび開口部をそれぞれもつ入口および出 口電極を有するイオントラップを提供する工程、 前記オリフィスの近くに捕獲電極を配置する工程、 前記イオントラップをバッファガスで充填する工程、 外部のイオン源により外部のイオンビームを生成する工程、 イオン蓄積時間の間、前記開口部を通して前記イオントラップへとイオン ビームを向かわせる工程、および イオン蓄積時間の間、前記捕獲電極に対して減速 DC電圧を印加する工程、 を含む、 ところの方法。 23.請求項22に記載のイオンを捕獲して解析するための方法であって、 さらに、イオン検出時間の間に、前記イオントラップ内に捕獲されたイオ ンを検出する工程を含む、 ところの方法。 24.請求項23に記載のイオンを捕獲して解析するための方法であって、 前記イオンを検出する工程はさらに、前記イオン検出時間の間に、前記捕 獲電極に対してバイアスDC電位を印加する工程を含む、 ところの方法。 25.請求項24に記載のイオンを捕獲して解析するための方法であって、 バイアスDC電圧は、前記イオントラップの前記出口電極のDC電位と実 質的に等しい、 ところの方法。 26.請求項24に記載のイオンを捕獲して解析するための方法であって、 さらに、イオン検出時間の間、前記イオントラップに対して補給RF電圧 を印加する工程を含む、 ところの方法。 27.請求項26に記載のイオンを捕獲して解析するための方法であって、 補給RF電圧は、前記捕獲電極および前記イオントラップの前記入口電極 と前記出口電極との間に印加される、 ところの方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/688,469 US5650617A (en) | 1996-07-30 | 1996-07-30 | Method for trapping ions into ion traps and ion trap mass spectrometer system thereof |
US08/688,469 | 1996-07-30 | ||
PCT/US1997/002390 WO1998005039A1 (en) | 1996-07-30 | 1997-02-18 | Method for trapping ions into ion traps and ion trap mass spectrometer system thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11513187A true JPH11513187A (ja) | 1999-11-09 |
JP4219406B2 JP4219406B2 (ja) | 2009-02-04 |
Family
ID=24764546
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP50876398A Expired - Fee Related JP4219406B2 (ja) | 1996-07-30 | 1997-02-18 | イオントラップにイオンを捕らえるための方法およびそのためのイオントラップ質量分光計システム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5650617A (ja) |
EP (1) | EP0868730B1 (ja) |
JP (1) | JP4219406B2 (ja) |
AU (1) | AU722099B2 (ja) |
DE (1) | DE69723811T2 (ja) |
WO (1) | WO1998005039A1 (ja) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3651106B2 (ja) | 1996-04-03 | 2005-05-25 | 株式会社日立製作所 | 質量分析計 |
US6157030A (en) * | 1997-09-01 | 2000-12-05 | Hitachi, Ltd. | Ion trap mass spectrometer |
US6031715A (en) * | 1997-11-19 | 2000-02-29 | Micron Electronics, Inc. | Component mounting module for printed circuit assemblies |
DE19751401B4 (de) * | 1997-11-20 | 2007-03-01 | Bruker Daltonik Gmbh | Quadrupol-Hochfrequenz-Ionenfallen für Massenspektrometer |
GB9802112D0 (en) | 1998-01-30 | 1998-04-01 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | Method of trapping ions in an ion trapping device |
WO2002049067A2 (en) * | 2000-12-14 | 2002-06-20 | Mks Instruments, Inc. | Ion storage system |
US6573495B2 (en) | 2000-12-26 | 2003-06-03 | Thermo Finnigan Llc | High capacity ion cyclotron resonance cell |
US6608303B2 (en) * | 2001-06-06 | 2003-08-19 | Thermo Finnigan Llc | Quadrupole ion trap with electronic shims |
US6777699B1 (en) | 2002-03-25 | 2004-08-17 | George H. Miley | Methods, apparatus, and systems involving ion beam generation |
DE10325579B4 (de) * | 2003-06-05 | 2007-10-11 | Bruker Daltonik Gmbh | Ionenfragmentierung durch Elektroneneinfang in linearen Ionenfallen |
DE10325581B4 (de) | 2003-06-05 | 2008-11-27 | Bruker Daltonik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung für das Einspeichern von Ionen in Quadrupol-Ionenfallen |
GB0404285D0 (en) * | 2004-02-26 | 2004-03-31 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | A tandem ion-trap time-of flight mass spectrometer |
US7279681B2 (en) * | 2005-06-22 | 2007-10-09 | Agilent Technologies, Inc. | Ion trap with built-in field-modifying electrodes and method of operation |
EP1960090B1 (en) * | 2005-12-13 | 2018-10-10 | Brigham Young University | Miniature toroidal radio frequency ion trap mass analyzer |
KR100790532B1 (ko) * | 2006-10-31 | 2008-01-02 | 한국기초과학지원연구원 | 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호개선을 위한 방법 |
GB0624993D0 (en) * | 2006-12-14 | 2007-01-24 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US8334506B2 (en) | 2007-12-10 | 2012-12-18 | 1St Detect Corporation | End cap voltage control of ion traps |
US7973277B2 (en) | 2008-05-27 | 2011-07-05 | 1St Detect Corporation | Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter |
US8309912B2 (en) * | 2008-11-21 | 2012-11-13 | Applied Nanotech Holdings, Inc. | Atmospheric pressure ion trap |
US8294092B2 (en) | 2009-03-23 | 2012-10-23 | Yale University | System and method for trapping and measuring a charged particle in a liquid |
DE102009020886B4 (de) * | 2009-05-12 | 2012-08-30 | Bruker Daltonik Gmbh | Einspeichern von Ionen in Kíngdon-Ionenfallen |
DE102010018340A1 (de) | 2009-05-26 | 2010-12-02 | Karlsruher Institut für Technologie | Verfahren für eine durchstimmbare Radiofrequenz-Hochspannungsversorgung für Multipol-Ionenspeicher als Nanopartikelführung und -speicher |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3065640A (en) * | 1959-08-27 | 1962-11-27 | Thompson Ramo Wooldridge Inc | Containment device |
EP0409362B1 (en) * | 1985-05-24 | 1995-04-19 | Finnigan Corporation | Method of operating an ion trap |
DE3733853A1 (de) * | 1987-10-07 | 1989-04-27 | Spectrospin Ag | Verfahren zum einbringen von ionen in die ionenfalle eines ionen-zyklotron-resonanz-spektrometers und zur durchfuehrung des verfahrens ausgebildetes ionen-zyklotron-resonanz-spektrometers |
US5206506A (en) * | 1991-02-12 | 1993-04-27 | Kirchner Nicholas J | Ion processing: control and analysis |
US5268572A (en) * | 1992-09-23 | 1993-12-07 | Cornell Research Foundation, Inc. | Differentially pumped ion trap mass spectrometer |
US5302827A (en) * | 1993-05-11 | 1994-04-12 | Mks Instruments, Inc. | Quadrupole mass spectrometer |
US5399857A (en) * | 1993-05-28 | 1995-03-21 | The Johns Hopkins University | Method and apparatus for trapping ions by increasing trapping voltage during ion introduction |
DE4324224C1 (de) * | 1993-07-20 | 1994-10-06 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Quadrupol-Ionenfallen mit schaltbaren Multipol-Anteilen |
-
1996
- 1996-07-30 US US08/688,469 patent/US5650617A/en not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-02-18 WO PCT/US1997/002390 patent/WO1998005039A1/en active IP Right Grant
- 1997-02-18 JP JP50876398A patent/JP4219406B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1997-02-18 AU AU21267/97A patent/AU722099B2/en not_active Ceased
- 1997-02-18 DE DE69723811T patent/DE69723811T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1997-02-18 EP EP97906625A patent/EP0868730B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5650617A (en) | 1997-07-22 |
JP4219406B2 (ja) | 2009-02-04 |
EP0868730A1 (en) | 1998-10-07 |
DE69723811T2 (de) | 2004-05-27 |
EP0868730B1 (en) | 2003-07-30 |
AU722099B2 (en) | 2000-07-20 |
DE69723811D1 (de) | 2003-09-04 |
WO1998005039A1 (en) | 1998-02-05 |
AU2126797A (en) | 1998-02-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4219406B2 (ja) | イオントラップにイオンを捕らえるための方法およびそのためのイオントラップ質量分光計システム | |
US6967323B2 (en) | Mass spectrometer | |
JP3989845B2 (ja) | 質量分析の方法及び装置 | |
JP4312708B2 (ja) | 衝突エネルギーを変化させることによる質量分析における広いイオンフラグメント化範囲を得る方法 | |
EP0202943B2 (en) | Method of operating an ion trap | |
CA2636821C (en) | Concentrating mass spectrometer ion guide, spectrometer and method | |
US7425699B2 (en) | Mass spectrometry method and apparatus | |
JP3818671B2 (ja) | 多重極子質量分光計の軸方向射出方法 | |
JPH0359547B2 (ja) | ||
US20030222214A1 (en) | Mass spectrometer | |
JPWO2007052372A1 (ja) | 質量分析方法 | |
JP2004206933A (ja) | 質量分析装置及び質量分析方法 | |
Belov et al. | Electrospray ionization-Fourier transform ion cyclotron mass spectrometry using ion preselection and external accumulation for ultrahigh sensitivity | |
US7030374B2 (en) | Ion fragmentation in RF ion traps by electron capture with magnetic field | |
CA2689094C (en) | Mass spectrometry method and apparatus | |
JP2001307675A (ja) | 質量分析装置 | |
JP2009146913A (ja) | 質量分析計 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040217 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20050405 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20050426 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061212 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061129 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070306 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20081021 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081112 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111121 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111121 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111121 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |